TW201224467A - Voltage detection circuit - Google Patents

Voltage detection circuit Download PDF

Info

Publication number
TW201224467A
TW201224467A TW99143786A TW99143786A TW201224467A TW 201224467 A TW201224467 A TW 201224467A TW 99143786 A TW99143786 A TW 99143786A TW 99143786 A TW99143786 A TW 99143786A TW 201224467 A TW201224467 A TW 201224467A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
circuit
voltage
input terminal
signal
gain
Prior art date
Application number
TW99143786A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI434048B (zh
Inventor
Wen-Yi Li
Original Assignee
Nuvoton Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nuvoton Technology Corp filed Critical Nuvoton Technology Corp
Priority to TW99143786A priority Critical patent/TWI434048B/zh
Priority to US13/300,641 priority patent/US8917114B2/en
Publication of TW201224467A publication Critical patent/TW201224467A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI434048B publication Critical patent/TWI434048B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45475Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/471Indexing scheme relating to amplifiers the voltage being sensed
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/78A comparator being used in a controlling circuit of an amplifier
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45522Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising one or more potentiometers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45528Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising one or more passive resistors and being coupled between the LC and the IC
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45591Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising one or more potentiometers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45594Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising one or more resistors, which are not biasing resistor
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45616Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising more than one switch, which are not cross coupled
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45618Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising only one switch

