WO2003012520A1 - Focus stabilizing mechanism of microscope or the like - Google Patents

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WO2003012520A1
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Kazuhiko Kinoshita
Megumi Shio
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    • G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/028—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with means for compensating for changes in temperature or for controlling the temperature; thermal stabilisation

Definitions

  • the present invention relates to a focus stability mechanism for an optical instrument, an optical measuring instrument, an optical microscope, and the like.
  • the focus may be deviated, or the optical microscope may be displaced minutely due to the influence of the surrounding temperature or the like and the object point (object) may deviate (so-called drift phenomenon).
  • the present invention relates to a force stability mechanism, such as a microscope, capable of constantly and stably observing a sample even when an object moves due to a drift drift phenomenon.
  • Known microscopes are generally equipped with an objective revolver (revolver) that receives a plurality of different objectives.
  • the desired objective lens is swung into the optical path of the microscope by the rotation of the rotary exchanger. Focusing of the objective lens is performed by moving the stage along the optical axis of the microscope objective lens. It is well known in practice that such a microscope body expands when the ambient temperature rises. This expansion causes a change in the distance between the stage containing the slide and the microscope objective lens based on the extremely small depth of focus range (range of /) of the microscope. For example, the focus position (state) once adjusted at room temperature Has the undesirable effect of loss.
  • the objective lens which is the heart of conventional optical measuring instruments and optical microscopes, has a temperature dependence of about 1 m / ° C, and this holding part is also asymmetric with respect to the optical axis and has a temperature dependence.
  • the stage of the sample positioning device is also heavily unbalanced with respect to the optical axis in terms of weight and shape, making the focus unstable with temperature changes, and moving the object point (object). ).
  • An object of the present invention is to compensate for defocus in the Z direction due to thermal expansion of an optical microscope or the like, thereby causing a sample to be out of focus during observation or moving (drift) an object point (object).
  • the purpose of the present invention is to realize a highly stable optical microscope which does not cause the problem.
  • the present invention fixes the heart of the objective lens, the sample positioning stage, and the focusing mechanism directly and equally around the optical axis in terms of both weight and shape, and manufactures and assembles them into components with extremely low temperature dependence.
  • the force stability of the microscope is enhanced by making the sum of the temperature dependences of the components equal and equal in length.
  • Force stability in the present invention refers to stabilizing the relative position between the objective lens focal position and the object point in all three directions of XYZ without being affected by the surrounding environment.
  • Components with extremely low temperature dependence include stages made of invar (steel material having a specific composition ratio of iron, carbon, and chrome), and glass and metals such as glass with extremely low temperature dependence, for example, in a microscope objective lens.
  • An optical machine consisting of an optical system with an optical axis symmetrical in both weight and shape and a peripheral part with a sample positioning mechanism.
  • the components were constructed by combining components with near zero temperature dependence for each component. This is a focus stability mechanism for microscopes, etc., characterized by
  • a hollow Z-axis stage or hollow cylinder is used to fix the objective lens using the hollow optical axis in the center of the fixed base.
  • This is a force stability mechanism, such as a microscope, characterized by combining a microscope composed of a hollow stage for positioning the mold sample and combining components that have a temperature dependence of nearly zero for each component.
  • the sum of the temperature dependence of each component becomes equal.
  • This is a focus stability mechanism for a microscope or the like characterized by having such a configuration.
  • a hollow Z-axis stage or hollow cylinder is used to fix the objective lens using the hollow optical axis in the center of the fixed base.
  • a microscope comprising a hollow stage for positioning the mold sample, wherein the optical system and the hollow stage are configured such that the sum of the temperature-dependent materials is equal. It is.
  • either component has a linear expansion coefficient.
  • FIG. 1 is a side sectional view of a stability mechanism of a microscope having little temperature dependency.
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line XX in FIG.
  • FIG. 3 is a side cross-sectional view of a microscope for a method of correcting with the optical system to eliminate the focal shift amount of the lens.
  • FIG. 4 is a plan view of the stage fixing plate of FIG. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a side sectional view of a stability mechanism of a microscope having little temperature dependency
  • FIG. 2 is a sectional view taken along line XX in FIG.
  • reference numeral 3 denotes a microscope base.
