JPS592869Y2

JPS592869Y2 - ブツピンセンベツソウチ

Info

Publication number: JPS592869Y2
Application number: JP1972056782U
Authority: JP
Inventors: 宏清水; 康次野村
Original assignee: ヒタチレントゲンカブシキガイシヤ
Priority date: 1972-05-17
Filing date: 1972-05-17
Publication date: 1984-01-26
Also published as: JPS4917257U

Description

【考案の詳細な説明】本考案は、物品内部の構造物の変形又は偏心を検出し、
選別する装置に関するものである。

物品、例えば、モールド成形品において、内部に埋込ま
れた構造物の寸法が変化したり、所定の位置からはずれ
たりしていると、その後の加工や他のものとの組合せに
際して支障をきたす。

例えば、ゴルフボールにおいては、内部の球状芯体がゴ
ルフボールの中心からはずれて偏心したり、又は球状芯
体の径が変化したりしていると、その飛行特性に悪影響
をおよぼす。

以下、正規の寸法より小さい寸法に変化することを変形
という。

しかるに、このような物品の検査は、従来、Ｘ線写真撮
影やＸ線テレビジョン装置による透視観察などによって
行われていた。

しかしながら、前者のＸ線写真撮影による場合は、かよ
うな物品が流れ生産となることからして、能率が悪化し
て実用的でない。

また、後者のＸ線テレビジョン装置による場合は、検者
の視覚にたよるため見落しあるいは、見まちがい等があ
り、検査精度に欠け、かつ専任の検者をおかなければな
らないという欠点を有している。

本考案の目的は、以上のような検査の欠点を解決し、物
品の透過Ｘ線、特にその基準の内部構造物周縁の透過Ｘ
線を検出するような検出器を設け、この構造物の偏心又
は変形に応じた出力信号の所定位相時のレベルを基準の
設定レベルで弁別することにより、内部構造物の偏心又
は変形した物品を自動的に選別する一種のパターン認識
による選別装置を提供することにある。

本願の前記ならびにその他の目的と、新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。

以下、本考案の構成について、一実施例とともに説明す
る。

第１図は、本考案の一実施例を示す図である。

第１図においせ、１は直流的なＸ線を発生させるための
高電圧発生装置、２はＸ線管装置、３は球体、４は球体
３の中に埋込まれたＸ線吸収率の大きい物質の球状芯体
、５は球体３を矢印方向に移送される装置でＸ線吸収の
少ない物質でできている。

６，７は球体３が検査位置にあることを検出する位置検
出器であり、６は一定幅の平行光線を投光する投光器、
７はこの平行光線を受光して出力する受光器である。

８は検査位置において球体３をＸ線投影させるための螢
光紙、９は球体３の内部において正規の形状ならびに基
準位置にある芯体４の前記螢光紙８に投影されたＸ線像
周縁に内接するようなスリット１０を設けた遮光板、１
１は一端より前記スリット１０通して螢光紙８の発光す
る可視光を他端に集光させる透明なアクリルまたは、ガ
ラス製による逆切頭円錐体の導光器、１２は導光器１１
で導かれる光量に応じて電気信号を出力する充電変換器
、１３は受光器７の出力と光電変換器１２の出力とによ
り検査位置にある球体３の芯体４が偏心又は変形してい
るかを判別し、芯体４が偏心又は変形している場合、排
斥指令信号を出力する制御回路、１４は前記排斥指令信
号により電磁弁１４、を開口し、エアータンク１４２に
貯圧された圧縮空気をノズル１４３から噴出させてノズ
ル１４３前を通過する前記検査された不良の球体３を移
送装置５上から排除する排斥装置である。

ここで、前記螢光紙８の下面には、遮光板９が密着され
ており、この遮光板９の下面には、一端を少なくとも前
記スリット１０を通過した螢光紙８の発生を他端に導く
導光器１１が設けられ、前記導光器１１の他端には、導
かれた光を受光する光電変換器１２を配置することによ
り、芯体４等の構造物位置検出器を構成している。

