WO2014054371A1 - マグネトインピーダンス素子およびその製造方法 - Google Patents

マグネトインピーダンス素子およびその製造方法 Download PDF

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秀信 伊藤
憲和 内藤
久常 松川
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Definitions

  • the present invention relates to a magneto-impedance element (Magnetto-Impedance element: appropriately referred to as “MI element”) used for detecting geomagnetism and the like, and a method for manufacturing the same.
  • MI element Magnetico-Impedance element
  • Magnetic sensors include Hall elements and MR elements, but in recent years, the structure and principle are completely different from conventional elements, and small and highly sensitive MI elements are often used in portable devices as geomagnetic sensors. ing.
  • the MI element utilizes a magneto-impedance effect (referred to as “MI effect”) in which the impedance changes in response to the surrounding magnetic field due to the skin effect when a high-frequency pulse current or the like is passed through a magnetosensitive material such as an amorphous wire. Is.
  • MI effect magneto-impedance effect
  • MI element For magnetic detection by the MI element, a method of directly measuring a change in impedance and a method of measuring a change in the amount of magnetic flux generated in a magnetic sensing body such as a magnetic sensing wire by a detection coil (pickup coil) provided around the magnetic sensing element.
  • a detection coil pickup coil
  • Patent Document 1 includes a detection coil including a planar pattern formed on a substrate and a three-dimensional pattern formed in a mountain on an insulator that fixes an amorphous wire (magnetically sensitive wire) provided on the planar pattern.
  • An MI element has been proposed. This makes it possible to bring the detection coil closer to the magnetic sensing wire more stably than when the groove for housing the magnetic sensing wire is machined on the substrate, and the substrate material can be freely selected because the substrate is not grooved. In addition to the effect of improving the degree and yield, the entire MI element can be reduced in size.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and an MI element having a structure capable of stably forming a fine-pitch detection coil and achieving both miniaturization and high output, and a method for manufacturing the same.
  • the purpose is to provide.
  • the present inventor has conducted intensive research to solve this problem, and as a result of repeated trial and error, a part of the detection coil formed around the magnetosensitive wire is a conductor (connecting portion) extending in the normal direction of the substrate. I came up with a new structure. By developing this result, the present invention described below has been completed.
  • a magneto-impedance element (MI element) includes a substrate, a magnetosensitive wire disposed on the substrate, a detection coil that circulates around the magnetosensitive wire, the magnetosensitive wire, and the detection coil.
  • a magneto-impedance element comprising: a first wiring portion formed of a film-like conductor that is formed along a flat surface of the substrate and intersects the magnetosensitive wire; and A second wiring portion formed of a film-like conductor that is formed on the opposite side of the first wiring portion with respect to the magnetic sensing wire and is surrounded by the insulating portion on both sides of the magnetic sensing wire. It has the connection part which consists of a columnar conductor or a cylindrical conductor extended in the normal line direction and connecting the predetermined position of this 1st wiring part and this 2nd wiring part, It is characterized by the above-mentioned.
  • the detection coil that circulates the magnetosensitive wire includes the first wiring portion, the second wiring portion, and a connecting portion that connects the predetermined positions.
  • the connecting portion extends in the normal direction of the substrate on which the magnetosensitive wire is disposed, and mainly bears the height difference of the detection coil.
  • such a connecting portion extends only in the normal direction of the substrate, and therefore can be formed with relatively high accuracy.
  • not only the first wiring portion formed on the flat substrate but also the second wiring portion is provided with a connecting portion, so that it can be finely formed by photolithography on a substantially planar surface. It was.
  • the manufacturing variation of the second wiring portion is particularly suppressed, and even if the width reduction or the pitch reduction is performed, the MI element can be manufactured with stable quality, and the fine pitch of the detection coil can be easily achieved.
  • it is easy to increase the number of turns of the detection coil without increasing the size, and it becomes possible to achieve both high output and small size of the MI element at a high level.
  • the manufacturing method of the MI element of the present invention is not limited, for example, it can be obtained by the following manufacturing method of the present invention. That is, the magneto-impedance element manufacturing method of the present invention includes a substrate, a magnetosensitive wire disposed on the substrate, a detection coil that circulates the magnetosensitive wire, an insulating portion that fixes the magnetosensitive wire and the detection coil.
  • a first wiring layer for forming a first wiring layer to be a first wiring portion made of a film-like conductor that can cross the magnetosensitive wire on a flat surface of the substrate An intermediate layer having a forming step and a connecting portion made of a columnar conductor or a cylindrical conductor that penetrates the insulating portion and the insulating portion on both sides of the magnetosensitive wire in the normal direction of the substrate; An intermediate layer forming step to be formed thereon, and a second wiring layer forming step to form on the intermediate layer a second wiring layer to be a second wiring portion made of a film conductor intersecting with the magnetosensitive wire, Of the first wiring portion and the second wiring portion.
  • Position is characterized in that the detection coil are connected by the connecting portion is constituted.
  • the present invention can be grasped not only as an MI element but also as a magneto-impedance sensor using the MI element.
  • the present invention includes the above-described MI element, a pulse oscillation circuit that applies a pulse current to the magnetosensitive wire, and a detection circuit (including a signal processing circuit) that detects a voltage change generated in the detection coil.
  • a magneto-impedance sensor MI sensor
  • MI sensor Magnetic Ink Character Recognition
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA shown in FIG. It is the elements on larger scale which show the upper coil (2nd wiring part) side of the MI element. It is sectional drawing of the MI element which concerns on a 2nd Example. It is the elements on larger scale which show the upper coil (2nd wiring part) side of the MI element. It is an enlarged view which shows a mode that an amorphous wire is hold
  • a component related to a manufacturing method can be a component related to an object if understood as a product-by-process claim.
  • One or two or more components arbitrarily selected from the present specification may be added to the above-described components of the present invention. Which embodiment is the best depends on the target, required performance, and the like.
  • the detection coil according to the present invention is a continuous coil that circulates around the magnetosensitive wire by connecting predetermined positions of the first wiring portion and the second wiring portion at the connecting portion.
  • the predetermined position of the 1st wiring part or the 2nd wiring part connected with a connection part is not ask
  • Wiring part A 1st wiring part consists of a film-like conductor which comprises the (1st) wiring pattern normally formed along the flat surface of a board
  • the second wiring portion (or the second wiring pattern as an aggregate thereof) is formed substantially parallel to the flat surface of the substrate.
  • a second wiring part can be easily formed by adjusting the height of the connecting part penetrating the insulating part in the normal direction of the substrate in accordance with the outer diameter of the magnetosensitive wire to be used.
  • the detection coil brought close to the magnetosensitive wire can be efficiently formed with stable quality.
  • substantially parallel to the flat surface of the substrate in this specification does not necessarily mean that the second wiring pattern of the MI element is strictly parallel to the flat surface of the substrate.
  • the case where the second wiring pattern of the actual MI element is gently curved due to a manufacturing process or the like is also included in the above “substantially parallel”.
  • the second wiring portion formed by stacking by general photolithography is not limited to a specific form and is “on the flat surface of the substrate. It is included in the “substantially parallel” range.
  • connection part consists of a columnar conductor or a cylindrical conductor extended in the normal line direction of the flat surface of a board
  • the connecting portion is formed by filling or attaching a conductor to a so-called via hole or through hole.
  • the cross-sectional shape of the connecting portion may be constant or may change with respect to the normal direction of the substrate.
