WO2004025223A2 - Verfahren zur funktionsüberwachung von sensoren - Google Patents

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WO2004025223A2
WO2004025223A2 PCT/EP2003/009438 EP0309438W WO2004025223A2 WO 2004025223 A2 WO2004025223 A2 WO 2004025223A2 EP 0309438 W EP0309438 W EP 0309438W WO 2004025223 A2 WO2004025223 A2 WO 2004025223A2
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Dirk STEINMÜLLER
Axel Fikus
Wilfried Hammelehle
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Endress and Hauser Conducta Gesellschaft fuer Mess und Regeltechnik mbH and Co KG
Endress and Hauser Conducta GmbH and Co KG
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    • G01N27/4165—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus for pH meters
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    • G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/007—Arrangements to check the analyser

Definitions

  • the invention relates to a method for monitoring the function of sensors for measuring and monitoring the state parameters of liquids or gases, in particular in the field of process measurement technology.
  • sensors for measuring and monitoring the state parameters of liquids or gases, in particular in the field of process measurement technology.
  • These can be any electrochemical, electrophysical or optical sensors, in particular potentiometric or amperometric, photorriometric or spectrometric sensors.
  • the condition parameters to be measured and monitored can be, for example, the pH value, the CO2, 0 2 content, the concentration of a substance in an aqueous solution or the electrical conductivity.
  • Sensors in the field of process measurement technology are subject to a temporal but also strongly application-related aging.
  • sensors which are used in liquid media are exposed to particular stresses, so that the requirements for their chemical resistance and their temperature resistance are high.
  • Contamination and the formation of deposits on the sensor as a result of media contact can also have a disruptive effect and reduce the service life of the sensor.
  • the functionality of a sensor and its service life are impaired or influenced by external influences or internal influences present in the sensor. It is therefore not possible to specify the service life of a sensor in general or for each sensor in a specific application, and to predict what is to be regarded as disadvantageous.
  • a pH measuring chain which is formed by a pH glass electrode and a reference electrode, is characterized by the parameters zero point and slope of the curve of the measuring chain voltage. Slope errors, alkali errors and zero point are known as glass electrode errors.
  • the service life of a pH electrode therefore depends on the conditions of use, but also on the resistance of the electrode glass used. As a rule, influences on the so-called membrane surface, i.e. the formation of deposits from lime, gypsum, fats, protein and the like, can be eliminated by chemical cleaning.
  • membrane surface i.e. the formation of deposits from lime, gypsum, fats, protein and the like
  • aging processes inside the sensor which also take place during storage, cannot be remedied. Above all, operation at extreme pH values but at high temperatures drastically reduces the life of a glass electrode.
  • Reference electrodes on the other hand, have a diaphragm which enables electrolytic contact between a reference electrolyte and the measurement solution. Errors can therefore be caused, for example, by contamination and blocking of the diaphragm or by so-called electrode poisoning due to the penetration of foreign ions in the reference electrolytes. The result is a change in the cell voltage of the reference electrode (the half-cell voltage), the so-called reference potential, which in turn manifests itself as a change in the zero point of the entire electrode voltage.
  • Methods for monitoring the function of electrochemical sensors are therefore known, for example the internal resistance of a measuring electrode and a reference electrode being measured at time intervals and an alarm message being output when values which are defined in practice are exceeded or undershot. According to these procedures, the system waits until the sensor reaches a critical area and then has to be replaced.
  • the present invention is based on the object of improving a method for function monitoring with the features of the preamble of claim 1 in such a way that it can be ruled out that the sensor loses its functionality during the following operating period until the next function test, without the Sensor is exchanged long before its wear limit is reached, so that the valuable life of the sensor can be used as far as possible.
  • This object is achieved according to the invention in a generic method in that the recorded test parameters are stored and that since then the temporal development of the stored test parameters has been evaluated and that the expected future development of the sensor behavior is predicted and information about the duration of the remaining trouble-free operation of the sensor.
  • the present invention is based on the knowledge that the future temporal development of test parameters, which are obtained either as part of the measurement value acquisition or during periodic test states, in particular during the calibration processes, make forward-looking predictions about the expected development of the sensor behavior can.
  • the remaining "level of wear" of the sensor is to be determined. This can be used to trigger control processes or to make decisions about control processes if this is desired.
  • a first predictive value for a wear limit could be determined after a respective acquisition of a test parameter or at time intervals.
  • the sensor is still functional, ie it is in an operating state which (still) enables the functionality of the measuring device within possibly narrower limits by means of electrical compensation measures. Beyond the wear limit but this is no longer the case.
