WO1991003704A1 - Procede de reconnaissance d'objet utilisant une methode de coupe optique - Google Patents
Procede de reconnaissance d'objet utilisant une methode de coupe optique Download PDFInfo
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Definitions
- the present invention relates to a method for recognizing an object by a light-section method, and more particularly to such a method capable of quickly recognizing an object.
- a three-dimensional vision system for three-dimensionally recognizing an object using a light-section method is known.
- a visual sensor of an industrial mouth bot, a component of an inspection system, and the like is used as This type of vision sensor generates slit images while changing the projection area of the slit light on the object, and based on these slit images, generates various parts of the object. The position is measured sequentially to determine the position of the whole object.
- the amount of information to be processed for measurement is large, and measurement requires time.
- one of the two images obtained during the projection of the curtain light and the projection of the light whose brightness is inverted is subtracted for each pixel to obtain the first difference image.
- the second image is obtained by subtracting one image from the other image.
- one slit light image is generated at a position where the first difference image changes from dark to light and the second difference image changes from light to dark, and the first difference image changes from light to dark. Changes and the second difference image is dark
- the other slit light image is generated at the position where the light changes sharply.
- the object is recognized from the slit light image, i.e., the slit light projected toward the object is also projected around the object, and thus the slit
- the optical image includes the contribution of the slit light projected around the object in addition to the contribution of the slit light projected on the object. Therefore, the contribution of the slit light projected around the object is removed, and only the contribution of the slit light projected on the object to the slit light image is extracted. There must be.
- one method is to take a sample image in advance and teach the object region in the image to the vision system. However, when the shape of the object is complicated or the object assumes various postures, it is actually difficult to implement this method.
- An object of the present invention is to provide an object recognition method capable of quickly recognizing an object by a light section method.
- the present invention provides a method for detecting an object having a specific posture from an image of the object obtained by projecting a plurality of coded light patterns on the object having the specific posture. Identify things Step (a) of extracting sufficient model data and Step (b) of extracting matching data sufficient to identify the target from the image of the target when the slit light is projected onto the target. ) And a step (c) of determining whether or not the collation data and the model data match.
- model data extracted from an image of an object when pattern light is projected onto an object having a specific posture and image data when slit light is projected on the object. Since it is determined whether or not the collation data extracted from the image of the object matches each other, it is assumed that the object takes a specific posture when both data match each other. The object can be identified, and the object can be recognized. In addition, the model data and the collation data only need to be able to identify the target object in a specific posture, and both of the data can be constituted by, for example, numerical parameters. Therefore, the amount of information to be stored and processed for object recognition is small, and the object can be quickly recognized. For this reason, by applying the method of the present invention, a vision system capable of high-speed processing for a robot and an inspection system can be configured.
- FIG. 1 is a schematic diagram showing a three-dimensional vision system to which an object grasping method according to one embodiment of the present invention is applied.
- FIG. 2 is a schematic perspective view illustrating an object
- FIG. 3 is a schematic perspective view illustrating a spatially coded image obtained by projecting a plurality of pattern lights onto the object in FIG. 2, -- Figure 4 illustrates the pattern image elements used to generate the model data, and
- FIG. 5 is a diagram illustrating a slit light image.
- a three-dimensional vision system for implementing an object recognition method according to an embodiment of the present invention is provided in a robot or an inspection system, for example. Is done.
- This vision system is a slide port for projecting light to an object 20, for example, a connector via a liquid crystal shutter array 12. 11, a liquid crystal controller 13 for controlling the operation of the shutter array 12, and a camera arranged at a distance from the projector 11. And an image processing device 15 for controlling the operation of each of these elements 11, 13 and 14.
- the vision system has a monitor television 16 for displaying images on the screen and an interactive system terminal 17 for data input. .
- the target object 20 takes various postures within the field of view of the camera 14.
- the liquid crystal shutter array 12 has a liquid crystal surface (not shown) divided into a plurality of, for example, 128 strip segments extending horizontally, and the same number of electrodes (liquid crystal segments) as the liquid crystal segments.
- the light from the projector 11 is transmitted to the object 20 through a liquid crystal segment corresponding to the electrode to which the drive voltage is applied.
- the projector 11 ′ is turned on, and the pattern data coded according to the gray code is displayed in the image.
- the electrodes corresponding to the electrodes of the liquid crystal shutter array 12 under the control of the controller 13.
- the driving voltage was applied to the Q, and the light from the projector 11 passed through the liquid crystal segment corresponding to the pattern data, and was thus coded according to the gray code.
