JPS60258769A - 磁気カ−ドのデ−タ記録状態測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気カードに記録されたデータの記録状態を測
定する磁気カードのデータ記録状態測定方法に関し、特
に磁気カードに記録されたデータの波高値を測定できる
磁気カードのデータ記録状態ｉ＋＋　楚方法に関するも
のである。

一般に磁気カードには、多くのものがＪＩＳ−Ｂ９５６
１規格に基づいて必要なデータが記録されている。

前記磁気カードにおける記録データの間隔は、当該基格
によれば、８．２６８　ｂｉｔ／ｉｍ±４％と規定され
ている。しかして、その記録データの間隔は、具体的に
は、０．１２１１１１であり、許容誤差が±４％とある
ので、士約５μｍとなる。このように５μｍの如き微小
な磁気記録状態における記録データの波高値を測定する
必要が生じてきた。

本発明は上述のことに鑑みてなされたものであり、磁気
カードに記録された各種データを再生し５その再生信号
の波高値をディジタル信号に変換すると共に、その波高
値開缶の時間間隔を測定して記憶し、その記憶された時
間間隔を読み出して一測定前の時間間隔と比較し、その
比較結果により当該比較された時間間隔が一方の論理と
判定されたときにはその間の波高値を、他方の論理と判
定されたときにはその間の波高値と一測定後の波高値と
の平均をとった波高値を出力する磁気カードの記録状態
測定方法を提供することにある。

以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図（Ａ）は磁気カードを示す平面図であり、第１図
ｆＢ）は磁気カードに設けられた磁気ストライプに記録
されたデーターの記録状態を示す説明図である。

第１図（Ａ）において、符号１は磁気カードであり、こ
の磁気カード１には磁気ストライプ２が設けられると共
に、磁気カード１の発行元名称３、所定のコード番号４
、個人氏名５、有効期限６などが記されている。

磁気カード１に設けられた磁気ストライプ２には、第１
図（Ｈ）に示すように、必要なデータが論理”１”　？
ｌ　Ｑ　１１をもって記録されている。磁気ストライプ
２は、１′、１”とも基本的には同一間隔で記録されて
いるものであり、ｎｏｌ＋はその間隔内で磁化の変化が
なく、捷だ、”１″はその間隔内で磁化の変化がある。

同図（Ｂ）に示す矢符は磁気の方向であり、”０″′は
磁気の方向は変っていてもその間隔中に磁化変化がなく
、また１”はその間隔中に必ず磁化変化があることが理
解できる。

第２図は本発明に係る磁気カードのデータ記録状態測定
方法の実施例を実現する測定装置を示す斜視図である。

第２図において、第１図と同一構成要素には同一符号を
付して説明を省略する。

第２図において、符号７は読取装置であり、この読取装
置７には、電源スィッチ８、電源スィッチ８を”ＯＮ”
したときに点灯する電源表示灯９、磁気カード１をカー
ド挿入口１０に挿入し該磁気カードｌの磁気ストライプ
２に記録されたデータを読み取るリーダー１１、マスタ
ーキー１２、磁気カード１のデータの記録状態が正常又
は異常のときにそれぞれ点灯するＯＫ表示灯１３又はＮ
Ｇ表示灯１４、リーダー１１で磁気カード１のストライ
プ２から読み出した再生信号を取り出せるプラグ１５と
が設けられている。

この読取装置７はケーブル１６を介して処理装置１７に
接続されている。

処理装置１７には、キーボード１８が設けられている。

この処理装置１７には、種々の情報を表示するＣＲＴデ
ィスプレイ装置１９と、当該処理装置１７を動作させる
プログラムや各種のデータを記憶するフロッピーディス
ク装置加と、及び該処理装置からの各種印刷データを印
刷するプリンタ２１とが接続されている。

第３図は本発明の実施例が適用される測定装置の信号系
統を示すブロック図である。

第３図において、上記読取装置７における信号系統は、
リーダー１１のカード挿入口１０に挿入された磁気カー
ド１の磁気ストライプ２に記録されたデータを電気信号
に再生できる磁気ヘッド２２と、この磁気ヘッドｎから
の再生信号を一定のレペルオで増幅する増幅器器と、こ
の増幅益田からの出力信号の波高値（上下のピーク値）
をホールドするサンプルホールド回路２４と、該サンプ
ルホールド回路２４からの出力信号の波高値をデジタル
信号に変換するアナログ−デジタル（ＡＤ）変換器５と
、該増幅器おからの出力信号を基に時間間隔測定信号（
タイムインターバル測定信号ともいう）を形成すると共
にサンプルホールド回路列にサンプリング指令を出力す
る比較回路２６と、該比較回路２６からの出力信号によ
り磁気カード１の磁気ストライプ２に記録されたデータ
の上下ピークからピークまでの時間間隔を測定すると共
に該ＡＤ変換器２５ＡＤ変換のタイミング信号を形成で
きる時間間隔測定回路ごと、上記処理装置１７にデータ
取り込みタイミングを指示し、また処理装置１７からの
指令により増幅益田の増幅度を設定すると共に測定タイ
ミングの制御をする制御回路脂とを含んで構成されてい
る。しかして、Ａ０変換器５及び時間間隔測定回路ｎか
ら出力される信号は、処理装置１７に供給されるように
なっている。

