JPS62147347A - プリプレグの外観検査装置 - Google Patents

プリプレグの外観検査装置

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Publication number
JPS62147347A
JPS62147347A JP28800585A JP28800585A JPS62147347A JP S62147347 A JPS62147347 A JP S62147347A JP 28800585 A JP28800585 A JP 28800585A JP 28800585 A JP28800585 A JP 28800585A JP S62147347 A JPS62147347 A JP S62147347A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
prepreg
laser beam
amplifier
foreign matter
air bubbles
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28800585A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Sugiyama
賢治 杉山
Masakazu Takemoto
正和 竹本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Bakelite Co Ltd filed Critical Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority to JP28800585A priority Critical patent/JPS62147347A/ja
Publication of JPS62147347A publication Critical patent/JPS62147347A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94Investigating contamination, e.g. dust

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Reinforced Plastic Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、樹脂フェスをガラスクロス(:含浸し乾燥し
て得られたプリプレグの外観、検査装置に関し、特にプ
リプレグ(=付着した炭化物、虫、砂塵等の異物を検出
する装置に関する。
〔従来技術〕
プリプレグに付着した異物を樹脂のムラ、気泡等と区別
して検出するプリプレグの外観検査装置として次のもの
が使用されている。
第1図はその原理を示す概略図である。
まず、レーザー管(1)から発せられたレーザービーム
(2)はプリプレグ(3)上(=照射され・る。プリプ
レグ(3)を透過したレーザー光(2a)は受光器(4
)に人射するが、プリプレグに炭化物等の異物の如き遮
光性の欠点や気泡や梗晰のムラ等の散井性の欠点がある
と、レーザー光はその部分で大幅な減衰を受けた後受光
器(4)に連し、受光器により電気信号(電圧の変化)
(:変換される。
従来は、このような欠点(:よる電圧の変化を単純(=
増幅器(5)により増幅し、電圧比−摩5 (61によ
り設定したレベルと比較し、そのレベル以上の電圧の欠
点Gj、号をプリプレグの正常な部分と区別するもので
あった。しかし、プリプレグ中に存在する気泡や1徊脂
のムラは1本質的(ユはこれを用いて製造された積層板
を不良品とするものではないので。
不良としてとらえられない方が望ましいものである。
従来のプリプレグの外観検査装置は異物の欠点も気泡等
の欠点もほぼ同じ大きさの信号として処理され、不良と
判定するので、後の選゛別工程を増大させ、この装置自
体の信頼性を低くするものであった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、プリプレグ中の炭化物等の異物を気泡
や樹脂のムラを区別して検出し、プリプレグを高精度に
辺用可能とするプリプレグの外観検査装置を提供するこ
とにある。
〔発明の構成〕
本発明は、レーザービームをプリプレグに照射するため
のレーザー管、プリプレグを透過したレーザー光を受光
し電気信号(=変換する受光器、受光器からの電気信号
を増幅する増幅器、増幅された電気信号を予め設定した
レベル以上のものを検出する比較器からなり、かつ増幅
器が高周波の電気信号程増幅利得を大きくすることより
プリプレグ中の異物を他のプリプレグの欠点より大きく
増幅することを特徴とするプリプレグの外観検査装置で
ある。
本発明は炭化物等の異物と気心や樹脂のムラを区別する
ためにプリプレグを通過したレーザー光の波形の違いに
着目したものである。即ち、気泡や樹脂ムラによるレー
ザー光の吸収(又は散乱)は第2図のような低周波成分
からなり、一方炭化物等の異物によるレーザー光の吸収
(又は散乱)は43図のような高周波成分メハらなる。
受光器からの電気信号を増幅器にで増幅する際増幅器の
周波数特性をより高周波域(=移すことにより、低周波
信号である気泡や樹脂ムラ(=よるレーザー光の吸収は
増幅利得が小さく、高周波信号である異物(=よるレー
ザー光の吸収は増幅利得が大きくなる。これらの間の差
により両者の増幅された信号を区別することができる。
第4図は本発明の装置に用いられる増幅器の回路図の一
例である。図のコンデンサC1抵抗凡の値を変えること
により、増幅器の時定数T=’CxRを異物の検出電圧
の増幅利得が気泡や樹脂ムラのそれより大きくなるよう
に決める。
たとえば、従来、受光器での吸収信号を増幅した検出電
圧は異物4.OV、気泡4.OVとなり、レベル設定を
何Vにしても異物のみを検討するのは不可能であった。
本発明では、検出電圧は異物3.6v、気泡2.6vと
なり、検出のレベルを3.0■とすること(=より、異
物のみを検出することができる。
異物、気泡又は樹脂ムラ儒よるレーザー光の吸収波形は
レザービームのスキャニング速度及びプリプレグの移動
速度により異なる。レーザービームに対するプリプレグ
の通過速度が速い程、吸収波形はパルス的傾向即ち第3
図のように高尚波数(=なる。従って分離したい欠点の
波形(周波数)に対して増幅器の時定数及びレベル設定
を最適(=することにより、分離したい欠点のみを検出
することができる。
〔発明の効果〕
本発明(=よるプリプレグの外観検査装置は炭化物、虫
、砂塵等の除去しなければならない異物の欠点を取除く
必要のない欠点から区別して検出することができ1次の
工程の選別情が従来の1/4〜115に域少し、プリプ
レグのライン検査装置として好適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のプリプレグの外観・検査装置の概略図で
ある。第2図及び第3図はプリプレグを透過したレーザ
ー光の波形を示す。第4図は本発明(:用いられる増幅
器の回路図である。 特許出願人   住友ベークライト株式会社第 1 因 第2図 第4図 τ 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. レーザービームをプリプレグに照射するためのレーザー
    管、プリプレグを透過したレーザー光を受光し電気信号
    に変換する受光器、受光器からの電気信号を増幅する増
    幅器、増幅された電気信号を予め設定したレベル以上の
    ものを検出する比較器からなり、かつ増幅器が高周波の
    電気信号程増幅利得を大きくすることよりプリプレグ中
    の異物を他のプリプレグの欠点より大きく増幅すること
    を特徴とするプリプレグの外観検査装置。
JP28800585A 1985-12-23 1985-12-23 プリプレグの外観検査装置 Pending JPS62147347A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28800585A JPS62147347A (ja) 1985-12-23 1985-12-23 プリプレグの外観検査装置

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JP28800585A JPS62147347A (ja) 1985-12-23 1985-12-23 プリプレグの外観検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62147347A true JPS62147347A (ja) 1987-07-01

Family

ID=17724573

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28800585A Pending JPS62147347A (ja) 1985-12-23 1985-12-23 プリプレグの外観検査装置

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JP (1) JPS62147347A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0463396A (ja) * 1990-07-02 1992-02-28 Yamaha Corp 演奏情報表示装置
JP2010122195A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Panasonic Electric Works Co Ltd 黒色プリプレグの赤外検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0463396A (ja) * 1990-07-02 1992-02-28 Yamaha Corp 演奏情報表示装置
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