WO2004064162A1 - 配線基板、及びそれを用いた放射線検出器 - Google Patents

配線基板、及びそれを用いた放射線検出器 Download PDF

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Yutaka Kusuyama
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Definitions

  • the present invention relates to a wiring board provided with a conductive path for guiding an electric signal, and a radiation detector using the same.
  • a radiation detector used for a CT sensor or the like there is a detector having a configuration in which a scintillator is provided on a light incident surface of a semiconductor photodetector array such as a photodiode array.
  • a radiation detector when radiation such as X-rays, ⁇ -rays, and charged particle beams to be detected enters the scintillator, scintillation light is generated by the radiation in the scintillator. Then, radiation is detected by detecting the scintillation light with a semiconductor photodetector.
  • a signal processing element is provided for performing signal processing of a detection signal output from each of the photodetection elements on the photodetection element array.
  • a configuration for electrically connecting the photodetection element and the signal processing element a configuration using various wirings or a configuration using a conductive path provided on a wiring board may be used. (For example, see Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-330469).
  • the present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide a wiring board in which transmission of radiation is suppressed, and a radiation detector using the same. I do.
  • a power supply board is a wiring board provided with a conductive path for guiding an electric signal between a signal input surface and a signal output surface.
  • a glass substrate formed of a predetermined glass material having a radiation shielding function and provided with a through-hole, and a conductive path provided in the through-hole to electrically conduct between an input surface and an output surface.
  • the through-hole in the glass substrate has an opening of the through-hole in a predetermined plane orthogonal to the conductive direction from the signal input surface to the signal output surface.
  • the signal input surface is formed so as to be in a region excluding a region on the extension of the opening of the through hole in the conductive direction in the signal input surface.
  • a wiring board used for electrical connection between the radiation detection means and the signal processing means in the radiation detector is used as a wiring board made of a predetermined glass material. It is composed. And, regarding the through hole of the conductive path provided on the glass substrate, the opening in the predetermined plane is not on the extension of the opening in the signal input surface, and therefore, when viewed from the conductive direction orthogonal to the signal input surface, the signal input surface The structure is such that the through-hole cannot be seen through to the signal output surface.
  • the wiring board for example, there is a configuration in which the center line of the through hole in the glass substrate is inclined at a predetermined angle with respect to the conductive direction. In such a configuration, when the signal output surface is the above-mentioned predetermined plane, at least the opening on that surface can be configured to be an extension of the opening on the signal input surface. [0109] Alternatively, there is a configuration in which the center line of the through hole in the glass substrate is curved in the conductive direction. In such a configuration, when the surface between the signal input surface and the signal output surface is the above-mentioned predetermined plane, at least the opening on that surface is not on the extension of the opening on the signal input surface. can do.
  • the glass substrate is preferably formed from a glass material containing lead. This makes it possible to effectively suppress the transmission of radiation through the wiring board. Further, a substrate made of another glass material having a radiation shielding function may be used.
  • the conductive member may be formed and provided on the inner wall of the through hole provided in the glass substrate.
  • the conductive member may be provided so as to fill the inside of the through hole provided in the glass substrate.
  • the glass substrate as the wiring substrate is a glass substrate provided with a plurality of through-holes by integrally forming a plurality of hollow glass members having open ends at the both ends. It is preferable that Further, a substrate having another configuration may be used.
  • the radiation detector includes: (1) radiation detection means for detecting incident radiation and outputting a detection signal; and (2) signal processing for processing a detection signal from the radiation detection means.
  • the radiation detecting means, the wiring board part, and the signal processing means are arranged along a predetermined arrangement direction substantially coincident with the conductive direction on the wiring board. It is characterized by being arranged in this order.
  • the radiation detection means and the signal processing means As the wiring board part for electrically connecting the steps and transmitting the detection signal, which is an electric signal, the wiring board having the above-described configuration in which a through hole cannot be seen from the signal input surface to the signal output surface is used. According to such a configuration, a glass material having a radiation shielding function exists in at least a part from the signal input surface to the signal output surface in any part of the wiring board portion. This makes it possible to realize a radiation detector in which radiation does not enter the signal processing element and deterioration in reliability and life due to radiation damage is suppressed.
  • the radiation detection means uses a configuration having a scintillator that generates scintillation light upon incidence of radiation, and a semiconductor light detection element that detects scintillation light from the scintillator. be able to.
  • the radiation detection means may use a configuration having a semiconductor detection element for detecting incident radiation.
  • At least one of the wiring board and the radiation detecting means and the wiring board and the signal processing means are electrically connected via bump electrodes.
  • a metal bump electrode as an electrical connection means, each part can be suitably electrically connected.
  • FIG. 1 is a side cross-sectional view showing a cross-sectional structure of an embodiment of a wiring board and a radiation detector using the same.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view showing the configuration of the radiation detector shown in FIG.
  • FIGS. 3A and 3B are plan views showing the configurations of the (A) signal input surface and the (B) signal output surface of the wiring board.
  • FIGS. 4A to 4C are diagrams illustrating an example of a glass substrate provided with a plurality of through holes.
  • FIGS. 5A and 5B are diagrams illustrating an example of a configuration of a conductive member provided in a through hole of a wiring board.
  • FIGS. 6A and 6B are diagrams showing another example of the configuration of the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIGS. 7A and 7B are diagrams showing another example of the configuration of the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIGS. 8A and 8B are diagrams showing another example of the configuration of the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIG. 1 is a side sectional view showing a sectional structure of an embodiment of a wiring board and a radiation detector according to the present invention.
  • FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the wiring board and the radiation detector shown in FIG. 1 with each component disassembled.
  • the axis along the direction in which radiation enters is the z-axis, and two axes orthogonal to the z-axis are the X-axis. , Y axis.
  • the negative direction of the Z axis is the conductive direction from the signal input surface to the signal output surface on the wiring board, and the arrangement direction of each component on the radiation detector.
  • the radiation detector shown in FIG. 1 includes a radiation detection unit 1, a wiring board unit 2, and a signal processing unit 3. These are arranged in this order from the upstream side (upper side in the figure) to the downstream side (lower side) along a predetermined arrangement direction, as shown in FIG.
  • the radiation detection unit 1 detects radiation such as X-rays, y-rays, and charged particle beams incident on the radiation detector as a detection target, and outputs a detection signal, which is an electric signal corresponding to the radiation. Detection means.
  • the radiation detector 1 is configured to include a scintillator 10 and a photodiode array 15.
  • the scintillator 10 constitutes an upstream portion of the radiation detecting section 1, and its upper surface 10a is a radiation incident surface in the present radiation detector.
  • the scintillator 10 generates scintillation light having a predetermined wavelength when radiation is incident from the incident surface 10a.
  • the photodiode array (PD array) 15 constitutes a downstream portion of the radiation detecting section 1.
  • the PD array 15 is a photodetector array in which a plurality of photodiodes (PD), which are semiconductor photodetectors for detecting scintillation light from the scintillator 10, are arranged.
  • the light exit surface 10b, which is the lower surface of the scintillator 10, and the light incident surface 15a, which is the upper surface of the PD array 15, are optically connected via an optical adhesive 11 through which scintillation light passes. It is connected to the.
  • PD photodiode array
  • 3 shows a PD array formed as described above.
  • the lower surface 15b of the PD array 15 is a signal output surface for outputting a detection signal from each photodiode 16.
  • 16 bump electrodes 17, which are electrodes for detection signal output, are arranged in 4 ⁇ 4 so as to correspond to the respective photodiodes 16.
  • a bump electrode for a common electrode of the photodiode is also provided.
  • the wiring board unit 2 is installed downstream of the radiation detection unit 1.
  • the wiring board unit 2 includes a wiring board 20 provided with a conductive path for guiding an electric signal between the signal input surface and the signal output surface.
  • a glass substrate formed of a predetermined glass material having a radiation shielding function is used as the substrate.
  • lead glass containing lead is used as the substrate.
  • FIGS. 3A and 3B are plan views showing the configuration of the wiring board 20, respectively.
  • FIG. 3A shows the signal input surface 20a as the upper surface thereof, and FIG. Is on the bottom The signal output surfaces 20b are shown respectively.
  • a plurality of through holes 20c are formed between the input surface 20a and the output surface 2Ob in the glass substrate constituting the wiring substrate 20.
  • a conductive member 21 that electrically connects the input surface 20a and the output surface 20b to each through hole 20c and functions as a conductive path is provided.
  • These through holes 20 c and conductive members 21 are formed at the same pitch as the bump electrodes 17 in the PD array 15.
  • a through hole for the common electrode of the photodiode and a conductive member are also provided.
  • the conductive member 21 includes a conductive portion 21c formed inside the through hole 20c and an outer periphery of the through hole 20c on the input surface 20a.
  • the input part 21a formed so as to be continuous with the conductive part 21c, and the outer part of the through hole 20c formed on the output surface 20b so as to be continuous with the conductive part 21c And an output unit 21b.
  • the through hole 20c in the glass substrate of the wiring board 20 is formed on a predetermined plane orthogonal to the conductive direction from the signal input surface 20a to the signal output surface 20b.
  • the opening of the through hole 20c in the plane is formed so as to be within a region excluding a region on the signal input surface 20a which is an extension of the opening of the through hole 20c in the conductive direction.
  • the cross-sectional opening of the through hole 20 c on that surface is the signal output surface 20 b.
  • the structure is not on the extension of the opening on the input surface 20a.
  • the conductive direction of the wiring board 20 substantially matches the arrangement direction of each component in the radiation detector.
  • an electrode pad 22 is formed in addition to the input portion 21a of the conductive member 21. I have.
  • This electrode The pad 22 is provided at a position corresponding to the bump electrode 17 on the output surface 15 b of the PD array 15. Further, the electrode pad 22 is electrically connected to the corresponding input portion 21 a of the conductive member 21 via the wiring 23.
  • the photodiode 16 that outputs the detection signal at 15 is electrically connected to the conductive member 21 that is a conductive path on the wiring board 20 via the bump electrode 17 and the electrode pad 22. .
  • an electrode pad for a common electrode of the photodiode is also provided.
  • an electrode pad 24 is formed in addition to the output portion 21 b of the conductive member 21. Have been.
  • the electrode pad 24 is provided at a position corresponding to a bump electrode 31 of a signal processing element 30 described later.
  • the electrode pad 24 is electrically connected to the corresponding output section 21 b of the conductive member 21 via the wiring 25.
  • an electrode pad 29 is formed on the output surface 2 Ob.
  • the electrode pad 29 is used for connection with a housing 40 described later.
  • an electrode pad for a common electrode of the photodiode is also provided.
  • a signal processing unit 3 and a housing (package) 40 are provided downstream of the wiring board unit 2.
  • the signal processing unit 3 includes a signal processing element 30 provided with a signal processing circuit for processing a detection signal from the PD array 15 of the radiation detection unit 1.
  • a bump electrode 31 is formed on the upper surface of the signal processing element 30.
  • the bump electrode 31 is provided at a position corresponding to the electrode pad 24 on the output surface 20b of the wiring board 20.
  • the conductive member 21, which is a conductive path for transmitting the detection signal on the wiring board 20 is connected via the output portion 21 b, the wiring 25, the electrode pad 24, and the bump electrode 31. It is electrically connected to a signal processing circuit provided in the signal processing element 30.
  • the housing 40 includes a radiation detecting section 1, a wiring board section 2, and This is a holding member that holds the signal processing unit 3 integrally.
  • the housing 40 is provided on the upper surface thereof as four parts, an element housing 41 for housing the signal processing element 30 therein, and an outer periphery of the element housing 41, and the bump electrode 44 is provided. It has a radiation detecting unit 1, a wiring substrate unit 2, and a support unit 42 that supports the signal processing unit 3, while being connected to the electrode pads 29 of the wiring substrate 20 via the wiring board 20. Further, on the lower surface of the housing 40, a lead 43 used for inputting / outputting an electric signal to / from the outside is provided.
  • a detection signal which is an electric signal corresponding to the detection of radiation, is output.
  • the detection signals output from the photodiodes 16 of the PD array 15 correspond to the corresponding bump electrodes 17, the conductive members 21 of the wiring board 20, and the bump electrodes 31.
  • the signals are sequentially input to the signal processing element 30. Then, the signal processing circuit of the signal processing element 30 performs necessary signal processing on the detection signal.
  • the wiring board used for the wiring board unit 2 in the radiation detector shown in FIGS. 1 to 3A and 3B includes a radiation detection unit and a signal processing unit in the radiation detector.
  • the wiring substrate 20 used for electrical connection with the substrate is configured using a glass substrate made of a predetermined glass material.
  • the through hole 20c of the conductive path provided on the glass substrate is configured such that the opening in a predetermined plane perpendicular to the conductive direction does not extend from the opening in the signal input surface 20a. That is, the through hole 20c cannot be seen from the signal input surface 20a to the signal output surface 20 when viewed from the conductive direction orthogonal to the signal input surface 20a.
  • the glass substrate 20 A glass material having a radiation shielding function at any position from the signal input surface 20a to the signal output surface 20b when viewed from the conductive direction even in a portion where the through hole 20c is provided. Will exist. This realizes a wiring board in which transmission of radiation is suppressed as a whole.
  • such a wiring board is used as a radiation board used for a wiring board section 2 that electrically connects the radiation detection section 1 and the signal processing section 3 and transmits a detection signal as an electrical signal.
  • the detector when viewed from the arrangement direction of each component in the radiation detector, which substantially coincides with the conduction direction of the detection signal, that is, from the direction of incidence of radiation on the radiation detector, the wiring board 2
  • a glass material having a radiation shielding function exists in at least a part from the signal input surface 20a to the signal output surface 20b of the wiring board 20.
  • the glass material used for the glass substrate in the spring board 20 of the wiring board section 2 it is preferable to use a glass material containing lead.
  • lead glass By using lead glass, it is possible to effectively suppress the transmission of radiation in the wiring board portion 2.
  • a conductive path is formed between the input surface 20a on the radiation detection unit 1 side and the output surface 20b on the signal processing unit 3 side.
  • a glass substrate provided with a through hole 20c for forming the conductive member 21 is used. Examples of such a glass substrate include, for example, a glass having a plurality of through-holes formed by integrally forming a plurality of hollow glass members having both ends opened and being fused together. A substrate can be used.
  • FIGS. 4A to 4C are diagrams showing an example of the above glass substrate provided with a plurality of through holes.
  • a general configuration example of a glass substrate having a plurality of through holes is shown.
  • the glass substrates shown in FIGS. 4A to 4C have different shapes and configurations from the wiring substrates used in the radiation detector shown in FIG.
  • FIG. 4A is a plan view showing a configuration of a glass substrate
  • FIG. 4B is a plan view showing a configuration of a multi-channel member included in the glass substrate
  • FIG. 4C is a multi-channel member. It is a perspective view which shows the structure of the glass member contained in (1). 4A to 4C show the glass substrate in a state where a conductive member serving as a conductive path in the wiring substrate is not formed.
  • the glass substrate 9 has a cavity substrate 90.
  • the cavity substrate 90 includes a plurality of multi-channel members 92 having a plurality of through holes 93.
  • the multi-channel members 92 are integrally formed inside the edge member 91 made of a glass material by being fused to each other in a two-dimensional arrangement.
  • the multi-channel member 92 is formed by integrally forming a plurality of hollow glass members 95 each having an opening at both ends by fusing them together.
  • the substrate 90 When viewed from a direction perpendicular to the upper and lower surfaces of one substrate 90, the substrate 90 has a quadrangular shape (for example, about 100 mx 100 / m).
  • the opening of the through hole 93 has a circular shape.
  • the inner diameter of the through hole 93 is, for example, about 6 / m.
  • the glass material of the edge member 91 and the glass member 95 constituting the substrate 90 has a radiation shielding function as described above with respect to the radiation detector.
  • a glass material for example, a lead glass material is used.
  • the wiring board 20 in the radiation detector shown in FIG. For example, it is possible to use a glass substrate having the configuration shown in FIGS. 4A to 4C in which a conductive member serving as a conductive path is formed in a through hole. That is, in a glass substrate having such a configuration, the shape of the substrate and the number and arrangement of through holes are set according to the configuration of the radiation detector. Then, a conductive member serving as a conductive path is formed in a through hole provided in the glass substrate, and further, an electric wiring pattern including necessary electrodes and wirings is formed on each surface thereof, thereby obtaining the electric wiring pattern shown in FIG. A wiring board having a configuration as shown in FIG. 3B is obtained.
  • FIGS. 5A and 5B are diagrams showing an example of the configuration of a conductive member provided in a through hole of a wiring board.
  • FIG. 5A is a top view, and FIG. An arrow cross section is shown.
  • the configuration of the conductive member 21 which is a conductive path in the wiring board 20 is shown.
  • the through-hole 20 c has a center line with respect to the conductive direction perpendicular to the input surface 20 a and the output surface 20 b of the wiring board 20. It is formed to be inclined at a predetermined angle.
  • the through hole 20 c is formed such that, on the output surface 20 b orthogonal to the conductive direction, the cross-sectional opening 5 b of the through hole 20 c on that plane is the same as the opening 5 a on the input surface 20 a. It is formed so as not to extend.
  • the through hole 20c has a configuration that cannot be seen from the signal input surface 20a to the signal output surface 20b.
  • a conductive member 21 that electrically connects between the input surface 20a and the output surface 20b passes through the through hole 20c. It is provided as a member formed on the inner wall of the hole 20c. That is, in the through hole 20c, a conductive portion 21c is formed on the inner wall thereof. Further, on the input surface 20a, at an outer peripheral portion of the through hole 20c, an input portion 21a continuous with the conducting portion 21c is formed. Further, on the output surface 20b, on the outer peripheral portion of the through hole 20c, an output portion 21b continuous with the conduction portion 21c is formed. These conductive parts 21 c, input part 21 a, and output part 2 lb Thus, a conductive member 21 serving as a conductive path in the wiring board 20 is configured.
  • FIGS. 6A and 6B are diagrams showing another example of the configuration of the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIG. 6A is a top view, and FIG. One II arrow cross-sectional view is shown.
  • the configuration of the conductive member 21 which is a conductive path in the wiring board 20 is shown.
  • the center line of the through hole 20 c is curved with respect to the conductive direction perpendicular to the input surface 20 a and the output surface 20 b of the wiring board 20. It is formed.
  • the through-hole 20c is formed in a predetermined plane 20d perpendicular to the conductive direction and at a predetermined position between the input surface 20a and the output surface 20b.
  • the opening 5d of the cross section L20c is formed so as not to extend on the extension 5a of the input surface 20a.
  • the through hole 20c has a configuration that cannot be seen from the signal input surface 20a to the signal output surface 20b.
  • the conductive member 21 that electrically connects the input surface 20a and the output surface 20b is inserted through the through hole 20c. It is provided as a member formed on the inner wall of the hole 20c. That is, in the through hole 20c, a conductive portion 21c is formed on the inner wall thereof. Further, on the input surface 20a, on the outer peripheral portion of the through hole 20c, an input portion 21a continuous with the conducting portion 21c is formed. Further, on the output surface 20b, on the outer peripheral portion of the through hole 20c, an output portion 21 continuous with the conducting portion 21c is formed.
  • the conductive member 21 serving as a conductive path in the wiring board 20 is configured by the conductive portion 21c, the input portion 21a, and the output portion 21b.
  • FIGS. 7A and 7B are diagrams showing another example of the configuration of the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIG. 7A is a top view, and FIG. One III arrow cross-sectional view is shown.
  • the configuration of the conductive member 21 which is a conductive path in the wiring board 20 is shown.
  • the configuration of the through hole 20c in this configuration example is shown in FIGS. This is the same as the configuration shown in B.
  • a conductive member 21 that electrically connects between the input surface 20a and the output surface 20b passes through the through hole 20c. It is provided as a member filled inside the hole 20c. That is, the conductive portion 21c is filled in the through hole 20c. Further, on the input surface 20a, on the outer peripheral portion of the through hole 20c, an input portion 21a continuous with the conducting portion 21c is formed. Further, on the output surface 20b, on the outer peripheral portion of the through hole 20c, an output portion 21 continuous with the conducting portion 21c is formed.
  • the conductive portion 21 c, the input portion 21 a, and the output portion 21 b constitute a conductive member 21 serving as a conductive path in the wiring board 20.
  • FIGS. 8A and 8B are diagrams showing another example of the configuration of the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIG. 8A is a top view, and FIG. — Shows the IV arrow cross section.
  • the configuration of the conductive member 21 which is a conductive path in the wiring board 20 is shown.
  • the configuration of the through hole 20c in this configuration example is the same as the configuration shown in FIGS. 6A and 6B.
  • a conductive member 21 that electrically connects between the input surface 20a and the output surface 20b passes through the through hole 20c. It is provided as a member filled inside the hole 20c. That is, the inside of the through hole 20c is filled with the conductive portion 21c. Further, on the input surface 20a, an input portion 21a continuous with the conducting portion 21c is formed at an outer peripheral portion of the through hole 20c. Further, on the output surface 20b, on the outer peripheral portion of the through hole 20c, an output portion 21b continuous with the conduction portion 21c is formed.
  • the conductive member 21 serving as a conductive path in the wiring board 20 is configured by the conductive portion 21c, the input portion 21a, and the output portion 21b.
  • the conductive member formed as a conductive path on a glass substrate having a plurality of through holes includes, for example, the structure shown in FIGS. 5A, 5B to 8A, and 8B. Can be used.
  • the arrangement of the conductive paths on the glass substrate serving as the wiring substrate is preferably set according to the configuration of the radiation detector.
  • a conductive member is formed by selecting a through hole at a position where a conductive path is required from a plurality of through holes using a mask or the like.
  • a configuration in which a through hole is selectively provided only at a position where a conductive path is necessary may be adopted.
  • the glass substrate used for the wiring substrate is not limited to the configuration illustrated in FIGS. 4A to 4C, and another configuration may be used.
  • a plurality of glass members each having a through hole are formed integrally to form a multi-channel member, and further, a plurality of multi-channel members are formed integrally to form a capillary substrate.
  • the cavities may be integrally formed directly from a plurality of glass members.
  • the cross-sectional shape may be a polygonal shape other than the circular shape, for example, a quadrangular shape.
  • a glass substrate made of a glass material having a radiation shielding function, such as lead glass, and having a through hole formed at a predetermined position and having a configuration invisible from the input surface to the output surface as described above is used.
  • a conductive member serving as a conductive path is formed in the through hole, and further, an electric wiring pattern having necessary electrodes and wirings is formed on both surfaces serving as an input surface and an output surface, respectively, and is used for the wiring board unit 2.
  • the wiring substrate 20 to be manufactured are examples of the wiring substrate 20 to be manufactured.
  • the conduction unit 21c, the input unit 21a, and the output In addition to forming the conductive member 21 consisting of the portion 21b, the electrode pad 22 and the wiring 23 are formed on the input surface 20a, and the electrode pad 24 is formed on the output surface 20b. 29 and the wiring 25 are formed to form a wiring board 20.
  • the above-mentioned conductive member and electric wiring pattern formed on a glass substrate examples include titanium nitride (T i N), eckenole (N i), aluminum (A 1), chromium (Cr), copper (Cu), silver (Ag), gold (Au), or alloys thereof.
  • Can be formed by a conductive metal layer made of Such a metal layer may be a single metal layer, or may be a composite film or a laminated film.
  • a mask having a desired pattern is provided on a glass substrate, and a metal (metal vapor deposition (PVD) method, a chemical vapor deposition (CVD) method), metal plating, or a sputtering method is used.
  • PVD metal vapor deposition
  • CVD chemical vapor deposition
  • a method of removing the mask can be used. If necessary, a bump electrode may be further formed on the wiring board 20.
  • the IC of the signal processing element 30 on which the bump electrode 31 is formed is formed. The chip is aligned with the electrode pads 24 provided on the output surface 20b of the wiring board 20, and they are physically and electrically connected. Further, the PD array 15 on which the bump electrodes 17 are formed is aligned with the electrode pads 22 provided on the input surface 20a of the wiring board 20, and these are physically and electrically connected. .
  • Examples of the bump material for forming the bump electrodes 31 and 17 include Eckel (Ni), copper (Cu), silver (Ag), gold (Au), solder, resin containing conductive filler, Alternatively, a composite material thereof can be used. Further, an under bump metal (UBM) may be interposed between the bump electrode and the electrode pad thereunder.
  • Eckel Ni
  • Cu copper
  • Cu silver
  • Au gold
  • solder resin containing conductive filler
  • UBM under bump metal
  • the housing 40 on which the bump electrodes 44 are formed is aligned with the electrode pads 29 provided on the output surface 20b of the wiring board 20, and they are physically and electrically connected. I do.
  • signals can be input / output to / from an external circuit via the leads 43 provided on the housing 40.
  • the scintillator 10 mounted on the light incident surface 15a of the PD array 15 via the optical adhesive 11, the radiation detector shown in FIG. 1 is obtained.
  • the PD array 15 provided as a semiconductor light detection element array in the radiation detection unit 1
  • the surface incident light where the photodiode is formed on the light incident surface (surface) 15a A back-illuminated type in which a photodiode is formed on the signal output surface (back surface) 15b may be used.
  • the number, arrangement, and the like of the photodiodes serving as photodetectors may be set as appropriate.
  • the configuration in which the detection signal from the photodiode is output from the output surface 15b is, for example, formed on the output surface 15b according to the specific configuration of the PD array.
  • a configuration using a wiring pattern or a configuration using a penetrating electrode formed in the PD array 15 can be used.
  • the radiation detection unit 1 has a configuration in which a scintillator 10 that generates scintillation light upon incidence of radiation and a scintillation from the scintillator 10
  • a configuration including a PD array 15 provided with a photodiode 16 which is a semiconductor light detection element for detecting light is used.
  • Such a configuration is an indirect detection type in which incident X-rays and other radiation are converted into light of a predetermined wavelength (for example, visible light) by a scintillator 10 and then detected by a semiconductor photodetector such as an Si-PD array. It is a structure of.
  • a configuration in which a scintillator is not provided and a semiconductor detection element that detects incident radiation is used as the radiation detection unit is used as the radiation detection unit.
  • Such a configuration is a direct detection type configuration in which incident radiation such as X-rays is detected by a semiconductor detection element made of CdTe or the like. This corresponds to, for example, a configuration in which the scintillator 10 is removed from the configuration in FIG. 1 and the PD array 15 is replaced with a semiconductor detection element array.
  • connection between the wiring board unit 2 and the radiation detection unit 1 and the connection between the wiring board unit 2 and the signal processing unit 3 are performed via bump electrodes as in the above embodiment. It is preferable to use a direct bonding method by electrical connection . By using such a metal bump electrode as an electrical connection means, each part can be suitably electrically connected.
