TW200423441A - Light emitting devices - Google Patents

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Alexei A Erchak
Eleftrios Lidorikis
Chi-Yan Luo
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Description

200423441 五、發明說明(2) 【發明所屬之技術領域】 本發明有關於一種發光裝置及其相關元件、系統及方 法。 【先前技術】 相較於白熾燈或電燈(incandescent light source) 及/或螢光燈(fluorescent light source)而言,發光二 極體(light emitting diode,LED)所提供之光線係可具 有較高的效能。此外,由於LEDs之相關設備係可提供相當 高的電力效率(power efficiency),藉此已於各式各樣的 照明設施之中取代了傳統的光源(1 i g h t s 〇 u r c e s )。例 如·· LEDs係用以做為交通用燈(traffic lights)之使用、 用以對於電話鍵盤(cell phone keypads)與顯示器 (displays)等進行照明。 一般而言,LED係由複數層結構(mu 1 tipi e layers )所 形成’其中,於複數層結構中之至少部分的層結構係由不 同的材料所製成,並且藉由這些層結構之材質、厚度決定 了 LED所發出光線之波長(wave!ength)。另一方面,經由 對於這些層結構之化學成份(chemicai的選 擇作用下,如此係可以對於其光動力(〇ptical p〇wer)進 行相當有效能的收縮,並且對於所射出之電載子 (electrical charge carriers)進行隔離,如此以避免其 進入某些特定區域(regi〇ns)( 一般稱之為量子井(quantum wells))。通常,於量子井所生成位置之接面(juncti〇n)
1057-6274-PF(N2).ptd 第6頁 200423441 五、發明說明(3) ' 之一側邊的層結構上係摻雜了給予體原子(d〇n〇r atoms),藉此以導致高電子濃度(eUctr〇n concentration)(通常稱這些層結構為11型層結構(n — type layers))的產生;另外,於其相對侧邊之層結構上係摻雜 ^受體原子(acceptor atoms),藉此以導致相當高的電洞 濃度(hole concentration)(通常稱這些層結構為?型層結 構(P-type layers)) 〇 以下將針對LED之製作方式提出說明。於晶圓(wafer) 之製作過程中係形成了複數材料層。一般而言,這些層結 構係藉由羞晶沉積技術(e p i t a X i a 1 d e ρ 〇 s i t i ο η techni que)所形成,例如:金屬有機化學氣相沉積 (metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD) 5 於其成長基底(growth substrate)之上係已預先形成了沉 積層結構。隨後’精由各種钱刻及金屬化技術(e t c h i n g and metallization techniques)對於這些外露的層結構 進行電流注入用之接觸墊(c ο η ΐ a c t)之製作,隨後便可對 於晶圓進行切割以製作出個別LED晶片(LED chips)。通 常,經切割後之個別LED晶片係利用封裝技術加以包覆。 當進行LED之操作時,一般係將電能(electrical energy)注入於LED之中,此電能隨後便可轉換為電磁輻射 (electromagnetic radiation)(光線),部分的電磁輻射 或光線便可經由L E D而被引出。 【發明内容】
1057-6274-PF(N2).ptd 第7頁 200423441 五、發明說明(4) 有鑑於此,本發明之目的就在於提供一種發光裝置及 其相關元件、系統及方法。 於一實施例中,本發明發光裝置之特徵在於其包括一 多重推疊材料層(multi - layer stack of materiai),其 中,多重推疊材料層包括一光產生區域 (light-generating region)及一第一層(first layer), 第一層係由光產生區域所支承。第一層包括一表面 (surface) ’由光產生區域所產生之光線便可經由第一層 之表面而自發光裝置發出。於此表面係具有一介電函數 (dielectric function),介電函數係根據一圖樣 (pa11erη)而進行空間上的改變,並且圖樣係具有理想晶 格常數(lattice constant)及大於零之調變參數 (detuning parameter) ° 於另一實施例中,本發明發光裝置之特徵在於其包括 =多重推疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一光產生 區域與一第一層,第一層係由光產生區域所支承。第一層 包括一表面,由光產生區域所產生之光線便可經由第一層 ^表面而自發光裝置發出。於此表面係具有一介電函數, ’I電函數係根據一非周期性圖樣(n⑽patterns) 而進行空間上的改變。 _夕於又一實施例中,本發明發光裝置之特徵在於其包括 了多重推疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一光產生 =域與第一層,第一層係由光產生區域所支承。第一層 〇括表面’由光產生區域所產生之光線便可經由第一層
第8頁 200423441 五、發明說明(5) 之表面而自發光裝置發出。於此表面係具有一介電函數, 介電函數係根據一複雜周期性圖樣(c 〇 m p 1 e X p e r i 〇 d i c p a 11 e r n s )而進行空間上的改變。 於又一實施例中,本發明發光裝置之特徵在於其包括 一多重推疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一η摻雜 材料層(a layer of η - doped material)、一p 摻雜材料層 (a layer of p-doped material )及一光產生區域。發光 裝置另外包括一反射材料層(a layer of a reflective material),由光產生區域所產生、且撞擊在具有反射材 料層上之至少約5 0 %之光線(1 i gh t)係會被反射材料層之反 射材料所反射。在η推雜材料層之表面之作用下,由光產 生區域所產生之光線便可經由η摻雜材料層之表面而自發 光裝置發出。η摻雜材料層之表面係具有一介電函數,此 介電函數係根據一圖樣而進行空間上的改變,並且於ρ摻 雜材料層與反射材料層之間的距離係小於η摻雜材料層與 反射材料層之間的距離。 於又一實施例中,本發明發光裝置之特徵在於其包括 一多重推疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一光產生 區域與一第一層,第一層係由光產生區域所支承。第一層 包括一表面’由光產生區域所產生之光線便可經由第一声 之表面而自發光裝置發出。於此表面係具有一介電函數, 介電函數係根據一圖樣而進行空間上的改變。發光裝置另 外包括一反射材料層,光產生區域所產生、且撞擊在具有 反射材料層上之光線的至少約50%係會被反射材料層之反
200423441 五、發明說明(6) 射材料所反射。光產生區域係位於反射材料層與第一# 間,並且圖樣係不會延伸超過了第一層。 ㈢〃 層之 於另一實施例中,本發明發光裝置之特徵在於並勺 一多重推疊材料層,其中,多重推疊材料声 匕 生區域與一第一層,第一層係由光產生區‘所t承了 層包括一表面,由光產生區域所產生之光線便可經由第一 層之表面而自發光裝置發出。發光裝置另外包括了折 (」ndeX 〇f refracti〇n)小於15之材料,藉此以接觸於第 一層之表面。發光裝置係經由封裝方式而加以包覆。 於又二實施例中,本發明發光裝置之特徵上^其包 材料層’其’,多重推疊材料層包括-光產生 &域a —弟一層,第一層係由光產生區域所支承。第一声 包f-表面,由光產生區域所產生之光線便可經由第一; j面而自發光裝置發出。於此表面係具有一介電函數「 ;丨電函數係根據一圖樣而進行空間上的改變。 壯 ”括 ^材料(phosph〇r material) ’ 此碟㈣二第 一層之表面所支承。發光裝置之側壁(si 係完全不具有磷材料。 貝貝上 之方:又,本發明之特徵在於提供了製作晶圓 ί ί : t 包括了將一磷材料設置於晶圓之表面 括係包括了複數發光裝置,各發光裝置包 層’其中’多重推疊材料層包括-光產 第一層係由光產生區域所支承。第-曰匕、、,產生區域所產生之光線便可經由第一 1057-6274-PF(N2).ptd 第10頁 200423441 五、發明說明(7) 層之表面而自發光裝置發出。於此表面係具有一介電函 數,介電函數係根據一圖樣而進行空間上的改變。 於又一實施例中,本發明發光裝置之特徵^於其包括 一多重推疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一光產生 區域與一第一層,第一層係由光產生區域^支承。第一層 包括一表面’由光產生區域所產生之光線便可經由第一層 之表面而自發光裝置發出。於此表面係具有一介電函數: 介電函數係根據一圖樣而進行空間上的改變。發光裝置另 外包括一磷材料,由光產生區域所產生之光線便可經由第 層之表面發出’並且與鱗材料之間產生交互作用,使得 經由磷層(phosphor layer)所發出之光線於實質上係為白 光(white light)。發光裝置之高度(height)與其面積 (area)之間的比值(rat i 〇)係小到足以允許白光可以任何 方向進行延伸。 於一實施例中,本發明發光裝置之特徵在於其包括一 多重推疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一光產生區 域與一第一層,第一層係由光產生區域所支承。第一層包 括一表面,由光產生區域所產生之光線便可經由第一層之 表面而自發光裝置發出。發光裝置另外包括一第一薄片 (first sheet)與一第二薄片(second sheet),其中,第 一薄片之材質於貫質上係為透明(tranSparent),藉此係 可讓光線自發光裝置而發出;第二薄片係包括了磷材料, 並且第二薄片係鄰接於第一薄片。發光裝置係經由封裝方 式而加以包覆,並且第一薄片、第二薄片係共同構成了用
200423441 五、發明說明(8)
以對於發光裝置進行包 於另一實施例中, 一多重推疊材料層,其 區域與一第一層,第一 包括一表面,由光產生 之表面而自發光裝置發 介電函數係根據一圖樣 用下,由光產生區域所 面所發出光線之光線分 斯分佈(lambertian di 覆之封裝(package)的_部分。 本發明發光裝置之特徵在其包 中’多重推疊材料層包括一 層係由光產生區域所支承。々產生 區域所產生之光線便可經由土〜層 出。於此表面係具有_介恭第〜層 而進行空間上的改變。恭^數, 產生、且自發光裝置之第〜之作 ^ 佈的相互平行性係比光線之& 5表 stribution)為佳。 替也 於又一實施例中,本發明之特徵在於晶圓包接 發光裝置,其中,至少一部分之發光裝置係包括〜$複麩 疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一光產生區=重推 第一層,第一層係由光產生區域所支承。第一層包^輿〜 面,由光產生區域所產生之光線便可經由第一層史參〜表 自發光I置發出。於此表面係具有一介電函數,介電 係根據一圖樣而進行空間上的改變。在圖樣之作用下函麩 光產生區域所產生、且自發光裝置之第一層之表兩所’由 光線之光線分佈的相互平行性係比光線之拉普拉斯八I出 佳。於每平方公分之晶圓包括了至少5個(例如:至稀為 個、至少5 0個)發光裝置。 ^ 2 5 聲 疊 第 於一實施例中,本發明之特徵在於晶圓包括 光裝置’其中,至少一部分之發光裝置係包括一 材料層’其中’多重推疊材料層包括一光產生區
1057-6274-PF(N2).ptd 第12頁 200423441 五、發明說明(9) 一層, 面,由 自發光 係根據 產生、 如:至 發光裝 於 一多重 第一層包括一表 經由第一層之表面而 介電函數,介電函教 並且由光產生區域所 之至少約為4 5 % (例 少約為7 0 % )係會經由 在於發光裝置係包括 材料層包括一光產生 區域所支承。第一層 光線便可經由第一層 係具有一邊緣 為1公釐 第一層係由光產生區域所支承 光產生區域所產生之光線便可 裝置發出。於此表面係具有一 一圖樣而進行空間上的改變, 且由發光裝置所發出之光總量 少約為50%、至少約為6〇%二至 置之上表面而發出。 表面’由光產生區域所產生之 之表面而自發光裝置發出。發光裝置 (e d g e),此一邊緣的長度係可至少約 另一實施例中,本發明之特徵 推疊材料層,其中,多重推疊 區域與一第一層,第一層係由光產生 包括 (mm) (millimeter)(例如:至少約為丨· 5 mm、至少約為2 mm、至少約為2 · 5 mm);此外,在適當之設計下,發光装 置之引出效率(extract ion efficiency)於實質上^與邊 緣的長度無關。 ” ^ 於又一實施例中,本發明之特徵在於發光裝置係包栝 一多重推疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一光產生 區域與一第一層,第一層係由光產生區域所支承。第一層 包括表面’由光產生區域所產生之光線便可經由第一層 之表面而自發光裝置發出。發光裝置係具有一邊緣,此/ 邊緣的長度係可至少約為1 mm (例如:至少約為1. 5 mm、 至少約為2 mm、至少約為2. 5 mm );此外,在適當的設計
200423441 五、發明說明(10)_ ' ---- 每晰I光裝置之電光轉換效率(waU Plug efficiency)於 貝貝上係與邊緣的長度無關。 夕於一實施例中,本發明之特徵在於發光裝置係包括一 =重推疊材料層,其中,多重推疊材料層包括一光產生區 ^二—第一層,第一層係由光產生區域所支承。第一層包 ^表面,由光產生區域所產生之光線便可經由第一層之 =面而自發光裝置發出。發光裝置係具有一邊緣,此一邊 了的長度係可至少約為1 mm(例如:至少約為15 mm、至 父約為2 mm、至少約為2.5顏);另外,在適當地發 置進行設計下,其量子效率(quantum efficiency)於 貫吳上係與邊緣的長度無關。 於另一貫施例中,本發明之特徵在於製作發光裝置之 方法,其係將具有一反射材料層結合至—p摻雜材料層, 其中,發光裝置包括一多重材料推疊層,多重材料推疊層 包括P摻雜材料層、一光產生區域與一第一層。第一層包 t一表面,表面係具有一介電函數,介電函數係根據s一圖 樣(pat tern)而進行空間上的改變,由光產生區域所產 士、、且撞擊在具有反射材料層上之光線中的至少約5〇%係 會被反射材料層之反射材料所反射。 於^實施例中,本發明之特徵在於製作發光裝置之 =法,其係對於與一第一層結合之—基底進行剝離 (disbonding)。於第一層係形成了一多 :分,多重材料推疊層包括一光產生c:域重材二 成之發光裝置中之第-層之一表面具有一介電函數:介電
200423441 五、發明說明(11) 函數係根據一圖樣而進行空間上的改變。 點。以下將措由本發明之各實施例說明其所具有之各項優 r ^重材料推豎層係可由一多重半導體材料推疊層 (multi-layer stack 〇f . 曰 成。第-層係可為1摻雜6;=="如ial )所製 〜雜+導體材料層(a layer Of materiai),並且多重推疊材料 層係更可包括1摻雜半導體材料層(a 一。f p_:: seimconductor· material)。光產生區域係可位於n摻雜 導體材料層、p摻雜半導體材料層之間。 發光f置更可包括一支承構件(support),藉此以支 承多重推$材料層。 發光裝置另外包括一反射材料層,光產生區域所產 生、且撞擊在具有反射材料層上之光線的至少約5 〇 %係會 被反射材料層之反射材料所反射。反射材料層係可位於支 承構件、多重推豐材料層之間。於p摻雜材料層與反射材 料層之間的距離係小於η摻雜材料層與反射材料層之間的 距離。發光裝置更可包括一ρ型歐姆式接觸(p-type 〇hmic contac t),其中,p型歐姆式接觸係位於p摻雜材料層與反 射材料層之間。 發光展置更可包括一電流散佈層(CUrren卜spreading layer) ’其中’電流散佈層係位於第一層、光產生區域之 間。 多重材料推疊層係可由半導體材料所製成,例如·· l〇57-6274-PF(N2).ptd 第15頁 200423441 五、發明說明(12) III-V 無半導體材料(III—V semiconductor materials)、 有機半導體材料(organic semiconductor materials)、 石夕(silicon)。 於部分實施例中,圖樣係可不必延伸至光產生區域之 中 〇 於部分實施例中,圖樣係可不必延伸至第一層之上。 發光裝置更可包括了複數電接觸塾(electrical contact pad),經由這些電接觸墊的設計下係可將電流注 入於發光裝置。電接觸墊係可設計成可將電流以垂直注入 於發光裝置。 圖樣係可局部地選自於以下各種構成方式 (component)或其相互間的組合,例如··於第一層之表面 上形成了孔洞(h ο 1 e s )、於第一層之中形成有柱體結構 (pillars)、於第一層之中形成有連續脈紋(veins)。 於部分實施例中,圖樣之樣式係選自於三角圖樣 (triangular pattern)、方型圖樣(square pattern)及格 栅狀圖樣(grating pattern)。 於部分實施例中,圖樣之樣式係選自於非周期性圖樣 (aperiodic patterns)、準晶圖樣(quasicrysta 11ine patterns)、羅賓遜圖樣(Robinson pattern)及安曼圖樣 (Amman patterns)。於部分實施例中,圖樣係為一彭羅斯 圖樣(Penrose pat tern) 〇 於部分實施例中,圖樣之樣式係選自於蜂巢狀圖樣 (honeycomb pat terns)、阿基米得圖樣(Arch im i dean
1057-6274-PF(N2).ptd 第16頁 200423441 五、發明說明(13) pa11er ns)。在特定實施例中,不同直徑之孔洞係可形成 於圖樣(例如:蜂巢狀圖樣)之上。 於部分實施例中,圖樣係可由局部形成於第一層之表 面上的孔洞所構成。 舉例而言,調變參數係可至少約為晶格常數之丨%及/ 或2 5 %。於部分實施例中,圖樣係可對應於經實質上任意 調變之一理想圖樣(ideal pattern)。 在對於圖樣進行適當的設計下,由第一層之表面所發 出之光線係具有轉射模態(radiation modes)之光譜 (spectrum),並且此輻射模態之光譜於實質上係相同於光 產生區域之一特徵發射(characteristic emission spectrum) ° 舉例而言,發光裝置係可為一發光二極體(light emitting diode)、雷射(laser)或一光放大器(optical amplif iers)。發光裝置係由複數有機發光二極體 (organic light-emitting devices,OLEDs)、複數面射 型發光二極體(flat surface-emitting LEDs)、複數高亮 度發光二極體(HBLEDs)。 於部分貫施例中,第一層之表面係可具有尺寸約小於 λ / 5之特徵’其中,λ係為可被第一層所發射之光線的波 長。 於特定實施例中,發光裝置係經由封裝方式而加以包 覆(例如·以封裝晶粒(p a c k a g e d d i e)之型態呈現)。於部 分實施例中,經封裝之發光裝置係可以不必採用封膠材料
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層(encapsulant material) 〇 於部分實施例中,與第一層之表面 一氣體(gas)(例如:空氣(air)),並且μ *觸之材料係為 力係略小於1 00托(Torr)。 氣體所具有之壓 於特定實施例中,與第一層之表面相 有之折射率至少約為1。 接觸之材料所具 於部分實施例中,封裝LED係包括—# 蓋板中包括了磷材料。在適當設計蓋板之盖板(C〇ver) i於 所產生之光線便可經由第一層之表面於下’光產生區域 間產生交互作用,並且經由第一層之^ ^可與磷材料之 料之間產生交互作用下,其經由蓋板戶^ ^出且可與磷材 上後為白亦‘。. 板所發出之光線於實質 於特定實施例中,發光裝置更可句虹 ^ _ , 匕枯一苐一簿片盘 第二薄片。第一薄片之材質於實質上/、 只只丄1乐為透明,拉 讓光線自發光裝置而發出。於第二薄片中 ^ # 粗,结-益U W如a ^ ^ Τ货、包括了填材 料 第二薄片係鄰接於第一薄片,並且於第一薄片 第 層之表面之間係可設置了具有折射率至少約:之一 質(material)。在第一薄片與第二薄片之設叶下,光產 之光線便可經由第—層之表面發出且可與磷; 料之間產生交互作用’並且經由第一層之表面發出且可 ,材,之間產生交互作用下,其經由第:薄片所發出之: 線於貫質上係為白光。 。 磷材料係可設置於第一層之表面上。
於晶圓之製作方法中,句;τ夺丨# 〜衣丨F刀成丁 匕祜了利用磷材料之設置而可
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五、發明說明(15) 形成了厚度的變化約小於2 0 %之層結構,並且包括了可 於磷材料層進行平坦化,如此使得磷材料層之厚度的變: 約小於20%。另外,此方法亦包括了可對於已設置於第<〜化 層之表面之磷材料進行平坦化。舉例而言,磷材料係可a 用旋轉塗佈(spin —coating)的方式而形成於晶圓之表面^ 上。此方法包括了由晶圓形成了複數發光裝置,並且斟、 至少一部分的發光裝置之間進行相互之間的分離。 、" 於部分實施例中,當光產生區域所產生之光線經由μ 一層之表面而自發光裝置發出時,則由第一層之表面所t 出至少40%的光線係以正交於第一層之表面、且角度至夕a 約3 〇。的方式傳送。 夕 於特定實施例中,發光裝置之填充因子(f i 11 i ng factor)係至少約為i〇%及/或至多約為75%。 在將具有反射材料層結合至p摻雜材料層之前,製作 發光裝置之方法更包括了將第一層結合至一基底 (substrate)、且結合至位於基底與反射材料層之間的多 重材料推疊層。此外,製作發光裝置之方法亦可包括了將 一結合層(bonding layer)形成於第一層與基底之間。此 外’製作發光裝置之方法亦可包括了移除基底。此外,在 移除了基底之後,製作發光裝置之方法更包括了研磨 (lapping)步驟與拋光(polishing)步驟。在將反射材料居 結合至第一層之後,進而移除基底。對基底進行移除的^ 程中係包括了對於第一層、基底之間的一結合層(b0nci ing 1 a y e r )進行加熱。對結合層進行加熱係對於結合層之至少
