WO2002014826A1 - Method for measuring refractive power and apparatus therfor - Google Patents

Description

明細書 屈折力測定方法及びその装置 技術分野

本発明は、 空気中でソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値を精密に測 定する こ と のでき る屈折力測定方法及びその装置に関する。 背景技術

従来から、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズは、 ハー ド コ ンタ ト ク ト レンズに. 較べて柔らカ く て、 こ の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズを空気中でレンズ受け プレー ト に保持させて測定を行 う 際にその形状が 自重によ り 変形 しやす い o

しかも、 その コ ンタ ク ト レンズに多量の水分が含まれていて、 空気中 に長時間放置する と 、 そのコ ンタ ク ト レンズに含まれている水分が蒸癸 するため、 空気中でソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性を レンズメ ータ によ り 測定する と 、 測定値に誤差を生じ易い。 こ のため、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの測定には、 熟練と 測定の迅速さ と が要求されている。

そ こ で、 コ ンタ ク ト レンズを液中 に浸漬して ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ の形状を保ちつつその光学特性値を測定する レンズメ ータ が開発されつ つある。

こ のものでは、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの形状を保ちつつかつ水分の 蒸発を伴わずに光学特性値を測定でき る ので、 こつを さ ほ ど必要 とせず かつ、 迅速さ も さ ほ ど要求されずにソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性 値を測定でき る。

し力 しなが ら、 液体中で測定した と き の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光 学特性値と 空気中で測定した と き の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性 値と は、 その ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値が異なる。 すなわち 液体中で測定した と き の光学特性値は、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの屈折 率と液体の屈折率と の差である屈折率差がソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの屈 折率と 空気の屈折率と の差である屈折率差よ り も小 さい。 こ のため、 液 体中で測定した と き の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値が空気中で 測定した と き の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値よ り も小さ く 得ら れる。

従って、 液体中でソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性を測定した と き には、 その ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値を空気中での光学特性 値に換算 しなければな らず、 その換算に ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの材質 の屈折率が必^である。

と こ ろが、 その ソフ ト コ ンタ ク ト レンズの材質の屈折率は一般的に未 知である こ と が多いので、 液体中で測定した と き にはその ソフ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値か ら眼に装用 した と き の光学特性値を表す空気 中での光学特性値への換算を正確に行 う こ と ができず、 液体中で測定し た ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値を換算 して得られた換算光学特 性値はその信頼性が乏 しい と い う 問題点がある。

本発明は、 上記の事情に鑑みて為 されたもので、 その 目 的 とする と こ ろは、 空気中でソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値を精密に測定する こ と のでき る屈折力測定方法及びそ の装置を提供する こ と にある。 発明の開示

こ の 目 的を達成するため、 請求項 1 の発明は、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レン ズの光学特性値を求める よ う に した屈折力測定方法において、

濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズを空気中で且つ測定光路途 中に配設したと き 、 前記ソフ ト コンタク ト レンズで散乱する散乱光を受 光する受光素子によ り受光させて、 前記散乱光の散乱状態を散乱光を受 光する前記受光素子から出力される受光信号の変化から求める と と もに こ の受光信号が所定条件を満たしたと きに前記光学特性値を求める こ と を特徴とする。

請求項 7 の発明は、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値を求め る よ う にした屈折力測定装置において、

濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズを空気中で且つ測定光路途 中に配設したと き 、 ，前記ソ フ ト コンタク ト レンズで散乱する散乱光を受 光する受光素子と、 こ の受光素子から出力される受光信号が所定条件を 満たしたと きに前記光学特性値を求める演算手段と を備えたこ と を特徴 とする。

請求項 1 2 の発明は、 光源から受光素子までの測定光路途中にパター ン光形成手段を配設して、 前記光源からの測定光を前記パターン光形成 手段によ りパターン光にして前記受光素子に受光させる様にした測定光 学系と、

前記前記測定光路途中にソフ ト コ ンタク ト レンズを配設したと き、 前 記受光素子で受光されるパター ン光の変化を前記受光素子から出力 され る受光信号の変化から求める こ と によ り 、 前記測定光路途中に配設され た ソ フ ト コンタク ト レンズの光学特性値を求める演算制御回路と を備え る屈折力測定装置であって、

前記測定光がソ フ ト コンタク ト レンズを透過する際に生じる散乱光を 受光して散乱光受光信号を出力する散乱光受光部が前記受光素子と は別 に設けられている と共に、

前記演算制御回路は、 濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズが前 記レンズ受に载置されて測定が開始されたと き か ら の前記散乱光受光信 号が設定値以下の と き の前記受光信号から前記光学特性値を求める こ と を特徴と する。

請求項 1 3 の発明は、 レンズ受けにセ ッ ト され且つ液体で濡れた ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズに測定光を投影する測定光学系 と 、 前記ソ フ ト コ ン タ ク ト レンズを透過 した測定光を受光する受光手段を有する受光光学系 と 、 前記受光手段の出力信号に基づいて ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学 特性を所定時間毎に演算 してい く 演算手段 と を備えた屈折力測定装置で あって、

前記演算手段が演算 した光学特性の時系列から、 液体で濡れた ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの正 しい光学特性を判定する判定手段を設けたこ と を 特徴とする。

請求項 1 4 の発明は、 レンズ受けにセ ッ ト され且つ液体で濡れた ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズに測定光を投影する測定光学系 と 、 前記ソ フ ト コ ン タ ク ト レンズを透過した測定光を受光する受光手段を有する受光光学系 と 、 前記受光手段の出力信号に基づいて ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学 特性を所定時間毎に演算 してい く 演算手段 と を備えた屈折力測定装置で あって、

前記演算手段に よって演算された光学特性を時系列に記憶してい く 記 憶手段 と 、

こ の記憶手段に記憶された時系列の光学特性から、 液体で濡れた ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの正 しい光学特性を判定する判定手段 と を設けたこ と を特徴とする。 図面の簡単な説明

図 1 は、 本発明 に係わる コ ンタ ク ト レンズ光学特性測定装置に一例 と しての レンズメ ータの光学系及ぴその処理回路のプロ ッ ク 図である。 図 2 は、 図 1 のパター板の平面図である。

図 3 は、 図 1 の受光センサ と 開 口パターン像と の関係を示す説明図で め る。

図 4 は、 本発明に係わる ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの表面状態の変化を 誇張して示 した図であって、 図 4 ( a ) はソ フ ト コ ンタ ク ト レンズが多 量の液体によ って濡れている状態を示す図、 図 4 ( b ) はソ フ ト コ ンタ ク ト レンズが適度の液体によ って濡れてその表面が滑らかな状態を示す 図、 図 4 ( c ) は ソフ ト コ ンタ ク ト レンズが乾いて、 その表面が荒れて いる状態を示す図である。

図 5 は、 図 1 の受光センサ と測定時の開 口パターン像と の関係を示 す説明図である。

図 6 は、 図 1 の受光センサと測定時の他の開 口パターン像と の関係を 示す説明図である。

図 7 ( a ) は散乱光がある場合の測定光束の説明図、 図 7 ( b ) は図

7 ( a ) の測定光束によ る受光センサの出力の説明図である。

図 8 ( a ) は散乱光がある場合の測定光束の説明図、 図 8 ( b ) は図

8 ( a ) の測定光束によ る受光センサの出力の説明図である。

図 9 ( a ) は散乱光がある場合の測定光束の説明図、 図 9 ( b ) は図

9 ( a ) の測定光束によ る受光センサの出力の説明図である。

図 1 0 は、 図 7 ( b ) 〜図 7 ( c ) の受光セ ンサの出力を重ねて示 した説明図である。

図 1 1 は、 散乱光強度を時間の経過 と共に示した散乱光強度特性線図 である。

図 1 2 は、 こ の発明の実施の形態 2 に係る眼屈折力測定装置 （コ ンタ ク ト レンズ光学特性測定装置） の斜視図である。

図 1 3 は、 図 1 2 の左側面図である。 図 1 4 は、 図 1 2.の顔固定装置の斜視図である。

図 1 5 は、 図 1 4 の顎受にコ ンタク ト レンズ測定用のアタ ッチメ ン ト を取り付けた斜視図である。

図 1 6 は、 図 1 5 のアタ ッチメ ン トの部分断面図である。

図 1 7 ( a ) は、 図 1 6 の A— A線に沿—う 断面図である。

図 1 7 ( b ) は、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの面上での リ ングパターン 光束の回転状態を示した説明図である。

図 1 8 は、 本発明の実施の形態 2 に係わる眼屈折力測定装置を示す光 学系の説明図である。

図 1 9 は、 図 1 8 の光学系によ り 眼底に結像されているパターン像の 状態を表す説明図である。

図 2 0 は、 図 1 8 の光学系の受光素子に結像されたパターン像と ピー ク位置と の関係を表す説明図である。

図 2 2 ( A ) 〜 （ F ) は、 図 1 8 の眼底に結像されたパターン像を任 意に記憶させた例とそのパターン像に対応する ピーク位置との関係を表 す説明図である。

図 2 2 は偏向部材の変形例を示し、 図 2 1 ( A ) は光束無偏向状態の ロータ リ プリ ズムの説明図、 図 2 1 ( B ) は光束偏向状態のロータ リ ブ リ ズムの説明図である。

図 2 3 は、 図 1 8 に示した眼屈折力測定装置を用いてのコンタク ト レンズの測定例を示す説明図である。

図 2 4 は、 こ の発明の実施の形態 3 に係る コ ンタク ト レンズの屈折力 測定装置の側面図である。

図 2 5 は、 図 2 4 の屈折力測定.装置の光学系の説明図である。

図 2 6 は、 第 4実施形態の構成を示した説明図である。

図 2 7 は、 ソ フ ト コンタク ト レンズの光学特性の経時変化を示したグ ラフである。

図 2 8 は、 第 5実施形態の構成を示した説明図である。

図 2· 9 は、 第 6実施形態の構成を示した説明図である。

図 3 0 は、 第 7実施形態の構成を示した説明図である。

図 3 1 は、 C C Dに結像される ソ フ ト コ ンタク ト レンズを示した説明 図である。

【発明の実施の形態 1 】

以下、 この発明の実施の形態 1 を図面に基づいて説明する。

[構成]

図 1 において、 1 は屈折力測定装置の一例と してのレンズメータの測 定光学系である。 こ の測定光学系 1 は測定光投影光学系 2 と受光光学系 3 を有し、 測定光投影光学系 2 と受光光学系 3 と の間にはレンズ受 4 が 配設されている。

測定光投影光学系 2は、 測定光源 5 , ピンホール板 6 , コ リ メ一ト レ ンズ 7 を有する。 また、 受光光学系 3 は、 パターン板 （パターン光形成 手段） 8及びエ リ ア C C D等の受光センサ 9 を有する。 このソ ターン板 8 には図 2 に示すよ う に 4個の開口パターン 8 a が形成されている。 ま た、 受光素子である受光センサ 9 (受光手段） は、 全面が測定信号受光 部及ぴ散乱光受光部となる。 図中、 Oは光学系の測定光軸である。

受光センサ 9 の出力信号 （受光信号） は、 演算制御回路 （演算制御手 段 ： 演算手段） 1 0 に入力される様になつている。 すなわち、 受光セン サ 9 の中央部側の出力信号は測定信号と して演算制御回路 1 0 に入力さ れ、 受光センサ 9 の周辺部の出力信号は散乱光測定信号と して演算制御 回路 1 0 に入力される。

この演算制御回路 1 0 には、 測定モー ド切換用のスィ ッチ S I , S 2 からの O N信号が入力 される様になつている。 スィ ツチ S 1 はソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの空気中での光学特性値を測定するモー ドにレンズメ ー タ を設定する役割を果たす。 スィ ツチ S 2 はその レンズメ ータ を ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ以外の被検レンズ、 例えば、 ハー ドコ ンタ ク ト レンズ の測定モー ド、 眼鏡レンズの測定モー ドに設定する役割を果たす。

