JPS60183878U - 半導体検査装置 - Google Patents
半導体検査装置Info
- Publication number
- JPS60183878U JPS60183878U JP7138584U JP7138584U JPS60183878U JP S60183878 U JPS60183878 U JP S60183878U JP 7138584 U JP7138584 U JP 7138584U JP 7138584 U JP7138584 U JP 7138584U JP S60183878 U JPS60183878 U JP S60183878U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- connector
- semiconductor inspection
- inspection equipment
- comparator
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は本考案の一実施例を示す構成説明図、第２図は
本考案の他の実施例を示す構成説明図、第３図は装置の
一例を示す構成説明図である。 １・・・検査対象半導体、２・・・コネクタ、３・・・
マトリクス回路、６・・・非反転増幅器、７・・・比較
器、８・・・トランジスタ、９・・・出力端子。
本考案の他の実施例を示す構成説明図、第３図は装置の
一例を示す構成説明図である。 １・・・検査対象半導体、２・・・コネクタ、３・・・
マトリクス回路、６・・・非反転増幅器、７・・・比較
器、８・・・トランジスタ、９・・・出力端子。
Claims (1)
- 検査対象半導体が着脱されるコネクタを有する半導体検
査装置において、非反転入貢端子に電圧源が接続されて
反転入力端子がコネクタの互いに異なる２個のピンを介
して共通電位点に接続される非反転増幅器と、非反転増
幅器の出力信号と設定値とを比較する比較器とを備え、
比較器の出力信号に従ってコネクタおよび検査対象半導
体の導通状態を識別することを特徴とする半導体検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7138584U JPS60183878U (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 半導体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7138584U JPS60183878U (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 半導体検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60183878U true JPS60183878U (ja) | 1985-12-06 |
Family
ID=30608834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7138584U Pending JPS60183878U (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 半導体検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60183878U (ja) |
-
1984
- 1984-05-16 JP JP7138584U patent/JPS60183878U/ja active Pending
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