- a pattern light (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-1529203) is to be generated.
- the shutter array 12 when another pattern data representing a band-shaped pattern is sent from the image processing device 15 to the controller 13, the shutter array 12 is called a liquid. Wide band light is generated in cooperation with the cluster 11. Further, when transmitting the inverted pattern data, the shutter array 12 generates a pattern light in which the brightness of the band light is inverted.
- the image processing device 15 is capable of projecting or not projecting the pattern light, the band light, or the inverted pattern light from the input terminal 11 through the shutter array 12.
- the video signal from the camera 14 representing the image of the object 20 at the time is input, image processing is performed, and the processing result is stored in the corresponding one of the frame memories 15a. It has become.
- the vision system Before actually operating the vision system, place the slide projector 11 with the LCD shutter array 12 and the camera 14 in the specified positional relationship. At the same time as carrying the object 20 within the field of view of the camera 14 After placing the application object, the vision system is calibrated as is conventionally known.
- the vision system is activated to create model data used for object recognition processing. For this reason, first, the object 20 is arranged at a predetermined position in a specific posture within the field of view of the force camera 14.
- the image processing device 15 inputs an image of the object when the light is not projected on the object 20 via the camera 14, and inputs the image of the frame memory 15 a. One is stored.
- the first pattern data coded is transmitted from the image processing device 15 to the liquid crystal display. It is sent to controller 13.
- a drive voltage is applied to the corresponding ones of the electrodes of the liquid crystal shutter array 12 under the control of the controller 13 and the shutter.
- the liquid crystal segments corresponding to these electrodes in the array 12 are in a light transmitting state, and the other segments are in a light blocking state.
- a pattern light corresponding to the data is projected from the projector 11 to the object 20 via the shutter array 12.
- the object 20 is imaged by the camera 14 operated under the control of the image processing device 15, and an image representing the object 20 and its peripheral image (pattern image)
- a signal is sent from the camera 14 to the image processing device 15.
- the image processing device 15 generates a pattern image from which the background noise has been removed by subtracting the image when no light is projected from the pattern image for each pixel, and generating the pattern image. Quantify to one of the frame memories 15a Store.
- the image processing device .15 cooperates with the operator to extract model data for specifying the target object 20 having a specific posture from the spatially coded image.
- the operating system refers to the multi-slit image in which the boundary of the spatial code displayed on the monitor television 16 is extracted under the control of the image processing device 15.
- the image element forming a part of the multi-slit image for example, a pattern element curve extending along reference numerals A, B and C shown in FIG. Is specified on the TV screen.
- This pattern element curve changes stepwise in the positive y-axis direction at point A, and extends obliquely upward from point A to point B at an inclination of 0 (not shown) on the xy plane.
- This curve has a slope from point B to point C 0 2
- the image processing device 15 has a known geometrical shape determined according to the arrangement relationship between the projector 11, the camera 1-4, and the object 20.
- Parameters the distance between the projector 11 and the camera 14, the straight line connecting the two elements 11 and 14, the detection target part of the object 20, and the projector 1 Based on the angle between the line connecting element 1 and the element 11 and the angle between the line connecting element 1 and element 14 and the line connecting object 14 and camera 14).
- numerical parameters preferably, step-like change amounts at points A and C, which constitute a pattern element curve, ie, model data for specifying the object 20.
- the distance between point A and point B, the distance between point B and point C, and the inclination 01, e2 are calculated and stored in the memory (not shown) built in the device 15.
- model data generation and storage processing are repeated while changing the posture of the object 20, and the model data when the object takes several typical postures are obtained.
- the object 20 is positioned within the field of view of the force camera 14 and the vision system slips toward the object 20.
- a slit light image is generated by projecting light, and this is analyzed to perform object recognition processing.
- a belt-like light and an inverted pattern light obtained by inverting the light and dark thereof are sequentially projected, that is, equivalently. Simultaneously project two slit lights.
- the image processing device 15 to the liquid crystal controller 1
- the band-shaped pattern data is sent to 3
- the corresponding one of the liquid crystal segments of liquid crystal shutter array 12 becomes light transmissive.
- a belt-like light is projected onto the object 20 from the projector 11 cooperating with the shutter array.
- the image processing device 15 inputs an image (first image) of the object 20 at the time of the belt-shaped light projection through the camera 14, and inputs this to one of the frame memories 15 a. (1st frame memory).
- the image processing apparatus 15 sends the inverted pattern data to the control port 13.
- the inverted pattern light is projected on the object 20, and the image (second image) of the object 20 when the inverted pattern light is projected on the second frame memory of the image processing device 15.
- Image is stored.
- the image processing device 15 subtracts the second image from the first image for each pixel, obtains the first difference image, stores the first difference image in the third frame memory, and also calculates the first difference image from the second image.
- the second difference image obtained by subtracting the first image is stored in the fourth frame memory.
- the first difference image is raster-scanned to obtain a light-dark change point for each scan line of the first difference image, and a region in the vicinity of a point corresponding to the light-dark change point is determined.
- the light / dark change state of the second difference image is determined.
- the position is stored in the fifth frame memory. .
- Such discrimination and storage processing are repeatedly performed to obtain the slit light images indicated by symbols a to e in FIG. 5 corresponding to the upper part of the band light.
- the first difference image changes from light to dark.
- the position where the second difference image changes from dark to bright is sequentially determined, and the slit light images a 'to e, corresponding to the lower edge of the band light, are obtained.
- the image processing device 15 determines the positions of the points b, c, d, b ', c', and d 'on the two slit optical images in the vision system installation space. Is calculated by triangulation. Further, based on these calculated values, the numerical parameters constituting the collation data corresponding to the model data for both slit light images—evening points (points b, b, and d, d ′) scan STEP shaped variation at a point b, b "and point c, c 'between the distance, the point c, c' and the point d, d 'between the distance rabbi line bc, 1 c', cd and c Then, the image processing device 15 determines whether or not the collation data matches any of the model data.
