JPS63266066A - 合金タ−ゲツト及びその製造法 - Google Patents
合金タ−ゲツト及びその製造法Info
- Publication number
- JPS63266066A JPS63266066A JP10001287A JP10001287A JPS63266066A JP S63266066 A JPS63266066 A JP S63266066A JP 10001287 A JP10001287 A JP 10001287A JP 10001287 A JP10001287 A JP 10001287A JP S63266066 A JPS63266066 A JP S63266066A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- alloy
- target
- composition
- sputtering
- alloy target
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はスパタリングによる合金薄膜の形成に用いるス
パタリング用の合金ターゲラ1〜及びその製造法に関す
る。さらに詳しくは、スパタリング後に形成された膜の
組成分布が一様となるように調整されたスパタリング用
合金ターゲット及びその製造法に関する。
パタリング用の合金ターゲラ1〜及びその製造法に関す
る。さらに詳しくは、スパタリング後に形成された膜の
組成分布が一様となるように調整されたスパタリング用
合金ターゲット及びその製造法に関する。
〈従来の技術〉
合金の薄膜を1qるための手段として、合金のターゲッ
トをスパタリングする方法が用いられている。かかる2
種以上の金属および/必るいは合金からなるターゲット
の製法としては、通常これらの金属を溶融成型するか、
あるいはこれらの金属および/あるいは合金粉末を成型
、加熱焼結して作る方法がよく知られている。スパタリ
ング法によれば一般にはターゲットの合金組成と同じ組
成の膜が形成されるが、ある特定の金属元素からなる組
合せについては必ずしも正しくない。たとえば、高密度
の記録材料として最近、脚光を必ひているものに光磁気
記録媒体があるが、この記録層として用いられている丁
す、 Cd、 Ndといった希土類とFe、Goなどの
遷移金属の合金膜の場合、これらの金属からなる均一な
合金ターゲットを用いた場合でも、できた膜は基板の中
央と周辺部で組成が異ることが指摘されている。
トをスパタリングする方法が用いられている。かかる2
種以上の金属および/必るいは合金からなるターゲット
の製法としては、通常これらの金属を溶融成型するか、
あるいはこれらの金属および/あるいは合金粉末を成型
、加熱焼結して作る方法がよく知られている。スパタリ
ング法によれば一般にはターゲットの合金組成と同じ組
成の膜が形成されるが、ある特定の金属元素からなる組
合せについては必ずしも正しくない。たとえば、高密度
の記録材料として最近、脚光を必ひているものに光磁気
記録媒体があるが、この記録層として用いられている丁
す、 Cd、 Ndといった希土類とFe、Goなどの
遷移金属の合金膜の場合、これらの金属からなる均一な
合金ターゲットを用いた場合でも、できた膜は基板の中
央と周辺部で組成が異ることが指摘されている。
さらにこれらの合金ターゲットがたとえ同一組成であっ
ても製法によって膜の組成分布が異ることも指摘されて
いる(第34回応用物理学関係連合講演会、 28a−
ZH−IL 28p−78−1,28p−ZH−2)。
ても製法によって膜の組成分布が異ることも指摘されて
いる(第34回応用物理学関係連合講演会、 28a−
ZH−IL 28p−78−1,28p−ZH−2)。
〈発明の目的〉
本発明はかかる現状に鑑みなされたもので、スパタリン
グ法によって形成された被膜の組成分布が一様になるよ
うな合金ターゲット及びそのvJ造方法を捉供するもの
である。
グ法によって形成された被膜の組成分布が一様になるよ
うな合金ターゲット及びそのvJ造方法を捉供するもの
である。
〈発明の+を成9作用〉
上述の目的は以下の本発明によって達成される。
すなわち、本発明は2種以上の金属からなるスパタリン
グ用の合金ターゲットにおいて、合金組成が所定の面分
布を有することを特徴とする合金ターゲットを第1発明
とし、この第1発明の合金ターゲットの製造法において
、2種以上の金属および/または合金粉末を型内で所定
の組成分布となるように加圧成型し、所定形状にしたの
ち加熱焼結することを特徴とする合金ターゲットの製造
法を第2発明とするものである。
グ用の合金ターゲットにおいて、合金組成が所定の面分
布を有することを特徴とする合金ターゲットを第1発明
とし、この第1発明の合金ターゲットの製造法において
、2種以上の金属および/または合金粉末を型内で所定
の組成分布となるように加圧成型し、所定形状にしたの
ち加熱焼結することを特徴とする合金ターゲットの製造
法を第2発明とするものである。
以下本発明の詳細をTI)25Fe75の膜組成を1q
る場合を例として説明する。
る場合を例として説明する。
TbとFeを溶解して固めたインボッ1〜をll:5)
砕して得た金属間化合物粉末とFeの粉末を混合して型
内で成型する。
砕して得た金属間化合物粉末とFeの粉末を混合して型
内で成型する。
6インチφのターゲットを成型する場合、中央部tit
膜組成と同じ丁b25Fe75粉末のみとし、周辺にい
くに従ってFe粉末の足を増し、最外周部では約5wt
