JPS62110181A - 速度計 - Google Patents
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- JPS62110181A JPS62110181A JP23018586A JP23018586A JPS62110181A JP S62110181 A JPS62110181 A JP S62110181A JP 23018586 A JP23018586 A JP 23018586A JP 23018586 A JP23018586 A JP 23018586A JP S62110181 A JPS62110181 A JP S62110181A
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Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は速度計に関する。
〔従来技術及び発明が解決すべき問題点〕様々に異なる
原理に基づく数多くの速度計が知られているが、そのほ
ぼ全てのものは基準系、多くの場合は地表に対する速度
を測定する。このために、速度は単位時間当たりの距離
変化から測定されるか又は相対運動に比例する量から直
接求められるのが普通である。そのような比例量は、た
とえば、ドツプラー周波数ずれ又はホイールの回転速度
などである。
原理に基づく数多くの速度計が知られているが、そのほ
ぼ全てのものは基準系、多くの場合は地表に対する速度
を測定する。このために、速度は単位時間当たりの距離
変化から測定されるか又は相対運動に比例する量から直
接求められるのが普通である。そのような比例量は、た
とえば、ドツプラー周波数ずれ又はホイールの回転速度
などである。
ドイツ特許公開公報第3335708号には絶対速度を
測定する速度計が記載されている。絶対速度は「慣性速
度」といっても良い。測定は基準媒体である太陽の重力
場で実施される。従って、速度は太陽が原点として位置
する座標格子で測定されることになる。すなわち、測定
される慣性速度は太陽の位置に対する速度である。太陽
の周囲を回転する惑星の軌道は正確にわかっているので
、それらの惑星に対する速度、従って地球に対する速度
を慣性速度及び惑星の軌道データから計算することがで
きる。速度計が太陽の重力場を離れ、別の基準系の重力
場に入った場合は、その別の基準系を太陽と置換えなけ
ればならない。
測定する速度計が記載されている。絶対速度は「慣性速
度」といっても良い。測定は基準媒体である太陽の重力
場で実施される。従って、速度は太陽が原点として位置
する座標格子で測定されることになる。すなわち、測定
される慣性速度は太陽の位置に対する速度である。太陽
の周囲を回転する惑星の軌道は正確にわかっているので
、それらの惑星に対する速度、従って地球に対する速度
を慣性速度及び惑星の軌道データから計算することがで
きる。速度計が太陽の重力場を離れ、別の基準系の重力
場に入った場合は、その別の基準系を太陽と置換えなけ
ればならない。
そのような速度計は慣性航法において使用するのに特に
適している。その場合、速度の他に回転速度や加速を測
定する必要はない。
適している。その場合、速度の他に回転速度や加速を測
定する必要はない。
ドイツ特許公開公報第3335708号に記載される速
度計は、異なる経路を通って伝播する測定信号と基準信
号について異なる抵抗係数が有効になることを利用して
いる。異なる抵抗係数は、たとえば、速度計を次のよう
に構成した場合に現われる。
度計は、異なる経路を通って伝播する測定信号と基準信
号について異なる抵抗係数が有効になることを利用して
いる。異なる抵抗係数は、たとえば、速度計を次のよう
に構成した場合に現われる。
すなわち、測定信号と基準信号は光のビームであり;2
つの信号は光ファイバの中を伝播し、測定信号と基準信
号に関する光ファイバが異なる屈折率を有する場合であ
る。このような構成においては、速度に従って決まる、
測定信号と基準信号のそれぞれの光ファイバを通過した
後の位相差は、光ファイバの屈折率をそれぞれn12n
zとし、2本の光ファイバの長さをlとしたとき、(n
、” −n、”)/!に比例する。
つの信号は光ファイバの中を伝播し、測定信号と基準信
号に関する光ファイバが異なる屈折率を有する場合であ
る。このような構成においては、速度に従って決まる、
測定信号と基準信号のそれぞれの光ファイバを通過した
後の位相差は、光ファイバの屈折率をそれぞれn12n
zとし、2本の光ファイバの長さをlとしたとき、(n
、” −n、”)/!に比例する。
限定されたスペースの中で長い光路を実現するために、
両端がミラーで終わっている数本の光ファイバを平行に
配列することは上記出願から知られている。
両端がミラーで終わっている数本の光ファイバを平行に
配列することは上記出願から知られている。
本発明の目的は、慣性測度を測定するという問題に対す
るさらに別の解決法を提供することである。
るさらに別の解決法を提供することである。
ドイツ特許公開公報第3335708号に記載される解
決方法と比較して、特許請求の範囲第1項、第2項及び
第9項並びにそれぞれの従属特許請求の範囲に記載され
る新規な解決方法は、測定信号と基準信号が通過する経
路について異なる材料を使用する必要がないという利点
を有する。
決方法と比較して、特許請求の範囲第1項、第2項及び
第9項並びにそれぞれの従属特許請求の範囲に記載され
る新規な解決方法は、測定信号と基準信号が通過する経
路について異なる材料を使用する必要がないという利点
を有する。
以下、添付の図面を参照して本発明の詳細な説明する。
信号送信機と、信号受信機とを有する速度計において、
それら2台の装置の離間距離が時間の経過に伴なって変
化せず、一定のままであるならば、一般に、送信機から
受信機に向かう信号についてはドツプラー効果は発生し
ないと考えられる。これは、速度計が速度Vで任意の媒
体く真空を含む)の中を移動している場合でも変わらな
