WO2011105438A1 - 距離画像センサ - Google Patents

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WO2011105438A1
WO2011105438A1 PCT/JP2011/054006 JP2011054006W WO2011105438A1 WO 2011105438 A1 WO2011105438 A1 WO 2011105438A1 JP 2011054006 W JP2011054006 W JP 2011054006W WO 2011105438 A1 WO2011105438 A1 WO 2011105438A1
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transfer electrode
period
image sensor
distance image
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鈴木 高志
光人 間瀬
智浩 山崎
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Hamamatsu Photonics KK
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Definitions

  • the present invention relates to a distance image sensor.
  • an image sensor that can obtain a distance image of an object is expected. It is also expected to obtain the actual image of the measurement object and the distance image with the same chip.
  • a distance image sensor is expected to be applied to various technologies. For example, if a distance image sensor is mounted on a moving body such as a ship, an automobile, or an aircraft, a distance image of an object around the moving body can be obtained. Therefore, based on the obtained distance image of the object, the moving object Can be controlled. In factory automation (FA), when a distance image of an object is obtained, the object can be inspected / controlled using the distance image.
  • FA factory automation
  • TOF-Flight Time-OF-Flight
  • this method requires a light source (such as a pulse laser or a light emitting diode (LED)) and a light receiving element.
  • the distance image sensor using the charge distribution structure the distance is calculated based on the ratio between the accumulated charges distributed at a certain period and the accumulated charges different from the phase. That is, the phase shift of the reflected return light with respect to the phase of the emitted light is regarded as the distance to the object, and the charge generated in response to the return light is distributed in synchronization with the modulation period of the emitted light, and the phase shift The amount is calculated using the ratio of the distributed charge amount.
  • Patent Document 1 electric charges are distributed by two light receiving units and two storage capacitors.
  • a plurality of pixels are two-dimensionally arranged, and distance information to an object obtained in each pixel is two-dimensionally output.
  • at least two capacitors are provided in one pixel, and charges derived from background light are canceled using these two capacitors.
  • one capacitor is provided in one pixel, and a distributed signal is supplied to each electrode terminal of the capacitor at different times via only a pair of switches. Is integrated to control the electric charge flowing into the capacitor and cancel the current derived from the background light.
  • the distance image sensor described in Patent Document 1 has a large number of capacitors, so the size of one pixel is increased, and the spatial resolution is improved. Can not do it.
  • circuit elements such as capacitors and switches
  • parasitic capacitance increases and output linearity decreases.
  • the time correlation detection type image sensor described in Patent Document 2 although the spatial resolution is increased by reducing the number of capacitors, switching noise is superimposed on the signal due to an increase in the number of switching circuits. Cannot be calculated. Therefore, any of the conventional techniques has a problem that an accurate distance image cannot be obtained.
  • the present invention has been made in view of such a problem, and an object thereof is to provide a distance image sensor capable of obtaining an accurate distance image.
  • a distance image sensor is a distance image including an imaging region that receives reflected light of light emitted to an object and a drive circuit that drives the imaging region.
  • the imaging region includes a plurality of pixels arranged one-dimensionally or two-dimensionally on a semiconductor substrate, and each pixel includes a light-receiving region and first and second adjacent to the light-receiving region. Electrically connected between the first and second storage regions, and the first and second transfer electrodes for controlling the flow of charge into the first and second storage regions, respectively.
  • the circuit sets a reset period in which all of the first, second, third, and fourth switches are turned on at the first time of one cycle, and the first period and the second period alternate in one cycle. In the first period, both the first and third switches are turned on, both the second and fourth switches are turned off, and in the second period, the first and third switches are turned on.
  • Both the second switch and the fourth switch are turned OFF, and both the second and fourth switches are turned ON, and the first and second transfer electrodes are synchronized with the modulation signal of the emitted light within the one period, and have opposite phases to each other.
  • the modulation signal is provided.
  • Noise based on the light quantum (photon shot noise) increases at the square root of the exposure light quantity, and the signal component increases proportionally. Therefore, as the exposure time is increased, the ratio of the signal component increases, and the signal to noise ratio increases. Will improve. Therefore, as the charges distributed in the first and second storage regions are integrated by the first and second transfer electrodes, the signal-to-noise ratio is improved and an accurate distance image can be obtained. That is, by applying a modulation signal to the transfer electrode, charge integration for a certain period is performed in the first and second accumulation regions, and simultaneously or after integration, the charge integrated in the first accumulation region is changed to the first accumulation region. In the first period, the charge connected to the first terminal of the capacitor and integrated in the second accumulation region is connected to the second terminal of the capacitor in the second period. The charge component contained, that is, the background light component is canceled out.
  • each storage region is connected to only a single capacitor, the pixel size can be reduced to improve the spatial resolution.
  • the first and second storage regions are also provided. Since the charge transferred into the capacitor is integrated, the signal-to-noise ratio is improved, and the number of times of switching during charge transfer to the capacitor of the first and second switches is reduced, so that the switching noise is also reduced.
  • the electric charge corresponding to the distance is accumulated in this, and the accurate distance can be calculated by detecting the amount of electric charge (voltage corresponding to this). Further, in this application, since the photocurrent is integrated as a charge for a predetermined period and then the distribution operation is performed, the noise is less than that in which the photocurrent is directly distributed to the capacitor as in Patent Document 2.
  • the drive circuit includes the first or second switch so that the number of switching times of the first and second switches after the end of the reset period within the one cycle is equal.
  • the second switch is additionally switched.
  • additional switching hereinafter referred to as “dummy switching”
  • the drive circuit includes (a) the first circuit at a timing having a phase difference of 0 ° with the modulated signal of the emitted light within a specific period.
  • a modulation signal is given to the transfer electrode, a modulation signal having a phase opposite to that of the modulation signal given to the first transfer electrode is given to the second transfer electrode, and (b) the emission light within another period
  • the modulation signal is applied to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 90 ° with respect to the modulation signal, and the modulation signal applied to the first transfer electrode is opposite in phase to the second transfer electrode.
  • the modulation signal is applied to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 180 ° from the modulation signal of the emitted light, and the second transfer A modulation signal applied to the first transfer electrode.
  • a modulation signal to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 270 ° from the modulation signal of the emitted light within another period different from the above.
  • a modulation signal having a phase opposite to that of the modulation signal applied to the first transfer electrode is applied to the second transfer electrode, and the first period within one cycle of (a) to (d). And the order of the second period is the same.
  • the number of times the charge transferred to the capacitor is switched is different at each terminal of the capacitor.
  • the charge is stored in each storage region in the four phases (a) to (d).
  • the offset component can be canceled together with the background light component. Thereby, an accurate distance can be calculated.
  • the drive circuit includes (a) the first circuit at a timing having a phase difference of 0 ° with the modulation signal of the emitted light within a specific period.
  • a modulation signal is given to the transfer electrode, a modulation signal having a phase opposite to that of the modulation signal given to the first transfer electrode is given to the second transfer electrode, and (b) the emission light within another period
  • the modulation signal is applied to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 90 ° with respect to the modulation signal, and the modulation signal applied to the first transfer electrode is opposite in phase to the second transfer electrode.
  • the modulation signal is applied to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 0 ° from the modulation signal of the emitted light, and the second transfer A modulation signal applied to the first transfer electrode;
  • a modulation signal is applied to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 90 ° with the modulation signal of the emitted light within another period different from the above.
  • a modulation signal having a phase opposite to that of the modulation signal applied to the first transfer electrode is applied to the second transfer electrode, and the first period in one cycle of (a) and (b)
  • the order of the second period is the same, and the order of the first period and the second period in one cycle of (c) and (d) is the same as in the cases of (a) and (b). Is the opposite.
  • the two phases (a) and (b) described above and the charge transfer order to the capacitor are different from each other in the phases (c) and (d).
  • the offset component can be canceled together with the background light component. Thereby, an accurate distance can be calculated.
  • the distance image sensor of the present invention can obtain an accurate distance image.
  • the distance image sensor of the present invention an accurate distance image can be obtained.
  • FIG. 1 is a plan view of a distance image sensor according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram showing a cross-sectional configuration of each pixel of the distance image sensor shown in FIG. 1 and a light source unit.
  • FIG. 3 is a circuit diagram of each pixel of the distance image sensor shown in FIG.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 5 is an operation explanatory diagram of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 6 is an operation explanatory diagram of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 7 is an explanatory diagram of the operation of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 8 is an operation explanatory diagram of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 9 is an operation explanatory diagram of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 10 is an operation explanatory diagram of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 11 is an explanatory diagram of the operation of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 12 is a first timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 13 is a second timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 14 is a third timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 15 is a fourth timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 16 is a fifth timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 17 is a sixth timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 18 is a seventh timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 19 is an eighth timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • FIG. 1 is a plan view of a distance image sensor according to an embodiment.
  • the distance image sensor 1 includes an imaging region IMR formed on the semiconductor substrate 2, a sensor driving circuit DRV that drives the imaging region IMR, and an amplification circuit AMP that amplifies the output of the imaging region IMR.
  • the imaging region IMR includes a plurality of pixels P (m, n) arranged in a one-dimensional or two-dimensional manner on the semiconductor substrate 2. In the drawing, m rows and n columns of pixels P (m, n) are shown (m and n are natural numbers).
  • the imaging region IMR detects the reflected light of the emitted light to the object for each pixel, and the distance for each pixel of the image of the object is obtained from the phase difference between the emitted light and the reflected light for each pixel.
