JPS60252220A - 測定装置 - Google Patents
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- JPS60252220A JPS60252220A JP11034484A JP11034484A JPS60252220A JP S60252220 A JPS60252220 A JP S60252220A JP 11034484 A JP11034484 A JP 11034484A JP 11034484 A JP11034484 A JP 11034484A JP S60252220 A JPS60252220 A JP S60252220A
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- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 3
- 206010027339 Menstruation irregular Diseases 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
- G01D21/02—Measuring two or more variables by means not covered by a single other subclass
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、物理量の測定装置に関し、特に?11−の物
理量を複数の検出部で検出し情報として使用する測定装
置に関するものである。
理量を複数の検出部で検出し情報として使用する測定装
置に関するものである。
例えば、温度センザ、ガス濃度センザ、液面センザなど
では夕1部雰囲気にルL:じて抵抗体の抵抗値が変化し
て、この変化に基づいて物理量が測定されている。この
ような抵抗体で得られる抵抗値はそのままで用いること
なく後段の検出部によって電気的変換が行なわれ電圧、
電流、周波数などに変換して取り出されろ。そして、変
換された物理量としての情報は各種制御された後、表示
部などで表示される。
では夕1部雰囲気にルL:じて抵抗体の抵抗値が変化し
て、この変化に基づいて物理量が測定されている。この
ような抵抗体で得られる抵抗値はそのままで用いること
なく後段の検出部によって電気的変換が行なわれ電圧、
電流、周波数などに変換して取り出されろ。そして、変
換された物理量としての情報は各種制御された後、表示
部などで表示される。
ところで、1つの物理量を情報として1つの検出部によ
り測定し、その後表示を行なわせる構成の場合には問題
がないが、近年、1つの物理量を複数の検出部に供給し
、各々の検出部において測定した後、その後段につjよ
がる表示部におし・て表示を行なわせる構成どしたもの
があり、例えば自動11T、の燃料残量に応じた電圧を
、常時燃料残量のみを測定する第1の検出部と、走行[
(9間等とともに取り込み燃料残量のみならず燃費や単
位時間当りの消費量などを測定する第2の検出部に供給
し、その後段につながる表示部において表示を行なわせ
る場合には各々の検出部の電源によって測定誤差が発生
することがお4)。
り測定し、その後表示を行なわせる構成の場合には問題
がないが、近年、1つの物理量を複数の検出部に供給し
、各々の検出部において測定した後、その後段につjよ
がる表示部におし・て表示を行なわせる構成どしたもの
があり、例えば自動11T、の燃料残量に応じた電圧を
、常時燃料残量のみを測定する第1の検出部と、走行[
(9間等とともに取り込み燃料残量のみならず燃費や単
位時間当りの消費量などを測定する第2の検出部に供給
し、その後段につながる表示部において表示を行なわせ
る場合には各々の検出部の電源によって測定誤差が発生
することがお4)。
1−なわち、第5図に示すように、センサとしての可変
抵抗Rxはプルアップ抵抗Roと直列に第1の検出部1
内の電源2に接続されている。
抵抗Rxはプルアップ抵抗Roと直列に第1の検出部1
内の電源2に接続されている。
また、第1の検出部1はセンサRxの物理量を電気■1
に変換して情報を検出する比較回路3と、この情報を後
段の表示部4に出力するための制御回路5を備えている
