JPS61148509A - 制御系異常検出装置 - Google Patents
制御系異常検出装置Info
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- JPS61148509A JPS61148509A JP59270219A JP27021984A JPS61148509A JP S61148509 A JPS61148509 A JP S61148509A JP 59270219 A JP59270219 A JP 59270219A JP 27021984 A JP27021984 A JP 27021984A JP S61148509 A JPS61148509 A JP S61148509A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 11
- 230000015654 memory Effects 0.000 abstract description 12
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 7
- 239000000032 diagnostic agent Substances 0.000 abstract 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 241000209140 Triticum Species 0.000 description 1
- 235000021307 Triticum Nutrition 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えば油圧制御系の異常動作及び故障等を
高感度に検出する制御系異常検出装置に関する。
高感度に検出する制御系異常検出装置に関する。
従来より、例えば油圧制御系における制御弁の故障及び
油漏れ等の異常を検出するには、第４図に示すような異
常検出装置１１が使用される。この異常検出装置１１は
、制御系１２の制御目標値Ｘを入力し、制御系モデル１
３によって制御系１２の出力予測値Ｙ１を算出し、この
予測値Ｙ、と実際の制御系１２の出力値Ｙとから制御偏
差′Ｆ４（＝ｙａ−ｙ）を求める。次に、異常判定装置
１４によって上記制御偏差Ｅが予め設定される偏差許容
範囲内であるか否かを調べ、制御偏差Ｅが許容範囲を逸
脱するとき、制御系１２は異常であると判定して表示装
置１５Ｖにれを表示するものである。
油漏れ等の異常を検出するには、第４図に示すような異
常検出装置１１が使用される。この異常検出装置１１は
、制御系１２の制御目標値Ｘを入力し、制御系モデル１
３によって制御系１２の出力予測値Ｙ１を算出し、この
予測値Ｙ、と実際の制御系１２の出力値Ｙとから制御偏
差′Ｆ４（＝ｙａ−ｙ）を求める。次に、異常判定装置
１４によって上記制御偏差Ｅが予め設定される偏差許容
範囲内であるか否かを調べ、制御偏差Ｅが許容範囲を逸
脱するとき、制御系１２は異常であると判定して表示装
置１５Ｖにれを表示するものである。
すなわち、この異常検出装置１１は、制御系モデル１３
と実際の制御系１２とにそれぞれ実時間で同じ入力信号
を与え、その時の出力信号の差を検出することにより、
制御系１２の異常を検出するものである。尚、上記のよ
うな演算及び判定等は、通常ディジタルコンピュータで
処理される。
と実際の制御系１２とにそれぞれ実時間で同じ入力信号
を与え、その時の出力信号の差を検出することにより、
制御系１２の異常を検出するものである。尚、上記のよ
うな演算及び判定等は、通常ディジタルコンピュータで
処理される。
ところで、上記のような従来の制御系異常検出装置では
、制御系モデル１３の精度によって検出感度が左右され
ることになる。すなわち、制御系モデル１３の特性と実
際の制御系１２の特性との誤差が大きいと、正常時にお
いても制御偏差Ｅが大きくなるため誤診断を行なう恐れ
がある。
、制御系モデル１３の精度によって検出感度が左右され
ることになる。すなわち、制御系モデル１３の特性と実
際の制御系１２の特性との誤差が大きいと、正常時にお
いても制御偏差Ｅが大きくなるため誤診断を行なう恐れ
がある。
一般に制御系は、微分方糧式でモデル化されるが、モデ
ルの精度を高めるためには微分方糧式の次数を上げる必
要がある。一方、微分方穆式の次数を上げると計算が複
雑になり、これをディジタルコンピュータで演算する場
合には演算時間が長くなる。したがって、油圧制御系の
ように数１０ Ｈｚ〜数１００ Ｈｚの高速応答性を有
する制御系にこの装置を適用するには、演算時間が長時
