WO2006012875A2 - Verfahren zur bewertung der güte eines testprogramms - Google Patents

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WO2006012875A2
WO2006012875A2 PCT/DE2005/001349 DE2005001349W WO2006012875A2 WO 2006012875 A2 WO2006012875 A2 WO 2006012875A2 DE 2005001349 W DE2005001349 W DE 2005001349W WO 2006012875 A2 WO2006012875 A2 WO 2006012875A2
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    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30—Circuit design
    • G06F30/32—Circuit design at the digital level
    • G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking

Definitions

  • the invention relates to a method for evaluating the quality of a test program for computer-simulated integrated circuits.
  • HDLs high level description languages
  • VHDL and Veriog Common HDLs are VHDL and Veriog.
  • the HDL file is used to automatically generate, by means of special computer programs, the layout of the circuit arrangement and the required photolithographic masks with which the actual circuit arrangement can be produced.
  • test bench the test program (ie computer code) that provides the input (“input”) that the integrated circuit is to process, and the results of the processing ⁇ tion (output values) in the simulated circuit with the waited for results.
  • test result depends largely on the quality and completeness of the test program.
  • An ⁇ may be a positive test result may be due only to insufficient testing (or verification) of the integrated circuit. It is therefore necessary to check the quality and completeness of the test program.
  • the already low speed of the software simulation of an integrated circuit is further reduced by tests intended to check the quality and completeness of the test program.
  • DE 199 59 157 A1 describes a method for functionally simulating and checking the correctness of a computer program in which mutated computer programs are generated.
  • the computer program can output source code modules Have functional models of an integrated circuit.
  • the method simulates a computer program into which a syntactic mutation has been incorporated in order to determine whether this mutation is a subtle or gross mutation in the context of the computer program. If the mutation is a gross mutation, the simulation is terminated; if, on the other hand, the mutation is a subtle mutation, an attempt is made to detect this mutation within a predetermined period of time. The method therefore evaluates the quality of a computer program by attempting to determine the influence of the mutation in the context of the computer program.
  • the disclosed system compares the mutated computer program with the non-mutated computer program. It is therefore only suitable for determining the quality of the stimulation of the mutations by the test environment.
  • the quality of the computer program that is actually to be tested can only be concluded indirectly from this. Errors that are already included in the non-mutated circuit can only be detected if the mutation actually affects the errors. However, this is not necessarily the case.
  • the quality of the computer program can thus be determined only insufficiently with the proposed system.
  • the object of the invention is to eliminate the disadvantages of the prior art.
  • a method is to be provided which enables the evaluation of the quality of a test program for computer-simulated integrated circuits with higher quality.
  • the method according to the invention thus compares the output values of the mutated integrated circuit with expected values obtained from an independent source, ie come from the reference system.
  • the expected values are to be generated in a reference system which is independent of the integrated circuit described in the first file.
  • independent is understood to mean that the reference system is not based on the first file but has functional differences with respect to the integrated circuit described in the first file.
  • the reference system can be programmed in a different programming language and / or by a second programmer.
  • step (b) comprises the following steps:
  • step (b) in a second embodiment may comprise the following steps:
  • the simulation program of the computer is the part of the computer in that the simulation of the mutated integrated circuit is carried out.
  • step (iii) Selection of the mutations which cause a change in the behavior of the integrated circuit at a point found according to step (i) and which can be addressed by one of the tests, and generate the mutated integrated circuit.
  • a mutation is to be understood as meaning that an active switched mutation participates in the processing of the input values and can participate in the generation of the output values. Whether it is actually involved or participates, ie causes a change in the output values, is checked by comparing the output values with the expected values.
  • an activated, active or actively connected mutation means the following:
  • the mutated integrated circuit has mutations with respect to the integrated circuit described in the first file. These mutations are initially inactivated, d. H.
  • the integrated circuit described in the first file delivers exactly the same output values as the mutated integrated circuit, since none of the mutations participates in the processing of the input values. In the course of the procedure, however, exactly one of the built-in mutations is always switched one after the other, ie. H. the active mutation can participate in the processing of the input values.
  • the tests that provide the input values were selected to be responsive to the actively switched mutation.
  • Tests that can address one of the selected mutations at least once are conveniently combined into a test set. Tests which are able to respond to a selected mutation at least once are also referred to below as tests assigned to this mutation. Test sets comprising these tests are also referred to as test sets assigned to this mutation.
  • a mutation is understood as meaning a change of the first file that has a radio frequency. normal change of the electronic circuit generated on the basis of this file causes.
  • the mutation can be posi ⁇ tioned in a statement that is described in the file or distributed over several test lines of the file.
  • RTL Register Transfer Level
  • a mutation is to be understood as meaning a functional mutation, unless stated otherwise.
  • Suitable types of mutation are, for example, logical negation errors, omission of logical factors, incorrect logical factors, omissions of logical expressions, incorrect logical expressions, incorrect numerical values and dropouts.
  • the mutations in the sense of the present invention are deliberate changes. Mutations already included in the first file represent changes to the programmer's intended programming goal depicted in the file. Such non-intentional mutations are to be used in tests during which the first file described integrated circuit is detected. However, this can only be the case with sufficient success if the test program has sufficient quality, ie the non-intentional mutations can actually be recognized by the test program.
  • the method according to the invention on the basis of the checking of the test program, offers a high guarantee that the integrated circuit has actually been adequately checked since low-quality test programs, ie test programs which provide no or no sufficient number of tests, which can find the non-deliberate mutations contained in the (first) file, can not be used to test the first file, or be modified that they provide tests that can find the non-intentional mutations.
  • the quality of the test program is determined by the comparison of the generated output values, which are generated by the integrated circuit, with the expected values contained in the test program.
  • the result of this comparison can be regarded as negative if the initial value obtained for a mutation is equal to the expected value generated for the initial value by the reference system. In this case, the mutation that would have had to cause a change in the initial value has not been recognized by the tests that have been carried out by the test program.
  • the result of the comparison can be regarded as positive if the initial value obtained for a mutation is not equal to the expectation value generated for the initial value by the reference system.
  • the mutation has caused a change in the output value (or the change in the output value is due to an involuntary mutation), indicating that the test performed by the test program is useful for testing the simulated circuit he a change, ie the deviation of the output values of the expected simulated circuit from the expected values.
  • the method can be continued according to one of the following alternatives:
  • Variant 2 The first file is changed and then steps (b) to (e) are repeated. This is particularly useful if the negative result is possibly due to non-deliberate mutations in the first file that influence the deliberate mutations in such a way that the changes caused by the latter do not affect the baseline values.
  • Variant 3 Tests are selected which respond to this mutation and provide changed starting values compared with the previous tests, and then repeat steps (b) to (e). This is particularly useful if it can be assumed that neither the reference system nor the simulated integrated circuit input values have been supplied, which led to expected values or output values, which are useful in terms of intended intended use of the integrated circuit.
  • the mutated integrated circuit can be realized by means of a hardware accelerator.
  • a preferred hardware accelerator is a field programmable gate array (FPGA).
  • FIG. 2 shows the first file in the form of an HDL file of an exemplary unmutated integrated circuit
  • the mutated integrated circuit described in HDL 'File 2 is simulated by the simulation program.