  • an anisotropic conductive film (ACF) method A configuration in which an underfill resin is filled after connection by the bump electrodes, an anisotropic conductive film (ACF) method, A configuration using a conductive paste (ACP) method or a non-conductive paste (NCP) method may be used.
  • ACF anisotropic conductive film
  • ACP conductive paste
  • NCP non-conductive paste
  • a passivation film made of an insulating material may be formed in a state where the electrode pads are opened, if necessary.
  • the wiring board and the radiation detector using the same according to the present invention can be used as a wiring board and a radiation detector in which transmission of radiation is suppressed. That is, the wiring board used for the electrical connection between the radiation detecting means and the signal processing means in the radiation detector is formed using a glass substrate made of a predetermined glass material, and is provided on the glass substrate.
  • the through-hole of the conductive path that is provided has a through hole from the signal input surface to the signal output surface when viewed from the conductive direction orthogonal to the signal input surface because the opening in the predetermined plane is not on the extension of the opening in the signal input surface.
  • the radiation is generated at any position from the signal input surface to the signal output surface.
  • a glass material having a shielding function will be present. This realizes a wiring board in which transmission of radiation is suppressed as a whole.
  • the radiation detector in which the wiring board having such a configuration is applied to the wiring board portion, at least one portion from the signal input surface to the signal output surface is provided at any part of the wiring board portion.
  • a glass material having a radiation shielding function in the part.

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Abstract

シンチレータ10及びPDアレイ15から構成された放射線検出部1と、PDアレイ15から出力された検出信号を処理する信号処理素子30との間に、検出信号を導く導電路となる導電性部材21が貫通孔20cに設けられた配線基板20を有する配線基板部2を設置する。そして、配線基板20の貫通孔20cは、入力面20aから出力面20bへと向かう導電方向に直交する所定平面について、その平面における貫通孔20cの開口が、入力面20aにおける貫通孔20cの開口の導電方向への延長上になく、入力面20aから出力面20bまで貫通孔20cが見通せないように形成されている。これにより、放射線の透過が抑制される配線基板、及びそれを用いた放射線検出器が得られる。

Description

系田 »
配線基板、 及びそれを用いた放射線検出器
技術分野
【0 0 0 1】 本発明は、 電気信号を導く導電路が設けられた配線基板、 及びそ れを用いた放射線検出器に関するものである。
背景技術
【0 0 0 2】 C T用センサなどに用いられる放射線検出器として、 フォトダイ ォードアレイなどの半導体光検出素子ァレイに対して、 その光入射面上にシンチ レータを設置した構成の検出器がある。 このような放射線検出器において、 検出 対象となる X線、 γ線、 荷電粒子線などの放射線がシンチレータに入射すると、 シンチレータ内で放射線によってシンチレーシヨン光が発生する。 そして、 この シンチレーション光を半導体光検出素子で検出することによって、 放射線が検出 される。
【0 0 0 3】 また、 光検出素子アレイに対して、 それぞれの光検出素子から出 力される検出信号の信号処理を行うため、 信号処理素子が設けられる。 この場合 、 光検出素子と信号処理素子とを電気的に接続する構成としては、 様々な配線に よって接続する構成や、 配線基板に設けられた導電路を介して接続する構成など を用いることができる (例えば、 特開平 8— 3 3 0 4 6 9号公報参照) 。
発明の開示
【0 0 0 4】 上記した放射線検出器では、 通常、 シンチレータに入射した放射 線のうちの一部は、 シンチレ一タ及ぴ光検出素子アレイを透過する。 これに対し て、 シンチレータ、 光検出素子アレイ、 配線基板、 及び信号処理素子が、 所定の 配列方向に沿って配置された構成では、 シンチレ一タ等を透過した放射線が配線 基板を介して配列方向の下流側にある信号処理素子に入射してしまうという問題 が生じる。 このように、 信号処理素子に放射線が入射すると、 信号処理素子に放 射線ダメ一ジが生じ、 放射線検出器の信頼性や寿命が劣化する原因となる。 【0 0 0 5】 本発明は、 以上の問題点を解決するためになされたものであり、 放射線の透過が抑制される配線基板、 及びそれを用いた放射線検出器を提供する ことを目的とする。
【0 0 0 6】 このような目的を達成するために、 本発明による配 ί泉基板は、 信 号入力面と信号出力面との間で電気信号を導く導電路が設けられた配線基板であ つて、 (1 )放射線遮蔽機能を有する所定のガラス材料から形成され貫通孔が設け られたガラス基板、 及び貫通孔に設けられ入力面と出力面との間を電気的に導通 して導電路として機能する導電性部材を有して構成され、 (2 )ガラス基板での貫 通孔は、 信号入力面から信号出力面へと向かう導電方向に直交する所定平面にお ける貫通孔の開口が、 信号入力面における貫通孔の開口の導電方向への延長上に ある領域を除く領域内となるように形成されていることを特徴とする。
【0 0 0 7】 上記した配線基板においては、 放射線検出器での放射線検出手段 と信号処理手段との電気的な接続などに用いられる配線基板を、 所定のガラス材 料からなるガラス基板を用いて構成している。'そして、 ガラス基板に設けられる 導電路の貫通孔について、 所定平面での開口が信号入力面での開口の延長上にな く、 したがって、 信号入力面に直交する導電方向からみて、 信号入力面から信号 出力面まで貫通孔が見通せない構成としている。
【0 0 0 8】 このような構成によれば、 ガラス基板に貫通孔が設けられた部位 であっても、 導電方向からみたときに、 信号入力面から信号出力面までのいずれ かの位置において、 放射線遮蔽機能を有するガラス材料が存在することとなる。 これにより、 放射線の透過が全体で抑制される配線基板が実現される。
【0 0 0 9】 配線基板の具体的な構成としては、 例えば、 ガラス基板での貫通 孔は、 その中心線が導電方向に対して所定角度で傾いて形成されている構成があ る。 このような構成では、 信号出力面を上記の所定平面としたときに、 少なくと もその面での開口が信号入力面での開口の延長上になレ、構成とすることができる 【0 0 1 0】 あるいは、 ガラス基板での貫通孔は、 その中心線が導電方向に対 して湾曲して形成されている構成がある。 このような構成では、 信号入力面と信 号出力面との間にある面を上記の所定平面としたときに、 少なくともその面での 開口が信号入力面での開口の延長上にない構成とすることができる。
【0 0 1 1】 配線基板に用いられるガラス材料については、 ガラス基板は、 鉛 を含有するガラス材料から形成されていることが好ましい。 これにより、 配線基 板での放射線の透過を効果的に抑制することができる。 また、 放射線遮蔽機能を 有する他のガラス材料からなる基板を用いても良い。