間となるため制御系モデル１３を簡略化せざるを得ない
。
ルの精度を高めるためには微分方糧式の次数を上げる必
要がある。一方、微分方穆式の次数を上げると計算が複
雑になり、これをディジタルコンピュータで演算する場
合には演算時間が長くなる。したがって、油圧制御系の
ように数１０ Ｈｚ〜数１００ Ｈｚの高速応答性を有
する制御系にこの装置を適用するには、演算時間が長時
間となるため制御系モデル１３を簡略化せざるを得ない
。
ところが、この制御系モデル１３を簡略化すると、前述
したように正常時においても制御備差Ｅが大きくなり、
誤診断する恐れがあるので、異常判定装置１４の許容値
を大きく設定する必要がある、しかしながら、この場合
、制御系の重故障のように制御偏差Ｅが非常に大きいと
きには検出可能であるが、劣化や軽故障のように制御偏
差Ｅが小さいときには検出不可能であり、検出感度に問
題が生じてしまうことになる。
したように正常時においても制御備差Ｅが大きくなり、
誤診断する恐れがあるので、異常判定装置１４の許容値
を大きく設定する必要がある、しかしながら、この場合
、制御系の重故障のように制御偏差Ｅが非常に大きいと
きには検出可能であるが、劣化や軽故障のように制御偏
差Ｅが小さいときには検出不可能であり、検出感度に問
題が生じてしまうことになる。
この発明は上記のような問題を改善するためになされた
もので、制御系の劣化や故障の穆度によらず、常忙感度
良く異常を検出することのできる制御系異常検出装置を
提供することを目的とする。
もので、制御系の劣化や故障の穆度によらず、常忙感度
良く異常を検出することのできる制御系異常検出装置を
提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕すなわちこの
発明に係る制御系異常検出装置は、制御系診断用のステ
、ｆ状のテスト信号を発生するテスト信号発生部と、こ
のテスト信号を制御系に与えそのフィードバック信号を
検出するフィードバック信号検出手段と、上記制御系が
正常状態であるときのフィードバック信号を記憶するａ
ｔの記憶部と、上記制御系の診断時に得られるフィード
バック信号を記憶する第２の記憶部と、上記第１の記憶
部に記憶された制御系正常時におけるフィーｒ／々、り
信号と上記第２の記憶部に記憶される制御系診断時にお
けるフィードバック信号との差に基づいた誤差面積を算
出する演算部と、この演算部での演算結果が許容範囲以
下であるか否かを判定する判定部とを具備し、この判定
部により上記演算結果が許容範囲を上回ったと判定され
た場合には、上記制御系を異常として判断するものであ
る。
発明に係る制御系異常検出装置は、制御系診断用のステ
、ｆ状のテスト信号を発生するテスト信号発生部と、こ
のテスト信号を制御系に与えそのフィードバック信号を
検出するフィードバック信号検出手段と、上記制御系が
正常状態であるときのフィードバック信号を記憶するａ
ｔの記憶部と、上記制御系の診断時に得られるフィード
バック信号を記憶する第２の記憶部と、上記第１の記憶
部に記憶された制御系正常時におけるフィーｒ／々、り
信号と上記第２の記憶部に記憶される制御系診断時にお
けるフィードバック信号との差に基づいた誤差面積を算
出する演算部と、この演算部での演算結果が許容範囲以
下であるか否かを判定する判定部とを具備し、この判定
部により上記演算結果が許容範囲を上回ったと判定され
た場合には、上記制御系を異常として判断するものであ
る。
以下、第１図乃至第３図を参照してこの発明の一実施例
を詳細に説明する。
を詳細に説明する。
第１図はこの発明に係る制御系異常検出装置を位置制御
油圧サーが系に適用する場合の構成を示すもので、２１
は位置制御系、２２は異常検出装置である。
油圧サーが系に適用する場合の構成を示すもので、２１
は位置制御系、２２は異常検出装置である。
まず、上記位置制御系２１は、目標値Ｘとフィードバッ
ク値Ｙとの偏差を演算器２１ａで求めた後これを増幅器
２１ｂで増幅し・この増幅信号に応じて電気油圧サーが
弁２１ｅの開度を制御し、この開度に応じた油を流入及
び流出すること釦よって油圧シリンダ及び負荷２１ｄを
駆動する。また、位置検出器２１ｍで油圧シリンダの位
置を検出し、フィードバック値Ｙとして負帰還すること
により、目標値Ｘとフィードバック値Ｙとが一致するよ
うに制御する。
ク値Ｙとの偏差を演算器２１ａで求めた後これを増幅器
２１ｂで増幅し・この増幅信号に応じて電気油圧サーが
弁２１ｅの開度を制御し、この開度に応じた油を流入及
び流出すること釦よって油圧シリンダ及び負荷２１ｄを
駆動する。また、位置検出器２１ｍで油圧シリンダの位