  • that point in time is determined arithmetically on the basis of the recorded test parameters, in particular on the basis of the function obtained therefrom or in the broadest sense by extrapolation, by which the sensor will have reached the wear limit explained above.
  • a predictively obtained value of the test parameter lies within a warning range on this side of the wear limit previously defined.
  • suitable information could be displayed or measures triggered.
  • the previously defined wear limit can be corrected in particular on the basis of the predictive value.
  • a predictive point in time for the replacement of the sensor is determined and preferably output and / or displayed.
  • This information about the preferred point in time of the exchange of the sensor can of course also be passed on to central computing and control units in any way and there in any way Processed way.
  • any state data or state information of the sensor were recorded per se, which change in the course of the operation of the sensor and are functionally related to the service life of the sensor.
  • potentiometric sensors such as pH sensors, O * or CO * sensors
  • the slope of the sensor signal or the sensor signals (individual sensor, sensor chain or sensor array) in a respective test state of the sensor is used as the test parameter , for example preferably during the cyclic calibration of the sensor, is recorded and evaluated.
  • the pH sensor mentioned by way of example, this means the slope of the measuring chain voltage or cell EMF.
  • the change in the dynamic behavior of signals generated by the sensor itself can also be recorded and evaluated as test parameters.
  • the rise or fall time during signal acquisition or the signal settling time or the dynamic behavior of the noise of the sensor can be used for function monitoring in the manner according to the invention.
  • Dynamic behavior can be determined, for example, using a cyclic voltagram.
  • test parameters are recorded cyclically.
  • the information obtained in each case about the expected development of the sensor behavior and the duration of the remaining fault-free operation can then be used in such a way that when the question of reaching the point of wear limit is reached, those test parameters are taken into account which determine the closest point of wear limit.
  • sensor-specific basic data are used in the evaluation.
  • the measured value converter or in some other way for example via the Internet or via update data carriers, preferred and, in particular, likewise stored functions for the test parameter in question and for carrying out the method can be obtained be used.
  • forward-looking information on maintenance or inspection measures can be given with detailed instructions on how to clean, replace or test the device if it turns out that a value of a test parameter determined for the future is in a warning area is beyond the wear limit.
  • Recommendations for logistical measures which relate to warehousing or material orders, can also be issued according to stored experience or can be initiated in any way.
  • the results of the function monitoring could also be transmitted to a process control center, for example, via process-compatible interfaces, such as Profibus, Foundation Fieldbus, Ethernet and the like.
  • An identical Device Type Manager can be used as a means of sharing the identical user interface and displaying the evaluated test parameters, for example in the transmitter or a connected PC.
  • FIG. 1 shows a schematic representation of part of a measuring device
  • Figure 2 shows the course of sensor-specific test parameters over time.
  • FIG. 1 schematically shows part of a measuring device, which comprises a sensor 1, a computing and storage unit 2 and a display and operating unit 3.
  • An automatable calibration and cleaning unit 4 with associated control is integrated into the system as an optional component.
  • the sensor 1 can advantageously be a sensor with a communication interface and an internal digital memory as well as associated processor-controlled electronics; however, the method according to the invention can also be carried out using a conventional sensor with analog signal output to the computing unit 2 of a transducer.
  • the computing and storage unit 2 and the operating unit 3 can be integrated in a field device with a graphic display, but alternatively, as shown, a PC can also be used.
  • the measuring device also has a communication interface in order to be able to connect to a central process control center via the common communication methods via the Internet or local intranet or to be able to be addressed from outside.
  • the course of sensor-specific data of sensor-specific test parameters is plotted over time in FIG. For example, due to external influences, the functionality of the sensor is limited in time; it is subject to wear.
  • a parameter value corresponding to the wear limit is stored in the memory unit for a respective test parameter.
  • a warning area is also defined and stored adjacent to it.
  • the course of the so-called electrode steepness of the measuring chain voltage is shown in FIG.
  • the measuring device detects the measuring chain voltages during a respective calibration process and normalizes the values obtained in a manner known per se (for example as described in DIN IEC 746-2). The results are then stored in the storage unit.
  • a polynomial function is now determined when a first number of values are available by nonlinear interpolation, and a first predictive value for the wear limit in the future is determined. This is saved.
  • the data is supplemented, i.e. additional test parameters are recorded and their polynomial function determined, and the values of the function at further times by extrapolation in the broadest sense determined.
  • the wear limit time also determined is output as warning information. As in the examples of the two sensors in FIG. 2, these are the times (tGsi and t, GS2).
