WO2012080312A1 - Dispositif electrochrome tout -solide, bicouche electrochrome pour ce dispositif, et procede de preparation de ce dispositif. - Google Patents

Dispositif electrochrome tout -solide, bicouche electrochrome pour ce dispositif, et procede de preparation de ce dispositif. Download PDF

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Frédéric SABARY
Daniel Marteau
Julien Demeaux
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    • G02F2203/11Function characteristic involving infrared radiation

Definitions

  • the invention relates to an all-solid electrochromic device.
  • the invention relates to an all-solid electrochromic device with a reflection or a controlled infrared emission, in particular of the type
  • the invention further relates to a bilayer, also referred to as a bilayer or composite electrode for such an electrochromic device.
  • the invention relates to a method of
  • the technical field of the invention can be defined as that of electrochromic devices active in the infrared.
  • flexible electrochromic structure operating in reflection at wavelengths between 0.35 and 20 ⁇ which comprises a microporous polymer membrane including a generally liquid electrolyte, and deposited on each of the surfaces of the microporous membrane and in this order: an electrode formed of a electronically reflective conductive layer, for example made of gold, a layer of electrochromic conductive polymer, for example of polyaniline, polythiophene, or polypyrrole, and a flexible and transparent window.
  • the device described in this document has fragile interfaces that limit its life. Indeed, the electrolyte is generally liquid, and if a leakage occurs to occur, it may occur leakage of electrolyte eventually leading to drying of the device.
  • WO-A1-2010 / 058108 discloses an electroemissive device comprising a material in the form of a semi-interpenetrating network of polymers. This device has the advantage of not requiring a gold layer to function.
  • this device Although having a very good cyclability at room temperature combined with a simplified architecture, this device also requires a step of impregnation in a liquid electrolyte. In addition, the tests carried out at high temperature reveal a degradation of the electrochromic properties.
  • Hybrid devices are described in document FR-A1-2 879 764.
  • This document relates to a flexible, aqueous, controlled emission electrochemical cell which comprises, inter alia, a porous active layer formed of a mixture of PVDF-HFP, PEO and a powder of an insertion material, and a porous counter-electrode formed a mixture of PVDF-HFP, PEO and a powder of a compound comprising ions complementary to the insertion ions.
  • the insertion material WO 3 .H 2 O has a good proton conduction combined with a modulable IR reflection on a carbon-absorbing, ion-permeable and current-collector base.
  • the flexible devices whatever they are, have in particular the disadvantage, especially when they are used for the thermal protection of the satellites, to be poorly adapted to the spatial conditions.
  • gel electrolytes pose problems when they are used under vacuum, and the polymers that constitute the flexible devices deform under the effect of heat and are not very resistant to UV.
  • Controllable are most often designed for an application in the field of glazing, and allow to combine visual comfort and thermal comfort in the visible and near infrared (IR).
  • the active material generally consists of a porous tungsten oxide layer that is weakly crystallized, that is to say, amorphous with X-rays.
  • This so-called layer of H x W0 3 -a becomes absorbent when the material is interposed, in other words when protons are inserted therein, ie when x> 0.
  • This device comprises an "all-solid" electrochromic stack of structure TC1 / EC1 / EL / EC2 / TC2 with a carrier substrate provided with a first electroconductive layer TC1, a first electrochemically active layer EC1 capable of reversibly inserting ions as cations such as H + or Li + or anions such as ⁇ ⁇ , especially in a cathodic or respectively anodic electrochromic material, an electrolyte layer EL, a second electrochemically active layer EC2 capable of reversibly inserting said ions , in particular in a cathodic or anodic electrochromic material, and a second electroconductive layer TC2.
  • a first electrochemically active layer EC1 capable of reversibly inserting ions as cations such as H + or Li + or anions such as ⁇ ⁇ , especially in a cathodic or respectively anodic electrochromic material
  • an electrolyte layer EL an electrolyte layer
  • Each electroactive layer EC1 or EC2 may in particular comprise tungsten oxide.
  • this all-solid device can not be used for a modulation of the average infrared radiation, namely of a wavelength generally of 1.5 to 20 ⁇ , because the electrodes TC1 and TC2 are not transparent beyond 2 ⁇ , because of their high conductivity.
  • electrochromic devices active in the infrared of conventional design require a transparent electrode in the infrared so that the signature of the active material can be effective and flexible.
  • US-B1-7, 265, 890 discloses an electrochromic device which comprises on a rigid or flexible substrate an electrode consisting for example of a metal film or a conductive metal oxide layer such as ITO, an electrochromic layer, for example of lithium ion loaded tungsten oxide, a lithium nitride ion transfer layer, an electrolyte layer, an ion storage layer, and a transparent metal electrode .
  • an electrode consisting for example of a metal film or a conductive metal oxide layer such as ITO
  • an electrochromic layer for example of lithium ion loaded tungsten oxide, a lithium nitride ion transfer layer, an electrolyte layer, an ion storage layer, and a transparent metal electrode .
  • the active material Li x W0 3 is deposited at the rear of the stack.
  • Active stacks in the infrared, and especially in the medium-infrared, namely with a wavelength generally of 1.5 to 20 ⁇ , can include a layer of tungsten oxide H x W0 3 -a on the front face and absorbent on a reflective background.
  • the transparent electrodes in the infrared are still in the research state, and are difficult to industrialize.
  • the document FR-A1-2934062 relates to an electrochromic device with controlled infrared reflection, in particular of the electrically controllable type, which comprises between a transparent carrier substrate in the IR domain and a counter-substrate, a stack comprising successively: a metal grid, preferably made of gold, transparent in the infrared range, forming a first electrode,
  • an electrochromic functional system comprising a layer of a first electrochromic ion storage material (EC1), preferably based on iridium oxide, at least one electrolytically functional layer (ELI, EL2) preferably based on oxide of tantalum and tungsten oxide, and a layer of a second electrochromic material (EC2),
  • EC1 electrochromic ion storage material
  • ELI, EL2 electrolytically functional layer
  • EC2 electrochromic material
  • a metal layer capable of reflecting the infrared radiation forming a second electrode, a lamination interlayer of thermoplastic material.
  • an electrochromic device active in the infrared, preferably in the middle infrared, in particular with infrared (IR) modulatable emissivity which makes it possible to overcome the use of electrodes transparent to infrared radiation and in particular gold grids.
  • IR infrared
  • an electrochromic device active in the infrared, preferably in the medium-infrared, robust, having a high mechanical strength, resistant to high temperatures, for example greater or equal at 100 ° C, resistant to ultraviolet radiation, can be placed in a vacuum environment, for example in one space.
  • a device that can be manufactured by a simple method, having a limited number of steps, and a reduced duration.
  • the object of the present invention is to provide an electrochromic device, active in the infrared, preferably in the mid-infrared, which meets the needs listed above among others.
  • the object of the present invention is still to provide such a device which does not have the disadvantages, limitations, defects and disadvantages of the devices of the prior art, and which solves the problems of the devices of the prior art.
  • an all-solid electrochromic device with reflection or controlled infrared emission in particular of the electrically controllable type, comprising a stack, said stack comprising successively from a rear face up to to a front face exposed to infrared rays:
  • a substrate of an electronically conductive material or a substrate of a non-conductive electronic material covered with a layer of an electronically conductive material, said substrate of an electronically conductive material or said layer of an electronically conductive material forming a first electrode; b) a layer made of a first electrochromic protonic storage material;
  • a bilayer comprising a layer of a non-electrochromic stoichiometric tungsten oxide, WO 3 - y where y is 0.2 to 1, optically absorbing in the infrared (preferably in the mid-infrared), conductive electronic, porous, forming a second electrode; said tungsten oxide WO 3 - y layer being disposed under a variable reflection layer in the infrared, of a second electrochromic material with a variable protonic intercalation rate chosen from crystallized tungsten oxide H x WC> Where x is between 0 and 1, and hydrated crystallized tungsten oxide H X WC> 3. nH20-c where x is between 0 and 1 and n is an integer of 1 to 2.
  • a protective layer transparent to infrared rays, of an inorganic material.
  • variable reflection layer that is part of the bilayer d) is more or less reflective or not at all reflective depending on the value of x.
  • this layer is not reflective and for the values of x beyond 0.1, this layer is reflective.
  • said substrate when it is made of an electronically conductive material, can be made of a material chosen from the materials that are mechanically and chemically resistant to the stresses of the external medium (for example in space) and chemically compatible with a protonic and in particular chemically compatible with the first electrochromic protonic storage material, preferably said electronically conductive material is chosen from metals such as aluminum, platinum or chromium, and their alloys.
  • material “chemically compatible vis-à-vis a proton operation” generally means a material whose properties (chemical, physical, mechanical, electronic) are not degraded during operation of the device with protons.
  • chemically compatible vis-à-vis the first electrochromic material proton storage is generally meant that the electronically conductive material reacts little or not with the first electrochromic material proton storage, or that the electronically conductive material is inert vis- with respect to the first electrochromic protonic storage material.
  • a first material is chemically compatible with a second material, when the first material reacts little or not with the second material, or the first material is inert with respect to the second material. the second material.
  • said substrate when it is made of a non-conductive electronic material may be of a material chosen from resistant materials mechanically and chemically at the stresses of the external medium (for example in space) and chemically compatible vis-à-vis proton operation and in particular chemically compatible vis-à-vis the first electrochromic material proton storage, preferably said material
  • Non-conductive electron is selected from mechanically and chemically resistant glasses and organic polymers, such as Poly (ethylene terephthalate) or PET.
  • the layer made of an electronically conductive material may be made of a material chosen from materials that are mechanically and chemically resistant to the stresses of the external medium (for example in space), and chemically compatible with proton and particularly chemically compatible vis-à-vis the first electrochromic material proton storage, preferably said electronically conductive material is selected from metals such as aluminum, platinum, chromium and their alloys; and electronically conductive metal oxides such as tin doped indium oxide or ITO and fluorine doped tin oxide or FTO.
  • the first electrochromic proton storage material may be chosen from electrochromic proton storage materials which are chemically compatible with respect to a protonic operation, in particular chemically compatible with the protonic conductive and electronic insulating electrolyte, preferably the first electrochromic proton storage material may be chosen from hydrated metal oxides preferably amorphous such as hydrated tungsten oxide H X WC> 3. ⁇ 3 ⁇ 40, where x is 0 to 1, and n is an integer of 1 to 2, and mixtures of two or more of said oxides.
  • the protonic conductive and electrically insulating electrolyte may be chosen from electrically conductive proton and insulating electrolytes which are chemically compatible with respect to a proton operation, in particular chemically compatible (inert) with respect to the crystallized tungsten H x W0 3 -c (protonated tungsten oxide) or crystallized tungsten oxide hydrate H X WC> 3.
  • nH20-c preferably the protonic conductive and electrically insulating electrolyte may be selected from hydrated metal oxides, preferably amorphous such as amorphous hydrated tantalum oxide hydrate oxide, amorphous hydrated zirconium oxide and mixtures of two or more more than said oxides.
  • the electrolyte is hydrated and amorphous so that it can easily transport the protons from the storage material to the active material in infrared reflection.
  • the metal oxide of the electrolyte should generally be different from tungsten oxide.
  • the protective layer transparent to infrared rays can be made of a material chosen from materials that are compatible with proton operation, in particular chemically compatible with crystallized tungsten oxide H x W0. 3 -c or oxide of crystallized tungsten hydrate H X W0 3 .
  • nH 2 0-c preferably the transparent protective layer to infrared rays may be of a material selected from non-toxic inorganic materials, preferably from the oxides of metals and metalloids, preferably dense, such as oxide cerium CeC> 2 , yttrium oxide Y 2 O 3 , silica S10 2 and mixtures of two or more of said metal or metalloid oxides.
  • dense metal or metalloid oxides it is generally meant that these oxides have a density greater than 99% of the theoretical density.
  • the substrate (electronic conductor or not) has a thickness of 0.175 mm to 1 mm.
  • the layer of an electronically conductive material which covers the substrate when the latter is a substrate made of an electronically non-conductive material has a thickness of 50 to 150 nm.
  • the layer made of a first electrochromic proton storage material has a thickness of 0.2 to 1 ⁇ , preferably of 0.4 to 1 ⁇ .
  • the layer in a protonic conductive electrolyte and electronic insulator has a thickness of 0.2 to 1 ⁇ , preferably 0.4 to 1 ⁇ .
  • the tungsten oxide WO 3- y layer has a thickness of 0.2 to 0.5 ⁇ , preferably 0.4 to 0.5 ⁇ .
  • the layer of a second electrochromic material has a thickness of 0.2 to 1 ⁇ , preferably of 0.3 to 0.8 ⁇ .
  • the protective layer transparent to infrared rays has a thickness of 0.1 to 1 ⁇ , preferably 0.4 to 1 ⁇ .
  • the device according to the invention comprises a specific stack of specific layers in a specific order which has never been described in the prior art as represented in particular by the documents relating to "all-solid" electrochromic devices mentioned above.
  • the device according to the invention can be defined as an all-solid electrochromic device with reflection or emissivity that can be modulated in the infrared (IR), in particular in the medium infrared (wavelengths from 1.5 to 20 ⁇ ) and in particular in band II (wavelength of 3 to 5 ⁇ ) and / or in band III (wavelength of 8 to 12 ⁇ ) of the infrared spectrum, of which the active part is a bilayer, which one could also called composite electrode or bilayer, based on tungsten oxide which is according to the invention located on the front of the device.