  • This distance image sensor 1 is a charge distribution type distance image sensor, and obtains a phase difference corresponding to the distance according to the ratio of the amount of charge distributed to two locations in each pixel.
  • FIG. 2 is a diagram showing a cross-sectional configuration of each pixel of the distance image sensor shown in FIG. 1 and a light source unit.
  • the light source unit includes a light source 10 such as a laser or a light emitting diode, a light source drive circuit 11 that drives the light source 10 at a high frequency, and a control circuit 12 that outputs a drive clock of the light source drive circuit 11.
  • the light source 10 emits a modulated signal that has been subjected to light intensity modulation of a square wave or a sine wave.
  • a square wave or sine wave modulation signal is also output from the sensor drive circuit DRV shown in FIG. 1, and the modulation signals from the sensor drive circuit DRV are out of phase with each other. This is applied to the transfer electrodes TX1 and TX2.
  • the emitted light LED from the light source 10 is irradiated on the object OBJ, reflected on the surface of the object OBJ, and reflected on the pixels P (m, n) in the imaging region IMR of the distance image sensor 1 as reflected light RLTD. Incident from the back side of the substrate.
  • An imaging lens (not shown) is disposed in front of the light incident surface.
  • the semiconductor substrate 2 is thinned and preferably has a thickness of 50 ⁇ m or less to constitute a back-illuminated distance image sensor.
  • the present invention can also be applied to the surface incidence type distance image sensor 1 without reducing the thickness of the semiconductor substrate 2.
  • Each pixel P (m, n) of the distance image sensor 1 is formed in a surface region of a high-concentration P-type (second conductivity type) semiconductor substrate 2 at a lower concentration than the semiconductor substrate (second conductivity type).
  • a pair of high-concentration N-type (first conductivity type) semiconductor regions charge storage regions: floating diffusion regions
  • fd1 and fd2 formed on the surface side of the semiconductor region 3.
  • An insulating layer 5 is formed on the surface of the semiconductor substrate, and a photogate electrode PG is formed on the P-type semiconductor region 3 between the storage regions fd1 and fd2 via the insulating layer 5,
  • the light detection region 4 immediately below the photogate electrode. The potential of the light detection region 4 can be controlled by the voltage applied to the photogate electrode PG.
  • the signal extraction electrodes Vfd1 and Vfd2 are electrically connected to the storage regions fd1 and fd2, respectively. Further, the transfer electrodes TX1 and TX2 are located between the photogate electrode PG and the signal extraction electrodes Vfd1 and Vfd2.
  • An N-type semiconductor has electrons as carriers in an electrically neutral state, and is positively ionized when carriers are removed. That is, the high-concentration N-type accumulation regions fd1 and fd2 are greatly recessed downward to constitute a potential well.
  • a slight positive DC potential is applied to the photogate electrode PG as necessary.
  • hole electron pairs are generated in response to the incidence of light.
  • TX1 and TX2 functioning as the gate electrodes
  • TX1 and TX2 The potential of the region immediately below becomes an intermediate value between the potential of the light detection region 4 and the potentials of the storage regions fd1 and fd2, and a potential step from the light detection region 4 to the storage regions fd1 and fd2 is formed. Electrons fall and accumulate in the potential well of fd2.
  • This structure employs a structure in which electrodes are provided on the storage regions fd1 and fd2 and a signal is taken out. However, a high-concentration region for signal extraction is separately provided next to the storage regions fd1 and fd2. It is also possible to place another transfer electrode on the region between the regions fd1 and fd2 and provide an electrode on the high concentration region to extract a signal.
  • the symbols Vfd1 and Vfd1 are signal extraction electrodes, and also indicate the voltages applied between these electrodes and the ground potential
  • symbols TX1 and TX2 Is a transfer electrode and also indicates a transfer voltage applied between these and the ground potential.
  • Reference numeral PG denotes a photogate electrode and also indicates a DC voltage applied between these and the ground potential.
  • the semiconductor region 3 is connected to the ground potential.
  • the charges extracted from the signal extraction electrodes Vfd1 and Vfd2 are read out by the read circuit RC formed in the semiconductor region 3.
  • the read circuit is not limited to the semiconductor region 3 and may be formed on the semiconductor substrate 2.
  • FIG. 3 is a circuit diagram of each pixel of the distance image sensor shown in FIG.
  • Each pixel P (m, n) includes a light receiving region (photodiode PD) that generates a charge in response to incident reflected light, and a first storage region fd1 and a second storage region fd2 adjacent to the photodiode PD. It has.
  • the first transfer electrode TX1 and the second transfer electrode TX2 control the inflow of charges into the first storage region fd1 and the second storage region fd2, respectively.
  • a capacitor C1 is electrically connected between the electrodes Vfd1 and Vfd2 of the first and second accumulation regions fd1 and fd2 via switches ⁇ 1 and ⁇ 2 made of transistors, respectively.
  • the first switch ⁇ 1 is interposed between the first terminal of the capacitor C1 (right terminal in the drawing: node VA) and the first storage region fd1, and the second switch ⁇ 2 is connected to the second terminal of the capacitor C1 ( It is interposed between the left terminal in the drawing: node VB) and the second accumulation region fd2.
  • a third switch ⁇ 1r made of a transistor is interposed between the second terminal (terminal on the left side of the drawing: node VB) of the capacitor C1 and the positive reference potential Vr.
  • a fourth switch ⁇ 2r is interposed between the first terminal (right terminal in the drawing: node VA) of the capacitor C1 and the reference potential Vr.
  • the symbols ⁇ 1, ⁇ 2, ⁇ 1r, and ⁇ 2r indicate switches and also indicate voltages applied between the switches and the ground.
  • Symbols VA and VB indicate nodes, and also indicate voltages between these nodes located at both ends of the capacitor C1 and the ground potential.
  • parasitic capacitances Cfd1 and Cfd2 are interposed between the storage regions fd1 and fd2.
  • Various signal voltages ⁇ 1, ⁇ 1r, ⁇ 2, ⁇ 2r, TX1, TX2, and PG are output from the sensor drive circuit DRV.
  • the signal voltages ⁇ 1, ⁇ 1r, ⁇ 2, and ⁇ 2r are respectively applied to the control terminals of the switches ⁇ 1, ⁇ 1r, ⁇ 2, and ⁇ 2r made of transistors (a gate electrode for a field effect transistor and a base electrode for a bipolar transistor).
  • the Transfer voltages TX1 and TX2, which are reverse phase signals, are respectively applied to transfer electrodes TX1 and TX2 constituting the gate electrode of the MOS transistor.
  • the DC voltage PG is supplied to the photogate electrode PG.
  • a region having a lower potential than the photodetection region 4 immediately below the photogate electrode PG is formed immediately below the transfer electrode, and thus a storage region having a lower potential than the region immediately below the transfer electrode. Electrons generated in the photodiode PD are transferred to and flow into fd1 and fd2.
  • the charges are transferred to the capacitor C1.
  • Charges derived from background light are also accumulated in the accumulation regions fd1 and fd2, but the amount of charge derived from the background light can be considered to be the same in both the accumulation regions fd1 and fd2, and this is regarded as the capacitor C1.
  • These charges are canceled when transferred to both terminals. Therefore, in order to obtain the charge amount of the signal component, the charges accumulated in the accumulation regions fd1 and fd2 may be transferred to the single capacitor C1.
  • the voltages VA and VB at both terminals of the capacitor C1 are input to the amplifier circuit AMP, and the output of the amplifier circuit AMP is input to the control circuit 12.
  • 4 to 11 are operation explanatory views of the distance image sensor according to the embodiment, and schematically show only the portions necessary for the operation description.
  • FIG. 4 shows a state in which all the switches ⁇ 1, ⁇ 1r, ⁇ 2, and ⁇ 2r are turned off after resetting, and no charge is present in the pixel.
  • FIG. 5 shows a state where the switches ⁇ 1 and ⁇ 1r are turned on and ⁇ 2 and ⁇ 2r are turned off when light is incident directly below the photogate electrode PG and electrons as carriers are generated.
  • Black circles in the figure indicate electrons flowing into the right accumulation region fd1
  • white circles in the figure indicate electrons flowing into the left accumulation region fd2.
  • 12 charges flow into the right side and 6 charges flow into the left side since the timing of the return light is delayed from the emission timing, it is assumed that 12 charges flow into the right side and 6 charges flow into the left side. Note that these charge amounts include components derived from background light.
  • the charge flowing into the right accumulation region fd1 flows into one terminal of the capacitor C1 via the switch ⁇ 1, and the charge is divided.
  • all the switches ⁇ 1, ⁇ 1r, ⁇ 2, and ⁇ 2r are turned off, and the electric charge remains in one terminal of the capacitor C1.
  • FIG. 7 shows a state where the switches ⁇ 1 and ⁇ 1r are turned off and ⁇ 2 and ⁇ 2r are turned on.
  • the charge accumulated in the left accumulation region fd2 is divided and flows into the other terminal of the capacitor C1, and the charge is divided.
  • the charge accumulated on the right side of the capacitor C1 becomes a charge of opposite polarity accumulated at the opposite terminal. That is, as shown in FIG. 8, the charges accumulated on the right side of the capacitor C1 and the charges accumulated in the left accumulation region fd2 cancel each other and disappear, and only six charges are accumulated in the right accumulation region fd1. Remains.
  • FIG. 9 shows a state in which, after that, 12 additional charges flow into the right accumulation region fd1 and 6 charges flow into the left accumulation region fd2 in response to the incidence of light.
