JPS61284899A - サンプルホ−ルド回路 - Google Patents

サンプルホ−ルド回路

Info

Publication number
JPS61284899A
JPS61284899A JP12684185A JP12684185A JPS61284899A JP S61284899 A JPS61284899 A JP S61284899A JP 12684185 A JP12684185 A JP 12684185A JP 12684185 A JP12684185 A JP 12684185A JP S61284899 A JPS61284899 A JP S61284899A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
capacitor
transistor
circuit
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12684185A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuo Soneda
曽根田 光生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP12684185A priority Critical patent/JPS61284899A/ja
Publication of JPS61284899A publication Critical patent/JPS61284899A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば映像信号をサンプリングするのに使用
して好適なサンプルホールド回路に関する。
〔発明の概要〕
本発明はサンプルホールド回路に関し、3個のスイッチ
ング素子を用いてサンプルホールド点に不要な入力信号
の飛び込みが生じないようにするものである。
〔従来の技術〕
例えば映像信号をサンプルホールドする回路として、第
6図に示すような回路がある。図において、入力端子(
11に供給される信号がゲート用のMO3I−ランジス
タ(2)に供給され、このトランジスタ(2)が端子(
3)からのサンプリングパルスφ3でオンされる。この
トランジスタ(2)からの信号が保持用のコンデンサ(
4)に供給される。このコンデンサ(4)からの信号が
バッファ用のMOS)ランジスタ(5)のゲートに供給
される。このトランジスタ(5)のドレインに電源端子
(6)からの電源VOOが供給され、ソースが定電流源
(7)を通じて接地される。そしてこのトランジスタ(
5)のソースに得られる信号が出力端子(8)に取り出
される。
ところがこの回路において、トランジスタ(2)のソー
ス・ドレイン間には、浮遊容量等によって破線図示のよ
うにコンデンサ(9)が形成される。このためトランジ
スタ(2)がオフの期間にも、このコンデンサ(9)を
介して入力端子(11からの信号がコンデンサ(4)に
飛び込むおそれがある。
すなわち上述の回路において、コンデンサ(4)。
(9)の容量値をそれぞれcM、csとし、サンプリン
グ時の入力信号の電位をVl、その後のホールド時の電
位の平均をv2とすると、ホールド時のコンデンサ(4
)の信号電位は、 ・・・・(1) となる。従ってホールド時間が長くなると、サンプリン
グ後の入力信号の変化によって保持された信号が影響さ
れ、信号が劣化されてしまうことになる。
これは特に1水平期間の映像信号を同時化するために、
サンプルホールド回路を多数並列に設けて、入力信号を
順次サンプリングして行ったような場合には、走査線の
左側と右側とで信号劣化の度合が異なり、比較的固定化
されたパターンノイズが発生することになって極めて不
都合であった。
ここでCMを大きくし、CM>>Csとすることは、コ
ンデンサ(4)への電荷の充電時間を遅くし、サンプリ
ングの速度が遅くなって不都合である。
またこの速度を早くするためにトランジスタ(2)のW
を大にすると、CSが大きくなって無意味となる。
ところで上述の回路において、出力端子(8)に取り出
される信号の電圧は、コンデンサ(4)に保持された電
圧に対して、バッファ回路を構成するトランジスタ(5
)のゲートソース間電圧VOS分低下されたものになる
。そしてこの電圧■Gsにばらつきを生じるとサンプリ
ングエラーが発生し、さらに電圧VaSO外乱等による
ゆらぎによっていわゆる1/fノイズが発生するおそれ
がある。
これに対して本願出願人は先にVaSの影響を除いたサ
ンプルホールド回路を提案した(特願昭58−2190
62号)。この先願はトランジスタのゲートソース間に
スイッチ手段を介してコンデンサを接続し、信号の不要
期間にスイッチ手段をオンにしてトランジスタのVGS
に相当する電荷をコンデンサに保持し、信号をこのコン
デンサを介してトランジスタのゲートに供給することに
よってVGSを除去するものである。本願はこの先願を
応用するものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のサンプルホールド回路は上述のように構成されて
いた。このためホールド時間が長くなると、入力信号の
飛び込みによって信号が劣化するなどの問題点があった
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、入力端子をサンプリングパルスφSでオンさ
れるゲート回路を構成する第1.第2の素子(11) 
 (12)を直列回路を介してホールド用コンデンサ(
4)に接続すると共に、上記ホールド用コンデンサの保
持電圧と等しい電圧の得られるローインピーダンスの出
力端子(8)を、上記サンプリングパルスでオフされる
第3のゲート素子(18)を介して上記第1.第2の素
子の接続中点に接続するようにしたサンプルホールド回
路である。
〔作用〕
この回路によれば、入力信号の保持用コンデンサへの不
用な飛び込みを遮断することができ、これによって長時
間ホールドしても信号の劣化を防止することができる。
〔実施例〕
第1図において、入力端子(1)には第2図Aに示すよ
うなブランキング期間φBLにを有する入力信号が供給
される。この入力信号がゲート回路を構成するMO3I
−ランジスタ(11)  (12)の直列回路に供給さ
れ、このトランジスタ(11)  (12)のゲートに
第2図Bに示すようなサンプリングパルスφSが端子(
3)を通じて供給される。このトランジスタ(11) 
 (12)からの信号がコンデンサ(4)(13)の一
端に供給され、このコンデンサ(4)の他端が接地され
ると共に、コンデンサ(13)の他端の信号がバッファ
回路を構成するMO3I−ランジスタ(5)のゲートに
供給される。このトランジスタ(5)のドレインに電源
端子(6)からの電源VOOが供給され、このソースが
定電流源(7)を通じて接地されると共に、ソースに得
られる信号が出力端子(8)に供給される。さらにこの
出力端子(8)に得られる信号が第1のスイッチ手段を
構成するMOS)ランジスタ(14)を通じてコンデン
サ(13)の一端に供給されると共に、このコンデンサ
(13)の他端に第2のスイッチ手段を構成するMO3
I−ランジスタ(15)を通じて端子(16)からの所
定の直流電圧VOCが供給される。そしてこのトランジ
スタ(14)  (15)のゲートに端子(17)を通
