JPS62134548A - 穀物水分測定装置における残粒処理装置 - Google Patents

穀物水分測定装置における残粒処理装置

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JPS62134548A
JPS62134548A JP27527485A JP27527485A JPS62134548A JP S62134548 A JPS62134548 A JP S62134548A JP 27527485 A JP27527485 A JP 27527485A JP 27527485 A JP27527485 A JP 27527485A JP S62134548 A JPS62134548 A JP S62134548A
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JP
Japan
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grain
discharge
grains
moisture
sample
Prior art date
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Pending
Application number
JP27527485A
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English (en)
Inventor
Taiichi Mori
泰一 森
Mitsuaki Haruna
春名 充明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
Original Assignee
Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Publication date
Application filed by Iseki and Co Ltd, Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd filed Critical Iseki and Co Ltd
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Publication of JPS62134548A publication Critical patent/JPS62134548A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、循環型穀物乾燥機の昇降機等に付設する穀
物水分測定装置における残粒処理装置に関する。
〔従来技術〕
対の電極ローラ間に単位サンプル粒毎供給し、抵抗値を
電気変換して水分値に換算する形態の水分計を昇降機に
付設する。
〔問題が解決しようとする問題点〕
昇降機等の循環経路途中の開口からサンプル粒を取込み
、案内経路を経て単位粒繰出機構を介して単位サンプル
粒(例えば1粒)を電極ローラ間に案内して水分値を測
定するが、穀物乾燥するにあたり、乾燥機本体内へ穀物
を張込供給する際、あるいは乾燥終了して穀物を機外へ
排出する際には、水分測定は必要でなく、却って上記単
位繰出機構部やそれへの案内経路途中にサンプル粒が堆
積して、時々刻々変化する水分値をタイミング良く正確
に知り得ない欠点を有する。
殊に乾燥終了してもなお、水分計の上記繰出機構部近傍
に残粒があると1次期乾燥作業の際、これらの影響で正
確な水分測定を期待できない。残粒が次年度以降に持ち
越されるとなおさらその影響は著しい。
〔問題を解決するための手段〕
この発明は、上記欠点を解消しようとするもので、次の
技術的手段を講じた。
即ち、穀物を循環しながら熱風を浴びせて乾燥する穀物
乾燥機の循環移送経路途中に設けられていて、案内経路
を経て取込まれる穀粒を単位サンプル粒毎に繰り出し案
内する単位繰出機構9やサンプル粒を受けて水分値を測
定すべき電極ローラ10,10等からなる水分測定装置
において、穀物乾燥機内の穀物の排出中乃至排出終了後
所定時間内において作動し、上記単位繰出機構の上手側
案内経路の残粒を排出する排出機構を設けてなる穀物水
分測定装置における残粒処理装置の構成とする。
〔発明の作用及び効果〕
穀物循環経路からランダムに取込まれるサンプル粒は、
案内経路を経て単位繰出機構部に至り、ここで単位粒(
例えば1粒)毎に順次繰り出され電極ローラ間に達する
と、その抵抗値の電気変換により水分値が換算され、所
定粒毎の平均値を求めて表示され、乃至は各種乾燥制御
に用いられる。
ところで、乾燥作業が終了し、穀物を排出する際、ある
いは、該排出終了信号を受けて後一定期間、水分計内に