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

201224467 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本揭示内容是有關於一種電路,且特別是有關於一種偵測電路。 【先前技術】
隨著電子技術的發展以及消費性電子產品的普及,桌上型電腦、 華5己型電腦、手機、個人數位助理(Personal Digital Assistant,PDA)與 隨身聽等已成為現代人經常使用的電子裝置。這些電子產品除了達成 移動通訊與數據儲存的目的之外,更進一步地滿足消費者對娛樂、工 作、社交、資訊閱讀上的需求。在電子產品的運作時,穩定的電力供 應是絕對必要的條件,一般來說桌上型電腦可能設置有固定式的電源 供應模組’而可攜式電子產品(如手機)多内建有可重複充電的電池供電 模組’用來提供電力來源。 以常見的電子計算機系統(如個人電腦系統、手機内的單晶片系統: 為系統主機板的㈣電壓供應是否穩定義到整㈣統能否正席 穩疋運仃。尤其是’隨著中央處理單元(Ce_l p峨以叩融,cpu 頻率逐漸提高’祕縣電源供紅要求转來愈高。尤其當中 單元進行大量資料運算時’若缺乏穩叙卫作電壓及工作電济 易導致糸統故障。 例如,^手機中的電池供電模組中的雷胃 w 、,止甲的電力存夏下降時,供電電層 便了此逐步哀減,可能導致手機的部 而失靈。 凡件,、,、法传到足夠的電力供鲜 201224467 壓過低時,該電源電壓即被視為不穩定,此狀況需__測,用以 方便執行相對應的保護措施。 【發明内容】 為了解決上述電壓賴電_部可能存在偵測偏差的問題,本發 明實施例提出-種電壓個電路,其具有自動校正模式錢過原有的 比較電路進仃誤差的校正,並將計算出的校正參數财起來。當電壓 積測電路進人仙m式時便可依據校正參數提供更精確的侧效果。 因此本發明内容之一態樣是在提供—種電壓偵測電路,其包含 比較電路彳變增益電路以及切換電路。比較電路具有第—輸入端以 及第二輸人端。可變增益電路耗接於比較電路之第—輸人端與基準信 號之間,可變增益電路具有魏種增益設定,可變增益電路將一増益 設定後的基準㈣導通至該第_輸人端。切換電路滅至第二^入 端,切換電路仙以選擇性地將待測信號或基準信號導通至第二輪入 端0
^中田5玄電壓偵測電路為自動校正模式時,該切換電路將該美 準u導通至該第二輸人端,用以和該增益設定後的基準信號進行^ 較,可變增益電職序套肋等增益奴,直職比較電路 一輸入端與該第二輸入端之電壓準位相等。 X 【實施方式】 味參閱第1圖,其繪示一種電壓偵測電路1〇〇的功能方塊圖。 第1圖所示’電壓偵測電路刚主要包含比較電路102,其兩個輪^ 201224467 端(輸入端in+與輸入端in-)分別耦接到需要測量的待測信號Vin以及作 為比較基準的基準信號Vref,用以比較輸入端in+與輸入端in-的電壓 準位,進而產生比較後的判斷結果(即輸出信號Vout)。 於實際應用中,比較電路102的輸入端in-未必與待測信號Vin直 接連接,於第1圖的例子中,電壓偵測電路100中具有等增益的運算 放大器(unity-gain operational amplifier)l04 以及分壓電路 106,係耦接 於待測信號Vin與比較電路102之間,其中,等增益的運算放大器1〇4 可用作信號隔離,而分壓電路106可用來調整待測信號Vin的取樣比 例。 舉例來說,假設基準信號Vref= 1.25 V,以及分壓電路106的取 樣比例為1時’若待測信號Vin低於1.25V (Vref)時,表示待測信號 Vin電壓過低發生異常,電壓偵測電路1〇〇的比較電路便可設定為具有 輸出邏輯高準位(logic-H)的輸出信號Vout ;反之,若待測信號Vin大 於l_25V(Vref)時,即正常情況下,電壓偵測電路1〇〇的比較電路便可 設定為具有輸出邏輯低準位(l〇gic-L)的輸出信號Vout。 