WO2008004679A1 - Dispositif à MICROSCOPE - Google Patents

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WO2008004679A1
WO2008004679A1 PCT/JP2007/063613 JP2007063613W WO2008004679A1 WO 2008004679 A1 WO2008004679 A1 WO 2008004679A1 JP 2007063613 W JP2007063613 W JP 2007063613W WO 2008004679 A1 WO2008004679 A1 WO 2008004679A1
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transmittance
phase
opening
phase plate
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English (en)
French (fr)
Inventor
Kumiko Matsui
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation

Definitions

  • the present invention relates to a microscope apparatus. Background art
  • the present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to sufficiently contrast the phase change of a phase object by using a light source having a spread like a white light source such as a halogen or a mercury lamp that is usually used in a microscope.
  • the object is to provide a microscope apparatus that enables observation with a scissors.
  • a first aspect of the present invention includes an illumination optical system that irradiates a specimen with illumination light from a light source, and focuses the light from the specimen with an objective lens to form a specimen image.
  • a first phase region and a second phase region that provide a phase difference of 180 degrees to the light from the sample, and a phase boundary between the first phase region and the second phase region
  • the portion includes a fill member having a phase plate positioned in an opening conjugated to the opening, and providing a microscope apparatus.
  • the opening is a slit-shaped opening, and the phase boundary portion is positioned substantially parallel to a long side direction of the slit-shaped opening.
  • the width d 1 in the short side direction of the slit-shaped opening satisfies the following conditional expression (1).
  • the filter member further includes a transmittance control plate that controls a transmittance at a position conjugate with the slit bowl-shaped opening of the phase plate, and the transmittance control.
  • the plate preferably has a constant transmittance at a position conjugate with the slit-shaped opening of the phase plate, and the transmittance t preferably satisfies the following conditional expression (2).
  • the phase boundary portion is a Y axis
  • the Y axis and the optical axis are
  • the fill member has the minimum transmittance near the origin, and the transmittance increases as the distance from the origin increases. Is transparent with respect to the Y axis. It is preferable to further have a transmittance control plate having an excess distribution.
  • the phase boundary portion is a Y axis
  • an axis perpendicular to the Y axis and the optical axis is an X axis
  • the Y axis and the X axis are
  • the fill member further has a transmittance control plate having a transmittance distribution that is symmetrical with respect to the Y axis, and the transmittance increases stepwise as the distance from the origin increases. Is preferred.
  • the opening of the opening member is an annular opening
  • the phase boundary portion of the phase plate is circular
  • the phase boundary portion is the ring.
  • the ring opening is positioned substantially at the center of the ring opening that is conjugate with the band opening.
  • the opening width d 2 of the annular zone opening satisfies the following conditional expression (3).
  • the fill member further includes a transmittance control plate that controls a transmittance at a position conjugate with the annular zone opening position of the phase plate,
  • the transmittance control plate preferably has a substantially constant transmittance at a position conjugate with the annular zone opening position of the phase plate, and the transmittance t preferably satisfies the following conditional expression (2).
  • the filter member further includes a transmittance control plate having a concentric transmittance distribution around the optical axis, and the concentric transmittance distribution is The transmittance is the lowest at an opening position substantially conjugate with the annular zone opening of the phase plate, and the transmittance gradually increases with increasing distance from the opening position substantially conjugate with the annular zone opening. It is preferable that the center direction of the annular zone opening and the outer direction of the outer circumferential portion of the opening conjugate with the annular zone opening are substantially symmetrical from the inner peripheral portion of the opening conjugate with the zone opening.
  • the fill member includes a plurality of the phase plates and a plurality of the transmittance control plates, and the plurality of phase plates and the plurality of transmittance control plates.
  • the filter member can be inserted into and removed from the optical axis. Preferably it is formed.
  • a microscope apparatus capable of observing a phase change of a phase object with a sufficient contrast by using a light source having a spread such as a white light source such as a halogen lamp or a mercury lamp normally used in a microscope.
  • a light source having a spread such as a white light source such as a halogen lamp or a mercury lamp normally used in a microscope.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a microscope apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • 2A, 2B, and 2C relate to the corrugated phase plate disposed in the microscope apparatus of the first embodiment, and FIG. 2A shows the configuration and the positional relationship between the slit-shaped openings, and FIG. Shows the transmittance characteristics of the 7T phase plate, and Fig. 2C shows the phase characteristics of the ⁇ phase plate.
  • Fig. 3 shows the response characteristics of a ⁇ phase plate having the phase characteristics shown in Fig. 2C.
  • 4A to 4D show the imaging simulation results when the x value is changed in the case where the ⁇ phase plate shown in FIG.
  • FIG. 7A, 7B, and 7C relate to a ⁇ phase plate having a fill factor of transmittance t arranged in the microscope apparatus according to the second embodiment of the present invention
  • FIG. Fig. 7B shows the transmittance characteristics of the 7T phase plate
  • Fig. 7C shows the 7T phase. The phase characteristics of the plate are shown respectively.
  • FIG. 9A, 9B, and 9C relate to a saddle phase plate disposed in the microscope apparatus according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 9A shows the configuration and the positional relationship between the annular openings
  • FIG. Fig. 9C shows the phase characteristics of the 7C phase plate.
  • 10A, 10B, and 10C are modified examples of the third embodiment of the present invention
  • FIG.10A shows the positional relationship between the configuration of the 7T phase plate having a fill factor of transmittance t and the annular opening.
  • Fig. 10B shows the transmittance characteristics of the 7 ⁇ phase plate
  • Fig. 10C shows the phase characteristics of the ⁇ phase plate.
  • FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a microscope apparatus according to the fourth embodiment of the present invention.
  • 12A and 12B show examples of a slider-type opening member and a slider-type phase plate holder used in the fourth embodiment, respectively.
  • FIG. 13 is a schematic configuration diagram of a modified example of the microscope apparatus according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 14A, 14B, and 14C relate to a modification of the fourth embodiment.
  • FIG. 14A is a slider type filter member
  • FIG. 14B is a slider type 7C phase plate
  • FIG. 14C is a combination of FIG. 14A and FIG. 14B.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a microscope apparatus according to the first embodiment of the present invention.
  • the illumination light emitted from a white light source 1 such as a halogen lamp or a mercury lamp is condensed by a collector lens 2 and has a slit-shaped opening 3a.
  • the sample (specimen) 5 is illuminated by the illumination optical system 10 that passes through 3 and includes the condenser lens 4.
  • the light that has passed through the sample 5 is condensed by the objective lens 6 and gives a phase difference of 180 degrees.
  • the light passes through the ⁇ phase plate 7 and is formed as a sample image on the image plane 8 through the imaging optical system 30. Is done.
  • the T phase plate 7 is disposed in the vicinity of the rear focal plane of the objective lens 6, and the slit member 3 is disposed in the vicinity of the front focal plane of the condenser lens 4, which is a conjugate surface with the 7T phase plate 7;
  • the rear focal plane of the objective lens 6 and the front focal plane of the condenser lens 4 are in a conjugate relationship.
  • the phase plate 7 may be arranged in the vicinity of a plane conjugate with the rear focal plane of the objective lens 6 in the imaging optical system 30.
  • the slit member 3 may be disposed in the vicinity of a plane conjugate with the front focal plane of the condenser lens 4 in the illumination optical system 30.
  • the optical axis direction is the Z axis
  • the X and Y axes are set on the plane perpendicular to the optical axis.
  • the ⁇ -phase plate 7 can move in the ⁇ ⁇ ⁇ direction.
  • the movement in the axial direction is provided to cope with a change in the rear focal position of the objective lens 6 when the objective lens 6 is replaced.
  • ⁇ Movement in the ⁇ axis direction is used for centering adjustment of 7 ⁇ phase plate 7 and contrast adjustment during visual observation or image acquisition by an image sensor (not shown). In this way, the microscope apparatus 100 is configured.
  • FIG. 2A shows the 7T phase plate 7 viewed from the arrow A side in FIG. 1.
  • the XY axes perpendicular to the optical axis are perpendicular to each other and are included in the 7C phase plate 7 plane.
  • phase plate 7 has a phase plate 7 e with a phase difference of 7TZ2 on the X side and a phase plate 7 ⁇ with a phase difference of + ⁇ 2 on the + X side. It shows the case where boundary 7 coincides with the vertical axis.
  • phase plate 7 e is ⁇ 2 and the phase plate 7 f is + ⁇ / 2 and both have a phase difference ⁇
  • the transmittance distribution or phase distribution of the ⁇ phase plate ⁇ ⁇ ⁇ has a non-zero value outside the outer circle 7 a, the effective diameter of the pupil of the objective lens 6 when the 7T phase plate 7 is moved in the XY axis direction This is because there is no vignetting.
  • phase distribution F (x) in the X-axis direction in the outer circle 7a in Fig. 2C is shown in equation (a 1).
  • ⁇ ( ⁇ ) is the Fourier transform of ⁇ .