【0 0 1 2】 また、 配線基板における導電路の構成については、 導電性部材は 、 ガラス基板に設けられた貫通孔の内壁に形成されて設けられていることとして も良い。 あるいは、 導電性部材は、 ガラス基板に設けられた貫通孔の内部に充填 されて設けられていることとしても良い。 これらの導電性部材を導電路として用 いることにより、 配線基板の信号入力面と信号出力面との間で、 電気信号を好適 に伝達することができる。
【0 0 1 3】 また、 配線基板でのガラス基板は、 両端が開口した中空状のガラ ス部材が複数互いに融着されて一体形成されることにより複数の貫通孔が設けら れたガラス基板であることが好ましい。 また、 これ以外の構成の基板を用いても 良い。
【0 0 1 4】 本発明による放射線検出器は、 ( 1 )入射した放射線を検出して検 出信号を出力する放射線検出手段と、 (2 )放射線検出手段からの検出信号を処理 する信号処理手段と、 (3 )信号入力面と信号出力面との間で検出信号を導く導電 路が設けられた上記した配線基板を有し、 放射線検出手段及び信号処理手段がそ れぞれ信号入力面及び信号出力面に接続された配線基板部とを備え、 (4 )放射線 検出手段、 配線基板部、 及び信号処理手段は、 配線基板での導電方向と略一致す る所定の配列方向に沿つてこの順で配置されていることを特徴とする。
【0 0 1 5】 上記した放射線検出器においては、 放射線検出手段と信号処理手 段とを電気的に接続して電気信号である検出信号を伝達する配線基板部として、 信号入力面から信号出力面まで貫通孔が見通せない上記構成の配線基板を用いて いる。 このような構成によれば、 配線基板部のいずれの部位でも、 信号入力面か ら信号出力面までの少なくとも一部において放射線遮蔽機能を有するガラス材料 が存在する。 これにより、 放射線が信号処理素子に入射しなくなり、 放射線ダメ ージによる信頼性や寿命の劣化が抑制される放射線検出器が実現される。
【0 0 1 6】 放射線検出手段の構成については、 放射線検出手段は、 放射線の 入射によりシンチレーション光を発生するシンチレータと、 シンチレータからの シンチレーシヨン光を検出する半導体光検出素子とを有する構成を用いることが できる。 あるいは、 放射線検出手段は、 入射した放射線を検出する半導体検出素 子を有する構成を用いても良い。
【0 0 1 7】 また、 配線基板部と放射線検出手段、 及ぴ配線基板部と信号処理 手段、 の少なくとも一方は、 バンプ電極を介して電気的に接続されていることが 好ましい。 このような金属バンプ電極を電気的接続手段として用いることにより 、 各部を好適に電気的に接続することができる。
図面の簡単な説明
【0 0 1 8】 図 1は、 配線基板、 及びそれを用いた放射線検出器の一実施形態 の断面構造を示す側面断面図である。
【0 0 1 9】 図 2は、 図 1に示した放射線検出器の構成を分解して示す斜視図 である。
【0 0 2 0】 図 3 A、 図 3 Bは、 配線基板の (A) 信号入力面、 及び (B ) 信 号出力面の構成を示す平面図である。
【0 0 2 1】 図 4 A〜図 4 Cは、 複数の貫通孔が設けられたガラス基板の一例 を示す図である。
【0 0 2 2】 図 5 A、 図 5 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の一例を示す図である。 【0 0 2 3】 図 6 A、 図 6 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の他の例を示す図である。
【0 0 2 4】 図 7 A、 図 7 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の他の例を示す図である。
【0 0 2 5】 図 8 A、 図 8 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の他の例を示す図である。
発明を実施するための最良の形態
【0 0 2 6】 以下、 図面とともに本発明による配線基板、 及びそれを用いた放 射線検出器の好適な実施形態について詳細に説明する。 なお、 図面の説明におい ては同一要素には同一符号を付し、 重複する説明を省略する。 また、 図面の寸法 比率は、 説明のものと必ずしも一致していない。
【0 0 2 7】 図 1は、 本発明による配線基板、 及び放射線検出器の一実施形態 の断面構造を示す側面断面図である。 また、 図 2は、 図 1に示した配線基板、 及 び放射線検出器の構成を、 各構成要素を分解して示す斜視図である。 なお、 以下 の各図においては、 説明の便宜のため、 図 1及び図 2に示すように、 放射線が入 射する方向に沿った軸を z軸、 この z軸に直交する 2軸を X軸、 y軸とする。 こ こでは、 Z軸の負の方向が、 配線基板での信号入力面から信号出力面へと向かう 導電方向、 及び放射線検出器での各構成要素の配列方向となっている。
【0 0 2 8】 図 1に示した放射線検出器は、 放射線検出部 1と、 配線基板部 2 と、 信号処理部 3とを備えている。 これらは、 図 2に示すように、 所定の配列方 向に沿って上流側 (図中の上側) から下流側 (下側) へとこの順で配置されてい る。
【0 0 2 9】 放射線検出部 1は、 本放射線検出器に検出対象として入射した X 線、 y線、 荷電粒子線などの放射線を検出し、 それに対応する電気信号である検 出信号を出力する検出手段である。 本実施形態においては、 放射線検出部 1は、 シンチレータ 1 0、 及びフォトダイォードアレイ 1 5を有して構成されている。 【0 0 3 0】 シンチレータ 1 0は、 放射線検出部 1の上流側部分を構成してお り、 その上面 1 0 a力 本放射線検出器における放射線入射面となっている。 こ のシンチレータ 1 0は、 入射面 1 0 aから放射線が入射することにより所定波長 のシンチレーシヨン光を発生する。
【0 0 3 1】 フォトダイオードアレイ (P Dアレイ) 1 5は、 放射線検出部 1 の下流側部分を構成している。 この P Dアレイ 1 5は、 シンチレータ 1 0からの シンチレーシヨン光を検出する半導体光検出素子であるフォトダイオード (P D ) が複数個配列された光検出素子アレイである。 また、 シンチレータ 1 0の下面 である光出射面 1 0 bと、 P Dアレイ 1 5の上面である光入射面 1 5 aとは、 シ ンチレーシヨン光が透過する光学接着剤 1 1を介して光学的に接続されている。 【0 0 3 2】 図 2においては、 P Dアレイ 1 5の構成例として、 x軸及ぴ y軸 を配列軸として 4 X 4 = 1 6個のフォトダイオード 1 6が 2次元に配列されるよ うに形成された P Dアレイを示している。 また、 P Dアレイ 1 5の下面 1 5 bは 、 各フォトダイオード 1 6からの検出信号を出力するための信号出力面となって いる。 この下面 1 5 bには、 検出信号出力用の電極である 1 6個のバンプ電極 1 7が、 各フォトダイオード 1 6に対応するように 4 X 4に配列されて設けられて いる。 特に図示していないが、 フォトダイオードの共通電極用のバンプ電極も設 けられている。
【0 0 3 3】 放射線検出部 1の下流側には、 配線基板部 2が設置されている。 本実施形態においては、 配線基板部 2は、 その信号入力面と信号出力面との間で 電気信号を導く導電路が設けられた配線基板 2 0を有して構成されている。 この 配線基板 2 0では、 放射線遮蔽機能を有する所定のガラス材料から形成されたガ ラス基板が基板として用いられている。 このようなガラス材料としては、 例えば 、 鉛を含有する鉛ガラスを用いることが好ましい。
【0 0 3 4】 図 3 A及び図 3 Bは、 それぞれ配線基板 2 0の構成を示す平面図 であり、 図 3 Aはその上面である信号入力面 2 0 aを、 また、 図 3 Bは下面であ る信号出力面 2 0 bをそれぞれ示している。
【0 0 3 5】 配線基板 2 0を構成するガラス基板には、 入力面 2 0 aと出力面 2 O bとの間に、 複数の貫通孔 2 0 cが形成されている。 また、 それぞれの貫通 孔 2 0 cに対して、 入力面 2 0 aと出力面 2 0 bとの間を電気的に導通して、 導 電路として機能する導電性部材 2 1が設けられている。 本実施形態においては、 P Dアレイ 1 5の構成に対応して、 4 X 4 = 1 6個の貫通孔 2 0 c及び導電性部 材 2 1が設けられている。 これらの貫通孔 2 0 c及び導電性部材 2 1は、 P Dァ レイ 1 5におけるバンプ電極 1 7と同一のピッチで形成されている。 特に図示し ていないが、 フォトダイオードの共通電極用の貫通孔と導電性部材も設けられて いる。
【0 0 3 6】 導電性部材 2 1は、 具体的には、 貫通孔 2 0 cの内部に形成され た導通部 2 1 cと、 入力面 2 0 a上で貫通孔 2 0 cの外周部に導通部 2 1 cと連 続するように形成された入力部 2 1 aと、 出力面 2 0 b上で貫通孔 2 0 cの外周 部に導通部 2 1 cと連続するように形成された出力部 2 1 bとから構成されてい る。
【0 0 3 7】 また、 配線基板 2 0のガラス基板での貫通孔 2 0 cは、 信号入力 面 2 0 aから信号出力面 2 0 bへと向かう導電方向に直交する所定平面について 、 その平面における貫通孔 2 0 cの開口が、 信号入力面 2 0 aにおける貫通孔 2 0 cの開口の導電方向への延長上にある領域を除く領域内となるように形成され ている。 図 1に示した構成においては、 具体的には、 信号出力面 2 0 b、 もしく はその近傍の面を所定平面としたときに、 その面での貫通孔 2 0 cの断面開口が 信号入力面 2 0 aでの開口の延長上にない構成となっている。 なお、 配線基板 2 0における導電方向は、 図 2に示すように、 放射線検出器における各構成要素の 配列方向と略一致している。
