JPS60100032A - 焼結鉱等の顕微鏡画像における自動定量測定方法 - Google Patents
焼結鉱等の顕微鏡画像における自動定量測定方法Info
- Publication number
- JPS60100032A JPS60100032A JP20722183A JP20722183A JPS60100032A JP S60100032 A JPS60100032 A JP S60100032A JP 20722183 A JP20722183 A JP 20722183A JP 20722183 A JP20722183 A JP 20722183A JP S60100032 A JPS60100032 A JP S60100032A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1468—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry with spatial resolution of the texture or inner structure of the particle
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は顕微鏡画像において焼結鉱等の組成を自動的に
定量測定する方法に関する。
定量測定する方法に関する。
このような解析方法として従来は、被検組織に関する顕
微鏡使用によるＩＴＶ画像を得た後、検査員が組成分別
のために適当にスレッシュホールドを設定し、対象とす
る画像を前記スレッシュホールドにより二値化して所望
の組織に関する二値画像を抽出し、その面積を適当な方
法でめて行っている。しかしながらこのように各組織に
関する二値画像を抽出して解析する方法によれば、測定
視野毎に適切な二値画像を抽出するためにはその都度ス
レッシュホールドを設定し且つ確認することが省けず、
しかも再現性の点で問題が大きい。
微鏡使用によるＩＴＶ画像を得た後、検査員が組成分別
のために適当にスレッシュホールドを設定し、対象とす
る画像を前記スレッシュホールドにより二値化して所望
の組織に関する二値画像を抽出し、その面積を適当な方
法でめて行っている。しかしながらこのように各組織に
関する二値画像を抽出して解析する方法によれば、測定
視野毎に適切な二値画像を抽出するためにはその都度ス
レッシュホールドを設定し且つ確認することが省けず、
しかも再現性の点で問題が大きい。
従って測定の再現性換言すれば正確度で劣り、検査員に
は熟練が要求され、また自動化できないという多くの欠
点があった。
は熟練が要求され、また自動化できないという多くの欠
点があった。
本発明の目的はこのような欠点を排除し、熟練を必要と
せずに高精度で再現性の高い画像解析を可能にし、しか
も容易に自動化を達成できる焼結鉱等の顕微鏡画像にお
ける自動定量測定方法を提供することである。
せずに高精度で再現性の高い画像解析を可能にし、しか
も容易に自動化を達成できる焼結鉱等の顕微鏡画像にお
ける自動定量測定方法を提供することである。
このために本発明では、画像における濃淡程度を多数の
段階に分別するための複数のスレッシュホールドレベル
を予め設定しておき、影像信号振幅を基に画像を構成す
る単位面積部分即ち画素の各々に関して逐次に前記スレ
ッシュホールドレベルによって濃淡段階を示すデータに
変換し、更にこれらのデータを基にして画像に含まれる
各濃度段階に関してのヒストグラムをハードウェアによ
って瞬時にめ、このようにして得られたヒストグラムを
基に測定すべき各対象組成の濃度範囲を定めるスレッシ
ュホールドを設定することにより、面積比等を任意のソ
フトウェアにより演算して測定することを特徴とする。
段階に分別するための複数のスレッシュホールドレベル
を予め設定しておき、影像信号振幅を基に画像を構成す
る単位面積部分即ち画素の各々に関して逐次に前記スレ
ッシュホールドレベルによって濃淡段階を示すデータに
変換し、更にこれらのデータを基にして画像に含まれる
各濃度段階に関してのヒストグラムをハードウェアによ
って瞬時にめ、このようにして得られたヒストグラムを
基に測定すべき各対象組成の濃度範囲を定めるスレッシ
ュホールドを設定することにより、面積比等を任意のソ
フトウェアにより演算して測定することを特徴とする。
以下に本発明の実施例につき添付図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は本発明の方法を概略的に示すブロック図である
。試料ｌとしては例えば焼結鉱が使用され、これは顕微
鏡２による組織検査に必要とされる適当な表面検査を施
される。試料１の被検表面は顕微鏡２により拡大された
視野毎にＩＴＶ３によって撮像され、その影像信号が処
理回路に与えられる。ここでは影像信号は先ず増幅部４