  • the built-in mutations are activated successively by a control program 52 (see FIG. 5) and, if appropriate, in a predetermined sequence, so that in each case only one mutation is activated.
  • the test program 70 carries out the tests that can respond to the respective akti ⁇ fourth mutation. These tests are summarized in Test ⁇ sets.
  • the test program 70 generates input values EgW, which are fed to the simulated mutated integrated circuit 61. These input values EgW are processed by the simulated mutated integrated circuit 61 and stored in Output values AW transferred.
  • the quality of the test program can be determined from the number of mutations detected by the test program in this way (reference numeral 7 in FIG. 1). If every mutation is detected, the quality of the test program is good. If not all mutations are recognized, this result is a worse result, although a value for the quality can be calculated from the ratio of the recognized mutations to the unrecognized mutations, which in turn has a predetermined value is compared. If the calculated value for the quality is higher than the predetermined value, then the test program can be evaluated as good.
  • FIG. 2 shows an example of a first file in the form of an HDL file 1, from which, as shown in FIG. 3, an imitated HDL 'file 2 was obtained by incorporating mutations in the HDL' file 1 have been.
  • the HDL shown in Fig. 2 contains the complete HDL code for a 4-bit up / down counter which has the data outputs CO, C1, C2 and C3 and counts from 0 to 15 or in the opposite direction. It includes the following data inputs:
  • Em makes it possible to actively activate a mutation in the mutations emn (n 1 to 13) inserted in the HDL 'file, while all other mutations are switched inactively.
  • the first file is an HDL file 101.
  • the HDL file 101 describes an integrated circuit which may contain non-deliberate mutations.
  • the first file is transferred to the computer represented by a dotted line, read into the simulation unit of the computer (reference numeral 102a), and there the integrated circuit is imaged (reference numeral 102b). From the illustrated integrated circuit, a mutated integrated circuit is created by incorporating functional mutations 103 provided by the test program in the manner described. A multiplexed integrated circuit is obtained, which is based on the integrated circuit described in HDL 1, but additionally has mutations.
  • the mutated integrated circuit is simulated by the simulation unit (reference numeral 104).
  • the built-in mutations are activated one after the other and, if appropriate, in a predetermined sequence by a control program 52 (see FIG. 5), so that only one mutation is activated at a time.
  • the test program carries out the tests which are able to respond to the respectively activated mutation. These tests are summarized in test sets sixteen ⁇ .
  • the test program 70 generates input values EgW, which are fed to the simulated, multiplexed integrated circuit 61. These input values EgW are processed by the simulated mutated integrated circuit 61 and thereby converted into output values AW.
  • the output values AW are then compared by the test program 70 with expected values EW (reference numeral 106 in FIG. 4), which are generated by the test program by means of a reference clock 105 (in FIG. 5, reference numeral 72).
  • EW reference numeral 106 in FIG. 4
  • the tests summarized in the test set are carried out successively until a test leads to output values which differ from the expected values. Subsequently, the activated mutation is switched inactive and - if not all built-in mutations have been tested - the next mutation is activated, which in turn is associated with a test set with tests that respond to this mutation activated now.
  • test program provides at least one test which test the corresponding mutation. This case is a positive test result because the test program detects the mutation.
  • the quality of the test program is thus good with respect to one mutation. If output values which differ from the expected values are not obtained for any test of the test set, the active mutation has had no influence on the processing of the input values to output values. This case is a negative test result since the test program does not recognize the mutation. The quality of the test program is thus poor in relation to the one mutation.
  • the control program 52 controls the simulation 60 (arrow 53) and the test program 70 (arrow 54). It also switches the mutations contained in the mutated integrated circuit 61 to active and inactive (arrow 55). It instructs the test program to carry out the tests associated with the actively switched mutation.
  • the test program 70 executes the tests for the mutations actively activated by the control program 52 according to the specifications of the control program 52, for which purpose it supplies the mutated integrated circuit 61 with input values EgW.
  • the output values AW obtained by the integrated circuit 61 for the input values EgW are returned to the test program 70, provided the comparison 74 is to be executed by the test program and is not performed elsewhere by the computer 51. If the output values AW are supplied to the test program 70, then it carries out a comparison 74 between the output values AW and expected values EW obtained for the actively switched mutation.
  • the evaluation 53 of the quality of the test program 70 is made and a report about a suitable Means 54, such as a monitor or a printer output.
  • the result of the comparison is further communicated to the control program 52 that, if the output values AW obtained for an actively switched mutation differ from the expected values EW, the execution of the tests associated with this mutation terminates, which were previously active switched mutation switches inactive and the next mutation can switch active (dashed arrow 56).

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms für mittels eines Computers simulierte integrierte Schaltungen, umfassend (a) das Bereitstellen einer ersten Datei, die eine integrierte Schaltung beschreibt; (b) das Simulieren einer mutierten integrierten Schaltung, die durch Einbau von Mutationen in die in der ersten Datei beschriebene integrierte Schaltung erhalten wird; (c) das Zuführen von Eingangswerten zu der mutierten integrierten Schaltung und Erfassen der für diese Eingangswerte von der mutierten integrierten Schaltung erzeugten Ausgangswerte; (d) den Vergleich der von der mutierten integrierten Schaltung erzeugten Ausgangswerte mit Erwartungswerten, die von dem Testprogramm bereitgestellt werden, wobei die Erwartungswerte in einem Referenzsystem generiert worden sind; und (e) die Bewertung der Güte des Testprogramms anhand der Vergleichsergebnisse.

Description

Beschreibung
Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms für mittels eines Computers simulierte integrierte Schaltungen.
Die Größe und Komplexität von integrierten Schaltungen nimmt ständig zu. Damit ist jedoch auch die Zunahme von Fehlern verbunden.
In der Regel werden integrierte Schaltungen mittels speziel¬ ler Computersprachen, sogenannten High Level Description Lan- guages (HDLs), beschrieben. Übliche HDLs sind VHDL und Veri- log. Der HDL-FiIe wird verwendet, um mittels spezieller Com- puterprogramme automatisch das Layout der Schaltungsanordnung und die erforderlichen photolithographischen Masken zu erzeu¬ gen, mit denen die tatsächliche Schaltungsanordnung herge- stellt werden kann.
Zur Vermeidung von Fehlern in den integrierten Schaltungen kann es jedoch erforderlich sein, die mittels des HDL-Files beschriebenen Schaltungsanordnungen zu testen. Zu diesem Zwecke werden Programme verwendet, die auf Grundlage des HDL- Files die integrierte Schaltung simulieren. Derartige Pro¬ gramme werden als Simulatoren bezeichnet. Ein solcher Simula¬ tor wirkt mit einer als Prüfbank ("Test-Bench") bezeichneten Einheit, dem Testprogramm (d. h. Computercode) zusammen, das die Eingangswerte ("Input") bereitstellt, die die integrierte Schaltung verarbeiten soll, und die Ergebnisse der Verarbei¬ tung (Ausgangswerte) in der simulierten Schaltung mit den er- warteten Ergebnissen vergleicht. Das Testprogramm beschreibt also (1) die Eingangswerte (ggf. im Form von Signalwellenfor¬ men), (2) die Leistungs- und Richtigkeitskriterien, die nach der Verarbeitung der Eingangswerte in der simulierten Schal- tung erhalten werden, und (3) die Handlungen, die der Simula¬ tor ausführen soll, wenn die Ergebnisse der Simulation den Leistungs- und Richtigkeitskriterien entsprechen oder wenn dies nicht der Fall ist.
