WO2001013157A1 - Appareil d'imagerie spectrometrique - Google Patents

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WO2001013157A1
WO2001013157A1 PCT/FR2000/002278 FR0002278W WO0113157A1 WO 2001013157 A1 WO2001013157 A1 WO 2001013157A1 FR 0002278 W FR0002278 W FR 0002278W WO 0113157 A1 WO0113157 A1 WO 0113157A1
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imaging apparatus
spectrometric imaging
deflector assembly
confocal
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PCT/FR2000/002278
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Edouard Da Silva
Michel Delhaye
Michel Leclercq
Bernard Roussel
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Horiba Jobin Yvon SAS
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Horiba Jobin Yvon SAS
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    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
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    • G01J3/2823—Imaging spectrometer
    • G—PHYSICS
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    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052—Optical details of the image generation
    • G02B21/0064—Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling

Definitions

  • the present invention relates to a spectrometric imaging device, in particular of the Raman or low level fluorescence type.
  • an assembly comprising: • a lighting and excitation system including a first confocal opening,
  • Such an embodiment makes it possible to considerably reduce the analysis time of a sample compared to conventional confocal spectrometry devices.
  • Line scanning of the object can be exploited by scanning the spectrometer's entry slit with the light beam.
  • the device of this previous application also offers a magnification factor, due to the use of two synchronous deflectors, which makes it possible to change the dimension of a scanned image in an object space, from the maximum dimension covered by the objective of the confocal microscopy assembly to a very reduced dimension which is only limited by the detectable energy threshold.
  • the content of this previous request EP-A1 -0.502.752 must be considered as an integral part of this request, for all that relates to the realization mentioned above.
  • the present invention relates to a spectrometric imaging device making it possible to extend the application of the device known by the previous application to the whole spectral domain useful for Raman spectroscopy, and which may have an easier use than the prior device.
  • the invention relates to a spectrometric imaging device comprising:
  • a lighting and excitation system including a first confocal opening
  • a first deflector assembly capable of scanning over a sample of the lines and a second synchronized deflector assembly, placed respectively downstream and upstream of the second confocal opening, illuminating a spectrometer comprising:
  • the spectrometer has an entry opening which coincides with the second confocal opening.
  • the second deflector assembly is thus disposed downstream of the entry of the spectrometer. This entry is a confocal opening.
  • the first and second confocal openings preferably consist of adjustable holes, obtained by means such as diaphragms by transmission or reflection. They are approximately circular and of small dimensions
  • the imager of the invention simplifies mounting by reducing the number of optical parts, which is an important advantage in particular in the ultraviolet range, and by eliminating a separate confocal opening.
  • the spectrometric imaging device according to the invention has the advantage of being able to be integrated into a device said to be infinite, which involves parallel beams.
  • the elements of the imager of the invention can be inserted in the form of blocks in pre-existing devices comprising an infinity microscope and / or in an infinity spectrometer.
  • the spectrometric imaging device of the invention is intended for Raman or low level fluorescence spectroscopy.
  • the dispersive spectrometer is preferably stigmatic, that is to say that it gives, for each point of the entry aperture, a spectral image covering a line of pixels of a two-dimensional multichannel detector.
  • the first deflector assembly comprises a substantially afocal optic and is placed on a parallel beam.
  • this first deflector assembly does not introduce any loss of signal. It ensures both:
  • the first deflector assembly can be of the refractive or reflective type (that is to say operating respectively in refraction or in reflection).
  • the latter comprises a converging lens, a diverging lens and a first refractive deflector placed between these lenses.
  • the latter comprises mirrors and a first deflector in reflection capable of receiving from one of these mirrors a parallel beam and of reflecting this parallel beam towards another of the mirrors.
  • the mirrors advantageously include spherical mirrors.
  • the first deflector assembly includes a first deflector which, by means of optical elements, is provided for performing a two-way scan dimensions on a sample.
  • the first deflector in combination with the first or second preferred embodiments of the afocal optics, is then capable of scanning over a sample of the frames, in a direction perpendicular to the lines.
  • the first deflector assembly comprises means for translating the lenses or mirrors, making it possible to scan this line in a direction perpendicular to this line.
  • the scanning of the line by the first deflector is then for example carried out by the rotation of an optical element
  • the first deflector scans a line and the associated elements in afocal optics scans perpendicular to this line; the deflection obtained by these elements, called frame deflection, is then much slower than that produced by the first deflector, called line deflection (the line deflection frequency is an integer multiple of the frame deflection frequency).
  • the first deflector is capable of scanning a line on a sample, for example by the rotation of an optical element, and it is itself mounted on a mobile device, making it possible to move this line, over the object, in a direction perpendicular to this line (weft scanning).
  • the first deflector assembly also produces a sweep according to a third dimension, parallel to the beam (in-depth analysis of the sample) allowing the generation of three-dimensional spectral confocal images.
  • the second deflector assembly placed in the spectrometer, produces a deflection constituting a line deflection (perpendicular to the grating lines formed on the multichannel detector), which is synchronous with that effected by the first deflector assembly.