また、 演算制御回路 1 0 には、 モニターテ レビや液晶表示器等の表示 装置 （表示手段） 1 1 、 及び、 メ モ リ Mが接続ざれている。 演算制御回 路 1 0 は、 短時間毎に繰 り 返しソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの S , C , A を求めてい く も のであ り 、 この求めた S , C , Aを表示装置 1 1 に表示 さ せていき 、 その測定毎に表示装置 1 1 に表示 された S , C , A値を更新し てい ぐ。

[作用 ]

次に、 この様な構成の レンズメ ータ の演算制御回路 1 0 の機能を作用 と共に説明する。

図示 しない電源を投入する と 、 演算制御回路 1 0 が動作する と 共に、 演算制御回路 1 0 によ り 測定光投影光学系 2 の測定光源 5 が点灯 させら れる。 この測定光源 5 か らの測定光 （照明光） は、 ピンホール板 6 の ピ ンホ一ル 6 a を透過した後、 コ リ メ ータ レンズ 7 に入射 して、 コ リ メ一 タ レンズ 7 によ り 平行な測定光束 （平行光束） と されて レンズ受 4側に 投影される。

こ こで、 レンズ受 4 に被検レンズが载置されていない と き には、 平行 な測定光束力フ ターン板 8 の 4 つの開 口パターン 8 a が図 3 に示 した よ う にそのまま受光センサ 9 に開 口パターン像 8 a ' と して投影される。 この と き の受光センサ 9 からの信号が演算制御回路 1 0 に入力 され、 演 算制御回路 1 0 はこの と き の開 口パターン像 8 a ' の座標を光学特性演 算のためのパターン基準データ と してメ モ リ Mに記憶している。 また、 レンズ受 4 に被検レンズが载置されている と き には、 平行な測 定光束が被検レンズを透過 して屈折した後、 こ の屈折させられた測定光 束によ り パターン板 8 の 4つの開 口パターン 8 a が拡大又は縮小させら れた開 口パターン像と して受光センサ 9 に投影される。

一方、 スィ ッチ S 1 を O Nさせる と演算制御回路 1 0 は、 ソ フ ト コ ン タ ク ト レンズの空気中での光学特性値を測定するモー ドに レンズメ ータ を設定する。 また、 スィ ッチ S 2 を O Nさせる と 演算制御回路 1 0 は、 レンズメ ータ を ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ以外の被検レンズ、 例えば、 ハ 一ド コ ンタ ク ト レンズの測定モー ド、 眼鏡レンズの測定モー ドに設定す る。

く ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの測定 >

こ こ では、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズを測定する場合について説明する が、 まずソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面状態について説明する。

( 1 ) ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの表面状態の変化

ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lを レンズ受 4上に載置 して、 ソ フ ト コ ン タ ク ト レンズ T Lの光学特性の測定を開始する場合、 通常は、 レンズ収 納容器内の生理食塩水中に浸漬されている ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を レ ンズ収納容器から取 り 出 して、 こ の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lを 図 1 の如 く レンズ受 4 に載置する。 こ の場合、 載置直後は、 多量の生理 食塩水又は水等の液体 1 2が ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面に図 4

( a ) に示すよ う に付着 している。

また、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lを レンズ受 4上に载置してか ら時 間が経過して ソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T Lが乾いた後に、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの測定を開始する場合、 或いはレンズ受 4上に乾いた ソ ブ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lを載置 して測定を開始する場合、 図示を略す スポィ トから生理食塩水をソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L上に滴下して、 多量の生理食塩水又は水等の液体 1 4 を ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の 表面に図 4 ( a ) に示すよ う に付着させる。 これは使用状態と 同 じ条件 でソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の屈折特性を測定する必要がある からで める。

そ して、 測定開始時から ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L は、 （i)多量液体 保有状態， （ii)な じんだ状態， （iii)乾燥状態と順に変化する。

(i)測定開始時 （多量液体保有状態）

すなわち測定開始時には、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を図 4 ( a ) に示す様に濡ら して、 液体 1 4 が ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面に 多量に付着した状態にする。 こ の図 4 ( a ) の如 く 液体 1 4 が ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面に多量に付着 した状態では、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面に液体 1 4 が水滴状になって凹凸状に付着 した状態 になる。

(ii)測定中期 （な じんだ状態）

しかし、 測定中にソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面に付着 した液体 1 4 が表面の湾曲に沿って流下した り 、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の 表面に付着した液体 1 4 の一部が蒸発或いはソ フ ト コ ンタ ク ト レンズで L に吸収された り して、 液体 1 4 が ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L にな じ んで く る。 こ のな じんだ状態では、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面 の液体 1 4 が図 4 ( b ) に示 した よ う に一様な厚みの層状になった り 、 こ の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面が滑らかな状態になる よ う に適 度に乾いた り する。

(iii)測定後期 （乾燥状態）

更に、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L によ る水分の吸収が進行し、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L が乾く と 、 図 4 ( c ) に示すよ う に、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面 1 4 a 、 裏面 1 4 b は粗面状態 と なる。 ( 2 ) ソ フ ト 'コ ンタ ク ト レンズの測定

ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性を測定する場合には、 スィ ッチ S 1 を O N させて、 レンズメ ータ を ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの空気中での 光学特性値を測定するモー ドにする。

こ の状態で、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を レンズ受 4 上に載置する これによ り 、 測定光源 5 からの測定光 （照明光） は、 ピンホール板 6 の ピンホール 6 a を透過 した後、 コ リ メ ータ レンズ 7入射 して、 コ リ メ一 タ レンズ 7 によ り 平行な測定光束 （平行光束） と されて レンズ受 4 上の ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T L に投影される。

こ の平行な測定光束はソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を透過して屈折し た後、 こ の屈折させられた測定光束によ り パターン板 8 の 4 つの開 口パ ターン 8 a が受光センサ 9 に投影される。

この際、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面が滑らかな状態と なって いれば、 平行な測定光束はソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の屈折力のみに よって屈折して 4 つの開 口パターン 8 a を受光センサ 9 に投影する。 し かも、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L が凹 レンズ又は凸レンズである かに 応じて、 4 つの開 口パターン 8 a ( 4 つの開 口パターン 8 a の間隔や開 口パターン 8 a の開 口径） が受光センサ 9 に拡大又は縮小された状態で 投影 されて、 拡大又は縮小された状態の 4 つの開 口パタ ーン 8 a の開 口 パターン像 8 a ' が図 5 の如 く 受光センサ 9 の中央部側に形成される。 その上、 ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T L に円柱軸がない場合、 4つの開 口 パターン 8 a の開 口パターン像 8 a ' は測定光軸 O を中心とする 円 r 上 に形成される。 また、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L に円柱軸がある場合 4つの開 口パターン 8 a の開 口パターン像 8 a ' は図 6 の如く 測定光軸 Oを中心 とする楕円上に形成さ.れる。 尚、 この楕円の長軸方向が円柱軸 の向き と なる。 そして、 この開 口パターン像の拡大 . 縮小率を求める こ とによ り 、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T L の光学特性値 S、 C、 Aが求められる。

と ころで、 ソ フ トコ ンタク ト レンズ T Lの光学特性の測定を行う場合、 液体 1 4 によ り充分に濡れた状態のソ フ ト コンタク ト レンズ T Lをレン ズ受 4上に載置し、 或いはレンズ受 4上に載置されたソフ トコンタク ト レンズ T L に液体 1 4 を滴下 して ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を充分に 濡らす様にしている。 これは使用状態と 同じ条件でソ フ ト コンタク ト レ ンズ T Lの屈折特性を測定する必要があるからである。

しか し、 こ の測定開始時 （測定開始初期） には ソ フ ト コ ンタ ク ト レン ズ T Lの表面が図 4 ( a ) の如く 多量の液体 1 4 で凹凸状となっている。 このため、 測定開始時にソフ ト コンタク ト レンズ T Lに入射する平行な 測定光束は、 ソフ ト コ ンタク ト レンズ T Lの表面に付着した凹凸状の液 体 1 4 の屈折力と ソ フ ト コンタク ト レンズ T L の屈折力 と によって屈折 する。 すなわち、 測定開始時にソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lに入射する 平行な測定光束は、 凹凸状の液体 1 4 の屈折力に影響を受けて屈折又は 散乱する。

このため、 図 7 ( a ) の測定光束 1 5 によ り受光センサ 9 に投影され る 4 つの開口パターン 8 a の開口パター ン像は測定光軸 Oを中心とする 円上又は楕円上から外れた位置に形成される。

しかも、 図 7 ( a ) に示したよ う に散乱光 1 6 による開 口パター ン 8 a の散乱開口像 （図示略） が受光セ ンサ 9上に形成される。 こ の際、 受 光センサ 9からは図 7 ( b ) に示したよ う に測定光束 1 5 による出力

(測定信号） O a 1と測定光束 1 6 による出力 （散乱光測定信号） O b i 及ぴ雑音となる出力 O c lが得られる。 こ の雑音となる出力 O c lは受光 センサ 9 の全体で略同 じレベルで検出される。 従って、 こ の出力 O b iや 出力 O c lが検出されている状態では、 ソ フ ト コ ンタク ト レンズ T L の光 学特性を正確に測定できない状態にある。

そ して、 測定時間が経過する に従って ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの 表面の液体 1 4 は薄く なつて、 図 4 ( b ) , 図 8 ( a ) に示すよ う に、 ソ フ ト コンタク ト レンズ T Lの表面 1 4 a に液体 1 4がなじんだ状態に なる と、 図 7 ( b ) に示した受光センサ 9 からの出力 O b i及ぴ雑音'であ る出力 O c lが 「 0」 になって図 8 ( b ) に示したよ う に出力されなく な る。 しかも、 この際、 図 7 ( b ) の出力 O a 1は散乱光が減少した （ほぼ なく なった） 分だけ光量が増える と共に鮮明になって図 8 ( b ) の様な 出力 O a 2と なる。

この と き には、 その光学特性値 S , C , Aはその ソ フ ト コ ンタ ク ト レン ズ T Lの本来の形状が有する空気中の光学特性値 S， C , Aと精密な意味 で同じものと なる。 従って、 演算制御回路 1 0 は、 受光センサ 9 からの 測定信号を検出して、 出力 O b i及び出力 O c lが所定値以下 （設定値以 下、 即ちほぼ Γ 0」 近く ） になったと き （後述の図 1 1 の時間 t 1) に、 演算して求めた光学特性値 S， C，Aをメモリ （図示せず）に記憶させる。 このメモリ に記憶された光学特性値 S , C , Aは更新されるこ となく 表示 装置 1 1 に表示され続ける こ と になる。

光学特性値 S , C , Aの演算は、 出力 O a 2 ( 4つの開 口パターン 8 a に 対応してそれぞれある） の座標をメ モ リ Mに測定パターンデータ と して 記憶させ、 そ して、 演算制御回路 1 0 は、 この測定パターンデータ とパ ターン基準データ とから受光センサ 9上における開 口パターン像の拡大 • 縮小率及び変化を求めて、 ソフ ト コンタク ト レンズ T Lの光学特性値 S , C , Aを演算する。

更に、 測定時間が経過する と、 図 4 ( c ) ， 図 9 ( a ) に示すよ う に、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面、 裏面が粗面状態になる。 こ の と き には、 図 9 ( a ) に示したよ う に散乱光 1 6 ' が受光センサ 9上に略一 様に投影される ので、 受光センサ 9 に投影される 開 口パターン 8 a の光 量が低下する と 共に、 散乱光によ る 出力 O c 2が雑音 （ノ イズ） と して得 られる。 このため、 図 8 ( b )· の出力 O a 2は光量が図 7 ( b ) の出力 O a lよ り 更に減少して図 9 ( b ) に示したよ う に出力 O a 3と なる。 この 場合には、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を介して受光センサ 9 に投影さ れる 開 口パターン 8 a の開 口パタ ーン像は鮮明な像と して得られずぼや ける ので、 光学特性値 S , C , Aはそのソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の本 来の形状が有する空気中の光学特性値 S , C , A と は異なる もの と なる。 従って、 図 9 の場合も、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの光学特性を正確 に測定でき ない状態にある。

