WO2004064163A1 - 配線基板、及びそれを用いた放射線検出器 - Google Patents

配線基板、及びそれを用いた放射線検出器 Download PDF

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conductive
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Katsumi Shibayama
Yutaka Kusuyama
Masahiro Hayashi
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Definitions

  • the present invention relates to a wiring board provided with a conductive path for guiding an electric signal, and a radiation detector using the same.
  • a radiation detector used for a CT sensor or the like there is a detector having a configuration in which a scintillator is provided on a light incident surface of a semiconductor photodetector array such as a photodiode array.
  • a radiation detector when radiation such as an X-ray, a y-ray, or a charged particle beam to be detected enters the scintillator, scintillation light is generated by the radiation in the scintillator. Then, radiation is detected by detecting the scintillation light with a semiconductor photodetector.
  • a signal processing element is provided for performing signal processing of a detection signal output from each of the photodetection elements on the photodetection element array.
  • a configuration for electrically connecting the photodetection element and the signal processing element a configuration using various wirings or a configuration using a conductive path provided on a wiring board may be used. (For example, see Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-330469).
  • the present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide a wiring board in which transmission of radiation is suppressed, and a radiation detector using the same. I do.
  • a wiring board according to the present invention is a wiring board provided with a conductive path for guiding an electric signal between a signal input surface and a signal output surface.
  • a glass substrate formed of a predetermined glass material having a radiation shielding function and provided with a through hole, and electrically connected between an input surface and an output surface provided in the through hole to function as a conductive path.
  • the wiring board used for the electrical connection between the radiation detection means and the signal processing means in the radiation detector is replaced with two wiring boards having a predetermined glass substrate. It consists of.
  • the through-holes of the conductive paths provided on the first and second wiring boards are different from each other.
  • the radiation is transmitted from the signal input surface to the signal output surface by the glass material. Is suppressed.
  • the other has no through hole. That is, at any part of the wiring board, a glass material having a radiation shielding function exists in at least one of the two wiring boards. Thereby, a wiring board in which transmission of radiation is suppressed as a whole is realized.
  • each of the first wiring substrate and the second wiring substrate may be formed of a glass material containing lead. preferable. As a result, transmission of radiation through the wiring board can be effectively suppressed. Further, a substrate made of another glass material having a radiation shielding function may be used.
  • the conductive members in each of the first wiring board and the second fl-line board are formed on the inner wall of the through hole provided in the glass substrate. It may be formed and provided. Alternatively, the conductive member may be provided so as to be filled in a through hole provided in the glass substrate.
  • the glass substrates in each of the first wiring board and the second wiring board are formed by a plurality of hollow glass members having both ends opened by being fused and integrally formed to form a plurality of penetrating glass members.
  • a glass substrate provided with holes is preferable.
  • a substrate having another configuration may be used.
  • the radiation detector includes: (1) radiation detection means for detecting incident radiation and outputting a detection signal; and (2) signal processing for processing a detection signal from the radiation detection means. And (3) the above-mentioned wiring board provided with a conductive path for guiding a detection signal between the signal input surface and the signal output surface, and the radiation I detection means and the signal processing means are each provided with a signal input means. (4) the radiation detecting means, the wiring board part, and the signal processing means are arranged along a predetermined arrangement direction substantially coincident with the conductive direction on the wiring board. It is characterized by being arranged in the order of leverage.
  • the radiation detection means and the signal processing means are electrically connected to each other, and the first and second wirings are used as a wiring board unit for transmitting a detection signal as an electric signal.
  • the wiring board having the above configuration having a board is used. According to such a configuration, a glass material having a radiation shielding function exists in at least one of the two wiring boards in any part of the wiring board portion. As a result, radiation does not enter the signal processing element, and deterioration in reliability and life due to radiation damage is suppressed. A radiation detector is realized.
  • the radiation detecting means includes a scintillator that generates scintillation light upon incidence of radiation, and a semiconductor light detection element that detects scintillation light from the scintillator. Can be used. Alternatively, the radiation f spring detecting means may use a configuration having a semiconductor detection element for detecting incident radiation.
  • At least one of the wiring board and the radiation detecting means and the wiring board and the signal processing means are electrically connected via bump electrodes.
  • a metal bump electrode as an electrical connection means, each part can be suitably electrically connected.
  • FIG. 1 is a side cross-sectional view showing a cross-sectional structure of an embodiment of a wiring board and a radiation detector using the same.
  • FIG. 2 is an exploded perspective view showing the configuration of the radiation detector shown in FIG.
  • FIGS. 3A and 3B are plan views showing the configuration of the (A) signal input surface and (B) the signal output surface of the first wiring board.
  • FIGS. 4A and 4B are plan views showing the configuration of the (A) signal input surface and (B) the signal output surface of the second wiring board.
  • FIGS. 5A to 5C are diagrams illustrating an example of a glass substrate provided with a plurality of through holes.
  • FIGS. 6A and 6B are diagrams showing an example of a configuration of a conductive member provided in a through hole of a wiring board.
  • FIGS. 7A and 7B are diagrams showing another example of the configuration of the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIG. 1 is a side cross-sectional view showing a cross-sectional structure of an embodiment of a wiring board and a radiation detector according to the present invention.
  • FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the wiring board and the radiation detector shown in FIG.
  • the axis along the direction in which radiation enters is the z-axis
  • the two axes orthogonal to the Z- axis are the X-axis.
  • Y axis the negative direction of the z-axis is the conductive direction from the signal input surface to the signal output surface on the wiring board, and the arrangement direction of each component on the radiation detector.
  • the radiation detector shown in FIG. 1 includes a radiation detection unit 1, a wiring board unit 2, and a signal processing unit 3. These are arranged in this order from the upstream side (upper side in the figure) to the downstream side (lower side) along a predetermined arrangement direction, as shown in FIG.
  • the radiation detector 1 detects radiation such as X-rays, y-rays, and charged particle beams incident on the radiation detector as a detection target, and outputs a detection signal that is an electric signal corresponding to the radiation. Detection means.
  • the radiation detector 1 is configured to include a scintillator 10 and a photodiode array 15.
  • the scintillator 10 constitutes the upstream portion of the radiation detecting section 1, and the upper surface 10a thereof is a radiation incident surface in the present radiation detector.
  • the scintillator 10 generates scintillation light having a predetermined wavelength when radiation is incident from the incident surface 10a.
  • the photodiode array (PD array) 15 forms a downstream portion of the radiation detection unit 1.
  • the PD array 15 includes a photodiode (PD) which is a semiconductor photodetector that detects scintillation light from the scintillator 10. ) Is a photodetector array in which a plurality of arrays are arranged.
  • the light emitting surface 10b, which is the lower surface of the scintillator 10, and the light incident surface 15a, which is the upper surface of the PD array 15, are optically connected through an optical adhesive 11 through which scintillation light passes. Connected.
  • the PD array thus formed is shown.
  • the lower surface 15b of the PD array 15 is a signal output surface for outputting a detection signal from each photodiode 16.
  • 16 bump electrodes 17, which are electrodes for detection signal output, are arranged in 4 ⁇ 4 so as to correspond to the respective photodiodes 16.
  • a bump electrode for a common electrode of the photodiode is also provided.
  • a wiring board section 2 On the downstream side of the radiation detecting section 1, a wiring board section 2 is provided.
  • the wiring board unit 2 is configured by laminating two wiring boards of a first wiring board 20 and a second wiring board 25, and a power supply is provided between a signal input surface and a signal output surface. It is configured to have a wiring board provided with a conductive path for guiding an air signal.
  • a glass substrate formed from a predetermined glass material having a radiation shielding function is used as a substrate. As such a glass material, for example, it is preferable to use lead glass containing lead.
  • the first wiring board 20 constitutes an upstream portion of the wiring board used for the wiring board unit 2.
  • FIG. 3A and FIG. 3B are plan views each showing the configuration of the first wiring board 20.
  • FIG. 3A shows the input surface 20a which is the upper surface thereof, and FIG. Indicates an output surface 20b as a lower surface.
  • the input surface 20 a is a signal input surface of the entire wiring board unit 2.
  • a plurality of through holes 20c are formed between the input surface 20a and the output surface 20b in the glass substrate constituting the first wiring substrate 20. Also, each A conductive member 21 that electrically connects the input surface 20a and the output surface 20b to the through hole 20c and functions as a conductive path is provided.
  • 4 ⁇ 4 16 through holes 20 c and conductive members 21 are provided corresponding to the configuration of the PD array 15. The through holes 20c and the conductive members 21 are formed at the same pitch S i as the bump electrodes 17 in the PD array 15 as shown in FIG. 3B.
  • a through hole for a common electrode of the photodiode and a conductive member are also provided.
  • the conductive member 21 includes a conductive portion 21c formed inside the through hole 20c and an outer periphery of the through hole 20c on the input surface 20a.
  • the input part 21a formed so as to be continuous with the conductive part 21c, and the outer part of the through hole 20c formed on the output surface 20b so as to be continuous with the conductive part 21c And an output unit 21.