  • IR infrared
  • the medium infrared wavelengths from 1.5 to 20 ⁇
  • band II wavelength of 3 to 5 ⁇
  • band III wavelength of 8 to 12 ⁇
  • the range of wavelengths of preferred interest for the device according to the invention is indeed in the middle infrared ("MIR") that is to say in a wavelength range of 1.5 at 20 ⁇ , in particular from 2 to 20 ⁇ , which is a preferred range for space applications whereas for glass-type applications, the length ranges Wave of interest are located in the Visible - Near Infrared.
  • MIR middle infrared
  • this bilayer, this composite electrode, exposed directly to IR radiation is capable, by reversible electrochemical insertion of protons (which have been preferred to lithium ions for kinetic reasons), to modulate the total infrared emissivity of the system like this. is largely demonstrated in the examples provided below, and this independently of the other underlying constituents of the stack.
  • the active layer of the second electrochromic material with variable proton intercalation rate constitutes the first layer of the front face of the device.
  • No obstacle, such as an electrode therefore prevents its exposure to infrared rays, and no optical loss is created because the tungsten oxide layer forming the second electrode is disposed on the face of the active layer.
  • second electrochromic material opposed to the face exposed to infrared radiation is overcome in which the active layer is disposed under an electrode, which must be necessarily transparent to infrared radiation with all the realization difficulties that implies.
  • the device according to the invention does not include a gold grid, which greatly simplifies the manufacture of the device according to the invention and greatly lowers the cost.
  • the invention provides, for the first time, an all-solid device, non-organic, which has no infrared radiation-transparent electrode such as a gold grid.
  • the optical performance of the device according to the invention is produced by the intrinsic electronic properties of the electrochromic active material located on the front face of the stack.
  • the device according to the invention is made according to an optimized design which has never been described or suggested in the prior art relating to "all-solid" devices.
  • the device according to the invention is, furthermore, characterized in that it comprises a bilayer, which could also be called a composite or bilayer electrode, consisting of an active, electrochromic, reflective, crystallized tungsten oxide layer. and / or hydrated of formula H x W0 3 -c or W0 3 . nH 2 0-c with proton intercalation rate (defined by x) variable as a function of the applied voltage (terminals generally between +3 and -3 volts).
  • This active layer is electrochromic according to the invention itself deposited on an oxide layer of tungsten absorbent substoichiometric of formula W0 3 - y.
  • the bilayer alone produces a variable optical contrast in the infrared, preferably in the middle infrared (2 to 50 ⁇ ).
  • the technical effect produced by the different nature of the two layers constituting the bilayer is not to increase the absorption of the device which is fixed by the layer of W0 3 - y, but contrary to the decrease by increasing the reflection of the layer of a second electrochromic material H x W0 3 -c or WO 3 . nH 2 0-c.
  • This second electrochromic material is necessarily in the crystallized state so that an increase in the ion intercalation rate x (here it is generally H + protons) produces in the layer of this second electrochromic material an increase in the infrared reflection R.
  • the layer of the second electrochromic material H x W0 3 -c or WO 3 . nH 2 0-c becomes reflective when interposed, thereby increasing the emissivity modulation of the device.
  • the underlayer W0 3 - y which is a porous electrode, plays a triple role: it provides an optical absorbent background to the system;
  • the sub-layer of W0 3 - y of the bilayer or composite electrode has a function "3 in 1", which allows for example to use a single tungsten target to achieve a simplified stack.
  • Another material for example in the form of a gold grid, is indeed not necessary to bring the electrons into the active material H x W03-c or W0 3 .nH 2 0-c.
  • the WO 3 - y sublayer is in a substoichiometric state, it is necessarily non-electrochromic, and it serves as an infrared absorbing optical reference with respect to an active upper layer in the infrared.
  • the undercoat of WO 3 - y is preferably absorbent in the infrared medium.
  • the "all-solid" device according to the invention is compatible with all the requirements that govern a use in space, in fact the entirely inorganic materials that constitute it allow it to withstand UV aggressions, vacuum and high temperatures, for example close to 100 ° C, unlike existing flexible devices whose electrolytes gels poorly support evacuation and whose polymers deform under the effect of heat and are resistant to UV.
  • the device according to the invention can be described as a robust, durable electrochromic device of simplified design.
  • the device according to the invention has, moreover, the advantage of being able to be realized very simply, in a limited number of steps, by a single method of deposition for all the layers.
  • the device according to the invention can therefore be realized in a reduced duration and with reduced costs.
  • the device according to the invention can be made entirely under vacuum using the same physical vapor deposition (“PVD” or “Physical Vapor Deposition”) technology chosen for example from sputtering, laser ablation, or evaporation.
  • PVD physical vapor deposition
  • Physical Vapor Deposition Physical Vapor Deposition
  • the invention further relates to a bilayer comprising a layer of a non-electrochromic stoichiometric tungsten oxide, WO 3 - y where y is 0.2 to 1, optically absorbing in the infrared (preferably in the infrared medium), a porous electronic conductor forming an electrode; said tungsten oxide WO 3 - y layer being disposed under a variable reflection layer in the infrared, a second electrochromic material with variable proton intercalation rate chosen from crystallized tungsten oxide H x W0 3 where x is between 0 and 1, and crystallized tungsten oxide hydrate H X WC> 3. nH 2 0-c where x is between 0 and 1 and n is an integer of 1 to 2.
  • the invention also relates to a method for preparing the device according to the invention, as described above, in which the following successive steps are carried out:
  • variable reflection layer in the infrared of a second electrochromic material with a variable protonic intercalation rate chosen from crystallized tungsten oxide H x WO 3 -c where x is between 0 and 1 and 1 crystallized tungsten oxide hydrate H X WC> 3.
  • nH 2 0-c where x is between 0 and 1 and n is an integer of 1 to 2, on the layer of a non-electrochromic stoichiometric tungsten oxide, WO3- y ;
  • the process according to the invention is reliable and much simpler than the processes of the prior art.
  • the layers are deposited by a vapor phase or PVD physical deposition process chosen from sputtering, laser ablation and evaporation.
  • all the layers are deposited under vacuum by the same physical vapor deposition method, preferably by reactive magnetron sputtering.
  • magnetron cathode sputtering in reactive mode will be preferred because it ensures in particular a good control of the oxygen level in the plasma, high deposition rates, for example of about 60 nm / min, a good optical quality of the active material.
  • all the steps are carried out in the same vacuum chamber, without opening the chamber between each of the steps; which leads to a significant simplification of the process, a significant time saving without loss of protons, and reduced costs.
  • the invention further relates to the use of the device as described above for the thermal protection of an object.
  • This object can be in particular a vehicle and in particular a space vehicle such as a satellite.
  • the use of the device according to the invention is particularly advantageous in the case of vehicles such as satellites subjected to constraints, limitations on their onboard weight. Indeed, the device according to the invention has a low mass and allows a significant weight gain compared to devices, for example mechanical devices, commonly used for thermal protection, especially in satellites.
  • Figure 1 is a schematic view of the device according to the invention.
  • FIG. 2 is a graph which represents the resistivity (in 10 ⁇ 2 ohm cm) of the W03- y sub-layer as a function of the oxygen flow rate (in sccm) introduced into the enclosure of the frame of the apparatus of FIG. magnetron sputtering during the deposition of this layer by this technique.
  • the ordinate is plotted the total reflection coefficient R T in the infrared range of the active part of the stack H x W0 3 -c (320 nm) / W0 3 - y (400 nm) / glass and, in abscissa is carried the wavelength ⁇ (in ⁇ ) of the infrared radiation.
  • the curves A, B, C, D, E, F, G respectively correspond to values of x of 0; 0.05; 0.1; 0.2; 0.25; 0.35; and 0.5.
  • FIG. 4 is a graph which gives the average of the total reflection coefficient R T produced by the active part of the stack H x W0 3 -c (320 nm) / WC> 3-y (400 nm) / glass in the bands II (curve A) and III (curve B), as a function of the intercalation rate x in H x W0 3 -c.
  • the ordinate is plotted the total reflection coefficient R T in the infrared range of the active part of the H x W0 3 -c (560 nm) / WC> 3-y (400 nm) / glass stack and, the abscissa is the wavelength ⁇ (in ⁇ ) of the infrared radiation.
  • the curves A, B, C, D, E, F respectively correspond to values of x of 0; 0.1; 0.2; 0.3; 0.4; and 0.5.
  • Figure 6 is a graph which gives the average of the total reflection coefficient R T produced by the active part of the stack H x W03-c (560 nm) / WC> 3-y (400 nm) / glass in the bands II (curve A) and III (curve B), as a function of the intercalation rate x in H x W0 3 -c.
  • the ordinate is plotted the total reflection coefficient R T in the infrared range of the active part of the stack H x W03-c (730 nm) / WC> 3-y (400 nm) / glass and on the abscissa. is wavelength ⁇ (in ⁇ ) of the infrared radiation.
  • the curves A, B, C, D, E, F respectively correspond to values of x of 0; 0.1; 0.2; 0.3; 0.4; and 0.5.
  • FIG. 8 is a graph which gives the average of the total reflection coefficient R T produced by the active part of the stack H x W03-c (730 nm) / WC> 3-y (400 nm) / glass in the bands II (curve A) and III (curve B), as a function of the intercalation rate x in H x W0 3 -c.
  • FIG. 1 represents a device according to the invention comprising the specific bilayer according to the invention.
  • This device comprises a front face (1) exposed to infrared radiation (2) and a rear face (3) which is not exposed directly to infrared rays.
  • the device according to the invention firstly comprises a substrate or support (4), which essentially plays a role of metal support of the device.
  • the substrate or support (4) does not generally have infrared light transparency.
  • the substrate or support is generally of a light material.
  • This substrate or support (4) can be made of a material chosen from metals, glasses such as microscope slide glass, and organic polymers which have sufficient rigidity, such as Poly (ethylene terephthalate) or PET. .
  • the metals which may constitute the substrate or support (4) may be chosen for example from aluminum, platinum, chromium and their alloys.
  • the substrate or support (4) is made of a material that is not electronically conductive, such as glass or PET, then a layer made of an electronically conductive material is deposited on the substrate or, more exactly, on the upper surface. of it. This layer of an electronically conductive material acts as an electrode connected to the power supply of the device.
  • This electronically conductive material is generally selected from metals, and electronically conductive metal oxides.
  • the metals that can form the layer of an electronically conductive material may be chosen from the metals already mentioned above which may constitute the substrate or support.
  • Examples of such conductive oxides are tin doped indium oxide ("Indium Tin Oxide” or ITO), tin oxide SnC> 2 doped or fluorine ("Fluorine Tin Oxide” or FTO in English) .
  • the electronically conductive material of said layer is generally chosen from materials that can be deposited in a thin layer by a PVD process, such as sputtering or laser ablation. or evaporation, and preferably from the materials which can be deposited in a thin layer by sputtering.
  • the substrate or support is of a material that is electronically conductive such as a metal
  • the support or substrate (4) which can then be described as "monoblock" substrate, plays in this case both the role of mechanical support of the device already indicated above and the role of electrode connected to the power supply. of the device.
  • the material which constitutes the layer of an electronically conductive material when it is present, or the electronic conductive material which constitutes the substrate when said layer is not present, is chemically compatible with the material of the a first electrochromic proton storage material (5) deposited on the substrate or on the layer of an electronically conductive material.
  • the material which constitutes the layer made of an electronically conductive material, or the electronically conductive material which constitutes the substrate so as to be chemically compatible with a proton medium, such as a hydrated metal oxide, will thus be chosen.
  • the substrate (4) generally has a thickness of 0.175 to 1 mm.
  • the substrate (4) is generally in the form of a sheet of light material.
  • the thickness of the substrate (4) is generally about 1 mm in the case of a glass substrate and about 175 ⁇ in the case of a polymer substrate, for example a PET substrate.
  • the layer of an optional electronic conductive material generally has a thickness of 50 to 150 nm.
  • a layer of a first electrochromic material proton storage (5) On the substrate or the layer of an electronically conductive material is disposed a layer of a first electrochromic material proton storage (5). This layer can also be called counter-electrode proton reservoir.
  • the first electrochromic proton storage material may be selected from all electrochromic hydrated metal oxides, and mixtures of two or more such oxides.
  • hydrated tungsten oxide H X WC> 3. ⁇ 3 ⁇ 40, where x is between 0 and 1 (0 and 1 inclusive), and n is an integer of 1 to 2, for example n 1.
  • the first electrochromic proton storage material is generally chosen from materials that can be deposited in a thin layer by a PVD process such as cathodic sputtering, laser ablation or evaporation, and preferably from the materials that can be deposited under thin layer by sputtering.
  • the first electrochromic proton storage material will be chosen so that it is chemically compatible with the conductive electrolyte. proton deposited on the layer of first electrochromic material.
  • the layer made of a first electrochromic proton storage material (5) generally has a thickness of 0.2 to 1 ⁇ , preferably of 0.4 to 1 ⁇ .
  • a layer made of a first electrochromic proton storage material (5) is arranged a layer of an electrically conductive and electronic insulating electrolyte (6).
  • This proton conducting electrolyte may be chosen from all of the hydrated metal oxides, preferably amorphous, and mixtures of two or more of these oxides.
  • tantalum oxide 2 ⁇ 5 amorphous hydrated and amorphous hydrous zirconium oxide examples of such oxides are tantalum oxide 2 ⁇ 5 amorphous hydrated and amorphous hydrous zirconium oxide.
  • the layer made of a protonic conductive and electrically insulating electrolyte (6) generally has a thickness of 0.2 to 1 ⁇ , preferably of 0.4 to 1 ⁇ .
