JPS62193217A - 電圧非直線性素子の製造方法 - Google Patents
電圧非直線性素子の製造方法Info
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- JPS62193217A JPS62193217A JP61035991A JP3599186A JPS62193217A JP S62193217 A JPS62193217 A JP S62193217A JP 61035991 A JP61035991 A JP 61035991A JP 3599186 A JP3599186 A JP 3599186A JP S62193217 A JPS62193217 A JP S62193217A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は印加電圧によって抵抗値が変化する電圧非直線
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリックス駆動の液晶、KLなどの表示デバイ
スのスイッチング素子などに利用されるものである。
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリックス駆動の液晶、KLなどの表示デバイ
スのスイッチング素子などに利用されるものである。
従来の技術
従来の電圧非直線性素子は、酸化亜鉛(ZnO)に酸化
ビスマス(BizO5)、酸化コバルト(Oo2eS)
、酸化マンカン(Mn02)、酸化77チモン(Sb2
0s)などの酸化物を添加して、1000〜1350’
Cで焼結しだZnOバリスタなど、種々のものがある。
ビスマス(BizO5)、酸化コバルト(Oo2eS)
、酸化マンカン(Mn02)、酸化77チモン(Sb2
0s)などの酸化物を添加して、1000〜1350’
Cで焼結しだZnOバリスタなど、種々のものがある。
その中で、ZnOバリスタは電圧非直線指数α、サージ
耐量が大きいことから、最も一般的に使われている。(
特公昭4θ−19472号公報参照) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mAを流した時の電圧V+InAで表される)を低
くすることに限界があり、低電圧用ICの保護素子や低
いiEEにおける電圧安定化素子として使えないもので
あった。壕だ、上述したように焼成する際に1000℃
以上の高温プロセスを必要とするだめ、ガラス基板上あ
るいは回路基板上に電圧非直線性素子を直接形成できな
いという問題があった。さらに、従来のものは並列静電
容量が大きく、例えば液晶などのスイッチング素子とし
ては不適当なものであるなどの問題点を有していた。
耐量が大きいことから、最も一般的に使われている。(
特公昭4θ−19472号公報参照) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mAを流した時の電圧V+InAで表される)を低
くすることに限界があり、低電圧用ICの保護素子や低
いiEEにおける電圧安定化素子として使えないもので
あった。壕だ、上述したように焼成する際に1000℃
以上の高温プロセスを必要とするだめ、ガラス基板上あ
るいは回路基板上に電圧非直線性素子を直接形成できな
いという問題があった。さらに、従来のものは並列静電
容量が大きく、例えば液晶などのスイッチング素子とし
ては不適当なものであるなどの問題点を有していた。
問題点を解決するだめの手段
この問題点を解決するために本発明は、無機質半導体の
微粉末に無機または有機化合物を添加し、混合した後、
600〜1350’Cで熱処理を行い、無機質半導体微
粉末の表面に無機質絶縁被膜を形成させ、その後上記絶
縁被膜を施した上記半導体微粉末と導電性物質としてグ
ラファイトまだは無定形炭素の微粉末を加えたものに絶
縁性の有機接着剤か寸たはガラス粉末と有機バインダー
を加え、ペイント状にし、次いで上記ペイントを電極を
配した絶縁基板上に印刷、スプレーまたは浸漬などによ
って塗布した後、熱処理を行って硬化させることt%徴
とするものである。
微粉末に無機または有機化合物を添加し、混合した後、
600〜1350’Cで熱処理を行い、無機質半導体微
粉末の表面に無機質絶縁被膜を形成させ、その後上記絶