- the difference between the collation data — the evening distance, the difference between the parameters bc, b 'c' and the distance parameter AB of the model data, and the distance parameters cd, c * d ' It is determined whether both of the difference with the distance parameter BC are within the allowable error range. If the determination result is affirmative, the collation data and the model data match. Therefore, it is determined that the object 20 is in the posture represented by the model data. Note that the distance parameters be and b'c 'and the lines be and b " Since the inclination of c ′ changes according to the posture of the object 20, the posture of the object 20 can be determined from these parameters.
- the image processing device 15 After moving the camera 14 on the normal line on the light projection surface of the object 20 at the intersection of, the image processing device 15 processes the image captured through the camera and processes the object 2 It measures the position and orientation of the zero-vision system installation space, especially the y-axis position of the object in the space.
- a new band pattern data and a new inverted pattern are transmitted from the image processing device 15 to the liquid crystal controller 13.
- One night and one evening are sequentially transmitted, and the band light and the inverted pattern light are sequentially projected on another part of the object 20, and the above-described collation processing is performed.
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Description
明 細 書
光切断法による対象物認識方法
技 術 分 野 '
本発明は、 光切断法によ る対象物認識方法に関し、 特 に、 対象物を迅速に認識でき る こ の種の方法に関する。
背 景 技 術
光切断法を用いて対象物を 3 次元的に認識するための 3 次元ビ ジ ョ ン シ ス テ ムは公知で、 例えば産業用口ボッ ト の視覚セ ンサ, 検査シ ス テ ム の構成要素と して用いら れている。 この種の ビ ジ ョ ンセ ンサ は、 対象物へのス リ ッ ト光の投射部位を変化さ せつつ ス リ ッ ト画像を生成し、 これら の ス リ ツ ト 画像に基づいて対象物各部の位置を順 次計測 して、 対象物全体の位置を求めている。 しかしな がら、 計測のために処理すべき情報量が多 く、 計測に時 問を要する。
そ こ で、 計測時間を短縮すべく、 従来例えば、 複数種 のパタ ー ン光を対象物に順次投射して得た対象物の複数 の画像に基づいて対象物の位置を計測する こ とが知られ ている ( 曰本国特開昭 6 0 — 1 5 2 9 0 3 号公報) 。 こ の先行技術によれば、 n種類のコ ー ド化された各パタ ー ン光を対象物に投影して得た各画面を 2値化して、 n種 類の 2値化画像を組み合わせる こ と によって、 対象物の 存する空間を 2 π個の扇状の'領域のコ ー ド化して分割し た画像を得る こ とができ る。 'この画像を空間コ ー ド化画 像と呼ぶこ とにする。 これは、 連続する 2 π個の帯状の
光を対象仏に順次投影して得た 2 n枚の画像を 2値化及 びコー ド化して重ね合わせた画像に相当する。 こ の空間 コ - ド化画像を光源及びカ メ ラ の配置関係を表す既知の パラ メ ー タ を用いて、 三角測量法によ り対象物の空間的 な位置を計測する こ とができ る。
しか しながら、 こ の種の計測方法は依然と して所要計 測時間が長く、 対象物を短時間で認識する こ とを要する 夕 イ ブの ロ ボ ッ 卜用, 検査用の ビ ジ ョ ン シ ス テ ム に適用 で き な い。
