KR20220146842A - 음극 슬러리 물성 측정 방법 - Google Patents

음극 슬러리 물성 측정 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 음극 슬러리 물성 측정 방법에 관한 것으로, 구체적으로는 반죽 상태의 음극 슬러리에서 도전재, 활물질 및 CMC(carboxy methyl cellulose) 간의 흡착 정도가 평가 가능한 음극 슬러리 물성 측정 방법을 제공하기 위한 것이다.

Description

음극 슬러리 물성 측정 방법{METHOD FOR MEASURING PHYSICAL PROPERTIES OF ANODE SLURRY}
본 발명은 음극 슬러리 물성 측정 방법에 관한 것으로, 구체적으로는 반죽 상태의 음극 슬러리에서 도전재, 활물질 및 CMC(carboxy methyl cellulose) 간의 흡착 정도가 평가 가능한 음극 슬러리 물성 측정 방법에 관한 것이다.
이차전지에서 음극은 활물질, 도전재, 바인더 및 증점제를 믹싱(mixing)하여 음극 슬러리를 생성하고, 생성된 음극 슬러리를 집전체에 도포하여 코팅한 후, 음극 슬러리가 코팅된 집전체를 압연(pressing), 시팅(sitting), 건조(drying)하여 제조될 수 있다.
전지의 성능 및 전극의 생산성 향상을 위해서 음극 슬러리(anode slurry)의 고형분 향상이 필요하지만, 음극 슬러리의 고형분이 높아질수록 분산은 어려워진다.
음극 슬러리의 분산에는 CMC(carboxy methyl cellulose)가 분산제 및 증점제의 역할을 하기 때문에 활물질, 도전재 및 CMC 간의 분산 정도는 최종 슬러리의 물성에 영향을 줄 수 있다.
따라서, 음극 슬러리 제조 시에 음극 슬러리의 분산성을 개선하기 위한 음극 슬러리 물성 평가 방법이 필요하다.
본 발명은 음극 슬러리 물성 측정 방법에 관한 것으로, 구체적으로는 반죽 상태의 음극 슬러리에서 도전재, 활물질 및 CMC(carboxy methyl cellulose) 간의 흡착 정도가 평가 가능한 음극 슬러리 물성 측정 방법을 제공하기 위한 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법은,
증점제로서 CMC(carboxy methyl cellulose)를 포함하는 음극 슬러리를 니딩(kneading) 상태로 준비하는 단계(s1);
측정 막대의 일단부를 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입하고, 상기 측정 막대가 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입되는 삽입 길이 및 상기 삽입 길이에 따른 부하 값을 측정하는 단계(s2); 및
상기 (s2) 단계에서 측정된 상기 부하 값을 상기 삽입 길이 값에 따라 적분하여 니딩 에너지(kneading energy)를 산출하는 단계(s3)를 포함하는 것일 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법에서, 상기 (s1) 단계는,
음극 활물질, 도전재, 상기 CMC, 바인더 및 용매를 포함하는 예비 슬러리를 준비하는 단계(s1-1); 및
상기 예비 슬러리를 교반하여 상기 니딩 상태의 상기 음극 슬러리를 제조하는 단계(s1-2)를 포함하는 것일 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법의 상기 (s1-1) 단계에서 상기 CMC는 상기 음극 활물질 100 중량부에 대하여 0.5 내지 2 중량부의 양으로 포함되는 것일 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법에서 상기 (s2) 단계는,
상기 음극 슬러리를 설정 규격으로 준비하는 단계(s2-1);
상기 음극 슬러리를 측정 수단에 거치하는 단계(s2-2);
상기 측정 막대의 일단부를 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입하는 단계(s2-3); 및
상기 측정 막대가 상기 음극 슬러리에 삽입된 상기 삽입 길이에 따른 부하 값을 수집하는 단계(s2-4)를 포함하는 것일 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법의 상기 (s2-1) 단계에서, 상기 음극 슬러리는 원통 형상의 봉으로 마련되고, 상기 설정 규격은 지름이 2 cm 이상이고 높이 4 cm 이상인 것일 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법의 상기 (s2-3) 단계에서, 상기 측정 막대는 상기 측정 막대는 스텐레스 소재로 형성되는 것일 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법의 상기 (s2-3) 단계에서, 상기 측정 막대는 상기 측정 막대의 길이 방향을 따라 이동하여 상기 음극 슬러리에 삽입되고, 상기 측정 막대는 상기 음극 슬러리에 0.5 내지 2 mm/s 속도로 삽입되는 것일 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법의 상기 (s2-3) 단계에서, 상기 측정 막대의 상기 일단부는 상기 측정 막대의 길이 방향에 대해서 경사면을 포함하도록 형성되는 것일 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법은 음극 슬러리의 반죽 상태를 측정하여, 도전재, 활물질 및 CMC 간의 흡착 정도를 평가할 수 있으며, 최종적으로 음극 슬러리의 분산성을 개선할 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법은 음극 슬러리의 분산성과 관련되는 음극 슬러리 물성을 측정함으로써. 음극 슬러리의 분산성을 개선시키고, 분산성 저하로 인한 전극 코팅 이슈 및 전극 표면 불량률을 개선할 수 있다.