  • This second deflector assembly is preferably reflective. It thus reduces the effects of stray light.
  • the second deflector assembly is refractive.
  • the first and second deflector assemblies produce synchronous deflections having variable amplitudes allowing a change in magnification.
  • a controlled movement in the axis of the microscope makes it possible to generate three-dimensional spectral confocal images.
  • the second deflector assembly In a first preferred mode of placement of the second deflector assembly, it is placed between the entry opening of the spectrometer and the multi-channel detector.
  • the spectrometer comprises a first lens or collimator and the second deflector assembly is disposed between the inlet opening and this first lens.
  • the spectrometer comprises a first spherical mirror upstream of the spectral disperser and the second deflector assembly is placed between the inlet opening and this spherical mirror.
  • the second deflector assembly In a particular mode of placement of the second deflector assembly, it is placed between the spectral disperser and the multi-channel detector.
  • the second deflector assembly In a second mode of placing the second deflector assembly, it is constituted by at least part of the spectral disperser itself. Deflection can then be obtained by an oscillation of the spectral disperser or one of its optical elements or by a device crossed with this disperser.
  • a third mode of placement of the second deflector assembly it is constituted by the multi-channel detector.
  • the second deflector assembly then uses the transfer of charges on a charge-coupled circuit (CCD) of the multichannel detector.
  • CCD charge-coupled circuit
  • the imager comprises an optical fiber placed between the first and the second synchronous deflector assemblies, coupled to the entry opening of the spectrometer and intended to remotely transport the information which makes it possible to construct a spatial image.
  • confocal the second confocal opening can be projected on the optical fiber, which transports the information. It is then necessary to transport or control the scanning phase to ensure the synchronization of the deflectors.
  • FIG. 1 shows an overall diagram of a first embodiment of a spectrometric imaging apparatus according to the invention and its use;
  • - Figure 2 illustrates a first embodiment of the first deflector assembly of the imager of Figure 1;
  • FIG. 3 illustrates a second reflective embodiment of the first deflector assembly of the imager of Figure 1;
  • FIG. 4 shows in simplified perspective the deflector of the first deflector assembly of Figure 3;
  • FIG. 5 shows in front view the deflector of the first deflector assembly of Figure 3;
  • FIG. 6 shows in side view the deflector of the first deflector assembly of Figure 3; - Figure 7 shows a third embodiment of the first deflector assembly of the apparatus of Figure 1 and - Figure 8 illustrates a second embodiment of a spectrometric imaging apparatus according to the invention.
  • a spectrometric imaging device comprises a microscopic lighting system 1 and a spectrometer 2.
  • the microscopic lighting system 1 comprises an excitation source such as a laser 10 associated with a first confocal opening, such as an adjustable hole in size and position.
  • the system 1 also includes a microscope objective 1 1, to which a laser beam emitted by the laser 10 is directed after spatial filtering through the aperture 1 5, reflection on a partially reflecting separator 12 and reflection on a plane mirror 13.
  • the system 1 also includes a first deflector assembly 31, making it possible to scan a sample 3 according to one, two or three dimensions.
  • the system 1 also has a second optical system conducting a beam emitted by the sample 3, collected by the microscope objective 1 1 and transmitted by the separator 12, to the spectrometer 2.
  • This second optical system comprises, by example, a converging optic 14.
  • the spectrometer 2 is a multichannel spectrometer equipped with a two-dimensional detector 23. Most often the two-dimensional detector is associated with processing means which collect the signals which it produces in real time and can supply them. a representation either in real time or in deferred time. In the rest of this text, the photoelectric converter itself and the associated processing means will generally be referred to as a detector.
  • the spectrometer comprises an entrance opening 25, which constitutes a second confocal opening combined with the first confocal opening 15. An approximately circular hole of small dimension, formed in a cover, is called the confocal opening.
  • the second confocal opening 25 therefore holds here, in the spectrometer, the role usually assigned to a slot in grating spectrometers.
  • the spectrometer also includes a first optic 21 or collimator and a spectral disperser 22, in the form of an array of diffraction.
  • a diffraction grating is formed by lines which are parallel to each other.
  • a parallel light beam incident on the grating is scattered in the scattering plane which is perpendicular to the lines of the grating.
  • the spectrometer is equipped with a second deflector assembly 32, arranged in the example shown between the inlet opening 25 and the optics 21.
  • a laser beam emitted by the laser 10 and deflected by the deflector assembly 31 is sent towards the sample 3.
  • This beam scans a line 40 of the sample 3.
  • the Raman light flux successively diffused by each of the points of this line 40 of the sample is collected by the objective of the microscope 11 and focused, after passage through the first deflector assembly 31, at an entry point of the spectral disperser 22.
  • the second deflector assembly 32 synchronized with the first produces a scan parallel to the lines of the network and addresses the light spectrum 43 coming from each point of the line 40 scanned on a line of the detector 23.
  • the detector 23 is thus obtained vertically, for example, the spatial distribution of the line 40 (line 41) and horizontally, the spectral data 43 (lines 42).
