WO2000005928A1 - Dispositif electroluminescent organique - Google Patents

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WO2000005928A1
WO2000005928A1 PCT/JP1999/003389 JP9903389W WO0005928A1 WO 2000005928 A1 WO2000005928 A1 WO 2000005928A1 JP 9903389 W JP9903389 W JP 9903389W WO 0005928 A1 WO0005928 A1 WO 0005928A1
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organic
layer
oxide
electron
electrode
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PCT/JP1999/003389
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English (en)
French (fr)
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Michio Arai
Isamu Kobori
Etsuo Mitsuhashi
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TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/17Carrier injection layers
    • H10K50/171Electron injection layers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources

Definitions

  • the present invention relates to an organic EL (electroluminescence) device, and more particularly, to an inorganic-organic junction structure used for a device that emits light by applying an electric field to a thin film of an organic compound.
  • an organic EL element is formed by forming a transparent electrode such as ITO on a glass substrate, forming an organic amine-based hole transport layer on the transparent electrode, and an organic material comprising, for example, an A1q3 material exhibiting electronic conductivity and strong light emission.
  • a transparent electrode such as ITO
  • an organic amine-based hole transport layer on the transparent electrode
  • an organic material comprising, for example, an A1q3 material exhibiting electronic conductivity and strong light emission.
  • the device structure reported to date has a structure in which one or more organic compound layers are sandwiched between a hole injection electrode and an electron injection electrode. There are two-layer or three-layer structures.
  • Examples of the two-layer structure include a structure in which a hole transport layer and a light emitting layer are formed between a hole injection electrode and an electron injection electrode, or a structure in which a light emitting layer and an electron transport layer are formed between a hole injection electrode and an electron injection electrode.
  • As an example of the three-layer structure there is a structure in which a hole transport layer, a light emitting layer, and an electron transport layer are formed between a hole injection electrode and an electron injection electrode.
  • single-layer structures in which a single layer has all the roles have been reported for polymers and mixed systems.
  • Figures 3 and 4 show typical structures of organic EL devices.
  • an organic compound, a hole transport layer 14 and a light emitting layer 15 are formed between a hole injection electrode 12 and an electron injection electrode 13 provided on a substrate 11.
  • the light emitting layer 15 also functions as an electron transport layer.
  • a hole transport layer 14, an emission layer 15, and an electron transport layer 16, which are organic compounds, are formed between the hole injection electrode 12 and the electron injection electrode 13 provided on the substrate 11.
  • the organic EL element has a hole injection electrode and an electron injection electrode in principle, and requires an organic layer for efficiently injecting and transporting holes and electrons between these electrodes.
  • these materials are susceptible to damage during manufacture and have a problem with their affinity for electrodes.
  • there is a problem that the deterioration of the organic thin film is significantly larger than that of the LED and LD.
  • An object of the present invention is to provide an organic EL device which has the advantages of an organic material and an inorganic material, has a long life, has improved efficiency, has a low operating voltage, and is low in cost. Such an object is achieved by any one of the following configurations (1) to (9).
  • An organic EL device having a hole injection electrode and an electron injection electrode on a substrate, and having at least an organic layer involved in a light emitting function between the electrodes, wherein the electron injection electrode and the organic layer
  • An organic EL device having an inorganic insulating electron injection layer containing an oxide having an electron affinity of 3 eV or less as a main component and a stable component added thereto.
  • the organic EL device as a stable component, the organic EL device of (1) containing germanium oxide (G e 0 2) and / or oxide silicon (S I_ ⁇ 2).
  • Germanium oxide (G e ⁇ 2 ) and silicon or silicon oxide (S i ⁇ 2 ) as the stable components are added to the main component by 50 in terms of G e ⁇ 2 and / or S i ⁇ 2.
  • the organic EL device of any one of - (3).
  • FIG. 1 is a schematic sectional view showing a configuration example of the organic EL device of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic sectional view showing another configuration example of the organic EL device of the present invention.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view of an organic EL device having a two-layer structure having a hole transport layer.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of an organic EL device having a three-layer structure having a hole transport layer and an electron transport layer.
  • the organic EL device of the present invention is an organic EL device having a hole injection electrode and an electron injection electrode on a substrate, and having at least an organic layer involved in a light emitting function between these electrodes. Between the organic layer and the organic layer, there is an inorganic insulating electron injecting layer containing, as a main component, an oxide having an electron affinity of 3 eV or less, to which a stable component is added.
  • the inorganic insulating electron injecting layer containing an oxide having an electron affinity of 3 ev or less as a main component and having a stable component added thereto enables the organic layer on the light emitting layer side to move from the electron injecting electrode to the organic layer. Electrons can be injected efficiently and the movement of holes from the organic layer side to the electron injection electrode can be suppressed, and recombination of holes and electrons in the light emitting layer can be performed efficiently. I can make it.
  • the work function of the inorganic insulating electron injection layer in the conduction band is about 3.OeV or less, and the band gap is about 5 to 8 eV.Therefore, electrons can be efficiently injected from the electron injection electrode into the light emitting layer. Thus, the movement of holes to the electron injection electrode can be suppressed.
  • This work function can be appropriately adjusted and used by the following work function adjustment component. Further, an organic EL device having both the advantages of an inorganic material such as weather resistance and heat resistance and the advantages of an organic material such as a large degree of freedom in device design such as emission wavelength and emission characteristics can be obtained.
  • the main component of the inorganic insulating electron injection layer is an oxide having an electron affinity of 3 eV or less, preferably 0.8 to 3 eV.
  • a material having low hygroscopicity is preferable because it is stable.
  • lithium oxide Li 2 ⁇ 3
  • sodium oxide Na 2 ⁇
  • potassium oxide K 2 0
  • rubidium oxide R b 2 0
  • cesium oxide C s 2 0
  • calcium oxide C a O
  • oxide scan strontium S r O
  • barium oxide B a O
  • yttrium oxide Y 2 0 3
  • hafnium oxide H f ⁇ 2
  • terbium oxide Tb 2 it can be exemplified ⁇ 3)
  • oxidation bets potassium Thinium oxide
  • These oxides can be used alone or in combination of two or more.
  • an oxide having very low hygroscopicity even when left in the air is preferable, and silicon oxide (Si 2 ) and / or germanium oxide (GeO 2 ) is particularly preferable.
  • silicon oxide (Si 2 ) and / or germanium oxide (GeO 2 ) is particularly preferable.
  • Si 2 and / or germanium oxide (GeO 2 ) are particularly preferable.
  • germanium oxide (GeO 2 ) silicon oxide (Si 2 ) and / or germanium oxide (GeO 2 ) is particularly preferable.
  • oxides of the main components necessary, in S I_ ⁇ 2 and Z or G E_ ⁇ 2 equivalent, preferably 50 mol% or less, preferably it contains especially 0. 8 to 50 mol%.
  • Each of the above oxides is normally present in a stoichiometric composition, but may deviate slightly from this.
  • the band gap of the inorganic insulating electron injection layer is preferably 5 eV or more, particularly preferably 6 eV or more.
  • the upper limit is not particularly limited, but is usually about 8 eV.
  • the child affinity is preferably about 2.5 to 3 eV.
  • the work function (electron affinity) and band gap values are determined by the thin film structure and the materials that make up the thin film.
  • the work function can be measured by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) using photoemission, and the band gap value can be measured by spectroscopy.
  • XPS X-ray photoelectron spectroscopy
  • the form of the inorganic insulating electron injection layer is an amorphous thin film or a laminated thin film thereof.
  • the thickness of the inorganic insulating electron injecting layer is not particularly limited, but is 0.2 to 10 nm, particularly:! About 1 to 1 Onm is preferable.
  • Various physical or chemical thin film forming methods such as a sputtering method and an EB vapor deposition method can be considered as a method for manufacturing the above-mentioned inorganic insulating electron injection layer, but the sputtering method is preferable.
  • the pressure of the sputtering gas at the time of sputtering is preferably in the range of 0.1 to 1 Pa.
  • the sputtering gas an inert gas used in a usual sputtering apparatus, for example, Ar, Ne, Xe, Kr or the like can be used. Further, N 2 may be used if necessary.
  • the sputtering atmosphere may be about 1 to 99% of O 2 in addition to the above-mentioned sputtering gas.
  • the target may be one of the above oxides and one- or multi-source sputtering.
  • the inorganic electron injection layer when the inorganic electron injection layer is laminated, if the organic layer or the like is damaged due to assing, the inorganic electron injection layer may be divided into two layers. That is, thin layers are first added without adding oxygen, and thick layers are added with additional oxygen. In this case, the film thickness when oxygen is not added is about 1/5 to 4/5.
  • the oxygen-deficient layer formed without adding oxygen is preferably about 60 to 90% of the normal oxygen content.
  • the oxide layer formed by adding oxygen has a stoichiometric composition as a normal oxide, but may slightly deviate from this. Therefore, oxygen The difference in oxygen content between the depletion layer and the oxide layer is preferably at least 10%, particularly at least 20%. Further, the oxygen amount may be continuously changed in the above range.
  • sputtering method a high-frequency sputtering method using an RF power supply, a DC sputtering method, or the like can be used, and in particular, F sputtering is preferable.
  • the power of the sputtering apparatus is preferably in the range of 0.1 to 1 OW / cm 2 by RF sputtering, and the film formation rate is preferably in the range of 0.5 to 10 nmZmi ⁇ , particularly preferably in the range of 1 to 5 nm / min.
  • the substrate temperature during film formation is about room temperature (25 ° C) to about 150 ° C.
  • the electron injection electrode material is preferably a material having a low work function, for example, K, Li, Na, Mg, La, Ce, Ca, Sr, Ba, Al, Ag, In, Sn, It is preferable to use a single metal element such as Zn or Zr, or a two- or three-component alloy system containing them for improving the stability.
  • a single metal element such as Zn or Zr, or a two- or three-component alloy system containing them for improving the stability.
  • alloys for example, Ag ⁇ Mg (Ag: 0 :! to 50 at%), Al * Li (Li: 0.01 to 12 at%), In ⁇ Mg (Mg: 50 at%) 88 Oat%), Al * Ca (Ca: 0.01 to 2 Oat%) and the like.
  • a thin film made of these materials, or a multilayer thin film of two or more of them is used.
  • the thickness of the electron injecting electrode thin film may be a certain thickness or more for sufficiently injecting electrons, and may be 0.1 nm or more, preferably 0.5 nm or more, and particularly 1 nm or more. Although there is no particular upper limit, the film thickness is usually about 1 to 50 Onm.
  • An auxiliary electrode (protection electrode) may be further provided on the electron injection electrode.
  • the thickness of the auxiliary electrode should be a certain thickness or more, preferably 5 Onm or more, and more preferably 10 Onm or more in order to secure electron injection efficiency and prevent moisture, oxygen, or organic solvent from entering. Particularly, the range of 100 to 50 Onm is preferable. If the auxiliary electrode layer is too thin, the effect cannot be obtained, and the step coverage of the auxiliary electrode layer is low, and the connection with the terminal electrode is not sufficient. On the other hand, if the auxiliary electrode layer is too thick, the stress of the auxiliary electrode layer will increase, and the growth rate of dark spots will increase.
  • an optimum material may be selected according to the material of the electron injection electrode to be combined. For example, if it is important to secure the electron injection efficiency, a low-resistance metal such as A1 may be used.If the sealing property is important, a metal compound such as TiN may be used. Is also good.
  • the thickness of the total of the combination of the electron injecting electrode and the auxiliary electrode is not particularly limited, usually 50 50 onm about and Surebayore, 0
  • the hole injection electrode material is preferably a material capable of efficiently injecting holes into the hole injection layer, and is preferably a material having a work function of 4.5 eV.
  • Suzudoichipu indium (I TO), zinc-doped indium oxide (I ZO), acid indium (I n 2 0 3), tin oxide (Sn_ ⁇ 2) and zinc oxide (ZnO) Those having any one of the main compositions are preferred. These oxides may deviate somewhat from their stoichiometric composition.
  • the mixing ratio of the S N_ ⁇ 2 for I n 2 0 3 is, l 20 w t%, more Shi preferred is 5 12 wt% Re.
  • the mixing ratio of the Z Itashita for I n 2 ⁇ 3 in IZO is generally of the order of 1 2 32 wt%.
  • the hole injection electrode may contain silicon oxide (Sio 2 ) to adjust the work function.
  • the content of silicon oxide (S I_ ⁇ 2) is preferably 0.5 1 approximately 0% at 11 0 1 ratio of S i ⁇ 2 for IT_ ⁇ . By containing S i 0 2, to increase the work function of the I TO.
  • the electrode on the light extraction side preferably has an emission wavelength band, usually 400 to 700 nm, and particularly has a light transmittance of 80% or more, particularly 90% or more for each emitted light.
  • the transmittance is low, the light emitted from the light emitting layer itself is attenuated, and it becomes difficult to obtain the luminance required for the light emitting element.
  • the thickness of the electrode is preferably in the range of 50 500, especially 50 30 Onm.
  • the upper limit is not particularly limited, but if the thickness is too large, there is a concern that the transmittance may decrease or peeling may occur. I will. If the thickness is too small, sufficient effects cannot be obtained, and there is a problem in terms of film strength during production.
  • the organic EL device of the present invention comprises a substrate 1 / electron injection electrode 2 / inorganic insulating electron injection layer 4 / light emitting layer 5 Z hole injection electrode 3, and a normal lamination structure (on the substrate side) There is a hole injection electrode.
  • the reverse lamination prevents damage to the organic layer due to ashing during the formation of the inorganic electron injection layer.
  • FIG. 2 for example, a configuration in which a substrate 1, a Z-hole injection electrode 3, a light emitting layer 5, an inorganic insulating electron injection layer 4, and an electron injection electrode 2 are sequentially stacked may be employed.
  • the inorganic electron injection layer may have the two-layer structure described above.
  • a drive power source E is connected between the hole injection electrode 2 and the electron injection electrode 2.
  • the light emitting layer 5 represents a light emitting layer in a broad sense, and includes a hole injection / transport layer, a light emitting layer in a narrow sense, a hole transport layer, and the like.
  • the device of the present invention includes an electrode layer, an inorganic layer (an inorganic insulating electron injection layer) and a light emitting layer / "electrode layer Z inorganic layer and light emitting layer Z electrode layer inorganic layer and light emitting layer / electrode layer.
  • the light emitting layer is composed of a laminated film of at least one kind or two or more kinds of organic compound thin films involved in the light emitting function.
  • the light emitting layer has a function of injecting holes (holes) and electrons, a function of transporting them, and a function of generating excitons by recombination of holes and electrons.
  • holes holes
  • electrons and holes can be easily injected and transported in a well-balanced manner.
  • the light-emitting layer may have a hole injection / transport layer, an electron transport layer, or the like in addition to the light-emitting layer in a narrow sense, if necessary.
  • the hole injecting and transporting layer has a function of facilitating the injection of holes from the hole injecting electrode, a function of stably transporting holes, and a function of hindering electrons. It has a function to facilitate injection of electrons from the layer, a function to stably transport electrons, and a function to block holes. These layers increase and confine holes and electrons injected into the light-emitting layer, optimize the recombination region, and improve luminous efficiency.
  • the thickness of the light emitting layer, the thickness of the hole injecting and transporting layer, and the thickness of the electron transporting layer are not particularly limited and vary depending on the forming method, but are usually about 5 to 500 nm, especially about 10 to 100 nm. It is preferably set to ⁇ 30 O nm.
  • the thickness of the hole injecting and transporting layer and the thickness of the electron transporting layer may be set to be approximately the same as the thickness of the light emitting layer or to about lZ10 to 10 times, depending on the design of the recombination and light emitting region.
  • the injection layer has a thickness of l nm or more and the transport layer has a thickness of 1 nm or more.
  • the upper limit of the thickness of the injection layer and the transport layer is usually about 50 O nm in the injection layer and about 50 O nm in the transport layer. Such a film thickness is the same when two injection transport layers are provided.
  • the light emitting layer of the organic EL element contains a fluorescent substance which is a compound having a light emitting function.
  • a fluorescent substance is selected from, for example, compounds disclosed in JP-A-63-264692, for example, compounds such as quinatalidone, rubrene, and styryl dyes. At least one species is included.
  • quinoline derivatives such as metal complex dyes having 8_quinolinol or its derivatives as ligands, such as tris (8-quinolinolato) aluminum, tetraphenylbutadiene, anthracene, perylene, coronene, and 12-phthalinoperinone derivatives. No.
  • phenylanthracene derivatives described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-1260000 Japanese Patent Application No. 6-110569
  • phenylanthracene derivatives disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. the tetraarylethene derivatives described in No. 6-1114456 can be used.
  • the content of the compound in the light emitting layer is preferably from 0.1 to 10 wt%, more preferably from 0.1 to 5 wt%.
  • the emission wavelength characteristics of the host substance can be changed, light emission shifted to longer wavelengths becomes possible, and the luminous efficiency and stability of the device are improved.
  • a quinolinolato complex is preferable, and an aluminum complex having 8-quinolinol or a derivative thereof as a ligand is preferable.
  • Examples of such an analog complex include JP-A-63-264692, JP-A-3-252590, JP-A-5-77033, JP-A-5-272. Examples thereof include those disclosed in JP-A-58-8859 and JP-A-6-218574.
  • aluminum complexes having other ligands in addition to 8-quinolinol or its derivatives may be used.
  • Examples of such complexes include bis (2-methyl-8-quinolinolate) (phenolate).
  • host substances include phenylanthracene derivatives described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-1260000 (Japanese Patent Application No. 6-110569). Also preferred are the tetraarylethene derivatives described in Japanese Patent Publication No. 9 (Japanese Patent Application No. 6-1114456).
  • the light emitting layer may also serve as the electron transport layer. In such a case, it is preferable to use tris (8-quinolinolato) aluminum or the like. These fluorescent substances may be deposited. Further, the light emitting layer is preferably a mixed layer of at least one kind of hole injecting and transporting compound and at least one kind of electron injecting and transporting compound, if necessary. It is preferable to include them.
  • the content of the compound in such a mixed layer is from 0.1 to 20 wt%, and more preferably from 0.1 to 15 wt%. /. It is preferable that
  • a carrier hopping conduction path is formed, so that each carrier moves in a material having a favorable polarity, and carrier injection of the opposite polarity is unlikely to occur. It has the advantage of extending.
  • the emission wavelength characteristics of the mixed layer itself can be changed, the emission wavelength can be shifted to a longer wavelength, and the emission intensity can be increased. Also, the stability of the device can be improved.
  • the hole injecting and transporting compound and the electron injecting and transporting compound used for the mixed layer may be selected from the hole injecting and transporting compound and the electron injecting and transporting compound described below, respectively.
  • the hole injecting and transporting compound an amine derivative having strong fluorescence, for example, a triphenyldiamine derivative which is a hole transporting compound, a styrylamine derivative, and an amine derivative having an aromatic condensed ring are used. Is preferred.
  • a quinoline derivative furthermore a metal complex having 8-quinolinol or its derivative as a ligand, particularly tris (8-quinolinolato) aluminum (A1q3).
  • a metal complex having 8-quinolinol or its derivative as a ligand, particularly tris (8-quinolinolato) aluminum (A1q3).
  • phenylanthracene derivatives and tetraarylethene derivatives particularly tris (8-quinolinolato aluminum
  • an amine derivative having strong fluorescence for example, a triphenyldiamine derivative which is the above-described hole transporting compound, a styrylamine derivative, or an amine derivative having an aromatic condensed ring is used.
  • the mixing ratio in this case depends on the carrier mobility and carrier concentration of each, but in general, the weight ratio of the compound of the hole injecting / transporting compound / the compound having the electron injecting / transporting function is 199 to 99Zl.
  • it is set to be about 10 90 to 90 OZ10, particularly preferably about 20/80 to 80/20.
  • the thickness of the mixed layer is preferably equal to or greater than the thickness of one molecular layer and less than the thickness of the organic compound layer. Specifically, the thickness is preferably 1 to 85 nm, more preferably 5 to 6 Onm, particularly preferably 5 to 5 Onm.
  • the mixed layer co-evaporation in which evaporation is performed from different evaporation sources is preferable, but when the vapor pressures (evaporation temperatures) are the same or very close, they are mixed in advance in the same evaporation board. It can also be deposited. It is preferable that the compounds are uniformly mixed in the mixed layer, but in some cases, the compounds may be present in an island shape.
  • the light-emitting layer is formed to a predetermined thickness by vapor-depositing an organic fluorescent substance or by dispersing and coating the resin in a resin binder.
  • the hole injecting and transporting compounds are described in, for example, JP-A-63-295695, JP-A-2-191694, JP-A-3-792, JP-A-5-234681, and JP-A-5-24681.
  • Organic compounds can be used.
  • tetraarylbendicine compounds triaryldiamine or triphenyldiamine: TPD
  • aromatic tertiaryamines hydrazone derivatives
  • carbazole derivatives triazole derivatives
  • imidazole derivatives imidazole derivatives
  • oxaziazole derivatives having an amino group polythiophene And so on.
  • the electron transport layer provided as necessary includes quinoline derivatives such as organometallic complexes having 8-quinolinol or its derivatives as ligands, such as tris (8-quinolinolato) aluminum (Alq3), oxaziazole derivatives, A perylene derivative, a pyridine derivative, a pyrimidine derivative, a quinoxaline derivative, a diphenylquinone derivative, a nitro-substituted fluorene derivative, or the like can be used.
  • the electron transporting layer may also serve as a light emitting layer. In such a case, it is preferable to use tris (8-quinolinolato) phenol.
  • the electron transport layer may be formed by vapor deposition or the like, similarly to the light emitting layer.
  • the electron transport layer of this organic material is usually not necessary, but may be provided depending on the structure of the device and other conditions.
  • a vacuum deposition method for forming the hole injecting and transporting layer, the light emitting layer, and the electron transporting layer of an organic material because a uniform thin film can be formed.