おいて排出機構が働いて5単位粒繰出機構部への案内経
路途中に停滞しようとする穀粒を空にするから、次期乾
燥時には残粒穀粒の影響のない状態で水分測定できる。
又、残粒穀粒を長期間停滞させると変質等により、繰出
機構部へ付着して残ったり、該繰出機構部の錆発生の誘
因となるが、残粒穀粒がないためこれらの虞れもない。
〔実施例〕
この発明の一実施例を図面に基づき説明する。
1は、循環型乾燥機の機枠で、上部貯留タンク2、乾燥
室3、集穀室4の順の重積され、貯留タンク2部を流下
する穀粒に熱風を浴びせて乾燥させる公知の構成であり
、機枠の1側部には下部を集穀室4に連通し穀粒を揚上
して、上部貯留タンク2に戻す昇降機5を立設する。
6は上記昇降機5に付設する水分測定装置で、昇降機5
壁の開ロアに接続する取込部8、外周に螺条溝を形成す
る繰出ローラ9aの側面に搬送板9bを弾発状に押し当
てた1粒繰出機構9や対の電極ローラ10,10からな
る本体部11、及びオーバフロー粒や圧砕粒を昇降機5
内に戻す還元部12等からなる。13は1粒繰出機構9
の繰出ローラ9aや電極ローラ10,10を図中矢印方
向に連動するモータである。尚、該モータ13は可逆回
転自在の構成としている。
前記水分測定装置6の取込部8内部において、穀粒の案
内経路の構成は開ロアから昇降機5内に延出すべく傾斜
板14を設け、この傾斜板14に落下衝突して反射する
穀粒のうち仕切板15を越えるものが1粒繰出機構9の
始端部に至るものとされ、余りの異物(藁等)は排出口
16を経て落下し電極ローラ10,10部を迂回して直
接還元部12に至る構成である。
上記仕切板15は下部の枢着点まわりに回動可能に構成
されていて、常時ははね(図示せず)で起立姿勢を保持
し、乾燥機に設ける張込スイッチ17、排出スイッチ1
8の「ON」動作に起因してソレノイド19を励磁し1
粒繰出機構9側への穀粒移行を阻止すべく仕切板15を
枢着点まわりに回動させる構成とし、開ロア部に取込ま
れる穀粒を全て排出口16に落下すべく排出機構を構成
する。
20は制御プログラムや必要データを格納するメモリを
備えたコンピュータの演算制御部で、算術論理演算及び
比較演算を行なう。例えばこの演算制御部20には、前
記電極ローラ10,10の周速差ですりつぶされた測定
粒の抵抗値が抵抗電圧変換、A/D変換されて入力され
、予め記憶されたデータと比較されて水分値に換算する
構成である。21は表示器である。
更に上記演算制御部20には入力インターフェースを介
して張込スイッチ17.排出スイッチ18の「ON」信
号が入力され出力インターフェースを介してソレノイド
19を励磁するものである。
即ち、上記両スイッチ17.18が「ON」状態を継続
する間はソレノイド19は励磁状態を維持してサンプル
粒を排出口16より全て排出する。
尚、張込スイッチ17.排出スイッチ18の他乾燥スイ
ッチ(図示せず)は機枠1前部に設けるコントロールボ
ックス22の盤面に配設されており、張込スイッチ17
の「ON」により、昇降機5、上部移送螺旋23、拡散
装置24等を駆動し、乾燥スイッチ(図示せず)が「O
Nコすると乾燥室3下部のロータリーバルブ25,25
、下部移送螺旋26をも駆動する一方、バーナー27、
吸引ファン28を起動して熱風を発生する。又、排出ス
イッチ18がroNJすると、バーナー27及び上部移
送螺旋23を駆動停止し、該上部移送螺旋23の受樋適
所の排出シャッタ29を開く。
3oは張込ホッパである。
上側の作用について説明する。
貯留タンク2に所定量穀粒を張込み、バーナー27を作
動して乾燥室3を流下する穀粒に熱風を与えて乾燥する
。該流下穀粒は集穀室4から昇降機5を経て貯留タンク
2部に戻されて徐冷される。
上記の工程を繰り返しつつ、所定水分値に達するまで、
乾燥作業を行なう。
この乾燥作業中、水分J+11定装置6には、fl−降
機5の開ロアから常時サンプル粒が入り込んでおり、演
算制御部20で予め設定されたタイミング毎に、モータ
13を起動し、1粒繰出機構9及び電極ローラ10,1
0は、回転連動して所定粒数の水分値を測定し、平均値
を求めて表示する。
同時に測定水分値に応じて、バーナー27への燃料供給
量を制御しつつ、乾燥を終了する。
目標水分値に達した穀粒は、開かれた排出シャッタ29
部から機外に回収される。
上記張込−乾燥−排出作業において、水分alllll
固定の案内経路部に設ける仕切板15は、張込作業中及
び排出作業中、スイッチ17.18の「ON」継続によ
りソレノイド19が励磁するため倒伏し、サンプル粒の
1粒操出機溝9部への移行は阻止されて、排出口16へ
と案内される。又、乾燥作業中、この仕切板15は起立
して、その頂部を越える整粒を1粒取出機構9部へ取込
むことができる。
1粒取出機構9部へ至るサンプル粒は、繰出ローラ9a