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一部分(portion)進行分解(decompose)。對結合層進行加 熱的過程中係包括了讓結合層於一雷射光(laser)所發射 之輻射(radiation)之下進行曝光。對基底進行移除的過 程中係包括了藉由一雷射掀去製程(laser liftoff process)對於基底進行曝光。對基底進行移除之後係造成 了第一層之表面於實質上呈現出平坦狀(flat)。在將圖捧 形成於第一層之表面中之前,其更包括了在將第一層移除 之後、對於第一層之表面進行平坦化處理 (planarizing)。對於第一層之表面進行平坦化處理中係 包括了對於第一層之表面進行化學機械研磨 (chemical-mechanical polishing) ° 對於第一層之表韵 進行平坦化處理係以略大於;I / 5的程度、降低了第一層;^ 表面之粗糙度(roughness),其中,λ係為經由第一層戶斤 發射之光線的波長。製作發光裝置之方法更包括了在第/ 層之表面中形成了圖樣。於形成圖樣的過程中係包括了捧 用奈米微影(nanol i thography)。圖樣係包括了複數外貌 (features),這些外貌之尺寸係略大於人/ 5,其中,入# 為經由第一層所發射之光線的波長。製作發光裝置之方承 更包括了將一基底設置於反射材料層之上。此外,製作# 光裝置之方法更包括了將一電流散佈層 (current-spreading layer)設置於第一層與光產生區威 之間。 以下將藉由本發明之各實施例說明其所具有之各項#
1057-6274-PF(N2).ptd 第20頁 200423441 五、發明說明(17) 於特定實施例中,一 LE D及/或一相對大型l ED晶片係 可相對地發出高光引出量(light extraction)。 於部分實施例中,一 LE D及/或一相對大型l ED晶片係 可相對地發出高表面亮度(surface brightness)、平均表 面亮度(average surface brightness)、低散熱(heat dissipation)之需求或具有高散熱率、低音域(etencjue) 及/或高電力效率(power efficiency)。 於特定實施例中,一 LED及/或一相對大型l ED晶片係 可在適當的設計下,由LED/LED晶片所發出之相對少量光 線係可被封裝所吸收。 於部分實施例中,一封裝LED(例如:相對大型封裝 LED)係可不必藉由封膠材料以進行封裝製作,如此係可避 免採用特定封膠材料時所可能產生的特定問題,例如:降 低的性能(reduced performance)及/或隨著時間之函數 (function of time)上的不相容性能(inc〇nsistent per for mance )。在相對長時期的操作下,藉此所提供之一 封裝LED係可達到相對理想及/或可靠的性能。 於特定實施例中,一LED(例如:一封裝LED,此封裝 LED係可為相對大型封裝LED )係可包括了均勻的磷材料塗 層。 於部分實施例中,經設計後之一 LED (例如:一封裝 LED ’此封裝LED係可在一特定角度範圍(particular angular range)内提供所需之光線輸出(desired light output)(例如·與LED表面正向(surface normal)有關之
1057-6274-PF(N2).ptd 第21頁 五、發明說明(18) 一特定角度範圍)。 於部分實施例中, 可以一相對便宜之製程 於特定實施例中, 可在不增加成本之下、 scale)之方式而進行相 不可實行。 一 LED及/或一;琳丄, ^ 相對大型LED晶片係 以進行製作。 一 LED及/或一相對大型led晶片係 經由一工業規模(c〇㈣erciai 關的製作’並且不會造成經濟上之 、特徵、和優點能更 並配合所附圖示,作 為了讓本發明之上述和其他目的 明顯易懂,下文特舉一較佳實施例, 詳細說明如下: 【實施方式】 第1圖係表不以封裝晶粒(packaged die)型態呈現之 一發光二極體(LED) 100的側視圖。;LED 1〇〇包括一多重推 疊層(龍1士1-1时^討“1〇122,其中,多重推疊層122係 設置在一載具(submount)120之上。多重推疊層122中係包 括了·居度為320 nm之一石夕晶摻雜(n —摻雜)氮化鎵層 (silicon doped,(η-doped) GaN layer)134,於石夕晶掺 雜(n -摻雜)氮化鎵層134之上表面(up{)er surface)ii〇形 成了複數開孔(openings )150之圖樣;一結合層(b〇nding layer)124 ’ 尽度為 1 0 〇 η in 之一銀層(silver layer)126 ; 厚度為40 nm之一鎂換雜(p-換雜)氮化嫁層(magnesium doped, (p-doped) GaN layer)128 ;厚度為 120 nm 之一光 產生區域(light-generating region)130,於光產生區域
1057-6274-PF(N2).ptd 第22頁 200423441 五、發明說明(19) 130上係形成有多重氮化銦鎵/氮化鎵量子井(multi pie
InGaN/GaN quantum wells);以及一氮化鋁鎵層(AlGaN layer)132。一η 邊接觸墊(n-side contact pad)136 係設 置於石夕晶摻雜(η -摻雜)氮化鎵層1 3 4之上,並且一 p邊接觸 墊(P-side contact pad)138係設置於銀層126之上。封膠 材料層(encapsulant material)(具有折射率(index of ref ract ion)為1 · 5之環氧樹脂(ep0xy) )144係位於矽晶摻 雜(η-摻雜)氮化錁層134、一蓋玻片(cover slip)140與複 數支承構件(supports)]^?之間。封膠材料層144並沒有延 伸至各開孔1 5 0之中。 以下將針對LED 100所產生之光線(light)提出說明。 相對於η邊接觸墊1 3 6,p邊接觸墊1 3 8係處於正電位 (positive potential),如此將導至電流(electricai current)輸入至LED 100之中。當電流通過了光產生區域 1 3 0時’由矽晶摻雜(n —摻雜)氮化鎵層丨3 4所發出的電子 (electrons)與來自鎂摻雜(p—掺雜)氮化鎵層128之孔洞 (holes)便共同在光產生區域13〇之上結合,如此便可在光 產生區域130產生了光線。此外,於光產生區域13〇中包含 了大量的點偶極輻射源(point dipole radiation sour ce s ) ’在點偶極輻射源之作用下,由光產生區域丨3 〇 所產生之光線(例如:等向性(i s 01 r 〇 p i c a 11 y ))便可具備 有光產生區域130之製成材料之光線波長之光譜 (spectrum)的特性。在InGaN/GaN量子井的作用下,如此 便可經由光產生區域130而產生出具有約445奈米
1057-6274-PF(N2).ptd 第23頁 200423441 五、發明說明(20) ' - (namomewters (nm))之尖峰波長(peak wavelength)、約 30 nm 之半高全寬(full Width at half maximum)(FWHM) 之光線波長的光譜。 值得注意的是,在相較於矽晶摻雜(n—摻雜)氮化鎵層 134中之載子(charge carriers)之下,鎂摻雜(P —摻雜)氮 化鎵層128係相對地具有較低的載子移動率(m〇bility) / 如此一來,藉由將銀層126(為導電的)以沿著鎂摻雜(p—摻 雜)氮化鎵層128之表面進行設置的作用下,由p邊接觸墊夕 138至鎂摻雜(P-摻雜)氮化鎵層128、光產生區域丨3〇之電 荷注入(charge in jecti on)的均勻是可以 有效地被提高的,同時亦可減少LED 1 0 〇之電阻 (electrical resistance)及 / 或提高 LED 1〇〇 之注入效率 (injection efficiency)。此外,由於矽晶摻雜(n—摻雜) 氮化鎵層134具有較高之載子移動率(carrier mobility),則電子便可自n邊接觸墊丨36而快速通過氮化 鋁鎵層1 3 2、矽晶摻雜(η -摻雜)氮化鎵層1 3 4,於實質上便 可使得在產生區域130之中、且通過產生區域13〇之任何位 置上的電流密度(current density)處於均勻狀態。再 者’由於銀層126具有相對較高的導熱性(thermal conductivity),如此便可藉由銀層126做為LED 1〇〇之熱 沈(heat sink)(將熱量經由多重推疊層122、以垂直的方 式而傳遞至載具120)。 由光產生區域1 3 0所產生之至少一部分的光線係可被 導引至銀層1 2 6之上。隨後,經由銀層丨2 6所反射的光線係
1057-6274-PF(N2).ptd 第24頁 200423441 五、發明說明(21) ------ 可經由矽晶摻雜(n—摻雜)氮化鎵層134之上表面11〇、朝向 LED 100之外部發出,或是銀層126所反射之光線係可經由 LED/100 中之半導體材料(semic〇nduct〇r 吸收 而形成了一 孔洞對(electr〇n —h〇le ir), 域1 3 0中便可產生光線。同樣地,由光產生區域丨3 〇所產生 之部分的光線係可被導引至η邊接觸墊丨36,並且藉由η邊 接觸墊136之底側(un(ierside)的製成材料(material)(例 如:鈦(Ti)/鋁(A1)/鎳(Ni)/金(Au))係對於光產生區域 1 30所產生之至少一部分的光線進行反射。因此,被導引 至η邊接觸墊1 36的光線係可經由η邊接觸墊136進行反射, 並且經反射後的光線係可經由矽晶摻雜(η_摻雜)氮化鎵層 134之上表面11〇(例如:來自於銀層126所反射)、朝向 100之外部發出,或是被導引至η邊接觸墊136、且由η邊接 觸墊1 3 6所反射之光線係可經由丄ED 1 0 0中之半導體材料吸 收而形成了一孔洞對,並且在孔洞對於光產生區域丨3 〇之 中進行結合的作用下,則於光產生區域1 30中便可產生光 線(例如··藉由或不必藉由銀層1 2 6所反射)。 如第1、2圖所示,LED 100之表面110並非平坦狀,於 此表面11 0上包括了由複數開孔1 5 0所構成之修正三角形圖 樣(modified triangular pattern) 〇 —般而言,開孑匕150 之深度(depth)可為任意值,並且開孔1 50之直徑、相鄰開 孔150之最近間隔(nearest spacing)是可以任意改變的。 除非可由其它方式加以註解,否則以下便採用數值計算
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200423441 五、發明說明(22) (numerical calculations)之結果而對於各圖式進行清楚 說明:開孔1 50的深度146約為28 0 nm ;非零直徑 (non-zero diameter)約為160 nm ;相鄰開孔15 0之最近間 隔約為2 2 0 nm ;以及折射率為1 · 〇。由於三角形圖樣係經 過了調變處理,於相鄰圖樣1 5 0之最近中心間距 (center-to-center distance)的大小係介於(a- Aa)與 (a+ △ a )之間,其中,” a ”係表示三角形圖樣之晶格常數 (lattice constant),n △a’Hi表示具有長度之尺度 (dimensions of length)的調變參數(detuning
parameter),於此之調變係可根據任意方向(rand〇in directions)而得。為有效提高LED 100所發出之光引出量 (light extraction)(請參閱以下說明),調變參數Aa係 約為理想晶格常數a之至少1 % (〇 n e p e r c e n t)(例如:至少 約為2 %、至少約為3 %、至少約為4 %、至少約為& %),並且/ 或最多約為理想晶格常數之25% (例如:最多為2 〇%、最多 為1 5 %、最多為1 〇 % )。於部分實施例中,相鄰圖樣丨5 〇之最 近中心間距係可採用介於(a — △ a )與(a + △ a)之間的任意 值,於實質上便可對於圖樣150進行任意的調變。
基於複數開孔1 5 0所構成之修正三角形圖樣可知,藉 由非零調變參數係可提高LED 1〇〇之引出效率。請參閱 圖,基於上述之關於LED 1〇〇的說明可知,當調變參數 由零(zero)增加至〇· 15a左右時,於LED Η〇中之電磁場 (electromagnet ic fields)之數學模型(numerical model ing)(將於下文中提出說明)中所示之發光裝置的引
200423441 五、發明說明(23) 出效率係由0 . 6 0增加至0 · 7 0。 於第3圖中,引出效率係經由三維有限差分時域 (FDTD)法(three-dimensional finite-difference time - domain (FDTD) method)以估算出在馬克士威方程 (Maxwell’s equations)下之LED 100之内部光線、外側光 線之大小。舉例而言:K.S. Kunz and R.J. Luebbers,
The Finite-Difference Time-Domain Methods (CRC, Boca Raton, FL, 1993) 、A· Taflove, Computational Electrodynamics: The Finite-Difference Time-Domain Method (Artech House, London, 1995)等已在本發明中 參考併入。為了呈現出具有特定圖樣150之LED 100的光學 行為(optical behaviour),於FDTD計算中之輸入參數 (input parameters)包括 了中心頻率(center frequency)、於光產生區域130中之點偶極輻射源所發射 之光線的頻寬(bandwi dth)、於多重推疊層1 22中之各層結 構之尺寸與介電特性(dimension and dielectric properties),以及位於圖樣150中之各開孔之間的直徑、 深度、最近相鄰距離(NND)(nearest neighbor distances (NND))。
於特定的實施例中,LED 100所使用之引出效率資料 (extraction efficiency data)係採用了如下所示 iFDTD 法而加以計算。FDTD法係用以解決全向量時間依賴馬克士 威方程(full-vector time-dependent Maxwell,s equations):
1057-6274-PF(N2).ptd 第27頁 200423441 五、發明說明(24) VxE = dH A-—_ dt ·
VxH = dE dP 4〇---1--- dt dt 其中’經由可極化性(polarizability)戶=戶i +戶2 +·· +戶》i 係可捕捉光產生區域130之量子井區域(quantum wells region)、p-接觸層(p - contact layer)126、於 LED 100 中 之其層結構的依頻響應(frequency-dependent
response)。4項目係為根據材料之各種可極化性之不同 提供(different contributions)戶斤進行實證推導 (empirically)而得之數值(例如··用於束缚電子振盡 (bound electron oscillations)之極化響應 (polarization response)、用於自由電子振盪(free electron oscillations)之極化響應)。特別的是, d2Pr, dP^ — + + %匕=£(ω)Ε 其中,極化(polarizat ion)係相當於一介電常數 (dielectric constant) ε(ω) = ε〇0 + γ —~~—
為了方便數值上的計算,於此僅考量了封膠材料層 144、銀層126、以及位於封膠材料層144與銀層126之間的 各層結構。由於此一估算係假設封膠材料層144、銀層126 具有足夠的厚度,如此LED 1〇〇之光學性能(〇pticai performance)將不會受到環境層(SUrr〇unding u
200423441 五、發明說明(25) 影響。於LED 100中,銀層126、光產生區域130等相關結 構(relevant structure)係假設具有一依頻介電常數 (frequency dependent dielectric constant),而其它 的結構則不假設具有依頻介電常數。值得注意的是,於部 分實施例中之LED 100之封膠材料層144、銀層1 26之間係 包括了複數附加金屬層(additional metal layers),其 中,各附加金屬層係分別具有其所對應之依頻介電常數。 另一值得注意的是,銀層126(以及LED 100中之任何其它 金屬層)係同時對於束缚電子(bound electron)、自由電 子(free electron)而具有一依頻項(frequency dependent term),但是光產生區域130卻僅對於束縛電子 而具有依頻項、但卻對於自由電子卻不具有依頻項。於其 它的實施例中,當進行介電常數之依頻的模型計算時,其 它例如電聲子相互作用(electron-phonon interactions)、原子極化(a t om i c po 1 ar i za t i ons )、離 子極化(ionic polarizations)及/ 或分子極化(m〇lecular polarizations)等項亦可同時列入考量° 藉由將若干個處於任意位置、固定電流 (randomly-placed,constant-current)之雙極聲源 (dipole sources)合併於光產生區域130,如此便可完成 了對於光產生區域130之量子井區域所發出之光線的模型 化處理,於光譜幅寬(spectral width)之各射出短高斯脈 衝(emitting short Gaussian pulses)係相等於真實量子 井(actual quantum well)之射出短高斯脈衝,並且各射
1057-6274-PF(N2).ptd 第29頁 200423441 五、發明說明(26) 出短南斯脈衝係具有任意初始相位(r a n d 〇 m i n i t i a 1 phase)、開始時間(start-time)。 為了處理LED 100之上表面110中之各開孔l5〇所構成 之圖樣,於側向(lateral direction)上係採用了 一較大 超級單體(supercell),並且於超級單體中係同時搭配了 周期性邊界條件(periodic boundary conditions)之使 用。在上述方式作用下,除了可以協助大型(例如:邊緣 (edge)大於〇·〇ι mm)裝置之尺寸上的模擬之外,當所有偶 極源(dipole sources)之能量完全發出、且直到系統内完 全不具任何能量之時,全演算方程(full ev〇luti〇n equations)仍可及時完成相關的運算。在模擬過程中,總 能量(total energy)之發出、經由上表面11〇所引出之能 量流(energy flux)、由量子井與η掺雜層所吸收之能量均 被監控。在藉由傅立葉之時間(time)與空間(space)的轉 換之後,除了可以得到引出能量流之頻率、角度解析資料 (frequency and angel resolved data)之夕卜,同日夺可對 於角度、頻率解析引出效率(angle - and frequency-resolved extraction efficiency) it H if 算。藉由光產生區域130所發出之總能量(total energy emitted)、光產生區域130之實驗所得發光 (experimental ly known luminescence)的相互配合下, 如此便可得到了用於給定電性輸入(given electrical input)之單位亮度(lumen/per)、單位晶片面積之立體角 度(solid angle/per chip area)之絕對角度解析引出
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(abso1ute ang1e-reso1ved extraction)。 可以確信的是,經由調變後之圖樣(detuned pattern) 150的作用下,光產生區域13〇所產生、且經由 LED 1 0 0之上表面1 1 〇所發出之光線的引出效率是可以被提 高,同時由於各開孔150可以根據圖樣型態而建立一介電 函數(dielectric function),藉此介電函數係可以在矽 晶摻雜(η -摻雜)氮化鎵層1 3 4之中進行空間上的改變。基 於上述可知,實際結果並不等同於根據理論(the〇ry)下'"之 計异結果。再者,根據上述之結果亦會改變了輻射模態 (radiation modes)(亦即,由上表面11〇所發出的發光模 式(light modes))、導引模態(guided modes)(亦即,限 制於多重推疊層1 2 2之中的發光模式)之密度。另外,在不 具有圖樣1 5 0之作用、且經由上述之輻射模態與導引模態 的改變下,於LED 1 00中之部分光線係以散射方式(例如: 布拉格散射(Bragg scattered))射入於導引模態之中,同 時這些散射模式亦可能滲漏至輻射模態之中。於特定的實 施例中,圖樣1 5 0係可消除所有位於LED 1 0 0之中的導引模 態。 、 可以確#的是’晶格(1 a 11 i c e)的調變效應(e f f e c t of detuning)係可藉由具有點散射部位(p〇int scattering sites)之水晶(crystal)的布拉格散射(Bragg scattering of f )方式而加以了解。以距離d相互間隔之複 數晶格平面(lattice planes)中之完美晶格(perfect lattice)而言,波長 λ 之單色光(monochr〇matic light)
1057-6274-PF(N2).ptd 第31頁 200423441 五、發明說明(28) 係根據布拉袼條件(Bragg condition)nA=2dsin0、而採 ,一角度(angle) 0進行散射,其中,ηΘ之光源而言,在 藉由調變參數(detuning parameter ) Aa對於晶格部位 (lattice sites)之間隔(spacing)進行調變作用下,布拉 格條件係可以變得較為寬鬆。因此,在藉由光譜幅寬、空 間發射源輪廓(spatial emission profile)的作用下,晶 格的調變係可提高圖樣之散射有效性(scattering effectiveness)、接受角度(angUiar acceptance)。 基於上述說明可知,除了可藉由具有非零調變參數 (non-zero detuning parameter) Aa 之修正三角形圖樣 1 5 0以提高LE D 1 0 0所發出的光引出量之外,其它的圖樣亦 可長:焉LED 100所發出的光引出量。當決定是否藉由所給 定圖樣(given pattern)以提高LED 100所發出之光引出量 及/或採用那何種開孔圖樣是可以提高L £ d 1 〇 〇所發出之光 引出量時,於進行相關的數值計算之前係必須先以物理圖 像(?叶4^1111“211〇的方式估算出一基本圖樣(1^3:[(: pattern),藉由基本圖樣以提高LEd丨00所發出之光引出 量。 此外,由於介電函數係可根據圖樣丨5〇而進行空間上 的改變’如此便可藉由介電函數之傅立葉轉換(F〇urier transformation)之考量方式以對於LED 1〇〇的引出效率進 行了解。第4圖係表示針對一理想三角形晶格(ideal triangular lattice)之傅立葉轉換提出說明。沿著平面 内波向量(in-pi ane wavevector )k之特定方向