舉例來說’假設基準信號Vref = 1.25 V且分壓電路106的取樣比 例為1/3時’若待測信號vin低於3.75V時(此時輸入端in-的電壓準位 低於1.25V),表示待測信號Vin電壓過低發生異常,電壓偵測電路1〇〇 的比較電路便可設定為輸出具有邏輯高準位(1〇gic_H)的輸出信號 Vout ;反之,若待測信號vin大於3.75V (Vref)時,即為正常情況。 然而’上述電壓偵測電路在實際的偵測應用中可能存在一定程度 的誤差,例如傳輪線路上的線阻、分壓電路的阻抗或分壓損失、運算 放大器的信號損耗等等各種可能的原因’都可能使得待測信號與基準 信號之間的比對發生誤差。現今的電子元件對電力信號的要求十分精 201224467 細,若電力信號的電壓準位已偏低,但電壓侧電路未群確偵測, 可能造成電子裝置不穩定或損壞。 為了對前述誤差進行校正,本發明另-實施例的電壓偵測電路更 設置-可變增益電路於基準信號與比較電路之間,在自動校正模式 下,利用可變增益電路作校正補償,藉此可計算出校正參數並儲存。 當電壓偵前路進人偵顚柄,便可依據校正參數提供更精確的债 測效果。 請參照第2圖’其繪示根據本發明—實施例之—種用於電壓債測 • 祕300之功能方塊圖。如第2圖所示,電壓制電路300包含比較 電路302、可變增益電路304、切換電路3〇6以及控制電路3〇8。 電壓福測電路3GG主要可用來制待測信號vin是否低於特定的 電壓準位,亦即例如確保中央處理單元可正常運作的安全電壓準位, 其係以基準信號Vref作為判斷標準藉以判斷待測信號Vin是否正常。 當待測信號Vm低於基準信號Vref時,電壓偵測電路便送出代表異常 情況之偵測結果的輸出訊號Vout,例如輸出具有邏輯高準位(1〇gic H) 的輸出信號Vout。其中,本實施例中主要將待測信號Vin與基準信號 ® Vref直接以一比一的比例尺(scale)比較’但本發明並不以此為限,亦 可先對待測信號Vin部份取樣或放大後再與基準信號Vref比較,可擴 大電壓偵測電路300可對應的待測範圍。 如第2圖所示,比較電路302具有兩輸入端,亦即輸入端in+與輸 入端m-,實際應用中,比較電路302可包含差動放大器沖fferentiaI amplifier)302a’用以取出輸入端in+與輸入端in_之間的電壓差加以放 大。 切換電路306耦接至比較電路302之輸入端in_,可選擇性地將待 201224467 測信號Vin或基進_ & # ^ 平虎Vref導通至輸入端in- ’其中,電壓偵測電路 300可包含自動校正模式與偵測模式。 明參閱第3A圖 '第3B圖以及第5圖,第3A圖繪示當電壓偵測 — 300 |於自動校正模式的示意圖第3B圖繪示當電壓制電路 300處於制模式的示意圖。如第3b圖所示,其中,當電壓俄測電路 3〇〇處於偵測模式時,切換電路则將待測信號vin導通至比較電路 302的輸入埏m_ ’而基準信號Vref則耦接至輸入端in+ ;當電壓偵測 電路300處於自動校正模式時,切換電路306將基準信號Vref導通至 _ tt較電路3G2的輸人端in_,以及基準信號Vref亦_接至輸入端心 於自動校正模式中,基準信號Vref同時被送往輸入端in+與輸入 端m•,於理想的情況下比較電路302兩輸入端應當接收到的一樣的信 號,故電壓準位應完全一致,不存在任何電壓差,然而因傳輪線路上 的線阻、分壓電路的阻抗或分壓損失、運算放大器的信號損耗等等各 種可能的原因,兩輸入端仍可能存在一定的偏差,於是本發明實施例 利用可變增益電路304進行偏差校正。 本實施例中,可變增益電路304耦接於比較電路之輸入端in+與基 • 準信號Vref之間,可變增益電路304具有複數種增益設定,實際應用 中,可變增益電路304可採用分壓電路、可變電阻器、可變增益的運 算放大器電路、或其他具相等性的可變增益元件。 於此實施例中,可變增益電路304中可包含計數器3(Ma,用以暫 存有變數X,計數器304a可為各種計數元件(counter),可暫存—特a 變數並根據控制而變動。可變增益電路304可根據變數X套用相對應 的增益設定。可變增益電路304將經上述增益設定處理後的基準作說 Vref-a導通至輸入端in+(如第3A圖所示)。 201224467 圖’其料㈣本判之—實_中電壓偵 °如第5圖所示’首先電壓偵測電路300於 古準LtTi在控制電路3G8可將重置控制信號RST設定為 同準位降當重置控制信號咖變為高準位(h)時 設糊準位(H),並且峨路可料數器工: 暫存之變數X設定為0。藉此,使電壓该測電路於時間點 自動校正模式。 ‘‘ ^