  • an electrode pad 22 is formed in addition to the input portion 21a of the conductive member 21. Have been.
  • the electrode pad 22 is provided at a position corresponding to the bump electrode 17 on the output surface 15 b of the PD array 15. Further, the electrode pad 22 is electrically connected to the corresponding input portion 21 a of the conductive member 21 via the wiring 23.
  • the photodiode 16 that outputs the detection signal in the PD array 15 is connected to the conductive member that is a conductive path in the first wiring board 20 via the bump electrode 17 and the electrode pad 22. 2 Electrically connected to 1.
  • an electrode pad for a common electrode of the photodiode is also provided.
  • the second wiring board 25 constitutes a downstream portion of the wiring board used for the wiring board unit 2.
  • FIGS. 4A and 4B are plan views showing the configuration of the second wiring board 25, respectively.
  • FIG. 4A shows the input surface 25a which is the upper surface
  • FIG. 4B shows the lower surface.
  • the output surface 25 b force S, the signal output surface of the wiring board 2 as a whole It has become.
  • a plurality of through holes 25c are formed between the input surface 25a and the output surface 25b in the glass substrate constituting the second wiring substrate 25.
  • a conductive member 26 that electrically conducts between the input surface 25a and the output surface 25b and functions as a conductive path is provided for each through hole 25c.
  • a through hole for a common electrode of one photodiode (not shown) and a conductive member are also provided.
  • the through holes 25c and the conductive members 26 are connected to the bump electrodes 17 in the PD array 15 and the first wiring board 20.
  • the pitch S 2 is smaller than the pitch S.
  • the wiring board composed of the first wiring board 20 and the second wiring board 25 in the wiring board unit 2 goes from the signal input surface to the signal output surface in a conductive direction perpendicular to those surfaces.
  • the position of the through hole 20c in the first wiring board 20 and the position of the through hole 25c in the second wiring board 25 are different from each other.
  • the conductive direction in the wiring board substantially matches the arrangement direction of each component in the radiation detector.
  • the conductive member 26 includes a conductive portion 26c formed inside the through hole 25c and an outer periphery of the through hole 25c on the input surface 25a.
  • the input part 26a formed so as to be continuous with the conductive part 26c, and the outer part of the through hole 25c on the output surface 25b is formed so as to be continuous with the conductive part 26c.
  • Output section 26b is formed so as to be continuous with the conductive part 26c.
  • a bump electrode 27 On the input surface 25a of the second wiring board 25, as shown in FIG. 4A, in addition to the input portion 26a of the conductive 1 "raw member 26, a bump electrode 27 The bump electrode 27 is provided at a position corresponding to the output section 21 b on the output surface 20 b of the first wiring board 20.
  • the bump electrode 27 is Corresponding via wiring 28 It is electrically connected to the input part 26 a of the conductive member 26.
  • the conductive member 21, which is a conductive path for transmitting the detection signal in the first wiring board 20 is connected to the second wiring board 25 through the output section 21 b and the bump electrode 27. It is electrically connected to the conductive individual member 26 which is a conductive path in the above.
  • a bump electrode for a common electrode of the photodiode is also provided.
  • the electrode pad 29 is formed on the output surface 25 b of the second wiring board 25, in addition to the output portion 26 b of the conductive member 26, the electrode pad 29 Is formed.
  • the electrode pad 29 is used for connection with a housing 40 described later.
  • an electrode pad for a common electrode of the photodiode is also provided.
  • the signal processing unit 3 includes a signal processing element 30 provided with a signal processing circuit for processing a detection signal from the PD array 15 of the radiation detection unit 1.
  • a bump electrode 31 is formed on the upper surface of the signal processing element 30, a bump electrode 31 is formed.
  • the bump electrode 31 is provided at a position corresponding to the output portion 26 b on the output surface 25 b of the second wiring board 25.
  • the conductive member 26, which is a conductive path for transmitting the detection signal in the second wiring board 25 is provided on the signal processing element 30 via the output portion 26b and the bump electrode 31. Electrically connected to the signal processing circuit.
  • the housing 40 is a holding member that integrally holds the radiation detection unit 1, the wiring board unit 2, and the signal processing unit 3.
  • the housing 40 is provided as a concave portion on the upper surface thereof, and has an element accommodating portion 41 for accommodating the signal processing element 30 therein, and is provided on an outer periphery of the element accommodating portion 41, and has a bump electrode 44. It has a radiation detecting section 1, a wiring board section 2, and a support section 42 for supporting the signal processing section 3, which are connected to the electrode pads 29 of the second wiring board 25 via the second wiring board 25.
  • housing 40 On the lower surface, there are provided leads 43 used for input / output of electric signals to / from the outside.
  • the detection signals output from the photodiodes 16 of the PD array 15 correspond to the corresponding bump electrodes 17, the conductive members 21 of the first wiring board 20, and the second wiring boards 2.
  • the signal is input to the signal processing element 30 via the conductive member 26 and the bump electrode 31 in this order. Then, the signal processing circuit of the signal processing element 30 performs necessary signal processing on the detection signal.
  • the wiring board used in the wiring board unit 2 of the radiation detector shown in FIGS. 1 to 4A and 4B includes a radiation detection unit and a signal processing unit in the radiation detector.
  • a wiring board used for electrical connection with the like is composed of two wiring boards 20 and 25 each having a predetermined glass substrate. Then, with respect to the through holes of the conductive paths provided in the first and second wiring boards 20 and 25, respectively, the through holes in the wiring boards 20 and 25 are arranged so that the through holes are located at mutually different positions.
  • the holes 20 c and 25 c and the conductive members 21 and 26 are formed.
  • a portion of the wiring boards 20 and 25 where there is no through hole is made of lead glass or the like.
  • a glass material having a radiation shielding function is present. This suppresses the radiation passing through the scintillator 10 and the like from passing through the wiring board.
  • the first wiring Since the positions of the through holes are different between the substrate 20 and the second wiring substrate 25, the other wiring substrate has no through hole.
  • At any part of the wiring board part 2 at least one of the two wiring boards 20 and 25 is made of a glass material having a radiation shielding function. Will exist. This realizes a wiring board in which the transmission of radiation is suppressed as a whole when viewed from the conductive direction.
  • such a wiring board is used as a wiring board 2 for electrically connecting the radiation detecting section 1 and the signal processing section 3 and transmitting a detection signal as an electrical signal.
  • the wiring board 2 when viewed from the arrangement direction of each component in the radiation detector, which substantially coincides with the conduction direction of the detection signal, that is, from the direction of incidence of radiation on the radiation detector, the wiring board 2
  • a glass material having a radiation shielding function exists in at least one of the two wiring boards 20 and 25.
  • a glass material used for the glass substrates of the wiring boards 20 and 25 of the wiring board section 2 as described above, it is preferable to use a glass material containing lead.
  • lead glass By using lead glass, it is possible to effectively suppress the transmission of radiation in the wiring board portion 2.
  • the conductive paths serving as conductive paths are provided between the input surface on the radiation detection unit 1 side and the output surface on the signal processing unit 3 side.
  • a glass substrate provided with a through hole for forming a member is used.
  • a glass substrate for example, a plurality of hollow glass members having open ends are provided.
  • a glass substrate provided with a plurality of through holes by being integrally formed by fusion can be used.
  • FIGS. 5A to 5C are diagrams showing an example of the above glass substrate provided with a plurality of through holes.
  • a general configuration example of a glass substrate having a plurality of through holes is shown.
  • the glass substrate shown in FIGS. 5A to 5C has a different shape and configuration from the wiring substrate used in the radiation detector shown in FIG.
  • FIG. 5A is a plan view showing a configuration of a glass substrate
  • FIG. 5B is a plan view showing a configuration of a multi-channel member included in the glass substrate
  • FIG. 5C is a multi-channel member. It is a perspective view which shows the structure of the glass member contained in (1).
  • 5A to 5C show the glass substrate in a state where a conductive member serving as a conductive path in the wiring board is not formed.
  • the glass substrate 9 has a cavities single substrate 90.
  • the cavity substrate 90 includes a plurality of multi-channel members 92 having a plurality of through holes 93.
  • the multi-channel members 92 are integrally formed inside the edge member 91 made of a glass material by being fused to each other in a two-dimensionally arranged state.
  • a plurality of hollow glass members 95 each having an open end are integrally formed by fusing a plurality of hollow glass members 95 with each other. It has a quadrangular shape (for example, about 100 000 ⁇ ) when viewed from a direction perpendicular to the upper and lower surfaces of the substrate 90.
  • the opening of the through hole 93 has a circular shape.
  • the inner diameter of the through hole 93 is, for example, about 6 / zm.
  • the glass material of the edge member 91 and the glass member 95 constituting the substrate 90 has a radiation shielding function as described above with respect to the radiation detector.
  • a glass material for example, a lead glass material is used.
  • the wiring boards 20 and 25 in the radiation detector shown in FIG. 1 include, for example, through holes in a glass substrate having the configuration shown in FIGS. 5A to 5C.
  • a member formed with a conductive member serving as a conductive path can be used. That is, in the glass substrate having such a configuration, the shape of the substrate and the number and arrangement of the through holes are set according to the configuration of the radiation detector.