  • the total number of accumulated charges on the right side is 18. Since the switch ⁇ 2 is connected, the charge is divided and three charges flow into the left terminal of the capacitor C1.
  • FIG. 10 shows a state in which the switch ⁇ 2r is turned off from the state of FIG. 9, and the state of FIG. 9 is maintained.
  • FIG. 11 shows a state in which the switches ⁇ 1 and ⁇ 2 are then turned on and the charge accumulated in the right accumulation region fd1 is transferred to the capacitor C1, and the accumulated charge amount is redistributed according to the capacitor capacity. ing.
  • the ratio of the left and right charge amounts is 2: 6.
  • voltages VA and VB (Vfd1 and Vfd2) across the capacitor C1 are read out.
  • FIG. 12 is a first timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • the period from the current reset start time t1 to the next reset start time t9 is defined as one unit detection period (1 Phase). Between times t1 and t2, all the switches ⁇ 1r, ⁇ 2r, ⁇ 1, and ⁇ 2 are turned on, and the capacitor C1 and the storage regions fd1 and fd2 are reset to the initial state.
  • a period between time t2 and time t5 is defined as one transfer period T to the capacitor, and switches ⁇ 1r and ⁇ 1 are applied while applying transfer voltages TX1 and TX2 composed of opposite-phase square waves to the transfer electrodes TX1 and TX2. Is turned on (high level), and the switches ⁇ 2r and ⁇ 2 are turned off (low level), so that the charge accumulated in the right accumulation region fd1 is transferred to the right terminal of the capacitor C1.
  • the switches ⁇ 1r and ⁇ 1 are turned OFF (low level) while applying the transfer voltages TX1 and TX2 made of square waves of opposite phases to the transfer electrodes TX1 and TX2.
  • the switches ⁇ 2r and ⁇ 2 are turned on (high level) to transfer the charge accumulated in the left accumulation region fd2 to the other terminal of the capacitor C1. Note that, when this switch is switched, the overlapping charge components are canceled out.
  • the signal is read out in the period from time t8 to t9. Then, reset is performed again at the next time t9 to t10. In signal reading, the switches ⁇ 1 and ⁇ 2 are turned on, and ⁇ 1r and ⁇ 2r are turned off.
  • an intensity signal LED of light emitted from the light source and an intensity signal RLTD of reflected light are shown.
  • these waveforms are shown as square waves for simplification.
  • the delay time of the reflected light with respect to the emitted light corresponds to the distance to the object. That is, the period from the time t2 to the time t3 is the time during which the light travels the reciprocating distance from the light source to the object.
  • the drive signal to the light source is a square wave, and the rise and fall times thereof coincide with the rise and fall times of the transfer voltage TX1.
  • Q1 be the amount of charge transferred into the right accumulation region fd1 when the transfer voltage TX1 is high level
  • Q2 be the amount of charge transferred into the left accumulation region fd2 when the transfer voltage TX2 is high level.
  • a delay time is generated between the emitted light and the reflected light by the ratio of the charge amount Q2 to the total charge amount (Q1 + Q2), which corresponds to twice the distance L to the object.
  • the detection accuracy is improved by integrating the charges.
  • the drive circuit DRV sets a reset period (time t1 to t2) in which all the switches ( ⁇ 1, ⁇ 2, ⁇ 1r, ⁇ 2r) are turned on at the first time of one cycle (1 Phase), and one cycle (1 Phase) ),
  • the first period (time t2 to t5, time t6 to t7: T1) and the second period (time t5 to t6, time t7 to t8: T2) are alternately set. .
  • both of the switches ( ⁇ 1, ⁇ 1r) are turned on, both of the switches ( ⁇ 2, ⁇ 2r) are turned off, and in the second period (T2), the switches ( ⁇ 1, ⁇ 1r) Both are turned OFF, both the second and fourth switches ( ⁇ 2, ⁇ 2r) are turned ON, and in one cycle (1 Phase), the transfer electrodes TX1 and TX2 are synchronized with the modulation signal LED of the emitted light and are opposite to each other. Phase modulation signals TX1, TX2 are provided.
  • Noise based on the light quantum increases at the square root of the exposure light quantity, and the signal component increases proportionally. Therefore, as the exposure time is increased, the ratio of the signal component increases, and the signal to noise ratio increases. Will improve. Therefore, as the charges distributed in the first and second accumulation regions fd1 and fd2 are integrated by the transfer electrodes TX1 and TX2, the signal-to-noise ratio is improved, and an accurate distance image (luminance image) can be obtained. it can.
  • the charge integration for a certain period is performed in the storage regions fd1 and fd2, and at the same time or after the integration, the charge integrated in the storage region fd1 is changed to the first.
  • the charge connected to the right terminal VA of the capacitor C1 and integrated in the storage region fd2 is connected to the left terminal VB of the capacitor C1 in the second period (T2), and the capacitor C1.
  • the charge components included in both storage regions fd1 and fd2, that is, the background light components are canceled out.
  • each storage region fd1, fd2 is connected only to a single capacitor C1
  • the pixel size can be reduced to improve the spatial resolution, and the storage regions fd1, fd2 Since the transferred charges are integrated, the signal-to-noise ratio is improved, and the number of times of switching when the switches Q1 and Q2 are transferred to the capacitor C1 is reduced. Accurate distance can be calculated by accumulating electric charge according to the distance and detecting the amount of electric charge (voltage corresponding thereto).
  • FIG. 13 is a second timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • the signal is read during a period between time t9 and time t10, and the other configurations are the same as those in the first timing chart. That is, the signal is read out with all the switches ⁇ 1, ⁇ 2, ⁇ 1r, and ⁇ 2r turned off.
  • FIG. 14 is a third timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • timing chart a period in which both the transfer voltages TX1 and TX2 are turned off is set between time t8 and time t9, and a signal is read during this period. It is the same as the timing chart.
  • FIG. 15 is a fourth timing chart of the distance image sensor according to the embodiment. This timing chart is a modification of the first timing chart and includes a dummy switching period.
  • the switching times of the first and second switches ( ⁇ 1, ⁇ 2) in the period (from time t2 to time t11) after the end of the reset period within one cycle (1 Phase) become equal.
  • the first or second switch ( ⁇ 1, ⁇ 2) is additionally switched (in this example, the switch ⁇ 1 is turned OFF and ON at time t9 and time t10).
  • the number of times of switching becomes equal and the offset is canceled out, so that a more accurate distance image can be obtained.
  • the third or fourth switch is set so that the number of times the third and fourth switches ( ⁇ 1r, ⁇ 2r) switch in the period (from time t2 to time t11) after the end of the reset period within one cycle (1 Phase) becomes equal.
  • 4 switches ( ⁇ 1r, ⁇ 2r) are additionally switched (in this example, the switch ⁇ 1r is turned on and off at time t8 and time t9).
  • the number of times of switching becomes equal and the offset is canceled out, so that a more accurate distance image can be obtained.
  • FIG. 16 is a fifth timing chart of the distance image sensor according to the embodiment. This timing chart is a modification of the second timing chart and includes a dummy switching period.
  • the driving circuit DRV has the same number of switching times of the first and second switches ( ⁇ 1, ⁇ 2) in the period (from time t2 to time t10) after the end of the reset period within one cycle (1 Phase).
  • the first or second switch ( ⁇ 1, ⁇ 2) is additionally switched (in this example, the switch ⁇ 1 is turned OFF and ON at time t9 and time t10).
  • the number of times of switching becomes equal and the offset is canceled out, so that a more accurate distance image can be obtained.
  • FIG. 17 is a sixth timing chart of the distance image sensor according to the embodiment. This timing chart is a modification of the first timing chart and includes a dummy switching period.
  • the driving circuit DRV has the same number of switching times of the first and second switches ( ⁇ 1, ⁇ 1r) in the period (from time t2 to time t9) after the end of the reset period within one cycle (1 Phase).
  • the first or second switch ( ⁇ 1, ⁇ 1r) is additionally switched (in this example, at the time immediately after the reset period (t1 to t2), the switches ⁇ 1 and ⁇ 1r are turned OFF and ON. is doing).
  • additional switching hereinafter referred to as “dummy switching”
  • the number of times of switching becomes equal and the offset is canceled out, so that a more accurate distance image can be obtained.
  • Times t8 to t9 are signal readout periods, and times t9 to t10 are the next reset periods. First, all switches are reset and accumulation is started.
  • FIG. 18 is a seventh timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • each storage region fd1 By taking the difference between the charges (according to the voltage) accumulated in fd2, the offset component can be canceled together with the background light component. Thereby, an accurate distance can be calculated.
  • the drive circuit DRV gives signals as follows.
  • the modulation signal TX1 is given to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 0 ° from the modulation signal LED of the emitted light within a specific period (time t1 to t5), and the second transfer electrode.
  • a modulation signal TX2 having a phase opposite to that of the modulation signal TX1 applied to the first transfer electrode is applied.
  • the modulation signal TX1 is given to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 90 ° with the modulation signal LED of the emitted light, and the second transfer electrode In addition, a modulation signal TX2 having a phase opposite to that of the modulation signal TX1 applied to the first transfer electrode is applied.
  • the modulation signal TX1 is given to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 180 ° from the modulation signal LED of the emitted light, and the second transfer A modulation signal TX2 having a phase opposite to that of the modulation signal TX1 applied to the first transfer electrode is applied to the electrode.
  • the modulation signal TX1 is applied to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 270 ° from the modulation signal LED of the emitted light.