の螺条溝と搬送板9bとの間で受けられて、1粒毎所定
間隔離れた状態で繰り出され、終端側で落下して、対の
電極ローラ10,10間に至るものである。
尚、1粒取出機構9部に至るも1粒繰出行程に乗り得な
い余りの穀粒は、オーバフローして下方に落下し、電極
ローラ10,10の後方を通過して、還元部12に至る
以上のように、張込作業中1粒繰出機構9への案内経路
部に、サンプル粒を停滞させないから、以降乾燥作業に
移って水分測定するに際し、サンプルが古いものでなく
、正確な水分値を得られる。
又、排出作業中も同様、案内経路部にサンプル粒が停滞
せず、当該乾燥における穀粒が残らない空の状態で1次
回の乾燥作業を行なえて、前のサンプル粒の水分測定を
することがなく、データが正確である。
尚、本実施例では、仕切板15を起立倒伏しながら案内
経路を切替する構成としたが、開°ロア部を開閉できる
開閉板31を、ソレノイド19で制御する構成としても
よい(第6図)。又、繰出ローラ9aと搬送板9bとの
間に、永久磁石32と電磁石33とを配設し、張込排出
作業中は、これらを同極性に切替えて反発させ繰出ロー
ラ9aと搬送板9bとの間に間隔を有せしめ、1粒繰出
機構9部に至る穀粒をそのまま下方に落下させる形態(
第7図)や、繰出ローラ9aを逆転連動イし逆方向に移
送して該ローラ9a端からMト出落下させる形態(第8
図)とするもよい。
又、本実施例では、乾燥穀粒の排出作業中において、サ
ンプル粒を排出口16から排出する形態としたが、穀粒
排出終了信号・(例えば籾流れセンサの穀粒量検出結果
による)を受けて一定時間サンプル粒の排出を行なわせ
る形態とするもよい。
第7図、第8図などの形態にあっても同様である。
更に、第9図の場合は、仕切板15等排出機構は、常時
サンプル粒排出姿勢にあり水δ)測定時のみ起立する構
成である。
【図面の簡単な説明】
図はこの発明の一実施例を示すもので、第1図は全体図
、第2図は水分allllll備装置部図、第3図はそ
の側面図、第4図は要部の拡大断面図、第5図はブロッ
ク図、第6図〜第8図は夫々別実施例を示す要部の拡大
断面図、第9図は更に他の実施例を示すフロー図である
。 図中、符号5は昇降機、6は水分測定装置、7は開口、
9は1粒(単位粒)繰出機構、10,10は電極ローラ
、14は傾斜板、15は仕切板、18は排出スイッチ、
1つはソレノイド、22はコントロールボックスを示す

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 穀物を循環しながら熱風を浴びせて乾燥する穀物乾燥機
    の循環移送経路途中に設けられていて、案内経路を経て
    取込まれる穀粒を単位サンプル粒毎に繰り出し案内する
    単位粒繰出機構9やサンプル粒を受けて水分値を測定す
    べき電極ローラ10、10等からなる水分測定装置にお
    いて、穀物乾燥機内の穀物の排出中乃至排出終了後所定
    時間内において作動し、上記単位繰出機構の上手側案内
    経路の残粒を排出する排出機構を設けてなる穀物水分測
    定装置における残粒処理装置。
JP27527485A 1985-12-06 1985-12-06 穀物水分測定装置における残粒処理装置 Pending JPS62134548A (ja)

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JP27527485A JPS62134548A (ja) 1985-12-06 1985-12-06 穀物水分測定装置における残粒処理装置

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JPS62134548A true JPS62134548A (ja) 1987-06-17

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JP (1) JPS62134548A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002333276A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Satake Corp 穀物乾燥機の水分計における試料取込み装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002333276A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Satake Corp 穀物乾燥機の水分計における試料取込み装置

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