  • the electrode zero point or the internal resistance of the glass electrode and / or the reference electrode can alternatively or additionally be taken into account as test or monitoring parameters.
  • the measure according to the invention of taking into account the development since then of test parameters recorded at time intervals for determining the development of the sensor behavior to be expected in the future leads to an optimal utilization of the functionality of the sensor.
  • the sensor does not need to be replaced long before its service life expires, and on the other hand the risk is minimized as far as possible that the sensor becomes inoperable during the intended operation.
  • preventive preventive measures e.g. B. Provision and procurement of replacement materials in the sense of an optical maintenance strategy.

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Funktionsüberwachung von Sensoren zur Messung und Überwachung von Zustandsparametern von Flüssigkeiten oder Gasen, insbesondere im Bereich der Prozessmesstechnik, beispielsweise von elektrochemischen, elektrophysikalischen oder optischen Sensoren, wobei der Sensor in zeitlichen Abständen in einen Prüfzustand versetzt wird und Prüfparameter erfasst werden oder diese Prüfparameter in zeitlichen Abständen im Zuge der Messwerterfassung erfasst werden, wobei die erfassten Parameter gespeichert werden und zur Durchführung der Funktionsüberwachung eine seitherige zeitliche Entwicklung der gespeicherten Prüfparameter ausgewertet wird und daraus die zukünftige zu erwartende Entwicklung des Sensorverhaltens vorhergesagt wird und Informationen über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs des Sensors gewonnen werden.

Description

Verfahren zur Funktionsüberwachung von Sensoren
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Funktionsüberwachung von Sensoren zur Messung und Überwachung von Zustandsparametern von Flüssigkeiten oder Gase, insbesondere im Bereich der Prozessmesstechnik. Es kann sich hierbei um an sich beliebige elektrochemische, elektrophysikalische oder optische Sensoren, insbesondere potentiometrische oder amperometrische, photorrietrische oder spektrometrische Sensoren handeln. Bei den zu messenden und zu überwachenden Zustandsparametern kann es sich beispielsweise um den pH-Wert, den CO2-, 02- Gehalt, die Konzentration eines Stoffes in einer wässrigen Lösung oder die elektrische Leitfähigkeit handeln.
Sensoren im Bereich der Prozessmesstechnik unterliegen einer zeitlichen aber auch stark anwendungsbezogenen Alterung. Insbesondere sind Sensoren, welche in flüssigen Medien, zum Beispiel bei der Überwachung von chemischen Prozessen eingesetzt werden, besonderen Beanspruchungen ausgesetzt, so dass die Anforderungen an ihre chemische Beständigkeit und an ihre Temperaturbeständigkeit hoch sind. Ebenso können sich Verschmutzung und Belagsbildung auf dem Sensor in Folge des Medienkontakts störend auswirken und die Standzeit des Sensors verringern. Die Funktionsfähigkeit eines Sensors und seine Standzeit werden durch äußere Einflüsse oder innere, im Sensor vorliegende Einflüsse beeinträchtigt beziehungsweise beeinflusst. Es ist daher nicht möglich, die Standzeit eines Sensors im allgemeinen oder für jeden Sensor im speziellen Anwendungsfall anzugeben, und vorherzusagen, was als nachteilig anzusehen ist.
Bei elektrochemischen, elektrophysikalischen oder optischen Sensoren im Bereich der Prozessmesstechnik werden üblicherweise von Zeit zu Zeit Kalibrierungen durchgeführt, bei denen Mittels entsprechender Normalien eine Zwei- oder Mehrpunktkalibrierung zu Grunde gelegt wird. Die auf diese Weise erhaltenen Kalibrierdaten werden zur Verfügbarkeit für die Messwertauswertung in einem Speicher eines Messwertumformers oder aber des Sensors selbst (siehe noch nicht veröffentlichte DE 102 18 606.5) abgelegt. Bei der Messwerterfassung und - Auswertung werden dann diese Kalibrierdaten und gegebenenfalls weitere Messdaten, wie zum Beispiel die Temperatur des Messmediums, herangezogen.