  • the image intensity distribution is a
  • Figure 3 shows a graph of f ( ⁇ '). From Fig. 3, it can be seen that the point image distribution in the Hilbert transform has a contrast to the phase object, and the contrast shape shows a so-called differential image.
  • the calculation conditions are based on a 40x objective lens that is used in biological observation, and the coherency of the illumination light.
  • d 1 Represented by d 1 is the aperture width of the aperture that limits the illumination light, and the slit width d in Figure 2A 1 is supported.
  • the imaging simulation results shown in Figures 4A-4D are obtained.
  • FIGS. 48 to 40 show the position of the 7C phase plate 7 on the X axis This is an imaging simulation result when the direction is shifted by 0.2 mm.
  • Figure 4A shows that a contrast image similar to a so-called differential image is obtained, but it is a noisy image. For example, when the X value is -50 / m or less and the X value is +50 m or more, there are noises in which the knock ground signal becomes uneven.
  • the phase plate 7 is shifted in the axial direction as shown in FIGS. 48 to 40, a contrast image like a so-called pseudo relief image is obtained, but at the same time, the frequency component corresponding to the amount of shift in the X-axis direction is obtained.
  • the swell rides on the background signal. This is due to the fact that the 7T phase plate 7 is frequency-modulated according to the amount of shift in the X-axis direction. It is not preferable as a microscopic image that such a swell component is applied to the background signal. ,
  • the lower limit value of the string is about 0.05.
  • the background integration effect tends to increase as the value increases, but on the other hand, the contrast is relatively low as shown in Figs. 5 to 5 C. Therefore, the value of ⁇ is increased unnecessarily. It is not possible to do so, and there is a certain upper limit value. In the following, the conditions for the upper limit of ⁇ are considered.
  • the contrast value when the same sample 5 is observed in bright field observation is indicated by B for reference.
  • Contrast at least than bright field observation Since it is necessary to be excellent in the soot, if the threshold value that obtains the same contrast value is obtained from the draft, it is about 0.6, which is the upper limit value of the threshold value. In order to secure the effect of the present invention, it is preferable to set the upper limit value of the string to 0.5. As a result, the contrast can be improved.
  • the microscope apparatus 100 according to the present invention satisfies the following conditional expression (1).
  • cl 1 is the aperture width of the slit-shaped aperture 3 a
  • NA is the numerical aperture of the objective lens 6
  • is the focal length of the objective lens 6
  • m is the rear focal plane of the objective lens 6 in the illumination optical system 1 0 This is the magnification to the surface where the slit-shaped opening 3a is arranged.
  • 0.4.
  • this is not limited to the case where the contrast is important or the noise reduction effect is important, and the ⁇ value may be selected within the range of the conditional expression (1) according to the application and purpose.
  • the microscope apparatus 100 according to the second embodiment is different from the microscope apparatus 100 according to the first embodiment in that the optical system has the same configuration and has a filter that controls the transmittance in a part of the 7T phase plate.
  • the description of the entire configuration is the same as that of the first embodiment, and the detailed description is omitted.
  • FIG. B shows the transmittance characteristics of the 7T phase plate 17
  • Fig. 7C shows the phase characteristics of the ⁇ phase plate 17.
  • the outer circle 1 7 a of the ⁇ phase plate 17 represents the effective phantom of the objective pupil of the objective 6.
  • the square solid line in Fig. 7A indicates the conjugate opening of the slit-shaped opening 1 3a of the slit member 3, and shows the slit-shaped opening image observed on the surface of the phase plate 7, the same.
  • Reference numeral 1 3 a is attached.
  • This slit-shaped opening 1 3 a A film 18 having a transmittance t is formed so as to cover.
  • the filter 18 may be formed on the surface of the 7T phase plate 17, or may be formed separately and configured integrally with the 7t phase plate 17.
  • FIG. 7B shows the transmittance distribution in the X-axis direction corresponding to the objective pupil diameter 17a on the surface of the ⁇ phase plate 17, and the transmittance is reduced only in the portion of the fill 18.
  • Fig. 7 C shows the phase distribution of the ⁇ phase plate 17, with reference to the ⁇ axis, a phase plate 17 e with a phase difference of 1 ⁇ / 2 on the X side, and a phase plate 17 with a phase difference + ⁇ 72 on the + side. It shows the case where f has phase boundary 17c that is the boundary between them and the Y axis.
  • phase plate 17 e force- ⁇ 2 and the phase plate 17 f have + ⁇ 2 and a phase difference ⁇ have been described here, the phase difference between the two is only required to be ⁇ and is limited to the above configuration. There is nothing. In this way, the soot phase plate 17 is formed. Further, as in the first embodiment, it is desirable that the slit width d 1 satisfies the range of the conditional expression (1).
  • the transmittance t of the filter 18 covering the slit-shaped opening 13 a having the slit width d 1 is set to be 50% or less, as shown in FIG. 8A, so-called direct light (0th order light) )
  • the components are weakened and the field of view becomes darker than in the first embodiment.
  • the contrast is improved as compared with the first embodiment.
  • the filter 18 can be selected with an appropriate transmittance t.
  • X 0.4mm imaging simulation Each result is shown.
  • the transmittance t is constant in the range of the opening width cl 1 of the slit-shaped opening 13 a .
  • the transmittance t can be configured to be proportional to the X value, proportional to sin 2 (X), or change stepwise with respect to the X value.
  • FIG. 9A shows the positional relationship between the soot phase plate 27 of the microscope apparatus according to the third embodiment of the present invention and the annular opening 23 a formed in the opening member 3. That is, in the third embodiment, in FIG. 1 of the first embodiment, the opening member 3 having the annular zone opening 2 3 a having the annular zone width d 2 is disposed at the position of the slit member 3. In the vicinity of the rear focal plane, there is a disc-like phase plate 2 7 e giving a phase difference of 1 7T Z 2 and an annular zone phase plate 2 7 f giving a phase difference of + 7T 2 on the outer periphery side A 7t phase plate 2 7 having the above is disposed.
  • FIG. 9A shows the positional relationship between the soot phase plate 27 of the microscope apparatus according to the third embodiment of the present invention and the annular opening 23 a formed in the opening member 3. That is, in the third embodiment, in FIG. 1 of the first embodiment, the opening member 3 having the annular zone opening 2 3 a having the annular
  • FIG. 9B shows the transmittance characteristics of the ⁇ phase plate 27, and FIG. 9C shows the phase difference characteristics of the ⁇ phase plate 27.
  • the phase plate 2 7 e is ⁇ ⁇ 2 and the phase plate 2 7 f is + ⁇ ⁇ 2 and has a phase difference of 7t has been described.
  • the configuration is not limited.
  • the circular phase boundary portion 27c that is the boundary between the phase plate 27e and the phase plate 27f is arranged at a position conjugate with the vertical phase plate 27 of the illumination optical system 10. It is arranged so that it is positioned approximately in the center of the annular zone opening 23 a with the annular zone width cl 2 placed.
  • the image has a directivity that the image has only decomposition in the direction of the opening width d 1 (that is, the X-axis direction), whereas in the third embodiment, the annular opening 23 a Since the sample 5 is illuminated by the zonal zone, the resulting image has no directivity. Therefore, the obtained two-dimensional image looks like a so-called edge-enhanced image.
  • the opening width d 2 of the annular opening 23 a and the opening width d 1 of the slit-shaped opening 3 a of the first embodiment are:
  • conditional expression (3) corresponding to the conditional expression (1) of the first embodiment is satisfied.
  • conditional expression (3) is the same as in the first embodiment, and a description thereof will be omitted.
  • FIGS. 10A, 10 B, and 10 C show modified examples of the third embodiment.
  • Fig. 1 OA shows the ⁇ phase plate 37
  • Fig. 10 ⁇ shows the transmittance characteristics of the 7 ⁇ phase plate 27,
  • Fig. 10 C shows the phase characteristics.
  • the phase plate 37 has an annular opening 2 with an annular width d2.
  • the fill plate 38 is formed so that the transmittance t at the position 3 a has a lower transmittance t than the portion other than the annular opening 2 3 a.
  • the filter 3 8 having transmittance t may be formed on the surface of the 7T phase plate 37. Alternatively, the filter 3 8 may be formed separately and configured integrally with the 7T phase plate 37. May be.
  • the transmittance t satisfies the following conditional expression (2) as in the first embodiment.
  • the filter aperture 3 8 with the transmittance t at the zone opening 2 3 a with the zone width d 2
  • the sample image obtained is the background — the light is dark as in the second embodiment. Therefore, since the signal light is relatively strong, the contrast ⁇ is higher than in the case of Fig. 9 where there is no region of transmittance t.
  • the fill portion 3 8 may be formed so that the transmittance t is constant over the zone width d 2 as described above, and the boundary region 3 7 c of the phase difference is set to the lowest value, and the boundary region 3
  • the filter portion 3 8 may have a transmittance distribution such that the transmittance t increases symmetrically with respect to 7c.