도 1은 본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법을 나타내는 블록도이다.
도 2는 (s1) 단계를 나타내는 블록도이다.
도 3은 음극 슬러리의 니딩 상태를 나타내는 사진이다.
도 4는 (s2) 단계를 나타내는 블록도이다.
도 5는 (s2) 단계에서 측정 시스템을 나타내는 개념도이다.
도 6은 (s2) 단계에서 측정 막대를 나타내는 사시도이다.
도 7은 (s2) 단계에서 측정 막대의 다른 실시 양태를 나타내는 사시도이다.
도 8은 삽입 길이 및 그에 따른 부하 값을 나타내는 그래프이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 구성요소의 크기나 형상 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시될 수 있다. 또한, 본 발명의 구성 및 작용을 고려하여 특별히 정의된 용어들은 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 한다.
도 1은 본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법을 나타내는 블록도이다. 도 2는 (s1) 단계를 나타내는 블록도이다. 도 3은 음극 슬러리의 니딩 상태를 나타내는 사진이다. 도 4는 (s2) 단계를 나타내는 블록도이다. 도 5는 (s2) 단계에서 측정 시스템을 나타내는 개념도이다. 도 6은 (s2) 단계에서 측정 막대를 나타내는 사시도이다. 도 7은 (s2) 단계에서 측정 막대의 다른 실시 양태를 나타내는 사시도이다. 도 8은 삽입 길이 및 그에 따른 부하 값을 나타내는 그래프이다.
이하, 도 1 내지 도 8을 참조하여, 본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법에 대해서 상세히 설명한다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법은 음극 슬러리의 반죽 상태를 물리적 상태를 측정하여, 도전재, 활물질 및 CMC 간의 흡착 정도를 평가할 수 있는 데이터를 확보할 수 있으며, 최종적으로 음극 슬러리의 분산성을 개선하기 위한 데이터를 획득할 수 있다.
본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법은 음극 슬러리의 분산성과 관련되는 음극 슬러리 물성인 니딩 에너지 값을 획득함으로써. 음극 슬러리의 분산성을 개선시키고, 분산성 저하로 인한 전극 코팅 이슈 및 전극 표면 불량률을 개선할 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법은,
증점제로서 CMC(carboxy methyl cellulose)를 포함하는 음극 슬러리를 니딩(kneading) 상태로 준비하는 단계(s1);
측정 막대의 일단부를 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입하고, 상기 측정 막대가 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입되는 삽입 길이 및 상기 삽입 길이에 따른 부하 값을 측정하는 단계(s2); 및
상기 (s2) 단계에서 측정된 상기 부하 값을 상기 삽입 길이 값에 따라 적분하여 니딩 에너지(kneading energy)를 산출하는 단계(s3)를 포함하는 것일 수 있다.