縁被膜を施した上記半導体微粉末と導電性物質としてグ
ラファイトまだは無定形炭素の微粉末を加えたものに絶
縁性の有機接着剤か寸たはガラス粉末と有機バインダー
を加え、ペイント状にし、次いで上記ペイントを電極を
配した絶縁基板上に印刷、スプレーまたは浸漬などによ
って塗布した後、熱処理を行って硬化させることt%徴
とするものである。
作用
この方法によれば、低電流域においても電圧非直線指数
αの大きなものが得られ、また微粉末状の導電性物質を
介在させていることによって、微粉末状の半導体物質間
の電気的接続を安定にし、特性バラツキの少ない素子が
得られ、かつこの導電性物質の介在量によってバリスタ
電圧を制御することもできることとなるため、電極間距
離に制約されることなく、上記のように極端に狭く(数
十μm以下)して素子を形成しなくても、低電圧化に適
した素子がきわめて容易に得られることとなる。また、
塗布したペイントを低い温度で硬化させて作ることがで
きるため、回路基板上に素子を直接形成することができ
、ZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用途が期
待できるものである。さらに、得られた素子は微粉末状
の半導体物質を固めたものであるため、それぞれの半導
体物質の微粉末間は微粉末状導電性物質が介在されてい
るものの点接触となり、接触面積が基本的に小さいこと
から並列静電容量の小さなものが得られ、液晶などのデ
バイスのスイッチング素子として最適な素子が提供でき
ることとなる。
αの大きなものが得られ、また微粉末状の導電性物質を
介在させていることによって、微粉末状の半導体物質間
の電気的接続を安定にし、特性バラツキの少ない素子が
得られ、かつこの導電性物質の介在量によってバリスタ
電圧を制御することもできることとなるため、電極間距
離に制約されることなく、上記のように極端に狭く(数
十μm以下)して素子を形成しなくても、低電圧化に適
した素子がきわめて容易に得られることとなる。また、
塗布したペイントを低い温度で硬化させて作ることがで
きるため、回路基板上に素子を直接形成することができ
、ZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用途が期
待できるものである。さらに、得られた素子は微粉末状
の半導体物質を固めたものであるため、それぞれの半導
体物質の微粉末間は微粉末状導電性物質が介在されてい
るものの点接触となり、接触面積が基本的に小さいこと
から並列静電容量の小さなものが得られ、液晶などのデ
バイスのスイッチング素子として最適な素子が提供でき
ることとなる。
実施例
以下、本発明を実施例にもとづいて詳細に説明する。
第1図は本発明の製造方法による製造工程の一実施例を
示している。まず、粒子径が0.05〜1μmの微粒子
状の酸化亜鉛をToo〜1300’Cで焼成した後、そ
の焼結されたZnOを0.6〜50/1mの粒子径(平
均粒子径1〜1oμm)に粉砕し、そのZnO微粉末に
酸化コバルトを0.05〜10m01%添加し、6oO
〜1360℃で1゜〜6Q分間、熱処理し、そのZnO
微粉末表面に酸化コバルトの絶縁被膜を形成した。この
時、微粉末状のZnOの表面にはCo、、05絶縁被膜
がほぼ数十〜数百人の厚さで薄く形成されていることが
認められた。次いで、このようにして作成したCo2O
3絶縁被膜が表面についたZnO微粉末群は弱い力で互
いに接着しているので、これ全乳鉢あるいはポ、/トミ
ルでほぐし、微粉末状とした。
示している。まず、粒子径が0.05〜1μmの微粒子
状の酸化亜鉛をToo〜1300’Cで焼成した後、そ
の焼結されたZnOを0.6〜50/1mの粒子径(平
均粒子径1〜1oμm)に粉砕し、そのZnO微粉末に
酸化コバルトを0.05〜10m01%添加し、6oO
〜1360℃で1゜〜6Q分間、熱処理し、そのZnO
微粉末表面に酸化コバルトの絶縁被膜を形成した。この
時、微粉末状のZnOの表面にはCo、、05絶縁被膜
がほぼ数十〜数百人の厚さで薄く形成されていることが
認められた。次いで、このようにして作成したCo2O
3絶縁被膜が表面についたZnO微粉末群は弱い力で互
いに接着しているので、これ全乳鉢あるいはポ、/トミ
ルでほぐし、微粉末状とした。
次に、上記のようにして得られたCo2O5絶縁被膜が