Beispielsweise wird eine pH-Messkette, die durch eine pH-Glaselektrode und eine Bezugselektrode gebildet ist, durch die Parameter Nullpunkt und Steilheit der Kurve der Messkettenspannung charakterisiert. Als Glaselektrodenfehler sind Steilheitsfehler, Alkalifehler und Nullpunkt bekannt. Die Lebensdauer einer pH- Elektrode ist daher sowohl von den Einsatzbedingungen, aber auch von der Beständigkeit des verwandten Elektrodenglases abhängig. In der Regel sind Einflüsse auf die sogenannte Membranfläche, also Belagbildung aus Kalk, Gips, Fetten, Eiweiß und dergleichen durch chemische Reinigung behebbar. Nicht behebbar sind jedoch Alterungsprozesse im Inneren des Sensors, die auch bei Lagerung stattfinden. Vor allem aber verringern der Betrieb bei extremen pH-Werten aber bei hohen Temperaturen die Lebensdauer einer Glaselektrode drastisch.
Bezugselektroden hingegen besitzen ein Diaphragma, welches den elektrolytischen Kontakt zwischen einem Bezugselektrolyten und der Messlösung ermöglicht. Fehler können daher zum Beispiel durch Verschmutzung und Blockierung des Diaphragmas oder durch sog. Elektrodenvergiftung aufgrund eindringender Fremdionen in den Bezugselektrolyten hervorgerufen werden. Die Folge ist eine Veränderung der Zellenspannung der Bezugselektrode (der Halbzellenspannung), des sogenannten Bezugspotentials, was sich wiederum als Nullpunktsveränderung der gesamten Messkettenspannung bemerkbar macht.
Es sind daher Verfahren zur Funktionsüberwachung von elektrochemischen Sensoren bekannt, wobei zum Beispiel der Innenwiderstand einer Messelektrode und einer Bezugselektrode in zeitlichen Abständen gemessen wird und bei Überschreiten oder Unterschreiten praxisbezogen definierter Werte eine Alarmmeldung ausgegeben wird. Nach diesen Verfahren wird abgewartet, bis der Sensor einen kritischen Bereich erreicht und dann ausgewechselt werden muss.
Es gibt eine Vielzahl von Verfahren zur Funktionsüberwachung von Sensoren im Bereich der Prozessmesstechnik, wobei stets anhand von Prüfparametern die momentane Funktionserfüllung des Sensors geprüft wird. Beispielhaft sei DE 42 12 792 C2 und DE 34 19 034 A1 genannt.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, ein Verfahren zur Funktionsüberwachung mit den Merkmalen des Oberbegriffs des Patentanspruchs 1 dahingehend zu verbessern, dass ausgeschlossen werden kann, dass der Sensor während der folgenden Betriebsperiode bis zur nächsten Funktionsprüfung seine Funktionsfähigkeit verliert, und zwar ohne dass der Sensor lange vor Erreichen seiner Abnutzungsgrenze ausgetauscht wird, so dass die wertvolle Standzeit des Sensors möglichst weitgehend ausgenutzt werden kann.
Diese Aufgabe wird bei einem gattungsgemäßen Verfahren erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass dass die erfassten Prüfparameter gespeichert werden und dass zur Durchführung der Funktionsüberwachung eine seitherige zeitliche Entwicklung der gespeicherten Prüfparameter ausgewertet wird und dass daraus die zukünftige zu erwartende Entwicklung des Sensorverhaltens vorhergesagt wird und Informationen über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs des Sensors gewonnen werden.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass aus der seitherigen zeitlichen Entwicklung von Prüfparametern, die entweder im Rahmen der Messwerterfassung oder während periodischer Prüfzustände, insbesondere während der Kalibriervorgänge, gewonnen werden, in die Zukunft gerichtete Voraussagen über die zu erwartende Entwicklung des Sensorverhaltens gemacht werden können. Es soll also der noch verbleibende "Abnutzungsvorrat" des Sensors ermittelt werden. Anhand dessen können Steuervorgänge ausgelöst oder Entscheidungen über Steuervorgänge getroffen werden, falls dies erwünscht ist.