Das Testergebnis hängt allerdings wesentlich von der Qualität und der Vollständigkeit des Testprogramms ab. Im Hinblick auf die hohe Zahl elektronischer Komponenten, die in dem HDL-FiIe beschrieben werden, ist es sehr schwierig, Prüfbanken zu schaffen, die der Komplexität der zu testenden simulierten integrierten Schaltung gerecht werden. Fehler in der simu¬ lierten Schaltung können nur dann gefunden werden, wenn das Testprogramm tatsächlich Tests vorsieht, die den fehlerhaften Bereich der simulierten integrierten Schaltung betreffen. An¬ derenfalls kann ein positives Testergebnis unter Umständen lediglich auf eine unzureichende Testung (bzw. Verifizierung) der integrierten Schaltung zurückzuführen sein. Eine Überprü¬ fung der Qualität und der Vollständigkeit des Testprogramms ist daher erforderlich. Die ohnehin geringe Geschwindigkeit der Softwaresimulation einer integrierten Schaltung wird durch Tests, die die Qualität und die Vollständigkeit des Testprogramms überprüfen sollen, allerdings weiter verrin¬ gert.
DE 199 59 157 Al beschreibt ein Verfahren zum funktionsmäßi- gen Simulieren und Überprüfen der Korrektheit eines Computer¬ programms, bei dem mutationsbehaftete Computerprogramme er¬ zeugt werden. Das Computerprogramm kann Quellcodemodule aus Funktionsmodellen einer integrierten Schaltung aufweisen. Das Verfahren simuliert ein Computerprogramm, in das eine syntak¬ tische Mutation eingebaut wurde, um festzustellen, ob diese Mutation im Kontext des Computerprogramms eine feine oder grobe Mutation ist. Ist die Mutation eine grobe Mutation so wird die Simulation beendet; ist die Mutation dagegen eine feine Mutation so wird versucht, diese Mutation innerhalb ei¬ nes vorbestimmten Zeitraums zu erfassen. Das Verfahren bewer¬ tet somit die Güte eines Computerprogramms, indem es ver- sucht, den Einfluß der Mutation im Kontext des Computerpro¬ gramms zu bestimmen. Das offenbarte System vergleicht dazu das mutationsbehaftete Computerprogramm mit dem nicht mutier¬ ten Computerprogramm. Es ist daher nur zur Bestimmung der Gü¬ te der Stimulation der Mutationen durch die Testumgebung ge- eignet. Auf die Güte des eigentlich zu testenden Computerpro¬ gramms kann daraus nur indirekt geschlossen werden. Fehler, die bereits in der nicht mutierten Schaltung enthalten sind, können nur dann erkannt werden, wenn die Mutation tatsächlich Auswirkungen auf die Fehler hat. Dies ist jedoch nicht zwin- gend der Fall. Die Güte des Computerprogramms kann somit mit dem vorgeschlagenen System nur unzureichend bestimmt werden.
Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile nach dem Stand der Technik zu beseitigen. Insbesondere soll ein Verfahren angegeben werden, daß die Bewertung der Güte eines Testpro- gramms für mittels eines Computers simulierte integrierte Schaltungen mit höherer Qualität ermöglicht.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst. Zweckmäßige Ausgestaltungen der Erfindungen ergeben sich aus den Merkmalen der Ansprüche 2 bis 14. Nach Maßgabe der Erfindung ist ein Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms für mittels eines Computers si¬ mulierte integrierte Schaltungen vorgesehen, das folgendes umfaßt:
Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms für mit¬ tels eines Computers simulierte integrierte Schaltungen, um¬ fassend
(a) das Bereitstellen einer ersten Datei, die eine integrier¬ te Schaltung beschreibt;
(b) das Simulieren einer mutierten integrierten Schaltung, die durch Einbau von Mutationen in die in der ersten Datei beschriebene integrierte Schaltung erhalten wird;
(c) das Zuführen von Eingangswerten zu der mutierten inte¬ grierten Schaltung und Erfassen der für diese Eingangswerte von der mutierten integrierten Schaltung erzeugten Ausgangs- werte;
(d) den Vergleich der von der mutierten integrierten Schal¬ tung erzeugten Ausgangswerte mit Erwartungswerten, die von dem Testprogramm bereitgestellt werden, wobei die Erwartungs- werte in einem Referenzsystem generiert worden sind; und
(e) die Bewertung der Güte des Testprogramms anhand der Ver¬ gleichsergebnisse.
Das erfindungsgemäße Verfahren vergleicht somit die von der mutierten integrierten Schaltung genierten Ausgangswerte mit Erwartungswerten, die aus einer unabhängigen Quelle, d. h. dem Referenzsystem stammen. Die Erwartungswerte sollen in ei¬ nem Referenzsystem generiert werden, das unabhängig von der in der ersten Datei beschriebenen integrierten Schaltung ist. Unter "unabhängig" wird dabei verstanden, daß das Referenzsy- stem nicht auf der ersten Datei basiert, sondern funktionelle Unterschiede gegenüber der integrierten Schaltung, die in der ersten Datei beschrieben wird, aufweist. Vorteilhafterweise kann das Referenzsystem in einer anderen Programmiersprache und/oder durch einen zweiten Programmierer programmiert sein.
In einer ersten Ausführungsform umfaßt Schritt (b) folgende Schritte:
(bl) das Erzeugen einer zweiten Datei, die die mutierte inte- grierte Schaltung beschreibt, aus der ersten Datei durch den Einbau der Mutationen in die erste Datei; und
(b2) das Simulieren der mutierten integrierten Schaltung.
Alternativ kann Schritt (b) in einer zweiten Ausführungsform folgende Schritte umfassen:
(bl) das Einlesen der ersten Datei in das Simulationsprogramm des Computers;
(b2) das Abbilden der in der ersten Datei beschriebenen inte¬ grierten Schaltung in dem Simulationsprogramm;
(b3) den Einbau der Mutationen in die in dem Simulationspro- gramm abgebildete integrierte Schaltung, wodurch die mutierte integrierte Schaltung erhalten wird; und (b4) das Simulieren der mutierten integrierten Schaltung.
Die erste Datei kann aus einer Vielzahl von Unterdateien be¬ stehen, die dann zusammen die integrierte mutierte Schaltung beschreiben.
Das Simulationsprogramm des Computers ist der Teil des Compu¬ ters, indem die Simulation der mutierten integrierten Schal¬ tung durchgeführt wird.
Der Einbau der Mutationen in die integrierte Schaltung umfaßt in beiden Ausführungsformen zweckmäßigerweise folgende Schritte:
(i) Analyse der ersten Datei, um die Stellen in der ersten Datei aufzufinden, an denen Mutationen eingebaut werden kön¬ nen, und für jede aufgefundene Stelle den Typ der Mutation zu bestimmen, der an dieser Stelle eine Änderung des Verhaltens der integrierten Schaltung bewirkt;
(ii) Analyse der Tests, die das Testprogramm ausführen kann, um die Tests auszuwählen, die Eingangswerte bereitstellen, die eine Mutation ansprechen können; und
(iii) Auswahl der Mutationen, die an einer gemäß Schritt (i) aufgefundenen Stelle eine Änderung des Verhaltens der inte¬ grierten Schaltung bewirken und die durch einen der Tests an¬ gesprochen werden können, und Erzeugen der mutierten integrierten Schaltung.
