JPS60148199A - 電子部品自動検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は電子部品の自動挿入装置上で電子部品の端子状
態の検査を行う電子部品自動検査装置に関するものであ
るっ 従来例の構成とその問題点 従来、第１図（イ）、（ロ）、（ハ）、に）に示すよう
なりＩＰ形ＩＣ％ＳＩＰ形ＩＣ，中間周波トランスおよ
び半固定抵抗器等の複数の端子１を持っているいわゆる
異形部品２をプリント基板に自動挿入するには第２図に
示す自動挿入装置を使用していたつプリントｚ板３を保
持するＸ−Ｙテーブル４と、と（７）Ｘ−Ｙテーブル４
の近傍に設置され横方向に移動可能なシュート５と、上
記Ｘ−Ｙテーブル４とシュート５との間を移動する上下
動可能な複数の挿入ヘッド６からなっている。

その動作は、第３図に示すように、上記複数ある挿入ヘ
ッド６の１つまたは、２つ以上が動作して上記シュート
５から供給される電子部品２をつかみ、上記Ｘ−Ｙテー
ブル４上の」二記プリントノ、（、板３へ挿入する。

この時、電子部品２の端子１に曲がりがあれは電子部品
２をプリント基板３に挿入する時、端子１が挿入孔７に
入らず、機械が停止する。

電子部品２はメーカーが出荷する前に検査を行っている
が、輸送時、機械にセットする時など、電子部品２の端
子１が変形しやすく、電子部品２の端子１の変形による
挿入ミスが多く、その都度装置が停止して、はとんど無
人運転ができないという問題点を有していた。

発明の目的 本発明は上記のような問題点を除去すべく開発されたも
のであり、高生産性、高信頼性の電子部品自動挿入装置
を実現する電子部品自動検査装置を提供しようとするも
のであるっ 発明の構成 この目的を達成するために、本発明の電子部品自動検査
装置は、フレームによって結合された支点軸を中心に、
シリンダーによって揺動する揺動ブロックと、この揺動
ブロックに設けられたシリンダーの上下ピストンに結合
され、揺動ブロックに沿って揺動する上下ブロックと、
この上下ブロックに上下摺動して電子部品の端子の異常
を検査する検査ピストンを設けるとともに、この上下ブ
ロックにチャック開閉ピストンによって開閉しシュート
上の電子部品を保持するチャ・ツクを設け、間欠的に供
給される電子部品を位置決めするストツバ−を上記上下
ブロックの下端面に設けてなる構成になっている。

この構成とすることによって、電子部品をプリント基板
に挿入する前に、シュート上で電子部品の異常を検出す
ることができ、不艮品をプリント基板に組み込む前に排
除でき、さらに挿入ミスによる機械の稼動率の低下を防
止することができるっ実施例の説明 以下、本発明の実施例を図面第４図〜第１６図により説
明する。

第４図に示すように、フレーム７に支点軸８が固定され
ていて、この支点軸８を中・しに揺動する揺動ブＣ７ソ
ク９が、シュート５上に取付けられている。揺動ブロッ
ク９の一端にはこれを揺動させるためのシリンダー１０
がピン１１を介して取付けられていて、このシリンダー
１０の他端は、フレーム７に固定されたビン１２を中心
に揺動できるように取付けられている。揺動ブロック９
には、シリンダー１３が設けられており、空気口１４、
空気口１５があけられている。このシリンダー１３の中
には、摺動可能なように上下ピストン１６が取付けられ
ているう 第６図は、第４図を矢印入方向から見た概略構成図であ
るが、図に示すように、揺動ブロック９にガイドされて
上下に摺動するように、上下ブロック１７が揺動ブロッ
ク９に取付けられていて、アーム１８によって、上下ピ
ストン１６と結合されている。