表面に形成された微粉末状のZnOに、微粉末状の導電
性物質としてグラファイト微粉末とそれら微粉末間の結
合を図る絶縁性の結合剤(バインダー)としてポリイミ
ド樹脂を添加し、混合した。
表面に形成された微粉末状のZnOに、微粉末状の導電
性物質としてグラファイト微粉末とそれら微粉末間の結
合を図る絶縁性の結合剤(バインダー)としてポリイミ
ド樹脂を添加し、混合した。
ここで、結合剤としてはポリイミド樹脂の固形分が溶剤
(例えばn−メチル−2−ピロリドン)に対して5wt
%となるように薄めたものとし、それf ZnO微粉末
と銀粉末との合計分に対して例えば等重量で混合し、ペ
イント状とした。
(例えばn−メチル−2−ピロリドン)に対して5wt
%となるように薄めたものとし、それf ZnO微粉末
と銀粉末との合計分に対して例えば等重量で混合し、ペ
イント状とした。
次いで、上記のようにして得られたペイントe第3図に
示すようにITO(インジウム・スズ酸化物)電極1の
設けられたガラス基板3上に例えばスクリーン印刷で塗
布し、その上に同じ(ITO電極2の設けられたガラス
基板4全載置し、280〜400℃で30分間、大気中
で硬化させ、電極1.2間に電圧非直線性素子6を設け
た。第2図は、電圧非直線性素子5の拡大断面図であり
、6はZnO微粉末、7は微粉末状の導電性物質として
のグラファイト微粉末で、ZnO微粉末6問およびその
ZnO微粉末6と電極1.2との間の電気的接続を良好
にしている。8はそれら微粉末ら。
示すようにITO(インジウム・スズ酸化物)電極1の
設けられたガラス基板3上に例えばスクリーン印刷で塗
布し、その上に同じ(ITO電極2の設けられたガラス
基板4全載置し、280〜400℃で30分間、大気中
で硬化させ、電極1.2間に電圧非直線性素子6を設け
た。第2図は、電圧非直線性素子5の拡大断面図であり
、6はZnO微粉末、7は微粉末状の導電性物質として
のグラファイト微粉末で、ZnO微粉末6問およびその
ZnO微粉末6と電極1.2との間の電気的接続を良好
にしている。8はそれら微粉末ら。
7間を機械的に結合している絶縁性の結合剤であり、こ
の結合剤8でもって微粉末6.7は互いに固められてい
る。9はZnO微粉末6の表面に施されたCo2O3絶
縁被膜である。第4図はITO電極1a、1k)が設け
られたガラス基板32L上に電圧非直線性素子5を構成
した場合を示している。
の結合剤8でもって微粉末6.7は互いに固められてい
る。9はZnO微粉末6の表面に施されたCo2O3絶
縁被膜である。第4図はITO電極1a、1k)が設け
られたガラス基板32L上に電圧非直線性素子5を構成
した場合を示している。
次に、上記のようにして作成された電圧非直線性素子の
電圧−電流特性について説明する。まず、第6図は第3
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。本発明の素子は、まず
酸化亜鉛全700’Cで焼成し2、これにCO20s
’Fr0,5 mo1%添加したもの1900’C18
0分間熱処理した後、この平均粒子径3〜5pmのZn
O微粉末とグラファイト微粉末(平均粒子径31km
)との合計弁(グラフ1イト微粉末は全体の20Wtチ
)に等重量の上記結合剤をいれ、混合したものにおいて
、素子面積を1−1電極間距離を301kmとした場合
における特性を示している。さて、電圧非直線性素子の
電圧−電流特性は、よく知られているように近似的に次
式で示されている。
電圧−電流特性について説明する。まず、第6図は第3
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。本発明の素子は、まず
酸化亜鉛全700’Cで焼成し2、これにCO20s
’Fr0,5 mo1%添加したもの1900’C18
0分間熱処理した後、この平均粒子径3〜5pmのZn
O微粉末とグラファイト微粉末(平均粒子径31km
)との合計弁(グラフ1イト微粉末は全体の20Wtチ
)に等重量の上記結合剤をいれ、混合したものにおいて
、素子面積を1−1電極間距離を301kmとした場合
における特性を示している。さて、電圧非直線性素子の
電圧−電流特性は、よく知られているように近似的に次
式で示されている。
I=KV“
ここで、工は素子に流れる電流、■は素子の電極間の’
を圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述
した電圧非直線特性の指数を示しており、この電圧非直
線指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることに
なる。
を圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述
した電圧非直線特性の指数を示しており、この電圧非直
線指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることに
なる。
第6図の特性に示されるように、特性Bで示される従来
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、10−’A以下の電流では良好な電圧非直線
性素子としての機能を発揮し得ない。一方、特性Aで示
される本発明の素子では低電流域においても電圧非直線
指数αが大きく、10−10 A程度の電流域でも十分
に電圧非直線性素子としての機能を発揮することができ
ることを示している。また、通常、ZnOバリスタにお
いてはバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1mA
の電流を流した時の電極間に現れる電圧を7(リスク電
圧VImAと呼び、このバリスタ電圧VimAと上記電
圧非直線指数αとを使用している。本発明の素子では、
上述したように、低電流域においても電圧非直線指数α
が大きく、)(リスク電圧を第5図に示すように例えば
v1μ人で表わすことができる。
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、10−’A以下の電流では良好な電圧非直線
性素子としての機能を発揮し得ない。一方、特性Aで示
される本発明の素子では低電流域においても電圧非直線
指数αが大きく、10−10 A程度の電流域でも十分
に電圧非直線性素子としての機能を発揮することができ
ることを示している。また、通常、ZnOバリスタにお
いてはバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1mA
の電流を流した時の電極間に現れる電圧を7(リスク電
圧VImAと呼び、このバリスタ電圧VimAと上記電
圧非直線指数αとを使用している。本発明の素子では、
上述したように、低電流域においても電圧非直線指数α
が大きく、)(リスク電圧を第5図に示すように例えば
v1μ人で表わすことができる。
このように本発明において、バリスタ電圧を低いものと
することができるのは、グラファイト微粉末全素子内に
分散させているため、これが電気的短絡路を作ることに
なり、実質的に電極間距離が短くなったことに相当する
、いわゆる橋渡しの効果(電気的バイパス効果)を示し
ているためである。従って、導電性物質を適当な量で添
加すれば、電極間距離に制約されることなく、たとえば
電極間距離全極度に狭くしないでも素子を形成すること
ができる。また、本発明素子において低電流域でも電圧
非直線指数αが大きい理由は、現在のところ理由は明確
とはなっていないが、微粉末状の半導体物質(ZnO)
を絶縁性の結合剤でもって固めたものであるため、それ
ぞれの半導体物質の間は点接触となり、接触面積が小さ
いこと、また結合剤が絶縁性のため、漏れ電流が小さく
なっていることによるものと考えられる。
することができるのは、グラファイト微粉末全素子内に
分散させているため、これが電気的短絡路を作ることに
なり、実質的に電極間距離が短くなったことに相当する
、いわゆる橋渡しの効果(電気的バイパス効果)を示し
ているためである。従って、導電性物質を適当な量で添
加すれば、電極間距離に制約されることなく、たとえば
電極間距離全極度に狭くしないでも素子を形成すること
ができる。また、本発明素子において低電流域でも電圧
非直線指数αが大きい理由は、現在のところ理由は明確
とはなっていないが、微粉末状の半導体物質(ZnO)
を絶縁性の結合剤でもって固めたものであるため、それ
ぞれの半導体物質の間は点接触となり、接触面積が小さ
いこと、また結合剤が絶縁性のため、漏れ電流が小さく
なっていることによるものと考えられる。
第6図は本発明において、微粉末状の導電性物質として