於自動校正模式中,比較電路302可判斷輸入端Μ之電壓準位 (Vref-a)與輸入端in-之電壓準位(㈣是否相等。若不相等時,比較電 路302中的差動放大器施針對兩端電壓差進行放大進而觸發控 制電路308。此時’控制電路可使計數_職暫存之變數X ^ 增,例如將變數加卜藉此將可變增益電路3〇4套用另_增益設定。
此處請一併參閱第5 測電路300的信號時序圖 時間點T0啟動。 可變增益電路3G4可依序套用不_增益設定,(如q i倍,〇 2倍, 0.3倍,0.4倍,·…)’直到比較電路302判斷輸入端出+與輸入之= 壓準位相等時,如第5财時間點T2所示,比較電路3〇2可產生高準 位(H)的Vmit,表示此時自動校正已完成。接著,在下一個clk的正 緣(positive edge)時,控制電路308可將校正控制信號Trim—設定 為低準位(L) ’且使計數器304a中變數x停止累加雌存為校正參數, 更具體來說’計數器304a只有在CLK訊號產生時才會進行累加的動 作’因此,在T2到下一個CLK出現的期間,變數乂係維持在同—個 數值。 藉此,控制電路308便可將可變增益電路3〇4目前使用的增益設 定保存下來。於此實施例中’增益設定的保存可透過將暫存器中的變 201224467 數X儲存綠正參㈣加以完成,此處校衫討_存在—儲存媒 體(未料)巾,如記憶體、補或其他可儲存參數的媒介。 接著’電麼侦測電路300便進入偵測模式,請一併參閱第3B圖 以及第5 ffi ’當電壓偵測電路綱處於偵測模式時,控制電路遍將 上述說明得到的校iL參數讀人可變增益電路脱之計數器触中,切 換電路306將待測信E Vin導通至輸入端m·,比較電路3〇2比較輸入 端ΐη+與輸人端in.之電鱗位並產生代耗_杲的輸出信號V⑽。 於此實施例中,比較電路3〇2可進一步包含信號處理單元·,可與 差動放大旨3G2am連接’信魏理單可根據差動放大器搬& 的電壓差,進而產生輸出訊號v〇ut。 於此實她例中,當輸入端in_的電壓準位小於輸入端in+的電壓準 位時,差動放大器302a可將其間的電壓差放大之後,比較電路3〇2中 的L號處理單元302b可據以輸出邏輯高準位(i〇gic_H)的輸出信號
Vcmt ;反之,則信號處理單元3〇2b輸出邏輯低準位(1叩^卩的輪出信 號 Vout。 如第5圖所示’在電子裝置使用過程中,可能因為各種因素(如電 力供應不足、系統異常、操作錯誤)使得待測信號Vin的電壓準位發生 變化,當待測信號Vin等於或小於偵測電壓vdet時,將使得輸入端出_ 的電壓準位便小於輸入端in+的電壓準位,進而使輸出信號v〇m變為 高準位,藉此達到電壓偵測的效果。 上述實施例中(第2圖至第3B圖)的電壓偵測電路300主要將待測 ^號Vm與基準信號Vref直接以一比一的比例尺(scale)比較,但本發 明並不以此為限。請參閱第4A圖,其繪示根據本發明之另一實施例中 一種電壓偵測電路300'的電路示意圖。 201224467 如第4A圖所示,相較於第3A或3B圖,電壓偵測電路300'更包
