WO2016150783A1 - Procede de mesure de la modulation de frequence d'une source laser - Google Patents

Procede de mesure de la modulation de frequence d'une source laser Download PDF

Info

Publication number
WO2016150783A1
WO2016150783A1 PCT/EP2016/055639 EP2016055639W WO2016150783A1 WO 2016150783 A1 WO2016150783 A1 WO 2016150783A1 EP 2016055639 W EP2016055639 W EP 2016055639W WO 2016150783 A1 WO2016150783 A1 WO 2016150783A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
laser source
frequency
modulation
measuring
delay
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/EP2016/055639
Other languages
English (en)
Inventor
Jean Minet
Grégoire PILLET
Patrick Feneyrou
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thales SA
Original Assignee
Thales SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thales SA filed Critical Thales SA
Priority to JP2017550213A priority Critical patent/JP6770971B2/ja
Priority to BR112017020546-7A priority patent/BR112017020546B1/pt
Priority to ES16711211T priority patent/ES2900840T3/es
Priority to CN201680026440.1A priority patent/CN107810396B/zh
Priority to CA2980954A priority patent/CA2980954C/fr
Priority to EP16711211.9A priority patent/EP3274678B1/fr
Priority to US15/561,057 priority patent/US10317288B2/en
Publication of WO2016150783A1 publication Critical patent/WO2016150783A1/fr
Priority to IL254667A priority patent/IL254667B/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/04—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by beating two waves of a same source but of different frequency and measuring the phase shift of the lower frequency obtained
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497—Means for monitoring or calibrating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06—Systems determining position data of a target
    • G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/32—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated
    • G01S17/34—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated using transmission of continuous, frequency-modulated waves while heterodyning the received signal, or a signal derived therefrom, with a locally-generated signal related to the contemporaneously transmitted signal
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/491—Details of non-pulse systems
    • G01S7/4911—Transmitters
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/0014—Measuring characteristics or properties thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/06209—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in single-section lasers
    • H01S5/0622—Controlling the frequency of the radiation