  • a connecting portion corresponding to each insulating portion may be formed. That is, a first insulating portion formed on the first wiring portion, an intermediate insulating portion formed on the first insulating portion and embedding the magnetosensitive wire, and a second insulating portion formed on the intermediate insulating portion,
  • the connecting portion penetrates the first insulating portion in the normal direction of the substrate and the intermediate insulating portion extends in the normal direction of the substrate on both sides of the first connecting portion and the magnetosensitive wire connected to a predetermined position of the first wiring portion.
  • the intermediate connecting portion connected to the first connecting portion and the second insulating portion may pass through the second connecting portion in the normal direction of the substrate and connected to the intermediate connecting portion and to the predetermined position of the second wiring portion.
  • the intermediate connecting portion is thicker than the first connecting portion or the second connecting portion.
  • the allowable range of the joint position is expanded, and the electrical connection between the connecting portions can be stably performed.
  • the first insulating part and the second insulating part can be formed relatively thin because it is not necessary to fix the magnetosensitive wire, and the first insulating part and the second insulating part are joined to the first connecting part and the second wiring part, which are joined to the first wiring part accordingly.
  • the second connecting portion is also relatively short with respect to the normal direction of the substrate, and is easily formed with a stable dimension with little variation.
  • the intermediate connecting portion that penetrates the intermediate insulating portion needs to secure a height that is equal to or greater than the size (diameter) of the magnetosensitive wire, and must be relatively long in the normal direction of the substrate.
  • an important point in making fine pitches is to prevent a short circuit that occurs between the joint portions of the adjacent first wiring portion and the second wiring portion, and to prevent disconnection due to the manufacturing variation described above.
  • the present invention can stably form the first connection portion and the second connection portion as described above, and adjust the height of the connection portion as described above to stabilize the second wiring portion with a stable quality. Can be formed. For this reason, it is easy to achieve a fine pitch and it is possible to effectively prevent disconnection.
  • the intermediate connection portion can be easily manufactured by photolithography. Note that the intermediate connecting part is not a part directly connected to the first wiring part or the second wiring part, but the position in the normal direction is different from that of the first wiring part or the second wiring part. This problem is unlikely to occur.
  • each connection part as used in this specification can be judged by the size of the cross-sectional area of each connection part in the joining interface parallel to the flat surface of a board
  • the connecting portion according to the present invention is preferably configured such that the gap with the magnetic sensing wire is different between adjacent portions along the extending direction of the magnetic sensing wire.
  • adjacent connecting portions there are various arrangement patterns of such adjacent connecting portions. For example, there are cases in which adjacent connecting portions on one side of the magnetosensitive wire are alternately arranged on a specific two straight lines.
  • interval or eccentric distance of a magnetic sensing wire) of an adjacent connection part is suitably adjusted according to the required pitch and the magnitude
  • the content demonstrated here is not only when the cross-sectional shape of a connection part is substantially constant, but when a connection part consists of a 1st connection part from which cross-sectional shape differs as mentioned above, a 2nd connection part, and an intermediate
  • the MI element of the present invention includes a first wiring layer forming step for forming a first wiring layer serving as a first wiring portion on a flat surface of a substrate, and an insulating portion for fixing a magnetosensitive wire.
  • Such a laminated structure can be performed by mainly using photolithography used for manufacturing a build-up multilayer wiring board.
  • the intermediate layer forming step can be performed as follows. That is, the intermediate layer forming step includes a first insulating layer forming step of forming a first insulating layer serving as a first insulating portion on the first wiring layer, and the first insulating layer is penetrated in a normal direction of the substrate. A first connecting portion that is connected to a predetermined position of the first wiring portion, an intermediate connecting portion that is connected to the first connecting portion and extends in the normal direction of the substrate on both sides of the magnetosensitive wire, and the substrate that is connected to the intermediate connecting portion.
  • a connecting portion forming step that forms a second connecting portion that extends in the normal direction of the second wiring portion and can be connected to a predetermined position of the second wiring portion; and an intermediate insulating portion that embeds the magnetosensitive wire on the first insulating layer.
  • the first insulating layer, the intermediate insulating layer, and the second insulating layer constitute the insulating portion, and the first connection And the intermediate connecting portion and said second connecting portion is suitable and the connecting portion is formed.
  • connection portion can be formed by, for example, forming a Ti / Cu seed layer and copper plating.
  • the connecting portion can be formed by a method in which an insulating layer provided with a via hole in advance is formed by photolithography, and copper plating is filled in the via hole.
  • a resin layer having via holes corresponding to the connecting portions is formed by photolithography, and plating is filled in the via holes. And after removing the resin layer, you may form an insulating layer again and form a connection part.
  • An optimum manufacturing method may be appropriately selected in consideration of productivity and the like.
  • a connection part consists of a 1st connection part, an intermediate
  • FIGS. 1 An outline of an MI element 1 which is an embodiment according to the present invention is shown in FIGS. 1 is a plan view of the MI element 1
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA shown in FIG. 1
  • FIG. 3 shows an upper coil 132 side (amorphous wire 12 is omitted) of a detection coil 13 described later.
  • FIG. 1 An outline of an MI element 1 which is an embodiment according to the present invention is shown in FIGS. 1 is a plan view of the MI element 1
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA shown in FIG. 1
  • FIG. 3 shows an upper coil 132 side (amorphous wire 12 is omitted) of a detection coil 13 described later.
  • the MI element 1 holds a substrate 11, an amorphous wire 12 (magnetically sensitive wire) disposed on the substrate 11, a detection coil 13 that goes around the outer periphery of the amorphous wire 12, and the amorphous wire 12 and the detection coil 13. And an insulating resin body 14 (insulating portion).
  • the detection coil 13 is formed on the flat surface of the substrate 11, and includes a lower coil (first wiring portion) 131 made of a plurality of copper foils (film conductors) that crosses the lower side of the amorphous wire 12 in an oblique direction, and the amorphous wire 12.
  • a lower coil (first wiring portion) 131 made of a plurality of copper foils (film conductors) that crosses the lower side of the amorphous wire 12 in an oblique direction, and the amorphous wire 12.
  • Posts 133 and 134 (connecting portions) made of copper columns (columnar conductors) on both sides and extending from each end of each lower coil 131 in the normal direction of the flat surface of the substrate 11, and the upper surface of the insulating resin body 14
  • the upper coil (second wiring part) 132 made of a plurality of copper foils, each end part of which is joined to the posts 133 and 134, is formed by crossing the upper part of the amorphous wire 12 in an oblique direction.
  • Each lower coil 131 and each upper coil 132 have the same width and length, but have different inclinations with respect to the extending direction of the amorphous wire 12 (see FIG. 2). That is, the lower coil 131 and the upper coil 132 are each configured as a part of the helical detection coil 13. Similarly, the joining position of the lower coil 131 and the lower ends of the posts 133 and 134 and the joining position of the upper coil 132 and the upper ends of the posts 133 and 134 are also spirally arranged with respect to the extending direction of the amorphous wire 12. . Thus, the lower coil 231, the upper coil 232, and the posts 133 and 134 form the detection coil 13 that circulates around the amorphous wire 12.
  • an alumina (ceramic / nonmagnetic) substrate was used as the substrate 11.
  • the material, size, etc. of the substrate used in the present invention are not particularly limited, and for example, a silicon wafer may be used in addition to the alumina substrate.
  • a glass-coated wire made of a Co—Fe—Si—B alloy and having a diameter of 10 to 30 ⁇ m was used.