  • bilayer On the layer in a proton conductive electrolyte (6) is disposed the bilayer which can also be called bilayer electrode or composite electrode (7) according to the invention.
  • This tungsten oxide layer is chemically compatible with the surrounding materials, namely with the proton conducting electrolyte of the underlying layer (6) and with the optionally hydrated crystallized tungsten oxide H x W0 3 - c or H X WC> 3. nH 2 0-c of the immediately higher layer (9) of the stack of layers of the device.
  • This layer of a tungsten oxide WO 3 - y (8) is generally a porous layer with a submicron pore size, for example 10 to 100 nm.
  • the tungsten oxide layer W0 3 - y (8) generally has a thickness of 0.2 to 0.5 um, preferably 0.4 to 0.5 ⁇ .
  • the thickness of the tungsten oxide WO 3 - y (8) layer must generally be less than or equal to 500 nm to be permeable to protons. On the other hand, this thickness must generally be greater than 200 nm to constitute an absorbent base, which makes it possible to decouple the optical function from the front face of the device consisting essentially of the bilayer (7), of the electrochemical function. conferred by the rest of the stack under the tungsten oxide layer WO 3 - y (8).
  • tungsten oxide layer WO 3 - y On the tungsten oxide layer WO 3 - y , (8) is disposed a layer (9) of a second electrochromic material selected from crystallized tungsten oxide H x WO 3 -c where x is from 0 to 1 and crystallized tungsten oxide hydrate H X WC> 3. nH 2 0-c where x is 0 to 1 and n is 1 to 2.
  • This layer of a second electrochromic material (9) is generally a porous layer with submicron porosity, for example from 10 to 100 nm.
  • This layer of a second electrochromic material (9) is a reflection layer that is variable with respect to IR rays.
  • the active material is a crystallized tungsten oxide represented by the formula H x WC> 3-c, which can be hydrated to improve its performance, and essentially proton conductivity.
  • This crystallized tungsten oxide hydrate is represented by the formula H X WC> 3. nH 2 0-c.
  • x which represents the rate of intercalation of the active material H x W0 3 -c or H X WC> 3.
  • nH 2 0-c is variable and is generally between 0 and 1 (0 and 1 inclusive), while n is generally between 1 and 2 (1 and 2 inclusive).
  • optical response of the device very finely follows the variations of x, with possible modulation to the nearest 0.05, because of the capacity of the inorganic layers to keep their proton levels, also called "memory effect".
  • the optical properties, the optical response, the oxide layer of active tungsten, electrochromic, reflective, crystalline and / or hydrated formula H x W03-c or W03.nH 2 0-c (9 ) can be easily modulated according to the proton intercalation rate (defined by x) which is itself variable as a function of the applied voltage.
  • the tungsten oxide WO 3 which constitutes the active part of the stack of the device according to the invention is a material capable of operating with lithium ions and / or with protons.
  • the "all-solid" devices such as the device according to the invention being slower than the flexible devices, it is preferable to work with a second electrochromic proton material, with an inorganic electrolyte proton for example oxide type tantalum Ta 2 5 hydrated, and finally with an inorganic counterelectrode also proton.
  • the layer of second electrochromic active material (9) generally has a thickness of 0.2 to 1 ⁇ , preferably 0.3 to 0.8 ⁇ .
  • the optical properties of the device are adaptable in the middle infrared with the thickness of active material H x W0 3 -c, or H X WC> 3. nH 2 0-c in particular on the bands II 3-5 ⁇ ) and III (8-12 ⁇ ) transparency of the 1 atmosphere.
  • a small thickness (for example about 300 nm) of active material (9) will give a preferential modulation of the total reflection in the band II while a high thickness (for example about 700 to 800 nm) of active material will give a privileged modulation of the total reflection in the band III.
  • the optical properties, the optical contrast, of the device according to the invention can be modulated in the infrared and in particular in the middle infrared by varying x and the thickness of the active material H x W0 3 -c or H X W0 3 . nH 2 0-c.
  • a layer (10) for protecting the stack transparent to infrared rays, and preferably reflective vis-à-vis solar radiation.
  • This layer (10) can also be called the encapsulation layer.
  • this layer (10) is deposited during a final step on the entire stack described above to maintain the ion content (protons) inside the device, and thus serve as encapsulating material.
  • this layer (10) is transparent to infrared rays of wavelengths between 1.5 ⁇ and 20 ⁇ , preferably between 3 ⁇ and 12 ⁇ .
  • this layer (10) has a refractive index between 1 and 2.
  • This layer (10) is generally made of a non-toxic inorganic material.
  • this layer (10) is made of a material chosen from oxides of metals and metalloids, and mixtures of two or more of these metal oxides and metalloid oxides.
  • oxide (s) of metals or metalloids are preferably chosen from oxides which can be easily deposited by PVD from an oxide or metal target, such as cerium CeC> 2 , yttrium oxide Y 2 O 3 , or SiO 2 .
  • the layer (10) for protecting the stack generally has a thickness of 0.1 to 1 ⁇ , preferably of 0.4 to 1 ⁇ .
  • the device according to the invention further comprises means (11, 12) for establishing a variable voltage between the electrodes, for example a variable voltage between +3 volts and -3 volts.
  • the device according to the invention is prepared by the method described above.
  • the apparatus used to implement the method according to the invention for preparing the device according to the invention can be for example a vacuum deposition frame (Physical Vapor Deposition or "PVD" in English) comprising:
  • cathodes not more than 6 cathodes with a diameter of 3 inches (or 76 mm), or 2 cathodes with a diameter of 6 inches (or 152 mm) and 2 cathodes with a diameter of 3 inches (or 76 mm);
  • each deposit will be made by magnetron sputtering from a metal target, for example Ir, Ta, W, or Ce, with an applied power of 1 to 2 W / cm 2 , preferably in pulsed DC mode, for example at 50 kHz for 2 ⁇ , in order to obtain high deposition rates, for example from 60 to 100 nm / minute for the industrialization of the reagent-type process.
  • a metal target for example Ir, Ta, W, or Ce
  • pulsed DC mode for example at 50 kHz for 2 ⁇
  • the plasmagenic gas will consist of a mixture of argon (with hydrogen) and oxygen, injected into the chamber with flow rates, for example 70 sccm and 9 to 20 sccm, respectively.
  • the bilayer can be prepared by a PVD process, by example by reactive magnetron sputtering, from a single tungsten target with in particular a controlled oxygen content in the deposition chamber.
  • a WO 3 - y sub-stoichiometric oxide is obtained.
  • the oxygen content of WO 3- y determined by the value of y between 0.1 (ie for a flow rate of 9.9 sccm for example) and 0.5 (ie for a flow rate of 9 sccm, for example). ) can be perfectly controlled by the control of the sputtering parameters, namely for example:
  • the oxygen level of W03- there may in particular be controlled by the oxygen content in the deposition chamber, the flow rate is finely controlled, for example, plus or minus 0.1 sccm by optical control of the rate of carbon of tungsten in the plasma deposition.
  • a photodiode provided with a 400 nm filter is used which is the wavelength of one of the main lines of W.
  • the crystallized active material H x W03-c will be obtained with an oxygen content generally fixed at 20 sccm by the flow meter.
  • the deposit parameters will be for example: a power density applied on a tungsten target of 2 W / cm 2 ;
  • a plasma gas pressure such as a mixture of argon and oxygen of 2.5 1 CT 2 mbar.
  • the substrate will generally be heated to 350 ° C with slight ionic assistance to enhance crystallization during deposition.
  • This ionic assistance may consist for example of a bombardment by Ar + ions at 80 W in RF mode.
  • WC 3-y may also be prepared by copulverising a metal tungsten target W and a second stoichiometric tungsten oxide target WO 3 .
  • the proportion of mixing of materials W and WO 3 is then adjusted by varying the power density applied, in argon RF mode, to their respective targets, between 1 and 2 W / cm 2 , at low deposition rate, for example 10 to 20 nm / min, in order to obtain a homogeneous composition.
  • a stoichiometric WO 3 matrix is thus obtained in which are implanted metallic W atoms capable of percolating with a W content generally at least equal to 10%.
  • This material can be called Cermet, it has in fact the characteristic properties of Cermets, including a typical conductivity variation Cermets corresponding to the threshold of electronic percolation (see Example 1). It should be noted that crystallized H x W0 3 -c can also be deposited with a target of WO 3 in non-reactive RF mode under argon, but with a much slower deposition rate than with the reactive method using a target of W metallic.
  • the deposition rate is generally about 12 nm / min in RF mode, instead of about 60 nm / min in DC mode.
  • the device according to the invention inorganic, robust and simplified design that can in particular operate in the medium infrared finds particular application in the thermal protection of satellites.
  • satellite "patches” composed of several electrochromic "all-solid” devices according to the invention to replace mechanical shutters that consume a lot of energy.
  • This example illustrates the control of the electronic properties of the undercoat layer of W0 3 - y, and in particular its resistivity by controlling the flow rate of oxygen introduced into the chamber of the frame of the magnetron sputtering apparatus, when depositing this sublayer.
  • This sublayer of WO 3 - y is a fundamental element of the device and the bilayer (bilayer electrode, composite) according to the invention.
  • Depositing W03- is preferably carried by the magnetron sputtering technique, pulsed DC mode reagent, using a vacuum deposition frame (PVD).
  • PVD vacuum deposition frame
  • a power of 400 W is applied to a 6-inch diameter tungsten target.
  • the voltage of the cathode is between 500 and 520 volts, and the plasma gas pressure consisting of a mixture of argon and oxygen is between 2 and 2.3 10 ⁇ 2 mbar.
  • This process advantageously produces porous thin layers, when using a high working pressure, and fast growth, for example about 100 nm / min.
  • Figure 2 shows that the electronic properties of the undercoat layer of W0 3 - y can be effectively controlled with the flow rate of oxygen introduced into the chamber of the frame during the deposition of this layer by magnetron sputtering.
  • the material WC> 3- is a resistivity of between 0.5 and 5 10 -2 Q.cm when the flow rate of oxygen introduced into the chamber, controlled by optical emission of carbon tungsten, ranges from 9.0 to 9.9 sccm ("standard cubic centimeter per minute") with an argon flow rate of 70 sccm.
  • optical modulation in the infrared is performed in an aqueous liquid medium, namely a slightly acidic electrolyte comprising H 3 PO 4 to 0, 1M, by the stacks consist of a bilayer H x WC> 3 / W03- there on a glass substrate.
  • the band II of the infrared range extends between the wavelengths of 3 and 5 ⁇
  • the band III of the infrared range extends between the wavelengths of 8 and 12 ⁇ .
  • Such a stack which constitutes the "front face” of the device according to the invention can be considered to be representative of the operation of an "all-solid" proton device according to the invention because the layers located under the W0 3 - are little or no contribution to the optical properties of the device according to the invention.
  • the reversible modulation of the optical response in total reflection in the infrared is ensured by the variation of the intercalation rate x, which corresponds to the proton content in the active material H x W03-c.
  • X is varied from 0 to 0.5. a) Stack H x W0 3 -c (320 nm) / W0 3 - y (400 nm) / glass.
  • R (II) and R (III) respectively represent the averages of the total reflection coefficients R T produced by the active part of the stack in bands (II) and (III) of the infrared domain.
  • the overall response times for maximum band II contrast are less than 1 minute for a 1 cm 2 area .
  • R (II) and R (III) respectively represent the averages of the total reflection coefficients R T produced by the active part of the stack in the bands (II) and (III) of the infrared range.
  • R (II) and R (III) respectively represent the averages of the total reflection coefficients R T produced by the active part of the stack in the bands (II) and (III) of the infrared range.

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Abstract

Dispositif électrochrome tout- solide à réflexion ou émission infrarouge contrôlée, notamment de type électrocommandable, comprenant un empilement, comprenant successivement depuis une face arrière (3) jusqu'à une face avant (1) exposée aux rayons infrarouges (2) : un substrat (4) en un matériau conducteur électronique, ou un substrat en un matériau non conducteur électronique recouvert d'une couche en un matériau conducteur électronique, formant une première électrode; une couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique (5); une couche d'un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique (6); un bicouche comprenant une couche d'un oxyde de tungstène sous stoechiométrique, WO3-y, formant une seconde électrode; ladite couche de WO3-y étant disposée sous une couche à réflexion variable dans l'infrarouge, d'un second matériau électrochrome à taux d ' intercalation protonique variable, choisi parmi l'oxyde de tungstène cristallisé HxWO3. nH2O- c; et l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HxWO3. nH2O - c; une couche de protection (10), transparente aux rayons infrarouges. Bicouche pour ce dispositif. Procédé de préparation de ce dispositif.

Description

DISPOSITIF ELECTROCHROME TOUT -SOLIDE, BICOUCHE ELECTROCHROME POUR CE DISPOSITIF, ET PROCEDE DE PREPARATION DE CE DISPOSITIF.
DESCRIPTION
5 DOMAINE TECHNIQUE
L'invention concerne un dispositif électrochrome tout-solide.
Plus précisément, l'invention concerne un dispositif électrochrome tout-solide à réflexion ou 10 émission infrarouge contrôlée, notamment de type
électrocommandable .
L'invention a trait, en outre, à un bicouche, aussi appelé électrode bicouche ou composite pour un tel dispositif électrochrome.
15 L'invention concerne enfin un procédé de
préparation dudit dispositif.
Le domaine technique de l'invention peut être défini comme celui des dispositifs électrochromes actifs dans l'infrarouge.