いと考えられる。従って、送信機と受信機とが互いに堅
固に結合されない場合又は送信機からの信号が送信機に
達する前に何らかの物体により反射される場合に限り速
度を測定することは可能であろう。
それら2台の装置の離間距離が時間の経過に伴なって変
化せず、一定のままであるならば、一般に、送信機から
受信機に向かう信号についてはドツプラー効果は発生し
ないと考えられる。これは、速度計が速度Vで任意の媒
体く真空を含む)の中を移動している場合でも変わらな
いと考えられる。従って、送信機と受信機とが互いに堅
固に結合されない場合又は送信機からの信号が送信機に
達する前に何らかの物体により反射される場合に限り速
度を測定することは可能であろう。
この見解の基礎となる考えは二次のドツプラー効果を考
慮に入れていない。新規な速度計において利用されるの
はこの二次のドツプラー効果である。二次のドツプラー
効果(いわゆる「二次ドツプラー効果」)は信号の媒体
中の伝播速度Wを表まで低下させる。式中、Woは速度
計が静止しているときの信号の伝播速度、■は媒体中の
速度計の速度である。
慮に入れていない。新規な速度計において利用されるの
はこの二次のドツプラー効果である。二次のドツプラー
効果(いわゆる「二次ドツプラー効果」)は信号の媒体
中の伝播速度Wを表まで低下させる。式中、Woは速度
計が静止しているときの信号の伝播速度、■は媒体中の
速度計の速度である。
実際には、長さ10は
まで延長するので、速度計が媒体中を移動している(す
なわち、「観察者」が移動している場合も含む;観察者
は受信機と同じである)ときの測定中、送信機から受信
機に向かう信号の相対速度は、原則として、速度計が静
止しているときの信号の媒体中の伝播速度w0より低い
。
なわち、「観察者」が移動している場合も含む;観察者
は受信機と同じである)ときの測定中、送信機から受信
機に向かう信号の相対速度は、原則として、速度計が静
止しているときの信号の媒体中の伝播速度w0より低い
。
第1図の構成は、Kennedy及びThorndik
e(R,J。
e(R,J。
にennedyJ、M、Thorndike+ rEx
perimental Establi−shment
of the Re1ativity of tim
eJ 、PhysicalReview2第42巻第1
号、1932年)により実施された実験で使用されたよ
うな干渉計である。この実験は周知のマイケルソン干渉
計(たとえば、G、Joos、 rLehrbuch
der theoretischen Physik
J +第11版、Akademische Verl
agsgesellschaft。
perimental Establi−shment
of the Re1ativity of tim
eJ 、PhysicalReview2第42巻第1
号、1932年)により実施された実験で使用されたよ
うな干渉計である。この実験は周知のマイケルソン干渉
計(たとえば、G、Joos、 rLehrbuch
der theoretischen Physik
J +第11版、Akademische Verl
agsgesellschaft。
フランクフルト1965年、223〜226ページを参
照)に基づいている。Kennedy−Thorndi
keの干渉計の場合、マイケルソン干渉計と比較して重
要であるのは2つの干渉計アームが等しい長さでないこ
と又は(長さが等しい場合には)互いに直交しない又は
平行でないことである。干渉計アームの長さをそれぞれ
11及び12とすれば、次の4つの場合を実際に考える
ことができる: al)j2+ ≠12 ;干渉計アームは互いに直交す
る; a2)6+ ≠12 ;干渉計アームは任意の角度を成
す; a3)11 ≠12 ;干渉計アームは互いに平行であ
る;及び b)N、=12 ;干渉計アームは90°でない角度又
はその整数倍の角度 (すなわちOoでもない)を 成す。
照)に基づいている。Kennedy−Thorndi
keの干渉計の場合、マイケルソン干渉計と比較して重
要であるのは2つの干渉計アームが等しい長さでないこ
と又は(長さが等しい場合には)互いに直交しない又は
平行でないことである。干渉計アームの長さをそれぞれ
11及び12とすれば、次の4つの場合を実際に考える
ことができる: al)j2+ ≠12 ;干渉計アームは互いに直交す
る; a2)6+ ≠12 ;干渉計アームは任意の角度を成
す; a3)11 ≠12 ;干渉計アームは互いに平行であ
る;及び b)N、=12 ;干渉計アームは90°でない角度又
はその整数倍の角度 (すなわちOoでもない)を 成す。
本発明による速度計の動作を説明するために、第1図で
はal)の構成が選択された(第2図でも同じ構成が選
択されるが、第3図ではa3)による構成が採用されて
いる)。
はal)の構成が選択された(第2図でも同じ構成が選
択されるが、第3図ではa3)による構成が採用されて
いる)。
光源Iからの光のビームLSはビームスプリッタ−2に
入射し、ビームスプリッタ−2はこれを2本の別個のビ
ームLSI及びLS2に分割する。
入射し、ビームスプリッタ−2はこれを2本の別個のビ
ームLSI及びLS2に分割する。
第1のビームLSIはミラー4に入射し、ミラー4はこ
れを反射してビームスプリッタ−2に戻す(第1の干渉
計アーム)。第1の干渉計アームの長さはlIである。
れを反射してビームスプリッタ−2に戻す(第1の干渉
計アーム)。第1の干渉計アームの長さはlIである。
第2のビームLS2はミラー3に向けられ、ミラー3は
これを反射してビームスプリッタ−2に戻す(第2の干
渉計アーム)。
これを反射してビームスプリッタ−2に戻す(第2の干
渉計アーム)。
第2の干渉計アームの長さは12である。2つの干渉計
アームは互いに垂直である。ミラーから反射される2本
のビームLS12 LS2の各部分LSI’2LS2’
はビームスプリッタ−2において組合され、それにより
形成されたビームは評価装置(図示せず)に送られる。
アームは互いに垂直である。ミラーから反射される2本