  • the upper wiring layer (second wiring layer) made of (second wiring layer forming step) was mainly performed by photolithography. Specifically, it was formed by forming a thin Ti / Cu seed layer, applying a resist, exposing with a mask, developing, copper plating, resist removal, Ti / Cu seed layer removal by selective etching, and the like. At this time, the upper wiring layer made of the upper coil 132 was formed so as to be substantially parallel to the flat surface of the substrate 11.
  • the posts 133 and 134 were formed by filling via holes provided in the insulating layer made of the insulating resin body 14 with copper plating.
  • the insulating resin body 14 was formed by dropping a liquid epoxy resin diluted with a solvent around the amorphous wire 12 disposed on the flat surface of the substrate 11 and thermally curing the epoxy resin.
  • terminals 141 and 142 of the amorphous wire 12 and the terminals 151 and 152 of the detection coil 13 were also formed on the flat surface of the substrate 11 together with the lower coil 131.
  • FIGS. 4 An outline of an MI element 2 which is another embodiment according to the present invention is shown in FIGS. 4 is a cross-sectional view similar to FIG. 2, and FIG. 5 is a partially enlarged view showing an upper coil 232 side (amorphous wire 12 is omitted) of a detection coil 23 described later.
  • symbol is attached
  • the cross-sectional view of the MI element 2 cut at a specific position a part of the post (connecting portion) and the coil (wiring portion) does not originally appear, but the cross-sectional view shown in FIG. For convenience, all the coils and posts are listed.
  • the MI element 2 includes a substrate 11, an amorphous wire 12 disposed on the substrate 11, a detection coil 23 that goes around the outer periphery of the amorphous wire 12, and an insulating resin body 24 that holds the amorphous wire 12 and the detection coil 23. (Insulating part).
  • the detection coil 23 is formed on the flat surface of the substrate 11 and is made of lower coils 231a and 231b made of copper foils of the same length that are obliquely crossed below the amorphous wire 12 (both are referred to as “lower coil 231”). ./First wiring portion) and an outer lower post 235a formed of a small-diameter copper column on both sides of the amorphous wire 12 and extending from each end of each lower coil 231 in the normal direction of the flat surface of the substrate 11.
  • lower posts 235 and 236 (collectively these are referred to as “lower posts 235 and 236” / first connecting portions), and outer lower posts 235a and 236a and inner lower posts located on both sides of the center of the amorphous wire 12.
  • Outer middle posts 233a and 234a made of large-diameter copper pillars extending in the normal direction of the flat surface of the substrate 11 from each of 235b and 236b
  • inner middle posts 233b and 234b (these are collectively referred to as “middle posts 233 and 234” / intermediate connecting portions) and the outer middle posts 233a and 234a and the inner middle posts 233b and 234b on both sides of the amorphous wire 12.
  • the outer upper posts 237a, 238a and the inner upper posts 237b, 238b (collectively referred to as “upper posts 237, 238”) made of small-diameter copper pillars extending in the normal direction of the flat surface of the substrate 11 from each of the above.
  • a second connecting portion) and upper coils 232a and 232b made of a plurality of long and short copper foils that are formed on the upper surface of the insulating resin body 24 and obliquely cross over the amorphous wire 12 (both are referred to as "upper coil 232").
  • Second wiring part Second wiring part
  • the insulating resin body 24 includes a lower insulating portion 241 (first insulating portion) that is formed on the lower coil 231 and surrounds the lower posts 235 and 236, and a middle portion that is formed on the lower insulating portion 241 and surrounds the middle posts 233 and 234.
  • the insulating portion 242 (intermediate insulating portion) and the upper insulating portion 243 (second insulating portion) formed on the middle insulating portion 242 and surrounding the upper posts 237 and 238 are formed.
  • the MI element 2 includes the first layer including the lower posts 235 and 236 and the lower insulating portion 241, the intermediate layer including the middle posts 233 and 234 and the intermediate insulating portion 242, between the lower coil 231 and the upper coil 232. It consists of three layers of upper posts 237 and 238 and a second layer made of an upper insulating portion 243.
  • the lower posts 235 and 236, the middle posts 233 and 234, and the upper posts 237 and 238 are simply referred to as “post 239” (connecting portion)).
  • the posts 239 adjacent along the extending direction of the amorphous wire 12 are staggered alternately.
  • the lower coil 231 and the upper coil 232 are formed in accordance with the arrangement of the posts 239 as shown in FIG. Specifically, each end of the lower coil 231a is connected to the lower posts 235a and 236b, and each end of the lower coil 231b is connected to the lower posts 235b and 236a. Each end of the upper coil 232a is connected to the outer upper posts 237a and 238a, and each end of the upper coil 232b is connected to the inner upper posts 237b and 238b. Although the lower coil 231a and the lower coil 231b have the same width and the same length, the arrangement is alternately shifted between adjacent ones along the extending direction of the amorphous wire 12.
  • the upper coil 232a and the upper coil 232b have the same width, since both ends of the upper coil 232a are joined to the outer upper posts 237a and 238a, both ends are joined to the upper coil 232b joined to the inner upper posts 237b and 238b. Is also getting longer. Similar to the case of the lower coil 231, the upper coil 232 a and the upper coil 232 b are alternately arranged between adjacent ones along the extending direction of the amorphous wire 12.
  • the lower coil 231, the upper coil 232, and the post 239 are spirally arranged along the extending direction of the amorphous wire 12, so that the detection coil 23 that goes around the amorphous wire 12 is configured.
  • the adjacent posts 239 along the extending direction of the amorphous wire 12 are arranged in a staggered manner, so that the middle posts 233 and 234 are replaced by the lower posts 235 and 236 and the upper posts 237, Despite being thicker than 238, their arrangement interval (pitch) can be shortened. For this reason, the pitch of the detection coil 23 in the extending direction of the amorphous wire 12 can also be shortened. As a result, it is possible to achieve both high output and miniaturization by making the MI element 2 fine pitch.
  • Such MI element 2 is also formed by forming the lower wiring layer (first wiring layer) including the lower coil 231 (first wiring layer forming step), the insulating resin body 24 and the post 239 by photolithography similar to the MI element 1. And an upper wiring layer (second wiring layer) formed of the upper coil 232 (second wiring layer forming process).
  • the intermediate layer is formed on the lower wiring layer by forming a first insulating layer to be the lower insulating portion 241 (first insulating layer forming step), and penetrating the first insulating layer in the normal direction of the substrate 11.
  • the normal direction of the substrate 11 connected to the posts 235 and 236 (first connecting portion) and the lower posts 235 and 236 and extended in the normal direction of the substrate 11 and connected to the middle posts 233 and 234 (intermediate connecting portion) and the intermediate posts 233 and 234
  • the lower insulating portion 241, the middle insulating portion 242 and the upper insulating portion 243 become the insulating resin body 24 (insulating portion), and the lower posts 235 and 236, the middle posts 233 and 234 and the upper posts 237 and 238 become the post 239 (connecting portion). )
  • the upper coil 232 according to the present embodiment is formed so as to be parallel to the flat surface of the substrate 11 like the lower coil 231, but actually has a slightly curved surface that is slightly convex upward. It was. Such a curved surface can be said to be substantially parallel to the flat surface of the substrate 11.
  • the detection coil and the insulating portion are formed in a state where the magnetosensitive wire is held at a desired position by a wire guide or the like.
