TW201217823A - A direct solid sample analytical technology for the determination of chelating ligands contain sulfur and their uniformity in cold kit which are utilized to form stable complexes with radiotechnetium (Tc-99m) and radiorhenium (Re-186, Re-188) - Google Patents

A direct solid sample analytical technology for the determination of chelating ligands contain sulfur and their uniformity in cold kit which are utilized to form stable complexes with radiotechnetium (Tc-99m) and radiorhenium (Re-186, Re-188) Download PDF

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Description

201217823 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種螯合劑含量的固態樣品檢測方法, 尤其是指測定對鉻(Tc-99m)與銖(Re-186、Re-188)具有穩 ,定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑中之含量與均一性的固態 樣品分析技術。 【先前技術】 • 含硫螯合劑是廣泛使用於螯合鉻(Tc-99m)與銖 (Re-186、Re-188)的軟性螯合劑,可以和鍩與銖生成穩定 之錯合物。目前,錯與銖之含硫核醫藥物包含有:錯-99m-雙胱乙酯(癲癇診斷藥物,Tc-99m-ECD)、馬格鉻(腎功能診 斷藥物,Tc-99m-MAG3 raercaptoacetyltriglycine)、錯 -99m-雙硫醇琥珀酸(腎臟皮質與肺功能診斷藥物, Tc-99m-DMSA dimercaptosuccinic acid)、錄-99m-諾特(心 臟診斷藥物’ Tc-99m-N-N0ET)、鉻-99m-雙乙氧基乙基雙硫 ._ 胺曱酸酯(心臟診斷藥物,Tc-99m-N-DBODC)、莨菪烷衍生 • 物(作為多巴胺轉運體造影劑,Tropane derivative)、銖 -188-雙胱乙酯/利比多(肝癌治療藥物,Re-i88 ECD/Lipiodol)、以及乙二半胱氨酸-藥物鍵結物(可與不同 螯合劑及Tc-99m結合作為疾病造影劑, Ethylenedicysteine)等。一般可與鉻及銖錯合的含硫螯合劑 種類請參閱表一。 ^一、常用與鉻及銖形成錯合物的含硫螯合劑種類 _ 」塔與銖之配位核心螯合劑 _螯合結構 201217823
酮基鉻與酮基銖之 五、六配位錯合物 (Penta- and Hexacoordinated complexes of oxo-Tc or oxo-Re )([M=0]3+) 硫醇(Thiolates) S 胺基硫醇(Aminothiolates) S N 雙硫醇(Dithiolates或 dithioxalates) S S 三配位雙硫醇(Tridentate dithiolates) S S S SOS S N S 三配位席夫驗(Tridentate Schiff bases) 0 N S 二氨基二硫基 (Diaminedithiolates) S N N S 硫醇乙醢胺 (Mercaptoacetamides) S N N S-R 馬格衍生物(MAG3 derivatives) S N N N 硫烧基_雙硫-硫 (Thioalkyl-dithiol-thio) S S S S-R 氮基鉻與氮基銖之 五、六配位錯合物 (Penta- and Hexacoordinated complexes of nitrido-Tc or 硫尿素(Thiourea) S 二硫代胺基甲酸鹽 (Dithiocarbamate) s s 偶氮次甲基(Azomethines) 0 N S 二氨基二硫基 S N N S
