JPS6410762B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6410762B2 JPS6410762B2 JP13384186A JP13384186A JPS6410762B2 JP S6410762 B2 JPS6410762 B2 JP S6410762B2 JP 13384186 A JP13384186 A JP 13384186A JP 13384186 A JP13384186 A JP 13384186A JP S6410762 B2 JPS6410762 B2 JP S6410762B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- micrometer
- measured
- measuring
- contact angle
- angle error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、円または円弧等の測定機、とくに
被測定物における円または円形等の測定におい
て、測定機に取付けられた測定子と被測定物との
接点の本来あるべき位置からのずれを検出し、こ
の検出値にもとづいて測定子の位置補正を行う位
置補正装置を備えた円または円弧等の測定機に関
するものである。
被測定物における円または円形等の測定におい
て、測定機に取付けられた測定子と被測定物との
接点の本来あるべき位置からのずれを検出し、こ
の検出値にもとづいて測定子の位置補正を行う位
置補正装置を備えた円または円弧等の測定機に関
するものである。
従来の例えば第１図に示されたような円または
円弧測定機においては測微計２の取付誤差（第２
図参照）、測定子２１の曲り（第３図参照）等に
より、測定子と被測定物との接点が本来あるべき
位置（第４図のＡ点）からずれていることが多
く、例えばＢ点のような位置にあつた。
円弧測定機においては測微計２の取付誤差（第２
図参照）、測定子２１の曲り（第３図参照）等に
より、測定子と被測定物との接点が本来あるべき
位置（第４図のＡ点）からずれていることが多
く、例えばＢ点のような位置にあつた。
上記のずれを角度で表わし、これを測定子接点
角度誤差△θと呼ぶ。今迄は、このような測定子
接点角度誤差△θは気付かなかつたり、あるいは
無視されていた。しかし被測定物の曲率半径が小
さいときは、その影響が大きく、正確な測定を必
要とする場合には、上記の接点角度誤差△θを無
視するわけにはゆかず、これの対応策を考えなけ
ればならない状況になつて来た。
角度誤差△θと呼ぶ。今迄は、このような測定子
接点角度誤差△θは気付かなかつたり、あるいは
無視されていた。しかし被測定物の曲率半径が小
さいときは、その影響が大きく、正確な測定を必
要とする場合には、上記の接点角度誤差△θを無
視するわけにはゆかず、これの対応策を考えなけ
ればならない状況になつて来た。
この発明は上記のような状況の下に開発された
もので、円または円弧等の測定において、本測定
に先立ち、測定機の測微計に取付けられた測定子
と被測定物との接点が本来あるべき位置からどれ
だけずれているかを接点角度誤差として検出し、
この検出値にもとづいて測定子の位置を測定子の
通常の移動方向である半径方向とは直角をなす方
向に微動させて、位置補正する方法および接点角
度誤差を回転角度検出器の信号から差引くことに
よる補正方法、ならびに補正方法を具体化した装
置を備えた円または円弧等の測定機である。
もので、円または円弧等の測定において、本測定
に先立ち、測定機の測微計に取付けられた測定子
と被測定物との接点が本来あるべき位置からどれ
だけずれているかを接点角度誤差として検出し、
この検出値にもとづいて測定子の位置を測定子の
通常の移動方向である半径方向とは直角をなす方
向に微動させて、位置補正する方法および接点角
度誤差を回転角度検出器の信号から差引くことに
よる補正方法、ならびに補正方法を具体化した装
置を備えた円または円弧等の測定機である。
次にこの発明の第１の実施例を図を参照しなが
ら説明する。１は測定機本体１０に取付けられた
スピンドルで、このスピンドル１の下方には測微
計２を半径方向に移動させるための半径方向スラ
イド３が取付けられ、更にこの半径方向スライド
３には、半径方向スライド３による測微計２の移
動方向に対して直角方向に微動出来るように構成
された補正装置４が設置されている。そしてスピ
ンドル１の上方部分には、スピンドル１の回転角
度を検出するための回転角度検出器としてのロー
タリーエンコーダ５が取付けられている。６は被
測定物７を載置し、測定位置へ移動させるための
テーブルで、測定機本体１０に対し、前後左右に
２個のステツピングモータ８によつて移動できる
ように構成されている。測微計２からの測定信号
やロータリーエンコーダ５からの回転角度信号は
インターフエースを介してコンピユータに入り、