のビームLS12 LS2の各部分LSI’2LS2’
はビームスプリッタ−2において組合され、それにより
形成されたビームは評価装置(図示せず)に送られる。
評価装置において、2つのビーム部分LSI’。
LS2’の位相差が公知の方法により測定される。
位相差を測定する代わりに、2つのビームの到着時間の
差を公知の方法により決定することもできる。到着時間
の差Δtは位相差Δφに直接比例するので、どちらの値
を測定するかは重要ではない。
差を公知の方法により決定することもできる。到着時間
の差Δtは位相差Δφに直接比例するので、どちらの値
を測定するかは重要ではない。
位相差の評価中、測定結果があいまいにならぬように、
そのことのみに留意すれば良い。
そのことのみに留意すれば良い。
真空中の光のビームの伝播速度をCとし、第1のビーム
LSIが第1の干渉計アーム内を伝播する方向に速度計
が移動するときの速度をVとすると、第1図の構成にお
いては、 Δφについて測定された値からVを計算することができ
る。
LSIが第1の干渉計アーム内を伝播する方向に速度計
が移動するときの速度をVとすると、第1図の構成にお
いては、 Δφについて測定された値からVを計算することができ
る。
LSI及びLS2に関する2つの干渉計アームが互いに
垂直ではない場合には、上記の式でアームの成す角度を
考慮しなければならない。
垂直ではない場合には、上記の式でアームの成す角度を
考慮しなければならない。
第2図の構成においても、同様に、光のビームはビーム
スプリッタ−22により2本のビームLSI及びLS2
に分割される。しかしながら、第1図の構成とは異なり
、第1のビームLSIはミラーから反射されてビームス
プリッタ−22に直接戻るのではなく、2つのミラー8
及び7の間で数回往復するように反射され、最終的には
ミラー8から付加的なビームスプリッタ−6に向かって
反射される。このビームスプリッタ−6において第1の
ビームLSIの一部分LSI’は第2のビームLS2の
一部分LS2’と組合される。ビームスプリッタ−6内
での組合せにより得られた光のビームは評価装置に入射
する。第2図の構成においては、光路の長さ11、すな
わち、光のビームが2本の別個のビームに分割される点
(ビームスプリンター22)と、2本のビーム力月末の
ビームに再び組合される点(ビームスプリッタ−6)と
の間の経路の長さは第1図の構成の場合より相当に長い
。
スプリッタ−22により2本のビームLSI及びLS2
に分割される。しかしながら、第1図の構成とは異なり
、第1のビームLSIはミラーから反射されてビームス
プリッタ−22に直接戻るのではなく、2つのミラー8
及び7の間で数回往復するように反射され、最終的には
ミラー8から付加的なビームスプリッタ−6に向かって
反射される。このビームスプリッタ−6において第1の
ビームLSIの一部分LSI’は第2のビームLS2の
一部分LS2’と組合される。ビームスプリッタ−6内
での組合せにより得られた光のビームは評価装置に入射
する。第2図の構成においては、光路の長さ11、すな
わち、光のビームが2本の別個のビームに分割される点
(ビームスプリンター22)と、2本のビーム力月末の
ビームに再び組合される点(ビームスプリッタ−6)と
の間の経路の長さは第1図の構成の場合より相当に長い
。
ビームが1本の光ファイバに沿って又は2本以上の平行
に配列された光ファイバに沿って案内される第2図に示
されるような速度計を実現することができる。平行に配
列される光ファイバの両端はミラーで終わっている。こ
れにより、1本の光ファイバから出た光を隣接する光フ
ァイバに結合することができる。M、Bohmはこのよ
うな速度計についてFibre 0ptics’86
International Conference(
ロンドンで1986年4月29日から5月1日まで開催
)で発表された論文rAchieven+ents a
ndPerspectives of Fiber G
yrosJの中で報告している。
に配列された光ファイバに沿って案内される第2図に示
されるような速度計を実現することができる。平行に配
列される光ファイバの両端はミラーで終わっている。こ
れにより、1本の光ファイバから出た光を隣接する光フ
ァイバに結合することができる。M、Bohmはこのよ
うな速度計についてFibre 0ptics’86
International Conference(
ロンドンで1986年4月29日から5月1日まで開催
)で発表された論文rAchieven+ents a
ndPerspectives of Fiber G
yrosJの中で報告している。
第1図及び第2図の実施例において、ビームLSI及び
LS2は光ビームLSから分割(ビームスプリッタ−2
222)により発生される点と、再び組合される点(ビ
ームスプリッタ−226)との間で異なる方向に進む。
LS2は光ビームLSから分割(ビームスプリッタ−2
222)により発生される点と、再び組合される点(ビ
ームスプリッタ−226)との間で異なる方向に進む。
これらの実施例では、2つの方向は互いに90°の角度
を成す。その他の角度も可能である。以下に説明する第
3図の構成においては、2本のビームLS1及びLS2
は互いに平行に伝播する。その他の実施例の場合と同様
に、ビームLSはビームスプリッタ−25により2本の
別個のビームLSI及びLS2に分割される。ビームス
プリッタ−25は、たとえば、集積光学装置として形成
される。第2のビームLS2は光ファイバ51に侵入し
、光ファイバ51に沿って進んだ後に、同様に集積光学
回路技術を利用して形成されるビームスプリッタ−56
に入射する。第1のビームLSIは、光ファイバ12と
、ミラー10211とを含む構成50に入る。
を成す。その他の角度も可能である。以下に説明する第
3図の構成においては、2本のビームLS1及びLS2
は互いに平行に伝播する。その他の実施例の場合と同様
に、ビームLSはビームスプリッタ−25により2本の
別個のビームLSI及びLS2に分割される。ビームス