置を検出し、フィードバック値Ｙとして負帰還すること
により、目標値Ｘとフィードバック値Ｙとが一致するよ
うに制御する。
また、上記異常検出装置２２は、テスト許可信号２が供
給されることにより所定のテスト信号Ｘｔを発生するテ
スト信号発生部２２１と、テスト信号Ｘｔをトリが信号
としてフィードバック信号Ｙを定められた時間間隔でサ
ンプリング及びホールドするサンプルホールド回路２２
ｂと、このサングルホールド回路２２ｂと同期してアナ
ログのフィードバック信号Ｙをディジタル信号忙変換す
るアナログ・ディジタル（以下いと記す）変換器２２ｅ
と、とのψ変換器２２ｃと同期してディジタル信号に変
換されたプ（−ドパ、り信号Ｙを定められた時間間隔で
記憶する第１および第２のメモリ２２ｄ 、２２ｅと、
上記φ変換器２２ｃを介して供給されるフィードバック
信号Ｙを、上記第１および第２のメモリ２２ｄ 、２２
ｅｒのうち、何れのメモリに記憶するかを切換えるスイ
ッチ２２ｆと、上記各メモリ２２ｄ 、２２＠に記憶し
たフィードバック信号Ｙ、、Ｙ、の差の絶対値を積算す
る演算部２２ｇと、この演算部２２ｇによる演算値が予
め設定される許容範囲Ｓ以下にあるか否かにより制御系
が異常であるか否かの判定を行なう判定部！、？ｈと、
この判定結果を表示する表示部２２１とから構成される
ものである。
給されることにより所定のテスト信号Ｘｔを発生するテ
スト信号発生部２２１と、テスト信号Ｘｔをトリが信号
としてフィードバック信号Ｙを定められた時間間隔でサ
ンプリング及びホールドするサンプルホールド回路２２
ｂと、このサングルホールド回路２２ｂと同期してアナ
ログのフィードバック信号Ｙをディジタル信号忙変換す
るアナログ・ディジタル（以下いと記す）変換器２２ｅ
と、とのψ変換器２２ｃと同期してディジタル信号に変
換されたプ（−ドパ、り信号Ｙを定められた時間間隔で
記憶する第１および第２のメモリ２２ｄ 、２２ｅと、
上記φ変換器２２ｃを介して供給されるフィードバック
信号Ｙを、上記第１および第２のメモリ２２ｄ 、２２
ｅｒのうち、何れのメモリに記憶するかを切換えるスイ
ッチ２２ｆと、上記各メモリ２２ｄ 、２２＠に記憶し
たフィードバック信号Ｙ、、Ｙ、の差の絶対値を積算す
る演算部２２ｇと、この演算部２２ｇによる演算値が予
め設定される許容範囲Ｓ以下にあるか否かにより制御系
が異常であるか否かの判定を行なう判定部！、？ｈと、
この判定結果を表示する表示部２２１とから構成される
ものである。
以下、上記のように構成した異常検出装置２２の動作に
ついて説明する。
ついて説明する。
まず、制御系が正常な状態であるとき、テスト許可信号
２をテスト信号発生部２２ｍに与えると、このテスト信
号発生部２２ｈは第２図（ａ）忙示すようなステップ状
のテスト信号Ｘｔを発生する。このテスト信号Ｘｊは、
その振幅及び周期が予め設定されており、位置制御系２
１の目標値Ｘに並列に入力される。この位置制御系２ノ
では、ステ、ｆ状のテスト信号Ｘｔに応答して、第２図
（ｂ）に示すようなフィードバック信号Ｙを出力するよ
うになる。
２をテスト信号発生部２２ｍに与えると、このテスト信
号発生部２２ｈは第２図（ａ）忙示すようなステップ状
のテスト信号Ｘｔを発生する。このテスト信号Ｘｊは、
その振幅及び周期が予め設定されており、位置制御系２
１の目標値Ｘに並列に入力される。この位置制御系２ノ
では、ステ、ｆ状のテスト信号Ｘｔに応答して、第２図
（ｂ）に示すようなフィードバック信号Ｙを出力するよ
うになる。
また、異常検出装置２２では、テスト信号Ｘｔがトリが
信号となってサンプルホールド回路２２ｂが所一定の周
期Δｔでフィードバック信号Ｙのサンプリングを開始す
ると共に、ψ変換器２２ｃでディジタル信号に変換する
。この制御系正常時においては、スイッチ２２１は第１
のメモリ２２ｄ側に切換えられるもので、上記ψ変換器
を介してディジタル信号に変換された制御系正常時のフ
ィードバック信号を、第１のメモＩＪ ２２ ｄに所定
期間Ｔの間記憶する。ここで、上記サンプルホールド回
路２２ｂによるサンプリング周期Δｔは、制御系２１の
時定数と比較して充分小さい値、例えば１／１０〜１１
５０８度に設定し、また、上記フィードバック信号Ｙの
記憶時間Ｔは、上記サンプリング周期Δｔの場合とは逆
に、制御系２１の時定数と比較して充分大きな値、例え
ば５〜１０倍程度に設定する。
信号となってサンプルホールド回路２２ｂが所一定の周
期Δｔでフィードバック信号Ｙのサンプリングを開始す
ると共に、ψ変換器２２ｃでディジタル信号に変換する
。この制御系正常時においては、スイッチ２２１は第１
のメモリ２２ｄ側に切換えられるもので、上記ψ変換器