  • the vacuum deposition method is used, a homogeneous thin film having an amorphous state or a crystal grain size of 0.2 m or less can be obtained.
  • the crystal grain size exceeds 0.2 ⁇ , the light emission becomes non-uniform, the driving voltage of the device must be increased, and the hole injection efficiency is significantly reduced.
  • the conditions for vacuum evaporation are not critical although a 1 0 one 4 Pa degree of vacuum below, deposition speed is 0. 0 is preferably set to l ⁇ l nra / sec approximately.
  • each layer it is preferable to form each layer continuously in a vacuum. If they are formed continuously in a vacuum, impurities can be prevented from adsorbing at the interface of each layer, and high characteristics can be obtained. In addition, the driving voltage of the device can be reduced, and the occurrence and growth of dark spots can be suppressed.
  • each boat containing the compounds When a plurality of compounds are contained in one layer when a vacuum deposition method is used to form each of these layers, it is preferable to co-deposit each boat containing the compounds by individually controlling the temperature.
  • the element in order to prevent oxidation of the organic layer and the electrodes of the element, it is preferable to seal the element with a sealing plate or the like.
  • the sealing plate is bonded and sealed using an adhesive resin layer to prevent moisture from entering.
  • the sealing gas is Ar, He, N. Inert gas such as Are preferred.
  • the moisture content of the sealing gas is preferably 100 ppm or less, more preferably 100 ppm or less, and particularly preferably 1 ppm or less. Although there is no particular lower limit for this water content, it is usually about 0.1 ppm.
  • the material of the sealing plate is preferably a flat plate, and includes a transparent or translucent material such as glass, quartz, and resin, but glass is particularly preferable.
  • a transparent or translucent material such as glass, quartz, and resin
  • glass is particularly preferable.
  • a glass material an alkali glass is preferable in terms of cost, but in addition, a glass composition such as soda-lime glass, lead-alkali glass, borosilicate glass, aluminosilicate glass, and silica glass is also preferable.
  • soda glass, a glass material having no surface treatment can be used at low cost and is preferable.
  • a metal plate, a plastic plate, or the like can be used in addition to the glass plate.
  • the height of the sealing plate may be adjusted using a spacer, and may be maintained at a desired height.
  • the material for the spacer include resin beads, silica beads, glass beads, glass fibers, and the like, with glass beads being particularly preferred.
  • the spacer is usually a granular material having a uniform particle size, but the shape is not particularly limited, and various shapes may be used as long as the function as the spacer is not hindered. You may.
  • the diameter in terms of a circle is preferably 1 to 20 ⁇ , more preferably 1 to 1 ⁇ , and particularly preferably 2 to 8. It is preferable that the particles having such a diameter have a grain length of about 100 ⁇ or less, and the lower limit is not particularly limited, but is usually about the same as or larger than the diameter.
  • the spacer When a recess is formed in the sealing plate, the spacer may or may not be used. When used, the preferred size may be in the above range, but is particularly preferably in the range of 2 to 8 ⁇ .
  • the spacer may be mixed in the sealing adhesive in advance or may be mixed at the time of bonding.
  • the content of the spacer in the sealing adhesive is preferably 0.01 to 3 wt%, more preferably 0.1 to! 5 wt%.
  • the adhesive is not particularly limited as long as it can maintain stable adhesive strength and has good airtightness, but it is preferable to use a cationically curable ultraviolet-curable epoxy resin adhesive.
  • examples of the substrate on which the organic EL structure is formed include an amorphous substrate such as glass and quartz, and a crystalline substrate such as Si, GaAs, ZnSe, ZnS, GaP, and InP. Substrates in which a crystalline, amorphous or metal buffer layer is formed on these crystalline substrates can also be used.
  • a metal substrate Mo, Al, Pt, Ir, Au, Pd, or the like can be used, and a glass substrate is preferably used. Since the substrate is usually on the light extraction side, it is preferable that the substrate has the same light transmittance as the above-mentioned electrodes.
  • a large number of the elements of the present invention may be arranged on a plane.
  • a color display can be obtained.
  • the color of the emitted light can be controlled by using a color filter film, a color conversion film containing a fluorescent substance, or a dielectric reflection film on the substrate.
  • color filters used in liquid crystal displays etc. may be used, but the characteristics of the color filters are adjusted according to the light emitted from the organic EL element to optimize the extraction efficiency and color purity. do it.
  • a color filter that can output short-wavelength external light that is absorbed by the EL element material or the fluorescence conversion layer can improve the light resistance and display contrast of the element.
  • an optical thin film such as a dielectric multilayer film may be used instead of the color filter.
  • the fluorescent conversion filter film absorbs EL light and emits light from the phosphor in the fluorescent conversion film to convert the color of the emitted light. It is formed from three materials, light absorbing materials.
  • the fluorescent material basically, a material having a high fluorescence quantum yield may be used, and it is desirable that the fluorescent material has strong absorption in the EL emission wavelength region.
  • a laser mono-dye is suitable, for example, rhodamine compounds.
  • Perylene compounds, cyanine compounds, phthalocyanine compounds (including subphthalocyanines, etc.) naphthaloid compounds, condensed ring hydrocarbon compounds, condensation. Heterocyclic compounds, styryl compounds, coumarin compounds and the like may be used.
  • the binder should basically be selected from materials that do not extinguish the fluorescence, and is preferably a material that allows fine patterning by photolithography and printing. Further, when the hole injection electrode is formed on the substrate in contact with the hole injection electrode, a material that does not damage the film during formation of the hole injection electrode (ITO, I ⁇ ) is preferable.
  • the light absorbing material is used when the light absorption of the fluorescent material is insufficient, but may not be used when unnecessary. Further, as the light absorbing material, a material that does not quench the fluorescence of the fluorescent material may be selected.
  • the organic EL device of the present invention is generally used as a DC-driven or pulse-driven EL device, but may be driven by an AC device.
  • the applied voltage is usually about 2 to 30 V.
  • a substrate made by Koung Co., Ltd., having a trade name of 759 was scrub-cleaned using a neutral detergent.
  • the upper substrate was fixed to a substrate holder of a vacuum deposition apparatus, which was evacuated to a vacuum of less than 1 X 1 0- 4 Pa. Then, the vacuum kept, by depositing A 1 to a thickness of 2 O nm, was L i 2 0 to 5 nm in thickness was deposited on the auxiliary electrode and the electron injection electrode continues. Further, while maintaining the reduced pressure, the wafer is transferred to the sputtering device, The inorganic electron injecting layer was formed to a thickness of lnm using a mixture of silicon oxide (Si 2 ) and 5 mol% with respect to the film (K 20 : electron affinity 2. OeV).
  • N, N, N ', N'-tetrakis (m-biphenyl) 1-1,1'-bihueneru 4,4'-diamine (TPD) and tris (8-quinolinolato) (A 1 q3) and rubrene were deposited to a thickness of 40 nm at an overall deposition rate of 0.2 nm / sec to form a light emitting layer.
  • TPD: Alq3 l: l (weight ratio)
  • rubrene was added to this mixture at a concentration of 0.5 mol%.
  • TPD is vapor-deposited at a vapor deposition rate of 0. InmZsec to a thickness of 2 Onm to form a hole transport layer
  • polythiophene is vapor-deposited at a vapor deposition rate of 0. Inm / sec to a thickness of 10 ⁇ m.
  • an ITO hole injection electrode layer having a thickness of 20 Onm was formed by a DC magnetron sputtering method using an ITO oxide target.
  • the device When an electric field is applied to the obtained organic EL device in air, the device exhibits diode characteristics. If the ITO side is biased positively and the A1Li side is biased negatively, the current increases as the voltage increases. Observed from the sealing plate side, clear light emission was observed in a normal room. Also, even if the light emission operation is repeated, the brightness does not decrease. won.
  • emission luminance and life characteristics were examined at a constant current of 10 OmA / cm 2 .
  • the emission luminance was improved by about 10% compared to a completely similar comparative sample except that the conventional organic material was used as the electron injection transport layer.
  • the luminance of the comparative sample was reduced by half in 200 hours, while the luminance of the sample of the present invention was maintained at 80% or more in 200 hours.
  • Example 2 The same substrate as in Example 1 was fixed to a substrate holder of a sputtering apparatus, and an ITo hole injection electrode layer having a thickness of 20 Onm was formed by a DC magnetron sputtering method using an ITO oxide target.
  • the substrate on which the ITO was formed was ultrasonically cleaned using a neutral detergent, acetone, and ethanol, pulled out of boiling ethanol, and dried. Then, after the UvZ_ ⁇ third cleaning surface, and fixed to a substrate holder of a vacuum deposition apparatus, which was evacuated to a vacuum of 1 X 1 0- 4 Pa hereinafter.
  • polythiophene is deposited at a deposition rate of 0.1 nm / sec to a thickness of 1 Onm to form a hole injection layer
  • TPD is deposited at a deposition rate of 0.1 nm / sec to a thickness of 2 Onm.
  • a hole transport layer was formed.
  • N, N, N ', N'-tetrakis (m-biphenyl) -1,1,1'-biphenyl-1,4,4'-diamine (TPD) and tris (8-quinolinolato) aluminum (A lq3) and rubrene were deposited to a thickness of 4 Onm at an overall deposition rate of 0.2 t / sec to form a light emitting layer.
  • TPD: A1 q3 1: 1 Ratio
  • the mixture was doped with 0.5 mol% of rubrene.
  • the wafer was transferred to a sputtering apparatus, and a target obtained by mixing 5 mol% of silicon oxide (Si 2 ) with respect to oxidizing lithium (K 20 : electron affinity 2.0) was used as a target.
  • An inorganic insulating electron injection layer was formed to a thickness of lnm.
  • the film forming conditions were a substrate temperature of 25 ° C., a film forming rate of InmZmin, an operating pressure of 0.5 Pa, and an input power of 5 W / cm 2 .
  • an inorganic insulating electron injecting layer is first formed to a thickness of 0.5 nm while supplying 100 SCCM with a sputtering gas of Ar: 100% and then Ar / O 2 : lZl to 100 While supplying SCCM, an inorganic insulating electron injection layer was formed to a thickness of 0.5 nm.
  • the vacuum kept, by depositing a L i 2 0 to a thickness of 5 nm, and an electron injecting electrode and the auxiliary electrode by depositing A 1 to a thickness of 2 0 nm to continue.
  • the oxygen content of the lower layer was about 70% of the usual value.
  • a 7059 substrate (trade name, manufactured by Corning Incorporated) as a glass substrate was scrub-cleaned using a neutral detergent.
  • the upper substrate was fixed to a substrate holder of a vacuum deposition apparatus, which was evacuated to a vacuum of IX 1 0 one 4 Pa or less. Then, the vacuum kept, by depositing A 1 to a thickness of 2 onm, was L i 2 ⁇ a 5 nm thick is deposited on the auxiliary electrode and the electron injection electrode continues. Further, while maintaining the reduced pressure, the substrate was transferred to a sputtering apparatus, and a target in which 3 mol% of germanium oxide (Ge 2 ) was mixed with rubidium oxide (Rb 2 ) was used to form an inorganic electron injection layer. The film was formed to a thickness of one belly.