次に、処理装置１７の信号系統について説明する。

処理装置１７は、各種の演算処理や制御を行う中央演算
処理装置（ＣＰＵ）　２９と、該ＣＰＵ２９の基本的動
作等を実行させるプログラムが記憶されたリードオンリ
メモリ（ＲＯＭ）　３０と、当該測定方法を実行するプ
ログラム、所定の定数、外部から取シ込んだデータ等を
記憶できるランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）３１と、
該ＡＤ変換器５からのデータを取シ込むだめのディジタ
ル入力ポート３２と、該時間間隔測定回路ｎからのデー
タを取り込むためのディジタル人力ボート３３と、該読
取装置７との間で各種指令の人出力を行うだめの入出力
ポート３４と、キーボード１８、ＣＲＴディスプレイ装
置１９、フロッピーディスク装置か及びプリンタ２１を
該ＣＰＵ２９に接続するための入出力制御装置３５，３
６．３７及びあと、各ボート３２〜３４．ＲＡＭ３１．
入出力制御装置３５〜関及びＣＰＵ２９間を接続するバ
ス３９とを含んで構成されている。

上述のように構成された測定装置の動作を以下に説明す
る。

第４図（１）〜（ロ）は上記読取装置７の動作を説明す
るために示すタイムチャートであり、第５図（１）〜（
至）は測定装置の動作を説明するために示すフローチャ
ートである。

第４図において、（■）は磁気ストライプ２に記録され
たデータの記録状態を、（川は増幅器部からの出力信号
を、（至）は（ＩＩ）から得られるディジタル信号を、
（５）はディジタル信号（農から得られる微分信号を、
（Ｖ）は信号（場を基に得られるビットインターバル測
定信号を、（至）はビットインターバル信号（Ｖ）によ
って測定される時間間隔（Ｔｓ　、Ｔｔ　、・・・）を
、それぞれ示すものであり、また各横軸は時間がとられ
ている。尚、図（］ＩＩ）〜Ｍは比較回路が内で形成さ
れる信号であり、（■がそれの出力信号として出力され
る。

それでは、第１図〜第５図を参照して動作を説明するこ
とにする。

まず、第５図（１１を参照しながら磁気カード１のデー
タの読み込みについて説明する。

磁気カードを読取装置７のリーダー１１のカード挿入口
１０に挿入する（ステップ５４１）。すると、リーダー
１１は、磁気カード１が挿入されたのを検知して磁気カ
ード１の磁気ストライプ２に記録されたデータ（第４図
（Ｔ）参照）を磁気ヘッドηで読み出す（ステップ５４
２）。その読み出した再生信号は、増幅器ηで増幅され
てサンプルホールド回路部及び比較回路部に供給される
（ステップ５４３）。

サンプルホールド回路部では上記比較回路部からの指令
信号により上のピーク値又は下のピーク値を保持する（
ステップ５４４）。このサンプルホールド回路２４でホ
ールドされたピーク値をＡＤ変換器部でデジタル信号に
変換し入出力ポート３２を介してＲＡＭ３１の所定の第
１のエリアに前記デジタル信号が記憶される（ステップ
５４５）。

一方、増幅器おから出力された信号（第４図（ＩＩ）参
照）は、比較回路２６において、まず第４図（ＩＩに示
す信号に変換される（ステップ５４６）。次に、第４図
（（２）に示す信号は、同様に比較回路２６において、
微分されて同図（川に示す微分信号とされ、これにより
同図（Ｖ）に示すようなビットインターバル測定信号を
得る（ステップ５４７）。このビットインターバル測定
信号は、時間間隔測定回路部に供給されて、ピントイン
ターバル測定信号の立下りから立下シまでの時間が測定
される（ステップ８４８）。

