JPS61242945A - 高純度セラミツクス製品の製造方法 - Google Patents
高純度セラミツクス製品の製造方法Info
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- JPS61242945A JPS61242945A JP60082074A JP8207485A JPS61242945A JP S61242945 A JPS61242945 A JP S61242945A JP 60082074 A JP60082074 A JP 60082074A JP 8207485 A JP8207485 A JP 8207485A JP S61242945 A JPS61242945 A JP S61242945A
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Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は高純度セラミックス製坩堝等の製造に好適な高
純度セラミックス製品の製造方法に関する。
純度セラミックス製品の製造方法に関する。
[従来の技術]
近年、セラミックスの利用範囲が急速に拡大されつつあ
るが、高純度で、一層優れた特性を有するものが要求さ
れる場合がある。
るが、高純度で、一層優れた特性を有するものが要求さ
れる場合がある。
例えば、従来、半導体シリコンウェハー用単結晶Siの
溶解には高純度石英るつぼが用いられているが、この場
合Si溶湯と石英とはわずかではあるが反応し、Si溶
湯中に酸素が取り込まれ、Si溶湯の純度を低下させる
という問題がある。
溶解には高純度石英るつぼが用いられているが、この場
合Si溶湯と石英とはわずかではあるが反応し、Si溶
湯中に酸素が取り込まれ、Si溶湯の純度を低下させる
という問題がある。
このため、石英坩堝に代わる坩堝が強く望まれているが
、坩堝は材料を溶解するものであることから、坩堝材質
の不純物が溶湯中に混入することがない、極めて耐食性
の高い、高純度な材質よりなることが要求される。
、坩堝は材料を溶解するものであることから、坩堝材質
の不純物が溶湯中に混入することがない、極めて耐食性
の高い、高純度な材質よりなることが要求される。
[発明が解決しようとする問題点]
高純度セラミックスを得る方法として気相蒸着法が考え
られるが、この気相蒸着法は、従来、基板トに膜を形成
することを目的とするるものであった・ 従来の坩堝の表面に高純度セラミックスの被覆層を設け
る場合には、被覆層が薄くと耐食性が低いという問題が
生じる。一方、耐食性を向上させるべく、この被覆層を
厚くした場合には被覆層と基体との間に熱膨張差による
熱応力がかかり、高温強度、耐熱性、耐久性が劣化する
という問題がある。
られるが、この気相蒸着法は、従来、基板トに膜を形成
することを目的とするるものであった・ 従来の坩堝の表面に高純度セラミックスの被覆層を設け
る場合には、被覆層が薄くと耐食性が低いという問題が
生じる。一方、耐食性を向上させるべく、この被覆層を
厚くした場合には被覆層と基体との間に熱膨張差による
熱応力がかかり、高温強度、耐熱性、耐久性が劣化する
という問題がある。
このようなことから、優れた高温強度、耐熱性、耐久性
、耐食性を有し、しかも極めて高純度な材質よりなる一
体物のセラミックスが要望されている。
、耐食性を有し、しかも極めて高純度な材質よりなる一
体物のセラミックスが要望されている。
[問題点を解決するための手段1
本発明は、型の表面に高純度セラミックスを気相蒸着せ
しめ、次いでこのセラミックスを型から剥離せしめて高
純度一体物のセラミックスを得るようにしたものである
。
しめ、次いでこのセラミックスを型から剥離せしめて高
純度一体物のセラミックスを得るようにしたものである
。
以下に本発明につき図面を参照して詳細に説明する。
第1図(a)〜(c)は本発明の一実施例に係る高純度
セラミック製品の製造方法を説明する概略的な断面図で
ある。
セラミック製品の製造方法を説明する概略的な断面図で
ある。
本発明においては、第1図(a)に示す如く。
目的とするセラミックス製品の形状に倣った形状を有す
る基体lを用い、この基体lの内表面1aに気相蒸着法
によりセラミックスの蒸着を行なう。
る基体lを用い、この基体lの内表面1aに気相蒸着法
によりセラミックスの蒸着を行なう。
ノ、(体lの材質は、内表面Laに75着するセラミッ
クスを容易に剥離することができるように熱W張(べが
蒸着されるセラミックスの熱膨張率と大きく異なり、し