  • a conductive member to be a conductive path is formed in a through hole provided in the glass substrate, and further, an electric wiring pattern including necessary electrodes and wirings is formed on each surface thereof, thereby obtaining a structure shown in FIG. 3B and a wiring board having a configuration as shown in FIGS. 4A and 4B are obtained.
  • FIGS. 6A and 6B are diagrams showing an example of the configuration of the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIG. 6A is a top view, and FIG. An arrow cross section is shown.
  • the configuration of the conductive member 21 which is a conductive path is shown by taking the first wiring board 20 (see FIGS. 3A and 3B) as an example.
  • the conductive member 21 is provided as a member formed on the inner wall of the through hole 20c. That is, in the through hole 20c, a conductive portion 21c is formed on the inner wall thereof. Further, on the input surface 20a, an input portion 21a continuous with the conduction portion 21c is formed at an outer peripheral portion of the through hole 20c. Further, on the output surface 20b, an output portion 21b continuous with the conduction portion 21c is formed at an outer peripheral portion of the through hole 20c.
  • the conductive part 21 c, the input part 21 a, and the output part 21 b constitute a conductive member 21 serving as a conductive path in the first wiring board 20.
  • FIG. 7A and FIG. 7B show the conductive member provided in the through hole of the wiring board.
  • FIG. 7A is a diagram showing another example of the configuration, where FIG. 7A is a top view and FIG. 7B is a cross-sectional view taken along the line II-II.
  • FIGS. 6A and 6B the configuration of the conductive member 21 that is a conductive path is shown by taking the first wiring board 20 as an example.
  • the first wiring board 20 is formed with a plurality of through holes 20c arranged in a two-dimensional manner. As shown in FIG. 7B, each of the through holes 20c has a circular cross-section centered on an axis perpendicular to the input surface 20a and the output surface 20b of the wiring board 20. Is formed.
  • the conductive member 21 is provided as a member filled in the through hole 20c. That is, the inside of the through hole 20c is filled with the conducting portion 21c. Further, on the input surface 20a, an input portion 21a continuous with the conduction portion 21c is formed at an outer peripheral portion of the through hole 20c. Further, on the output surface 20b, on the outer peripheral portion of the through hole 20c, an output portion 21b continuous with the conduction portion 21c is formed.
  • the conductive member 21 serving as a conductive path in the first wiring board 20 is configured by the conductive portion 21 c, the input portion 21 a, and the output portion 21b.
  • the conductive member formed as a conductive path on a glass substrate having a plurality of through holes includes, for example, those shown in FIGS. 6A, 6B, 7A, and 7B. Configurations can be used. Note that the arrangement of the conductive paths on the glass substrate serving as the wiring substrate is preferably set according to the configuration of the radiation detector. As such a configuration, for example, there is a configuration in which a conductive member is formed by selecting a through hole at a position where a conductive path is required from a plurality of through holes using a mask or the like. Alternatively, a configuration in which a through hole is selectively provided only at a position where a conductive path is necessary may be adopted.
  • the glass substrate used for the wiring substrate is not limited to the configuration illustrated in FIGS. 5A to 5C, and another configuration may be used.
  • a plurality of glass members each having a through hole are integrally formed to form a multi-chip.
  • the multi-channel member is integrally formed with a channel member to form a capillary substrate.
  • the cavities may be integrally formed directly from a plurality of glass members.
  • the cross-sectional shape may be a polygonal shape other than the circular shape, for example, a quadrangular shape.
  • a glass substrate made of a glass material having a radiation shielding function such as lead glass and having a through hole formed at a predetermined position is prepared. Then, a conductive member serving as a conductive path is formed in the winning hole, and an electric wiring pattern having necessary electrodes and wirings is formed on both surfaces serving as an input surface and an output surface, respectively.
  • the wiring boards 20 and 25 to be the laminated wiring boards used in the part 2 are manufactured.
  • the conducting portion 21c and the input portion 21a correspond to the through hole 20c provided in the glass substrate.
  • a conductive member 21 composed of an output part 21b, and an electrode pad 22 and a spring 23 formed on an input surface 20a thereof to form a first wiring board 20.
  • the second wiring board on the signal output surface side includes a conducting part 26c, an input part 26a, and an output part 26b with respect to the through hole 25c provided in the glass substrate.
  • a conductive member 26 is formed, a wiring 28 is formed on the input surface 25a, and an electrode pad 29 is formed on the output surface 25b, thereby forming a second wiring substrate 25.
  • the above-mentioned conductive members and electric wiring patterns formed on the glass substrate include, for example, titanium nitride (T i N;), -kock (N i), aluminum (A 1), chromium (C r), copper (Cu), silver (Ag), gold (Au), or a conductive metal layer made of an alloy thereof.
  • a metal layer may be a single metal layer, or may be a composite film or a laminated film.
  • a mask with a desired pattern is provided on a glass substrate, and a metal film is formed by a method such as vapor deposition (physical vapor deposition (PVD) or chemical vapor deposition (CVD)), plating, or sputtering.
  • a method of removing the mask can be used.
  • a bump electrode is formed on the wiring substrate on which the conductive member and the electric wiring pattern are formed, if necessary.
  • the bump electrode 27 is formed on the electrode pad formed at the end of the wiring 28 on the input surface 25a of the second wiring board 25. Then, the first wiring board 20 and the second wiring board 25 are aligned with each other, and mounted via the bump electrodes 27 to form a multilayer wiring board that becomes the wiring board unit 2.
  • the bump material for forming the bump electrode 27 includes, for example, nickel (Ni), copper (Cu), silver (Ag), gold (Au), solder, and conductive filler. , Or a composite material thereof. Further, an under bump metal (UBM) may be interposed between the bump electrode 27 and the electrode pad on the input surface 25a of the wiring board 25.
  • UBM under bump metal
  • the IC chip of the signal processing element 30 on which the bump electrodes 31 are formed is output to the output of the second wiring board 25.
  • the output part 26 b of the conductive member 26 provided on the surface 25 b is aligned and physically and electrically connected.
  • the PD array 15 on which the bump electrodes 17 are formed is connected to an electrode pad provided on the input surface 20a of the first wiring board 20.
  • the bump materials of the bump electrodes 31 and 17 are the same as those of the bump electrode 27 described above.
  • the housing 40 on which the bump electrodes 44 are formed is aligned with the electrode pads 29 provided on the output surface 25b of the second wiring board 25. , Connect them physically and electrically. As described above, provided in the housing 40 The input / output operation of a signal to / from an external circuit via the connected lead 43 becomes possible. Further, by mounting the scintillator 10 via the optical adhesive 11 on the light incident surface 15a of the PD array 15, the radiation detector shown in FIG. 1 is obtained.
  • the photodiode formed on the light incident surface (surface) 15a has a photodiode.
  • a back-illuminated type in which a photodiode is formed on the signal output surface (back surface) 15b may be used. Further, the number, arrangement, and the like of the photodiodes serving as the light detection elements may be appropriately set.
  • the configuration in which the detection signal from the photodiode is output from the output surface 15b is, for example, formed on the output surface 15b according to the specific configuration of the PD array.
  • a configuration using a wiring pattern or a configuration using a penetrating electrode formed in the PD array 15 can be used.
  • the configuration of the radiation detection unit 1 includes a scintillator 10 that generates scintillation light upon incidence of radiation, and a scintillator from the scintillator 10.
  • a configuration including a PD array 15 provided with a photodiode 16 which is a semiconductor light detection element for detecting light is used.
  • Such a configuration is an indirect detection type in which incident X-rays and other radiation are converted into light of a predetermined wavelength (for example, visible light) by a scintillator 10 and then detected by a semiconductor photodetector such as an Si-PD array. It is a structure of.
  • a configuration having a semiconductor detection element that detects incident radiation without providing a scintillator may be used as the radiation detection unit.
  • Such a configuration is a direct detection type configuration in which incident radiation such as X-rays is detected by a semiconductor detection element made of CdTe or the like. This corresponds to, for example, a configuration in which the scintillator 10 is removed from the configuration in FIG. 1 and the PD array 15 is replaced with a semiconductor detection element array.
  • ACF anisotropic conductive film
  • ACP conductive paste
  • NCP non-conductive paste
  • a passivation film made of an insulating material may be formed with the electrode pad opened.
  • the wiring board and the radiation detector using the same according to the present invention can be used as a wiring board and a radiation detector in which transmission of radiation is suppressed. That is, the wiring board used for the electrical connection between the radiation detection means and the signal processing means in the radiation detector is changed from the first and second wiring boards made of a predetermined glass material having a radiation shielding function. According to the configuration, the through-holes of the conductive paths are different from each other with respect to the conductive paths provided in the first and second wiring boards. However, the transmission of radiation from the signal input surface to the signal output surface is suppressed by the glass material.