  • the change in transmittance t is proportional to sin 2 (
  • FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a microscope apparatus according to the fourth embodiment of the present invention.
  • the fourth embodiment differs from the first embodiment to the third embodiment in that the first embodiment to the third embodiment have one aperture member and one ⁇ phase plate.
  • the aperture member has a plurality of apertures, each of which can be inserted into and removed from the optical axis of the illumination optical system, and has a phase plate holder having a plurality of phase plates corresponding to the aperture shape.
  • Imaging light It is configured to be switchable to the optical axis of the university.
  • the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the microscope apparatus 200 has a slider-type aperture member 53 disposed at a position conjugate with the rear focal plane of the objective lens 6 in the illumination optical system 10.
  • a set of sliders and a phase plate holder 57 are arranged in the vicinity of the rear focal plane of the objective lens 6 of the imaging optical system 30.
  • the slider-type ⁇ phase plate holder 57 may be disposed near a plane conjugate with the rear focal plane of the objective lens 6 in the imaging optical system 30.
  • the slider-type aperture member 53 may be disposed in the vicinity of a plane conjugate with the front focal plane of the condenser lens 4 in the illumination optical system 30.
  • slit-shaped openings 3a, 13a, and annulus openings 23a shown in Fig. 12-2 are arranged in substantially the same plane, and the illumination optical system 10 It is configured to be interchangeable with respect to the optical axis.
  • the opening 3 a is the same as that in the first embodiment
  • the opening 13 a is in the second embodiment
  • the opening 23 a is the same as the opening described in the third embodiment, and the description of the configuration and the like is omitted.
  • the slider-type phase plate holder 5 7 has a C phase plate 7 used for the slit-shaped opening 3 a shown in FIG. 1 2 B, and a filter plate used for the slit-shaped opening 1 3 a 1
  • a T phase plate 17 having 8 and a ⁇ phase plate 2 7 used for the annular opening 2 3 a are arranged in substantially the same plane and are configured to be exchangeable with respect to the optical axis.
  • the U phase plate 7 is the first embodiment
  • the ⁇ phase plate 17 is the second embodiment
  • the ⁇ phase plate 27 is the same as the ⁇ phase plate described in the third embodiment, and the configuration is described. Is omitted.
  • each of the ⁇ phase plates 7, 1 7, and 27 is supported by one support member 5 7 a, and in order to be able to finely move in the XY axis direction in a plane perpendicular to the optical axis, A fine movement mechanism 58 for fine movement in the X-axis direction and a fine movement mechanism 59 for fine movement in the Y-axis direction are provided.
  • the slider type phase plate holder 57 is configured to be movable in the Z-axis direction, and is configured to be able to cope with the change in the rear focal plane accompanying the change of the objective lens 6.
  • the opening member 53 and the phase plate holder 57 are configured as described above, the combination of the openings 3 a, 1 3 a, 23 a and the heel phase plates 7, 17, 27 is used. By switching as necessary, the most appropriate observation method can be selected according to the sample.
  • the support member 57a of the phase plate holder 57 can be finely moved in the XY axis directions, and can adjust the contrast of the image.
  • the force-switching method described in the slider-type opening member 53 and the slider-type phase plate holder 57 may be replaced by a force turret-type rotation and other similar methods.
  • the opening width d 1 when the openings are slit-shaped openings 3 a and 1 3 a satisfies the conditional expression (1)
  • the transmittance t of Phil Yu 18 satisfies the conditional expression (2).
  • FIG. 13 and FIGS. 14A, 14B, and 14C are views showing a modification according to the fourth embodiment of the present invention.
  • Fig. 13 shows a microscope apparatus 200 according to a modification
  • Fig. 14A shows a phase plate
  • Fig. 14B shows a filter
  • Fig. 14C shows a combination of the two.
  • the T phase plate 17 and the filter 18 for changing the transmittance t can be individually detached from the optical axis.
  • the way of exchanging the openings 3a, 13a and 23a is the same as described above.