この様な図 7 ( b ) 〜図 9 ( b ) の受光センサ 9 の出力を比較のため 重ねて表示する と 図 1 0 に示した よ う になる。

また、 この様な ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の測定に際して発生する 散乱光強度の変化について見る と 、 散乱光強度は図 1 1 に散乱光強度曲 線 B で示した よ う に変化する。 即ち、 測定開始初期は、 図 7 ( a ) のよ う にソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面の液体 1 4 は一様でないので、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を透過する散乱光の強度が図 1 1 の時間

「 0 」 における よ う に大きい。 こ の散乱光強度は、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T L の表面の液体 1 4 が徐々 に一様になる ので、 測定開始から徐々 に小さ く なる。 そ して、 時間 t 1 ~ t 2の測定中期は図 8 ( b ) のよ う に ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面の液体 1 4 がー様と なるので、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を透過する散乱光の強度が図 1 1 に示 したよ う に小 さ く 略 「 0 」 に近く なる。 こ の時間 t 2後の測定後期には、 図 9

( a ) のよ う にソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面が乾いて表面に細カ い凹凸が生じ徐々 に大き く なる ので、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を透 過する散乱光の強度が図 1 1 に示 したよ う に徐々 に大き く なる。 従って、 図 1 1 から も時間 t l ~ t 2の間に受光センサ 9 から得られる 出力 O a 2に基づいてソ フ ト コ ンタク ト レンズ T Lの光学特性値 S , C , A を求めれば良いこ とが分かる。

こ の様にして求められた光学特性値 S , C , Aは表示装置 1 1 に表示さ れる。

尚、 以上説明した実施例では、 受光センサ 9 の一部を利用して散乱光 による散乱開 口像の光を検出する よ う にしたが、' 受光センサ 9 と は別の 受光セ ンサ （受光素子） を散乱光を受光するための散乱光受光部と して 設けても良い。

( 3 ) その他

以上説明したよ う に、 この発明にかかる ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ光学 特性測定方法は、 測定光源 5 から受光センサ （受光素子） 9までの測定 光学系 1 の測定光路途中にパターン板 （パターン光形成手段） 8 を配設 して、 光源 5 からの測定光をパターン板 8 によ り パターン光にして受光 センサ 9 に受光させる と共に、 ソ フ ト コンタク ト レンズ T Lを測定光路 途中に配設したと き、 受光センサ 9 で受光されるパターン光の変化を受 光センサ 9 から出力される測定信号の変化から求める こ と によ り 、 測定 光路途中に配設されたソ フ ト コ ンタク ト レンズ T L の光学特性値を求め る よ う に している。 しかも、 濡れた状態の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を空気中で且つ測定光路途中に配設して、 測定光がソフ ト コンタク ト レ ンズ T Lを透過して散乱したと きの散乱光を受光センサ 9 で受光させる こ と によ り測定を開始させる と共に、 前記散乱光の散乱状態を前記受光 センサ 9 で受光される前記パターン光の変化に伴う前記測定信号の変化 から求めて、 前記受光センサ 9 から出力される測定信号が設定値以下に なつた と きに前記光学特性値を求める様にしている。

また、 この ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ光学特性測定方法においては、 前 記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の測定開始時に前記ソフ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T L を生理食塩水又は水等の液体で濡らすこ と が望ま しい。

更に、 前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面に液体が多量に付着し ている測定開示時から、 前記液体が ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L に吸収 或いは蒸発又は流下した り して ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面の液 体が一様の層状になる測定中期を経て、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ しへ の水分の吸収及ぴ乾燥が進行して ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面が 粗面状態と なる測定後期まで変化する際に、 前記測定中期における前記 測定信号から前記ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の光学特性を求める こ と で、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の光学特性を正確に求める こ と ができ る。

また、 この発明にかかる ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ光学特性測定装置は 光源 5 から受光センサ （受光素子） 9 までの測定光路途中にパターン板 (パター ン光形成手段） 8 を配設 して、 前記光源 5 からの測定光を前記 パターン板 8 に よ り パターン光に して前記受光セ ンサ 9 に受光させる様 に した測定光学系 1 と 、 前記前記測定光路途中にソ フ ト コ ンタ ク ト レン ズ T L を配設 した と き 、 前記受光センサ 9 で受光 されるパターン光の変 化を前記受光セ ンサ 9 か ら 出力 される測定信号の変化から求める こ と に よ り 、 前記測定光路途中に配設 されたソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の光 学特性値を求め る演算制御回路 1 0 と を備える。 しかも、 前記受光セン サ 9 は前記測定光がソ フ ト コ ン ク ト レンズ T L を透過する際に生じる 散乱光を受光して散乱光測定信号を出力可能に設け られている と共に、 前記演算制御回路 1 0 は、 濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L が前記測定光路途中の レンズ受 4 に載置されて測定が開始された と き からの前記散乱光測定信号が設定値以下の と き の前記測定信号から前記 光学特性値を求める。 更に、 前記測定光がソ フ ト コ ンタク ト レンズを透過する際に生じる散 乱光を受光して散乱光測定信号を出力する散乱光受光部は、 上述したよ う に前記受光センサ （受光素子） 9 と は別に設けられていても良い。 【発明の実施の形態 2 】

[構成 ]

図 1 2〜図 2 3 は、 この発明の実施の形態 2 を示したものである。 即 ち、 この発明の実施の形態 2 は、 眼屈折力測定装置 1 0 0 に設けた顔固 定装置 2 0 0 に図 1 5〜図 1 7 のコンタク ト レンズ測定用のアタ ッチメ ン ト 3 0 0 を取り付けて、 この眼屈折力測定装置 1 0 0 によ り 上述のよ う なコ ンタク ト レンズ T Lの測定ができ る様にした例を示したも のであ' る。

図 1 2， 図 1 3 において、 1 0 1 は眼屈折力測定装置 1 0 0 の固定べ ー ス 、 1 0 2 は固定ベー ス 1 0 1 上に前後 · 左右に移動可能に装着され た可動ベース 、 1 0 3 は可動ベー ス 1 0 2 を前後 ' 左右に移動操作する ジョ イステック レバーである。 また、 可動ベー ス 1 0 2上には三次元駆 動装置 （図示せず） を内蔵するケース 1 0 4が取り付けられ、 このケー ス 1 0 4上には屈折力測定光学系を内蔵する装置本体 1 0 5が配設され ている。 この屈折力測定光学系は、 ケー ス 1 0 4 内の三次元駆動装置 (図示せず） によ り 三次元方向に駆動される様になつている。

こ の三次元駆動装置 1 0 4 の操作は、 ジョイステック レバー 1 0 3及 び図示を省略した演算制御回路 （演算制御手段） によ り行う こ とができ る。 こ の構成には周知の構成を採用でき るので、 その詳細な説明は省略 する。

また、 ケース 1 0 4の後面には T Vモニター （表示装置） 1 0 4 a が 装着されている。

く顔固定装置 2 0 0 > この顔固定装置 （顔固定手段） 2 0 0 は、 固定ベース 1 0 1 の前端部 の左右方向中央に図 1 4， 図 1 5 の如く 取り付けられた支持部材 2 0 1 を有する。 こ の支持部材 2 0 1 は、 側面形状が図 1 3〜図' 1 5 に示した よ う に L字状に形成されている と共に、 上下に延ぴている。 そして、 支 持部材 2 0 1 の上端部には左右に延びる顎受支持部 2 0 2がー体に形成 されている。

また、 顔固定装置 2 0 0 は、 顎受支持部 2 0 2 に上下動可能に取 り 付 けられた顎受支持軸 2 0 3 と、 顎受支持軸 2 0 3 の上端部に取り 付け ら れた顎受 2 0 4 と 、 上下に逆 U字状に延び且つ両端部が顎受支持軸 2 0 3 の両端部上に取り付けられた額当支持フ レーム 2 0 5 を有する。

この顎受支持軸 2 0 3 は、 顎受支持部 2 0 2の左右方向中央に位置さ せられている と共に、 図示を省略した駆動モータ等の駆動手段によ り 上 下に移動調整可能に設けられている。 この構成には周知の構成が採用で きるので、 その説明は省略する。 また、 顎受 2 0 4は、 左右方向中央に 設けられた顎載用 （顎支持用） の ffl部 2 0 4 a と、 凹部 2 0 4 a の左右 に位置する永平部 2 0 4 b ， 2 0 4 b を有する。 そ して、 水平部 2 0 4 b， 2 0 4 b には図 1 6 に示したよ う にピン取付孔 2 0 6 , 2 0 6 が形 成されている。

更に、 顔固定装置 2 0 0 は、 ピン取付孔 2 0 6， 2 0 6 に螺着され且 つ上方に突出する位置規制ピン 2 0 7， 2 0 7 と、 額当支持フ レーム 2 0 5 の上端部に取り付けられた額当 2 0 8 を有する尚、 位置規制ピン 2 0 7， 2 0 7 をピン取付孔 2 0 6 , 2 0 6 に圧入によ り 取り付ける こ と もでき る。

く コ ンタ ク ト レンズ測定用のアタ ッチメ ン ト 3 0 0 〉

このアタ ッチメ ン ト 3 0 0 は、 図 1 5〜図 1 7 に示したよ う に、 部品 取付板 3 0 1 と、 モデル眼 3 0 2， レンズ受 3 0 3， ミ ラー取付板 3 0 4， 反射ミ ラー 3 0 5 を有する。

こ の部品取付板 3 0 1 は、 水平な下取付板部 3 0 1 a と、 下取付板部 3 0 1 a の前縁から上方に略鉛直に延びる板部 3 0 1 b と、 板部 3 0 1 b の上端から後方に向けて水平に延びる上取付板部 3 0 1 c を有する。 この下取付板部 3 0 1 a の左右の部分には図 1 6 に示したよ う に顎受 2 0 4 のピン取付孔 2 0 6 , 2 0 6 と 同じ間隔のピン揷通孔 3 0 6 ， 3 0 6 がそれぞれ形成されている。

また、 モデル眼 3 0 2 は、 図 1 6 ， 図 1 7 ( a ) に示したよ う に上下 に延びる筒状の本体 3 0 7 と、 本体 3 0 7 の下端部内に配設された反射 ミ ラー 3 0 8 を有する。 この本体 3 0 7 の上端部は上取付板部 3 0 1 c の左右方向中央下部にビス 3 0 9 で固定されている。 しかも、 上取付板 部 3 0 1 c には、 本体 3 0 7 と 同心で且つ本体 3 0 7の内径よ り 大径の レンズ受取付孔 3 1 0 が形成されている。 こ の レンズ受取付孔 3 1 0 に は、 レンズ受 3 0 3 の下端部が嵌着されている。 この レンズ受 3 0 3 は 本体 3 0 7又はレンズ受取付孔 3 1 0 に接着固定しても良いし、 本体 3' 0 7及ぴレンズ受取付孔 3 1 0 に接着固定しても良いし、 本体 3 0 7又 はレンズ受取付孔 3 1 0 に螺着固定しても良い。

更に、 ミ ラー取付板 3 0 4 は後方に向けて 4 5 ° 傾.斜した状態で上取 付板部 3 0 1 c の上部にビス 3 1 1 で固定され、 反射ミ ラー 3 0 5 はミ ラー取付板 3 0 4 の下面にブラケッ ト 3 1 2及ぴビス 3 1 3 を介して固 定されている。 こ の,反射ミ ラー 3 0 5 の中央はレンズ受 3 0 3 に臨んで いる。

こ の様な構成のアタ ッチメ ン ト 3 0 0 の ピン揷通孔 3 0 6， 3 0 6 に 位置規制ピン 2 0 7， 2 0 7 を揷通し、 こ の位置規制ピン 2 0 7 , 2 0 7 を顎受 2 0 4 の ピン取付孔 2 0 6， 2 0 6 に螺着する こ と によ り 、 ァ タ ツチメ ン ト 3 0 0 を顎受 2 0 4 に取り付けるこ とができる。 ぐ屈折力測定光学系 >