6 201217823 nitrido-Re )([ΜΞΝ] (Diamineclithiols) 2+) 異硫氰酸酯 RN=C=S (Isothiocyanate) 臨床使用時,通常會將凍晶劑(cold kit,含有螯合 劑與還原劑)溶解在缓衝溶液中,再與鉻或鍊混合進行螯合 反應(又稱為錯合反應或放射性標德反應),生成錯合物 後,才進行病人之靜脈注射(intravenouse injection)。 傳統上,量測凍晶劑中含硫螯合劑含量的大部分方 • 法,是先將樣品溶解後,再進行滴定或儀器分析。第一種 習知用於液態樣品中測量硫之方式為艾氏卡測定方法 (Eschka method)。該法為ISO與ASTM採用之總硫(有機 硫、無機硫、元素硫)含量的標準方法,但其化學前處理程 序複雜’而且主要是應用於煤、石油焦、焦碳中的總硫含 量測定’不適用於有機含硫螯合劑分析。第二種習知用於 液態樣品中測量硫之方式,為使用感應耦合電漿原子發射 光譜法(inductively coupled plasma atomic emission .φ spectrometry,ICP-AES)與電位法來分析硫含量。其缺點 是僅能分析液態樣品,因此分析前必須經過繁複的化學前 處理程序,包含分解、溶解、純化等步驟。處理時可能造 成樣品流失與污染等問題’由於部分含硫螯合劑束晶劑(如 ECDVail A)溶解後,可能迅速降解。因此,將樣品溶解後 再利用儀盗’如南效能液相層析法(HPLC)或質譜儀分析並 不適合於此類樣品之分析。另外,硫含量之分析方式亦與 硫的化學形態有關’例如第三種習知用於液態樣品中測量 硫之方式,是Canfield et al.研究利用chromium還原法 201217823 來分析沈積物與頁岩、泥板岩中的無機硫,包括黃鐵礦、 元素硫與揮發態單硫化物,但該還原法不會還原有機硫與 硫酸鹽,而只能對還原無機硫具有較高的專一性,故無法 完全測定有機化合物中的真實硫含量。 由上述可知分析液體樣品之缺點,故若能直接分析固 態樣品,可以避免樣品溶解時分析物流失的狀況。此外, 由於樣品未被稀釋,可以提高分析的靈敏度,並只需要較 少的樣品數量,也不需要使用腐蝕性與危險性試劑,可以 節省經費及保護環境,分析的速度也較快。但直接分析固 態樣品亦有其缺點,包括樣品不易操作,特別是將樣品導 入儀器的過程;不易進行標準品校正,因為分析物氣:與 原子化之過程,與分析物在固態樣品中的形態及基質有 關;精密度較不理想,如石墨式原子吸收光譜法(ss—gfaas) 與電熱式揮發感應偶合電漿質譜儀(SS_ETV_ICp_Ms)分析 固態樣品的相對標準偏差範圍是5〜25% ;直接分析固態樣 品時也會將其它基質一起導入儀器,可能會引發其它問 題;此外,直接分析固態樣品之相對標準偏差在1〇〜2〇%a 拫常見的。 〇疋 第一種習知用於固態樣品中測量硫之方式為N e e e m e r et al.利用「X-ray螢光光譜分析法」直接分析飼料固態 粉末的硫含量;但是因為X-ray螢光光譜分析法無法得到 基線分離的圖譜解析度,因此Neeemer et al.有自行發展 的定量分析軟體。此外綜合標準不確定度及準確度分別是 12%與2〜10%,而主要誤差來源為固態樣品的取樣均句性。 第二種習知用於固態樣品中測量硫之方式為Neeemer 201217823 et al.利用「中子活化分析(instrumental neutron activation analysis,INAA)」分析固態飼料粉末的硫含 量。但是利用INAA技術,必須具備相.關中子照射與輻射防 護設施’而且偵測下限為3000-5000毫克/公斤,並不理 想。 第三種習知用於固態樣品中測量硫之方式為使用元素 分析儀來分析固態樣品。例如,Sieper et a 1.發展利用「元 素分析儀結合同位素比值質譜儀(elementai analyzer