  • a wire guide may be provided separately from the components (detection coil and insulating portion) of the MI element and their manufacturing processes, or may be provided using those components and manufacturing processes. .
  • a specific example of such a wire guide will be described.
  • FIGS. 6A and 6B An example in which a dedicated wire guide is provided separately from the components of the MI element to hold the magnetosensitive wire in a desired position is shown in FIGS. 6A and 6B.
  • FIG. 6A is an enlarged view of one MI element 1
  • FIG. 6B shows the MI elements 1 before division arranged in large numbers on the same substrate 11.
  • the amorphous wire 12 is accurately arranged and held at a desired position by the grooves 31 m and 32 m formed in advance on both sides of the MI element 1.
  • the grooves 31m and 32m are formed by resin guides 31a and 31b made of insulating resin and resin guides 32a and 32b arranged adjacent to the above-described photolithography.
  • FIG. 7 shows an example in which the magnetosensitive wire is held at a desired position by a wire guide using the components of the MI element.
  • the amorphous wire 12 is accurately arranged at a desired position by the groove 41m extending in the longitudinal direction formed in the insulating resin layer 41 for via holes provided to form the posts 133 and 134 of the MI element 1. Retained.
  • the MI element before division can be arranged closer to the same substrate. As a result, the number of MI elements that can be manufactured per substrate can be increased, and the substrate can be effectively used (yield improvement).
  • the substrate silicon, ceramics
  • Etc. can be set, and efficient cutting is possible.
  • a guide post serving as a wire guide may be formed outside or inside the MI element at the time of forming the post or the like, separately from the post constituting the detection coil.
  • FIG. 8 shows a case where guide posts 51 a, 51 b, 52 a, 52 b that are narrower than the inner middle posts 233 b, 234 b of the MI element 2 are formed outside the MI element 2.
  • the amorphous wire 12 is disposed and held at a desired position by the groove 51m formed by the guide posts 51a and 51b and the groove 52m formed by the guide posts 52a and 52b.
  • the guide posts 51a, 51b, 52a, 52b having a narrower interval than the inner middle posts 233b, 234b are used as wire guides, so that the inner middle posts 233b, 234b are used as wire guides. It is also possible to use a non-magnetic wire.
  • a guide post is formed by copper plating or the like like the post constituting the detection coil, when provided in the MI element, it does not contact the lower coil, the upper coil, and the post constituting the detection coil.
  • the form (diameter, height) and arrangement may be used. Incidentally, even if the guide post is provided outside the MI element as shown in FIG. 8, it can be formed smaller than the resin guide made of the insulating resin described above (see FIGS. 6A and 6B). Almost no decrease in yield or cutting ability occurs.

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Description

マグネトインピーダンス素子およびその製造方法
 本発明は、地磁気の検知等に用いられるマグネトインピーダンス素子(Magneto-Impedance element:適宜「MI素子」という。)およびその製造方法に関する。
 磁気センサーにはホール素子やMR素子等もあるが、近年では従来の素子と構造や原理が全く異なり、小型で桁違いの高感度を有するMI素子が地磁気センサー等として携帯機器などに多く用いられている。MI素子は、アモルファスワイヤー等の感磁体に高周波のパルス電流等を流すと、表皮効果によりそのインピーダンスが周囲の磁場に反応して変化するマグネト・インピーダンス効果(「MI効果」という。)を利用したものである。
 MI素子による磁気検出には、インピーダンスの変化を直接測定する方式と、感磁ワイヤー等の感磁体に生じる磁束量の変化をその周囲に設けた検出コイル(ピックアップコイル)で測定される方式との二種類がある。このうち、後者のMI素子に関する記載が、例えば下記の特許文献にある。