のグラファイト微粉末の添加量を変えた場合のバリスタ
電圧V、μA1電圧非直線指数αおよび並列静電容量C
の変化する様子を示し、ている。
のグラファイト微粉末の添加量を変えた場合のバリスタ
電圧V、μA1電圧非直線指数αおよび並列静電容量C
の変化する様子を示し、ている。
ここで、酸化亜鉛の焼成温度など、その他の条件は第6
図の場合の条件と同一とした。第6図に示されるように
、本発明素子においては並列静電容量が従来のZnOバ
リスタが100o〜2000゜PFであるのに対して非
常に小さいものとなっている。この並列静電容量Cが本
発明素子において小さい理由は、上述したように半導体
物質間の接触面積が小さいことによるものである。また
、第6図よりグラファイト微粉末の添加量によってバリ
スタ電圧が変化する様子が認められるが、これは上述し
たようにグラファイト微粉末の添加量てよって電気的な
バイパスが変るためと考えられる。
図の場合の条件と同一とした。第6図に示されるように
、本発明素子においては並列静電容量が従来のZnOバ
リスタが100o〜2000゜PFであるのに対して非
常に小さいものとなっている。この並列静電容量Cが本
発明素子において小さい理由は、上述したように半導体
物質間の接触面積が小さいことによるものである。また
、第6図よりグラファイト微粉末の添加量によってバリ
スタ電圧が変化する様子が認められるが、これは上述し
たようにグラファイト微粉末の添加量てよって電気的な
バイパスが変るためと考えられる。
また、下記に示す第1表は本発明において酸化コバルト
の添加量と熱処理温度を変えた場合のバリスタ電圧v1
μA、電圧非直線指数αおよび並列静電界Ju Cの変
化する様子を示した表である。
の添加量と熱処理温度を変えた場合のバリスタ電圧v1
μA、電圧非直線指数αおよび並列静電界Ju Cの変
化する様子を示した表である。
(以下余 白)
上記第1表および第6図より明らかなように、各特性値
は酸化コバルトおよびグラファイト微粉末の添加量と熱
処理温度に依存していることがわかる。ここで酸化コバ
ルトの添加量は0.05〜3mol %で特に良好な特
性を示した。また、熱処理温度は酸化コバルトの添加量
にもよるがeoo〜1350℃の範囲で良好な特性を示
した。この熱処理温度が上記温度範囲以外、例えば60
0℃未黄では十分な絶縁被膜の形成が困難であることや
1350’(Eを超えた温度では電圧非直線指数αが必
要とする値以下になるなどの原因で良好な特性が得られ
ないのである。
は酸化コバルトおよびグラファイト微粉末の添加量と熱
処理温度に依存していることがわかる。ここで酸化コバ
ルトの添加量は0.05〜3mol %で特に良好な特
性を示した。また、熱処理温度は酸化コバルトの添加量
にもよるがeoo〜1350℃の範囲で良好な特性を示
した。この熱処理温度が上記温度範囲以外、例えば60
0℃未黄では十分な絶縁被膜の形成が困難であることや
1350’(Eを超えた温度では電圧非直線指数αが必
要とする値以下になるなどの原因で良好な特性が得られ
ないのである。
なお、上記の実施例においては、半導体物質とじては、
Znofz例にとり説明したが、それ以外つ半導体物質
であっても差支えないことはもちろしである。壕だ、同
様に絶縁被膜を構成する材料としては、Co2O3に限
られることはなく、Bi。
Znofz例にとり説明したが、それ以外つ半導体物質
であっても差支えないことはもちろしである。壕だ、同
様に絶縁被膜を構成する材料としては、Co2O3に限
られることはなく、Bi。
Mn 、 Sb 、 Al 、 Ti 、 Sr 、
Mg 、 Ni 、Or。
Mg 、 Ni 、Or。
31などの金属酸化物またはこれら金属の有機金1酸化
物などでもよいものであり、それらを単独1だは組合せ
て使用することができるものである。
物などでもよいものであり、それらを単独1だは組合せ
て使用することができるものである。
また、導電性物質としては本実施例のグラファイト以外
(C無定形炭素、たとえばチャンネルプラ・フク、ファ
ーネスブラック、アセチレンブランク。
(C無定形炭素、たとえばチャンネルプラ・フク、ファ
ーネスブラック、アセチレンブランク。
サーマルプラック、ランブブラ・ツクなどでも良いもの
であり、それらを単独または組合せて使用することもで
きる。
