KR850006902A - 전압레벨 검출회로 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (12)
- 제1및 제2공급라인들간에 연결된 전압레벨 검출회로에 있어서, 상기 제1공급라인과 공동노드간에 연결되는 상기 제1공급라인에 연결된 게이트를 갖는 제1공핍형 금속절연 반도체(MIS)트랜지스터와, 상기 공동노드와 상기 제2공급라인간에 연결되는 상기 제2공급라인에 연결된 게이트를 갖는 제2공핍형 트랜지스터와, 그리고 상기 공통노드의 전위가 예정값에 도달할때 출력신호를 발생시키기 위해 상기 공통노드에 연결된 수단으로 구성되는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제1항에서, 상기 출력신호 발생수단은 전압레벨 검출신호에 반응하여 논리신호를 출력시키도록 예정된 임계전압을 갖는 반전기회로를 포함하는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제2항에서, 상기 반전기회로는 직렬연결된 공핍형과 고양형 트랜지스터들을 갖는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제1항에서, 상기 출력신호 발생수단은 공통노드에 연결된 입력단자를 갖는 제1반전기 수단과 상기 제1반전회로의 출력단자에 연결된 입력단자를 갖는 제2반전기회로를 포함하며, 상기 전압레벨 검출회로는 제1공핍형 MIS트랜지스터의 드레인에 연결된 드레인, 제1공핍형 MIS트랜지스터의 소오스에 연결된 소오스와 출력신호 발생수단의 출력단자에서 안정된 출력신호를 출력시키도록 상기 출력신호 발생수단의 상기 출력단자에 연결된 게이트를 갖는 제3공핍형 MIS트랜지스터를 더 포함하는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제4항에서, 상기 각 인버터회로들은 직렬로 연결된 공핍형 및 고양형 트랜지스터들을 갖는 것의 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제1항에서, 상기 전압레벨 검출회로는 제1공핍형 MIS트랜지스터의 드레인에 연결된 드레인, 제1공핍형 MIS트랜지스터의 소오스에 연결된 소오스와 출력신호 발생수단의 출력단자에서 안정된 출력신호를 출력시키도록 상기 출력신호 발생수단의 상기 출력단자에 연결된 게이트를 갖는 제3공핍형 MIS트랜지스터를 더 포할하는 것이 특징인 전압레벨 거출회로.
- 제6항에서 상기 출력신호 발생수단은 전압레벨 검출신호에 반응하는 논링신호를 출력시키도록 예정된 임계전압을 갖는 반전기회로를 포할하는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제7항에서, 상기 반전기회로는 직렬로 연결된 공핍형 및 고양형 트랜지스터들을 갖는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제1항에서, 상기 출력신호발생수단의 상기 출력값은 전압레벨 검출신호를 출력시키기 위한 예정값보다 더 낮은 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제1항에서, 상기 출력신호 발생수단으로부터의 상기 출력신호는 능동회로들을 작동시키기 위해 이용되는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제1항에서, 상기 제1전압공급라인은 직류(DC)전원에 연결되며, 상기 제2전압공급라인은 접지이 연결되는 것이 특징인 전압레벨 검출회로.