に与えられて適当に増幅処理された後、本発明の方法で
特徴とする処理のために備えた二値化部５に与えられる
。影像信号はまた同期分離部６により同期信号としてス
レッシュホールドレベル発生部７に与えられ、このスレ
ッシュホールドレベル発生部７が上述の二値化部５にお
ける影像信号の二値化のためにスレッシュホールドレベ
ルを与えるようになっている。スレッシュホールドレベ
ル発生部７には画像における濃淡をできるだけ多くの段
階に分別するための多数のスレッシュホールドレベルが
予め設定されている。従ってこのような多数のスレッシ
ュホールドレベルにより、二値化部５は入力する影像信
号を同期して逐次にその振幅に基づいて何れかの濃度段
階を示す二値データに変換するのである。例えば二値化
部５が集積回路を含んで構成され７ビツトで変換処理す
るようにした場合には、１２８段階の二値化分別が可能
であるから、影像信号をその振幅に基づいてスレッシュ
ホールドレベルにより１２８段階の濃度段階の何れかを
示す二値データとして得るようになすことができる。こ
のようにして得た二値データはマスク領域発生部８によ
るタイミングを得て画面を構成する微少面積部分即ち各
画素に関する二値データとして二値データ計数部９に与
えらる。この二値データ計数部９は各濃度段階毎の入力
数即ち同じ濃度の画素数をそれぞれ計数する。一方マス
ク領域発生部８からの信号を入力するマスク面積計数部
１０は画面の面積即ち全画素数を計数する。
。試料ｌとしては例えば焼結鉱が使用され、これは顕微
鏡２による組織検査に必要とされる適当な表面検査を施
される。試料１の被検表面は顕微鏡２により拡大された
視野毎にＩＴＶ３によって撮像され、その影像信号が処
理回路に与えられる。ここでは影像信号は先ず増幅部４
に与えられて適当に増幅処理された後、本発明の方法で
特徴とする処理のために備えた二値化部５に与えられる
。影像信号はまた同期分離部６により同期信号としてス
レッシュホールドレベル発生部７に与えられ、このスレ
ッシュホールドレベル発生部７が上述の二値化部５にお
ける影像信号の二値化のためにスレッシュホールドレベ
ルを与えるようになっている。スレッシュホールドレベ
ル発生部７には画像における濃淡をできるだけ多くの段
階に分別するための多数のスレッシュホールドレベルが
予め設定されている。従ってこのような多数のスレッシ
ュホールドレベルにより、二値化部５は入力する影像信
号を同期して逐次にその振幅に基づいて何れかの濃度段
階を示す二値データに変換するのである。例えば二値化
部５が集積回路を含んで構成され７ビツトで変換処理す
るようにした場合には、１２８段階の二値化分別が可能
であるから、影像信号をその振幅に基づいてスレッシュ
ホールドレベルにより１２８段階の濃度段階の何れかを
示す二値データとして得るようになすことができる。こ
のようにして得た二値データはマスク領域発生部８によ
るタイミングを得て画面を構成する微少面積部分即ち各
画素に関する二値データとして二値データ計数部９に与
えらる。この二値データ計数部９は各濃度段階毎の入力
数即ち同じ濃度の画素数をそれぞれ計数する。一方マス
ク領域発生部８からの信号を入力するマスク面積計数部
１０は画面の面積即ち全画素数を計数する。
これらの計数値を入力する濃度ヒストデータ演算部１１
が各濃度段階例えば１２８段階のそれぞれに関して面積
比即ち視野全面積に対する各濃度の画素の加算面積の比
率を演算し、第２図に示すようなグレーヒストグラムを
めるのである。特にこれら全ての演算は図示したように
回路構成即ちハードウェアによって行われるのであり、
これにより瞬時に所要のグレーヒストグラムがまるので
ある。このような演算処理技術は周知であるので説明を
省略する。上述したようなグレーヒストグラムの演算は
顕微鏡２の移動制御による視野の移動毎に同様に行われ
る。またこのようなグレーヒストグラムのデータは例え
ば各視野毎のデータとしてプリンタ１２により印字出力
し、或いは全視野の平均データとして同様に印字出力す
るように任意にできる。
が各濃度段階例えば１２８段階のそれぞれに関して面積
比即ち視野全面積に対する各濃度の画素の加算面積の比
率を演算し、第２図に示すようなグレーヒストグラムを
めるのである。特にこれら全ての演算は図示したように
回路構成即ちハードウェアによって行われるのであり、
これにより瞬時に所要のグレーヒストグラムがまるので
ある。このような演算処理技術は周知であるので説明を
省略する。上述したようなグレーヒストグラムの演算は
顕微鏡２の移動制御による視野の移動毎に同様に行われ
る。またこのようなグレーヒストグラムのデータは例え
ば各視野毎のデータとしてプリンタ１２により印字出力
し、或いは全視野の平均データとして同様に印字出力す
るように任意にできる。
このように本発明の特徴とするグレーヒストグラムをめ