  • Substrate temperature 25 ° C, sputtering gas A r 0 2 1: 1 were mixed so that, were Narumakure over preparative LnmZmin, operating pressure 0. 5 Pa, and the input electric power 5 WZcm 2.
  • N, N, N ', N'-tetrakis (m-biphenyl) -11,1'-biphenyl-1,4,4diamine (TPD) and tris (8-quinolinolato) aluminum (A lq3) and rubrene were deposited to a thickness of 4 Onm at an overall deposition rate of 0.2 nm / sec to form a light emitting layer.
  • TPD: A 1 q3 1: 1 (weight ratio), and this mixture was doped with rubrene at 0.5 mol%.
  • TPD is evaporated at a deposition rate of 0. InmZsec to a thickness of 2 Ornn to form a hole transport layer
  • polythiophene is deposited at a deposition rate of 0. InmZsec to a thickness of 10 ⁇ m to inject holes.
  • a layer was formed.
  • an ITO hole injection electrode layer having a thickness of 20 Onm was formed by a DC magnetron sputtering method using an ITO oxide target.
  • the device When an electric field is applied to the obtained organic EL device in air, the device exhibits diode characteristics.If the ITO side is biased positively and the A1Li side is biased negatively, the current increases as the voltage increases. Observed from the sealing plate side, clear light emission was observed in a normal room. In addition, the luminance did not decrease even when the light emitting operation was repeated.
  • emission luminance adjust the life characteristics at a constant current of 10 OmAZcm 2 Beta.
  • the emission luminance was improved by about 10% compared to a completely similar comparison except that the conventional organic material was used as the electron injection transport layer.
  • the luminance of the comparative sample was reduced by half in 200 hours, while the luminance of the sample of the present invention was maintained at 80% or more in 200 hours.
  • Example 1 the main component of the inorganic electron injecting layer, the cash strong point, lithium oxide to potassium oxide ( ⁇ 2 ⁇ ) (L i 2 ⁇ 3), sodium oxide (Na 2 ⁇ ), cesium oxide (C s 2 ⁇ ), calcium oxide (C a O), oxide scan strontium (S r O), oxidation barium (B a O), yttrium oxide (Upsilon 2 0 3), hafnium oxide (H f 0 2), terbium oxide (Tb of 2 ⁇ 3) and thorium oxide (Th_ ⁇ 2):!
  • An organic EL device was obtained in the same manner as in Example 1 except that one or more kinds were contained, and almost the same results as in Example 1 were obtained.
  • an organic EL device that has the advantages of an organic material and an inorganic material, has a long life, has improved efficiency, and has a low operating voltage.

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Description

明 細 書
有機 E L素子 技術分野
本発明は、 有機 E L (電界発光) 素子に関し、 詳しくは、 有機化合物の薄膜に 電界を印加して光を放出する素子に用いられる無機ノ有機接合構造に関する。 背景技術
一般に有機 E L素子は、 ガラス基板上に I T Oなどの透明電極を形成し、 その 上に有機ァミン系のホール輸送層、 電子導電性を示しかつ強い発光を示すたとえ ば A 1 q 3材からなる有機発光層を積層し、 さらに、 M g A gなどの仕事関数の 小さい電極を形成した構造の基本素子としている。
これまでに報告されている素子構造としては、 ホール注入電極及び電子注入電 極の間に 1層または複数層の有機化合物層が挟まれた構造となっており、 有機化 合物層としては、 2層構造あるいは 3層構造がある。
2層構造の例としては、 ホール注入電極と電子注入電極の間にホール輸送層と 発光層が形成された構造または、 ホール注入電極と電子注入電極の間に発光層と 電子輸送層が形成された構造がある。 3層構造の例としては、 ホール注入電極と 電子注入電極の間にホール輸送層と発光層と電子輸送層とが形成された構造があ る。 また、 単一層に全ての役割を持たせた単層構造も高分子や混合系で報告され ている。
図 3および図 4に、 有機 E L素子の代表的な構造を示す。
図 3では基板 1 1上に設けられたホール注入電極 1 2と電子注入電極 1 3の間 に有機化合物であるホール輸送層 1 4と発光層 1 5が形成されている。 この場合、 発光層 1 5は、 電子輸送層の機能も果たしている。 図 4では、 基板 1 1上に設けられたホール注入電極 12と電子注入電極 1 3の 間に有機化合物であるホール輸送層 14と発光層 15と電子輸送層 16が形成さ れている。
これら有機 EL素子においては、 共通して、 信頼性が問題となっている。 すな わち、 有機 EL素子は、 原理的にホール注入電極と、 電子注入電極とを有し、 こ れら電極間から効率よくホール ·電子を注入輸送するための有機層を必要とする。 しかしながら、 これらの材料は、 製造時にダメージを受けやすく、 電極との親和 性にも問題がある。 また、 有機薄膜の劣化も LED、 LDに較べると著しく大き レ、という問題を有している。
また、 有機材料は比較的高価なものが多く、 低コストの有機 EL素子応用製品 を提供するために、 その一部の構成膜を安価な無機材料で置き換えることのメリ ットは大きい。
また、 今まで以上に発光効率を改善し、 低駆動電圧で、 より消費電流の少ない 素子の開発が望まれている。
このような問題を解決するために、 有機材料と無機半導体材料のそれぞれのメ リットを利用する方法が考えられている。 すなわち、 有機ホール輸送層を無機 P 型半導体に置き換えた有機ノ無機半導体接合である。 このような検討は、 特許第
2636341号、 特開平 2— 139893号公報、 特開平 2— 207488号 公報、 特開平 6— 1 1 9973号公報で検討されているが、 発光特性や基本素子 の信頼性で素子従来の有機 E Lを越える特性を得ることが不可能であった。 発明の開示
本発明の目的は、 有機材料と無機材料の有するメリットを併せ持ち、 長寿命で、 効率が改善され、 動作電圧が低く、 低コストな有機 EL素子を提供することであ る。 このような目的は、 下記 (1) 〜 (9) のいずれかの構成により達成される。
(1) 基板上に、 ホール注入電極と電子注入電極とを有し、 これらの電極間 に少なくとも発光機能に関与する有機層を有する有機 E L素子であって、 前記電子注入電極と有機層との間には、 主成分として電子親和力 3 eV以下の酸 化物を含有し、 これに安定成分が添カ卩されている無機絶縁性電子注入層を有する 有機 EL素子。
(2) 前記無機絶縁性電子注入層は、 安定成分として、 酸化ゲルマニウム (G e 02) および/または酸化シリ コン (S i〇2) を含有する上記 (1) の 有機 EL素子。
(3) 前記安定成分としての酸化ゲルマニウム (G e〇2) およびノまたは 酸化シリコン (S i〇2) を、 前記主成分に対して、 G e〇2および/または S i〇2換算で 50 mol%以下含有する上記 (1) または (2) の有機 EL素子。
(4) 前記主成分として、 酸化リチウム (L i 23) , 酸化ナトリウム (Na 20) , 酸化カリウム (K20) , 酸化ルビジウム (Rb2〇) , 酸化セシ ゥム (C s 2〇) , 酸化カルシウム (C a O) , 酸化ストロンチウム (S r〇) , 酸化バリウム (B a O) , 酸化イットリウム (Y 203) , 酸化ハフニウム (Η f 02) , 酸化テルビウム (Tb 23) および酸化トリウム (Th〇2) の 1種 または 2種以上を含有する上記 (1) 〜 (3) のいずれかの有機 EL素子。
(5) 基板上に、 少なくとも電子注入電極と、 無機絶縁性電子注入層と、 発 光層と、 ホール注入電極とが順次積層されている上記 (1) 〜 (4) のいずれか の有機 EL素子。
(6) 前記無機絶縁性電子注入層は、 有機層側に酸素が多く、 電子注入電極 側に酸素が少ない構造を有する上記 (1) 〜 (5) のいずれかの有機 E L素子。
(7) 基板上に、 少なくともホール注入電極と、 有機層と、 無機絶縁性電子 注入層と、 電子注入電極とが順次積層されている上記 (6) の有機 EL素子。 (8) 電子注入電極と有機層との間に、 主成分として電子親和力 3 eV以下の 酸化物を含有し、 これに安定成分が添加されている無機絶縁性電子注入層を成膜 するに際し、
酸素を加えることなく全体の膜厚の 1/5〜4 5成膜した後、 02を 1〜9 9 %程度添加して残りの部分を成膜する有機 E L素子の製造方法。