- 제11항에서, 상기 DC전원의 정격전압은 5V이며, 전압레벨검출신호를 출력시키기 위한 상기 예정레벨은 약 3V인 것이 특징인 전압레벨 검출회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59-35112 | 1984-02-28 | ||
| JP59035112A JPS60180216A (ja) | 1984-02-28 | 1984-02-28 | 電圧検知回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR850006902A true KR850006902A (ko) | 1985-10-21 |
| KR900004195B1 KR900004195B1 (ko) | 1990-06-18 |
Family
ID=12432848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019850001190A Expired KR900004195B1 (ko) | 1984-02-28 | 1985-02-26 | 전압레벨 검출회로 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4682051A (ko) |
| EP (1) | EP0155113B1 (ko) |
| JP (1) | JPS60180216A (ko) |
| KR (1) | KR900004195B1 (ko) |
| DE (1) | DE3580501D1 (ko) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63755A (ja) * | 1986-06-20 | 1988-01-05 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
| US4736119A (en) * | 1987-02-04 | 1988-04-05 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Dynamic CMOS current surge control |
| JPH04106784A (ja) * | 1990-08-28 | 1992-04-08 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
| JP3217498B2 (ja) * | 1992-10-29 | 2001-10-09 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路装置 |
| JPH06334480A (ja) * | 1993-05-25 | 1994-12-02 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
| FR2822956B1 (fr) | 2001-04-02 | 2003-06-06 | St Microelectronics Sa | Dispositif de detection d'alimentation |
| FR2871309B1 (fr) * | 2004-06-02 | 2006-12-15 | St Microelectronics Sa | Circuit d'inhibition a faible consommation |
| CN100442772C (zh) | 2005-10-19 | 2008-12-10 | 华为技术有限公司 | 一种桥接转发方法 |
| TR200701135A2 (tr) * | 2007-02-23 | 2008-09-22 | Vestel Elektron�K San. T�C. A.�. | İstenilmeyen I2C okuma/yazma işlemlerinin engellenmesi |
| US8154320B1 (en) * | 2009-03-24 | 2012-04-10 | Lockheed Martin Corporation | Voltage level shifter |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3950654A (en) * | 1974-11-14 | 1976-04-13 | American Microsystems, Inc. | Power-on initializing circuit for a calculator system |
| JPS5179540A (en) * | 1975-01-06 | 1976-07-10 | Hitachi Ltd | Dengentonyugono shokijotaisetsuteikairo |
| CH607455A5 (ko) * | 1975-05-09 | 1978-12-29 | Siemens Ag | |
| JPS5373340A (en) * | 1976-12-11 | 1978-06-29 | Toshiba Corp | Abnormal voltage detection circuit |
| JPS6019011B2 (ja) * | 1977-12-23 | 1985-05-14 | 株式会社日立製作所 | オートクリア回路 |
| GB2081458B (en) * | 1978-03-08 | 1983-02-23 | Hitachi Ltd | Voltage comparitors |
| JPS55149871A (en) * | 1978-07-31 | 1980-11-21 | Fujitsu Ltd | Line voltage detector |
| US4301380A (en) * | 1979-05-01 | 1981-11-17 | Motorola, Inc. | Voltage detector |
| JPS56122225A (en) * | 1980-02-29 | 1981-09-25 | Fujitsu Ltd | Power on reset circuit |
| US4463270A (en) * | 1980-07-24 | 1984-07-31 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | MOS Comparator circuit |
| JPS57168525A (en) * | 1981-04-09 | 1982-10-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Detecting circuit of power supply voltage |
| US4460985A (en) * | 1982-02-19 | 1984-07-17 | International Business Machines Corporation | Sense amplifier for MOS static memory array |
-
1984
- 1984-02-28 JP JP59035112A patent/JPS60180216A/ja active Pending
-
1985
- 1985-02-26 KR KR1019850001190A patent/KR900004195B1/ko not_active Expired
- 1985-02-27 EP EP85301312A patent/EP0155113B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-02-27 DE DE8585301312T patent/DE3580501D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1985-02-27 US US06/706,284 patent/US4682051A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0155113A2 (en) | 1985-09-18 |
| KR900004195B1 (ko) | 1990-06-18 |
| EP0155113A3 (en) | 1987-01-14 |
| DE3580501D1 (de) | 1990-12-20 |
| EP0155113B1 (en) | 1990-11-14 |
| US4682051A (en) | 1987-07-21 |
| JPS60180216A (ja) | 1985-09-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| G160 | Decision to publish patent application | ||
| PG1605 | Publication of application before grant of patent |
St.27 status event code: A-2-2-Q10-Q13-nap-PG1605 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 19930512 Year of fee payment: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 19940619 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 19940619 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |