TW201403103A - 測試裝置 - Google Patents

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Abstract

一種測試裝置，包括第一連接器、控制單元、第一偵測電路以及記憶體控制器。第一連接器電性連接第一匯流排。控制單元依據來自第一連接器的第一致能訊號，而產生多個第一控制訊號。第一偵測電路電性連接第一匯流排中的多個第一傳輸線，並依據這些第一控制訊號而逐一將這些第一傳輸線導通至接地端。記憶體控制器檢測這些第一傳輸線所傳送之訊號的狀態，並依據檢測結果而決定是否產生第一異常指示訊號。控制單元依據第一異常指示訊號控制多個指示燈。

Description

測試裝置
本發明是有關於一種測試裝置，且特別是有關於一種用以對主板進行檢測的測試裝置。
一般來說，電腦或伺服系統所使用的主板(main board)都需要通過內電路測試器(in-circuit tester，以下簡稱ICT)或是自動測試設備(Automatic Test Equipment，以下簡稱ATE)的驗證，以便於確定主板是否可以正常使用。
然而，基於ICT或是ATE對於針腳結構的測試限制與成本上的考量，目前的ICT與ATE還無法針對雙列直插式封裝(dual in-line package，以下簡稱DIP)元件，例如：SAS(Serial Attached SCSI)連接器、SATA(Serial Advanced Technology Attachment)連接器，進行測試。再者，現有的主板上大多是透過SAS連接器或是SATA連接器來外接一硬碟。換言之，現有的製造端目前還無法透過ICT或是ATE，來對SAS連接器、SATA連接器與其相關配線進行斷路或是短路的檢測，進而無法驗證硬碟的介面訊號，並也造成了主板在測試上的漏洞。
本發明提供一種測試裝置，可針對主板上的SAS連接器或是SATA連接器的焊接狀況與其相關配線的導通狀況 進行檢測，並可用以作為一固態硬碟。
本發明提出一種測試裝置，包括第一連接器、控制單元、第一偵測電路以及記憶體控制器。第一連接器電性連接第一匯流排。控制單元依據來自第一連接器的第一致能訊號，而產生多個第一控制訊號。第一偵測電路電性連接第一匯流排中的多個第一傳輸線，並依據這些第一控制訊號而逐一將這些第一傳輸線導通至接地端。記憶體控制器檢測這些第一傳輸線所傳送之訊號的狀態，並依據檢測結果而決定是否產生第一異常指示訊號。其中，控制單元依據第一異常指示訊號控制多個指示燈。
在本發明之一實施例中，上述之測試裝置更包括多個記憶體。其中，這些記憶體電性連接記憶體控制器，且記憶體控制器依據第一匯流排所傳送之介面訊號存取這些記憶體。
在本發明之一實施例中，上述之第一連接器包括多個第一電源接腳。第一偵測電路分別對來自這些第一電源接腳的訊號進行分壓，並據以產生多個第一分壓訊號。此外，控制單元利用第一參考電壓比對這些第一分壓訊號，並依據比對結果控制這些指示燈。
在本發明之一實施例中，上述之第一連接器更包括多個第一接地接腳。第一偵測電路偵測來自這些第一接地接腳的訊號，並據以產生多個第一偵測訊號。此外，控制單元利用第二參考電壓比對這些第一偵測訊號，並依據比對結果控制這些指示燈。
在本發明之一實施例中，上述之測試裝置更包括第二連接器、第二偵測電路與橋接器。第二連接器電性連接第二匯流排，且控制單元依據來自第二連接器的第二致能訊號而產生多個第二控制訊號。第二偵測電路電性連接第二匯流排中的多個第二傳輸線，並依據這些第二控制訊號而逐一將這些第二傳輸線導通至接地端。橋接器電性連接第二匯流排，且橋接器檢測這些第二傳輸線所傳送之訊號的狀態，並依據檢測結果而決定是否產生第二異常指示訊號。其中，控制單元依據第二異常指示訊號控制這些指示燈。