含等增益(uni-gain)的運算放大器(operational amplifier,OP-AMP)310 以 及分壓電路312。等增益的運算放大器310與分壓電路312可依序耦 接於待測信號Vin之輸入端與切換電路306之間,分別用以對待測信 號Vm進行處理。其中,等增益的運算放大器31〇可用以隔離信號, 避免電壓镇測電路300'對待測信號vin造成干擾。其中,於此實施例 中,等增益的運算放大器31〇本身不對訊號進行放大處理,僅將輸入 端訊號複製到輸出端,但元件本身可在輸入端與輸出端之間形成隔離 的效果。當電壓偵測電路3〇〇’處於偵測模式時,分壓電路312可用以 對待測信號Vin進行分絲樣,例如取出1/3 Vin,取樣後的待測信號 Vin再與經可變增益電路3〇4校正後的基準信號進行比對。藉此,可電 壓偵測電路300對應較大的待測範圍,並有較高的精確性。等增益的 運算放大器31G以及分壓電路312的本身的詳細原理為習知技藝之人 所熟知,在此不另贅述。 前述等增糾運算放大器31〇與分壓電路312本身亦可能對通過 的各種信號造成-定的誤差(bi♦因此於另—實施例中,亦可將本發 明的校正機制的適用範圍—併涵蓋等增益的運算放大器細與分廢電 路312,請參閱第4B圖’其繪示根據本發明之另一實施例中一種電壓 偵測電路300”的電路示意圖。如第4B圖所示,電約貞測電路卿"與 先前實施要柯之處在於,其巾等增益的運算放大器3ig與分壓 電路312依序耦接於切換電路306與比較電路3〇2之間。 来 .....——·虽冤堙價测電路3〇〇·,為自動校正模式時, 透,可變增錢路3G4依縣用隸增益設定的自較錯程,此時 计具出的校正參數可—併涵蓋到等增益的運算放大器训與分麼電路 201224467 312所造成的誤差。 舉例來說,根據第4B圖的實施例,於自動校正模式中電壓偵測電 • 路3〇〇"的基準信號Vref被送往輸入端in+,並可同時產生電塵準位為 基準k號Vref兩倍的k號(如第4B圖中的兩倍基準信號2*vre〇。自動 校正模式中’切換電路306切換至兩倍基準信號2*Vref之輸入端,此 時分壓電路312可相對應地設定為1/2分壓比例。兩倍基準電遲信號 2*Vref經分壓電路312處理後產生一倍的基準信號並送往輸入端 以進行後續的校正。其中,分壓電路312的分壓比例與自動校正模式 籲 中基準k號採用的倍數並不以此實施例中的1/2與兩倍為限,實際應 用中可採用任意具相等性的組合。 如此一來,可變增益電路304進行偏差校正可根據傳輸線路上的 線阻、等增益的運算放大器M0與分壓電路犯的阻抗等等各種原因 的加總,進而計算出校正參數。實_計算細部雜與切實施例大 致雷同’在此不另贅述。 综上所述,本發明的電壓偵測電路在基準信號與比較電路之間設 置有可變増益電路,在自動校正模式下可計算出校正參數,並利用^ _ 變增益電路作校正補,藉此提供更精確_測效果。 然本揭示内容已以實施方式揭露如上,然其並非用以限定本揭 =谷任何熟習此技藝者,在不脫離本揭示内容之精神和範圍内, :可作各種之更動與卿’因此本揭示内容之保護範ϋ當視後附之申 請專利範圍所界定者為準。 12 201224467 【圖式簡單說明】 為讓本揭不内容之上述和其他目的、χ 特徵、伽與實施例能 更明顯易懂,所附圖式之說明如下: 第1圖繪示習知技術中—種電壓偵測電路的功能方塊圖; 第2圖,其繪示根據本發明之—實施例中—種詩電壓债測 電路之功能方塊圖; 第从圖繪示當電壓偵測電路處於自動校正模式的示意圖;
第3Β圖繪示當電壓偵測電路處於偵測模式的示意圖; 第4Α圖繪示根據本發明之另一實施例中一種電壓偵測電路 的電路示意圖; 第4Β圖綠示根據本發明之另一實施例中一種電壓谓測電路 的電路示意圖;以及 第5圖繪示根據本發明之一實施例中電壓偵測電路的信號時 序圖。 102 :比較電路 106 :分壓電路 in- _輸入細 Vref :基準信號 302 :比較電路 306 :切換電路 302a :差動放大器 【主要元件符號說明】 100 :電壓偵測電路 104 :運算放大器 in+ :輸入端 Vin :待測信號 300 :電壓偵測電路 304 :可變增益電路 308 :控制電路 13 201224467 302b :信號處理單元 Vref-a :經增益的基準信號 310 :運算放大器 RST :重置控制信號 Vdet :偵測電壓 300” :電壓偵測電路 304a :計數器 300’ :電壓偵測電路 312 :分壓電路 Trim_finish :校正控制信號 ΤΟ、ΤΙ、T2、T3 :時間點 2*Vref:兩倍基準信號
14