20
É TAT DE LA TECHNIQUE ANTÉRIEURE
Il existe actuellement deux familles de dispositifs électrochromes actifs dans l'infrarouge, à savoir les dispositifs souples qui peuvent être « tout-
25 organique » exclusivement à base de polymères
organiques ou bien hybrides, et les dispositifs « tout- solide » constitués d'empilements de couches inorganiques ou minérales.
Si l'on s'intéresse aux dispositifs « tout-
30 organique », le document FR-A1-2 825 481 décrit une
structure électrochrome souple fonctionnant en réflexion à des longueurs d'onde comprises entre 0,35 et 20 μπι qui comprend une membrane microporeuse en polymère incluant un électrolyte généralement liquide, et, déposées sur chacune des surfaces de la membrane microporeuse et dans cet ordre : une électrode formée d'une couche conductrice électroniquement réfléchissante par exemple en or, une couche de polymère conducteur électrochrome par exemple de polyaniline, polythiophène, ou polypyrrole, et une fenêtre souple et transparente.
Le dispositif décrit dans ce document présente des interfaces fragiles qui limitent sa durée de vie. En effet, 1 ' électrolyte est généralement liquide, et si un défaut d' étanchéité vient à survenir, il peut alors se produire une fuite d' électrolyte conduisant éventuellement à un assèchement du dispositif.
Le manque d' électrolyte altère gravement les propriétés électrochromes.
Le document WO-A1-2010/058108 décrit un dispositif électroémissif comprenant un matériau sous la forme d'un réseau semi-interpénétré de polymères. Ce dispositif présente l'avantage de ne pas nécessiter de couche d'or pour fonctionner.
Bien que présentant une très bonne cyclabilité à température ambiante alliée à une architecture simplifiée, ce dispositif nécessite lui aussi une étape d'imprégnation dans un électrolyte liquide. De plus, les tests réalisés à température élevée révèlent une dégradation des propriétés électrochromes.
Des dispositifs hybrides sont décrits dans le document FR-A1-2 879 764. Ce document a trait à une cellule électrochimique souple, aqueuse, à émission contrôlée qui comprend entre autres, une couche active poreuse formée d'un mélange de PVDF-HFP, de PEO et d'une poudre d'un matériau d'insertion, et une contre- électrode poreuse formée d'un mélange de PVDF-HFP, de PEO et d'une poudre d'un composé comprenant des ions complémentaires aux ions d'insertion.
Le matériau d'insertion WO3.H2O possède une bonne conduction protonique alliée à une réflexion IR modulable sur fond absorbant carboné, perméable aux ions et collecteur de courant.
Bien que plus robuste que celui du document FR-A1-2, 825, 481, ce dispositif, laminé intimement avec un électrolyte gélifié, nécessite lui aussi d'être encapsulé par une fenêtre étanche et transparente dans l'infrarouge, ce qui complique sa conception.
Les dispositifs souples, quels qu'ils soient, présentent en particulier l'inconvénient, notamment lorsqu' ils sont utilisés pour la protection thermique des satellites, d'être peu adaptés aux conditions spatiales .
En effet, les électrolytes gels posent des problèmes lorsqu'ils sont utilisés sous vide, et les polymères qui constituent les dispositifs souples se déforment sous l'effet de la chaleur et sont peu résistants aux UV.
Les dispositifs « tout-solide »,
« commandables », sont le plus souvent conçus pour une application dans le domaine du vitrage, et permettent d'allier confort visuel et confort thermique dans le domaine du visible et du proche Infrarouge (IR) . Le matériau actif est généralement constitué d'une couche d'oxyde de tungstène poreux et faiblement cristallisé, c'est-à-dire amorphe aux rayons X.
Cette couche dite couche de HxW03-a devient absorbante lorsque le matériau est intercalé, en d'autres termes lorsque des protons y sont insérés, à savoir lorsque x>0.
Un exemple d'un tel dispositif « tout-solide » est décrit dans le document FR-A1-2 904 704 qui concerne un dispositif électrochimique, et/ou électrocommandable du type vitrage et à propriétés optiques et/ou énergétiques variables.
Ce dispositif comprend un empilement électrochrome « tout-solide » de structure TC1/EC1/EL/EC2/TC2 avec un substrat porteur muni d'une première couche électroconductrice TC1, une première couche électrochimiquement active EC1 susceptible d' insérer de manière réversible des ions comme des cations tels que H+ ou Li+ ou des anions tels que ΟΗ~, notamment en un matériau électrochrome cathodique ou respectivement anodique, une couche d' électrolyte EL, une seconde couche électrochimiquement active EC2 susceptible d'insérer de manière réversible lesdits ions, notamment en un matériau électrochrome cathodique ou respectivement anodique, et une seconde couche électroconductrice TC2.
Chaque couche électroactive EC1 ou EC2 peut notamment comporter de l'oxyde de tungstène.
Or, ce dispositif tout-solide ne peut être employé pour une modulation du rayonnement infrarouge moyen, à savoir d'une longueur d'onde généralement de 1,5 à 20 μπι, car les électrodes TC1 et TC2 ne sont pas transparentes au-delà de 2 μπι, en raison de leur conductivité élevée.
Ainsi, des problèmes particuliers se posent pour les dispositifs électrochromes « tout-solide », inorganiques, actifs dans l'infrarouge.
En effet, les dispositifs électrochromes actifs dans l'infrarouge de conception classique nécessitent une électrode transparente dans l'infrarouge afin que la signature du matériau actif puisse être efficace et modulable .
Ainsi, le document US-B1-7 , 265, 890 décrit-il un dispositif électrochrome qui comprend sur un substrat rigide ou flexible une électrode constituée par exemple, par un film de métal ou par une couche d'oxyde métallique conducteur tel que l'ITO, une couche électrochrome, par exemple en oxyde de tungstène chargée en ions lithium, une couche de transfert d'ions en nitrure de lithium, une couche d' électrolyte, une couche de stockage d'ions, et une électrode transparente en métal .
Dans ce dispositif, le matériau actif LixW03 est déposé à l'arrière de l'empilement.
Les performances d'un tel dispositif sont alors limitées par la transparence aux infrarouges des couches supérieures constituées par l' électrolyte, la contre-électrode réservoir d'ions et l'électrode chargée d'y amener le courant.
Les empilements actifs dans l'infrarouge, et notamment dans le moyen infrarouge, à savoir d'une longueur d'onde généralement de 1,5 à 20 μπι, peuvent comprendre une couche d'oxyde de tungstène HxW03-a en face avant et absorbante sur fond réflecteur.
Le document de K. Sauvet, L. Sauques et A. Rougier, Journal of Physics and Chemistry of Solids 71, (2010), 696-699, mentionne l'utilisation d'une grille d'or poreuse réflectrice en tant qu'électrode pour HxWC>3-a à l'instar de l'architecture utilisée dans le système souple « tout-organique » du document FR-A1-2825481, où la signature optique du matériau actif est déconnectée du reste du dispositif.
Toutefois, dans le cas des systèmes complets conçus par ces auteurs, l'emploi d'une électrode transparente aux infrarouges, en plus de la grille d'or à maillage micronique, reste nécessaire afin d'amener les électrons dans le matériau actif.
Or, les électrodes transparentes dans l'infrarouge sont encore à l'état de recherche, et sont difficilement industrialisables .
Actuellement, on a recours à des grilles d'or transparentes dans l'infrarouge à maillage submillimétrique réalisées par photolithographie sur verre transparent de type BaF2, ce qui complique de manière drastique la réalisation des dispositifs.
Ainsi, le document FR-A1-2934062 a trait à un dispositif électrochrome à réflexion infrarouge contrôlée, notamment de type électrocommandable qui comporte entre un substrat porteur transparent dans le domaine IR et un contre substrat, un empilement comprenant successivement : une grille métallique, de préférence en or, transparent dans le domaine infrarouge, formant une première électrode,
un système fonctionnel électrochrome comprenant une couche d'un premier matériau électrochrome de stockage ionique (EC1), de préférence à base d'oxyde d'iridium, au moins une couche à fonction électrolytique (ELI, EL2) de préférence à base d'oxyde de tantale et d'oxyde de tungstène, et une couche d'un second matériau électrochrome (EC2),
une couche métallique apte à réfléchir le rayonnement infrarouge, formant une seconde électrode, un intercalaire de feuilletage en matériau thermoplastique .
Il existe donc, au regard de ce qui précède, un besoin pour un dispositif électrochrome, actif dans l'infrarouge, de préférence dans l'infrarouge moyen, notamment à émissivité modulable dans l'infrarouge (IR) qui permette de s'affranchir de l'utilisation d' électrodes transparentes au rayonnement infrarouge et notamment de grilles en or.
Il existe encore, au regard de ce qui précède, un besoin pour un dispositif électrochrome, actif dans l'infrarouge, de préférence dans l'infrarouge moyen, robuste, possédant une résistance mécanique élevée, résistant aux températures élevées, par exemple supérieures ou égales à 100°C, résistant aux rayonnements ultraviolets, pouvant être placé dans un environnement où règne le vide, par exemple dans 1 ' espace . Il existe, également, un besoin pour un dispositif qui puisse être fabriqué par un procédé simple, comportant un nombre limité d'étapes, et d'une durée réduite.
Le but de la présente invention est de fournir un dispositif électrochrome, actif dans l'infrarouge, de préférence dans l'infrarouge moyen, qui réponde entre autres aux besoins énumérés plus haut.
Le but de la présente invention est encore de fournir un tel dispositif qui ne présente pas les inconvénients, limitations, défauts et désavantages des dispositifs de l'art antérieur, et qui résolve les problèmes des dispositifs de l'art antérieur. EXPOSÉ DE L' INVENTION
Ce but, et d'autres encore sont atteints, conformément à la présente invention, par un dispositif électrochrome tout-solide à réflexion ou émission infrarouge contrôlée, notamment de type électrocommandable, comprenant un empilement, ledit empilement comprenant successivement depuis une face arrière jusqu'à une face avant exposée aux rayons infrarouges :
a) un substrat en un matériau conducteur électronique, ou un substrat en un matériau non conducteur électronique recouvert d'une couche en un matériau conducteur électronique, ledit substrat en un matériau conducteur électronique ou ladite couche en un matériau conducteur électronique formant une première électrode ; b) une couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique ;
c) une couche d'un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique ;
d) un bicouche comprenant une couche d'un oxyde de tungstène sous stœchiométrique, non électrochrome, W03-y où y est compris entre 0,2 et 1, optiquement absorbante dans l'infrarouge (de préférence dans le moyen infrarouge) , conductrice électronique, poreuse, formant une seconde électrode ; ladite couche d'oxyde de tungstène W03-y étant disposée sous une couche à réflexion variable dans l'infrarouge, d'un second matériau électrochrome à taux d' intercalation protonique variable, choisi parmi l'oxyde de tungstène cristallisé HxWC>3-c où x est compris entre 0 et 1, et l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. nH20-c où x est compris entre 0 et 1 et n est un nombre entier de 1 à 2.
e) une couche de protection, transparente aux rayons infrarouges, en un matériau inorganique.
La couche à réflexion variable qui fait partie du bicouche d) est plus ou moins réfléchissante ou même pas du tout réfléchissante selon la valeur de x.
Ainsi pour x = 0, cette couche n'est pas réfléchissante et pour les valeurs de x au-delà de 0,1, cette couche est réfléchissante.
Avantageusement, ledit substrat lorsqu'il est en un matériau conducteur électronique, peut être en un matériau choisi parmi les matériaux résistants mécaniquement et chimiquement aux sollicitations du milieu extérieur (par exemple dans l'espace) et chimiquement compatible vis-à-vis d'un fonctionnement protonique et notamment chimiquement compatible vis-à- vis du premier matériau électrochrome de stockage protonique, de préférence ledit matériau conducteur électronique est choisi parmi les métaux tels que l'aluminium, le platine ou le chrome, et leurs alliages .
Par matériau « chimiquement compatible vis-à- vis d'un fonctionnement protonique », on entend généralement un matériau dont les propriétés (chimiques, physiques, mécaniques, électroniques) ne sont pas dégradées lors d'un fonctionnement du dispositif avec des protons.
Par « chimiquement compatible vis-à-vis du premier matériau électrochrome de stockage protonique », on entend généralement que le matériau conducteur électronique réagit peu ou pas avec le premier matériau électrochrome de stockage protonique, ou encore que le matériau conducteur électronique est inerte vis-à-vis du premier matériau électrochrome de stockage protonique.
De manière générale, dans la présente, on entend généralement qu'un premier matériau est chimiquement compatible avec un deuxième matériau, lorsque ce premier matériau réagit peu ou pas avec le deuxième matériau, ou encore que le premier matériau est inerte vis-à-vis du deuxième matériau.
Avantageusement, ledit substrat lorsqu'il est en un matériau non conducteur électronique peut être en un matériau choisi parmi les matériaux résistants mécaniquement et chimiquement aux sollicitations du milieu extérieur (par exemple dans l'espace) et chimiquement compatibles vis-à-vis d'un fonctionnement protonique et notamment chimiquement compatibles vis-à- vis du premier matériau électrochrome de stockage protonique, de préférence ledit matériau non conducteur électronique est choisi parmi les verres et les polymères organiques résistants mécaniquement et chimiquement, tels que le Poly ( Téréphtalate d'éthylène) ou PET.
Avantageusement, la couche en un matériau conducteur électronique peut être en un matériau choisi parmi les matériaux résistants mécaniquement et chimiquement aux sollicitations du milieu extérieur (par exemple dans l'espace), et chimiquement compatibles vis-à-vis d'un fonctionnement protonique et notamment chimiquement compatibles vis-à-vis du premier matériau électrochrome de stockage protonique, de préférence ledit matériau conducteur électronique est choisi parmi les métaux tels que l'aluminium, le platine, le chrome et leurs alliages ; et les oxydes métalliques conducteurs électroniques tels que l'oxyde d' indium dopé à l'étain ou ITO et l'oxyde d' étain dopé au fluor ou FTO .