Definitions

  • the field of the invention is that of measuring and possibly controlling the frequency modulation of a laser source.
  • a laser source 1 with a modulation voltage command 1 1 corresponding to a frequency setpoint f 0 (t), provided with a digital set storage unit 1 1 1 and a converter 1 12 of these instructions digital to analog signals f 0 (t),
  • a Mach-Zehnder type two-arm interferometer with a delay line 21 on one arm and on the other an acousto-optic modulator (or "MAO") 22 itself associated with an RF generator 221, and two couplers allowing one 23 to separate preferably into two equal parts and the other 24 to recombine the light passing in both arms,
  • MAO acousto-optic modulator
  • a photodiode 3 adapted to convert the signal of luminous intensity of beat coming from the interferometer, into an analog electrical signal
  • a device 4 for measuring the signals supplied by the photodiode 3 which comprises a converter 41 of these analog signals in digital signals, a converter 42 of the analog signals of the generator in digital signals and reciprocally connected to the generator 221, and a storage unit 43 at predetermined times digital signals from converters 41 and 42,
  • the frequency is determined from the analysis of the signal obtained at the output of the interferometer; it is a beat signal between the two signals emerging respectively from the two arms.
  • the signal measured by the photodiode (excluding DC component) is then:
  • phase difference ⁇ ( ⁇ ) - ⁇ ( ⁇ - ⁇ ) is characteristic of the frequency / (t) of the laser according to the following relation:
  • This method is based on the frequency translation induced by the acousto-optic modulator.
  • Acousto-optical modulators are components that can directly penalize the size, mass, power consumption, reliability, and cost of the systems in which they are used. These penalties can also be indirect. For example, it may be necessary to electromagnetic shield the detection chain due to interference from the acousto-optic modulator. In addition, it can also be noted that the work at high intermediate frequencies requires the implementation of a more complex detection chain. Other solutions make it possible to measure the frequency modulation of the laser source. The simplest solution is based on the use of an "unambiguous" interferometer in the vicinity of the phase quadrature, such as for example a Mach-Zehnder interferometer with a very short delay or an optical resonator with a large spectral interval. free. An example of a system of this type equipped with a Fabry-Perot resonator is shown in FIG. He understands :
  • a laser source 1 with a modulation voltage command 1 1 corresponding to a frequency setpoint f 0 (t), provided with a digital set storage unit 1 1 1 and a converter 1 12 of these instructions digital to analog signals f 0 (t),
  • a photodiode 3 able to convert the light intensity signal coming from the resonator 2 into an analog electrical signal
  • a device 4 for measuring the signals supplied by the photodiode 3 which comprises a converter 41 of these analog signals in digital signals, and a storage unit 43 at predetermined times of the digital signals coming from the converter 41,
  • a synchronization device 6 between the storage unit 43 and the voltage control 1 1.
  • a final solution consists in simultaneously measuring the in-phase component and the quadrature component of the interferometric signal derived from a double-arm double interferometer.
  • An example of a system of this type with a Mach Zehnder interferometer is shown in Figure 1c. He understands :
  • a laser source 1 with a modulation voltage command 1 1 corresponding to a frequency setpoint f 0 (t), provided with a digital set storage unit 1 1 1 and a converter 1 12 of these instructions digital to analog signals f 0 (t),
  • a Mach-Zehnder type two-arm interferometer with a coupler 23 for separating, in two equal parts, the light received from the coupler 1 2, and on one arm a delay line 21; the light signal on the other arm is separated by a coupler 25 into:
  • a first photodiode 31 capable of converting into a first analog electrical signal, the signal of luminous intensity of beat between the delayed signal and the in-phase component, coming from the interferometer,
  • a second photodiode 32 adapted to convert into a second analog electrical signal, the signal of luminous intensity of beat between the delayed signal and the quadrature component, coming from the interferometer,
  • a device 4 for measuring the signals supplied by the photodiodes 31, 32 which comprises a converter 41 connected to the first diode 31, a converter 42 connected to the second diode 32, and a storage unit 43 at predetermined times of the digital signals from converters 41 and 42,
  • a synchronization device 6 between the storage unit 43 and the voltage control 1 1.
  • This technique is interesting because it makes it possible to obtain a good precision / dynamic compromise by using interferometers of great fineness (i.e. having a long delay).
  • This technique eliminates acousto-optic modulator. Nevertheless, it requires a quarter-wave plate fixed in time. Moreover, it requires a very precise control of the phase, the acquisition of two signals simultaneously and the good knowledge of the factors A, B, C, D which depend on the incident power, the balance of the power of the channels, and which are thus likely to drift over time.
  • the object of the invention is to overcome these disadvantages. Consequently, there remains to date a need for a method for measuring the frequency modulation of a laser source, simultaneously giving satisfaction to all of the aforementioned requirements, in terms of a good compromise between accuracy / dynamics and cost, congestion and reliability of the system used to implement the method.
  • the measurement of the frequency modulation of a laser source is also obtained by means of a two-armed interferometer (Mach-Zehnder or Michelson type, for example), one of the two arms being delayed, but under the following conditions of use:
  • the modulation signal is periodic and
  • the beat measurements are acquired over different modulation periods under different interference conditions based on a phase difference between the arms of the interferometer which varies little over a period of frequency modulation (typically a few hundreds of ⁇ ) but considerably at the scale of the repetition period of the measurement (a few seconds). This makes it possible to virtually build the in-phase component and the quadrature component of the interferometric signal. We then deduce the frequency modulation of the laser.
  • the subject of the invention is a method for measuring the frequency modulation f (t) of a laser source which comprises the following steps:
  • the delay ⁇ evolves temporally over several periods T (in practice ⁇ evolves significantly with respect to ⁇ / c typically> 10% ⁇ / c, but little relative typically ⁇ 1%, where c denotes the speed of light) ,
  • the measurements made at time t during the same period are repeated at t + kT, with k> 1 and in that the delay ⁇ has evolved from one iteration to the other.
  • This method makes it possible to measure the modulation frequency of a laser source with a good precision / dynamic compromise using a simple two-armed interferometer that does not include an acousto-optical modulator. This makes it possible to overcome the drawbacks associated with the use of this component (cost, size, reliability, etc.).
  • the proposed solution is based on an analysis of a signal that can be low frequency which then allows to relax some constraints on the chain of detection and signal processing, such as constraints on the sampler.
  • the calculation preferably comprises:
  • this projection being parameterized by an angle function of f (t).
  • this function is advantageously developed in the first order and the projection is then parameterized by an angle proportional to f (t).
  • the period T is typically of the order of a few ⁇ (from 5 ⁇ to 1 ms), and the delay ⁇ typically changes over a period ranging from one hundred milliseconds to one minute (from 100 ms to 1 min).
  • the temporal variation of the delay ⁇ is stimulated by means of a piezoelectric device.
  • the invention can be used to calibrate the control signal to best approximate a frequency modulation predefined by the user.
  • the invention also relates to a method of calibrating the frequency of the laser source of a lidar according to a set f 0 (t), which comprises the following steps:
  • the number of iterations is generally less than 1 0.
  • the invention also relates to a computer program, said computer program comprising code instructions for performing the steps of the method as described, when said program is executed on a computer.
  • the invention also relates to a system for measuring the frequency modulation f (t) of a laser source which comprises:
  • a synchronization device connected to the modulation control and to the processing unit
  • the interferometer is for example of the Mach-Zehnder type or
  • the interferometer does not include an acousto-optic modulator.
  • FIGS. 1 schematically represent exemplary systems for measuring the frequency modulation of a laser source according to the state of the art, with a Mach Zehnder two-arm interferometer equipped with a MAO (FIG. 1 a), with an optical resonator (FIG. 1b), or with a two-armed interferometer able to measure the in-phase component and the quadrature component of the interferometric signal (FIG. 1 c),
  • FIGS. 2 schematically represent an example of a system for measuring the frequency modulation of a laser source capable of implementing the method according to the invention, using a Mach-Zehnder interferometer (FIG. 2a) or a Michelson interferometer (FIG. fig 2b),
  • FIGS. 3 schematically represent an example of a trajectory of the vector representative of the measurements obtained over 2 periods, with an elliptical trajectory (FIG. 3a) and the transformation of this trajectory into a circle so as to directly obtain the frequency at a constant constant (FIG. 3b). )
  • FIG. 4a schematically represents the projection in a three-dimensional space composed of the three main components of an exemplary trajectory of the vector representative of the measurements obtained over 400 periods with then an elliptically based cylindrical trajectory
  • FIG. 4b schematically represents the trajectory of FIG. 4a projected on a plane almost perpendicular to the axis of the cylinder and normalized in a circle
  • the corresponding frequency reconstruction is shown in FIG. 4c
  • FIG. 5 illustrates various steps of a method of calibrating the frequency of a laser source according to the invention
  • FIG. 6 schematically represents an example of modulation errors obtained after i iterations.
  • FIG. 2a a first example of a measuring system capable of carrying out the method according to the invention is described. He understands :
  • a laser source 1 with a modulation voltage command 1 1 corresponding to a frequency set f 0 (t), provided with a unit
  • a Mach-Zehnder 2 interferometer with two arms, with a delay line 21 on one of its arms, and two couplers allowing one to separate preferably in two equal parts and the other 24 to recombine light passing in both arms,
  • a photodiode 3 able to convert the light intensity signal coming from the interferometer 2 into an analog electrical signal
  • a device 4 for measuring the signals supplied by the diode 3 which comprises a converter 41 of these analog signals in digital signals, and a storage unit 43 at predetermined times of the digital signals coming from the converter 41,
  • FIG. 2b Another example of a measuring system capable of implementing the method according to the invention is described in relation with FIG. 2b, in which the Mach-Zehnder interferometer of the preceding example is replaced by a Michelson interferometer.
  • This system includes:
  • a laser source 1 with a modulation voltage command 1 1 corresponding to a frequency set f 0 (t), provided with a unit 1 1 1 storage of digital setpoints and a converter 1 12 of these digital setpoints in analog signals f 0 (t),
  • a coupler 12 taking a part of the emitted light to send it to an interferometer 2.
  • a Michelson-type two-arm interferometer 2 with a mirror 26, for example a Faraday mirror at the end of each arm, a delay line 21 on one of its arms, and a coupler 23 allowing:
  • a photodiode 3 able to convert the light intensity signal coming from the interferometer 2 into an analog electrical signal
  • a device 4 for measuring the signals supplied by the diode 3 which comprises a converter 41 of these analog signals in digital signals, and a storage unit 43 at predetermined times of the digital signals coming from the converter 41,
  • the level of the interference signal is constant even when optical fibers are used without maintaining polarization.
  • a portion of the laser field 1 is injected into the interferometer 2, one of the two arms is shifted by a delay (or delay) ⁇ by the delay line 21; the other part is intended for a telemetry or anemometry application for example, which as can be seen in FIGS. 2a or 2b does not intervene in the source modulation process (the telemetry signal or the anemometry is not used for modulation of the source).
  • the interference signal from the interferometer is then converted into an electrical signal using a photodiode 3, then converted into a digital signal by the converter 41 to be stored in a buffer (buffer) 43.
  • a synchronization device 6 is used to synchronize the acquisition of the signal by the memory 43 with the frequency modulation instruction of the command 1 1. The acquisition of several modulation periods allows a processing unit 5 to reconstruct the frequency modulation of the laser 1 using an original method.
  • the method according to the invention operates if the different modulation periods have been acquired under different interference conditions. This can be obtained "naturally”, for example because of a thermal drift of the interferometer or a wavelength drift of the laser. It can also be stimulated, for example if one of the two arms of the interferometer comprises a phase modulation system (of the order of TT / 2). Since this phase modulation is at a low frequency (typically less than 10 Hz), it can be obtained simply by a piezoelectric effect or a thermal effect.
  • ⁇ (t) groups together the phase variation associated with the frequency modulation and ⁇ ( ⁇ ) comprises all the terms associated with the average frequency and the parasitic phase fluctuations (resulting for example from phase noise).
  • ⁇ ( ⁇ , ⁇ ) is a phase which depends on the optical path variation between the arms of the interferometer 2 but which fluctuates little in the period of the frequency modulation.
  • ⁇ evolves significantly with respect to ⁇ / c (typically ⁇ > 10% ⁇ / c, where c denotes the speed of light and ⁇ the wavelength of the source) but evolves little in relative (typically less than 1% or ( ⁇ ⁇ ⁇ ) ⁇ 0.01, ⁇ being the evolution of ⁇ over a period T).
  • the treatment developed aims to isolate the contribution of the frequency f (t) with respect to the phase fluctuations ⁇ ( ⁇ , ⁇ ), that is to say, to be freed from ⁇ ( ⁇ , ⁇ ) to a constant close .
  • This processing assumes that the modulation signal is periodic (of period T) and uses two time scales to measure the frequency f (t):
  • Xi (t) x ⁇ t - kjT) with 1 ⁇ i ⁇ m, k t GN, 0 ⁇ t ⁇ T.
  • the measurements of x, (t) at these times kfT are called homologous.
  • the reconstruction of the frequency emitted by the laser can only be performed after several measurement periods spaced by a longer time scale.
  • the point P has for coordinates (cos (a (t) + ⁇ ), cos (a (t) + ⁇ 2 )).
  • a technique consists of transforming the ellipse into a circle so as to find a natural definition (ie, an angle) for a. For this, we can perform the following operations:
  • Figure 3a is transformed into Figure 3b: a is then, to a constant, directly the phase of the point along the circle.
  • x (t) must describe an ellipse in a well chosen plane of R m .
  • ⁇ ⁇ x (t) x (t) T > is calculated then diagonalized to define the eigenvectors v, and the eigenvalues ⁇ ,:
  • the period T is between 10 and 800 ⁇ and the delay r typically changes over a period of between 1 s and 300 s.
  • the points are organized on an elliptical cylinder of axis w 0 .
  • a criterion C (w) such as the variance of the norm relative to the square of the norm (we choose the projection plane to obtain the most circular shape possible ): where pw (x) denotes the projection of x along the axis w.
  • This method can in particular be used to calibrate the frequency of the laser source of a Lidar according to a set f 0 (t), without using MAO.
  • Such a procedure makes it possible to dispense with the possible drifts of the laser transfer function (related to the temperature, the aging of the diode, etc.).
  • the main calibration steps described in connection with FIG. 5 proceed as follows.
  • a first step is to define a linear transformation between the control voltage and the frequency of the laser.
  • This linear transformation can advantageously be obtained by measuring the transfer function of the frequency modulation. This is then achieved by sending a known white noise for example over a frequency band between 0 and 150 kHz, as the control voltage of the modulation of the form.
  • a first voltage to be applied to the laser diode is calculated, using a linear transformation of this setpoint, for example using the modulation transfer function such as:
  • the processing of the beat signal can be implemented from hardware and / or software elements. It may be available as a computer program product recorded on a computer readable medium, which computer program includes code instructions for performing the steps of the reconstruction process.
  • the support can be electronic, magnetic, optical, electromagnetic or be an infrared type of diffusion medium. Such supports are, for example, Random Access Memory RAMs (ROMs), magnetic or optical tapes, disks or disks (Compact Disk - Read Only Memory (CD-ROM), Compact Disk - Read / Write (CD-R / W) and DVD).

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

L'invention a pour objet un procédé de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser qui comprend les étapes suivantes : - modulation de la source laser selon une période T, par une commande de modulation, - au cours d'une même période T, réalisation de plusieurs mesures d'une intensité lumineuse de battement entre deux bras d'un interféromètre situé en aval de la source laser et apte à introduire un retard τ entre les deux bras, ces mesures étant synchronisées avec la commande de la modulation, - calcul de la fréquence f(t) à partir des mesures, - pendant chaque période T, f(t) varie mais le retard τ est considéré constant, - le retard τ évolue temporellement sur plusieurs périodes T, - les mesures effectuées à l'instant ti au cours d'une même période sont réitérées à ti+k T, avec k≥1 et en ce que le retard τ a évolué d'une itération à l'autre.

Description

PROCEDE DE MESURE DE LA MODULATION DE FREQUENCE D'UNE SOURCE LASER
Le domaine de l'invention est celui de la mesure et éventuellement du contrôle de la modulation de fréquence d'une source laser.
Jusqu'à présent, la mesure de la modulation de fréquence d'une source laser était le plus souvent obtenue à l'aide d'un interféromètre de type Mach-Zehnder ou de type Michelson dont l'un des deux bras comportait un modulateur acousto-optique. Un exemple d'un système de ce type est montré figure 1 a. Il comprend :
- une source laser 1 , avec une commande 1 1 de tension de modulation correspondant à une consigne de fréquence f0(t), munie d'une unité 1 1 1 de stockage de consignes numériques et d'un convertisseur 1 12 de ces consignes numériques en signaux analogiques f0(t),
- un coupleur 12 prélevant une partie de la lumière émise pour l'envoyer vers un interféromètre 2,
- un interféromètre à deux bras de type Mach-Zehnder 2 avec sur un bras une ligne à retard 21 et sur l'autre un modulateur acousto-optique (ou « MAO ») 22 lui-même associé à un générateur RF 221 , et deux coupleurs permettant l'un 23 de séparer de préférence en deux parties égales et l'autre 24 de recombiner la lumière passant dans les deux bras,
- une photodiode 3 apte à convertir le signal d'intensité lumineuse de battement issu de l'interféromètre, en un signal électrique analogique,
- un dispositif 4 de mesure des signaux fournis par la photodiode 3 qui comporte un convertisseur 41 de ces signaux analogiques en signaux numériques, un convertisseur 42 des signaux analogiques du générateur en signaux numériques et réciproquement relié au générateur 221 , et une unité de stockage 43 à des instants prédéterminés des signaux numériques issus des convertisseurs 41 et 42,
- une unité de traitement 5 des signaux stockés, et de transmission d'une tension déterminée à la commande 1 1 , - un dispositif de synchronisation 6 entre l'unité de stockage 43, le modulateur acousto-optique 22 (via le convertisseur 42 et le générateur 221 ) et la commande de tension 1 1 .
La fréquence est déterminée à partir de l'analyse du signal obtenu en sortie de l'interféromètre ; il s'agit d'un signal de battement entre les deux signaux émergeant respectivement des deux bras.
Le signal mesuré par la photodiode (hors composante continue) est alors :
xÇt oc cos(<p( - <p (t - τ) + 2nfmao t)
où <p (t) est la phase de la source laser, où fmao^ la fréquence du modulateur acousto-optique et τ est le délai (ou retard) induit par la fibre optique et correspondant à la différence de trajet entre les deux bras de l'interféromètre de Mach-Zehnder 2. La différence de phase φ (ΐ) - φ (ΐ - τ) est caractéristique de la fréquence /(t) du laser selon la relation suivante :
<p (t - <p (t - T) = 2n fi_T f (t dt =z 2irûf (t) (1 )
Pour évaluer la fréquence du laser, il convient donc de calculer :
xÇt) ■ exp(-2infmao t)
puis d'appliquer un filtre passe-bas de fréquence de coupure inférieure à fmao - On trouve alors z(t) tel que :
z(t) oc exp(i«jo (t)— ίφ (ί— τ))
L'évaluation de l'argument complexe de z(t) permet enfin de déduire la fréquence du laser selon l'équation (1 ).
Cette méthode repose sur la translation de fréquence induite par le modulateur acousto-optique.
Les modulateurs acousto-optique sont des composants susceptibles de pénaliser directement la taille, la masse, la consommation électrique, la fiabilité, et le coût des systèmes dans lesquels ils sont utilisés. Ces pénalités peuvent aussi être indirectes. Par exemple, il peut être nécessaire de réaliser un blindage électromagnétique de la chaîne de détection en raison des interférences causées par le modulateur acousto- optique. De plus, on peut aussi remarquer que le travail à des fréquences intermédiaires élevées nécessite la mise en œuvre d'une chaîne de détection plus complexe. D'autres solutions permettent de mesurer la modulation de fréquence de la source laser. La solution la plus simple est basée sur l'utilisation d'un interféromètre « peu ambigu » au voisinage de la quadrature de phase, comme par exemple un interféromètre de type Mach-Zehnder comportant un délai très court ou un résonateur optique à grand intervalle spectral libre. Un exemple d'un système de ce type équipé d'un résonateur de type Fabry-Perot est montré figure 1 b. Il comprend :
- une source laser 1 , avec une commande 1 1 de tension de modulation correspondant à une consigne de fréquence f0(t), munie d'une unité 1 1 1 de stockage de consignes numériques et d'un convertisseur 1 12 de ces consignes numériques en signaux analogiques f0(t),
- un coupleur 12 prélevant une partie de la lumière émise pour l'envoyer vers un interféromètre 2,
- un résonateur de type Fabry-Perot 2,
- une photodiode 3 apte à convertir le signal d'intensité lumineuse issu du résonateur 2, en un signal électrique analogique,
- un dispositif 4 de mesure des signaux fournis par la photodiode 3 qui comporte un convertisseur 41 de ces signaux analogiques en signaux numériques, et une unité de stockage 43 à des instants prédéterminés des signaux numériques issus du convertisseur 41 ,
- une unité de traitement 5 des signaux stockés, et de transmission d'une tension déterminée à la commande 1 1 ,
- un dispositif de synchronisation 6 entre l'unité de stockage 43 et la commande de tension 1 1 .
Dans ce cas, le signal mesuré par la photodiode en sortie de l'interféromètre ou du résonateur s'écrit :
x(t) = A - F(/(t))
avec A un facteur de proportionnalité dépendant de la puissance injectée et F une fonction monotone (et donc inversible) sur la plage d'excursion possible de la fréquence /(t) = fmoy + Δ/(ί) du laser. Par exemple, dans le cas de l'interféromètre à délai court, si les puissances sont parfaitement équilibrées, nous avons :
x(t) oc cos(< (t) - φ (ΐ - τ)) + 1 ^ cos(27rr/(t)) + 1 Une condition nécessaire pour que la fonction soit inversible est que τ soit suffisamment petit pour que |2π Δ "(ί)τ| < π. Ainsi, cette technique n'est malheureusement pas adaptée aux applications pour lesquelles une grande dynamique de modulation et une grande précision de mesure sont requises simultanément. De plus, la dépendance du facteur de proportionnalité A à la puissance peut dégrader la précision de mesure de la fréquence. Enfin, la dérive du système peut engendrer une dérive de la mesure (par exemple la perte de l'équilibre de puissance entre les deux voies de l'interféromètre ou le décalage spectral de la réponse du résonateur). Une dernière solution consiste à mesurer simultanément la composante en phase et la composante en quadrature du signal interférométrique issues d'un double interféromètre à deux bras. Un exemple d'un système de ce type avec un interféromètre de type Mach Zehnder est montré figure 1 c. Il comprend :
- une source laser 1 , avec une commande 1 1 de tension de modulation correspondant à une consigne de fréquence f0(t), munie d'une unité 1 1 1 de stockage de consignes numériques et d'un convertisseur 1 12 de ces consignes numériques en signaux analogiques f0(t),
- un coupleur 1 2 prélevant une partie de la lumière émise pour l'envoyer vers un interféromètre 2,
- un interféromètre à deux bras de type Mach-Zehnder 2 avec un coupleur 23 pour séparer de préférence en deux parties égales la lumière reçue du coupleur 1 2, et sur un bras une ligne à retard 21 ; le signal lumineux sur l'autre bras est séparé par un coupleur 25 en :
o une composante en phase qui est ensuite recombinée par un coupleur 241 avec la lumière passant par l'autre bras et, o une composante en quadrature obtenue par un élément 22 tel qu'une lame quart d'onde, qui est ensuite recombinée par un coupleur 242 avec la lumière passant par l'autre bras ,
- une première photodiode 31 apte à convertir en un premier signal électrique analogique, le signal d'intensité lumineuse de battement entre le signal retardé et la composante en phase, issus de l'interféromètre,
- une seconde photodiode 32 apte à convertir en un second signal électrique analogique, le signal d'intensité lumineuse de battement entre le signal retardé et la composante en quadrature, issus de l'interféromètre,
- un dispositif 4 de mesure des signaux fournis par les photodiodes 31 , 32 qui comporte un convertisseur 41 relié à la première diode 31 , un convertisseur 42 relié à la seconde diode 32, et une unité de stockage 43 à des instants prédéterminés des signaux numériques issus des convertisseurs 41 et 42,
- une unité de traitement 5 des signaux stockés, et de transmission d'une tension déterminée à la commande 1 1 ,
- un dispositif de synchronisation 6 entre l'unité de stockage 43, et la commande de tension 1 1 .
Dans ce cas, on mesure x(f) = A■ cos(<p(t) - <p (t - τ)) + B et y(t) = C■ sin(«jo(t)— <p (t— τ)) + D où A, B, C, D sont des facteurs dépendant de la puissance injectée et de l'équilibre des puissances entre les voies des interféromètres. La connaissance parfaite de ces facteurs permet de mesurer :
x(t) - B y(t) - D
z = + i = exp i<p( - i<p(t - x))
Cette technique est intéressante car elle permet d'obtenir un bon compromis précision / dynamique par l'utilisation d'interféromètres de grande finesse (i.e. comportant un délai long). Cette technique permet de se passer de modulateur acousto-optique. Néanmoins, elle requiert une lame quart d'onde fixe dans le temps. De plus, elle nécessite un contrôle très précis de la phase, l'acquisition de deux signaux simultanément et la bonne connaissance des facteurs A, B, C, D qui dépendent de la puissance incidente, de l'équilibre des puissances des voies, et qui sont ainsi susceptibles de dériver dans le temps.
Le but de l'invention est de pallier ces inconvénients. En conséquence, il demeure à ce jour un besoin pour un procédé de mesure de la modulation de fréquence d'une source laser, donnant simultanément satisfaction à l'ensemble des exigences précitées, en termes de bon compromis précision / dynamique, et de coût, d'encombrement et de fiabilité du système utilisé pour mettre en œuvre le procédé. Selon l'invention, la mesure de la modulation de fréquence d'une source laser est aussi obtenue à l'aide d'un interféromètre à deux bras (de type Mach-Zehnder ou Michelson par exemple) dont l'un des deux bras est décalé d'un délai, mais dans les conditions d'utilisation suivantes :
- le signal de modulation est périodique et
- les mesures de battement sont acquises sur différentes périodes de modulation dans des conditions d'interférences distinctes basées sur une différence de phase entre les bras de l'interféromètre qui varie peu à l'échelle d'une période de modulation de fréquence (typiquement quelques centaines de με) mais considérablement à l'échelle de la période de répétition de la mesure (quelques s). Cela permet de construire virtuellement la composante en phase et la composante en quadrature du signal interférométrique. On en déduit alors la modulation de fréquence du laser.
Plus précisément l'invention a pour objet un procédé de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser qui comprend les étapes suivantes :
- modulation de la source laser selon une période T, par une commande de modulation,
- au cours d'une même période T, réalisation de plusieurs mesures d'une intensité lumineuse de battement entre deux bras d'un interféromètre situé en aval de la source laser et apte à introduire un retard τ entre les deux bras, ces mesures étant synchronisées avec la commande de la modulation,
- calcul de la fréquence f(t) à partir des mesures.
Il est principalement caractérisé en ce que
- pendant chaque période T, f(t) varie mais le retard τ est considéré constant,
- le retard τ évolue temporellement sur plusieurs périodes T (en pratique τ évolue de manière significative par rapport à λ/c typiquement > 10% λ/c, mais peu en relatif typiquement <1 %, où c désigne la vitesse de la lumière),
- les mesures effectuées à l'instant t, au cours d'une même période sont réitérées à ti+kT, avec k>1 et en ce que le retard τ a évolué d'une itération à l'autre. Ce procédé permet de mesurer avec un bon compromis précision / dynamique, la fréquence de modulation d'une source laser à l'aide d'un simple interféromètre à deux bras qui ne comporte pas de modulateur acousto-optique. Cela permet de s'affranchir des inconvénients liés à l'utilisation de ce composant (coût, encombrement, fiabilité, ...). En outre, la solution proposée repose sur une analyse d'un signal qui peut être à basse fréquence ce qui permet alors de relâcher certaines contraintes sur la chaîne de détection et de traitement du signal, telles que les contraintes sur l'échantillonneur.
Le calcul comporte de préférence :
- une organisation des mesures réitérées homologues d'une période à l'autre sous forme de vecteurs x(t), 0 < t < T, et
- ces vecteurs x(t) décrivant un cylindre elliptique, un calcul de l'axe w0 du cylindre,
- une projection selon l'axe w0 sur un plan déterminé, cette projection étant paramétrée par un angle fonction de f(t). En pratique, cette fonction est avantageusement développée au premier ordre et la projection est alors paramétrée par un angle proportionnel à f(t).
La période T est typiquement de l'ordre de quelques με (de 5 με à 1 ms), et le retard τ évolue typiquement sur une durée variant de cent millisecondes à une minute (de 100 ms à 1 mn).
Selon une variante de l'invention, la variation temporelle du retard τ est stimulée au moyen d'un dispositif piézo-électrique.
L'invention peut être utilisée pour calibrer le signal de commande afin d'approcher au mieux une modulation de fréquence prédéfinie par l'utilisateur. A cet effet, l'invention concerne également un procédé de calibrage de la fréquence de la source laser d'un lidar selon une consigne f0(t), qui comprend les étapes suivantes :
- modulation de la fréquence de la source laser au moyen d'une tension de commande périodique U(t) prédéterminée, - définition d'une transformation linéaire entre f(t) et U(t), qui peut être obtenue par exemple par la mesure de la fonction de transfert de la modulation de fréquence désignée FTM,
- calcul d'une première tension de commande U-i (t) à partir de f0(t) et de ladite transformation linéaire,
-i=1 et itération des étapes suivantes :
o mesure de la fréquence f s (t) de la source laser comme indiqué précédemment,
o calcul de l'erreur
Figure imgf000010_0001
- f0(t) et d'une tension de commande de correction à partir de Δί,(ί) et de ladite transformation linéaire,
o définition d'une nouvelle tension de commande Ui+1 (t) à partir de la tension de commande précédente U,(t) et de la tension de commande de correction,
o i=i+1 .
Le nombre d'itérations est généralement inférieur à 1 0.
L'invention a aussi pour objet un programme d'ordinateur, ledit programme d'ordinateur comprenant des instructions de code permettant d'effectuer les étapes du procédé tel que décrit, lorsque ledit programme est exécuté sur un ordinateur.
L'invention concerne également un système de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser qui comprend :
- la source laser associée à une commande de modulation,
- un interféromètre à deux bras avec une ligne à retard sur l'un des bras,
- un dispositif de mesure de signaux de battement issus de l'interféromètre,
- une unité de traitement des signaux mesurés,
- un dispositif de synchronisation relié à la commande de modulation et à l'unité de traitement,
caractérisé en ce que l'unité de traitement est adaptée pour mettre en œuvre le procédé décrit. L'interféromètre est par exemple de type Mach-Zehnder ou
Michelson.
Avantageusement, l'interféromètre ne comporte pas de modulateur acousto-optique.
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description détaillée qui suit, faite à titre d'exemple non limitatif et en référence aux dessins annexés dans lesquels :
les figures 1 représentent schématiquement des exemples de système de mesure de la modulation de fréquence d'une source laser selon l'état de la technique, avec un interféromètre à deux bras de type Mach Zehnder équipé d'un MAO (fig 1 a), avec un résonateur optique (fig 1 b), ou avec un interféromètre à deux bras apte à mesurer la composante en phase et la composante en quadrature du signal interférométrique (fig 1 c),