Claims (1)

  1. 201224467 七、申請專利範圍: 1.一種電壓偵測電路,包含: 一比較電路,該比較電路異有一第一輪入端以及一第二輸入 端; 一可變增益電路,耦接於该第一輸入端與一基準信號之間,該 可變增益電路具有複數種增益設定’該可變増益電路將一增益設定 後的基準信號導通至該第一輸入端;以及
    一切換電路,耦接至該第二輸入端,係用以選擇性地將一待測 信號或該基準信號導通至該第二輸入端; 其中,當該電壓偵測電路為一自動校正模式時,該切換電路將該 基準信號導通至該第二輸入端,用以和該增益設定後的基準信號進行 比較’該可變增益電路依序套用該等增益設定,直_比較電路判斷 該第一輸入端與該第二輸入端之電壓準位相等。
    2·如申請專利範圍第丨項所述之電壓制電路,更包含—控制電 ^,該控制電路麵接至該比較電路,於該自動校正模式時,當 路判斷該第一輸入端與該帛二輸入端之電壓準位A 路調整該可變增益電路的該等增益設定。 不相等,該控制電 電路Γ人 圍第1項所述之電壓_電路,其中該可變择益 電路包含-計數器,該計數器暫存 變“ 變數套_增益設定之其中之―,其中,該=_路根據該 定。 。變數正比於該等増益設 4·如申請專利範圍第3項所述之電壓偵測電路更包含—控制電
    15 201224467 路,係減至祕較電路與料數器,心於該自動校正模式中時, 當該比較電路判斷該第-輸人端與該第二輸人端之電壓準位不相等, 該控制電路調整該變數。 5.如申請專利範圍第4項所述之電壓彳貞測 路判斷該第一輸入端與該第二輸入端之電壓準 將該變數儲存設定為一校正參數。 電路,其中當該比較電 位相等時,該控制電路
    6.如申請專利顧第5項所述之電壓仙電路,其中當該電㈣ 測電路為-制模式時,該控制電路將該校正參數寫人該可變增益電 路之^計數器中,該切換電路將該待測信號導通至該第二輸入端,該 比較電路用以比較該第-輸人端與該第二輸人.電壓準位,進而產 生一偵測結果
    7.如申請專利範圍第i項所述之電壓 測電路:於一細式時,該切換電路將該待導=壓: :電路比較該第一輪入端與該第二輪入端之電壓準= 入端 生一偵測結果 8.如申請專利範圍第丨項所述之電壓偵測電路 電路包含一分壓電路。 其中該可變增益 9.如申請專利職第丨項所述之電壓偵測電路 電路包含一可變電阻器。 其中該可變增益 16 201224467 ίο.如申請專利範圍第丨項所述之電壓偵測電路,其中該比較電路 包含一差動放大器。 11 .如申咕專利範圍第1項所述之電壓偵測電路,更包含一運算放 大器’其純於該切換電路與該比較電路之間,該運算放All用以隔 離該待測信號。 如申請專利範圍第1項所述之電壓偵測電路,更包含一分壓電 路二其輪於勒換電路與紐較電路之間,該錢電路用以對該待 測信號進行分壓取樣。 d。13·如中請專利範圍第1項所述之電壓 貞測電路,更包含_運算放 大益,其耦接於該待測信號與該切換 間,該運算 離該待顯號。 ^用以隔
    一分壓電 以對該待 •如申睛專利範圍第1項所述之電壓偵測電路,更包含 、耦接於该待測信號與該切換電路之間,該分壓電路用 測信號進行分壓取樣。
    17
TW99143786A 2010-12-14 2010-12-14 電壓偵測電路 TWI434048B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW99143786A TWI434048B (zh) 2010-12-14 2010-12-14 電壓偵測電路
US13/300,641 US8917114B2 (en) 2010-12-14 2011-11-20 Voltage detection circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW99143786A TWI434048B (zh) 2010-12-14 2010-12-14 電壓偵測電路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201224467A true TW201224467A (en) 2012-06-16
TWI434048B TWI434048B (zh) 2014-04-11

