WO2013106876A1 - Vorrichtung und verfahren zur optischen überprüfung einer probe - Google Patents

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Definitions

  • the invention relates to a method for the optical examination of a sample by means of spectral interferometry, and to a device for carrying out such a method.
  • Spectral interferometry is a very important measurement method for optics and laser technology. It is u.a. for determining the surface quality of optics, in spectroscopy, for dispersion measurements (VN Kumar and DN Rao, "Using interference in the frequency domain for precise determination of thickness and refractive indices of normal dispersive materials," J. Opt. Soc. Am 12, 1559-1563 ⁇ 1995>), but also - in connection with a nonlinear effect - used to characterize the pulse duration (C. laconis and IA almsley, "Spectral Phase Interferometry for Direct Electric-field Reconstruction of ültrashort Optical Pulses, "Optics Letters 23, 792-794 ⁇ 1998> ⁇ .
  • Two temporally relative delayed light beams are spatially superimposed, and the intensity of the superimposed beams is measured spectrally resolved.
  • the measured spectrum has a modulation (spectral interference pattern); From this spectral interference pattern, the delay between the two light signals and the difference between the spectral phases of the two light signals can be determined.
  • This information is obtained from the spectral interferogram using a well-known numerical method based on Fast Fourier Transform (FFT rapid Fourier transform) ("Interferogram Analysis", DW Robinson and GT Reid, Eds., Institute of Physics Publishing, Bristol ⁇ 1993 >, Pages 141-193).
  • FFT rapid Fourier transform Fast Fourier Transform
  • GDD group delay dispersion
  • the frequency-dependent group delay dispersion GDD is calculated by numerical derivative of the group delay ⁇ ( ⁇ ) according to the angular frequency ⁇ .
  • the spectral phase is determined by numerical integration of Grup ⁇ penverzögerung ⁇ ( ⁇ ) over the angular frequency. It is also advantageous if the time-dependent phase is determined by Fou ⁇ riertransformation a predetermined range taking account of the determined spectral phase; or if the time-dependent intensity of a beam pulse is determined by Fourier transformation of a given spectrum taking into account the determined spectral phase.
  • a laser (pulse) source or a light bulb or a light emitting diode is used as a radiation source or light source example.
  • An advantageous application of the invention is characterized in that a thin-film coating is examined for a sub ⁇ strat as a sample, the spectral interference of a reflected light from a thin film on a substrate beam is added with a light reflected from a reference reflector beam.
  • the device according to the invention for carrying out the present method is accordingly characterized by an interferometer device with a radiation source, with a device, e.g. a beam splitter, for generating a reference beam and a measuring beam, and with a device, e.g. a beam splitter, for generating a reference beam and a measuring beam, and with a device, e.g. a beam splitter, for generating a reference beam and a measuring beam, and with a
  • ⁇ is to the frequency-dependentattaverzögerungsdisper ⁇ sion GDD ⁇ by numerical derivative of the group delay ( ⁇ ) to calculate ⁇ according to the angular frequency.
  • the arithmetic unit is set up in order to determine the spectral phase by numerical integration of the group delay ⁇ ( ⁇ ) via the angular frequency.
  • the computing unit further comprises a Fou ⁇ riertransformationsmodul having to carry Fouriertransformati ⁇ on a predetermined range taking account of the determined spectral phase, the time-dependent phase ermit ⁇ stuffs;
  • the computing unit may comprise a Fouriertransformationsmo ⁇ dul to Fourier transformation through a predetermined spectrum at Brückschreibung the determined spectral phase, the time-dependent intensity of a beam pulse to ermit ⁇ stuffs.
  • a reference mirror may be provided for reflection of the reference beam.
  • the invention is thus based on a technique of direct spectral evaluation (DSE), which also has the following advantages over the conventional FFT-based method (see also "Interferogram Analysis”, D.W. Robinson and G.T. Reid):
  • DSE direct spectral evaluation
  • the use of the FFT is not necessary and the number of mathematical operations is much smaller; thus the DSE method is much faster.
