JPS6132221A - デイスクの傷検出装置 - Google Patents
デイスクの傷検出装置Info
- Publication number
- JPS6132221A JPS6132221A JP15121284A JP15121284A JPS6132221A JP S6132221 A JPS6132221 A JP S6132221A JP 15121284 A JP15121284 A JP 15121284A JP 15121284 A JP15121284 A JP 15121284A JP S6132221 A JPS6132221 A JP S6132221A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disc
- flaw detection
- circuit
- scratch
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B21/00—Head arrangements not specific to the method of recording or reproducing
- G11B21/02—Driving or moving of heads
- G11B21/08—Track changing or selecting during transducing operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、光学式のディジタルオーディオディスク(D
AZ))プレーヤ、ビデオディスクプ。
AZ))プレーヤ、ビデオディスクプ。
レーヤに係り、特にディスクの欠陥、傷に対す。
るトラック飛びを補償する装置の傷検出装置に・関する
ものである。
ものである。
ディスクの欠陥、傷に対するトラック飛び補・償の方法
として、例えば特開昭57−169’B2号・公報に示
されるように、RF倍信号ピット情報。
として、例えば特開昭57−169’B2号・公報に示
されるように、RF倍信号ピット情報。
のレベルを検出すると共にトラッキング誤差情報を蓄積
し、ピット情報が所定のレベル以上のとぎはピット情報
から検出される通常のトラッ。
し、ピット情報が所定のレベル以上のとぎはピット情報
から検出される通常のトラッ。
キング誤差情報でトラッキング制御を行ない、。
ピット情報がドロップアウト等圧より所定のし。
ベルよりも小さくなったときはその直前に蓄積−したト
ラッキング誤差情報によりトラッキング制御を行なうよ
う圧した装置とか、或いは特開昭59−40526号公
報で示されているようにRF。
ラッキング誤差情報によりトラッキング制御を行なうよ
う圧した装置とか、或いは特開昭59−40526号公
報で示されているようにRF。
信号のピーク値を検出する検波器とRF倍信号ピーク値
のレベルの変化を検出する検波器とのレベル比較を行な
い、ディスクに傷がある場合。
のレベルの変化を検出する検波器とのレベル比較を行な
い、ディスクに傷がある場合。
は上記レベル比較器の制御信号によりトラツキ。
ング制御信号を傷の直前のトラッキング誤着信。
号に前値ホールドし、トラッキング制御を行な・う装置
などが知られている。
などが知られている。
これらの方法は、ディスクの欠陥、傷を検知し、傷の期
間トラッキング誤差信号を前値ホー・ルドしてトラッキ
ング制御を行なうものであり・、ドロップアウト等の発
生による再生RF信号の。
間トラッキング誤差信号を前値ホー・ルドしてトラッキ
ング制御を行なうものであり・、ドロップアウト等の発
生による再生RF信号の。
欠落が起って所要のトラッキング誤差信号が得11られ
ない場合でも、ディスク上の信号トラック。
ない場合でも、ディスク上の信号トラック。
を追跡する対物レンズがノイズなどにより下心。
要に駆動されるのを防止することができ、トラ、ツク飛
びを補償できるものである。
びを補償できるものである。
ところで、ディスクの傷には製造プロセスに1゜起因す
る黒点とか、ユーザがつける傷、指紋な。
る黒点とか、ユーザがつける傷、指紋な。
ど色々なものが指摘されている。黒点などの欠。
陥では再生RF信号が完全に欠落してトラツキ。
ング誤差信号が無くなるためトラック飛び補償が必要で
あるが、一方指紋などの汚れではディ2スクへの入射光
およびディスクからの反射光が。
あるが、一方指紋などの汚れではディ2スクへの入射光
およびディスクからの反射光が。
減少してRp倍信号レベルが落ちトラッキング・誤差信
号もS/Hの劣化を起たすだけで欠落は生・じたいため
、トラック飛びは起こさず元々補償・を必要としない。
号もS/Hの劣化を起たすだけで欠落は生・じたいため
、トラック飛びは起こさず元々補償・を必要としない。
逆に黒点などと同様に傷検出・を行なってトラッキング
誤差信号の前値ホール・ドなどの補償を行なうと傷幅が