基於上述，本發明之測試裝置是透過一連接器連接至一主板，並藉由檢測來自連接器的訊號，來進一步地判別主板上的訊號是否出現異常。藉此，將可測試出主板上之連接器(例如：SATA連接器、SAS連接器)的焊接狀況與其相關配線的導通狀況。再者，本發明之測試裝置亦可做為固態硬碟來使用。換言之，本發明之測試裝置不僅可以針對硬碟之介面訊號進行驗證，還有助於降低系統的生產成本。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉各項實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1為依據本發明第一實施例之測試裝置的示意圖。參照圖1，測試裝置100包括連接器110、偵測電路120、 記憶體控制器130、控制單元140、多個指示燈151~155以及多個記憶體161~162。其中，控制單元140可利用複雜可程式邏輯元件(complex programmable logic device)來加以實現。
如圖1所示，測試裝置100可透過連接器110電性連接至一主板101，以針對主板101進行測試。在第一實施例中，測試裝置100的連接器110符合第一通信協定，例如：串列進階技術附加(Serial Advanced Technology Attachment，以下簡稱SATA)協定。換言之，連接器110可例如是一SATA連接器。因此，在第一實施例中，測試裝置100可例如是透過連接器110電性連接至主板101中的SATA連接器，並針對主板101的SATA連接器以及其相關配線進行斷路(open)或是短路(short)測試。
為了說明方便起見，圖1僅標示出主板101中由SATA連接器所傳送之介面訊號IT、多個電源訊號PW11~PW14以及多個接地訊號GN11~GN14，其中介面訊號IT包括一差動接收訊號(RX+,RX-)與一差動輸出訊號(TX+,TX-)。
請繼續參照圖1。連接器110電性連接至匯流排170的一端，且記憶體控制器130電性連接至匯流排170的另一端與記憶體161~162。此外，偵測電路120電性連接匯流排170與控制單元140，且控制單元140電性連接記憶體控制器130、偵測電路120與指示燈151~155。在第一實施例中，匯流排170符合SATA協定，亦即匯流排170可例如是一SATA匯流排，並用以傳送來自主板101的介 面訊號IT。此外，匯流排170包括多個傳輸線TL11~TL16，且傳輸線TL12~TL15是用以傳送介面訊號IT中的差動接收訊號(RX+,RX-)與差動輸出訊號(TX+,TX-)。
在操作上，當測試裝置100透過連接器110連接至主板101時，連接器110中的電源接腳111會接收來自主板101的電源訊號PW11。此外，測試裝置100會利用電源訊號PW11產生其內部元件所需的操作電壓，進而驅動記憶體控制器130、控制單元140...等內部元件。此外，連接器110中的接地接腳112會接收來自主板101的接地訊號GN11，且測試裝置100會將接地訊號GN11傳送至控制單元140。當控制單元140接收到接地訊號GN11時，控制單元140會將接地訊號GN11是視為一致能訊號，而開始進行主板101的測試。在測試上，測試裝置100會依序檢測匯流排170所傳送之差動接收訊號(RX+,RX-)與差動輸出訊號(TX+,TX-)，以判別主板101中SATA連接器的焊接狀況與其相關配線的導通狀況。
舉例來說，圖2繪示為依據本發明第一實施例之差動接收訊號的檢測流程圖，以下請同時參照圖1與圖2來看。在此，假設匯流排170中的傳輸線TL12與TL13是分別用以傳送差動接收訊號中的正接收訊號RX+與負接收訊號RX-，則如步驟S210所示，在測試上，控制單元140會產生控制訊號CT11~CT14，以致使偵測電路120將用以傳送正接收訊號RX+的傳輸線TL12導通至接地端。接著，如步驟S220所示，記憶體控制器130會檢測傳輸線TL13所 傳送之負接收訊號RX-的狀態，並依據檢測結果而決定是否產生異常指示訊號ID1。此外，如步驟S230所示，當異常指示訊號ID1產生時，控制單元140將依據異常指示訊號ID1控制指示燈151~155。
例如，當檢測結果為負接收訊號RX-的狀態出現異常時，則代表在主板101上SATA連接器的RX-接腳與其相關配線可能存在著斷路或是短路的情況。因此，此時的記憶體控制器130將產生相應的異常指示訊號ID1，且控制單元140會依據異常指示訊號ID1點亮相應於負接收訊號RX-的指示燈，例如：指示燈151。相對地，當檢測結果為負接收訊號RX-的狀態沒有出現異常時，記憶體控制器130將不會產生相應的異常指示訊號ID1，以致使相應於負接收訊號RX-的指示燈不會發出光源。