%の「e粉末を混合する。このようにして得られた粉末
の集合体を加圧成型し、焼結してスパタリング用ターゲ
ットとする。
膜組成と同じ丁b25Fe75粉末のみとし、周辺にい
くに従ってFe粉末の足を増し、最外周部では約5wt
%の「e粉末を混合する。このようにして得られた粉末
の集合体を加圧成型し、焼結してスパタリング用ターゲ
ットとする。
金属または合金の粉末の製造法としては機械的粉砕法、
物理化学的方法など通常一般の方法が利用できる。粒度
および粒度分布、二種以上の粉末の混合法、成型法、焼
結法などは通常粉末冶金法として知られているものなら
何でも使用できる。
物理化学的方法など通常一般の方法が利用できる。粒度
および粒度分布、二種以上の粉末の混合法、成型法、焼
結法などは通常粉末冶金法として知られているものなら
何でも使用できる。
ターゲットの組成分布は上述の丁b25Fe7.の例で
は6インチφのターゲットに対して中央部に対し周辺部
で[eを5wt%増加にしたが、この組成分布は所望の
組成の模を得るための装置条件、スパタリング条件によ
って決定覆る必要がある。すなわち同一のターゲラ]・
を用いても、装置条件、スパタリング条件によって得ら
れた膜の組成分布は異るため、ターゲットの組成分布も
これらの条件を勘案して決める必要がある。
は6インチφのターゲットに対して中央部に対し周辺部
で[eを5wt%増加にしたが、この組成分布は所望の
組成の模を得るための装置条件、スパタリング条件によ
って決定覆る必要がある。すなわち同一のターゲラ]・
を用いても、装置条件、スパタリング条件によって得ら
れた膜の組成分布は異るため、ターゲットの組成分布も
これらの条件を勘案して決める必要がある。
〈発明の効果〉
スパタリング粒子に角度分布依存性などがおり、ターゲ
ラ1〜組成と同一の組成分イ5が得られないような合金
組成の膜を得たいような場合において、特別の条件変更
あるいは装置上の変更を加えることなしに、組成分布の
一様な被膜を得ることができる。
ラ1〜組成と同一の組成分イ5が得られないような合金
組成の膜を得たいような場合において、特別の条件変更
あるいは装置上の変更を加えることなしに、組成分布の
一様な被膜を得ることができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、2種以上の金属からなるスパタリング用の合金ター
ゲットにおいて、合金組成が所定の面分布を有すること
を特徴とする合金ターゲット。 2、合金組成が所定の面分布を有するスパタリング用の
合金ターゲットの製造法において、2種以上の金属およ
び/または合金粉末を型内で所定の組成分布となるよう
に加圧成形し、所定形状にしたのち加熱焼結することを
特徴とする合金ターゲットの製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10001287A JPS63266066A (ja) | 1987-04-24 | 1987-04-24 | 合金タ−ゲツト及びその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10001287A JPS63266066A (ja) | 1987-04-24 | 1987-04-24 | 合金タ−ゲツト及びその製造法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63266066A true JPS63266066A (ja) | 1988-11-02 |
Family
ID=14262645
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10001287A Pending JPS63266066A (ja) | 1987-04-24 | 1987-04-24 | 合金タ−ゲツト及びその製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63266066A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5118661A (en) * | 1989-11-21 | 1992-06-02 | Nec Corporation | Sputtering target for use in fabricating integrated circuit device |
| CN113308672A (zh) * | 2021-04-15 | 2021-08-27 | 基迈克材料科技(苏州)有限公司 | ZnSn合金靶材及其制备方法 |
-
1987
- 1987-04-24 JP JP10001287A patent/JPS63266066A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5118661A (en) * | 1989-11-21 | 1992-06-02 | Nec Corporation | Sputtering target for use in fabricating integrated circuit device |
| CN113308672A (zh) * | 2021-04-15 | 2021-08-27 | 基迈克材料科技(苏州)有限公司 | ZnSn合金靶材及其制备方法 |
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