1057-6274-PF(N2).ptd 第32頁 200423441 五、發明說明(29) (particular direction)進入之光線的引出係與沿著平面 内波向量k’(亦即,平行於圖樣1 50)進入所有輻射模態 (radiation modes)之發射源(source emission)Sk 有相互 的關連性,其中,平面内波向量k係可經由平面内波向量 k’加上(addition)或扣除(subtraction) 了倒晶格向量 (reciprocal lattice vector)G 而得,亦艮P ,k = k, 士 g 。 引出效率係正比於其所相對之介電函數ε G之傅立葉分量 (Fourier component)Fk,其關係式為 ^ = £e=J£(〇e,Gr^
G 此外,材料層之中的光線傳播係可以滿足方程式 1^2(平面内(111-?1&116)) + 1^2(法向(1101'111&1)):=£(6〇/(:)2,其 中,經實際所考量下所得到之倒晶格向量G的最大值 (maximum)係固定受限於光產生區域130所發出之光線頻率 (ω)、光產生區域130之介電常數。如第4圖所示,逆格子 空間群(reciprocal space)之環型(ring)係通常稱之為光 能階(1 i gh t 1 i n e)。由於光產生區域1 3 0所具有的是有限 頻寬(finite bandwidth),其所形成之光能階則將是環狀 結構(annulus),並且為了便於說明,於此係以單色光源 (monochromatic source)之光能階提出介紹。同樣地,光 線於封膠材料層中的傳播係受限於光能階(於第4圖中之内 圓(inner circle))。因此,在增加了介電函數之傅立 葉分量Fk的同時,於封膠材料層内之光能階上、各平面内 波向量k之方向上的引出效率便可以提高,其中,於封膠
1057-6274-PF(N2).ptd 第33頁 200423441 五、發明說明(30) — 材料層中的光能階係等於封膠材料層中之倒晶格向量g (G points)的增量、對於封膠材料層内之光能 格向1G點之散射強度(scattering strength)(介電函數曰^ ^的增量之總和。當所選擇的圖樣可以提高引出效f) 則便可採用物理圖像來進行估算。 $ ’ 舉例而言,第5圖係表示在增加了一理想三角形圖樣 (ideal triangular pattern)之晶格常數的效應 ’ (effect)。值得注意的是,於第5圖中之資料係經由第工 中所給定參數之計算下而得,但這些參數並不包括:具: 45 0 nm之尖峰波長的射出光線,以及以最近相鄰距離” 為比例下之1 · 27a、0· 72a、1 · 27a-40 nm時之開孔1 5〇之深 ^、開孔150之直徑、與相鄰開孔15〇之矽晶摻雜(n-摻雜 氮化鎵層1 34的厚度。在晶袼常數的增加下,於封膠材料 層内、、光能階中之倒晶格向量G點的數量亦可同時被增加 的’並且可輕易藉由具有最近相鄰距離(NND)之引出效率 的趨勢(trend)而看出。可以確信的是,當最近相鄰距離 (NND)近似於在真空中之光線波長時,則於此一最近相鄰 5&離(NND)下係具有最大引出效率,其理由在於··由於材 料所具有之均勻度提高,當最近相鄰距離(NND)遠大於光 線波長時’則散射效應(s c a 11 e r i n g e f f e c t)便可降低。 . 舉例而言,第6圖係表示藉由增加開孔尺寸(h〇 1 e Slze)或填充因子(filling factor)時之效應。三角形圖 樣(modified triangular pattern)之填充因子的表示式 為(2疋/’3)*(1^)2,其中,]:係為開孔之半徑(1^(^113)。
200423441 五、發明說明(31) 藉由第一1圖=之led 1〇〇之所使用參數的計算下以得到了第 6圖所不之貧料,但於這些參數中並不包括了根據χ軸 (a ax 1 s)上之填充因子的數值而變化之開孔直徑。當散射 強度(ε G) i曰里下,引出效率係隨著填充因子而增加。當處 於〜48%之填充因子時,則此特定系統係具有最大值。於特 定實施例中,LED 100所具有之填充因子係至少約為 10%(例如:至少約為15%、至少約為2〇%)及/或至多約為 9 0 % (例如·至多約為8 〇 % '至多約為7 〇 %、至多約為β 〇 % )。 由上述所提出之修正三角形圖樣可知,於理想三角晶 格(triangular lattice)的各位置之上、圖樣中之開孔的 定位係與調變參數之間有關連性;此外,在將圖樣中心保 持在理L一角圖樣(ideal triangular pattern)的各位置 上時,則藉由對於理想三角圖樣中之開孔進行修改的作用 下係仍可以得到此一修正(調變(detuned))三角形圖樣, 於第7圖中之實施例所示即為此一修正(調變)三角形圖 樣。於此實施例中,就光引出量中之增量 (enhancement)、用以進行相對數值計算 numerical calculations)的方法(methodology)、以及對 於具有第7圖之圖樣之發光二極體中所提高之引出效率的 物理解釋(physical explanation)而言,均與上述方式相 同。於特定的實施例中’修正(調變)圖樣中之開孔係可經 由理想位置而進行倒置(d i s p 1 a c e d),並且位於理想位置 之開孔係具有直徑上的變化。 於其它實施例中,藉由不同型式的圖樣係有助於發光
1057-6274-PF(N2).ptd 第35頁 200423441 五、發明說明(32) 二極體之光引出量的提昇,這些型式的圖樣包括了複雜周 期性圖樣與非周期性圖樣(complex periodic patterns and nonperiodic patterns) 〇於複雜周期性圖樣之中, 其每一單體(u n i t c e 1 1)係具有超過了一個以上的特徵 (feature) ’並且此単體係以周期性樣態(periodic fashion)進行重覆。舉例而言,複雜周期性圖樣包括了蜂 巢狀圖樣(honeycomb patterns)、蜂巢基底圖樣 (honeycomb base patterns ) 、2x2基底圖樣(2χ2)(base patterns)、環狀圖樣(ring patterns)及阿基米得圖樣 (Archimidean patterns)。以下之實施例中,於複雜周期 性圖樣中之部分開孔係可具有單一直徑,而其它的開孔則 可具有較小直徑。另外,非周期性圖樣係為單體之上不具 有平移對稱性(translational symmetry)之圖樣,其中, 此單體之長度係至少為光產生區域1 30所產生之尖峰波長 的5 0倍。舉例而言,非周期性圖樣包括了非周期性圖樣 (aperiodic patterns)、準晶圖樣(quasicrystalline patterns)、羅賓遜圖樣(Robinson pattern)及安曼圖樣 (Amman patterns) 〇 第8圖係表示針對L E D 1 0 0、兩種不同的非周期性圖樣 之數值計算資料,其中,於非周期性圖樣中之部分開孔係 具有特定直徑(particular diameter),而於非周期性圖 樣中之其它的開孔則可具有較小直徑。於第8圖中之數值 計算資料係表示了具有較小直徑之開孔((1R )、其直徑由〇 n m變化至9 5 n m時之引出效率(直徑為8 0 n m之較大開孔)
1057-6274-PF(N2).ptd 第36頁 200423441 五、發明說明(33) 的表現(behavior)。第1圖中之LED 100之所使用參數的計 算下以得到了第6圖所示之資料,但這些參數並不包括了 根據圖形中之X軸上之填充因子之數值而變化的開孔直 位 為了不受到理論上的限制’在多孔尺寸(m u 11 i p 1 e hole Sizes)的作用下係可允許由圖樣中之多重周期性 (multiple peri〇dicities)而產生散射,藉此以增加圖樣 之接受角度、光譜有效性(spectral effectiveness)。於 ,實施例中,,尤光引出量中之增量、用以值: 异的方法、以及對於具有第8圖之圖樣之發光二極體中所 提高之引出效率的物理解釋等等而言,均盘上述方式相 同。 〃 第9圖係表示對於LED 1 0 0之數值計算資料,其包括了 不同的環型圖樣(ring pattern)(複雜周期性圖樣')。圍繞 於中心開孔(central hole)之第—環型(first Hng)的開 ,數目,同於(6、8或1〇個)其它不同環型圖樣的開孔數 弟1圖巾之聊1〇°之所使用參數的計算下以得到 了第9圖所示之資料,但於這些參數中並不包括了呈有 rim之尖峰波長的射出光線。於第9圖 算 =單位單體之環型圖樣數量由2至4時之 中’環型圖樣數量係以重覆方式通過了單體引。 =施例中’就光引出量中之增量、用以進行相對 计=的方法、m對於具有第9«之圖樣之發& 同。 寻寺而…均與上述方式相
1057-6274-PF(N2).ptd 200423441 五、發明說明(34) 第10圖係表示具有阿基米得圖樣A7之LED 1〇〇的數值 計算資料。阿基米得圖樣A7係由具有相同間隔之7個開孔 (equally-spaced holes)之六角單體(hexagonal uint ce 1 1 s ) 2 3 0所構成,其相互之間隔為最近相鄰距離 (NND)a。於六角單體23 0之中,其6個開孔係以正六角形 (r egu l.ar hexagon )之形狀進行排列,並且第7個開孔係位 於六角型之中心位置上。隨後,將這些六角單體230以中 心至中心間距(center-to-center spacing)為a’=a*(l +、y5" )、且沿著其邊緣相互配合的方式而共同構成了 LED的所有 圖樣表面。此一方式即為所熟悉之A7貼圖(A7 tiling), 其利用了 7開孔以構成了單體。同樣地,阿基米得貼圖 (Archimidean tiling)A19係由具有最近相鄰距離 (NND)a、相同間隔之19個開孔所構成,其中,6個開孔係 以内六角(inner hexagon)的方式進行排列,1 2個開孔係 以外六角(outer hexagon)的方式進行排列,並且將一中 心開孔設置於内六角之中。隨後,將這些六角單體2 3 0以 中心至中心間距為a,=a*(3+w )、且沿著其邊緣相互配合 的方式而共同構成了 LED的所有圖樣表面。於此實施例 中’就光引出量中之增量、用以進行相對數值計算的方 法、以及對於具有第1〇圖之圖樣之發光二極體中所提高之 引出效率的物理解釋等等而言,均與上述方式相同。於第 10圖中,A7、A19貼圖之引出效率約為77%,並且藉由第1 圖中之LED 1 0〇之所使用參數的計算下以得到了第1 〇圖所
1057-6274-PF(N2).ptd 第38頁 200423441 五、發明說明(35) 示之資料,除了於這些參數中不包括了具有450 nm之尖峰 波長的射出光線之外,同時這些參數亦不包括了以最近相 鄰距離(NND)所定義之開孔的個別單體。 第11圖係表示具有準晶圖樣之LED 100的數值計算資 料。舉例而言,於M. Senechal, Quasicrystals and Geometry (Cambridge University Press, Cambridge, England 1 9 9 6 )係揭露了相關準晶圖樣之技術,於此亦將 其併入說明。於此係以數值計算說明了當8重級基準周期 結構(class of 8 - fold based qusi-periodic structure)之變化時之引出效率的表現。可以確信的是, 由於準晶圖樣結構係可允許高度之平面内迴轉對稱性(due to high degree of in-plane rotational symmetries allowed by such structure),如此便可藉由準晶圖樣以 呈現出相當咼的引出效率。於此實施例中,就光引出量中 之增量、用以進行相對數值計算的方法、以及對於具有第 11圖之圖樣之發光二極體中所提高之引出效率的物理解釋 等等而言’均與上述方式相同。由第n圖所示之三維有限 差分時域(FDTD)法之計算資料可知,其準晶圖樣結構所達 到之引出效率約為82%。藉由第i圖中之LED 1〇〇之所使用 參數的計算下以得到了第丨丨圖所示之資料,除了於這些參 數中不包括了具有450 nm之尖峰波長的射出光線之外,同 時這些參數亦不包括了以最近相鄰距離(NND)所定義之開 孔的個別早體。 基於上述所提出之各種圖樣可知,凡是滿足上述所提
200423441 五、發明說明(36) 出之基本原則(basic principles)下的圖樣均可以提高於 LED 1 0 0之引出效率。可以確信的是,藉由增加了準晶圖 樣結構或複雜周期性圖樣之調變(detuning)下,引出效率 是可以有效地被提高。 在部分實施例中,由LED 1 0 0所發出、且於光產生區 域130所產生之總光線強度(total amount of light)的至 少約為4 5 % (例如:至少約為5 0 % '至少約為5 5 %、至少約為 60%、至少約為70%、至少約為80%、至少約為90%、至少約 為9 5%)係會經由上表面110而發出。 於部分的實施例中,LED 1 0 0係可相對地具有較大的 剖面積,藉此仍可經由LED 1 0 0以呈現出有效能之光引出 量(light extraction)。舉例而言,於LED 100中之至少 或更多的邊緣係可至少約為1公釐(m m ) (m i 11 i m e t e r )(例 如:至少約為1· 5 mm、至少約為2 mm、至少約為2. 5 mm、 至少約為3 mm),並且由LED 100所發出、且於光產生區域 1 3 0所產生之光總量的至少約為4 5% (例如:至少約為5 0 %、 至少約為55%、至少約為60%、至少约為70%、至少約為 8 0%、至少約為90%、至少約為95%)係會經由上表面110而 發出。如此一來,LED便可相對地具有較大的剖面積(例 如:至少約為1 · 5 mm X 至少約為1 · 5 mm),藉此以呈現 出理想功率轉換效率(power conversion efficiency)。 於部分的實施例中,具有LED 1 00設計之LED的引出效 率於實質上係與LED的邊緣的長度無關連性。舉例而言, 相較於具有LED 1 0 0之設計且其至少一或更多邊緣約為
1057-6274-PF(N2).ptd 第 4〇 頁 200423441 五、發明說明(37) " ' 0· 25 mm之LED的引出效率、具有LED 1〇〇之設計且其至少 一或更多邊緣約為1 mm之LED的引出效率而言,兩者之間 的差別變化係約小於丨〇% (例如··約小於8%、約小於5%、約 小於3/〇。LED之%出效率係為LED所發出的光線、發光裝 置所產生之光線強度之間的比率(於此係可採用”能量 (energy)或光子(ph〇t〇ns)”來量測)。如此一來,LED、 便可相對地具有較大的剖面積(例如:至少約為丨mm χ至 少約為1 mm),藉此以呈現出理想功率轉換效率。 “ 於部分的貫施例中,具有LED 1 〇〇設計之led的量子效 率(Quantum efficiency)於實質上係與led的邊緣的長度 無關連性。舉例而言,相較於具有LED 1〇〇之設計且其至 少一或更多邊緣約為〇·25 mm之LED的量子效率、具有led 1 〇〇之設計且其至少一或更多邊緣約為】mm之LED的量子效 率而言,兩者之間的差別變化係約小於丨〇%(例如:約小於 8%、約小於5%、約小於3%)。於此所提出之的量子效率 係為·· LED所產生的光子數量 '於led中所發生之孔洞再結 合(electron_hole recombinations)的數量之間的比率。 如此一來,LED便可相對地具有較大的剖面積(例如:至 少約為1 mm X至少約為1 mm),藉此以呈現出良好的性 於部分的實施例中,具有LED 1 〇〇設計之LED的電光轉 換效率(wall plug efficiency)於實質上係與LE])之邊緣 的長度無關。舉例而言,相較於具有LED 1 〇 〇之設計且其 至少一或更多邊緣約為0 · 25 mm之LED的電光轉換效率、具
1057-6274-PF(N2).ptd 第41頁 200423441 五、發明說明(38) 有LED 100之設計且其至少一或更多邊緣約為1 mm之LED的 電光轉換效率而言,兩者之間的差別變化係約小於1 〇 % (例 如··約小於8%、約小於5%、約小於3%)。於此所提出之LED 的電光轉換效率係為:L ED之注入效率(注入於發光裝置中 之載子數目、發光裝置之光產生區域中所再結合之載子數 目之兩者之間的比率)、LED之輻射效率(radiative efficiency)(孔洞再結合所導致之一韓射結果(radiative event )、孔洞再結合之總數目之兩者之間的比率)、以及 LED之引出效率(由LED所引出之光子的數目、所形成之光 子的總數目之兩者之間的比率)之乘積(product)。如此一 來,LED便可相對地具有較大的剖面積(例如:至少約為1 mm X 至少約為1 mm),藉此以呈現出良好的性能。 於部分的實施例中,由LED 1 0 0所發出之光的角度分 佈(angular distribution)係可經由上表面110而受到巧 妙的控制。為了提高進入於一給定立體角度(given solid ang 1 e)(例如:進入了圍繞在上表面11 〇之法線方向的一立 體角度)之引出效率,於此係對於可根據圖樣1 5 0(如上所 述)進行空間上的變化之介電函數的傅立葉轉換進行檢 查。第1 2圖係表示具有不同晶袼常數之兩理想三角形晶格 之傅立葉轉換結構(Fourier transformation construction)。為了提高引出效率,於此係增加了封膠 光能階(encapsu lant 1 i ght 1 ine)中之倒晶格向量G點的 數目、材料光能階(material light line)中之倒晶格向 量G點的散射強度(£G),此一方式係暗示了藉由最近相鄰
1057-6274-PF(N2).ptd 第42頁 2UU423441 五、發明說明(39) 距離(NND)之增加係可逵至,丨如 而 ^ lL J運到如弟5圖中所提出之效果。 :特別留意進入了立體角度之引出效率的彳 ;’巧體角度係以置中對準於上表面11〇之法線方曰加 …丨曰在希望同時藉由減少封膠光能階之半徑以達到°了 ,倒晶格向量G點的引入(lntr〇ducti〇n)之下 了限 糸曰大於(ω(Ι〇)/。,亦即,G>( ω (ne))/r 此可知,藉由減少封膠(最低需求(bare minimum)係。由 所有封膠均—起移除)之折射率的作用下係可得到較^ 最近,鄰距離(_,因而增加了在材料光能階中之= 格向iG點的數目,並且藉由材料光能階係可造成了於= 線方向(Fk = 〇)上的引出,同時可避免於封膠之中繞射、/ (diffraction)成了較高階數(傾斜角度(〇blique angles))。於第13圖中係表示了上述說明之趨勢、以及 入立體角度(由圖形中之集合半角(c〇llecti〇n half - angle)所給定)之引出效率。 藉由第1圖中之LED 1 〇〇之所使用參數的計算下以得到 了第13圖所示之資料,但於這些參數中並不包括··具有 530 nm之尖峰波長的射出光線及34 nm的頻寬、封膠之折 射率為1· 0、p摻雜材料層之厚度為1 60 nm、光產生區域 (light- generating layer)之厚度為 30 nm、如第13 圖所 示之對於三曲線之最近相鄰距離(N N D) (a),以及以n a1,為 比例下之1. 27a、0. 72a、1. 27a+40 nm時之深度、開孔直 徑及η摻雜材料層之厚度。當晶格常數增加時,則在狹角 (narrow angles)之引出效率、進入所有角度之總引出效 1057-6274-PF(N2).ptd 第43頁 200423441 五、發明說明(40) 率便均可增加。然而,就較大晶格常數而言,即使進 有角度之總引出效率是增加的,作扁射 之較高階數模式係會對於狹角之·;所繞射形成 門、Ή 效率造成了限制。魷 晶格常數為4 60 nm之計算結果可知,其所進入於 角 :引出效率係大臟。·換言之’僅在大約13. 4;二體角 度之上半球(upper hemisphere) Φ夕$丄-也,, 4 、口 ;甲之近+數的引出光線是 被收集的’精此以呈現出此圖樣之準直性效鹿 (⑶llimation effect)。可以確信的是,就;;何可以增加 材料光能階内之倒晶格向量G點之數目、但限制了於平面 内波向量k = 0時之封膠光能階内之倒晶格向量G點之數目的 圖樣而言,藉由這些圖樣係可提高了進入於立體角度之引 出效率,其中,此立體角度係以置中對準於上表面11〇之 法線方向。 值的注意的是,上述方式係特別可以有效降低源音域 (source etendue),此一源音域係通常正比於n2,其中, η係表示周圍材料(surround ing material)(例如:封膠) 之折射率。因此,藉由降低了LED 1〇〇中之封膠材料層之 折射率的作用下’如此將會造成了更多的相互平行之發射 (collimated emission)、較少的源音域及較高的表面亮 度(surface brightness)(於此係將其定義為引入了來源 音域之總亮度)。於部分實施例中,由空氣所形成之封膠 係可減少源音域,但因而卻增加了進入於一給定集角 (collection angle)、以置中對準於上表面11〇之法線方 向0
1057-6274-PF(N2).ptd 第44頁 200423441 五、發明說明(41) 於部分貫施例中,當光產生區域1 3 0所產生之光線經 由上表面11 0而自LED 1 0 0發出時,其光線分佈之相互平行 性係比拉普拉斯分佈(lambertian distribution)為佳。 舉例而言’當光產生區域1 3 〇所產生之光線經由上表面1 ^ 〇 而自LED 100發出時,由介電層(dieiectric layer)表面 所發出之光線中,其至少約為4 〇 % (例如··至少約為5 〇 %、 至少約為70%、至少約為90%)係以至多約3〇。(例如:至多 約25 ° :至多約20。、至多約15。)的範圍内發出,而此 一角度係正交於上表面110。
由此可知’就可在一指定角度(desired angle)下、 相對弓J出高比例光線之能力,或是同時具有了相對高光線 引出:ε之能力而言,藉此能力係可製作出具有相對高密度 的[仙’如此以提供作為一給定晶圓(given waf er)之使 用舉例而$ ’於每平方公分(per square cent imeter) 之晶圓中係至少具有5個LEDs。 士此外’在相對於光產生區域丨3〇所產生之光線的波長 而吕,於部分實施例中係可針對封裝LED 1 0 0所發出之光 線的波長進行修正。於第14圖所示之例子中,一LED 300 糸八有· έ Θ 材料層(layer contai ning a phosphor
’此含磷材料層180係設置於上表面110,藉 ^料係可與光產生區域130所產生之具有既定波長之 三却=ί達到父互作用,如此以產生出所需之指定波長。 j :刀具施例中,由封裝LED 1 〇 〇所發出的光線於實質上 疋可以為白光(white Ught)的。此外,於特定之實施例