(9) 上記 (6) または (7) の有機 EL素子を得る上記 (8) の有機 EL 素子の製造方法。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の有機 E L素子の構成例を示した概略断面図である。
図 2は、 本発明の有機 E L素子の他の構成例を示した概略断面図である。
図 3は、 ホール輸送層を有する 2層構造の有機 EL素子の断面図である。
図 4は、 ホール輸送層と電子輸送層を有する 3層構造の有機 EL素子の断面図 である。 発明を実施するための最良の形態
本発明の有機 EL素子は、 基板上に、 ホール注入電極と電子注入電極とを有し、 これらの電極間に少なくとも発光機能に関与する有機層を有する有機 EL素子で あって、 前記電子注入電極と有機層との間には、 主成分として電子親和力 3 eV以 下の酸化物を含有し、 これに安定成分が添加されている無機絶縁性電子注入層を 有する。
このように、 電子親和力 3 ev以下の酸化物を主成分とし、 これに安定成分が添 加されている無機絶縁性電子注入層とすることにより、 電子注入電極から発光層 側となる有機層へ効率よく電子を注入し、 有機層側から電子注入電極へのホール の移動を抑制することができ、 発光層でのホールと電子との再結合を効率よく行 わせることができる。 すなわち、 無機絶縁性電子注入層の伝導帯での仕事関数は 3. OeV程度以下であり、 バンドギャップは 5〜8eV程度となるので、 電子注入 電極から発光層へ効率よく電子を注入することができ、 ホールの電子注入電極へ の移動を抑制することができる。 この仕事関数は、 下記の仕事関数調整成分によ り、 適宜調整して用いることができる。 また、 耐候性、 耐熱性等、 無機材料の有 するメリットと、 発光波長や発光特性等、 素子設計の自由度が大きいといった有 機材料の有するメリットを併せ持った有機 EL素子とすることができる。
無機絶縁性電子注入層の主成分は、 電子親和力 3 eV以下、 好ましくは 0. 8〜 3 eVの酸化物である。 また、 大気中に放置した場合に吸湿性の少ない材料が安定 していて好ましい。 このような材料として、 例えば、 酸化リチウム (L i 23) , 酸化ナトリウム (Na 2〇) , 酸化カリウム (K20) , 酸化ルビジウム (R b 20) , 酸化セシウム (C s 20) , 酸化カルシウム (C a O) , 酸化ス トロンチウム (S r O) , 酸化バリウム (B a O) , 酸化イットリウム (Y20 3) , 酸化ハフニウム (H f 〇2) , 酸化テルビウム (Tb 23) および酸化ト リウム (Th〇2) を挙げることができる。 これらの酸化物は 1種または 2種以 上を用いることができる。
安定成分としては、 大気中に放置しても吸湿性の非常に少ない酸化物が好まし く、 特に酸化シリ コン (S i〇2) および/または酸化ゲルマニウム (G e O 2) が好ましい。 これらを必要により主成分の酸化物に対して、 S i〇2および Zまたは G e〇2換算で、 好ましくは 50 mol%以下、 特に 0. 8〜50 mol% 含有することが好ましい。
上記の各酸化物は、 通常化学量論組成で存在するが、 これから多少偏倚してい てもよい。
無機絶縁性電子注入層は、 バンドギャップ 5 eV以上、 特に 6 eV以上が好ましい。 その上限としては、 特に規制されるものではないが、 通常、 8eV程度である。 電 子親和力は、 2. 5〜3eV程度が好ましい。
仕事関数 (電子親和力) 、 およびバンドギャップの値は、 薄膜構造と薄膜を構 成する物質で決められる。 仕事関数は、 光電子放射を応用した X線光電子分光法 (XPS) 等により、 バンドギャップの値は分光法等により測定することができ る。
無機絶縁性電子注入層の形態としては、 非晶質薄膜、 またはこれらの積層薄膜 である。
無機絶縁性電子注入層の厚みとしては、 特に制限はないが、 0. 2〜10nm、 特に:!〜 1 Onm程度が好ましい。
上記の無機絶縁性電子注入層の製造方法としては、 スパッタ法、 EB蒸着法な どの各種の物理的または化学的な薄膜形成方法などが考えられるが、 スパッタ法 が好ましい。
無機絶縁性電子注入層をスパッタ法で形成する場合、 スパッタ時のスパッタガ スの圧力は、 0. l〜lPaの範囲が好ましい。 スパッタガスは、 通常のスパッタ 装置に使用される不活性ガス、 例えば Ar, Ne, X e, Kr等が使用できる。 また、 必要により N2を用いてもよい。 スパッタ時の雰囲気としては、 上記スパ ッタガスに加え O 2を 1〜 99 %程度混合してもよレ、。 ターゲットとしては上記 酸化物を用い、 1元または多元スパッタとすればよい。
なお、 無機電子注入層を積層する際、 有機層等がアツシングされ、 ダメージを 受ける恐れがある場合、 無機電子注入層を 2層に分けて積層するとよい。 すなわ ち、 最初に酸素を加えることなく薄く積層し、 さらに酸素を加えて厚く積層する。 この場合、 酸素を加えないときの膜厚は全体の 1/5〜4ノ5程度とする。 この とき、 酸素を加えないで成膜した酸素欠乏層は通常の酸素含有量の 60〜90% 程度が好ましい。 また、 酸素を加えて成膜した酸化層は通常の酸化物としての化 学量論組成で存在するが、 これから多少偏倚していてもよい。 したがって、 酸素 欠乏層と酸化層との酸素含有量の差は、 好ましくは 10%以上、 特に 20%以上 である。 また、 上記範囲で酸素量が連続的に変化していてもよい。
スパッタ法としては R F電源を用いた高周波スパッタ法や、 D Cスパッタ法等 が使用できるが、 特に; Fスパッタが好ましい。 スパッタ装置の電力としては、 好ましくは RFスパッタで 0, 1〜 1 OW/cm2の範囲が好ましく、 成膜レート は 0. 5〜: 10 nmZmi^ 特に 1〜 5 nm/minの範囲が好ましい。
成膜時の基板温度としては、 室温 (25°C) 〜150°C程度である。
電子注入電極材料は、 低仕事関数の物質が好ましく、 例えば、 K、 L i、 Na、 Mg、 L a、 C e、 Ca、 S r、 B a、 A l、 Ag、 I n、 S n、 Zn、 Z r等 の金属元素単体、 または安定性を向上させるためにそれらを含む 2成分、 3成分 の合金系を用いることが好ましい。 合金系としては、 例えば Ag · Mg (Ag : 0. :!〜 50 at%) 、 A l * L i (L i : 0. 01— 1 2 at%) 、 I n · M g (Mg : 50〜8 Oat%) 、 A l * Ca (C a : 0. 01〜 2 Oat%) 等が挙げ られる。 電子注入電極層にはこれらの材料からなる薄膜、 それらの 2種類以上の 多層薄膜が用いられる。
電子注入電極薄膜の厚さは、 電子注入を十分行える一定以上の厚さとすれば良 く、 0. lnm以上、 好ましくは 0. 5nm以上、 特に 1 nm以上とすればよい。 また、 その上限値には特に制限はないが、 通常膜厚は 1〜50 Onm程度とすればよい。 電子注入電極の上には、 さらに補助電極 (保護電極) を設けてもよい。
補助電極の厚さは、 電子注入効率を確保し、 水分や酸素あるいは有機溶媒の進 入を防止するため、 一定以上の厚さとすればよく、 好ましくは 5 Onm以上、 さら には 1 0 Onm以上、 特に 100〜50 Onmの範囲が好ましい。 補助電極層が薄す ぎると、 その効果が得られず、 また、 補助電極層の段差被覆性が低くなつてしま レ、、 端子電極との接続が十分ではなくなる。 一方、 補助電極層が厚すぎると、 補 助電極層の応力が大きくなるため、 ダークスポットの成長速度が速くなつてしま 補助電極は、 組み合わせる電子注入電極の材質により最適な材質を選択して用 いればよい。 例えば、 電子注入効率を確保することを重視するのであれば A 1等 の低抵抗の金属を用いればよく、 封止性を重視する場合には、 T i N等の金属化 合物を用いてもよい。
電子注入電極と補助電極とを併せた全体の厚さとしては、 特に制限はないが、 通常 50 50 Onm程度とすればょレ、0
ホール注入電極材料は、 ホール注入層へホールを効率よく注入することのでき るものが好ましく、 仕事関数 4. 5 5. 5 eVの物質が好ましい。 具体的には、 錫ド一プ酸化インジウム (I TO) 、 亜鉛ドープ酸化インジウム (I ZO) 、 酸 化インジウム (I n 203) 、 酸化スズ (Sn〇2) および酸化亜鉛 (ZnO) の いずれかを主組成としたものが好ましい。 これらの酸化物はその化学量論組成か ら多少偏倚していてもよい。 I n 203に対する S n〇2の混合比は、 l 20w t%、 さらには 5 12wt%が好ましレ、。 また、 I Z Oでの I n 23に対する Z ηθの混合比は、 通常、 1 2 32wt%程度である。
ホール注入電極は、 仕事関数を調整するため、 酸化シリコン (S i o2) を含 有していてもよレ、。 酸化シリコン (S i〇2) の含有量は、 I T〇に対する S i 〇2の11]01比で0. 5 1 0%程度が好ましい。 S i 02を含有することにより、 I TOの仕事関数が増大する。
光を取り出す側の電極は、 発光波長帯域、 通常 400 700nm、 特に各発光 光に対する光透過率が 80%以上、 特に 90%以上であることが好ましい。 透過 率が低くなると、 発光層からの発光自体が減衰され、 発光素子として必要な輝度 を得難くなつてくる。
電極の厚さは、 50 500 特に 50 30 Onmの範囲が好ましレ、。 また、 その上限は特に制限はないが、 あまり厚いと透過率の低下や剥離などの心配が生 じる。 厚さが薄すぎると、 十分な効果が得られず、 製造時の膜強度等の点でも問 題がある。
本発明の有機 E L素子は、 例えば図 1に示すように、 基板 1 /電子注入電極 2 /無機絶縁性電子注入層 4 /発光層 5 Zホール注入電極 3と、 通常の積層構成 (基板側にホール注入電極がある。 ) とは逆に積層された構成とするとよい。 逆 積層とすることにより、 無機電子注入層成膜時のァッシングによる有機層へのダ メージが防止できる。 また、 例えば図 2に示すように、 基板 1 Zホール注入電極 3ノ発光層 5 無機絶縁性電子注入層 4 電子注入電極 2とが順次積層された構 成としてもよい。 この場合、 無機電子注入層は上記 2層構造とすればよい。 これ らは、 たとえば、 ディスプレーの仕様や作製プロセス等により、 適宜選択し使用 される。 図 1、 2において、 ホール注入電極 2と電子注入電極 2の間には、 駆動 電源 Eが接続されている。 なお、 上記発光層 5は、 広義の発光層を表し、 ホール 注入輸送層、 狭義の発光層、 ホール輸送層等を含む。
また、 上記発明の素子は、 電極層 無機物層 (無機絶縁性電子注入層) および 発光層/"電極層 Z無機物層および発光層 Z電極層 無機物層および発光層/電極 層 · · · と多段に重ねてもよい。 このような素子構造により、 発光色の色調調整 や多色化を行うことができる。
発光層は、 少なくとも発光機能に関与する 1種類、 または 2種類以上の有機化 合物薄膜の積層膜からなる。
発光層は、 ホール (正孔) および電子の注入機能、 それらの輸送機能、 ホール と電子の再結合により励起子を生成させる機能を有する。 発光層には、 比較的電 子的にニュートラルな化合物を用いることで、 電子とホールを容易かつバランス よく注入 '輸送することができる。