プリッタ−25は、たとえば、集積光学装置として形成
される。第2のビームLS2は光ファイバ51に侵入し
、光ファイバ51に沿って進んだ後に、同様に集積光学
回路技術を利用して形成されるビームスプリッタ−56
に入射する。第1のビームLSIは、光ファイバ12と
、ミラー10211とを含む構成50に入る。
光ファイバ12はいくつかの部分に切断されて互いに平
行に配列され、1つの光フアイバ部分から別の光フアイ
バ部分への結合はミラー10及び11により行なわれる
。第1のビームLSIは構成50を通過した後にビーム
スプリッタ−56に入射し、そこで第2のビームLS2
と組合される。
行に配列され、1つの光フアイバ部分から別の光フアイ
バ部分への結合はミラー10及び11により行なわれる
。第1のビームLSIは構成50を通過した後にビーム
スプリッタ−56に入射し、そこで第2のビームLS2
と組合される。
その他の実施例の場合と同様に、ビームLS1及びLS
2の組合せにより得られた光のビームは評価装置(図示
せず)に入射し、二次ドツプラー効果によって2本のビ
ームの間に発生した位相差から慣性速度が決定される。
2の組合せにより得られた光のビームは評価装置(図示
せず)に入射し、二次ドツプラー効果によって2本のビ
ームの間に発生した位相差から慣性速度が決定される。
この構成においては、第1の干渉計アームはビームスプ
リッタ−25内の分岐点から構成50を介してビームス
プリンター56内の組合せ点に至る部分である。第2の
干渉計アームは、構成50を介するのではなく光ファイ
バ51を介するという点で第1の干渉計アームとは異な
っている。
リッタ−25内の分岐点から構成50を介してビームス
プリンター56内の組合せ点に至る部分である。第2の
干渉計アームは、構成50を介するのではなく光ファイ
バ51を介するという点で第1の干渉計アームとは異な
っている。
上述の実施例では、光のビームLSは2本の別個のビー
ムLS1及びLS2に分割されるので、分岐点において
2本のビームの位相は同じである。
ムLS1及びLS2に分割されるので、分岐点において
2本のビームの位相は同じである。
2本のビームが異なる放射線源から発生される場合、2
本のビームが干渉計アームに結合されるときに同じ位相
となるように2本のビームの位相を制御するのが好まし
い。そのような制御が可能でなければ、ビームが干渉計
アームに結合される前に2本のビームの位相差を決定し
、評価中に考慮しなければならない。
本のビームが干渉計アームに結合されるときに同じ位相
となるように2本のビームの位相を制御するのが好まし
い。そのような制御が可能でなければ、ビームが干渉計
アームに結合される前に2本のビームの位相差を決定し
、評価中に考慮しなければならない。
第3図の構成においては、2本のビームLSI及びLS
2の光路はa3)に挙げられているように互いに平行で
ある。この実施例では、2本のビームの位相差は次のよ
うに表わされる: 式中、λは光の真空中の波長であり、Kは計算により又
は好ましくは校正により決定することができる修正係数
である。この係数には、特に、北及び水平方向に関する
方向、光ファイバの本数などの幾何学的及び地理的パラ
メータが盛込まれている。第3図の構成はA、=1m;
fz=0.1m;A =10−bm ; K =100
0として実現することができる。
2の光路はa3)に挙げられているように互いに平行で
ある。この実施例では、2本のビームの位相差は次のよ
うに表わされる: 式中、λは光の真空中の波長であり、Kは計算により又
は好ましくは校正により決定することができる修正係数
である。この係数には、特に、北及び水平方向に関する
方向、光ファイバの本数などの幾何学的及び地理的パラ
メータが盛込まれている。第3図の構成はA、=1m;
fz=0.1m;A =10−bm ; K =100
0として実現することができる。
第3図の構成に使用される光ファイバは偏光保持単モー
ドファイバであるのが好ましい。
ドファイバであるのが好ましい。
干渉計アームの一方又は双方が1つの領域を包囲する複
数本の光ファイバにより構成される場合、前述のように
、特別の手段(たとえば光ファイバにより包囲される領
域の周囲の相反する方向への循環)を構じない限り、回
転中にSagnac位相ずれがさらに発生する。この誤
差はできる限り小さい値に抑えなければならない、これ
は、包囲領域を小さくすることにより達成される。また
、適切な構成によってSagnac位相差を測定し、慣
性速度の数学的確定の際にこれを考慮に入れることもで
きる。
数本の光ファイバにより構成される場合、前述のように
、特別の手段(たとえば光ファイバにより包囲される領
域の周囲の相反する方向への循環)を構じない限り、回
転中にSagnac位相ずれがさらに発生する。この誤
差はできる限り小さい値に抑えなければならない、これ
は、包囲領域を小さくすることにより達成される。また
、適切な構成によってSagnac位相差を測定し、慣
性速度の数学的確定の際にこれを考慮に入れることもで
きる。
位相差の評価自体は知られているので、ここで詳細に説
明する必要はない。たとえば(分割されたビームを変調
することができ、ビーム間の位相差をゼロになるように
制御し、速度を測定するために制御信号を評価すること
も可能である。
明する必要はない。たとえば(分割されたビームを変調
することができ、ビーム間の位相差をゼロになるように
制御し、速度を測定するために制御信号を評価すること
も可能である。
その詳細は、たとえば前述のドイツ特許公開公報第33
35708号に記載されている。2本のビームの位相差
は、2本のビームがコイル状光ファイバに沿って相反す
る方向に循環した後に組合される回転速度測定計器にお
いても評価されなければならない。評価に関する限り、
それら2本のビームはビームLSI及びLS2に相当す
る。従って、回転速度測定計器で位相差を評価する方法
を測度針において慣性速度を測定するためにも利用でき
る。2本のビームのあらゆる変調に関しても同じことが
いえ、これは2本のビームの位相差を評価する上で有利