【0 0 3 8】 配線基板 2 0の入力面 2 0 a上には、 図 3 Aに示すように、 導電 性部材 2 1の入力部 2 1 aに加えて電極パッド 2 2が形成されている。 この電極 パッド 2 2は、 P Dアレイ 1 5の出力面 1 5 b上のバンプ電極 1 7に対応する位 置に設けられている。 また、 電極パッド 2 2は、 配線 2 3を介して対応する導電 性部材 2 1の入力部 2 1 aと電気的に接続されている。 これにより、 P Dアレイ
1 5での検出信号を出力するフォトダイオード 1 6は、 バンプ電極 1 7及び電極 パッド 2 2を介して、 配線基板 2 0での導電路である導電性部材 2 1に電気的に 接続される。 特に図示していないが、 フォトダイオードの共通電極用の電極パッ ドも設けられている。
【0 0 3 9】 また、 配線基板 2 0の出力面 2 0 b上には、 図 3 Bに示すように 、 導電性部材 2 1の出力部 2 1 bに加えて電極パッド 2 4が形成されている。 こ の電極パッド 2 4は、 後述する信号処理素子 3 0のバンプ電極 3 1に対応する位 置に設けられている。 また、 電極パッド 2 4は、 配線 2 5を介して対応する導電 性部材 2 1の出力部 2 1 bと電気的に接続されている。 また、 出力面 2 O b上に は、 電極パッド 2 9が形成されている。 この電極パッド 2 9は、 後述するハウジ ング 4 0との接続に用いられるものである。 特に図示していないが、 フォトダイ オードの共通電極用の電極パッドも設けられている。
【0 0 4 0】 配線基板部 2の下流側には、 信号処理部 3と、 ハウジング (パッ ケージ) 4 0とが設置されている。 本実施形態においては、 信号処理部 3は、 放 射線検出部 1の P Dアレイ 1 5からの検出信号を処理するための信号処理回路が 設けられた信号処理素子 3 0からなる。
【0 0 4 1】 信号処理素子 3 0の上面上には、 バンプ電極 3 1が形成されてい る。 このバンプ電極 3 1は、 配線基板 2 0の出力面 2 0 b上の電極パッド 2 4に 対応する位置に設けられている。 これにより、 配線基板 2 0での検出信号を伝達 する導電路である導電性部材 2 1は、 その出力部 2 1 b、 配線 2 5、 電極パッド 2 4、 及びバンプ電極 3 1を介して、 信号処理素子 3 0に設けられた信号処理回 路に電気的に接続される。
【0 0 4 2】 また、 ハウジング 4 0は、 放射線検出部 1、 配線基板部 2、 及び 信号処理部 3を一体に保持する保持部材である。 このハウジング 4 0は、 その上 面上に四部として設けられ、 信号処理素子 3 0をその内部に収容する素子収容部 4 1と、 素子収容部 4 1の外周に設けられ、 バンプ電極 4 4を介して配線基板 2 0の電極パッド 2 9に接続されるとともに、 放射線検出部 1、 配線基板部 2、 及 び信号処理部 3を支持する支持部 4 2とを有する。 また、 ハウジング 4 0の下面 には、 電気信号の外部への入出力に用いられるリード 4 3が設けられている。
【0 0 4 3】 以上の構成において、 放射線検出部 1のシンチレータ 1 0に X線 などの放射線が入射すると、 シンチレータ 1 0内で放射線によってシンチレーシ ョン光が発生し、 光学接着剤 1 1を介して P Dアレイ 1 5のフォトダイオード 1 6へと入射する。 フォトダイオード 1 6は、 このシンチレーシヨン光を検出して
、 放射線の検出に対応する電気信号である検出信号を出力する。
【0 0 4 4】 P Dアレイ 1 5の各フォトダイオード 1 6から出力された検出信 号は、 対応するバンプ電極 1 7、 配線基板 2 0の導電性部材 2 1、 及びバンプ電 極 3 1を順次に介して、 信号処理素子 3 0へと入力される。 そして、 信号処理素 子 3 0の信号処理回路において、 検出信每に対して必要な信号処理が行われる。
【0 0 4 5】 本実施形態による配線基板、 及ぴ放射線検出器の効果について説 明する。
【0 0 4 6】 図 1〜図 3 A、 図 3 Bに示した放射線検出器での配線基板部 2に 用いられている配線基板においては、 放射線検出器での放射線検出部と信号処理 部との電気的な接続などに用いられる配線基板 2 0を、 所定のガラス材料からな るガラス基板を用いて構成している。 そして、 そのガラス基板に設けられる導電 路の貫通孔 2 0 cについて、 導電方向に直交する所定平面での開口が信号入力面 2 0 aでの開口の延長上にないように構成されている。 すなわち、 信号入力面 2 0 aに直交する導電方向からみて、 信号入力面 2 0 aから信号出力面 2 0 まで 貫通孔 2 0 cが見通せない構成となっている。
【0 0 4 7】 このような構成によれば、 配線基板 2 0のうちで、 ガラス基板に 貫通孔 2 0 cが設けられた部位であっても、 導電方向からみたときに、 信号入力 面 2 0 aから信号出力面 2 0 bまでのいずれかの位置において、 放射線遮蔽機能 を有するガラス材料が存在することとなる。 これにより、 放射線の透過が全体で 抑制される配線基板が実現される。
【0 0 4 8】 また、 このような配線基板を、 放射線検出部 1と信号処理部 3と を電気的に接続して電気信号である検出信号を伝達する配線基板部 2に用いた放 射線検出器によれば、 検出信号の導電方向と略一致している放射線検出器におけ る各構成要素の配列方向、 すなわち、 放射線検出器への放射線の入射方向からみ たときに、 配線基板部 2のいずれの部位でも、 配線基板 2 0の信号入力面 2 0 a から信号出力面 2 0 bまでの少なくとも一部において、 放射線遮蔽機能を有する ガラス材料が存在する。 これにより、 放射線が信号処理素子に入射しなくなり、 放射線ダメージによる信頼性や寿命の劣化を確実に抑制することが可能な放射線 検出器が実現される。
【0 0 4 9】 配線基板部 2の配泉基板 2 0においてガラス基板に用いられるガ ラス材料としては、 上記したように、 鉛を含有するガラス材料を用いることが好 ましい。 鉛ガラスを用いることにより、 配線基板部 2での放射線の透過を効果的 に抑制することができる。 ここで、 ガラス材料に含有させる鉛の量については、 その放射線検出器において要求される放射線遮蔽機能の程度等に応じて適宜設定 することが好ましい。 また、 鉛ガラス以外のガラス材料を用いても良い。
【0 0 5 0】 次に、 図 1に示した配線基板部での配線基板、 及びそれに用いら れるガラス基板について説明する。
【0 0 5 1】 配線基板 2 0では、 上記したように、 放射線検出部 1側の入力面 2 0 aと、 信号処理部 3側の出力面 2 0 bとの間で、 導電路となる導電性部材 2 1を形成するための貫通孔 2 0 cが設けられたガラス基板が用いられている。 こ のようなガラス基板としては、 例えば、 両端が開口した中空状のガラス部材が複 数互いに融着されて一体形成されることにより複数の貫通孔が設けられたガラス 基板を用いることができる。
【0 0 5 2】 図 4 A〜図 4 Cは、 複数の貫通孔が設けられた上記のガラス基板 の一例を示す図である。 なお、 ここでは、 複数の貫通孔を有するガラス基板の一 般的な構成例について示している。 このため、 図 4 A〜図 4 Cに示すガラス基板 は、 図 1に示した放射線検出器に用いられている配線基板とは異なる形状及び構 成となっている。
【0 0 5 3】 図 4 Aはガラス基板の構成を示す平面図であり、 図 4 Bはガラス 基板に含まれるマルチチヤンネル部材の構成を示す平面図であり、 図 4 Cはマル チチャンネル部材に含まれるガラス部材の構成を示す斜視図である。 これらの図 4 A〜図 4 Cにおいては、 配線基板での導電路となる導電性部材が形成されてい ない状態でのガラス基板を示している。
【0 0 5 4】 ガラス基板 9は、 図 4 Aに示すように、 キヤビラリ一基板 9 0を 有している。 キヤビラリ一基板 9 0は、 複数の貫通孔 9 3を有するマルチチャン ネル部材 9 2を複数含んでいる。 マルチチャンネル部材 9 2は、 ガラス材料から なる縁部材 9 1の内側に、 2次元状に配置された状態で互いに融着されて一体形 成されている。
【0 0 5 5】 マルチチャンネル部材 9 2は、 図 4 B及び図 4 Cに示すように、 両端が開口した中空状のガラス部材 9 5が複数互いに融着されて一体形成されて おり、 キヤビラリ一基板 9 0の上面及び下面に垂直な方向からみて 4角形状 (例 えば、 1 0 0 0 m X 1 0 0 0 / m程度) を呈している。 また、 貫通孔 9 3は、 その開口部が円形状を呈している。 貫通孔 9 3の内径は、 例えば 6 / m程度であ る。
【0 0 5 6】 なお、 キヤビラリ一基板 9 0を構成している縁部材 9 1及ぴガラ ス部材 9 5のガラス材料としては、 放射線検出器に関して上述したように、 放射 線遮蔽機能を有するガラス材料、 例えば鉛ガラス材料、 が用いられる。