。この比較回路3及び制御回路5は電源2によって駆動
され、特に比較回路3はセンサと1〜での可変抵抗RX
の端子間電圧と電源2の電源電圧V’ D 1)に基づ
く比較電圧とを比較すて)ごとにより物理h1を検出し
ている。
に変換して情報を検出する比較回路3と、この情報を後
段の表示部4に出力するための制御回路5を備えている
。この比較回路3及び制御回路5は電源2によって駆動
され、特に比較回路3はセンサと1〜での可変抵抗RX
の端子間電圧と電源2の電源電圧V’ D 1)に基づ
く比較電圧とを比較すて)ごとにより物理h1を検出し
ている。
また、この同一のセンサの物理1.1を検出[2て、他
の表示部6などに出力する第2の検出部7は、同様に電
源8.比較回路9及び制御回路10を備え、この制御回
路10には他の物理量の状態に応じた電気信号を出力す
るセンサ11が接続されており、比較回路9.制御回路
10は電源8の電圧V’D ’Dによって駆動している
。
の表示部6などに出力する第2の検出部7は、同様に電
源8.比較回路9及び制御回路10を備え、この制御回
路10には他の物理量の状態に応じた電気信号を出力す
るセンサ11が接続されており、比較回路9.制御回路
10は電源8の電圧V’D ’Dによって駆動している
。
このように構成された従来装置では、片1に回路3,9
の人力部にRx・VDわ/ (Rx斗RO)なる電圧が
発生する。ここで抵抗Roを既知の抵抗イ直とすればR
X/(RX+RO)は−λ1にのカーブを抽く。従って
、比較回路3ではRX−VDD/(RO−4−Rx)
と電源電圧VDDに基づ(比較電圧を、J′I′、1l
j2回路9でばRx−VDD/(Ro+RX)と電源電
圧V’DD にシにづく比較電圧をそれぞれ比較するこ
とにより、検出部1,7でセンサの抵抗値Rxをめ乙)
ことが目丁能となる。
の人力部にRx・VDわ/ (Rx斗RO)なる電圧が
発生する。ここで抵抗Roを既知の抵抗イ直とすればR
X/(RX+RO)は−λ1にのカーブを抽く。従って
、比較回路3ではRX−VDD/(RO−4−Rx)
と電源電圧VDDに基づ(比較電圧を、J′I′、1l
j2回路9でばRx−VDD/(Ro+RX)と電源電
圧V’DD にシにづく比較電圧をそれぞれ比較するこ
とにより、検出部1,7でセンサの抵抗値Rxをめ乙)
ことが目丁能となる。
とこ−ろが電源は電源電圧の変動が激しいものであり、
精度が±10%以内のものが多い。そのため、可変抵抗
RXF電源電圧VDD を印加してし・ろ第1の検出部
1における比較回路3では電源電圧VDDが変動しても
比較するものが同じ割合で変動′1−るので問題はない
。しかし、第2の検出部7における比較回路9では電源
電圧V’D Dが電源2の電源型1:’HE VDDに
等しいか、ある−>ilの比率で固定されていれば、比
較するものが同じ割合で変動するので、比較回路3の出
力と同じ出力を得ることができる。しかしながら、電源
の許容範囲は±10%以内であるため、例えば、電源電
圧VDDが+10%変動1〜で、電源電圧V’DDが−
10%変動した場合、比較回路9では最大約20%の測
定誤差が生じろことになる。この測定誤差はあらかじめ
電源8の電源電圧V’r+ Dを電源2の電源電圧X酊
りに調整すれば解決できるが、測定毎にこの調整を行な
ったり、また検出部が複数ある場合は・順雑な作業とな
っていた。またこのような調整は急な電源電圧の変動に
対応できて)ものではない。このように、従来は1つの
物、flII量に対して2個以上の検出部を接続した場
合、電源電圧の変動により、測定値がそれぞれ異なると
云う問題があった。
精度が±10%以内のものが多い。そのため、可変抵抗
RXF電源電圧VDD を印加してし・ろ第1の検出部
1における比較回路3では電源電圧VDDが変動しても
比較するものが同じ割合で変動′1−るので問題はない
。しかし、第2の検出部7における比較回路9では電源
電圧V’D Dが電源2の電源型1:’HE VDDに
等しいか、ある−>ilの比率で固定されていれば、比
較するものが同じ割合で変動するので、比較回路3の出
力と同じ出力を得ることができる。しかしながら、電源
の許容範囲は±10%以内であるため、例えば、電源電
圧VDDが+10%変動1〜で、電源電圧V’DDが−
10%変動した場合、比較回路9では最大約20%の測
定誤差が生じろことになる。この測定誤差はあらかじめ