また、 装置本体 1 0 5 内には、 図 1 8 ( A ) に示したよ うな屈折力測 定光学系が内蔵されている。 こ の図 1 8 ( A ) において、 1 1 0 は被検 眼 Eを固視 · 雲霧させるために視標を眼底 E r に投影する視標投影光学 系、 1 2 0 は被検眼 Eの前眼部 E f を観察する観察光学系、 1 3 0 は照 準スケールを受光素子 S に投影するスケール投影光学系、 1 4 0 は被検 眼 Eの屈折力を測定するためのパターン光束を眼底 E r に投影するパタ "ン光束投影光学系、 1 5 0 は眼底 E r から反射された光束を受光素子 S に受光させる受光光学系である。

視標投影光学系 1 1 0 は、 光源 1 1 1 、 コ リ メータ レンズ 1 1 2、 視 標板 1 1 3、 リ レー レ ンズ 1 1 4、 ミ ラー 1 1 5 、 リ レー レンズ 1 1 6 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 7、 ダイ ク ロイ ツク ミ ラー 1 1 8、 対物レン ズ 1 1 9 を備えている。

光源 1 1 1 から出射された可視光は、 コ リ メータ レンズ 1 1 2 によつ て平行光束と された後、 視標板 1 1 3 を透過する。 視標板 1 1 3 には被 検眼 Eを固視 · 雲霧させるためのターゲッ トが設けられている。 そのタ ーゲッ ト光束は、 リ レー レンズ 1 1 4 を透過してミ ラー 1 1 5 に反射さ れ、 リ レーレンズ 1 1 6 を経てダイ ク ロイ ツク ミ ラー 1 1 7に反射され て装置本体の主光軸 O l に導かれ、 ダイク ロイ ツク ミ ラー 1 1 8 を透過 した後、 対物レンズ 1 1 9 を経て被検眼 Eに導かれる。

尚、 光源 1 1 1 ， コ リ メータ レンズ 1 1 2， 視標板 1 1 3 は、 被検眼 Eを固視 ' 雲霧させるために、 視標投影光学系 1 1 0 の光軸 0 2 に沿つ て移動可能と なる よ う にレンズ鏡筒 1 1 0 a に保持されてュニッ ト化さ れてい る。 こ の レンズ鏡筒 1 1 0 a はパルスモータ P M 1 によ り 光軸 O 2 に沿って進退駆動される様になつている。

観察光学系 1 2 0 は、 光源 1 2 1 、 対物レンズ 1 1 9 、 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 8 、 リ レー レンズ 1 2 2 、 絞 り 1 2 3 、 ミ ラ ー 1 2 4 、 リ レー レンズ 1 2 5 、 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 2 6 、 結像レンズ 1 2 7、 受光素子 S を有する。 こ の受光素子 S は、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの屈 折特性を測定する 際には、 散乱光受光部 と しても用い られる。

光源 1 2 1 か ら 出射された光束は、 被検眼 E の前眼部 E f をダイ レク ト に照明する。 前眼部 E f に反射された光束は、 対物レンズ 1 1.9 を経 てダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 8 に反射され、 リ レー レンズ 1 2 2 を透過 する と 同時に絞 り 1 2 3 を通過 し、 ミ ラー 1 2 4 に反射された後、 リ レ 一レンズ 1 2 5 及ぴダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 2 6 を透過 して結像レンズ 1 2 7 によ り 受光素子 S に結像される。

スケール投影光学系 1 3 0 は、 光源 1 3 1 、 照準スケールを設けたコ リ メ ータ レンズ 1 3 2 、 リ レー レンズ 1 3 3 、 ダイ ク ロ イ ツ ク ミ ラー 1 1 8 、 リ レー レ ンズ 1 2 2 、 絞 り 1 2 3 、 ミ ラ ー 1 2 4 、 リ レー レンズ 1 2 5 、 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 2 6 、 結像レンズ 1 2 7 、 受光素子 S を有する。

光源 1 3 1 か ら 出射された光束は、 コ リ メ ータ レンズ 1 3 2 を透過す る際に照準ス ケール光束 （平行光束） と された後、 リ レー レンズ 1 3 3 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 8 ， リ レーレンズ 1 2 2 , 絞 り 1 2 3 を経て ミ ラー 1 2 4 に反射され、 リ レー レンズ 1 2 5 ， ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 2 6 を経て結像レンズ 1 2 7 によ って受光素子 S に結像される。

受光素子 S には、 例えば、 2 次元のエ リ ア C C D等が用い られ、 図示 しないモニタ に観察光学系 1 2 0 によって導かれた前眼部像が表示され る と 共に照準スケールに基づく 像が表示 される。 検者は、 このモニタ に 表示 された前眼部像が照準ス ケール像に近付く よ う に被検眼 E と 装置本 体と の上下左右方向のァライ メ ン ト操作を行 う 。 また、 前後方向の 'ァラ ィ メ ン ト操作を行 う 。 尚、 ァライ メ ン ト操作終了後の屈折力測定時には 光源 1 2 1， 1 3 1 を消灯する か、 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 8 から ダ ィ ク ロイ ツク ミ ラー 1 2 6 に至る光路中にシャ ッ ター等を設けて受光素 子 Sへの受光が阻止される。

パタ ーン光束投影光学系 1 4 0 は、 光源 1 4 1 、 コ リ メ ータ レンズ 1 4 2、 円錐プ リ ズム 1 4 3 、 リ ング指標板 1 4 4、 リ レー レンズ 1 4 5 ミ ラー 1 4 6 、 リ レー レンズ 1 4 7、 穴空き プ リ ズム 1 4 8、 偏向部材 と しての光軸偏向プリ ズム 1 4 9 、 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 7、 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 8 、 対物レンズ 1 1 9 を備えている。 なお、 光源 1 4 1 と リ ング指標板 1 4 4 と は光学的に共役であ り 、 リ ング指標板 1 4 4 と被検眼 Eの瞳孔 E と は光学的に共役な位置に配置されている。 光源 1 4 1 から 出射された光束は、 コ リ メ ータ レンズ 1 4 2 に よって 平行光束と され、 円錐プ リ ズム 1 4 3 を透過 して リ ング指標板 1 4 4 に 導かれ、 こ の リ ング指標板 1 4 4 に形成された リ ング状のパターン部分 を透過 してパタ ー ン光束と な る。 パタ ーン光束は、 リ レー レンズ 1 4 5 を透過 した後、 ミ ラー 1 4 6 に反射され リ レー レンズ 1 4 7 を透過して 穴空き プリ ズム 1 4 8 に よって主光軸 O l に沿って反射され、 光軸偏向 プリ ズム 1 4 9 に よって主光軸 O l と はズレた斜め状態に偏向 された状 態でダイ ク ロ イ ツ ク ミ ラー 1 1 7 , 1 1 8 を透過した後、 対物レンズ 1 1 9 によ り 眼底 E r に結像される。

光軸偏向プ リ ズム 1 4 9 は、 パルスモータ P M 2 によ り 主光軸 O l を 軸線と して高速回転 （矢印参照） され られる様になつている。 こ の高速 回転によ り 眼底 E r に投影されるパターン光束は、 図 1 9 に示すよ う に 主光軸 O 1 を中心 と して偏心状態で周回する。

受光光学系 1 5 0は、 対物レンズ 1 1 9 、 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 8， 1 1 7、 光軸偏向プ リ ズム 1 4 9 、 穴空き プ リ ズム 1 4 8 の穴部 1 4 8 a 、 リ レー レ ンズ 1 5 1 、 ミ ラー 1 5 2、 リ レー レンズ 1 5 3 、 ミ ラー 1 5 4、 合焦 レンズ 1 5 5 、 ミ ラー 1 5 6、 ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 2 6 、 結像レンズ 1 2 7、 受光素子 S を有する。

尚、 合焦レンズ 1 5 5 は、 光源 1 4 1 ， コ リ メ ータ レンズ 1 4 2， 円 錐プリ ズム 1 4 3 ， リ ング指標板 1 4 4 と 一体に各光学系 1 4 0 , 1 5 0の光軸 0 3， 0 4 に沿って移動可能 と なっている。

パターン光束投影光学系 1 4 0 によ って眼底 E r に導かれ、 こ の眼底 E r で反射された反射光束は、 対物レンズ 1 1 9 に集光され、 ダイ ク 口 イ ツ ク ミ ラー 1 1 8 , 1 1 7 を透過 して光軸偏向プリ ズム 1 4 9 に導か れ、 光束逆進の原理によ り 光軸偏向プリ ズム 1 4 9 を透過 した際には主 光軸 O l を中心 と した同 じ部分かち穴空き プリ ズム 1 4 8 の穴部 1 4 8 a へと 導き、 こ の穴部 1 4 8 a を通過する。

穴部 1 4 8 a を通過 したパター ン反射光束は、 リ レー レンズ 1 5 1 を 透過 して ミ ラー 1 5 2 に反射され、 リ レー レンズ 1 5 3 を透過して ミ ラ — 1 5 4 に反射 され、 合焦レンズ 1 5 5 を透過して ミ ラー 1 5 6並びに ダイ ク ロ イ ツ ク ミ ラ ー 1 2 6 に反射され、 結像レンズ 1 2 7 に よ っ て受 光素子 S にパターン像が結像される。

そ して、 受光素子 S と 眼底 E rと が共役と なっ てお り 、 リ ング指標板 1 4 4 と が共役と なっている。

受光素子 S か ら の映像信号 （受光信号 ： 測定信号） は図 1 8 ( B ) に 示したよ う に演算制御回路 1 6 0 に入力 される様になつている。 こ の演 算制御回路 （演算手段） 1 6 0 は、 受像素子 Sか らの映像信号を基に被 検眼の屈折力を求める よ う になつている。 そ して、 演算制御回路 1 6 0 は、 求めた屈折力を T Vモニター 1 4 9 a に表示 させる様になつている , また、 演算制御回路 1 6 0 は、 パルスモータ P M 1 を作動制御 して レ ンズ鏡简 1 1 0 a を光軸 O 2 に沿 う 方向に進退駆動制御する様になって いる と 共に、 P M 2 を駆動制御 してプリ ズム 1 4 9 を光軸 O l 回 り に高 速回転制御する様になつている。 しかも、 演算制御回路 1 6 0 は、 光源 1 1 1， 1 3 1， 1 4 1 を点灯制御する様になつている。

更に、 演算制御回路 1 6 0 は、 受光秦子 S 上でのパターン像 1 4 4 " をフ レームメ モ リ等の記憶媒体 1 6 1 に複数記憶させる様になつている [作用 ]

次に、 この様な構成の眼屈折力測定装置 2 0 0及ぴァタ ツチメ ン ト 3 0 0 を用いたコ ンタ ク ト レンズ T L の測定について説明する。

( 1 ) 眼屈折力測定装置 2 0 0 による眼屈折力測定

<ァライ メ ン ト >

測定を開始する前には、 演算制御回路 1 6 0 によ り各光源 1 1 1， 1 2 1， 1 3 1 を点灯させて被検眼 Eを固視させる と共に被検眼 E と装置 本体と のァラィ メ ン ト操作を行う。

こ の際、 光源 1 1 1 か ら出射された可視光は、 コ リ メータ レンズ 1 1 2 によって平行光束と された後、 視標板 1 1 3 を透過して、 視標板 1 1 3 のターゲッ ト光束を形成させる。 こ のターゲッ ト光束は、 リ レー レン ズ 1 1 4 ， ミ ラ ー 1 1 5 ， リ レー レンズ 1 1 6 ， ダイ ク ロ イ ツ ク ミ ラ ー 1 1 7 , 1 1 8 ， 対物レンズ 1 1 9 を介して被検眼 Eに投影される。 こ の被検眼 Eには、 ターゲッ ト光を視認させる。 こ の際、 ユニッ ト化され た光源 1 1 1 ， コ リ メータ レンズ 1 1 2， 視標板 1 1 3 を光軸 0 2 に沿 つて移動させて、 被検眼 Eが固視しているターゲッ ト光束を雲霧させ、 被検眼 Eが遠方視している状態にさせる。