Unter dem Ausdruck "eine Mutation ansprechen" ist im Sinne der vorliegenden Erfindung zu verstehen, daß eine aktiv ge- schaltete Mutation an der Verarbeitung der Eingangswerte be¬ teiligt und an der Generierung der Ausgangswerte mitwirken kann. Ob sie tatsächlich beteiligt ist oder mitwirkt, d. h. eine Veränderung der Ausgangswerte bewirkt, wird durch den Vergleich der Ausgangswerte mit den Erwartungswerten über¬ prüft.
Unter einer aktivierten, aktiven oder aktiv geschalteten Mu¬ tation ist folgendes zu verstehen: Erfindungsgemäß weist die mutierte integrierte Schaltung Mutationen gegenüber der in der ersten Datei beschriebenen integrierten Schaltung auf. Diese Mutationen sind zunächst inaktiviert, d. h. die in der ersten Datei beschriebene integrierte Schaltung liefert genau dieselben Ausgangswerte wie die mutierte integrierte Schal- tung, da keine der Mutationen an der Verarbeitung der Ein¬ gangswerte teilnimmt. Im Lauf des Verfahrens wird jedoch nacheinander immer genau eine der eingebauten Mutationen ak¬ tiv geschaltet, d. h. die aktiv geschaltete Mutation kann an der Verarbeitung der Eingangswerte teilnehmen. Dabei wurden die Tests, die die Eingangswerte liefern, so ausgewählt, daß sie der aktiv geschaltete Mutation ansprechen.
Tests, die eine der ausgewählten Mutationen zumindest einmal ansprechen können, werden zweckmäßigerweise zu einem Testset zusammengefaßt. Tests, die eine ausgewählte Mutation zumin¬ dest einmal ansprechen können, werden im folgenden auch als dieser Mutation zugeordnete Tests bezeichnet. Testsets, die diese Tests umfassen, werden auch als dieser Mutation zuge¬ ordnete Testsets bezeichnet.
Unter einer Mutation wird im Sinne der vorliegenden Erfindung eine Veränderung der ersten Datei verstanden, die eine funk- tionelle Veränderung der elektronischen Schaltung, die auf Basis dieser Datei generiert wird, bewirkt. Die Mutation kann in einer Anweisung, die in der Datei beschrieben ist, posi¬ tioniert werden oder über mehrere Testzeilen der Datei ver- teilt sein. Im Sinne der vorliegenden Erfindung sind Mutatio¬ nen funktionelle Mutationen, die in die RTL-Ebene (RTL = Re¬ gister Transfer Level) oder eine höhere Ebene (Systemebene oder algorithmische Ebene) der integrierten Schaltung einge¬ baut werden. Im folgenden ist unter einer Mutation eine funk- tionelle Mutation zu verstehen, sofern nichts anderes angege¬ ben ist.
Geeignete Mutationstypen sind beispielsweise logische Negati¬ onsfehler, Auslassen logischer Faktoren, unkorrekte logische Faktoren, Auslassungen von logischen Ausdrücken, unkorrekte logische Ausdrücke, unkorrekte numerische Werte und Fallaus,- lassungen. Die Mutationen im Sinne der vorliegenden Erfindung sind willentliche Veränderungen. Mutationen, die in der er¬ sten Datei bereits enthalten sind, stellen Änderungen gegen- über dem vom Programmierer tatsächlich beabsichtigten Pro¬ grammierziel, das in der Datei abgebildet wird, dar. Solche nicht-willentlichen Mutationen sollen in Tests, während denen die in der ersten Datei beschriebene integrierte Schaltung simuliert wird, erkannt werden. Dies kann jedoch nur dann mit hinreichendem Erfolg der Fall sein, wenn das Testprogramm ei¬ ne ausreichende Güte aufweist, d. h. die nicht-willentlichen Mutationen tatsächlich von dem Testprogramm erkannt werden können. Diese Fähigkeit, d. h. die Fähigkeit des Testpro¬ gramms, Mutationen zu erkennen, wird durch den willentlichen Einbau von Mutationen in die erste Datei und Simulieren der erhaltenen mutierten integrierten Schaltung überprüft. Er¬ kennt das Testprogramm die willentlich eingebauten Mutationen nicht, so ist nicht zu erwarten, daß es nicht-willentlich eingebaute Mutationen erkennen kann, da das Testprograiran in diesem Fall keine Tests ausführt, die Mutationen dieses Typs an der Stelle, an der die Mutation willentlich eingebaut wor- den ist, auffinden könnten. Das erfindungsgemäße Verfahren, das es ermöglicht, zunächst das Testprogramm auf seine Eig¬ nung zu testen, die integrierte Schaltung zu testen, die in der ersten Datei beschrieben wird, stellt somit eine erhebli¬ che qualitative Verbesserung gegenüber den bisherigen Test- verfahren für integrierte Schaltungen dar, da das Testergeb¬ nis, das beim Testen der ersten Datei durch Simulation der darin beschriebenen integrierten Schaltung erhalten wird, entscheidend von der Güte des Testprogramms abhängt. Ist die Güte des Testprogramms gering (dies ist der Fall, wenn es keine oder keine hinreichende Zahl von Tests bereitstellt, die die in der (ersten) Datei enthaltenen nicht-willentlichen Mutationen auffinden können) , so wird bei Ausführung dieses Testprogramms ein positives Testergebnis erhalten, das den Tatsachen aufgrund der Mängel des Testprogramms nicht ent- spricht. Die aufgrund dieses Testergebnisses hergestellte in¬ tegrierte Schaltung ist tatsächlich nicht hinreichend gete¬ stet worden und kann erhebliche Fehler, die aus den nicht¬ willentlichen Mutationen resultieren, aufweisen. Demgegenüber bietet das erfindungsgemäße Verfahren aufgrund der Überprü- fung des Testprogramms eine hohe Gewähr dafür, daß die inte¬ grierte Schaltung tatsächlich hinreichend überprüft worden ist, da Testprogramme mit geringer Güte, d. h. Testprogramme, die keine oder keine hinreichende Zahl von Tests bereitstel¬ len, die die in der (ersten) Datei enthaltenen nicht- willentlichen Mutationen auffinden können, zum Testen der er¬ sten Datei nicht eingesetzt werden oder so verändert werden, daß sie Tests bereitstellen, die die nicht-willentlichen Mu¬ tationen auffinden können.
Im folgenden wird unter einer Mutation eine willentliche Mu- tation verstanden.
Die Güte des Testprogramms wird, wie bereits erläutert, durch den Vergleich der generierten Ausgangswerte, die von der si¬ mulierten integrierten Schaltung generiert werden, mit den Erwartungswerten, die in dem Testprogramm enthalten sind, be¬ stimmt. Das Ergebnis dieses Vergleiches kann als negativ an¬ gesehen werden, wenn der für eine Mutation erhaltene Aus¬ gangswert dem für den Ausgangswert vom Referenzsystem gene¬ rierten Erwartungswert gleicht. In diesem Fall ist die Muta- tion, die ja eine Veränderung des Ausgangswertes hätte bewir¬ ken müssen, von den Tests, die von dem Testprogramm ausge¬ führt worden sind, nicht erkannt worden.