Avantageusement, le premier matériau électrochrome de stockage protonique peut être choisi parmi les matériaux électrochromes de stockage protonique chimiquement compatibles vis-à-vis d'un fonctionnement protonique, notamment chimiquement compatibles vis-à-vis de 1 ' électrolyte conducteur protonique et isolant électronique, de préférence le premier matériau électrochrome de stockage protonique peut être choisi parmi les oxydes métalliques hydratés de préférence amorphes tels que l'oxyde de tungstène hydraté HXWC>3. η¾0, ou x est compris entre 0 et 1, et n est un nombre entier de 1 à 2, et les mélanges de deux ou plus desdits oxydes.
Avantageusement, 1 ' électrolyte conducteur protonique et isolant électronique peut être choisi parmi les électrolytes conducteurs protoniques et isolants électroniques chimiquement compatible vis-à- vis d'un fonctionnement protonique, notamment chimiquement compatibles (inertes) vis-à-vis de l'oxyde de tungstène cristallisé HxW03-c (oxyde de tungstène protoné) ou de l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. nH20-c, de préférence 1 ' électrolyte conducteur protonique et isolant électronique peut être choisi parmi les oxydes métalliques hydratés, de préférence amorphes tels que l'oxyde de tantale a2Û5 hydraté amorphe, l'oxyde de zirconium hydraté amorphe et les mélanges de deux ou plus desdits oxydes.
L' électrolyte est hydraté et amorphe afin qu'il puisse facilement transporter les protons du matériau de stockage vers le matériau actif en réflexion infrarouge. L'oxyde métallique de 1 ' électrolyte doit généralement être différent de l'oxyde de tungstène.
Avantageusement, la couche de protection transparente aux rayons infrarouges, peut être en un matériau choisi parmi les matériaux compatibles vis-à- vis d'un fonctionnement protonique, notamment chimiquement compatibles vis-à-vis de l'oxyde de tungstène cristallisé HxW03-c ou de l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXW03. nH20-c, de préférence la couche de protection transparente aux rayons infrarouges peut être en un matériau choisi parmi les matériaux inorganiques non toxiques, de préférence parmi les oxydes de métaux et de métalloïdes, de préférence, denses, tels que l'oxyde de cérium CeC>2, l'oxyde d' yttrium Y2O3, la silice S1O2 et les mélanges de deux ou plus desdits oxydes de métaux ou de métalloïdes.
Par oxydes de métaux ou de métalloïdes denses, on entend généralement que ces oxydes ont une densité supérieure à 99% de la densité théorique.
Avantageusement, le substrat (conducteur électronique ou non) a une épaisseur de 0,175 mm à 1 mm.
Avantageusement, la couche en un matériau conducteur électronique qui recouvre le substrat lorsque celui-ci est un substrat en un matériau non conducteur électronique, a une épaisseur de 50 à 150 nm.
Avantageusement, la couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique a une épaisseur de 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,4 à 1 μπι.
Avantageusement, la couche en un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique a une épaisseur de 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,4 à 1 μπι.
Avantageusement, la couche en oxyde de tungstène W03-y a une épaisseur 0,2 à 0,5 μπι, de préférence de 0,4 à 0,5 μπι. Avantageusement, la couche d'un second matériau électrochrome a une épaisseur 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,3 à 0,8 μπι .
Avantageusement, la couche de protection transparente aux rayons infrarouges a une épaisseur de 0,1 à 1 μπι, de préférence de 0,4 à 1 μπι.
Le dispositif selon l'invention comprend un empilement spécifique de couches spécifiques dans un ordre spécifique qui n'a jamais été décrit dans l'art antérieur tel que représenté notamment par les documents relatifs à des dispositifs électrochromes « tout-solide » mentionnés plus haut.
Le dispositif selon l'invention peut être défini comme un dispositif tout-solide électrochrome à réflexion ou émissivité modulable dans l'infrarouge (IR) en particulier dans l'infrarouge moyen (longueurs d'onde de 1,5 à 20 μπι) et notamment dans la bande II (longueur d'onde de 3 à 5 μπι) et/ou dans la bande III (longueur d'onde de 8 à 12 μπι) du spectre infrarouge, dont la partie active est un bicouche, que l'on pourrait aussi appeler électrode composite ou bicouche, à base d'oxyde de tungstène qui est selon l'invention située en face avant du dispositif.
La gamme de longueurs d'ondes d'intérêt préférée pour le dispositif selon l'invention se situe en effet dans le moyen infrarouge (« MIR ») c'est-à- dire dans une gamme de longueurs d'onde de 1,5 à 20 μπι, notamment de 2 à 20 μπι, qui est une gamme privilégiée pour les applications spatiales alors que pour des applications de type vitrage, les gammes de longueur d'onde d'intérêt se situent dans le Visible - Proche Infrarouge .
Le fait de disposer la partie active du dispositif électrochrome et notamment la couche du second matériau électrochrome à taux d' intercalation protonique variable, en face avant du dispositif, c'est-à-dire du côté du dispositif qui est directement exposé aux rayons infrarouges n'a jamais été décrit jusqu'alors dans les dispositifs « tout-solide » et est à l'origine de nombre des avantages du dispositif selon 1 ' invention .
En effet, ce bicouche, cette électrode composite, exposé directement au rayonnement IR, est capable, par insertion électrochimique réversible de protons (qui ont été préférés aux ions lithium pour des raisons cinétiques), de moduler l'émissivité infrarouge totale du système comme cela est largement démontré dans les exemples fournis plus loin, et cela indépendamment des autres constituants sous-jacents de l'empilement.
La couche active du second matériau électrochrome à taux d' intercalation protonique variable, constitue la première couche de la face avant du dispositif. Aucun obstacle, tel qu'une électrode, ne fait donc obstacle à son exposition aux rayons infrarouges, et aucune perte optique n'est créée, car la couche d'oxyde de tungstène formant la seconde électrode est disposée sur la face de la couche active du second matériau électrochrome opposée à la face exposée aux rayonnements infrarouges. Dans le dispositif selon l'invention, on surmonte l'un des inconvénients majeurs des dispositifs « tout-solide » de l'art antérieur dans lesquels la couche active est disposée sous une électrode, qui doit être obligatoirement transparente aux rayonnements infrarouges avec toutes les difficultés de réalisation que cela implique.
En particulier, le dispositif selon l'invention ne comporte pas de grille d'or, ce qui simplifie grandement la fabrication du dispositif selon l'invention et en abaisse grandement le coût.
Plus précisément, on fournit selon l'invention, pour la première fois, un dispositif tout-solide, non organique, qui ne comporte pas d'électrode transparente aux rayonnements infrarouges telle qu'une grille d'or.
En d'autres termes, les performances optiques du dispositif selon l'invention sont produites par les propriétés électroniques intrinsèques du matériau actif électrochrome situé en face avant de l'empilement.
On peut ainsi bénéficier de la réponse optique optimale du système, indépendamment des couches situées derrière la face avant.
On peut dire que le dispositif selon l'invention est réalisé selon une conception optimisée qui n'a jamais été décrite ni suggérée dans l'art antérieur relatif aux dispositifs « tout-solide ».
Le dispositif selon l'invention est, en outre, caractérisé en ce qu'il comprend un bicouche, que l'on pourrait aussi appeler électrode composite ou bicouche, constitué d'une couche d'oxyde de tungstène active, électrochrome, réflectrice, cristallisée et/ou hydratée de formule HxW03-c ou W03 . nH20-c à taux d' intercalation protonique (défini par x) variable en fonction de la tension appliquée (bornes comprises généralement entre +3 et -3 Volts) .
Cette couche active, électrochrome est selon l'invention elle-même déposée sur une couche d'oxyde de tungstène sous-stœchiométrique absorbante de formule W03-y.
Le bicouche produit à lui-seul un contraste optique variable dans l'infrarouge, de préférence dans le moyen infrarouge (2 à 50 μπι) .
Dans le dispositif selon l'invention, l'effet technique produit par la nature différente des deux couches qui constituent le bicouche n' est pas d'accroître l'absorption du dispositif qui est fixée par la couche de W03-y, mais au contraire de la diminuer par augmentation de la réflexion de la couche d'un second matériau électrochrome HxW03-c ou WO3. nH20-c . Ce second matériau électrochrome est nécessairement à l'état cristallisé afin qu'une augmentation du taux d' intercalation d'ions x (ici il s'agit généralement de protons H+) produise dans la couche de ce second matériau électrochrome une augmentation de la réflexion infrarouge R.
En d'autres termes, la couche du second matériau électrochrome HxW03-c ou W03 . nH20-c devient réflectrice lorsqu'elle est intercalée, accroissant ainsi la modulation d'émissivité du dispositif.
Dans ce bicouche ou électrode composite, la sous-couche de W03-y qui est une électrode poreuse, joue un triple rôle : elle assure un fond absorbant optique au système ;
elle permet la diffusion des protons ;
elle assure un apport électronique dans le matériau actif HxW03-c.
On peut dire que la sous-couche de W03-y du bicouche ou électrode composite possède une fonction « 3 en 1 », ce qui permet par exemple d'utiliser une seule cible de tungstène pour réaliser un empilement simplifié. Un autre matériau par exemple sous la forme d'une grille d'or n'est, en effet, pas nécessaire pour amener les électrons dans le matériau actif HxW03-c ou W03.nH20-c.
La sous-couche de W03-y est dans un état sous- stœchiométrique, elle est nécessairement non- électrochrome, et elle sert de référence optique absorbante infrarouge par rapport à une couche supérieure active dans l'infrarouge. La sous-couche de W03-y est de préférence absorbante dans le moyen infrarouge.
Le dispositif « tout-solide » selon l'invention est compatible avec toutes les exigences qui régissent une utilisation dans l'espace, en effet les matériaux entièrement inorganiques qui le constituent lui permettent de résister aux agressions UV, au vide et aux températures élevées, par exemple voisines de 100°C, au contraire des dispositifs souples existants dont les électrolytes gels supportent mal une mise sous vide et dont les polymères se déforment sous l'effet de la chaleur et sont peu résistants au UV. Le dispositif selon l'invention peut être qualifié, de dispositif électrochrome robuste, durable, de conception simplifiée.
Le dispositif selon l'invention présente, en outre, l'avantage de pouvoir être réalisé très simplement, en un nombre limité d'étapes, par un seul et même procédé de dépôt pour toutes les couches.
Le dispositif selon l'invention peut donc être réalisé en une durée réduite et avec des coûts réduits.
Ainsi, le dispositif selon l'invention peut être entièrement réalisé sous vide à l'aide d'une même technologie de dépôt physique en phase vapeur (« PVD » ou « Physical Vapour Déposition » en anglais) choisi par exemple parmi la pulvérisation cathodique, l'ablation laser, ou 1 ' évaporation .
L'invention concerne, en outre, un bicouche comprenant une couche d'un oxyde de tungstène sous stœchiométrique, non électrochrome, W03-y où y est compris entre 0,2 et 1, optiquement absorbante dans l'infrarouge (de préférence dans le moyen infrarouge), conductrice électronique, poreuse, formant une électrode ; ladite couche d'oxyde de tungstène W03-y étant disposée sous une couche à réflexion variable dans l'infrarouge, d'un second matériau électrochrome à taux d' intercalation protonique variable, choisi parmi l'oxyde de tungstène cristallisé HxW03-c où x est compris entre 0 et 1, et l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. nH20-c où x est compris entre 0 et 1 et n est un nombre entier de 1 à 2.
Les avantages liés à la structure et à la composition spécifique de ce bicouche ont pour la plupart déjà été exposés plus haut dans le cadre de la description du dispositif.
L' invention concerne aussi un procédé de préparation du dispositif selon l'invention, tel que décrit plus haut, dans lequel on réalise les étapes successives suivantes :
a) on dépose une couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique sur un substrat en un matériau conducteur électronique, ou sur une couche en un matériau conducteur électronique disposée sur un substrat en un matériau non conducteur électronique ledit substrat en un matériau conducteur électronique ou ladite couche en un matériau conducteur électronique formant une première électrode ;
b) on dépose une couche d'un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique sur la couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique ;
c) on dépose une couche d'un oxyde de tungstène sous stœchiométrique, non-électrochrome, W03-y où y est compris entre 0,2 et 1, optiquement absorbante dans l'infrarouge, conductrice électronique, poreuse, formant une seconde électrode, sur la couche d'un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique ;
d) on dépose une couche à réflexion variable dans l'infrarouge d'un second matériau électrochrome à taux d' intercalation protonique variable, choisi parmi l'oxyde de tungstène cristallisé HxW03-c où x est compris entre 0 et 1 et l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. nH20-c où x est compris entre 0 et 1 et n est un nombre entier de 1 à 2, sur la couche d'un oxyde de tungstène sous stœchiométrique, non-électrochrome, W03-y;
e) on dépose une couche de protection, transparente aux rayons infrarouges, en un matériau inorganique, sur la couche à réflexion variable dans l'infrarouge d'un second matériau électrochrome.
Le procédé selon l'invention est fiable et beaucoup plus simple que les procédés de l'art antérieur .
Avantageusement, les couches sont déposées par un procédé de dépôt Physique en phase vapeur ou PVD choisi parmi la pulvérisation cathodique, l'ablation laser et 1 ' évaporation .