電源8の電源電圧V’r+ Dを電源2の電源電圧X酊
りに調整すれば解決できるが、測定毎にこの調整を行な
ったり、また検出部が複数ある場合は・順雑な作業とな
っていた。またこのような調整は急な電源電圧の変動に
対応できて)ものではない。このように、従来は1つの
物、flII量に対して2個以上の検出部を接続した場
合、電源電圧の変動により、測定値がそれぞれ異なると
云う問題があった。
本発明は上記事情に基づいてなされたものであり、1つ
の物理量に対1〜て複数の検出部を接続1〜でも、各検
出部において同じ測定値を得るとどのできる測定装置を
提供することを目的とするものである。
の物理量に対1〜て複数の検出部を接続1〜でも、各検
出部において同じ測定値を得るとどのできる測定装置を
提供することを目的とするものである。
−[−記Ll的を達成するための本発明の構成は物理量
の状態に応じた検出電圧を複数の検出部に供給し、この
検出部の後段につながる表示部において前記物理量に関
連する表示を行なう測定装置において、各検出部はAi
J記検量検出電圧力して比較電圧と比較し前記物理量を
検出する比較回路とを備え、附記比較電圧は前記物理量
の状態に応じた検出電圧を発生させるための電源から共
通に供給されるものである。
の状態に応じた検出電圧を複数の検出部に供給し、この
検出部の後段につながる表示部において前記物理量に関
連する表示を行なう測定装置において、各検出部はAi
J記検量検出電圧力して比較電圧と比較し前記物理量を
検出する比較回路とを備え、附記比較電圧は前記物理量
の状態に応じた検出電圧を発生させるための電源から共
通に供給されるものである。
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。同
図において、21は第1の検出部で・あり、電源22.
比較回路23及び制御回路24を備えており、制御回路
24の後段には表示部25を接続している。センサどし
てのl′If変抵抗Rxはプルアップ抵抗ROと「α列
に電源22に接続されており、比較回路23及び制御回
路24は電#、22の電源電圧へrDDによ−)で駆動
する。
図において、21は第1の検出部で・あり、電源22.
比較回路23及び制御回路24を備えており、制御回路
24の後段には表示部25を接続している。センサどし
てのl′If変抵抗Rxはプルアップ抵抗ROと「α列
に電源22に接続されており、比較回路23及び制御回
路24は電#、22の電源電圧へrDDによ−)で駆動
する。
26は第2の検出部で゛あり、同イ]にに電源27゜比
較回路28及び制御回路29を備えており、制御回路2
9には他の物理量の状態にl1i)iじた電気信号を出
力するセンサ30が接続され、また後段には表示部31
を接続している。しが12、この比較回路28は第1の
検出部210電源22によって駆動され、制御回路29
は電源27の電源電圧V’DDによって駆動されろ。
較回路28及び制御回路29を備えており、制御回路2
9には他の物理量の状態にl1i)iじた電気信号を出
力するセンサ30が接続され、また後段には表示部31
を接続している。しが12、この比較回路28は第1の
検出部210電源22によって駆動され、制御回路29
は電源27の電源電圧V’DDによって駆動されろ。
第2図は比較回路23.28の一実施例を示すブロック
図で・あり、32は比較器、33はマイクロコンピュ〜
りである。マイクロコンピュータ33の出力端子A、
、 B 、 Cに直列抵抗R1゜R,、R,がそれぞれ
接続され、また抵抗R,、R2゜R3のそれぞ租の間及
びアースどの間に並列抵抗R,,R,,R,が接続され
、これら抵抗R1〜R6の値ばR,=R,=R,=R,
−2R,= 2R,に設定してあり、抵抗R1どR4と
の接続点は比較器32の非反転入力端子■)に接続され
ている。そして、比較器320反転入力端千端子プルア
ップ抵抗Roと可変抵抗Rxどの接続点に接続され、出
力端子Fはマイクロコンピュータ33を介して、それぞ
れ制御回路24.29に接続される。
図で・あり、32は比較器、33はマイクロコンピュ〜
りである。マイクロコンピュータ33の出力端子A、
、 B 、 Cに直列抵抗R1゜R,、R,がそれぞれ
接続され、また抵抗R,、R2゜R3のそれぞ租の間及
びアースどの間に並列抵抗R,,R,,R,が接続され
