JPS63242465A - 半田付不良検査箇所の位置再現方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、プリント配線基板上に半田付により実装する
電子部品が、確実に半田付されているかどうか判別する
と共にその不良箇所を再現し、その不良箇所を修正でき
るようにする方法に関するものである。

「従来の技術」 従来この種の判別法としては、目視による半田付不良の
チェックあるいは、電気抵抗を測定することにより半田
付の浮きあがり等を判別するものであった。

「発明が解決しようとする問題点」 抵抗測定の場合には、一部でも接続状態にあったり、隣
接端子間にブリッジがあると抵抗は零を示し、半田付は
良好と判定されてしまう欠点があり、例えばテレビジョ
ン受像機に組込まれ、輸送時の振動が加わると、半田付
部分がプリント配線基板の導電パターン（ランド）から
剥離を引き起こし製品の不良を招くことがあった。

「発明の目的」 本発明は、上述の問題点に鑑みなされたもので、゛　　
目視や抵抗測定法では見付かりにくい半田付不良をも判
別すると共にその箇所を再現して再度半田付は修正でき
るようにする方法を提案するものである。

「実施例」 図面は本発明の実施例を示すブロック図である。

１はプリント配線基板であり、その−面は銅箔パターン
で回路が形成されており、同回路端の銅箔ランドにおい
て、４は電子部品２のリード部分３が、半田付された部
分である。

この実施例ではプリント配線基板１上に表面実装した例
にしているが、同基板１に開孔し裏面より挿通する電子
部品のリード線を銅箔のランドにおいて半田付した部分
でも同様である。

５は超音波発生器６からの超音波を放射するものであり
、半田付部分４に対向してあり、これにより半田付部分
４が超音波に基づく周波数の撮動を生起する。

本発明は、この振動を深針７、ピックアップ部８により
電気信号に変換し、この電気信号を高速にフーリエ変１
！ｊ！　（ＦＦＴ）することにより、半田付が正常な場
合には主に前記固有の超音波周波数となり、半田付が不
良（例えば浮き上がり等）となると、固有の超音波周波
数以外の周波数成分が混入する事に着目し、半田付不良
状態を判別せんとするものである。

９は、ピックアップ部８からの電気信号を増巾するアン
プであり、このアナログ信号をＡ／Ｄ変換器１０により
デジタル信号に変換し、ＣＰＵを含む制御回路１１の制
御に基づきメモリー１２に記憶する。

同メモリー１２に格納した入力信号系列から一対のデー
タを取り出し、回転因子１４との積の計算、和と差の計
算等、バタフライ演算１３を施し、その結果をメモリー
１２に古き込む、この処理を一対のデータ毎に次々に実
行することにより、逐次演算されＦＦＴが実行される。

　１５は順序並べ替え回路、１６はビット逆順序表であ
る。　１７はＦＦＴ回路であり、ＣＰＵを含む制御回路
１１、メモリー１２バタフライ演算器１３、回転因子回
路１４、順序並べ替え回路１５、ビット逆順序表回路１
６から成っており、これは逐次処理回路の例を示してい
る。この他ＦＦＴ処理を行なうハードウェアーとしては
、縦続処理するもの、並列処理するもの、２次元並列処
理するもの等があり、これらを利用してもよい。

以上のＦＦＴ処理された結果は１つの１１０回路を含む
、グラフィックディスプレイプロセッサ、Ｄ／Δコンバ
ータ、ＣＲＴコントローラによってＣＲＴに波形を表示
するか、Ｘ−Ｙレコーダ等により情報を得る。

この場合、正常な半田付状態の時の波形情報をあらかじ
めメモリー１２に記憶しておき、半田付測定部分４の異
常な半田付状態の時の波形情報と比較し、異常時にのみ
含まれる波形を比較抽出することによって、例えば、ブ
ザーあるいはランプ（図示せず）にて表示するようにし
てもよい。

半田付は測定部分４の情報と共にＸ−Ｙ駆動装置２２に
より駆動されるＸ−Ｙテーブル２１の位置情報発生器２
３からのデジタル信号を前記メモリー１２に記憶し、半
田付は状態の異常検出状況のデータと対応させ、前記Ｘ
−Ｙテーブル２１上のプリント配線基板１の半田付けの
異常特定部分を再現１゛ることにより、半田付けを再度
行い修正できるようにしたものである。

２０は、超音波による半田付部分４の振動が大きくピッ
クアップ部８から過大な信号がアンプに伝達された時、
過大入力を検出し、超音波発生器６の発生強度を低減し
入力信号強度を安定化するものである。

「発明の効果」 以上から本発明によれば、目視や電気抵抗測定では発見
しにくい、半田付不良（一部は電気的に接続しているも
のの、機械的に弱い浮きあがり状態）のものや、いわゆ
る「いもハンダ」等の場合に異常振動周波数が生じる（
超音波に基づく周波数以外の周波数）のを高速フーリエ
変換により、判別することができ、かつその異常半Ｅ［
ｌ付は部分を再現特定することにより、容易に異常位置
を特定して半田付は修正できる効果を奏するものである
。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の一実施例を示すブロック図である。 ４・・・半田付部分、５・・・超音波放射器、６・・・
超音波発生器、９・・・アンプ、１０・・・Ａ／Ｄ変換
器、１２・・・メモリー、１７・・・ＦＦＴ、２１・・
・Ｘ−Ｙテーブル、２３・・・位置情報発生器。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　プリント配線基板上に半田付により、実装する電子部
   品の半田付部分に対して、超音波を放射すると共に、同
   半田付部分に探針を接触させて、同半田付部分における
   振動を検出して電気信号に変換せしめ、同電気信号をフ
   ーリエ変換し、前記超音波に基づく周波数を除く周波数
   の存在を検出することにより、半田付の異常状態を判別
   するものにおいて、前記探針により検出したプリント配
   線基板上の箇所に対応する位置情報を前記フーリエ変換
   情報とともにメモリーし、同フーリエ変換情報にもとず
   き半田付け不良を判定するとともに、プリント配線基板
   上における同半田付け不良箇所を前記位置情報により特
   定できるようにしたことを特徴とする半田付不良検査箇
   所の位置再現方法。