  • the other wiring board has no through hole. That is, a glass material having a radiation shielding function exists in at least one of the first and second wiring boards in any part of the wiring board. This realizes a wiring board in which transmission of radiation is suppressed as a whole. Further, according to the radiation detector in which the wiring board having such a configuration is applied to the wiring board portion, any part of the wiring board portion has a radiation shielding function at least one of the two wiring boards. There are glass materials that have. This realizes a radiation detector in which radiation does not enter the signal processing element and deterioration in reliability and life due to radiation damage is suppressed.

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Abstract

シンチレータ10及びPDアレイ15から構成された放射線検出部1と、PDアレイ15から出力された検出信号を処理する信号処理素子30との間に、PDアレイ15と信号処理素子30との間で検出信号を導く導電路が設けられた配線基板部2を設置する。配線基板部2は、PDアレイ15側の導電路となる導電性部材21が貫通孔20cに設けられた第1配線基板20と、信号処理素子30側の導電路となる導電性部材26が貫通孔25cに設けられた第2配線基板25とを有し、配線基板20での貫通孔20cの位置と、配線基板25での貫通孔25cの位置とが、配列方向からみて異なるように構成されている。これにより、放射線の透過が抑制される配線基板、及びそれを用いた放射線検出器が得られる。

Description

明細書
配線基板、 及びそれを用いた放射線検出器
技術分野
【0 0 0 1】 本発明は、 電気信号を導く導電路が設けられた配線基板、 及びそ れを用いた放射線検出器に関するものである。
背景技術
【0 0 0 2】 C T用センサなどに用いられる放射線検出器として、 フォトダイ ォードアレイなどの半導体光検出素子ァレイに対して、 その光入射面上にシンチ レータを設置した構成の検出器がある。 このような放射線検出器において、 検出 対象となる X線、 y線、 荷電粒子線などの放射線がシンチレータに入射すると、 シンチレータ内で放射線によってシンチレーシヨン光が究生する。 そして、 この シンチレーション光を半導体光検出素子で検出することによって、 放射線が検出 される。
【0 0 0 3】 また、 光検出素子アレイに対して、 それぞれの光検出素子から出 力される検出信号の信号処理を行うため、 信号処理素子が設けられる。 この場合 、 光検出素子と信号処理素子とを電気的に接続する構成としては、 様々な配線に よって接続する構成や、 配線基板に設けられた導電路を介して接続する構成など を用いることができる (例えば、 特開平 8— 3 3 0 4 6 9号公報参照) 。
発明の開示
【0 0 0 4】 上記した放射線検出器では、 通常、 シンチレータに入射した放射 線のうちの一部は、 シンチレータ及び光検出素子アレイを透過する。 これに対し て、 シンチレータ、 光検出素子アレイ、 配線基板、 及び信号処理素子が、 所定の 配列方向に沿って配置された構成では、 シンチレ一タ等を透過した放射線が配,線 基板を介して配列方向の下流側にある信号処理素子に入射してしまうという問題 が生じる。 このように、 信号処理素子に放射線が入射すると、 信号処理素子に放 射線ダメージが生じ、 放射線検出器の信頼性や寿命が劣化する原因となる。 【0 0 0 5】 本発明は、 以上の問題点を解決するためになされたものであり、 放射線の透過が抑制される配線基板、 及びそれを用いた放射線検出器を提供する ことを目的とする。
【0 0 0 6】 このような目的を達成するために、 本発明による配線基板は、 信 号入力面と信号出力面との間で電気信号を導く導電路が設けられた配線基板であ つて、 (1 )放射線遮蔽機能を有する所定のガラス材料から形成され貫通孔が設け られたガラス基板、 及び貫通孔に設けられ入力面と出力面との間を電気的に導通 して導電路として機能する導電性部材を有してそれぞれ構成された、 信号入力面 側の第 1配線基板と、 信号出力面側で第 1配線基板に接続された第 2配線基板と を少なくとも備え、 (2 )信号入力面から信号出力面へと向かう導電方向からみて 、 第 1配線基板での貫通孔の位置と、 第 2配線基板での貫通孔の位置とが異なる ように構成されていることを特徴とする。
【0 0 0 7】 上記した配線基板においては、 放射線検出器での放射線検出手段 と信号処理手段との電気的な接続などに用いられる配線基板を、 所定のガラス基 板を有する 2つの配線基板から構成している。 そして、 第 1、 第 2配線基板にそ れぞれ設けられる導電路の貫通孔について、 貫通孔同士が互いに異なる位置とし ている。
【0 0 0 8】 このような構成によれば、 第 1、 第 2配線基板に貫通孔がない部 位では、 そのガラス材料により、 信号入力面から信号出力面へと放射線が透過す ることが抑制される。 また、 第 1、 第 2配線基板の一方に貫通孔がある部位でも 、 他方には貫通孔がない構成となっている。 すなわち、 配線基板のいずれの部位 でも、 2つの配線基板の少なくとも一方で放射線遮蔽機能を有するガラス材料が 存在することとなる。 これにより、 放射線の透過が全体で抑制される配線基板が 実現される。
【0 0 0 9】 配線基板に用いられるガラス材料については、 第 1配線基板及び 第 2配線基板のそれぞれは、 鉛を含有するガラス材料から形成されていることが 好ましい。 これにより、 配線基板での放射線の透過を効果的に抑制することがで きる。 また、 放射線遮蔽機能を有する他のガラス材料からなる基板を用いても良 い。
【0 0 1 0】 また、 配線基板における導電路の構成については、 第 1配線基板 及ぴ第 2酉 fl線基板のそれぞれでの導電性部材は、 ガラス基板に設けられた貫通孔 の内壁に形成されて設けられていることとしても良い。 あるいは、 導電性部材は 、 ガラス基板に設けられた貫通孔の内部に充填されて設けられていることとして も良い。 これらの導電性部材を導電路として用いることにより、 信号入力面と信 号出力面との間で、 電気信号を好適に伝達することができる。
【0 0 1 1】 また、 第 1配線基板及び第 2配線基板のそれぞれでのガラス基板 は、 両端が開口した中空状のガラス部材が複数互いに融着されて一体形成される ことにより複数の貫通孔が設けられたガラス基板であることが好ましい。 また、 これ以外の構成の基板を用いても良い。
【0 0 1 2】 本発明による放射線検出器は、 (1 )入射した放射線を検出して検 出信号を出力する放射線検出手段と、 (2 )放射線検出手段からの検出信号を処理 する信号処理手段と、 ( 3 )信号入力面と信号出力面との間で検出信号を導く導電 路が設けられた上記した配線基板を有し、 放射 I検出手段及び信号処理手段がそ れぞれ信号入力面及び信号出力面に接続された配線基板部とを備え、 (4 )放射線 検出手段、 配線基板部、 及び信号処理手段は、 配線基板での導電方向と略一致す る所定の配列方向に沿ってこの順で配置されていることを特徴とする。
【0 0 1 3】 上記した放射線検出器においては、 放射線検出手段と信号処理手 段とを電気的に接続して電気信号である検出信号を伝達する配線基板部として、 第 1、 第 2配線基板を有する上記構成の配線基板を用いている。 このような構成 によれば、 配線基板部のいずれの部位でも、 2つの配線基板の少なくとも一方で 放射線遮蔽機能を有するガラス材料が存在する。 これにより、 放射線が信号処理 素子に入射しなくなり、 放射線ダメージによる信頼性や寿命の劣化が抑制される 放射線検出器が実現される。
【0 0 1 4】 放射線検出手段の構成については、 放射線検出手段は、 放射線の 入射によりシンチレーシヨン光を発生するシンチレータと、 シンチレータからの シンチレーシヨン光を検出する半導体光検出素子とを有する構成を用いることが できる。 あるいは、 放射 f泉検出手段は、 入射した放射線を検出する半導体検出素 子を有する構成を用いても良い。