じて上述のブランキングパルスφBLKが供給される。
さらに上述の出力端子(8)からの信号が第3のゲート
素子となるMOS)ランジスタ(18)を通じてトラン
ジスタ(11)  (12)の接続中点に供給される。
そしてこのトランジスタ(18)のゲートに端子(I9
)を通じて第2図Cに示すようなサンプリングパルスの
反転信号φSが供給される。
この回路において、トランジスタ(51(11)  (
12)(14)  (15)  (18)を全てNチャ
ンネルMOSトランジスタとした場合に、ブランキング
パルスφBLKがハイレベルになるとトランジスタ(1
4)(15)がオンし、コンデンサ(13)にトランジ
スタ(5)のVasに相当する電荷が保持される。次に
ブランキングパルスφBLにがローレベルになり、この
後サンプリングパルスφSがハイレベルになりトランジ
スタ(11)  (12)がオンすると、入力端子+1
1からの入力信号Vinがコンデンサ(4)に印加され
、保持される。このためコンデンサ(13)の一端側の
電位はVinになり、このときコンデンサ(13)には
上述の電位に相当する電荷が保持されているので、この
コンデンサ(13)の他端側の電位は(Vin+Vos
)になる。従って出力端子(8)の電位はVinとなり
、入力信号Vinに等しい電位の出力信号Voutが出
力される。
そしてさらにこの出力信号がサンプリング期間以外にオ
ンされるトランジスタ(18)を通じてトランジスタ(
11)  (12)の接続中点に供給される。
ここでこの回路においてもトランジスタ(11)(12
)のソース・ドレイン間にはコンデンサ(21)(22
)が形成される。従ってホールド期間に入力端子(1)
に供給される信号がコンデンサ(21)を介して接続中
点に飛び込む。ところがこの場合に、この接続中点はト
ランジスタ(18)を介して出力端子(8)に接続され
ているため、この飛び込みによる信号成分はローインピ
ーダンスの出力端子(8)に吸収され、この接続中点の
電位は出力信号から不動となる。このためこの接続中点
の信号がさらにコンデンサ(22)を介してコンデンサ
(4)に飛び込んでも、この飛び込みによる電位変化は
、上述の従来例の式(11でV1=V2としたことにな
り、保持される信号電位は不動となる。
こうして信号のサンプルホールドが行われるわけである
が、この回路によれば、ゲート回路を構成するトランジ
スタ(11)  (12)の接続中点の電位が、コンデ
ンサ(4)の保持電圧に等しい電位にされるので、この
接続中点からコンデンサ(4)へ信号の飛び込みが生じ
ても、コンデンサ(4)の保持電圧は不動で、これによ
って信号劣化の生じるおそれはない。
なお入力信号の飛び込みを遮断するだけであれば接続中
点をサンプリング期間以外に任意の直流に固定すればよ
く、トランジスタ(18)を介して任意の直流電圧源に
接続すればよいが、上述のように出力端子(8)に接続
した場合には信号の相関性によってコンデンサ(4)等
の充電を早くできる効果もある。
また上述の回路によれば、トランジスタ(5)のVGs
の影響が除去されるので、温度ドリフト等によるサンプ
リングエラーやl/fノイズ等の問題を生じるおそれも
全くない。
さらに従来例の回路においてトランジスタ(2)に代え
てトランジスタ(11)  (12)等を設けることも
できるが、その場合には出力信号の電位がVGS低下さ
れているので、この電位差を補正する手段等を設ける必
要が生じる。
また以下には上述の回路を同時化回路に適用した場合に
ついて説明する。
まず第3図は全体の構成を示し、入力端子(1)からの
信号が並列に設けられたサンプルホールド(S)()回
路(10t )  (102)  (103)  ・・
・(10n)に供給され、このSH回路(101)〜(
10n)にそれぞれ第4図Aに示すようなサンプリング
パルスφ1.φ2.φ3 ・・・φnが供給される。さ
らにこのSH回路(10t)〜(10n)の出力信号が
それぞれ後段のSH回路(2(h )(202)  (
203)  ・・・ (20n )に供給され、このS
H回路(201) 〜(2On )に共通に第4図Bに
示すようなサンプリングパルスφn+iが供給される。
これによって入力信号が順次パルスφ1〜φnのタイミ
ングでサンプリングホールドされ、このホールドされた
信号がパルスφnや1のタイミングで同時化されて出力
端子(81)(82)(83)・・・ (8n)に出力
される。
そしてこの構成においてSH回路aω(20)の1組の
具体的な構成が第5図の回路図のようにされ、ここで前
段回路αのの部分にサフィックスA、後段回路(20)
の部分にサフィックスBを附して示しである。
従ってこのような同時化回路を用いれば、固定のパター
ンノイズ等が発生することもなく、良好な同時化された
信号を得ることができる。
なお上述の例はMO3I−ランジスタを用いる場合につ
いて述べたが、これはバイポーラあるいは薄膜トランジ
スタ、SFT、Sol等を用いても全く同様の作用効果
が得られる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、入力信号の保持用コンデンサの不用な
飛び込みを遮断することができ、これによって長時間ホ
ールドしても信号の劣化を防止することができるように
なった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一例の構成図、第2図〜第5図はその
説明のための図、第6図は従来の回路の構成図である。 (11は入力端子、(4)は保持用コンデンサ、(5)
はバッファ用トランジスタ、(8)は出力端子、(11
)(12)はゲート用トランジスタ、(13)はコンデ
ンサ、(14)  (15)  (18)はスイッチ用
トランジスタである。 同  松隈秀盛乙、:]゛ (1,5 ・ (ゝ 第1図 第2図 1ifl@(eOie不11Jシi′[2]第3図 第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  入力端子をサンプリングパルスでオンされるゲート回
    路を構成する第1、第2の素子の直列回路を介してホー
    ルド用コンデンサに接続すると共に、上記ホールド用コ
    ンデンサの保持電圧と等しい電圧の得られるローインピ
    ーダンスの出力端子を、上記サンプリングパルスでオフ
    される第3のゲート素子を介して上記第1、第2の素子
    の接続中点に接続するようにしたサンプルホールド回路
JP12684185A 1985-06-11 1985-06-11 サンプルホ−ルド回路 Pending JPS61284899A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12684185A JPS61284899A (ja) 1985-06-11 1985-06-11 サンプルホ−ルド回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12684185A JPS61284899A (ja) 1985-06-11 1985-06-11 サンプルホ−ルド回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61284899A true JPS61284899A (ja) 1986-12-15