  • the second transfer electrode is supplied with a modulation signal TX2 having a phase opposite to that of the modulation signal TX1 applied to the first transfer electrode.
  • the order of the first period (T1: period in which ⁇ 1, ⁇ 1r is ON) and the second period (T2: period in which ⁇ 2, ⁇ 2r is ON) in one cycle of (a) to (d) above. are the same.
  • the offset can be canceled and the distance can be obtained. . That is, assuming that the same amount of offset is superimposed on the voltages Vfd1 and Vfd2 of each phase, the influence of the offset can be reduced by taking the difference between the voltages Vfd1 and Vfd2.
  • Vfd (0 °) Vfd1 (0 °) ⁇ Vfd1 (180 °)
  • Vfd (90 °) Vfd1 (90 °) ⁇ Vfd1 (270 °)
  • Vfd (180 °) Vfd2 (0 °) ⁇ Vfd2 (180 °)
  • Vfd (270 °) Vfd2 (90 °) ⁇ Vfd2 (270 °)
  • V1
  • V2
  • the total amount of signal Vtotal is V1 + V2, and the distance traveled by light during a period including four phases (t1 to t17) is given by V1 / Vtotal.
  • FIG. 19 is an eighth timing chart of the distance image sensor according to the embodiment.
  • Times t1 to t2, t5 to t6, t9 to t10, t13 to t14, t17 to t18 are reset periods, and time t4 to t5, t8 to t9, t12 to t13, and t16 to t17 are signal readout periods.
  • this timing chart only two phase differences of 0 ° and 90 ° are used, but the order of ⁇ 1 and ⁇ 2 is reversed between the first half and the second half of the detection period (t1 to t18).
  • the distance image sensor drive circuit DRV gives signals as follows.
  • the modulation signal TX1 is given to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 0 ° from the modulation signal LED of the emitted light within a specific period (time t1 to t5), and the second transfer electrode
  • a modulation signal TX2 having a phase opposite to that of the modulation signal TX1 applied to the first transfer electrode is applied.
  • the modulation signal TX1 is given to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 90 ° with the modulation signal LED of the emitted light, and the second transfer electrode In addition, a modulation signal TX2 having a phase opposite to that of the modulation signal TX1 applied to the first transfer electrode is applied.
  • the modulation signal TX1 is given to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 0 ° from the modulation signal LED of the emitted light, and the second transfer A modulation signal TX2 having a phase opposite to that of the modulation signal TX1 applied to the first transfer electrode is applied to the electrode.
  • the modulation signal TX1 is given to the first transfer electrode at a timing having a phase difference of 90 ° with the modulation signal LED of the emitted light,
  • the second transfer electrode is supplied with a modulation signal TX2 having a phase opposite to that of the modulation signal TX1 applied to the first transfer electrode.
  • T1 period in which ⁇ 1, ⁇ 1r is ON
  • T2 period in which ⁇ 2, ⁇ 2 are ON
  • the order of the first period T1 and the second period T2 in one cycle of the above (c) and (d) is opposite to the case of (a) and (b) above.
  • the two phases (a) and (b) described above and the phase of charge transfer to the capacitor C1 are different from each other in the phases (c) and (d).
  • the offset component can be canceled together with the background light component. Thereby, an accurate distance can be calculated.
  • the distance image sensor of the present invention can obtain an accurate distance image.
  • Vfd1 and Vfd2 in each phase are indicated as Vfd1 (phase) and Vfd2 (phase)
  • the following difference values are obtained in order to remove these variations and DC components.
  • Vfd1 and Vfd2 indicate voltages in the first half periods (a) and (b)
  • Vfd1 ′ and Vfd2 ′ indicate these voltages in the second half periods (c) and (d).
  • Vfd (0 °) Vfd1 (0 °) ⁇ Vfd2 (0 °)
  • Vfd (90 °) Vfd1 (90 °) ⁇ Vfd2 (90 °)
  • Vfd ′ (0 °) Vfd1 ′ (0 °) ⁇ Vfd2 ′ (0 °)
  • Vfd ′ (90 °) Vfd1 ′ (90 °) ⁇ Vfd2 ′ (90 °)
  • L1 Vfd (0 °) / (Vfd (0 °) + Vfd (90 °))
  • L2 Vfd ′ (0 °) / (Vfd ′ (0 °) + Vfd ′ (90 °))
  • SYMBOLS 1 Distance image sensor, IMR ... Imaging region, PD ... Light receiving region, fd1, fd2 ... Accumulation region, TX1, TX2 ... Transfer electrode, C1 ... Capacitor, ⁇ 1 ... First switch, ⁇ 2... Second switch, ⁇ 1r... Third switch, ⁇ 2r... Fourth switch, DRV.

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Abstract

 蓄積領域fd1、fd2は単一のキャパシタC1にしか接続されていないため、画素の大きさを小さくして空間分解能を向上させ、蓄積領域内fd1、fd2に転送された電荷を一旦蓄積するため、信号雑音比が向上する。駆動回路DRVは、一周期内におけるリセット期間終了時以後の第1及び第2のスイッチΦ1、Φ2のスイッチング回数が等しくなるように、ダミースイッチングを行うことで、オフセットが相殺され、更に正確な距離画像を得ることができる。

Description

距離画像センサ
本発明は、距離画像センサに関する。
