JPS61287129A - 電子素子用チツプキヤリア - Google Patents
電子素子用チツプキヤリアInfo
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- JPS61287129A JPS61287129A JP60128513A JP12851385A JPS61287129A JP S61287129 A JPS61287129 A JP S61287129A JP 60128513 A JP60128513 A JP 60128513A JP 12851385 A JP12851385 A JP 12851385A JP S61287129 A JPS61287129 A JP S61287129A
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- insulating layer
- printed wiring
- wiring board
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
- H10W70/67—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their insulating layers or insulating parts
- H10W70/68—Shapes or dispositions thereof
- H10W70/6875—Shapes or dispositions thereof being on a metallic substrate, e.g. insulated metal substrates [IMS]
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07541—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
- H10W72/07551—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
[技術分野]
本発明は、ICパッケージなどのような電子素子の基板
として用いられる電子素子用チップキャリアに関するも
のである。 [背景技術] ICパッケージなどのような電子素子は、半導体チップ
などの電子部品チップをリードフレームに取り付けた状
態で樹脂封止や気Wj封止してパフケーノングすること
によっておこなわれる。そしてこのような電子素子にあ
って、端子数の増加に伴って電子部品チップを支持する
キャリアとしてのリードフレームの替わりにプリント配
線板を用いる試みがなされている。 ここにおいて、近時の電子部品チップの1lli密度化
は発熱を伴い、この熱を逃がす工夫が必要とされる。し
かしキャリアとして用いられるプリント配線板は樹脂系
のものやセラミック系のものを基板として形成されてお
り、熱の伝導性が悪くて放熱を良好になすことができず
、電子部品チップのキャリアとしてプリント配線板を用
いることについての難点になっているものである。 [発明の目的1 本発明は、上記の点に鑑みて為されたものであり、放熱
性に優れた電子素子用チップキャリアを提供することを
目的とするものである。
として用いられる電子素子用チップキャリアに関するも
のである。 [背景技術] ICパッケージなどのような電子素子は、半導体チップ
などの電子部品チップをリードフレームに取り付けた状
態で樹脂封止や気Wj封止してパフケーノングすること
によっておこなわれる。そしてこのような電子素子にあ
って、端子数の増加に伴って電子部品チップを支持する
キャリアとしてのリードフレームの替わりにプリント配
線板を用いる試みがなされている。 ここにおいて、近時の電子部品チップの1lli密度化
は発熱を伴い、この熱を逃がす工夫が必要とされる。し
かしキャリアとして用いられるプリント配線板は樹脂系
のものやセラミック系のものを基板として形成されてお
り、熱の伝導性が悪くて放熱を良好になすことができず
、電子部品チップのキャリアとしてプリント配線板を用
いることについての難点になっているものである。 [発明の目的1 本発明は、上記の点に鑑みて為されたものであり、放熱
性に優れた電子素子用チップキャリアを提供することを
目的とするものである。
【発明の開示]
しかして本発明に係る電子素子用チップキャリ7は、金
属基板1の表面を絶縁層2で被覆すると共にこの絶縁層
2の表面に回路導体3を設けて金属ベースのプリント配
線板4を形成し、このプリント配線板4の表面の一部で
絶縁層2を除去してこの絶縁層2を除去した部号におい
て金属基板1に接触させた状態で電子部品チップ5を実
装して成ることをvt徴とするものであり、チップキャ