であり、それらを単独または組合せて使用することもで
きる。
さらに、微粉末状の生導体物質を固める結合剤としては
、ポリイミド樹脂以外の絶縁性の有機接着剤でもよく、
熱硬化性樹脂、たとえばフェノール樹脂、フラン樹脂、
ユリア樹脂、メラミン樹脂。
、ポリイミド樹脂以外の絶縁性の有機接着剤でもよく、
熱硬化性樹脂、たとえばフェノール樹脂、フラン樹脂、
ユリア樹脂、メラミン樹脂。
不飽和ポリエステル樹脂、ジアリルフタレート樹脂、エ
ポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ケイ素樹脂などでも良
いものであり、さらにはガラス粉末と有機バインダーと
を組合せた形で用いてもよいものである。
ポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ケイ素樹脂などでも良
いものであり、さらにはガラス粉末と有機バインダーと
を組合せた形で用いてもよいものである。
また、上記の実施例では素子の形成をスクリーン印刷法
により行ったが、それ以外の塗布法、例えばスプレー、
浸漬などの方法で行ってもよいものである。
により行ったが、それ以外の塗布法、例えばスプレー、
浸漬などの方法で行ってもよいものである。
さらにまだ、−上記実施例による製造方法では、まず最
初に無機質半導体である微粒子状のZnOを熱処理、粉
砕し、微粉末とした後に、絶縁性の無機質化合物である
Co2O5を添加し、その後熱処理を行ったが、これは
無機質半導体の微粉末に直接無機質化合物を添加するよ
うにし、上記無機質半導体微粒子の焼成、粉砕という処
理工程を省略しても差支えないものである。
初に無機質半導体である微粒子状のZnOを熱処理、粉
砕し、微粉末とした後に、絶縁性の無機質化合物である
Co2O5を添加し、その後熱処理を行ったが、これは
無機質半導体の微粉末に直接無機質化合物を添加するよ
うにし、上記無機質半導体微粒子の焼成、粉砕という処
理工程を省略しても差支えないものである。
発明の効果
以上の説明より明らかなように本発明方法により得られ
た電圧非直線性素子は、低電流域における電圧非直線指
数αが大きく、また並列静電容量の小さな素子が得られ
ることから、消費電流の小さい液晶、ELfiどのデバ
イスのスイッチング素子として最適な素子を提供できる
ものである。また、微粉末状の導電性物質?介在させて
いることによって微粉末状の半導体物質間の電気的接続
を安定にし、特性バラツキの少ない素子を得ることがで
き、かつこの導電性物質の介在量によってバリスタ電圧
を制御することができるという利点が得られるため、電
極間距離に制約されることなく、たとえば電極間距離を
極度に狭くしないでも、バリスタ電圧の低いものが得ら
れ、上記電圧非直線指数αが大きいことと相まって従来
のZnOバリスタでは対応することのできなかった低電
圧用rCの保護素子や低い電圧における電圧安定化素子
として使用することができる。さらに、塗布したペイン
トラ低い温度で硬化させて簡単にして作ることができる
ため、回路基板上やガラス基板上に素子を直接形成する
ことができるものである。
た電圧非直線性素子は、低電流域における電圧非直線指
数αが大きく、また並列静電容量の小さな素子が得られ
ることから、消費電流の小さい液晶、ELfiどのデバ
イスのスイッチング素子として最適な素子を提供できる
ものである。また、微粉末状の導電性物質?介在させて
いることによって微粉末状の半導体物質間の電気的接続
を安定にし、特性バラツキの少ない素子を得ることがで
き、かつこの導電性物質の介在量によってバリスタ電圧
を制御することができるという利点が得られるため、電
極間距離に制約されることなく、たとえば電極間距離を
極度に狭くしないでも、バリスタ電圧の低いものが得ら
れ、上記電圧非直線指数αが大きいことと相まって従来
のZnOバリスタでは対応することのできなかった低電
圧用rCの保護素子や低い電圧における電圧安定化素子
として使用することができる。さらに、塗布したペイン
トラ低い温度で硬化させて簡単にして作ることができる
ため、回路基板上やガラス基板上に素子を直接形成する
ことができるものである。
このように種々の特徴を有する本発明の電圧非直線性素
子は、今までのZnOバリスタなどでは考えられない幅
広い用途が期待できるものであり、その産業性は犬なる