【0 0 1 5】 また、 配線基板部と放射線検出手段、 及び配線基板部と信号処理 手段、 の少なくとも一方は、 バンプ電極を介して電気的に接続されていることが 好ましい。 このような金属バンプ電極を電気的接続手段として用いることにより 、 各部を好適に電気的に接続することができる。
図面の簡単な説明
【0 0 1 6】 図 1は、 配線基板、 及びそれを用いた放射線検出器の一実施形態 の断面構造を示す側面断面図である。
【0 0 1 7】 図 2は、 図 1に示した放射線検出器の構成を分解して示す斜視図 である。
【0 0 1 8】 図 3 A、 図 3 Bは、 第 1配線基板の (A) 信号入力面、 及び (B ) 信号出力面の構成を示す平面図である。
【0 0 1 9】 図 4 A、 図 4 Bは、 第 2配線基板の (A) 信号入力面、 及び (B ) 信号出力面の構成を示す平面図である。
【0 0 2 0】 図 5 A〜図 5 Cは、 複数の貫通孔が設けられたガラス基板の一例 を示す図である。
【0 0 2 1】 図 6 A、 図 6 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の一例を示す図である。
【0 0 2 2】 図 7 A、 図 7 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の他の例を示す図である。
発明を実施するための最良の形態 【0 0 2 3】 以下、 図面とともに本発明による配線基板、 及びそれを用いた放 射線検出器の好適な実施形態について詳細に説明する。 なお、 図面の説明におい ては同一要素には同一符号を付し、 重複する説明を省略する。 また、 図面の寸法 比率は、 説明のものと必ずしも一致していない。
【0 0 2 4】 図 1は、 本発明による配線基板、 及び放射線検出器の一実施形態 の断面構造を示す側面断面図である。 また、 図 2は、 図 1に示した配線基板、 及 ぴ放射線検出器の構成を、 各構成要素を分解して示す斜視図である。 なお、 以下 の各図においては、 説明の便宜のため、 図 1及び図 2に示すように、 放射線が入 射する方向に沿った軸を z軸、 この Z軸に直交する 2軸を X軸、 y軸とする。 こ こでは、 z軸の負の方向が、 配線基板での信号入力面から信号出力面へと向かう 導電方向、 及び放射線検出器での各構成要素の配列方向となっている。
【0 0 2 5】 図 1に示した放射線検出器は、 放射線検出部 1と、 配線基板部 2 と、 信号処理部 3とを備えている。 これらは、 図 2に示すように、 所定の配列方 向に沿って上流側 (図中の上側) から下流側 (下側) へとこの順で配置されてい る。
【0 0 2 6】 放射線検出部 1は、 本放射線検出器に検出対象として入射した X 線、 y線、 荷電粒子線などの放射線を検出し、 それに対応する電気信号である検 出信号を出力する検出手段である。 本実施形態においては、 放射線検出部 1は、 シンチレータ 1 0、 及びフォトダイォードアレイ 1 5を有して構成されている。 【0 0 2 7】 シンチレータ 1 0は、 放射線検出部 1の上流側部分を構成してお り、 その上面 1 0 aが、 本放射線検出器における放射線入射面となっている。 こ のシンチレータ 1 0は、 入射面 1 0 aから放射線が入射することにより所定波長 のシンチレーシヨン光を発生する。
【0 0 2 8】 フォトダイオードアレイ (P Dアレイ) 1 5は、 放射線検出部 1 の下流側部分を構成している。 この P Dアレイ 1 5は、 シンチレータ 1 0からの シンチレーション光を検出する半導体光検出素子であるフォトダイオード ( P D ) が複数個配列された光検出素子アレイである。 また、 シンチレータ 1 0の下面 である光出射面 1 0 bと、 P Dアレイ 1 5の上面である光入射面 1 5 aとは、 シ ンチレーション光が透過する光学接着剤 1 1を介して光学的に接続されている。 【0 0 2 9】 図 2においては、 P Dアレイ 1 5の構成例として、 x軸及び y軸 を配列軸として 4 X 4 = 1 6個のフォトダイォード 1 6力 S 2次元に配列されるよ うに形成された P Dアレイを示している。 また、 P Dアレイ 1 5の下面 1 5 bは 、 各フォトダイオード 1 6からの検出信号を出力するための信号出力面となって いる。 この下面 1 5 bには、 検出信号出力用の電極である 1 6個のバンプ電極 1 7が、 各フォトダイオード 1 6に対応するように 4 X 4に配列されて設けられて いる。 特に図示していないが、 フォトダイオードの共通電極用のバンプ電極も設 けられている。
【0 0 3 0】 放射線検出部 1の下流側には、 配線基板部 2が設置されている。 本実施形態においては、 配線基板部 2は、 第 1配線基板 2 0、 及び第 2配線基板 2 5の 2つの配線基板を積層して構成され、 信号入力面と信号出力面との間で電 気信号を導く導電路が設けられた配線基板を有して構成されている。 これらの配 線基板 2 0、 2 5では、 いずれも、 放射線遮蔽機能を有する所定のガラス材料か ら形成されたガラス基板が基板として用いられている。 このようなガラス材料と しては、 例えば、 鉛を含有する鉛ガラスを用いることが好ましい。
【0 0 3 1】 第 1配線基板 2 0は、 配線基板部 2に用いられている配線基板の 上流側部分を構成している。 ここで、 図 3 A及び図 3 Bは、 それぞれ第 1配線基 板 2 0の構成を示す平面図であり、 図 3 Aはその上面である入力面 2 0 aを、 ま た、 図 3 Bは下面である出力面 2 0 bをそれぞれ示している。 この第 1配線基板 2 0では、 その入力面 2 0 aが、 配線基板部 2の全体としての信号入力面となつ ている。
【0 0 3 2】 第 1配線基板 2 0を構成するガラス基板には、 入力面 2 0 aと出 力面 2 0 bとの間に、 複数の貫通孔 2 0 cが形成されている。 また、 それぞれの 貫通孔 2 0 cに対して、 入力面 2 0 aと出力面 2 0 bとの間を電気的に導通して 、 導電路として機能する導電性部材 2 1が設けられている。 本実施形態において は、 P Dアレイ 1 5の構成に対応して、 4 X 4 = 1 6個の貫通孔 2 0 c及ぴ導電 性部材 2 1が設けられている。 これらの貫通孔 2 0 c及び導電性部材 2 1は、 図 3 Bに示すように、 P Dアレイ 1 5におけるバンプ電極 1 7と同一のピッチ S i で形成されている。 特に図示していないが、 フォトダイオードの共通電極用の貫 通孔と導電性部材も設けられている。
【0 0 3 3】 導電性部材 2 1は、 具体的には、 貫通孔 2 0 cの内部に形成され た導通部 2 1 cと、 入力面 2 0 a上で貫通孔 2 0 cの外周部に導通部 2 1 cと連 続するように形成された入力部 2 1 aと、 出力面 2 0 b上で貫通孔 2 0 cの外周 部に導通部 2 1 cと連続するように形成された出力部 2 1 とから構成されてい る。
【0 0 3 4】 第 1配線基板 2 0の入力面 2 0 a上には、 図 3 Aに示すように、 導電性部材 2 1の入力部 2 1 aに加えて電極パッド 2 2が形成されている。 この 電極パッド 2 2は、 P Dアレイ 1 5の出力面 1 5 b上のバンプ電極 1 7に対応す る位置に設けられている。 また、 電極パッド 2 2は、 配線 2 3を介して対応する 導電性部材 2 1の入力部 2 1 aと電気的に接続されている。 これにより、 P Dァ レイ 1 5での検出信号を出力するフォトダイオード 1 6は、 バンプ電極 1 7及ぴ 電極パッド 2 2を介して、 第 1配線基板 2 0での導電路である導電性部材 2 1に 電気的に接続される。 特に図示していないが、 フォトダイオードの共通電極用の 電極パッドも設けられている。
【0 0 3 5】 一方、 第 2配線基板 2 5は、 配線基板部 2に用いられている配線 基板の下流側部分を構成している。 ここで、 図 4 A及び図 4 Bは、 それぞれ第 2 配線基板 2 5の構成を示す平面図であり、 図 4 Aはその上面である入力面 2 5 a を、 また、 図 4 Bは下面である出力面 2 5 bをそれぞれ示している。 この第 2配 線基板 2 5では、 その出力面 2 5 b力 S、 配線基板部 2の全体としての信号出力面 となっている。
【0 0 3 6】 第 2配線基板 2 5を構成するガラス基板には、 入力面 2 5 aと出 力面 2 5 bとの間に、 複数の貫通孔 2 5 cが形成されている。 また、 それぞれの 貫通孔 2 5 cに対して、 入力面 2 5 aと出力面 2 5 bとの間を電気的に導通して 、 導電路として機能する導電性部材 2 6が設けられている。 本実施形態において は、 第 1配線基板 2 0と同様に、 P Dアレイ 1 5の構成に対応して、 4 X 4 = 1 6個の貫通孔 2 5 c及び導電性部材 2 6が設けられている。 特に図示していない 1 フォトダイオードの共通電極用の貫通孔と導電性部材も設けられている。 【0 0 3 7】 ここで、 これらの貫通孔 2 5 c及び導電性部材 2 6は、 図 4 Bに 示すように、 P Dアレイ 1 5におけるバンプ電極 1 7、 及び第 1配線基板 2 0に おける貫通孔 2 0 c及ぴ導電性部材 2 1とは異なり、 ピッチ S よりも小さいピ ツチ S 2で形成されている。 これにより、 配線基板部 2での第 1配線基板 2 0及 び第 2配線基板 2 5からなる配線基板は、 信号入力面から信号出力面へと向かう それらの面に垂直な導電方向からみて、 第 1配線基板 2 0での貫通孔 2 0 cの位 置と、 第 2配線基板 2 5での貫通孔 2 5 cの位置とが互いに異なる構成となって いる。 なお、 配線基板における導電方向は、 図 2に示すように、 放射線検出器に おける各構成要素の配列方向と略一致している。