當負接收訊號RX-的狀態檢測完畢後，如步驟S240，控制單元140將再利用控制訊號CT11~CT14控制偵測電路120，進而致使偵測電路120將用以傳送負接收訊號RX-的傳輸線TL13導通至接地端。接著，如步驟S250所示，記憶體控制器130會檢測傳輸線TL12所傳送之正接收訊號RX+的狀態，並依據檢測結果而決定是否產生異常指示訊號ID1。此外，如步驟S260所示，當異常指示訊號ID1產生時，控制單元140將依據異常指示訊號ID1控制指示燈151~155。
例如，當檢測結果為正接收訊號RX+的狀態出現異常時，則代表在主板101上SATA連接器的RX+接腳與其相 關配線可能存在著斷路或是短路的情況。因此，此時的記憶體控制器130將產生相應的異常指示訊號ID1，且控制單元140會依據異常指示訊號ID1點亮相應於正接收訊號RX+的指示燈，例如：指示燈152。相對地，當檢測結果為正接收訊號RX-的狀態沒有出現異常時，記憶體控制器130將不會產生相應的異常指示訊號ID1，以致使相應於正接收訊號RX+的指示燈不會發出光源。
相似地，倘若匯流排170中的傳輸線TL14與TL15是分別用以傳送差動輸出訊號中的正輸出訊號TX+與負輸出訊號TX-，則在差動輸出訊號的測試上，測試裝置100會先將用以傳送正輸出訊號TX+的傳輸線TL14導通至接地端後，再檢測負輸出訊號TX-的狀態。之後，測試裝置100更會依據檢測結果而決定是否點亮相應於負輸出訊號TX-的指示燈，例如：指示燈153。接著，測試裝置100也會先將用以傳送負輸出訊號TX-的傳輸線TL15導通至接地端後，再檢測正輸出訊號TX+的狀態。此外，測試裝置100也會依據檢測結果而決定是否點亮相應於正輸出訊號TX+的指示燈，例如：指示燈154。
換言之，控制單元140會依據接地訊號GN11(致能訊號)開始進行主板101的測試，並據以產生多個控制訊號CT11~CT14。此外，在測試期間內，偵測電路120會依據控制訊號CT11~CT14而逐一將匯流排170中的傳輸線TL12~TL15導通至接地端。藉此，記憶體控制器130將得以逐一檢測傳輸線TL12~TL15所傳送之訊號的狀態，並依 據檢測結果而決定是否產生異常指示訊號ID1。此外，控制單元140會依據異常指示訊號ID1控制指示燈151~155的亮滅。藉此，針對主板101的SATA連接器，測試人員將可透過指示燈151~155的亮滅，而初步地判別出是SATA連接器的哪一接腳與其相關配線存在著斷路或是短路的情況。
更進一步來看，在細部操作上，偵測電路120包括開關SW11~SW14。其中，開關SW11~SW14與傳輸線TL12~TL15一對一對應。此外，開關SW11~SW14的第一端電性連接傳輸線TL12~TL15，開關SW11~SW14的第二端電性連接至接地端。在測試期間內，偵測電路120會依據控制訊號CT11~CT14逐一開啟(turn on)開關SW11~SW14，以致使傳輸線TL12~TL15逐一導通至接地端。
值得一提的是，當檢測完匯流排170所傳送之訊號後，控制單元140將關閉(turn off)偵測電路120中的開關SW11~SW14，以致使匯流排170可以正常地將介面訊號IT傳送至記憶體控制器130。此時，記憶體控制器130將可依據匯流排170所傳送之介面訊號IT存取記憶體161~162。其中，記憶體161~162可例如分別是一快閃記憶體。換言之，測試裝置100除了可以用以測試主板101以外，亦可做為固態硬碟來加以使用。
除了對匯流排170所傳送之訊號進行檢測以外，測試裝置100也可針對連接器110之電源/接地接腳所傳送之訊 號進行檢測，以測試主板101中SATA連接器的電源/接地接腳與其相關配線是否存在著斷路或是短路的情況。
舉例來說，如圖1所示，在第一實施例中，偵測電路120更包括電阻R11~R16。其中，電阻R11與R12相互串接以形成一電阻串，且由電阻R11與R12所構成的電阻串電性連接在連接器110的電源接腳113與接地端之間。相似地，電阻R13與R14相互串接以形成一電阻串，且由電阻R13與R14所構成的電阻串電性連接在連接器110的電源接腳114與接地端之間。以此類推，電阻R15與R16的連接架構。