次に、本実施例の動作を説明する。

第１図において、検査位置の線上に設けられた投光器６
、受光器７からなる位置検出器の前を移送装置５により
送られてきた被検査物の球体３が通過すると、受光器７
へ投光されていた一定幅の平行光線は一時遮断される。

同時に受光器７の出力は一時低下する。

この出力の変化した間、すなわち、一定の出力以下にな
っている間をもって、前記球体３の芯体４等の構造物位
置検出器での検査時間が設定される。

また、この検査位置にある球体３には、上方よりＸ線管
装置２から直流的なＸ線が照射される。

そして、この球状３をはさむようにＸ線管装置２と対向
した照射面に設けられた螢光紙８には、前記球体３のＸ
線像が投影される。

このＸ線像の内側には、よりコントラストのついた芯体
４の像（Ｘ線を吸収することによって生じた像）も投影
される。

このとき、第２図１に示すように、球体３の芯体４が偏
心又は変形していない正規なものであれば、芯体４の投
影像が前記構造物位置検出器のスリット１０をおおって
しまうので、スリット１０を通して下方の導光器１１に
通過する光量は少く、はとんど零に等しくなる。

また、前記球体３内の芯体４が、例えば、第２図２に示
すように、球体３の移送方向に対して左右に偏心してい
ると、その投影像は、スリット１０よりずれる。

このスリット１０よりずれた部分に照射されるＸ線は、
芯体４で吸収されない。

この芯体４で吸収されなかったＸ線が螢光紙８に投影さ
れ、芯体４の投影像より明るく発光する。

そして、この光はスリット１０を通して下方に通過し、
導光器１１により光電変換器１２に集光される。

このとき、光電変換器１２は前記スリット１０を通過し
た光量に応じて出力する。

第３図は本考案の制御回路の一実施例の構成をブロック
で示す図であり、第４図は、第３図の各部に示した符号
に対応する信号波形を示す図である。

第３図において、１５．１８はディスクリミネータ、１
６．１９は微分回路、１７は位相弁別回路、２０はフリ
ップフロップブレータである。

次に、本実施例の制御回路の動作を説明する。

第１図乃至第４図において、被検体の球体３が右方より
移送装置５によって送られ、検査位置に入るにつれて構
造物位置検出器用の受光器７の出力は、第４図に示す波
形ａのように負の方向に変化する。

この出力の一定レベル値でディスクリミネータ１５を動
作させｂに示す信号波形に整形し検査時間Ｔを設定する
。

さらに、この信号すを微分回路１６で微分し、信号Ｃを
得てから位相弁別回路１７で信号（Ｈ：ｅに弁別する。

そして、フリップフロップ２０のこの信号ｄでもってリ
セットする。

一方、前記検査位置における球体３の殊にその芯体４の
Ｘ線による投影像の状態を前記説明の検査位置下に設け
た構造物位置検出器で検出する。

以上のようにして、例えば、芯体４が球体３内で正規の
位置に形成されていると、光電変換器１２の出力信号は
波形ｆに示すように負の方向に変化するので、これをデ
ィスクリミネータ１８によりあらかじめ設定したレベル
ＤＬでディスクリミネータして信号ｇのごとく整形する
。

さらにこれを微分回路１９で微分し信号りを得る。

フリップフロップ２０は、前記信号ｄでリセットされて
いるので、前記信号りによりセットされ信号ｉを出力す
る。

この信号ｉと位相弁別回路１７からの信号ｅがアンド回
路２１に入力すると、この時は出力せず、球体３は排斥
されることなく良品として移送装置５により通常に送ら
れる。

また、芯体４が、第２図２のように、球体３内で移送方
向に対して左右に偏心していると、前記充電変換器１２
の出力信号は波形ｆ′のごとくわずかに負の方向に変化
するだけにとどまり設定レベルＤＬまでには達しない。