【0 0 3 8】 導電性部材 2 6は、 具体的には、 貫通孔 2 5 cの内部に形成され た導通部 2 6 cと、 入力面 2 5 a上で貫通孔 2 5 cの外周部に導通部 2 6 cと連 続するように形成された入力部 2 6 aと、 出力面 2 5 b上で貫通孔 2 5 cの外周 部に導通部 2 6 cと連続するように形成された出力部 2 6 bとから構成されてい る。
【0 0 3 9】 第 2配線基板 2 5の入力面 2 5 a上には、 図 4 Aに示すように、 導電 1"生部材 2 6の入力部 2 6 aに加えてバンプ電極 2 7が形成されている。 この バンプ電極 2 7は、 第 1配線基板 2 0の出力面 2 0 b上の出力部 2 1 bに対応す る位置に設けられている。 また、 バンプ電極 2 7は、 配線 2 8を介して対応する 導電性部材 2 6の入力部 2 6 aと電気的に接続されている。 これにより、 第 1配 線基板 2 0での検出信号を伝達する導電路である導電性部材 2 1は、 その出力部 2 1 b及ぴバンプ電極 2 7を介して、 第 2配線基板 2 5での導電路である導電个生 部材 2 6に電気的に接続される。 特に図示していないが、 フォトダイオードの共 通電極用のバンプ電極も設けられている。
【0 0 4 0】 また、 第 2配線基板 2 5の出力面 2 5 b上には、 図 4 Bに示すよ うに、 導電性部材 2 6の出力部 2 6 bに加えて電極パッド 2 9が形成されている 。 この電極パッド 2 9は、 後述するハウジング 4 0との接続に用いられるもので ある。 特に図示していないが、 フォトダイオードの共通電極用の電極パッドも設 けられている。
【0 0 4 1】 配線基板部 2の下流側には、 信号処理部 3と、 ハウジング (パッ ケージ) 4 0とが設置されている。 本実施形態においては、 信号処理部 3は、 放 射線検出部 1の P Dアレイ 1 5からの検出信号を処理するための信号処理回路が 設けられた信号処理素子 3 0からなる。
【0 0 4 2】 信号処理素子 3 0の上面上には、 バンプ電極 3 1が形成されてい る。 このバンプ電極 3 1は、 第 2配線基板 2 5の出力面 2 5 b上の出力部 2 6 b に対応する位置に設けられている。 これにより、 第 2配線基板 2 5での検出信号 を伝達する導電路である導電性部材 2 6は、 その出力部 2 6 b及びバンプ電極 3 1を介して、 信号処理素子 3 0に設けられた信号処理回路に電気的に接続される 。
【0 0 4 3】 また、 ハウジング 4 0は、 放射線検出部 1、 配線基板部 2、 及ぴ 信号処理部 3を一体に保持する保持部材である。 このハウジング 4 0は、 その上 面上に凹部として設けられ、 信号処理素子 3 0をその内部に収容する素子収容部 4 1と、 素子収容部 4 1の外周に設けられ、 バンプ電極 4 4を介して第 2配線基 板 2 5の電極パッド 2 9に接続されるとともに、 放射線検出部 1、 配線基板部 2 、 及び信号処理部 3を支持する支持部 4 2とを有する。 また、 ハウジング 4 0の 下面には、 電気信号の外部への入出力に用いられるリード 4 3が設けられている
【0 0 4 4】 以上の構成において、 放射線検出部 1のシンチレータ 1 0に X線 などの放射線が入射すると、 シンチレータ 1 0内で放射線によってシンチレーシ ョン光が発生し、 光学接着剤 1 1を介して P Dアレイ 1 5のフォトダイオード 1 6へと入射する。 フォトダイオード 1 6は、 このシンチレーシヨン光を検出して 、 放射線の検出に対応する電気信号である検出信号を出力する。
【0 0 4 5】 P Dアレイ 1 5の各フォトダイオード 1 6から出力された検出信 号は、 対応するバンプ電極 1 7、 第 1配線基板 2 0の導電性部材 2 1、 第 2配線 基板 2 5の導電性部材 2 6、 及ぴバンプ電極 3 1を順次に介して、 信号処理素子 3 0へと入力される。 そして、 信号処理素子 3 0の信号処理回路において、 検出 信号に対して必要な信号処理が行われる。
【0 0 4 6】 本実施形態による配線基板、 及び放射線検出器の効果について説 明する。
【0 0 4 7】 図 1〜図 4 A、 図 4 Bに示した放射線検出器での配線基板部 2に 用いられている配線基板においては、 放射線検出器での放射線検出部と信号処理 部との電気的な接続などに用いられる配線基板を、 所定のガラス基板を有する 2 つの配線基板 2 0、 2 5から構成している。 そして、 第 1、 第 2配,線基板 2 0、 2 5にそれぞれ設けられる導電路の貫通孔について、 貫通孔同士が互いに異なる 位置となるように、 各配線基板 2 0、 2 5での貫通孔 2 0 c、 2 5 c、 及び導電 性部材 2 1、 2 6を形成している。
【0 0 4 8】 このような構成によれば、 配線基板における検出信号の導電方向 からみたときに、 配線基板 2 0、 2 5のうちで貫通孔がない部位については、 そ の鉛ガラスなどの放射線遮蔽機能を有するガラス材料が存在することとなる。 こ れにより、 シンチレータ 1 0等を通過した放射線が配線基板を透過することが抑 制される。 また、 配線基板 2 0、 2 5の一方に貫通孔がある部位でも、 第 1配線 基板 2 0と第 2配線基板 2 5とで貫通孔の位置が互いに異なるため、 他方の配線 基板には貫通孔がない構成となっている。
【0 0 4 9】 すなわち、 検出信号の導電方向からみたときに、 配線基板部 2の いずれの部位においても、 2つの配線基板 2 0、 2 5の少なくとも一方で放射線 遮蔽機能を有するガラス材料が存在することとなる。 これにより、 放射線の透過 が導電方向からみた全体で抑制される配線基板が実現される。
【0 0 5 0】 また、 このような配線基板を、 放射線検出部 1と信号処理部 3と を電気的に接続して電気信号である検出信号を伝達する配線基板部 2に用いた放 射線検出器によれば、 検出信号の導電方向と略一致している放射線検出器におけ る各構成要素の配列方向、 すなわち、 放射線検出器への放射線の入射方向からみ たときに、 配線基板部 2のいずれの部位においても、 2つの配線基板 2 0、 2 5 の少なくとも一方で放射線遮蔽機能を有するガラス材料が存在する。 これにより 、 放射線が信号処理素子に入射しなくなり、 放射線ダメージによる信頼性や寿命 の劣化を確実に抑制することが可能な放射線検出器が実現される。
【0 0 5 1】 配線基板部 2の配線基板 2 0、 2 5でのガラス基板に用いられる ガラス材料としては、 上記したように、 鉛を含有するガラス材料を用いることが 好ましい。 鉛ガラスを用いることにより、 配線基板部 2での放射線の透過を効果 的に抑制することができる。 ここで、 ガラス材料に含有させる鉛の量については 、 その放射線検出器において要求される放射線遮蔽機能の程度等に応じて適宜設 定することが好ましい。 また、 鉛ガラス以外のガラス材料を用いても良い。
【0 0 5 2】 次に、 図 1に示した配線基板部での配線基板、 及びそれに用いら れるガラス基板について説明する。
【0 0 5 3】 配線基板 2 0、 2 5では、 上記したように、 それぞれ放射線検出 部 1側の入力面と、 信号処理部 3側の出力面との間で、 導電路となる導電性部材 を形成するための貫通孔が設けられたガラス基板が用いられている。 このような ガラス基板としては、 例えば、 両端が開口した中空状のガラス部材が複数互いに 融着されて一体形成されることにより複数の貫通孔が設けられたガラス基板を用 いることができる。
【0 0 5 4】 図 5 A〜図 5 Cは、 複数の貫通孔が設けられた上記のガラス基板 の一例を示す図である。 なお、 ここでは、 複数の貫通孔を有するガラス基板の一 般的な構成例について示している。 このため、 図 5 A〜図 5 Cに示すガラス基板 は、 図 1に示した放射線検出器に用いられている配線基板とは異なる形状及び構 成となっている。
【0 0 5 5】 図 5 Aはガラス基板の構成を示す平面図であり、 図 5 Bはガラス 基板に含まれるマルチチャンネル部材の構成を示す平面図であり、 図 5 Cはマル チチャンネル部材に含まれるガラス部材の構成を示す斜視図である。 これらの図
5 A〜図 5 Cにおいては、 配線基板での導電路となる導電性部材が形成されてい ない状態でのガラス基板を示している。