  • the slider type filter member 19 and the slider set 7T phase plate 20 are configured to be detachable in the vicinity of the rear focal plane of the objective lens 6. Note that the slider-type fill member 19 and the slider-type T phase plate 20 have the same configurations as those of the second embodiment, and descriptions of their functions and effects are omitted.
  • a slit-shaped opening 13 a is inserted into the optical axis of the illumination optical system 10 and a slider 7C phase plate 20 is inserted into the optical axis of the imaging optical system 30.
  • the mirror device 10 0 becomes a mirror device
  • the slider type filter member 19 also enters the optical axis of the imaging optical system 30
  • the characteristics of the slider type 7C phase plate 20 and the slider type filter member 19 are combined. It becomes a 7T phase plate, and the microscope apparatus 100 of the second embodiment can be realized.
  • various observation conditions can be realized by preparing and exchanging the transmittance distribution and phase distribution that are slightly changed.
  • the slider-type filter member 19 and the slider-type 7T phase plate 20 are combined with the slider-type filter member and the slider-type 7C phase plate corresponding to the shape of the opening arranged in the slider type opening 53. By exchanging each, it is possible to achieve the same effects as the above-described embodiments.
  • the opening width d 1 when the openings are slit-shaped openings 3 a and 1 3 a satisfies the conditional expression (1)
  • the opening width d 2 when the annular opening 2 3 a is the conditional expression ( 3) is satisfied and the transmittance t satisfies the conditional expression (2).
  • a transmission microscope has been described.
  • a reflection microscope for example, a half mirror member shared by the illumination optical system and the imaging optical system is used, and an aperture member having an aperture or a slider type aperture member is not connected to the light source of the illumination optical system.
  • the 7C phase plate or slider type phase plate holder or fill member is located between the half mirror and the image plane. It is necessary to arrange it at a position substantially conjugate with the rear focal plane.

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Description

' 明 細 書 顕微鏡装置 技術分野
本発明は、 顕微鏡装置に関する。 背景技術
従来、 顕微鏡の被検物は、 振幅物体と位相物体に大別される。 振幅物体は光 の明暗や色を変化させるので、 その変化を目や C C D等の撮像素子でコントラス 卜として識別できる。 一方、 位相物体は光の位相を変化させるだけなので、 その ままではコントラストが低く識別が難しい。 そこで従来より、 位相物体の位相変 化を識別可能なコントラストに変換する手法が提案されてきた (例えば、 特開平
1 1 - 9 5 1 7 4号公報参照) 。
しかしながら、 特開平 1 1— 9 5 1 7 4号公報の開示例では、 位相物体の位相 変化を識別可能なコントラストに変換するためには、 光源がコヒ一レント光源に 限定されると言う問題がある。 発明の開示
本発明は、 上記課題に鑑みて行われたものであり、 顕微鏡で通常使われるハロ ゲンや水銀ランプ等の白色光源のような広がりを持つた光源を用いて位相物体 の位相変化を十分なコントラス卜で観察可能にする顕微鏡装置を提供すること を目的とする。
上記目的を達成するために、 本発明の第 1の態様は、 光源からの照明光を標本 に照射する照明光学系と、 前記標本からの光を対物レンズで集光し標本像を結像 する結像光学系と、 前記照明光学系内の前記対物レンズの後側焦点面と共役な面 の近傍に配置され、 前記照明光を制限する開口を有する開口部材と、 前記結像光 学系内の前記対物レンズの後側焦点面近傍、 または前記後側焦点面の共役面の近 傍に配置され、 前記標本からの光に 1 8 0度の位相差を与える第 1の位相領域と 第 2の位相領域とを有し、 前記第 1の位相領域と前記第 2の位相領域の位相境界 部分は、 前記開口に共役な開口内に位置付けられている位相板を有するフィル夕 部材とを有して成ることを特徴とする顕微鏡装置を提供する。
また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記開口は、 スリット状開口であり、 前 記位相境界部分は、 前記スリツト状開口の長辺方向と略平行に位置付けられてい ることが好ましい。
また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記スリット状開口の短辺方向の幅 d 1 は、 以下の条件式 (1 ) を満たすことが好ましい。
( 1 ) 0 . 0 5 · ≤ d 1 / ( 2 X N A X f X m) ≤ 0 . 6
但し、
N A:前記対物レンズの開口数
f :前記対物レンズの焦点距離
m:前記対物レンズの後側焦点面から前記照明光学系内の前記スリット状の開 口が配置される面への倍率
また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記フィルタ部材は、 前記位相板の前記 スリツ卜状開口と共役な位置の透過率を制御する透過率制御板を更に有し、 前記 透過率制御板は、 前記位相板の前記スリット状開口と共役な位置の透過率が略一 定であり、 前記透過率 tは、 以下の条件式 (2 ) を満たすことが好ましい。
( 2 ) 0 ≤ t ≤ 5 0 (単位: %) - また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記位相板において、 前記位相境界部分 を Y軸とし、 前記 Y軸と光軸とに垂直な軸を X軸、 前記 Y軸と前記 X軸との交点 を原点とするとき、 前記フィル夕部材は、 前記原点の近傍で前記透過率が最小で 前記原点から離れるに従って前記透過率が高くなる、 前記 Y軸に対して対称な透 過率分布を持つ透過率制御板を更に有することが好ましい。
また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記位相板において、 前記位相境界部分 を Y軸とし、 前記 Y軸と光軸とに垂直な軸を X軸、 前記 Y軸と前記 X軸との交点 を原点とするとき、 前記フィル夕部材は、 前記原点から離れるにつれて階段状に 透過率が高くなる、 前記 Y軸に対して対称な透過率分布を持つ透過率制御板を更 に有することが好ましい。
また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記開口部材の前記開口は、 輪帯開口で あり、 前記位相板の前記位相境界部分は、 円形状であり、 前記位相境界部分は、 前記輪帯開口と共役な輪帯開口の略中央に位置付けられていることが好ましい。 また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記輪帯開口の開口幅 d 2は、 以下の条 件式 (3 ) を満たすことが好ましい。
( 3 ) 0 . 0 2 5 ≤ d 2 / ( 2 X NA X f X m) ≤ 0 . 3
但し、
N A:前記対物レンズの開口数
f :前記対物レンズの焦点距離
m:前記対物レンズの後側焦点面から前記照明光学系内の前記輪帯状開口が配 置される面への倍率