コンピユータにより記憶、計算等が行われ、さら
にコンピユータよりの指令信号がインターフエー
スを介してステツピングモータ８に伝達されるよ
うになつている。
ら説明する。１は測定機本体１０に取付けられた
スピンドルで、このスピンドル１の下方には測微
計２を半径方向に移動させるための半径方向スラ
イド３が取付けられ、更にこの半径方向スライド
３には、半径方向スライド３による測微計２の移
動方向に対して直角方向に微動出来るように構成
された補正装置４が設置されている。そしてスピ
ンドル１の上方部分には、スピンドル１の回転角
度を検出するための回転角度検出器としてのロー
タリーエンコーダ５が取付けられている。６は被
測定物７を載置し、測定位置へ移動させるための
テーブルで、測定機本体１０に対し、前後左右に
２個のステツピングモータ８によつて移動できる
ように構成されている。測微計２からの測定信号
やロータリーエンコーダ５からの回転角度信号は
インターフエースを介してコンピユータに入り、
コンピユータにより記憶、計算等が行われ、さら
にコンピユータよりの指令信号がインターフエー
スを介してステツピングモータ８に伝達されるよ
うになつている。
上記の補正装置４はスライドまたはピボツトあ
るいはばねを使用した微動機構を主体とし、この
実施例ではマイクロメータまたはダイヤルゲージ
等による微調整検出装置も備えている。要は正確
な微小移動ができ、その微小な移動距離を正確に
把握できればよい。この補正装置に駆動源を設け
て、計算機からの信号により移動量をフイードバ
ツクさせて、移動を自動的に行うようにすること
も出来る。
るいはばねを使用した微動機構を主体とし、この
実施例ではマイクロメータまたはダイヤルゲージ
等による微調整検出装置も備えている。要は正確
な微小移動ができ、その微小な移動距離を正確に
把握できればよい。この補正装置に駆動源を設け
て、計算機からの信号により移動量をフイードバ
ツクさせて、移動を自動的に行うようにすること
も出来る。
次にこの測定機の作用について説明する。まず
測微計２の測定子２１の回転中心と被測定物７の
円弧の中心とを可能な限り一致させる。次にテー
ブル６を例えば第６図のようにＹ軸方向に、測微
計２の検知範囲を超えない程度に、、一定量0 1
移動して、テーブル６上の被測定物７の曲率中心
をO1まで移動させ、スピンドル１の回転中心は
O0のまゝの位置で、移動後の被測定面A1を測定
し、A1の曲率中心の位置をロータリーエンコー
ダ５の出力θiと、測微計２の出力△riから既知の
計算方法により計算する。こゝで測定子２１の接
点角度誤差△θがなければ、計算上O1の位置は、
極座標表示で（0 1，90゜）になるが、実際には
接点角度誤差△θがあるので、その極座標表示は
（0 1，90゜＋△θ）となる。従つて実際の角度
から、被測定物の移動方向、即ち90゜を差引けば、
接点角度誤差△θを求めることができる。この接
点角度誤差△θがわかれば、補正装置４により測
定子２１を補正前の位置Ｂ点（第７図参照）から
本来あるべき位置Ａ点まで微動させる距離は幾何
学的関係から、被測定物７の曲率半径の大きさを
Ｒとすれば、Rsin△θとなる。このときの曲率
半径の大きさＲは、被測定物の称呼半径を用いる
ことができる。上記のように補正数値が求まり、
測定子の位置調整を行つてから、円または円弧等
の測定を行えば、接点角度誤差△θは含まれない
ので、正確な測定を行うことができる。
測微計２の測定子２１の回転中心と被測定物７の
円弧の中心とを可能な限り一致させる。次にテー
ブル６を例えば第６図のようにＹ軸方向に、測微
計２の検知範囲を超えない程度に、、一定量0 1
移動して、テーブル６上の被測定物７の曲率中心
をO1まで移動させ、スピンドル１の回転中心は
O0のまゝの位置で、移動後の被測定面A1を測定
し、A1の曲率中心の位置をロータリーエンコー
ダ５の出力θiと、測微計２の出力△riから既知の
計算方法により計算する。こゝで測定子２１の接
点角度誤差△θがなければ、計算上O1の位置は、
極座標表示で（0 1，90゜）になるが、実際には
接点角度誤差△θがあるので、その極座標表示は
（0 1，90゜＋△θ）となる。従つて実際の角度
から、被測定物の移動方向、即ち90゜を差引けば、
接点角度誤差△θを求めることができる。この接
点角度誤差△θがわかれば、補正装置４により測
定子２１を補正前の位置Ｂ点（第７図参照）から
本来あるべき位置Ａ点まで微動させる距離は幾何
学的関係から、被測定物７の曲率半径の大きさを
Ｒとすれば、Rsin△θとなる。このときの曲率
半径の大きさＲは、被測定物の称呼半径を用いる
ことができる。上記のように補正数値が求まり、
測定子の位置調整を行つてから、円または円弧等
の測定を行えば、接点角度誤差△θは含まれない
ので、正確な測定を行うことができる。
次に示す第２の実施例においては、測定子と被
測定物との相対関係は第１の実施例と同じである
が、測定子は円弧運動せず、被測定物が円弧運動