【0 0 5 6】 ガラス基板 9は、 図 5 Aに示すように、 キヤビラリ一基板 9 0を 有している。 キヤビラリ一基板 9 0は、 複数の貫通孔 9 3を有するマルチチャン ネル部材 9 2を複数含んでいる。 マルチチヤンネル部材 9 2は、 ガラス材料から なる縁部材 9 1の内側に、 2次元状に配置された状態で互いに融着されて一体形 成されている。
【0 0 5 7】 マ チチャンネル部材 9 2は、 図 5 Β及び図 5 Cに示すように、 両端が開口した中空状のガラス部材 9 5が複数互いに融着されて一体形成されて おり、 キヤビラリ一基板 9 0の上面及ぴ下面に垂直な方向からみて 4角形状 (例 えば、 1 0 0 0 ιη Χ 1 0 0 0 μ πι程度) を呈している。 また、 貫通孔 9 3は、 その開口部が円形状を呈している。 貫通孔 9 3の内径は、 例えば 6 /z m程度であ る。
【0 0 5 8】 なお、 キヤビラリ一基板 9 0を構成している縁部材 9 1及ぴガラ ス部材 9 5のガラス材料としては、 放射線検出器に関して上述したように、 放射 線遮蔽機能を有するガラス材料、 例えば鉛ガラス材料、 が用いられる。 【0 0 5 9】 図 1に示した放射線検出器での配線基板 2 0、 2 5としては、 例 えば、 この図 5 A〜図 5 Cに示した構成を有するガラス基板での貫通孔に導電路 となる導電性部材を形成したものを用いることができる。 すなわち、 このような 構成のガラス基板において、 その基板の形状及び貫通孔の個数、 配置等を放射線 検出器の構成に応じて設定する。 そして、 ガラス基板に設けられた貫通孔に導電 路となる導電性部材を形成し、 さらに、 その各面にそれぞれ必要な電極及び配線 からなる電気配線パターンを形成することにより、 図 3 A、 図 3 B、 及ぴ図 4 A 、 図 4 Bに示したような構成を有する配線基板が得られる。
【0 0 6 0】 図 6 A、 図 6 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の一例を示す図であり、 図 6 Aは上面図、 図 6 Bは I一 I矢印断面図を示し ている。 ここでは、 第 1配線基板 2 0 (図 3 A及ぴ図 3 B参照) を例として導電 路である導電性部材 2 1の構成を示している。
【0 0 6 1】 第 1配線基板 2 0には、 複数個 (例えば、 4 X 4 = 1 6個) の貫 通孔 2 0 cが 2次元に配列されて形成されている。 それぞれの貫通孔 2 0 cは、 図 6 Bに示すように、 配線基板 2 0の入力面 2 0 a及び出力面 2 0 bに対して垂 直な軸を中心軸として、 円形状の断面形状を有して形成されている。
【0 0 6 2】 図 6 A、 図 6 Bに示す構成例においては、 この貫通孔 2 0 cに対 し、 入力面 2 0 aと出力面 2 0 bとの間を電気的に導通する導電性部材 2 1を、 貫通孔 2 0 cの内壁に形成された部材として設けている。 すなわち、 貫通孔 2 0 c内には、 その内壁に導通部 2 1 cが形成されている。 また、 入力面 2 0 a上で 貫通孔 2 0 cの外周部には、 導通部 2 1 cと連続する入力部 2 1 aが形成されて いる。 また、 出力面 2 0 b上で貫通孔 2 0 cの外周部には、 導通部 2 1 cと連続 する出力部 2 1 bが形成されている。 これらの導通部 2 1 c、 入力部 2 1 a、 及 ぴ出力部 2 1 bにより、 第 1配線基板 2 0での導電路となる導電性部材 2 1が構 成される。
【0 0 6 3】' 図 7 A、 図 7 Bは、 配線基板の貫通孔に設けられる導電性部材の 構成の他の例を示す図であり、 図 7 Aは上面図、 図 7 Bは II一 II矢印断面図を示 している。 ここでは、 図 6 A、 図 6 Bと同様に、 第 1配線基板 2 0を例として導 電路である導電性部材 2 1の構成を示している。
【0 0 6 4】 第 1配線基板 2 0には、 複数個の貫通孔 2 0 c力 S 2次元に配列さ れて形成されている。 それぞれの貫通孔 2 0 cは、 図 7 Bに示すように、 配線基 板 2 0の入力面 2 0 a及び出力面 2 0 bに対して垂直な軸を中心軸として、 円形 状の断面形状を有して形成されている。
【0 0 6 5】 図 7 A、 図 7 Bに示す構成例においては、 この貫通孔 2 0 cに対 し、 入力面 2 0 aと出力面 2 0 bとの間を電気的に導通する導電性部材 2 1を、 貫通孔 2 0 cの内部に充填された部材として設けている。 すなわち、 貫通孔 2 0 c内には、 その内部に導通部 2 1 cが充填されている。 また、 入力面 2 0 a上で 貫通孔 2 0 cの外周部には、 導通部 2 1 cと連続する入力部 2 1 aが形成されて いる。 また、 出力面 2 0 b上で貫通孔 2 0 cの外周部には、 導通部 2 1 cと連続 する出力部 2 1 bが形成されている。 これらの導通部 2 1 c、 入力部 2 1 a、 及 び出力部 2 l bにより、 第 1配線基板 2 0での導電路となる導電性部材 2 1が構 成される。
【0 0 6 6】 複数の貫通孔を有するガラス基板に導電路として形成される導電 性部材としては、 例えば、 これらの図 6 A、 図 6 B、 及び図 7 A、 図 7 Bに示し た構成を用いることができる。 なお、 配線基板となるガラス基板における導電路 の配置については、 放射線検出器の構成に応じて設定することが好ましい。 その ような構成としては、 例えば、 複数の貫通孔のうち、 導電路が必要な位置にある 貫通孔をマスク等によって選択して導電性部材を形成する構成がある。 あるいは 、 導電路が必要な位置のみに選択的に貫通孔を設けておく構成としても良い。 【0 0 6 7】 なお、 配線基板に用いられるガラス基板については、 図 5 A〜図 5 Cに示した構成に限らず、 他の構成を用いても良い。 例えば、 図 5 A〜図 5 C においては、 それぞれ貫通孔を有する複数のガラス部材を一体形成してマルチチ ヤンネル部材とし、 さらに、 複数のマルチチヤンネル部材を一体形成してキヤピ ラリー基板としている。 これに対して、 複数のガラス部材から直接キヤビラリ一 基板を一体形成しても良い。 また、 個々のガラス部材ゃマルチチャンネル部材の 形状及び配列、 各部材での貫通孔の有無または配列等については、 導電路の配置 に応じて適宜好適な構成を用いることが好ましい。 また、 貫通孔の構成について は、 その断面形状を円形状以外の多角形状、 例えば 4角形状、 としても良い。 【0 0 6 8】 次に、 図 1に示した配線基板、 及び放射線検出器の製造方法につ いて、 その具体的な構成例とともに概略的に説明する。
【0 0 6 9】 まず、 鉛ガラスなどの放射線遮蔽機能を有するガラス材料からな り、 所定位置に貫通孔が形成されたガラス基板を用意する。 そして、 その賞通孔 に導電路となる導電性部材を形成し、 さらに、 入力面及び出力面となる両面にそ れぞれ必要な電極及び配線を有する電気配線パターンを形成して、 配線基板部 2 に用いられる積層配線基板となる配線基板 2 0 , 2 5を作製する。
【0 0 7 0】 具体的には、 信号入力面側の第 1配線基板については、 ガラス基 板に設けられた貫通孔 2 0 cに対して、 導通部 2 1 c、 入力部 2 1 a、 及び出力 部 2 1 bからなる導電性部材 2 1を形成するとともに、 その入力面 2 0 a上に電 極パッド 2 2及び配泉 2 3を形成して、 第 1配線基板 2 0とする。 また、 信号出 力面側の第 2配線基板については、 ガラス基板に設けられた貫通孔 2 5 cに対し て、 導通部 2 6 c、 入力部 2 6 a、 及び出力部 2 6 bからなる導電性部材 2 6を 形成するとともに、 その入力面 2 5 a上に配線 2 8を、 また、 出力面 2 5 b上に 電極パッド 2 9を形成して、 第 2配線基板 2 5とする。
【0 0 7 1】 ガラス基板に形成する上記した導電性部材及び電気配線パターン としては、 例えば、 窒化チタン (T i N;)、 -ッケノレ (N i )、 アルミニウム (A 1 )、 クロム (C r )、 銅 (C u )、 銀 (A g )、 金 (A u )、 あるいはそれらの合金 からなる導電性金属層によって形成することができる。 このような金属層は、 単 一の金属層であっても良く、 複合膜あるいは積層膜であっても良い。 また、 その 具体的な形成方法としては、 ガラス基板に対して所望パターンのマスクを設け、 蒸着 (物理蒸着 (P V D ) 法、 化学蒸着 (C V D ) 法)、 メツキ、 スパッタなどの 方法によつて金属膜を形成した後、 マスクを除去する方法を用いることができる 【0 0 7 2】 次に、 導電性部材及び電気配線パターンが形成された配線基板に 対して、 必要に応じて、 バンプ電極を形成する。 上記実施形態においては、 第 2 配線基板 2 5の入力面 2 5 a上で配線 2 8の端部に形成された電極パッド上に、 バンプ電極 2 7を形成する。 そして、 第 1配線基板 2 0と第 2配線基板 2 5とを 互いにァライメントし、 バンプ電極 2 7を介して実装して、 配線基板部 2となる 積層配線基板を構成する。