在操作上，連接器110的電源接腳113~115用以接收來自主板101的電源訊號PW12~PW14。此外，由電阻R11與R12所形成的電阻串會對電源訊號PW12進行分壓，進而產生分壓訊號DV11。相似地，由電阻R13與R14所形成的電阻串也會響應於電源訊號PW13而產生分壓訊號DV12。以此類推，分壓訊號DV13的產生方式。換言之，偵測電路120會分別對來自電源接腳113~115的訊號進行分壓，並據以產生分壓訊號DV11~DV13。
此外，控制單元140會利用第一參考電壓逐一比對分壓訊號DV11~DV13，並依據比對結果控制指示燈151~155的亮滅。舉例來說，當比對結果為分壓訊號DV11小於第一參考電壓時，則代表相應的電源訊號PW12出現異常，亦即主板101上用以傳送電源訊號PW12之SATA連接器的電源接腳與其相關配線可能存在著斷路或是短路的情 況。因此，此時的控制單元140會將指示燈151~155中相應於電源訊號PW12的指示燈點亮。
再者，如圖1所示，在第一實施例中，偵測電路120更包括電阻R17~R19。其中，電阻R17~R19的第一端接收電源電壓VDD，且電阻R17~R19的第二端電性連接至連接器110的接地接腳116~118，並用以產生偵測訊號DT11~DT13。在操作上，連接器110的接地接腳116~118用以接收來自主板101的接地訊號GN12~GN14。其中，當接地訊號GN12~GN14沒有出現異常時，偵測訊號DT11~DT13的準位將趨近於接地電壓。
反之，當接地訊號GN12~GN14出現異常時，偵測訊號DT11~DT13的準位將可能透過電阻R17~R19上拉至電源電壓VDD。因此，控制單元140會利用第二參考電壓比對偵測訊號DT11~DT13，以判別出接地訊號GN12~GN14是否出現異常，並依據比對結果控制指示燈151~156的亮滅。其中，倘若接地訊號GN12~GN14出現異常，則代表主板101上用以傳送接地訊號GN12~GN14之SATA連接器的接地接腳與其相關配線可能存在著斷路或是短路的情況。
值得一提的是，圖1實施例所列舉的測試裝置100具有單一的連接介面，但其並非用以限定本發明。舉例來說，測試裝置100也可擴充成具有兩個連接介面的裝置，且所述兩連接介面分別具有不同的通信協定。藉此，測試人員將可直接利用單一的測試裝置，而分別測試主板中具有不 同規格之連接器的焊接狀況與其相關配線的導通狀況。為了致使本領域具有通常知識者能更了解本發明，以下將列舉具有兩連接介面的測試裝置。其中，為呈現對本發明之說明的一貫性，故在以下實施例中，若有功能與結構相同或相似的元件會用相同的元件符號與名稱。
圖3為依據本發明第二實施例之測試裝置的示意圖。請同時參照圖1與圖3來看，第一與第二實施例的主要差異在於，測試裝置300更包括連接器310、偵測電路320、橋接器330與切換單元340，且圖3中的匯流排170是電性連接至切換單元340。其中，連接器310電性連接匯流排350的一端，且橋接器330電性連接匯流排350的另一端、切換單元340與控制單元140。匯流排350包括多個傳輸線TL31~TL36。偵測電路320電性連接至連接器310、匯流排350中的傳輸線TL32~TL35與控制單元140。此外，切換單元340透過匯流排360電性連接至橋接器330，並透過匯流排370電性連接至記憶體控制器130。
在第二實施例中，連接器310符合第二通信協定，例如：串列式附加SCSI(Serial Attached SCSI，SAS)協定。換言之，連接器310可例如是一SAS連接器。因此，在第二實施例中，測試裝置300可透過連接器310或是連接器110，電性連接至主板中的SAS連接器或是SATA連接器，進而針對主板中的SAS連接器、SATA連接器以及其相關配線進行斷路與短路的測試。
在操作上，當測試裝置300透過連接器110電性連接 至主板時，測試裝置300將透過偵測電路120、記憶體控制器130、控制單元140與指示燈151~155進行相應的測試操作，且所進行的測試操作與圖1實施例相似。而主要不同之處在於，圖3中的匯流排170是透過切換單元340電性連接至記憶體控制器130。因此，在圖3所示之第二實施例中，當控制單元140接收到來自連接器110之接地接腳112的接地訊號(亦即致能訊號)時，控制單元140更會將一切換訊號ST3的準位切換至第一準位(例如：邏輯1)。藉此，切換單元340將依據具有第一準位的切換訊號ST3，而將匯流排370導通至匯流排170。如此一來，匯流排170所傳送的介面訊號將被傳送至匯流排370，進而致使記憶體控制器130可以依據來自匯流排370的介面訊號存取記憶體161~162。