尚、時間間隔０＋＋＋定回路２７Ｖｉ、実際には、該測
定信号の立下りから立下りまで測定するのではなく、例
工ばワンショットマルチバイブレータを該測定信号で駆
動し、この素子より出力された信号から該測定信号の次
の立下り寸での時間ＴＴを測定し、この時間ＴＴをワン
ショットマルチバイブレータの動作時間ＴＳに加えて使
用する回路構成がとられている。しかして、ワンショッ
トマルチバイブレータが動作している時間Ｔ２Ｏ間は、
その測定時間ＴＴを処理装置１７に転送するために使用
されている。

このように測定されたタイムインターバルデータＴＩ　
ｒ　Ｔ！＋　ＴＳｒ・・・・・・、’ｒＮ（同図（ＶＩ
）参照）は、時間間隔測定回路ｎよや入出力ポート３３
を介してＲＡ　Ｍ３１の所定の第２のエリアに記憶され
る（ステップ５４９）。

すなわち、ＡＤ変換器部及び時間間隔測定回路２７から
の出力データは、−担、ＲＡＭ３１の所定のエリアに全
て記憶されることになる。以上が磁気カード１からのデ
ータ読み込みの動作である。

次に、ビットインターバルデータの処理について第５図
（ＩＩ）を参照して説明する。

ステップ５０において、ＲＡＭ３１の第２のエリアに記
憶されたタイムインターバルデータＴ、、　Ｔ、、　Ｔ
３・・・を読み出し、これらを加算してその加算値の平
均をとり、これを基に第１の基準幅が得られる。すなわ
ち、下式の如き演算をさせる。

ただし、Ｎ　；　Ｔ、　−’ｒＮまでの数しかして、そ
の演算結果を基にして第１の基準幅Ｔｓ１（＝（ｉ±−
）　Ｔｍｅａｎ　）を得る。尚、ａは前述の如く例えば
４％である。

また、ビットインターバルデータＴＭは、ＲＡＭ３１か
ら順次読み出され（ステップ５１）、ステップ８５２で
論理が、ｕか０”かを判定される。このステップ８５２
において、論理がＯＮと判定されたらステップ８５３　
Ｋ移る。ステップＳ５３では、そのビットインターバル
データＴＭを第１の基準幅Ｔｓｌ（例えば、０．１２　
ｍ±５μｍに相当するもの）と比較し、そのビットイン
ターバルデータＴＭが第１の基準幅ＴＳＩ内に入ってい
る否かを判定する。

このステップ８５３で前記データＴＭが所定の第１の基
準値幅ＴＳＩに入っていると判定されるとステップ８５
４に移り、その判定結果（ＯＫ”）をＲＡＭ　３１の第
３のエリアに記憶させる。

一方、ステップＳ５３で前記データＴＭが第１の基準幅
Ｔｓｌ内に入っていないと判定されるとステップＳ５５
に移り、その判定結果（“ＮＧ”）をＲＡＭ　３］の第
４のエリアに記憶させる。

前述のステップＳ５４．Ｓ５５の次にはＲＡＭ３１の第
２のエリアに記憶されているビットインターバルデータ
ＴＭの全てが終了したか否かをステップＳ５６で判定す
る。このステップＳ５６で全ビットインターバルデータ
の比較が終了していないときは、ステップＳ５１に戻り
、全ビットインターバルデータの比較が終了したときに
は次のステップＳ５７に移る。

また、ステップ８５２でＲＡＭ３１の第２エリアからの
ビットインターバルデータが論理″′１”であると判定
されるとステップ８５８に移シ、ここでＲＡＭ３１の第
２エリアから次のビットインターバルデータ（ＴＭ＋１
）を読み出す。次いで、ステップ８５９において、先の
ビットインターバルデータ（ＴＭ）と、今読み出してき
たビットインターバルデータ（ＴＭ＋１）とを加算（Ｔ
Ｍ　＋　ＴＭ＋１　）　Ｌ、この加算結果をステップＳ
５３のビットインターバルデータとして使用可　・能と
し、ステップＳ５３に移る。

次に、ステップ８５７ではＲＡ　ＭＢ２の第２のエリア
から最初のビットインターバルデータＴ、を読み出して
、ＴＡ（１＋ａ）の演算をし、これを仮シの第２の基準
値Ｔ８２とし、ステップ８６０に移る。ステップＳ６０
ではＲＡＭ３１の第２のエリアから次のビットインター
バルデータＴＭを読み出し、これが論理”１”か０”か
を判定する。ここでビットインターバルデータＴＭがＯ
″と判定されるとステップ８６１に移り、ステップ８６
１でこのデータＴＭを第２の基準幅ＴＳ２と比較する。