les figures 2 représentent schématiquement un exemple de système de mesure de la modulation de fréquence d'une source laser apte à mettre en œuvre le procédé selon l'invention, utilisant un interféromètre de Mach-Zehnder (fig 2a) ou un interféromètre de Michelson (fig 2b),
les figures 3 représentent schématiquement un exemple de trajectoire du vecteur représentatif des mesures obtenues sur 2 périodes avec alors une trajectoire elliptique (fig 3a) et la transformation de cette trajectoire en un cercle de manière à obtenir directement la fréquence à une constante près (fig 3b),
la figure 4a représente schématiquement la projection dans un espace tri-dimensionnel composé des trois composantes principales d'un exemple de trajectoire du vecteur représentatif des mesures obtenues sur 400 périodes avec alors une trajectoire cylindrique à base elliptique, la figure 4b représente schématiquement la trajectoire de la figure 4a projetée sur un plan quasiment perpendiculaire à l'axe du cylindre et normalisée en un cercle, et la reconstruction de fréquence correspondante est montrée figure 4c,
la figure 5 illustre différentes étapes d'un procédé de calibrage de la fréquence d'une source laser selon l'invention, la figure 6 représente schématiquement un exemple d'erreurs de modulation obtenues après i itérations.
D'une figure à l'autre, les mêmes éléments sont repérés par les mêmes références.
On décrit en relation avec la figure 2a un premier exemple de système de mesure apte à mettre en œuvre le procédé selon l'invention. Il comprend :
- une source laser 1 , avec une commande 1 1 de tension de modulation correspondant à une consigne de fréquence f0(t), munie d'une unité
1 1 1 de stockage de consignes numériques et d'un convertisseur 1 12 de ces consignes numériques en signaux analogiques f0(t),
- un coupleur 12 prélevant une partie de la lumière émise pour l'envoyer vers un interféromètre 2,
- un interféromètre de type Mach-Zehnder 2 à deux bras, avec une ligne à retard 21 sur l'un de ses bras, et deux coupleurs permettant l'un 23 de séparer de préférence en deux parties égales et l'autre 24 de recombiner la lumière passant dans les deux bras,
- une photodiode 3 apte à convertir le signal d'intensité lumineuse issu de l'interféromètre 2, en un signal électrique analogique,
- un dispositif 4 de mesure des signaux fournis par la diode 3 qui comporte un convertisseur 41 de ces signaux analogiques en signaux numériques, et une unité de stockage 43 à des instants prédéterminés des signaux numériques issus du convertisseur 41 ,
- une unité de traitement 5 des signaux stockés, et de transmission d'une tension déterminée à la commande 1 1 ,
- un dispositif de synchronisation 6 entre l'unité de stockage 43 et la commande de tension 1 1 , également reliée à l'unité de traitement. On décrit en relation avec la figure 2b un autre exemple de système de mesure apte à mettre en œuvre le procédé selon l'invention, dans lequel l'interféromètre de Mach-Zehnder de l'exemple précédent est remplacé par un interféromètre de Michelson. Ce système comprend :
- une source laser 1 , avec une commande 1 1 de tension de modulation correspondant à une consigne de fréquence f0(t), munie d'une unité 1 1 1 de stockage de consignes numériques et d'un convertisseur 1 12 de ces consignes numériques en signaux analogiques f0(t),
- un coupleur 12 prélevant une partie de la lumière émise pour l'envoyer vers un interféromètre 2.
- un interféromètre 2 à deux bras de type Michelson avec un miroir 26 par exemple un miroir de Faraday à l'extrémité de chaque bras, une ligne à retard 21 sur l'un de ses bras, et un coupleur 23 permettant :
o en entrée de séparer de préférence en deux parties égales la lumière issue du coupleur 12, et
o en sortie de recombiner la lumière passant dans les deux bras,
- une photodiode 3 apte à convertir le signal d'intensité lumineuse issu de l'interféromètre 2, en un signal électrique analogique,
- un dispositif 4 de mesure des signaux fournis par la diode 3 qui comporte un convertisseur 41 de ces signaux analogiques en signaux numériques, et une unité de stockage 43 à des instants prédéterminés des signaux numériques issus du convertisseur 41 ,
- une unité de traitement 5 des signaux stockés, et de transmission d'une tension déterminée à la commande 1 1 ,
- un dispositif de synchronisation 6 entre l'unité de stockage 43 et la commande de tension 1 1 , également reliée à l'unité de traitement.
Toutes ces configurations peuvent être fibrées.
Dans le cas du système de la figure 2b, grâce aux miroirs 26, le niveau du signal d'interférence est constant même lorsqu'on utilise des fibres optiques sans maintien de polarisation.
Dans ces deux exemples, une partie du champ du laser 1 est injectée dans l'interféromètre 2 dont l'un des deux bras est décalé d'un délai (ou retard) τ par la ligne à retard 21 ; l'autre partie est destinée à une application de télémétrie ou d'anémométrie par exemple, qui comme on peut le voir sur les figures 2a ou 2b n'intervient pas dans le procédé de modulation de la source (le signal de télémétrie ou d'anémométrie n'est pas utilisé pour la modulation de la source). Le signal d'interférence issu de l'interféromètre est ensuite converti en signal électrique à l'aide d'une photodiode 3, puis converti en signal numérique par le convertisseur 41 pour être stocké dans une mémoire tampon (buffer) 43. Un dispositif de synchronisation 6 est utilisé pour synchroniser l'acquisition du signal par la mémoire 43 avec la consigne de modulation de fréquence de la commande 1 1 . L'acquisition de plusieurs périodes de modulation permet à une unité de traitement 5 de reconstruire la modulation de fréquence du laser 1 à l'aide d'un procédé original.
Le procédé selon l'invention fonctionne si les différentes périodes de modulation ont été acquises dans des conditions d'interférences distinctes. Ceci peut être obtenu « naturellement », par exemple du fait d'une dérive thermique de l'interféromètre ou d'une dérive de longueur d'onde du laser. Elle peut être aussi stimulée, par exemple si l'un des deux bras de l'interféromètre comporte un système de modulation de la phase (de l'ordre de TT/2). Cette modulation de phase étant à basse fréquence (typiquement inférieure à 10 Hz), elle peut être obtenue simplement par un effet piézoélectrique ou un effet thermique.
La mesure de fréquence selon l'invention permet de s'affranchir du MAO rencontré dans les exemples de l'état de la technique. Elle repose sur un traitement du signal de battement obtenu en sortie de l'interféromètre 2. Dans cette architecture, ce signal de battement s'écrit : x(t) = cos(< (t)— <p (t— τ) + ι/>(ί, τ)) où la phase du laser à l'instant t s'écrit
Figure imgf000014_0001
expression dans laquelle < (t) regroupe la variation de phase associée à la modulation de fréquence et ψ(ΐ) comprend l'ensemble des termes associés à la fréquence moyenne et aux fluctuations parasites de phase (issues par exemple du bruit de phase). ψ(ΐ, τ) est une phase qui dépend de la variation de chemin optique entre les bras de l'interféromètre 2 mais qui fluctue peu à l'échelle de la période de la modulation de fréquence. En pratique τ évolue de manière significative par rapport à λ/c (on a typiquement τ>10% λ/c, où c désigne la vitesse de la lumière et λ la longueur d'onde de la source) mais évolue peu en relatif (typiquement inférieur à 1 % soit (Δτ Ι τ)< 0.01 , Δτ étant l'évolution de τ sur une période T).
La fréquence du laser f(t) étant proportionnelle à la dérivée de la phase, on a :
Figure imgf000015_0001
« cos(2nr f(t) + ip(t, τ))
Le traitement développé vise à isoler la contribution de la fréquence f(t) par rapport aux fluctuations de phase ψ(ΐ,τ), c'est-à-dire à s'affranchir de ψ(ΐ,τ) à une constante près. Ce traitement suppose que le signal de modulation est périodique (de période T) et utilise deux échelles de temps pour mesurer la fréquence f(t) :
- une échelle de temps courte pendant laquelle f(t) varie et ψ(ΐ,τ) est constant, soit typiquement quelques με,
- une échelle de temps longue au cours de laquelle ψ(ΐ,τ) a évolué, soit typiquement quelques secondes à quelques minutes.
En pratique, il est nécessaire de mesurer le signal x,(t) sur m périodes distinctes avec une échelle de temps longue couvrant plusieurs périodes de modulation, pour obtenir :