である。ドイツ特許公開公報第3136688号、ドイ
ツ特許公開公報第3247014号、ドイツ特許公開公
報第3244010号、ドイツ特許公開公報第3244
113号及びドイツ特許公開公報第3418288号な
どを参照のこと。
35708号に記載されている。2本のビームの位相差
は、2本のビームがコイル状光ファイバに沿って相反す
る方向に循環した後に組合される回転速度測定計器にお
いても評価されなければならない。評価に関する限り、
それら2本のビームはビームLSI及びLS2に相当す
る。従って、回転速度測定計器で位相差を評価する方法
を測度針において慣性速度を測定するためにも利用でき
る。2本のビームのあらゆる変調に関しても同じことが
いえ、これは2本のビームの位相差を評価する上で有利
である。ドイツ特許公開公報第3136688号、ドイ
ツ特許公開公報第3247014号、ドイツ特許公開公
報第3244010号、ドイツ特許公開公報第3244
113号及びドイツ特許公開公報第3418288号な
どを参照のこと。
適切な測定方法についてのさらに詳細な技術的背景に関
しては、R,W、P、Drever他のrGravit
atio−nal Wave Detectors u
sing La5er Interferometer
sand 0ptical Cavities:Ide
us、Pr1nciples andProspect
s J 2 Quantum 0ptics、 Exp
erimentalGravity and Meas
urement Theory、Pierre Mey
stre。
しては、R,W、P、Drever他のrGravit
atio−nal Wave Detectors u
sing La5er Interferometer
sand 0ptical Cavities:Ide
us、Pr1nciples andProspect
s J 2 Quantum 0ptics、 Exp
erimentalGravity and Meas
urement Theory、Pierre Mey
stre。
Marlan O,5cully共編、(Plenum
PublishingCorpora t f on
+ 503から514ページ、及びR,W、P、
’Dreverのr Interferometri
c Detectors forGravitatio
nal Radiation J 2 Ca口forn
iaInstitute of Technology
(バサデナ)を参照のこと。原出願の出願臼の後、
出願の基礎となる理論はM、 BohmによりrJah
rbuch 1985 der DGLRJ 296−
1から96−22ページの論文rZur Bedeut
ungdes quadratischer Dopp
ler−Effektes FurRaumfahrt
und Astrophysik jの中で発表され
た。
PublishingCorpora t f on
+ 503から514ページ、及びR,W、P、
’Dreverのr Interferometri
c Detectors forGravitatio
nal Radiation J 2 Ca口forn
iaInstitute of Technology
(バサデナ)を参照のこと。原出願の出願臼の後、
出願の基礎となる理論はM、 BohmによりrJah
rbuch 1985 der DGLRJ 296−
1から96−22ページの論文rZur Bedeut
ungdes quadratischer Dopp
ler−Effektes FurRaumfahrt
und Astrophysik jの中で発表され
た。
上述の実施例では光波が使用された。その他の電磁波が
採用される場合、それらの実施例を別の電磁波に適する
ように変形することは当業者の能力の範囲内にある。
採用される場合、それらの実施例を別の電磁波に適する
ように変形することは当業者の能力の範囲内にある。
次に、第4図及び第5図を参照して別の実施例を説明す
る。この場合、測定に使用される光のビームはレーザー
の共振空胴の中を伝播する。第3図の実施例の場合と同
様に、2本の光のビームLS32 LS4は互いに平行
に伝播するが、これら2本のビームは1本の光のビーム
を分割することにより得られるのではない。それぞれの
ビームは単一のレーザーの別個の共振空胴の中を伝播す
る。2つの共振空胴は互いに異なる。
る。この場合、測定に使用される光のビームはレーザー
の共振空胴の中を伝播する。第3図の実施例の場合と同
様に、2本の光のビームLS32 LS4は互いに平行
に伝播するが、これら2本のビームは1本の光のビーム
を分割することにより得られるのではない。それぞれの
ビームは単一のレーザーの別個の共振空胴の中を伝播す
る。2つの共振空胴は互いに異なる。
第4図の実施例はガスレーザーを使用する。ガスレーザ
ーは自体公知であるので、その基本構成及び動作をここ
で説明する必要はない。
ーは自体公知であるので、その基本構成及び動作をここ
で説明する必要はない。
ガスレーザーは、たとえばドイツ特許第Al−2949
412号及び欧州特許第A2−0103683号などの
文献から一般に知られているリングレーザ−ジャイロに
も使用される。リングレーザ−ジャイロにおいては、2
本のレーザービームは三角形の共振空胴を通って相反す
る方向に進む。回転速度がゼロであるとき、2本のレー
ザービームは同じ周波数を有する。回転がゼロとは異な
るときは回転運動によって2本のレーザービームに関す
る共振空胴の長さが等しくなくなるので、2本のレーザ
ービームは異なる周波数を有する。2本のレーザービー
ムは共振空胴から出て、評価装置へ送られる。
412号及び欧州特許第A2−0103683号などの
文献から一般に知られているリングレーザ−ジャイロに
も使用される。リングレーザ−ジャイロにおいては、2
本のレーザービームは三角形の共振空胴を通って相反す
る方向に進む。回転速度がゼロであるとき、2本のレー
ザービームは同じ周波数を有する。回転がゼロとは異な