を介してディジタル信号に変換された制御系正常時のフ
ィードバック信号を、第１のメモＩＪ ２２ ｄに所定
期間Ｔの間記憶する。ここで、上記サンプルホールド回
路２２ｂによるサンプリング周期Δｔは、制御系２１の
時定数と比較して充分小さい値、例えば１／１０〜１１
５０８度に設定し、また、上記フィードバック信号Ｙの
記憶時間Ｔは、上記サンプリング周期Δｔの場合とは逆
に、制御系２１の時定数と比較して充分大きな値、例え
ば５〜１０倍程度に設定する。
これにより、上記フィードバック信号Ｙの波形は精度良
く、しかも定常状態に達するまで確実にサンプリングさ
れ記憶されるようになる。
く、しかも定常状態に達するまで確実にサンプリングさ
れ記憶されるようになる。
次に、制御系を診断するには、制御系がスタンバイ状態
（稼働していない状態）でテスト信号Ｘｔの入力が可能
な条件であるときく、異常検出装置２２にテスト許可信
号２を与え、テスト信号発生部２２ｇで前述のようにス
テ、グ状のテスト信号Ｘｉを発生させ、サンプルホール
ド回路２２ｂ、ん小麦換器２２ｃを前述のように作動さ
せて、フィードバック信号Ｙをディジタル信号に変換す
る。この場合、スイッチ２２１を第２のメモリ２２ｅ側
に切換え、ディジタル化した診断時におけるフィードバ
ック信号Ｙを所定期間Ｔの間第２のメモＩＪ ２２ ｅ
に記憶させる。
（稼働していない状態）でテスト信号Ｘｔの入力が可能
な条件であるときく、異常検出装置２２にテスト許可信
号２を与え、テスト信号発生部２２ｇで前述のようにス
テ、グ状のテスト信号Ｘｉを発生させ、サンプルホール
ド回路２２ｂ、ん小麦換器２２ｃを前述のように作動さ
せて、フィードバック信号Ｙをディジタル信号に変換す
る。この場合、スイッチ２２１を第２のメモリ２２ｅ側
に切換え、ディジタル化した診断時におけるフィードバ
ック信号Ｙを所定期間Ｔの間第２のメモＩＪ ２２ ｅ
に記憶させる。
この後、第１および第２のメモリ２２ ｄ 、 ２２ｅ
釦て記憶された正常時および診断時におけるフィードバ
ック信号値Ｙ、、Ｙ、を、演算部２２ｅ釦より下式に従
って演算し、各フィードバック信号Ｙ１とＹ、との誤差
面積ｚｓを算出する。
釦て記憶された正常時および診断時におけるフィードバ
ック信号値Ｙ、、Ｙ、を、演算部２２ｅ釦より下式に従
って演算し、各フィードバック信号Ｙ１とＹ、との誤差
面積ｚｓを算出する。
ｎ：データ数（ψｔ）
Ｙｌ（ｉ） ：正常時におけるフィードバック信号値
ｙ、 （１） ：診断時におけるフィードバック信号値
ｚｌ：誤差面積
ここで、上記誤差面積ｚｌｌは、制御系が正常である場
合と診断時における場合との制御系応答波形のずれを定
量的に表わすもので、この誤差面積２．が予め設定され
る許容範囲Ｓ以内であるか否かを次の判定部２２ｈによ
って判定し、許容範囲Ｓ以下でない場合には、「制御系
異常」と判定し表示部２２ｉに表示されるようになる。
合と診断時における場合との制御系応答波形のずれを定
量的に表わすもので、この誤差面積２．が予め設定され
る許容範囲Ｓ以内であるか否かを次の判定部２２ｈによ
って判定し、許容範囲Ｓ以下でない場合には、「制御系
異常」と判定し表示部２２ｉに表示されるようになる。
つまり、例えば第３図に示すように、テスト信号Ｘｔを
与えた際に、制御系が正常であれば常にフィードバック
信号Ｙ、が得られるが、同図（＆）に示すように応答が
低下気味になった場合、または同図（ｂ）に示すように
応答が不安定になりた場合、または同図（Ｃ）に示すよ
うに応答にノイズが加わった場合には、それぞれフィー
ドバック信号Ｙ、が得られるよう忙なり、制御系正常時
におけるフィードバック信号Ｙ１と異常時におけるフィ
ードバック信号Ｙ８との誤差面積２、は必然的に増加す
る。
与えた際に、制御系が正常であれば常にフィードバック
信号Ｙ、が得られるが、同図（＆）に示すように応答が
低下気味になった場合、または同図（ｂ）に示すように
応答が不安定になりた場合、または同図（Ｃ）に示すよ
うに応答にノイズが加わった場合には、それぞれフィー
ドバック信号Ｙ、が得られるよう忙なり、制御系正常時
におけるフィードバック信号Ｙ１と異常時におけるフィ
ードバック信号Ｙ８との誤差面積２、は必然的に増加す
る。
したがって、上記のように構成される異常検出装置によ
れば、判定部２２ｈによって上記誤差面積ｚ３が許容範
囲Ｓ以下であるか否かを監視し、許容範囲Ｓを越えた場
合には表示部ｊＪｌＫより異常表示を行なうようにした
ので、上記許容範囲Ｓの設定如何により制御系の軽微な
故障や劣化等も検出することができ、前記第４図におけ
る従来例による場合と比較して極めて高感度な異常検出