、これら抵抗R1〜R6の値ばR,=R,=R,=R,
−2R,= 2R,に設定してあり、抵抗R1どR4と
の接続点は比較器32の非反転入力端子■)に接続され
ている。そして、比較器320反転入力端千端子プルア
ップ抵抗Roと可変抵抗Rxどの接続点に接続され、出
力端子Fはマイクロコンピュータ33を介して、それぞ
れ制御回路24.29に接続される。
以上のように構成された本発明の詳細な説明する。電源
22の電源電圧VDDが印加されている可変抵抗Rxで
発生した検出電圧R,X −VDD/(Rx十Ro)は
比較器32に入力される。一方、マイクロコンピュータ
33の出力端子A、、 、 B 。
22の電源電圧VDDが印加されている可変抵抗Rxで
発生した検出電圧R,X −VDD/(Rx十Ro)は
比較器32に入力される。一方、マイクロコンピュータ
33の出力端子A、、 、 B 。
Cには第3図のタイムチャートで示すように” TT
”かパL′”(−1−なわちVD丁〕がOV)の′1程
圧が出力さね5.3つの端子A 、 B、Qにおけろ出
力電圧の組合せにより8通りの比較電圧が最大は不定周
期で・繰り返し出力さ才′1、片較芥32に入力されろ
。この比較器32は可変抵抗RXの端子間型j下どマイ
ク[jコンビコータ33 )出j)端子A、 、 f3
、 Cからの出力電圧を比較t〜て、両市f1−の大
小関係が逆転したどきにそり、、−rで・の出力とは反
転し7た出力をマイクロコンピュータ33へ転送する。
”かパL′”(−1−なわちVD丁〕がOV)の′1程
圧が出力さね5.3つの端子A 、 B、Qにおけろ出
力電圧の組合せにより8通りの比較電圧が最大は不定周
期で・繰り返し出力さ才′1、片較芥32に入力されろ
。この比較器32は可変抵抗RXの端子間型j下どマイ
ク[jコンビコータ33 )出j)端子A、 、 f3
、 Cからの出力電圧を比較t〜て、両市f1−の大
小関係が逆転したどきにそり、、−rで・の出力とは反
転し7た出力をマイクロコンピュータ33へ転送する。
そして、マイクロコンピュータ33はこのとき端子A、
、 B 、 Cから出力している信号に応じて可変抵
抗RXO値を演算処理して制御回路24.29へ出力す
る。
、 B 、 Cから出力している信号に応じて可変抵
抗RXO値を演算処理して制御回路24.29へ出力す
る。
このように、第1及び第2の検出部2L26の比較回路
23.28には同じ電源電圧VDDが印加されているの
で比較器32において可変抵抗Rxに対して同等の比較
が行なわれ、検出部が異なっても同じ測定値を得ろこと
ができろ。
23.28には同じ電源電圧VDDが印加されているの
で比較器32において可変抵抗Rxに対して同等の比較
が行なわれ、検出部が異なっても同じ測定値を得ろこと
ができろ。
第4図は電源電圧VDDを例えば8段階に区分したとき
の可変抵抗RXの端子間電圧RX−VDD/(Rx+R
o)との比較を示したもので、従来装置のように検出部
の比較回路毎に異なる電源を検出部毎の測定値が異なる
場合が生じるが、前記実施例によれば、このような不具
合を考えることなく安心して使用できる。
の可変抵抗RXの端子間電圧RX−VDD/(Rx+R
o)との比較を示したもので、従来装置のように検出部
の比較回路毎に異なる電源を検出部毎の測定値が異なる
場合が生じるが、前記実施例によれば、このような不具
合を考えることなく安心して使用できる。
尚、i?l制御回路24.29は異なる電源によって駆
動されているが、直接測定値に電源電圧が閏!j、シな
いので問題はブよい。
動されているが、直接測定値に電源電圧が閏!j、シな
いので問題はブよい。
このように、本発明によれば1つの可変抵抗RXを測定
するのに2個以上の検出部を使用した場合、それぞれの
電圧を比較]−る比較回路に同じ電源からの電源電圧を
供給することによって、検出部毎の電源電圧の変動に左
右されず、可変抵抗Rxに対して同じ測定値を検出でき
る。
するのに2個以上の検出部を使用した場合、それぞれの
電圧を比較]−る比較回路に同じ電源からの電源電圧を
供給することによって、検出部毎の電源電圧の変動に左
右されず、可変抵抗Rxに対して同じ測定値を検出でき
る。
このため、検出部毎の測定精度が向上する。
以−[ユ、本発明の一実施例について詳述したが、本発
明の要旨の範囲内で種々の変形例を包含することは言う