coupled to an isotope ratio mass spectrometer)」,在 20分鐘内完成同步分析一個樣品中氫、碳、硫與氮元素 之同位素比值的技術;以及Duz et al·利用Carlo Erba 元素刀析儀分析煤樣品的氫、碳、疏與氮元素。雖然使用 ^素$析儀來分析固態樣品已廣為製藥界所熟知及使用於 單獨=物之元素含量分析,但目前尚未有人使用本技術來 ^接分析對鍀(Tc-99m)與鍊(Re-186、Re-188)具有穩定錯 合力之含硫螯合劑在固態凍晶劑樣品中之含量與均一性。 、十、上述,亟需一種容易操作、精密度高且可應用 測^錯(Tc’in)與鍊(Re_186、Re_188)具有穩定錯合 11H >劑在;東晶劑中含量之固態樣品直接分析技術 >解決駕用技術所產生之問題。 【發明内容】 β 又螯S刻/舌性成分在珠晶劑中的含量與其均一性, =藥物里產1程中維持化學、製造與管制品質的重要試驗 、目本發明之主要目的’在於提供—種固態樣品直接分 9 201217823 析技術,以測定對鉻(Tc-99m)與銖(Re-186、Re-188)具有 穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑中的含量與其均—性, 以確保凍晶劑在量產製程中的藥品品質。 在一實施例中,本發明提供一種容易操作並且精密产 高’可以測定含硫螯合劑活性成分在;東晶劑中之含量^ 均-性的固態樣品分析技術,其係包括下列步驟:樣^ 備程序:其係包括對照物質製備程序,以及束晶劑‘ 質製:二其中,該對照物質製備程序包含製備對昭t 質製備程序包含製細_二: 素分析汉備分析程序,其係 =,疋 測試,元素分析設備凉素刀析5又備糸統適用性 品分"及元素分品=分=備查核樣 分析設備系統適用性測人,刀析/、中戎元素 試;對照物質與查核樣品剛 照物質之線性迴歸公式及相關係計算對 確度與回收率,其中, 及4异查核樣品之準 及計算線性迴歸公式關卜里、製作校正曲線以 度與回收率,係包含計算細卜該計,查核樣品之準確 查核樣品硫含量之實驗二二:硫含量之理論值、計算 含量計算與含硫螯合;昇:收率;待測樣品之硫 中硫含量以及計算試7,其係包括計算試驗物質 |开戎驗物質中螯合劑含量。 只 10 201217823 【貫施方式】 為使貴審查委員能對本發明之特徵、目的及功能有 -更進一步的認知與瞭解,下文特將本發明之系統的相關細 ,部結構以及設計的理念原由進行說明,以使得審查委員 可以了解本發明之特點,詳細說明陳述如下: 本發明提供一種測定對錯(Tc-99m)與銖(Re-186、 Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑中含量與 φ 其均一性的固態樣品分析技術,由於螯合劑是凍晶劑配方 中唯一含有硫的成分’因此本發明希望直接分析凍晶劑配 方固態樣品中的硫含量後’換算為螯合劑含量,以此方式 可不需要將樣品溶解成溶液後分析,避免凍晶劑固態樣品 溶解後可能導致的不穩定及降解問題。 本發明中所說的含硫螯合劑係包含對鉻與鍊具有穩定 錯合力’可以與鍀(Tc-99m)或銖(Re-186、Re-188)螯合後 應用於疾病診斷或治療的放射性核醫藥物的含硫螯合劑前 ’⑩驅物(即,舌性成分 ’ active pharmaceutical ingredient, ; 簡稱API) °而含硫螯合劑之凍晶劑,則是指將含硫螯合劑 預先與還原劑(如SnCl2)等試劑混合冷凍乾燥而成,便於量 產、運送及臨床應用的試藥。 本發明中測定對鍀(Tc-99m)與鍊(Re-186、Re-188)具 有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑中含量與其均一性的 固態樣品分析技術為利用元素分析儀之技術。雖元素分析 儀之技術已經十分成熟而且普遍應用於純化合物之化學組 成分析’但此一技術未曾應用於凍晶劑配方中之含硫螯合 201217823 劑含量與均一性的一般性固態樣品分析上,特別是對於錯 與銖等具有軟性穩定錯合能力之含硫螯合劑分析。本發曰月 可使用元素分析儀(EA)結合紅外線偵檢器 (non-dispersive infrared (NDIR) detector)、元素分析 儀(EA)結合熱感偵檢器(thermal conductivity detector) 或是元素分析儀(EA)結合同位素比值質譜儀(isotope ratio mass spectrometer)來作為分析工具。 