発光層は、 必要により、 狭義の発光層の他、 さらにホール注入輸送層、 電子輸 送層等を有していても良い。 ホール注入輸送層は、 ホール注入電極からのホールの注入を容易にする機能、 ホールを安定に輸送する機能および電子を妨げる機能を有するものであり、 必要 により設けられる電子輸送層は、 無機電子注入層からの電子の注入を容易にする 機能、 電子を安定に輸送する機能およびホールを妨げる機能を有するものである。 これらの層は、 発光層に注入されるホールや電子を増大 ·閉じこめさせ、 再結合 領域を最適化させ、 発光効率を改善する。
発光層の厚さ、 ホール注入輸送層の厚さおよび電子輸送層の厚さは、 特に制限 されるものではなく、 形成方法によっても異なるが、 通常 5〜5 0 0 nm程度、 特 に 1 0〜3 0 O nmとすることが好ましい。
ホール注入輸送層の厚さおよび電子輸送層の厚さは、 再結合 ·発光領域の設計 による力 発光層の厚さと同程度または l Z l 0〜1 0倍程度とすればよレ、。 ホ ールの注入層と輸送層とを分ける場合は、 注入層は l nm以上、 輸送層は l nm以上 とするのが好ましい。 このときの注入層、 輸送層の厚さの上限は、 通常、 注入層 で 5 0 O nm程度、 輸送層で 5 0 O nm程度である。 このような膜厚については、 注 入輸送層を 2層設けるときも同じである。
有機 E L素子の発光層には、 発光機能を有する化合物である蛍光性物質を含有 させる。 このような蛍光性物質としては、 例えば、 特開昭 6 3— 2 6 4 6 9 2号 公報に開示されているような化合物、 例えばキナタリ ドン、 ルブレン、 スチリル 系色素等の化合物から選択される少なくとも 1種が挙げられる。 また、 トリス ( 8—キノリノラト) アルミニウム等の 8 _キノリノールまたはその誘導体を配 位子とする金属錯体色素などのキノリン誘導体、 テトラフェニルブタジエン、 ァ ントラセン、 ペリレン、 コロネン、 1 2—フタ口ペリノン誘導体等が挙げられる。 さらには、 特開平 8— 1 2 6 0 0号公報 (特願平 6— 1 1 0 5 6 9号) に記載の フエ二ルアントラセン誘導体、 特開平 8— 1 2 9 6 9号公報 (特願平 6— 1 1 4 4 5 6号) に記載のテトラァリ一ルェテン誘導体等を用いることができる。 また、 それ自体で発光が可能なホスト物質と組み合わせて使用することが好ま しく、 ド一パントとしての使用が好ましい。 このような場合の発光層における化 合物の含有量は 0 . 0 1〜1 0 wt%、 さらには 0 . l〜5 wt%であることが好まし レ、。 ホスト物質と組み合わせて使用することによって、 ホス ト物質の発光波長特 性を変化させることができ、 長波長に移行した発光が可能になるとともに、 素子 の発光効率や安定性が向上する。
ホスト物質としては、 キノリノラト錯体が好ましく、 さらには 8—キノリノ一 ルまたはその誘導体を配位子とするアルミニウム錯体が好ましい。 このようなァ ノレミニゥム錯体としては、 特開昭 6 3 - 2 6 4 6 9 2号、 特開平 3— 2 5 5 1 9 0号、 特開平 5— 7 0 7 3 3号、 特開平 5— 2 5 8 8 5 9号、 特開平 6— 2 1 5 8 7 4号等に開示されているものを挙げることができる。
具体的には、 まず、 トリス (8—キノリノラ ト) アルミニウム、 ビス (8—キ ノ リノラ ト) マグネシウム、 ビス (ベンゾ { f } —8—キノ リノラ ト) 亜鉛、 ビ ス (2—メチルー 8—キノ リノラ ト) アルミニウムォキシド、 トリス (8—キノ リノラ ト) インジウム、 トリス (5—メチル _ 8—キノリノラ ト) アルミニウム、 8—キノリノラ トリチウム、 トリス (5—クロロー 8—キソリノラ ト) ガリ ウム、 ビス (5—クロロー 8—キノリノラ ト) カルシウム、 5 , 7—ジクロル一 8—キ ノ リノラ トアルミニウム、 トリス (5 , 7—ジブロモ一 8—ヒ ドロキシキノ リノ ラト) アルミニウム、 ポリ [亜鉛 (II) 一ビス (8—ヒ ドロキシ一 5—キノリニ ノレ) メタン] 等がある。
また、 8—キノリノールまたはその誘導体のほかに他の配位子を有するアルミ 二ゥム錯体であってもよく、 このようなものとしては、 ビス (2—メチルー 8— キノ リノラ ト) (フエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル一 8—キ ノ リノラ ト) (オルトークレゾラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチルー 8—キノリノラ ト) (メタークレゾラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチ ル一 8—キノ リノラ ト) (パラ一クレゾラ ト) アルミニウム ΐΙ)、 ビス (2— メチルー 8—キノ リノラ ト) (オルト一フエユルフェノラ ト) アルミニウム— (II 1)、 ビス (2—メチル一8—キノ リノラ ト) (メタ一フエニルフエノラ ト) アル ミニゥム(111)、 ビス (2—メチル一 8—キノ リノラ ト) (パラ一フエエルフェ ノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル一 8—キノ リノラ ト) (2, 3 —ジメチルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチルー 8—キノ リノ ラ ト) (2, 6—ジメチルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル —8—キノ リノラ ト) (3, 4—ジメチルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビ ス (2—メチルー 8—キノリノラ ト) (3, 5—ジメチルフエノラ ト) アルミ二 ゥム(111)、 ビス (2—メチル一 8—キノリノラ ト) (3, 5—ジ一tert—ブチ ルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス ( 2—メチル一 8—キノ リ ノラ ト)
(2, 6—ジフエニルフエノラ ト) アルミニウム(ΙΠ)、 ビス (2—メチル一8 —キノ リノラ ト) (2, 4, 6—トリフエニルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル一8—キノ リノラ ト) (2, 3, 6— トリメチルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチルー 8—キノ リノラ ト) (2, 3, 5, 6 ーテトラメチルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル一8—キノ リノラ ト) (1—ナフトラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル一8—キ ノ リノラ ト) (2—ナフ トラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2, 4—ジメチル 一 8—キノ リノラ ト) (オルト一フエエルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビ ス (2, 4—ジメチル一 8—キノ リノラ ト) (パラーフエユルフェノラ ト) アル ミニゥム(111)、 ビス (2, 4—ジメチルー 8—キノ リノラ ト) (メタ一フエ二 ノレフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2, 4—ジメチル一 8—キノ リノラ ト) (3, 5—ジメチルフエノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2, 4—ジメ チルー 8—キノ リノラ ト) (3, 5—ジ一 tert—ブチルフエノラ ト) アルミユウ ム(111)、 ビス (2—メチル一4ーェチルー 8—キノ リノラ ト) (パラーク ラ ト) アルミニウム(ΠΙ)、 ビス (2—メチル一 4—メ トキシ一 8—キノ リノラ ト) (パラーフエユルフェノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル一 5 —シァノ一 8—キノ リノラ ト) (オルト一クレゾラ ト) アルミニウム(111)、 ビ ス (2—メチル一 6—トリフルォロメチル一 8—キノ リノラ ト) (2—ナフ トラ ト) アルミニウム(III)等がある。
このほか、 ビス (2—メチル一 8—キノ リノラ ト) アルミニウム(III)一 ^— ォキソ一ビス (2—メチルー 8—キノ リノラ ト) アルミニウム(ΠΙ)、 ビス (2 , 4ージメチル一 8—キノ リノラ ト) アルミニウム(III)— μ—ォキソ一ビス (2 , 4—ジメチル一 8—キノ リノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (4—ェチルー 2 —メチル一 8—キノ リノラ ト) アルミニウム(III)— ォキソ一ビス (4—ェ チル一 2 _メチル一 8—キノリノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル —4—メ トキシキノリノラ ト) アルミニウム(ΠΙ)— 一ォキソ一ビス (2—メ チル一 4—メ トキシキノリノラト) アルミニウム(111)、 ビス (5—シァノ一 2 一メチル一 8—キノ リノラ ト) アルミニウム(III)— μ—ォキソ一ビス (5—シ ァノ一 2 _メチル _ 8—キノ リノラ ト) アルミニウム(111)、 ビス (2—メチル 一 5— トリフルォロメチル一 8—キノ リノラ ト) アルミニウム(III)— μ—ォキ ソ一ビス (2—メチルー 5—トリフルォロメチル一 8—キノリノラ ト) ァノレミニ ゥム(III)等であってもよい。
このほかのホスト物質としては、 特開平 8— 1 2 6 0 0号公報 (特願平 6— 1 1 0 5 6 9号) に記載のフエ二ルアントラセン誘導体ゃ特開平 8— 1 2 9 6 9号 公報 (特願平 6— 1 1 4 4 5 6号) に記載のテトラァリ一ルェテン誘導体なども 好ましい。
発光層は電子輸送層を兼ねたものであってもよく、 このような場合はトリス ( 8—キノ リノラ ト) アルミニウム等を使用することが好ましい。 これらの蛍光 性物質を蒸着すればよい。 また、 発光層は、 必要に応じて、 少なくとも 1種のホール注入輸送性化合物と 少なくとも 1種の電子注入輸送性化合物との混合層とすることも好ましく、 さら にはこの混合層中にドーパントを含有させることが好ましい。 このような混合層 における化合物の含有量は、 0 . 0 1〜2 0 wt%、 さらには 0 . l〜1 5 wt。/。とす ることが好ましい。
混合層では、 キャリアのホッピング伝導パスができるため、 各キャリアは極性 的に有利な物質中を移動し、 逆の極性のキヤリァ注入は起こりにくくなるため、 有機化合物がダメージを受けにくくなり、 素子寿命がのびるという利点がある。 また、 前述のドーパントをこのような混合層に含有させることにより、 混合層自 体のもつ発光波長特性を変化させることができ、 発光波長を長波長に移行させる ことができるとともに、 発光強度を高め、 素子の安定性を向上させることもでき る。
混合層に用いられるホール注入輸送性化合物および電子注入輸送性化合物は、 各々、 後述のホール注入輸送性化合物および電子注入輸送性化合物の中から選択 すればよい。 なかでも、 ホール注入輸送性化合物としては、 強い蛍光を持ったァ ミン誘導体、 例えばホール輸送性化合物であるトリフエ二ルジァミン誘導体、 さ らにはスチリルァミン誘導体、 芳香族縮合環を持つアミン誘導体を用いるのが好 ましい。