200423441 五、發明說明(42) 中,含磷材料層18〇中之磷材料係可由(Y,Gd)(Al,Ga)G: Ce3+ 或記銘石榴石磷光體(” YAG〃(yttrium,aluminum, garent))所製成。當經由光產生區域13〇發出之藍光(Mue 1 1 gh t )所激發時,則便可對於含磷材料層丨8 〇中之磷材料 進行活化,同時藉由磷材料係可發出了具有寬光譜、置中 對準於黃光波長(yell〇w wavelengths)之光線(例如··等 向性)。經由封裝LED 1〇〇所發出之總光譜(七〇七31 light spectrum)之觀察器(Viewer)係可看出黃光磷材料寬發射 光譜(yellow phosphor broad emission spectruffl)、藍 光氮化銦鎵窄發射光譜(blue inGaN narrow emission spectrum),此通常係為兩光譜(spectra)與感受白光 (perceive white)之混合。 於口P刀貝施例中,含鱗材料層1 8 〇於實質上係可以均 勻方式設置於上表面1 1 〇之上。舉例而言,於圖樣丨5 〇之頂 部(top)151、含磷材料層18〇之頂部18ι之間的距離係可以 通過上表面110且略少於20%(例如:略少於1〇%、略少於 5%、略少於2%)的方式進行變更。 /目較於LED 1 〇 〇之表面1丨〇之剖面尺寸,含磷材料層 1 80係通常具有較小的厚度,其大小約為i黯X i龍。此 外,含磷材料層18〇於實質上係以均勻方式沉積於表面ιΐ() 之上,於含磷材料層丨8〇中之磷材料於實質上係可均勻地 經由表面11 0所發出之光線所泵送。在相較於LE D i 〇 〇之表 面11〇之剖面尺寸可知,由於含磷材料層18〇之厚度相當的 薄,由光產生區域130所發出之光線便可在LED 1〇〇之整個
200423441 五、發明說明(43) --- 表面110上、以幾近均勻地的方式而在含磷材料層18〇之中 被轉換成了較低波長光線。因此,藉由相對薄且均勻之含 磷材料層180之作用下,如此便可經由LED 1〇〇發射出具有 均勻光譜之白光,藉此以做為表面丨丨〇上之位置的函數。 一般而言,LED 1 〇 〇係可根據不同需求而進行製作。 LE' 1〇〇之製作通常包括了各種的沉積(dep〇si t i〇n)、雷 射製程(laser processing)、微影微微影技術 (lithography)、蝕刻(etching)等步驟。 請參閱第15圖,於一發光二極體晶圓(LED wafer) 500 之中,LED 材料推疊層(LED layer stack of material)係 /儿積於一藍寶石基底(sapphire substrate)502之上,此 LED晶圓500係可由經銷商(commercial vendor)購買後直 接使用。於藍寶石基底502之上拣依序設置了缓衝層 (buffer layer) 50 4、一 η-摻雜矽··氮化鎵層(n —doped Si :GaN layer) 5 0 6、氮化鋁鎵/氮化鎵異質接面 (AlGaN/GaN heterojunction)或超晶格(superlattcie), 其中,氮化鋁鎵/氮化鎵異質接面或超晶格係包括一電流 散佈層(current-spreading layer) 5 08、氮化銦鎵/ 氮化 嫁多量子井光產生區域(InGaN/GaN multi- quantum well light-generating reg i on) 5 1 0、一 p-掺雜鎂:氮化鎵層 (p-doped Mg :GaN layer)512。就一般商業上所使用之 LED晶圓之直徑係約為2-3吋,並且當晶圓完成製程處理之 後,藉由切割晶圓係可形成了複數個LED晶粒(LED d i ce ),這些LED晶粒係可用以製作個別的裝置。在進行晶
1057-6274-PF(N2).ptd 第47頁 200423441 五、發明說明(44) 圓之晶粒切割作業之前,藉由數個晶圓尺度製程步驟 (wafer scale processing steps)將麒摻雜(P一摻雜)氮化 鎵層128定位在與光產生區域130所在位置之同一側,藉此 以做為鏡面層(mirror layer)126。 請參閱第16圖,一相對薄鎳層(relatively thin n i c k e 1 1 a y e r) 5 2 0係於沉積(例如··利用電子束蒸鐘
(electron-beam evaporation))於p-摻雜鎂:氮化鎵層 512之上,如此便可對於p -摻雜鎮:氮化鎵層512進行p型 歐姆式接觸(p-type ohmic contact)。一銀層5 22係沉積 (例如:利用電子束蒸鍍)於鎳層5 2 0之上。一相對厚鎳層 (relatively thick nickel 1 ayer) 524 係於沉積(例如: 利用電子束蒸鍍)於銀層522之上。鎳層524係可用以做為 擴散阻層(di f f usi on barr i er),如此以減少污染物 (contaminants)擴散進入銀層52 2之中。一金層(gold layer) 52 6係於沉積(例如:利用電子束蒸鍍)於鎳層52 4之 上。隨後,於氮氣、氫氣、空氣或成型氣體(forming gas)之中對於LED晶圓500進行了介於溫度400 - 600 °C (C e 1 s i u s )之間、3 0與3 0 0秒之間的退火處理,如此以達到 了歐姆式接觸。 請參閱第17圖’一載具晶圓(submount wafer)600係 藉由將一鋁接觸層(aluminum contact layer)604依序地 沉積(例如:利用電子束蒸鑛)於p -摻雜石夕晶圓(p — d 〇 p e d silicon wafer)602之上。一金層608係沉積於鋁接觸層 604之上,並且一金鍚結合層(AuSn bonding layer)610係
1057-6274-PF(N2).ptd 第48頁 200423441 五、發明說明(45) 沉積(例如j利用電子束蒸鍍)於金層6〇8之上。隨後,載 具晶圓600係於氮氣、氫氣、空氣或成型氣體之中、以介 於/孤度3 5 0 - 5 0 0 c之間、3 0與3 0 0秒之間進行退火處理,如 此以達到了歐姆式接觸。 於壓力介於0至〇·5 MPa、溫度200-400。(:之間的作用 下’藉由將LED晶圓500之金層526接觸於載具晶圓600之金 锡結合層6 1 0時,如此便可達到LED晶圓5 〇 〇、載具晶圓6 〇 〇 之間的、、、口 a (例如·利用熱壓機械(t h e r m a 1 - m e c h a n i c a 1 press))。氮化銦鎵/氮化鎵多量子井光產生區域51〇、金 知、’、n a層6 1 0係形成了共晶結合(e u七e c七i c b ο n d )。隨後, 對於相互結合之晶圓夾層(wafer sandwich)進行冷卻,並 且將熱壓機(press)之上的相互結合之夾層進 行移除。 在完成了結合作業之後,藍寶石基底5〇2便可藉由雷 射掀去製程(laser liftoff process)而自相互結合之晶 圓結構進行移除。舉例而言,美國專利第6,4 2 0,2 4 2、
6,0 71,7 9 5案中係揭露了相關雷射掀去製程之技術,於此 係將此兩案參照併入於本案之中。於部分實施例中,一 24 8 nm之雷射光束係以照射通過了藍寶石基底5〇2、且接 近於η-摻雜矽··氮化鎵層5〇6與藍寶石基底5〇2之介面的方 式而對於η-摻雜矽:氮化鎵層5 〇 6進行局部加熱,藉此以 對於η摻雜石夕:氮化鎵層506之子層(sublayer) 進行解離(decomposing)處理。隨後,將晶圓夾層加熱至 超過了鎵(gallium)之熔點(melting point)之上的溫度,
1057-6274-PF(N2).ptd 第49頁 200423441 > 五、發明說明(46) 此時便可藉由一橫向力(lateral force)將藍寶石基底502 自晶圓夾層之中進行移除(例如:採用棉花棒(c 〇 11 ο η swab))。隨後,對於外露的GaN表面進行清潔處理(例如: 採用氫氯酸浴(hydro chloric acid bath)),藉此方式以 移除表面之液態鎵(liquid gallium)。通常,當氮化鎵蠢 晶推疊層(GaN epitaxial layer stack)之上的藍寶石基 底5 0 2被移除之後,存在於氮化鎵磊晶推疊層之中的應力 (s t r a i η)(例如··由於藍寳石基底5 0 2與氮化鎵磊晶推疊層 之間的晶格差異(1 at t i c e m i sma tch ))係可同時被移除。
此外’由於結合至藍寳石基底5 〇 2之氮化鎵蠢晶推疊層係 可能持續形成了麵曲或彎曲,在上述方式作用下係可使得 氮化鎵蠢晶推疊層自輕曲或彎曲而達到鬆驰的效果,並且 可假設在η-摻雜矽:氮化鎵層5 0 6之外露表面上具有相對 平坦形狀(relatively flat shape)。當藉由載具 (submount) 1 20以防止在雷射掀去製程中產生裂痕時,則 熱膨脹係數(coefficient of thermal expansion)係必須 加以考量。此外,在步驟中進行電磁場之實質重疊、重覆 製程的作用下,於雷射掀去製程中之裂痕的數量係可被減 少 0 請參閱第18圖,藉由對於η-掺雜矽··氮化鎵層5〇6之 外露表面進行蝕刻作用下,其所形成之具有既定^度 (desired thickness)之層結構係可用提供做為最終"裝置 (final device)(第19圖)之使用。在蝕刻作業之後',^n 摻雜石夕:氮化鎵層5 0 6之表面上便可在蝕刻作用下形成了
200423441 五、發明說明(47) 粗糙的表面結構(roughened surface texture) 70 0。粗糙 的表面結構7 0 0係可經由平坦化、薄型化處理(?1&11&1^26(1 and thinned)(例如:採用化學機械製程 (chemica 卜 mechanical process)),如此便可使得 η-摻雜 石夕:氮化鎵層5 0 6達到了一最終厚度(final thickness), 並且可以使得粗糙的表面結構7〇〇之表面粗糙度(surface smoothness)之均方根(ro〇t meari SqUare,rms)小於5 nm另外,非平坦化介面(non- planar interface)係可 以局部方式引入於LED 1 〇〇之中,藉此方式作用下便可經 由粗糙的表面結構7〇〇以提高LED 100之引出效率。相較於 顯微化之光滑表面之下,當光射線(light ray)以數次 (multiple times)方式撞擊於表面結構70〇之時,其最終 會以小於Snell s定律之臨界角(critical angle)的角度 撞擊在表面結構7〇〇之上,而粗糙的表面結構7〇〇係可大幅 度地增加了此種情況發生的可能性。 在元成了钱刻程序之後,便可在n —摻雜;5夕:氮化鎵層 506之中進行一介電函數圖樣(dieiectric function pat tern)之製作。首先,將一材料(例如:聚合物 (polymer))之平坦化層(pianarizati〇n iayer)7〇2 設置於 (例如·採用旋轉塗佈(s p i η - c 〇 a t i n g ) ) η -摻雜;ε夕:氮化鎵 層506之上’並且將一阻層(resjst iayer)7〇4設置於(例 如:旋轉塗佈)平坦化層7 〇 2之上。隨後,藉由一奈米刻印 钱刻(nanoimprint lithography)及钱刻製程的方式便可 將用以形成LED之中的光晶格(photon i c 1 att i c e )之一圖
1057-6274-PF(N2).ptd 第51頁 200423441 五、發明說明(48) ------- 才f建立於卜摻雜石夕:就化鎵層5 0 6之中。首先,用以定義 所需圖樣之部分係被壓印在阻層7 〇4之中,並且以 性方式逐步地(porti〇n-by —p〇rt i〇n)形成在晶圓的所有 面之上,除了可以印出圖樣1 50之各種特徵之外,同時接义 供了後續製作過程中接觸塾(n —c〇ntact)之沈積用W 域三於上述製作過程中,n—摻雜矽:氮化鎵層5 〇 6之表面 於貫質上係呈現平坦狀為佳。舉例而言,χ光微影(χπ& lithography)或深紫外光微影(deep ultravi〇let lithography)亦可用以在阻層7〇4之中建立出相關的圖 樣。當阻層形成於晶圓之上、且於晶圓的阻層之上建立了 相關圖樣之後,一預沉積蝕刻光罩(predep〇sited ekh mask)便可設置於n—摻雜矽:氮化鎵層5〇6的表面之上。 —在藉由阻層7 0 4做為一光罩之作用下,另一圖樣係可 藉由阻層704而傳送至平坦化層7〇2之中(例如··活性離子 蝕刻製程(reactiVe~i〇n etching pr〇cess))。隨後,藉 由平坦化層7 0 2做為一光罩,利用平坦化層7 〇 2將圖樣傳送 至η.-摻雜矽··氮化鎵層5〇6之中,並且在完成了〇-摻雜 矽·氮化鎵層5 0 6的蝕刻製作之後,便可進行平坦化層7 〇 2 之移除作業(例如:氧基活性離子蝕刻(〇xygen_based reactive-ion etching)) 〇 田圖樣被轉移至η ~摻雜石夕:氮化鎵層5 〇 6之後,含碟 材料層便以可選擇方式設置於(例如:採用旋轉塗佈)η—摻 雜石夕·氮化叙層5 0 6之圖樣表面之上。於部分實施例中, 礙係可以相當一致性的方式塗覆於圖樣表面(沿著圖樣表
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面中之開孔的底部、侧壁上的塗覆層係實 空孔(voids))之上。另一方面,封膠材层、’子 Γ ^ Τ' ^ ^ ^ ^ - 積(CVD)、愈鑛(sputtering)、以隨後之蒸鍍方式所形成 之液態黏結劑(liquid binder)進行懸浮(suspensi〇n))。 於部分實施例中’封膠材料係可包含了—種或多種磷材 料。於部分實施例中,經壓縮後之磷材料所可達到厚度均 勻性(thickness uniformity)之值係約小於磷材料之$均 厚度(average thickness)的 20%、15%、1〇%、5% 或2%。於 部分實施例中,含磷之封膠材料層係可均勻地塗覆於圖樣 表面之上。 當介電函數圖樣已經被建立在-換雜石夕:氮化鎵層 5 0 6之中時,則便可自晶圓開始進行個別之LEJ)晶粒的切 割。當完成了晶圓製程(waf er processing)與晶圓測試 (wafer test ing)之後,個別的LED晶粒便可進行分離作 業,隨後並進行個別LED晶粒之封裝與測試。此外,於晶 圓之切割作業之中,對於圖樣化LED之電及/或光性質之可 能潛在之損壞係可藉由側壁鈍化步驟(s i dewa 1 1 passivation step)及/或預分離深斜角蝕刻步驟 (pre-separated deep mesa etching step)以有效降低 ° 個別LED晶粒之大小係可根據晶圓之尺寸而決定,但一般 LED晶粒之形狀係採用了正方形或矩形,同時其邊長係介 於 0.5 mm-5 mm。標準光微影(standard photol i thography)係用以定義出晶圓上之晶粒位置,藉
1057-6274-PF(N2).ptd 第53頁 200423441 五、發明說明(50) ;=·利用電子束蒸幻方式於指定位置上形成了歐 氺U : a相關防護措施之後,11此封裝方式係可加速 ί接收的此力。舉例而言,當不採用封膠時,藉由一透明 盍板(transparent cover)覆蓋於LED晶粒之上,如此便可 以對於η-/參雜矽··氮化鎵層5〇6之表面圖樣進行保護。蓋 玻片140係藉由全熔或半熔之玻璃粉料(glassy 而貼 附於支承構件142之上,此玻璃粉料係於熔爐(furnace)i 中進行熔化作業。舉例而言,於複數支承構件丨42之相對 的端部之間係藉由邊蓋烊接(cap weld)或環氧樹脂而達到 相互的連接。一般而言,支承構件142係具有鍍鎳 (Ni-plated)層,藉此以加速其焊接至封裝之鍍金表面(Au plated surface)之上。可以確信的是,在LED 1〇〇之封裝 層的作用下,其係可以在單位面積下容許較高電力負載 (tolerable power loads)。此外,對於標準 LEDsi^ 言, 通常係將封裝層之劣化(degradation)視為破壞機制 (failure mechanism),如此便可避免封裝層之使用。 由於LEDs係經由大面積之平坦化晶圓所進行切割而 得’其每單位之光輸出(light output)並不會隨著面積而 降低。此外,由於晶圓所切割之個別LEDs的斷面係僅略大 於 LED 之發光表面積(light - emitting surface area),這 些個別且分離之可定址LEDs係可採用陣列(array)方式進 1057-6274-PF(N2).ptd 第54頁 200423441
f緊f的封裝°再者,若在複數LEDs中之—者失效(例 陷(larg“efect)),但由於個別發光裝 置之間係以相當緊密的陣列方式進 受到明顯的影響。 ,、效此將不曰 出之特徵係同樣可以 由此可知,於上述實施例中所提 在其它實施例中呈現。 5 ,雖然於上述發光裝置及其相關層結構之中 揭鉻了特疋的厚度,然其並非用以做為限制,發光裝置及 f相關層結構亦可採用其它的厚度值來進行成$。一般而 言,發光裝置係可採用任何所需的厚度,並且於發光裝置 之中的個別層結構亦可採用任何所需的厚度。傳統上,在 所指定選用之多重推疊層122中之層結構的厚度的作用 下,於光產生區域130之光學模式(optical m〇des)的空間 重疊(spatial 〇veriap)係可被增加,同時係可增加光產 生區域130之光輸出量。於部分實施例中,發光裝置中之 特定層結構的厚度大小包括了:矽晶摻雜(n_摻雜)氮化鎵 層1 3 4之厚度係可至少約為1 〇 〇 ^ m (例如··至少約為2 〇 〇 nm、至少約為30 0 nm、至少約為4〇〇 nm、至少約為5〇〇 nm)及/或至多約為1 〇微米(m 土 cr 〇ns )(例如:至多"約為$微 米、至多約為3微米、至多約為1微米)。於部分實施例 中,镁摻雜(P-摻雜)氮化鎵層丨28之厚度係可至少約為1〇 nm(例如:至少約為25 nm、至少約為40 nm)及/或至多約 為1微米(例如:至多約為5 0 〇 ηιη、至多約為1 〇 〇 nm)。於 部分實施例中,銀層1 2 6之厚度係可至少約為1 〇 (例
200423441 五、發明說明(52) 如··至少約為5 0 nm、至少約為1 0 0 nm)及/或至多約為1微 米(例如:至多約為5 0 0 nm、至多約為25 0 nm)。於部分實 施例中,光產生區域1 3 0之厚度係可至少約為1 0 nm (例 如:至少約為2 5 n m、至少約為5 0 n m、至少約為1 0 0 n m ) 及/或至多約為5 0 0 nm(例如:至多約為25 0 nm、至多約為 1 0 0 nm ) 〇
由其它例子可知,雖然於上述說明中揭露了相關於發 光二極體(light-emitting diodes)之各項特徵,然其並 非用以做為限制,其它的發光二極體亦可具有相同的特 欲類似的I置包括了雷射及光學放大器(laser and 〇Pt i ca 1 amp 1i f i e rs )。 由其 做為矽晶 layer); 晶摻雜(η 流散佈層 (η -摻雜) 氣體(2D 如另 導體材料 材料亦可 料(例如 material material 它例子可知,上述所提出之氮化鋁鎵層丨3 2 q 摻雜(η-摻雜)氮化鎵層134之一分離層(separat 於部分實施例中,電流散佈層係可一體成型於^ -摻雜)氮化鎵層丨3 4之上。於部分實施例中,電 f可為相對於相鄰層之間、相對高之矽晶摻雜 亂化鎵層1 34或異質接面,藉此以形成二維電子 electron gas)。
例子可知’雖然於上述說明中揭露了相關於二 之使用,然其並非用以做為限制,其它的 .應用,各實施例之中。一般而言,任何半導體* V鉍半導體材料(III_V semi⑶nduct〇r '、機半導體材料(organic semiconductor 石s 1 1 icon))係可應用在發光裝置之中,;
200423441 五、發明說明(53) 它的光產生材料(light-generating material)包括了 : 銦鎵砷磷(InGaAsP)、鋁銦氮化鎵(AlInGaN)、鋁鎵砰 (AlGaAs)、銦鎵氮化鋁(InGaAlP)。有機發光材料 (organic light-emitting materials)包括了三—8-經基 奎琳化銘(電子轉移材料(Alq3))(aluminum tr 1 s-8 - hydr oxy qu in〇line(Alq3))之小分子、聚[2 —甲氧 基-5-(2-乙基己氧基)-1,4 -對位苯乙二烯] 【P〇ly[2-methoxy-5-(2-ethylhexyloxy)-l, 4- viny lenephenylene]】或對苯乙炔(MEH-PPV)之共軛聚 合物(conjugated polymers) 〇
又如另一例子可知,雖然於上述說明中揭露了具有大 面積之LEDs,然其並非用以做為限制,小面積““亦同樣 可達到相同的特徵(例如:LEDs之邊緣係以3〇〇微米 準值(standard))。 ” 逃呪明中揭露了介雷杀 數係可根據具有孔洞之圖樣而進行空間改變,然其=由 以做為限制’圖樣亦可採用其它樣式來達成,;m用 當的層結構中,圖樣係可採用連續脈紋(vein 、、 績脈紋的方式來形成。另外,在不採用 s不連 丁+人 ^ 牡个抹用孔洞或脈紋之情涫
下亦可對於介電函數進行改變。例如··具有5八“兄 之材料係可被圖樣化於一適當層結構之/中。==介,函數 此類型圖樣進行組合(combi nations)下亦可、圭^入=由將 的改變。 』j違到介電函數
200423441 五、發明說明(54) 來形成層結構1 2 6,然其並非用以做為限制,層結構1 2 6亦 同樣可採用其它材料來形成。於部分實施例中,層結構 1 2 6係由可反射光線之材料所製成,藉由此一層結構丨2 6係 對於光產生區域所產生之5 0 %的光線進行反射,隨後被反 射之光線係衝擊在一反射材料層(a layer of a ref lective material)之上,其中,反射材料層係位於支 承構件與一多重材料推疊層(multi-layer stack of materl al )之間。此類型之材料包括:布拉格反射鏡疊層 (d i s t r i b u t e d B r a g g r e f 1 e c t 〇 r s t a c k s )、各種金屬與合 金,例如:鋁、含鋁合金。 又如另一例子可知,載具1 2 0係可由各種材料所製 成’這些材料包括了銅(copper)、銅鎢 (copper-tungsten)、氮化 |呂(aiuminuni nitride)、碳化 矽(silicon carbide)、氧化鈹(beryllium — oxide)、鑽石 (diamonds) 、 丁EC 、鋁。 y 又如另一例子可知,雖然於上述說明中之層結構1 2 6 係以熱沈材料所製成,但於其它實施例中之發光裝置係可 由包括了分離層(例如:設置於層結構丨2 6、載具丨2 〇之間) 之材料所製成,藉此以做為一熱沈。值得注意的是,此實 施例中之層結構丨2 6係可或不必經由熱沈用之材料所製 成。 一又如另一例子可知,除了上述說明中所提出之利用整 個光產生區域的方式以改變介電函數中的圖樣之外,僅藉 由延伸至石夕晶推雜摻雜)氮化鎵層134之中的方式以改
第58頁 200423441 五、發明說明(55) 變介電函數中的圖樣(於實質上係具有降低表面再結合載 子損失(surface recombination carrier l〇sses)之可 能)。於部分實施例中,藉由延伸超過了矽晶摻雜(n一摻 雜)氮化鎵層134的方式亦可改變介電函數中的圖樣(例 如·延伸進入氮化鋁鎵層132、光產生區域13〇及/或鎂摻 雜(P-摻雜)氮化鎵層128)。 又如另一例子可知,雖然於上述實施例中提出了可將 空氣設置於上表面11 〇、蓋玻片1 4 〇之間,於其它實施例中 係可將其它材料及/或空氣設置於上表面11 〇、蓋玻片丨4 〇 之間。一般而言,此類型之材料之折射率係必須至少約為 1、至少約小於1 · 5 (例如:至少約小於1 · 4、至少約小於J. 3、至少約小於1· 2、至少約小於1· 1),其材質係包括了氮 (nitrogen)、空氣,或是其它具高導熱 conduct ivi ty)之氣體。於此實施例中,上表面丨丨〇係可或 不必被圖樣化處理,例如:上表面1 1 〇係可為粗糙化處理 之非圖樣(non-patterned)表面(例如:可為具有任意分 佈、各式尺寸及形狀之外貌,其波長係小於λ / 5 )。 於部分實施例中,發光裝置係可包括了磷材料層 (layer of a phosphor material layer),此磷材料層係 塗覆於上表面110、蓋玻片140及支承構件142之上。 於部分實施例中,發光裝置中之蓋玻片1 4 0之中係可 設置有磷材料,其上表面11 0係可或不必被圖樣化處理。 於另一種實施方式中,由光產生區域130所發出之光 線係可為UV(或紫(violet)或藍(blue))·,並且於含碟材料