Xi(t) = x{t - kjT) avec 1 < i≤ m, kt G N, 0 < t < T. Les mesures de x,(t) à ces instants kfT sont dites homologues. La reconstruction de la fréquence émise par le laser ne peut être réalisée qu'à l'issue de plusieurs périodes de mesures espacées par une échelle de temps plus longue.
On suppose que les effets thermiques et de vieillissement sont suffisamment réduits, ou plus généralement que les conditions d'interférence sont suffisamment stables pour que le déphasage ψ(ΐ,τ) entre les bras de l'interféromètre reste constant sur une période T de modulation, soit :
ip(t - k T, τ) « este =
Figure imgf000015_0002
pour 0 < t < T
On peut alors indexer les vecteurs temporels mesurés sous la forme :
Xi(t = cos(2nr f(t—k T) + ψι) = cos(2nr f(t) + ψι) et considérer le vecteur dépendant du temps : x(t) = (xi (t), ... , xm(t))T, le symbole T en exposant signifiant la transposée.
Dans le cas à deux dimensions, le vecteur
T
x(t) = ( i (t) , χ2( )Γ = (cos(27rr / (t) + î/>1) J cos(27TT / (t) + ip2))
décrit une ellipse si ψ-ι≠ ψ2 comme illustré sur la figure 3a.
Le point P a pour coordonnées (cos(a(t)+ ψι), cos(a(t)+ ψ2)).
La connaissance de a ne peut être réalisée qu'à une constante près. L'acquisition de plusieurs points P(a) décrit une ellipse caractérisée par
Figure imgf000016_0001
mais il n'y a pas de construction géométrique immédiate permettant de déduire l'ellipse de ψι et ψ2. A deux dimensions, pour déterminer a à partir de l'ensemble des points de l'ellipse, une technique consiste à transformer l'ellipse en cercle de manière à retrouver une définition naturelle (ie. un angle) pour a. Pour cela, on peut réaliser les opérations suivantes :
- Déterminer l'excentricité de l'ellipse. Pour cela, compte tenu du fait que les axes de l'ellipse sont toujours à +/- 45 degrés, il faut déterminer le maximum des projections de la trajectoire du point x (l'ellipse) sur les axes (1 ,1 ) et (1 , -1 ). On note M-i le maximum selon (1 ,1 ) et M.-i le maximum selon (1 , -1 ,).
- Réaliser une dilatation de l'axe (1 ,1 ) de paramètre 1 /M-i et de l'axe (1 ,- 1 ) avec un paramètre 1 /Μ,-ι (en réalisant par exemple une rotation de -
45 deg, suivie d'une dilatation des axes des abscisses avec un paramètre 1 /M-i et de l'axe des ordonnées avec un paramètre l /M.-i suivie d'une rotation de +45 deg.).
Avec ces opérations qui transforment les axes x1 et x2 en A1 et A2, la figure 3a se transforme en la figure 3b : a est alors, à une constante près, directement la phase du point le long du cercle.
De la même manière, pour une dimension m, x(t) doit décrire une ellipse dans un plan bien choisi de Rm. Sur cette ellipse, la phase du point x fournit directement : a(t) = 2πτ /(t) .
Pour connaître l'axe de l'ellipse, la matrice de covariance :
Γ= <x(t)x(t)T> est calculée puis diagonalisée pour définir les vecteurs propres v, et les valeurs propres λ,:
Γ Vj = A, Vj
A≥A2≥...≥Am>0 : valeurs propres (ν-ι, v2, vm) : base orthonormale de Rm (vecteurs propres). En pratique, seules les 3 plus grandes des valeurs propres sont non négligeables. On calcule donc la projection de x dans le sous-espace formé par (v1 , v2, v3), ce qui permet de diminuer la dimensionnalité du problème. Un exemple de résultat expérimental de la trajectoire {x(t), 0 < t < T} du vecteur x(t) dans ce sous-espace est présenté sur la figure 3b : cette trajectoire est obtenue pour m=400 périodes de 200 με mesurées sur environ 10s avec un échantillonnage à 125 MHz soit environ 25000 points par période (à partir de 5000 points par période, on obtient déjà un bon résultat). On a typiquement la période T comprise entre 10 à 800 με et le retard r évolue typiquement sur une durée comprise entre 1 s et 300 s. Les points s'organisent sur un cylindre elliptique d'axe w0. Pour connaître l'axe de l'ellipse w0, on cherche à minimiser un critère C(w) tel que la variance de la norme relativement au carré de la norme (on choisit le plan de projection pour obtenir la forme la plus circulaire possible) :
Figure imgf000017_0001
où pw(x) désigne la projection de x selon l'axe w.
En projetant les points x selon w0, on obtient une forme légèrement elliptique qui, après re-normalisation, permet de déduire comme on peut le voir figure 4a
a(t) 2πτ f (t)
et donc la fréquence au cours du temps comme illustré sur la figure 4b.
Différentes fréquences f(t) ont ainsi pu être évaluées simultanément, à l'aide de cette technique, en implémentant par exemple une fréquence f(t) complexe comprenant sur une même période T une partie
- Constante
- Sinusoïdale
- Parabolique
- Triangulaire. On a décrit un mode de traitement des signaux x,(t) basé sur leur organisation sous forme de vecteurs. D'autres traitements peuvent être envisagés comme par exemple, une régression linéaire itérative, un recuit simulé, des algorithmes récursifs, génétiques ou de type Monte Carlo prenant en compte l'ensemble des mesures.
Ce procédé peut notamment être utilisé pour calibrer la fréquence de la source laser d'un Lidar selon une consigne f0(t), sans utiliser de MAO. Une telle procédure permet de s'affranchir des dérives possibles de la fonction de transfert du laser (liées à la température, au vieillissement de la diode...). Les principales étapes de calibrage décrites en relation avec la figure 5 se déroulent de la manière suivante.
Une première étape consiste à définir une transformation linéaire entre la tension de commande et la fréquence du laser. Cette transformation linéaire peut avantageusement être obtenue par la mesure de la fonction de transfert de la modulation de fréquence. Ceci est alors réalisé en envoyant un bruit blanc connu par exemple sur une bande de fréquence comprise entre 0 et 150 kHz, comme tension de commande de la modulation de la forme
U(t = U0∑k cos(2nkt/T + fc)
où les t>k sont des phases aléatoires indépendantes, et en mesurant la fréquence émise, par le procédé précédemment décrit. La fonction de transfert de modulation s'obtient par la relation :
FTM(v) - TF{f(t)}v
TF{U(t)}v
Le processus de calibrage est ensuite itératif pour prendre en compte la non- linéarité (constatée expérimentalement) de cette fonction de transfert :
- à partir de la consigne en fréquence, on calcule une première tension à appliquer sur la diode laser, en utilisant une transformation linéaire de cette consigne, par exemple à l'aide de la fonction de transfert de modulation comme :
Figure imgf000018_0001
- la fréquence émise f-i (t) est mesurée par le procédé précédemment décrit ; - l'erreur de fréquence par rapport à la consigne Δί,(ί) = f,(t) - f0(t) est déduite de la mesure précédente ;
- cette erreur permet de définir une correction de la tension de commande définie à partir de Δί,(ί) et de la fonction définie précédemment (par exemple la FTM):
Figure imgf000019_0001
- le système boucle sur les 3 points précédents pour affiner la tension de commande requise et donc la fréquence émise.
Deux itérations permettent généralement d'obtenir un résultat satisfaisant et, typiquement, 3 à 4 itérations sont suffisantes pour atteindre le minimum d'erreur accessible (soit environ 1 minute) comme illustré figure 6.
Ces procédés de mesure et de calibrage permettent de s'affranchir du MAO rencontré dans les exemples de l'état de la technique. Mais son utilisation n'est pas exclue ; on peut en effet éventuellement ajouter un MAO sur l'un des bras de l'interféromètre pour éviter un bruit basse fréquence.
Le traitement du signal de battement peut s'implémenter à partir d'éléments matériel et/ou logiciel. Il peut être disponible en tant que produit programme d'ordinateur enregistré sur un support lisible par ordinateur, ce programme d'ordinateur comprenant des instructions de code permettant d'effectuer les étapes du procédé de reconstruction. Le support peut être électronique, magnétique, optique, électromagnétique ou être un support de diffusion de type infrarouge. De tels supports sont par exemple, des mémoires à semi-conducteur (Random Access Memory RAM, Read-Only Memory ROM), des bandes, des disquettes ou disques magnétiques ou optiques (Compact Disk - Read Only Memory (CD-ROM), Compact Disk - Read/Write (CD-R/W) and DVD). Bien que l'invention ait été décrite en liaison avec des modes de réalisation particuliers, il est bien évident qu'elle n'y est nullement limitée et qu'elle comprend tous les équivalents techniques des moyens décrits ainsi que leurs combinaisons si celles-ci entrent dans le cadre de l'invention.