WO2010/097932号公報
 特許文献1は、基板上に形成した平面パターンと、該平面パターン上に設けたアモルファスワイヤー(感磁ワイヤー)を固定する絶縁体上に山なりに形成した立体パターンとからなる検出コイルを備えたMI素子を提案している。これにより、基板に感磁ワイヤーを収納する溝を機械加工していたときよりも、検出コイルを感磁ワイヤーへより安定的に近接させることができ、基板を溝加工しないため基板の材質選択自由度や歩留りが向上するという効果に加えて、MI素子全体の小型化等が図れる。
 もっとも、素子の小型化の要求は益々高度化している。検出コイルを備えたMI素子において、さらなる小型化を図りつつ従来と同等以上の出力を確保するには、検出コイルを密に巻くファインピッチ化が必要となる。そして特許文献1のMI素子では、さらなるファインピッチ化を図る際に次のような問題が生じ得る。
 すなわち、特許文献1のMI素子では、高低差が数十μmとなる立体パターンをフォトリソグラフィにより形成している。フォトリソグラフィは本来、高低差がない平面パターン等の形成を前提としている。このため、前記のような立体パターンをフォトリソグラフィにより高精細に形成することは容易ではない。また、MI素子は通常、一枚の基板上に多数個が一度に形成されるため、レジスト塗布、露光・現像時のレジスト除去、導体メッキ等の各処理を行って製造される製品は、形状にバラツキが生じ易く、安定した品質を確保することが容易ではない。特に、特許文献1のMI素子でファインピッチ化を進めた場合、そのバラツキに起因して平面パターンと立体パターンの隣接する接合部間で短絡が生じ易くなる。しかも、高低差の大きい立体パターンでは、露光・現像によるレジスト除去状態のばらつきにより、断線を生じる可能性もあった。このため、特許文献1にあるような構造では、今後ますます要求が厳しくなる高出力化(コイル巻き数の増加等)と小型化を高次元で両立させたMI素子を提供することが困難となり得る。
 本発明はこのような事情に鑑みて為されたものであり、ファインピッチ化した検出コイルを安定的に形成でき、小型化と高出力化を両立できる構造を備えたMI素子およびその製造方法を提供することを目的とする。
 本発明者はこの課題を解決すべく鋭意研究し、試行錯誤を重ねた結果、感磁ワイヤーの周囲に形成する検出コイルの一部を、基板の法線方向に延在する導体(連結部)により構成する構造を新たに思いついた。この成果を発展させることにより、以降に述べる本発明を完成するに至った。
《マグネトインピーダンス素子》
(1)本発明のマグネトインピーダンス素子(MI素子)は、基板と、該基板上に配設された感磁ワイヤーと、該感磁ワイヤーを周回する検出コイルと、該感磁ワイヤーと該検出コイルを固定する絶縁部と、を備えるマグネトインピーダンス素子であって、前記検出コイルは、前記基板の平坦面に沿って形成され前記感磁ワイヤーと交差する膜状導体からなる第一配線部と、該感磁ワイヤーに関して該第一配線部の反対側に形成され該感磁ワイヤーと交差する膜状導体からなる第二配線部と、該感磁ワイヤーの両脇で前記絶縁部に囲繞され該基板の法線方向へ延在して該第一配線部と該第二配線部の所定位置を連結する柱状導体または筒状導体からなる連結部と、を有することを特徴とする。
(2)本発明のMI素子では、感磁ワイヤーを周回する検出コイルが、第一配線部と第二配線部とそれらの所定位置を連結する連結部から構成される。このうち連結部は、感磁ワイヤーが配設される基板の法線方向に延在しており、検出コイルの高低差を主に担う。このような連結部は、従来の立体パターン等とは異なり、基板の法線方向に延在するのみだから、比較的精度良く形成できる。逆にいえば、平坦な基板上に形成する第一配線部だけではなく第二配線部も、連結部を設けたことにより、ほぼ平面的な面上にフォトリソグラフィによって精細な形成が可能となった。このため、特に第二配線部の製造バラツキが抑制され、縮幅やピッチ短縮を行っても、安定した品質でMI素子を製造できるようなり、検出コイルのファインピッチ化が容易となる。こうして本発明によれば、大型化させることなく検出コイルの巻数増加も容易となり、MI素子の高出力化と小型化を高次元で両立できるようになる。
《マグネトインピーダンス素子の製造方法》
 本発明のMI素子は製造方法は問わないが、例えば、次のような本発明の製造方法により得ることができる。すなわち、本発明のマグネトインピーダンス素子の製造方法は、基板と該基板上に配設された感磁ワイヤーと該感磁ワイヤーを周回する検出コイルと該感磁ワイヤーと該検出コイルを固定する絶縁部とを備えるマグネトインピーダンス素子の製造方法であって、前記基板の平坦面上に前記感磁ワイヤーと交差し得る膜状導体からなる第一配線部となる第一配線層を形成する第一配線層形成工程と、前記絶縁部と該感磁ワイヤーの両脇にある該絶縁部を該基板の法線方向へ貫く柱状導体または筒状導体からなる連結部とを有する中間層を該第一配線層上に形成する中間層形成工程と、該感磁ワイヤーと交差する膜状導体からなる第二配線部となる第二配線層を該中間層上に形成する第二配線層形成工程とを備え、該第一配線部と該第二配線部の所定位置が該連結部で連結されて前記検出コイルが構成されることを特徴とする。
《その他》
 本発明は、単にMI素子としてのみならず、そのMI素子を用いたマグネトインピーダンスセンサーとしても把握できる。例えば、本発明は、上述したMI素子と、前記感磁ワイヤーにパルス電流を通電するパルス発振回路と、前記検出コイルに生じる電圧変化を検出する検出回路(信号処理回路等を含む)などからなるマグネトインピーダンスセンサー(MIセンサー)でもよい。なお、MIセンサーの各回路に関する詳細は、前述した特許文献等に記載されているため、本明細書ではその説明を省略する。
第一実施例に係るMI素子の平面図である。 図1中に示したA-A断面図である。 そのMI素子の上コイル(第二配線部)側を示す部分拡大図である。 第二実施例に係るMI素子の断面図である。 そのMI素子の上コイル(第二配線部)側を示す部分拡大図である。 MI素子の外側に設けたワイヤーガイドによりアモルファスワイヤーを保持する様子を示す拡大図である。 そのMI素子を分割する前の基板を示す平面図である。 ビアホールを設ける絶縁層によりアモルファスワイヤーを保持する様子を示す拡大図である。 ガイドポストによりアモルファスワイヤーを保持する様子を示す拡大図である。
 本明細書で説明する内容は、本発明のMI素子のみならず、その製造方法にも適宜該当する。製造方法に関する構成要素は、プロダクトバイプロセスクレームとして理解すれば物に関する構成要素ともなり得る。上述した本発明の構成要素に、本明細書中から任意に選択した一つまたは二つ以上の構成要素を付加し得る。いずれの実施形態が最良であるか否かは、対象、要求性能等によって異なる。
《検出コイル》
 本発明に係る検出コイルは、上述したように第一配線部と第二配線部のそれぞれの所定位置が連結部で連結されることにより、感磁ワイヤーを周回する連続的なコイルとなる。連結部と接続される第一配線部または第二配線部の所定位置は、検出コイルが形成される限り問わないが、通常は第一配線部または第二配線部の端部近傍である。
(1)配線部
 第一配線部は、通常、基板の平坦面に沿って形成された(第一)配線パターンを構成する膜状導体からなる。従って、第一配線部は基板の平坦面に平行であるが、この第一配線部を覆う絶縁部上または絶縁部中に形成された第二配線部は、必ずしも基板の平坦面にほぼ平行で平面的な(第二)配線パターンからなるとは限らない。
 しかし、第二配線部(またはその集合体である第二配線パターン)は、基板の平坦面に対して略平行に形成されると好適である。本発明では、使用する感磁ワイヤーの外径に応じて絶縁部を基板の法線方向へ貫く連結部の高さを調整することにより、そのような第二配線部の形成が容易である。この第二配線部の形成により、感磁ワイヤーへ近接させた検出コイルも安定した品質で効率的に形成され得る。なお、本明細書でいう「基板の平坦面に対して略平行」とは、MI素子の第二配線パターンが基板の平坦面に厳密な意味で平行になっている場合には限らない。例えば、製造過程等に起因して現物のMI素子の第二配線パターンがなだらかな湾曲状になる場合も、上記の「略平行」に含まれる。要するに、意図的に第二配線パターンを凸形状等にする場合を除き、一般的なフォトリソグラフィにより積層形成された第二配線部は、具体的な形態を問わず「基板の平坦面に対して略平行」な範囲に含まれる。