  • the second deflector assembly 32 is in practice adjusted so that its deflection on the detector 23 corresponds to the vertical dimension of the latter and the first deflector assembly 31, synchronous with the deflector assembly 32, is adjusted between zero and a limited maximum value. by the objective field (the zero value corresponding to the analysis of a point).
  • the first deflector assembly 31 includes an afocal lens.
  • this first deflector assembly referenced 31 A comprises a refractive deflector 50 placed between a converging lens 51 and a diverging lens 52.
  • the lenses 51 and 52 respectively have neighboring focal distances one from the other.
  • the first deflector assembly 31A is such that an incident parallel beam 55 emerges in the form of a deflected q-parallel beam 56.
  • the lenses 51 and 52 are fixed and the deflector 50 produces the desired deflections.
  • referenced 31 B FIG.
  • this comprises a reflective deflector 60 and two spherical mirrors 61 and 62, for example arranged upstream and downstream of the deflector 60.
  • L deflector assembly 31 B can also include two plane mirrors 63 and 64 arranged respectively upstream and downstream of the spherical mirrors 61 and 62.
  • the assembly forms an afocal optics in association with the deflector 60, and thus gives a parallel beam 56 to from a parallel beam 55 at the input.
  • the mirrors 61 -64 are fixed, while the deflector 60 performs the desired scan (s).
  • the deflector 60 which comprises, for example, a plane mirror 70, is movable in rotation around a first axis 71, allowing a raster scanning (that is to say parallel to the lines of the diffraction grating on the multichannel deflector 23), and around a second axis 72, allowing a line scanning (that is to say a scanning perpendicular to the lines of the diffraction grating on the multichannel detector 23) (see Figure 4).
  • this deflector 60 comprises a motor 73 actuating the mirror 70 in rotation around the axis 71 by means of a shaft 74, and a second motor 76 actuating the mirror 70 in rotation around the second axis 72, for example by means of balls 77 and 78 d isposed laterally with respect to the mirror 70, and of an elastic return device acting on a part 75 disposed above the mirror 70
  • This motor 76 is then preferably a stepping motor.
  • the second deflector When the first deflector scans the object in two dimensions, the second deflector is always synchronized with the scanning of this object in one direction, for example line scanning.
  • the detector then successively produces the spectral information coming from the different lines.
  • This information is acquired by a processing unit which is associated with it and which is therefore able to present the information of the spectrum scattered by the points of the two dimensions of the sample in any desired form.
  • a processing unit which is associated with it and which is therefore able to present the information of the spectrum scattered by the points of the two dimensions of the sample in any desired form.
  • any means allowing the scanning of the object in three dimensions can be operated analogously.
  • the scanning of the transverse plane has been described in the form of a line and a frame, which is preferable, but any scanning of the entire plane makes it possible to obtain an image.
  • referenced 31 C FIG.
  • this comprises a refractive deflector 80 placed between two lenses 81 and 82, respectively convergent and diverging.
  • the lenses 81 and 82 and the deflector 80 being aligned along an axis 84, the deflector 80 is rotatable around an axis of rotation 85 perpendicular to the alignment axis 84, so as to allow line scanning.
  • the first deflector assembly 31 C comprises means 83 for translating the lenses 81 and 82 in a direction 86 parallel to the axis of rotation 85, for the frame scanning, which is much slower than the line scanning (the frequency line deflection is an integer multiple of the frame deflection frequency).
  • This first deflector assembly 31 C thus forms a compact afocal system comprising a reduced number of components, and giving a parallel beam 56 from a parallel incident beam 55.
  • the second embodiment 31 B of the first deflector assembly is similarly adapted, by making the spherical mirrors 61 and 62 mobile, which makes it possible to limit the deflection movements of the deflector 60 to line scanning only.
  • this apparatus comprises a confocal microscopy system 101 and a spectrometer 102.
  • the spectrometer 102 comprises, in addition to the inlet opening 25, the collimator 21, the spectral disperser 22 and the multichannel detector 23, an optical fiber 26 coupling the collimator 21 to a second lens 27 at the output of the optical fiber 26, a diaphragm 28 and the second deflector assembly 32, arranged between the spectral disperser 22 and the detector 23.
  • the optical fiber placed between the first and second deflector assemblies remotely carries the information which makes it possible to construct a confocal spectral image.
  • the second deflector assembly 32 synchronous with the first deflector assembly 31, is placed downstream of the inlet opening
  • the second deflector assembly 32 is coincident with the disperser 22
  • mechanical or piezoelectric deflectors are preferably used. Indeed, the angular deflection is then low.

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Abstract

L'invention est relative à un appareil d'imagerie spectrométrique de diffusion inélastique. Il comprend un système d'éclairage et d'excitation incluant une première ouverture (15) de confocalité, une seconde ouverture (25) de confocalité conjuguée de la première. Un premier ensemble déflecteur balaye l'échantillon et un second ensemble déflecteur (32) synchronisés, sont placés respectivement en aval et en amont de la seconde ouverture (25) de confocalité, et un spectromètre (2). L'ouverture d'entrée du spectromètre est confondue avec la seconde ouverture de confocalité. On peut ainsi obtenir les informations spectrales du flux lumineux diffusé par l'échantillon. Un balayage dans un plan associé à un balayage en profondeur permettent une exploration volumétrique de l'échantillon.