Im Gegensatz dazu kann das Ergebnis des Vergleiches als posi- tiv angesehen werden, wenn der für eine Mutation erhaltene Ausgangswert ungleich dem für den Ausgangswert vom Referenz¬ system erzeugten Erwartungswert ist. In diesem Fall hat die Mutation eine Veränderung des Ausgangswertes bewirkt (oder die Veränderung des Ausgangswertes beruht auf einer nicht- willentlichen Mutation) , was zeigt, daß der Test, der von dem Testprogramm ausgeführt wird, für das Testen der simulierten Schaltung nützlich ist, da er eine Veränderung, d.h. die Ab¬ weichung der von der simulierten Schaltung genierten Aus¬ gangswerte von den Erwartungswerten, erkennt.
Die Anforderungen, die an die Güte des Testprogramms gestellt werden, hängen natürlich von den Vorgaben ab, die von dem An- wender an die Güte der integrierten Schaltung, die in der er¬ sten Datei beschrieben wird, gestellt werden. In einer bevor¬ zugten Ausführungsform wird die Güte des Testprogramms aus dem Verhältnis der Anzahl der positiven Vergleichsergebnisse zur Anzahl der negativen Vergleichsergebnisse ermittelt. Dann kann die Güte des Testprogramms mit gut bewertet werden, wenn für jede eingebaute Mutation ein positives Vergleichsergebnis erhalten wird. Alternativ kann die Güte des Testprogramms mit gut bewertet werden, wenn die Anzahl der Mutationen, für die ein positives Vergleichsergebnis erhalten wird, einen vorge¬ gebenen Wert übersteigt.
Ist das Ergebnis des Vergleiches für eine Mutation negativ, so kann das Verfahren nach einer der folgenden Alternativen fortgeführt werden:
Variante 1: Der Erwartungswert für diese Mutation wird verän¬ dert und anschließend die Schritte (b) bis (e) wiederholt werden. Dies ist insbesondere dann sinnvoll, wenn zweifelhaft ist, ob die Erwartungswerte, die von dem Referenzsystem ge¬ liefert werden, tatsächlich den vom Programmier der ersten Datei beabsichtigten Ausgangswerten entsprechen.
Variante 2: Die erste Datei wird verändert, und anschließend werden die Schritte (b) bis (e) wiederholt. Dies ist insbe¬ sondere dann sinnvoll, wenn das negative Ergebnis möglicher¬ weise auf nicht-willentliche Mutationen in der ersten Datei zurückzuführen ist, die die willentlichen Mutationen derart beeinflussen, daß die von letzteren bewirkten Veränderungen sich nicht auf die Ausgangswerte auswirken. Variante 3: Es werden Tests ausgewählt, die dieser Mutation ansprechen und gegenüber den bisherigen Tests veränderte Ein¬ gangswerte bereitstellen, und anschließend die Schritte (b) bis (e) wiederholt. Dies ist insbesondere dann sinnvoll, wenn vermutet werden kann, daß weder dem Referenzsystem noch der simulierten integrierten Schaltung Eingangswerte zugeführt worden sind, die zu Erwartungswerten bzw. Ausgangswerten führten, die im Hinblick auf den beabsichtigten Verwendungs¬ zweck der integrierten Schaltung sinnvoll sind.
Die mutierte integrierte Schaltung kann mittels eines Hard¬ warebeschleunigers realisiert werden. Eine bevorzugter Hard¬ warebeschleuniger ist eine feldprogrammierbare Gateanordnung (FPGA) .
Das erfindungsgemäße Verfahren ist nicht auf die Bewertung der Güte eines Testprogramms für mittels eines Computers si¬ mulierte integrierte Schaltungen beschränkt. Das Verfahren kann ebenso zur Bewertung der Güte von Computerprogrammen verwendet werden. In diesem Fall ist unter dem Begriff "inte¬ grierte Schaltung" ein Computerprogramm und unter dem Begriff "mutierte integrierte Schaltung" ein imitiertes Computerpro¬ gramm zu verstehen. Ferner ist der Begriff "Simulieren" durch "Ausführen" zu ersetzen.
In diesem Fall ist somit ein Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms für ein Computerprogramm, umfassend
(a) das Bereitstellen einer ersten Datei, die ein Computer- programm beschreibt; (b) das Ausführen eines mutierten Computerprogramms, das durch Einbau von Mutationen in das in der ersten Datei be¬ schriebene Computerprogramm erhalten wird;
(c) das Zuführen von Eingangswerten zu dem mutierten Compu¬ terprogramm und Erfassen der für diese Eingangswerte von dem mutierten Computerprogramm erzeugten Ausgangswerte;
(d) den Vergleich der von dem mutierten Computerprogramm er- zeugten Ausgangswerte mit Erwartungswerten, die von dem Test¬ programm bereitgestellt werden, wobei die Erwartungswerte in einem Referenzsystem generiert worden sind; und
(e) die Bewertung der Güte des Testprogramms anhand der Ver- gleichsergebnisse.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Zeichnungen 'näher erläutert. Dabei zeigt
Fig. 1 ein Flußdiagramm zur Veranschaulichung einer ersten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens;
Fig. 2 die erste Datei in Form eines HDL-Files einer bei¬ spielhaften unmutierten integrierten Schaltung; und
Fig. 3 die aus der ersten Datei erhaltene zweite Datei in Form eines HDL-Files einer mutierten integrierten Schaltung.
Fig. 4 ein Flußdiagramm zur Veranschaulichung einer zwei¬ ten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfah¬ rens; und Fig. 5 eine schematische Darstellung des der Erfindung zugrundeliegenden Prinzips.
Nach Fig. 1, die eine erste Ausführungsform des erfindungsge¬ mäßen Verfahrens zeigt, ist die erste Datei ein HDL-FiIe 1. Der HDL-FiIe 1 beschreibt eine integrierte Schaltung, die nicht-willentliche Mutationen enthalten kann. Die erste Datei wird in den Computer, der durch eine gestrichelte Linie dar- gestellt ist, überführt. In dem Computer wird aus dem HDL- FiIe 1 ein mutierter HDL-FiIe erzeugt, der die zweite Datei darstellt und als HDL'-File 2 bezeichnet ist. Dazu werden funktionelle Mutationen 3, die von dem Testprogramm bereitge¬ stellt werden, in der beschriebenen Weise in den HDL-FiIe 1 eingebaut. Der erhaltene HDL'-File 2 beschreibt eine mutierte integrierte Schaltung, die auf der in dem HDL-FiIe 1 be¬ schriebenen integrierten Schaltung basiert, jedoch zusätzlich Mutationen aufweist.