(2)連結部
 連結部は、基板の平坦面の法線方向に延在する柱状導体または筒状導体からなる。例えば、MI素子が積層形成される場合、いわゆるビアホールまたはスルーホールに導体を充填または付着されることにより連結部は形成される。
 連結部は、基板の法線方向に関して断面形状が一定でも良いし、変化していてもよい。例えば、本発明に係る絶縁部を三層構造とする場合なら、それぞれの絶縁部に応じた連結部を形成するとよい。すなわち、絶縁部が第一配線部上に形成された第一絶縁部と第一絶縁部上に形成され感磁ワイヤーを埋設する中間絶縁部と中間絶縁部上に形成された第二絶縁部とからなる場合、連結部は第一絶縁部を基板の法線方向へ貫き第一配線部の所定位置に連なる第一連結部と感磁ワイヤーの両脇で中間絶縁部を基板の法線方向へ貫き第一連結部に連なる中間連結部と第二絶縁部を基板の法線方向へ貫き中間連結部に連なると共に第二配線部の所定位置に連なる第二連結部とからなるとよい。
 この際、中間連結部を、第一連結部または第二連結部よりも太くすると好適である。これにより、検出コイルのファインピッチ化に対応して第一連結部や第二連結部を精細にした場合でも、第一連結部と中間連結部の間または第二連結部と中間連結部の間の接合位置の許容範囲が拡大し、各連結部間の電気的接合を安定的に行える。なお、第一絶縁部や第二絶縁部は感磁ワイヤーを固定する必要がないため比較的薄く形成でき、それに応じて第一配線部に接合される第一連結部や第二配線部に接合される第二連結部も基板の法線方向に関して比較的短くなり、バラツキの少ない安定した寸法で形成され易い。
 逆に中間絶縁部を貫く中間連結部は、感磁ワイヤーの大きさ(直径)以上の高さを確保する必要があり、基板の法線方向に比較的長くならざるを得ない。しかし、ファインピッチ化に際して重要な点は、隣接する第一配線部と第二配線部の接合部間に生じる短絡を防止すると共に、前記した製造ばらつきによる断線を防止することである。この点で本発明は、上述のように第一連結部と第二連結部を安定して形成し得ると共に、前記の通り連結部の高さを調整して第二配線部を安定した品質で形成できる。このため、ファインピッチ化の達成が容易であると共に断線の防止が効果的に図られる。また、高低差が大きく製造バラツキを生じ易い中間連結部を太くすることにより、フォトリソグラフィによる中間連結部の製造も容易となる。なお、中間連結部は、第一配線部や第二配線部と直接接続される部分ではなく、法線方向の位置が第一配線部や第二配線部と異なるため、太くても前述した短絡の問題は生じ難い。
 さらに中間連結部を太くすると、連結部全体としての電気抵抗も低減され、MI素子の高出力化にも繋がる。なお、本明細書でいう各連結部の太さは、基板の平坦面に平行な接合界面における各連結部の断面積の大小により判断できる。
 ところで、検出コイルのファインピッチ化を図る場合、第一配線部および第二配線部の縮幅化と共にそのピッチの縮小化が必要となる。この際、各配線部の幅と同程度に連結部全体を細くすることも考えられるが、基板の法線方向に長く精細な連結部を形成することは容易ではない。
 そこで連結部を感磁ワイヤーの延在方向に沿って一直線上に配列せずに、その延在方向に沿って隣接する連結部をずらして配置すると、連結部の太さをある程度確保しつつも、連結部のピッチひいては配線部のピッチの縮小化を図れる。これを換言すると、本発明に係る連結部は、感磁ワイヤーとの間隙が感磁ワイヤーの延在方向に沿った隣接間同士で異なるようにするとよいといえる。
 このような隣接する連結部の配置パターンは種々考えられる。例えば、感磁ワイヤーの片側において隣接する連結部が特定の二直線上に交互に配置される場合がある。なお、隣接する連結部のずらし量(感磁ワイヤーの間隔または偏心距離)は要求されるピッチや連結部の大きさに応じて適宜調整される。なお、ここで説明した内容は連結部の断面形状がほぼ一定の場合に限らず、連結部が上述したように断面形状の異なる第一連結部、第二連結部および中間連結部からなる場合にも該当する。
《製造方法》
 本発明のMI素子は、例えば、前述したように、基板の平坦面上に第一配線部となる第一配線層を形成する第一配線層形成工程と、感磁ワイヤーを固定する絶縁部と感磁ワイヤーの両脇で基板の法線方向へ貫く連結部とからなる中間層をその第一配線層上に形成する中間層形成工程と、第二配線部となる第二配線層をその中間層上に形成する第二配線層形成工程とを経て得られる。このような積層構造は、ビルドアップ多層配線基板の製造等に用いられるフォトリソグラフィを主に利用することにより行うことができる。
 ここで中間層を上述したような三層構造とする場合なら、中間層形成工程は次のような工程とすることができる。すなわち、中間層形成工程は、前記第一配線層上に第一絶縁部となる第一絶縁層を形成する第一絶縁層形成工程と、該第一絶縁層を前記基板の法線方向へ貫き前記第一配線部の所定位置に連なる第一連結部と該第一連結部に連なり該感磁ワイヤーの両脇で該基板の法線方向へ延びる中間連結部と該中間連結部に連なり該基板の法線方向へ延びて前記第二配線部の所定位置に連なり得る第二連結部とを形成する連結部形成工程と、該第一絶縁層上に前記感磁ワイヤーを埋設する中間絶縁部となる中間絶縁層を形成する中間絶縁層形成工程と、該中間絶縁層上に該第二連結部を囲繞する第二絶縁部となる第二絶縁層を形成する第二絶縁層形成工程とからなり、該第一絶縁層と該中間絶縁層と該第二絶縁層により前記絶縁部が構成され、該第一連結部と該中間連結部と該第二連結部により前記連結部が構成されると好適である。
 ここで連結部の形成は、例えば、Ti/Cuシード層の形成と銅メッキ処理等により行うことができる。具体的には、予めフォトリソグラフィによりビアホールを設けた絶縁層を形成し、このビアホール内に銅めっきを充填する方法で連結部を形成できる。この他、フォトリソグラフィにより連結部に相応するビアホールを設けた樹脂層を形成し、このビアホール内にメッキを充填する。そしてその樹脂層を除去した後に、再度、絶縁層を形成して連結部を形成しても良い。生産性等を考慮して、最適な製造方法を適宜選択すればよい。なお、連結部が第一連結部、中間連結部および第二連結部からなる場合、それら各部を別々に形成することも可能であるが、それら各部を一度にまとめて形成する方が効率的である。
《第一実施例》
 本発明に係る一実施例であるMI素子1の概要を図1~図3に示した。図1はMI素子1の平面図であり、図2は図1中に示したA-A断面図であり、図3は後述する検出コイル13の上コイル132側(アモルファスワイヤー12は省略)を示す部分拡大図である。
 MI素子1は、基板11と、基板11上に配設されたアモルファスワイヤー12(感磁ワイヤー)と、アモルファスワイヤー12の外周囲を周回する検出コイル13と、アモルファスワイヤー12および検出コイル13を保持する絶縁樹脂体14(絶縁部)とからなる。
 検出コイル13は、基板11の平坦面に形成されアモルファスワイヤー12の下方を斜め方向に横断する複数の銅箔(膜状導体)からなる下コイル(第一配線部)131と、アモルファスワイヤー12の両脇にあり各下コイル131の各端部から基板11の平坦面の法線方向へ延在する銅柱(柱状導体)からなるポスト133、134(連結部)と、絶縁樹脂体14の上面に形成されアモルファスワイヤー12の上方を斜め方向に横断すると共各端部がポスト133、134と接合された複数の銅箔からなる上コイル(第二配線部)132とからなる。
 なお、各下コイル131と各上コイル132は、幅および長さが同じであるが、アモルァスワイヤー12の延在方向に対する傾きが異なっている(図2参照)。つまり、下コイル131および上コイル132は、それぞれ螺旋的な検出コイル13の一部を構成する形態となっている。同様に、下コイル131とポスト133、134の下端部との接合位置および上コイル132とポスト133、134の上端部との接合位置も、アモルファスワイヤー12の延在方向に関して螺旋的に配置される。こうして下コイル231、上コイル232およびポスト133、134により、アモルファスワイヤー12を周回する検出コイル13が形成される。