第４図に示すように、上下プロ・ツク１７には、空気口
１９があるシリンダー２０と空気口２１があるシリンダ
ー２２が設けられているつシリンダー２０には上下に摺
動するように検査ピストン２３が取付けられており、検
査ピストン２３＋Ｃ固定されたバネ掛け２４と上下ブロ
ック１７に固定されたバネ掛け２５には検査ピストン２
３を上にもどすための引張バネ２６が取付けられている
つシリンダー２２には上下に摺動するように一端が：円
錐状になっているチャック開閉ピストン２７が取付けら
れているっ チャック開閉ピストン２７に固定されているノ（ネ掛け
２８と、上下ブロック１７に固定されているバネ掛け２
９にはチャック開閉ピストン２７を上にもどすための引
張バネ３Ｑが取付けられている。上下ブロック１７に固
定された支点軸３１を中１ケにチャック開閉ピストン２
了によって、揺動するチャック３２が、支点軸３１を介
して上下ブロック１７に取付けられている。チャック３
２を開くための引張バネ３３が、チャック３ｚに同定さ
れたバネ掛け３４に取付けられている。上下ブロック１
７の下端面には、シュート６を端子１を上に向けて流れ
てくる電子部品２の位置決めをするストッパー３５が取
付けられているつ電子Ｖ、ＶＩ品２が流れるシュート５
には、連続して流れくる電子部品２を、間欠的に１個づ
つに分けるためのレバー３６．レバー３７が回転軸３８
に固定されている。

シリンダー４１によって、レノく−４０を介して軸受３
９の中を回転するように、回転軸３８は取付けられてい
る。またシュート５の上方には不良の電子部品２・を取
り出すだめの収納箱４２が数句けられている。また、検
査ピストン２３の先端には、第６図に示すように電子部
品２の端子１の異常を検査するための検査孔４３が設け
られている。

以下、動作について説明するっ 第６図に示す状態から、空気口１５から入るエアーによ
って、上下ピストン１６がＢ１方向に動き、この時アー
ム１８を介して上下ブロック１７も計方向に動いて、ス
トッパー３５がシュート５上に位置し、第７図に示すよ
うに、シュート５上を間欠的に流れて来る電子部品２を
位置決めす′　る。また第８図は第４図を矢印Ｃ方向か
ら見た図であるが、空気口２１からエアを入れることに
よって、チャック開−閉ピストン２７がＢ１方向に動き
、この時チャック３２の下端が支点軸３１を中心にＣ方
向に揺動して、第９図に示すように、電子部品２を保持
すると同時に、位置決めも行う。

次に第１０図に示すように空気口１９からエアーを入れ
ることによって検査ピストン２３がＢ１方向に下降し、
検査ピストン２３の先端にある検査穴４３に電子部品２
の端子１が人９込む。もし端子１が曲がっていれば、端
子１は検査穴４３に入り込まないので、検査ピストン２
３は途中で止まってしまう。正常な端子１であれば端子
１が検査穴４３に入り、途中で止まることはない。この
時、検査ピストン２３の位置の差を検出して端子　−１
に異常がない時は、空気口２１からエアーをぬいて、引
張バネ３ｏによってチャック上下ピストン２７がＢ２方
向に移動し、この時、　引張バネ３３によって、チャッ
ク３２の下端は開き、電子部品２の保持を解除する。こ
の後空気口１９からエアーをぬいて、引張バネ２６によ
って検査ピストン２３をＢ２方向にす）かすと同時に、
空気口１５からエアーをぬき、空気口１４からエアーを
入れることによって、上下ピストン１６を８２方向に動
かすと同時に、アーム１８を介して上下ブロック１７も
Ｂ２方向に動かして、検査した電子部品２をＦ方向に流
す。

次に検査した電子部品２！の端子１に異常がある時は、
第１０図に示す状態から、チャック３２で電子部品２を
保持したままで、空気口１９からエアをぬいで、引張バ
ネ２６によって検査ピストンをＢ２方向に動かした後、
空気口１６からエアーをぬき、空気口１４からエアーを
入れることによって上下ピストン１６をＢ２方向に動か
す。そしてアーム１８を介して、上下ブロック１７もＢ
２方向に動かし、この後シリンダー１０を作ＨＵ＋　し
て、支点軸８を中心にＣ方向に揺動ブロック９を揺動さ
せたのが第１１図である−この後上下ブロック１７を上
下ピストン１６、アーム１８を介してＢ２方向に動かし
、この時保持している不良の電子部品２は収納箱４２上
にきているので、この後、チャック開閉ピストン２７を
介してチャック３２“を開いて、電子部品２の保持を解
除して電子部品２を収納ｎ４２・上に落したのが第１２
図であるっ以上のようにして、シュート６上で異常のあ
る電子部品２があった時は、挿入する前に収納箱４２に
取出してしまう。また、検査ピストン２３の上下の摺動
をエアーで行うと、不良の電子部品２によって検査ピス
トン２３が止まった時に電子部品２を介してシュート５
に大きな力がかかる。従って、第１３図、第１４図に示
すような実施例も矛えられる。その構造を説明するっ シリンダー１３に空気口４４を設け、シリンダー１３の
中を摺動する上下ピストン１６に固定されたバネ掛け４
５と、揺動ブロック９に固定されたバネ掛け４６とに引
張バネ４７を取り付ける。