Die im HDL'-File 2 beschriebene mutierte integrierte Schal¬ tung wird von dem Simulationsprogramm simuliert. Während der Simulation 4 werden von einem Steuerprogramm 52 (siehe dazu Fig. 5) die eingebauten Mutationen nacheinander und - sofern dies zweckmäßig ist - in einer vorgegebenen Reihenfolge akti- viert, so daß jeweils nur eine Mutation aktiviert ist. Das Testprogramm 70 führt die Tests aus, die die jeweils akti¬ vierte Mutation ansprechen können. Dieses Tests sind in Test¬ sets zusammengefaßt. Das Testprogramm 70 generiert in Abhän¬ gigkeit von dem ausgewählten Test Eingangswerte EgW, die der simulierten mutierten integrierten Schaltung 61 zugeführt werden. Diese Eingangswerte EgW werden von der simulierten mutierten integrierten Schaltung 61 verarbeitet und dabei in Ausgangswerte AW überführt. Die Ausgangswerte AW werden dann von dem Testprogramm 70 mit Erwartungswerten EW verglichen (Bezugszeichen 6 in Fig. 1) , die von dem Testprogramm 70 mit¬ tels eines Referenzsystexns 5 (in Fig. 5 Bezugszeichen 72) ge- neriert werden. Die in dem Testset zusammengefaßten Tests werden solange nacheinander ausgeführt, bis ein Test zu Aus¬ gangswerten AW führt, die sich von den Erwartungswerten EW unterscheiden. Anschließend wird die aktivierte Mutation in¬ aktiv geschaltet und - sofern noch nicht alle eingebauten Mu- tationen getestet worden sind - die nächste Mutation akti¬ viert, der wiederum ein Testset mit Tests, die diese nun ak¬ tivierte Mutation ansprechen, zugeordnet ist.
Es ist somit nicht erforderlich, alle Tests, die in einem Testset zusammengefaßt sind, auszuführen. Die Ausführung der Tests eines Testsets für eine Mutation kann abgebrochen wer¬ den, sobald die Ausgangswerte, die bei der Ausführung eines Tests erhalten werden, sich von den Erwartungswerten unter¬ scheiden. Wird festgestellt, daß ein Test in einem Testset die zugehörige Mutation tatsächlich anspricht (was sich in der fehlenden Übereinstimmung der Ausgangswerte mit den Er¬ wartungswerten widerspiegelt) , so kann aus dieser Feststel¬ lung gefolgert werden, daß das Testprogramm zumindest einen Test bereitstellt, der die zugehörige Mutation testen kann. Dieser Fall ist ein positives Testergebnis, da das Testpro¬ gramm die Mutation erkennt. Die Güte des Testprogramms ist somit in bezug auf die eine Mutation gut. Werden für keinen Test des Testsets Ausgangswerte erhalten, die sich von den Erwartungswerten unterscheiden, so hat die aktive Mutation keinen Einfluß auf die Verarbeitung der Eingangswerte zu Aus¬ gangswerten gehabt. Dieser Fall ist ein negatives Testergeb¬ nis, da das Testprogramm die Mutation nicht erkennt. Die Güte des Testprogramms ist somit in bezug auf die eine Mutation schlecht.
Aus der Anzahl der auf diese Weise vom Testprogramm erkannten Mutationen kann die Güte des Testprogramms ermittelt werden (Bezugszeichen 7 in Fig. 1) . Wird jede Mutation erkannt, so ist die Güte des Testprogramms gut. Werden nicht alle Muta¬ tionen erkannt, so ist dieses Ergebnis ein schlechteres Er¬ gebnis, wobei allerdings aus dem Verhältnis der erkannten Mu- tationen zu den nicht erkannten Mutationen ein Wert für die Güte berechnet werden kann, der wiederum mit einem vorgegebe¬ nen Wert verglichen wird. Ist der berechnete Wert für die Gü¬ te höher als der vorgegebene Wert, so kann das Testprogramm als gut bewertet werden.
In Fig. 2 wird ein Beispiel einer ersten Datei in Form eines HDL-FiIe 1 gezeigt, aus dem, wie in Fig. 3 gezeigt wird, ein imitierter HDL'-File 2 erhalten wurde, indem Mutationen in den HDL'-File 1 eingebaut worden sind.
Der in Fig. 2 dargestellte HDL-FiIe enthält den vollständigen HDL-Code für einen 4-Bit-Vorwärts/Rückwärts-Zähler, der die Datenausgänge CO, Cl, C2 und C3 aufweist und von 0 bis 15 oder in entgegengesetzter Richtung zählt. Er umfaßt folgende Dateneingänge:
Reset: der Zähler wird bei Reset = 0 auf den Wert 0 zu¬ rückgesetzt, wenn eine steigende Clock-Flanke vor-liegt (d. h. Clock von 0 auf 1 geht);
Clock: Takteingang - steigende Flanke (auch als "Clock- Flanke" bezeichnet) UpDown: der Zähler addiert bei UpDown = 1; er subtrahiert bei UpDown = 0
Count: der Wert des Zählers wird mit der steigenden Clock- Flanke um eins erhöht, wenn Count = 1, Reset = 1 und UpDown = 1; der Wert des Zählers wird mit der steigenden Clock-Flanke um eins verringert, wenn Count = 1, Reset = 1 und UpDown = 0; der Wert des Zählers wird nicht verändert, wenn Count = 0 und Reset = 1.
Der in Fig. 3 dargestellte HDL'-File enthält funktionelle Mu¬ tationen, die in den in Fig. 2 dargestellten HDL-FiIe einge¬ fügt worden sind. Der HDL' -Code beschreibt einen 4-Bit- Vorwärts/Rückwärts-Zähler, der die Datenausgänge CO, Cl, C2 und C3 aufweist und von 0 bis 15 oder in entgegengesetzter Richtung zählt. Er umfaßt folgende Dateneingänge:
Reset: der Zähler wird bei Reset = 0 auf den Wert 0 zu- rückgesetzt, wenn eine steigende Clock-Flanke vor-liegt (d. h. Clock von 0 auf 1 geht) ;
Clock: Takteingang - steigende Flanke
UpDown: der Zähler addiert bei UpDown = 1; er subtrahiert bei UpDown = 0
Count: der Wert des Zählers wird mit der steigenden Clock- Flanke um eins erhöht, wenn Count = 1, Reset = 1 und UpDown = 1; der Wert des Zählers wird mit der steigenden Clock-Flanke um eins verringert, wenn Count = 1, Reset = 1 und UpDown = 0; der Wert des Zählers wird nicht verändert, wenn Count = 0 und Reset = 1.
Em ermöglicht es, eine Mutation emi der in den HDL'-File eingefügten Mutationen emn (n 1 bis 13) aktiv zu schalten, während alle anderen Mutationen inak-tiv geschaltet sind.
Die einzelnen Mutationen sind in dem HDL'-File 2 binär als em = "0011" (eml), em = 2"0100" (em2) ... em = "1110" (eml3) co- diert.
Nach Fig. 4, die eine zweite Ausführungsform des erfindungs¬ gemäßen Verfahrens zeigt, ist die erste Datei ein HDL- FiIe 101. Der HDL-FiIe 101 beschreibt eine integrierte Schal- tung, die nicht-willentliche Mutationen enthalten kann. Die erste Datei wird in den Computer, der durch eine gestrichelte Linie dargestellt ist, überführt, in die Simulationseinheit des Computers eingelesen (Bezugszeichen 102a) und dort die integrierte Schaltung abgebildet (Bezugszeichen 102b) . Aus der abgebildeten integrierten Schaltung wird eine mutierte integrierte Schaltung erzeugt, indem funktionelle Mutatio¬ nen 103, die von dem Testprogramm bereitgestellt werden, in der beschriebenen Weise eingebaut werden. Es wird eine mu¬ tierte integrierte Schaltung erhalten, die auf der in dem HDL-FiIe 1 beschriebenen integrierten Schaltung basiert, je¬ doch zusätzlich Mutationen aufweist.