従来、対象物の距離画像を得ることができるイメージセンサが期待されている。測定対象物の実際の画像と、距離画像を同一チップで求めることも期待されている。このような距離画像センサは、種々の技術への応用が期待されている。例えば、距離画像センサを船舶や自動車或いは航空機などの移動体に搭載すれば、移動体周囲の対象物の距離画像を得ることができるため、得られた対象物の距離画像に基づいて、移動体の挙動制御などを行うことができる。ファクトリーオートメーション(FA)においては、対象物の距離画像が得られると、これを利用した対象物の検査/制御が可能となる。
距離を計測する手法として、TOF法(Time-OF-Flight)があり、この方式では光源(パルスレーザーや発光ダイオード(LED)など)及び受光素子が必要となる。電荷振り分け構造を用いる距離画像センサにおいては、ある周期で振り分けられた蓄積電荷と、それとは位相のことなる蓄積電荷の比率によって距離を算出する。すなわち、出射光の位相に対する反射戻り光の位相のずれを、対象物までの距離として捉え、戻り光に呼応して発生する電荷を、出射光の変調周期に同期して振り分け、当該位相のずれ量を、振り分けられた電荷量の比率を用いて算出する。
この方式では電荷の蓄積が必要となるため、背景光が強い状況下で使用すると、信号を読み出す前に、蓄積容量が飽和してしまい、算出した距離の劣化の原因になる。そのため、背景光(外乱光)の影響を低減させながら電荷を蓄積する必要がある。
特許文献1では、2つの受光部と2つの蓄積容量により、電荷を分配している。全体の撮像領域は、複数の画素が2次元配列されており、各画素において求められる対象物までの距離情報が二次元的に出力される。これらの文献に記載の構造においては、1画素内において少なくとも2つのキャパシタを備えており、これら2つのキャパシタを用いて背景光由来の電荷を相殺している。
特許文献2に記載の時間相関検出型イメージセンサにおいては、1画素内に1つのキャパシタを備えており、振り分けられた信号を一対のスイッチのみを介してそれぞれキャパシタの両電極端子に異なる時間に電流を積分することで、当該キャパシタに流入する電荷を制御し、背景光由来の電流を相殺している。
米国特許6919549号明細書(特表2006-523074号公報) 特開平10-281868号公報
 しかしながら、二次元のセンサや一次元のラインセンサを作製することを考慮すると、上記特許文献1に記載の距離画像センサでは、キャパシタ数が多いため、1画素の寸法が大きくなり、空間分解能を向上することができない。また、キャパシタやスイッチ等の回路素子が多い場合には、寄生容量が増大し、出力のリニアリティが低下するという問題もある。一方、特許文献2に記載の時間相関検出型イメージセンサでは、キャパシタ数を減少させることにより、空間分解能は増加するが、スイッチング回路が増えることでスイッチング・ノイズが信号に重畳するため、正確に距離を演算することができない。したがって、いずれの従来技術においても、正確な距離画像を得ることはできないという問題がある。
 本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、正確な距離画像を得ることが可能な距離画像センサを提供することを目的とする。
 上述の課題を解決するため、第1の発明に係る距離画像センサは、対象物への出射光の反射光を受光する撮像領域と、前記撮像領域を駆動する駆動回路と、を備えた距離画像センサであって、前記撮像領域は、半導体基板上に一次元又は二次元状に配置された複数の画素を備え、個々の画素は、受光領域と、前記受光領域に隣接した第1及び第2の蓄積領域と、前記第1及び第2の蓄積領域への電荷の流入をそれぞれ制御する第1及び第2の転送電極と、前記第1及び第2の蓄積領域間に電気的に接続されたキャパシタと、前記キャパシタの第1端子と前記第1の蓄積領域との間に介在する第1のスイッチ(Φ1)と、前記キャパシタの第2端子と前記第2の蓄積領域との間に介在する第2のスイッチ(Φ2)と、前記キャパシタの前記第2端子と基準電位との間に介在する第3のスイッチ(Φ1r)と、前記キャパシタの前記第1端子と前記基準電位との間に介在する第4のスイッチ(Φ2r)と、を備え、前記駆動回路は、前記第1、第2、第3及び第4のスイッチを一周期の初めの時刻において全てONさせるリセット期間を設定し、一周期内において、第1の期間及び第2の期間を交互に設定し、前記第1の期間では、前記第1及び第3のスイッチの双方をONし、第2及び第4スイッチの双方をOFFし、前記第2の期間では、前記第1及び第3のスイッチの双方をOFFし、第2及び第4スイッチの双方をONし、前記一周期内において、前記第1及び第2の転送電極に、前記出射光の変調信号に同期し、互いに逆相の変調信号を与える、ことを特徴とする。
 光の量子性に基づくノイズ(フォトンショットノイズ)は、露光光量の2乗根で増加し、信号成分は比例で増加するので、露光時間を増加させるほど信号成分の割合が増加し、信号雑音比は向上する。したがって、第1及び第2の転送電極によって、第1及び第2の蓄積領域内に振り分けられた電荷を積分するほど、信号雑音比が改善し、正確な距離画像を得ることができる。すなわち、転送電極に変調信号を与えることで、第1及び第2の蓄積領域において、一定期間の電荷積分を行い、これと同時に或いは積分後に、第1の蓄積領域で積分された電荷を、第1の期間では、キャパシタの第1端子に接続し、第2の蓄積領域で積分された電荷を、第2の期間では、キャパシタの第2端子に接続し、キャパシタ内において、双方の蓄積領域に含まれる電荷成分、すなわち、背景光成分を相殺する。
 ここで、それぞれの蓄積領域は単一のキャパシタにしか接続されていないため、画素の大きさを小さくして空間分解能を向上させることができ、また、本発明では、第1及び第2蓄積領域内に転送された電荷を積分するため、信号雑音比が向上すると共に、第1及び第2のスイッチのキャパシタへの電荷転送時のスイッチング回数が減少するため、スイッチング・ノイズも低減し、キャパシタ内に距離に応じた電荷が蓄積され、かかる電荷量(これに応じた電圧)を検出することで、正確な距離を算出することができる。また、本願では、光電流を電荷として所定期間積分した後、振分け動作を行うため、特許文献2のように光電流を直接容量にスイッチで振り分けるものに比べて、ノイス゛が少ない。
 しかしながら、蓄積領域に積分した電荷のキャパシタへの転送時のスイッチング回数に差があると、片側の接続回数が多いことによって生じるオフセットを相殺することができず、更に正確な距離画像を得ることが困難である。
 そこで、第2の発明に係る距離画像センサにおいては、前記駆動回路は、前記一周期内における前記リセット期間終了時以後の第1及び第2のスイッチのスイッチング回数が等しくなるように、第1又は第2のスイッチを付加的にスイッチングすることとした。この場合、付加的なスイッチング(以下、ダミースイッチング)を行うことで、上記スイッチング回数が等しくなり、オフセットが相殺されるので、更に正確な距離画像を得ることができる。
 また、第3の発明に係る距離画像センサにおいては、前記駆動回路は、(a)特定の一周期内において、前記出射光の変調信号と0°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、(b)別の一周期内において、前記出射光の変調信号と90°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、(c)更に別の一周期内において、前記出射光の変調信号と180°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、(d)上記とは異なる別の一周期内において、前記出射光の変調信号と270°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、前記(a)~(d)の一周期内における前記第1の期間と前記第2の期間の順序は同一であることを特徴とする。
 ダミースイッチングを用いない場合、キャパシタに転送される電荷のスイッチング回数がキャパシタの各端子において異なるが、この発明では、上記(a)~(d)の4つの位相において、各蓄積領域に蓄積された電荷(に応じた電圧)の差分をとることで、背景光成分と共にオフセット成分を相殺することができる。これにより、正確な距離を算出することができる。
 また、第4の発明に係る距離画像センサにおいては、前記駆動回路は、(a)特定の一周期内において、前記出射光の変調信号と0°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、(b)別の一周期内において、前記出射光の変調信号と90°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、(c)更に別の一周期内において、前記出射光の変調信号と0°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、(d)上記とは異なる別の一周期内において、前記出射光の変調信号と90°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、前記(a)及び(b)の一周期内における前記第1の期間と前記第2の期間の順序は同一であり、前記(c)及び(d)の一周期内における前記第1の期間と前記第2の期間の順序は、前記(a)及び(b)の場合とは逆である、ことを特徴とする。
 この発明では、上記(a)、(b)の2つの位相と、これとはキャパシタへの電荷転送の順番が異なる(c)、(d)の場合の位相において、各蓄積領域に蓄積された電荷(に応じた電圧)の差分をとることで、背景光成分と共にオフセット成分を相殺することができる。これにより、正確な距離を算出することができる。
 上述のように、各画素において正確な距離を算出することができるので、本発明の距離画像センサでは、正確な距離画像を得ることができる。
 本発明の距離画像センサによれば、正確な距離画像を得ることができる。
図1は、実施の形態に係る距離画像センサの平面図である。 図2は、図1に示した距離画像センサの各画素の断面構成と光源ユニットを示す図である。 図3は、図2に示した距離画像センサの画素毎の回路図である。 図4は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図である。 図5は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図である。 図6は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図である。 図7は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図である。 図8は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図である。 図9は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図である。 図10は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図である。 図11は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図である。 図12は、実施の形態に係る距離画像センサの第1のタイミングチャートである。 図13は、実施の形態に係る距離画像センサの第2のタイミングチャートである。 図14は、」実施の形態に係る距離画像センサの第3のタイミングチャートである。 図15は、実施の形態に係る距離画像センサの第4のタイミングチャートである。 図16は、実施の形態に係る距離画像センサの第5のタイミングチャートである。 図17は、実施の形態に係る距離画像センサの第6のタイミングチャートである。 図18は、実施の形態に係る距離画像センサの第7のタイミングチャートである。 図19は、実施の形態に係る距離画像センサの第8のタイミングチャートである。