另一方面，當測試裝置300透過連接器310電性連接至主板時，測試裝置300將透過偵測電路320、橋接器330、控制單元140與指示燈151~155來進行測試操作。此時，測試裝置300會利用來自連接器310之電源接腳311的電源訊號，產生其內部元件所需的操作電壓。此外，測試裝置300會將來自連接器310之接地接腳312的接地訊號視為一致能訊號，而開始進行主板的測試。
在主板的測試上，控制單元140會依據來自接地接腳312的接地訊號(亦即致能訊號)，產生多個控制訊號CT31~CT34。此外，在測試期間內，偵測電路320會依據控制訊號CT11~CT14，而逐一開啟開關SW31~SW34，以 致使傳輸線TL32~TL35逐一導通至接地端。藉此，橋接器330將可逐一檢測傳輸線TL32~TL35所傳送之訊號的狀態，並依據檢測結果而決定是否產生異常指示訊號ID2。相對地，此時的控制單元140會依據異常指示訊號ID2控制指示燈151~155。藉此，測試人員將可以初步地判別出，主板中的SAS連接器與其相關配線是否存在著斷路或是短路的情況。
舉例來說，匯流排170中的傳輸線TL32~TL35可例如是用以傳送來自主板之介面訊號中的差動接收訊號與差動輸出訊號。因此，當橋接器330判別出傳輸線TL32~TL35所傳送之訊號出現異常時，則代表主板上用以傳送差動接收訊號與差動輸出訊號之SAS連接器的接腳與其相關配線可能存在著斷路或是短路的情況。另一方面，當檢測完匯流排350所傳送之訊號後，控制單元140將關閉偵測電路320中的開關SW31~SW34，以致使匯流排350可以正常地將來自主板的介面訊號傳送至橋接器330。
值得一提的是，當測試裝置300透過連接器310電性連接至主板時，控制單元140更會依據來自接地接腳312的接地訊號(亦即致能訊號)，將切換訊號ST3的準位切換至第二準位(例如：邏輯0)。藉此，切換單元340將會依據具有第二準位的切換訊號ST3，而將匯流排370導通至匯流排360。在第二實施例中，匯流排350可例如是一SAS匯流排，且匯流排360與370可例如分別是一SATA匯流排。因此，為了將來自匯流排350的介面訊號傳送至匯流 排360與370，橋接器330會轉換匯流排350所傳送之介面訊號的格式。如此一來，當測試裝置300透過連接器310電性連接至主板時，記憶體控制器130依舊可以依據來自匯流排370的介面訊號存取記憶體161~162。
再者，測試裝置300也可針對連接器310之電源/接地接腳所傳送之訊號進行檢測，以測試主板中SAS連接器的電源/接地接腳與其相關配線是否存在著斷路或是短路的情況。舉例來說，偵測電路320會利用電阻R31~R36，分別對來自於電源接腳313~315的訊號進行分壓，並據以產生分壓訊號DV31~DV33。此外，控制單元140會利用第一參考電壓逐一比對分壓訊號DV31~DV33，並依據比對結果控制指示燈151~155。其中，當比對結果為分壓訊號DV31小於第一參考電壓時，則代表來自電源接腳313的訊號出現異常，亦即主板上之SAS連接器的電源接腳與其相關配線可能存在著斷路或是短路的情況。因此，此時的控制單元140會點亮相應的指示燈。
此外，測試裝置300也可利用電阻R37~R39偵測來自接地接腳316~318的訊號，並據以產生偵測訊號DT31~DT33。再者，控制單元140會利用第二參考電壓比對偵測訊號DT31~DT33，以判別出接地接腳316~318所傳送的訊號是否出現異常，並依據比對結果控制指示燈151~156。其中，倘若接地接腳316~318所傳送的訊號出現異常，則代表主板上之SAS連接器的接地接腳與其相關配線可能存在著斷路或是短路的情況。因此，此時的控制 單元140會點亮相應的指示燈。至於圖3實施例之偵測電路320的細部結構，與圖1實施例之偵測電路120的細部結構相似，故在此不予贅述。