【0 0 5 7】 図 1に示した放射線検出器における配線基板 2 0としては、 例え ば、 この図 4 A〜図 4 Cに示した構成を有するガラス基板での貫通孔に導電路と なる導電性部材を形成したものを用いることができる。 すなわち、 このような構 成のガラス基板において、 その基板の形状及ぴ貫通孔の個数、 配置等を放射線検 出器の構成に応じて設定する。 そして、 ガラス基板に設けられた貫通孔に導電路 となる導電性部材を形成し、 さらに、 その各面にそれぞれ必要な電極及び配線か らなる電気配線パターンを形成することにより、 図 3 A、 図 3 Bに示したような 構成を有する配線基板が得られる。
【0 0 5 8】 図 5 A、 図 5 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の一例を示す図であり、 図 5 Aは上面図、 図 5 Bは I一 I矢印断面図を示し ている。 ここでは、 配線基板 2 0 (図 3 A及び図 3 B参照) での導電路である導 電性部材 2 1の構成を示している。
【0 0 5 9】 配線基板 2 0には、 複数個 (例えば、 4 X 4 = 1 6個) の貫通孔 2 0 cが 2次元に配列され、 それぞれ円形状の断面形状を有して形成されている 。 本構成例では、 貫通孔 2 0 cは、 図 5 Bに示すように、 配線基板 2 0の入力面 2 0 a及ぴ出力面 2 0 bに垂直な導電方向に対して、 その中心線が所定角度で傾 いて形成されている。 具体的には、 貫通孔 2 0 cは、 導電方向に直交する出力面 2 0 bにおいて、 その平面での貫通孔 2 0 cの断面開口 5 bが入力面 2 0 aでの 開口 5 aの延長上にないように形成されている。 これにより、 貫通孔 2 0 cは、 信号入力面 2 0 aから信号出力面 2 0 bまで見通せない構成となっている。
【0 0 6 0】 また、 本構成例では、 この貫通孔 2 0 cに対し、 入力面 2 0 aと 出力面 2 0 bとの間を電気的に導通する導電性部材 2 1を、 貫通孔 2 0 cの内壁 に形成された部材として設けている。 すなわち、 貫通孔 2 0 c内には、 その内壁 に導通部 2 1 cが形成されている。 また、 入力面 2 0 a上で貫通孔 2 0 cの外周' 部には、 導通部 2 1 cと連続する入力部 2 1 aが形成されている。 また、 出力面 2 0 b上で貫通孔 2 0 cの外周部には、 導通部 2 1 cと連続する出力部 2 1 bが 形成されている。 これらの導通部 2 1 c、 入力部 2 1 a、 及び出力部 2 l bによ り、 配線基板 2 0での導電路となる導電性部材 2 1が構成される。
【0 0 6 1】 図 6 A、 図 6 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の他の例を示す図であり、 図 6 Aは上面図、 図 6 Bは II一 II矢印断面図を示 している。 ここでは、 配線基板 2 0での導電路である導電性部材 2 1の構成を示 している。
【0 0 6 2】 配線基板 2 0には、 複数個 (例えば、 4 X 4 = 1 6個) の貫通孔 2 0 cが 2次元に配列され、 それぞれ円形状の断面形状を有して形成されている 。 本構成例では、 貫通孔 2 0 cは、 図 6 Bに示すように、 配線基板 2 0の入力面 2 0 a及び出力面 2 0 bに垂直な導電方向に対して、 その中心線が湾曲して形成 されている。 具体的には、 貫通孔 2 0 cは、 導電方向に直交し入力面 2 0 aと出 力面 2 0 bとの間の所定位置にある所定平面 2 0 dにおいて、 その平面での貫通 ? L 2 0 cの断面開口 5 dが入力面 2 0 aでの開口 5 aの延長上にないように形成 されている。 これにより、 貫通孔 2 0 cは、 信号入力面 2 0 aから信号出力面 2 0 bまで見通せない構成となっている。
【0 0 6 3】 また、 本構成例では、 この貫通孔 2 0 cに対し、 入力面 2 0 aと 出力面 2 0 bとの間を電気的に導通する導電性部材 2 1を、 貫通孔 2 0 cの内壁 に形成された部材として設けている。 すなわち、 貫通孔 2 0 c内には、 その内壁 に導通部 2 1 cが形成されている。 また、 入力面 2 0 a上で貫通孔 2 0 cの外周 部には、 導通部 2 1 cと連続する入力部 2 1 aが形成されている。 また、 出力面 2 0 b上で貫通孔 2 0 cの外周部には、 導通部 2 1 cと連続する出力部 2 1 が 形成されている。 これらの導通部 2 1 c、 入力部 2 1 a、 及び出力部 2 1 bによ り、 配線基板 2 0での導電路となる導電性部材 2 1が構成される。
【0 0 6 4】 図 7 A、 図 7 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の他の例を示す図であり、図 7 Aは上面図、図 7 Bは III一 III矢印断面図を示 している。 ここでは、 配線基板 2 0での導電路である導電性部材 2 1の構成を示 している。 なお、 本構成例での貫通孔 2 0 cの構成については、 図 5 A及び図 5 Bに示した構成と同様である。
【0 0 6 5】 また、 本構成例では、 この貫通孔 2 0 cに対し、 入力面 2 0 aと 出力面 2 0 bとの間を電気的に導通する導電性部材 2 1を、 貫通孔 2 0 cの内部 に充填された部材として設けている。 すなわち、 貫通孔 2 0 c内には、 その内部 に導通部 2 1 cが充填されている。 また、 入力面 2 0 a上で貫通孔 2 0 cの外周 部には、 導通部 2 1 cと連続する入力部 2 1 aが形成されている。 また、 出力面 2 0 b上で貫通孔 2 0 cの外周部には、 導通部 2 1 cと連続する出力部 2 1 が 形成されている。 これらの導通部 2 1 c、 入力部 2 1 a、 及ぴ出力部 2 1 bによ り、 配線基板 2 0での導電路となる導電性部材 2 1が構成される。
【0 0 6 6】 図 8 A、 図 8 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の他の例を示す図であり、 図 8 Aは上面図、 図 8 Bは IV— IV矢印断面図を示 している。 ここでは、 配線基板 2 0での導電路である導電性部材 2 1の構成を示 している。 なお、 本構成例での貫通孔 2 0 cの構成については、 図 6 A及び図 6 Bに示した構成と同様である。
【0 0 6 7】 また、 本構成例では、 この貫通孔 2 0 cに対し、 入力面 2 0 aと 出力面 2 0 bとの間を電気的に導通する導電性部材 2 1を、 貫通孔 2 0 cの内部 に充填された部材として設けている。 すなわち、 貫通孔 2 0 c内には、 その内部 に導電部 2 1 cが充填されている。 また、 入力面 2 0 a上で貫通孔 2 0 cの外周 部には、 導通部 2 1 cと連続する入力部 2 1 aが形成されている。 また、 出力面 2 0 b上で貫通孔 2 0 cの外周部には、 導通部 2 1 cと連続する出力部 2 1 bが 形成されている。 これらの導通部 2 1 c、 入力部 2 1 a、 及び出力部 2 1 bによ り、 配線基板 2 0での導電路となる導電性部材 2 1が構成される。
【0 0 6 8】 複数の貫通孔を有するガラス基板に導電路として形成される導電 性部材としては、 例えば、 これらの図 5 A、 図 5 B〜図 8 A、 図 8 Bに示した構 成を用いることができる。 なお、 配線基板となるガラス基板における導電路の配 置については、 放射線検出器の構成に応じて設定することが好ましい。 そのよう な構成としては、 例えば、 複数の貫通孔のうち、 導電路が必要な位置にある貫通 孔をマスク等によって選択して導電性部材を形成する構成がある。 あるいは、 導 電路が必要な位置のみに選択的に貫通孔を設けておく構成としても良い。
【0 0 6 9】 なお、 配線基板に用いられるガラス基板については、 図 4 A〜図 4 Cに示した構成に限らず、 他の構成を用いても良い。 例えば、 図 4 A〜図 4 C においては、 それぞれ貫通孔を有する複数のガラス部材を一体形成してマルチチ ャンネル部材とし、 さらに、 複数のマルチチャンネル部材を一体形成してキヤピ ラリー基板としている。 これに対して、 複数のガラス部材から直接キヤビラリ一 基板を一体形成しても良い。 また、 個々のガラス部材ゃマルチチャンネル部材の 形状及び配列、 各部材での貫通孔の有無または配列等については、 導電路の配置 に応じて適宜好適な構成を用いることが好ましい。 また、 貫通孔の構成について は、 その断面形状を円形状以外の多角形状、 例えば 4角形状、 としても良い。
【0 0 7 0】 次に、 図 1に示した配線基板、 及び放射線検出器の製造方法につ いて、 その具体的な構成例とともに概略的に説明する。
【0 0 7 1】 まず、 鉛ガラスなどの放射線遮蔽機能を有するガラス材料からな り、 上記のように入力面から出力面まで見通せない構成の貫通孔が所定位置に形 成されたガラス基板を用意する。 そして、 その貫通孔に導電路となる導電性部材 を形成し、 さらに、 入力面及び出力面となる両面にそれぞれ必要な電極及び配線 を有する電気配線パターンを形成して、 配線基板部 2に用いられる配線基板 2 0 を作製する。
【0 0 7 2】 具体的には、 配線基板部 2での配線基板について、 ガラス基板に 設けられた貫通孔 2 0 cに対して、 導通部 2 1 c、 入力部 2 1 a、 及び出力部 2 1 bからなる導電性部材 2 1を形成するとともに、 その入力面 2 0 a上に電極パ ッド 2 2及び配線 2 3を、 また、 出力面 2 0 b上に電極パッド 2 4、 2 9及び配 線 2 5を形成して、 配線基板 2 0とする。