が可能となる。
れば、判定部２２ｈによって上記誤差面積ｚ３が許容範
囲Ｓ以下であるか否かを監視し、許容範囲Ｓを越えた場
合には表示部ｊＪｌＫより異常表示を行なうようにした
ので、上記許容範囲Ｓの設定如何により制御系の軽微な
故障や劣化等も検出することができ、前記第４図におけ
る従来例による場合と比較して極めて高感度な異常検出
が可能となる。
尚、上記実施例では図示していないが、誤差面積２．の
経時変化を記録することにより、制御系劣化の進行状況
を知ることも可能である。
経時変化を記録することにより、制御系劣化の進行状況
を知ることも可能である。
以上のようにこの発明によれば、制御系診断用のステ、
ゾ状のテスト信号を発生するテスト信号発生部と、この
テスト信号を制御系に与えそのフィードバック信号を検
出するフィードバック信号検出手段と、上記制御系が正
常状態であるときのフィードバック信号を記憶する第１
の記憶部と、上記制御系の診断時に得られるフィードバ
ック信号を記憶する第２の記憶部と、上記第１の記憶部
に記憶された制御系正常時におけるフィー？ ／’？
、り信号と上記ｆａ２の記憶部に記憶される制御系診断
時におけるフィードバック信号との差に基づいた設差面
積を算出する演算部と、この演算部での演算結果が許容
範囲以下であるか否かを判定する判定部とを具備し、こ
の判定部により上記演算結果が許容範囲を上回りたと判
定された場合には、上記制御系を異常として判断するよ
うにしたので、制御系の劣化や故障の視度によらず、常
に感度良く異常を検出することのできる制御系異常検出
装置を提供できる。
ゾ状のテスト信号を発生するテスト信号発生部と、この
テスト信号を制御系に与えそのフィードバック信号を検
出するフィードバック信号検出手段と、上記制御系が正
常状態であるときのフィードバック信号を記憶する第１
の記憶部と、上記制御系の診断時に得られるフィードバ
ック信号を記憶する第２の記憶部と、上記第１の記憶部
に記憶された制御系正常時におけるフィー？ ／’？
、り信号と上記ｆａ２の記憶部に記憶される制御系診断
時におけるフィードバック信号との差に基づいた設差面
積を算出する演算部と、この演算部での演算結果が許容
範囲以下であるか否かを判定する判定部とを具備し、こ
の判定部により上記演算結果が許容範囲を上回りたと判
定された場合には、上記制御系を異常として判断するよ
うにしたので、制御系の劣化や故障の視度によらず、常
に感度良く異常を検出することのできる制御系異常検出
装置を提供できる。
第１図はこの発明の一実施例に係る制御系異常検出装置
を示すブロック構成図、第２図および第３図はそれぞれ
上記実施例の動作を説明するための波形図、第４図は従
来の制御系異常検出装置を示すプロ、り構成図である。 ２１・・・位置制御系、２２・・・異常検出装置、２２
＆・・・テスト信号発生部、２２ｂ・・・サンプルホー
ルド回路、２２ｃ・・・Ａ／ｉ）変換器、２２ｄ・・・
第１のメモリ、２２ｅ・・・第２メモリ％２２１・・・
スイッチ、２２ｇ・・・演算部、２２ｂ・・・判定部、
２２１・・・表示部、Ｘ・・・目標値、Ｙ・・・フィー
トノぐツク信号、２・・・テスト許可信号、Ｘｔ・・・
テスト信号、ｚ３・・・誤差面積。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第２図 第３図
を示すブロック構成図、第２図および第３図はそれぞれ
上記実施例の動作を説明するための波形図、第４図は従
来の制御系異常検出装置を示すプロ、り構成図である。 ２１・・・位置制御系、２２・・・異常検出装置、２２
＆・・・テスト信号発生部、２２ｂ・・・サンプルホー
ルド回路、２２ｃ・・・Ａ／ｉ）変換器、２２ｄ・・・
第１のメモリ、２２ｅ・・・第２メモリ％２２１・・・
スイッチ、２２ｇ・・・演算部、２２ｂ・・・判定部、
２２１・・・表示部、Ｘ・・・目標値、Ｙ・・・フィー
トノぐツク信号、２・・・テスト許可信号、Ｘｔ・・・
テスト信号、ｚ３・・・誤差面積。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第２図 第３図
Claims (1)
- 制御系診断用のステップ状のテスト信号を発生するテス
ト信号発生部と、このテスト信号を制御系に与えそのフ
ィードバック信号を検出するフィードバック信号検出手
段と、上記制御系が正常状態であるときのフィードバッ
ク信号を記憶する第１の記憶部と、上記制御系の診断時
に得られるフィードバック信号を記憶する第２の記憶部
と、上記第１の記憶部に記憶された制御系正常時におけ
るフィードバック信号と上記第２の記憶部に記憶される