Dabei können in vorteilhafter Weise erfahrungsgemäß gewonnene Kenntnisse über das Verhalten eines bestimmten Sensortyps bzw. eines bestimmten Prüfparameters bei einem spezifischen Sensortyp verwendet werden, etwa dadurch, dass ein bestimmtes erfahrungsgemäßes Verhalten sehr gut wiedergebende mathematische Funktionen verwendet und deren Parameter ermittelt werden. Es wäre zumindest grundsätzlich denkbar, dass eine erfahrungsgemäße zeitliche Entwicklung eines Prüfparameters in Form einer Kurve oder in sonstiger Weise für die Funktionsüberwachung zugänglich hinterlegt werden könnte, so dass durch Vergleich der ermittelten und gespeicherten Prüfparameter des zu überwachenden Sensors mit den hinterlegten Daten auf die zu erwartende Entwicklung des Sensorverhaltens geschlossen werden kann. Es könnte also insbesondere eine Aussage gewonnen werden, wie lange der Sensor noch außerhalb eines kritischen Verhaltens, also in einem sicheren Abstand zu einer Abnutzungsgrenze bleiben wird. - Es erweist sich aber demgegenüber als vorteilhaft, wenn zum Auswerten der seitherigen zeitlichen Entwicklung der gespeicherten Prüfparameter nichtlineare Interpolationsverfahren angewendet werden, um Funktionsparameter einer das Sensorverhalten beschreibenden Funktion zu gewinnen. Es wird also durch Interpolation im weitesten Sinne eine Funktion für die Prüfparameter errechnet, deren Werte dann auch für die Zukunft berechnet werden können. Es findet also im weitesten Sinne eine Extrapolation der in der Vergangenheit ermittelten Prüfparameter für die Zukunft statt.
Wie bereits vorstehend angedeutet, erweist es sich als besonders vorteilhaft, wenn für einen bestimmten Sensortyp und gegebenenfalls für einen bestimmten Anwendungsbereich eines bestimmten Sensortyps, etwa im alkalischen Medium, eine auf Erfahrung beruhende Funktion vorgegeben und verwendet wird, deren Funktionsparameter dann aber anhand einer Anzahl von konkreten erfassten Prüfparametern ermittelt werden. Vorzugsweise finden Polynomfunktionen hierfür Verwendung.
Wenn vorstehend von Informationen über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs des Sensors gesprochen wird, so ist dies im weitesten Sinne zu verstehen. Insbesondere könnte nach einer jeweiligen Erfassung eines Prüfparameters oder in zeitlichen Abständen ein erster prädiktiver Wert für eine Abnutzungsgrenze ermittelt werden. An der Abnutzungsgrenze ist der Sensor nach wie vor funktionsfähig, d.h. er befindet sich in einem Betriebszustand, der (noch) durch elektrische Kompensationsmaßnahmen die Funktionalität der Messeinrichtung in gegebenenfalls engeren Grenzen ermöglicht. Jenseits der Abnutzungsgrenze ist dies aber nicht mehr der Fall. Es wird also nach diesem weitergehenden Erfindungsgedanken derjenige Zeitpunkt rechnerisch anhand der erfassten Prüfparameter, insbesondere anhand der daraus gewonnenen Funktion oder im weitesten Sinne durch Extrapolation ermittelt, zu dem der Sensor die vorstehend erläuterte Abnutzungsgrenze erreicht haben wird.
Nach einer weiteren Ausführungsform der Erfindung könnte aber auch geprüft werden, ob vor dem nächsten Erfassen von Prüfparametern, also insbesondere vor dem nächstfolgenden Kalibrierzyklus, die Abnutzungsgrenze erreicht sein wird. Je nach dem kann eine entsprechende Warnmeldung ausgegeben werden, oder es können Maßnahmen verschiedenster Art, beispielsweise automatisierte Reinigungsmaßnahmen, eingeleitet werden.
Nach einer weiteren vorteilhaften Verfahrensvariante kann geprüft werden, ob ein prädiktiv gewonnener Wert des Prüfparamters innerhalb eines Warnbereichs diesseits der bisher definierten Abnutzungsgrenze liegt. Auch in diesem Fall könnten geeignete Informationen angezeigt oder Maßnahmen ausgelöst werden. Die bisher definierte Abnutzungsgrenze kann insbesondere anhand des prädiktiv gewonnenen Werts korrigiert werden.
In besonders bevorzugter Weiterbildung des Erfindungsgedankens wird vorgeschlagen, dass anhand der erfindungsgemäß gewonnenen Informationen über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs Maßnahmen für die Wartung, beispielsweise Reinigungsmaßnahmen, Ersetzung der Sensorflüssigkeit von Verschleißteilen oder des Filters oder dergleichen, ermittelt und ausgegeben und/oder angezeigt und gegebenenfalls eingeleitet werden.
Es erweist sich des Weiteren als besonders vorteilhaft, wenn anhand der Informationen über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs ein prädiktiver Zeitpunkt des Austauschs des Sensor ermittelt und vorzugsweise ausgegeben und/oder angezeigt wird. Diese Information des bevorzugten Zeitpunkts des Austauschs des Sensors kann natürlich auch in an sich beliebiger Weise an zentrale Rechen- und Steuereinheiten weitergegeben und dort in an sich beliebiger Weise verarbeitet werden.