由於不易取得含硫螯合劑凍晶劑來製作校正曲線,因 此本發明改以對照物質製作校正曲線,其中對照物質為含 硫之化合物或含硫之混合物,該含硫之化合物包含磺胺酸 (Sulfani1ic acid, 4-aminobenzene sulfonic acid),但 不以此為限,該含硫之混合物包含煤,但不以此為限,本 實施例使用煤來當作對照物質,本實施例之煤對照物質型 號為 ELTRA coal standard #92510-50,其組成包含 76.6% 的碳與3. 07%的硫,該煤對照物質之製造商與產地為 ELTRA,Neuss,Germany。使用煤作為對照物質的優點是: 容易取得、具有硫含量的標準值、價格便宜、以及穩定性 好,易於保存,並且經實驗後可得知煤無基質干擾的問題, 請參閱表二,其係為煤之基質效應測試,本實施例中直接 測量煤中的硫含量與將煤放入無螯合劑之凍晶劑中測量其 硫含量,根據表二之測試結果,煤不受基質干擾。 表二煤之基質效應測試 煤對照物質之標準曲線 波峰面 積 樣品 硫含量 (毫克) 線性回歸公式 相關係數(r) 12 201217823 煤 0.033-0. 142 Y = 1. 565 X ΐ〇'6χ + 3. 174 X 1〇·3 1·0000 248 ± 11 煤放入無 螯合劑之 凍晶劑中 0.036-0. 132 Υ = 1. 547 X. ι〇-6χ + 8. 932 X ι〇-3 0.9998 2438 士 642 而煤對照物質之樣品前處理程序,係依據ASTM方法 D-3173,2002修改而來;另外,元素分析儀分析部份含硫 螯合劑之儀器參數,係依據Sieper et al.發展利用元素 φ 分析儀結合同位素比值質譜儀同步分析氩、碳、硫與氮元 素的方法修改而來。 本實施例以雙胱乙酯腦造影劑A瓶凍晶注射劑主成分 ECD · 2HC1含量分析為例,但不以此為限。本實施例之儀 器為紅外線元素分析儀(Elemental Analyzer Coupled with a Non-Dispersive Infrared [NDIR] Detector ,簡 稱IR-EA)(型號為vario EL cube,製造商與產地為 Elementar Analysensysteme GmbH, Hanau, Germany),但 .φ 不以此儀器為限’該儀器之參數請參閱表三所示,表三其 , 係為使用紅外線元素分析儀分析ECD · 2HC1之硫含量之最 佳化參數’若使用不同儀器時,則需視該儀器來調整其參 數0 表三使用紅外線元素分析儀分析ECD · 2HC1之硫含量之 最佳化參數 分析模式 CHNS 燃燒管溫度(°C) 1150 還原管溫度(°C) 900 13 201217823
氧化硫之等待溫度(°c)
_氧氣流率(毫升/分鐘) 15 赛燒過程中氧氣之流率(毫升@絡、 30-35 其係為本發明測定對鉻 請參閱圖一 A與圖一 (Tc-99m)與銖(Re-186、Re-i88)具有穩定錯合力之含硫螯 合劑在來晶劑中之含量與均—性的固態樣品分析技術示意 圖。該含硫螯合劑凍晶劑中螯合劑含量與其均一性的固態 樣品分析技術0,其係包含:樣品製備程序丨;元素分析設 備分析程序2;對照物質與查核樣品之硫含量計算3;待測 樣品之硫含罝計异與含硫螯合劑含量換算4。 首先樣品製備程序1,其係包含對照物質製備程序1〇 與凍晶劑試驗物質製備程序丨丨。步驟1〇可早於或是晚於 步驟11。 ' 對照物質製備程序1 〇中包含步驟1 〇 〇係為製備對照物 質(Coal Standards)。本實施例中,取大約0. 5克的煤對 照物質,以瑪竭研蛛研磨約卜2分鐘後,放入烘箱在〖ο?。 201217823 C溫度下供乾約9G~12G分鐘。然後將對照物質取出 =燥箱中冷卻至室溫備用。步驟1Q1係為製備試車樣品 ^lnS卿=〔精#2 土 〇.2毫克上述煤對照物質為 4車樣。以兀素》析儀專用錫盒(以下簡稱:ea錫各 析’以測試及確認系統適用性‘em Sintabmty)。步驟102係為製備校正曲線樣口口 (Calibration Curve Standards)。精秤 5 個在卜3 範圍内的上述煤對照物質樣品’以㈣盒包覆。步兄 係為製備查核樣品(QC Samples)。精秤2 ± 〇. 2毫克 煤對照物質為查核樣品,以EA錫盒包覆。