リアとして用いるプリント配線板4を放熱性の良好な金
属ベースで形成するようにし、しかも電子部品チップ5
を金属基板1に接触させて金属基板1への伝熱が良好に
おこなわれるようにして上記目的を達成したものであっ
て、以下本発明を実施例により詳述する。 チップキャリアとして用いる金属ベースのプリント配線
板4は例えば特公昭56−37720号公報に開示され
る方法などによって作成することができる。すなわち、
まず#3図(a)に示すように銅板、銅合金板、銅−イ
ンバーー銅(Cu−I nv−CU)合金板、鉄−ニッ
ケル合金板、4270イ板、その他鋼板、鉄板、アルミ
ニウム板などで形成される金属基板1に貫通孔11を設
けて、この金属基板1の表面にプリプレグ12を介して
#I箔などの金属M13を重ねる。プリプレグ12はガ
ラス布などの基材にエポキシ樹脂やポリイミド樹脂、テ
フロン等のフッ素樹脂などの樹脂フェスを含浸して加熱
乾燥することによって作成される。そしてこのように金
属基板1にプリプレグ12と金属箔13とを重ねて加熱
加圧成形をおこなうことによって、プリプレグ12中の
含浸樹脂を滲出させて第3図(b)のようにこの樹脂1
4で金属基板1の貫通孔11を充JjEさせるかもしく
は少なくとも貫通孔11の内周面をこの樹脂14で被覆
させる。 このようにしで、プリプレグ12の含浸樹脂が硬化する
ことによって形成される絶縁層2によって金属l113
を金属基板1の表面に貼り付けるようにするものであり
、こののち貫通孔11の径よりも小さい径で樹Wt14
と絶縁層2と金属[13とに貫通して孔加工を施すこと
によって、第3図(c)のようにスルーホール15を形
成させる。このスルーホール15はその内周面が樹脂1
4で被覆され、金属基板1に対する絶縁性を確保するこ
とができるものである。そして金属箔13にエツチング
などを施すことによって常法に従って回゛路形成をし、
第3図(d)のように回路導体3を絶縁層2の表面に設
けると共にスルーホール15にスルーホールメッキ16
などを施すことによって、金属基板1をベースとしたプ
リント配線板4を作成するものである。尚、このプリン
)配線板4にあって、絶縁層2を形成するプリプレグ1
2としてはFR−4程度の耐熱がラスエポキシを用いる
ようにするのが好ましいが、その他耐熱熱硬化性!MN
や耐熱熱可塑性樹脂を金属基板1の表面に塗布すること
によって絶縁層2を形成させることもできる。 そしてこのように形成したプリント配線板4にあって、
半導体チップなどの電子部品チップ5を実装すべ外位置
において、プリント配線板4の表面の一部で絶縁層2を
剥離して除去し、この絶縁層2を除去したS分においで
金属基板1を露出させる。そして次いでこの金属基板1
を露出させた表面に半導体チップなどの電子部品チップ
5を搭載して電子部品チップ5の裏面を金属基板1に接
触させ、第1図に示すようにワイヤーボンディング17
などを電子部品チップ5と回路導体3との闇に施すこと
によってプリント配線板4への電子部品チップ5の実装
をおこなうものであろ、このようにしてプリント配線板
4をチップキャリアとして電子部品チップ5を保持させ
、そしてこれをパフケーツングすることによって電子素
子として仕上げるものである。ここで11図に示すもの
はPGA(ピン グリッド アレー)型の電子素子とし
て形成されるようにしたものであり、このものではプリ
ント配線板4に設けた各スルーホール15゜15・・・
に端子ピン18,18・・・を下方乃至上方に突出させ
るように取り付けるようにしである。このものにおいて
、スルーホール15は内周面が絶縁被覆された状態にあ
るために、金属基板1に対する絶縁を確保して端子ピン
18の取り付けをおこなうことができるものである。ま
たこのようにPGA型の電子素子として形成する他、L
CC(す−ドレスチップキャリア)型の電子素子として
形成することもできる。 上記のように金属基板1をベースとしたプリント配線板
4に電子部品チップ5を取り付けて電子素子を形成する
ようにしたものにあって、金属基板1は熱の良導体であ
って放熱性に優れ、電子部品チップ5からの発熱の放散
を良好におこなうことができるものであり、しかも電子
部品チップ5は熱伝導性が良好でない絶縁層2を除去し
て金属基板1を露出@すな部分に実装させであるために
、電子部品チップ5の熱は直接金属基板1に伝達されて
放熱されることになり、電子部品チップ5からの放熱を
効率良(おこなうことができることになる、このように
電子部品チップ5からの発熱を良好に放熱することがで
勝るために電子部品チップ5の高密度化が可能になるも
のである。ちなみにプリント配線板4の金属基板1とし
て4270イ板(例1)を、銅−インバー−銅合金板(
例2)を、銅板(例3)をそれぞれ用いた場合について
の熱伝導率を次表に示す、比較のために、アルミナ板(