また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記フィル夕部材は、 前記位相板の前記 輪帯開口位置と共役な位置の透過率を制御する透過率制御板を更に有し、 前記透 過率制御板は、 前記位相板の前記輪帯開口位置と共役な位置の透過率が略一定で あり、 前記透過率 tは以下の条件式 (2 ) を満たすことが好ましい。
( 2 ) 0 ≤ t ≤ 5 0 (単位: %)
また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記フィルタ部材は、 光軸を中心とした 同心円状の透過率分布を有する透過率制御板を更に有し、 前記同心円状の透過率 分布は、 前記位相板の前記輪帯開口と略共役な開口位置で最も透過率が低く、 前 記輪帯開口と略共役な開口位置から遠ざかるに従つて段階的に透過率が高くな り、 前記輸帯開口と共役な開口の内周部から前記輪帯開口の中心方向と前記輪帯 開口と共役な開口の外周部の外側方向で略対称であることが好ましい。
また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記フィル夕部材は、 複数の前記位相板 と複 の前記透過率制御板とを有し、 前記複数の位相板と前記複数の透過率制御 板を、 光軸に対してそれぞれ独立に交換可能に形成されていることが好ましレ^ また、 本発明の第 1の態様によれば、 前記フィルタ部材は、 光軸に対して挿脱 可能に形成されていることが好ましい。
本発明によれば、 顕微鏡で通常使われるハロゲンや水銀ランプ等の白色光源の ような広がりを持った光源を用いて位相物体の位相変化を十分なコントラスト で観察可能にする顕微鏡装置を提供することができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の第 1実施形態にかかる顕微鏡装置の概略構成図である。 図 2 A、 2 B、 2 Cは、 第 1実施形態の顕微鏡装置に配設された兀位相板に関 し、 図 2 Aは、 その構成とスリット状開口の位置関係を示し、 図 2 Bは 7T位相板 の透過率特性を示し、 図 2 Cは π位相板の位相特性をそれぞれ示す。
図 3は、 図 2 Cに示す位相特性を有する π位相板の応答特性を示す。
図 4 A〜4 Dは、 図 2 Aに示す π位相板のひ = 0において、 x値を変化させた 時の結像シミュレ一シヨン結果を示す。
図 5 A〜 5 Dは、 図 2 Aに示す π位相板の x = 0において、 ひ値を変化させた 時の結像シミュレーション結果を示す。
図 6は、 図 2 Aに示す π位相板の x = 0において、 σ値を変化させた時のコン 卜ラス卜の明視野観察との比較結果を示す。
図 7 A、 7 B、 7 Cは、 本発明の第 2実施形態に係る顕微鏡装置に配設された 透過率 tのフィル夕を有する π位相板に関し、 図 7 Αは、 その構成とスリット状 開口の位置関係を示し、 図 7 Bは 7T位相板の透過率特性を示し、 図 7 Cは 7T位相 板の位相特性をそれぞれ示す。
図 8A〜8 Fは、 図 7 Aに示す T位相板の σ = 0. 1において、 透過率 tと χ 値を変化させた時の結像シミュレーション結果を示す。 · ·
図 9A、 9B、 9Cは、 本発明の第 3実施形態に係る顕微鏡装置に配設された 兀位相板に関し、 図 9 Aは、 その構成と輪帯開口の位置関係を示し、 図 9Bは π 位相板の透過率特性を示し、 図 9 Cは 7C位相板の位相特性をそれぞれ示す。 図 10A、 10 B、 10 Cは、 本発明の第 3実施形態の変形例であり、 図 10 Aは透過率 tのフィル夕を有する 7T位相板の構成と輪帯開口の位置関係を示す、 図 10 Bは 7Γ位相板の透過率特性を示す、 図 10 Cは兀位相板の位相特性をそれ ぞれ示す。
図 1 1は、 本発明の第 4実施形態にかかる顕微鏡装置の概略構成図である。 図 12A、 12Bは、 第 4実施形態に用いられるスライダー式開口部材とスラ ィダ一式位相板ホルダの一例をそれぞれ示す。
図' 13は、 本発明の第 4実施形態にかかる顕微鏡装置の変形例の概略構成図で ある。
図 14A、 14B、 14Cは、 第 4実施形態の変形例に関し、 図 14Aはスラ イダー式フィルタ部材、 図 14Bはスライダー式 7C位相板、 図 14Cは、 図 14 Aと図 14 Bを組み合わせた状態の例を示す。 発明の実施の形態
以下、 本発明の実施の形態に関し図面を参照しつつ説明する。 以下の実施の形 態では、 透過型顕微鏡を用いて説明する。
(第 1実施形態)
図 1は、 本発明の第 1実施形態にかかる顕微鏡装置の概略構成図である。
図 1において、 ハロゲンランプや水銀ランプ等の白色光源 1から射出した照明 光は、 コレクタレンズ 2で集光されスリツト状の開口 3 aを有するスリツト部材 3を透過し、 コンデンサレンズ 4を含む照明光学系 1 0により試料 (標本) 5を 照明する。 試料 5を透過した光は、 対物レンズ 6で集光され 1 8 0度の位相差を 与える Γ位相板 7を透過して結像光学系 3 0を介して像面 8に試料像として形 成される。
T位相板 7は、 対物レンズ 6の後側焦点面の近傍に配置され、 スリット部材 3 は、 7T位相板 7と共役な面であるコンデンサレンズ 4の前側焦点面近傍に配置さ れる; ここで、 対物レンズ 6の後側焦点面とコンデンサレンズ 4の前側焦点面と は共役の関係にある。 なお、 兀位相板 7は結像光学系 3 0内の対物レンズ 6の後 側焦点面と共役な面の近傍に配置しても良い。 また、 スリット部材 3は照明光学 系 3 0内のコンデンサレンズ 4の前側焦点面と共役な面の近傍に配置しても良 い。
ここで、 光軸方向を Z軸とし、 光軸に直交する面上に X Y軸を設定する。 π位 相板 7は Χ Υ Ζ方向に移動可能である。 Ζ軸方向の移動は、 対物レンズ 6を交換 した際の、 対物レンズ 6の後側焦点位置の変化に対応するために設けられている。 Χ Υ軸方向の移動は、 7Τ位相板 7の芯だし調整および目視観察時や不図示の撮像 素子等による画像取得時のコントラスト調節に使用する。 このようにして顕微鏡 装置 1 0 0が構成されている。
図 2 Α、 2 Β、 2 Cは、 兀位相板 7とスリツト状の開口 3 aの詳細を示す説明 図である。 図 2 Aは、 図 1の矢印 A側から 7T位相板 7を見た図を表し、 光軸に垂 直な X Y軸は互いに垂直で、 かつ 7C位相板 7面内に含まれる。 図 2 Aにおいて、 外周円 7 aは対物レンズ 6の対物瞳の有効径を表し、 対物瞳の有効径は x = 1、 及び y = 1に規格化して示している。 なお、 この規格化は、 以降の他の実施形態 でも同様である。 また図 2 A中の四角い実線はスリット部材 3のスリット状の開 口 3 aの共役な開口を示し、 兀位相板 7面上に投影したときのスリット状の開口 像を示し、 符号は同じ 3 aで示す。 図 2 Bは、 π位相板 7面上における対物瞳径 に対応した X軸方向の透過率分布を表し、 図 2 Cは、 π位相板 7の位相分布を示 す。 c位相板 7は、 Y軸を基準に、 — X側に位相差一 7TZ2の位相板 7 eを、 + X側に位相差 +πΖ2の位相板 7 ίを有し、 両者の境界である位相境界部 7 が Υ軸と一致している場合を示している。 なお、 ここでは位相板 7 eがー ττΖ2、 位相板 7 fが +π/2であり、 両方で位相差 πを有する場合について説明したが、 両者の位相差が兀であれば良く上記構成に限定されることはない。 また、 π位相 板 Ίの透過率分布や位相分布が外周円 7 aよりも外側でもゼロでない値を持つ ものは、 7T位相板 7を XY軸方向に移動した時に対物レンズ 6の瞳の有効径がケ ラレないためである。
次に、 結像シミュレーションについて説明する。
図 2 Cの外周円 7 a内における X軸方向の位相分布 F (x)を式(a 1 )に示す。
F (x) = i · s g n (x) ,
ここで、 s g n ( x ) = 1、 0 < x≤ 1
0、 x= 0
-1、 - 1≤x<0 (a 1)
(a l )式は、 1次元ヒルベルト変換の周波数空間における伝達関数である。 位 相分布図 2 (c)が x=0を境界として位相差が πであるため、 位相分布をもつ試 料 5を通過した光はその約半分が tの位相シフトを受けて像面 8に到達し干渉 する。 その結果、 試料 5の位相分布が像面 8にて強度分布として可視化される。 試料 5における位相分布が像面 8で試料像として可視化される様子を以下に 説明する。
簡単のために 1次元(X軸方向)で考える。 またスリット状の開口 3 aが無限小 ピンホールであると仮定する。 試料 5を点光源で照明した試料 5の振幅分布を s (χ' ) 、 そのフ一リエ変換を S (x) とし、 像面 8における試料像の振幅分布 を g (χ' ) 、 そのフーリエ変換を G(x)とする。 S (X) 、 G (X) 、 F (X) は(a 2)式の関係で表される。
G(x)-S (x) · F (x) (a 2) ここで、 試料 5として弱位相物体を仮定すると、
s (x ' ) = e X p ( i φ (χ ' ) ) =1 -I- i φ (χ ' ) ( 3) であり、 試料 5による回折光はそのフーリエ変換 S (X)で与えられる。
S (χ) = δ (χ) +Φ (χ) (a 4)
ただし Φ (χ)は Φのフーリエ変換である。
(a 2)式に代入すると、 位相分布成分 φ (χ)が残る。
Figure imgf000010_0001
F (x)はヒルベルト変換の周波数空間における伝達関数であるから、 φ ' ) のヒルベルト変換を φΗ(χ' )とすると、 像振幅分布 g (x' )は、
g (χ ' ) = φΗ(χ ' ) (a 6)
像強度分布は、
I g (χ' ) I 2=φΗ (χ' ) 2 (a 7) となる。
これを像空間に移行すると、 試料 5を点光源で照明した分布 s (χ ' ) に(a 1)式のフーリエ逆変換 f (χ' ) を点像分布関数として畳み込み積分したもの が g (χ ' ) となり、 (a 8)式で表す。
g (χ ' ) = s (χ ' ) * f (χ ' ) 、 (*は畳み込み積分を表す) (a
8) '