 以下、実施の形態に基づく距離画像センサについて説明する。同一要素には、同一符号を用い、重複する説明は省略する。
 図1は、実施の形態に係る距離画像センサの平面図である。
 この距離画像センサ1は、半導体基板2上に形成された撮像領域IMRと、撮像領域IMRを駆動するセンサ駆動回路DRVと、撮像領域IMRの出力を増幅する増幅回路AMPとを備えている。撮像領域IMRは、半導体基板2上に一次元又は二次元状に配置された複数の画素P(m,n)を備えている。同図では、m行n列の画素P(m,n)が示されている(m,nは自然数)。撮像領域IMRは、対象物への出射光の反射光を画素毎に検出するものであり、出射光と反射光の画素毎の位相差から、対象物の画像の画素毎の距離が求められる。この距離画像センサ1は、電荷振り分け型の距離画像センサであり、距離に対応した位相差を、各画素内で2箇所に振り分けられた電荷量の比率に応じて求めるものである。
 図2は、図1に示した距離画像センサの各画素の断面構成と光源ユニットを示す図である。
 光源ユニットは、レーザや発光ダイオードなどの光源10と、光源10を高周波駆動する光源駆動回路11と、光源駆動回路11の駆動クロックを出力する制御回路12とを備えている。光源10からは、方形波又は正弦波の光強度変調が行われた変調信号が出射される。なお、制御回路12からの駆動クロックに同期して、図1に示したセンサ駆動回路DRVからも方形波又は正弦波の変調信号が出力され、センサ駆動回路DRVからの変調信号が互いに逆相で転送電極TX1,TX2に与えられる。
 光源10からの出射光LEDは、対象物OBJに照射され、対象物OBJの表面で反射されて、反射光RLTDとして、距離画像センサ1の撮像領域IMR内の各画素P(m,n)に基板裏面側から入射する。なお、光入射面の手前には図示しない結像レンズが配置される。また、本例では、半導体基板2は薄板化され、好適には50μm以下の厚みであり、裏面入射型の距離画像センサを構成されている。もちろん、半導体基板2の厚みを薄板化せずに、本発明を表面入射型の距離画像センサ1に適用することも可能である。
 距離画像センサ1の各画素P(m,n)は、高濃度のP型(第2導電型)の半導体基板2の表面領域に半導体基板より低濃度で形成されたP型(第2導電型)の半導体領域3と、半導体領域3の表面側に形成された一対の高濃度のN型(第1導電型)の半導体領域(電荷蓄積領域:フローティングディフュージョン領域)fd1,fd2を有している。また、半導体基板表面には絶縁層5が形成されており、蓄積領域fd1,fd2の間のP型半導体領域3上にはフォトゲート電極PGが絶縁層5を介して形成され、半導体領域3内のフォトゲート電極直下は光検出領域4としてはたらく。光検出領域4のポテンシャルは、フォトゲート電極PGへの印加電圧によって制御することができる。
 信号取出電極Vfd1,Vfd2は、それぞれ蓄積領域fd1,fd2上に電気的に接続して設けられている。また、フォトゲート電極PGと、各信号取出電極Vfd1,Vfd2との間には、転送電極TX1,TX2が位置している。N型の半導体は、電気的に中性な状態で電子をキャリアとして有しており、キャリアが抜けた場合には、正にイオン化する。すなわち、高濃度のN型の蓄積領域fd1、fd2は、大きく下向きに凹む形となり、ポテンシャル井戸を構成する。
 フォトゲート電極PGには、必要に応じて若干の正の直流電位を印加しておく。受光領域としての光検出領域4では、光の入射に応じて正孔電子対が発生するが、ゲート電極として機能する転送電極TX1,TX2に正の電位を与えた場合には、TX1、TX2の直下の領域のポテンシャルが、光検出領域4のポテンシャルと蓄積領域fd1、fd2のポテンシャルの中間の値となり、光検出領域4から蓄積領域fd1,fd2へのポテンシャルの階段が形成され、蓄積領域fd1,fd2のポテンシャル井戸内に電子が落ちて蓄積される。
 なお、本構造では、蓄積領域fd1,fd2上に電極を設けて信号を取り出す構造を採用しているが、蓄積領域fd1,fd2の隣に信号取出用の高濃度領域を別途設け、これらと蓄積領域fd1,fd2との間の領域上に別の転送電極を配置し、かかる高濃度領域上に電極を設けて、信号を取り出すことも可能である。
 なお、以下の説明では、説明の明瞭化を目的として、符号Vfd1、Vfd1は、信号取出電極であると共に、これらの電極とグランド電位との間に与えられる電圧も示すこととし、符号TX1,TX2は転送電極であると共に、これらとグランド電位との間に加えられる転送電圧も示すこととする。また、符号PGはフォトゲート電極であると共に、これらとグランド電位との間に加えられる直流電圧も示すこととする。なお、半導体領域3は、グランド電位に接続されている。信号取出電極Vfd1,Vfd2から取り出された電荷は、半導体領域3内に形成された読出回路RCによって読み出される。読み出し回路は、半導体領域3に限らず、半導体基板2に形成されていてもよい。
 図3は、図2に示した距離画像センサの画素毎の回路図である。
個々の画素P(m,n)は、反射光の入射に応じて電荷を発生する受光領域(フォトダイオードPD)と、フォトダイオードPDに隣接した第1の蓄積領域fd1及び第2の蓄積領域fd2を備えている。第1の転送電極TX1及び第2の転送電極TX2は、それぞれ第1の蓄積領域fd1及び第2の蓄積領域fd2への電荷の流入をそれぞれ制御している。第1及び第2の蓄積領域fd1,fd2の電極Vfd1,Vfd2間には、トランジスタからなるスイッチΦ1、Φ2をそれぞれ介して、キャパシタC1が電気的に接続されている。
第1のスイッチΦ1は、キャパシタC1の第1端子(図面の右側端子:節点VA)と第1の蓄積領域fd1との間に介在し、第2のスイッチΦ2は、キャパシタC1の第2端子(図面の左側端子:節点VB)と第2の蓄積領域fd2との間に介在している。また、キャパシタC1の第2端子(図面左側端子:節点VB)と正の基準電位Vrとの間には、トランジスタからなる第3のスイッチΦ1rが介在している。キャパシタC1の第1端子(図面の右側端子:節点VA)と基準電位Vrとの間には、第4のスイッチΦ2rが介在している。これらの素子より、1つの画素P(m,n)内に図2に示した読出回路RCが構成されている。ここでいう基準電位とは、電源電位でもよいし、電源電位から作られた電位でもよい。
 なお、説明の明瞭化を目的として、符号Φ1、Φ2、Φ1r、Φ2rは、スイッチを示すと共に、各スイッチとグランド間に与えられる電圧も示すものとする。また、符号VA,VBは、節点を示すと共に、キャパシタC1の両端に位置するこれらの節点とグランド電位との間の電圧も示すものとする。
 蓄積領域fd1、fd2には、寄生容量Cfd1,Cfd2がグランド電位との間に介在している。センサ駆動回路DRVからは、各種の信号電圧Φ1、Φ1r、Φ2、Φ2r、TX1、TX2、PGが出力されている。信号電圧Φ1、Φ1r、Φ2、Φ2rは、それぞれ、トランジスタからなるスイッチΦ1、Φ1r、Φ2、Φ2rの制御端子(電界効果トランジスタにあってはゲート電極、バイポーラトランジスタにあってはベース電極)に印加される。逆相信号である転送電圧TX1,TX2は、MOSトランジスタのゲート電極を構成する転送電極TX1,TX2にそれぞれ与えられる。直流電圧PGは、フォトゲート電極PGに与えられる。転送電圧TX1,TX2がハイレベルの場合、転送電極直下にはフォトゲート電極PG直下の光検出領域4よりもポテンシャルが低い領域が形成されるので、転送電極直下の領域よりもポテンシャルが低い蓄積領域fd1,fd2には、フォトダイオードPDで発生した電子が転送されて流入する。
 蓄積領域fd1,fd2内に、電荷が蓄積されると、この電荷は、キャパシタC1に転送される。蓄積領域fd1,fd2には、背景光由来の電荷も蓄積されているが、背景光由来の電荷量は、双方の蓄積領域fd1,fd2内において同一であると見做せるので、これをキャパシタC1の両端子にそれぞれ転送した場合には、これらの電荷は相殺される。したがって、信号成分の電荷量を求めるためには、単一のキャパシタC1に、蓄積領域fd1,fd2で蓄積された電荷を転送すればよい。
 キャパシタC1の両端子の電圧VA,VBは、増幅回路AMPに入力され、増幅回路AMPの出力は制御回路12に入力される。増幅回路AMP又は制御回路12では、入力された電圧VA,VBの差分VOUT(=VA-VB=Vfd1-Vfd2)を演算する。この差分は、出射タイミングから遅れて戻ってくることで、振り分け比率が変更した蓄積電荷量の比率、すなわち、対象物までの距離に比例する。
 次に、回路動作について説明する。
 図4~図11は、実施の形態に係る距離画像センサの動作説明図であり、動作説明に必要な箇所のみを模式的に示してある。
 図4は、リセット後に全てのスイッチがΦ1、Φ1r、Φ2、Φ2rがOFFしている状態を示しており、画素内には如何なる電荷も存在していない。
 図5は、フォトゲート電極PGの直下に光が入射し、キャリアとしての電子が発生した場合に、スイッチΦ1、Φ1rをONし、Φ2、Φ2rをOFFした状態を示している。図中の黒丸は右側の蓄積領域fd1に流れ込む電子を示し、図中の白丸は左側の蓄積領域fd2に流れ込む電子を示している。同図では、出射タイミングよりも戻り光のタイミングが遅延したため、右側には12個の電荷が、左側には6個の電荷が流れ込んだとする。なお、これらの電荷量は、背景光由来の成分も含んでいる。右側の蓄積領域fd1に流入した電荷は、スイッチΦ1を介して、キャパシタC1の一方の端子にも流れ込み、電荷が分割されることになる。この状態で、図6に示すように、全てのスイッチΦ1、Φ1r、Φ2、Φ2rをOFFし、キャパシタC1の一方の端子に電荷を残留させる。
 図7は、その後、スイッチΦ1、Φ1rをOFFし、Φ2、Φ2rをONした状態を示している。左側の蓄積領域fd2に蓄積されていた電荷は、分割されてキャパシタC1の他方の端子に流れ込み、電荷が分割されることになる。キャパシタC1の右側に蓄積されていた電荷は、逆の端子に蓄積された逆極性の電荷となる。すなわち、図8に示すように、キャパシタC1の右側に蓄積されていた電荷と、左側の蓄積領域fd2に蓄積されていた電荷は相殺して消滅し、右側の蓄積領域fd1に6個の電荷のみが残留する。