比較例1)やガラスエポキシ板(比較例2)を基板とし
て用いたプリント配線板についてもその熱伝導率を示す
0次表に見られるように金属基板1である例1〜3のも
のは比較例1,2のものよりも熱伝導率が高く、放熱性
に優れることが確認される。 また次表に示され◆ように比較例2のガラスエポキシ板
を基板とするプリント配線板は吸水性を有しており、吸
湿してこの水分が電子部品チップ5に作用するおそれが
あるが、金属基板1である例1〜3のものでは金属基板
1自体の吸水が殆どな(、しかも金属基板1で透湿を遮
断できるためにこのような電子部品チップ5への水分の
作用のおそれはない、さらに例1.2のような熱膨張係
数が半導体チップなど電子部品チップ5の熱膨張係数に
近いものを金属基板1としで用いた場合には、電子部品
チップ5とチップキャリアとなるプリント配線板4との
間の接続信頼性を向上させることができることになる。 特に電子部品チップ5は金属基板1と直接接触している
ために、この接続信頼性に対して電子部品チップ5と金
属基板1の熱尚、第2図はチップキャリアとなるプリン
ト配線板4の他の実施例を示すもので、このものでは絶
縁層2の一部を除去すると共にこの部分において金属基
板1の表面を座ぐりして凹WS19を設けるようにした
ものであり、この凹部19において電子部品チップ5を
実装するようにしである。 【発明の効果】 上述のように本発明にあっては、金属基板の表面を絶縁
層で被覆すると共にこの絶縁層の表面に回路導体を設け
て金属ベースのプリント配線板を形成し、このプリント
配線板に電子部品チップを実装しであるので、チップキ
ャリアとして用いられることになるプリント配線板は金
属基板をベースとして形成されて金属基板による熱伝導
性によって放熱性が優れていると共に、しかもプリント
配AI@の表面の一部で絶縁層を除去してこの絶縁層を
除去した部分において金属基板に接触させた状態で電子
部品チップを実装するようにしたので、電子部品チップ
の熱は直接金属基板に伝達されて放熱されることになり
、電子部品チップからの放熱を効率良くおこなうことが
できるものであって、高密度化された電子部品チップの
実装が可能になるものであり、またこのように放熱を得
るための金属基板はプリント配線板のベースを構成する
ものであって、放熱のための特別な工夫をおこなうよう
な必要がないものである。
属基板1の表面を絶縁層2で被覆すると共にこの絶縁層
2の表面に回路導体3を設けて金属ベースのプリント配
線板4を形成し、このプリント配線板4の表面の一部で
絶縁層2を除去してこの絶縁層2を除去した部号におい
て金属基板1に接触させた状態で電子部品チップ5を実
装して成ることをvt徴とするものであり、チップキャ
リアとして用いるプリント配線板4を放熱性の良好な金
属ベースで形成するようにし、しかも電子部品チップ5
を金属基板1に接触させて金属基板1への伝熱が良好に
おこなわれるようにして上記目的を達成したものであっ
て、以下本発明を実施例により詳述する。 チップキャリアとして用いる金属ベースのプリント配線
板4は例えば特公昭56−37720号公報に開示され
る方法などによって作成することができる。すなわち、
まず#3図(a)に示すように銅板、銅合金板、銅−イ
ンバーー銅(Cu−I nv−CU)合金板、鉄−ニッ
ケル合金板、4270イ板、その他鋼板、鉄板、アルミ
ニウム板などで形成される金属基板1に貫通孔11を設
けて、この金属基板1の表面にプリプレグ12を介して
#I箔などの金属M13を重ねる。プリプレグ12はガ
ラス布などの基材にエポキシ樹脂やポリイミド樹脂、テ
フロン等のフッ素樹脂などの樹脂フェスを含浸して加熱
乾燥することによって作成される。そしてこのように金
属基板1にプリプレグ12と金属箔13とを重ねて加熱
加圧成形をおこなうことによって、プリプレグ12中の
含浸樹脂を滲出させて第3図(b)のようにこの樹脂1
4で金属基板1の貫通孔11を充JjEさせるかもしく
は少なくとも貫通孔11の内周面をこの樹脂14で被覆
させる。 このようにしで、プリプレグ12の含浸樹脂が硬化する
ことによって形成される絶縁層2によって金属l113
を金属基板1の表面に貼り付けるようにするものであり
、こののち貫通孔11の径よりも小さい径で樹Wt14
と絶縁層2と金属[13とに貫通して孔加工を施すこと
によって、第3図(c)のようにスルーホール15を形
成させる。このスルーホール15はその内周面が樹脂1
4で被覆され、金属基板1に対する絶縁性を確保するこ
とができるものである。そして金属箔13にエツチング
などを施すことによって常法に従って回゛路形成をし、
第3図(d)のように回路導体3を絶縁層2の表面に設
けると共にスルーホール15にスルーホールメッキ16
などを施すことによって、金属基板1をベースとしたプ