查核樣品數目^ 少為每批次待測樣品總數之2〇%,最少3個且為3之倍 步驟100〜步驟103的順序可視操作者而變。 凍晶劑試驗物質製備程序i!係包含步驟i i 〇係 床晶劑試驗物質空白樣品(Kit Blanks)。取適量不含藝入 劑之來晶劑試驗物質空白樣品(Kit Blanks),以瑪竭研ς 研磨約40秒。精秤2個空白樣品約7. 5毫克,以ΕΑ锡盒 包覆。步驟111係、為製備待測樣品且該待測樣品係為含二 螯合劑,本實施例之待測樣品為ECD Vail Α,取待測樣^ 於瑪竭研蛛研磨約4G秒。精㈣7.5毫克樣品,以ΕΑ: 盒包覆。 ’ 接著進行步驟2元素分析設備分析程序,其係包含步 驟20係為元素分析^備系統適用性測試;步驟μ係為元 素分析设備凍晶劑試驗物質空白樣品基質背景值分析γ'步 ,22係為元素分析設備對照物質分析;步驟23係為元^ 分析設備查核樣品分析;步驟2 4係為元素分析設備待測樣 15 201217823 品分析。 步驟20係為元素分析設備系統適用性測試’每次進行 刀析5式驗’須先完成系統適用性(system Suitability)測 试&乎叮接文標準後才能進行對照物質及試驗物質分 析。系統適用性測試係包含步驟2〇1係為系統背景測試與 步驟202係為5式車樣品(Run_in Samples)測試。步驟2〇1 係為系統背景測試,本實施例中,至少分析6個不含任何 樣品的空白錫盒,直到背景值穩定後,最後取複數個空白 锡盒分析背景值’計算硫元素平均背景積分面積,系統背 景可接受標準為複數個空白錫盒之硫分析背景值(積分面 積)小於5000計數(coun1:s),本實施例中最後是取3個空 白錫盒樣品來計算硫元素平均背景積分面積。步驟2〇2 = 為試車樣品測試,本實施例中,分析8~12個煤試車樣品之 硫含量,確認儀器再現性。最後取複數個煤試車樣品來分 析結果,計算硫含量百分比之相職準偏差(咖)’。:刀包 例中,最後取複數個煤試車樣品的個數為4個,本實施例 之試車樣品之再現性可接受標準為4個煤試車樣二斤 結果之 RSD S 5%。 〇〇 η 步驟21係為元素分析設備凍晶劑試驗物質空白樣品 基質背景值分析,取上述處理過之不含^,之 驗物質空白樣品,隨機放在分析批次中不同 量測定。計算硫含量平均積分面積。 置進订ι各 步驟22係為元素分析設備對照物質分析,取上述處理 過之5個在卜3. 5毫克範圍内的煤對照物質,重量由低至 向排列,依序進行硫含量測定。將硫含量分析面積扣除系 16 201217823
統背景值(平均背景積分面積)後, 含量分析面積,製作線性迴歸校正 過之待測樣品,隨機放在分析批次中不同位置進行硫含量 •測定。將硫含量分析面積扣除空白樣品基質之硫平均積分 面積後,以内差法計其對應於校正曲線之硫含量。 接著進行步驟3對照物質與查核樣品之硫含量計算, 其係包含步驟30計算對照物質之線性迴歸公式及相關係 數(r);步驟31計算查核樣品之準確度(Accuracy)與回收 率(Recovery Yield),步驟3〇可進行在步驟31之前或之 後。步驟30係為計算對照物質之線性迴歸公式及相關係數 含量(毫克)= (r) ’其係包含步驟3〇〇計算對照物質硫含量,對照物質琉 含量(毫克)=樣品重量(毫克)χ樣品硫含量百分比 * (%);步驟301係為製作校正曲線,以對照物質硫含量(毫 克)對應於硫積^面積(扣除系統背景平均積分面積),製作 权正曲線,本實施例中,對照物質係為煤對照物質;步驟 302係為計算線性迴歸公式及相關係數⑴,線性迴歸公式 為硫含1 -斜率X硫積分面積+截距,其中,線性可 接受標準為線性相關係數平方(Γ2) ^ 995。 ;/驟31係為。十异查核樣品之準確度與回 收率(Recovery Yleid)。準確度是以回收率表示實驗結果 17 201217823 與理論值的接近程度。利用查核(QC)樣品硫含量百分比計 算硫含量實驗值,再計算硫含量實驗值與硫含量理論值之 比值。一般來說,’查核樣品之回收率須大於66. 7%,此批 測試才算準確,本實驗之查核樣品之回收率範圍則在 95〜105%内。