1057-6274-PF(N2).ptd" 第 59 頁 " ---- 200423441 五、發明說明(56) 層180之中係包括了紅色磷材料(red phosphor material) (例如:L2 02 S : Eu3+)、綠色磷材料(green ph〇sph〇r 11^1:61^31)(例如:2118:(:11,八1,从11)、藍色磷材料(131116 phosphor material)(例如:(Sr,Ca,Ba,Mg)iQ(p π : Eu2+)。 6
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第60頁 1057-6274-PF(N2).ptd 200423441 圖式簡單說明 第1圖係表示具有圖樣表面(patterned surface)之一 發光二極體(LED )的側視圖。 第2圖係表示根據第1圖之發光二極體(LED)之圖樣表 面的上視圖。 第3圖係表示相關於具有圖樣表面之一發光二極體 (LED)之引出效率(extraction efficiency)的圖形,其 中’圖樣表面係用以作為一調變參數(detuning parameter) °
第4圖係表示一發光二極體(LED )之圖樣表面之的示 意圖(schematic representation) 〇 第5圖係表示具有圖樣表面之一發光二極體(led)之引 出效率的圖形’其中,圖樣表面係用以作為一最近相鄰距 離(nearest neighbor distance)。 第6圖係表示具有圖樣表面之一發光二極體(LED)之引 出效率的圖形’其中’圖樣表面係用以作為一填充因子 (filling factor) 〇 第7圖係表不一發光二極體“ED)之圖樣表面的上視 圖。
第8圖係表示具有不同圖樣表面之複數發光二極體 (LEDs)之引出效率的圖形。 第9圖係表示具有不同圖樣表面之複數發光二極體 (LEDs)之引出效率的圖形。
200423441 圖式簡單說明 ---------- 第11圖係表示具有不同圖樣表面之複數發光二極體 (LEDs)之引出效率的圖形。 第12圖係表示具有不同圖樣表面之兩發光二極體 (LEDs)之傅立葉轉換的示意圖,纟中,此不同的圖樣表面 係相比較於兩發光二極體(LEDs)之輻射發射光譜 (radiation emission spectrum)而得。 第1 3圖係表示具有不同圖樣表面之複數發光二極體 (LEDs)之引出效率的圖形,其中,此不同的圖樣表面係用 以作為一角度(angle)。 第14圖係表示具有圖樣表面之一發光二極體(LED)、 且在圖樣表面上形成有一碟層(phosphor layer)的側視 圖。 苐15圖係表示經由蠢晶層前驅物(epitaxial layer precursor)之製作下所形成之具有圖樣表面之一發光二極 體(LED)的側視圖。 弟1 6圖係表示經由屋晶層前驅物之製作下所形成之具 有圖樣表面之一發光二極體(LED )的側視圖。 第1 7圖係表示經由磊晶層前驅物之製作下所形成之具 有圖樣表面之一發光二極體(LED )的側視圖。 第1 8圖係表示經由磊晶層前驅物之製作下所形成之具 有圖樣表面之一發光二極體(LED )的側視圖。 第1 9圖係表示經由磊晶層前驅物之製作下所形成之具 有圖樣表面之一發光二極體(LED )的側視圖。
1057-6274-PF(N2).ptd 200423441 圖式簡單說明 符號說明 10 0〜發光二極體(LED) 120〜載具 1 2 4〜結合層 12 6〜銀層(層結構、鏡面層或p —接觸層) 128〜鎂摻雜(p -摻雜)氮化鎵層 13 0〜光產生區域 132〜氮化鋁鎵層 134〜矽晶摻雜(n〜摻雜)氮化鎵層 1 1 0〜上表面 122〜多重推疊層 1 3 6〜接觸墊 140〜蓋玻片 144〜封膠材料層 1 5 0〜開孔 1 8 0〜含磷材料層 230〜六角單體 5 0 0〜發光二極體晶 5 0 4〜緩衝層 5 〇 8〜電流散佈層 51 0〜氮化銦鎵/氮化 5 1 2〜p -摻雜鎂·•翁九a /王J > 522〜銀層、氣化鎵層520〜錄層 52 6〜金層 5 24〜鎳層 6 0 2〜P-摻雜矽晶圓 60〇〜載具晶圓 6 0 8〜金層 604〜鋁接觸層 7〇〇~表面結構 610〜金鍚結合層 7 0 2〜平坦化層 圓 1 38〜p邊接觸墊 1 4 2〜支承構件 1 4 6〜深度 1 5 1〜頂部 1 8 1〜頂部 300-LED 5 02〜藍寶石基底 5 0 6〜η -摻雜石夕: 氮化鎵層 嫁多量子井光產生區域 1057-6274-PF(N2).ptd 第63頁 200423441 圖式簡單說明 704〜阻層 A7、A19〜貼圖 a〜晶格常數(最近相鄰距離(NND)) a’〜中心至中心間距 Fk〜傅立葉分量 G〜倒晶格向量 η〜階數 △ a〜調變參數 ω〜光線頻率 k、k’〜平面内波向量 Sk〜發射源 ε 〜介電函數(散射強度)
1057-6274-PF(N2).ptd 第64頁

Claims (1)

  1. 200423441 六、申請專利範圍 1. 一種發光裝置,包括·· 一多重推疊材料層,包括一 η摻雜材料層、一 p摻雜材 料層、一光產生區域;以及 一反射材料層’可將經由該光產生區域所產生、且撞 擊在具有該反射材料層上之至少約5 0 %之光線係會被該反 射材料層之該反射材料所反射, 其中,經该η摻雜材料層之一表面的設計下,由該光 產生區域所產生之光線便可經由該η摻雜材料層之該表面 而自該發光裝置發出; 電函數係根據一圖樣而進行空間上的改變;以及 # n s雜/料層與該反射材料層之間的距離係小另 忒11摻雜材料層與該反射材料層之間的距離。 多曹H中晴專利範圍第1項所述之發光裝置,1中,古 夕重推登材料層包括一多重推疊半導體材料層,中^ η摻雜材:層=則=第主1項所述之發光農置,其中,自 包括一ρ摻雜半導體η材;;層丰。導體材料層’該ρ掺雜材料層 光產圍第1項所述之發光裝置,其中,号 支承構件,該支承第1項所述之發光裝置,更包括一 p型歐姐,:專乾圍第1項所述之發光梦署2 W妾觸層,該p型歐姆式接=襄置$包括- 八接觸層係位於該P摻雜材 200423441 六、申請專利範圍 料層與該反射材料層之間。 7·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置,更包括一 :流散佈層,該電流散佈層係位於該第一層 域之間。 其中,該 其中,該 有機半 其中, 其中, 其中, 更包括 8.如申請專利範圍第1項所述之發光裝置 多重材料推疊層包括半導體材料。 9 ·如申請專利範圍第8項所述之發光裝置 多重材料推疊層係選自於由Ιπ — ν族半導體材料 導體材料、石夕所構成之群組。 10·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置 該圖樣係不會延伸進入該光產生區域。 11·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置 該圖樣係不會延伸超過了該η摻雜材料層。 12·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置 該圖樣係延伸超過了該^摻雜材料層。 13·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置 入二μ 複數電接觸墊,該等電接觸墊係用以將電流注入於該發光 裝置。 1 4 _如申請專利範圍第丨3項所述之發光裝置,其中, 該等電接觸塾係用以將該電流垂直注入於該發光裝置。 15·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置,其中, 該圖樣係局部地經由該η摻雜材料層之該表面上形成了複 數孔洞、於該η摻雜材料層之中形成有複數柱體結構、於 該η摻雜材料層之中形成有複數連續脈紋、於該η摻雜材料
    第66頁 1057-6274-PF(N2).ptd 200423441 % 六、申請專利範圍 層之中形成有複數不連續脈紋或其相互間的組合所構成 群組中選出一構成方式而形成。 之 16·如申請專利範圍第!項所述之發光裝置,其中, 該圖樣之變化係選自於非周期性圖樣、複雜周期性圖樣 具有想一晶格常數及大於零之一調變參數所構成之群矣且 選出。 、、且中 17.如申請專利範圍第1項所述之發光裝置,其中, 该圖樣係局部由該第一層之該表面上之複數孔洞所形成 18·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置,其中, 該圖樣係經由設計下,由該η摻雜材料層之該表面所發出 之光線係具有複數輻射模態之一光譜,並且具有該等輕射 杈悲之該光譜係於實質上相同於光產生區域之一特徵、 射。 Χ 19.如申請專利範圍第1項所述之發光裝置,其中, 該發光裝置係由複數發光二極體、複數雷射、複數光放大 裔及其複數組合件所構成之群組中選出。 2 0·如申請專利範圍第1項所述之發光裝置,其中, 该發光裝置係包括一發光二極體。 21·如申請專利範圍第丨項所述之發光裝置,其中, 該發光裝置係由複數有機發光二極體、複數面射型發光二 極體、複數高亮度發光二極體及其複數組合件所構成之 組中選出。 22· —種發光裝置,包括: 一反射材料層,包括一光產生區域及一第一層,該第
    200423441
    二層係由該光產生區域所支承,該第一層之一表面經由設 計下,由該光產生區域所產生之光線便可經由該第一層之 該表面而自該發光裝置發出,該表面係具有一介電函數, 該介電函數係根據一圖樣而進行空間上的改變;以及 一反射材料層,可將經由該光產生區域所產生、且撞 擊在具有該反射材料層上之至少約5 〇 %之光線係會被該反 射材料層之該反射材料所反射, 其中’該光產生區域係位於該反射材料層、該第一層 之間’並且該圖樣係不會延伸超過了該η摻雜材料層。 23.如申請專利範圍第22項所述之發光裝置,其中, 該多重推疊材料層包括一多重推疊半導體材料層。 2 4·如申請專利範圍第2 3項所述之發光裝置,其中, 該第一層包括一η摻雜半導體材料層,該多重材料推疊層 更包括一 ρ摻雜半導體材料層。 25·如申請專利範圍第24項所述之發光裝置,其中, 該光產生區域係位於該η摻雜半導體材料層、該ρ摻雜半導 體材料層之間。 2 6·如申請專利範圍第2 5項所述之發光裝置,更包括 一支承構件,該支承構件係用以支承該多重推疊材料層。 2 7·如申請專利範圍第2 6項所述之發光裝置,其中, 該Ρ摻雜材料層與該反射材料層之間的距離係小於該η摻雜 材料層與該反射材料層之間的距離。 2 8.如申請專利範圍第2 7項所述之發光裝置’更包括 一Ρ型歐姆式接解層,該ρ型歐姆式接觸層係位於該Ρ摻雜
    l〇57-6274-PF(N2).ptd 第68頁 200423441
    六、申請專利範圍 材料層與該反射材料層之間。 2 9·如申請專利範圍第2 2項所述之發光裝置,更包括 一電流散佈層,該電流散佈層係位於該第一層與該光產生 區域之間。 3 0·如申請專利範圍第2 2項所述之發光裝置,其中, 該多重材料推疊層包括半導體材料。 31·如申睛專利範圍第3 0項所述之發光裝置,其中, 該多重材料推疊層係選自於由〗丨丨一 V族半導體材料、有機 半導體材料、矽所構成之群組。
    3 2·如申請專利範圍第2 2項所述之發光裝置,其中, 該圖樣係不會延伸進入該光產生區域。 3 3·如申請專利範圍第2 2項所述之發光裝置,更包括 複數電接觸墊,該等電接觸墊係用以將電流注入於該發光 裝置。 34 ·如申請專利範圍第3 3項所述之發光裝置,其中, 該等電接觸墊係用以將該電流垂直注入於該發光裝置。 35'如申請專利範圍第22項所述之發光裝置,其中, 該圖樣係局部地經由該第一層之該表面上形成了複數孔
    洞、於該第一層之中形成有複數柱體結構、於該第一層之 ^形成有複數連續脈紋、於該第一層之中形成有複數不連 續脈紋或其相互間的組合所構成之群組中選出一構成方式 而形成。 36·/如申請專利範圍第22項所述之發光裝置,其中, 該圖樣係包括了選自於非周期性圖樣、複雜周期性圖樣、
    200423441
    六、申請專利範圍 具有想一晶格常數及大於零之一調變參數所構成之群級 之至少一者。 、、、中 3 7 ·如申請專利範圍第2 2項所述之發光裝置,其中, 該圖樣係局部由該第一層中之複數孔洞所形成。 38·如申請專利範圍第22項所述之發光裝置,其中, 該圖樣具有一調變參數,該調變參數係至多約為該圖樣之 該理想晶袼常數之2 5 %。 3 9.如申請專利範圍第2 2項所述之發光裝置,其中, 該圖樣具有一調變參數,該調變參數係至少約為該圖樣之 該理想晶格常數之1 %。 4 0 ·如申請專利範圍第2 2項所述之發光t置,其中, 於該介電函數中之該圖樣的變化係對應於一理想圖樣,該 理想圖樣於實質上係為任意調變。 41.如申請專利範圍第22項所述之發光裝置,其中, 該圖樣係為一非周期性圖樣。 42如申請專利範圍第22項所述之發光裝置,其中, 該圖樣係經由設計下,由該第一層之該表面所發出之光線 係具有複數輕射模態之一光譜,旅具有3荨輪射模態之 該光譜係於實質上相同於光產生區城之一特彳政發射。 4 3·如申請專利範圍第2 2項所述之發光裝置,其中, 該發光裝置係由複數發光二極體、複數雷射、複數光放大 裔及其複數組合件所構成之群組中選出 44.如申請專利範圍第22項所述之發光裝置,其中, 該發光裝置係包括一發光二極辦。
    200423441
    一 4 5 ·如申凊專利範圍第2 2項所述之發光裝置,其中, 該發光裝置係由複數有機發光二極體、複數面射型發光二 極體、複數鬲亮度發光二極體及其複數組合件所構成之群 組中選出。 4 6·如申睛專利範圍第1項所述之發光裝置’其中, 該η摻雜材料層之該表面係具有尺寸約小於又/ 5之特徵, 其中,;I係為經由該光產生區域所產生、且可經由該η摻 雜材料層之該表面而自該發光裝置發出之光線的波長。 47.如申請專利範圍第22項所述之發光裝置,其中, 該第一層之該表面係具有尺寸約小於又/ 5之特徵,其中, λ係為經由該光產生區域所產生、且可經由該第一層之該 表面而自該發光裝置發出之光線的波長。
    1057-6274-PF(N2).ptd 第71頁
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Families Citing this family (200)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7211833B2 (en) * 2001-07-23 2007-05-01 Cree, Inc. Light emitting diodes including barrier layers/sublayers
US20060005763A1 (en) 2001-12-24 2006-01-12 Crystal Is, Inc. Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride
US7638346B2 (en) 2001-12-24 2009-12-29 Crystal Is, Inc. Nitride semiconductor heterostructures and related methods
US8545629B2 (en) 2001-12-24 2013-10-01 Crystal Is, Inc. Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride
KR101030068B1 (ko) * 2002-07-08 2011-04-19 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 질화물 반도체 소자의 제조방법 및 질화물 반도체 소자
US7274043B2 (en) 2003-04-15 2007-09-25 Luminus Devices, Inc. Light emitting diode systems
US7074631B2 (en) 2003-04-15 2006-07-11 Luminus Devices, Inc. Light emitting device methods
US7105861B2 (en) 2003-04-15 2006-09-12 Luminus Devices, Inc. Electronic device contact structures
US7166871B2 (en) * 2003-04-15 2007-01-23 Luminus Devices, Inc. Light emitting systems
US20040259279A1 (en) 2003-04-15 2004-12-23 Erchak Alexei A. Light emitting device methods
US7098589B2 (en) 2003-04-15 2006-08-29 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices with high light collimation
US7521854B2 (en) 2003-04-15 2009-04-21 Luminus Devices, Inc. Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same
US7083993B2 (en) 2003-04-15 2006-08-01 Luminus Devices, Inc. Methods of making multi-layer light emitting devices
US7262550B2 (en) 2003-04-15 2007-08-28 Luminus Devices, Inc. Light emitting diode utilizing a physical pattern
US7211831B2 (en) * 2003-04-15 2007-05-01 Luminus Devices, Inc. Light emitting device with patterned surfaces
US7084434B2 (en) * 2003-04-15 2006-08-01 Luminus Devices, Inc. Uniform color phosphor-coated light-emitting diode
US6831302B2 (en) 2003-04-15 2004-12-14 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices with improved extraction efficiency
US7667238B2 (en) 2003-04-15 2010-02-23 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices for liquid crystal displays
US7157745B2 (en) * 2004-04-09 2007-01-02 Blonder Greg E Illumination devices comprising white light emitting diodes and diode arrays and method and apparatus for making them
US7777235B2 (en) 2003-05-05 2010-08-17 Lighting Science Group Corporation Light emitting diodes with improved light collimation
US7633093B2 (en) 2003-05-05 2009-12-15 Lighting Science Group Corporation Method of making optical light engines with elevated LEDs and resulting product
US7528421B2 (en) * 2003-05-05 2009-05-05 Lamina Lighting, Inc. Surface mountable light emitting diode assemblies packaged for high temperature operation
US7360936B2 (en) * 2003-06-10 2008-04-22 Abu-Ageel Nayef M Method and system of LED light extraction using optical elements
US7400805B2 (en) * 2003-06-10 2008-07-15 Abu-Ageel Nayef M Compact light collection system and method
US7456035B2 (en) * 2003-07-29 2008-11-25 Lumination Llc Flip chip light emitting diode devices having thinned or removed substrates
US7344903B2 (en) 2003-09-17 2008-03-18 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7341880B2 (en) * 2003-09-17 2008-03-11 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7012279B2 (en) * 2003-10-21 2006-03-14 Lumileds Lighting U.S., Llc Photonic crystal light emitting device
FR2862424B1 (fr) * 2003-11-18 2006-10-20 Valeo Electronique Sys Liaison Dispositif de refroidissement d'un composant electrique et procede de fabrication de ce dispositif
US7450311B2 (en) 2003-12-12 2008-11-11 Luminus Devices, Inc. Optical display systems and methods
US7189591B2 (en) * 2003-12-19 2007-03-13 Nitto Denko Corporation Process for producing light-emitting semiconductor device