Description

Appareil d'imagerie spectrométrique
La présente invention est relative à un appareil d'imagerie spectrométrique, en particulier du type Raman ou de fluorescence à bas niveau.
Dans la demande de brevet EP-A1 -0.502.752, au nom de la demanderesse, il a été divulgué un dispositif de spectrométrie à balayage confocal, comprenant:
- un ensemble comportant: • un système d'éclairage et d'excitation incluant une première ouverture de confocalité,
• un système optique,
• une seconde ouverture de confocalité conjuguée de la première et • un premier et un second ensembles déflecteurs synchronisés, placés respectivement en aval et en amont de la seconde ouverture de confocalité, et
- un spectromètre comportant:
• une fente d'entrée, • un disperseur spectral et
• un détecteur multicanal bidimensionnel.
Une telle réalisation permet de réduire considérablement le temps d'analyse d'un échantillon par rapport à des dispositifs de spectrométrie confocale classiques. Le balayage ligne de l'objet peut être exploité grâce au balayage de la fente d'entrée du spectromètre par le faisceau lumineux. Le dispositif de cette demande antérieure offre également un facteur d'agrandissement, dû à l'utilisation de deux déflecteurs synchrones, qui permet de changer la dimension d'une image balayée dans un espace objet, depuis la dimension maximale couverte par l'objectif de l'ensemble de microscopie confocale jusqu'à une dimension très réduite qui est uniquement limitée par le seuil d'énergie détectable.
Le contenu de cette demande antérieure EP-A1 -0.502.752 doit être considéré comme faisant partie intégrante de la présente demande, pour tout ce qui concerne la réalisation mentionnée ci- dessus. La présente invention vise un appareil d'imagerie spectrométrique permettant d'étendre l'application du dispositif connu par la précédente demande à tout le domaine spectral utile à la spectroscopie Raman , et pouvant avoir une utilisation plus facile que le dispositif antérieur.
A cet effet, l'invention concerne un appareil d'imagerie spectrométrique comprenant:
- un ensemble de microscopie confocale comportant:
• un système d'éclairage et d'excitation incluant une première ouverture de confocalité,
• un système optique,
• une seconde ouverture de confocalité conjuguée de la première et
• un premier ensemble déflecteur capable de balayer sur un échantillon des lignes et un second ensemble déflecteur synchronisés, placés respectivement en aval et en amont de la seconde ouverture de confocalité, éclairant un spectromètre comportant:
• un disperseur spectral et • un détecteur multicanal bidimensionnel,
Selon l'invention, le spectromètre comporte une ouverture d'entrée qui est confondue avec la seconde ouverture de confocalité.
Le second ensemble déflecteur est ainsi disposé en aval de l'entrée du spectromètre. Cette entrée est une ouverture de confocalité.
Les première et seconde ouvertures de confocalité sont préférentiellement constituées de trous ajustables, obtenus par des moyens tels que des diaphragmes par transmission ou réflexion. Elles sont approximativement circulaires et de petites dimensions
Par rapport au dispositif connu, décrit dans la demande EP-
A1 -0.502.752, l'imageur de l'invention simplifie le montage en diminuant le nombre de pièces optiques, ce qui est un important avantage en particulier dans le domaine ultraviolet, et en supprimant une ouverture de confocalité séparée. De plus, l'appareil d'imagerie spectrométrique selon l'invention présente l'avantage de pouvoir être intégré dans un appareil dit à l'infini, qui met en jeu des faisceaux parallèles. Ainsi, les éléments de l'imageur de l'invention peuvent être insérés sous forme de blocs dans des dispositifs préexistants comportant un microscope à l'infini et/ou dans un spectromètre à l'infini.
Préférentiellement, l'appareil d'imagerie spectrométrique de l'invention est prévu pour de la spectroscopie Raman ou de fluorescence à bas niveau. Le spectromètre dispersif est préférentiellement stigmatique, c'est-à-dire qu'il donne, pour chaque point de l'ouverture d'entrée, une image spectrale couvrant une ligne de pixels d'un détecteur multicanal bidimensionnel.
De préférence, le premier ensemble déflecteur comprend une optique sensiblement afocale et est placé sur un faisceau parallèle.
Ainsi, ce premier ensemble déflecteur n'introduit pas de perte de signal. Il permet d'assurer à la fois:
- une déflexion d'un faisceau,
- le report de pupilles. Le premier ensemble déflecteur peut être du type réfractif ou réflectif (c'est-à-dire fonctionnant respectivement en réfraction ou en réflexion).
Selon un premier mode de réalisation préféré de l'optique afocale, celle-ci comprend une lentille convergente, une lentille divergente et un premier déflecteur réfractif placé entre ces lentilles.