、これに基づいて組成の定量測定を行うことにつき更に
説明する。先ず最初の視野画像に関して上述したような
ハードウェアによる処理によって第３図に示すようなグ
レーヒストグラムが瞬時に得られ、これがプリンタ１２
により印字出力されたとする。ここでは曲線グラフとし
て示しているが、勿論その他の例えば棒グラフ等のグラ
フ或いはデータ表示とすることも可能である。また上述
しなかったが、検査員は従来通りにＣＲＴ画面により被
検視野画像を見ることは勿論可能である。このようにし
て得られたグレーヒストグラムは極めて精度が高い。従
って検査員は単に従来のようにＣＲＴ画面のみに基づい
て組成対応のスレッシュホールドを設定する以外にグレ
ーヒストグラムを参照できるので、その遷移に基づいて
より正確にスレッシュホールドを設定することが可能と
なる。このようにして第３図に一例として４つのスレッ
シュホールドＴ＋、ＴＩＴ３．Ｔａ を設定し、５つの
濃度の異なる組成を分別する場合をしめす。勿論これよ
り多数の分別も可能である。このようにスレッシュホー
ルド’ｒ１．Ｔ、、Ｔ３．Ｔ４を設定すれば、既にグレ
ーヒストグラムが得られているのでこの視野画像におけ
る各組成に関する面積比は極めて簡単にまるのである。
、これに基づいて組成の定量測定を行うことにつき更に
説明する。先ず最初の視野画像に関して上述したような
ハードウェアによる処理によって第３図に示すようなグ
レーヒストグラムが瞬時に得られ、これがプリンタ１２
により印字出力されたとする。ここでは曲線グラフとし
て示しているが、勿論その他の例えば棒グラフ等のグラ
フ或いはデータ表示とすることも可能である。また上述
しなかったが、検査員は従来通りにＣＲＴ画面により被
検視野画像を見ることは勿論可能である。このようにし
て得られたグレーヒストグラムは極めて精度が高い。従
って検査員は単に従来のようにＣＲＴ画面のみに基づい
て組成対応のスレッシュホールドを設定する以外にグレ
ーヒストグラムを参照できるので、その遷移に基づいて
より正確にスレッシュホールドを設定することが可能と
なる。このようにして第３図に一例として４つのスレッ
シュホールドＴ＋、ＴＩＴ３．Ｔａ を設定し、５つの
濃度の異なる組成を分別する場合をしめす。勿論これよ
り多数の分別も可能である。このようにスレッシュホー
ルド’ｒ１．Ｔ、、Ｔ３．Ｔ４を設定すれば、既にグレ
ーヒストグラムが得られているのでこの視野画像におけ
る各組成に関する面積比は極めて簡単にまるのである。
これらのデータは適当に保存される。ここで各組成は微
少部分として点在しているのでそれらの境界部分の取扱
いが一般に問題となか、従来知られているような境界近
傍即ちスレッシュホールド近傍の領域に関する排除処理
等のためのソフトウェアを適宜に利用できることは勿論
である。
少部分として点在しているのでそれらの境界部分の取扱
いが一般に問題となか、従来知られているような境界近
傍即ちスレッシュホールド近傍の領域に関する排除処理
等のためのソフトウェアを適宜に利用できることは勿論
である。
引続き試料１または顕微鏡２を移動して次ぎの視野画像
について測定を行う場合、上述と同様にしてその画像に
関するグレーヒストグラムがめられる。この際全体的な
濃度レベルが変化したとしても各組成の相対的な濃度関
係は変化しないとみなせる。従って例えば第３図に示し
たようにグレーヒストデータのスパンＩに対する各スレ
ッシュホールドＴ１． ’ｒＺ、 Ｔ３． Ｔａの設定
位置の比率を記憶しておくことにより、容易にその画像
における各組成に関しての適正なスレッシュホールドを
自動的に設定することが可能となる。勿論これに加えて
、グレーヒストグラムにおけるピーク位置や変曲位置等
の検出に基づいて修正処理を行うことも好ましい。何れ
にしても、グレーヒストグラムを先ずめるという本発明
の特徴により、最初に所要のスレッシュホールドを設定
すれば引続く視野画像に関してのそれらの再設定は省略
でき、これにより測定の迅速化および自動化が可能とな
るのである。このようにして次々の視野につき測定が行
われ、全体としての各組成に関する定量測定が達成され
るのである。
について測定を行う場合、上述と同様にしてその画像に
関するグレーヒストグラムがめられる。この際全体的な
濃度レベルが変化したとしても各組成の相対的な濃度関
係は変化しないとみなせる。従って例えば第３図に示し
たようにグレーヒストデータのスパンＩに対する各スレ
ッシュホールドＴ１． ’ｒＺ、 Ｔ３． Ｔａの設定
位置の比率を記憶しておくことにより、容易にその画像
における各組成に関しての適正なスレッシュホールドを
自動的に設定することが可能となる。勿論これに加えて
、グレーヒストグラムにおけるピーク位置や変曲位置等
の検出に基づいて修正処理を行うことも好ましい。何れ
にしても、グレーヒストグラムを先ずめるという本発明