又、 光切断法による対象物の 3 次元測定のために、 初 めに述べたよ う に複数のス リ ッ ト光を対象物に順次投射 する と画像生成, 解析回数が増大する一方、 こ の回数を 低減すべ く複数のス リ ッ ト光を対象物に同時に投射する と ス リ ツ ト光同士が互いに重な り合って画像解析上困難 を来すこ とがあ る。 そ こで従来、 帯状光及びその明暗を 反転した光を対象物に順次投射して帯状光の両縁に対応 する 2 つ の ス リ ッ 卜光画像を生成する方法が提案されて い る ( 曰本国特願昭 6 3 — 2 1 5 1 8号) 。 この提案方 法によれば、 幕状光の投射時とその明暗を反転した光の 投射時と に得た 2 つの画像の一方から他方を画素毎に引 算して第 1 差分画像を求めると共に他方の画像から一方 の画像を引算して第 2差分画像を求めている。 そ して、 第 1 差分画像が暗から明に変化しかつ第 2差分画像が明 から暗に変化する位置に一方のス リ ッ ト光画像を生成し、 第 1 差分画像が明から暗に変化しかつ第 2差分画像が暗
から明に変化する位置に他方のス リ ッ ト光画像を生成し ている。
こ の ス リ ッ ト光画像か ら対象物を認識する .訳であるが、 対象物に向けて投射した'ス リ ッ ト光は対象物の周辺にも 投射され、 従って、 ス リ ッ ト光画像は、 対象物上に投射 されたス リ ッ ト光の寄与分に加えて対象物周辺に投射さ れた ス リ ッ ト光の寄与分を含む。 そ こで、 対象物周辺に 投射された ス リ ッ ト光の寄与分を除去し、 対象物上に投 された ス リ ッ ト光のス リ ッ ト光画像への寄与分のみを 抽出しな ければな らない。 そのために、 一つの方法と し て、 予めサ ン プル画像をと つて、 そ の中の対象物領域を ビ ジ ョ ン シ ス テ ム に教示 してお く と いう方法がある。 し かし、 対象物の形状が複雑であ り或は対象物が種々の姿 勢をと る場合、 こ の手法を実施する こ と は実際には困難 である。 即ち、 対象物が種々 の姿勢をと つた と きの多数 の ス リ ッ ト光画像を ビ ジ ョ ン シ ス テ ム に予め教示してお き、 これらサ ンプル画像と実際のス リ ッ ト光画像とを順 次比較して対象物を認識する方法を採用する と、 教示及 び比較すべき情報が過大になる。
発 明 の 開 示
本発明の目的は、 光切断法によ り対象物を迅速に認識 でき る対象物認識方法を提供する こ とにある。
上述の目的を達成するため、 本発明は、 特定の姿勢を と る対象物にコ ー ド化された複数のパタ ー ン光を投射し て得た対象物の画像から、 特定の姿勢の対象物を特定す
る に足る モデルデー タを抽出する工程 ( a ) と、 ス リ ツ ト光を対象物に投射したと き の対象物の画像から、 対象 物を特定するに足る照合データを抽出する工程 ( b ) と、 照合デー タ とモ デルデー タ とが合致するか否かを判別す る工程 ( c ) とを備える。
上述のよ う に、 本発明によれば、 特定の姿勢をと る対 象物へのパタ ー ン光投射時の対象物の画像か ら抽出した モ デルデータ と ス リ ッ ト光投射時の対象物の画像から抽 出 した照合デー タ とが互いに合致するか否かを判別する よ う に したので、 両デー タ が互いに合致した と き に対象 物が特定の姿勢を と つている ものと判別でき、 これによ り対象物を認識でき る。 しかも、 モ デルデー タ及び照合 データ は、 特定の姿勢の対象物を特定でき る ものであれ ば足り、 両該デ— タを例えば数値パラ メ ー タ で構成でき る。 従っ て、 対象物認識のために記億すべき情報量及び 処理すべき情報量が少な く、 対象物を迅速に認識できる。 このため、 本発明の方法を適用する こ とによ り、 ロボッ ト用, 検査シ ス テ ム用の高速処理可能な ビ ジ ョ ン シス テ ムを構成できる。
図 面 の 簡 単 な 説 明
第 1 図は本発明の一実施例の対象物把握方法を適用 し た 3 次元 ビ ジ ョ ン シ ス テ ムを示す概略図、
第 2 図は対象物を例示する概略斜視図、
第 3 図は第 2 図の対象物に複数のパタ ー ン光を投射-し て得た空間コ - ド化画像を例示する概略斜視図、
- - 第 4 図はモデルデー タ を生成する ために用いられるパ タ ー ン画像要素を例示する図、 及び
第 5 図はス リ ツ 卜光画像を例示する図であ る。
発明を実施するための最良の形態
第 1 図を参照する と、 本発明の一実施例による対象物 認識方法を実施するための 3次元ビ ジ ョ ン シ ス テ ムは伊 j えばロ ボ ッ ト又は検査シ ス テ ム に装備される。 こ の ビ ジ ヨ ン シ ス テ ムは、 液晶シ ャ ツ タ ア レ イ 1 2 を介して対象 物 2 0 例えばコ ネ ク タ に光を投射するためのス ラ イ ドブ 口 ジ ヱ ク 夕 1 1 と、 シ ャ ツ タ ア レ イ 1 2 の作動を制御す る ための液晶コ ン ト ロ ー ラ 1 3 と、 プロ ジ ェ ク タ 1 1 カ> ら離隔 して配されたカ メ ラ 1 4 と、 これら要素 1 1 , 1 3 及び 1 4 の夫々 の作動を制御するための画像処理装置 1 5 とを備えてい る。 又、 ビ ジ ョ ン シ ス テ ムは、 画像を 画面上に表示するためのモ ニ タ テ レ ビ 1 6 及びデータ入 力用の対話型シ ス テ ムタ ー ミ ナル 1 7 を備えている。 対 象物 2 0 は、 カ メ ラ 1 4 の視野内で種々 の姿勢を と る。