一方、 光源 1 2 1 から出射された光束は、 被検眼 Eの前眼部 E f をダ ィ レク トに照明する。 そ して、 前眼部 E f に反射された光束は、 対物レ ンズ 1 1 9 ， ダイ ク ロ イ ツ ク ミ ラ ー 1 1 8 ， リ レー レンズ 1 2 2 , 絞 り 1 2 3 , ミ ラ ー 1 2 4 ， リ レー レンズ 1 2 5 ， ダイク ロ イ ツ ク ミ ラ ー 1 2 6 , 結像レンズ 1 2 7 を介して受光素子 S に結像される。 また、 ス ケ ール投影光学系 1 3 0 の光源 1 3 1 から出射された光束は、 コ リ メータ レンズ 1 3 2 を透過する際に照準ス ケール光束 （平行光束） と された後 リ レー レンズ 1 3 3 , ダイ ク ロ イ ツ ク ミ ラ ー 1 1 8 ， リ レー レンズ 1 2 2 ， 絞り 1 2 3 を経てミ ラー 1 2 4 に反射され、 リ レー レンズ 1 2 5 ， ダイ ク ロイ ツク ミ ラー 1 2 6 を経て結像レンズ 1 2 7 によって受光素子 S に結像される。

こ の様にして、 受光素子 Sには観察光学系 1 2 0 によって導かれた前 眼部像が結像される と共に、 照準ス ケールに基づく 像が結像される。'そ して、 こ の受光素子 S の映像信号は、 モニ タ 1 0 4 a に入力されて、 モ ニタ 1 0 4 a に前眼部像 E ' 及び照準ス ケール T S に基づく 像が表示さ れる。 検者は、 ジョイステック レパー 1 0 3 を操作して、 モニタ 1 0 4 a に表示された前眼部像 E ' が照準スケール像 T S に近付く よ う に被検 眼 E と装置本体 1 0 5 と の上下左右方向のァライメ ン ト操作を行う。 ま た、 検者は、 このモニタ 1 0 4 a に表示された前眼部像 E ' の前後方向 のァライ メ ン ト操作を行う。

ぐ測定 >

こ のァ ライ メ ン ト完了する と 、 演算制御回路 1 6 0 は光源 1 2 1 ， 1 3 1 を消灯して、 光源 1 2 1 , 1 3 1 からの光が受光素子 S に投影され ないよ う にする。 こ の状態で、 演算制御回路 1 6 0 はパターン光束投影 光学系 1 4 0 の光源 1 4 1 を点灯させる。

こ のパター ン光束投影光学系 1 4 0 の光源 1 4 1 から出射された光束 は、 コ リ メータ レンズ 1 4 2 によって平行光束と され、 円錐プリ ズム 1 4 3 を透過して リ ング指標板 1 4 4 に導かれ、 こ のリ ング指標板 1 4 4 に形成された リ ング状のパターン部分を透過してパターン光束と なる。 このパターン光束は、 リ レーレンズ 1 4 5 を透過した後、 ミ ラー 1 4 6 に反射されリ レー レンズ 1 4 7 を透過して穴空きプ リ ズム 1 4 8 によつ て主光軸 O l に沿って反射され、 光軸偏向プリ ズム 1 4 9 によって主光 軸 O 1 と はズレた斜め状態に偏向された状態でダイ ク ロイ ツク ミ ラー 1 1 7， 1 1 8 を透過した後、 対物レンズ 1 1 9 によ り 眼底 E r に結像さ れる。

こ の際、 光軸偏向プリ ズム 1 4 9 は、 演算制御回路 1 6 0 で駆動制御 されるルスモータ P M 2 によ り 主光軸 O 1 を軸線と して高速回転 （矢印 参照） されている。 こ の高速回転によ り 眼底 E r に投影されるパターン 光束は、 図 1 9 に示すよ う に、 主光軸 O 1 を中心と して偏心状態で周回 する。

そ して、 パターン光束投影光学系 1 4 0 によって眼底 E r に導かれ、 この眼底 E r で反射された反射光束は、 対物レンズ 1 1 9 に集光され、 ダイ ク ロイ ツク ミ ラー 1 1 8 , 1 1 7 を透過して光軸偏向プ リ ズム 1 4 9 に導かれ、 光束逆進の原理によ り 光軸偏向プリ ズム 1 4 9 を透過した 際には主光軸 O 1 を中心と した同じ部分から穴空きプリ ズム 1 4 8 の穴 部 1 4 8 a へと導き、 こ の穴部 1 4 8 a を通過する。

穴部 1 4 8 a を通過したパターン反射光束は、 リ レー レンズ 1 5 1 を 透過して ミ ラー 1 5 2 に反射され、 リ レーレンズ 1 5 3 を透過してミ ラ 一 1 5 4 に反射され、 合焦レンズ 1 5 5 を透過してミ ラー 1 5 6並びに ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 2 6 に反射され、 結像レンズ 1 2 7 によ って受 光素子 S にパターン像が結像される。

こ の様なパターン像 1 4 4 , の投影に際して、 検者が図示しない測定 実行スィ ツチを押すと、 演算制御回路 1 6 0 は眼底 E r に投影された周 回中の任意の位置で結像されたパターン像 1 4 4 , に基づく 受光素子 S 上でのパターン像 1 4 4 " をフ レームメ モ リ 等の記憶媒体 1 6 1 に複数 記憶させる。

例えば、 図 2 1 ( A ) ~ ( F ) に示すよ う に、 眼底 E r 上において光 軸 O 1 から リ ング中心 O 1 , がズレたパターン像 1 4 4 , に対応したも のを受光素子 S上でパターン像 1 4 4〃 と して記憶媒体に記憶した場合 図 2 1 ( A ) , ( D ) ， ( E ) , ( F ) に図示した状態では、 その検出 される ピーク位置 Q l， Q 2 は実際の像幅中心位置と一致しているが、 図 2 1 ( B ) ， ( C ) に図示した状態では疾患 1 0 9 の影響によ り ピー ク位置 Q 3， Q 4 が実際の像幅中心位置からズレた位置にある。

これらのピーク位置 Q l , Q 3 , Q 4 を記憶回数とで平均化する こ と で、 図 2 0 のグラフに示すよ う に、 実際の像幅中心位置に接近したピー ク位置 Q 1 を算出する こ とができ、 このピーク位置 Q 1 と ピーク位 置 Q 2 の位置情報に基づいて幅中心間距離を算出するこ と で眼屈折力を 測定 （測定方法は公知であるため省略する。 ） する こ とができる。 こ の 算出は演算制御回路 1 6 0 によ り行われる。

<その他 >

と ころで、 上記実施の形態 2では、 偏向部材と して光軸偏向プリ ズム 1 4 9 を用いたが、 例えば、 図 2 2 ( A ) に示すよ う に、 独立及ぴ同期 回転可能な 2つのプリ ズム 1 4 9 a , 1 4 9 b を有するロータ リ ブリ ズ ム 1 4 9 ' を偏向部材と して用い、 例えば、 図 2 2 ( B ) に示すよ う に 一方のプリ ズム 1 4 9 b を光軸 O l を軸線と して回転させた状態でロ ー タ リ プリ ズム 1 4 9 '全体を光軸 O l を軸線と して回転してもよい。 こ の際、 プリ ズム 1 4 9 a , 1 4 9 b の独立した回転量によって光軸 O 1 に対する出射角度のズレを調整変更する こ と ができ るため、 光軸偏 向プリ ズム 1 4 9 を用いた場合よ り も一層適合範囲の広いもの とする こ と ができ る。

このよ う に、 パターン像 1 4 4 ' の周回軌跡上において疾患 1 0 9 に 影響され得る範囲は影響されない範囲に比べて極僅かである。 すなわち . 例示した疾患 1 0 9 の場合であれば図 2 1 ( B ) , ( C ) に示した範囲 の軌跡上でり 、 その他の範囲は正常眼と 同様である といえるため、 記憶 媒体へのピーク位置の記憶回数を増やすほど疾患 1 0 9 に影響されない 部分の眼底情報を取り 込む可能性が髙く、 その幅中心間距離の測定結果 を平均化する こ と によ り 、 疾患 1 0 9 の存在によるズレを無視するこ と ができ るほど信頼性の高い測定結果を得る こ とができる。

こ の際、 眼底 E r 上の疾患 1 0 9等の存在位置は被検者毎に異なる。 従って、 単にズレた位置 （偏向させた位置） にパターン像 1 4 4 , を投 影しただけでは、 そのズレた位置に疾患 1 0 9等が存在している可能性 があ り 、 測定結果が誤測定となってしま う虞がある。 しかしながら、 本 発明ではパターン像を回転させ複数回の記録媒体への記録を行っている ので、 疾患 1 0 9 に影響を受けたパターン像 1 4 4〃 を取り込む可能性 が少なく なり 、 測定結果の信頼性を高く する こ と ができる。

尚、 パターン像 1 4 4 , は、 光軸 O 1 からズレた位置に投影されてい るが、 被検眼 E と装置本体とはァライメ ン ト操作を行う こ とによって一 定関係を維持しているので、 測定データの信賴性を阻害するこ と はない なお、 上記実施の形態では、 光軸偏向プリ ズム 1 4 9 がパターン光束 投影光学系 1 4 0 と受光光学系 1 5 0 の共用部分に挿入されているが、 本発明はこれに限られず、 例えば、 各光学系の非共用部分に同じ型の光 軸偏向プリ ズムを 1 つずつ配置する と共に、 この雨光軸偏向プリ ズムの 回転角度が常に一致するよ う にすれば、 同様の作用効果が得られる。 ( 2 ) ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの屈折測定

また、 この様な構成の眼屈折力測定装置 1 0 0 を用いて上述のよ う な ソフ ト コ ンタク ト レンズ T Lの屈折力を測定するには、 モデル眼 3 0 2 を有するアタ ッチメ ン ト 3 0 0 を顎受に装着する。 この場合、 先ず顔固 定装置 2 0 0 に設けた顎受 2 0 4 のピン取付孔 2 0 6， 2 0 6 力、ら位置 規制ピン 2 0 7， 2 0 7 を取り外す。 次に、 この位置規制ピン 2 0 7， 2 0 7 を、 ア タ ッチメ ン ト 3 0 0 のピン揷通孔 3 0 &， 3 0 6 に揷通し た後、 顎受 2 0 4 の ピン取付孔 2 0 6， 2 0 6 に螺着する。 こ の様に し てアタ ッ チメ ン ト 3 0 0 を図 1 5 〜図 1 7 に示 した よ う に顎受 2 0 4 に 取り 付ける。 これによ り モデル眼 3 0 2が顎受 2 0 4 に装着されて、 対 物レンズ 1 1 9 が図 2 3 の如 く 反射ミ ラー 3 0 5 を介してモデル眼 3 0 2 に臨むこ と になる。

こ の状態で、 ア タ ッ チメ ン ト 3 0 0 の レ ンズ受 2 0 4上に ソ フ ト コ ン タ ク ト レ ンズ T Lを図 1 6 ， 図 1 7 の如 く 載置する。 次に、 光源 1 2 1 1 3 1 を演算制御回路 1 6 0 を介して点灯させて、 ジ ョ イ ステ ッ ク レバ 一 1 0 3 の操作に よ り 装置本体 1 0 5 と モデル眼 3 0 2 と のァライ メ ン ト操作を、 装置本体 1 0 5 と被検眼 E r と のァ ライ メ ン ト と 同様に して 行 う 。 こ の際、 光源 1 1 1 の点灯は不要と なる。

こ のァ ライ メ ン トが完了後、 演算制御回路 1 6 0 は光源 1 2 1， 1 3 1 を消灯 して、 光源 1 2 1， 1 3 1 からの光が受光素子 S に投影 されな いよ う にする。 こ の状態で、 演算制御回路 1 6 0 はパターン光束投影光 学系 1 4 0の光源 1 4 1 を点灯させる。