Dans un second mode de réalisation préféré de l'optique afocale, celle-ci comprend des miroirs et un premier déflecteur en réflexion apte à recevoir de l'un de ces miroirs un faisceau parallèle et à réfléchir ce faisceau parallèle vers un autre des miroirs.
Les miroirs comprennent avantageusement des miroirs sphériques.
Dans une forme de réalisation, le premier ensemble déflecteur comprend un premier déflecteur qui, au moyen d'éléments optiques, est prévu pour effectuer un balayage à deux dimensions sur un échantillon. Notamment, en combinaison avec le premier ou le second modes de réalisation préférés de l'optique afocale, le premier déflecteur est alors capable de balayer sur un échantillon des trames, dans une direction perpendiculaire aux lignes.
Dans une autre forme de réalisation, obtenue à partir du premier ou du second mode de réalisation préférés de l'optique afocale:
- le premier ensemble déflecteur comprend des moyens de translation des lentilles ou des miroirs, permettant de balayer cette ligne dans une direction perpendiculaire à cette ligne.
Le balayage de la ligne par le premier déflecteur est alors par exemple réalisé par la rotation d'un élément optique
On peut ainsi distinguer deux sous-formes des deux premiers modes de réalisation de l'optique afocale:
- soit le premier déflecteur effectue un balayage de trame perpendiculaire à ces lignes,
- soit le premier déflecteur effectue un balayage d'une ligne et les éléments associés dans l'optique afocale effectuent un balayage perpendiculaire à cette ligne; la déflexion obtenue par ces éléments, dite déflexion trame, est alors beaucoup plus lente que celle produite par le premier déflecteur, dite déflexion ligne (la fréquence de déflexion ligne est un multiple entier de la fréquence de déflexion trame). La réalisation avec les moyens de translation des lentilles ou des miroirs permet de simplifier le système en réduisant le nombre de composants.
Dans une variante de réalisation, le premier déflecteur est capable de balayer une ligne sur un échantillon, par exemple par la rotation d'un élément optique, et il est lui-même monté sur un dispositif mobile, permettant de déplacer cette ligne, sur l'objet, dans une direction perpendiculaire à cette ligne (balayage de trame).
Il est intéressant que le premier ensemble déflecteur produise également un balayage selon une troisième dimension, parallèle au faisceau (analyse en profondeur de l'échantillon) permettant ainsi la génération d'images confocales spectrales en trois dimensions.
Le second ensemble déflecteur, placé dans le spectromètre, réalise une déviation constituant une déflexion ligne (perpendiculaire aux lignes de réseau formées sur le détecteur multicanal), qui est synchrone avec celle effectuée par le premier ensemble déflecteur. Ce second ensemble déflecteur est préférentiellement réflectif. Il permet ainsi de réduire les effets de lumière parasites. Dans une variante de réalisation , le second ensemble déflecteur est réfractif.
Préférentiellement, les premier et second ensembles déflecteurs produisent des déflexions synchrones ayant des amplitudes variables autorisant un changement de grossissement. Avantageusement, un déplacement contrôlé dans l'axe du microscope permet de générer des images confocales spectrales en trois dimensions.
Dans un premier mode préféré de placement du second ensemble déflecteur, celui-ci est placé entre l'ouverture d'entrée du spectromètre et le détecteur multicanal. Ainsi, dans une forme de ce premier mode de placement, le spectromètre comprend une première lentille ou collimateur et le second ensemble déflecteur est disposé entre l'ouverture d'entrée et cette première lentille. Cette forme de réalisation est facile à mettre en oeuvre. Dans une autre forme de ce mode de réalisation, le spectromètre comprend un premier miroir sphérique en amont du disperseur spectral et le second ensemble déflecteur est placé entre l'ouverture d'entrée et ce miroir sphérique.
Dans un mode de placement particulier du second ensemble déflecteur, celui-ci est placé entre le disperseur spectral et le détecteur multicanal.
Dans un deuxième mode de placement du second ensemble déflecteur, celui-ci est constitué par au moins une partie du disperseur spectral lui-même. La déflexion peut alors être obtenue par une oscillation du disperseur spectral ou de l'un de ses éléments optiques ou par un dispositif croisé avec ce disperseur. Selon un troisième mode de placement du second ensemble déflecteur, celui-ci est constitué par le détecteur multicanal. Le second ensemble déflecteur utilise alors le transfert des charges sur un circuit à couplage de charges (CCD) du détecteur multicanal. On prévoit avantageusement que le détecteur soit à commande séquentielle et que le premier ensemble déflecteur soit à commande " pas à pas ", afin d'obtenir facilement une synchronisation des deux ensembles déflecteurs.
Selon une forme avantageuse de réalisation, l'imageur comprend une fibre optique placée entre le premier et le deuxième ensembles déflecteurs synchrones, couplée à l'ouverture d'entrée du spectromètre et destinée à transporter à distance les informations qui permettent de construire une image spatiale confocale. Ainsi, la seconde ouverture de confocalité peut être projetée sur la fibre optique, qui transporte les informations. Il convient alors de transporter ou de contrôler la phase du balayage pour assurer la synchronisation des déflecteurs.