Wenn vorstehend von Prüfparametern die Rede war, so waren hierunter an sich beliebige Zustandsdaten oder Zustandsinformationen des Sensors erfasst, welche sich im Zuge des Betriebs des Sensors verändern und in einem funktionalen Zusammenhang zur Standzeit des Sensors stehen.
Insbesondere bei potentiometrischen Sensoren, wie pH-Sensoren, O*- oder CO*- Sensoren erweist es sich als besonders vorteilhaft, wenn als Prüfparameter die Steilheit des Sensorsignals oder der Sensorsignale (Einzelsensor, Sensorkette oder Sensor-Array) in einem jeweiligen Prüfzustand des Sensors, also beispielsweise vorzugsweise während der zyklischen Kalibrierung des Sensors, erfasst und ausgewertet wird. Es wird hierunter also im Falle des beispielhaft genannten pH- Sensors die Steilheit der Messkettenspannung oder Zellen-EMK verstanden. Gleichermaßen könnte es sich um die hinterlegten Werte der Kalibrierfunktion eines photometrischen oder spektrometrischen Sensors handeln.
Des Weiteren kann es sich als vorteilhaft erweisen, wenn als Prüfparameter der Nullpunkt dieses Messkettensignals in einem jeweiligen Prüfzustand des Sensors erfasst und ausgewertet wird.
Eine besondere Bedeutung kommt auch der Erfassung und Auswertung des Innenwiderstands einer Elektrode als Prüfparameter zu, da dies in vorteilhafter Weise während des normalen Messbetriebs möglich ist, wohingegen die Ermittlung von Steilheit und Nullpunktslage nur bei unterbrochenem Messbetrieb , insbesondere während der zyklisch durchgeführten Kalibrierverfahren, möglich ist.
Aber auch die Veränderung des dynamischen Verhaltens vom Sensor selbst erzeugter Signale lässt sich als Prüfparameter erfassen und auswerten. So kann beispielsweise die Anstiegs-/ beziehungsweise Abfallzeit bei der Signalerfassung oder die Signaleinschwingzeit oder das dynamische Verhalten des Rauschens des Sensors in der erfindungsgemäßen Weise zur Funktionsüberwachung verwendet werden. Dynamisches Verhalten kann beispielsweise über ein Zyklovoltagramm ermittelt werden.
Des Weiteren erweist es sich als vorteilhaft, wenn abhängig vom Sensortyp wenigstens eines, vorteilhafterweise aber mehrere unterschiedliche Prüfparameter jeweils zyklisch erfasst werden. Die dann jeweils gewonnenen Informationen über die zu erwartende Entwicklung des Sensorverhaltens und über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs können dann dahingehend verwertet werden, dass bei der Frage des Erreichens des Abnutzungsgrenzzeitpunkts diejenigen Prüfparameter Berücksichtigung finden, welche den nächstliegenden Abnutzungsgrenzzeitpunkt bedingen.
Es erweist sich auch als vorteilhaft, wenn sensorspezifische Grunddaten bei der Auswertung Verwendung finden. Anhand dieser sensorspezifischen Grunddaten, die aus einer Speichereinrichtung des Sensors, des Messwertumformers oder in sonstiger Weise, etwa über das Internet oder über Aktualisierungsdatenträger erhalten und verwendet werden, können beispielsweise bevorzugte und insbesondere ebenfalls hinterlegte Funktionen für den betreffenden Prüfparameter gewonnen und für die Durchführung des Verfahrens herangezogen werden.
In einer weiteren vorteilhaften Ausbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens, können vorausschauende Hinweise zu Wartungs- oder Inspektionsmaßnahmen mit detaillierten Anweisungen, die Vorrichtung zu reinigen, auszuwechseln oder zu prüfen, gegeben werden, wenn sich herausstellt, dass ein für die Zukunft ermittelter Wert eines Prüfparameters in einem Warnbereich diesseits der Abnutzungsgrenze liegt. Ebenso können Empfehlungen für logistische Maßnahmen, welche die Lagerhaltung oder Materialbestellung betreffen, entsprechend hinterlegtem Erfahrungswissen ausgegeben oder in beliebiger Weise veranlasst werden.
Die Ergebnisse der Funktionsüberwachung könnten außerdem beispielsweise über prozesskompatible Schnittstellen, wie zum Beispiel Profibus, Foundation Fieldbus, Ethernet und dergleichen an eine Prozessleitstelle übermittelt werden. Als Mittel zur gemeinsamen Nutzung der identischen Bedienoberfläche und zur Darstellung der ausgewerteten Prüfparameter, beispielsweise im Messumformer oder einem angeschlossenen PC, kann beispielsweise ein identischer Device Type Manager (DTM) verwendet werden.