こ のパター ン光束投影光学系 1 4 0 の光源 1 4 1 から 出射された光束 は、 コ リ メ ータ レンズ 1 4 2 によ って平行光束と され.、 円錐プリ ズム 1 4 3 を透過して リ ング指標板 1 4 4 に導かれ、 こ の リ ング指標板 1 4 4 に形成された リ ング状のパターン部分を透過 してパターン光束と なる。 こ のパター ン光束は、 リ レー レンズ 1 4 5 を透過 した後、 ミ ラー 1 4 6 に反射され リ レー レンズ 1 4 7 を透過して穴空き プリ ズム 1 4 8 によ つて主光軸 O 1 に沿って反射され、 光軸偏向プリ ズム 1 4 9 によ って主 光軸 O 1 と はズ レた斜め状態に偏向 された状態でダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 1 7 , 1 1 8 を透過 した後、 対物レンズ 1 1 9 ， 反射ミ ラー 3 0 5 を 介して ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面に投影され、 こ の ソ フ ト コ ン タ ク ト レンズ T L を透過 してモデル眼 3 0 2 の本体 3 0 7 内に入射し、 本体 3 0 7 の下端部内に配設された反射ミ ラー 3 0 8 に投影されて結像 される と共に反射される。

こ の際、 光軸偏向プリ ズム 1 4 9 は、 上述と 同様に主光軸 O l を軸線 と して高速回転 （矢印参照） されてお り 、 この高速回転によ り 、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L に投影され且つ眼底 E r に投影されるパターン光 束は、 図 1 9 に示すよ う に、 主光軸 O l を中心 と して偏心状態で周回す る。

そ して、 パターン光束投影光学系 1 4 0 によ ってモデル眼 3 0 2 の 反射 ミ ラー 3 0 8 に導かれ、 この反射ミ ラー 3 0 8 で反射された反射光 束は、 コ ンタ ク ト レンズ T L及ぴ反射ミ ラー 3 0 5 を介 して対物 レンズ 1 1 9 に集光され、 ダイ ク ロイ ツ ク、ミ ラー 1 1 8， 1 1 7 を透過 して光 軸偏向プリ ズム 1 4 9 に導かれ、 光束逆進の原理によ り 光軸偏向プ リ ズ ム 1 4 9 を透過 した際には主光軸 O 1 を中心と した同 じ部分から穴空き プリ ズム 1 4 8 の穴部 1 4 8 a へ と導き 、 この穴部 1 4 8 a を通過する。 穴部 1 4 8 a を通過 したパターン反射光束は、 リ レー レンズ 1 5 1 を 透過 して ミ ラー 1 5 2 に反射され、 リ レーレンズ 1 5 3 を透過して ミ ラ 一 1 5 4 に反射され、 合焦 レンズ 1 5 5 を透過して ミ ラー 1 5 6 並びに ダイ ク ロイ ツ ク ミ ラー 1 2 6 に反射され、 結像レンズ 1 2 7 によ って受 光素子 S にパターン像が結像される。

なお、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の面上での リ ング状パターン光束 の回転半径は、 例えば、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の直径を 8 . 8 mmと し、 かつ、 リ ング状パターン光束の直径を 2 . 5 mmと して、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の面上での回転直径が図 1 7 ( b ) に示すよ う に 3 . 5 m mと なる よ う に設定する と 、 測定に都合がよい。

こ の様なパターン像 1 4 4 の投影に際して、 検者が図示しない測定 実行スィ ッチを押すと 、 演算制御回路 1 6 0 はモデル眼 3 0 2 の反射ミ ラー 3 0 8 に投影 された周回中の任意の位置で結像されたパターン像 1 4 4 , に基づく 受光素子 S 上でのパターン像 1 4 4 " をフ レーム メ モ リ 等の記憶媒体に複数記憶させる。

こ の場合も、 図 2 0 に示すよ う に、 ピーク位置 Q 1 ' と ピーク位置 Q 2 の位置情報に基づいて幅中心間距離を算出する こ と で眼屈折力を測定 する こ と ができ る。

こ の様な眼屈折力測定装置 1 0 0 を用いた測定において も、 発明の実 施の形態 1 の （i )測定開始時 （多量液体保有状態） ， （i i )測定中期 （な じ んだ状態） ， （i i i )測定後期 （乾燥状態） 等の測定と 同様な測定及び演算 を演算制御回路 1 6 0 を介 して行わせる。 こ の測定によ り 、 よ り 精度の 高い測定が可能 と なる。

こ の構成によれば、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の濡れ具合が不均一 であって も、 その影響を軽減して光学特性値 S 、 C、 Aを測定でき る。 また、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面や裏面に傷がある場合、 また は汚れがある場合ゃソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L が歪んでいる場合であ つて も、 その影響を軽減して光学特性値 S 、 C、 Aを測定でき る。

なお、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の光学特性値を測定する.際に、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の裏面 （被検眼の角膜に接蝕する面） と共役 でない位置に光軸偏向プリ ズム 1 4 9 を設ける のが望ま しい。

第 2 実施形態では、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の光学特性値を測定 する場合について説明 したが、 ハー ドコ ンタ ク ト レンズの光学特性を測 定する こ と もでき る。 この場合、 ハー ドコ ンタ ク ト レンズに比較的大き な汚れや傷があっても、 これら汚れや傷の影響を受けずに正確に光学特 性を測定する こ と ができ る。 なお、 ハー ドコ ンタ ク ト レンズの光学特性 を測定する場合、 時系列的に光学特性を求めてい く 必要はない。 【発明の実施の形態 3 】

また、 発明の実施の形態 2では、 眼屈折力測定装置 · 1 0 0 を用いてコ ンタク ト レンズ T L の屈折力を測定するための構成及ぴその測定方法を 示したが、 必ずしもこれに限定される ものではない。 例えば、 図 2 4 に 示したよ う な専用のレンズ屈折力測定装置 4 0 0 を設けて、 この レンズ 屈折力測定装置 4 0 0 によ り コ ンタク ト レンズ T L の屈折力測定を行う よ う に しても良い。

このレンズ屈折力測定装置 4 0 0 は図 2 4 に示した装置本体 4 0 1 を 有し、 装置本体 4 0 1 はベース部 4 0 2 と、 ベース部 4 0 2 の後縁部に 一体に設けられた上方に延びる支持部 4 0 3 と、 ベース部 4 0 2 の上方 に位置し且つ支持部 4 0 3 の上部に一体に設けられた筐体部 4 0 4 を有 する。 そして、 この筐体部 4 0 4 内には、 発明の実施の形態 2 における 測定光学系の う ちパターン光束投影光学系 1 4 0及び受光光学系 1 5 0 が内蔵されている。 そ して、 この測定光学系の対物レンズ 1 1 9 を収納 する鏡筒 4 0 5 が筐体部 4 0 4 の下面から下方に向けて突出している。 筐体部 4 0 4 の正面には T Vモニターテレビ 1 0 4 a が装着されている しかも、 この鏡筒 4 0 5 の下方にはモデル眼 3 0 2が配設されている , このモデル眼 3 0 2 は、 ベース部 4 0 2 に上方に向けて取り付けられ、 軸線が対物レンズ 1 1 9 の光軸 O l と一致させられている。 このモデル 眼 3 0 2 の上端部にはレンズ受 2 0 4が取り付けられている。

こ の様な構成においては、 レンズ受 2 0 4 上に コ ンタ ク ト レンズ T L を図 2 4 , 2 5 の如く 載置して、 パターン光束投影光学系 1 4 0 の光源 1 4 1 を点灯させるこ とで、 コンタク ト レンズ T Lの屈折力が発明の実 施の形態 2 と 同様にして測定されるので、 その説明は省略する。 なお、 図 2 5 において、 受光素子 S と反射ミ ラー 3 0 8 とが共役となってお り . リ ング指標板 1 4 4 と反射ミ ラー 3 0 8 とが共役となっている。 こ の構成に よれば、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の濡れ具合が不均一 であって も、 その影響を軽減して光学特性値 S、 C , Aを測定でき る。 また、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面や裏面に傷がある場合、 また は汚れがある場合ゃソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L が歪んでいる場合であ つて も、 その影響を軽減して光学特性値 S、 C、 Aを測定でき る。

なお、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の光学特性値を測定する 際に、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の裏面 （被検眼の角膜に接触する面） と共役 でない位置に光軸偏向プリ ズム 1 4 9 を設けるのが望ま しい。

第 3 実施形態では、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の光学特性値を測定 する場合について説明 したが、 ハー ドコ ンタ ク ト レンズの光学特性を測 定する こ と もでき る。 こ の場合、 ハー ドコ ンタ ク ト レンズに比較的大き な汚れや傷があっても、 これら汚れや傷の影響を受けずに正確に光学特 性を測定する こ と ができ る。 なお、 ハー ドコ ンタ ク ト レンズの光学特性 を測定する場合、 時系列的に光学特性を求めてい く 必要はない。

【発明の実施の形態 4 】

図 2 6 は発明の実施の形態 4 の構成を示 したも のである。 図 2 6 に示 すレンズメ ータ （屈折力測定装置） 5 0 0 は、 レ ンズ受台 （ レンズ受 け） 5 0 5 に载置 （セ ッ ト ） されたソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L に平行 光束である測定光を投影する測定光学系 5 0 1 と 、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T L を透過 した測定光を受光する受光光学系 5 1 0 と 、 ソ フ ト コ ン タ ク ト レンズ T L の光学特性を演算処理によ って求める演算処理部 5 2 0 と を備えている。

測定光学系 5 0 1 は、 L E D力 ら なる光源 5 0 2 と 、 ピンホール 5 0 3 aを有する ピンホール板 5 0 3 と 、 ピンホール 5 0 3 aを通過 した光束 を平行光束にする コ リ メ ータ レンズ 5 0 4 と を有 している。

受光光学系 5 1 0 は、 パターン板 5 1 1 と 、 C C D等からなる受光セ ンサ （受光手段） 5 1 2 と を有している。 パターン板 5 1 1 には光軸を 中心に して 4 つの開 口パタ ーン 5 1 1 aが等間隔に設け られている ₉ こ の 開 口パターン 5 1 l aを通過した測定光によ るパターン像が受光センサ 5 1 2 に形成される よ う になっている。

演算処理部 5 2 0 は、 受光セ ンサ 5 1 2 か ら 出力 される受光信号に基 づいて ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の光学特性である S , C , Aを所定時 間毎に演算 してい く 演算回路 5 2 1 と 、 こ の演算回路 5 2 1 が演算 した S , C , Aを記憶 していく メ モ リ （記憶手段） 5 2 2 と 、 こ のメ モ リ 5 2 2 に記憶された S , C , Aの時系列か ら ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の正 しい光学特性を判定する判定回路 5 2 3 と 、 こ の判定回路 5 2 3 が判定 した正しい光学特性を表示する表示部 5 2 4 と を有している。

次に、 上記実施形態の レンズメ ータ の動作について説明する。

先ず、 保存液に浸けてある ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を容器（図示せ ず）か ら取 り 出 して受台 5 に載置する。 そ して、 図示 しないメ イ ンスイ ツ チを投入して測定開始スィ ッチ （図示せず）をオンする。 する と 、 光源 5 0 2 が点灯し、 こ の光源 5 0 2 か ら測定光が射出 される。 光源 5 0 2 力 ら射出 された測定光はピンホール板 5 0 3 の ピンホール 5 0 3 aを通過 し て コ リ メ ータ レ ンズ 5 0 4 に達する。 こ の測定光はコ リ メ ータ レンズ 5 0 4 によ って平行光束に されて ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L に投影され る。

ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L を透過 した測定光束は、 パターン板 5 1 1 の開 口パターン 5 1 l aを透過して受光センサ 5 1 2 に達し、 こ の受光 センサ 5 1 2 の受光面 5 1 2 A上にパターン板 5 1 1 の開 口パターン 5 1 l aによ るパターン像が形成される。

ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L が レンズ受台 5 0 5 に载置されていない と き には、 その開 口パターン 5 1 l aと 同一のパターン像が受光センサ 5 1 2 の受光面 5 1 2 A上に形成され、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L が凹 レンズの場合にはその受光セ ンサ 5 1 2 の受光面 5 1 2 Aに拡大パタ ー ン像が投影され、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L が凸 レンズの場合にはそ の受光センサ 5 1 2 の受光面 5 1 2 Aに縮小パターン像が投影される。 受光センサ 5 1 2 は、 受光面 5 1 2 Aに形成されるそれらパターン像に 応じた受光信号を出力 し、 演算回路 5 2 1 は受光センサ 5 1 2 の受光信 号に基づいて ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の S , C , Aを演算して求める。 この演算の方法は公知である ので、 その詳細な説明は省略する。

演算回路 5 2 1 は、 受光セ ンサ 5 1 2 から 出力 される受光信号に基づ いて ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の S , C , Aを所定時間毎に演算 して求 めてい き 、 所定時間毎に演算 して求めた S , C , Aをメ モ リ 5 2 2 に順次 記憶 させてい く 。

すなわち、 メ モ リ 5 2 2 には、 図 2 7 に示すよ う に S , C , Aが時系列 で記憶されてい く 。

と こ ろで、 保存液から取 り 出 したソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面 には水滴が付着 した状態 と なってお り 、 その水滴の厚さ が厚く 、 しかも その厚さ も ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面上で均一 と なってお らず、 波打った状態 と なっている。 このため、 受台 5 0 5 に載置した初期の段 階で測定した S , C , A値は、 正しい値 S 0, C 0, A 0か ら大き く ずれた もの と なる。 すなわち、 ①〜③で示すグラ フの よ う に初期の段階では、 正し い値 S 0, C 0， A 0から大き く ずれた値と なる。

なお、 ①のグラ フは正しい値からプラス側へ大き く ずれた場合を示 し、 ②，③のグラ フは正 しい値からマイ ナス側へ大き く ずれた場合を示す。 ま た、 S , C , A値はそれぞれ異なる値である が、 説明の便宜上 1 つのダラ フで示 し、 3 つの状態を①〜③のグラ フで示した。

そ して、 時間が経過 してい く と 、 水分が蒸発してい く こ と によ り その 水滴の厚さ が薄く な り 、 均一な膜の状態 と なって く る。 こ のため、 ①〜 ③のグラ フで示すよ う に時間の経過と と も に測定した S , C , Aの値は、 正しい S 0, C 0, A 0値に近づいてい く こ と になる。

水滴が均一な膜の状態になる と 、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lを実際 の眼に装着 した場合と 同 じ状態 と な り 、 正しい S 0, C 0, A 0値が求め られ る こ と になる。 この正 しい S O, C O, AO値は、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lが乾燥し始める まで同 じ値を保つので、 所定期間 T 1内では安定した一 定の値と して得られる こ と になる。

さ ら に、 時間が経過 して ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lが乾燥し始める と 、 その乾燥状態に応 じて ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの S , C , A値が 変化 していく 。 そ して、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lが完全に乾燥する と 、 すなわち、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの水分が 1 0 0パーセ ン ト 蒸発 して しま う と 、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの S , C , A値は一定な もの と なる。

判定回路 5 2 3 は、 メ モ リ 5 2 2 に時系列に記憶された S , C , A値か ら期間 T 1を判断し、 こ の期間 T 1における S , C , A値を正確な値である と判定して、 表示部 5 2 4 に表示 させる。

期間 T 1の判断の方法は、 S , C , Aを微分し、 こ の微分の絶対値 （ I S / Δ t I , I C / Δ t I , I Α/ Δ t I ) が所定値以下と な り 且つその所 定値以下が一定時間以上継続している と き期間 T 1である と判断する。 そ して、 その時点の S , C , A値を表示する。 あるいは、 S， C , Aの経時変 化の微分の値 （変化率） が最小 と なる 時点 t 1と 、 S， C , Aの経時変化の 微分の値が増加 し始める 時点 t 2と を求め、 こ の時点 t 1〜 t 2の間を期間 T 1と して求めても よい。

こ の よ う に、 濡れた ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lを レンズ受台 5 0 5 に載置するだけで、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの正しい光^特性を正 確に測定する こ と ができ る ので、 従来のよ う に熟練を要する こ と な く 初 心者でも ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの正しい光学特性を測定する こ と ができ る。

上記実施形態では、 期間 T 1の S , C , A値を表示部 5 2 4 に表示させて いる が、 この表示 と と も に、 メ モ リ 5 2 2 に時系列に記憶された S， C , Aを図 2 7 に示すよ う に表示させて も よい。

第 4 実施形態では、 レンズメ ータ 5 0 0 によって ソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T L の光学特性を'測定する が、 第 2 実施形態の眼屈折力測定装置 1 0 0 や第 3 実施形態の レンズ屈折力測定装置 4 0 0 によっ て時系列に S , C , A値を求めていき 、 こ の時系列の S , C , A値から上記 と 同様に して正 確な S , C , A値を求めて も よい。

【発明の実施の形態 5 】

図 2 8 は第 5 実施形態を示した .ものであ り 、 この第 5 実施形態ではソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面を C C Dカ メ ラ 6 0 0 で撮影して、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面を表示装置 1 1 に表示させる よ う に し たも のである。

図 2 8 において、 6 0 1 はハーフ ミ ラー、 6 0 2 は結像レンズである。 C C Dカ メ ラ 6 0 0 の C C D 6 0 3 と ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表 - 面と は結像レンズ 6 0 2 に対して共役位置にある。 この第 5実施形態で は、 光源 5 か ら の測定光束の一部がソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面 で散乱 し、 こ の散乱した散乱光を C C Dカ メ ラ 6 0 0 が受光する。

こ の第 5 実施形態では、 表示装置 1 1 に表示される ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面を観察 して、 その表面の液体 1 4 (図 4 参照） がー様 な厚さ になったか否かを検者が判断する ものであ り 、 その液体 1 4 がー 様な厚さ になった と判断した と き にソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の S , C A値を測定する ものである。 また、 破線で示すよ う に画像処理回路 6 0 5 を設け、 C C D 6 0 3 か ら 出力 される ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面の画像信号を画像処理 回路 6 0 5 に よ って画像処理して、 ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面 の液体 1 4 がー様な厚さ になった と判断する よ う に して も よい。 こ の場 合、 例えば画像信号の輝度値が一様と なった場合をソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T L の表面の液体 1 4 がー様な厚さ になった と判断する。

この場合、 演算制御回路 1 0 が.ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの S , C， Aを短時間毎に繰 り 返し測定してい く も のであ り 、 こ の測定した S , C , Aを表示装置 1 1 に表示させていき 、 その測定毎に表示装置 1 1 に表示 された S , C , A値を更新してい く 。 そ して、 ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面の液体 1 4 がー様な厚さ になった と画像処理回路 6 0 5 が判断 する と 、 この判断時点の S , C , A値の表示がロ ッ ク され、 液体 1 4 がー 様な厚さ になった と き の ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の S , C , A値が表 示装置 1 1 に表示される。

また、 液体 1 4 がー様な厚さ になったこ と を判断する他の例と して、 C C D 6 0 3 の各画素の輝度値を求め、 こ の輝度値が予め設定した所定 範囲内に入っている画素の総数が例えば全体の 5 0 パーセ ン ト に達した と き 、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表面の液体 1 4 がー様な厚さ にな つた と判断する よ う に して も よい。

こ の第 5 実施形態では、 光源 5 からの測定光束がソブ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T L の表面で散乱 した散乱光を C C Dカ メ ラ 6 0 0 の C C D 6 0 3 で受光する よ う に している が、 別な光源を設け、 こ の光源から射出する 光束を ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L の表 ¾に照射し、 その表面で散乱す る散乱光を C C Dカ メ ラ 6 0 0 で受光する よ う に しても よい。

【発明の実施の形態 6 】

図 2 9 は第 6 実施形態を示 したものであ り 、 こ の第 6 実施形態ではソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面で反射される反射光 （散乱光） を受光 素子 6 1 0 で受光し、 この受光素子 6 1 0 の受光量から ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面の液体 1 4 がー様な厚さ になったか否かを判断し、 その表面の液体 1 4がー様な厚さ になった と き の ソ フ ト コ ンタ ク ト レン ズ T Lの S， C , A値を表示装置 1 1 に表示する も のである。

この場合も、 第 5実施形態と 同様に、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの S , C , Aを短時間毎に繰り 返し測定してい く ものであ り 、 この測定した 3 ,じ， を表示装置 1 1 に表示させていき 、 その測定毎に表示装置 1 1 に表示された S， C , A値を更新してい く 。 そ して、 液体 1 4がー様な厚 さ になった と き の S， C , A値の表示をロ ッ クする ものである。

液体 1 4 がー様な厚さ になったか否かの判断は演算制御回路 1 0 が行 い、 こ の第 6実施形態では受光素子 6 1 0 の受光量が最大 と なった と き を液体 1 4 がー様な厚さ になつだ判断する。 なお、 光源 5 と受光素子 6 1 0 と が共役と なっている。 この受光素子 6 1 0 は C C Dであって も よ い

この第 6実施形態では、 光源 5 からの測定光束が ソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズ T Lの表面で散乱 した散乱光を受光素子 6 1 0で受光する よ う に し ている が、 別な光源を設け、 この光源から射出する光束を ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの表面に照射し、 その表面で散乱する散乱光を受光素子 6 1 0 で受光する よ う に しても よい。

【発明の実施の形態 7 】

図 3 0 は第 7実施形態を示したものであ り 、 この第 7実施形態では、 ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの液体 1 4がー様な厚さ になったか否かを 判断するために、 ソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの側方に照明光学系 7 0 0 と 、 受光光学系 7 1 0 と と を設けたものである。

照明光学系 7 0 0 は、 光源 7 0 1 と ピンホール板 7 0 2 と コ リ メ ー ト レンズ 7 0 3 と を有している。

受光光学系 7 1 0 は、 結像レンズ 7 1 1 と C C D 7 1 2 と を有してい る。 C C D 7 1 2 と ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T L'の中心断面位置とが共 役と なっており 、 図 3 1 に示すよ う に、 C C D 7 1 2上にソフ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの中心を断面にした断面像が結像される よ う な状態と な る。 すなわち、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの中心断面位置にピン ト が 合っている。

C C D 7 1 2 から出力される画像信号は画像処理回路 7 2 0 に入力 し 画像処理回路 7 2 0 はその画像信号を画像処理して、 ソ フ トコンタク ト レンズ T Lの液体 1 4 がー様な厚さになったか否かを判断する。 そ して 第 5実施形態と 同様にして、 ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズ T Lの S , C , Aが 短時間毎に繰り 返し測定され、 こ の測定された S , C , Aが表示装置 1 1 に表示されていき 、 その測定毎に表示装置 1 1 に表示された S , C , A値 が更新されていく 。

そして、 ソフ ト コンタク ト レンズ T Lの表面の液体 1 4 がー様な厚さ になったと画像処理回路 7 2 0 が判断する と、 こ の判断時点の S , C , A 値の表示がロ ック され、 液体 1 4 がー様な厚さになったと きのソ フ ト コ ンタク ト レンズ T Lの S , C , A値が表示装置 1 1 に表示される。

発明の効果

本発明は、 以上説明 したよ う に構成したので、 空気中でソフ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値を精密に測定できる。

Claims

請求の範囲

1 . ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性値を求める よ う に した屈折力 測定方法において、

濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズを空気中で且つ測定光路途 中に配設 した と き、 前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズで散乱する散乱光を受 光する受光素子に よ り 受光させて、 前記散乱光の散乱状態を散乱光を受 光する前記受光素子から 出力 される受光信号の変化から求める と と も に こ の受光信号が所定条件を満た した と き に前記光学特性値を求める こ と を特徴とする屈折力測定方法。