このステップＳ６１で前記データＴＭが第２の基準幅Ｔ
ａ２内に入っていれば、”ＯＫ”としてその判定結果を
ＲＡＭ３１の第３のエリアに記憶させる（ステップ５６
２）。

一方、このステップ８６１で前記データＴＭが第２の基
準幅Ｔａ２内に入っていなければ、’ＮＧ”としてその
判定結果をＲＡＭ３１の第３エリアに記憶させる゛（ス
テップ５６３）。

ステップ８６２　、Ｓ６３からはステップ８６４に移フ
、このステップＳ６４にて第２の基準値’Ｉ’Ｓ２をこ
のデータＴＭから下記第（２）式で演算し、Ｔａ２　＝
　（１±ａ　）　ＴＭ　−曲・曲（２）この演算結果を
次の第２の基準値ＴＳ２とする。

次いで、ステップＳ６５に移り、ここで全部のビットイ
ンターバルデータＴＮの比較が終了したか判定し、終了
していなければステップ８６０に戻シ、また終了してい
ればステップＳ６６に移る。

一方、ステップ８６０で前記データＴｇが”１”と判定
されると、ステップＳ６７に移る。ステップＳ６７では
、次のビットインターバルデータＴＭ＋ｌｆ　ＲＡＭ３
１の第２のエリアから読み出す。次いで、ステップ８６
８で先のデータＴＭから第３基準値Ｔｓ３（＝（ｘ±α
）ＴＭ＋を演算して、これで次のデータＴＭ＋１ト比較
スる（ステップ５６９）。比較結果が、”ＮＧ”ならば
ステップＳ７０に、′ＯＫ″ならばステップ８７１に移
る。ステップ８７０ではその比較結果をＲＡＭ３１の第
４のエリアに記憶させる。ステップ８７１ではその比較
結果をＲＡＭ３１の第３のエリアに記憶させる。

これらステップＳ７０　、Ｓ７１を通過したら、先のデ
ータＴｙｔと後のデータＴＭ＋１とをステップ８７２　
において加算（ＴＭ＋　ＴＭ＋１　）　Ｌ、その加算結
果をステップＳ６１におけるデータＴＭとして用いられ
るようにし、ステップＳ６１に移る。

ステップ８６６では、ＲＡＭ３１の第３及び第４のエリ
アを検索し、”ＮＧ″がなければＯＫ表示灯１３を点灯
させ、”ＮＧ″があればＮＧ表示灯１４を点灯させる。

尚、”ＮＧ″の数に等によってＮＧ表示灯１４を点灯さ
せるか否かを調整することもできる。

このように当該測定装置によれば、ＡＤ変換器部により
ピーク値をデジタル信号に変換し、そのピーク値からピ
ーク値までの時間間隔を測定し、これを所定の基準値幅
と比較して正確な間隔でデータが磁気カードの磁気スト
ライプに記録されているか否かを判定することができる
ものである。

さらに、ビットインターバルデータにおける波高値を出
力する動作について第５図（ＩＩを参照して説明する。

波高値を出力する指示が人力されたとする（ステップ５
８０）。

すると、ピットインターバルＴ、の前後縁のディジタル
データＶＩＦ　ＶＩＢがＲＡ　Ｍ　３１から読み出され
、Ｖｌ　＝ＶＩＦ−ＶＩＢ　（Ｄ計算カｔＫサレル（ス
テップＳ８１　）この波高値■１がビットインターバル
データＴ、における波高値として用いられ、これはＣＰ
　Ｕ　２９のバッファに一時記憶される。

次に、このビットインターバルデータＴ、は、−測定前
のビットインターバルデータＴ。から得た一定の基準幅
（Ｔｓ　＝（ｉ±α）ＴＯ）　と比較される（ステップ
５８２）。ここでは、このビットインターバルデータＴ
、が一定基準幅ＴＳＫあるので、論理″０″として、上
記ＣＰＵ２９のバッファにある波高値■１を出力する（
ステップ５８３）。しかして、全データが終了したか判
定し、ここでは終了してないので次の動作に移る（ステ
ップ５８４）。

次に、ビットインターバルデータＴ２の後縁のディジタ
ルデータＶ２ＢがＲＡＭ３１から読み出され、Ｖ２’＝
Ｖ２Ｆ−Ｖ２Ｂ＝ＶＩＢ−Ｖ２Ｂ　（Ｖ２Ｆ＝ＶＩＢ）
　（Ｄ計算がなされる（ステップ５８１）。この波高値
ｖ２′がビットインターバルデータＴ２の波高値として
用いられ、ＣＰＵ２９のバッファに一時記憶される。