の特徴により、最初に所要のスレッシュホールドを設定
すれば引続く視野画像に関してのそれらの再設定は省略
でき、これにより測定の迅速化および自動化が可能とな
るのである。このようにして次々の視野につき測定が行
われ、全体としての各組成に関する定量測定が達成され
るのである。
以上のように本発明は予め濃度段階を定める多数のスレ
ッシュホールドレベルを設定しておき、ＩＴＶ撮像信号
の振幅を基にして画像を構成する各画素に関しての濃度
レベルをめてグレーヒストグラムをめておき、該グレー
ヒストグラムに基づいて組織対応のスレッシュホールド
を設定して所要の組成の定量測定を行うので、組織対応
のスレッシュホールドは最初に設定するだけで次々の視
野に関しては省略できて自動化が可能となる。
ッシュホールドレベルを設定しておき、ＩＴＶ撮像信号
の振幅を基にして画像を構成する各画素に関しての濃度
レベルをめてグレーヒストグラムをめておき、該グレー
ヒストグラムに基づいて組織対応のスレッシュホールド
を設定して所要の組成の定量測定を行うので、組織対応
のスレッシュホールドは最初に設定するだけで次々の視
野に関しては省略できて自動化が可能となる。
しかもグレーヒストグラムはハードウェアで迅速にまる
ので測定時間を著しく短縮できる。従って統計的な測定
処理が可能となる。さらにまた、検査員に熟練度を要求
せず且つ再現性のある高精度の測定がかのうとなる。こ
のように極めて大きな効果を得られるのである。
ので測定時間を著しく短縮できる。従って統計的な測定
処理が可能となる。さらにまた、検査員に熟練度を要求
せず且つ再現性のある高精度の測定がかのうとなる。こ
のように極めて大きな効果を得られるのである。
第１図は本発明の概略を示すブロック図。
第２図は一例とせるグレーヒストグラムを示す線図。
第３図はグレーヒストグラムに関する測定組織対応のス
レッシュホールドの設定を示す線図。 １・・試料 ２・・顕微鏡 ３・・ＩＴＶ ４・・増幅部 ５・・二値化部 ６・・同期分離部 ７・・スレッシュホールドレベル発生部８・・マスク領
域発生部 ９・・二値データ計数部 １０・・マスク面積計数部 １１・・ヒストデータ演算部 １２・・プリンタ 特許出願人 日本レギュレーター株式会社特許出願人
新日本製鐵株式会社 代理人弁理士小野 栄
レッシュホールドの設定を示す線図。 １・・試料 ２・・顕微鏡 ３・・ＩＴＶ ４・・増幅部 ５・・二値化部 ６・・同期分離部 ７・・スレッシュホールドレベル発生部８・・マスク領
域発生部 ９・・二値データ計数部 １０・・マスク面積計数部 １１・・ヒストデータ演算部 １２・・プリンタ 特許出願人 日本レギュレーター株式会社特許出願人
新日本製鐵株式会社 代理人弁理士小野 栄
Claims (1)
- 顕微鏡画像において各部の濃度差に基づく画像解析を行
う方法であって、画像における濃淡程度を多数の段階に
分別するための複数のスレッシュホールドレベルを予め
設定しておき、影像信号振幅を基に画像を構成する単位
面積部分即ち画素の各々に関して逐次に前記スレッシュ
ホールドレベルによって濃淡段階を示すデータに変換し
、更にこれらのデータを基にして画像に含まれる各濃度
段階に関してのヒストグラムをハードウェアによって瞬
時にめ、このようにして得られたヒストグラムを基に測
定すべき各対象組成の濃度範囲を定めるスレッシュホー
ルドを設定することにより、面積比等を任意のソフトウ
ェアにより演算して測定することを特徴とする焼結鉱等
の顕微鏡画像における自動定量測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20722183A JPS60100032A (ja) | 1983-11-04 | 1983-11-04 | 焼結鉱等の顕微鏡画像における自動定量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20722183A JPS60100032A (ja) | 1983-11-04 | 1983-11-04 | 焼結鉱等の顕微鏡画像における自動定量測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60100032A true JPS60100032A (ja) | 1985-06-03 |
Family
ID=16536245
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20722183A Pending JPS60100032A (ja) | 1983-11-04 | 1983-11-04 | 焼結鉱等の顕微鏡画像における自動定量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60100032A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02232550A (ja) * | 1989-03-06 | 1990-09-14 | Nireco Corp | 画像解析による組織定量方法 |