  • One end of a correction cylinder 7 is stacked on the base 3 and fixed by a fixing means such as a screw. Are stacked and fixed by fixing means such as screws, and these are used as an optical system.
  • the X-axis and Y-axis drive stages 8, 10 around the correction cylinder 7 and the objective lens 11 are stacked, and a Z-axis fine movement stage 5 is stacked on the X-axis and Y-axis drive stages, and these are set as peripheral parts.
  • the focus stability mechanism in the present invention refers to a state in which the relative position between the objective lens focal position and the object point can be observed in a stable state in all three XYZ directions without being influenced by the surrounding environment. No, the mechanism for that is the focus stability mechanism.
  • the correction cylinder material that composes the optical system.
  • materials with extremely low temperature dependence such as invar, shall be used for the surrounding area.
  • the peripheral part is constructed in reverse to the above.
  • the compensating cylinder that constitutes the optical system section uses a material with extremely low temperature dependence.
  • a material with extremely low temperature dependence is used for one of the optical system and the peripheral part, and a material with high temperature dependence is used for the other to absorb (correct) the movement of the focal point of the objective lens.
  • the stability of the microscope can be enhanced by designing so that the sum of the temperature dependence of the components of the microscope is equal and the equilibrium length is equal.
  • FIG. 3 is a side sectional view of the microscope
  • FIG. 4 is a plan view of the microscope.
  • 1 is a stage fixing plate
  • 2 is a correction column
  • 3 is a base
  • 4 is a Z-axis fine adjustment fixing ring
  • 5 is a Z-axis fine adjustment stage (hollow cylindrical piezo stage)
  • 6 is a fixing screw
  • 7 is a fixing screw.
  • a correction cylinder, 8 is a Y-axis stage plate
  • 9 is a linear guide mechanism
  • 10 is an axis stage plate
  • 11 is an objective lens, and these constitute a microscope.
  • a Z-axis fine movement stage (hollow piezo stage) 5 is screwed into the base 3, and is fixed in a lock nut state by a Z-axis fine movement fixing ring 4.
  • a correction cylinder 7 is screwed and fixed to the Z-axis fine movement stage 5, and an objective lens 11 is fixed to the correction cylinder 7.
  • the correction support 2 is erected on the base 3 by a fixing screw 6, and the stage fixing plate 1 is fixed by the screw via the correction support 2.
  • a Y-axis stage plate 8 is mounted on the stage fixing plate, and an X-axis stage plate 10 is further mounted on the Y-axis stage plate 8, whereby the Y-axis drive stage and the X-axis drive stage are mounted. Constitute. These are called peripheral blocks.
  • the amount of expansion and contraction of the correction cylinder 7 is um11 + umji + um3— ( ⁇ + ⁇ ). Each value is preferably measured but may be compensated by calculation.
  • Correction cylinder length Correction cylinder expansion / contraction amount ⁇ / Linear expansion coefficient of material used
  • the linear expansion coefficient by using the aluminum alloy in the correction cylinder 7 is 2 3 X 1 0 one 6.
  • the machine is not limited to a microscope, but can be widely applied to optical machines of a broad concept including an optical measuring machine in which the force becomes unstable due to the expansion of components due to temperature.
  • the designer can freely select which component of the components constituting the optical machine is to be made of a material having low temperature dependency and to design a correction method corresponding to the component.
  • the stage shape is not limited to a square stage, and various stages such as polygonal, circular, and elliptical shapes can be used.
  • an extremely stable optical microscope is realized, and distance measurement between molecules and measurement of molecular momentum in molecular biology, biophysics, and the like can be easily performed on the order of nanometers.
  • the heart of the objective lens, sample positioning stage, and focusing mechanism is directly and evenly fixed in the center of the optical axis in terms of both weight and shape, and these are fabricated into components with extremely low temperature dependence, and are assembled or temperature-dependent. By setting the total sum of the characteristics to be equal and the equilibrium length to be equal, it is possible to achieve excellent effects such as enhancement of the focus stability of the optical machine (prevention of defocus and movement of an object point). .