L'invention sera mieux comprise et illustrée à l'aide d'exemples non limitatifs en référence aux dessins annexés sur lesquels:
- la Figure 1 représente un schéma d'ensemble d'un premier mode de réalisation d'un appareil d'imagerie spectrométrique selon l'invention et son utilisation; - la Figure 2 illustre un premier mode de réalisation du premier ensemble déflecteur de l'imageur de la Figure 1 ;
- la Figure 3 illustre un deuxième mode de réalisation réflectif du premier ensemble déflecteur de l'imageur de la Figure 1 ;
- la Figure 4 montre en perspective simplifiée le déflecteur du premier ensemble déflecteur de la Figure 3;
- la Figure 5 représente en vue frontale le déflecteur du premier ensemble déflecteur de la Figure 3;
- la Figure 6 montre en vue latérale le déflecteur du premier ensemble déflecteur de la Figure 3; - la Figure 7 représente un troisième mode de réalisation du premier ensemble déflecteur de l'appareil de la Figure 1 et - la Figure 8 illustre un second mode de réalisation d'un appareil d'imagerie spectrométrique selon l'invention.
Un appareil d'imagerie spectrométrique selon l'invention comprend un système d'éclairage microscopique 1 et un spectromètre 2. Le système d'éclairage microscopique 1 comporte une source d'excitation telle qu'un laser 10 associé à une première ouverture de confocalité, telle qu'un trou ajustable en taille et en position . Le système 1 comprend également un objectif de microscope 1 1 , vers lequel est dirigé un faisceau laser émis par le laser 10 après filtrage spatial par l'ouverture 1 5, réflexion sur séparateur partiellement réfléchissant 12 et réflexion sur un miroir plan 13. Le système 1 comprend aussi un premier ensemble déflecteur 31 , permettant de balayer un échantillon 3 selon une, deux ou trois dimensions. Le système 1 dispose également d'un second système optique cond uisant un faisceau émis par l'échantillon 3, collecté par l'objectif de microscope 1 1 et transmis par le séparateur 12, vers le spectromètre 2. Ce second système optique comprend , par exemple, une optique convergente 14. Le spectromètre 2 est un spectromètre multicanal équipé d'un détecteur bidimensionnel 23. Le plus souvent le détecteur bidimensionnel est associé à des moyens de traitement qui collectent les signaux qu'il produit en temps réel et peuvent en fournir une représentation soit en temps réel soit en temps différé. Dans la suite de ce texte on désignera généralement par détecteur le convertisseur photoélectrique lui même et les moyens de traitement associés. Le spectromètre comprend une ouverture d'entrée 25, qui constitue une seconde ouverture de confocalité conjuguée de la première ouverture 15 de confocalité. On appelle ouverture de confocalité un trou de faible dimension approximativement circulaire, formé dans un cache. La seconde ouverture de confocalité 25 tient donc ici, dans le spectromètre, le rôle habituellement dévolue à une fente dans les spectromètres à réseau. Le spectromètre comprend aussi une première optique 21 ou collimateur et un disperseur spectral 22, sous forme de réseau de diffraction. Un tel réseau de diffraction est formé de traits parallèles entre eux. Un faisceau lumineux parallèle incident sur le réseau est dispersé dans le plan de dispersion qui est perpendiculaire aux traits du réseau . Le spectromètre est équipé d'un second ensemble déflecteur 32 , disposé dans l'exemple représenté entre l'ouverture d'entrée 25 et l'optique 21 .
En fonctionnement, on envoie un faisceau laser émis par le laser 10 et dévié par l'ensemble déflecteur 31 vers l'échantillon 3. Ce faisceau balaie une ligne 40 de l'échantillon 3. Le flux lumineux Raman diffusé successivement par chacun des points de cette ligne 40 de l'échantillon est collecté par l'objectif du microscope 1 1 et focalisé, après passage par le premier ensemble déflecteur 31 , en un point d'entrée d u disperseur spectral 22.
Le second ensemble déflecteur 32, synchronisé avec le premier produit un balayage parallèle aux traits d u réseau et adresse le spectre lumineux 43 issu de chaque point de la ligne 40 balayée sur une ligne du détecteur 23.
On obtient ainsi sur le détecteur 23 verticalement, par exemple, la répartition spatiale de la ligne 40 (ligne 41 ) et horizontalement, les données spectrales 43 (lignes 42) .
Le second ensemble déflecteur 32 est en pratique ajusté pour que sa déflexion sur le détecteur 23 corresponde à la d imension verticale de ce dernier et le premier ensemble déflecteur 31 , synchrone avec l'ensemble déflecteur 32, est ajusté entre zéro et une valeur maximale limitée par le champ de l'objectif (la valeur zéro correspondant à l'analyse d'un point).