制御系診断時におけるフィードバック信号との差に基づ
いた誤差面積を算出する演算部と、この演算部での演算
結果が許容範囲以下であるか否かを判定する判定部とを
具備したことを特徴とする制御系異常検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59270219A JPH069008B2 (ja) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | 制御系異常検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59270219A JPH069008B2 (ja) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | 制御系異常検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61148509A true JPS61148509A (ja) | 1986-07-07 |
| JPH069008B2 JPH069008B2 (ja) | 1994-02-02 |
Family
ID=17483197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59270219A Expired - Lifetime JPH069008B2 (ja) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | 制御系異常検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH069008B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004021437A (ja) * | 2002-06-13 | 2004-01-22 | Yamatake Corp | 異常診断装置 |
| JP2008052757A (ja) * | 1997-09-22 | 2008-03-06 | Fisher Controls Internatl Llc | 圧力レギュレータの診断法 |
| CN115979686A (zh) * | 2021-10-15 | 2023-04-18 | 北京科益虹源光电技术有限公司 | 一种准分子激光器接口的测试方法及装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5330711A (en) * | 1976-09-03 | 1978-03-23 | Hitachi Ltd | Single phase induction motor |
| JPS56116108A (en) * | 1980-02-18 | 1981-09-11 | Nissan Motor Co Ltd | Analog processor |
-
1984
- 1984-12-21 JP JP59270219A patent/JPH069008B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5330711A (en) * | 1976-09-03 | 1978-03-23 | Hitachi Ltd | Single phase induction motor |
| JPS56116108A (en) * | 1980-02-18 | 1981-09-11 | Nissan Motor Co Ltd | Analog processor |
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| JP2008052757A (ja) * | 1997-09-22 | 2008-03-06 | Fisher Controls Internatl Llc | 圧力レギュレータの診断法 |
| JP2004021437A (ja) * | 2002-06-13 | 2004-01-22 | Yamatake Corp | 異常診断装置 |
| CN115979686A (zh) * | 2021-10-15 | 2023-04-18 | 北京科益虹源光电技术有限公司 | 一种准分子激光器接口的测试方法及装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH069008B2 (ja) | 1994-02-02 |
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