次に、このビットインターバルデータＴ２は、−測定前
のビットインターバルデータＴ１から得た一定の基準幅
（Ｔｓ　＝（１±−）Ｔｔ）と比較される（ステップ５
８２）。ここでは、該ビットインターバルデータＴ２は
、一定基準幅内にないので、論理”１”として次のステ
ップ８８５に移る。

ここでは、ビットインターバルデータＴ３の後縁の波高
値Ｖ３ＢをＲＡＭ３１から読み出し、Ｖ、／　＝　Ｖ３
Ｆ−Ｖ３Ｂ　＝Ｖ２Ｂ−Ｖ３Ｂ　（Ｖ３Ｆ＝Ｖ２Ｂ　）
ノ計Ｓカなされる（ステップ５８５）。

この波高■２′がビットインターバルデータＴ３の波高
値として用いられ、ＣＰＵ２９のバッファに波高値Ｖ２
′同様に記憶される。

しかして、ビットインターバルデータＴ３はビットイン
ターバルデータＴ２から得る基準幅（Ｔｓ’＝（１±ａ
）Ｔ２）と比較される（ステップ５８６）。ここで、ビ
ットインターバルデータＴ３が基準幅Ｔｓ′に入ってい
る場合には下記の計算をさせると共に、波高値■２を出
力させる（ステップ５８７）。

尚、ここで、基準幅ＴＳ′に入らない場合は、上記計算
をせずにエラーデータを出力する（ステップ８８８）。

上記両ステップ８８７．８８８共全データが終了したか
判定され（ステップ５８４）、終了シテイナいので下記
動作に移る。

さらに、ビットインターバルデータＴ４の後縁のディジ
タルデータＴ４ＢをＲＡＭ３１から読み出し、Ｖ３　＝
　Ｖ４Ｆ　−Ｖ、ｉｎ　＝Ｖ３ｎ　−Ｖ４Ｂ　Ｏ計算ｅ
ｆる（ス＋ツブ８８１　）。ここで、ビットインターバ
ルデータＴ４が基準幅（Ｔｓ＝（１±α）　Ｔ２’　）
に入っているか否−かを判定する（ステップ５８２）。

この場合は、基準幅Ｔｓに入っているので、論理”Ｏ″
として波高値ｖ３を出力することになる。（ステップ５
８３）このように次々と各ビットインターバルデータに
おける波高値は全データが終了するまで出力される。

すなわち、あるビットインターバルデータＴＭの前後縁
の波高値からそのビットインターバルデータＴＭにおけ
る波高値ＶＭをめ（ステップ５８１）、この波高値ｖＭ
におけるビットインターバルデータＴＭを、−測定前の
ビットインターバルデータＴＭ−１から得た基準幅Ｔｓ
と比較しくステップ５８２）、その比較結果が論理”０
″のときはその波高値ＶＭを出力しくステップ５８３）
、その比較結果が論理″１”のときはその波高値と一測
定後のビットインターバルデータＴＭ＋　１の波高値Ｖ
Ｍ＋１七の平均をとった波高値ＶＭＭ　−（２’！迂Ｖ
Ｍ＋１　）を出方するものである（ステップ８８５〜５
８８）。

しかして、上記のようにしてめた波高値■Ｍは、ＣＲＴ
ディスプレイ装置１９に表示されあるいはプリンタ２１
から印刷出力されることになる。

以上は、一つの動作例を説明したが、もちろんビットイ
ンターバルデータＴＭの比較を先にしてから波高値ｖＭ
をめてもよいことはいうまでもない。

以上述べたように本発明によれは、磁気カードの磁気記
録波高値テークが測定できる利点がある。

【図面の簡単な説明】

は磁気ストライプに記録されたテークの状態を説明する
ために示す説明図、第２図は本発明に係る実施例を実現
するための測定装置を示す斜視図、第３図は同測定装置
の信号系を示すブロック図、第４図は（■）〜（Ｖｌ）
は読取装置の動作を説明するために示すタイムチャート
、第５図（Ｔ）〜（１１１）は測定装置の動作を説明す
るために示すフローチャートである。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 磁気カードに記録された各種データを再生し、その再生
   信号の波高値をディジタル信号に変換すると共に、その
   波高値開缶に時間間隔を測定して記憶し、その記憶され
   た時間間隔を読み出して一測定前の時間間隔と比較し、
   その比較結果にょシ上記時間間隔が一方の論理と判定さ
   れたときにはその波高値を、他方の論理と判定されたと
   きにはその波高値と一測定後の波高値の平均をと゛った
   波高値を出力することを特徴とする磁気カードのデータ
   記録状態測定方法。