음극 슬러리의 분산에는 CMC가 분산제 및 증점제의 역할을 하기 때문에 활물질, 도전재 및 CMC 간의 분산정도는 최종 음극 슬러리의 물성에 영향을 줄 수 있다. 본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법은 음극 슬러리의 물성을 측정하여 음극 슬러리의 분산 특성을 평가할 수 있다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 음극 슬러리 물성 측정 방법의 (s1) 단계는,
음극 활물질, 도전재, 상기 CMC, 바인더 및 용매를 포함하는 예비 슬러리를 준비하는 단계(s1-1); 및
상기 예비 슬러리를 교반하여 상기 니딩 상태의 상기 음극 슬러리를 제조하는 단계(s1-2)를 포함하는 것일 수 있다.
상기 (s1-1) 단계에서, 상기 음극 활물질은 통상적으로 리튬 이온이 흡장 및 방출될 수 있는 리튬 금속, 탄소재, 금속 화합물 또는 이들의 혼합물을 사용할 수 있다.
구체적으로는 상기 탄소재로는 저결정 탄소 및 고결정성 탄소 등이 모두 사용될 수 있다. 저결정성 탄소로는 연화탄소(soft carbon) 및 경화탄소(hard carbon)가 대표적이며, 고결정성 탄소로는 천연 흑연, 키시흑연(Kishgraphite), 열분해 탄소(pyrolytic carbon), 액정 피치계 탄소섬유(mesophase pitch based carbon fiber), 탄소 미소구체(meso-carbon microbeads), 액정피치(Mesophase pitches) 및 석유와 석탄계 코크스(petroleum or coal tar pitch derived cokes) 등의 고온 소성탄소가 대표적이다.
상기 금속 화합물로는 Si, Ge, Sn, Pb, P, Sb, Bi, Al, Ga, In, Ti, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ag, Mg, Sr, Ba 등의 금속 원소를 1종 이상 함유하는 화합물을 들 수 있다. 이들 금속 화합물은 단체, 합금, 산화물(TiO2, SnO2등), 질화물, 황화물, 붕화물, 리튬과의 합금 등, 어떤 형태로도 사용할 수 있지만, 단체, 합금, 산화물, 리튬과의 합금은 고용량화될 수 있다. 그 중에서도, Si, Ge 및 Sn으로부터 선택되는 1종 이상의 원소를 함유할 수 있고, Si 및 Sn으로부터 선택되는 1종 이상의 원소를 포함하는 것이 전지를 더 고용량화할 수 있다.
상기 (s1-1) 단계에서, 도전재는 전지에 화학적 변화를 유발하지 않으면서 도전성을 가진 것이라면 특별히 제한되는 것은 아니며, 예를 들어, 각각 독립적으로 천연 흑연이나 인조 흑연 등의 흑연; 카본블랙, 아세틸렌 블랙, 케첸 블랙, 채널 블랙, 퍼네이스 블랙, 램프 블랙, 서머 블랙 등의 카본블랙; 탄소 섬유나 금속 섬유 등의 도전성 섬유; 불화 카본, 알루미늄, 니켈 분말 등의 금속 분말; 산화아연, 티탄산칼륨 등의 도전성 위스커; 산화 티탄 등의 도전성 산화물; 폴리페닐렌 유도체 탄소나노튜브(CNT), 탄소나노섬유(CNF) 및 그래핀(Graphene) 탄소 유도체 군에서 선택된 1종을 사용할 수 있다. 바람직하게는 카본 블랙을 사용할 수 있다.
상기 (s1-1) 단계에서, 바인더는 스티렌 부타디엔 고무(Styrene Butadiene Rubber, SBR), 아크릴로니트릴-부타디엔 고무(acrylonitrile-butadiene rubber), 아크릴로니트릴-부타디엔-스티렌 고무(acrylonitrile-butadiene-styrene rubber), 아크릴계 공중합체(acrylic copolymer), PEI(폴리에틸렌이미드), PVA(폴리비닐 알코올), PEO(폴리에틸렌옥사이드), 폴리 아크릴산 (poly acrylic acid) 및 이들의 수소를 Li, Na 또는 Ca 등으로 치환된 고분자 등으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 사용할 수 있으며, 바람직하게는 스티렌 부타디엔 고무(Styrene Butadiene Rubber, SBR)를 사용할 수 있다. 상기 수계 바인더의 중량평균 분자량은 200,000 내지 700,000, 바람직하게는 300,000 내지 400,000 일 수 있다. 상기 분자량 범위의 바인더는 결합특성이 우수하고 및 적절한 점도를 가져 고형분이 균일하게 분포된 슬러리의 제조에 유리하며, 이는 궁극적으로 우수한 전지 성능을 확보하는데 기여할 수 있다.