るときは回転運動によって2本のレーザービームに関す
る共振空胴の長さが等しくなくなるので、2本のレーザ
ービームは異なる周波数を有する。2本のレーザービー
ムは共振空胴から出て、評価装置へ送られる。
2本のレーザービームの周波数の差は回転速度に比例す
るので、周波数差を評価することにより回転速度を求め
ることができる。これを実施するいべつかの方法が知ら
れている。
るので、周波数差を評価することにより回転速度を求め
ることができる。これを実施するいべつかの方法が知ら
れている。
第4図の速度計は三角形の共振空胴ではなく、2つの直
線状の共振空胴を含む。2つの共振空胴は長さく*+
2 I!z)が異なり、互いに平行であるのが好ましい
。この速度計は、共振空胴のうち長い方の長さ方向に向
いた慣性速度の成分を測定する。慣性速度の関連する成
分がゼロであれば、長さ!、の第1の共振空胴における
レーザービームの共振周波数はf、である。長さ12の
第2の共振空胴におけるレーザービームの共振周波数は
f2である。
線状の共振空胴を含む。2つの共振空胴は長さく*+
2 I!z)が異なり、互いに平行であるのが好ましい
。この速度計は、共振空胴のうち長い方の長さ方向に向
いた慣性速度の成分を測定する。慣性速度の関連する成
分がゼロであれば、長さ!、の第1の共振空胴における
レーザービームの共振周波数はf、である。長さ12の
第2の共振空胴におけるレーザービームの共振周波数は
f2である。
速度計が共振空胴の長さ方向に速度Vで移動していると
き5.長さは次のように変化する。
き5.長さは次のように変化する。
C。
及び
式中、Cは真空中の光の速度である。従って、レーザー
ビームの周波数も次のように変化する:及び 速度計が静止しているとき、レーザービームの周波数の
差は、 Δf=f2−fl (5)速度計が速
度Vで移動しているとき、この差は、C+ この式から速度成分Vを計算することができる。
ビームの周波数も次のように変化する:及び 速度計が静止しているとき、レーザービームの周波数の
差は、 Δf=f2−fl (5)速度計が速
度Vで移動しているとき、この差は、C+ この式から速度成分Vを計算することができる。
リングレーザ−ジャイロの場合と同様に、取出された2
本のレーザービームの周波数の差を測定しなければなら
ないので、リングレーザ−ジャイロから公知となってい
る全ての評価方法をΔf′を求めるために使用すること
ができる。従って、それらの方法をここでは説明しない
。ただし、Δf′について決定された値からの■の計算
は異なる式により行なわれる。
本のレーザービームの周波数の差を測定しなければなら
ないので、リングレーザ−ジャイロから公知となってい
る全ての評価方法をΔf′を求めるために使用すること
ができる。従って、それらの方法をここでは説明しない
。ただし、Δf′について決定された値からの■の計算
は異なる式により行なわれる。
共振長さを選択するとき、過剰な大きさの回路を必要と
せずに評価ができるように評価すべき周波数差が十分に
小さくなるよう注意しなければならない。Δr′が30
0MIIzの範囲にあるとする。共振長さがj!、=1
m及びgz=0.1mであるとき、ネオンの共振周波数
はf+ = fo ”n ・300MHz及びf2=f
、である。
せずに評価ができるように評価すべき周波数差が十分に
小さくなるよう注意しなければならない。Δr′が30
0MIIzの範囲にあるとする。共振長さがj!、=1
m及びgz=0.1mであるとき、ネオンの共振周波数
はf+ = fo ”n ・300MHz及びf2=f
、である。
以下に、本発明による速度計の構成をさらに詳細に説明
する。第4図の構成においては、リングレーサージャイ
ロの場合と同様に、ガラスセラミック材料から成るブロ
ックは励起すべきガスを封入した空洞103を有する。
する。第4図の構成においては、リングレーサージャイ
ロの場合と同様に、ガラスセラミック材料から成るブロ
ックは励起すべきガスを封入した空洞103を有する。
励起のために2つの、陽極102210Bと、陰極とが
設けられる。図面を明瞭にするために、陰極は図示され
ていない。長さ12のレーザーの第2の共振空胴を形成
する2つのミラー100及び104の間には空洞103
の一部分が配置される。この1対のミラーの間で、レー
ザ−ビームは速度計が静止しているときに周波数f2を
有する。2つのミラーtooz 104の一方は半透過
性である(図面では右側のミラー104)。
設けられる。図面を明瞭にするために、陰極は図示され
ていない。長さ12のレーザーの第2の共振空胴を形成
する2つのミラー100及び104の間には空洞103
の一部分が配置される。この1対のミラーの間で、レー
ザ−ビームは速度計が静止しているときに周波数f2を
有する。2つのミラーtooz 104の一方は半透過
性である(図面では右側のミラー104)。
空洞の別の部分は、長さしのレーザーの第1の共振空胴
を形成する2つのミラー107及び109の間に配置さ
れる。この1対のミラーの間で、レーザービームは速度
計が静止しているときに周波Rr lを有する。2つの
ミラー107□109の一方は半透過性である(図面で
は左側のミラー107)。
を形成する2つのミラー107及び109の間に配置さ
れる。この1対のミラーの間で、レーザービームは速度
計が静止しているときに周波Rr lを有する。2つの
ミラー107□109の一方は半透過性である(図面で
は左側のミラー107)。
半透過性ミラー104により透過される周波数f2のレ
ーザービーム部分は偏向ミラー105により偏向されて
評価装置(図示せず)に入射する。半透過性ミラー10
7により透゛過される周波数rIのレーザービーム部分
は偏向プリズム106及び偏向ミラー110により偏向
されて評価装置に入射し、そこで前述のように評価が行
なわれる。速度計が移動しているとき、周波数1.は周
波数(Llになり、周波数f2は周波数f12になる。
ーザービーム部分は偏向ミラー105により偏向されて
評価装置(図示せず)に入射する。半透過性ミラー10