  • the FFT By not having to use the FFT, it is not necessary to interpolate and extrapolate the measured interferogram to satisfy the conditions necessary for the FFT.
  • the number of values to be processed is smaller by a factor of about 4.
  • the dual FFT is replaced by a numerical derivative and an interpolation. This makes the DSE method at least 100 times faster than the traditional method. Thanks to this computing speed, the quasi-real-time method can be used to characterize the dispersion in dynamic processes, e.g. for monitoring the growth of the layer thicknesses of dispersive mirrors during the coating process.
  • the proposed method allows the direct evaluation of the group delay (group delay, GD, the first derivative of the spectral phase according to the angular frequency); thus, the numerical derivative must be applied only once to obtain the GDD. As a result, the unfavorable propagation of the measurement errors is significantly reduced by the numerical derivative of the phase.
  • Fig.l an example of a spectral interferogram, namely the intensity I ( ⁇ ), in arbitrary units, over the wavelength ⁇ (in nm);
  • FIG. 3 shows in a diagram the group delay ⁇ ( ⁇ fs) over the angular frequency ⁇ calculated from the interference signal I ( ⁇ ) of FIG. 1;
  • Fig. 4 is a diagram of the signal from the interference I ( ⁇ ) be ⁇ calculated total group delay dispersion GDD t (in fs 2) over the wavelength ⁇ (nm ⁇ );
  • Fig. 5 is a diagram showing calculated from I ( ⁇ ) Grupp Enver hesitations ⁇ tion GDD S which leads from a herbeige ⁇ per pattern mirror reflection;
  • Fig. 6 shows schematically a device with an interferometer.
  • a known numerical algorithm eg by linear or non-linear interpolation
  • FIG 6 shows a possible embodiment of a Michelson interferometer for generating the interferogram I ( ⁇ ).
  • ⁇ interferogram
  • Fig. 6 shows an example of a schematic Dar ⁇ position of a Michelson interferometer for spectral interferences spectrometry, wherein a current generated by a light source 1 is split beam 2 by a beam splitter.
  • a reference beam 2 ' is reflected by means of a reference mirror 4 (whose dispersion properties are well known) used as a back reflector.
  • a measuring beam 2 " is reflected by the mirror 5 to be measured.
  • the mirror 5 may also be incorporated as a multiple folding ⁇ mirror, thereby increasing the resulting induced GDD and the measurement accuracy.
  • the reference beam 2 'and the measuring beam 2'' are by means of the beam splitter. 3
  • the difference between the group delay of the reference beam 2 'and the Group delay of the measuring beam 2 '' as explained above be ⁇ calculates.
  • an appropriately configured Re ⁇ unit area 7 is connected to the spectrograph 6; the results, e.g. As GD, GDD, etc., are output by means of an output unit, for example displayed and / or printed.
  • the described technique can be used e.g. for checking a coating process in a thin film coating of a substrate, such as in the manufacture of a dispersive mirror, in real time currency of the coating process can be used.

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Description

Vorrichtung und Verfahren zur optischen Überprüfung einer Probe
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur optischen Überprüfung einer Probe mittels spektraler Interferometrie , sowie eine Vorrichtung zur Durchführung eines solchen Verfahrens .
Spektrale Interferometrie ist eine für die Optik- und Lasertechnik sehr bedeutende Messmethode. Sie wird u.a. zur Bestimmung der Oberflächenqualität von Optiken, in der Spektroskopie, für Dispersionsmessungen (V. N. Kumar and D. N. Rao, "Using interference in the frequency domain for precise determination of thickness and refractive indices of normal dispersive materials," J . Opt. Soc. Am. B 12, 1559-1563 <1995>) , aber auch - im Zusammenhang mit einem nichtlinearen Effekt - zwecks Charakterisierung der Pulsdauer eingesetzt (C. laconis and I. A. almsley, "Spectral Phase Interfero- metry for Direct Electric- field Reconstruction of ültrashort Opti- cal Pulses," Optics Letters 23, 792-794 <1998>} .