 ちなみに、本実施例の場合、基板11にはアルミナ(セラミック/非磁性体)基板を用いた。なお、本発明で使用する基板の材質、大きさ等は特に限定されず、アルミナ基板以外に例えばシリコンウェハも使用してもよい。またアモルファスワイヤー12には、Co-Fe-Si-B系合金からなる直径:10~30μmのガラス被覆付きワイヤーを用いた。
 下コイル131からなる下配線層(第一配線層)の形成(第一配線層形成工程)、絶縁樹脂体14およびポスト133、134からなる中間層の形成(中間層形成工程)および上コイル132からなる上配線層(第二配線層)の形成(第二配線層形成工程)は、主にフォトリソグラフィにより行った。具体的には、薄いTi/Cuシード層の形成、レジストの塗布、マスクによる露光、現像、銅メッキ、レジスト除去、選択エッチングによるTi/Cuシード層除去等を行うことにより形成した。この際、上コイル132からなる上配線層は、基板11の平坦面とほぼ平行になるように形成した。またポスト133、134は、絶縁樹脂体14からなる絶縁層に設けたビアホールを銅メッキで充填することにより形成した。絶縁樹脂体14は、基板11の平坦面上に配置したアモルファスワイヤー12の周囲へ溶剤で希釈した液状のエポキシ樹脂を滴下し、このエポキシ樹脂を熱硬化させることにより形成した。
 なお、基板11の平坦面上にはアモルファスワイヤー12の端子141、142と検出コイル13の端子151、152も、下コイル131と共に形成した。
《第二実施例》
 本発明に係る別の実施例であるMI素子2の概要を図4および図5に示した。図4は、図2と同様な断面図であり、図5は後述する検出コイル23の上コイル232側(アモルファスワイヤー12は省略)を示す部分拡大図である。なお、前述した第一実施例と同様な部材等には同符号を付し、それらの説明は省略する。また、MI素子2を特定位置で切断した断面図には、本来、ポスト(連結部)やコイル(配線部)の一部が現れないが、図4に示す断面図には、後述の説明の都合上、あえて全てのコイルやポストを記載した。
 MI素子2は、基板11と、基板11上に配設されたアモルファスワイヤー12と、アモルファスワイヤー12の外周囲を周回する検出コイル23と、アモルファスワイヤー12および検出コイル23を保持する絶縁樹脂体24(絶縁部)とからなる。
 検出コイル23は、基板11の平坦面に形成されアモルファスワイヤー12の下方を斜めに横断する交互にずれた同長の銅箔からなる下コイル231a、231b(両者を併せて「下コイル231」という。/第一配線部)と、アモルファスワイヤー12の下方両脇にあり各下コイル231の各端部から基板11の平坦面の法線方向へ延在する小径の銅柱からなる外側下ポスト235a、236aおよび内側下ポスト235b、236b(これらを併せて「下ポスト235、236」という。/第一連結部)と、アモルファスワイヤー12の中央両脇にあり外側下ポスト235a、236aおよび内側下ポスト235b、236bのそれぞれから基板11の平坦面の法線方向へ延在する大径の銅柱からなる外側中ポスト233a、234aおよび内側中ポスト233b、234b(これらを併せて「中ポスト233、234」という。/中間連結部)と、アモルファスワイヤー12の上方両脇にあり外側中ポスト233a、234aおよび内側中ポスト233b、234bのそれぞれから基板11の平坦面の法線方向へ延在する小径の銅柱からなる外側上ポスト237a、238aおよび内側上ポスト237b、238b(これらを併せて「上ポスト237、238」という。/第二連結部)と、絶縁樹脂体24の上面に形成されアモルファスワイヤー12の上方を斜めに横断する長短の複数の銅箔からなる上コイル232a、232b(両者を併せて「上コイル232」という。/第二配線部)とからなる。
 絶縁樹脂体24は、下コイル231上に形成され下ポスト235、236を囲繞する下絶縁部241(第一絶縁部)と、下絶縁部241上に形成され中ポスト233、234を囲繞する中絶縁部242(中間絶縁部)と、中絶縁部242上に形成され上ポスト237、238を囲繞する上絶縁部243(第二絶縁部)とからなる。
 このようにMI素子2は、下コイル231と上コイル232の間が、下ポスト235、236と下絶縁部241からなる第一層と中ポスト233、234と中絶縁部242からなる中間層と上ポスト237、238と上絶縁部243からなる第二層との三層からなっている。
 またMI素子2の場合、アモルファスワイヤー12の延在方向に沿って、下ポスト235、236、中ポスト233、234および上ポスト237、238(これらを併せて単に「ポスト239」(連結部)という。)が、アモルファスワイヤー12との距離が近い内側とその距離が遠い外側の二列に配置されている。つまり、アモルファスワイヤー12の延在方向に沿って隣接する各ポスト239は、交互にずれた千鳥配置となっている。
 これらポスト239の配置に合わせて下コイル231および上コイル232は図5に示すように形成されている。具体的にいうと、下コイル231aの各端部は下ポスト235a、236bと連結しており、下コイル231bの各端部は下ポスト235b、236aと連結している。また、上コイル232aの各端部は外側上ポスト237a、238aと連結しており、上コイル232bの各端部は内側上ポスト237b、238bと連結している。下コイル231aと下コイル231bはそれぞれ同幅、同長であるが、アモルファスワイヤー12の延在方向に沿った隣接間で配置が交互にずれている。上コイル232aと上コイル232bは同幅であるが、上コイル232aは両端部が外側上ポスト237a、238aと接合されるため、両端部が内側上ポスト237b、238bと接合される上コイル232bよりも長くなっている。上コイル232aと上コイル232bがアモルファスワイヤー12の延在方向に沿って隣接間で交互に配置される点は下コイル231の場合と同様である。
 このようにして下コイル231、上コイル232およびポスト239がアモルファスワイヤー12の延在方向に沿って螺旋的に配置されることにより、アモルファスワイヤー12を周回する検出コイル23が構成される。
 本実施例に係る検出コイル23では、アモルファスワイヤー12の延在方向に沿って隣接する各ポスト239が千鳥配置となっているため、中ポスト233、234を下ポスト235、236や上ポスト237、238よりも太くしているにも拘わらず、それらの配置間隔(ピッチ)を短縮できている。このため、アモルファスワイヤー12の延在方向に関する検出コイル23のピッチも短縮でき、その結果、MI素子2のファインピッチ化による高出力化と小型化の両立が可能となった。
 このようなMI素子2も、MI素子1と同様なフォトリソグラフィにより、下コイル231からなる下配線層(第一配線層)の形成(第一配線層形成工程)、絶縁樹脂体24およびポスト239からなる中間層の形成(中間層形成工程)および上コイル232からなる上配線層(第二配線層)の形成(第二配線層形成工程)を経て得られる。
 より詳しくいうと、その中間層は、下配線層上に下絶縁部241となる第一絶縁層の形成(第一絶縁層形成工程)、第一絶縁層を基板11の法線方向へ貫く下ポスト235、236(第一連結部)と下ポスト235、236に連なり基板11の法線方向へ延びる中ポスト233、234(中間連結部)と中ポスト233、234に連なり基板11の法線方向へ延びる上ポスト237、238(第二連結部)との形成(連結部形成工程)、第一絶縁層上にアモルファスワイヤー12を埋設する中絶縁部242(中間絶縁部)となる中間絶縁層の形成(中間絶縁層形成工程)、中間絶縁層上に上絶縁部243(第二絶縁部)となる第二絶縁層の形成(第二絶縁層形成工程)等を経て製作される。そして、下絶縁部241、中絶縁部242および上絶縁部243が絶縁樹脂体24(絶縁部)となり、下ポスト235、236、中ポスト233、234および上ポスト237、238がポスト239(連結部)となる。
 なお、本実施例に係る上コイル232は、下コイル231と同様に基板11の平坦面に対して平行になるように形成したが、実際には少し上に凸な緩やかな湾曲面状となった。この程度の湾曲面は、基板11の平坦面に対してほぼ平行といえる。