 図9は、その後、光の入射に応じて、右側の蓄積領域fd1に追加で12個の電荷が流れ込み、左側の蓄積領域fd2に6個の電荷が流れ込んだ状態を示している。右側の合計蓄積電荷数は18個になっている。スイッチΦ2は接続されているので、電荷は分割され、3個の電荷がキャパシタC1の左側の端子に流れ込む。図10は、図9の状態からスイッチΦ2rをOFFした状態を示しており、図9の状態が保持されている。図11は、その後、スイッチΦ1及びΦ2をONし、右側の蓄積領域fd1に蓄積された電荷を、キャパシタC1に転送した状態を示しており、蓄積電荷量が、キャパシタ容量に応じて再配分されている。同図では、左側と右側の電荷量の比率は2:6になっている。この状態で、キャパシタC1の両端の電圧VA,VB(Vfd1,Vfd2)をそれぞれ読み出す。各キャパシタC1、Cfd1,Cfd2の容量が等しい(容量=C)とし、T秒間の間に、右の蓄積領域fd1に蓄積された電荷量をQ1、左の蓄積領域fd2に蓄積された電荷量をQ2とすると、n×T秒間後のこれらの電圧は以下の式で与えられる。但し、n=2mとし、mは自然数であるとする。
・Vfd1=(1/(3×C))・((5/2)×Q1+2×Q2)
・Vfd2=(1/(3×C))・((1/2)×Q1+4×Q2)
・VOUT=Vfd1-Vfd2=n(Q1-Q2)/3C
 図12は、実施の形態に係る距離画像センサの第1のタイミングチャートである。
 今回のリセット開始時刻t1から、次回のリセットの開始時刻t9までの期間を、1単位の検出期間(1Phase)とする。時刻t1~t2の間において、全てのスイッチΦ1r、Φ2r、Φ1、Φ2がONされ、キャパシタC1及び蓄積領域fd1、fd2が初期状態にリセットが行われる。
 しかる後、時刻t2以降、時刻t5までの間を、キャパシタへの一転送期間Tとし、逆相の方形波からなる転送電圧TX1、TX2を転送電極TX1,TX2に印加しながら、スイッチΦ1r、Φ1をON(ハイレベル)とし、スイッチΦ2r、Φ2をOFF(ローレベル)とすることで、右側の蓄積領域fd1に蓄積された電荷をキャパシタC1の右側の端子に転送する。次に、時刻t5以降、時刻t6までの転送期間Tにおいても、逆相の方形波からなる転送電圧TX1、TX2を転送電極TX1,TX2に印加しながら、スイッチΦ1r、Φ1をOFF(ローレベル)とし、スイッチΦ2r、Φ2をON(ハイレベル)とすることで、左側の蓄積領域fd2に蓄積された電荷をキャパシタC1の他方の端子に転送する。なお、このスイッチの切り替えの際に、重複する電荷成分は相殺される。
 以下、同様に、時刻t6~t7までの転送期間T、時刻t7~t8までの転送期間Tにおいて、キャパシタC1への電荷転送を行った後、時刻t8~t9の期間において、信号の読出しを行い、次の時刻t9~t10において再びリセットを行う。信号の読出しにおいては、スイッチΦ1及びΦ2をONしておき、Φ1r、Φ2rをOFFしておく。
 なお、同図には、光源からの出射光の強度信号LEDと、反射光の強度信号RLTDが示されている。なお、同図では簡略化のため、これらの波形を方形波で示す。出射光に対する反射光の遅延時間が、対象物までの距離に相当する。すなわち、時刻t2~t3までの期間が、光源から対象物までの距離の往復距離を光が進む時間である。もちろん、光源への駆動信号は方形波であり、その立ち上がり及び立ち下がり時刻は、転送電圧TX1の立ち上がり及び立ち下がり時刻に一致している。
 転送電圧TX1がハイレベルの期間に右側の蓄積領域fd1内に転送された電荷量をQ1とし、転送電圧TX2がハイレベルの期間に左側の蓄積領域fd2内に転送された電荷量をQ2とすると、全体の電荷量(Q1+Q2)に対する電荷量Q2の比率分だけ、出射光と反射光の間に遅延時間が生じており、これが対象物までの距離Lの2倍に相当する。電荷の積分によって検出精度は向上する。
 なお、全電荷量Q1+Q2(積分した場合を含む)は、各画素における輝度に比例するため、制御回路によってVfd1+Vfd2(=VA+VB)を求めれば、通常の輝度画像を得ることができる。
 ここで、駆動回路DRVは、スイッチ(Φ1、Φ2、Φ1r、Φ2r)を一周期(1Phase)の初めの時刻において全てONさせるリセット期間(時刻t1~t2)を設定しており、一周期(1Phase)内において、第1の期間(時刻t2~t5、時刻t6~t7:T1とする)及び第2の期間(時刻t5~t6、時刻t7~t8:T2とする)を交互に設定している。
 そして、第1の期間(T1)では、スイッチ(Φ1、Φ1r)の双方をONし、スイッチ(Φ2、Φ2r)の双方をOFFし、第2の期間(T2)では、スイッチ(Φ1、Φ1r)の双方をOFFし、第2及び第4スイッチ(Φ2、Φ2r)の双方をONし、一周期(1Phase)内において、転送電極TX1,TX2に、出射光の変調信号LEDに同期し、互いに逆相の変調信号TX1,TX2を与えている。
 光の量子性に基づくノイズ(フォトンショットノイズ)は、露光光量の2乗根で増加し、信号成分は比例で増加するので、露光時間を増加させるほど信号成分の割合が増加し、信号雑音比は向上する。したがって、転送電極TX1,TX2によって、第1及び第2の蓄積領域fd1、fd2内に振り分けられた電荷を積分するほど、信号雑音比が改善し、正確な距離画像(輝度画像)を得ることができる。転送電極TX1、TX2に変調信号TX1,TX2を与えることで、蓄積領域fd1、fd2において、一定期間の電荷積分を行い、これと同時に或いは積分後に、蓄積領域fd1で積分された電荷を、第1の期間(T1)では、キャパシタC1の右側の端子VAに接続し、蓄積領域fd2で積分された電荷を、第2の期間(T2)では、キャパシタC1の左側の端子VBに接続し、キャパシタC1内において、双方の蓄積領域fd1、fd2に含まれる電荷成分、すなわち、背景光成分を相殺している。
 ここで、それぞれの蓄積領域fd1,fd2は単一のキャパシタC1にしか接続されていないため、画素の大きさを小さくして空間分解能を向上させることができ、また、蓄積領域fd1、fd2内に転送された電荷は積分されているため、信号雑音比が向上すると共に、スイッチQ1,Q2のキャパシタC1への電荷転送時のスイッチング回数が減少するため、スイッチング・ノイズも低減し、キャパシタC1内に距離に応じた電荷が蓄積され、かかる電荷量(これに応じた電圧)を検出することで、正確な距離を算出することができる。
 図13は、実施の形態に係る距離画像センサの第2のタイミングチャートである。 このタイミングチャートでは、信号の読出しを、時刻t9と時刻t10との間の期間に行っており、その他の構成は、第1のタイミングチャートと同一である。すなわち、信号の読出しを、全てのスイッチΦ1、Φ2、Φ1r、Φ2rをOFFした状態で、行っている。
 図14は、実施の形態に係る距離画像センサの第3のタイミングチャートである。
 このタイミングチャートでは、転送電圧TX1、TX2の双方をOFFする期間を、時刻t8と時刻t9の間に設定し、この期間に、信号の読出しを行うものであり、その他の構成は、第1のタイミングチャートと同一である。
 図15は、実施の形態に係る距離画像センサの第4のタイミングチャートである。このタイミングチャートは、第1のタイミングチャートの変形であり、ダミースイッチング期間を備えている。
 上述の距離画像センサでは、蓄積領域fd1、fd2に積分した電荷のキャパシタC1への転送時のスイッチング回数に差がある。この場合、片側の接続回数が多いことによって生じるオフセットを十分に相殺することができない。
 そこで、駆動回路DRVが、一周期(1Phase)内におけるリセット期間終了時以後の期間(時刻t2から時刻t11)の第1及び第2のスイッチ(Φ1、Φ2)のスイッチング回数が等しくなるように、第1又は第2のスイッチ(Φ1、Φ2)を付加的にスイッチングすることとした(本例では、時刻t9、時刻t10において、スイッチΦ1をOFF,ONしている)。この場合、付加的なスイッチング(以下、ダミースイッチング)を行うことで、上記スイッチング回数が等しくなり、オフセットが相殺されるので、更に正確な距離画像を得ることができる。
 同様に、一周期(1Phase)内におけるリセット期間終了時以後の期間(時刻t2から時刻t11)の第3及び第4のスイッチ(Φ1r、Φ2r)のスイッチング回数が等しくなるように、第3又は第4のスイッチ(Φ1r、Φ2r)を付加的にスイッチングしている(本例では、時刻t8、時刻t9において、スイッチΦ1rをON,OFFしている)。この場合、付加的なスイッチング(以下、ダミースイッチング)を行うことで、上記スイッチング回数が等しくなり、オフセットが相殺されるので、更に正確な距離画像を得ることができる。
 図16は、実施の形態に係る距離画像センサの第5のタイミングチャートである。このタイミングチャートは、第2のタイミングチャートの変形であり、ダミースイッチング期間を備えている。
 上記と同様に、駆動回路DRVが、一周期(1Phase)内におけるリセット期間終了時以後の期間(時刻t2から時刻t10)の第1及び第2のスイッチ(Φ1、Φ2)のスイッチング回数が等しくなるように、第1又は第2のスイッチ(Φ1、Φ2)を付加的にスイッチングすることとした(本例では、時刻t9、時刻t10において、スイッチΦ1をOFF,ONしている)。この場合、付加的なスイッチング(以下、ダミースイッチング)を行うことで、上記スイッチング回数が等しくなり、オフセットが相殺されるので、更に正確な距離画像を得ることができる。
 図17は、実施の形態に係る距離画像センサの第6のタイミングチャートである。このタイミングチャートは、第1のタイミングチャートの変形であり、ダミースイッチング期間を備えている。
 上記と同様に、駆動回路DRVが、一周期(1Phase)内におけるリセット期間終了時以後の期間(時刻t2から時刻t9)の第1及び第2のスイッチ(Φ1、Φ1r)のスイッチング回数が等しくなるように、第1又は第2のスイッチ(Φ1、Φ1r)を付加的にスイッチングすることとした(本例では、リセット期間(t1~t2)の直後の時刻において、スイッチΦ1とΦ1rをOFF,ONしている)。この場合、付加的なスイッチング(以下、ダミースイッチング)を行うことで、上記スイッチング回数が等しくなり、オフセットが相殺されるので、更に正確な距離画像を得ることができる。なお、時刻t8~t9は信号の読出し期間、時刻t9~t10は次のリセット期間であり、最初に全てのスイッチをリセットしてから蓄積を開始する。
 図18は、実施の形態に係る距離画像センサの第7のタイミングチャートであり、時刻t1~t2、t5~t6、t9~t10、t13~t14、t17~t18がリセット期間であり、時刻t4~t5、t8~t9、t12~t13、t16~t17が信号の読出期間である。