JP4557542B2 (ja) * 2003-12-24 2010-10-06 ▲さん▼圓光電股▲ふん▼有限公司 窒化物発光装置及び高発光効率窒化物発光装置
EP1706893A2 (en) * 2003-12-24 2006-10-04 Gelcore LLC Laser lift-off of sapphire from a nitride flip-chip
US20050152417A1 (en) * 2004-01-08 2005-07-14 Chung-Hsiang Lin Light emitting device with an omnidirectional photonic crystal
US6969626B2 (en) * 2004-02-05 2005-11-29 Advanced Epitaxy Technology Method for forming LED by a substrate removal process
US7250635B2 (en) * 2004-02-06 2007-07-31 Dicon Fiberoptics, Inc. Light emitting system with high extraction efficency
US20050173714A1 (en) * 2004-02-06 2005-08-11 Ho-Shang Lee Lighting system with high and improved extraction efficiency
US20050205883A1 (en) * 2004-03-19 2005-09-22 Wierer Jonathan J Jr Photonic crystal light emitting device
DE102004021233A1 (de) * 2004-04-30 2005-12-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Leuchtdiodenanordnung
US20070267646A1 (en) * 2004-06-03 2007-11-22 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Light Emitting Device Including a Photonic Crystal and a Luminescent Ceramic
US7582910B2 (en) * 2005-02-28 2009-09-01 The Regents Of The University Of California High efficiency light emitting diode (LED) with optimized photonic crystal extractor
US7795623B2 (en) 2004-06-30 2010-09-14 Cree, Inc. Light emitting devices having current reducing structures and methods of forming light emitting devices having current reducing structures
US20090023239A1 (en) * 2004-07-22 2009-01-22 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7557380B2 (en) 2004-07-27 2009-07-07 Cree, Inc. Light emitting devices having a reflective bond pad and methods of fabricating light emitting devices having reflective bond pads
US7442964B2 (en) * 2004-08-04 2008-10-28 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Photonic crystal light emitting device with multiple lattices
US20060038188A1 (en) * 2004-08-20 2006-02-23 Erchak Alexei A Light emitting diode systems
US20060043400A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-02 Erchak Alexei A Polarized light emitting device
US8174037B2 (en) * 2004-09-22 2012-05-08 Cree, Inc. High efficiency group III nitride LED with lenticular surface
US7737459B2 (en) 2004-09-22 2010-06-15 Cree, Inc. High output group III nitride light emitting diodes
US7509012B2 (en) * 2004-09-22 2009-03-24 Luxtaltek Corporation Light emitting diode structures
US7327924B2 (en) * 2004-09-23 2008-02-05 Stc.Unm Generalized transverse bragg waveguide
US7256483B2 (en) * 2004-10-28 2007-08-14 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Package-integrated thin film LED
US7170100B2 (en) 2005-01-21 2007-01-30 Luminus Devices, Inc. Packaging designs for LEDs
US7692207B2 (en) * 2005-01-21 2010-04-06 Luminus Devices, Inc. Packaging designs for LEDs
US7335920B2 (en) 2005-01-24 2008-02-26 Cree, Inc. LED with current confinement structure and surface roughening
US20070045640A1 (en) 2005-08-23 2007-03-01 Erchak Alexei A Light emitting devices for liquid crystal displays
US20060204865A1 (en) * 2005-03-08 2006-09-14 Luminus Devices, Inc. Patterned light-emitting devices
US7125734B2 (en) * 2005-03-09 2006-10-24 Gelcore, Llc Increased light extraction from a nitride LED
JP2006310721A (ja) * 2005-03-28 2006-11-09 Yokohama National Univ 自発光デバイス
JP2008311687A (ja) * 2005-03-28 2008-12-25 Stanley Electric Co Ltd 自発光デバイス
TW200643472A (en) * 2005-04-07 2006-12-16 Accent Optical Tech Inc Apparatus and methods for scatterometry of optical devices
WO2006117389A1 (de) * 2005-05-03 2006-11-09 Ihp Gmbh - Innovations For High Performance Microelectronics / Institut Für Innovative Mikroelektronik Versetzungsbasierter lichtemitter
KR100588377B1 (ko) * 2005-05-10 2006-06-09 삼성전기주식회사 수직구조 질화갈륨계 발광다이오드 소자 및 그 제조방법
DE102005048408B4 (de) * 2005-06-10 2015-03-19 Osram Opto Semiconductors Gmbh Dünnfilm-Halbleiterkörper
US8163575B2 (en) 2005-06-17 2012-04-24 Philips Lumileds Lighting Company Llc Grown photonic crystals in semiconductor light emitting devices
WO2006138465A2 (en) * 2005-06-17 2006-12-28 Goldeneye, Inc. Light emitting diodes with reflective electrode and side electrode
TWI282629B (en) * 2005-06-21 2007-06-11 Unit Light Technology Inc Method for fabricating LED
KR101203672B1 (ko) * 2005-07-01 2012-11-23 라미나 라이팅, 인크. 백색 발광 다이오드 및 다이오드 어레이를 포함하는 조명 디바이스 및 이를 만들기 위한 방법 및 장치
US20070018186A1 (en) * 2005-07-19 2007-01-25 Lg Chem, Ltd. Light emitting diode device having advanced light extraction efficiency and preparation method thereof
US20070024809A1 (en) * 2005-07-28 2007-02-01 Victor Company Of Japan, Limited Polarizing illuminant apparatus and image display apparatus
KR101154744B1 (ko) * 2005-08-01 2012-06-08 엘지이노텍 주식회사 질화물 발광 소자 및 그 제조 방법
JP2007103689A (ja) * 2005-10-05 2007-04-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体発光装置
US7348603B2 (en) * 2005-10-17 2008-03-25 Luminus Devices, Inc. Anisotropic collimation devices and related methods
US7388233B2 (en) * 2005-10-17 2008-06-17 Luminus Devices, Inc. Patchwork patterned devices and related methods
US20070085098A1 (en) * 2005-10-17 2007-04-19 Luminus Devices, Inc. Patterned devices and related methods
US7391059B2 (en) 2005-10-17 2008-06-24 Luminus Devices, Inc. Isotropic collimation devices and related methods
US8100567B2 (en) * 2005-10-19 2012-01-24 Rambus International Ltd. Light-emitting devices and related systems
US20080099777A1 (en) * 2005-10-19 2008-05-01 Luminus Devices, Inc. Light-emitting devices and related systems
US9530940B2 (en) * 2005-10-19 2016-12-27 Epistar Corporation Light-emitting device with high light extraction
TWI276208B (en) * 2005-10-21 2007-03-11 Advanced Semiconductor Eng Semiconductor package having an optical device and the method of making the same
US20070153864A1 (en) * 2005-11-02 2007-07-05 Luminus Devices, Inc. Lasers and methods associated with the same
US7598531B2 (en) * 2005-11-18 2009-10-06 Luminus Devices, Inc. Electronic device contact structures
US7641735B2 (en) 2005-12-02 2010-01-05 Crystal Is, Inc. Doped aluminum nitride crystals and methods of making them
WO2007081719A2 (en) 2006-01-05 2007-07-19 Illumitex, Inc. Separate optical device for directing light from an led
KR100658970B1 (ko) * 2006-01-09 2006-12-19 주식회사 메디아나전자 복합 파장의 광을 발생시키는 발광 다이오드 소자
US7717343B2 (en) * 2006-01-12 2010-05-18 Hand Held Products, Inc. High-efficiency illumination in data collection devices
US20070211184A1 (en) * 2006-03-10 2007-09-13 Luminus Devices, Inc. Liquid crystal display systems including LEDs
US20070211183A1 (en) * 2006-03-10 2007-09-13 Luminus Devices, Inc. LCD thermal management methods and systems
US20070211182A1 (en) * 2006-03-10 2007-09-13 Luminus Devices, Inc. Optical system thermal management methods and systems
CN101454487B (zh) 2006-03-30 2013-01-23 晶体公司 氮化铝块状晶体的可控掺杂方法
US9034103B2 (en) 2006-03-30 2015-05-19 Crystal Is, Inc. Aluminum nitride bulk crystals having high transparency to ultraviolet light and methods of forming them
US8469760B2 (en) * 2006-03-31 2013-06-25 Dowa Electronics Materials Co., Ltd. Light emitting device and method for producing same
KR100783251B1 (ko) * 2006-04-10 2007-12-06 삼성전기주식회사 양자점을 이용한 다층 구조 백색 발광 다이오드 및 그의제조방법
US7521727B2 (en) * 2006-04-26 2009-04-21 Rohm And Haas Company Light emitting device having improved light extraction efficiency and method of making same
US7955531B1 (en) * 2006-04-26 2011-06-07 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Patterned light extraction sheet and method of making same
KR100736623B1 (ko) * 2006-05-08 2007-07-09 엘지전자 주식회사 수직형 발광 소자 및 그 제조방법
US20070262341A1 (en) * 2006-05-09 2007-11-15 Wen-Huang Liu Vertical led with eutectic layer
US20070267642A1 (en) * 2006-05-16 2007-11-22 Luminus Devices, Inc. Light-emitting devices and methods for manufacturing the same
WO2007148866A1 (en) * 2006-06-23 2007-12-27 Lg Electronics Inc. Light emitting diode having vertical topology and method of making the same
US7959341B2 (en) 2006-07-20 2011-06-14 Rambus International Ltd. LED color management and display systems
US20080030974A1 (en) * 2006-08-02 2008-02-07 Abu-Ageel Nayef M LED-Based Illumination System
US7915624B2 (en) 2006-08-06 2011-03-29 Lightwave Photonics, Inc. III-nitride light-emitting devices with one or more resonance reflectors and reflective engineered growth templates for such devices, and methods
US7829905B2 (en) * 2006-09-07 2010-11-09 Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. Semiconductor light emitting device
US8362603B2 (en) * 2006-09-14 2013-01-29 Luminus Devices, Inc. Flexible circuit light-emitting structures
JP2008084973A (ja) * 2006-09-26 2008-04-10 Stanley Electric Co Ltd 半導体発光デバイス
US7745843B2 (en) * 2006-09-26 2010-06-29 Stanley Electric Co., Ltd. Semiconductor light emitting device
JP5186093B2 (ja) * 2006-09-26 2013-04-17 スタンレー電気株式会社 半導体発光デバイス
US7697584B2 (en) * 2006-10-02 2010-04-13 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Light emitting device including arrayed emitters defined by a photonic crystal
US8087960B2 (en) 2006-10-02 2012-01-03 Illumitex, Inc. LED system and method
US7847306B2 (en) * 2006-10-23 2010-12-07 Hong Kong Applied Science and Technology Research Insitute Company, Ltd. Light emitting diode device, method of fabrication and use thereof
KR100809227B1 (ko) * 2006-10-27 2008-03-05 삼성전기주식회사 질화물 반도체 발광소자 및 제조 방법
US20080101062A1 (en) * 2006-10-27 2008-05-01 Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited Lighting device for projecting a beam of light
US9318327B2 (en) * 2006-11-28 2016-04-19 Cree, Inc. Semiconductor devices having low threading dislocations and improved light extraction and methods of making the same
US8110838B2 (en) * 2006-12-08 2012-02-07 Luminus Devices, Inc. Spatial localization of light-generating portions in LEDs
US9771666B2 (en) 2007-01-17 2017-09-26 Crystal Is, Inc. Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth
WO2008088838A1 (en) 2007-01-17 2008-07-24 Crystal Is, Inc. Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth
WO2008094464A2 (en) 2007-01-26 2008-08-07 Crystal Is, Inc. Thick pseudomorphic nitride epitaxial layers
US8080833B2 (en) 2007-01-26 2011-12-20 Crystal Is, Inc. Thick pseudomorphic nitride epitaxial layers
US20080205078A1 (en) * 2007-02-23 2008-08-28 Luminus Devices, Inc. Illumination tiles and related methods