液晶シ ャ ツ タ ア レイ 1 2 は、 夫々水平に延びる複数例 えば 1 2 8 個の帯状セ グメ ン ト に区分した液晶面 (図示 略) と、 液晶セ グ メ ン ト と同数の電極 (図示略) とを有 し、 駆動電圧を印加した電極に対応する液晶セ グメ ン ト を通してプロ ジ - ク タ 1 1 からの光を対象物 2 0側に透 過させる よう にな つている。 そ して、 画像処理装置 1 5 の制御下でプロ ジ ュ ク タ 1 1 'がオ ン作動する と共にグ レ イ コ ー ドに従って コ ー ドィヒされたパタ ー ンデータが画像
^理装置 1 5 カゝら コ ン ト ロ ー ラ 1 3 に送出されたと き、 コ ン ト ロ ー ラ 1 3 の制御下で液晶シ ャ ツ タ ア レイ 1 2 の 電極の対応する も のに駆動電圧が印力 Qされ、 プロ ジュ ク タ 1 1 か らの光がパタ ー ンデータ に対応する液晶セグメ ン ト を透過し、 も って、 グ レイ コ ー ドに従ってコ ー ド化 されたパタ — ン光 (日本国特開昭 6 0 — 1 5 2 9 0 3号 を参照) が発生するよ う になっている。
又、 帯状パタ ー ンを表す別のパタ ー ンデー タが画像処 理装置 1 5 から コ ン ト ロ ー ラ 1 3 に送出されたと き、 液 曰 シ ャ ツ タ ア レ イ 1 2 はプロ ジュ ク タ 1 1 と協働して幅 広の帯状光を発生するよ う になっている。 更に、 反転パ タ ー ンデータ の送出時、 シ ャ ッ タ ア レ イ 1 2 は帯状光の 明暗を反転したパタ ー ン光を発生するよ う に されている。
画像処理装置 1 5 は、 シ ャ ツ タ ア レイ 1 2 を介するプ 口 ジヱ ク タ 1 1 力ゝ らのパタ ー ン光, 帯状光又は反転パ夕 - ン光の投射時或は非投射時におけ る対象物 2 0 の画像 を表すカ メ ラ 1 4 からの映像信号を入力して画像処理を 行い、 処理結果をフ レー ム メ モ リ 1 5 a の対応する一つ に格納するよ う になっている。
以下、 上述の構成の 3 次元ビ ジ ョ ン シス テ ムの作動を 説明する。
ビ ジ ョ ン シ ス テ ムを実際に作動させる前に、 液晶シ ャ ッ タ ア レ イ 1 2 を装着したス ラ イ ドブロ ジュ ク タ 1 1 及 びカ メ ラ 1 4 を所定の位置関係に配設する と共にカ メ ラ 1 4 の視野内に対象物 2 0 に対応するキ ヤ リ ブレー シ ョ
一 - ン用対象物を配置 した後、 従来公知のよ う に、 ビ ジ ョ ン シ ス テ ム のキ ヤ リ ブ レー シ ョ ンを行 う。
次に、 ビ ジ ョ ン シ ス テ ムを作動さ せて対象物認識処理 に用いる モデルデータを作成する。 こ のため、 先ず、 力 メ ラ 1 4 の視野内に対象物 2 0 が特定の姿勢で所定位置 に配される。 次いで、 画像処理装置 1 5 は、 対象物 2 0 に光を投射しない と きの対象物の画像をカ メ ラ 1 4 を介 して入力 し、 フ レ 一 ム メ モ リ 1 5 a の一つ に格納する。 そ して、 才 ペ レ 一 夕 に よ る シ テ ム タ ー ミ ナ ル 1 7 の操 作に応じて、 コ ー ドィ匕した第 1 のパタ ー ンデータが画像 処理装置 1 5 から液晶コ ン ト ロ ー ラ 1 3 に送出される。 パタ ー ンデー タ の入力に応 じてコ ン ト ロー ラ 1 3 の制御 下で液晶 シ ャ ツ 夕 ア レ イ 1 2 の電極の対応する も のに駆 動電圧が印加され、 シ ャ ッ タ ア レ イ 1 2 の、 これら電極 に対応する液晶セ グメ ン ト が光透過状態にな り、 その他 のセ グ メ ン トが光遮断状態になる。 結果と して、 シ ャ ッ 夕 ア レ イ 1 2 を介してプ ロ ジ ェ ク タ 1 1 から対象物 2 0 にパ夕 一 ンデー タ に対応するパタ ー ン光が投射される。 そ して、 画像処理装置 1 5 の制御下で作動するカ メ ラ 1 4 によ り対象物 2 0 が撮像され、 対象物 2 0 及びその周 辺の画像 (パタ ー ン画像) を表す映像信号がカ メ ラ 1 4 から画像処理装置 1 5 に送出される。 画像処理装置 1 5 は、 パタ ー ン画像から光非投射時の画像を画素毎に引算 してバッ ク グラ ン ドノ イ ズを除去したパタ ー ン画像を生 成し、 こ れを 2 値化してフ レ ー ム メ モ リ 1 5 a の一つに
格納する。
次いで、 第 2 〜第 n のパタ ー ンデ一タ についても同様 の処理を行い、 n 種類の 2 値化されたパタ ー ン画像を得 る。 これらの 2値化パタ ー ン画像を前述の曰本国特開昭 6 0 — 1 5 2 9 0 3号公報に述べられている よ う に組み 台わせる こ とによ り第 3 図に示されている よ うな空間コ 一 ド化画像を得る こ とができ る。 第 3 図に実線で示すパ タ ー ン線は、 隣接する空間コ ー ド と の境界を表す。