Avantageusement, toutes les couches sont déposées sous vide par un même procédé de dépôt physique en phase vapeur, de préférence par pulvérisation cathodique magnétron réactive.
Pour des raisons technico-économiques , la pulvérisation cathodique magnétron en mode réactif sera privilégiée car elle assure notamment un bon contrôle du taux d'oxygène dans le plasma, des vitesses de dépôt élevées, par exemple d'environ 60 nm/min, une bonne qualité optique du matériau actif.
En outre, elle permet de préparer le matériau cristallisé HxW03-c ou HXWC>3. nH20-c en face avant sans échauffer le reste de l'empilement.
Avantageusement, toutes les étapes sont réalisées dans une même enceinte sous vide, sans ouverture de l'enceinte entre chacune des étapes, ce qui occasionne une simplification importante du procédé, un gain de temps important sans perte de protons, et des coûts réduits.
L'invention concerne, en outre, l'utilisation du dispositif tel que décrit plus haut pour la protection thermique d'un objet.
Cet objet peut être notamment un véhicule et notamment un véhicule spatial tel qu'un satellite.
L'utilisation du dispositif selon l'invention est particulièrement avantageuse dans le cas de véhicules tels que les satellites soumis à des contraintes, limitations sur leur masse embarquée. En effet, le dispositif selon l'invention est d'une faible masse et permet un gain de masse important par rapport aux dispositifs, par exemple les dispositifs mécaniques, couramment mis en œuvre pour la protection thermique, notamment dans les satellites.
D'autres avantages de l'invention apparaîtront mieux à la lecture de la description détaillée qui va suivre faite en relation avec les dessins joints.
BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS
La Figure 1 est une vue schématique du dispositif selon l'invention.
- La Figure 2 est un graphique qui représente la résistivité (en 10~2 Ohm. cm) de la sous couche W03-y en fonction du débit d'oxygène (en sccm) introduit dans l'enceinte du bâti de l'appareil de pulvérisation cathodique magnétron lors du dépôt de cette couche par cette technique. La Figure 3 est un graphique qui illustre le pilotage électrochimique du matériau actif HxW03-c, entre 0,2 V (x = 0) et -0,8 V (x = 0,5), par rapport à une électrode de référence de type ECS en milieu H3PO4 - 0,1 M.
En ordonnée est porté le coefficient de réflexion totale RT dans le domaine de l'infrarouge de la partie active de l'empilement HxW03-c (320 nm) / W03-y (400 nm) / verre et, en abscisse est portée la longueur d'onde λ (en μπι) du rayonnement infrarouge.
Les courbes A, B, C, D, E, F, G correspondent respectivement à des valeurs de x de 0 ; 0,05 ; 0,1 ; 0,2 ; 0,25 ; 0,35 ; et 0,5.
La Figure 4 est un graphique qui donne la moyenne du coefficient de réflexion totale RT produite par la partie active de l'empilement HxW03-c (320 nm) / WC>3-y (400 nm) / verre dans les bandes II (courbe A) et III (courbe B) , en fonction du taux d' intercalation x dans HxW03-c.
- La Figure 5 est un graphique qui illustre le pilotage électrochimique du matériau actif HxW03-c, entre 0,2 V (x = 0) et -0,8 V (x = 0,5), par rapport à une électrode de référence de type ECS en milieu H3PO4 - 0, 1 M.
En ordonnée est porté le coefficient de réflexion totale RT dans le domaine de l'infrarouge de la partie active de l'empilement HxW03-c (560 nm) / WC>3-y (400 nm) / verre et, en abscisse est portée la longueur d'onde λ (en μπι) du rayonnement infrarouge. Les courbes A, B, C, D, E, F correspondent respectivement à des valeurs de x de 0 ; 0,1 ; 0,2 ; 0,3 ; 0,4 ; et 0,5.
La Figure 6 est un graphique qui donne la moyenne du coefficient de réflexion totale RT produite par la partie active de l'empilement HxW03-c (560 nm) / WC>3-y (400 nm) / verre dans les bandes II (courbe A) et III (courbe B) , en fonction du taux d' intercalation x dans HxW03-c.
- La Figure 7 est un graphique qui illustre le pilotage électrochimique du matériau actif HxW03-c, entre 0,2 V (x = 0) et -0,8 V (x = 0,5), par rapport à une électrode de référence de type ECS en milieu H3PO4 - 0, 1M.
En ordonnée est porté le coefficient de réflexion totale RT dans le domaine de l'infrarouge de la partie active de l'empilement HxW03-c (730 nm) / WC>3-y (400 nm) / verre et en abscisse est portée la longueur d'onde λ (en μπι) du rayonnement infrarouge.
Les courbes A, B, C, D, E, F correspondent respectivement à des valeurs de x de 0 ; 0,1 ; 0,2 ; 0,3 ; 0,4 ; et 0,5.
La Figure 8 est un graphique qui donne la moyenne du coefficient de réflexion totale RT produite par la partie active de l'empilement HxW03-c (730 nm) / WC>3-y (400 nm) / verre dans les bandes II (courbe A) et III (courbe B) , en fonction du taux d' intercalation x dans HxW03-c. EXPOSÉ DÉ TAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS
La Figure 1 représente un dispositif selon l'invention comprenant le bicouche spécifique selon 1 ' invention .
Ce dispositif comporte une face avant (1) exposée au rayonnement infrarouge (2) et une face arrière (3) qui n'est pas exposée directement aux rayons infrarouges.
Le dispositif selon l'invention comprend tout d'abord un substrat ou support (4), qui joue essentiellement un rôle de support métallique du dispositif .
Le substrat ou support (4) ne présente généralement pas de transparence aux rayons infrarouges.
Le substrat ou support est généralement en un matériau léger.
Ce substrat ou support (4) peut être en un matériau choisi parmi les métaux, les verres tels que le verre de lame de microscope, et les polymères organiques qui présentent une rigidité suffisante, tels que le Poly ( téréphtalate d'éthylène) ou PET.
Les métaux qui peuvent constituer le substrat ou support (4), peuvent être choisis par exemple, parmi l'aluminium, le platine, le chrome, et leurs alliages.
Dans le cas où le substrat ou support (4) est en un matériau qui n' est pas conducteur électronique tel que le verre ou le PET, alors une couche en un matériau conducteur électronique est déposée sur le substrat ou plus exactement sur la surface supérieure de celui-ci. Cette couche en un matériau conducteur électronique joue le rôle d'électrode reliée à l'alimentation du dispositif.
Ce matériau conducteur électronique est généralement choisi parmi les métaux, et les oxydes métalliques conducteurs électroniques.
Les métaux qui peuvent constituer la couche en un matériau conducteur électronique peuvent être choisis parmi les métaux déjà cités plus haut qui peuvent constituer le substrat ou support.
Les oxydes métalliques conducteurs électroniques sont bien connus de l'homme du métier.
Des exemples de tels oxydes conducteurs sont l'oxyde d' indium dopé à l'étain (« Indium Tin Oxide » ou ITO en anglais), l'oxyde d' étain SnC>2 dopé ou fluor (« Fluor Tin Oxide » ou FTO en anglais) .
Le matériau conducteur électronique de ladite couche, notamment lorsqu'il s'agit d'un oxyde métallique conducteur électronique est généralement choisi parmi les matériaux qui peuvent être déposés en couche mince par un procédé PVD, tel que la pulvérisation cathodique, l'ablation laser ou 1 ' évaporation, et de préférence parmi les matériaux qui peuvent être déposés en couche mince par pulvérisation cathodique.
Dans le cas où le substrat ou support est en un matériau qui est conducteur électronique tel qu'un métal, alors il n'est pas nécessaire qu'une couche en un matériau conducteur électronique soit déposée sur le substrat. Le support ou substrat (4), que l'on peut alors qualifier de substrat « monobloc », joue dans ce cas à la fois le rôle de support mécanique du dispositif déjà indiqué plus haut et le rôle d'électrode reliée à l'alimentation du dispositif.
Sur la Figure 1, c'est ce mode de réalisation, sans couche en un matériau conducteur électronique sur le substrat, qui est représenté.
Il est important que le matériau qui constitue la couche en un matériau conducteur électronique lorsque celle-ci est présente, ou le matériau conducteur électronique qui constitue le substrat lorsque ladite couche n'est pas présente, soit chimiquement compatible avec le matériau de la couche d'un premier matériau électrochrome de stockage protonique (5) déposée sur le substrat ou sur la couche en un matériau conducteur électronique.
On choisira donc le matériau qui constitue la couche en un matériau conducteur électronique, ou le matériau conducteur électronique qui constitue le substrat de manière à ce qu' il soit chimiquement compatible avec un milieu protoné, tel qu'un oxyde métallique hydraté.
Le substrat (4) a généralement une épaisseur de 0,175 à 1 mm.
Le substrat (4) se présente généralement sous la forme d'une feuille de matériau léger.
Ainsi, l'épaisseur du substrat (4) est généralement d'environ 1 mm dans le cas d'un substrat en verre et d'environ 175 μπι dans le cas d'un substrat en polymère, par exemple d'un substrat en PET. La couche en un matériau conducteur électronique éventuelle a généralement une épaisseur de 50 à 150 nm.
Sur le substrat ou la couche en un matériau conducteur électronique est disposée une couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique (5) . Cette couche peut aussi être dénommée contre- électrode réservoir de protons.
Le premier matériau électrochrome de stockage protonique peut être choisi parmi tous les oxydes métalliques hydratés électrochromes, et les mélanges de deux ou plus de ces oxydes.
Des exemples de tels oxydes sont l'oxyde de tungstène hydraté HXWC>3. η¾0, où x est compris entre 0 et 1 (0 et 1 inclus) , et n est un nombre entier de 1 à 2, par exemple n = 1.
Le choix de ce dernier oxyde analogue à celui du bicouche, présente l'avantage de simplifier encore le procédé de préparation du dispositif selon l'invention en réduisant le nombre de cibles, précurseurs mis en œuvre.
Le premier matériau électrochrome de stockage protonique est généralement choisi parmi les matériaux qui peuvent être déposés en couche mince par un procédé PVD tel que la pulvérisation cathodique, l'ablation laser ou 1 ' évaporation, et de préférence parmi les matériaux qui peuvent être déposés en couche mince par pulvérisation cathodique.
On choisira le premier matériau électrochrome de stockage protonique de manière à ce qu'il soit chimiquement compatible avec 1 ' électrolyte conducteur protonique déposé sur la couche de premier matériau électrochrome .
La couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique (5) a généralement une épaisseur de 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,4 à 1 μπι.
Sur la couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique (5) est disposée une couche en un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique (6) .
Cet électrolyte conducteur protonique peut être choisi parmi tous les oxydes métalliques hydratés, de préférence amorphes, et les mélanges de deux ou plus de ces oxydes.
En effet, les oxydes amorphes conduisent bien mieux les protons.
Des exemples de tels oxydes sont l'oxyde de tantale a2Û5 hydraté amorphe et l'oxyde de zirconium hydraté amorphe.
La couche en un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique (6) a généralement une épaisseur de 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,4 à 1 μπι.
Sur la couche en un électrolyte conducteur protonique (6) est disposée le bicouche que l'on peut aussi appeler électrode bicouche ou électrode composite (7) selon l'invention.
Tout d'abord, sur la couche en un électrolyte conducteur protonique est disposée une couche d'un oxyde de tungstène W03-y où y est compris entre 0,2 et 1 sous stœchiométrique, non électrochrome, optiquement absorbante dans l'infrarouge (8), formant une seconde électrode conductrice électronique reliée à l'alimentation du dispositif.
Cette couche d'oxyde de tungstène est chimiquement compatible avec les matériaux qui l'entourent, à savoir avec 1 ' électrolyte conducteur protonique de la couche sous-jacente (6) et avec l'oxyde de tungstène cristallisé éventuellement hydraté HxW03-c ou HXWC>3. nH20-c de la couche immédiatement supérieure (9) de l'empilement de couches du dispositif.
Cette couche d'un oxyde de tungstène W03-y (8), est généralement une couche poreuse, avec une taille de pores submicronique, par exemple de 10 à 100 nm.
Le rôle de cette couche d'oxyde de tungstène W03-y (8) est triple.
Ce rôle est en effet d'assurer un fond absorbant optique au système, tout en permettant la diffusion des protons et un apport électronique dans le matériau actif HxW03-c ou HxW03. nH20-c .
La couche en oxyde de tungstène W03-y (8) a généralement une épaisseur de 0,2 à 0,5 um, de préférence de 0,4 à 0,5 μπι.
En effet, l'épaisseur de la couche d'oxyde de tungstène W03-y (8) doit généralement être inférieure ou égale à 500 nm pour être perméable aux protons. En revanche, cette épaisseur doit généralement être supérieure à 200 nm pour constituer un fond absorbant, ce qui permet de découpler la fonction optique de la face avant du dispositif constituée essentiellement par le bicouche (7), de la fonction électrochimique conférée par le reste de l'empilement, sous la couche d' oxyde de tungstène W03-y (8) .
Sur la couche d'oxyde de tungstène W03-y, (8) est disposée une couche (9) en un second matériau électrochrome choisi parmi l'oxyde de tungstène cristallisé HxW03-c où x est compris entre 0 et 1 et l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. nH20-c où x est compris entre 0 et 1 et n est compris entre 1 et 2.
Cette couche en un second matériau électrochrome (9) est généralement une couche poreuse avec une porosité submicronique, par exemple de 10 à 100 nm.
Cette couche en un second matériau électrochrome (9) est une couche à réflexion variable vis-à-vis des rayons IR.