Family

ID=46198750

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW99143786A TWI434048B (zh) 2010-12-14 2010-12-14 電壓偵測電路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8917114B2 (zh)
TW (1) TWI434048B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI461703B (zh) * 2012-12-27 2014-11-21 Chroma Ate Inc 馬達監測系統及其電流偵測裝置
TWI833540B (zh) * 2023-01-05 2024-02-21 固緯電子實業股份有限公司 電壓偵測電路

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9231703B2 (en) * 2011-11-14 2016-01-05 Aci Communications, Inc. Optical node configuration apparatus
US10452113B2 (en) 2017-11-20 2019-10-22 Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited Power supply switch with programmable switching decision
TWI852170B (zh) * 2021-12-24 2024-08-11 立錡科技股份有限公司 阻抗追蹤電路以及積體電路
CN116339426A (zh) 2021-12-24 2023-06-27 立锜科技股份有限公司 阻抗追踪电路以及集成电路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997024652A1 (en) 1995-12-29 1997-07-10 Advanced Micro Devices, Inc. Integrated circuit reset incorporating battery monitor and watchdog timer
US6750683B2 (en) 2001-04-30 2004-06-15 Stmicroelectronics, Inc. Power supply detection circuitry and method
US7868800B2 (en) 2008-10-22 2011-01-11 Industrial Technology Research Institute Mixed-signal control apparatus of modulation system
US7973684B2 (en) 2008-10-27 2011-07-05 Microchip Technology Incorporated Self auto-calibration of analog circuits in a mixed signal integrated circuit device
US8179154B2 (en) 2008-10-30 2012-05-15 Advantest Corporation Device, test apparatus and test method
WO2010073489A1 (ja) 2008-12-26 2010-07-01 株式会社アドバンテスト スイッチ装置、および試験装置
US20100176855A1 (en) 2009-01-12 2010-07-15 Huffman James D Pulse width modulated circuitry for integrated devices
CN102759655B (zh) * 2011-04-29 2016-03-16 飞兆半导体公司 多电源电压的检测电路及检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI461703B (zh) * 2012-12-27 2014-11-21 Chroma Ate Inc 馬達監測系統及其電流偵測裝置
TWI833540B (zh) * 2023-01-05 2024-02-21 固緯電子實業股份有限公司 電壓偵測電路

Also Published As

Publication number Publication date
US8917114B2 (en) 2014-12-23
US20120146721A1 (en) 2012-06-14
TWI434048B (zh) 2014-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201224467A (en) Voltage detection circuit
JP6619471B2 (ja) 内部集積回路抵抗の較正
TWI640794B (zh) 感測器裝置
US9696353B2 (en) Measuring power consumption of circuit component operating in run mode
CN105044622B (zh) 一种测试仪器的供电电源功率自检测装置及其自检测方法
CN103529297A (zh) 阻抗测试装置
US20170059628A1 (en) Power detection apparatus
CN214954041U (zh) 一种智能自校准电流霍尔传感器
US9435836B2 (en) Power consumption detector and motherboard as well as fan board using the same
TWI408378B (zh) 電流偵測裝置
KR20170053047A (ko) 배터리 전류량을 측정하는 퓨얼 게이지 시스템 및 이를 포함하는 휴대용 전자장치
JP6054788B2 (ja) 蓄電池の残量推定装置及び残量推定方法
US20170288439A1 (en) Signal processing circuit, coulomb counter circuit, and electronic device
TW201339940A (zh) 信號量測電路
JP2014078938A (ja) スピーカーシステム及びその測定方法
CN203101474U (zh) 一种高压电力系统带电显示检测装置
WO2012152172A1 (zh) 一种压力变送器
CN114152797B (zh) 自动调节偏移电压的电流传感器
CN211653095U (zh) 一种电池内阻测试仪
KR20130031621A (ko) 미세전류 검출장치 및 방법
TW201608368A (zh) 電子裝置以及電量偵測方法
CN211426616U (zh) 双回路取样装置
EP3187847B1 (en) Pressure measurement
CN202204487U (zh) 一种放射性测厚仪
EP3130894B1 (en) Abnormality detection device for sensor and sensor device