Claims

REVENDICATIONS
Procédé de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser (1 ) qui comprend les étapes suivantes :
- modulation de la source laser selon une période T, par une commande de modulation (1 1 ),
- au cours d'une même période T, réalisation de plusieurs mesures d'une intensité lumineuse de battement entre deux bras d'un interféromètre (2) situé en aval de la source laser et apte à introduire un retard τ entre les deux bras, ces mesures étant synchronisées avec la commande de la modulation,
- calcul de la fréquence f(t) à partir des mesures,
caractérisé en ce que
- pendant chaque période T, f(t) varie mais le retard τ a une évolution en relatif inférieure à 1 %,
- le retard τ évolue temporellement sur plusieurs périodes T, avec τ>10% λ/c, où c désigne la vitesse de la lumière et λ la longueur d'onde de la source,
- les mesures effectuées à l'instant t, au cours d'une même période sont réitérées à ti+kT, avec k>1 et en ce que le retard τ a évolué d'une itération à l'autre.
Procédé de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser selon la revendication précédente, caractérisé en ce que la variation temporelle du retard τ est stimulée au moyen d'un dispositif piézo-électrique.
Procédé de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le calcul comporte :
- une organisation des mesures réitérées homologues d'une période à l'autre sous forme de vecteurs x(t), 0 < t < T, et
- ces vecteurs x(t) décrivant un cylindre elliptique, un calcul de l'axe w0 du cylindre, - une projection selon l'axe w0 sur un plan déterminé, cette projection étant paramétrée par un angle fonction de f(t).
Procédé de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser selon la revendication précédente, caractérisé en ce que la fonction de f(t) de l'angle est développée au premier ordre et en ce que l'angle est proportionnel à f(t).
Procédé de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la période T est de l'ordre de quelques με, et le retard τ évolue sur une durée variant d'une seconde à quelques minutes.
Procédé de calibrage de la fréquence de la source laser (1 ) d'un lidar selon une consigne f0(t), qui comprend les étapes suivantes :
- modulation de la fréquence de la source laser (1 ) au moyen d'une tension de commande périodique U(t) prédéterminée,
- définition d'une transformation linéaire entre f(t) et U(t),
- calcul d'une première tension de commande U-i (t) à partir de f0(t) et de ladite transformation linéaire,
-i=1 et itération des étapes suivantes :
o mesure de la fréquence f s (t) de la source laser selon l'une des revendications précédentes,
o calcul de l'erreur Afi(t)=fi(t) - f0(t) et d'une tension de commande de correction à partir de Afj(t) et de ladite transformation linéaire,
o définition d'une nouvelle tension de commande Ui+1 (t) à partir de la tension de commande précédente Uj(t) et de la tension de commande de correction,
o i=i+1 .
Procédé de calibrage selon la revendication précédente, caractérisé en ce que la transformation linéaire entre f(t) et U(t) est obtenue par la mesure de la fonction de transfert de la modulation de fréquence désignée FTM.
8. Procédé de calibrage selon l'une des revendications 6 ou 7, caractérisé en ce que le nombre d'itérations est inférieur à 10.
9. Un produit programme d'ordinateur, ledit programme d'ordinateur comprenant des instructions de code permettant d'effectuer les étapes du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, lorsque ledit programme est exécuté sur un ordinateur.
10. Système de mesure de la modulation de fréquence f(t) d'une source laser qui comprend :
- la source laser (1 ) associée à une commande (1 1 ) de modulation,
- un interféromètre à deux bras (2) avec une ligne à retard (21 ) sur l'un des bras,
- un dispositif (4) de mesure de signaux de battement issus de l'interféromètre,
- une unité (5) de traitement des signaux mesurés,
- un dispositif de synchronisation (6) relié à la commande de modulation (1 1 ) et à l'unité de traitement,
caractérisé en ce que l'unité de traitement est adaptée pour mettre en œuvre le procédé selon l'une des revendications 1 à 9.
1 1 . Système de mesure de la modulation de fréquence selon la revendication précédente, caractérisé en ce que l'interféromètre (2) est de type Mach-Zehnder ou Michelson.
12. Système de mesure de la modulation de fréquence selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'interféromètre (2) ne comporte pas de modulateur acousto-optique.
PCT/EP2016/055639 2015-03-26 2016-03-16 Procede de mesure de la modulation de frequence d'une source laser Ceased WO2016150783A1 (fr)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017550213A JP6770971B2 (ja) 2015-03-26 2016-03-16 レーザー光源の周波数の変調を測定する方法、システムおよびコンピュータプログラム、ならびにライダーのレーザー光源の周波数を較正する方法
BR112017020546-7A BR112017020546B1 (pt) 2015-03-26 2016-03-16 Método para medir a modulação de frequência de uma fonte de laser
ES16711211T ES2900840T3 (es) 2015-03-26 2016-03-16 Procedimiento de medición de la modulación de frecuencia de una fuente láser
CN201680026440.1A CN107810396B (zh) 2015-03-26 2016-03-16 用于测量激光源的调制频率的方法
CA2980954A CA2980954C (fr) 2015-03-26 2016-03-16 Procede de mesure de la modulation de frequence d'une source laser
EP16711211.9A EP3274678B1 (fr) 2015-03-26 2016-03-16 Procede de mesure de la modulation de frequence d'une source laser
US15/561,057 US10317288B2 (en) 2015-03-26 2016-03-16 Method for measuring the frequency modulation of a laser source
IL254667A IL254667B (en) 2015-03-26 2017-09-25 A method for measuring the frequency modulation of a laser source

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1500603 2015-03-26
FR1500603A FR3034189B1 (fr) 2015-03-26 2015-03-26 Procede de mesure de la modulation de frequence d'une source laser

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2016150783A1 true WO2016150783A1 (fr) 2016-09-29

Family

ID=54186001

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/EP2016/055639 Ceased WO2016150783A1 (fr) 2015-03-26 2016-03-16 Procede de mesure de la modulation de frequence d'une source laser

Country Status (10)

Country Link
US (1) US10317288B2 (fr)
EP (1) EP3274678B1 (fr)
JP (1) JP6770971B2 (fr)
CN (1) CN107810396B (fr)
BR (1) BR112017020546B1 (fr)
CA (1) CA2980954C (fr)
ES (1) ES2900840T3 (fr)
FR (1) FR3034189B1 (fr)
IL (1) IL254667B (fr)
WO (1) WO2016150783A1 (fr)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021018685A1 (fr) 2019-07-31 2021-02-04 Thales Methode d'imagerie par un lidar coherent et lidar associe.
US11098998B2 (en) * 2016-10-12 2021-08-24 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Apparatus and method for optical angle modulation measurement by a delayed self-heterodyne method

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201607875D0 (en) * 2016-05-05 2016-06-22 Qinetiq Ltd Phase noise compensation system, and method
KR101877388B1 (ko) * 2016-07-21 2018-07-11 엘지전자 주식회사 차량용 라이다 장치
FR3055424B1 (fr) 2016-08-23 2019-01-25 Thales Methode de traitement d'un signal issu d'un lidar coherent et systeme lidar associe
WO2019121069A1 (fr) * 2017-12-21 2019-06-27 Robert Bosch Gmbh Boucle de commande de fréquence de signal mixte pour laser accordable
DE102018209013A1 (de) 2018-06-07 2019-12-12 Robert Bosch Gmbh Betriebsverfahren für ein LiDAR-System, Steuereinheit, LiDAR-System und Vorrichtung
US11536805B2 (en) 2018-06-25 2022-12-27 Silc Technologies, Inc. Optical switching for tuning direction of LIDAR output signals
US12535586B2 (en) 2018-08-31 2026-01-27 SiLC Technology, Inc. Reduction of ADC sampling rates in LIDAR systems
US12429569B2 (en) 2019-05-17 2025-09-30 Silc Technologies, Inc. Identification of materials illuminated by LIDAR systems
US11650317B2 (en) 2019-06-28 2023-05-16 Silc Technologies, Inc. Use of frequency offsets in generation of LIDAR data
US12066535B2 (en) 2020-05-16 2024-08-20 Silc Technologies, Inc. Monitoring signal chirp in LIDAR output signals
US11385339B2 (en) * 2020-09-04 2022-07-12 Ours Technology, Llc LIDAR waveform generation system
FR3118197B1 (fr) 2020-12-17 2023-08-25 Thales Sa Lidar cohérent à modulation de fréquence amélioré
CN113063505A (zh) * 2021-03-15 2021-07-02 北京工业大学 激光重复频率测量系统及测量方法
US12541009B2 (en) 2021-06-17 2026-02-03 Silc Technologies, Inc. Scanning multiple LIDAR system output signals
US12411213B2 (en) 2021-10-11 2025-09-09 Silc Technologies, Inc. Separation of light signals in a LIDAR system
DE102021131253A1 (de) * 2021-11-29 2023-06-01 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Optisches Interferometer, Laser-Steuereinrichtung, Sendeeinrichtung für ein LiDAR-System, LiDAR-System, Fahrzeug mit wenigstens einem LiDAR-System und Verfahren zum Betreiben eines optischen Interferometers
US12553995B2 (en) 2022-02-14 2026-02-17 Silc Technologies, Inc. Data refinement in optical systems
US12578443B2 (en) 2022-04-23 2026-03-17 Silc Technologies, Inc. Data refinement in optical imaging systems
CN114993485B (zh) * 2022-07-18 2022-10-28 中国人民解放军海军工程大学 一种dfb激光器输出激光频率的测量装置
US12422618B2 (en) 2022-10-13 2025-09-23 Silc Technologies, Inc. Buried taper with reflecting surface
US12578439B2 (en) 2023-04-11 2026-03-17 Silc Technologies, Inc. Increasing resolution in imaging systems