リント配線板4を作成するものである。尚、このプリン
)配線板4にあって、絶縁層2を形成するプリプレグ1
2としてはFR−4程度の耐熱がラスエポキシを用いる
ようにするのが好ましいが、その他耐熱熱硬化性!MN
や耐熱熱可塑性樹脂を金属基板1の表面に塗布すること
によって絶縁層2を形成させることもできる。 そしてこのように形成したプリント配線板4にあって、
半導体チップなどの電子部品チップ5を実装すべ外位置
において、プリント配線板4の表面の一部で絶縁層2を
剥離して除去し、この絶縁層2を除去したS分においで
金属基板1を露出させる。そして次いでこの金属基板1
を露出させた表面に半導体チップなどの電子部品チップ
5を搭載して電子部品チップ5の裏面を金属基板1に接
触させ、第1図に示すようにワイヤーボンディング17
などを電子部品チップ5と回路導体3との闇に施すこと
によってプリント配線板4への電子部品チップ5の実装
をおこなうものであろ、このようにしてプリント配線板
4をチップキャリアとして電子部品チップ5を保持させ
、そしてこれをパフケーツングすることによって電子素
子として仕上げるものである。ここで11図に示すもの
はPGA(ピン グリッド アレー)型の電子素子とし
て形成されるようにしたものであり、このものではプリ
ント配線板4に設けた各スルーホール15゜15・・・
に端子ピン18,18・・・を下方乃至上方に突出させ
るように取り付けるようにしである。このものにおいて
、スルーホール15は内周面が絶縁被覆された状態にあ
るために、金属基板1に対する絶縁を確保して端子ピン
18の取り付けをおこなうことができるものである。ま
たこのようにPGA型の電子素子として形成する他、L
CC(す−ドレスチップキャリア)型の電子素子として
形成することもできる。 上記のように金属基板1をベースとしたプリント配線板
4に電子部品チップ5を取り付けて電子素子を形成する
ようにしたものにあって、金属基板1は熱の良導体であ
って放熱性に優れ、電子部品チップ5からの発熱の放散
を良好におこなうことができるものであり、しかも電子
部品チップ5は熱伝導性が良好でない絶縁層2を除去し
て金属基板1を露出@すな部分に実装させであるために
、電子部品チップ5の熱は直接金属基板1に伝達されて
放熱されることになり、電子部品チップ5からの放熱を
効率良(おこなうことができることになる、このように
電子部品チップ5からの発熱を良好に放熱することがで
勝るために電子部品チップ5の高密度化が可能になるも
のである。ちなみにプリント配線板4の金属基板1とし
て4270イ板(例1)を、銅−インバー−銅合金板(
例2)を、銅板(例3)をそれぞれ用いた場合について
の熱伝導率を次表に示す、比較のために、アルミナ板(
比較例1)やガラスエポキシ板(比較例2)を基板とし
て用いたプリント配線板についてもその熱伝導率を示す
0次表に見られるように金属基板1である例1〜3のも
のは比較例1,2のものよりも熱伝導率が高く、放熱性
に優れることが確認される。 また次表に示され◆ように比較例2のガラスエポキシ板
を基板とするプリント配線板は吸水性を有しており、吸
湿してこの水分が電子部品チップ5に作用するおそれが
あるが、金属基板1である例1〜3のものでは金属基板
1自体の吸水が殆どな(、しかも金属基板1で透湿を遮
断できるためにこのような電子部品チップ5への水分の
作用のおそれはない、さらに例1.2のような熱膨張係
数が半導体チップなど電子部品チップ5の熱膨張係数に
近いものを金属基板1としで用いた場合には、電子部品
チップ5とチップキャリアとなるプリント配線板4との
間の接続信頼性を向上させることができることになる。 特に電子部品チップ5は金属基板1と直接接触している
ために、この接続信頼性に対して電子部品チップ5と金
属基板1の熱尚、第2図はチップキャリアとなるプリン
ト配線板4の他の実施例を示すもので、このものでは絶
縁層2の一部を除去すると共にこの部分において金属基
板1の表面を座ぐりして凹WS19を設けるようにした
ものであり、この凹部19において電子部品チップ5を
実装するようにしである。 【発明の効果】 上述のように本発明にあっては、金属基板の表面を絶縁
層で被覆すると共にこの絶縁層の表面に回路導体を設け
て金属ベースのプリント配線板を形成し、このプリント
配線板に電子部品チップを実装しであるので、チップキ
ャリアとして用いられることになるプリント配線板は金
属基板をベースとして形成されて金属基板による熱伝導
性によって放熱性が優れていると共に、しかもプリント
配AI@の表面の一部で絶縁層を除去してこの絶縁層を
除去した部分において金属基板に接触させた状態で電子
部品チップを実装するようにしたので、電子部品チップ
の熱は直接金属基板に伝達されて放熱されることになり