Zwei zeitlich relativ zueinander verzögerte Lichtstrahlen werden räumlich überlagert, und die Intensität der überlagerten Strahlen wird spektral aufgelöst gemessen. Das gemessene Spektrum weist eine Modulation (spektrales Interferenzmuster) auf; aus diesem spektralen Interferenzmuster können die Verzögerung zwischen den zwei Lichtsignalen und die Differenz zwischen den spektralen Phasen der zwei Lichtsignalen ermittelt werden. Diese Informationen werden aus dem spektralen Interferogramm mittels einer an sich bekannten, auf der Fast Fourier Transform (FFT rasche Fouriertransformation) basierenden numerischen Methode ermittelt („Interferogram Analysis", D. W. Robinson and G. T. Reid, Eds., Institute of Physics Publishing, Bristol <1993>, Seiten 141-193) .
Für manche Anwendungen {z.B. Dispersionsmessungen) ist es jedoch notwendig, nicht nur die spektrale Phase, sondern auch die Gruppenverzögerungsdispersion (Group Delay Dispersion, GDD, die zweite Ableitung der Phase nach der Kreisfrequenz) zu bestimmen. Diese GDD kann offensichtlich mittels einer zweifachen numerischen Ableitung der gemessenen spektralen Phase bestimmt werden. Die numerische Ableitung ist jedoch bekanntlich ein instabiles numerisches Verfahren, und die Fehlerpropagationsanalyse zeigt, dass kleine Messfehler in der spektralen Phase zu unzulässig ho- hen Fehlern in der GDD führen können (A. N. Tikhonov and V. Y.
Arsenin, „Solutions of Ill-Posed Problems", Wiley <1977>) .
Es wäre daher vorteilhaft, die GDD oder zumindest die GD (die einfache Ableitung der spektralen Phase nach der Kreisfrequenz) direkt aus der Messung zu ermitteln, und es ist Aufgabe der Er¬ findung, dies auf einfache Weise zu ermöglichen.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung ein Verfahren wie eingangs angegeben vor, das dadurch gekennzeichnet ist, dass ein von einer Strahlungsquelle abgegebener Strahl auf die Probe so¬ wie ein Referenzstrahl auf eine Referenzprobe gerichtet werden und die spektrale Interferenz der beiden Strahlen nach Reflexion an den Proben oder Passieren der Proben mittels eines Spektro- graphen aufgenommen wird, und dass das so erhaltene Interfero- gramm I (ω) numerisch nach der Kreisfrequenz ω abgeleitet wird, wonach für die so erhaltene Funktion I λ (ω) die Nullstellen ω± numerisch als Lösungen der Gleichung I λ (ω) = 0 berechnet werden und danach aus den Nullstellen ω± die frequenzabhängige Gruppen¬ verzögerung τ (ω) entsprechend der Gleichung τ (ωη) = π/ (ω±+ι -ω±) , mit i = 1,2... und ωη = (ωι+ι +ω±)/2, berechnet wird.
Dabei ist es weiter einfach möglich, wenn die frequenzabhängige Gruppenverzögerungsdispersion GDD durch numerische Ableitung der Gruppenverzögerung τ (ω) nach der Kreisfrequenz ω berechnet wird.
Auch ist es günstig, wenn durch numerische Integration der Grup¬ penverzögerung τ (ω) über die Kreisfrequenz die spektrale Phase ermittelt wird. Dabei ist es ferner vorteilhaft, wenn durch Fou¬ riertransformation eines vorgegebenen Spektrums unter Berücksichtigung der ermittelten spektralen Phase die zeitabhängige Phase ermittelt wird; oder wenn durch Fouriertransformation eines vorgegebenen Spektrums unter Berücksichtigung der ermittelten spektralen Phase die zeitabhängige Intensität eines Strahl- Impulses ermittelt wird.