Le premier ensemble déflecteur 31 comprend une optique afocale. Dans un premier mode de réalisation de cette optique afocale (Figure 2), ce premier ensemble déflecteur référencé 31 A comprend un déflecteur réfractif 50 placé entre une lentille convergente 51 et une lentille divergente 52. Les lentilles 51 et 52 ont respectivement des distances focales voisines l'une de l'autre. Le premier ensemble déflecteur 31A est tel qu'un faisceau parallèle 55 incident ressort sous la forme d'un faisceau q uasi-parallèle 56 dévié. Dans ce mode de réalisation , les lentilles 51 et 52 sont fixes et le déflecteur 50 produit les déflexions voulues. Dans un deuxième mode de réalisation du premier ensemble déflecteur 31 , référencé 31 B (Figure 3), celui-ci comprend un déflecteur réflectif 60 et deux miroirs sphériques 61 et 62, disposés par exemple respectivement en amont et en aval du déflecteur 60. L'ensemble déflecteur 31 B peut comprendre également deux miroirs plans 63 et 64 disposés respectivement en amont et en aval des miroirs sphériques 61 et 62. L'ensemble forme une optique afocale en association avec le déflecteur 60, et donne ainsi un faisceau parallèle 56 à partir d'un faisceau parallèle 55 en entrée. Les miroirs 61 -64 sont fixes, tandis que le déflecteur 60 effectue le ou les balayage(s) voulu(s).
De préférence, le déflecteur 60, qui comprend , par exemple, un miroir plan 70, est mobile en rotation autour d'un premier axe 71 , permettant un balayage trame (c'est-à-dire parallèle aux traits du réseau de diffraction sur le déflecteur multicanal 23), et autour d'un second axe 72, permettant un balayage ligne (c'est-à-dire un balayage perpendiculaire aux traits du réseau de diffraction sur le détecteur multicanal 23) (voir Figure 4). Dans un exemple de réalisation de ce déflecteur 60 (Figures 5 et 6) , celui-ci comprend un moteur 73 actionnant en rotation le miroir 70 autour de l'axe 71 par l'intermédiaire d'un arbre 74, et un second moteur 76 actionnant le miroir 70 en rotation autour du second axe 72, par exemple au moyen de billes 77 et 78 d isposées latéralement par rapport au miroir 70, et d'un dispositif de rappel élastique agissant sur une pièce 75 disposée au-dessus du miroir 70. Ce moteur 76 est alors préférentiellement un moteur pas à pas.
Lorsque le premier déflecteur assure un balayage de l'objet dans deux dimensions, le deuxième déflecteur est toujours synchronisé sur le balayage de cet objet dans une direction, par exemple le balayage ligne. Le détecteur produit alors successivement les informations spectrales provenant des différentes lignes. Ces informations sont acquises par une unité de traitement qui y est associée et qui est donc à même de présenter les informations du spectre diffusé par les points des deux dimensions de l'échantillon sous toute forme voulue. On comprend que tout moyen permettant le balayage de l'objet dans trois dimensions peut être exploité de façon analogue. Le balayage du plan transverse a été décrit sous forme de ligne et trame, ce qui est préférable mais n'importe quel balayage, du plan entier permet d'obtenir la réalisation d'une image. Dans un troisième mode de réalisation du premier ensemble déflecteur 31 , référencé 31 C (Figure 7), celui-ci comprend un déflecteur réfractif 80 placé entre deux lentilles 81 et 82, respectivement convergente et divergente. Les lentilles 81 et 82 et le déflecteur 80 étant alignés selon un axe 84 , le déflecteur 80 est mobile en rotation autour d'un axe de rotation 85 perpendiculaire à l'axe d'alignement 84, de manière à permettre un balayage ligne. De plus, le premier ensemble déflecteur 31 C comprend des moyens de translation 83 des lentilles 81 et 82 selon une direction 86 parallèle à l'axe de rotation 85 , pour le balayage trame, qui est beaucoup plus lent que le balayage ligne (la fréquence de déflexion ligne est un multiple entier de la fréquence de déflexion trame) . Ce premier ensemble déflecteur 31 C forme ainsi un système compact afocal comprenant un nombre de composants réduit, et donnant un faisceau parallèle 56 à partir d'un faisceau parallèle d'incident 55. Dans un quatrième mode de réalisation du premier ensemble déflecteur (non représenté), le deuxième mode de réalisation 31 B du premier ensemble déflecteur est adapté de manière similaire, en rendant les miroirs sphériques 61 et 62 mobiles, ce qui permet de limiter les mouvements de déflexion du déflecteur 60 au balayage ligne seulement.
Dans un second mode de réalisation de l'Appareil d'imagerie spectrométrique (Figure 8), des éléments identiques ou similaires étant désignés par les mêmes références, cet appareil comprend un système de microscopie confocale 101 et un spectromètre 102. Le spectromètre 102 comprend , outre l'ouverture d'entrée 25, le collimateur 21 , le disperseur spectral 22 et le détecteur multicanal 23, une fibre optique 26 couplant le collimateur 21 à une seconde lentille 27 en sortie de la fibre optique 26, un diaphragme 28 et le second ensemble déflecteur 32, disposé entre le disperseur spectral 22 et le détecteur 23. Ainsi la fibre optique, placée entre le premier et le deuxième ensembles déflecteurs transporte à distance les informations qui permettent de construire une image spectrale confocale.