《感磁ワイヤーの配設》
(1)感磁ワイヤーが第一配線部と第二配線部とそれらを連結する連結部からなる検出コイル内の所望位置(通常は検出コイルの中央)に正確に配設されていないと、MI素子による検出精度が低下したり、感磁ワイヤーと検出コイルの短絡による動作不良が発生し得る。
 そこでMI素子は、ワイヤーガイド等により感磁ワイヤーが所望位置に保持された状態で検出コイルや絶縁部が形成されると好適である。このようなワイヤーガイドは、MI素子の構成要素(検出コイルや絶縁部)やそれらの製造工程とは別に設けたものでも良いし、それらの構成要素や製造工程を利用して設けたものでもよい。以下、このようなワイヤーガイドの具体例について説明する。
(2)先ず、MI素子の構成要素とは別に専用のワイヤーガイドを設けて感磁ワイヤーを所望位置に保持する例を図6Aと図6Bに示した。図6Aは1個のMI素子1を拡大した図であり、図6Bは同一基板11上に多数配列されている分割前のMI素子1を示している。本例では、MI素子1の両側に事前に形成された溝31m、32mにより、アモルファスワイヤー12は所望位置に正確に配置、保持される。なお、溝31m、32mは、上述したフォトリソグラフィに隣接して配置された絶縁樹脂製の樹脂ガイド31a、31bと樹脂ガイド32a、32bとにより形成される。
(3)次に、MI素子の構成要素を利用したワイヤーガイドにより感磁ワイヤーを所望位置に保持する例を図7に拡大して示した。本例では、MI素子1のポスト133、134を形成するために設けたビアホール用の絶縁樹脂層41に形成した長手方向に延在する溝41mによって、アモルファスワイヤー12が所望位置に正確に配置、保持される。この場合、上述した樹脂ガイド等のワイヤーガイドをMI素子の外部に別途設ける必要がないため、同一基板上に分割前のMI素子をより近接して配置できる。この結果、基板1枚あたりに製造できるMI素子の個数を増加させることができ、基板の有効活用(歩留まり向上)が可能となる。さらに、基板を切断してMI素子の複数個取りをする場合、その切断線(図6A、図6Bの2点鎖線を参照)上に樹脂ガイドなどの樹脂層がないと、基板(シリコン、セラミックス等)に特化した切断条件を設定でき、効率的な切断が可能となる。
(4)また、上述したビアホールとなる樹脂層(絶縁部)に替えて、所望間隔に調整されたポスト(連結部)を利用することもできる。例えば、MI素子2の場合なら、アモルファスワイヤー12により近い内側中ポスト233b、234b(図4参照)をワイヤーガイドとして利用することもできる。この際、導体であるポストとアモルファスワイヤーは絶縁される必要があるため、感磁ワイヤーには絶縁被覆されたアモルファスワイヤーを用いると好ましい。
(5)さらに、ポストの形成時等に、MI素子の外部または内部に、検出コイルを構成するポストとは別にワイヤーガイドとなるガイドポストを形成してもよい。一例として、MI素子2の内側中ポスト233b、234bよりも狭い間隔のガイドポスト51a、51b、52a、52bをMI素子2の外部に形成した場合を図8に示した。この場合、アモルファスワイヤー12は、ガイドポスト51a、51bにより形成される溝51mとガイドポスト52a、52bにより形成される溝52mにより所望位置に配置、保持される。このように内側中ポスト233b、234bよりも間隔が狭いガイドポスト51a、51b、52a、52bをワイヤーガイドとすることにより、内側中ポスト233b、234bをワイヤーガイドとした場合と異なり、絶縁被覆されていない感磁ワイヤを用いることもできる。
 なお、このようなガイドポストは、検出コイルを構成するポストと同様に銅メッキなどにより形成されるため、MI素子内に設けるときは、検出コイルを構成する下コイル、上コイル、ポストと接触しない形態(径、高さ)や配置とするとよい。ちなみに、ガイドポストは、図8のようにMI素子の外部に設けられたとしても、前述した絶縁樹脂からなる樹脂ガイド(図6A、図6B参照)よりも小さく形成され得るため、基板の材料歩留低下や切断性の低下等は殆ど生じない。
 1、2   MI素子
 11    基板
 12    アモルファスワイヤー(感磁ワイヤー)
 13、23 検出コイル
 14、24 絶縁樹脂体(絶縁部)

Claims (6)

  1.  基板と、
     該基板上に配設された感磁ワイヤーと、
     該感磁ワイヤーを周回する検出コイルと、
     該感磁ワイヤーと該検出コイルを固定する絶縁部と、
     を備えるマグネトインピーダンス素子であって、
     前記検出コイルは、
     前記基板の平坦面に沿って形成され前記感磁ワイヤーと交差する膜状導体からなる第一配線部と、
     該感磁ワイヤーに関して該第一配線部の反対側に形成され該感磁ワイヤーと交差する膜状導体からなる第二配線部と、
     該感磁ワイヤーの両脇で前記絶縁部に囲繞され該基板の法線方向へ延在して該第一配線部と該第二配線部の所定位置を連結する柱状導体または筒状導体からなる連結部と、
     を有することを特徴とするマグネトインピーダンス素子。
  2.  前記第二配線部は、前記基板の平坦面に対して略平行に形成されている請求項1に記載のマグネトインピーダンス素子。
  3.  前記絶縁部は、前記第一配線部上に形成された第一絶縁部と該第一絶縁部上に形成され前記感磁ワイヤーを埋設する中間絶縁部と該中間絶縁部上に形成された第二絶縁部とからなり、
     前記連結部は、該第一絶縁部を前記基板の法線方向へ貫き該第一配線部の所定位置に連なる第一連結部と該感磁ワイヤーの両脇で該中間絶縁部を該基板の法線方向へ貫き該第一連結部に連なる中間連結部と該第二絶縁部を該基板の法線方向へ貫き該中間連結部に連なると共に前記第二配線部の所定位置に連なる第二連結部とからなり、
     前記中間連結部は、前記第一連結部または前記第二連結部よりも太い請求項1または2に記載のマグネトインピーダンス素子。
  4.  前記連結部は、前記感磁ワイヤーとの間隙が該感磁ワイヤーの延在方向に沿った隣接間同士で異なる請求項1~3のいずれかに記載のマグネトインピーダンス素子。
  5.  基板と該基板上に配設された感磁ワイヤーと該感磁ワイヤーを周回する検出コイルと該感磁ワイヤーと該検出コイルを固定する絶縁部とを備えるマグネトインピーダンス素子の製造方法であって、
     前記基板の平坦面上に前記感磁ワイヤーと交差し得る膜状導体からなる第一配線部となる第一配線層を形成する第一配線層形成工程と、
     前記絶縁部と該感磁ワイヤーの両脇にある該絶縁部を該基板の法線方向へ貫く柱状導体または筒状導体からなる連結部とを有する中間層を該第一配線層上に形成する中間層形成工程と、
     該感磁ワイヤーと交差する膜状導体からなる第二配線部となる第二配線層を該中間層上に形成する第二配線層形成工程とを備え、
     該第一配線部と該第二配線部の所定位置が該連結部で連結されて前記検出コイルが構成されることを特徴とするマグネトインピーダンス素子の製造方法。
  6.  前記中間層形成工程は、
     前記第一配線層上に第一絶縁部となる第一絶縁層を形成する第一絶縁層形成工程と、
     該第一絶縁層を前記基板の法線方向へ貫き前記第一配線部の所定位置に連なる第一連結部と該第一連結部に連なり該感磁ワイヤーの両脇で該基板の法線方向へ延びる中間連結部と該中間連結部に連なり該基板の法線方向へ延びて前記第二配線部の所定位置に連なり得る第二連結部とを形成する連結部形成工程と、
     該第一絶縁層上に前記感磁ワイヤーを埋設する中間絶縁部となる中間絶縁層を形成する中間絶縁層形成工程と、
     該中間絶縁層上に該第二連結部を囲繞する第二絶縁部となる第二絶縁層を形成する第二絶縁層形成工程とからなり、
     該第一絶縁層と該中間絶縁層と該第二絶縁層により前記絶縁部が構成され、
     該第一連結部と該中間連結部と該第二連結部により前記連結部が構成される請求項5に記載のマグネトインピーダンス素子の製造方法。
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