ものである。
子は、今までのZnOバリスタなどでは考えられない幅
広い用途が期待できるものであり、その産業性は犬なる
ものである。
第1図は本発明方法による電圧非直線性素子の製造方法
の工程を示す図、第2図は本発明方法により得られた電
圧非直線性素子の一実施例を示す拡大断面図、第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の素子をガラス基板上に設
けた実施例を示す断面図、第5図は本発明方法により得
られた素子と従来のZnOバリスタの電圧−電流特性を
示す図、第6図は本発明方法による素子においてグラフ
フィト微粉末の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α
、バリスタ電圧v1μAおよび並列静電容ZCの変化す
る様子を示す図である。 1.1a、1b、2・・・・−4TO電極、3,311
゜4・・・・・・ガラス基板、6・・・・・・電圧非直
線性素子、6・・・・・・ZnO微粉末、7・・・・・
・グラファイト微粉末、8・・・・・・結合剤、9・・
・・・・Co2O3絶縁被膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名第
1(21 第2図 第4図 第5図 一士 電FcCV) 第6図
の工程を示す図、第2図は本発明方法により得られた電
圧非直線性素子の一実施例を示す拡大断面図、第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の素子をガラス基板上に設
けた実施例を示す断面図、第5図は本発明方法により得
られた素子と従来のZnOバリスタの電圧−電流特性を
示す図、第6図は本発明方法による素子においてグラフ
フィト微粉末の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α
、バリスタ電圧v1μAおよび並列静電容ZCの変化す
る様子を示す図である。 1.1a、1b、2・・・・−4TO電極、3,311
゜4・・・・・・ガラス基板、6・・・・・・電圧非直
線性素子、6・・・・・・ZnO微粉末、7・・・・・
・グラファイト微粉末、8・・・・・・結合剤、9・・
・・・・Co2O3絶縁被膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名第
1(21 第2図 第4図 第5図 一士 電FcCV) 第6図
Claims (1)
- 無機質半導体の微粉末に無機または有機化合物を添加
し、混合した後、600〜1360℃で熱処理を行い、
無機質半導体微粉末の表面に無機質絶縁被膜を形成させ
、その後上記絶縁被膜を施した上記半導体微粉末と導電
性物質としてグラファイトまたは無定形炭素の微粉末を
加えたものに絶縁性の有機接着剤かまたはガラス粉末と
有機バインダーを加え、ペイント状にし、次いで上記ペ
イントを電極を配した絶縁基板上に印刷、スプレーまた
は浸漬などによって塗布した後、熱処理を行って硬化さ
せることを特徴とする電圧非直線性素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61035991A JPS62193217A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61035991A JPS62193217A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62193217A true JPS62193217A (ja) | 1987-08-25 |
Family
ID=12457305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61035991A Pending JPS62193217A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62193217A (ja) |
-
1986
- 1986-02-20 JP JP61035991A patent/JPS62193217A/ja active Pending
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