WO2018212153A1 - 光測定装置、カテーテルキット及び光測定方法 - Google Patents

Abstract

光測定装置１は、光ファイバ３３を内蔵するカテーテル３１のカテーテル先端部３１ａから出射されるレーザ光Ｌの強度を測定する。光測定装置１は、カテーテル先端部３１ａから出射されたレーザ光Ｌを受ける受光部６と、受光部に６対面する位置に配置された取付部７と、を備える。取付部７は、カテーテル３１を収容した管状のフープ３６の位置を受光部６に対して規定する。光測定装置１は、フープ３６の位置が取付部７によって規定された状態において、レーザ光Ｌを受光部６に入射させることによりレーザ光Ｌの強度を得る。

Description

光測定装置、カテーテルキット及び光測定方法

　本発明は、光ファイバを内蔵するカテーテルから出射される光の強度を測定する光測定装置、光測定方法及び、これら装置及び方法に適用されるカテーテルキットに関する。

　光ファイバを内蔵するカテーテルは、患者の診断及び治療などに利用される。例えば、特許文献１は、血栓溶解療法を開示する。血栓溶解療法にカテーテルを用いる場合には、まず、カテーテルを患者の体内に挿入する。その後、カテーテルを介して患部にレーザ光を照射する。

特許第４４０９４９９号公報 実公平６－４２１８２号公報 特開平８－２６２２７８号公報

　カテーテルは、使用時において体内に挿入される。従って、体内挿入時には充分に滅菌されている必要がある。そのため、保管時及び輸送時には、カテーテルは、清浄度を保つためにフープと呼ばれる管状の収容具に収容される。従って、カテーテルの清浄度を保つためには、使用の直前までカテーテルをフープ内に収容しておくことが望ましい。

　特許文献１が開示する方法では、予め定められた強度を有するレーザ光を患部に対して照射することが望まれる。そこで、特許文献２、３が開示するように、治療を開始する直前に光強度の確認作業を行う。

　そこで、本発明は、カテーテルの清浄度を維持すると共に、光強度の確認作業を容易に行うことが可能な光測定装置、カテーテルキット及び光測定方法を提供することを目的とする。

　本発明の一形態は、光ファイバを内蔵するカテーテルのカテーテル先端部から出射される光の強度を測定する光測定装置であって、カテーテル先端部から出射された光を受ける受光部と、受光部に対面する位置に配置された取付部と、を備え、取付部は、カテーテルを収容した管状のフープの位置を受光部に対して規定し、フープの位置が取付部によって規定された状態において、光を受光部に入射させることにより光の強度を得る。

　この装置では、取付部が受光部に対するフープの位置を規定する。従って、光の強度を測定するために、カテーテルをフープから取り出す必要がない。その結果、カテーテルをフープに収容した状態で光の強度を測定することが可能になるので、カテーテルの清浄度を維持することができる。さらに、カテーテルをフープから取り出す必要がない。その結果、測定に要する工程を簡素化でできる。従って、この装置によれば、カテーテルの清浄度を維持すると共に、光強度の確認作業を容易に行うことができる。

　一形態に係る光測定装置は、フープを取付部に配置する第１アダプタをさらに備え、フープは、カテーテル先端部が配置されると共に開口を含むフープ先端部を有し、第１アダプタは、フープ先端部が突き当てられる第１突き当て部を有してもよい。この構成によれば、フープ先端部における開口を介して光が受光部に向かって出射される。その結果、カテーテル先端部から出射された光は、減衰することなく直接に受光部に入射する。従って、精度のよい光の強度を得ることができる。

　一形態に係る光測定装置は、フープに取り付けられるキャップと、キャップが取り付けられたフープを取付部に配置する第２アダプタと、をさらに備え、フープは、カテーテル先端部が配置されると共に開口を含むフープ先端部を有し、キャップは、フープ先端部に取り付けられ、キャップは、開口を閉鎖すると共に光ファイバから出射された光を透過させる透過窓部を含むキャップ先端部を有し、第２アダプタは、キャップ先端部が突き当てられる第２突き当て部を有してもよい。この構成によれば、カテーテル先端部と受光部との間には、透過窓部を有するキャップが配置される。透過窓部は、フープ先端部の開口を閉鎖している。従って、カテーテル先端部を保護することができる。

　本発明の別の形態に係るカテーテルキットは、光ファイバを有するカテーテルと、カテーテルを収容するカテーテル収容具と、を備え、カテーテルは、光ファイバを伝わる光を出射するカテーテル先端部を有し、カテーテル収容具は、管状であるフープと、フープに対するカテーテルの位置を保持するカテーテル保持部と、を有し、フープは、カテーテル先端部が配置されると共に開口を含むフープ先端部と、フープ先端部と逆側のフープ基端部と、を含み、カテーテル保持部は、フープ基端部に取り付けられる。