7により透゛過される周波数rIのレーザービーム部分
は偏向プリズム106及び偏向ミラー110により偏向
されて評価装置に入射し、そこで前述のように評価が行
なわれる。速度計が移動しているとき、周波数1.は周
波数(Llになり、周波数f2は周波数f12になる。
第5図の実施例はガスレーザーの代わりに固体レーザー
を使用する。両端面が反射性でないレーザー発生媒体2
03が設けられるため、レーザー放射線は両端面を介し
て媒体に出入りすることができる。図面の右側で発生す
るレーザービームは、ビーム方向に対して45°の角度
で傾斜する半透過性ミラー205に入射し、このレーザ
ービームの一部分はミラー205により付加的な半透過
性ミラー204に向けらる。第1の半透過性ミラー20
5により透過されたビーム部分は2つのミラー207及
び206により付加的な半透過性ミラー204に向けら
れ、ミラー204はこのビーム部分の一部を透過する。
を使用する。両端面が反射性でないレーザー発生媒体2
03が設けられるため、レーザー放射線は両端面を介し
て媒体に出入りすることができる。図面の右側で発生す
るレーザービームは、ビーム方向に対して45°の角度
で傾斜する半透過性ミラー205に入射し、このレーザ
ービームの一部分はミラー205により付加的な半透過
性ミラー204に向けらる。第1の半透過性ミラー20
5により透過されたビーム部分は2つのミラー207及
び206により付加的な半透過性ミラー204に向けら
れ、ミラー204はこのビーム部分の一部を透過する。
半透過性ミラー204により偏向されたビームと、この
ミラーにより透過されたビームとは同じ光路に沿って進
み、第3の半透過性ミラー201に入射する。第3の半
透過性ミラーにより透過される周波数f+ 2 r2又
はf’、2f’2を存するビーム部分は評価装置に入る
。この半透過性ミラーにより偏向されたビームは付加的
なミラー202を介してレーザー発生媒体203に達す
る。
ミラーにより透過されたビームとは同じ光路に沿って進
み、第3の半透過性ミラー201に入射する。第3の半
透過性ミラーにより透過される周波数f+ 2 r2又
はf’、2f’2を存するビーム部分は評価装置に入る
。この半透過性ミラーにより偏向されたビームは付加的
なミラー202を介してレーザー発生媒体203に達す
る。
ミラー201.202.205及び204は長方形の四
角に配置される。ミラー201及び202の間と、ミラ
ー205及び204の間の光路はミラー201及び20
4の間と、ミラー202及び205の間の光路と比較し
て非常に短い。ミラー206及び207は、ミラー20
1゜202、204.205により形成される長方形の
長辺を右へ延長することにより得られる長方形の角に配
置される。これら2つの長方形は2つの方形共振空胴を
形成する。
角に配置される。ミラー201及び202の間と、ミラ
ー205及び204の間の光路はミラー201及び20
4の間と、ミラー202及び205の間の光路と比較し
て非常に短い。ミラー206及び207は、ミラー20
1゜202、204.205により形成される長方形の
長辺を右へ延長することにより得られる長方形の角に配
置される。これら2つの長方形は2つの方形共振空胴を
形成する。
小さい方の共振空胴の長辺は長さ1 / 2 (l z
を有し、大きい共振空胴の長辺は長さ1/2x+を有す
る。これらのl、及び12は前記の式(1)及び(2)
における11と12である。従って、この構成において
も、半透過性ミラー201により透過されて評価装置に
人別するレーザービームの周波数f′1及びf12から
、長方形の長辺の方向の慣性速度の成分を求めることが
できる。
を有し、大きい共振空胴の長辺は長さ1/2x+を有す
る。これらのl、及び12は前記の式(1)及び(2)
における11と12である。従って、この構成において
も、半透過性ミラー201により透過されて評価装置に
人別するレーザービームの周波数f′1及びf12から
、長方形の長辺の方向の慣性速度の成分を求めることが
できる。
回転速度に比例するSagnac周波数ずれが慣性速度
を測定するために使用される二次ドツプラー効果が原因
となって起こる周波数ずれに加わることのないように、
短い長方形はできる限り短くなるように選択されなけれ
ばならない。測定精度が非常に高いとき、そのような構
成を2つ設けても良い。その場合、レーザービームは2
つの構成を相反する方向に通って進まなければならない
。これにより、Sagnac周波数ずれを補償する又は
評価中に考慮する。
を測定するために使用される二次ドツプラー効果が原因
となって起こる周波数ずれに加わることのないように、
短い長方形はできる限り短くなるように選択されなけれ
ばならない。測定精度が非常に高いとき、そのような構
成を2つ設けても良い。その場合、レーザービームは2
つの構成を相反する方向に通って進まなければならない
。これにより、Sagnac周波数ずれを補償する又は
評価中に考慮する。
上述のような速度計では、慣性速度の成分■が測定され
る。合成慣性速度を測定すべき場合には、それぞれが異
なる空間方向の1つの成分を測定する3つの速度計が必
要である。空間方向は互いに直交するのが好ましい。こ
のようにして測定された速度成分から、自体公知の方法
により実際の速度を求めることができる。光ビームの位
相差(第1図から第3図)又は周波数差(第4図及び第
5図)を決定し且つ評価するために1台の評価装置のみ
を採用し、測定と評価を時分割マルチプレクス方式で実
行することが可能である。これにより装置のコストは低
減され、装置はより簡単なものになる。
る。合成慣性速度を測定すべき場合には、それぞれが異
なる空間方向の1つの成分を測定する3つの速度計が必
要である。空間方向は互いに直交するのが好ましい。こ
のようにして測定された速度成分から、自体公知の方法
により実際の速度を求めることができる。光ビームの位
相差(第1図から第3図)又は周波数差(第4図及び第
5図)を決定し且つ評価するために1台の評価装置のみ
を採用し、測定と評価を時分割マルチプレクス方式で実