かも、蒸着されるセラミックスと実質的に反応しないも
のとする。
クスを容易に剥離することができるように熱W張(べが
蒸着されるセラミックスの熱膨張率と大きく異なり、し
かも、蒸着されるセラミックスと実質的に反応しないも
のとする。
このような基体lの内表面1aに、気相蒸着法の一種で
あるCVD法によりセラミックスの蒸着を行なう場合に
は、まず基体lの少なくともその内表面13部をCVD
反応の析出温度域に加熱する。
あるCVD法によりセラミックスの蒸着を行なう場合に
は、まず基体lの少なくともその内表面13部をCVD
反応の析出温度域に加熱する。
加熱方法は、特に限定されないが、基体lの形状が簡単
であったり、導電性である場合は、装置構成の簡易な高
周波誘導加熱等が有利である。加熱方法としては、その
他、反応容器の外側から加熱する外部加熱法、レーザー
加熱等法も採用可能である。
であったり、導電性である場合は、装置構成の簡易な高
周波誘導加熱等が有利である。加熱方法としては、その
他、反応容器の外側から加熱する外部加熱法、レーザー
加熱等法も採用可能である。
このようにして加熱された基体lの内表面1aに、第1
図(a)の如く、CVD反応ガスを供給してCVD反応
させ、表面にCVD反応析出物2を析出させる(第1図
(b)参照)、析出させるセラミックスとしては1例え
ば、MgO。
図(a)の如く、CVD反応ガスを供給してCVD反応
させ、表面にCVD反応析出物2を析出させる(第1図
(b)参照)、析出させるセラミックスとしては1例え
ば、MgO。
S iC、S i 3 N 4 、 A見203等が挙
げられる。CVD反応析出物2の析出量は、CVD反応
ガスの供給量又は加熱時間をm箇することにより容易に
調整し得る。
げられる。CVD反応析出物2の析出量は、CVD反応
ガスの供給量又は加熱時間をm箇することにより容易に
調整し得る。
CVD反応析出物2を所望厚さに析出させた後、この析
出物2の層を基体lから剥離させる(第1図(C))、
基体1(7)材質は、CVD反応の析出物2と異なる熱
膨張率を有し、しかもCVD反応の析出物2と実質的に
反応しないものであることから、析出物2の層は基体l
より容易に剥離することができる。析出物2の剥離には
、軽い機械的衝撃を析出物2の層と基体lとの界面に与
えるか、あるいは、該界面近傍を加熱もしくは冷却し熱
膨張率の差を利用して剥離する等の方法が採用される。
出物2の層を基体lから剥離させる(第1図(C))、
基体1(7)材質は、CVD反応の析出物2と異なる熱
膨張率を有し、しかもCVD反応の析出物2と実質的に
反応しないものであることから、析出物2の層は基体l
より容易に剥離することができる。析出物2の剥離には
、軽い機械的衝撃を析出物2の層と基体lとの界面に与
えるか、あるいは、該界面近傍を加熱もしくは冷却し熱
膨張率の差を利用して剥離する等の方法が採用される。
第1図の方法において、析出物2の層と基体1とを、冷
却時の熱膨張率の差を利用して剥離する場合には、冷却
により内側の析出物2の層がより大きく収縮するもので
あれば、極めて容易に両名を剥離することが可能となる
。従って、この場合には、例えば、熱膨張率の比較的小
さい5iC(4〜5XlO−’/℃)等の基体を用い、
この基体内表面に熱膨張率の比較的大きいA!L20:
l(約8 、5X I O−’/”C)あるいはMgO
(約13 、8 X l O−’/”O)等の析出物を
得るようにするのが有利である。
却時の熱膨張率の差を利用して剥離する場合には、冷却
により内側の析出物2の層がより大きく収縮するもので
あれば、極めて容易に両名を剥離することが可能となる
。従って、この場合には、例えば、熱膨張率の比較的小
さい5iC(4〜5XlO−’/℃)等の基体を用い、
この基体内表面に熱膨張率の比較的大きいA!L20:
l(約8 、5X I O−’/”C)あるいはMgO
(約13 、8 X l O−’/”O)等の析出物を
得るようにするのが有利である。
この、うにして、基体lから剥離されたCVD析出物の
セラミックス10は、基体lの内表面laの形状に倣っ
た形状のものである。
セラミックス10は、基体lの内表面laの形状に倣っ
た形状のものである。
なお、上記の説明では基体lの内表面に気相蒸着してセ
ラミックス製品を製造する方法について説明したが、本
発明においては、第2図(a)に示す如く、基体lの外
表面1bにCVD反応ガスを供給し、基体lの外表面1
bに倣った形状を有するセラミックス10を得ることも
できる。