【0 0 7 3】 ガラス基板に形成する上記した導電性部材及び電気配線パターン としては、 例えば、 窒化チタン (T i N)、 エッケノレ (N i)、 アルミニウム (A 1)、 クロム (C r)、 銅 (Cu)、銀 (Ag)、 金 (Au)、 あるいはそれらの合金 からなる導電性金属層によって形成することができる。 このような金属層は、 単 一の金属層であっても良く、 複合膜あるいは積層膜であっても良い。 また、 その 具体的な形成方法としては、 ガラス基板に対して所望パターンのマスクを設け、 蒸着 (物理蒸着 (PVD) 法、 化学蒸着 (CVD) 法)、 メツキ、 スパッタなどの 方法によつて金属膜を形成した後、 マスクを除去する方法を用いることができる 。 なお、 必要があれば、 配線基板 20にさらにバンプ電極を形成する場合もある 【0074】 配線基板 20からなる配線基板部 2を作製したら、 バンプ電極 3 1が形成された信号処理素子 30の I Cチップを、 配線基板 20の出力面 20 b 上に設けられた電極パッド 24に対してァライメントして、 それらを物理的、 電 気的に接続する。 また、 バンプ電極 1 7が形成された PDアレイ 1 5を、 配線基 板 20の入力面 20 a上に設けられた電極パッド 22に対してァライメントして 、 それらを物理的、 電気的に接続する。
【0075】 バンプ電極 3 1、 1 7を形成するバンプ材料としては、 例えば、 エッケル (N i)、 銅 (Cu)、 銀 (Ag)、 金 (Au)、 半田、 導電性フィラーを 含む樹脂、 あるいはそれらの複合材料を用いることができる。 また、 バンプ電極 と、 その下の電極パッドとの間に、 アンダーバンプメタル (UBM) を介在させ ても良い。
【0076】 続いて、 バンプ電極 44が形成されたハウジング 40を、 配線基 板 20の出力面 20 b上に設けられた電極パッド 29に対してァライメントして 、 それらを物理的、 電気的に接続する。 以上により、 ハウジング 40に設けられ たリード 43を介した外部回路との信号の入出力動作が可能となる。 さらに、 P Dアレイ 1 5の光入射面 1 5 a上に、 光学接着剤 1 1を介してシンチレータ 10 を実装することにより、 図 1に示した放射線検出器が得られる。 【0 0 7 7】 ここで、 放射線検出部 1において半導体光検出素子アレイとして 設けられている P Dアレイ 1 5については、 フォトダイオードが光入射面 (表面 ) 1 5 aに形成されている表面入射型のものを用いても良く、 あるいは、 フォト ダイオードが信号出力面 (裏面) 1 5 bに形成されている裏面入射型のものを用 いても良い。 また、 光検出素子であるフォトダイオードの個数や配列等について も、 適宜設定して良い。
【0 0 7 8】 また、 フォトダイオードからの検出信号を出力面 1 5 bから出力 する構成については、 P Dアレイの具体的な構成に応じて、 例えば、 出力面 1 5 b上に形成された配線パターンによる構成や、 P Dアレイ 1 5内に形成された貫 通電極による構成などを用いることができる。
【0 0 7 9】 また、 図 1に示した放射線検出器では、 放射線検出部 1の構成と して、 放射線の入射によりシンチレーシヨン光を発生するシンチレータ 1 0と、 シンチレータ 1 0からのシンチレーシヨン光を検出する半導体光検出素子である フォトダイォード 1 6が設けられた P Dアレイ 1 5とを有する構成を用いている 。 このような構成は、 入射した X線などの放射線をシンチレータ 1 0によって所 定波長の光 (例えば、 可視光) に変換した後に S i— P Dアレイなどの半導体光 検出素子で検出する間接検出型の構成である。
【0 0 8 0】 あるいは、 放射線検出部として、 シンチレータを設けず、 入射し た放射線を検出する半導体検出素子を有する構成を用いることも可能である。 こ のような構成は、 入射した X線などの放射線を C d T eなどからなる半導体検出 素子で検出する直接検出型の構成である。 これは、 例えば、 図 1の構成において 、 シンチレータ 1 0を除くとともに、 P Dアレイ 1 5を半導体検出素子アレイに 置き換えた構成に相当する。
【0 0 8 1】 また、 配線基板部 2と放射線検出部 1との接続、 及ぴ配線基板部 2と信号処理部 3との接続等については、 上記実施形態のように、 バンプ電極を 介した電気的な接続によるダイレクトボンディング方式を用いることが好ましい 。 このような金属バンプ電極を電気的接続手段として用いることにより、 各部を 好適に電気的に接続することができる。
【0 0 8 2】 あるいは、 このようなバンプ電極を用いた構成以外にも、 バンプ 電極による接続後にアンダーフィル樹脂を充填する構成や、 異方性導電性フィル ム (A C F ) 方式、 異方性導電性ペースト (A C P ) 方式、 非導電性ペースト ( N C P ) 方式による構成などを用いても良い。 また、 それぞれの基板については 、 必要に応じて、 電極パッドを開口させた状態で絶縁性物質からなるパッシベー ション膜を形成しても良い。
産業上の利用可能性
【0 0 8 3】 本発明による配線基板、 及びそれを用いた放射線検出器は、 放射 線の透過が抑制される配線基板、 及び放射線検出器として利用可能である。 すな わち、 放射線検出器での放射線検出手段と信号処理手段との電気的な接続などに 用いられる配線基板を、 所定のガラス材料からなるガラス基板を用いて構成する とともに、 ガラス基板に設けられる導電路の貫通孔を、 所定平面での開口が信号 入力面での開口の延長上になく、 したがって、 信号入力面に直交する導電方向か らみて、 信号入力面から信号出力面まで貫通孔が見通せないようにする構成によ れば、 ガラス基板に貫通孔が設けられた部位であっても、 導電方向からみたとき に、 信号入力面から信号出力面までのいずれかの位置において、 放射線遮蔽機能 を有するガラス材料が存在することとなる。 これにより、 放射線の透過が全体で 抑制される配線基板が実現される。
【0 0 8 4】 また、 このような構成の配線基板を配線基板部に適用した放射線 検出器によれば、 配線基板部のいずれの部位でも、 信号入力面から信号出力面ま での少なくとも一部において放射線遮蔽機能を有するガラス材料が存在する。 こ れにより、 放射線が信号処理素子に入射しなくなり、 放射線ダメージによる信頼 性や寿命の劣化が抑制される放射線検出器が実現される。

Claims

請求の範囲
1 . 信号入力面と信号出力面との間で電気信号を導く導電路が設けられ た配線基板であって、
放射線遮蔽機能を有する所定のガラス材料から形成され貫通孔が設けられたガ ラス基板、 及び前記貫通孔に設けられ入力面と出力面との間を電気的に導通して 前記導電路として機能する導電性部材を有して構成され、
前記ガラス基板での前記貫通孔は、 前記信号入力面から前記信号出力面へと向 かう導電方向に直交する所定平面における前記貫通孔の開口が、 前記信号入力面 における前記貫通孔の開口の前記導電方向への延長上にある領域を除く領域内と なるように形成されていることを特徴とする配線基板。
2 . 前記ガラス基板での前記貫通孔は、その中心線が前記導電方向に対 して所定角度で傾いて形成されていることを特徴とする請求項 1記載の配線基板
3 . 前記ガラス基板での前記貫通孔は、その中心線が前記導電方向に対 して湾曲して形成されていることを特徴とする請求項 1記載の配線基板。
4 . 前記ガラス基板は、鉛を含有する前記ガラス材料から形成されてい ることを特徴とする請求項 1〜 3のいずれか一項記載の配線基板。
5 . 前記導電性部材は、前記ガラス基板に設けられた前記貫通孔の内壁 に形成されて設けられていることを特徴とする請求項 1〜4のいずれか一項記載 の配線基板。
6 . 前記導電性部材は、前記ガラス基板に設けられた前記貫通孔の内部 に充填されて設けられていることを特徴とする請求項 1〜 4のいずれか一項記載 の配線基板。
7 . 前記ガラス基板は、両端が開口した中空状のガラス部材が複数互い に融着されて一体形成されることにより複数の前記貫通孔が設けられたガラス基 板であることを特徴とする請求項 1〜 6のいずれか一項記載の配線基板。
8 . 入射した放射線を検出して検出信号を出力する放射線検出手段と、 前記放射線検出手段からの前記検出信号を処理する信号処理手段と、 信号入力面と信号出力面との間で前記検出信号を導く導電路が設けられた請求 項 1〜 7のいずれか一項記載の配線基板を有し、 前記放射! ¾検出手段及び前記信 号処理手段がそれぞれ前記信号入力面及ぴ前記信号出力面に接続された配線基板 咅 とを備え、
前記放射線検出手段、 前記配線基板部、 及び前記信号処理手段は、 前記配線基 板での前記導電方向と略一致する所定の配列方向に沿つてこの順で配置されてい ることを特徴とする放射線検出器。
9 . 前記放射線検出手段は、放射線の入射によりシンチレーション光を 発生するシンチレータと、 前記シンチレータからの前記シンチレ—シヨン光を検 出する半導体光検出素子とを有することを特徴とする請求項 8記載の放射線検出
1 0 . 前記放射線検出手段は、入射した放射線を検出する半導体検出素 子を有することを特徴とする請求項 8記載の放射線検出器。
1 1 . 前記配線基板部と前記放射線検出手段、及び前記配線基板部と前 記信号処理手段、 の少なくとも一方は、 バンプ電極を介して電気的に接続されて いることを特徴とする請求項 8〜 1 0のいずれか一項記載の放射線検出器。
PCT/JP2004/000077 2003-01-08 2004-01-08 配線基板、及びそれを用いた放射線検出器 Ceased WO2004064162A1 (ja)

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