步驟310為計算查核樣品硫含量理論值,查核 樣品硫含量理論值=查核樣品重量(毫克)X查核樣品 之硫含量百分比理論值(%);步驟311為計算查核樣品硫含 量實驗值,查核樣品硫含量實驗值=查核樣品重量(毫克) X查核樣品之硫含量百分比實驗值(%),步驟310可進行在 步驟311之前或之後;步驟312為計算回收率,回收率(°/〇) =查核樣品硫含量實驗值(毫克)/查核樣品之硫含量理 論值(毫克)X 100% 。表四為煤對照物質之標準曲線與查 核樣品之精密度與準確度測試結果,由表四可知待測樣品 之測試結果的相關係數為0.9989〜0.9994,查核樣品之相 對標準偏差為0.6%〜2. 25%,上述實驗結果表示該技術檢測 有良好之精密度與準確度。 表四煤對照物質之標準曲線與查核樣品之精密度與準確 度測試結果 煤對照物質之標準曲線 查核樣品之硫重量 (°/〇) (相對標準偏差%) 查核樣品之回 收率(%) 硫重罝 (毫克) 線性迴歸公式 相關係數 0.033-0. 104 Y = 1.615 X 10"6X + 4. 747 X 10'3 0.9993 3_ 13 ± 0. 07 (2.25%) 102.08 土 2. 29 0.031- Y = 1.623 X 0.9989 3. 10 ± 0. 02 100.89 土 18 201217823 0. 105 10'6X + 1.741 > ΙΟ·3 0.034- | Y = 1. 634 χ 0.107 10'6X + 1.034 χ ΙΟ'3
待測樣品之硫含量計算與含硫螯合劑含量換,其 係匕含步驟40計算試驗物質巾硫含量 ' 驗 =;=量:步驟4〇為計算試_ 物質之二克)=試驗物質總重量(亳克)x試驗 中實驗值(%);步驟41為計算試驗物質 2、 螯劑含量之計算公式如下:螯合劑含量 (毫克)=(試驗物質中硫含量(臺吞 箪耳u/f敦人(克)χ螯合劑分子量(克/ 土耳))/(螯5劑中硫的個數χ硫原 實施例之螯合劑為ECD.2HC ^克/莫耳))本 ECD.2HC1含量之計曾方述么式,本實施例之 驗物質中炉人下,ECD*2HC1 (毫克)=(試 驗物質中硫含!(宅克)χ ecd.2hci (2x硫原子量(克/簟耳d 里(克/莫耳))/ 測量Ε(:Ι)·2Η(:Λί 為使用紅外線元素分析儀 質顺,由表五可知,煤對照物 係數皆在°,94〜〇._之間,杳 與綠-ι叫⑽)之=^ 與其均-性的固態樣品分;晶劑中歸^ 之重量。 技術了準確的測量ECD · 2HC1 表五使用紅外線元素分析 結果 ECD· 2HCL含量之分析 19 201217823 實 驗 煤對照物質之標準曲線 查核樣品之回 收率(%) ECD-2HC1 重量(毫. 克) 硫重量 (毫克) 線性迴歸公式 相關係數 1 1.025-3. 327 Y = 1.624 X 10'6X + 0. 9995 101.26 0. 934 土 1.600 X 10'3 0.021 2 1.058〜3. 403 Υ = 1.582 X 10'6Χ + 0. 9994 100. 81 〜 0. 952 土 1. 791 X 10'3 101.94 0.013 3 1.033-3. 376 Υ = 1.629 X 10·6Χ + 0. 9998 99. 52〜 0. 984 土 7.410 X ΙΟ'4 106.62 0.007 另外,在測定鉻(Tc-99m)與銖(Re-186、Re-188)之含 硫螯合劑凍晶劑中螯合劑含量與其均一性的固態樣品分析 技術中,可調動實驗參數來找出實驗參數之範圍區間,表 六為改變參數之耐受性(Robustness)測試,由表六可知當 氧氣注入時間在90〜150秒;燃燒管溫度在1120〜1180度; 還原管溫度在850〜950度之間時煤對照物質之標準曲線之 相關係數皆高於0.9990,查核樣品之回收率在97~104.94〇/〇 之間。 $六改變參數之耐受性(Robustness)測試 貫驗參數 煤對照物質之標準曲線 查核樣品 線性迴歸公式 相關係數 硫重量(%) 回收率(%) 氣氣注入 時間(秒) 90 Υ = 1.544 xl〇-6X + 3.394 X 10'3 0. 9992 3.14 + 0. 06 102.36 土 2. 58 120 Y = 1.615x10'gX + 4.747 X 10*3 0. 9993 3.13 ±0.07 101.91 土 2. 30 20 201217823 燃燒管溫 度(。〇 還原管溫 度(。〇 1150 850 900 950 Y = 1. 604 X 1〇'6χ + 7.508 X 1 Ο·4 I' I - :1.605 χ 1〇·6χ + 8. 215 x 10 0.9999 3.05 + 0.10