Als Strahlungsquelle bzw. Lichtquelle wird beispielsweise eine Laser (puls ) quelle oder eine Glühbirne oder auch eine Leuchtdiode eingesetzt . Eine vorteilhafte Anwendung der Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass als Probe eine Dünnschicht-Beschichtung auf einem Sub¬ strat untersucht wird, wobei die spektrale Interferenz eines von einer Dünnschicht auf einem Substrat reflektierten Strahls mit einem von einem Referenzreflektor reflektierten Strahl aufgenommen wird.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Durchführung des vorliegenden Verfahrens ist in entsprechender Weise gekennzeichnet durch eine Interferometereinrichtung mit einer Strahlungsquelle, mit einer Einrichtung, z.B. einem Strahlungsteiler, zur Erzeugung eines Referenzstrahls und eines Messstrahls, und mit einem
Spektrographen, mit dem eine Recheneinheit verbunden ist, welche konfiguriert ist, um ein mit Hilfe des Spektrographen erhaltenes Interferogramm numerisch nach der Kreisfrequenz abzielten, wonach für die so erhaltene Funktion I λ (ω) die Nullstellen ω± nume¬ risch als Lösungen der Gleichung I λ (ω) = 0 berechnet werden und danach aus den Nullstellen ω± die frequenzabhängige Gruppenverzö¬ gerung τ (ω) entsprechend der Gleichung τ (ωη) = π/ (ω±+ι -ω±) , mit i = 1,2... und ωη = (ω±+ι +ω±) /2 (d.h. ωη ist der Mittelwert von ω±+ι und (Oi) berechnet wird.
Dabei ist es von Vorteil, wenn die Recheneinheit überdies einge¬ richtet ist, um die frequenzabhängige Gruppenverzögerungsdisper¬ sion GDD durch numerische Ableitung der Gruppenverzögerung τ (ω) nach der Kreisfrequenz ω zu berechnen.
Weiters ist es günstig, wenn die Recheneinheit eingerichtet ist, um durch numerische Integration der Gruppenverzögerung τ (ω) über die Kreisfrequenz die spektrale Phase zu ermitteln.
Auch ist es vorteilhaft, wenn die Recheneinheit ferner ein Fou¬ riertransformationsmodul aufweist, um durch Fouriertransformati¬ on eines vorgegebenen Spektrums unter Berücksichtigung der ermittelten spektralen Phase, die zeitabhängige Phase zu ermit¬ teln; auch kann die Recheneinheit ein Fouriertransformationsmo¬ dul aufweisen, um durch Fouriertransformation eines vorgegebenen Spektrums unter Brücksichtigung der ermittelten spektralen Phase, die zeitabhängige Intensität eines Strahl-Impulses zu ermit¬ teln . Im Fall einer reflektiven Untersuchung einer Probe kann ein Referenzspiegel zur Reflexion des Referenzstrahls vorgesehen sein.
Die Erfindung basiert somit auf einer Technik einer direkten spektralen Auswertung (Direct Spectral Evaluation, DSE) , die gegenüber der herkömmlichen, auf der FFT basierenden Methode (s. o. „Interferogram Analysis", D. W. Robinson and G. T. Reid) auch folgende Vorteile hat:
(1) Die Verwendung der FFT ist nicht nötig und die Anzahl der mathematischen Operationen ist viel kleiner; somit ist die DSE- Methode viel schneller. Dadurch, dass die FFT nicht eingesetzt werden muss, ist es auch nicht notwendig, das gemessene Inter- ferogramm zu interpolieren und zu extrapolieren, um die für die FFT notwendigen Bedingungen zu erfüllen. Dadurch ist die Anzahl der Werte, die verarbeitet werden muss, um ungefähr einen Faktor 4 kleiner. Weiters wird die zweifache FFT durch eine numerische Ableitung und eine Interpolation ersetzt. Dadurch ist die DSE- Methode um mindestens einen Faktor 100 schneller als die herkömmliche Methode. Dank dieser Rechengeschwindigkeit kann die Methode in Quasi-Echtzeit zur Charakterisierung der Dispersion in dynamischen Prozessen eingesetzt werden, z.B. zwecks Überwachung des Wachstums der Schichtdicken von dispersiven Spiegeln während des Beschichtungsprozesses .