Die mutierte integrierte Schaltung wird von der Simulations¬ einheit simuliert (Bezugszeichen 104) . Während der Simulati- on 104 werden von einem Steuerprogramm 52 (siehe dazu Fig. 5) die eingebauten Mutationen nacheinander und - sofern dies zweckmäßig ist - in einer vorgegebenen Reihenfolge aktiviert, so daß jeweils nur eine Mutation aktiviert ist. Das Testpro¬ gramm führt die Tests aus, die die jeweils aktivierte Mutati¬ on ansprechen können. Diese Tests sind in Testsets zusammen¬ gefaßt. Das Testprogramm 70 generiert in Abhängigkeit von dem ausgewählten Test Eingangswerte EgW, die der simulierten mu¬ tierten integrierten Schaltung 61 zugeführt werden. Diese Eingangswerte EgW werden von der simulierten mutierten inte¬ grierten Schaltung 61 verarbeitet und dabei in Ausgangswerte AW überführt. Die Ausgangswerte AW werden dann von dem Test- programm 70 mit Erwartungswerten EW verglichen (Bezugszei¬ chen 106 in Fig. 4), die von dem Testprogramm mittels eines Referenzsysterus 105 (in Fig. 5 Bezugszeichen 72) generiert werden. Die in dem Testset zusammengefaßten Tests werden so¬ lange nacheinander ausgeführt, bis ein Test zu Ausgangswerten führt, die sich von den Erwartungswerten unterscheiden. An¬ schließend wird die aktivierte Mutation inaktiv geschaltet und - sofern noch nicht alle eingebauten Mutationen getestet worden sind - die nächste Mutation aktiviert, der wiederum ein Testset mit Tests, die diese nun aktivierte Mutation an- sprechen, zugeordnet ist.
Es ist somit nicht erforderlich, alle Tests, die in einem Testset zusammengefaßt sind, auszuführen. Die Ausführung der Tests eines Testsets für eine Mutation kann abgebrochen wer- den, sobald die Ausgangswerte, die bei der Ausführung eines Tests erhalten werden, sich von den Erwartungswerten unter¬ scheiden. Wird festgestellt, daß ein Test in einem Testset die zugehörige Mutation tatsächlich anspricht (was sich in der fehlenden Übereinstimmung der Ausgangswerte mit den Er- wartungswerten widerspiegelt) , so kann aus dieser Feststel¬ lung gefolgert werden, daß das Testprogramm zumindest einen Test bereitstellt, der die zugehörige Mutation testen kann. Dieser Fall ist ein positives Testergebnis, da das Testpro- gramm die Mutation erkennt. Die Güte des Testprogramms ist somit in bezug auf die eine Mutation gut. Werden für keinen Test des Testsets Ausgangswerte erhalten, die sich von den Erwartungswerten unterscheiden, so hat die aktive Mutation keinen Einfluß auf die Verarbeitung der Eingangswerte zu Aus¬ gangswerten gehabt. Dieser Fall ist ein negatives Testergeb¬ nis, da das Testprogramm die Mutation nicht erkennt. Die Güte des Testprogramms ist somit in bezug auf die eine Mutation schlecht.
Aus der Anzahl der auf diese Weise vom Testprogramm erkannten
Mutationen kann die Güte des Testprogramms ermittelt werden
(Bezugszeichen 107 in Fig. 1) . Wird jede Mutation erkannt, so ist die Güte des Testprogramms gut. Werden nicht alle Muta¬ tionen erkannt, so ist dieses Ergebnis ein schlechteres Er¬ gebnis, wobei allerdings aus dem Verhältnis der erkannten Mu¬ tationen zu den nicht erkannten Mutationen ein Wert für die Güte berechnet werden kann, der wiederum mit einem vorgegebe- nen Wert verglichen wird. Ist der berechnete Wert für die Gü¬ te höher als der vorgegebene Wert, so kann das Testprogramm als gut bewertet werden.
Fig. 5 zeigt in schematischer Darstellung einen Computer 51, der ein Simulationsprogramm (nicht gezeigt) , ein Steuerpro¬ gramm 52, ein Programm 53 zur Bewertung der Güte des Testpro¬ gramms auf Basis der Anzahl der erkannten und der Anzahl der nicht-erkannten Mutationen sowie eine Einrichtung 54 zur Ausgabe des Bewertungsergebnisses umfaßt. Das Simulationspro- gramm simuliert die mutierte integrierte Schaltung 61, die gemäß den in Fig. 1 und Fig. 4 dargestellten Ausführungsfor¬ men erhalten werden kann. Das Simulationsprogramm führt fer- ner das Testprogramm 70 aus. Das Ausführen des Testpro- gramms 70 und die Simulation der mutierten integrierten Schaltung 61 sind als Simulation 60 zusammengefaßt. Das Test¬ programm 70 generiert 71 die Eingangswerte EgW für jeden aus- zuführenden Test und generiert 73 die Erwartungswerte EW mit¬ tels eines Referenzsystems 72. Es kann zusätzlich den Ver¬ gleich 74 der von der mutierten integrierten Schaltung ge¬ nierten Ausgangswerte AW ausführen, wobei der Vergleich auch außerhalb des Testprogramms 70 von dem Computer 51 vorgenom- men werden kann.
Das Steuerprogramm 52 steuert die Simulation 60 (Pfeil 53) und das Testprogramm 70 (Pfeil 54) . Es schaltet ferner die Mutationen, die der mutierte integrierten Schaltung 61 ent- halten sind, aktiv und inaktiv (Pfeil 55) . Es weist das Test¬ programm an, die Tests auszuführen, die der aktiv geschalte¬ ten Mutation zugeordnet sind.
Das Testprogramm 70 führt nach den Vorgaben des Steuerpro- gramms 52 die Tests für die von dem Steuerprogramm 52 aktiv geschalteten Mutationen aus, wozu es die mutierte integrierte Schaltung 61 mit Eingangswerten EgW versorgt. Die von der mu¬ tierten integrierten Schaltung 61 für die Eingangswerte EgW erhaltenen Ausgangswerte AW werden dem Testprogramm 70 wie- derzugeführt, sofern der Vergleich 74 von dem Testprogramm ausgeführt werden soll und nicht an anderer Stelle von dem Computer 51 durchgeführt wird. Werden die Ausgangswerte AW dem Testprogramm 70 zugeführt, so führt es einen Vergleich 74 zwischen den für die aktiv geschaltete Mutation erhaltenen Ausgangswerten AW und Erwartungswerten EW durch. Anhand der Vergleichsergebnisse wird die Bewertung 53 der Güte des Test¬ programms 70 vorgenommen und ein Bericht über ein geeignetes Mittel 54, beispielsweise einen Monitor oder einen Drucker, ausgegeben.