図 3に f (χ ' ) のグラフを示す。 図 3より、 ヒルベルト変換における点像分 布は、 位相物体に対してコントラストをもち、 そのコントラスト形状はいわゆる 微分像の様子を呈することがわかる。
以下に、 理想レンズによる結像シミュレーションの比較結果を示す。
計算条件は生物観察において汎用的な 40倍の対物レンズを想定し、 照明光の コヒーレンシーひを、
1/ (2 XNAX f Xm) (0)
で表す。 d 1は、 照明光を制限する開口の開口幅であり、 図 2 Aのスリット幅 d 1に対応している。
式.(0) において対物レンズ 6の開口数 NA=0. 6、 対物レンズ 6の焦点距 離 f == 5 mm、 対物レシズ 6の後側焦点面からスリツト部材 3が配置される面へ の倍率 m= 1とする。
また試料は、 透過率 = 1 (100%) , 位相差 100 nm、 幅 W= 100 xm (像面換算)の矩形位相物体が視野中央(X = 0 )にあると仮定する。 波長は λ = 5 88 nmである。
式 (0) の σ = 0、 すなわち光源 1をコヒ一レント光源とみなしたときの結像 シミュレーション結果を図 4に示す。 ここで、 σ = 0とは、 開口幅 el lが無限小 と仮定した場合であり、 d 1=0を示すものではない。 なお、 ひ =0のコヒ一レ ント光源を用いた場合は、 スリット部材 3は不要であり、 本願発明を適用するこ とが無意味となる。 図 4A〜4Dに示す結像シミュレーション結果が得られる。 図 4 Aは、 π位相板 7の位相境界部 7 cを光軸に一致させて配置した (原点: χ =0) ときに相当し、 図 4B〜4Dは 7C位相板 7の位置を X軸方向に 0. 2 mm ずつずらしていったときの結像シミュレーション結果である。 図 4Aより、 いわ ゆる微分像に類似したコントラスト像が得られているものの、 ノイズの多い像で あることがわかる。 例えば、 X値が— 50 / m以下、 および X値が + 50 m以 上ではノ ックグラウンド信号が凸凹の波状になるノィズが見られる。 さらに図 4 8〜'40に示すょぅに兀位相板7を 軸方向にずらすと、 いわゆる擬似レリーフ 像のようなコントラスト像が得られるが、 同時に X軸方向ずらし量に応じた周波 数成分のうねりがバックグラウンド信号に乗ってしまうことがわかる。 これは、 7T位相板 7の X軸方向のずらしカ^ ずらし量に応じた周波数変調をかけたことに 相当することによる。 このようなうねり成分がバックグラウンド信号にのるのは 顕微鏡像として好ましくない。 ,
このように、 σ = 0、 すなわち光源 1がコヒ一レント光源である場合には好ま しいコントラスト像を得ることが困難であることがわかる。 次に本発明においてびを、 ひ =0. 05、 0. 1、 0. 2 (スリット'幅 d lを 変えた場合に相当する) の時の x== 0における結像シミユレーション結果を図 5 A〜5 Cに示す。 図 5A〜5Cにより、 照明光学系 10中に各スリット幅 d 1の スリツト状の開口 3 aを有するスリツト部材 3を設ける事により、 コントラスト はコヒーレント光源 (ひ =0 :図 4 A参照) の場合よりも低くなるが、 バックグ ラウンド信号のノィズが明らかに少なくなると共に、 いわゆる微分像の特性も良 くなっている事がわかる。
また、 図 5Dは、 ひ =0. 1、 x= 0. 3 mmの結像シミュレーション結果で ある。 X軸方向のずらしによりコントラス卜がいわゆる擬似レリーフ像を形成す るが、 図 4 Cに比べてバックグラウンド信号に周波数変調成分のうねりは発生せ ず、 ほぼ均一なバックグラウンド信号が得られることが判る。 これは、 スリット 幅 d 1の範囲内で周波数変調成分が積算されて平均化される効果によるもので ある。 この効果は計算によれば図 5 Aの σ = 0. 05では不足しておりバックグ ラウンド信号に凸凹の波状のノイズが残るが、 図 4 Αに比較すると実用上問題な い程度のノイズである。 図 5Bのび =0. 1では、 さらにノイズが減少し良好な コントラスト像が得られる。 この結果から、 ひの下限値が 0. 05程度であるこ とがわかる。 なお、 本発明の効果を確実にするためには、 σの下限値を 0. 1に する事が好ましい。
このような背景の積算効果は、 びの値を大きくするほど高くなる傾向にあるカ^ 一方で図 5 Α〜 5 Cのようにコントラストが相対的に低くなるので、 むやみに σ の値を大きくすることはできず、 ある上限値が存在することがわかる。 以下、 σ の上限値の条件について考える。
図 6は、 χ=0においてひの値を変化させたときの、 コントラスト値が変化し ていく様子を Αで示す。 図 6中には、 参考として明視野観察で同じ試料 5を観察 したときのコントラスト値を Bで示してある。 明視野観察におけるコントラスト 値はひ =0のとき最大で 0. 22である。 少なくとも明視野観察よりもコントラ ス卜に優れる必要があることから、 これと同じコントラスト値をとるひ値をダラ フより求めると約 0 . 6となり、 これがひの上限値となる。 なお、 本発明の効果 を確実にするためにはひの上限値を 0 . 5にする事が好ましい。 これにより、 コ ン卜ラス卜をよりよくすることができる。
以上の結果から、 本発明にかかる顕微鏡装置 1 0 0では、 以下の条件式 (1 ) を満足することが望ましい。
( 1 ) 0 . 0 5 ≤ d 1 / ( 2 X N A X f X m) ≤ 0 . 6
但し、 cl 1はスリット状の開口 3 aの開口幅、 N Aは対物レンズ 6の開口数、 ΐ は対物レンズ 6の焦点距離、 mは対物レンズ 6の後側焦点面から照明光学系 1 0 内のスリッ卜状の開口 3 aが配置される面への倍率である。
また、 実用上は、 σ = 0 . 4であるのがより望ましい。 もちろん、 コントラス ト重視、 あるいはノイズ低減効果重視の場合にはこの限りではなく、 用途や目的 に応.じて条件式 (1 ) の範囲内で σ値を選択すれば良い。
(第 2実施形態)
次に、本発明の第 2実施形態にかかる顕微鏡装置について図 7 Α、 7 Β、 7 C、 図 8 A〜 8 Fを参照しつつ説明する。 本第 2実施形態の顕微鏡装置 1 0 0は、 第 1実施形態の顕微鏡装置 1 0 0と光学系の構成は同様で 7T位相板の一部に透過 率を制御するフィル夕を有することが異なるのみであり、 構成全体の説明は第 1 実施形態と同様であり詳細な説明を省略する。
図 7 A、 7 B、 7 Cは、 本発明の第 2実施形態の顕微鏡装置 1 0 0の π位相板 1 7諸特性を示し、 図 7 Αは兀位相板 1 7の構成を、 図 7 Bは 7T位相板 1 7の透 過率特性を、 図 7 Cは π位相板 1 7の位相特性をそれぞれ示している。
図 7 Αにおいて、 π位相板 1 7の外周円 1 7 aは対物レンズ 6の対物瞳の有効 怪を表している。 また図 7 A中の四角い実線はスリット部材 3のスリット状の開 口 1 3 aの共役な開口を示し、 兀位相板 7面上で観察したときのスリッ 卜状の開 口像を示し、 同じ符号 1 3 aを付してある。 また、 このスリット状の開口 1 3 a を覆うように透過率 tのフィル夕 18が形成されている。なお、 フィルタ 18は、 7T位相板 17の表面に形成しても良いし、 別体に形成して 7t位相板 17と一体的 に構成しても良い。
図 7 Bは、 π位相板 17面上における対物瞳径 17 aに対応した X軸方向の透 過率分布を表し、 フィル夕 18の部分のみ透過率が減少している。 図 7 Cは、 π 位相板 17の位相分布を示し、 Υ軸を基準に、 一 X側に位相差一兀/ 2の位相板 17 eを、 + 側に位相差+兀72の位相板17 f を有し、 両者の境界である位 相境界部 17 cが Y軸に一致している場合を示している。 なお、 ここでは位相板 17 e力― ττΖ2、 位相板 17 fが + πΖ 2で位相差 πを有する場 について説 明したが、 両者の位相差が兀であれば良く、 上記構成に限定されることはない。 このように.して、 兀位相板 17が形成されている。また、第 1実施形態と同様に、 スリット幅 d lは条件式 (1) の範囲を満たしていることが望ましい。
また、 スリット幅 d 1のスリット状の開口 13 aを覆うフィルタ 18の透過率 tは、 50 %以下となるようにしてあるため、 図 8 Aに示すように、 いわゆる直 接光 (0次光) 成分が弱められて第 1実施形態と比べると視野は暗くなる。 しか し信号光強度比がバックグラウンド信号に対して相対的に強くなるため、 結果的 にコントラストは第 1実施形態よりも向上する。 特に X軸方向のずらし量が小さ い (x=0近傍) 状態でのコントラスト向上効果が高い。 用途や目的に応じてフ ィル夕 18は、 適切な透過率 tを選べば良い。
図 8 A〜8 Fは、 図 7 Aに示す兀位相板 17において、 σ = 0. 1の場合の結 像シミュレーション結果の一例を示し、 図 8 Αは t = 10%、 x=0、 図 8Bは t = 10 x= 0. 4mmX軸方向にずらした場合をそれぞれ示す。 シミュレ ーシヨン条件は、 第 1実施形態と同様である。 図 5と比較して、 特に x=0 (図 5 Bと図 8 A参照) でのコントラストが向上しているのがわかる。 図 8 Cは t = 40 %、 x = 0、 図 8Dは t =40%、 x= 0. 4 mm, 図 8 Eは t = 50%、 x = 0 mm, 図 8 Fは t = 50%、 x = 0. 4mmにおける結像シミュレーショ ン結果をそれぞれ示している。 これらの図から、 透過率 tを上げるにつれてバッ クグラウンドの光強度が上がり、 相対的にコントラストが低くなることが判るが、 t = 5 0 %の場合でも十分実用に耐えるコントラストを保っていることが判る。 これらの結果から、 透過率 tは以下の条件式 (2 ) を満たすことが望ましい。 ( 2 ) 0≤ t ≤ 5 0 (単位: %)
なお、 本第 2実施形態では、 スリット状の開口 1 3 aの開口幅 cl 1の範囲で透 過率 tが一定となる場合を説明したが、 本第 2実施形態の変形例として透過率 t が X = 0の位置を最低値として、 X = 0から X軸方向に沿つて離れるに従つて透 過率 t増加する、 Y軸を対称軸とする透過率分布とすることもできる。 例えば、 透過率 tが X値に比例する、 s i n 2 ( X ) に比例する、 或いは X値に対して段 階的に変化するように構成することができる。