、電子部品チップからの放熱を効率良くおこなうことが
できるものであって、高密度化された電子部品チップの
実装が可能になるものであり、またこのように放熱を得
るための金属基板はプリント配線板のベースを構成する
ものであって、放熱のための特別な工夫をおこなうよう
な必要がないものである。
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は他の実施
例の断面図、第3図(a)(b)(c)(cl)は同上
の製造の各工程を示す断面図である。 1は金属基板、2は絶縁層、3は回路導体、4はプリン
ト配線板、5は電子部品チップである。
例の断面図、第3図(a)(b)(c)(cl)は同上
の製造の各工程を示す断面図である。 1は金属基板、2は絶縁層、3は回路導体、4はプリン
ト配線板、5は電子部品チップである。
Claims (1)
- (1)金属基板の表面を絶縁層で被覆すると共にこの絶
縁層の表面に回路導体を設けて金属ベースのプリント配
線板を形成し、このプリント配線板の表面の一部で絶縁
層を除去してこの絶縁層を除去した部分において金属基
板に接触させた状態で電子部品チップを実装して成るこ
とを特徴とする電子素子用チップキャリア。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60128513A JPS61287129A (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 電子素子用チツプキヤリア |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60128513A JPS61287129A (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 電子素子用チツプキヤリア |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61287129A true JPS61287129A (ja) | 1986-12-17 |
Family
ID=14986600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60128513A Pending JPS61287129A (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 電子素子用チツプキヤリア |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61287129A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5656657A (en) * | 1979-10-16 | 1981-05-18 | Toshiba Corp | Manufacture of hybrid integrated circuit |
| JPS5715447A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-26 | Sharp Corp | Production of substrate for carrying components |
| JPS5745957A (en) * | 1980-09-02 | 1982-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Circuit substrate and manufacture thereof |
-
1985
- 1985-06-13 JP JP60128513A patent/JPS61287129A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5656657A (en) * | 1979-10-16 | 1981-05-18 | Toshiba Corp | Manufacture of hybrid integrated circuit |
| JPS5715447A (en) * | 1980-06-30 | 1982-01-26 | Sharp Corp | Production of substrate for carrying components |
| JPS5745957A (en) * | 1980-09-02 | 1982-03-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Circuit substrate and manufacture thereof |
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