次に、 画像処理装置.1 5 は、 オ ペ レー タ と協働して、 特定の姿勢の対象物 2 0 を特定する ためのモデルデ— 夕 を空間コ ー ド化画像から抽出する。 こ のため、 オペ レー 夕 は、 画像処理装置 1 5 の制御下でモ ニ タ テ レ ビ 1 6上 に表示された空間コ ー ドの境界線を抽出した多重ス リ ッ ト画像を参照しつつ シ ス テ ムタ ー ミ ナ ル 1 7 を操作して、 多重ス リ ッ ト画像の一部をなす画像要素例えば第 4図に 示す符号 A, B及び Cに沿って延びるパタ ー ン要素曲線 をテ レ ビ画面上で指定する。 こ のパタ ー ン要素曲線は、 点 Aにおいて y軸正方向にステ ツ プ状に変化し、 X y平 面上において傾き 0 1 (図示略) で点 Aから点 B まで斜 め上方に延び、 点 B においてルー フ状 (上に凸) に変化 する。 そ して、 こ の曲線は、 点 Bか ら点 C ま で傾き 0 2
(図示略) で斜め下方に延び、 点 C において y軸負方向 に ス テ ッ プ状に変化する。
画像処理装置 1 5 は、 プロ ジェ ク タ 1 1 , カ メ ラ 1-4 及び対象物 2 0 の配置関係に応じて定ま る既知の幾何学
的パ ラ メ ー タ ( プ ロ ジ ェ ク タ 1 1 と カ メ ラ 1 4 間距離, 両要素 1 1 , 1 4 を結ぶ直線と対象物 2 0 の検出対象部 位とプロ ジェ ク タ 1 1 とを結ぶ直線とがなす角度および 要素 1 1 , 1 4 を結ぶ直線と検出対象部位と カ メ ラ 1 4 とを結ぶ直線とがなす角度) に基づいて、 三角測量法で パタ ー ン要素曲線上の点 A, B及び C の ビ ジ ョ ン シ ス テ ム配設空間での位置を算出する。 次いで、 パタ ー ン要素 曲線すなわち対象物 2 0 を特定するためのモ デルデー タ を構成す る数値パラ メ ー タ (好ま し く は、 点 A及び点 C での ス テ ッ プ状変化量, 点 A と点 B 間距離, 点 B と点 C 間距離および傾き 0 1, e 2 ) を算出 し、 装置 1 5 に内 蔵のメ モ リ (図示略) に格納する。
次いで、 対象物 2 0 の姿勢を変化させつつ上述のモデ ルデ - タ生成, 格納処理を繰り返して、 対象物が幾つか の典型的な姿勢を と つ た と き のモ デルデ— 夕 を夫々 求め る
ロ ボ ッ ト又は検査シ ス テ ムの稼働時、 対象物 2 0 が力 メ ラ 1 4 の視野内に配され、 ビ ジ ョ ン シ ス テ ムは対象物 2 0 に向けてス リ ッ ト光を投射してス リ ッ ト光画像を生 成し、 これを解析 して対象物認識処理を行う。 本実施例 では、 曰本国特願昭 6 3 - 2 1 5 1 8号に開示の方法と 同様に、 帯状光とその明暗を反転した反転パタ ー ン光を 順次投射 し、 即ち、 等価的には 2 つのス リ ツ ト光を同時 に投射する。
詳 し く は、 画像処理装置 1 5 から液晶コ ン ト ロ ー ラ 1
3 に帯状パタ ー ン デー タ が送出される と、 コ ン ト ロ ー ラ 1 3 の制御下で液晶シ ャ ツ タ ア レ イ 1 2 の液晶セ グメ ン トの対応する ものが光透過状態にされ、 シ ャ ッ タ ア レイ と協働するプロ ジ ェ ク タ 1 1 から対象物 2 0 に帯状光が 投射される。 画像処理装置 1 5 は、 帯状光投射時の対象 物 2 0 の画像 (第 1 画像) をカ メ ラ 1 4 を介して入力し、 これを フ レ ー ム メ モ リ 1 5 a の一つ (第 1 フ レ一 ム メ モ リ) に格納する。 次に、 画像処理装置 1 5 か らコ ン ト 口 — ラ 1 3 に反転パタ ー ンデータ に送出される。 この結果、 対象物 2 0 に反転パタ ー ン光が投射され、 画像処理装置 1 5 の第 2 フ レ ー ム メ モ リ に反転パター ン光投射時の対 象物 2 0 の画像 (第 2 画像) が格納される。
画像処理装置 1 5 は、 第 1 画像か ら第 2 画像を画素毎 に引算 して第 1 差分画像を求めて第 3 フ レ ー ム メ モ リ に 格納し、 また、 第 2画像か ら第 1 画像を引算 して得た第 2差分画像を第 4 フ レー ム メ モ リ に格納する。 次いで、 第 1 差分画像をラ ス タ ス キ ャ ン して第 1 差分画像のス キ ヤ ン ラ イ ン毎の明暗変化点を求め、 当該明暗変化点に対 応する点の近傍の領域における第 2 差分画像の明暗変化 状態を判別する。 そ して、 第 1 差分画像が暗から明に変 化しかつ第 2差分画像が明から暗に変化する位置がある と判別したと き、 当該位置を第 5 フ レー ム メ モ リ に格納 する。 斯かる判別, 格納処理を繰り返し行って、 帯状光 の上緣に対応し第 5 図に符号 a 〜 e で示すス リ ッ ト光画 像を求める。 同様に、 第 1 差分画像が明から暗に変化し
- - かつ第 2 差分画像が暗か ら明に変化する位置を順次判別 し、 帯状光の下縁に対応する ス リ ツ ト光画像 a ' 〜 e , を求める。