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5808743A (en) * 1996-04-05 1998-09-15 Board Of Regents Of The University Of Colorado Laser sensor using optical feedback-induced frequency modulation

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7778293B2 (en) * 2003-06-19 2010-08-17 Kernco Inc. Determining and setting the frequency modulation index of a laser in a CPT frequency standard
US20110051763A1 (en) * 2005-12-14 2011-03-03 Kernco, Inc. Determining and setting the frequency modulation index of a laser in a CPT frequency standard
EP2831625B1 (fr) * 2012-03-29 2021-02-17 NPL Management Limited Dispositif, système et procédé de mesure
EP2816315B1 (fr) * 2013-06-18 2015-09-23 Hexagon Technology Center GmbH Détermination interférométrique de changement de distance à l'aide d'une diode laser, de détection de largeur de bande élevée et de traitement rapide de signal

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5808743A (en) * 1996-04-05 1998-09-15 Board Of Regents Of The University Of Colorado Laser sensor using optical feedback-induced frequency modulation

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BARTOSZ K NOWAKOWSKI ET AL: "DEVELOPMENT OF A MINIATURE, MULTICHANNEL, EXTENDED- RANGE FABRY-PEROT FIBER-OPTIC LASER INTERFEROMETER SYSTEM FOR LOW FREQUENCY SI-TRACEABLE DISPLACEMENT MEASUREMENT", 1 November 2014 (2014-11-01), XP055246904, Retrieved from the Internet <URL:https://www.researchgate.net/profile/Bartosz_Nowakowski/publication/268686148_DEVELOPMENT_OF_A_MINIATURE_MULTICHANNEL_EXTENDED-_RANGE_FABRY-PEROT_FIBER-OPTIC_LASER_INTERFEROMETER_SYSTEM_FOR_LOW_FREQUENCY_SI-TRACEABLE_DISPLACEMENT_MEASUREMENT/links/547360800cf24bc8ea1b0ba2.pdf?inViewer=0&pdfJsDownloa> [retrieved on 20160202], DOI: 10.13140/2.1.1284.5764 *
THOMAS S. SCHWARZE ET AL: "Advanced phasemeter for deep phase modulation interferometry", OPTICS EXPRESS, vol. 22, no. 15, 21 July 2014 (2014-07-21), pages 18214, XP055246228, ISSN: 2161-2072, DOI: 10.1364/OE.22.018214 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11098998B2 (en) * 2016-10-12 2021-08-24 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Apparatus and method for optical angle modulation measurement by a delayed self-heterodyne method
JP7239975B2 (ja) 2016-10-12 2023-03-15 国立研究開発法人産業技術総合研究所 光角度変調測定装置及び測定方法
WO2021018685A1 (fr) 2019-07-31 2021-02-04 Thales Methode d'imagerie par un lidar coherent et lidar associe.
FR3099587A1 (fr) 2019-07-31 2021-02-05 Thales Methode d'imagerie par un lidar coherent et lidar associe

Also Published As

Publication number Publication date
US20180073932A1 (en) 2018-03-15
CA2980954C (fr) 2024-05-07
JP2018511054A (ja) 2018-04-19
FR3034189B1 (fr) 2020-01-03
IL254667A0 (en) 2017-11-30
EP3274678B1 (fr) 2021-10-27
JP6770971B2 (ja) 2020-10-21
FR3034189A1 (fr) 2016-09-30
BR112017020546A2 (pt) 2018-07-17
CN107810396B (zh) 2020-11-03
EP3274678A1 (fr) 2018-01-31
US10317288B2 (en) 2019-06-11
IL254667B (en) 2021-05-31
CA2980954A1 (fr) 2016-09-29
BR112017020546B1 (pt) 2021-09-14
ES2900840T3 (es) 2022-03-18
CN107810396A (zh) 2018-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3274678B1 (fr) Procede de mesure de la modulation de frequence d&#39;une source laser
EP3353502B1 (fr) Systeme de mesure et capteur de temperature et/ou de deformation par analyse de retroreflexion brillouin.
EP3155385B1 (fr) Dispositif et procede de caracterisation d&#39;un faisceau de lumiere
FR2755254A1 (fr) Composant optique de modulation, polarimetre et ellipsometre de mueller comprenant un tel composant optique, procede de calibrage de cet ellipsometre et procede de mesure ellipsometrique
CA2641943C (fr) Procede d&#39;analyse de surface d&#39;onde par interferometrie multilaterale a difference de frequence
EP3997419A1 (fr) Procede et dispositif de reconstruction d&#39;une onde electromagnetique vectorielle retrodiffusee
Davis et al. Experimental single-photon pulse characterization by electro-optic shearing interferometry
Moore Advances in swept-wavelength interferometry for precision measurements
EP2075556B1 (fr) Procédé et dispositif pour la mesure de la phase spectrale ou de phase spectrale et spatiale combinées d&#39;impulsions lumineuses ultra brèves
EP2724145A1 (fr) Systeme et procede d&#39;analyse par determination d&#39;un caractere depolarisant ou dichroïque d&#39;un objet
FR2976663A1 (fr) Dispositif et procede de caracterisation d&#39;un faisceau de lumiere.
FR3034577A1 (fr) Dispositif et procede de caracterisation d’une impulsion laser femtoseconde
CA2914364A1 (fr) Dispositif pour compenser la derive d&#39;un dephasage d&#39;un modulateur d&#39;etat de polarisation d&#39;un faisceau lumineux
EP2823279B1 (fr) Procede et appareil de mesure de la structure geometrique d&#39;un composant optique
EP1329702B1 (fr) Moyennage par effet de polarisation
FR3013122A1 (fr) Procede et dispositif d&#39;extraction d&#39;une forme d&#39;onde a basse frequence d&#39;un composant electro-optique
FR2839151A1 (fr) Dispositif et procede de determination du&#34;chirp&#34; d&#39;un modulateur electro-optique du type mach-zehnder
WO2008135363A1 (fr) Procede de determination d&#39;une perturbation d&#39;une onde optique
WO2025190937A1 (fr) Appareil et procédé de réflectométrie par mesure de signal de bruit interférométrique optique
FR3095514A1 (fr) Mesure de lumiere retro-reflechie par un instrument d’optique
FR2916045A1 (fr) Procede et dispositif de mesure d&#39;au moins une deformation d&#39;une surface d&#39;onde.
FR2647914A1 (en) Systolic optonumerical processor involving coherence modulation of the light for the calculation of products of a matrix and a vector
FR3033884A1 (fr) Dispositif integre de tomographie en optique coherente

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16711211

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

DPE1 Request for preliminary examination filed after expiration of 19th month from priority date (pct application filed from 20040101)
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15561057

Country of ref document: US

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2017550213

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 254667

Country of ref document: IL

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2980954

Country of ref document: CA

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

REEP Request for entry into the european phase

Ref document number: 2016711211

Country of ref document: EP

REG Reference to national code

Ref country code: BR

Ref legal event code: B01A

Ref document number: 112017020546

Country of ref document: BR

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 112017020546

Country of ref document: BR

Kind code of ref document: A2

Effective date: 20170926