(2) Das vorgeschlagene Verfahren erlaubt die direkte Auswertung der Gruppenverzögerung (Group Delay, GD, die erste Ableitung der spektralen Phase nach der Kreisfrequenz); somit muss die numerische Ableitung nur ein Mal angewendet werden, um die GDD zu erhalten. Dadurch wird die ungünstige Propagation der Messfehler durch die numerische Ableitung der Phase deutlich verringert.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von bevorzugten Ausführungsbeispielen und unter Bezugnahme auf die Zeichnung noch weiter erläutert. Es zeigen:
Fig.l ein Beispiel eines spektralen Interferogramms , nämlich der Intensität I (ω) , in beliebigen Einheiten, über der Wellenlänge λ ( in nm) ;
Fig. 2 die Ableitung I λ (ω) dieses Interfrerenzsignals I (ω) nach der Kreisfrequenz, also I λ (ω) dl/dco , über der Kreisfrequenz ω ( in rad/ fs ) ;
Fig. 3 in einem Diagramm die aus dem Interfrenzsignal I (ω) von Fig. 1 berechnete Gruppenverzögerung τ(ίη fs) über der Kreisfrequenz ω;
Fig. 4 in einem Diagramm die aus dem Interferenzsignal I (ω) be¬ rechnete Gesamt- Gruppenverzögerungsdispersion GDDt(in fs2) über der Wellenlänge λ(ίη nm) ;
Fig. 5 in einem Diagramm die aus I (ω) berechnete Gruppenverzöge¬ rung GDDS, die von einem Musterspiegel pro Reflexion herbeige¬ führt wird; und
Fig. 6 schematisch eine Vorrichtung mit einem Interferometer .
Fig. 1 zeigt ein typisches spektrales Interferogramm, d.h. Interferenzsignal I (ω) , und zwar in beliebigen Einheiten („arb. u." - arbitrary units) . Dieses spektrale Interferenzsignal I (ω) wird nach der Kreisfrequenz ω abgeleitet. Die dadurch entstehende Funktion I' (ω) ist in Fig. 2 anhand des Beispielspektrums aus Fig. 1 dargestellt. Die Nulldurchgänge ω± der Funktion I' (ω) (d.h. G)i = alle Lösungen der Gleichung I' (ω)= 0 in dem für die Messung relevanten Frequenzbereich) werden mittels eines an sich bekannten numerischen Algorithmus (z.B. durch lineare oder nichtlineare Interpolation) ermittelt.
Aus den Kreisfrequenzwerten ω± wird die Gruppenverzögerung τ als Funktion der Kreisfrequenz ω wie folgt berechnet: τ(ωη)= π/ (ω±+ι- ω±) , mit ωη= (ωι+ι+ωι) /2.
Die auf diese Weise aus dem in Fig.l abgebildeten Interferogramm berechneten Gruppenverzögerungswerte τ sind in Fig. 3 darge¬ stellt.
Falls für die Anwendung nötig, kann aus der Gruppenverzögerung τ mittels numerischer Ableitung die Gruppenverzögerungsdispersion GDD berechnet werden. Diese GDD ist für das in Fig. 1 abgebilde¬ te Interferogramm in Fig. 4 dargestellt. Aufgrund des Aufbaus des Weisslichtinterferometers , das für die hier gezeigte Messung eingesetzt wurde, setzt sich die Gesamt- dispersion GDDt wie folgt zusammen: GDDt=l 6*GDDS+2*GDDFS, wobei GDDS die Dispersion ist, die bei der Reflexion auf einem Muster¬ spiegel herbeigeführt wird, ist und GDDFS die Dispersion einer Glasplatte aus Quarzglas (Fused Silica) mit einer Dicke von 6,35 mm ist. Somit kann die Dispersion des Musterspiegels GDDS (die für eine Reflexion herbeigeführt wird) wie folgt berechnet wer¬ den: GDDS= (GDDt-2*GDDFS) / l 6. Die dadurch erhaltene Dispersion GDDS des zu charakterisierenden Musterspiegels ist in Fig. 5 darge¬ stellt.