 ダミースイッチングを用いない場合、キャパシタC1に転送される電荷のスイッチング回数がキャパシタC1の各端子において異なるが、この発明では、以下の(a)~(d)の4つの位相において、各蓄積領域fd1、fd2に蓄積された電荷(に応じた電圧)の差分をとることで、背景光成分と共にオフセット成分を相殺することができる。これにより、正確な距離を算出することができる。
 すなわち、この距離画像センサにおいては、駆動回路DRVは、以下のように信号を与えている。
 (a)特定の一周期(時刻t1~t5)内において、出射光の変調信号LEDと0°の位相差を有するタイミングで、第1の転送電極に変調信号TX1を与え、第2の転送電極に、第1の転送電極に与えられる変調信号TX1とは逆相の変調信号TX2を与えている。
 (b)別の一周期(時刻t5~t9)内において、出射光の変調信号LEDと90°の位相差を有するタイミングで、第1の転送電極に変調信号TX1を与え、第2の転送電極に、第1の転送電極に与えられる変調信号TX1とは逆相の変調信号TX2を与えている。
 (c)更に別の一周期(時刻t9~t13)内において、出射光の変調信号LEDと180°の位相差を有するタイミングで、第1の転送電極に変調信号TX1を与え、第2の転送電極に、第1の転送電極に与えられる変調信号TX1とは逆相の変調信号TX2を与えている。
 (d)上記とは異なる別の一周期(時刻t13~t17)内において、出射光の変調信号LEDと270°の位相差を有するタイミングで、第1の転送電極に変調信号TX1を与え、第2の転送電極に、第1の転送電極に与えられる変調信号TX1とは逆相の変調信号TX2を与えている。
 なお、上記(a)~(d)の一周期内における第1の期間(T1:Φ1、Φ1rがONとなる期間)と第2の期間(T2:Φ2、Φ2rがONとなる期間)の順序は同一である。
 このように、4つの位相(0°、90°、180°、270°)と、各位相における電圧Vfd1、Vfd2(VA,VB)を用いることで、オフセットをキャンセルして距離を求めることができる。すなわち、各位相の電圧Vfd1,Vfd2に、同量のオフセットが重畳しているとすると、電圧Vfd1同士、Vfd2同士の差を取れば、オフセットの影響を低減できる。
 各位相における電圧Vfd1,Vfd2を、Vfd1(位相),Vfd2(位相)として示すと、オフセットと直流成分を除去するため、以下のような差分値を求める。
Vfd(0°)=Vfd1(0°)-Vfd1(180°)
Vfd(90°)=Vfd1(90°)-Vfd1(270°)
Vfd(180°)=Vfd2(0°)-Vfd2(180°)
Vfd(270°)=Vfd2(90°)-Vfd2(270°)
 また、Vfd1とVfd2のばらつきを除去するため、以下のように、差分値を求める。
V1=|Vfd(0°)-Vfd(180°)|
V2=|Vfd(90°)-Vfd(270°)|
 信号の総量VtotalをV1+V2として、4つの位相を含む期間(t1~t17)に光が進む距離はV1/Vtotalで与えられる。
 図19は、実施の形態に係る距離画像センサの第8のタイミングチャートであり、時刻t1~t2、t5~t6、t9~t10、t13~t14、t17~t18がリセット期間であり、時刻t4~t5、t8~t9、t12~t13、t16~t17が信号の読出期間である。このタイミングチャートでは、0°と90°の2つの位相差のみを用いるが、Φ1、Φ2の順序が検出期間(t1~t18)の前半と後半で逆転している。
 すなわち、この距離画像センサの駆動回路DRVは、以下のように信号を与えている。
 (a)特定の一周期(時刻t1~t5)内において、出射光の変調信号LEDと0°の位相差を有するタイミングで、第1の転送電極に変調信号TX1を与え、第2の転送電極に、第1の転送電極に与えられる変調信号TX1とは逆相の変調信号TX2を与えている。
 (b)別の一周期(時刻t5~t9)内において、出射光の変調信号LEDと90°の位相差を有するタイミングで、第1の転送電極に変調信号TX1を与え、第2の転送電極に、第1の転送電極に与えられる変調信号TX1とは逆相の変調信号TX2を与えている。
 (c)更に別の一周期(時刻t9~t13)内において、出射光の変調信号LEDと0°の位相差を有するタイミングで、第1の転送電極に変調信号TX1を与え、第2の転送電極に、第1の転送電極に与えられる変調信号TX1とは逆相の変調信号TX2を与えている。
 (d)上記とは異なる別の一周期(時刻t13~t17)内において、出射光の変調信号LEDと90°の位相差を有するタイミングで、第1の転送電極に変調信号TX1を与え、第2の転送電極に、第1の転送電極に与えられる変調信号TX1とは逆相の変調信号TX2を与えている。
 そして、本例では、上記(a)及び(b)の一周期内における第1の期間(T1:Φ1、Φ1rがONの期間)と第2の期間(T2:Φ2、Φ2がONの期間)の順序は同一であり、上記(c)及び(d)の一周期内における第1の期間T1と第2の期間T2の順序は、上記(a)及び(b)の場合とは逆である。
 この発明では、上記(a)、(b)の2つの位相と、これとはキャパシタC1への電荷転送の順番が異なる(c)、(d)の場合の位相において、各蓄積領域に蓄積された電荷(に応じた電圧)の差分をとることで、背景光成分と共にオフセット成分を相殺することができる。これにより、正確な距離を算出することができる。
 上述のように、各画素において正確な距離を算出することができるので、本発明の距離画像センサでは、正確な距離画像を得ることができる。
 各位相における電圧Vfd1,Vfd2を、Vfd1(位相),Vfd2(位相)として示すと、これらのばらつきと直流成分を除去するため、以下のような差分値を求める。なお、Vfd1、Vfd2は前半の期間(a)、(b)における電圧を示し、Vfd1’、Vfd2’は後半の期間(c)、(d)におけるこれらの電圧を示すものとする。
Vfd(0°)=Vfd1(0°)-Vfd2(0°)
Vfd(90°)=Vfd1(90°)-Vfd2(90°)
Vfd’(0°)=Vfd1’(0°)-Vfd2’(0°)
Vfd’(90°)=Vfd1’(90°)-Vfd2’(90°)
 4つの位相を含む期間(t1~t17)に光が進む距離は、以下の距離L1,L2の平均(=(L1+L2)/2)で与えられる。
L1=Vfd(0°)/(Vfd(0°)+Vfd(90°))
L2=Vfd’(0°)/(Vfd’(0°)+Vfd’(90°))
 1・・・距離画像センサ、IMR・・・撮像領域、PD・・・受光領域、fd1,fd2・・・蓄積領域、TX1,TX2・・・転送電極、C1・・・キャパシタ、Φ1・・・第1のスイッチ、Φ2・・・第2のスイッチ、Φ1r・・・第3のスイッチと、Φ2r・・・第4のスイッチ、DRV・・・駆動回路。

Claims (4)

  1.   対象物への出射光の反射光を受光する撮像領域と、前記撮像領域を駆動する駆動回路と、を備えた距離画像センサであって、
     前記撮像領域は、
     半導体基板上に一次元又は二次元状に配置された複数の画素を備え、
     個々の画素は、
     受光領域と、
     前記受光領域に隣接した第1及び第2の蓄積領域と、
     前記第1及び第2の蓄積領域への電荷の流入をそれぞれ制御する第1及び第2の転送電極と、
     前記第1及び第2の蓄積領域間に電気的に接続されたキャパシタと、
     前記キャパシタの第1端子と前記第1の蓄積領域との間に介在する第1のスイッチと、
     前記キャパシタの第2端子と前記第2の蓄積領域との間に介在する第2のスイッチと、
     前記キャパシタの前記第2端子と基準電位との間に介在する第3のスイッチと、
     前記キャパシタの前記第1端子と前記基準電位との間に介在する第4のスイッチと、を備え、
     前記駆動回路は、
     前記第1、第2、第3及び第4のスイッチを一周期の初めの時刻において全てONさせるリセット期間を設定し、一周期内において、第1の期間及び第2の期間を交互に設定し、
     前記第1の期間では、前記第1及び第3のスイッチの双方をONし、第2及び第4スイッチの双方をOFFし、
     前記第2の期間では、前記第1及び第3のスイッチの双方をOFFし、第2及び第4スイッチの双方をONし、
     前記一周期内において、前記第1及び第2の転送電極に、前記出射光の変調信号に同期し、互いに逆相の変調信号を与える、ことを特徴とする距離画像センサ。
  2.  前記駆動回路は、前記一周期内における前記リセット期間終了時以後の第1及び第2のスイッチのスイッチング回数が等しくなるように、第1又は第2のスイッチを付加的にスイッチングすることを特徴とする請求項1に記載の距離画像センサ。
  3.  前記駆動回路は、
    (a)特定の一周期内において、前記出射光の変調信号と0°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、
    (b)別の一周期内において、前記出射光の変調信号と90°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、
    (c)更に別の一周期内において、前記出射光の変調信号と180°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、
    (d)上記とは異なる別の一周期内において、前記出射光の変調信号と270°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、
     前記(a)~(d)の一周期内における前記第1の期間と前記第2の期間の順序は同一である、ことを特徴とする請求項1に記載の距離画像センサ。
  4.  前記駆動回路は、
    (a)特定の一周期内において、前記出射光の変調信号と0°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、
    (b)別の一周期内において、前記出射光の変調信号と90°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、
    (c)更に別の一周期内において、前記出射光の変調信号と0°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、
    (d)上記とは異なる別の一周期内において、前記出射光の変調信号と90°の位相差を有するタイミングで、前記第1の転送電極に変調信号を与え、前記第2の転送電極に、前記第1の転送電極に与えられる変調信号とは逆相の変調信号を与え、
     前記(a)及び(b)の一周期内における前記第1の期間と前記第2の期間の順序は同一であり、
     前記(c)及び(d)の一周期内における前記第1の期間と前記第2の期間の順序は、前記(a)及び(b)の場合とは逆である、ことを特徴とする請求項1に記載の距離画像センサ。
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