2 . 請求項 1 に記載の屈折力測定方法において、 前記散乱光を受光す る受光素子は屈折力測定用の受光素子である と共に、

濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズを空気中で且つ前記測定光 路途中に配設 して、 前記測定光が ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズを透過 して散 乱した と き の散乱光を前記受光素子で受光させる こ と に よ り 、 前記散乱 光の散乱状態を前記受光素子で受光 される前記パターン光の変化に伴 う 前記受光信号の変化か ら求めて、 前記受光素子から 出力 される受光信号 が所定条件にな た と き に前記光学特性値を求める こ と を特徴と する屈 折力測定方法。

3 . 請求項 1 に記載の屈折力測定方法において、 前記散乱光を受光す る受光素子は屈折力測定用の受光素子と は別途設け られた表面反射受光 用の第 2 の受光素子である と共に、

濡れ.た状態の前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズを空気中で且つ前記測定光 路途中に配設 して、 前記測定光を ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズに投影 し、 前 記測定光が前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの表面で反射する際に生 じる散 乱光の散乱状態を前記第' 2 の受光素子によ り 受光させて、 前記散乱光の 散乱状態を前記第 2 の受光素子の前記受光信号の変化か ら求め、 前記第 2 の受光素子から出力される受光信号が所定条件になったと きに、 屈折 力測定用の受光素子から出力される受光信号に基づいて前記光学特性値 を求める こ と を特徴.とする屈折力測定方法。

4 . 請求項 1 に記載の屈折力測定方法において、

前記散乱光を受光するために、 屈折力測定用の受光素子とは別途設け られた C C Dカメ ラである と共に、 前記 C C Dカメ ラからの画像信号を 画像処理して得られた画像データがソ フ ト コンタク ト レンズの表面が平, ^なと きに予め得られた画像データ と略一致したと きに、 前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズの表面反射光の散乱状態が所定条件となった判断して、 屈折力測定用の受光素子から出力される受光信号に基づいて前記光学特 性値を求めるこ と を特徴とする屈折力測定方法。

5 . 請求項 1 に記載の屈折力測定方法において、 前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの測定開始時に前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズを生理食塩水で濡 らすこ と を特徴とする屈折力測定方法。

6 . 請求項 1 に記載の屈折力測定方法において、 前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズの表面に液体が多量に付着している測定開示時から、 前記液体 がソフ ト コンタク ト レンズに吸収或いは蒸発又は流下した り してソフ ト コ ンタク ト レンズの表面の液体が一様の層状になる測定中期を経て、 ソ フ ト コ ンタク ト レンズへの水分の吸収及ぴ乾燥が進行してソフ ト コンタ ク ト レンズの表面が粗面状態となる測定後期まで変化する際に、 前記測 定中期における前記受光信号から前記ソフ ト コンタク ト レンズの光学特 性を求める こ と を特徴とする屈折力測定方法。

7 . ソ フ ト コ ンタク ト レンズの光学特性値を求める よ う にした屈折力 測定装置において、

濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズを空気中で且つ測定光路途 中に配設したと き、 前記ソフ ト コンタク ト レンズで散乱する散乱光を受 光する受光素子と、 こ の受光素子から出力される受光信号が所定条件を 満たしたと きに前記光学特性値を求める演算手段と を備えたこ と を特徴 とする屈折力測定装置。

8 . 請求項 7 に記載の屈折力測定装置において、 前記受光素子は、 屈 折力測定用の受光素子である と共に、

前記演算手段は、 濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズを空気中 で且つ前記測定光路途中に配設して、 前記測定光がソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズを透過して散乱したと きの散乱光を前記受光素子で受光させる こ と によ り 測定を開始させる と共に、 前記散乱光の散乱状態を前記受光素子 で受光される前記パターン光の変化に伴う前記受光信号の変化から求め てこの受光信号が所定条件になったと き に前記光学特性値を求める こ と を特徴とする屈折力測定装置。

9 . 請求項 7 に記載の屈折力測定装置において、 前記受光素子は屈折 力測定用の受光素子と は別途設けられた表面反射受光用の第 2 の受光素 子である と共に、

前記演算手段は、 濡れた状態の前記ソフ ト コンタク ト レンズを空気中 で且つ前記測定光路途中に配設して、 前記測定光をソ フ ト コ ンタク ト レ ンズに投影し、 前記測定光が前記ソ フ ト コンタク ト レンズの表面で反射 する際に生じる散乱光の散乱状態を前記第 2 の受光素子によ り受光させ て、 前記散乱光の散乱状態を前記第 2の受光素子の前記受光信号の変化 から求め、 前記第 2の受光素子から出力 される受光信号が所定条件にな つたと きに、 屈折力測定用の受光素子から出力される受光信号に基づい て前記光学特性値を求めるこ と を特徴とする屈折力測定装置。

1 0 . 請求項 7 に記載の屈折力測定装置において、

前記受光素子は屈折力測定用の受光素子と は別途設けられた C C D力 メ ラである と共に、 前記演算手段は、 前記 C C Dカメ ラからの画像信号を画像処理して得 られた画像データがソ フ ト コ ンタク ト レンズの表面が平滑なと きに予め 得られた画像データ と略一致したと きに、 前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズ の表面反射光の散乱状態が所定条件と なったと判断して、 屈折力測定用 の受光素子から出力される受光信号に基づいて前記光学特性値を求める こ と を特徴とする屈折力特性測定装置。

1 1 . 請求項 7 に記載の屈折力測定装置において、 前記演算手段は、 前記ソ フ トコ ンタク ト レンズの表面に液体が多量に付着している測定開 示時から、 前記液体がソ フ ト コ ンタク ト レ ンズに吸収或いは蒸発又は流 下した り してソフ ト コンタク ト レンズの表面の液体が一様の層状になる 測定中期を経て、 ソ フ ト コ ンタク ト レンズへの水分の吸収及ぴ乾燥が進 行してソ フ ト コ ンタク ト レンズの表面が粗面状態と なる測定後期まで変 化する際に、 前記測定中期における前記受光信号から前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性を求める こ と を特徴とする屈折力測定装置。

1 2 . 光源から受光素子までの測定光路途中にパターン光形成手段を 配設して、 前記光源からの測定光を前記パターン光形成手段によ り パタ ーン光にして前記受光素子に受光させる様にした測定光学系と、

前記前記測定光路途中にソ フ ト コ ンタク ト レンズを配設したと き 、 前 記受光素子で受光されるパターン光の変化を前記受光素子から出力 され る受光信号の変化から求めるこ と によ り 、 前記測定光路途中に配設され た ソ フ ト コンタ ク ト レンズの光学特性値を求める演算制御回路と を備え る屈折力測定装置であって、

前記測定光がソ フ ト コンタク ト レンズを透過する際に生じる散乱光を 受光して散乱光受光信号を出力する散乱光受光部が前記受光素子と は別 に設けられている と共に、

前記演算制御回路は、 濡れた状態の前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズが前 記レンズ受に載置されて測定が開始されたと きからの前記散乱光受光信 号が設定値以下のと きの前記受光信号から前記光学特性値を求める こ と を特徴とする屈折力測定装置。

1 3 . レンズ受けにセッ ト され且つ液体で濡れたソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズに測定光を投影する測定光学系と、 前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズを 透過した測定光を受光する受 手段を有する受光光学系と、 前記受光手 段の出力信号に基づいてソ フ ト コンタク ト レンズの光学特性を所定時間 毎に演算していく 演算手段と を備えた屈折力測定装置であって、

前記演算手段が演算した光学特性の時系列から、 液体で濡れたソ フ ト コンタク ト レンズの正しい光学特性を判定する判定手段を設けたこ と を 特徴とする屈折力測定装置。

1 4 . レンズ受けにセ ッ ト され且つ液体で濡れたソ フ ト コ ンタ ク ト レ ンズに測定光を投影する測定光学系と、 前記ソ フ ト コンタク ト レンズを 透過した測定光を受光する受光手段を有する g光光学系と、 前記受光手 段の出力信号に基づいてソフ ト コンタク ト レンズの光学特性を所定時間 毎に演算していく 演算手段と を備えた屈折力測定装置であって、

前記演算手段によって演算された光学特性を時系列に記憶していく 記 憶手段と、

こ の記憶手段に記憶された時系列の光学特性から、 液体で濡れたソ フ ト コンタ ク ト レンズの正しい光学特性を判定する判定手段と を設けたこ と を特徴とする屈折力測定装置。

1 5 . 前記判定手段は、 記憶手段に記憶された時系列の光学特性か らこ の光学特性の変動の少ない期間を求め、 こ の期間における光学特性 をソフ ト コンタク ト レンズの正しい光学特性である と判定するこ と を特 徴とする請求項 1 4 に記載の屈折力測定装置。

1 6 . 前記判定手段は、 記憶手段に記憶された時系列の光学特性に 基づいて、 光学特性の変動が所定値以下であり 且つその状態が一定時間 以上.継続している期間を求め、 この期間における光学特性をソフ ト コン タク ト レンズの正しい光学特性である と判定する こ と を特徴とする請求 項 1 4 に記載の屈折力測定装置。

1 7 . 前記判定手段は、 光学特性の経時変化の変化率が最小となる時 点と、 その変化率が増加し始める時点までの間における光学特性をソフ ト コンタク ト レンズの正しい光学特性である と判定する こ とを特徴とす る請求項 1 4 に記載の屈折力測定装置。

1 8 . 前記測定光学系は、 前記パター ン光束を前記ソ フ ト コ ンタク ト レンズを介して反射面に投影するパターン光束投影光学系を有し、 前記受光素子は受光光学系に設けられており 、 こ の受光光学系は前記 反射面によ り反射されかつ前記ソ フ ト コンタク ト レンズを透過して戻つ てきたパターン光束を前記受光素子に導く も のであ り 、

前記パター ン光束投影光学系と前記受光光学系とは光学部の一部が共 用され、 前記パターン光束投影光学系と前記受光光学系との共用部分に 前記パターン光束投影光学系の光軸に対して前記パター ン光束を偏向し て投影する偏向部材が設けられている こ と を特徴とする請求項 7 ないし 請求項 1 2のいずれか 1 つに記載の屈折力測定装置。

1 9 . 前記偏向部材'が前記パターン光束投影光学系の光軸を中心に して回転される偏向プリ ズムである こ と を特徴とする請求項 1 8 に記載 の屈折力測定装置。

2 0 . 前記偏向部材は、 前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性を 測定する際に、 前記ソフ ト コンタク ト レンズの配置位置と共役でない位 置に配置される こ と を特徴とする請求項 1 8 または請求項 1 9 に記載の 屈折力測定装置。

2 1 . 前記測定光学系が前記ソフ ト コンタク ト レンズの屈折力を測 定するためのパターン光束を前記ソフ ト コ ンタク ト レンズを介して反射 面に投影するパターン光束投影光学系であ り 、

前記受光光学系は、 受光光学系は前記反射面によ り 反射されかつ前記 ソフ ト コ ンタ ク ト レンズを透過して戻ってき たパターン光束を前記受光 手段に導く ものであ り 、

前記パターン光束投影光学系と前記受光光学系と は光学部の一部が共 用され、 前記パターン光束投影光学系と前記受光光学系と の共用部分に 前記パターン光束投影光学系の光軸に対して前記パターン光束を偏向 し て投影する偏向部材が設けられているこ と を特徴とする請求項 1 3 ない し請求項 1 7 のいずれか 1 つに記載の屈折力測定装置。

2 2 . 前記偏向部材が前記パターン光束投影光学系の光軸を中心に して回転される偏向プリ ズムである こ と を特徴とする請求項 2 1 に記載 の屈折力測定装置。

2 3 . 前記偏向部材は、 前記ソ フ ト コ ンタ ク ト レンズの光学特性を 測定する際に、 前記ソフ ト コンタク ト レンズの配置位置と共役でない位 置に配置される こ と を特徴とする請求項 2 1 または請求項 2 2 に記載の 屈折力測定装置。