非常に長い(黒・点などの1m程度に対し20■程度に
も及ぶ)だ・めにトラック飛びを起こすという整置を生
ずる。
誤差信号の前値ホール・ドなどの補償を行なうと傷幅が
非常に長い(黒・点などの1m程度に対し20■程度に
も及ぶ)だ・めにトラック飛びを起こすという整置を生
ずる。
が、上記した従来の補償装置の傷検出回路では、。
この点については配慮されていなかった。
本発明の目的は上述の欠点をなくし、ディス。
りの欠陥、傷に対するトラック飛びを補償する。
装置に係り、指紋などのディスクの汚れなどに、、対し
てもトラック飛びを起こすことのない好適なディスクの
傷検出装置を提供することKある。
てもトラック飛びを起こすことのない好適なディスクの
傷検出装置を提供することKある。
上記目的を達成するため本発明は、ディスクの傷検出回
路と、傷検出回路の出力により制御5 。
路と、傷検出回路の出力により制御5 。
され一定パルス幅の信号を発生する時限装置と声価検出
回路出力と時限装置出力との論理積を得。
回路出力と時限装置出力との論理積を得。
る論理積回路を設け、上記論理積回路を介して・ディス
クの傷検出を行なうことにより傷検出の・最大時間幅に
上記時限装置で定まる制限を持た−せるようにしたこと
を特徴とする。
クの傷検出を行なうことにより傷検出の・最大時間幅に
上記時限装置で定まる制限を持た−せるようにしたこと
を特徴とする。
以下図面を参照して本発明を説明する。
第1図は本発明による傷検出装置のブロック。
図を示したもので、同図において1は情報記録1゜ディ
スク、2はディスクモータ、3は信号読み。
スク、2はディスクモータ、3は信号読み。
取り装置である光学式のピックアップ、4は電。
流−電圧変換器、5は傷検出回路6、時限装置。
7および論理積回路8より成る傷検出装置、9゜は傷検
出装置5の出力端子を示す。
出装置5の出力端子を示す。
本実施例は、傷検出回路6によりディスクの。
傷を検出すると同時に傷検出回路6の出力によ。
り傷検出に同期して時限装置7を制御し、論理積回路8
により両者の積をとって端子9に傷検出信号e。を得る
もので、ディスクの傷時間幅が、 4 。
により両者の積をとって端子9に傷検出信号e。を得る
もので、ディスクの傷時間幅が、 4 。
時限装置7の出力パルス幅より短い場合は傷幅“に応じ
た傷検出信号e。を得、ディスクの傷時間。
た傷検出信号e。を得、ディスクの傷時間。
幅が時限装置7の出力パルス幅より長くなると“傷検出
信号e。を時限装置7の出力パルス幅なる・一定値に制
限するものである。
信号e。を時限装置7の出力パルス幅なる・一定値に制
限するものである。
以下、第1図を具体化した第2図の実施例に・つき説明
する。
する。
第2図において、10−1乃至11は傷検出回路・であ
り、10−1はトランジスタ12と抵抗14およ。
り、10−1はトランジスタ12と抵抗14およ。
びコンデンサ16より成る周知のエミッタホロア、1検
波器と、トランジスタ12のベース・エミッタ。
波器と、トランジスタ12のベース・エミッタ。
間型圧降下を補正するレベルシフト用トランジ。
スタ15で構成されるレベル検波器で、抵抗14と。
コンデンサ16の放電時定数は十分大きく設定さ。
れ入力信号eiの最大値を検波しホールドする働、−き
なする。又10−2は10−1と同様な構成のし。
なする。又10−2は10−1と同様な構成のし。
ベル検出器であり入力信号eiの最大値を検波するもの
であるが、こちらは抵抗19とコンデンサ21の放電時
定数がディスクの傷による入力信号eiの欠落に追随す
るよう小さく設定されており、入力信号eiの最大値の
エンベロープを得るよう。
であるが、こちらは抵抗19とコンデンサ21の放電時
定数がディスクの傷による入力信号eiの欠落に追随す
るよう小さく設定されており、入力信号eiの最大値の
エンベロープを得るよう。
に作用する。
又、11はレベル比較器であり、レベル検出器・10−
1の出力eyとレベル比較器10−2の出力eP・との
レベル比較を行ないeM=ePの時には零、eM> e
pなる状態でHの検出信号esを発生する。
1の出力eyとレベル比較器10−2の出力eP・との
レベル比較を行ないeM=ePの時には零、eM> e
pなる状態でHの検出信号esを発生する。
時限装置7はNORゲート22−1および22−12と
、抵抗25 、24およびコンデンサ25より成る。
、抵抗25 、24およびコンデンサ25より成る。
周知の単安定マルチバイブレータであり、傷検。
出回路6の出力esの立ち上りエツジに同期し、11抵
抗25とコンデンサ25で定まる時定数に応じた。
抗25とコンデンサ25で定まる時定数に応じた。
時間幅のパルスを出力する。
又、26は論理積回路8を構成するANDゲー。
トであり、傷検出回路乙の出力esと時限装置7゜eQ
を出力するよう構成されている。