Family

ID=14945206

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12684185A Pending JPS61284899A (ja) 1985-06-11 1985-06-11 サンプルホ−ルド回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61284899A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0175299B1 (ko) Fet 비교기 회로
EP0851434B1 (en) Sample hold circuit and semiconductor device having the same
JPH05175737A (ja) サンプルホールド型位相比較回路
EP0407859B1 (en) High speed auto zero comparator
JP2762868B2 (ja) 電圧比較回路
US6628148B2 (en) Sample and hold circuit having a single control signal
KR900007375B1 (ko) 비교기
US4672239A (en) Sample-and-hold circuit arrangement
JP2777302B2 (ja) オフセット検出回路、出力回路および半導体集積回路
JPS61284899A (ja) サンプルホ−ルド回路
JPS60229420A (ja) 非重畳2相タイミング信号発生器用雑音抑圧インターフエース回路
JPH0685562A (ja) オフセットキャンセル回路付き比較器
JPH01259628A (ja) A/d変換器
EP0393996B1 (en) Charge coupled devices
JPH0161263B2 (ja)
JPS62231499A (ja) サンプルホ−ルド回路
JP2500762Y2 (ja) クランプ回路
JPS60136405A (ja) ソ−スフオロワ回路
JP2757991B2 (ja) 直並列型adコンバータ用チョッパ型比較器
JPS61288608A (ja) 差動増幅器
JP2753604B2 (ja) ソース結合型fet回路
JP2002176342A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0340300A (ja) サンプルホールド回路
JPS60251600A (ja) サンプルホ−ルド回路
JP2553620B2 (ja) Mos型サンプルホールドドライバー装置