　カテーテルキットでは、カテーテル保持部によってフープに対するカテーテルの位置が保持されている。この構成によれば、光の強度を測定するときに、カテーテル先端部から受光部までの距離のばらつきの発生を抑制することができる。

　別の形態に係るカテーテルキットは、カテーテル保持部は、フープの延在方向において、フープ先端部にカテーテル先端部を合せるように、フープの位置に対するカテーテルの位置を保持してもよい。この構成によれば、フープ先端部の位置が規定されると、カテーテル先端部の位置が規定される。従って、カテーテル先端部から受光部までの距離のばらつきの発生をより抑制することができる。

　別の形態に係るカテーテルキットは、フープ先端部に取り付けられて、フープ先端部の開口を閉鎖する閉鎖部をさらに備えてもよい。この構成によれば、カテーテル先端部を保護することができる。

　別の形態に係るカテーテルキットは、フープ基端部に設けられて、フープの延在方向におけるフープ先端部に対するカテーテル先端部の位置を変更する位置調整機構をさらに備えてもよい。この構成によれば、保管時と測定時においてカテーテル先端部の位置を変更することが可能になる。つまり、保管時には、カテーテル先端部をフープ先端部に対して奥側に配置することが可能になるので、カテーテル先端部を保護することができる。さらに、測定時にはカテーテル先端部をフープ先端部の位置に合せることが可能になる。その結果、カテーテル先端部から受光部までの距離のばらつきの発生を抑制することができる。

　本発明のさらに別の形態は、光測定装置を用いて、光ファイバを内蔵するカテーテルとカテーテルを収容するフープとを有するカテーテルキットから出射される光の強度を測定する光測定方法であって、光測定装置は、カテーテルから出射された光を受ける受光部と、受光部に対面する位置に配置されると共に、カテーテルを収容した管状のフープの位置を受光部に対して規定する取付部と、を備え、カテーテルから出射される光が受光部に入射するように、フープを取付部に配置する工程と、光ファイバから光を出射することにより、受光部に入射された光の強度を得る工程と、を有する。

　この方法では、フープを取付部に配置する工程において、受光部に対するフープの位置を規定する。従って、光の強度を測定するために、カテーテルをフープから取り出す必要がない。その結果、光の強度を得る工程において、カテーテルをフープに収容した状態で光の強度を測定することが可能になる。従って、カテーテルの清浄度を維持することができる。さらに、カテーテルをフープから取り出す必要がない。その結果、測定に要する工程を簡素化でできる。従って、この方法によれば、カテーテルの清浄度を維持すると共に、光強度の確認作業を容易に行うことができる。

　本発明によれば、カテーテルの清浄度を維持すると共に、光強度の確認作業を容易に行うことが可能な光測定装置、カテーテルキット及び光測定方法が提供される。

図１は、第１実施形態に係る光測定装置の構成を示す図である。 図２は、図１に示したアダプタ及びカテーテルキットの構成を拡大して示す断面図である。 図３は位置調整機構の動作を説明するための断面図である。 図４は、第１実施形態に係る光測定方法の主要な工程を示すフロー図である。 図５は、図４に示した主要な工程を説明するための図である。 図６は、図５に示した工程に続く主要な工程を説明するための図である。 図７は、図６に示した工程に続く主要な工程を説明するための図である。 図８は、第２実施形態に係る光測定装置の構成を示す図である。 図９は、第２実施形態に係る光測定方法の主要な工程を示すフロー図である。 図１０は、図９に示した主要な工程を説明するための図である。 図１１は、図１０に示した工程に続く主要な工程を説明するための図である。 図１２は、図１１に示した工程に続く主要な工程を説明するための図である。 図１３は、第３実施形態に係る光測定装置の構成を示す図である。 図１４は、図１３に示したアダプタ及びカテーテルキットの構成を拡大して示す断面図である。 図１５は、第３実施形態に係る光測定方法の主要な工程を示すフロー図である。 図１６は、図１５に示した主要な工程を説明するための図である。 図１７は、図１６に示した工程に続く主要な工程を説明するための図である。 図１８は、図１７に示した工程に続く主要な工程を説明するための図である。 図１９は、変形例１、２、３に係るカテーテルキットの断面を示す斜視図である。 図２０は、変形例４、５、６に係るカテーテルキットの断面を示す斜視図である。 図２１は、変形例７に係るカテーテルキットの断面を示す側面図である。 図２２は、変形例８に係るカテーテルキットを示す平面図である。 図２３は、変形例９、１０、１１に係るカテーテルキットの断面を示す側面図である。 図２４は、変形例１２、１３に係るカテーテルキットの断面を示す斜視図である。