を出力するよう構成されている。
係る構成にあって、ディスクに指紋などの汚れがあった
場合、第6図(α)の動作波形に示したように指紋の期
間Aでは光学式ピックアップ5からのディスクへの入射
光およびディスクからの反射光量が減少し、再生RF信
号eiのピーク・値は凹状に欠落するため、レベル検出
器10−1・の出力eMは(A+1に示す様相を呈し、
その放電時定・数が十分大きく設定されているため変化
は比較・的緩やかなものとなる。
場合、第6図(α)の動作波形に示したように指紋の期
間Aでは光学式ピックアップ5からのディスクへの入射
光およびディスクからの反射光量が減少し、再生RF信
号eiのピーク・値は凹状に欠落するため、レベル検出
器10−1・の出力eMは(A+1に示す様相を呈し、
その放電時定・数が十分大きく設定されているため変化
は比較・的緩やかなものとなる。
又、レベル検出器10−2の出力epは放電時定。
数が小さく設定されているためピックアップが。
ディスクの指紋に突入した時点t、からeiの最大。
値のエンベロープに一致したものとなる。
この結果、指紋の期間t、乃至t2ではeM>ePと1
゜なるためレベル比較器11の出力e5は(C)のよう
に、Hとなり、又e5の立ち上りに同期して単安定。
゜なるためレベル比較器11の出力e5は(C)のよう
に、Hとなり、又e5の立ち上りに同期して単安定。
マルチバイブレータ7が動作しその出力には(d)。
のように一定幅T。のパルスes’を発生するためΔ。
NDアゲート6の出力端子9には(mlの(ロ)に示す
よ1゜うな単安定マルチバイブレータ7の出力パルス幅
ToK等しいパルス信号が得られる。
よ1゜うな単安定マルチバイブレータ7の出力パルス幅
ToK等しいパルス信号が得られる。
以上のように本実施例によれば、−次的なディスクの傷
検出信号とこれに同期して制御される単安定マルチバイ
ブレータなどの時限装置出力との論理積によって傷検出
信号を得るように・したため、時限装置の時間幅以内の
傷に対して・は傷時間幅に応じた傷検出信号が得られ、
又時・限装置の時間幅を越えるような傷に対しては従・
米菓3図(g)の(イ)のようであった傷検出を(ロ)
のよ−うにその検出時間に制限を与えることができる・
ため、これにより指紋などのディスクの汚れに・対して
も不要に長い時間傷検出が行なわれるこ・とはない。
検出信号とこれに同期して制御される単安定マルチバイ
ブレータなどの時限装置出力との論理積によって傷検出
信号を得るように・したため、時限装置の時間幅以内の
傷に対して・は傷時間幅に応じた傷検出信号が得られ、
又時・限装置の時間幅を越えるような傷に対しては従・
米菓3図(g)の(イ)のようであった傷検出を(ロ)
のよ−うにその検出時間に制限を与えることができる・
ため、これにより指紋などのディスクの汚れに・対して
も不要に長い時間傷検出が行なわれるこ・とはない。
第4図は本発明による傷検出装置を用いたデ1゜イスク
の傷によるトラック飛びを補償する装置。
の傷によるトラック飛びを補償する装置。
の−例を示したものである。同図において27は8トラ
ツキングサーボ用の誤差増幅器、28は駆動。
ツキングサーボ用の誤差増幅器、28は駆動。
増幅器、29はピックアップ5のトラッキングア。
クチ瓢エータコイル、30はスイッチ52および55−
で成る切り換え装置、51はサンプル・ホールド回路を
示し、その他第1図および第2図と同一符号を付した部
分は同一もしくは同等な部分を指す。
で成る切り換え装置、51はサンプル・ホールド回路を
示し、その他第1図および第2図と同一符号を付した部
分は同一もしくは同等な部分を指す。
本例の装置は、ディスクに傷がない場合は切、 8 。
り換え装置30のスイッチ32をON、55をOFF
−とじて通常のトラッキング誤差信号によりトラ。
−とじて通常のトラッキング誤差信号によりトラ。
ッキング制御が行ない、ディスクに傷があった゛場合は
傷検出装置5の制御信号によりサンプル。
傷検出装置5の制御信号によりサンプル。
・ホールド回路51を動作させると同時に切り換−え装
置50のスイッチ52をOFF、スイッチ55をONと
してトラッキングアクチュエータ7に加・わる電圧をデ
ィスクの傷に突入した瞬間のトラ・ッキング誤差電圧、
すなわちサンプル・ホール。
置50のスイッチ52をOFF、スイッチ55をONと
してトラッキングアクチュエータ7に加・わる電圧をデ
ィスクの傷に突入した瞬間のトラ・ッキング誤差電圧、
すなわちサンプル・ホール。
ド回路51の出力に前値ホールドしてトラシャン11グ
制御を行なうもので、しかもホールド時間の。
制御を行なうもので、しかもホールド時間の。
最大値は傷検出装置5によって制約されるため。
指紋などのディスクの汚れに対しても不要に長。
い時間アクチュエータ29の駆動電圧が前値ホー。
ルドされることはなくトラック飛びを防止でき15るも