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Description

明細書 顕微鏡等のフォ一カス安定性機構 技術分野
本発明は、 光学機器、 光学測定機、 光学顕微鏡等のフォーカス安定性機構に関 するものである。 特に光学顕微鏡等ではピントがずれたり、 周囲の温度等の影響 で光学顕微鏡が微小に変位し物点 （対象物） がずれたりする （いわゆるドリフ ト 現象） ことがあるが、 本発明はこうしたピン卜のズレゃドリフ卜現象によって物 点が移動しても、 常に安定して試料を観察できる顕微鏡等のフォー力ス安定性機 構に関するものである。 背景技術
公知の顕微鏡は、 一般に、 複数の異なる対物レンズを受容する対物レンズ回転 交換器 （レボルバ） を装備している。 回転交換器の回転によって、 所望の対物レ ンズを顕微鏡の光路内へ旋回する。 対物レンズのフォーカシングは、 顕微鏡対物 レンズの光軸に沿ってステージを移動することによって行う。 このような顕微鏡 本体は周囲の環境温度が上昇することにより膨張するということが、 実際上良く 知られている。 この膨張により、 顕微鏡の極めて小さい焦点深度範囲 （/ の範囲 ) に基づいて、 プレパラートを含むステージと顕微鏡対物レンズとの間の距離の 変化が起こり、 例えば常温時に一度調整した合焦位置 （状態） が失われるという 望ましくない効果が生ずる。
例えば、 従来の光学測定機、 光学顕微鏡の心臓部である対物レンズには約 1 m/° Cの温度依存性があり、 またこの保持部金物も光軸に対して非対称で温度 依存性があった。 試料位置決め装置のステージ部も重量的、 形状においても光軸 に対して非対称性が著しくバランスを欠いており温度変化に対して焦点が不安定 となり、 また物点 （対象物） の移動 （ドリフ ト） を起こしていた。
このため室内の温度を制御しても 0 . 1 ° Cの温度変化は避けられず、 対物レ ンズ温度依存性を仮に 1 . O mZ i c Cとすると 0 . 1 ° Cの変化で 1 0 O n mの移動量となり、 この結果焦点がボケで分子位置の計測や分子運動量の計測等 に応えられないのが現状である。
本発明の課題は、 光学顕微鏡等の熱膨張に起因する Z方向の焦点外れを補償す ることにより、 観測中に試料が焦点ボケを生じたり、 物点 （対象物） の移動 （ド リフ ト） を起こさない安定性の高い光学顕微鏡を実現することを目的とする。 本発明は、 対物レンズ、 試料位置決めステージ、 焦点合わせ機構部の心臓部を 光軸中心に重量、 形状とも均等に直接固定し、 これらを温度依存性の極めて少な いコンポーネントに製作し、 組み立てるか、 構成部分の温度依存性の総和が等し く、 かつ釣合い長さを等しく構成することにより顕微鏡のフォー力ス安定性を強 化する。 本発明におけるフォー力ス安定性とは対物レンズ焦点位置と物点との相 対位置を X Y Z三方向すべてに関し周囲の環境による影響に左右されず安定させ ることをいう。
温度依存性の極めて少ないコンポーネントとはインバ一 （鉄、 炭素、 クローム の特定構成比を持つ鋼材） をもって製作されたステージ部とか、 顕微鏡対物レン ズで例えれば温度依存性の極めて少ないガラス等と金属で製作する。
また、 このような材料を使用した場合、 光学機械が非常に高価なもとのなるの で、 製造コストを安価にするために特別な補正機構で温度依存性を解消する。 発明の開示
上記目的を達成するために、 本発明が採用した技術解決手段は、
光軸に重量、 形状とも対称型につくられた光学系部と試料位置決め機構を有す 周辺部とからなる光学機械において、 それぞれのコンポーネントを温度依存性が ゼロに近いものを組み合わせて構成したことを特徴とする顕微鏡等のフォーカス 安定性機構である。