電子注入輸送性の化合物としては、 キノリン誘導体、 さらには 8—キノリノ一 ルないしその誘導体を配位子とする金属錯体、 特にトリス (8—キノリノラト) アルミニウム (A 1 q 3) を用いることが好ましい。 また、 上記のフエ二ルアン トラセン誘導体、 テトラァリールェテン誘導体を用いるのも好ましい。
ホール注入輸送層用の化合物としては、 強い蛍光を持ったァミン誘導体、 例え ば上記のホール輸送性化合物であるトリフエ二ルジァミン誘導体、 さらにはスチ リルアミン誘導体、 芳香族縮合環を持つアミン誘導体を用いるのが好ましい。 この場合の混合比は、 それぞれのキャリア移動度とキャリア濃度によるが、 一 般的には、 ホール注入輸送性化合物の化合物/電子注入輸送機能を有する化合物 の重量比が、 1 99〜99Zl、 さらに好ましくは 10 90〜9 OZl 0、 特に好ましくは 20/80〜80/20程度となるようにすることが好ましい。 また、 混合層の厚さは、 分子層一層に相当する厚み以上で、 有機化合物層の膜 厚未満とすることが好ましい。 具体的には 1〜85nmとすることが好ましく、 さ らには 5〜6 Onm、 特には 5〜5 Onmとすることが好ましい。
また、 混合層の形成方法としては、 異なる蒸着源より蒸発させる共蒸着が好ま しいが、 蒸気圧 (蒸発温度) が同程度あるいは非常に近い場合には、 予め同じ蒸 着ボード内で混合させておき、 蒸着することもできる。 混合層は化合物同士が均 一に混合している方が好ましいが、 場合によっては、 化合物が島状に存在するも のであってもよい。 発光層は、 一般的には、 有機蛍光物質を蒸着するか、 あるい は、 樹脂バインダー中に分散させてコ一ティングすることにより、 発光層を所定 の厚さに形成する。
また、 ホール注入輸送性化合物は、 例えば、 特開昭 63— 295695号公報、 特開平 2— 1 9 1694号公報、 特開平 3— 792号公報、 特開平 5— 2346 81号公報、 特開平 5— 239455号公報、 特開平 5— 2991 74号公報、 特開平 7— 126225号公報、 特開平 7— 126226号公報、 特開平 8— 1 00172号公報、 EP 0650955 A 1等に記載されている各種有機化合物 を用いることができる。 例えば、 テトラァリールべンジシン化合物 (トリァリー ルジァミンないしトリフエ二ルジァミン: TPD) 、 芳香族三級ァミン、 ヒ ドラ ゾン誘導体、 力ルバゾール誘導体、 トリァゾ一ル誘導体、 イミダゾ一ル誘導体、 アミノ基を有するォキサジァゾール誘導体、 ポリチォフェン等である。 これらの 化合物は、 1種のみを用いても、 2種以上を併用してもよい。 2種以上を併用す るときは、 別層にして積層したり、 混合したりすればよい。 必要に応じて設けられる電子輸送層には、 トリス (8—キノリノラト) アルミ ニゥム (A l q 3) 等の 8—キノリノールまたはその誘導体を配位子とする有機 金属錯体などのキノリン誘導体、 ォキサジァゾール誘導体、 ペリレン誘導体、 ピ リジン誘導体、 ピリ ミジン誘導体、 キノキサリン誘導体、 ジフエ二ルキノン誘導 体、 ニトロ置換フルオレン誘導体等を用いることができる。 電子輸送層は発光層 を兼ねたものであってもよく、 このような場合はトリス (8—キノリノラト) ァ ノレミニゥム等を使用することが好ましい。 電子輸送層の形成は、 発光層と同様に、 蒸着等によればよい。 この有機物材料の電子輸送層は、 通常、 必要ではないが、 素子の構成その他の条件により設けてもよい。
ホール注入輸送層、 発光層および有機材料の電子輸送層の形成には、 均質な薄 膜が形成できることから、 真空蒸着法を用いることが好ましい。 真空蒸着法を用 いた場合、 アモルファス状態または結晶粒径が 0 . 2 m以下の均質な薄膜が得 られる。 結晶粒径が 0 . 2 μ ιηを超えていると、 不均一な発光となり、 素子の駆 動電圧を高くしなければならなくなり、 ホールの注入効率も著しく低下する。 真空蒸着の条件は特に限定されないが、 1 0一4 Pa以下の真空度とし、 蒸着速 度は 0 . 0 l〜l nra/sec程度とすることが好ましい。 また、 真空中で連続して 各層を形成することが好ましい。 真空中で連続して形成すれば、 各層の界面に不 純物が吸着することを防げるため、 高特性が得られる。 また、 素子の駆動電圧を 低くしたり、 ダークスポットの発生 ·成長を抑制したりすることができる。
これら各層の形成に真空蒸着法を用いる場合において、 1層に複数の化合物を 含有させる場合、 化合物を入れた各ボートを個別に温度制御して共蒸着すること が好ましい。
さらに、 素子の有機層や電極の酸化を防ぐために、 素子上を封止板等により封 止することが好ましい。 封止板は、 湿気の侵入を防ぐために、 接着性樹脂層を用 いて、 封止板を接着し密封する。 封止ガスは、 A r、 H e、 N。等の不活性ガス 等が好ましい。 また、 この封止ガスの水分含有量は、 l O O ppm以下、 より好ま しくは l O ppm以下、 特には l ppm以下であることが好ましい。 この水分含有量に 下限値は特にないが、 通常 0 . l ppm程度である。
封止板の材料としては、 好ましくは平板状であって、 ガラスや石英、 樹脂等の 透明ないし半透明材料が挙げられるが、 特にガラスが好ましい。 このようなガラ ス材として、 コストの面からアルカリガラスが好ましいが、 この他、 ソ一ダ石灰 ガラス、 鉛アルカリガラス、 ホウケィ酸ガラス、 アルミノケィ酸ガラス、 シリカ ガラス等のガラス組成のものも好ましい。 特に、 ソーダガラスで、 表面処理の無 いガラス材が安価に使用でき、 好ましい。 封止板としては、 ガラス板以外にも、 金属板、 プラスチック板等を用いることもできる。
封止板は、 スぺーサ一を用いて高さを調整し、 所望の高さに保持してもよレ、。 スぺーサ一の材料としては、 樹脂ビーズ、 シリカビーズ、 ガラスビーズ、 ガラス ファイバ一等が挙げられ、 特にガラスビーズ等が好ましい。 スぺーサ一は、 通常、 粒径の揃った粒状物であるが、 その形状は特に限定されるものではなく、 スぺー サ一としての機能に支障のないものであれば種々の形状であってもよい。 その大 きさとしては、 円換算の直径が 1〜2 0 μ πκ より好ましくは 1〜1 Ο μ ηι、 特に 2〜8 が好ましレ、。 このような直径のものは、 粒長 1 0 0 μ ηι以下程度である ことが好ましく、 その下限は特に規制されるものではないが、 通常直径と同程度 以上である。
なお、 封止板に凹部を形成した場合には、 スぺーサ一は使用しても、 使用しな くてもよい。 使用する場合の好ましい大きさとしては、 前記範囲でよいが、 特に 2〜8 μ πιの範囲が好ましい。
スぺーサ一は、 予め封止用接着剤中に混入されていても、 接着時に混入しても よい。 封止用接着剤中におけるスぺーサ一の含有量は、 好ましくは 0 . 0 1〜3 O wt%, より好ましくは 0 . :!〜 5 wt%である。 接着剤としては、 安定した接着強度が保て、 気密性が良好なものであれば特に 限定されるものではないが、 カチオン硬化タイプの紫外線硬化型エポキシ樹脂接 着剤を用いることが好ましい。
本発明において、 有機 EL構造体を形成する基板としては、 非晶質基板たとえ ばガラス、 石英など、 結晶基板たとえば、 S i、 GaA s、 Zn S e、 Zn S、 Ga P、 I nPなどがあげられ、 またこれらの結晶基板に結晶質、 非晶質あるい は金属のバッファ層を形成した基板も用いることができる。 また金属基板として は、 Mo、 A l、 P t、 I r、 Au、 P dなどを用いることができ、 好ましくは ガラス基板が用いられる。 基板は、 通常光取り出し側となるため、 上記電極と同 様な光透過性を有することが好ましい。
さらに、 本発明素子を、 平面上に多数並べてもよい。 平面上に並べられたそれ ぞれの素子の発光色を変えて、 カラーのディスプレーにすることができる。 基板に色フィルタ一膜や蛍光性物質を含む色変換膜、 あるいは誘電体反射膜を 用いて発光色をコントロールしてもよレ、。
色フィルター膜には、 液晶ディスプレイ等で用いられているカラーフィルター を用いれば良いが、 有機 EL素子の発光する光に合わせてカラーフィルタ一の特 性を調整し、 取り出し効率 ·色純度を最適化すればよい。
また、 E L素子材料や蛍光変換層が光吸収するような短波長の外光を力ットで きるカラーフィルターを用いれば、 素子の耐光性 ·表示のコントラストも向上す る。
また、 誘電体多層膜のような光学薄膜を用いてカラーフィルタ一の代わりにし ても良い。
蛍光変換フィルタ一膜は、 EL発光の光を吸収し、 蛍光変換膜中の蛍光体から 光を放出させることで、 発光色の色変換を行うものであるが、 組成としては、 バ インダー、 蛍光材料、 光吸収材料の三つから形成される。 蛍光材料は、 基本的には蛍光量子収率が高いものを用いれば良く、 E L発光波 長域に吸収が強いことが望ましい。 実際には、 レーザ一色素などが適しており、 ローダミン系化合物 .ペリ レン系化合物 · シァニン系化合物 · フタロシアニン系 化合物 (サブフタロシアニン等も含む) ナフタロイミ ド系化合物 ·縮合環炭化水 素系化合物 ·縮合複素環系化合物 ·スチリル系化合物 · クマリン系化合物等を用 いればよい。
バインダ一は、 基本的に蛍光を消光しないような材料を選べば良く、 フォトリ ソグラフィ一 ·印刷等で微細なパターユングが出来るようなものが好ましい。 ま た、 基板上にホール注入電極と接する状態で形成される場合、 ホール注入電極 ( I T O、 I ζ〇) の成膜時にダメージを受けないような材料が好ましい。
光吸収材料は、 蛍光材料の光吸収が足りない場合に用いるが、 必要のない場合 は用いなくても良い。 また、 光吸収材料は、 蛍光性材料の蛍光を消光しないよう な材料を選べば良い。
本発明の有機 E L素子は、 通常、 直流駆動型、 パルス駆動型の E L素子として 用いられるが、 交流駆動とすることもできる。 印加電圧は、 通常、 2〜 3 0 V程 度とされる。
実施例
以下、 本発明の具体的実施例を示し、 本発明をさらに詳細に説明する。
ぐ実施例 1 >
ガラス基板としてコーユング社製商品名 7 0 5 9基板を中性洗剤を用いてスク ラブ洗浄した。
この基板上を真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、 槽内を 1 X 1 0— 4Pa 以下まで減圧した。 次いで、 減圧を保ったまま、 A 1を 2 O nmの厚さに蒸着し、 続けて L i 2 0を 5 nmの厚さに蒸着して補助電極および電子注入電極とした。 さらに、 減圧を保ったまま、 スパッタ装置に移し、 ターゲットに、 酸化力リウ ム (K20 :電子親和力 2. OeV) に対して酸化シリコン (S i〇2) を 5mol% 混合したものを用い、 無機電子注入層を lnmの膜厚に成膜した。 このときの成膜 条件として、 基板温度 25°C、 スパッタガス A rに〇2を 1 : 1となるように混 合し、 成膜レート lnm/min、 動作圧力 0. 5Pa、 投入電力 5 W/cm2とした。 減圧を保ったまま、 N, N, N' , N' —テトラキス (m—ビフエニル) 一 1, 1 ' —ビフエ二ルー 4, 4 ' —ジァミン (TPD) と、 トリス (8—キノリノラ ト) ァノレミニゥム (A 1 q3) と、 ルブレンとを、 全体の蒸着速度 0. 2nm/sec として 40 nmの厚さに蒸着し、 発光層とした。 TPD : A l q3= l : l (重量 比) 、 この混合物に対してルブレンを 0. 5mol%ド一プした。