ラミックス製品を製造する方法について説明したが、本
発明においては、第2図(a)に示す如く、基体lの外
表面1bにCVD反応ガスを供給し、基体lの外表面1
bに倣った形状を有するセラミックス10を得ることも
できる。
第2図の場合において、析出物2の層と基体lとを、冷
却時の熱膨張率の差を利用して剥離する場合には、冷却
により内側の基体lがより大きく収縮するものであれば
、極めて容易に両者を剥離することが可能となる。従っ
て、この場合には、例えば、熱膨張率の比較的大きいA
u20t。
却時の熱膨張率の差を利用して剥離する場合には、冷却
により内側の基体lがより大きく収縮するものであれば
、極めて容易に両者を剥離することが可能となる。従っ
て、この場合には、例えば、熱膨張率の比較的大きいA
u20t。
MgO,ZrO2等の基体を用い、この基体外表面に熱
膨張率の比較的小さいS i C、S i 3 N 4
等の析出物を得るようにするのが有利である。
膨張率の比較的小さいS i C、S i 3 N 4
等の析出物を得るようにするのが有利である。
本発明の方法は、第1図及び第2図に示す如き、容器形
状の基体の内・外表面に気相蒸着する場合に限られず、
基体は蒸着層が剥離できるような形状であれば良く、そ
の形状に特に制限はない0例えば第3図(a)、(b)
又は第4図(a)、(b)に示す如く、円筒状の基体4
の内表面又は外表面にCVD反応析出物2を析出させ、
円筒状のセラミックス製品20を製造することもできる
。
状の基体の内・外表面に気相蒸着する場合に限られず、
基体は蒸着層が剥離できるような形状であれば良く、そ
の形状に特に制限はない0例えば第3図(a)、(b)
又は第4図(a)、(b)に示す如く、円筒状の基体4
の内表面又は外表面にCVD反応析出物2を析出させ、
円筒状のセラミックス製品20を製造することもできる
。
また、上記の説明ではCVD法が採用されているが、本
発明では、PVD法等その他の気相蒸着法をも用い得る
。
発明では、PVD法等その他の気相蒸着法をも用い得る
。
[作用コ
基体の内表面又は外表面に気相蒸着させることにより、
該基体の表面形状に倣ったセラミックス製品を製造する
二とができる。
該基体の表面形状に倣ったセラミックス製品を製造する
二とができる。
従って、所望の形状を有する高純度セラミックスの一体
物の製品を、高い生産性で容易かつ効率的に製造するこ
とが可能となる。
物の製品を、高い生産性で容易かつ効率的に製造するこ
とが可能となる。
また基体は蒸着層を剥離した後、繰り返し使用すること
ができるため、経済的である。
ができるため、経済的である。
[実施例]
以下に本発明を実施例により更に具体的に説明するが本
発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限定さ
れるものではない。
発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限定さ
れるものではない。
実施例1
第1図に示す方法に従って、高純度セラミックス製坩堝
の製造を行なった。
の製造を行なった。
基体lとしては、肉厚7mm、内径65mm。
高さ50mmのSiC製のものを用い、この基板lを外
部加熱法により加熱し1300〜1400℃に保持した
。
部加熱法により加熱し1300〜1400℃に保持した
。
次いで基板lにCVDガスとしてM g Cl 2 /
H= / CO2を供給し、CVD反応析出物(MgO
)2を析出させた後、ガス供給を停止した。
H= / CO2を供給し、CVD反応析出物(MgO
)2を析出させた後、ガス供給を停止した。
しかる後、得られたMgOの層と基体lとを放冷し、両
面近傍に軽い衝撃を与え、MgOを剥離した。
面近傍に軽い衝撃を与え、MgOを剥離した。
得られたMgO坩堝は基体lの内表面に倣った形状を有
する極めて緻密で高強度なものであった。
する極めて緻密で高強度なものであった。
[効果1
以上詳述した通り、高純度セラミックス製品の製造方法
によれば、極めて高純度の一体物のセラミックス製品を
容易に量産することができる。しかも、製造されるセラ
ミックス製品は極めてlj&密で高強度であり、しかも
、任意の形状、厚さのセラミックスを容易に製造するこ
とができる。
によれば、極めて高純度の一体物のセラミックス製品を
容易に量産することができる。しかも、製造されるセラ
ミックス製品は極めてlj&密で高強度であり、しかも
、任意の形状、厚さのセラミックスを容易に製造するこ
とができる。
このような本発明の方法は、高純度坩堝等の製造に極め