そ して、 画像処理装置 1 5 は、 両ス リ ツ ト光画像上の 点 b, c , d , b ', c '及び d ' の ビ ジ ョ ン シ ス テ ム配. 設空間における位置を三角測量法で算出する。 更に、 こ れら算出値に基づいて、 両ス リ ツ ト光画像についての、 モデルデータ に対応する照合デー タ を構成する数値パラ メ — 夕 (点 b , bノ ¾び点 d , d ' での ス テ ッ プ状変化 量, 点 b, b " と点 c, c ' 間距離, 点 c, c ' と点 d, d ' 間距離な らびに線 b c, 1 c ' , c d及び c ' d ' の傾き) を算出 し、 内蔵の メ モ リ に格納する。 次いで、 画像処理装置 1 5 は、 照合デ - タがいずれかのモデルデ ー タ に合致するか否かを判別する。 好ま し く は、 照合デ — 夕 の距離ノ、。ラ メ 一 タ b c, b ' c ' とモデルデ一 タ の 距離パラ メ 一 タ A B との差および距離パラ メ 一タ c d , c * d ' と距離パ ラ メ ー タ B C と の差の双方が許容誤差 範囲内に入るか否かを判別 し、 判別結果が肯定であれば 照合デ— 夕 とモ デルデー タ とが合致 し、 従っ て、 対象物 2 0 が当該モデルデ―タ によ り表される姿勢をと つてい る と判別する。 なお、 距離パラ メ ー タ b e , b ' c ' お よ び線 b e , b " c ' の傾きは対象物 2 0 の姿勢に応じ て変化するので、 これらパ ラ メ ー タ か ら も対象物 2 0 の 姿勢を決定可能である。
次いで、 必要な らば、 第 5 図の線 b e ' と線 b ' c と
の交点において対象物 2 0 の光投射面に立てた法線上に カ メ ラ 1 4 を移動させた後、 画像処理装置 1 5 はカ メ ラ を介して取り込んだ画像を処理して対象物 2 0 の ビジ ョ ン シ ス テ ム配設空間における位置, 姿勢と く に当該空間 内での対象物の y軸方向位置を計測する。
—方、 照合デー タ がモ デルデー タ のいずれと も合致し ない場合、 画像処理装置 1 5 から液晶コ ン ト ロ ー ラ 1 3 に新たな帯状パタ一ンデ— タ及び新たな反転パ夕一ンデ - 夕が順次送出され、 対象物 2 0 の別の部位に帯状光及 び反転パタ ー ン光が順次投射され、 上述の照合処理が行 われる。
Claims
1 . 特定の姿勢を と る対象物にコ - ド化された複数のパ タ ー ン光を投射 して得た前記対象物の画像から、 前記 特定の姿勢の対象物を特定するに足るモ デルデータを 抽出する工程 ( a ) と、
ス リ ッ ト光を前記対象物に投射 したと き の前記対象 物の画像から、 前記対象物を特定する に足る照合デー 夕 'を抽出する工程 ( b ) と、
前記照合デー タ と前記モデルデー タ とが合致するか 否かを判別する工程 ( c ) とを備える対象物認識方法。
2 . 前記工程 ( a ) において、 前記パタ ー ン光投射時の 前記対象物の画像から当該画像の一部をなすパタ ー ン 画像要素を選択 し、 当該選択パタ ー ン画像要素から前 記モ デルデー タ を抽出する請求の範囲第 1 項記載の対 象物認識方法。 .
3 . 前記工程 ( b ) において、 前記対象物の前記ス リ ツ ト光投射部位の画像に基づいて前記照合データを抽出 する請求の範囲第 1 項記載の対象物認識方法。
4 . 前記モデルデータ は、 前記パタ ー ン画像要素の両端 間距離を表す数値パ ラ メ ー タを含む請求の範囲第 2項 記載の対象物認識方法。
5 . 前記照合デー タ は、 前記対象物の前記ス リ ッ ト光投 射部位の画像の両端間距離を表す数値パラ メ ー タを含 む請求の範囲第 3項記載の対象物認識方法。
Applications Claiming Priority (2)
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| JP1/228260 | 1989-09-05 | ||
| JP22826089A JPH0392704A (ja) | 1989-09-05 | 1989-09-05 | 光切断法による対象物認識方法 |
Publications (1)
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|---|---|
| WO1991003704A1 true WO1991003704A1 (fr) | 1991-03-21 |
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Citations (1)
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|---|---|---|---|---|
| JPS59197813A (ja) * | 1983-04-26 | 1984-11-09 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 光切断による姿勢測定方法 |
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- 1990-09-04 EP EP19900912936 patent/EP0441972A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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