また、シリンダー２０の中に圧縮バネ７２を取付け、検
査ピストン２３にレバー４８を固定し、上下ブロック１
７にシリンダー４９を設け、この中にレバー４８を介し
て検査ピスト７２３をＨ２方向に動かすためのピストン
５０を取付ケる。

以上のような構造にすると、検査ピストン２３のＨ１方
向の動きは圧縮バネ７２によってイ〒われるのでシュー
ト６にかかる力を小さくすることができるっ また、第１５図、第１６図に示すように、／ニート５上
で端子１を下に向けて流れる電子部品２の端子１を検査
する１１には第１５図、第１６図に示すような実施例も
考えられる。その構造を説明する。

上下ブロック１７にガイドされてＩｊ　ｌ　Ｉ２　方向
に摺動する検査ブロック５１が取付けられ、この検査ブ
ロック５１に設けられたシリンダー５２の中を摺動可能
なようにピストン６３が取付けられてい６つシリンダー
５２には空気穴６４が設けられている、ピストン５３に
固定されたバネ掛け６６と、検査ブロック５１に固定さ
れたバネ掛け５６にはピストン５３を工１方向に動かす
ための引張バネ６７が取付けられている。検査ブロック
６１に固定された支点軸５８を中Ｉしに摺動する検査レ
バー６９が支点軸５８を介して検査ブロック５１に取付
けられる。そして、検査レバー６９に設けられたバネ掛
け６０と、検査ブロック５１に設けられたバネ掛け６１
には検査レバー６９を、Ｊｌ　方向に揺動させるための
引張バネ６３．が取付けられている。そして、検査レバ
ー６９の先端に−は検査孔６３が設けられている。検査
レバー５９の他端には回転軸６８が固定され、この回転
軸６８を中心に回転するように、ローラー６９が数句け
られている検査ブロック５１のバネ川け６４と、上下ブ
ロック１７に固定されたバネ川け６６には、検査ブロッ
ク５１を工１方向に動かすための引張バネ６６が取付け
られているっ上下ブロック１７には、空気口６７をもっ
たシリンダー７０が設けられており、この中を検査ブロ
ック６１１を１２方向に動かすためのピストン７１が摺
動可能なように取付けられている。この１１す、第４図
における検査ビスト７２３は、この時は電子部品２を上
から押えるだけの役割をするっ次に動作について説明す
る。上下ブロック１７が工２方向に摺動する時、ピスト
ン了１もエアーによって、Ｉ２方向に動き、検査ブロッ
ク６１がＩ２　方向に下降する。これを示したのが第１
６図である。次にピストン５３がＩ２方向に下降するこ
とによって検査レバー６９が支点軸５８を中、ｂに５２
方向に揺動する。そして、次にピストン７１だけが工１
方向に上昇することによって検査ブロック６１と共に検
査レバー５９が工１方向に上列し、検査孔６３が端子１
に入ったのが第１６図である。端子１が曲がっていて検
査孔６３゛に端子１が入らない時は、途中で止まるので
、その位置の差を検出することによって端子１の異常を
検査する。こうすることによって端子１が下を向いてい
る電子部品２でも検査することができる。