までもブよい。例えば検出部ば2jlIIT:l以にで
あっても良い。また、マイクロコンピュータ33の出力
端子A、 、 B 、 Cの数は3つに限定されろこと
フエク、この数を増せば測定値の分解能を高めて精度を
上げることができろ。
明の要旨の範囲内で種々の変形例を包含することは言う
までもブよい。例えば検出部ば2jlIIT:l以にで
あっても良い。また、マイクロコンピュータ33の出力
端子A、 、 B 、 Cの数は3つに限定されろこと
フエク、この数を増せば測定値の分解能を高めて精度を
上げることができろ。
以」二詳述したように本発明によれば、1つの物理量に
対して複数の測定装置を接続■7ても、各測定装置にお
いて、同じ測定値を得ることのできる測定装置を提供で
きる。
対して複数の測定装置を接続■7ても、各測定装置にお
いて、同じ測定値を得ることのできる測定装置を提供で
きる。
第1図は本発明の測定装置の一実施例を示すブロック図
、第2図は比較回路のブロック図、第3図はマイクロ二
Jンピュータの出力電圧を示−シ゛−タイツ・ヂャ−1
・、第4図は比較器におけろ比較手段の説明図、第5図
は従来装置のブロック図で・ある。 21・・第1の検出部 22・・電源 23・・比4i
Q回路 26・・第2の検出部 27・・′iIf源
28・・比較回路 32・・比較回路33・・マイクロ
コンピュータ Rx ・・可変抵抗 Ro ・・プルア
ップ抵抗
、第2図は比較回路のブロック図、第3図はマイクロ二
Jンピュータの出力電圧を示−シ゛−タイツ・ヂャ−1
・、第4図は比較器におけろ比較手段の説明図、第5図
は従来装置のブロック図で・ある。 21・・第1の検出部 22・・電源 23・・比4i
Q回路 26・・第2の検出部 27・・′iIf源
28・・比較回路 32・・比較回路33・・マイクロ
コンピュータ Rx ・・可変抵抗 Ro ・・プルア
ップ抵抗
Claims (1)
- 物理量の状態に応じた検出電圧を複数の検出部に供給し
、この検出部の後段につながる表示部において前記物理
量に関連する表示を行なう測定装置において、各検出部
は前記検出電圧を入力して比較電圧と比較し前記物理量
を検出する比較回路とを備え、前記比較電圧は前記物理
量の状態に斤:じた検出電圧を発生させるための電源か
ら共通に供給されることを特徴とする測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11034484A JPS60252220A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 測定装置 |
| CA000467163A CA1218871A (en) | 1984-05-29 | 1984-11-06 | Measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11034484A JPS60252220A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60252220A true JPS60252220A (ja) | 1985-12-12 |
Family
ID=14533373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11034484A Pending JPS60252220A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | 測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60252220A (ja) |
| CA (1) | CA1218871A (ja) |
-
1984
- 1984-05-29 JP JP11034484A patent/JPS60252220A/ja active Pending
- 1984-11-06 CA CA000467163A patent/CA1218871A/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA1218871A (en) | 1987-03-10 |
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