Weitere Merkmale, Einzelheiten und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus den Patentansprüchen, der zeichnerischen Darstellung und nachfolgenden Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung. In der Zeichnung zeigt:
Figur 1 in schematischer Darstellung einen Teil einer Messeinrichtung;
Figur 2 den Verlauf sensorspezifischer Prüfparameter über der Zeit.
Figur 1 zeigt schematisch einen Teil einer Messeinrichtung, welche einen Sensor 1 , eine Rechen- und Speichereinheit 2 sowie eine Anzeige- und Bedieneinheit 3 umfasst. Als optionale Komponente ist in das System eine automatisierbare Kalibrier- und Reinigungseinheit 4 mit zugehöriger Steuerung integriert.
Bei dem Sensor 1 kann es sich in vorteilhafter Weise um einen Sensor mit einer Kommunikationsschnittstelle und einem internen digitalen Speicher sowie zugehöriger prozessorgesteuerter Elektronik handeln; das erfindungsgemäße Verfahren ist aber auch unter Verwendung eines konventionellen Sensors mit analoger Signalausgabe an die Recheneinheit 2 eines Messwertumformers durchführbar.
Rechen- und Speichereinheit 2 sowie die Bedieneinheit 3 können in einem Feldgerät mit graphischem Display integriert sein, alternativ ist aber auch, wie dargestellt, ein PC verwendbar. Die Messeinrichtung besitzt auch eine Kommunikationsschnittstelle, um über die gängigen Kommunikationsverfahren via Internet oder lokalem Intranet mit einer zentralen Prozessleitstelle in Verbindung treten zu können oder von extern angesprochen werden zu können. In Figur 2 ist der Verlauf sensorspezifischer Daten sensorspezifischer Prüfparameter über der Zeit aufgetragen. Beispielsweise durch äußere Einflüsse bedingt ist die Funktionsfähigkeit des Sensors zeitlich begrenzt; er unterliegt der Abnutzung. Sensorspezifisch gibt es verschiedene Einflussgrößen, wie die Belastung durch das Messmedium, die Belastung durch Temperatur und klimatische Einflüsse, aber auch die alterungsbedingte Abnutzung sowie sonstige chemische oder physikalische Vorgänge, die einen unterschiedlich schnellen Abbau des sog. Abnutzungsvorrats bis zur definierten Abnutzungsgrenze beeinflussen.
Für einen jeweiligen Prüfparameter ist in der Speichereinheit in Abhängigkeit vom spezifischen Sensortyp ein der Abnutzungsgrenze entsprechender Parameterwert hinterlegt. Ebenso ist daran angrenzend ein Warnbereich definiert und hinterlegt. Wie eingangs erwähnt, ist bei Erreichen der Abnutzungsgrenze die Funktionsfähigkeit der Messeinrichtung zwar noch gegeben, eine weitere Veränderung oder Verschlechterung der Sensorparameter hätte jedoch Fehlfunktionen zur Folge.
Für das Beispiel einer pH-Messkette ist in Figur 2 der Verlauf der sogenannten Elektrodensteilheit der Messkettenspannung dargestellt. Die Messeinrichtung erfasst dabei während eines jeweiligen Kalibriervorgangs die Messkettenspannungen und normiert die gewonnenen Werte in an sich bekannter Weise (zum Beispiel wie in DIN IEC 746-2 beschrieben). Die Ergebnisse werden dann in der Speichereinheit abgelegt.
Über ein sogenanntes Prädiktivprogramm zur Steilheitsüberwachung wird nun bei Vorliegen einer ersten Anzahl von Werten durch nichtlineare Interpolation eine Polynomfunktion ermittelt und ein erster prädiktiver Wert für die Abnutzungsgrenze in der Zukunft ermittelt. Dieser wird gespeichert. In Abhängigkeit von den Einsatzbedingungen und den daraus resultierenden Kalibrierzyklen, die sich im Tages- oder Wochenabstand abspielen können, werden die Daten ergänzt, d.h. es werden weitere Prüfparameter erfasst und deren Polynomfunktion ermittelt und jeweils durch Extrapolation im weitesten Sinne die Werte der Funktion zu weiteren Zeitpunkten tι bestimmt. Sobald der betreffende Prüfparameter auf die definierte Größe des Warnbereichs absinkt, zum Beispiel bei Absinken des Elektrodensteilheitswerts auf 80% der theoretischen Steilheit der Messkettenspannung über der H+-lonenkonzentration, wird der ebenfalls ermittelte Abnutzungsgrenzzeitpunkt als Warninformation ausgegeben. Wie in den Beispielen der beiden Sensoren der Figur 2 sind dies die Zeitpunkte (tGsi und t,GS2).