Dans cette couche, le matériau actif est un oxyde de tungstène cristallisé représenté par la formule HxWC>3-c, qui peut être hydraté afin d'en améliorer les performances, et essentiellement la conductivité protonique.
Cet oxyde de tungstène cristallisé hydraté est représenté par la formule HXWC>3. nH20-c .
Dans ces formules, x qui représente le taux d' intercalation du matériau actif HxW03-c ou HXWC>3. nH20-c est variable et est généralement compris entre 0 et 1 (0 et 1 inclus), tandis que n est généralement compris entre 1 et 2 (1 et 2 inclus) .
La réponse optique du dispositif suit très finement les variations de x, avec une modulation possible à 0,05 près, du fait de la capacité des couches inorganiques à conserver leur taux de protons, encore appelée « effet mémoire ».
En d'autres termes, les propriétés optiques, la réponse optique, de la couche d'oxyde de tungstène active, électrochrome, réflectrice, cristallisée et/ou hydratée de formule HxW03-c ou W03.nH20-c (9) peuvent être facilement modulées en fonction du taux d' intercalation protonique (défini par x) qui est lui- même variable en fonction de la tension appliquée.
Ainsi en modifiant cette tension, on pourra agir à volonté sur les propriétés optiques du dispositif. Par exemple, pour une tension appliquée de 0,2 V, x = 0, et pour une tension appliquée de - 0,8 V, x = 0,5.
II est à noter que l'oxyde de tungstène WO3, qui constitue la partie active de l'empilement du dispositif selon l'invention est un matériau capable de fonctionner avec des ions lithium et/ou avec des protons .
Selon l'invention, on choisit de faire fonctionner l'oxyde de tungstène WO3 avec des protons plutôt qu'avec des ions Li+, pour des raisons liées à la cinétique.
En effet, les dispositifs « tout-solide » tels que le dispositif selon l'invention étant plus lents que les dispositifs souples, il est préférable de travailler avec un second matériau électrochrome protonique, avec un électrolyte inorganique au proton par exemple de type oxyde de tantale Ta2Û5 hydraté, et enfin avec une contre-électrode inorganique également au proton. La couche en second matériau actif électrochrome (9) a généralement une épaisseur de 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,3 à 0,8 μπι.
Les propriétés optiques du dispositif sont adaptables dans le moyen infrarouge avec l'épaisseur de matériau actif HxW03-c, ou HXWC>3. nH20-c notamment sur les bandes II 3-5 μπι) et III (8-12 μπι) de transparence de 1 ' atmosphère .
Par exemple, une faible épaisseur (par exemple environ 300 nm) de matériau actif (9) donnera une modulation privilégiée de la réflexion totale dans la bande II tandis qu'une épaisseur élevée (par exemple environ 700 à 800 nm) de matériau actif donnera une modulation privilégiée de la réflexion totale dans la bande III .
En résumé, les propriétés optiques, le contraste optique, du dispositif selon l'invention peuvent être modulés dans l'infrarouge et notamment dans l'infrarouge moyen en faisant varier x et l'épaisseur du matériau actif HxW03-c ou HXW03 . nH20-c .
Sur la couche en second matériau actif électrochrome (9) est disposée une couche (10) de protection de l'empilement, transparente aux rayons infrarouges, et de préférence réfléchissante vis-à-vis du rayonnement solaire.
Cette couche (10) peut aussi être appelée couche d' encapsulation .
En effet, cette couche (10) est déposée lors d'une étape finale sur l'ensemble de l'empilement décrit plus haut afin de conserver la teneur en ions (protons) à l'intérieur du dispositif, et de servir ainsi de matériau d' encapsulation .
Par transparente aux rayons infrarouges, on entend généralement que cette couche (10) est transparente aux rayons infrarouges de longueurs d'ondes comprises entre 1,5 μπι et 20 μπι, de préférence entre 3 μπι et 12 μπι.
Par faible indice de réfraction, on entend généralement que cette couche (10) a un indice de réfraction entre 1 et 2.
Cette couche (10) est généralement en un matériau inorganique non toxique.
De préférence, cette couche (10) est en un matériau choisi parmi les oxydes de métaux et de métalloïdes, et les mélanges de deux ou plus de ces oxydes de métaux et oxydes de métalloïdes.
Ce ou ces oxyde (s) de métaux ou de métalloïdes, de préférence amorphes, sont choisis de préférence parmi les oxydes qui peuvent être facilement déposés par PVD à partir d'une cible d'oxyde ou de métal, tel que l'oxyde de cérium CeC>2 , l'oxyde d' yttrium Y2O3, ou Si02.
La couche (10) de protection de l'empilement a généralement une épaisseur 0,1 à 1 μπι, de préférence de 0, 4 à 1 p.
Le dispositif selon l'invention comprend, en outre, des moyens (11, 12) pour établir une tension variable entre les électrodes, par exemple une tension variable entre +3 Volts et -3 Volts.
Le dispositif selon l'invention est préparé par le procédé décrit plus haut. L'appareil utilisé pour mettre en œuvre le procédé selon l'invention pour préparer le dispositif selon l'invention peut être par exemple un bâti de dépôt sous vide (Physical Vapour Déposition ou « PVD » en anglais) comprenant :
une enceinte sous vide, d'un volume par exemple de 0,1 m3 dans laquelle règne une pression initiale par exemple d'environ 5 10~7 mbar, la vitesse de pompage maximale pour réaliser le vide dans l'enceinte étant de 900 L/s avec une enceinte initialement remplie d'azote ;
au plus 6 cathodes d'un diamètre de 3 pouces (ou 76 mm), ou bien 2 cathodes d'un diamètre 6 pouces (ou 152 mm) et 2 cathodes d'un diamètre de 3 pouces (ou 76 mm) ;
chaque dépôt sera réalisé par pulvérisation cathodique magnétron à partir d'une cible métallique par exemple de Ir, Ta, W, ou Ce, avec une puissance appliquée de 1 à 2 W/cm2, de préférence en mode DC puisé, par exemple à 50kHz pendant 2 με, afin d'obtenir des vitesses de dépôt élevées, par exemple de 60 à 100 nm/minute pour l'industrialisation du procédé qualifié de réactif.
Afin d'oxyder et/ou d'hydrater les matériaux en couches minces, le gaz plasmagène sera constitué d'un mélange d'argon (avec de l'hydrogène) et d'oxygène, injectés dans l'enceinte avec des débits par exemple de 70 sccm et de 9 à 20 sccm, respectivement.
Il est à noter que selon une des caractéristiques avantageuses de l'invention, le bicouche peut être préparé par un procédé de PVD, par exemple par pulvérisation cathodique magnétron réactive, à partir d'une seule cible de tungstène avec notamment une teneur en oxygène maîtrisée dans l'enceinte de dépôt. Dans ce cas où l'on opère avec une seule cible de tungstène, on obtient alors un oxyde WO3- y sous-stœchiométrique .
Le taux d'oxygène de W03-y déterminé par la valeur de y comprise entre 0,1 (à savoir par exemple pour un débit de 9,9 sccm) , et 0,5 (à savoir par exemple pour un débit de 9 sccm) peut être parfaitement maîtrisé par le contrôle des paramètres de pulvérisation cathodique, à savoir par exemple :
puissance appliquée de 400 W sur une cible de tungstène d'un diamètre 6 pouces ;
- tension de cathode comprise entre 500 et
520 Volts ;
pression de gaz plasmagène élevée, comprise entre 2 et 2,3 10~2 mbar, afin d'obtenir une couche poreuse .
Le taux d'oxygène de W03-y peut notamment être maîtrisé par la teneur en oxygène dans l'enceinte de dépôt dont le débit est finement contrôlé, par exemple à plus ou moins 0,1 sccm, par régulation optique du taux d'atomes de tungstène dans le plasma de dépôt. On utilise pour cela une photodiode pourvue d'un filtre à 400 nm qui est la longueur d'onde d'une des raies principales du W.
Le matériau actif HxW03-c cristallisé sera obtenu avec un taux d'oxygène généralement fixé à 20 sccm par le débitmètre.
Les paramètres de dépôt seront par exemple : une densité de puissance appliquée sur cible de tungstène de 2 W/cm2 ;
une tension de cathode de 520 Volts ;
une pression de gaz plasmagène tel qu'un mélange d'argon et d'oxygène de 2,5 1CT2 mbar.
De plus, le substrat sera généralement chauffé à 350°C avec une légère assistance ionique afin d'améliorer la cristallisation pendant le dépôt.
Cette assistance ionique peut consister par exemple en un bombardement par des ions Ar+ à 80 W en mode RF.
WC>3-y peut être également préparé par copulvérisation d'une cible de tungstène métallique W et d'une deuxième cible d'oxyde de tungstène stœchiométrique WO3.
La proportion de mélange des matériaux W et WO3 est alors ajustée en jouant sur la densité de puissance appliquée, en mode RF sous argon, à leurs cibles respectives, entre 1 et 2 W/cm2, à faible vitesse de dépôt, par exemple 10 à 20 nm/min, afin d'obtenir une composition homogène.
On obtient ainsi une matrice de WO3 stœchiométrique dans laquelle sont implantés des atomes de W métalliques, capables de percoler avec une teneur en W généralement au moins égale à 10%.
Ce matériau peut être qualifié de Cermet, il possède en effet les propriétés caractéristiques des Cermets, avec notamment une variation de conductivité typique des Cermets correspondant au seuil de percolation électronique (voir Exemple 1) . Il est à noter que HxW03-c cristallisé peut être également déposé avec une cible de WO3 en mode RF non réactif sous argon, mais avec une vitesse de dépôt beaucoup plus lente qu'avec le procédé réactif utilisant une cible de W métallique.
La vitesse de dépôt est généralement d'environ 12 nm/min en mode RF, au lieu d'environ 60 nm/min en mode DC .
Le dispositif selon l'invention inorganique, robuste et de conception simplifiée qui peut notamment fonctionner dans le moyen infrarouge trouve notamment son application dans la protection thermique des satellites .
Par exemple, on pourra utiliser des « patches » pour satellites composés de plusieurs dispositifs « tout-solide » électrochromes selon l'invention pour remplacer des volets mécaniques forts consommateurs d' énergie .
L' invention va maintenant être décrite en référence aux exemples suivants, donnés à titre illustratif et non limitatif.
EXEMPLE S Exemple 1.
Cet exemple illustre le contrôle des propriétés électroniques de la sous-couche de W03-y, et en particulier de sa résistivité, en maîtrisant le débit d'oxygène introduit dans l'enceinte du bâti de l'appareil de pulvérisation cathodique magnétron, lors du dépôt de cette sous-couche. Cette sous-couche de W03-y est un élément fondamental du dispositif et du bicouche (électrode bicouche, composite) selon l'invention.
Le dépôt de W03-y est réalisé de préférence par la technique de pulvérisation cathodique magnétron, en mode DC puisé réactif, à l'aide d'un bâti de dépôt sous vide (PVD) .
Une puissance de 400 W est appliquée sur une cible de tungstène de diamètre 6 pouces.
La tension de la cathode est comprise entre 500 et 520 Volts, et la pression de gaz plasmagène, constitué par un mélange d'Argon et d'oxygène est comprise entre 2 et 2,3 10~2 mbar.
Ce procédé produit avantageusement des couches minces poreuses, quand on utilise une pression de travail élevée, et à croissance rapide, par exemple d'environ 100 nm/min.
La Figure 2 démontre que les propriétés électroniques de la sous-couche de W03-y peuvent être effectivement maîtrisées à l'aide du débit d'oxygène introduit dans l'enceinte du bâti lors du dépôt de cette couche par pulvérisation cathodique magnétron.
Sur la Figure 2, on constate que le matériau WC>3-y a une résistivité comprise entre 0,5 et 5 10~2 Q.cm lorsque le débit d'oxygène introduit dans l'enceinte, régulé par émission optique des atomes de tungstène, varie de 9, 0 à 9,9 sccm (« standard cubic centimeter per minute ») avec un débit d'argon de 70 sccm.
Il apparaît que les propriétés électroniques de W03-y sont très sensibles au débit d'oxygène au-delà d'une valeur seuil de 9,8 sccm. La Figure 2 montre en effet un seuil de transition des propriétés électroniques à 9, 8 sccm (y = 0,25) correspondant à un maximum d'absorption optique (principe du CERMET) .
En conséquence, afin d'assurer la reproductibilité des propriétés optiques de la sous- couche absorbante de W03-y, on utilise dans l'Exemple 2 qui suit une couche mince de W03-y (y = 0,5) voisine du CERMET optimal, et élaborée avec 9 sccm d'C>2.
Exemple 2.
Dans cet exemple, on montre qu'une modulation de réflexion totale dans le domaine de l'infrarouge est effectivement obtenue en face avant de l'empilement « tout-solide » du dispositif selon l'invention.
Plus précisément, on illustre dans cet exemple qu'une modulation optique dans l'infrarouge (focalisée dans les bandes II et III du domaine IR) est réalisée en milieu liquide aqueux, à savoir un électrolyte légèrement acide comprenant H3PO4 à 0,1 M, par des empilements constitués par une bicouche HXWC>3/ W03-y sur un substrat en verre.
Rappelons que la bande II du domaine infrarouge s'étend entre les longueurs d'ondes de 3 et 5 μπι, et que la bande III du domaine infrarouge s'étend entre les longueurs d'ondes de 8 et 12 μπι.
Un tel empilement qui constitue la « face avant » du dispositif selon l'invention peut être considéré comme étant représentatif du fonctionnement d'un dispositif « tout-solide » au proton selon l'invention car les couches situées sous la couche de W03-y contribuent peu ou pas du tout aux propriétés optiques du dispositif selon l'invention.