| FR2646916A1 (fr) * | 1989-05-10 | 1990-11-16 | France Etat Ponts Chaussees | Procede de controle d'un melange de billes en verre et de charges utilise notamment pour rendre les marquages routiers visibles la nuit |
| US7889329B2 (en) * | 2006-04-08 | 2011-02-15 | Roche Diagnostics Operations, Inc. | Analysis of optical data with the aid of histograms |
| WO2020260762A1 (en) * | 2019-06-28 | 2020-12-30 | Andritz Oy | Determining one or more proportional particle group shares in flue gas of a recovery boiler |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5822940A (ja) * | 1981-08-03 | 1983-02-10 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 石炭組織分析法及び装置 |
| JPS58153144A (ja) * | 1982-03-09 | 1983-09-12 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 反射率が異なる複数の組織を有する塊状物質における組織構成比率測定装置 |
-
1983
- 1983-11-04 JP JP20722183A patent/JPS60100032A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5822940A (ja) * | 1981-08-03 | 1983-02-10 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 石炭組織分析法及び装置 |
| JPS58153144A (ja) * | 1982-03-09 | 1983-09-12 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 反射率が異なる複数の組織を有する塊状物質における組織構成比率測定装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02232550A (ja) * | 1989-03-06 | 1990-09-14 | Nireco Corp | 画像解析による組織定量方法 |
| FR2646916A1 (fr) * | 1989-05-10 | 1990-11-16 | France Etat Ponts Chaussees | Procede de controle d'un melange de billes en verre et de charges utilise notamment pour rendre les marquages routiers visibles la nuit |
| US7889329B2 (en) * | 2006-04-08 | 2011-02-15 | Roche Diagnostics Operations, Inc. | Analysis of optical data with the aid of histograms |
| WO2020260762A1 (en) * | 2019-06-28 | 2020-12-30 | Andritz Oy | Determining one or more proportional particle group shares in flue gas of a recovery boiler |
| US12298004B2 (en) | 2019-06-28 | 2025-05-13 | Andritz Oy | Determining one or more proportional particle group shares in flue gas of a recovery boiler |
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