するように構成された測定機であり、１はスピン
ドル、２は測微計、３は半径方向スライド、４は
半径方向スライド３に対して直角方向に動く微動
機構および微調整検出装置とをもつた補正装置、
５はロータリーエンコーダ、６はテーブル、７は
被測定物、８はステツピングモータで、電算機装
置は図示を省略している。この測定機においても
最初スピンドル１の回転中心と被測定物７の円ま
たは円弧の曲率中心とを可能な限り一致させる。
次にテーブル６を任意の方向に測微計２の検知範
囲を超えない程度に一定量動かしてテーブル６上
の被測定物７の中心を移動させ、その位置で、被
測定面を測定し、その状態における曲率中心の位
置を、ロータリーエンコーダ５の出力θiと測微計
の出力△riから計算する。以後第１の実施例と同
様に、もし接点角度誤差△θがあれば、接点角度
誤差△θと被測定物の称呼の曲率半径Ｒとから
Rsin△θを計算し、その計算値をもとに、補正
装置により測定子の位置を半径方向とは直角の方
向に補正することにより、正確な測定を行うこと
ができる。
測定物との相対関係は第１の実施例と同じである
が、測定子は円弧運動せず、被測定物が円弧運動
するように構成された測定機であり、１はスピン
ドル、２は測微計、３は半径方向スライド、４は
半径方向スライド３に対して直角方向に動く微動
機構および微調整検出装置とをもつた補正装置、
５はロータリーエンコーダ、６はテーブル、７は
被測定物、８はステツピングモータで、電算機装
置は図示を省略している。この測定機においても
最初スピンドル１の回転中心と被測定物７の円ま
たは円弧の曲率中心とを可能な限り一致させる。
次にテーブル６を任意の方向に測微計２の検知範
囲を超えない程度に一定量動かしてテーブル６上
の被測定物７の中心を移動させ、その位置で、被
測定面を測定し、その状態における曲率中心の位
置を、ロータリーエンコーダ５の出力θiと測微計
の出力△riから計算する。以後第１の実施例と同
様に、もし接点角度誤差△θがあれば、接点角度
誤差△θと被測定物の称呼の曲率半径Ｒとから
Rsin△θを計算し、その計算値をもとに、補正
装置により測定子の位置を半径方向とは直角の方
向に補正することにより、正確な測定を行うこと
ができる。
次にこの発明の第３の実施例について説明す
る。この実施例における測定機は、外観上は従来
のものと変らないが、電算機のソフトウエアが異
る。測微計２の測定子２１の被測定物との接点角
度誤差を前記の第１、第２の実施例と同様に求
め、この接点角度誤差△θが求まつたら、この実
施例の場合には、測定子の位置補正は行わず、接
点角度誤差△θを含んだロータリーエンコーダ５
の測定角度から、この接点角度誤差△θを差引く
ための電算機のソフトウエアを作成し、計算によ
り補正する。接点角度誤差△θがあると電算機に
はPi〔△ri（θi），（θi）〕ではなく、Pi〔△′ri（
θi＋△
θ），θi〕として記憶されるので、予め求めた接
点角度誤差△θの値を用い、電算機の入力として
Pi〔△′ri（θi＋△θ），θi〕をPi′〔△r′i（θi
＋△θ），
θi＋△θ〕と変換すれば、ロータリーエンコーダ
５の示す値と測定子接点の位置は一致し、接点角
度誤差△θが相殺され、正確な測定値が得られ
る。
る。この実施例における測定機は、外観上は従来
のものと変らないが、電算機のソフトウエアが異
る。測微計２の測定子２１の被測定物との接点角
度誤差を前記の第１、第２の実施例と同様に求
め、この接点角度誤差△θが求まつたら、この実
施例の場合には、測定子の位置補正は行わず、接
点角度誤差△θを含んだロータリーエンコーダ５
の測定角度から、この接点角度誤差△θを差引く
ための電算機のソフトウエアを作成し、計算によ
り補正する。接点角度誤差△θがあると電算機に
はPi〔△ri（θi），（θi）〕ではなく、Pi〔△′ri（
θi＋△
θ），θi〕として記憶されるので、予め求めた接
点角度誤差△θの値を用い、電算機の入力として
Pi〔△′ri（θi＋△θ），θi〕をPi′〔△r′i（θi
＋△θ），
θi＋△θ〕と変換すれば、ロータリーエンコーダ
５の示す値と測定子接点の位置は一致し、接点角
度誤差△θが相殺され、正確な測定値が得られ
る。
前記第１の実施例、第２の実施例にこの第３の
実施例を組合せることにより、測定子自体の位置
補正を行うと共に、測定角度を計算により補正す
るので、更に測定を正確に行うことも可能であ
る。
実施例を組合せることにより、測定子自体の位置
補正を行うと共に、測定角度を計算により補正す
るので、更に測定を正確に行うことも可能であ
る。
この発明の測定機によれば、円または円弧等の
測定を測定子接点角度誤差△θを補正後、または
補正しながら測定することができるので、正確な
測定値を得ることができ、特に曲率半径の小さい
円弧等の測定には従来の測定機に比較して格段に
正確な測定値が得られる。
測定を測定子接点角度誤差△θを補正後、または
補正しながら測定することができるので、正確な