のである。
のである。
尚、切り換え装置50のスイッチ52および53は例え
ば電界効果トランジスタなどが使用され、その構成と動
作は前記特願昭59−40526号公報で詳しく示され
ている。又、サンプル・ホールド回路51の構成、動作
についても同様であるた・めここでは説明は省略するが
、本例の具体的な・実施に当ってはサンプル・ホールド
によるトラ・ツク飛びを生じない限界内で第3図に示し
たT。・を設定するよう時限装置7の定数を定めれば良
−℃″−0 〔発明の効果〕 以上述べたように本発明によれば、簡単な方。
ば電界効果トランジスタなどが使用され、その構成と動
作は前記特願昭59−40526号公報で詳しく示され
ている。又、サンプル・ホールド回路51の構成、動作
についても同様であるた・めここでは説明は省略するが
、本例の具体的な・実施に当ってはサンプル・ホールド
によるトラ・ツク飛びを生じない限界内で第3図に示し
たT。・を設定するよう時限装置7の定数を定めれば良
−℃″−0 〔発明の効果〕 以上述べたように本発明によれば、簡単な方。
法にて自動的にディスクの傷検出時間幅の最大、値を制
限することができる。
限することができる。
これにより、傷のタイミングでトラック誤差。
信号を前値ホールドし、ビックアップアクチュ。
エータ電圧を一定値に保持してトラック飛びを。
防止する補償装置などの傷検出装置として用い。
た場合、指紋などのディスクの汚れに対しても、−不要
に長い時間傷検出がなされることはなくトラック飛びを
解消することができる。
に長い時間傷検出がなされることはなくトラック飛びを
解消することができる。
第1図は本発明によるディスクの傷検出装置を示すブロ
ック図、第2図は本発明によるディスクの傷検出装置の
具体例を示す図、第3図は゛第2図回路の動作波形図、
第4図は本発明にょ゛るディスクの傷検出装置を用いた
傷によるトラ。 ツク飛び補償装着の例を示す図である。 5:傷検出装置、 6:傷検出回路、 7:時限装置、 8:論理積回路。 基1凹 茎2図
ック図、第2図は本発明によるディスクの傷検出装置の
具体例を示す図、第3図は゛第2図回路の動作波形図、
第4図は本発明にょ゛るディスクの傷検出装置を用いた
傷によるトラ。 ツク飛び補償装着の例を示す図である。 5:傷検出装置、 6:傷検出回路、 7:時限装置、 8:論理積回路。 基1凹 茎2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光学式などのピックアップを用いたディスクの再生
装置において、ディスクの傷検出回路と時限装置と論理
積回路を備え、前記ディスクに傷がある場合は前記論理
積回路により前記傷検出回路出力と前記時限装置出力と
の論理積を得ることにより傷検出を行なうようにしたこ
とを特徴とするディスクの傷検出装置。 2、前記傷検出回路は前記ピックアップ出力の記録情報
信号の最大値レベルを検出する第1のレベル検出器と、
前記記録情報信号の最大値レベルの変化を検出する第2
のレベル検出器、および該第1と該第2のレベル検出器
出力とを比較する比較器とを備え、前記時限装置は単安
定マルチバイブレータで成る特許請求の範囲第1項記載
のディスクの傷検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15121284A JPS6132221A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | デイスクの傷検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15121284A JPS6132221A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | デイスクの傷検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6132221A true JPS6132221A (ja) | 1986-02-14 |
Family
ID=15513682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15121284A Pending JPS6132221A (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | デイスクの傷検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6132221A (ja) |
-
1984
- 1984-07-23 JP JP15121284A patent/JPS6132221A/ja active Pending
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