Fig.6 zeigt eine mögliche Ausführung eines Michelson- Interferometers zur Erzeugung des Interferogramms I (ω) . Sowohl diese Ausbildung als auch andere Ausführungen eines Michelson- Interferometers (z.B. mit mehrfachen Reflexionen auf dem Musterspiegel) als auch andere, an sich bekannte Arten von Interfero- metern (wie z.B. Mach-Zender-Interferometer ) können eingesetzt werden, beispielsweise um - gemäß Fig. 6 - einen Spiegel 5 zu messen .
Im einzelnen zeigt Fig. 6 beispielhaft eine schematische Dar¬ stellung eines Michelson-Interferometers für spektrale Interfe- rometrie, wobei ein mit einer Lichtquelle 1 erzeugter Strahl 2 mittels eines Strahlteilers 3 geteilt wird. Ein Referenzstrahl 2' wird mittels eines als Rückreflektor eingesetzten Referenzspiegels 4 (dessen Dispersionseigenschaften gut bekannt sind) reflektiert. Ein Messstrahl 2'' wird von dem zu messenden Spiegel 5 reflektiert. Der Spiegel 5 kann auch als mehrfacher Falt¬ spiegel eingebaut werden, um die dadurch herbeigeführte GDD und somit die Messgenauigkeit zu erhöhen. Der Referenzstrahl 2' und der Messstrahl 2'' werden mittels des Strahlteilers 3
wieder in räumliche Überlagerung gebracht, s. Strahl 22. Von diesem Strahl 22 wird das spektrale Interferogramm mittels eines Spektrographen 6 aufgenommen.
Aus dem so erhaltenen Interferenzsignal I (ω) kann die Differenz zwischen der Gruppenverzögerung des Referenzstrahles 2' und der Gruppenverzögerung des Messstrahles 2'' wie oben erläutert be¬ rechnet werden. Hierzu ist eine entsprechend konfigurierte Re¬ cheneinheit 7 an den Spektrographen 6 angeschlossen; die Ergebnisse, z. B. GD, GDD usw., werden mittels einer Ausgabeeinheit ausgegeben, z.B. angezeigt und/oder ausgedruckt.
Dank der hohen Mess- und Auswertungsgeschwindigkeit kann die be schriebene Technik z.B. zur Überprüfung eines Beschichtungsvorgangs bei einer Dünnschichtbeschichtung eines Substrats, etwa bei der Herstellung eines dispersiven Spiegels, in Echtzeit wäh ren des Beschichtungsvorgangs verwendet werden.