発明の効果 以上のように本発明の電子部品自動検査装置は、基板に
電子部品を挿入する前にシュート上で電子部品の検査を
するので、端子の異常にょ９挿入ミスを発生して機械が
停止することがなくなり、機械の稼動率があがり、生産
性の向上に大変意義があるわ また、電子部品をシュート上で電気特性の検査をするこ
とによって、不Ｊ′Ｓ］：部品を１１庁前に取出すこと
ができ、この結果、不良部品を基板に組み込むことを防
止でき、信頼性の高いプリント基板回路を組立ることか
でき、工業的価値の犬なるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図（イ）〜に）は異形部品を示す斜視図、第２図は
従来における電子部品自動挿入機の斜視図、第３図は従
来における電子部品自動挿入機Ω動作を説明する概略構
成図、第４図は本発明の電子部品自動検査装置の一実施
例を示す要部の一部切欠斜視図、第６図は同電子部品自
動検査装置の一実施例の平面図の概略構成図、第６自〜
第１２図は同電子部品自動検査装置の動作を示す断固図
、第１３図、第１４図は他の実施例の断面図、第１５図
。 第１６図は他の実施例の動作を示す断面図である。 １・・・・・端子、２・・−・電子部品、３・・−・プ
リント基板、４・・・・・Ｘ−Ｙテーブル、５　・・ソ
ニー１−１６・・・・・挿入ヘッド、７・・・・フレー
ム、８・・・・支点軸、９　・・揺動ブロック、１０・
・・・シリンダー、１１・・　・・ピン、１２・・・・
・ビン、１３・　・・シリンダー、１４・・・・・・空
気口、１５・・・・空気口、１６・・上下ピストン、１
７・・・・・・上下ブロック、１８・・・・アーム、１
９・・・・・・空気口、２Ｑ・・・・・／リンダー１２
１・・・・・空気口、２２・・・・・・シリンダー、２
３・・・・・・検査ピストン、２４・・・・・バネ掛け
、２５・・・・・・バネ掛け、２６・・・・引張バネ、
２７・・・・・・チャック開閉ピストン、２８・・・・
・バネ掛け、２９・・・・・バネ掛け、３ｏ・・・・・
引張バネ、３１・・・・支点軸、３２・・・・・・チャ
ック、３３−・・・引り長バネ、３４・・・・バネ１月
け、３５・・・・ストッパー、３６・・・・・レバー、
３７・・・・・レバー、３８・・・・回転軸、３９　・
・軸受、４０・・・・・・レバー、４１・・・・シリン
ダー、４２・・・・Ｌｌｌｌｉ、４３　・・検査孔、４
４・・・空気口、４６・・・バネ掛け、４６・・・・・
・バネ４卦け、４７　・引張バネ、４８・・・・・レバ
ー、４９・・・・・シリンダー、５０・・・・・・ビス
ト７．５１・　・検査ブロック、６２・・・・・シリン
ダー、６３・・・・・ピストン、６４・・・・空気口、
５６・・・−・バネ掛け、５６・・・・・・バネ掛け、
５７・−・・・・引張バネ、６８・・・・・・支点軸、
５９・・・・・・検査レバー、６０・・・・・バネ掛け
、６１・・・・・・バネ川け、６２・・・・・・引張バ
ネ、６３　・・・・検査孔、６４・・　バネ掛け、６６
・・・・バネ掛け、６６・・・・引張バネ、６了・・・
・・・空気口、６８・・・・・・回転軸、６９・・・・
・ローラー、７０・・・・・シリンダー、７１・・・・
ピストン、７２・・・・・・圧縮バネ。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　はが１名第　
６ 第　８　図　第　９　図 璃１０図 第１２図 第１３図 第１４図 第１５図 第１６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. フレームによって結合された支点軸を中心に、シリンダ
   ーによって揺動する揺動ブロックと、との揺動ブロック
   に設けられたシリンダーの上下ピストンに結合され、揺
   動ブロックに沿って揺動する上下ブロックと、この上下
   ブロックに上下摺動して電子部品の端子の異常を検査す
   る検査ピストンを設けるとともに、この上下ブロックに
   チャック開閉ピストンによって開閉しシュート上の電子
   部品を保持するチャックを設け、間欠的に供給される電
   子部品を位置決めするストッパーを上記上下ブロックの
   下端面に設けてなる電子部品自動検査装置。