そのためテ゛イスクリミネータ１８の出力はない。

ただ、フリップフロップ２０は前記位相弁別回路１７か
らの信号ｄで゛リセットされたままで゛出力している。

アンド回路２１では、前記フリップフロップ２０の出力
信号ｉ′をゲート信号として位相弁別回路１７からの信
号ｅをそのまま通過させるようにして出力する。

この信号ｊ′がトリガ信号としてユニバイブレータ２２
に人力すると、球体３が検査位置をはなれ、ノズル１４
３の前に達するまでの時間に等しい時定数の幅をもった
信号ｋを出力し、さらに、この信号にでユニバイブレー
タ２３を動作させて排斥装置１４の電磁弁１４□を駆動
させるに必要な幅の信号１を出力する。

そして、電磁弁１４１を開口し、ノズル１４３から圧縮
空気を噴出し不良物品として移送装置５上から排除する
。

なお、前記実施例において、構造物位置検出器を基準の
芯体投影像周縁に内接するようにして透過Ｘ線をいった
ん螢光紙を介して可視光に変換したのち、その光量を検
出するようにしているが、前記投影像周縁に内接するよ
うに半導体放射線検出器等、Ｘ線を直接検出する検出器
を設けたものであってもよい。

また、必要に応じてＸ線管装置と検出器を異なる検査位
置に複数個設けて前記排斥信号出力を得るようにしてよ
り正確に不良物品を検出排斥することもできる。

例えば、その物品の内部構造物がＸ線照射方向又は移送
方向に平行に偏心した状態で移送装置に載置された場合
、あるいは、移送方向の径が正規の径より大きく変形し
た状態で移送装置に載置された場合には、不良物品を検
出できないので、物品をＸ線照射方向対して所定角度、
例えば、はぼ９０°回転させ、不良物品の検査ができる
ように検査装置を異なる２個所に設けて、２方向からの
Ｘ線照射検査を可能にし、２台の検査装置のそれぞれの
出力により前記排斥装置を駆動させるようにして、より
正確に不良物品を検出排斥するようにする。

以上説明したように、本考案は、内部にＸ線吸収率の大
きな構造物を有する物品を簡易なパターン認識の検出手
段により精度よく自動的に検査することができる。

なお、本考案は、前記実施例に限定されることなく、そ
の要旨を変更しない範囲において種々変更し得ることは
勿論である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の一実施例を示す概略機構図、第２図
は、本実施例の動作を説明するための図、第３図は、制
御回路のブロック図、第４図は、第３図の各部に応じた
信号波形図である。１・・・・・・高電圧発生装置、２・・・・・・Ｘ線管
装置、３・・・・・・球体、４・・・・・・芯体、５・
・・・・・移送装置、６・・・・・・投光器、７・・・
・・・受光器、８・・・・・・螢光紙、９・・・・・・
遮光板、１０・・・・・・スリット、１１・・・・・・
導光器、１２・・・・・・光電変換器、１３・・・・・
・制御回路、１４・・・・・・排斥装置、１５．１８・
・・・・・ディスクリミネータ、１６．１９・・・・・
・微分回路、１７・・・・・・位相弁別回路、２０・・
・・・・フリップフロップ２３・・・・・・ユニバイブレータ。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

内部にＸ線吸収率の大きい構造物を有する物品を移送す
る装置の所定位置で、前記物品にＸ線を照射するＸ線源
と、このＸ線源□と対向して設けられ、あらかじめ設定
した基準となる物品の内部構造物周縁を透過したＸ線の
みを検出するように構成した構造物位置検出器と、所定
位置で、前記物品の位置を検出する位置検出器と、前記
構造物位置検出器からの出力信号の所定位相時のレベル
が設定レベルに達しない場合に、移送方向の寸法が正規
の寸法より小さく変形又は移送方向に対して左右に偏心
した物品排斥信号を得る制御回路と、前記制御回路から
出力する排斥信号で駆動される排斥装置を具備したこと
を特徴とした物品選別装置。