US8110425B2 (en) 2007-03-20 2012-02-07 Luminus Devices, Inc. Laser liftoff structure and related methods
US7781779B2 (en) * 2007-05-08 2010-08-24 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices including wavelength converting material
TWI447933B (zh) * 2007-05-17 2014-08-01 Semi Photonics Co Ltd 具有共熔層之立式發光二極體
US8088220B2 (en) 2007-05-24 2012-01-03 Crystal Is, Inc. Deep-eutectic melt growth of nitride crystals
US8278190B2 (en) * 2007-05-30 2012-10-02 Luminus Devices, Inc. Methods of forming light-emitting structures
JP2010532104A (ja) * 2007-06-27 2010-09-30 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア 高効率白色発光ダイオードのための光学設計
US8179034B2 (en) 2007-07-13 2012-05-15 3M Innovative Properties Company Light extraction film for organic light emitting diode display and lighting devices
US20090050905A1 (en) * 2007-08-20 2009-02-26 Abu-Ageel Nayef M Highly Efficient Light-Emitting Diode
GB0722054D0 (en) * 2007-11-09 2007-12-19 Photonstar Led Ltd LED with enhanced light extraction
US8872204B2 (en) * 2007-11-23 2014-10-28 Epistar Corporation Light-emitting device having a trench in a semiconductor layer
WO2009075753A2 (en) * 2007-12-06 2009-06-18 Paul Panaccione Chip-scale packaged light-emitting devices
US8362703B2 (en) * 2007-12-20 2013-01-29 Luminus Devices, Inc. Light-emitting devices
US20090309114A1 (en) 2008-01-16 2009-12-17 Luminus Devices, Inc. Wavelength converting light-emitting devices and methods of making the same
JP2011512037A (ja) 2008-02-08 2011-04-14 イルミテックス, インコーポレイテッド エミッタ層成形のためのシステムおよび方法
US20100038670A1 (en) * 2008-08-18 2010-02-18 Luminus Devices, Inc. Illumination assembly including chip-scale packaged light-emitting device
JP2012502473A (ja) * 2008-09-04 2012-01-26 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 窒化ガリウムレーザダイオードによって光励起された、ヒートシンク上のii−vi多重量子井戸垂直共振器面発光レーザー
WO2010027580A2 (en) * 2008-09-04 2010-03-11 3M Innovative Properties Company Light source having light blocking components
EP2335294A1 (en) * 2008-09-04 2011-06-22 3M Innovative Properties Company Monochromatic light source with high aspect ratio
CN102197554A (zh) * 2008-09-04 2011-09-21 3M创新有限公司 单色光源
EP2335293A1 (en) * 2008-09-04 2011-06-22 3M Innovative Properties Company Light source with improved monochromaticity
US7741134B2 (en) * 2008-09-15 2010-06-22 Bridgelux, Inc. Inverted LED structure with improved light extraction
KR20110059788A (ko) * 2008-09-24 2011-06-03 루미너스 디바이시즈, 아이엔씨. 독립적으로 전기적으로 어드레스가능한 구획을 포함하는 발광 장치
KR20110080165A (ko) * 2008-10-17 2011-07-12 루미너스 디바이시즈, 아이엔씨. 원격 조명 조립체 및 방법
US20100148199A1 (en) * 2008-11-04 2010-06-17 Samsung Led Co., Ltd. Light emitting device with fine pattern
KR101064016B1 (ko) * 2008-11-26 2011-09-08 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 그 제조방법
TW201034256A (en) 2008-12-11 2010-09-16 Illumitex Inc Systems and methods for packaging light-emitting diode devices
US7957621B2 (en) 2008-12-17 2011-06-07 3M Innovative Properties Company Light extraction film with nanoparticle coatings
US8869419B2 (en) * 2009-02-13 2014-10-28 Soliduv, Inc. Efficient irradiation system using curved reflective surfaces
GB0902569D0 (en) * 2009-02-16 2009-04-01 Univ Southampton An optical device
KR101134810B1 (ko) * 2009-03-03 2012-04-13 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 그 제조방법
KR100969160B1 (ko) * 2009-03-10 2010-07-21 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 그 제조방법
TWI478372B (zh) * 2009-03-20 2015-03-21 Huga Optotech Inc 具有中空結構之柱狀結構之發光元件及其形成方法
WO2011013363A1 (ja) * 2009-07-30 2011-02-03 キヤノン株式会社 微細構造の製造方法
US8449128B2 (en) 2009-08-20 2013-05-28 Illumitex, Inc. System and method for a lens and phosphor layer
US8585253B2 (en) 2009-08-20 2013-11-19 Illumitex, Inc. System and method for color mixing lens array
US20110084292A1 (en) * 2009-10-01 2011-04-14 Luminus Devices, Inc. Arrays of light emitting devices
US20110121726A1 (en) * 2009-11-23 2011-05-26 Luminus Devices, Inc. Solid-state lamp
US10290788B2 (en) * 2009-11-24 2019-05-14 Luminus Devices, Inc. Systems and methods for managing heat from an LED
US20110119949A1 (en) * 2009-11-24 2011-05-26 Luminus Devices, Inc. Controllable curing systems and methods including an led source
KR100969100B1 (ko) * 2010-02-12 2010-07-09 엘지이노텍 주식회사 발광소자, 발광소자의 제조방법 및 발광소자 패키지
KR100993077B1 (ko) * 2010-02-17 2010-11-08 엘지이노텍 주식회사 반도체 발광소자 및 그 제조방법, 발광소자 패키지
US8378367B2 (en) 2010-04-16 2013-02-19 Invenlux Limited Light-emitting devices with vertical light-extraction mechanism and method for fabricating the same
US9558954B2 (en) 2010-04-22 2017-01-31 Luminus Devices, Inc. Selective wet etching and textured surface planarization processes
US8538224B2 (en) 2010-04-22 2013-09-17 3M Innovative Properties Company OLED light extraction films having internal nanostructures and external microstructures
KR101047720B1 (ko) * 2010-04-23 2011-07-08 엘지이노텍 주식회사 발광 소자, 발광 소자 제조방법 및 발광 소자 패키지
WO2011146015A1 (en) * 2010-05-18 2011-11-24 Agency For Science, Technology And Research Method of forming a light emitting diode structure and a light emitting diode structure
JP5806734B2 (ja) 2010-06-30 2015-11-10 クリスタル アイエス, インコーポレーテッドCrystal Is, Inc. 熱勾配制御による窒化アルミニウム大単結晶成長
US8476652B2 (en) 2010-07-30 2013-07-02 Invenlux Corporation Three-dimensional light-emitting devices and method for fabricating the same
US8723201B2 (en) 2010-08-20 2014-05-13 Invenlux Corporation Light-emitting devices with substrate coated with optically denser material
KR101795053B1 (ko) * 2010-08-26 2017-11-07 엘지이노텍 주식회사 발광 소자, 발광 소자 패키지, 라이트 유닛
JP5016712B2 (ja) * 2010-09-21 2012-09-05 三井金属鉱業株式会社 電極箔および有機デバイス
US20120119241A1 (en) * 2010-11-17 2012-05-17 Luminus Devices, Inc. Etendue and Light Extraction System and Method
CN102487111B (zh) * 2010-12-04 2014-08-27 展晶科技(深圳)有限公司 半导体发光芯片制造方法
JP2012186414A (ja) * 2011-03-08 2012-09-27 Toshiba Corp 発光装置
US8872217B2 (en) 2011-04-15 2014-10-28 Luminus Devices, Inc. Electronic device contact structures
CN103828071B (zh) 2011-06-28 2018-08-07 发光装置公司 用于增强性能的发光二极管结构
US8962359B2 (en) 2011-07-19 2015-02-24 Crystal Is, Inc. Photon extraction from nitride ultraviolet light-emitting devices
CN103782399B (zh) * 2011-08-09 2016-11-09 三星电子株式会社 氮化物半导体发光元件
US9064980B2 (en) * 2011-08-25 2015-06-23 Palo Alto Research Center Incorporated Devices having removed aluminum nitride sections
US8896010B2 (en) 2012-01-24 2014-11-25 Cooledge Lighting Inc. Wafer-level flip chip device packages and related methods
US8907362B2 (en) 2012-01-24 2014-12-09 Cooledge Lighting Inc. Light-emitting dies incorporating wavelength-conversion materials and related methods
WO2013112435A1 (en) 2012-01-24 2013-08-01 Cooledge Lighting Inc. Light - emitting devices having discrete phosphor chips and fabrication methods
US9318721B2 (en) * 2012-01-27 2016-04-19 Wake Forest University Field induced polymer electroluminescent (FIPEL) device
US9088133B2 (en) * 2012-02-28 2015-07-21 Kyoto University Two-dimensional photonic crystal surface emitting laser
US20140008660A1 (en) * 2012-03-14 2014-01-09 Lightwave Photonics, Inc. Materials, structures, and methods for optical and electrical iii-nitride semiconductor devices
TWI470833B (zh) 2012-06-04 2015-01-21 Phostek Inc 半導體裝置及其製造方法
US9147816B2 (en) 2012-08-24 2015-09-29 Luminus Devices, Inc. Wavelength converting material deposition methods and associated articles
USD777121S1 (en) 2013-03-05 2017-01-24 Luminus Devices, Inc. LED package
EP2973664B1 (en) 2013-03-15 2020-10-14 Crystal Is, Inc. Ultraviolet light-emitting device and method of forming a contact to an ultraviolet light-emitting device
US9048387B2 (en) 2013-08-09 2015-06-02 Qingdao Jason Electric Co., Ltd. Light-emitting device with improved light extraction efficiency
US9343443B2 (en) 2014-02-05 2016-05-17 Cooledge Lighting, Inc. Light-emitting dies incorporating wavelength-conversion materials and related methods
CN106471687B (zh) * 2014-02-28 2019-02-19 国立研究开发法人科学技术振兴机构 热辐射光源以及在该光源中使用的二维光子晶体
US10361343B2 (en) 2014-07-02 2019-07-23 Trustees Of Boston University Ultraviolet light emitting diodes
CN104332524B (zh) * 2014-08-26 2018-01-09 日月光半导体制造股份有限公司 电子装置、光学模块及其制造方法
DE102015102857A1 (de) * 2015-02-27 2016-09-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Halbleiterbauelement, Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Kontakts und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
US9412907B1 (en) * 2015-04-17 2016-08-09 Cree, Inc. Graded vias for LED chip P- and N- contacts
US10263144B2 (en) 2015-10-16 2019-04-16 Robbie J. Jorgenson System and method for light-emitting devices on lattice-matched metal substrates
KR102383837B1 (ko) 2016-05-26 2022-04-07 로비 조젠슨 3a족 질화물 성장 시스템 및 방법
JP7227060B2 (ja) * 2018-04-13 2023-02-21 浜松ホトニクス株式会社 半導体発光素子
GB2593181B (en) 2020-03-17 2023-11-15 Plessey Semiconductors Ltd Micro-LED device
GB2595715B (en) 2020-06-04 2022-08-17 Plessey Semiconductors Ltd Enhanced colour conversion and collimation of micro-LED devices

Family Cites Families (141)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3293513A (en) 1962-08-08 1966-12-20 Texas Instruments Inc Semiconductor radiant diode
US3922706A (en) 1965-07-31 1975-11-25 Telefunken Patent Transistor having emitter with high circumference-surface area ratio
US3739217A (en) 1969-06-23 1973-06-12 Bell Telephone Labor Inc Surface roughening of electroluminescent diodes
JPS5216192A (en) * 1975-07-30 1977-02-07 Hitachi Ltd Luminous diode and its producing method
US4864370A (en) 1987-11-16 1989-09-05 Motorola, Inc. Electrical contact for an LED
US5126231A (en) 1990-02-26 1992-06-30 Applied Materials, Inc. Process for multi-layer photoresist etching with minimal feature undercut and unchanging photoresist load during etch
JPH0442582A (ja) 1990-06-08 1992-02-13 Eastman Kodak Japan Kk 発光ダイオードアレイ
US5073041A (en) * 1990-11-13 1991-12-17 Bell Communications Research, Inc. Integrated assembly comprising vertical cavity surface-emitting laser array with Fresnel microlenses
US5300788A (en) * 1991-01-18 1994-04-05 Kopin Corporation Light emitting diode bars and arrays and method of making same
JPH04264781A (ja) 1991-02-20 1992-09-21 Eastman Kodak Japan Kk 発光ダイオードアレイ
FR2681472B1 (fr) 1991-09-18 1993-10-29 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication de films minces de materiau semiconducteur.