Wie vorausgehend erwähnt, können alternativ oder zusätzlich als Prüf- oder Überwachungsparameter der Messkettenspannungsnullpunkt oder der Innenwiderstand der Glaselektrode und/oder der Bezugselektrode berücksichtigt werden.
Die erfindungsgemäße Maßnahme der Berücksichtigung der seitherigen Entwicklung von in zeitlichen Abständen erfassten Prüfparametern für die Ermittlung der zukünftig zu erwartenden Entwicklung des Sensorverhaltens, führt zu einer optimalen Ausnutzung der Funktionsfähigkeit des Sensors. Der Sensor braucht nicht schon lange vor Ablauf seiner Standzeit ausgewechselt zu werden, und andererseits wird das Risiko weitestgehend minimiert, dass der Sensor während des bestimmungsgemäßen Betriebs funktionsunfähig wird.
Gleichermaßen können vorausschauende Vorsorgemaßnahmen, z. B. Bereitstellung und Beschaffung von Ersatzmaterialien im Sinne einer optischen Instandhaltungsstrategie eingeleitet werden.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Funktionsüberwachung von Sensoren zur Messung und Überwachung von Zustandsparametern von Flüssigkeiten oder Gasen, insbesondere im Bereich der Prozessmesstechnik, beispielsweise von elektrochemischen, elektrophysikalischen oder optischen Sensoren, wobei der Sensor in zeitlichen Abständen in einen Prüfzustand versetzt wird und Prüfparameter erfasst werden oder Prüfparameter in zeitlichen Abständen im Zuge der Messwerterfassung erfasst werden, dadurch gekennzeichnet, dass die erfassten Prüfparameter gespeichert werden und dass zur Durchführung der Funktionsüberwachung eine seitherige zeitliche Entwicklung der gespeicherten Prüfparameter ausgewertet wird und dass daraus die zukünftige zu erwartende Entwicklung des Sensorverhaltens vorhergesagt wird und Informationen über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs des Sensors gewonnen werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass zum Auswerten der seitherigen zeitlichen Entwicklung der gespeicherten Prüfparameter nichtlineare Interpolationsverfahren angewendet werden, um Funktionsparameter einer das Sensorverhalten beschreibenden Funktion zu gewinnen.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass für einen jeweiligen Sensor eine das erfahrungsgemäße Sensorverhalten wiedergebende Funktion vorgegeben und verwendet wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der Funktion um eine Polynomfunktion handelt.
5. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass ein erster prädiktiver Wert für die Abnutzungsgrenze ermittelt wird.
6. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass geprüft wird, ob vor dem nächsten Erfassen von Prüfparametern die Abnutzungsgrenze erreicht wird.
7. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass geprüft wird, ob ein prädiktiv gewonnener Wert des Prüfparameters innerhalb eines Warnbereichs diesseits der bisher definierten Abnutzungsgrenze liegt.
8. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass anhand der Informationen über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs Maßnahmen für die Wartung ermittelt und ausgegeben und/oder angezeigt und gegebenenfalls eingeleitet werden.
9. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass anhand der Informationen über die Dauer des verbleibenden störungsfreien Betriebs ein prädiktiver Zeitpunkt des Austauschs des Sensors ermittelt und gegebenenfalls ausgegeben wird.
10. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass als Prüfparameter die Steilheit des Sensorsignals oder der Sensorsignale in einem jeweiligen Prüfzustand des Sensors erfasst und ausgewertet wird.
11. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass als Prüfparameter der Nullpunkt des Sensorsignals oder der Sensorsignale in einem jeweiligen Prüfzustand des Sensors erfasst und ausgewertet wird.
12. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass als Prüfparameter der Innenwiderstand einer Elektrode erfasst und ausgewertet wird.
13. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass als Prüfparameter die Veränderung des dynamischen Verhaltens vom Sensor selbst erzeugter Signale erfasst und ausgewertet wird.
14. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mehrere verschiedene Prüfparameter erfasst und ausgewertet werden.
15. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zur Auswertung sensorspezifische Grunddaten aus einer Speichereinrichtung des Sensors oder des Messwertumformers, über das Internet oder über Aktualisierungsdatenträger erhalten und verwendet werden.
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