また、 固定基盤上中央部に光軸に重量、 形状とも対称型中空 Z軸ステージまた は中空筒を用い対物レンズを固定する光学系部と、 固定基盤上に光軸に重量、 形 状とも対称型試料位置決め中空駆動ステージ部から構成する顕微鏡とし、 それぞ れのコンポーネン卜の温度依存性を零に近いものを組み合わせたことを特徴とす る顕微鏡等のフォー力ス安定性機構である。 また、 光軸に重量、 形状とも対称型につく られた光学系部と試料位置決め機構 を有す周辺部とからなる光学機械において、 それぞれのコンポ一ネン卜を温度依 存性の総和が等しくなるように構成したことを特徴とする顕微鏡等のフォーカス 安定性機構である。
また、 固定基盤上中央部に光軸に重量、 形状とも対称型中空 Z軸ステージまた は中空筒を用い対物レンズを固定する光学系部と、 固定基盤上に光軸に重量、 形 状とも対称型試料位置決め中空駆動ステージ部から構成する顕微鏡とし、 前記光 学系部と中空ステージ部の温度依存性料の総和が等しくなるように構成したこと を特徴とする顕微鏡等のフォー力ス安定性機構である。
また、 光学系部と試料位置決め装置の双方の物理的高さを揃え、 かつ温度依存 量の総和が等しく構成するために、 いずれかのコンポ一ネン卜には線膨張係数が
3 X 1 0—6以下であるィンパ一を使用して双方の条件を満たすように構成したこ とを特徴とする顕微鏡等のフォー力ス安定性機構である。 図面の簡単な説明
図 1は温度依存性の少ない顕微鏡の安定性機構の側断面図である。
図 2は図 1中の X— X断面図である。
図 3はレンズの焦点移動量を消去するために光学系をもつて補正する方法の顕 微鏡の側断面図である。
図 4は図 3のステージ固定板から上を除いた平面図である。 発明を実施するための最良の形態
以下本発明の係る実施形態を図面を参照して説明すると、 図 1は温度依存性の 少ない顕微鏡の安定性機構の側断面図、 図 2は図 1中の X - X断面図である。 図 1、 図 2において、 3は顕微鏡の基盤であり、 この基盤 3上には補正筒 7の 一端が積み上げられネジ等の固定手段によって固定され、 さらに補正筒 7の先端 には対物レンズ 1 1が積み上げられネジ等の固定手段で固定されており、 これら を光学系部とする。
一方、 補正筒 7、 対物レンズ 1 1の周辺には X軸 · Y軸駆動ステージ 8、 1 0 が積み上げられて、 さらに X軸 ' Y軸駆動ステージ上には Z軸微動ステージ 5が 積み上げられており、 これらを周辺部とする。
上記構成からなる顕微鏡では、 対物レンズ、 試料位置決めステージ、 焦点合わ せ機構部の心臓部等の全てのコンポーネン卜を光軸中心に重量、 形状とも均等に 直接固定し、 さらに、 これらを温度依存性の極めて少ない材料で構成する。 温度 依存性の極めて少ないコンポーネントとはインバ一 （鉄、 炭素、 クロームの特定 構成比を持つ鋼材） をもって製作されたステージ部とか、 顕微鏡対物レンズで例 えれば温度依存性の極めて少ないガラス等と金属で製作する。 ィンバ一には線膨 張係数 3 X 1 0 6以下のものが存在し、 1 0 m m変化しても無視できるものがあ る。
このように構成することで、 顕微鏡のコンポーネントの全てにおいて、 温度依 存性を排除することができ、 常に安定した顕微鏡測定が実現できる。
なお、 本発明におけるフォーカス安定性機構とは対物レンズ焦点位置と物点と の相対位置を X Y Z三軸方向すべてに関し周囲の環境による影響に左右されず安 定した状態で試料の観測ができる状態をいい、 そのための機構をフォーカス安定 性機構とする。
ところで、 上記のように顕微鏡を構成するコンポ一ネン卜の全てを、 温度依存 性の極めて小さい材料 （たとえばインバー等） で構成すると、 顕微鏡自体が極め て高価となり、 実用的でないという不都合が生じる。
そこで、 図 1と同じ構成でありながら、 光学系部、 周辺部において構成部分の 温度依存性の総和が等しく、 かつ釣合い長さを等しく構成した顕微鏡を実現する o