상기 (s1-1) 단계에서 상기 CMC는 상기 음극 활물질 100 중량부에 대하여 0.1 내지 5 중량부의 양으로 포함되는 것일 수 있다. 예를 들어, 음극 활물질, 도전재, 바인더 및 증점제의 혼합물은 상기 음극 활물질을 92 내지 99 중량부, 도전재를 0.5 내지 2 중량부, 상기 수계 바인더를 0.5 내지 4 중량부, 상기 CMC를 0.5 내지 2 중량부로 포함할 수 있다.
상기 (s2-1) 단계에서, 음극 슬러리는 30 분 동안 40 내지 80 rpm의 조건으로 반죽될 수 있다.예를 들어, 음극 슬러리는 예비 슬러리를 PRIMIX 社의 TK mixer를 통해 교반하여 획득할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, (s2-1) 단계가 완료되면 음극 슬러리가 봉(封)의 형태로 형성될 수 있다. 도 3에는 음극 슬러리가 두개의 봉으로 형성되어 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 음극 슬러리 물성 평가 방법의 상기 (s2) 단계는,
상기 음극 슬러리를 설정 규격으로 준비하는 단계(s2-1);
상기 음극 슬러리를 측정 수단에 거치하는 단계(s2-2);
상기 측정 막대의 일단부를 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입하는 단계(s2-3); 및
상기 측정 막대가 상기 음극 슬러리에 삽입된 상기 삽입 길이에 따른 부하 값을 수집하는 단계(s2-4)를 포함하는 것일 수 있다.
상기 (s2-1) 단계에서, 상기 음극 슬러리는 원통 형상의 봉으로 마련될 수 있으며, 상기 설정 규격은 지름이 2 cm 이상이고 높이 4 cm 이상인 것일 수 있다. 음극 슬러리의 설정 규격은 음극 슬러리의 양 또는 형상이 측정에 영양을 주지 않는 범위에서 고려될 수 있다.
도 5에 도시된 바와 같이, 상기 (s2-2) 단계에서, 측정 수단은 음극 슬러리에 삽입되는 측정 막대(13)와, 음극 슬러리를 지지하는 지지대를 포함하는 것일 수 있다. 예를 들어 측정 수단은 TA(Texture Analyzer) 장치일 수 있다. 지지대는 측정 막대(13)의 길이 방향(z축 방향)에 수직한 평면인 거치면을 포함할 수 있으며, 음극 슬러리는 상기 거치면에 거치될 수 있다.
상기 (s2-3) 단계에서, 상기 측정 막대(13)는 스텐레스 소재로 형성되는 것일 수 있다. 측정 막대(13)의 소재는 강성 및 내화학성을 고려하여 결정될 수 있다.
도 5에 도시된 바와 같이, 상기 (s2-3) 단계에서, 상기 측정 막대(13)는 상기 측정 막대(13)의 길이 방향을 따라 이동하여 상기 음극 슬러리에 삽입되고, 상기 측정 막대(13)는 상기 음극 슬러리에 0.5 내지 2 mm/s 속도로 삽입되는 것일 수 있다. 측정 막대(13)의 삽입 속도는 측정장비와 시료간의 분해능(resolution)을 고려하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 측정 막대(13)의 삽입 속도는 1 mm/s 일 수 있다.
상기 (s2-3) 단계에서, 상기 측정 막대(13)의 상기 길이 방향에 수직한 상기 측정 막대(13)의 단면적의 면적은 1 mm2 내지 100 mm2 인 것일 수 있다. 예를 들어, 측정 막대(13)의 단면의 형상은 정사각으로 형성되며, 5 mm x 5 mm의 크기로 마련될 수 있다. 측정 막대(13)의 단면은 형상 및 크기는 Tk mixer의 수용되는 음극 슬러리의 봉의 크기(설정 규격)를 고려하여 형성될 수 있다.