次いで、 蒸着法により、 T PDを蒸着速度 0. InmZsecで 2 Onmの厚さに蒸 着してホール輸送層を形成し、 ポリチォフェンを蒸着速度 0. Inm/secで 10η mの厚さに蒸着してホール注入層を形成した。
さらに、 I TO酸化物ターゲットを用い DCマグネトロンスパッタリング法に より、 膜厚 20 Onmの I T Oホール注入電極層を形成した。
最後にガラス封止して有機 EL素子 (逆積層) を得た。
上記において、 無機ホール注入層を成膜する代わりに、 蒸着法により、 トリス (8—キノリノラト) アルミニウム (A l q3) を蒸着速度 0. 2nm/secとして 3 Onmの厚さに蒸着し、 電子注入輸送層とした有機 EL素子を作製し、 比較サン プルとした。
K2OZS i〇2混合薄膜を蛍光 X線分析により組成分析した結果、 K20に対 する S i〇2の mol比が、 4. 9%であった。
得られた有機 EL素子に空気中で、 電界を印加したところ、 ダイオード特性を 示し、 I TO側をプラス、 A 1 L i側をマイナスにバイアスした場合、 電流は、 電圧の増加とともに増加し、 封止板側から観察して通常の室内ではっきりとした 発光が観察された。 また、 繰り返し発光動作をさせても、 輝度の低下はみられな かった。
次に、 加速試験として、 1 0 OmA/cm2の一定電流で発光輝度、 寿命特性を調 ベた。 従来の有機材料を電子注入輸送層としたこと以外全く同様の比較サンプル に比べ、 10%程度発光輝度が向上していた。 また、 比較サンプルは 200時間 で輝度が半減したのに対して本発明サンプルは、 200時間で 80%以上の輝度 を保っていた。
本実施例により、 優れた寿命特性が得られた理由として、 電子注入層を、 有機 化合物に代えて、 化学的安定な無機酸化物を用いたことにより、 ホールをブロッ クし、 かつ、 発光層への電子の注入を効果的に、 長時間にわたって安定に行われ たためであると考えられる。
ぐ実施例 2 >
実施例 1と同様な基板をスパッタ装置の基板ホルダ一に固定し、 I TO酸化物 ターゲットを用い DCマグネトロンスパッタリング法により、 膜厚 20 Onmの I T oホール注入電極層を形成した。
I TOが成膜された基板を、 中性洗剤、 アセトン、 エタノールを用いて超音波 洗浄し、 煮沸エタノール中から引き上げて乾燥した。 次いで、 表面を uvZ〇3 洗浄した後、 真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、 槽内を 1 X 1 0— 4Pa以 下まで減圧した。
次いで、 蒸着法により、 ポリチォフェンを蒸着速度 0. lnm/secで 1 Onmの 厚さに蒸着してホール注入層を形成し、 TPDを蒸着速度 0. lnm/secで 2 On mの厚さに蒸着してホール輸送層を形成した。
減圧を保ったまま、 N, N, N' , N' ーテトラキス (m—ビフエニル) 一 1, 1 ' —ビフエニル一 4, 4' —ジァミン (TPD) と、 トリス (8—キノリノラ ト) アルミニウム (A l q3) と、 ルブレンとを、 全体の蒸着速度 0. 2腿/ sec として 4 Onmの厚さに蒸着し、 発光層とした。 TPD : A 1 q3= 1 : 1 比) 、 この混合物に対してルブレンを 0. 5mol%ド一プした。
さらに、 減圧を保ったまま、 スパッタ装置に移し、 ターゲットに、 酸化力リウ ム (K20 :電子親和力 2. 0) に対して酸化シリコン (S i〇2) を 5 mol% 混合したものを用い、 無機絶縁性電子注入層を lnmの膜厚に成膜した。 成膜条件 として、 基板温度 25°C、 成膜レート InmZmin、 動作圧力 0. 5Pa、 投入電力 5W/cm2とした。 このとき、 初めにスパッタガスを A r : 1 00%として 1 0 0SCCM供給しながら無機絶縁性電子注入層を 0. 5nmの膜厚に成膜し、 続けて A r/02 : lZlとして 100 SCCM供給しながら無機絶縁性電子注入層を 0. 5 nmの膜厚に成膜した。
さらに、 減圧を保ったまま、 L i 20を 5nmの厚さに蒸着し、 続けて A 1を 2 0 nmの厚さに蒸着して電子注入電極および補助電極とした。
最後にガラス封止して有機 EL素子 (正積層) を得た。
K2OZS i〇2混合薄膜を蛍光 X線分析により組成分析した結果、 下層 (o2 なしで成膜) の酸素含有量が、 通常の 70%程度であった。
ホール注入電極、 電子注入電極間に電圧を印加し、 実施例 1と同様にして駆動 したところ、 基板側から確認して、 実施例 1とほぼ同様な発光が確認できた。 ぐ実施例 3〉
ガラス基板としてコーニング社製商品名 7059基板を中性洗剤を用いてスク ラブ洗浄した。
この基板上を真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、 槽内を I X 1 0一4 Pa 以下まで減圧した。 次いで、 減圧を保ったまま、 A 1を 2 Onmの厚さに蒸着し、 続けて L i 2〇を 5 nmの厚さに蒸着して補助電極および電子注入電極とした。 さらに、 減圧を保ったまま、 スパッタ装置に移し、 ターゲットに、 酸化ルビジ ゥム (Rb2〇) に対して酸化ゲルマニウム (G e〇2) を 3mol%混合したもの を用い、 無機電子注入層を 1腹の膜厚に成膜した。 このときの成膜条件として、 基板温度 25°C、 スパッタガス A rに 02を 1 : 1となるように混合し、 成膜レ ート lnmZmin、 動作圧力 0. 5Pa、 投入電力 5 WZcm2とした。
減圧を保ったまま、 N, N, N' , N' —テトラキス (m—ビフエニル) 一 1, 1' —ビフエニル一 4, 4' ージァミン (TPD) と、 トリス (8—キノリノラ ト) アルミニウム (A l q3) と、 ルブレンとを、 全体の蒸着速度 0. 2nm/sec として 4 Onmの厚さに蒸着し、 発光層とした。 TPD: A 1 q3= 1 : 1 (重量 比) 、 この混合物に対してルブレンを 0. 5mol%ドープした。
次いで、 蒸着法により、 TPDを蒸着速度 0. InmZsecで 2 Ornnの厚さに蒸 着してホール輸送層を形成し、 ポリチォフェンを蒸着速度 0. InmZsecで 10η mの厚さに蒸着してホール注入層を形成した。
さらに、 I TO酸化物タ一ゲットを用い DCマグネトロンスパッタリング法に より、 膜厚 20 Onmの I TOホール注入電極層を形成した。
最後にガラス封止して有機 EL素子 (逆積層) を得た。
上記において、 無機ホール注入層を成膜する代わりに、 蒸着法により、 トリス (8—キノリノラト) アルミニウム (A 1 q3) を蒸着速度 0. 2nm/secとして 3 Onmの厚さに蒸着し、 電子注入輸送層とした有機 EL素子を作製し、 比較サン プルとした。
R b 20/G e 02混合薄膜を蛍光 X線分析により組成分析した結果、 R b 2〇 に対する G e 02の mol比が、 2. 9%であった。
得られた有機 EL素子に空気中で、 電界を印加したところ、 ダイオード特性を 示し、 I TO側をプラス、 A 1 L i側をマイナスにバイアスした場合、 電流は、 電圧の増加とともに増加し、 封止板側から観察して通常の室内ではっきりとした 発光が観察された。 また、 繰り返し発光動作をさせても、 輝度の低下はみられな かった。
次に、 加速試験として、 10 OmAZcm2の一定電流で発光輝度、 寿命特性を調 ベた。 従来の有機材料を電子注入輸送層としたこと以外全く同様の比較- に比べ、 10%程度発光輝度が向上していた。 また、 比較サンプルは 200時間 で輝度が半減したのに対して本発明サンプルは、 200時間で 80%以上の輝度 を保っていた。
本実施例により、 優れた寿命特性が得られた理由として、 実施例 1と同様に電 子注入層を、 有機化合物に代えて、 化学的安定な無機酸化物を用いたことにより、 ホールをブロックし、 かつ、 発光層への電子の注入を効果的に、 長時間にわたつ て安定に行われたためであると考えられる。
く実施例 4 >
実施例 1において、 無機電子注入層の主成分を、 酸化カリウム (κ2ο) に代 えて、 酸化リチウム (L i 23) , 酸化ナトリウム (Na 2〇) , 酸化セシウム (C s 2〇) , 酸化カルシウム (C a O) , 酸化ス トロンチウム (S r O) , 酸 化バリウム (B a O) , 酸化イットリウム (Υ203) , 酸化ハフニウム (H f 02) , 酸化テルビウム (Tb 23) および酸化トリウム (Th〇2) の:!種ま たは 2種以上を含有するものとした他は実施例 1と同様にして有機 EL素子を得 たところ、 実施例 1とほぼ同様の結果が得られた。 発明の効果
以上のように本発明によれば、 有機材料と無機材料の有するメリットを併せ持 ち、 長寿命で、 効率が改善され、 動作電圧が低い有機 EL素子を提供することが できる。

Claims

請求の範囲
1. 基板上に、 ホール注入電極と電子注入電極とを有し、 これらの電極間に少 なくとも発光機能に関与する有機層を有する有機 EL素子であって、
前記電子注入電極と有機層との間には、 主成分として電子親和力 3 eV以下の酸 化物を含有し、 これに安定成分が添加されている無機絶縁性電子注入層を有する 有機 EL素子。
2. 前記無機絶縁性電子注入層は、 安定成分として、 酸化ゲルマニゥム ( G e 〇2) およびノまたは酸化シリ コン (S i〇2) を含有する請求の範囲第 1項記 載の有機 EL素子。
3. 前記安定成分としての酸化ゲルマニウム (Ge〇2) および/または酸化 シリ コン (S i 02) を、 前記主成分に対して、 G e 02および Zまたは S i 02 換算で 5 Omol%以下含有する請求の範囲第 1項または第 2項記載の有機 E L素 子。
4. 前記主成分として、 酸化リチウム (L i 203) , 酸化ナトリウム (Na 2 O) , 酸化カリウム (Κ20) , 酸化ルビジウム (R b 2〇) , 酸化セシウム (C s 20) , 酸化カルシウム (C a O) , 酸化ス トロンチウム (S r O) , 酸 化バリウム (B a O) , 酸化イットリウム (Υ203) , 酸化ハフニウム (H i 02) , 酸化テルビウム (Tb 203) および酸化トリウム (Th02) の 1種ま たは 2種以上を含有する請求の範囲第 1項〜第 3項のいずれかに記載の有機 E L 素子。
5. 基板上に、 少なくとも電子注入電極と、 無機絶縁性電子注入層と、 発光層 と、 ホ一ル注入電極とが順次積層されている請求の範囲第 1項〜第 4項のいずれ かに記載の有機 EL素子。
6. 前記無機絶縁性電子注入層は、 有機層側に酸素が多く、 電子注入電極側に 酸素が少ない構造を有する請求の範囲第 1項〜第 5項のいずれかに記載の有機 E L素子。
7 . 基板上に、 少なくともホール注入電極と、 有機層と、 無機絶縁性電子注入 層と、 電子注入電極とが順次積層されている請求の範囲第 6項記載の有機 E. L素 子。
8 . 電子注入電極と有機層との間に、 主成分として電子親和力 3 eV以下の酸化 物を含有し、 これに安定成分が添加されている無機絶縁性電子注入層を成膜する に際し、
酸素を加えることなく全体の膜厚の 1 Z 5〜 4 / 5成膜した後、 O 2を 1〜 9 9 %程度添加して残りの部分を成膜する有機 E L素子の製造方法。
9 . 請求の範囲第 6項または第 7項記載のの有機 E L素子を得る請求の範囲第 8項記載の有機 E L素子の製造方法。
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