て有利である。
て有利である。
第1図(a)〜(C)は本発明の一実施例に係るセラミ
ックス製品の製造過程を説明する概略的な断面図、第2
図(a)、(b)、第3図(a)、(b)、第4図(a
)、(b)は各々、本発明の他の実施例に係る製造過程
を説明する概略的な断面図である。 1.4・・・・・・基体、 la・・・・・・内
表面。 lb・・・・・・・・・外表面 2・・・・・・・・
・CVD析出物、10.20・・・・・・セラミックス
。 代理人 弁理士 重 野 剛 第1図 (C) (a) (b) 第3 (a) 第4 (a) ワ (b) 図 (b)
ックス製品の製造過程を説明する概略的な断面図、第2
図(a)、(b)、第3図(a)、(b)、第4図(a
)、(b)は各々、本発明の他の実施例に係る製造過程
を説明する概略的な断面図である。 1.4・・・・・・基体、 la・・・・・・内
表面。 lb・・・・・・・・・外表面 2・・・・・・・・
・CVD析出物、10.20・・・・・・セラミックス
。 代理人 弁理士 重 野 剛 第1図 (C) (a) (b) 第3 (a) 第4 (a) ワ (b) 図 (b)
Claims (1)
- (1)セラミックスを、該セラミックスと熱膨張率が異
なりかつ互いに実質的に反応性を有しない物質からなる
、所定形状を有する基体の内表面又は外表面に気相蒸着
させ、次いで蒸着層を剥離して得ることを特徴とする高
純度セラミックス製品の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60082074A JPS61242945A (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 高純度セラミツクス製品の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60082074A JPS61242945A (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 高純度セラミツクス製品の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61242945A true JPS61242945A (ja) | 1986-10-29 |
Family
ID=13764324
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60082074A Pending JPS61242945A (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 高純度セラミツクス製品の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61242945A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008111840A (ja) * | 2007-11-06 | 2008-05-15 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 元素分析前処理用容器及び元素分析方法 |
| KR101072851B1 (ko) * | 2003-08-20 | 2011-10-14 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 원소분석 전처리용 용기, 원소분석방법, 유도결합플라스마 토치 및 원소분석장치 |
-
1985
- 1985-04-17 JP JP60082074A patent/JPS61242945A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101072851B1 (ko) * | 2003-08-20 | 2011-10-14 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 원소분석 전처리용 용기, 원소분석방법, 유도결합플라스마 토치 및 원소분석장치 |
| JP2008111840A (ja) * | 2007-11-06 | 2008-05-15 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 元素分析前処理用容器及び元素分析方法 |
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