綜上所述，本發明之測試裝置是透過一連接器連接至一主板，並藉由檢測來自連接器的訊號，來進一步地判別出主板上的訊號是否出現異常。藉此，當判別出主板上的訊號出現異常時，則代表主板上用以傳送該訊號的連接器與其相關配線可能存在著斷路或是短路的情況。如此一來，將可測試出主板中連接器的焊接狀況與其相關配線的導通狀況。此外，本發明之測試裝置適於電性連接至主板上以DIP形式進行封裝的連接器，例如：SATA連接器、SAS連接器...等，因此本發明之測試裝置可針對主板上的DIP元件進行測試。再者，本發明之測試裝置亦可做為固態硬碟來使用。換言之，本發明之測試裝置不僅可以針對硬碟之介面訊號進行驗證，還有助於降低系統的生產成本。
雖然本發明已以各項實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100、300‧‧‧測試裝置
101‧‧‧主板
IT‧‧‧介面訊號
GN11~GN14‧‧‧接地訊號
PW11~PW14‧‧‧電源訊號
RX+、RX-‧‧‧差動接收訊號
TX+、TX-‧‧‧差動輸出訊號
110、310‧‧‧連接器
111、113~115、311、313~315‧‧‧電源接腳
112、116~118、312、316~318‧‧‧接地接腳
120、320‧‧‧偵測電路
130‧‧‧記憶體控制器
140‧‧‧控制單元
151~155‧‧‧指示燈
161~162‧‧‧記憶體
170、350~370‧‧‧匯流排
TL11~TL16、TL31~TL36‧‧‧傳輸線
ID1、ID2‧‧‧異常指示訊號
CT11~CT14、CT31~CT34‧‧‧控制訊號
SW11~SW14、SW31~SW34‧‧‧開關
R11~R19、R31~R39‧‧‧電阻
DV11~DV13、DV31~DV33‧‧‧分壓訊號
VDD‧‧‧電源電壓
DT11~DT13、DT31~DT33‧‧‧偵測訊號
S210~S260‧‧‧用以說明圖2實施例的各步驟流程
330‧‧‧橋接器
340‧‧‧切換單元
ST3‧‧‧切換訊號
圖1為依據本發明第一實施例之測試裝置的示意圖。
圖2繪示為依據本發明第一實施例之差動接收訊號的 檢測流程圖。
圖3為依據本發明第二實施例之測試裝置的示意圖。
100‧‧‧測試裝置
101‧‧‧主板
IT‧‧‧介面訊號
GN11~GN14‧‧‧接地訊號
PW11~PW14‧‧‧電源訊號
RX+、RX-‧‧‧差動接收訊號
TX+、TX-‧‧‧差動輸出訊號
110‧‧‧連接器
111、113~115‧‧‧電源接腳
112、116~118‧‧‧接地接腳
120‧‧‧偵測電路
130‧‧‧記憶體控制器
140‧‧‧控制單元
151~155‧‧‧指示燈
161~162‧‧‧記憶體
170‧‧‧匯流排
TL11~TL16‧‧‧傳輸線
ID1‧‧‧異常指示訊號
CT11~CT14‧‧‧控制訊號
SW11~SW14‧‧‧開關
R11~R19‧‧‧電阻
DV11~DV13‧‧‧分壓訊號
VDD‧‧‧電源電壓
DT11~DT13‧‧‧偵測訊號

Claims (15)

  1. 一種測試裝置，包括：一第一連接器，電性連接一第一匯流排；一控制單元，依據來自該第一連接器的一第一致能訊號，而產生多個第一控制訊號；一第一偵測電路，電性連接該第一匯流排中的多個第一傳輸線，並依據該些第一控制訊號而逐一將該些第一傳輸線導通至一接地端；以及一記憶體控制器，檢測該些第一傳輸線所傳送之訊號的狀態，並依據檢測結果而決定是否產生一第一異常指示訊號，其中該控制單元依據該第一異常指示訊號控制多個指示燈。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，更包括：多個記憶體，電性連接該記憶體控制器，其中該記憶體控制器依據該第一匯流排所傳送之介面訊號存取該些記憶體。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該第一偵測電路包括：多個第一開關，與該些第一傳輸線一對一對應，且該些第一開關的第一端電性連接該些第一傳輸線，該些第一開關的第二端電性連接至該接地端，其中，該第一偵測電路利用該些第一控制訊號逐一開啟該些第一開關。