0. 9997 3.13 + 0. 06 102.01 土 1.85 1. 615 χ 1〇·6χ 4.747 χ 1〇~3 Υ = 1. 586 χ 1(Γ6Χ + .126 χ 10 Υ = 1.621 χ 1〇'6χ + 9.226 χ 10 Υ = 1. 615 χ 10-6χ + 4. 747 χ ΙΟ'3 0. 9993 3.13 + 0. 07 101.91 土 2.30 0. 9985 3. 03 ±0.03
0. 9997 3.12 ±0.06 102. 01 土 0. 9993 3.13 + 0.07 101.91 土 2.30 Υ = 1.649 χ 10-6χ 1.288 χ 1〇·3 0. 9996 3. 00 + 0.02 97. 97 + 〇. 87 本發明所提供之一種測定凍晶劑中含硫螯合劑之含 量與其均—性的固態樣品分析技術,係使用元素分析儀搭 配紅外線_||、熱導偵測器或是f譜儀,可準確有效分 東晶劑樣品中含硫螯合劑之硫含量,並進一步利用 重里百分比公式換算螯合劑含量。 唯以上所述者,僅為本發明之較佳實施例,當不能以 之限制本發明範圍。即大 田+月匕以 y ,依本毛明申請專利範圍所做之 均專變化及修飾,仍將不失本 為本發明的進-步實施狀況。X I義所在’故都應視 21 201217823 【圖式簡單說明】 圖一八〜3係為本發明測定對鉻(1'(:-9911〇與銖(1^-186、
Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑中之含量 與均一性的固態樣品分析技術示意圖。 【主要元件符號說明】 0- 含硫螯合劑在凍晶劑中的含量與均一性固態樣品分析技 術 1- 樣品製備程序 10-對照物質製備程序 100- 製備對照物質 101- 製備試車樣品 102- 製備校正曲線樣品 103- 製備查核樣品 11 -凍晶劑試驗物質製備程序 110-製備凍晶劑試驗物質空白樣品 111 -製備待測樣品且該待測樣品係為含硫螯合劑 2- 元素分析設備分析程序 20-元素分析設備系統適用性測試 201- 系統背景測試 202- 試車樣品測試 21 -元素分析設備;東晶劑試驗物質空白樣品基質背景 值分析 22-元素分析設備對照物質分析 2 3 -元素分析設備查核樣品分析 22 201217823 24-元素分析設備待測樣品分析 3- 對照物質與查核樣品之硫含量計算 30- 計算對照物質之線性迴歸公式及相關係數 300-計算對照物質硫含量 , 30卜製作.校正曲線 302-計算線性迴歸公式及相關係數 31- 計算查核樣品之準確度與回收率 310-計算查核樣品硫含量之理論值 φ 31卜計算查核樣品硫含量之實驗值 312-計算回收率 4- 待測樣品之硫含量計算與含硫螯合劑含量換算 40- 計算試驗物質中硫含量 41- 計算試驗物質中螯合劑含量 23

Claims (1)

  1. 201217823 七、申請專利範圍: 1. 一種測定對鉻(Tc-99n〇與銖(Re-186、Re-188)具有穩定 錯合力之含硫螯合劑在陳晶劑中之含量與均一性的固態樣 品分析技術,其係包括有下列步驟: 樣品製備程序,其係包括對照物質製備程序,以及凍 晶劑試驗物質製備程序,其中,該對照物質製備程序包含 製備對照物質、製備試車樣品、製備校正曲線樣品以及製 備查核樣品,該凍晶劑試驗物質製備程序包含製備凍晶劑 試驗物質空白樣品以及製備待測樣品且該待測樣品係為含 硫螯合劑; 元素分析設備分析程序,其係包括元素分析設備系統 適用性測試,元素分析設備凍晶劑試驗物質空白樣品基質 背景值分析,元素分析設備對照物質分析,元素分析設備 查核樣品分析,以及元素分析設備待測樣品分析’其中, 該元素分析設備系統適用性測試包含系統背景測試與試車 樣品測試, 對照物質與查核樣品之硫含量計算,其係包括計算對 照物質之線性迴歸公式及相關係數以及計算查核樣品之準 確度與回收率,其中,該計算對照物質之線性迴歸公式及 相關係數,係包含計算對照物質硫含量、製作校正曲線以 及計算線性迴歸公式及相關係數,該計算查核樣品之準確 度與回收率,係包含計算查核樣品硫含量之理論值、計算 查核樣品硫含量之實驗值以及計算回收率; 待測樣品之硫含量計算與含硫螯合劑含量換算,其係 包括計算試驗物質中硫含量以及計算試驗物質中螯合劑含 24 201217823 量。 