【0 0 7 3】 バンプ電極 2 7を形成するバンプ材料としては、 例えば、 ニッケ ル (N i )、 銅 (C u )、 銀 (A g )、 金 (A u )、 半田、 導電性フィラーを含む樹 月旨、 あるいはそれらの複合材料を用いることができる。 また、 バンプ電極 2 7と 、 配線基板 2 5の入力面 2 5 a上の電極パッドとの間に、 アンダーバンプメタル (U B M) を介在させても良い。
【0 0 7 4】 配線基板 2 0、 2 5からなる配線基板部 2を作製したら、 バンプ 電極 3 1が形成された信号処理素子 3 0の I Cチップを、 第 2配線基板 2 5の出 力面 2 5 b上に設けられた導電性部材 2 6の出力部 2 6 bに対してァライメント して、 それらを物理的、 電気的に接続する。 また、 バンプ電極 1 7が形成された P Dアレイ 1 5を、 第 1配線基板 2 0の入力面 2 0 a上に設けられた電極パッド
2 2に対してァライメントして、 それらを物理的、 電気的に接続する。 ここで、 バンプ電極 3 1、 1 7のバンプ材料等に関しては、 上記したバンプ電極 2 7と同 ¾ C、ある。
【0 0 7 5】 続いて、 バンプ電極 4 4が形成されたハウジング 4 0を、 第 2配 線基板 2 5の出力面 2 5 b上に設けられた電極パッド 2 9に対してァライメント して、 それらを物理的、 電気的に接続する。 以上により、 ハウジング 4 0に設け られたリード 4 3を介した外部回路との信号の入出力動作が可能となる。 さらに 、 P Dアレイ 1 5の光入射面 1 5 a上に、 光学接着剤 1 1を介してシンチレータ 1 0を実装することにより、 図 1に示した放射線検出器が得られる。
【0 0 7 6】 ここで、 放射線検出部 1において半導体光検出素子ァレイとして 設けられている P Dアレイ 1 5については、 フォトダイオードが光入射面 (表面 ) 1 5 aに形成されている表面入射型のものを用いても良く、 あるいは、 フォト ダイオードが信号出力面 (裏面) 1 5 bに形成されている裏面入射型のものを用 いても良い。 また、 光検出素子であるフォトダイオードの個数や配列等について も、 適宜設定して良い。
【0 0 7 7】 また、 フォトダイオードからの検出信号を出力面 1 5 bから出力 する構成については、 P Dアレイの具体的な構成に応じて、 例えば、 出力面 1 5 b上に形成された配線パターンによる構成や、 P Dアレイ 1 5内に形成された貫 通電極による構成などを用いることができる。
【0 0 7 8】 また、 図 1に示した放射線検出器では、 放射線検出部 1の構成と して、 放射線の入射によりシンチレーシヨン光を発生するシンチレータ 1 0と、 シンチレータ 1 0からのシンチレーシヨン光を検出する半導体光検出素子である フォトダイォード 1 6が設けられた P Dアレイ 1 5とを有する構成を用いている 。 このような構成は、 入射した X線などの放射線をシンチレータ 1 0によって所 定波長の光 (例えば、 可視光) に変換した後に S i— P Dアレイなどの半導体光 検出素子で検出する間接検出型の構成である。
【0 0 7 9】 あるいは、 放射線検出部として、 シンチレータを設けず、 入射し た放射線を検出する半導体検出素子を有する構成を用いることも可能である。 こ のような構成は、 入射した X線などの放射線を C d T eなどからなる半導体検出 素子で検出する直接検出型の構成である。 これは、 例えば、 図 1の構成において 、 シンチレータ 1 0を除くとともに、 P Dアレイ 1 5を半導体検出素子アレイに 置き換えた構成に相当する。 【0 0 8 0】 また、 配線基板部 2における第 1配線基板 2 0と第 2配線基板 2 5の実装、 配線基板部 2と放射線検出部 1 との接続、 及び配線基板部 2と信号処 理部 3との接続等については、 上記実施形態のように、 バンプ電極を介した電気 的な接続によるダイレク トボンディング方式を用いることが好ましい。 このよう な金属バンプ電極を電気的接続手段として用いることにより、 各部を好適に電気 的に接続することができる。
【0 0 8 1】 あるいは、 このようなバンプ電極を用いた構成以外にも、 バンプ 電極による接続後にアンダーフィル樹脂を充填する構成や、 異方性導電性フィル ム (A C F ) 方式、 異方性導電性ペースト (A C P ) 方式、 非導電性ペースト ( N C P ) 方式による構成などを用いても良い。 また、 それぞれの基板については
、 必要に応じて、 電極パッドを開口させた状態で絶縁性物質からなるパッシベー シヨン膜を形成しても良い。
産業上の利用可能性
【0 0 8 2】 本発明による配線基板、 及びそれを用いた放射線検出器は、 放射 線の透過が抑制される配線基板、 及び放射線検出器として利用可能である。 すな わち、 放射線検出器での放射線検出手段と信号処理手段との電気的な接続などに 用いられる配線基板を、 放射線遮蔽機能を有する所定のガラス材料からなる第 1 、 第 2配線基板から構成するとともに、 第 1、 第 2配線基板にそれぞれ設けられ る導電路について、 導電路の貫通孔同士が互いに異なる位置.とする構成によれば 、 配線基板のうちで貫通孔がない部位については、 そのガラス材料により、 信号 入力面から信号出力面へと放射線が透過することが抑制される。
【0 0 8 3】 また、 一方の配線基板に貫通孔がある部位でも、 他方の配線基板 には貫通孔がない構成となっている。 すなわち、 配線基板のいずれの部位でも、 第 1、 第 2配線基板の少なくとも一方で放射線遮蔽機能を有するガラス材料が存 在することとなる。 これにより、 放射線の透過が全体で抑制される配線基板が実 現される。 【0 0 8 4】 また、 このような構成の配線基板を配線基板部に適用した放射線 検出器によれば、 配線基板部のいずれの部位でも、 2つの配線基板の少なくとも 一方で放射線遮蔽機能を有するガラス材料が存在する。 これにより、 放射線が信 号処理素子に入射しなくなり、 放射線ダメージによる信頼性や寿命の劣化が抑制 される放射線検出器が実現される。

Claims

請求の範囲
1 . 信号入力面と信号出力面との間で電気信号を導く導電路が設けられ た配 f泉基板であって、
放射線遮蔽機能を有する所定のガラス材料から形成され貫通孔が設けられたガ ラス基板、 及ぴ前記貫通孔に設けられ入力面と出力面との間を電気的に導通して 前記導電路として機能する導電性部材を有してそれぞれ構成された、 前記信号入 力面側の第 1配線基板と、 前記信号出力面側で前記第 1配線基板に接続された第 2配線基板とを少なくとも備え、
前記信号入力面から前記信号出力面へと向かう導電方向からみて、 前記第 1酉己 線基板での前記貫通孔の位置と、 前記第 2配線基板での前記貫通孔の位置とが異 なるように構成されていることを特徴とする配線基板。
2 . 前記第 1配線基板及ぴ前記第 2配線基板のそれぞれは、鉛を含有す る前記ガラス材料から形成されていることを特徴とする請求項 1記載の配線基板
3 . 前記第 1配線基板及び前記第 2配線基板のそれぞれでの前記導電性 部材は、 前記ガラス基板に設けられた前記貫通孔の内壁に形成されて設けられて いることを特徴とする請求項 1または 2記載の配線基板。
4 . 前記第 1配線基板及び前記第 2配線基板のそれぞれでの前記導電性 部材は、 前記ガラス基板に設けられた前記貫通孔の内部に充填されて設けられて いることを特徴とする請求項 1または 2記載の配線基板。
5 . 前記第 1配線基板及び前記第 2配線基板のそれぞれでの前記ガラス 基板は、 両端が開口した中空状のガラス部材が複数互いに融着されて一体形成さ れることにより複数の前記貫通孔が設けられたガラス基板であることを特徴とす る請求項 1〜 4のいずれか一項記載の配線基板。
6 . 入射した放射線を検出して検出信号を出力する放射線検出手段と、 前記放射線検出手段からの前記検出信号を処理する信号処理手段と、 信号入力面と信号出力面との間で前記検出信号を導く導電路が設けられた請求 項 1〜 5のいずれか一項記載の配線基板を有し、 前記放射線検出手段及び前記信 号処理手段がそれぞれ前記信号入力面及び前記信号出力面に接続された配線基板 部とを備え、
前記放射線検出手段、 前記配線基板部、 及び前記信号処理手段は、 前記配線基 板での前記導電方向と略一致する所定の配列方向に沿ってこの順で配置されてい ることを特徴とする放射線検出器。
7 . 前記放射線検出手段は、放射線の入射によりシンチレーション光を 発生するシンチレータと、 前記シンチレータからの前記シンチレーション光を検 出する半導体光検出素子とを有することを特徴とする請求項 6記載の放射線検出
8 . 前記放射線検出手段は、入射した放射線を検出する半導体検出素子 を有することを特徴とする請求項 6記載の放射線検出器。
9 . 前記配線基板部と前記放射線検出手段、及び前記配線基板部と前記 信号処理手段、 の少なくとも一方は、 バンプ電極を介して電気的に接続されてい ることを特徴とする請求項 6〜 8のいずれか一項記載の放射線検出器。
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