Das Ergebnis des Vergleichs wird ferner dem Steuerprogramm 52 übermittelt, daß, wenn die für eine aktiv geschaltete Mutati¬ on erhaltenen Ausgangswerte AW sich von den Erwartungswerten EW unterscheiden, die Ausführung der Tests, die dieser Muta¬ tion zugeordnet sind, abbricht, die bisher aktiv geschaltete Mutation inaktiv schaltet und die nächste Mutation aktiv schalten kann (gestrichelter Pfeil 56) .

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms für mittels eines Computers simulierte integrierte Schaltun¬ gen, umfassend
(a) das Bereitstellen einer ersten Datei, die eine inte¬ grierte Schaltung beschreibt;
(b) das Simulieren einer mutierten integrierten Schal¬ tung, die durch Einbau von Mutationen in die in der er¬ sten Datei beschriebene integrierte Schaltung erhalten wird;
(c) das Zuführen von Eingangswerten zu der mutierten in¬ tegrierten Schaltung und Erfassen der für diese Ein¬ gangswerte von der mutierten integrierten Schaltung er¬ zeugten Ausgangswerte;
(d) den Vergleich der von der mutierten integrierten Schaltung erzeugten Ausgangswerte mit Erwartungswerten, die von dem Testprogramm bereitgestellt werden, wobei die Erwartungswerte in einem Referenzsystem generiert worden sind; und
(e) die Bewertung der Güte des Testprogramms anhand der Vergleichsergebnisse.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Schritt (b) folgende Schritte umfaßt: (bl) das Erzeugen einer zweiten Datei, die die mutierte integrierte Schaltung beschreibt, aus der ersten Datei durch den Einbau der Mutationen in die erste Datei; und
(b2) das Simulieren der mutierten integrierten Schal¬ tung.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Schritt (b) folgende Schritte umfaßt:
(bl) das Einlesen der ersten Datei in das Simulations¬ programm des Computers;
(b2) das Abbilden der in der ersten Datei beschriebenen integrierten Schaltung in der Simulationseinheit;
(b3) den Einbau der Mutationen in die in der Simulationseinheit abgebildete integrierte Schaltung, wodurch die mutierte integrierte Schaltung erhalten wird; und
(b4) das Simulieren der mutierten integrierten Schal¬ tung.
4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Datei aus einer Vielzahl von Unterdateien besteht, die zusammen die integrierte mutierte Schaltung beschreiben.
5. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Einbau der Mutationen in die in¬ tegrierte Schaltung folgende Schritte umfaßt:
(i) Analyse der ersten Datei, um die Stellen in der er¬ sten Datei aufzufinden, an denen Mutationen eingebaut werden können, und für jede aufgefundene Stelle den Typ der Mutation zu bestimmen, der an dieser Stelle eine Än¬ derung des Verhaltens der integrierten Schaltung be- wirkt;
(ii) Analyse der Tests, die das Testprogramm ausführen kann, um die Tests auszuwählen, die Eingangswerte be¬ reitstellen, die eine Mutation ansprechen können; und
(iii) Auswahl der Mutationen, die an einer gemäß Schritt (i) aufgefundenen Stelle eine Änderung des Ver¬ haltens der integrierten Schaltung bewirken und die durch einen der Tests angesprochen werden können, und Erzeugen der mutierten integrierten Schaltung.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß es ferner das Zusammenstellen der Tests, die eine der ausgewählten Mutation zumindest einmal ansprechen kön- nen, zu einem Testset umfaßt.
7. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Ergebnis des Vergleiches negativ ist, wenn der für eine Mutation erhaltene Ausgangswert dem für den Ausgangswert generierten Erwartungswert gleicht.
8. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Ergebnis des Vergleiches positiv ist, wenn der für eine Mutation erhaltene Ausgangswert ungleich dem für den Ausgangswert generierten Erwar- tungswert ist.
9. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Güte des Testprogramms aus dem Verhältnis der Anzahl der positiven Vergleichsergebnisse zur Anzahl der negativen Vergleichsergebnisse ermittelt wird.
10. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Güte des Testprogramms mit gut bewertet wird, wenn für jede eingebaute Mutation ein po¬ sitives Vergleichsergebnis erhalten wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch ge¬ kennzeichnet, daß die Güte des Testprogramms mit gut be- wertet wird, wenn die Anzahl der Mutationen, für die ein positives Vergleichsergebnis erhalten wird, einen vorge¬ gebenen Wert übersteigt.
12. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn das Ergebnis des Vergleiches für eine Mutation negativ ist, der Erwartungswert für diese Mutation verändert wird und anschließend die Schritte (b) bis (e) wiederholt werden.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch ge¬ kennzeichnet, daß, wenn das Ergebnis des Vergleiches für eine Mutation negativ ist, die erste Datei verändert wird und anschließend die Schritte (b) bis (e) wieder¬ holt werden.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch ge¬ kennzeichnet, daß, wenn das Ergebnis des Vergleiches für eine Mutation negativ ist, Tests ausgewählt werden, die diese Mutation ansprechen und gegenüber den bisherigen Tests veränderte Eingangswerte bereitstellen, und an- schließend die Schritte (b) bis (e) wiederholt werden.
15. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die mutierte integrierte Schaltung mittels eines Hardwarebeschleunigers realisiert wird.
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8997034B2 (en) * 2012-07-30 2015-03-31 Synopsys, Inc. Emulation-based functional qualification
US10394533B2 (en) * 2013-09-30 2019-08-27 The Mathworks, Inc. Reusable component in a modeling environment
GB2519545A (en) * 2013-10-24 2015-04-29 Ibm Determining a quality parameter for a verification environment
CN105335379B (zh) 2014-06-26 2018-11-02 国际商业机器公司 突变测试中对突变、测试用例、随机种子的组合排序的方法和设备
US9952837B1 (en) 2015-04-01 2018-04-24 The Mathworks, Inc. Reusable component in a modeling environment
CN118393127B (zh) * 2024-06-28 2024-08-23 兰州百源基因技术有限公司 一种应用于试剂盒精准诊断方法及系统

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2147036A1 (en) * 1994-05-16 1995-11-17 Yih-Farn Robin Chen System and method for selective regression testing
US5724504A (en) * 1995-06-01 1998-03-03 International Business Machines Corporation Method for measuring architectural test coverage for design verification and building conformal test
US5754760A (en) * 1996-05-30 1998-05-19 Integrity Qa Software, Inc. Automatic software testing tool
US6298317B1 (en) * 1999-01-25 2001-10-02 Hewlett-Packard Company Enhanced functional testing through the filtration of non-subtle mutations
US6931629B1 (en) * 1999-12-30 2005-08-16 Intel Corporation Method and apparatus for generation of validation tests
EP1382976B1 (de) * 2002-07-19 2007-02-28 Infineon Technologies AG Verfahren zur Bearbeitung von Testmustern für einen integrierten Schaltkreis
FR2843214B1 (fr) * 2002-07-30 2008-07-04 Bull Sa Procede de verification fonctionnelle d'un modele de circuit integre pour constituer une plate-forme de verification, equipement emulateur et plate-forme de verification.

Also Published As

Publication number Publication date
EP1771799B1 (de) 2008-12-17
DE102004037402A1 (de) 2006-03-23
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US20100057424A1 (en) 2010-03-04
US8311793B2 (en) 2012-11-13
DE102004037402B4 (de) 2011-02-03
DE502005006290D1 (de) 2009-01-29
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ATE418108T1 (de) 2009-01-15

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