US5724062A (en) * 1992-08-05 1998-03-03 Cree Research, Inc. High resolution, high brightness light emitting diode display and method and producing the same
US5359345A (en) * 1992-08-05 1994-10-25 Cree Research, Inc. Shuttered and cycled light emitting diode display and method of producing the same
US5363009A (en) * 1992-08-10 1994-11-08 Mark Monto Incandescent light with parallel grooves encompassing a bulbous portion
WO1994005948A1 (en) * 1992-09-09 1994-03-17 Massachusetts Institute Of Technology Replicated-in-place internal viscous shear damper for machine structures and components
DE69405427T2 (de) * 1993-03-04 1998-04-02 At & T Corp Vorrichtung mit fokussierendem oberflächenemittierendem Halbleiterlaser
US5376580A (en) 1993-03-19 1994-12-27 Hewlett-Packard Company Wafer bonding of light emitting diode layers
JPH06338630A (ja) 1993-05-28 1994-12-06 Omron Corp 半導体発光素子、並びに当該発光素子を用いた光学検知装置、光学的情報処理装置、光結合装置及び発光装置
TW253999B (zh) 1993-06-30 1995-08-11 Hitachi Cable
US5679152A (en) 1994-01-27 1997-10-21 Advanced Technology Materials, Inc. Method of making a single crystals Ga*N article
US5600483A (en) 1994-05-10 1997-02-04 Massachusetts Institute Of Technology Three-dimensional periodic dielectric structures having photonic bandgaps
US5631190A (en) * 1994-10-07 1997-05-20 Cree Research, Inc. Method for producing high efficiency light-emitting diodes and resulting diode structures
US5707745A (en) * 1994-12-13 1998-01-13 The Trustees Of Princeton University Multicolor organic light emitting devices
US5633527A (en) * 1995-02-06 1997-05-27 Sandia Corporation Unitary lens semiconductor device
US5814839A (en) 1995-02-16 1998-09-29 Sharp Kabushiki Kaisha Semiconductor light-emitting device having a current adjusting layer and a uneven shape light emitting region, and method for producing same
DE19629920B4 (de) 1995-08-10 2006-02-02 LumiLeds Lighting, U.S., LLC, San Jose Licht-emittierende Diode mit einem nicht-absorbierenden verteilten Braggreflektor
US5779924A (en) 1996-03-22 1998-07-14 Hewlett-Packard Company Ordered interface texturing for a light emitting device
WO1998013709A1 (en) 1996-09-24 1998-04-02 Seiko Epson Corporation Illuminating device and display using the device
DE19640594B4 (de) * 1996-10-01 2016-08-04 Osram Gmbh Bauelement
US5834331A (en) 1996-10-17 1998-11-10 Northwestern University Method for making III-Nitride laser and detection device
US5955749A (en) * 1996-12-02 1999-09-21 Massachusetts Institute Of Technology Light emitting device utilizing a periodic dielectric structure
FR2758890B1 (fr) 1997-01-29 1999-02-26 Thomson Multimedia Sa Dispositif optique de polarisation
US6388264B1 (en) 1997-03-28 2002-05-14 Benedict G Pace Optocoupler package being hermetically sealed
GB9710062D0 (en) 1997-05-16 1997-07-09 British Tech Group Optical devices and methods of fabrication thereof
US6784463B2 (en) 1997-06-03 2004-08-31 Lumileds Lighting U.S., Llc III-Phospide and III-Arsenide flip chip light-emitting devices
US6340824B1 (en) 1997-09-01 2002-01-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device including a fluorescent material
US6071795A (en) * 1998-01-23 2000-06-06 The Regents Of The University Of California Separation of thin films from transparent substrates by selective optical processing
US6265820B1 (en) 1998-01-29 2001-07-24 Emagin Corporation Heat removal system for use in organic light emitting diode displays having high brightness
US6091085A (en) * 1998-02-19 2000-07-18 Agilent Technologies, Inc. GaN LEDs with improved output coupling efficiency
JPH11251629A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Daido Steel Co Ltd 半導体発光素子の製造方法
US6504180B1 (en) * 1998-07-28 2003-01-07 Imec Vzw And Vrije Universiteit Method of manufacturing surface textured high-efficiency radiating devices and devices obtained therefrom
JP5019664B2 (ja) * 1998-07-28 2012-09-05 アイメック 高効率で光を発するデバイスおよびそのようなデバイスの製造方法
US6335548B1 (en) 1999-03-15 2002-01-01 Gentex Corporation Semiconductor radiation emitter package
WO2000016455A1 (en) * 1998-09-10 2000-03-23 Rohm Co., Ltd. Semiconductor luminous element and semiconductor laser
JP3525061B2 (ja) 1998-09-25 2004-05-10 株式会社東芝 半導体発光素子の製造方法
US6307218B1 (en) 1998-11-20 2001-10-23 Lumileds Lighting, U.S., Llc Electrode structures for light emitting devices
US6429583B1 (en) 1998-11-30 2002-08-06 General Electric Company Light emitting device with ba2mgsi2o7:eu2+, ba2sio4:eu2+, or (srxcay ba1-x-y)(a1zga1-z)2sr:eu2+phosphors
JP3469484B2 (ja) 1998-12-24 2003-11-25 株式会社東芝 半導体発光素子およびその製造方法
US20010042866A1 (en) 1999-02-05 2001-11-22 Carrie Carter Coman Inxalygazn optical emitters fabricated via substrate removal
US6222207B1 (en) 1999-05-24 2001-04-24 Lumileds Lighting, U.S. Llc Diffusion barrier for increased mirror reflectivity in reflective solderable contacts on high power LED chip
TW437104B (en) 1999-05-25 2001-05-28 Wang Tien Yang Semiconductor light-emitting device and method for manufacturing the same
US6122103A (en) 1999-06-22 2000-09-19 Moxtech Broadband wire grid polarizer for the visible spectrum
US6288840B1 (en) 1999-06-22 2001-09-11 Moxtek Imbedded wire grid polarizer for the visible spectrum
US6363096B1 (en) * 1999-08-30 2002-03-26 Lucent Technologies Inc. Article comprising a plastic laser
US6711200B1 (en) * 1999-09-07 2004-03-23 California Institute Of Technology Tuneable photonic crystal lasers and a method of fabricating the same
US6534798B1 (en) 1999-09-08 2003-03-18 California Institute Of Technology Surface plasmon enhanced light emitting diode and method of operation for the same
US6287882B1 (en) 1999-10-04 2001-09-11 Visual Photonics Epitaxy Co., Ltd. Light emitting diode with a metal-coated reflective permanent substrate and the method for manufacturing the same
HK1048709A1 (zh) * 1999-12-03 2003-04-11 Cree, Inc. 透过使用内置及外置光元件提高发光二极管(led)中的抽光效果
US6410942B1 (en) * 1999-12-03 2002-06-25 Cree Lighting Company Enhanced light extraction through the use of micro-LED arrays
JP2001177145A (ja) 1999-12-21 2001-06-29 Toshiba Electronic Engineering Corp 半導体発光素子およびその製造方法
US6885035B2 (en) * 1999-12-22 2005-04-26 Lumileds Lighting U.S., Llc Multi-chip semiconductor LED assembly
US6486499B1 (en) * 1999-12-22 2002-11-26 Lumileds Lighting U.S., Llc III-nitride light-emitting device with increased light generating capability
US6573537B1 (en) * 1999-12-22 2003-06-03 Lumileds Lighting, U.S., Llc Highly reflective ohmic contacts to III-nitride flip-chip LEDs
WO2001064481A2 (en) 2000-03-02 2001-09-07 Donnelly Corporation Video mirror systems incorporating an accessory module
US6777871B2 (en) 2000-03-31 2004-08-17 General Electric Company Organic electroluminescent devices with enhanced light extraction
JP4643794B2 (ja) 2000-04-21 2011-03-02 富士通株式会社 半導体発光素子
EP1277240B1 (de) * 2000-04-26 2015-05-20 OSRAM Opto Semiconductors GmbH Verfahren zur Herstellung eines lichtmittierenden Halbleiterbauelements
CN1252837C (zh) * 2000-04-26 2006-04-19 奥斯兰姆奥普托半导体股份有限两合公司 在GaN基板上的发光二极管芯片和用GaN基板上的发光二极管芯片制造发光二极管元件的方法
GB0011749D0 (en) 2000-05-17 2000-07-05 Cambridge Display Tech Ltd Light-eminating devices
JP3934851B2 (ja) 2000-05-23 2007-06-20 日本食品化工株式会社 新規シクロテ゛キストリン・ク゛ルカノトランスフェラーセ゛、その製造方法及びこの酵素を用いるシクロテ゛キストリンの製造方法
US6853663B2 (en) 2000-06-02 2005-02-08 Agilent Technologies, Inc. Efficiency GaN-based light emitting devices
JP4024994B2 (ja) 2000-06-30 2007-12-19 株式会社東芝 半導体発光素子
TW445507B (en) 2000-07-20 2001-07-11 United Epitaxy Co Ltd Roughened interface of light emitting device
US6661028B2 (en) 2000-08-01 2003-12-09 United Epitaxy Company, Ltd. Interface texturing for light-emitting device
US6515305B2 (en) 2000-09-18 2003-02-04 Regents Of The University Of Minnesota Vertical cavity surface emitting laser with single mode confinement
AU2002217845A1 (en) 2000-11-16 2002-05-27 Emcore Corporation Microelectronic package having improved light extraction
TW579608B (en) 2000-11-24 2004-03-11 High Link Technology Corp Method and structure of forming electrode for light emitting device
JP5110744B2 (ja) 2000-12-21 2012-12-26 フィリップス ルミレッズ ライティング カンパニー リミテッド ライアビリティ カンパニー 発光装置及びその製造方法
JP2002280607A (ja) 2001-01-10 2002-09-27 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置
US6703780B2 (en) 2001-01-16 2004-03-09 General Electric Company Organic electroluminescent device with a ceramic output coupler and method of making the same
US6794684B2 (en) 2001-02-01 2004-09-21 Cree, Inc. Reflective ohmic contacts for silicon carbide including a layer consisting essentially of nickel, methods of fabricating same, and light emitting devices including the same
US6791119B2 (en) 2001-02-01 2004-09-14 Cree, Inc. Light emitting diodes including modifications for light extraction
US20020117672A1 (en) 2001-02-23 2002-08-29 Ming-Sung Chu High-brightness blue-light emitting crystalline structure
AU2002303112A1 (en) 2001-03-06 2002-09-19 Michael G. Brown Led lead for improved light extraction
US6468824B2 (en) 2001-03-22 2002-10-22 Uni Light Technology Inc. Method for forming a semiconductor device having a metallic substrate
US6522063B2 (en) 2001-03-28 2003-02-18 Epitech Corporation Light emitting diode
WO2002089221A1 (en) 2001-04-23 2002-11-07 Matsushita Electric Works, Ltd. Light emitting device comprising led chip
FR2824228B1 (fr) * 2001-04-26 2003-08-01 Centre Nat Rech Scient Dispositif electroluminescent a extracteur de lumiere
US6574383B1 (en) 2001-04-30 2003-06-03 Massachusetts Institute Of Technology Input light coupler using a pattern of dielectric contrast distributed in at least two dimensions
US6709929B2 (en) 2001-06-25 2004-03-23 North Carolina State University Methods of forming nano-scale electronic and optoelectronic devices using non-photolithographically defined nano-channel templates
JP2003017751A (ja) 2001-06-28 2003-01-17 Toyoda Gosei Co Ltd 発光ダイオード
US6740906B2 (en) 2001-07-23 2004-05-25 Cree, Inc. Light emitting diodes including modifications for submount bonding
JP4884613B2 (ja) 2001-09-04 2012-02-29 パナソニック株式会社 芳香族メチリデン化合物、それを製造するための芳香族アルデヒド化合物、メチルスチリル化合物、及びそれらの製造方法
DE10147887C2 (de) 2001-09-28 2003-10-23 Osram Opto Semiconductors Gmbh Strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement mit einem Kontakt, der eine Mehrzahl von voneinander beabstandeten Kontaktstellen umfaßt
US6949395B2 (en) 2001-10-22 2005-09-27 Oriol, Inc. Method of making diode having reflective layer
US6812503B2 (en) 2001-11-29 2004-11-02 Highlink Technology Corporation Light-emitting device with improved reliability
DE10158754A1 (de) 2001-11-30 2003-06-18 Osram Opto Semiconductors Gmbh Lichtemittierendes Halbleiderbauelement
JP4077312B2 (ja) * 2001-12-28 2008-04-16 株式会社東芝 発光素子の製造方法および発光素子
TW576864B (en) 2001-12-28 2004-02-21 Toshiba Corp Method for manufacturing a light-emitting device
JP3802424B2 (ja) 2002-01-15 2006-07-26 株式会社東芝 半導体発光素子及びその製造方法
TWI278995B (en) * 2002-01-28 2007-04-11 Nichia Corp Nitride semiconductor element with a supporting substrate and a method for producing a nitride semiconductor element
US7279718B2 (en) * 2002-01-28 2007-10-09 Philips Lumileds Lighting Company, Llc LED including photonic crystal structure
US20030141563A1 (en) 2002-01-28 2003-07-31 Bily Wang Light emitting diode package with fluorescent cover
US6869820B2 (en) 2002-01-30 2005-03-22 United Epitaxy Co., Ltd. High efficiency light emitting diode and method of making the same
AU2003207090A1 (en) 2002-02-08 2003-09-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor light-emitting device and its manufacturing method
US6943379B2 (en) 2002-04-04 2005-09-13 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting diode
JP4233268B2 (ja) * 2002-04-23 2009-03-04 シャープ株式会社 窒化物系半導体発光素子およびその製造方法
US6849558B2 (en) 2002-05-22 2005-02-01 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Replication and transfer of microstructures and nanostructures
US20030222263A1 (en) 2002-06-04 2003-12-04 Kopin Corporation High-efficiency light-emitting diodes
US6704343B2 (en) 2002-07-18 2004-03-09 Finisar Corporation High power single mode vertical cavity surface emitting laser
US6878969B2 (en) 2002-07-29 2005-04-12 Matsushita Electric Works, Ltd. Light emitting device
US6649437B1 (en) 2002-08-20 2003-11-18 United Epitaxy Company, Ltd. Method of manufacturing high-power light emitting diodes
TW541732B (en) 2002-08-28 2003-07-11 Arima Optoelectronics Corp Manufacturing method of LED having transparent substrate
US6883407B2 (en) * 2002-08-30 2005-04-26 Hardinge Inc. Expanding collet assembly for pick-off spindle
US6762069B2 (en) 2002-11-19 2004-07-13 United Epitaxy Company, Ltd. Method for manufacturing light-emitting element on non-transparent substrate
US7750059B2 (en) 2002-12-04 2010-07-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Polymer solution for nanoimprint lithography to reduce imprint temperature and pressure
US20040130263A1 (en) 2003-01-02 2004-07-08 Ray-Hua Horng High brightness led and method for producing the same
JP3847261B2 (ja) 2003-02-10 2006-11-22 国立大学法人京都大学 2次元フォトニック結晶中の共振器と波長分合波器
JP4325232B2 (ja) * 2003-03-18 2009-09-02 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体素子
US7141828B2 (en) 2003-03-19 2006-11-28 Gelcore, Llc Flip-chip light emitting diode with a thermally stable multiple layer reflective p-type contact
US7084434B2 (en) 2003-04-15 2006-08-01 Luminus Devices, Inc. Uniform color phosphor-coated light-emitting diode
US7083993B2 (en) 2003-04-15 2006-08-01 Luminus Devices, Inc. Methods of making multi-layer light emitting devices
US20040259279A1 (en) 2003-04-15 2004-12-23 Erchak Alexei A. Light emitting device methods
US7211831B2 (en) 2003-04-15 2007-05-01 Luminus Devices, Inc. Light emitting device with patterned surfaces
US7074631B2 (en) 2003-04-15 2006-07-11 Luminus Devices, Inc. Light emitting device methods
US7098589B2 (en) 2003-04-15 2006-08-29 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices with high light collimation
US7521854B2 (en) 2003-04-15 2009-04-21 Luminus Devices, Inc. Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same
US7166871B2 (en) 2003-04-15 2007-01-23 Luminus Devices, Inc. Light emitting systems
US6831302B2 (en) 2003-04-15 2004-12-14 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices with improved extraction efficiency
US7105861B2 (en) 2003-04-15 2006-09-12 Luminus Devices, Inc. Electronic device contact structures
US7274043B2 (en) 2003-04-15 2007-09-25 Luminus Devices, Inc. Light emitting diode systems
US7262550B2 (en) 2003-04-15 2007-08-28 Luminus Devices, Inc. Light emitting diode utilizing a physical pattern
KR100483049B1 (ko) 2003-06-03 2005-04-15 삼성전기주식회사 수직구조 질화갈륨계 발광다이오드의 제조방법
US6847057B1 (en) 2003-08-01 2005-01-25 Lumileds Lighting U.S., Llc Semiconductor light emitting devices
US6958494B2 (en) 2003-08-14 2005-10-25 Dicon Fiberoptics, Inc. Light emitting diodes with current spreading layer
US7341880B2 (en) 2003-09-17 2008-03-11 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7344903B2 (en) 2003-09-17 2008-03-18 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7012279B2 (en) 2003-10-21 2006-03-14 Lumileds Lighting U.S., Llc Photonic crystal light emitting device
US7450311B2 (en) 2003-12-12 2008-11-11 Luminus Devices, Inc. Optical display systems and methods
US7250635B2 (en) 2004-02-06 2007-07-31 Dicon Fiberoptics, Inc. Light emitting system with high extraction efficency
US20050205883A1 (en) 2004-03-19 2005-09-22 Wierer Jonathan J Jr Photonic crystal light emitting device

Also Published As

Publication number Publication date
US20070114546A1 (en) 2007-05-24
KR100892957B1 (ko) 2009-04-09
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US7166870B2 (en) 2007-01-23
KR20050119693A (ko) 2005-12-21
EP1614160A4 (en) 2010-12-08
EP1614160A2 (en) 2006-01-11
US8513692B2 (en) 2013-08-20
US7504669B2 (en) 2009-03-17
US20040206972A1 (en) 2004-10-21
US20090206355A1 (en) 2009-08-20
US6831302B2 (en) 2004-12-14
US20120018756A1 (en) 2012-01-26
US20080067525A1 (en) 2008-03-20
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