(第 3実施形態)
次に、 本発明の第 3実施形態にかかる顕微鏡装置について説明する。 本第 3実 施形態では、 第 1実施形態における位相板とスリット部材の構成が異なり、 その 他の構成は第 1実施形態と同様であるため、 位相板と開口部材についてのみ説明 する;
図 9 Aは、 本発明の第 3実施形態にかかる顕微鏡装置の兀位相板 2 7と開口部 材 3に形成した輪帯開口 2 3 aとの位置関係を示している。 すなわち、 本第 3実 施形態では、 第 1実施形態の図 1において、 スリット部材 3の位置に輪帯幅 d 2 の輪帯開口 2 3 aを有する開口部材 3が配置され、 対物レンズ 6の後側焦点面近 傍には、 一 7T Z 2の位相差を与える円板状の位相板 2 7 eと、 その外周側に + 7T 2の位相差を与える輪帯状の位相板 2 7 f とを有する 7t位相板 2 7が配置さ れている。 また図 9 Bは、 π位相板 2 7の透過率特性を示し、 図 9 Cは、 ττ位相 板 2 7の位相差特性をそれぞれ示している。 なお、 ここでは位相板 2 7 eがー π Ζ 2、 位相板 2 7 fが + π Ζ 2で位相差 7tを有する場合について説明したが、 両 音の位相差が 7Τであれば良く、 上記構成に限定されることはない。 また図 9 A、 9 B、 9 Cにおいて、 位相板' 27 eと位相板 27 f と境界である 円形の位相境界部分 27 cは、 照明光学系 10の兀位相板 27と共役な位置に配 置された輪帯幅 cl 2の輪帯開口 23 aのほぼ中央付近に位置付けられるように 配置されている。
7T位相板 2 7と輪帯開口 2 3 aが配置された顕微鏡装置 1 00により得られ る画像は、 第 1実施形態で x=0としたときに類似している (よってここでは像 の計算結果を省略する) 。第 1実施形態では開口幅 d 1の方向 (即ち、 X軸方向) にしか像が分解を特たないという方向性を有するのに対して、 本第 3実施形態で は輪帯開口 23 aで試料 5を輪帯照明しているため、 得られる像は方向性を持た ないという特徴がある。 そのため、 得られる 2次元像はいわゆるエッジ強調画像 のような見え方となる。
また、 輪帯開口 23 aの開口幅 d 2と第 1実施形態のスリット状の開口 3 aの 開口幅 d 1とは、
d 2 = cl 1 / 2
の関係を満たしている。 この結果、 本第 2実施形態では、 第 1実施形態の条件式 (1) に相当する条件式 (3) を満足することが望ましい。
(3) 0 · 025 ≤ d 2/ (2 XNAX f Xm) ≤ 0. 3
条件式( 3 )の意味するところは、第 1実施形態と同様であり説明を省略する。 なお、 本発明の効果を確実にするために、 条件式 (3) の下限値を 0. 0 5にす る事が好ましい。 また、 本発明の効果を確実にするためには、 条件式 (3) の上 限値を、 0. 2 5にする事が好ましい。 また、 本発明の効果を更に確実にするた めには、 条件式 (3) の上限値を 0. 20にする事が好ましい。
図 1 0A、 1 0 B、 1 0 Cは、 本第 3実施形態の変形例を示す。 図 1 OAは π 位相板 37を、 図 10 Βは 7Τ位相板 27の透過率特性を、 図 1 0 Cは位相特性を それぞれ示している。
図 1 0A、 1 0B、 1 0 Cにおいて、 兀位相板 37は輪帯幅 d 2の輪帯開口 2 3 aの位置の透過率 tが、 輪帯開口 2 3 a以外の部分に比べて低い透過率 tを有 するようにフィル夕 3 8が形成されている。 なお、 透過率 tのフィルタ 3 8は、 7T位相板 3 7面上に形成されてあつても良いし、 フィル夕 3 8を別体に作成して 7T位相板 3 7と一体的に構成しても良い。
また、 透過率 tは、 第 1実施形態と同様に以下の条件式 (2 ) を満足すること が望ましい。
( 2 ) 0 ≤ t ≤ 5 0 (単位: %)
このように、 輪帯幅 d 2の輪帯開口 2 3 a部分に、 透過率 tのフィル夕 3 8を 設けることによって、 得られる試料像は第 2実施形態と同様にバックグラウンド —光は暗くなり、 信号光が相対的に強くなるため、 透過率 tの領域が無い図 9の場 合にくらベてコントラス卜が高くなる。
なお、 フィル夕部分 3 8は、 上記のように輪帯幅 d 2に亘つて透過率 tが一定 に形成しても良いし、 位相差の境界領域 3 7 cを最低値とし、 境界領域 3 7 cに 対して対称に透過率 tが高くなるような透過率分布を有するフィルタ部分 3 8 としても良い。 その場合、 透過率 tの変化は、 境界領域 3 7 cの半径を r cとし て半径に対し I r— r c I に比例する、 s i n 2 ( | r— r c | ) に比例する、 I r - r c I に応じて段階的に高くなる、 などの分布をとることが可能である。 まこ、 位相板 2 7、 3 7は、 X Y Z軸方向に移動可能に構成されており、 その 作用、 効果は第 1実施形態と同様である。
(第 4実施形態)
次に、本発明の第 4実施形態にかかる顕微鏡装置について説明する。図 1 1は、 本発明の第 4実施形態にかかる顕微鏡装置の概略構成図である。 本第 4実施形態 が第 1実施形態から第 3実施形態と異なる点は、 第 1実施形態から第 3実施形態 では、開口部材と π位相板がそれぞれ 1個の場合であつたが、本第 4実施形態は、 開口部材が複数の開口を有し、 それぞれの開口を照明光学系の光軸に挿脱切替可 能であり、 開口形状に対応した Τ位相板を複数有する位相板ホルダを有し結像光 学系の光軸に揷脱切替可能に構成されている。 第 1実施形態と同様の構成には同 じ符号を付し説明を省略する。
図 ·1 1において、 第 4実施形態にかかる顕微鏡装置 2 0 0は、 照明光学系 1 0 中の、 対物レンズ 6の後側焦点面と共役な位置にスライダー式の開口部材 5 3が 配置され、 結像光学系 3 0の対物レンズ 6の後側焦点面の近傍に、 スライダ一式 の位相板ホルダ 5 7が配置されて構成されている。 なお、 スライダー式の π位相 板ホルダ 5 7は結像光学系 3 0内の対物レンズ 6の後側焦点面と共役な面の近 傍に配置しても良い。 また、 スライダー式の開口部材 5 3は照明光学系 3 0内の コンデンサレンズ 4の前側焦点面と共役な面の近傍に配置しても良い。
スライダー式の開口部材 5 3には、 図 1 2 Αに示す、 スリット状の開口 3 a、 1 3 a、 及び輪帯開口 2 3 aがほぼ同一平面内に配置され、 照明光学系 1 0の光 軸に対して交換可能に構成されている。 なお、 開口 3 aは第 1実施形態で、 開口 1 3 aは第 2実施形態で、 開口 2 3 aは第 3実施形態で説明された開口と同等で あり構成等の説明を省略する。
スライダー式位相板ホルダ 5 7には、 図 1 2 Bに示す、 スリット状の開口 3 a に対して用いられる C位相板 7、 スリット状の開口 1 3 aに対して用いられるフ ィル夕 1 8を有する T位相板 1 7、 及び輪帯開口 2 3 aに対して用いられる π位 相板 2 7がほぼ同一平面内に配置され、 光軸に対して交換可能に構成されている。 なお、 U位相板 7は第 1実施形態で、 Γ位相板 1 7は第 2実施形態で、 π位相板 2 7は第 3実施形態で説明された π位相板と同等であり構成等の説明を省略す る。 また、 各 π位相板 7 , 1 7, 2 7は一つの支持部材 5 7 aで支持され、 光軸 に垂直な平面内の X Y軸方向に微動可能とするために、 支持部材 5 7 aを X軸方 向に微動させるための微動機構 5 8と Y軸方向に微動させるための微動機構 5 9とが設けられている。 また、 スライダー式位相板ホルダ 5 7は Z軸方向にも移 動可能に構成され、 対物レンズ 6の変更に伴う後側焦点面の変化に対応可能に構 成されている。 本第 4実施形態では、 上述のように開口部材 53と位相板ホルダ 57が構成さ れているため、 開口 3 a、 1 3 a、 23 aと兀位相板 7、 1 7、 27の組合せを 必要に応じて切り替えることにより、 サンプルに応じた最適な観察方法を選択で きる。 位相板ホルダ 5 7の支持部材 57 aは XY軸方向に微動可能であり、 像の コントラストを調整することができる。 なお、 第 4本実施形態ではスライダ式の 開口部材 5 3及びスライダー式の位相板ホルダ 57で揷脱切り替えを説明した 力^ ターレツ卜式で回転による揷脱切り替えやその他類似の方法でも良い。 また、 開口部がスリット状の開口 3 a、 1 3 aの場合の開口幅 d 1は、 条件式 (1) を満足し、 輪帯開口 23 aの場合の開口幅 d 2は条件式 (3) を満足し、 フィル夕 1 8の透過率 tは条件式 ( 2 ) を満足する。
図 1 3及び図 14 A、 14 B、 14 Cは、 本発明の第 4実施形態に係る変形例 を示す図である。 図 1 3は変形例にかかる顕微鏡装置 200を、 図 14 Aは位相 板を^し、 図 14Bはフィルタを示し、 図 14 Cは両者を組み合わせた状態をそ れぞれ示す。 本変形例では、 T位相板 1 7と透過率 tを変えるフィル夕 18とを 個別に光軸に揷脱可能に構成してある。 また、 開口 3 a、 1 3 a、 23 aの交換 の仕方は前述と同様である。
図 1 3、 図 14A、 14B、 14 Cにおいて、 透過率 tのフィル夕 18を有す るスライダー式フィルタ部材 1 9と T位相板 1 7を有するスライダー式 C位相 板 20力 結像光学系 30の光軸に揷脱可能に構成されている。 スライダー式フ ィル夕部材 1 9とスライダ一式 7T位相板 20とは、 対物レンズ 6の後側焦点面の 近傍にそれぞれ挿脱可能に構成されている。 なお、 スライダー式フィル夕部材 1 9とスライダー式 T位相板 20は、 第 2実施形態と同様の構成を例示してあり、 その作用、 効果等の説明は省略する。