行することが可能である。これにより装置のコストは低
減され、装置はより簡単なものになる。
第1図は、速度計の動作を説明するのに有用な略図、及
び 第2図から第5図は、実施例を示す図である。 LS 12 LS22 LS32 LS4・・・レーザ
ービーム、226222225・・・ビームスプリッタ
−142728210211・・・ミラー、12251
・・・光ファイバ、 56・・・ビームスプリッタ−1 100,104,107,109・・・ミラー、201
.202,204,205,206.207・・・ミラ
ー。 以下余白
び 第2図から第5図は、実施例を示す図である。 LS 12 LS22 LS32 LS4・・・レーザ
ービーム、226222225・・・ビームスプリッタ
−142728210211・・・ミラー、12251
・・・光ファイバ、 56・・・ビームスプリッタ−1 100,104,107,109・・・ミラー、201
.202,204,205,206.207・・・ミラ
ー。 以下余白
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、それぞれに沿って電磁波(LS1_2LS2)が進
む異なる長さの2つの光路(l_1_2l_2)が設け
られ、電磁波が2つの光路を通過した後、2つの光路の
うち長い方の光路の方向の慣性速度成分は二次ドップラ
ー効果によって起こる2つの電磁波の位相差から測定さ
れ、前記位相差は速度計の速度に比例することを特徴と
する速度計。 2、90°又は90°の整数倍とは異なる角度を成す同
じ長さの2つの光路が設けられ、これら2つの光路のそ
れぞれを電磁波が通過し、電磁波が2つの光路を通過し
た後、2つの光路のうち長い方の光路の方向の慣性速度
成分は二次ドップラー効果によって発生する2つの電磁
波の位相差から測定され、前記位相差は速度計の速度に
比例することを特徴とする速度計。 3、2つの光路の始めの時点で2つの電磁波は同一の位
相であることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第
2項記載の速度計。 4、2つの電磁波が2つの光路に侵入する前に、電磁波
の間に任意ではあるが既知の位相差があり、評価中、そ
の位相差を考慮に入れることを特徴とする特許請求の範
囲第1項又は第2項記載の速度計。 5、2つの光路は干渉計の2本のアームであることを特
徴とする特許請求の範囲第1項、第3項又は第4項記載
の速度計。 6、2本のアームは互いに垂直であることを特徴とする
特許請求の範囲第5項記載の速度計。 7、2本のアームは互いに平行であることを特徴とする
特許請求の範囲第5項記載の速度計。 8、2つの電磁波の位相差の代わりに到着時間の差が評
価されることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第
7項のいずれか1項に記載の速度計。 9、2つの共振空胴(100_2104、107_21
09)を有するレーザーが設けられ、2つの共振空胴内
で光は異なる長さ(l_1_2l_2)の光路を経て長
手方向に進み、二次ドップラー効果によって、2つの共
振空胴内の共振周波数(f′_1_2f′_2)は速度
に従って決まるそれぞれ異なる値だけ変化し、共振空胴
の長さの方向の慣性速度成分は2つの速度に従って決ま
る共振周波数の差から測定されることを特徴とする速度
計。 10、共振空胴の長さの方向は互いに平行であることを
特徴とする特許請求の範囲第9項記載の速度計。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3534950 | 1985-10-01 | ||
| DE3534950.6 | 1985-10-01 | ||
| DE3619498.0 | 1986-06-10 | ||
| EP86108902.7 | 1986-07-01 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62110181A true JPS62110181A (ja) | 1987-05-21 |
Family
ID=6282442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23018586A Pending JPS62110181A (ja) | 1985-10-01 | 1986-09-30 | 速度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62110181A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09506322A (ja) * | 1994-04-06 | 1997-06-24 | オク リー,ウン | 昇降式家具配置装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5778576A (en) * | 1980-11-05 | 1982-05-17 | Fujitsu Ltd | Transcription system |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP23018586A patent/JPS62110181A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5778576A (en) * | 1980-11-05 | 1982-05-17 | Fujitsu Ltd | Transcription system |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09506322A (ja) * | 1994-04-06 | 1997-06-24 | オク リー,ウン | 昇降式家具配置装置 |
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