도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 측정 막대(13)의 상기 일단부는 상기 측정 막대(13)의 길이 방향에 대해서 경사면을 포함하도록 형성되는 것일 수 있다. 구체적으로, 측정 막대의 일단부(13a)는 삼각뿔, 사각뿔, 다각뿔, 반구, 원뿔 등으로 형성될 수 있다. 측정 막대의 일단부(13a)에서 가장 돌출된 부분은 측정 막대(13)의 길이 방향에 수직한 측정 막대(13)의 단면에서 중앙에 위치할 수 있다. 상기와 같은 형상으로 측정 막대의 일단부(13a)가 마련됨으로써, 비교적 점도가 높은 음극 슬러리에 삽입될 때 치우짐없이 정위치로 측정 막대(13)는 삽입될 수 있다.
상기 (s2-4) 단계에서, 측정 막대의 삽입 길이에 따른 측정 막대 또는 음극 슬러리에 가해지는 부하 값을 측정할 수 있다. 부하 값은 측정 막대의 삽입 시작부터 종료까지 각 삽입 길이에 해당하는 값으로 획득될 수 있다. 따라서, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 (s2-4) 단계에서 획득된 값은 삽입 길이-부하 값의 2차원 그래프로 획득될 수 있다. 즉, 상기 (s2-4) 단계에서, 삽입 길이를 독립 변수로 하고, 부하 값을 종속 변수로 하는 함수가 획득될 수 있다.
상기 (s3) 단계에서, 상기 (s2-4) 단계에서 획득된 부하 값을 삽입 길이로 적분하여 니딩 에너지 값을 획득할 수 있다. 상기 (s3) 단계에서, 적분 구간은 측정된 부하 값이 0 이상이 될 때의 삽입 길이 값부터, 부하 값이 최대 값이 돌 때의 삽입 길이 값으로 결정될 수 있다.
니딩 에너지는 활물질, 도전재, CMC 간의 분산 정도와 필터링 물성 관계를 가질 수 있다. 따라서, 니딩 에너지가 클수록 음극 슬러리는 분산이 더 잘되었다고 판단할 수 있다. 필터링 물성은 일정 크기의 입자를 필터링하는 필터에 대한 통과 여부에 대한 것일 수 있다.
실시예 1
인조흑연 음극 활물질을 준비하였다. 이어서 도전재로 CNT, 증점제 카복시메틸셀룰로오스(CMC, 분자량 1,200,000), 바인더로 스티렌 부타디엔 고무(SBR)를 준비하였으며, 음극활물질/도전재/CMC/바인더를 96.1:0.5:1.1:2.3의 중량비로 혼합하고, 용매인 물과 함께 혼합하여 예비 슬러리를 제조하였다.
예비 슬러리는 제1 예비 슬러리와 제2 예비 슬러리를 포함하고, 제1 예비 슬러리는 도전재, CMC, 음극활물질 및 물을 포함하며, 제2 예비 슬러리는 CMC, 물 및 바인더를 포함하도록 준비하였다. 제1 예비 슬러리와 제2 예비 슬러리에서 CMC 비율은 66.1:33.9의 중량비로 배분하였다.
예비 슬러리는 TK mixer를 통해 60 rpm의 조건으로 30분 동안 교반되었다. 제1 예비 슬러리를 먼저 교반하고, 교반 중에 제2 예비 슬러리를 추가하여 교반하였다.
제조된 음극 슬러리에 5mm x 5 mm x 100 mm 의 측정 막대를 1 mm/s의 속도로 삽입시켜 삽입 깊이와 부하 값을 측정하였다.
실시예 1에서 니딩 에너지는 187.9 mJ로 산출되었다.
실시예 2
실시예 2는 제1 예비 슬러리와 제2 예비 슬러리에서 CMC 비율은 60.9:39.1의 중량비로 배분하고, 실시예 1과 동일하게 수행되었다.