具体的には、 計測時、 温度上昇によって対物レンズの焦点位置が対物レンズの 先端レンズ方向に移動する顕微鏡の場合には、 光学系部を構成する補正筒材質に は温度依存性の大きな材料を使用し、 補正筒はこれを補償する量の長さ （温度上 昇により伸びた量 =焦点移動量） に設計する。 また、 周辺部にはインバー等の温 度依存性の極めて低い材料を使用する。
これとは逆に、 温度上昇によって対物レンズの焦点 （物点） 位置が対物レンズ 先端レンズとは逆方向に移動する顕微鏡の場合には、 前述とは逆に、 周辺部を構 成するステージ材質を温度依存性の大きな材質にし、 さらにステージはこれを補 償する高さ （温度上昇により伸びた量 =焦点移動量） として設計する。 また、 光 学系部を構成する補正筒は温度依存性の極めて低い材料を使用する。
このように、 光学系部および周辺部のいずれか一方に温度依存性の極めて低い 材料を使用し、 他方に温度依存性の大きな材料を使用して対物レンズの焦点位置 の移動を吸収 （補正する） するように設計することで、 即ち、 顕微鏡の構成部分 の温度依存性の総和が等しく、 かつ釣合い長さを等しく構成することで顕微鏡の 安定性を強化することができる。
つづいて、 温度変化に伴う対物レンズの焦点移動量を消去するために光学系を もって補正する方法の具体例を説明する。 図 3は同顕微鏡の側断面図、 図 4は同 顕微鏡の平面図である。
図 3、 図 4において、 1はステージ固定板、 2は補正支柱、 3は基盤、 4は Z 軸微動固定リング、 5は Z軸微動ステージ （中空筒ピエゾステージ） 、 6は固定 ネジ、 7は補正筒、 8は Y軸ステージ板、 9は直進案内機構、 1 0は 軸ステ一 ジ板、 1 1は対物レンズであり、 これらによって顕微鏡が構成されている。 前記基盤 3には Z軸微動ステージ （中空型ピエゾステージ） 5がねじこまれ、 Z軸微動固定リング 4によってロックナッ ト状態で固定されている。 また、 Z軸 微動ステ一ジ 5には補正筒 7がネジこまれて固定さており、 さらに補正筒 7には 対物レンズ 1 1が固定されている。 そしてこれらを以下中央ブロックと呼ぶ。 一方基盤 3には固定ネジ 6によつて補正支柱 2が立設されており、 補正支柱 2 を介してステージ固定板 1がネジによって固定されている。 そしてステージ固定 板上には Y軸ステージ板 8が取付けられ、 さらに Y軸ステージ板 8上に X軸ステ ージ板 1 0が取付けられ、 これらによって Y軸駆動ステージおよび X軸駆動ステ —ジを構成する。 そしてこれらを周辺ブロックと呼ぶ。
顕微鏡対物レンズに定められた （設計値） 位置 （物点） に物体を置いたとして も僅かな室温の変化等によって対物レンズの焦点距離が変化し、 焦点面 （物点） が移動する。 し力、し、 温度変化があっても次の式が成立すれば、 ピンぼけをおこ すことなく、 安定した顕微鏡測定が可能となる。
Z軸微動ステージ （ピエゾステージ） 伸縮量 Δ Ρ 補正筒伸縮量 ΔΧ 対物レンズ焦点 （物点） 移動] Δ Ο
補正柱の伸縮量 ΔΗ
ステージ固定板の伸縮量 Δ C
X · Yステージ部伸縮量 Δ S 厶 Ρ +ΔΧ+Δ Ο=ΔΗ+Δ。+Δ 3 これまでの測定では対物レンズ焦点 （物点） の移動量 ΔΟは -値である。
従って、 補正筒7の伸縮量は厶 =厶11 +厶じ+厶 3— (Δ Ρ + ΔΟ) である それぞれの値は、 実測が望ましいが計算で補えるものもある。
具体例を上げると次の通りである。
Ζ軸微動ステージ （ピエゾステージ） 伸縮量 Δ Ρ= 0. 3 〃m 対物レンズ焦点 （物点） 移動量 Δ 0 =— 0. 5 βτη 補正柱の伸縮量 ΔΗ= 0. 0 6 ステージ固定板の伸縮量 A C = 0. 1 5 βπι
Χ · Υステージ部伸縮量 A S = 0. 2 0〃m 補正筒伸縮量 ΔΧ=ΔΗ+Δ C +Δ S— （Δ Ρ + Δ Ο)
= 0. 0 6 + 0. 1 5 + 0. 2 - (0. 3 - 0. 5)
= 0. 6 1
補正筒長 =補正筒伸縮量 ΔΧ /使用素材の線膨張係数
上記の場合、 補正筒 7にアルミニウム合金を使用すると線膨張係数は 2 3 X 1 0一6である。
そこで補正筒長 = 0. 6 1 / 2 3 x 1 0 -62 3 X 1 0 "6= 2 6. 5 mmとなる 補正筒長はこのような計算から定めているので中央プロックと周辺プロックの 高さを合わせる必要があり、 この長さ調整は補正支柱 2の丈決めを行う。
以上、 本発明に係る実施の形態について説明したが、 本発明は対象となる光学 機械は顕微鏡に限定されず、 温度によってコンポーネントが膨張することでフォ 一力スが不安定になる光学測定機等を含む広い概念の光学機械に広く採用するこ とができる。 また、 光学機械を構成するコンポーネントのうち、 どのコンポ一ネ ン卜に温度依存性の小さい材料を使用し、 それに対応した補正方法を設計するか 等は設計者によって自由に選択することができる。 またステージ形状も正方形の ステージに限定することなく、 多角形、 円形、 楕円形等種々の形状のステージと することができる。
さらに、 本発明はその精神または主要な特徴から逸脱することなく他のいかな る形でも実施できる。 そのため、 前述の実施形態はあらゆる点で単なる例示にす ぎず限定的に解釈してはならない。 産業上での利用可能性
本発明によれば、 極めて安定性の高い光学顕微鏡が実現し分子生物学、 生物物 理学等における分子間の距離計測や分子運動量計測がナノメ一トルオーダ—で容 易に可能となる。 対物レンズ、 試料位置決めステージ、 焦点合わせ機構部の心臓 部を光軸中心に重量、 形状とも均等に直接固定し、 これらを温度依存性の極めて 少ないコンポーネントに製作し、 組み立てるか、 構成部分の温度依存性の総和が 等しく、 かつ釣合い長さを等しく構成することにより光学機械のフォーカス安定 性 （ピントのズレ防止、 物点の移動防止） を強化できる、 等々の優れた効果を達 成することができる。

Claims

請求の範囲
1 . 光軸に重量、 形状とも対称型につく られた光学系部と試料位置決め機構を 有す周辺部とからなる光学機械において、 それぞれのコンポーネントを温度依存 性がゼ口に近いものを組み合わせて構成したことを特徴とする顕微鏡等のフォー カス安定性機構。
2 . 固定基盤上中央部に光軸に重量、 形状とも対称型中空 Z軸ステージまたは 中空筒を用い対物レンズを固定する光学系部と、 固定基盤上に光軸に重量、 形状 とも対称型試料位置決め中空駆動ステージ部から構成する顕微鏡とし、 それぞれ のコンポーネントの温度依存性を零に近いものを組み合わせたことを特徴とする 顕微鏡等のフォーカス安定性機構。
3 . 光軸に重量、 形状とも対称型につくら れた光学系部と試料位置決め機構を有す周辺部とからなる光学機械において、 そ れぞれのコンポーネントを温度依存性の総和が等しくなるように構成したことを 特徴とする顕微鏡等のフォーカス安定性機構。
4 . 固定基盤上中央部に光軸に重量、 形状とも対称型中空 Z軸ステージまたは 中空筒を用い対物レンズを固定する光学系部と、 固定基盤上に光軸に重量、 形状 とも対称型試料位置決め中空駆動ステージ部から構成する顕微鏡とし、 前記光学 系部と中空ステ一ジ部の温度依存性料の総和が等しくなるように構成したことを 特徴とする顕微鏡等のフォー力ス安定性機構。
5 . 光学系部と試料位置決め装置の双方の物理的高さを揃え、 かつ温度依存量 の総和が等しく構成するために、 いずれかのコンポーネントには線膨張係数が 3 X 1 0— 6以下であるインパーを使用して双方の条件を満たすように構成したこと を特徴とする顕微鏡等のフォー力ス安定性機構。
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