2.根據申請專利範圍第1項所述之測定對鉻(Tc-99m)與鍊 —(Re-186、Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑 中之含量與均一性的固態樣品分析技術,其中該元素分析 設備為元素分析儀連接熱傳導偵檢器、元素分析儀連接红 外線偵檢器或元素分析儀連接質譜儀。 3·根據申請專利範圍第2項所述之測定對鉻(Tc-99m)與鍊 (Re-186、Re-i88)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在康晶劑 φ 中之含量與均一性的固態樣品分析技術,其中該元素分析 儀連接質譜儀之質譜儀係可為同位素比值質譜儀、感應輕 合電漿質譜儀、氣相層析質譜儀、液相層析質譜儀或串聯 質譜儀。 9 4·根據申請專利範圍第1項所述之測定對鉻(Tc-99m)與鍊 (Re-186、Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑 中之含量與均一性的固態樣品分析技術,其中該含硫養合 劑係為對鉻(Tc-99m)與銖(Re-186、Re-188)具有穩定錯合 φ 力且與錄或銖螯合後應用於疾病診斷或治療的放射性核醫 藥物的含硫螯合劑前驅物。 5.根據申請專利範圍第4項所述之測定對鉻(Tc-99m)與 銖(Re-186、Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶 劑中之含量與均一性的固態樣品分析技術,該含硫螯合劑 更包含硫醇(Thiolates)、胺基硫醇(Aminothiolates)、 雙硫醇(Dithiolates或dithioxalates)、三配位雙硫醇 (Tridentate dithiolates) ' 三配位席夫驗(Tridentate Schiff bases)、二氨基二硫基(Diaminedithiolates)、硫 25 201217823 醇乙醯胺(Mercaptoacetamides)、馬格衍生物(MAG3 derivatives)、硫烧基-雙硫-硫 (Thioalkyl-dithiol-thio)、硫尿素(Thiourea)、二硫代 胺基甲酸鹽(Dithiocarbamate)、偶氮次曱基 (Azomethines)、二氨基二硫基(Diaminedithiols)、異硫 氰酸酯(Isothiocyanate) 〇 6. 根據申請專利範圍第1項所述之測定對鉻(Tc-99m)與銖 (Re-186、Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑 中之含重與均一性的固癌樣品分析技術’其中該對照物質 為含硫之化合物或含硫之混合物。 7. 根據申請專利範圍第6項所述之測定對鉻(Tc-99m)與 銖(Re-186、Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶 劑中之含量與均一性的固態樣品分析技術,其中該含硫之 化合物包含磺胺酸(Sulfanilic acid, 4-aminobenzene sulfonic acid) ° 8. 根據申請專利範圍第6項所述之測定對鍈(Tc-99m)與銖 (Re-186、Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑 中之含篁與均一性的固態樣品分析技術,其中該含硫之混 合物包含煤。 26
TW099135930A 2010-10-21 2010-10-21 一種測定對鎝(Tc-99m)與錸(Re-186、Re-188)具有穩定錯合力之含硫螯合劑在凍晶劑中之含量與均一性的固態樣品分析技術 TWI486617B (zh)

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