실시예 2에서 니딩 에너지는 253.7 mJ로 산출되었다.
실시예 1 실시예 2
음극 슬러리 조성 인조흑연/도전재/CMC/SBR=96.1/0.5/1.1/2.3
제1 예비 슬러리와 제2 예비 슬러리에서 CMC 비율 66.1/33.9 60.9/39.1
니딩 에너지[mJ] 187.9 253.7
Cobetter RK (150㎛) 필터 통과 유무 X O
상기의 실시예 1의 음극 슬러리와 실시예 2의 음극 슬러리에서 니딩 에너지는 각각 187.9 mJ 및 253.7 mJ으로 산출되었으며, 더 큰 니딩 에너지를 가지는 실시예 2의 음극 슬러리는 Cobetter RK (150㎛) 필터 통과함으로써, 더 분산이 잘된 것을 알 수 있다. Cobetter RK (150㎛) 필터는 전극 생산 시 불량을 야기할 수 있는 150㎛ 이상의 뭉친 입자를 걸러내는 것으로, 니딩 에너지 산출을 통해서, 실시예 1과 같은 음극 슬러리를 사전에 스크리닝할 수 있다.
이상에서 본 발명에 따른 실시예들이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 범위의 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 다음의 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.

Claims (8)

  1. (s1) 증점제로서 CMC(carboxy methyl cellulose)를 포함하는 음극 슬러리를 니딩(kneading) 상태로 준비하는 단계;
    (s2) 측정 막대의 일단부를 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입하고, 상기 측정 막대가 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입되는 삽입 길이 및 상기 삽입 길이에 따른 부하 값을 측정하는 단계; 및
    (s3) 상기 (s2) 단계에서 측정된 상기 부하 값을 상기 삽입 길이 값에 따라 적분하여 니딩 에너지(kneading energy)를 산출하는 단계를 포함하는 것인 음극 슬러리 물성 측정 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 (s1) 단계는,
    (s1-1) 음극 활물질, 도전재, 상기 CMC, 바인더 및 용매를 포함하는 예비 슬러리를 준비하는 단계; 및
    (s1-2) 상기 예비 슬러리를 교반하여 상기 니딩 상태의 상기 음극 슬러리를 제조하는 단계를 포함하는 것인 음극 슬러리 물성 측정 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 (s1-1) 단계에서 상기 CMC는 상기 음극 활물질 100 중량부에 대하여 0.5 내지 2 중량부의 양으로 포함되는 것인 음극 슬러리 물성 측정 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 (s2) 단계는,
    (s2-1) 상기 음극 슬러리를 설정 규격으로 준비하는 단계;
    (s2-2) 상기 음극 슬러리를 측정 수단에 거치하는 단계;
    (s2-3) 상기 측정 막대의 일단부를 상기 니딩 상태의 음극 슬러리에 삽입하는 단계; 및
    (s2-4) 상기 측정 막대가 상기 음극 슬러리에 삽입된 상기 삽입 길이에 따른 부하 값을 수집하는 단계를 포함하는 것인 음극 슬러리 물성 측정 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 (s2-1) 단계에서,
    상기 음극 슬러리는 원통 형상의 봉으로 마련되고,
    상기 설정 규격은 지름이 2 cm 이상이고 높이 4 cm 이상인 것인 음극 슬러리 물성 측정 방법.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 (s2-3) 단계에서,
    상기 측정 막대는 상기 측정 막대는 스텐레스 소재로 형성되는 것인 음극 슬러리 물성 측정 방법.
  7. 제4항에 있어서,
    상기 (s2-3) 단계에서,
    상기 측정 막대는 상기 측정 막대의 길이 방향을 따라 이동하여 상기 음극 슬러리에 삽입되고,
    상기 측정 막대는 상기 음극 슬러리에 0.5 내지 2 mm/s 속도로 삽입되는 것인 음극 슬러리 물성 측정 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 (s2-3) 단계에서,
    상기 측정 막대의 상기 일단부는 상기 측정 막대의 길이 방향에 대해서 경사면을 포함하도록 형성되는 것인 음극 슬러리 물성 측정 방법.
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