本変形例では、 照明光学系 1 0の光軸にスリット状の開口 1 3 aを挿入し、 結 像光学系 30の光軸にスライダー式 7C位相板 20を揷入した場合を示している。 スライダ一式 T位相板 20のみを光路に挿入すると第 1実施形態と同様の顕微 鏡装置 1 0 0となり、 さらにスライダー式フィル夕部材 1 9も結像光学系 3 0の 光軸に揷入するとスライダー式 7C位相板 2 0とスライダー式フィルタ部材 1 9 の特性を合わせた特性の 7T位相板となり第 2実施形態の顕微鏡装置 1 0 0が実 現できる。 さらに透過率分布や位相分布を微妙に変えたもの等をそれぞれ準備し 交換することで、 多様な観察条件を実現することが可能となる。
また、 スライダー式フィル夕部材 1 9とスライダー式 7T位相板 2 0とを、 スラ ィダ一式開口 5 3に配設されている開口の形状に対応するスライダー式フィル 夕部材及びスライダー式 7C位相板にそれぞれ交換することで、 上述した各実施形 態と同様の効果を奏することができる。
また、 開口部がスリット状の開口 3 a、 1 3 aの場合の開口幅 d 1は、 条件式 ( 1 ) を満足し、 輪帯開口 2 3 aの場合の開口幅 d 2は条件式 (3 ) を満足し、 透過率 tは条件式 (2 ) を満足する。
なお、 上記各実施形態では、 透過型顕微鏡の場合について説明したが、 反射型 顕微鏡でも同様の効果を奏することができる。 反射型顕微鏡の場合には、 照明光 学系と結像光学系とに共用される例えばハーフミラ一部材に対して、 開口を有す る開口部材或いはスライダー式開口部材は照明光学系の光源とハーフミラー部 材との間の対物レンズの後側焦点面と略共役な位置に配置し、 7C位相板またはス ライダー式位相板ホルダ或いはフィル夕部材はハーフミラ一部材と像面との間 の対物レンズの後側焦点面と略共役な位置に配置することが必要である。
なお、 上述の実施の形態は例に過ぎず、 上述の構成や形状に限定されるもので はなく、 本発明の範囲内において適宜修正、 変更が可能である。

Claims

1 . 光源からの照明光を標本に照射する照明光学系と、
前記標本からの光を対物レンズで集光し標本像を結像する結像光学系と、 前記照明光学系内の前記対物レンズの後側焦点面と共役な面の近傍に配置さ れ、 前記照明光を制限する開口を有する開ロ部材と、
前記結像光学系内の前記対物レンズの後側焦点面近傍、 または前記後側焦点面 の共役面の近傍に配置され、 前記標本かのらの光に 1 8 0度の位相差を与える第 1 の位相領域と第 2の位相領域とを有し、
前記第 1の位相領域と前期第 2の位相領域の位囲相境界部分は、 前記開口に共役 な開口内に位置付けられている位相板を有するフィルタ部材とを有して成るこ とを特徴とする顕微鏡装置。
2 . 前記開口は、 スリット状開口であり、
前記位相境界部分は、 前記スリット状開口の長辺方向と略平行に位置付けられ ていることを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡装置。
3 . 前記スリット状開口の短辺方向の幅 d 1は、 以下の条件を満たすことを特 徴とする請求項 2に記載の顕微鏡装置。
0 . 0 5 ≤ d 1 / ( 2 X N A X f X m) ≤ 0 . 6
但し、
N A:前記対物レンズの開口数
f :前記対物レンズの焦点距離
m:前記対物レンズの後側焦点面から前記照明光学系内の前記スリット状の開 口が配置される面への倍率
4 . 前記フィル夕部材は、 前記位相板の前記スリット状開口と共役な位置の透 過率を制御する透過率制御板を更に有し、 前記透過率制御板は、 前記位相板の前 記スリット状開口と共役な位置の透過率が略一定であり、
前記透過率 tは、 以下の条件を満たすことを特徴とする請求項 3記載の顕微鏡 装置。
0 ≤ t ≤ 5 0 (単位: %)
5 . · 前記フィルタ部材は、 複数の前記位相板と複数の前記透過率制御板とを有 し、
前記複数の位相板と前記複数の透過率制御板を、 光軸に対してそれぞれ独立に 交換可能に形成されていることを特徴とする請求項 4記載の顕微鏡装置。
6 . 前記フィルタ部材は、 光軸に対して揷脱可能に形成されていることを特徴 とする請求項 5記載の顕微鏡装置。
7 . 前記位相板において、 前記位相境界部分を Y軸とし、 前記 Y軸と光軸とに 垂直な軸を X軸、 前記 Y軸と前記 X軸との交点を原点とするとき、
前記フィル夕部材は、 前記原点の近傍で前記透過率が最小で前記原点から離れ るに従って前記透過率が高くなる、 前記 Y軸に対して対称な透過率分布を持つ透 過率制御板を更に有することを特徴とする請求項 3記載の顕微鏡装置。
8 . 前記位相板において、 前記位相境界部分を Y軸とし、 前記 Y軸と光軸とに 垂直な軸を X軸、 前記 Y軸と前記 X軸との交点を原点とするとき、
前記フィル夕部材は、 前記原点から離れるにつれて階段状に透過率が高くなる、 前記 Y軸に対して対称な透過率分布を持つ透過率制御板を更に有することを特 徴とする請求項 3記載の顕微鏡装置。
9 . 前記フィル夕部材は、 光軸に対して挿脱可能に形成されていることを特徴 とする請求項 3記載の顕微鏡装置。
1 0 . 前記フィル夕部材は、 前記位相板の前記スリット状開口と共役な位置の 透過率を制御する透過率制御板を更に有し、 前記透過率制御板は、 前記位相板の 前記スリット状開口と共役な位置の透過率が略一定であり、
前記透過率 tは、 以下の条件を満たすことを特徴とする請求項 2記載の顕微鏡 装置。
0 ≤ t ≤ 5 0 (単位: %) 丄 1 . 前記位相板において、 前記位相境界部分を Y軸とし、 前記 Y軸と光軸と に垂直な軸を X軸、 前記 Y軸と前記 X軸との交点を原点とするとき、
前記フィル夕部材は、 前記原点の近傍で前記透過率が最小で前記原点から離れ るに従って前記透過率が高くなる、 前記 Y軸に対して対称な透過率分布を持つ透 過率制御板を更に有することを特徴とする請求項 2記載の顕微鏡装置。
1 2 . 前記位相板において、 前記位相境界部分を Y軸とし、 前記 Y軸と光軸と に垂直な軸を X軸、 前記 Y軸と前記 X軸との交点を原点とするとき、
前記フィル夕部材は、 前記原点から離れるにつれて階段状に透過率が高くなる、 前記 Y軸に対して対称な透過率分布を持つ透過率制御板を更に有することを特 徴とする請求項 2記載の顕微鏡装置。
1 3 . 前記位相板において、 前記位相境界部分を Y軸とし、 前記 Y軸と光軸と に垂直な軸を X軸、 前記 Y軸と前記 X軸との交点を原点とするとき、
前記フィル夕部材は、 前記原点の近傍で前記透過率が最小で前記原点から離れ るに従って前記透過率が高くなる、 前記 Y軸に対して対称な透過率分布を持つ透 過率制御板を更に有することを特徴とする請求項 1記載の顕微鏡装置。
1 4 . 前記位相板において、 前記位相境界部分を Y軸とし、 前記 Y軸と光軸と に垂直な軸を X軸、 前記 Y軸と前記 X軸との交点を原点とするとき、
前記フィル夕部材は、 前記原点から離れるにつれて階段状に透過率が高くなる、 前記 Y軸に対して対称な透過率分布を持つ透過率制御板を更に有することを特 徴とする請求項 1記載の顕微鏡装置。
1 5 . 前記開口部材の前記開口は、 輪帯開口であり、
前記位相板の前記位相境界部分は、 円形状であり、
前記位相境界部分は、 前記輪帯開口と共役な輪帯開口の略中央に位置付けられ ていることを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡装置。
1 6 . 前記輪帯開口の開口幅 d 2は、 以下の条件を満たすことを特徴とする請 求項 1 5に記載の顕微鏡装置。
0 . 0 2 5 ≤ d 2 / ( 2 X NA X f X m) ≤ 0 . 3
但し、
Ν Ά :前記対物レンズの開口数 .
f :前記対物レンズの焦点距離
m:前記対物レンズの後側焦点面から前記照明光学系内の前記輪帯状開口が配 置される面への倍率
1 7 . 前記フィルタ部材は、 前記位相板の前記輪帯開口位置と共役な位置の透 過率を制御する透過率制御板を更に有し、 前記透過率制御板は、 前記位相板の前 記輪帯開口位置と共役な位置の透過率が略一定であり、 O 2008/004679
23
前記透過率 tは以下の条件を満たすことを特徴とする請求項 1 6記載の顕微 鏡装置。
0 . ≤ t ≤ 5 0 (単位:%)
1 8 . 前記フィル夕部材は、 複数の前記位相板と複数の前記透過率制御板とを 有し、
前記複数の位相板と前記複数の透過率制御板を、 光軸に対してそれぞれ独立に 交換可能に形成されていることを特徴とする請求項 1 7記載の顕微鏡装置。
1 9 . 前記フィルタ部材は、 光軸に対して揷脱可能に形成されていることを特 徴とする請求項 1 8記載の顕微鏡装置。
2 0 . 前記フィルタ部材は、 光軸を中心とした同心円状の透過率分布を有する 透過率制御板を更に有し、
前記同心円状の透過率分布は、 前記位相板の前記輪帯開口と略共役な開口位置 で最も透過率が低く、 前記輪帯開口と略共役な開口位置から遠ざかるに従って段 階的に透過率が高くなり、 前記輸帯開口と共役な開口の内周部から前記輪帯開口 の中心方向と前記輪帯開口と共役な開口の外周部の外側方向で略対称であるこ とを特徴とする請求項 1 6記載の顕微鏡装置。
2 1 . 前記フィル夕部材は、 光軸に対して挿脱可能に形成されていることを特 徴とする請求項 1 6記載の顕微鏡装置。
2 2 . 前記フィル夕部材は、 前記位相板の前記輪帯開口位置と共役な位置の透 過率を制御する透過率制御板を更に有し、 前記透過率制 板は、 前記位相板の前 記輪帯開口位置と共役な位置の透過率が略一定であり、 O 2008/004679
24
前記透過率 tは以下の条件を満たすことを特徴とする請求項 1 5記載の顕微 鏡装置。
0 ≤ t ≤ 5 0 (単位:%)
2 3 . 前記フィル夕部材は、 光軸を中心とした同心円状の透過率分布を有する 透過率制御板を更に有し、
前記同心円状の透過率分布は、 前記位相板の前記輪帯開口と略共役な開口位置 で最も透過率が低く、 前記輪帯開口と略共役な開口位置から遠ざかるに従つて段 階的に透過率が高くなり、 前記輸帯開口と共役な開口の内周部から前記輪帯開口 の中心方向と前記輪帯開口と共役な開口の外周部の外側方向で略対称であるこ とを特徴とする請求項 1 5記載の顕微鏡装置。
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