Comme on l'a déjà précisé plus haut, on utilise dans les empilements mis en œuvre dans cet exemple une couche mince de 03-y voisine du CERMET optimal, et élaborée avec 9 sccm d'C>2.
L'épaisseur du matériau W03-y doit être inférieure à 500 nm pour être perméable aux protons.
En revanche, elle doit être supérieure à 200 nm afin de constituer un fond absorbant
(R surfacique < 200 ohm par carré), découplant ainsi la fonction optique de la face avant HXWC>3/ W03-y de la fonction électrochimique conférée par le reste de 1 ' empilement .
Dans cet exemple, l'épaisseur de la couche de
WC>3-y (y = 0,5) a donc été fixée à 400 nm.
La couche active de HxW03-c est déposée dans la même enceinte de pulvérisation cathodique magnétron que la couche de W03-y sans ouverture de l'enceinte, à l'aide de la même cible de tungstène, avec le procédé de dépôt en mode DC puisé réactif, caractérisé par un chauffage et une assistance ionique favorisant la cristallisation de WO3, et par une pression de travail élevée, à savoir par exemple une pression P (Ar + O2) = 2,5 10~2 mbar, conférant au matériau une porosité suffisante pour sa réactivité vis-à-vis de 1 ' intercalation des protons (représentée par le taux d' intercalation x dans HXWC>3) .
Dans la couche active initialement déposée Trois empilements avec des couches de HxW03-c respectivement d'une épaisseur de 320 nm, 560 nm et 730 nm sur une couche de W03-y (y = 0,5) de 400 nm, sur un substrat en verre, constitué par une lame de microscope d'épaisseur 1 mm, ont été étudiés.
La modulation réversible de la réponse optique en réflexion totale dans l'infrarouge est assurée par la variation du taux d' intercalation x, qui correspond au taux de protons dans le matériau actif HxW03-c.
On fait varier x de 0 à 0,5. a) Empilement HxW03-c (320 nm) / W03-y (400 nm) / verre .
Avec cet empilement, comme cela ressort du Tableau 1 et des Figures 3 et 4, on obtient une modulation privilégiée de la réflexion totale dans la bande II du fait de la faible épaisseur de la couche de matériau actif.
Figure imgf000044_0001
TABLEAU 1
(*) R(II) et R(III) représentent respectivement les moyennes des coefficients de réflexion totale RT produite par la partie active de l'empilement dans les bandes (II) et (III) du domaine infrarouge.
Cet empilement, représentatif du dispositif selon l'invention, est très actif en bande II (AR II = 51% - 7% soit 44%) et quasi-inactif en bande III (AR III = 55% - 49% soit 6%), lorsque x varie de 0 à 0,5.
Les temps de réponse globaux pour obtenir un contraste maximal en bande II sont inférieurs à la minute pour une surface de 1 cm2.
Avec un empilement complet selon l'invention qui comprendrait alors un électrolyte solide limitant la cinétique, on peut penser que les temps de réponse globaux pourraient être de plusieurs minutes, à moins de réduire la plage de variation des x de 0,1 à 0,5 (car HxW03-c est conducteur quel que soit x) , avec un contraste optique atténué.
Ainsi, en limitant la modulation entre 0V (x = 0,1) et -0,8V (x = 0,5), les contrastes deviennent plus équilibrés entre les bandes II et III, soit : AR II = 24% et AR III = 18% (voir Tableau 1) . b) Empilement HxW03-c (560 nm) / W03-y (400 nm) / verre .
Avec cet empilement, comme cela ressort du
Tableau 2 et des Figures 5 et 6, on obtient un bon compromis entre la modulation de la réflexion totale dans la bande II et la modulation de la réflexion totale dans la bande III dû à l'épaisseur intermédiaire du matériau actif.
Figure imgf000046_0001
TABLEAU 2
(*) R(II) et R(III) représentent respectivement les moyennes des coefficients de réflexion totale RT produite par la partie active de l'empilement dans les bandes (II) et (III) du domaine infrarouge.
Cet empilement, représentatif du dispositif selon l'invention, est actif en bande II (AR II = 26%) et en bande III (AR III = 27%), lorsque x varie de 0 à 0,5. c) Empilement HxW03-c (730 nm) / W03-y (400 nm) / verre.
Avec cet empilement, comme cela ressort du Tableau 3 et des Figures 7 et 8, on obtient une modulation privilégiée de la réflexion totale dans la bande III du fait de l'épaisseur importante de la couche de matériau actif.
Figure imgf000047_0001
TABLEAU 3
(*) R(II) et R(III) représentent respectivement les moyennes des coefficients de réflexion totale RT produite par la partie active de l'empilement dans les bandes (II) et (III) du domaine infrarouge.
Cet empilement, représentatif du dispositif selon l'invention, est actif dans la bande II (AR II = 26%) et plus actif dans la bande III (AR III = 36 %), lorsque x varie de 0 à 0,5.

Claims

REVENDICATIONS
1. Dispositif électrochrome tout-solide à réflexion ou émission infrarouge contrôlée, notamment de type électrocommandable, comprenant un empilement, ledit empilement comprenant successivement depuis une face arrière (3) jusqu'à une face avant (1) exposée aux rayons infrarouges (2) :
a) un substrat (4) en un matériau conducteur électronique, ou un substrat en un matériau non conducteur électronique recouvert d'une couche en un matériau conducteur électronique, ledit substrat en un matériau conducteur électronique ou ladite couche en un matériau conducteur électronique formant une première électrode ;
b) une couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique (5) ;
c) une couche d'un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique (6) ;
d) un bicouche (7) comprenant une couche (8) d'un oxyde de tungstène sous stœchiométrique, non électrochrome, W03-y où y est compris entre 0,2 et 1, optiquement absorbante dans l'infrarouge, conductrice électronique, poreuse, formant une seconde électrode ; ladite couche (8) d'oxyde de tungstène W03-y étant disposée sous une couche (9) à réflexion variable dans l'infrarouge, d'un second matériau électrochrome à taux d' intercalation protonique variable, choisi parmi l'oxyde de tungstène cristallisé HxW03-c où x est compris entre 0 et 1, et l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. η¾0-ο où x est compris entre 0 et 1 et n est un nombre entier de 1 à 2 ;
e) une couche de protection (10), transparente aux rayons infrarouges, en un matériau inorganique.
2. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel ledit substrat (4) est en un matériau conducteur électronique choisi parmi les matériaux résistants mécaniquement et chimiquement aux sollicitations du milieu extérieur et chimiquement compatibles vis-à-vis d'un fonctionnement protonique et notamment chimiquement compatible vis-à-vis du premier matériau électrochrome de stockage protonique, de préférence ledit matériau conducteur électronique est choisi parmi les métaux tels que l'aluminium, le platine ou le chrome, et leurs alliages.
3. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel ledit substrat (4) est en un matériau non conducteur électronique choisi parmi les matériaux résistants mécaniquement et chimiquement aux sollicitations du milieu extérieur et chimiquement compatibles vis-à-vis d'un fonctionnement protonique et notamment chimiquement compatibles vis-à-vis du premier matériau électrochrome de stockage protonique, de préférence ledit matériau non conducteur électronique est choisi parmi les verres et les polymères organiques résistants mécaniquement et chimiquement, tels que le Poly (Téréphtalate d'éthylène) ou PET.
4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 et 3, dans lequel la couche en un matériau conducteur électronique est en un matériau choisi parmi les matériaux résistants mécaniquement et chimiquement aux sollicitations du milieu extérieur, et chimiquement compatibles vis-à-vis d'un fonctionnement protonique et notamment chimiquement compatibles vis-à- vis du premier matériau électrochrome de stockage protonique, de préférence ledit matériau conducteur électronique est choisi parmi les métaux tels que l'aluminium, le platine, le chrome et leurs alliages ; et les oxydes métalliques conducteurs électroniques tels que l'oxyde d' indium dopé à l'étain ou ITO et l'oxyde d' étain dopé au fluor ou FTO.
5. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le premier matériau électrochrome de stockage protonique est choisi parmi les matériaux électrochromes de stockage protonique chimiquement compatibles vis-à-vis d'un fonctionnement protonique, notamment chimiquement compatibles vis-à-vis de 1 ' électrolyte conducteur protonique et isolant électronique, de préférence le premier matériau électrochrome de stockage protonique est choisi parmi les oxydes métalliques hydratés de préférence amorphes tels que l'oxyde de tungstène hydraté HXWC>3. η¾0, ou x est compris entre 0 et 1, et n est un nombre entier de 1 à 2, et les mélanges de deux ou plus desdits oxydes.
6. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel 1 ' électrolyte conducteur protonique et isolant électronique est choisi parmi les électrolytes conducteurs protoniques et isolants électroniques chimiquement compatibles vis- à-vis d'un fonctionnement protonique, notamment chimiquement compatibles (inertes) vis-à-vis de l'oxyde de tungstène cristallisé HxW03-c (oxyde de tungstène protoné) ou de l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. nH20-c, de préférence 1 ' électrolyte conducteur protonique et isolant électronique est choisi parmi les oxydes métalliques hydratés de préférence amorphes tels que l'oxyde de tantale a2Û5 hydraté amorphe, l'oxyde de zirconium hydraté amorphe et les mélanges de deux ou plus desdits oxydes.
7. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche de protection transparente aux rayons infrarouges est en un matériau choisi parmi les matériaux compatibles vis- à-vis d'un fonctionnement protonique, notamment chimiquement compatibles vis-à-vis de l'oxyde de tungstène cristallisé HxWC>3-c ou de l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXW03. nH20-c, de préférence la couche de protection transparente aux rayons infrarouges est en un matériau choisi parmi les matériaux inorganiques non toxiques, de préférence parmi les oxydes de métaux et de métalloïdes, de préférence denses, tels que l'oxyde de cérium Ce02, l'oxyde d' yttrium Y2O3, la silice S1O2 et les mélanges de deux ou plus desdits oxydes de métaux ou de métalloïdes .
8. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le substrat a une épaisseur de 0,175 mm à 1 mm.
9. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche en un matériau conducteur électronique qui recouvre le substrat en un matériau non conducteur électronique a une épaisseur de 50 à 150 nm.
10. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche d'un premier matériau électrochrome de stockage protonique a une épaisseur de 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,4 à 1 μπι .
11. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche en un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique a une épaisseur de 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,4 à 1 μπι.
12. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche en oxyde de tungstène W03-y a une épaisseur 0,2 à 0,5 μπι, de préférence de 0,4 à 0,5 μπι.
13. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche d'un second matériau électrochrome a une épaisseur 0,2 à 1 μπι, de préférence de 0,3 à 0,8 μπι.
14. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la couche de protection transparente aux rayons infrarouges a une épaisseur de 0,1 à 1 μπι, de préférence de 0,4 à 1 μπι.
15. Bicouche comprenant une couche d'un oxyde de tungstène sous stœchiométrique, non électrochrome, W03-y où y est compris entre 0,2 et 1, optiquement absorbante dans l'infrarouge, conductrice électronique, poreuse, formant une électrode; ladite couche d'oxyde de tungstène W03-y étant disposée sous une couche à réflexion variable dans l'infrarouge, d'un second matériau électrochrome à taux d' intercalation protonique variable, choisi parmi l'oxyde de tungstène cristallisé HxWC>3-c où x est compris entre 0 et 1, et l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. nH20-c où x est compris entre 0 et 1 et n est un nombre entier de 1 à 2.
16. Procédé de préparation du dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 14, dans lequel on réalise les étapes successives suivantes :
a) on dépose une couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique sur un substrat en un matériau conducteur électronique, ou sur une couche en un matériau conducteur électronique disposée sur un substrat en un matériau non conducteur électronique ledit substrat en un matériau conducteur électronique ou ladite couche en un matériau conducteur électronique formant une première électrode ;
b) on dépose une couche d'un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique sur la couche en un premier matériau électrochrome de stockage protonique ;
c) on dépose une couche d'un oxyde de tungstène sous stœchiométrique, non-électrochrome, W03-y où y est compris entre 0,2 et 1, optiquement absorbante dans l'infrarouge, conductrice électronique, poreuse, formant une seconde électrode, sur la couche d'un électrolyte conducteur protonique et isolant électronique ;
d) on dépose une couche à réflexion variable dans l'infrarouge d'un second matériau électrochrome à taux d' intercalation protonique variable, choisi parmi l'oxyde de tungstène cristallisé HxW03-c où x est compris entre 0 et 1 et l'oxyde de tungstène cristallisé hydraté HXWC>3. nH20-c où x est compris entre 0 et 1 et n est un nombre entier de 1 à 2, sur la couche d'un oxyde de tungstène sous stœchiométrique, non-électrochrome, W03-y ;
e) on dépose une couche de protection, transparente aux rayons infrarouges, en un matériau inorganique, sur la couche à réflexion variable dans l'infrarouge d'un second matériau électrochrome.
17. Procédé selon la revendication 16, dans lequel les couches sont déposées par un procédé de dépôt Physique en phase vapeur ou PVD choisi parmi la pulvérisation cathodique, l'ablation laser et 1' évaporation.
18. Procédé selon la revendication 17, dans lequel toutes les couches sont déposées par un même procédé de dépôt physique en phase vapeur, de préférence par pulvérisation cathodique magnétron réactive .
19. Procédé selon la revendication 18, dans lequel toutes les étapes sont réalisées dans une même enceinte sous vide sans ouverture de l'enceinte entre chacune des étapes.
20. Utilisation du dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 14, pour la protection thermique d'un objet, en particulier d'un satellite .
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