測定値を得ることができ、特に曲率半径の小さい
円弧等の測定には従来の測定機に比較して格段に
正確な測定値が得られる。
第１図は従来の円または円弧等を計測する測定
機を示す斜視図、第２図および第３図は測定子と
被測定物の接点が正規の位置からずれる原因を示
した斜視図、第４図は接点角度誤差の説明図、第
５図はこの発明の第１の実施例を示す斜視図、第
６図は接点角度誤差を求める方法を示す説明図、
第７図は接点角度誤差の補正方法を示す説明図、
第８図は第２の実施例を示す斜視図、第９図は第
３の実施例に関する斜視図である。 主要部分の符号の説明、１はスピンドル、２は
測微計、３は半径方向スライド、４は微動装置、
５はロータリーエンコーダ、６はテーブル、７は
被測定物、８はステツピングモータ。
機を示す斜視図、第２図および第３図は測定子と
被測定物の接点が正規の位置からずれる原因を示
した斜視図、第４図は接点角度誤差の説明図、第
５図はこの発明の第１の実施例を示す斜視図、第
６図は接点角度誤差を求める方法を示す説明図、
第７図は接点角度誤差の補正方法を示す説明図、
第８図は第２の実施例を示す斜視図、第９図は第
３の実施例に関する斜視図である。 主要部分の符号の説明、１はスピンドル、２は
測微計、３は半径方向スライド、４は微動装置、
５はロータリーエンコーダ、６はテーブル、７は
被測定物、８はステツピングモータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 円または円弧等を測定すべき被測定物を載置
するテーブルと、 被測定物に接触させる測定子を支持する測微計
と、 テーブルと測微計とを相対的に移動させるため
のテーブル移動機構と、 測微計とテーブルとを相対的に回転させるため
の回転機構と、 測微計とテーブルとの相対回転の角度を検出す
る回転角度検出手段と、 回転機構の回転中心に対し測微計を半径方向に
移動させるための測微計移動機構と、 該測微計移動機構に支持され測微計をその半径
方向移動方向に直角方向に移動させて測定子の測
微計への支持位置を補正すべく測微計を支持した
測定子取付位置補正機構と、 回転角度検出手段からの検出信号をもとに計算
し記憶し、これらの数値をもとに測定子支持位置
補正量を算出する演算手段、 とを備えたことを特徴とする円または円弧等の
測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13384186A JPS62807A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 円または円弧等の測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13384186A JPS62807A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 円または円弧等の測定機 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8401678A Division JPS5512407A (en) | 1978-07-12 | 1978-07-12 | Method of compensating error in measuring circle of arc and meter with compensator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62807A JPS62807A (ja) | 1987-01-06 |
| JPS6410762B2 true JPS6410762B2 (ja) | 1989-02-22 |
Family
ID=15114290
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13384186A Granted JPS62807A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 円または円弧等の測定機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62807A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108955494A (zh) * | 2018-09-03 | 2018-12-07 | 武汉建工集团股份有限公司 | 一种便携式弧度测量仪 |
-
1986
- 1986-06-11 JP JP13384186A patent/JPS62807A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62807A (ja) | 1987-01-06 |
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