Le second ensemble déflecteur 32 , synchrone avec le premier ensemble déflecteur 31 , est placé en aval de l'ouverture d'entrée
25. Dans des variantes de réalisation, il est placé entre l'ouverture d'entrée 25 et le disperseur 22 , sur le disperseur 22 ou confond u avec lui, entre le disperseur 22 et le détecteur 23 ou sur le détecteur 23 ou confondu avec lui. Des modes de réalisation particulièrement avantageux sont donnés par les combinaisons suivantes. Dans les cas où le second ensemble déflecteur 32 est placé entre l'ouverture d'entrée 25 et le d isperseur 22 ou sur le disperseur 22, ou encore entre le disperseur 22 et le détecteur 23 ou sur le détecteur 23, on choisit préférentiellement le premier mode de réalisation de l'imageur
(figure 1 ), qui permet de travailler sur un faisceau plus petit que le second mode de réalisation (figure 8), et on utilise de préférence des déflecteurs par réflexion (figures 3 à 6).
Dans le cas où le second ensemble déflecteur 32 est confondu avec le disperseur 22 , on utilise de préférence des déflecteurs mécaniques ou piézo-électriques. En effet, la déflexion angulaire est alors faible.

Claims

REVEN DICATIONS 1 . Appareil d'imagerie spectrométrique comprenant: un ensemble d'éclairage microscopique comportant:
• un système d'éclairage et d'excitation incluant une première ouverture (15) de confocalité,
• un système optique,
• une seconde ouverture (25) de confocalité conjuguée de la première (1 5) et
• un premier ensemble déflecteur (31 ) capable de balayer sur un échantillon (3) des lignes (40) et un second ensemble déflecteur (32) synchronisé, placés respectivement en aval et en amont de la seconde ouverture (25) de confocalité, éclairant un spectromètre (2 , 1 02) comportant: • une ouverture d'entrée
• un disperseur spectral (22) et
• un détecteur multicanal (23) bidimensionnel, caractérisé en ce que l'ouverture d'entrée du spectromètre (2, 102) est confondue avec la seconde ouverture (25) de confocalité.
2. Appareil d'imagerie spectrométrique selon la revendication
1 , caractérisé en ce qu'il est prévu pour de la spectroscopie Raman ou de fluorescence à bas niveau .
3. Appareil d'imagerie spectrométrique selon l'une des revendications 1 et 2, caractérisé en ce que le premier déflecteur (50, 60) est capable de balayer sur un échantillon (3) des trames dans une direction perpendiculaire auxdites lignes (40).
4. Appareil d'imagerie spectrométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que le premier ensemble déflecteur (31 ) comprend une optique sensiblement afocale et est placé sur un faisceau parallèle (55, 56).
5. Appareil d'imagerie spectrométrique selon la revendication 4, caractérisé en ce que ladite optique afocale (31 A) comprend une lentille convergente (51 ), une lentille divergente (52) et un premier déflecteur (50) en réfraction placés entre lesdites lentilles (51 , 52).
6. Appareil d'imagerie spectrométrique selon la revendication 4, caractérisé en ce que ladite optique afocale (31 B) comprend des miroirs (61 -64) et un premier déflecteur (60) en réflexion apte à recevoir de l'un desdits miroirs (61 ) ledit faisceau parallèle (55) et à le réfléchir vers l'autre desdits miroirs (62).
7. Appareil d'imagerie spectrométrique selon l'une des revendications 5 et 6, caractérisé en ce que:
- le premier ensemble déflecteur (31 ) comprend des moyens de translation (83) desdits lentilles (81 , 82) ou miroirs, permettant de balayer ladite ligne (40) dans une direction perpendiculaire à ladite ligne (40).
8. Appareil d'imagerie spectrométrique selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les premier et second ensembles déflecteurs (31 , 32) produisent des déflexions synchrones ayant des amplitudes variables autorisant un changement de grossissement.
9. Appareil d'image spectrométrique selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'un déplacement contrôlé dans l'axe du microscope permet de générer des images confocales spectrales en trois dimensions.
10. Appareil d'imagerie spectrométrique selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le second ensemble déflecteur (32) est placé entre l'ouverture d'entrée (25) du spectromètre (2) et le détecteur multicanal (23).
1 1 . Appareil d'imagerie spectrométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 10, caractérisé en ce que le second ensemble déflecteur est constitué par au moins une partie du disperseur spectral.
12. Appareil d'imagerie spectrométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, caractérisé en ce que le second ensemble déflecteur est constitué par le détecteur multicanal (23).
13. Appareil d'imagerie spectrométrique selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comprend une fibre optique (26) placée entre le premier et le deuxième ensembles déflecteurs (31 , 32) , couplée à l'ouverture d'entrée (25) d u spectromètre (102) et destinée à transporter à distance les informations qui permettent de construire une image spatiale confocale.
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