Claims

Patentansprüche :
1. Verfahren zur optischen Überprüfung einer Probe mittels spektraler Interferometrie, dadurch gekennzeichnet, dass ein von einer Strahlungsquelle (1) abgegebener Strahl (2' ') auf die Pro¬ be (5) sowie ein Referenzstrahl (2') auf eine Referenzprobe (4) gerichtet werden und die spektrale Interferenz der beiden Strahlen nach Reflexion an den Proben oder Passieren der Proben mittels eines Spektrographen (6) aufgenommen wird, und dass das so erhaltene Interferogramm I (ω) numerisch nach der Kreisfrequenz ω abgeleitet wird, wonach für die so erhaltene Funktion I λ (ω) die Nullstellen ω± numerisch als Lösungen der Gleichung I λ (ω) = 0 berechnet werden und danach aus den Nullstellen ω± die frequenzab¬ hängige Gruppenverzögerung τ (ω) entsprechend der Gleichung τ (ωη) = π/ (coi+i -ω±) , mit i = 1,2... und ωη = (ω±+ι + ω±) /2, berechnet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass weiter die frequenzabhängige Gruppenverzögerungsdispersion (GDD) durch numerische Ableitung der Gruppenverzögerung τ (ω) nach der Kreisfrequenz ω berechnet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichn
numerische Integration der Gruppenverzögerung τ (ω)
Kreisfrequenz die spektrale Phase ermittelt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass durch Fouriertransformation eines vorgegebenen Spektrums unter Berücksichtigung der ermittelten spektralen Phase die zeitabhängige Phase ermittelt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass durch Fouriertransformation eines vorgegebenen Spektrums unter Berücksichtigung der ermittelten spektralen Phase die zeitabhängige Intensität eines Strahl-Impulses ermittelt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass als Strahlungsquelle (1) eine Laserpulsquelle o- der eine Glühbirne oder auch eine Leuchtdiode verwendet wird.
7. Verfahren nach einen der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn- zeichnet, dass als Probe (5) eine Dünnschicht-Beschichtung auf einem Substrat untersucht wird, wobei die spektrale Interferenz eines von einer Dünnschicht auf einem Substrat reflektierten Strahls (2'') mit einem von einem Referenzreflektor (4) reflektierten Strahl (2') aufgenommen wird.
8. Vorrichtung zur Durchführung eines Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 7, gekennzeichnet durch eine Interferometerein- richtung mit einer Strahlungsquelle (1), mit einer Einrichtung (3) zur Erzeugung eines Referenzstrahls (2') und eines Mess¬ strahls (2'')/ und mit einem Spektrographen (6), mit dem eine Recheneinheit (7) verbunden ist, welche konfiguriert ist, um ein mit Hilfe des Spektrographen (6) erhaltenes Interferogramm I (ω) numerisch nach der Kreisfrequenz ω abzuleiten, wonach für die so erhaltene Funktion I λ (ω) die Nullstellen ω± numerisch als Lösungen der Gleichung I λ (ω) = 0 berechnet werden und danach aus den Nullstellen ω± die frequenzabhängige Gruppenverzögerung τ (ω) ent¬ sprechend der Gleichung τ (ωη) = π/(ωι+ι -ω±) , mit i = 1,2... und ωη = (ω±+ι + ωι)/2, berechnet wird.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Recheneinheit (7) überdies eingerichtet ist, um die frequenzab¬ hängige Gruppenverzögerungsdispersion GDD durch numerische Ableitung der Gruppenverzögerung τ (ω) nach der Kreisfrequenz ω zu berechnen .
10. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Recheneinheit (7) eingerichtet ist, um durch numerische Integration der Gruppenverzögerung τ (ω) über die Kreisfrequenz die spektrale Phase zu ermitteln.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Recheneinheit (7) ferner ein Fouriertransformationsmodul aufweist, um durch Fouriertransformation eines vorgegebenen Spektrums unter Berücksichtigung der ermittelten spektralen Phase die zeitabhängige Phase zu ermitteln.
12. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Recheneinheit (7) ein Fouriertransformationsmodul aufweist, um durch Fouriertransformation eines vorgegebenen Spektrums un- ter Berücksichtigung der ermittelten spektralen Phase die zeitabhängige Intensität eines Strahl-Impulses zu ermitteln.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass als Strahlungsquelle (1) eine Laserpulsquelle oder eine Glühbirne oder auch eine Leuchtdiode vorgesehen ist.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 13, gekennzeichnet durch einen Referenzspiegel (4) zur Reflexion des Referenzstrahls (2 ' ) .
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung zur Erzeugung eines Referenzstrahls (2') und eines Messstrahls (2'') durch einen Strahlungs¬ teiler gebildet ist.
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