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該第 一連接器包括多個第一電源接腳，該第一偵測電路分別對來自該些第一電源接腳的訊號進行分壓，並據以產生多個第一分壓訊號，且該控制單元利用一第一參考電壓比對該些第一分壓訊號，並依據比對結果控制該些指示燈。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之測試裝置，其中該第一偵測電路更包括：多個第一電阻串，電性連接在該些第一電源接腳與該接地端之間，並響應於來自該些第一電源接腳的訊號而產生該些第一分壓訊號。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該第一連接器更包括多個第一接地接腳，該第一偵測電路偵測來自該些第一接地接腳的訊號，並據以產生多個第一偵測訊號，其中該控制單元利用一第二參考電壓比對該些第一偵測訊號，並依據比對結果控制該些指示燈。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之測試裝置，其中該第一偵測電路更包括：多個第一電阻，其中該些第一電阻的第一端接收一電源電壓，且該些第一電阻的第二端電性連接該些第一接地接腳，並產生該些第一偵測訊號。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，更包括：一第二連接器，電性連接一第二匯流排，且該控制單元依據來自該第二連接器的一第二致能訊號，而產生多個第二控制訊號；一第二偵測電路，電性連接該第二匯流排中的多個第 二傳輸線，並依據該些第二控制訊號而逐一將該些第二傳輸線導通至該接地端；以及一橋接器，電性連接該第二匯流排，且該橋接器檢測該些第二傳輸線所傳送之訊號的狀態，並依據檢測結果而決定是否產生一第二異常指示訊號，其中該控制單元依據該第二異常指示訊號控制該些指示燈。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之測試裝置，更包括：一切換單元，電性連接該第一匯流排，並透過一第三匯流排與一第四匯流排電性連接至該橋接器與記憶體控制器，其中該控制單元依據該第一致能訊號或是該第二致能訊號調整一切換訊號的準位，且該切換單元依據該切換訊號的準位將該第一匯流排與該第三匯流排之其一導通至該第四匯流排，以致使該記憶體控制器依據來自該第四匯流排的介面訊號存取多個記憶體。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之測試裝置，其中該第一連接器、該第一匯流排、該第三匯流排與該第四匯流排符合一第一通信協定，該第二連接器與該第二匯流排符合一第二通信協定，且該橋接器用以轉換該第二匯流排所傳送之介面訊號的格式。
  11. 如申請專利範圍第8項所述之測試裝置，其中該第二偵測電路包括：多個第二開關，與該些第二傳輸線一對一對應，且該些第二開關的第一端電性連接該些第二傳輸線，該些第二開關的第二端電性連接至該接地端， 其中，該第二偵測電路利用該些第二控制訊號逐一開啟該些第二開關。
  12. 如申請專利範圍第8項所述之測試裝置，其中該第二連接器包括多個第二電源接腳，該第二偵測電路分別對來自該些第二電源接腳的訊號進行分壓，並據以產生多個第二分壓訊號，且該控制單元利用一第一參考電壓比對該些第二分壓訊號，並依據比對結果控制該些指示燈。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之測試裝置，其中該第二偵測電路更包括：多個第二電阻串，電性連接在該些第二電源接腳與該接地端之間，並響應於來自該些第二電源接腳的訊號而產生該些第二分壓訊號。
  14. 如申請專利範圍第8項所述之測試裝置，其中該第二連接器更包括多個第二接地接腳，該第二偵測電路偵測來自該些第二接地接腳的訊號，並據以產生多個第二偵測訊號，其中該控制單元利用一第二參考電壓比對該些第二偵測訊號，並依據比對結果控制該些指示燈。
  15. 如申請專利範圍第14項所述之測試裝置，其中該第二偵測電路更包括：多個第二電阻，其中該些第二電阻的第一端接收一電源電壓，且該些第二電阻的第二端電性連接該些第二接地接腳，並產生該些第二偵測訊號。
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