　以下、添付図面を参照しながら本発明を実施するための形態を詳細に説明する。図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。

＜第１実施形態＞
　図１に示すように、光測定装置１は、レーザ光Ｌの強度を測定する。レーザ光Ｌは、光源１０１からカテーテルキット３０に提供される。そしてレーザ光Ｌは、カテーテルキット３０から出射される。光測定装置１は、パワーメータ２と、アダプタ３（第２アダプタ）と、を有する。以下の説明において、各構成要素において光が出射される側を「先端」とする。「先端」の逆側を「基端」とする。例えば、カテーテルキット３０において、レーザ光Ｌを出射する端部は「先端部」である。レーザ光Ｌを受け入れる端部は「基端部」である。

　パワーメータ２は、筐体４と、受光部６と、取付部７と、処理装置８と、を有する。

　筐体４は、受光部６と取付部７との間の相対的な位置関係を保持する。筐体４は、不透明材料により構成される。筐体４は、アダプタ３とともに閉空間を構成する。受光部６は、閉空間の内部に配置される。この構成によれば、迷光が受光部６に入射することを防止できる。

　受光部６は、カテーテルキット３０から出力されるレーザ光Ｌを受ける。受光部６は、例えば、光吸収体を含む。受光部６は、吸収した光を熱に変換する。その後、受光部６は、その熱の変化を電気信号の変化として出力する。光吸収体として、例えば、Ｏｐｈｉｒ社の３Ａ－Ｐなどが挙げられる。受光部６が出力する電気信号は、信号ケーブルを介して処理装置８へ送信される。処理装置８は、その電気信号に基づいて、受光部６が受光した光の強度を求める。そして、処理装置８は、その強度値を表示する。

　取付部７は、受光部６に対面する位置に設けられる。取付部７は、筐体４の一部であってもよい。取付部７は、受光部６に対するカテーテルキット３０の位置を規定する。この受光部６に対するカテーテルキット３０の位置とは、カテーテルキット３０から出射されたレーザ光Ｌの進行方向におけるカテーテルキット３０の先端部から受光部６までの距離を含む。さらに、この位置とは、レーザ光Ｌの進行方向に直交する面内における受光部６に対するカテーテルキット３０の先端部の位置を含む。取付部７は、筐体４から突出した起立筒部７ａを有する。さらに、起立筒部７ａは、貫通穴であるアダプタ配置部７Ｈを有する。カテーテルキット３０は、アダプタ３を介してアダプタ配置部７Ｈに配置される。アダプタ配置部７Ｈの先端は、筐体４の内壁に設けられた先端開口７Ｈａである。アダプタ配置部７Ｈの基端は、取付部７の端部に設けられた基端開口７Ｈｂである。

　図２に示すように、アダプタ３は、カテーテルキット３０をパワーメータ２に取り付ける。アダプタ３は、例えばポリアセタールにより形成してよい。アダプタ３は、アダプタ本体９と、アダプタフランジ１１と、を有する。アダプタ本体９とアダプタフランジ１１とは一体に形成される。アダプタ本体９は、アダプタ配置部７Ｈに配置されている。アダプタ本体９は、アダプタ先端面３ａを有する。アダプタ本体９の外周面には、雄ねじが設けられてもよい。アダプタフランジ１１は、基端側に設けられている。アダプタフランジ１１は、アダプタ基端面３ｂを有する。アダプタフランジ１１の外径は、アダプタ配置部７Ｈの内径よりも大きい。アダプタフランジ１１は、取付部７の取付端面７ｂに突き当たってもよい。

　アダプタ３は、カテーテルキット３０の先端を保持するフープ配置部３Ｈを有する。フープ配置部３Ｈは、アダプタ基端面３ｂからアダプタ先端面３ａに向かって延びる穴である。フープ配置部３Ｈの基端側は、アダプタ基端面３ｂに設けられた基端開口３Ｈｂである。なお、基端開口３Ｈｂには面取り（テーパ形状）が設けられてもよい。フープ配置部３Ｈの先端側には、アダプタ先端壁３ｄが設けられる。フープ配置部３Ｈにカテーテルキット３０が配置されたとき、カテーテルキット３０の先端は、アダプタ先端壁３ｄに突き当たる。より詳細には、後述する保護キャップ４３の先端面がアダプタ先端壁３ｄに突き当たる。従って、アダプタ先端壁３ｄは、アダプタ３に対するカテーテルキット３０の挿入深さを規定する。アダプタ先端壁３ｄには、貫通穴である光通過部３ｅが設けられる。光通過部３ｅは、カテーテルキット３０から出射されたレーザ光Ｌを受光部６に導く。従って、アダプタ先端壁３ｄと光通過部３ｅとにより、当接部３ｃ（第２突き当て部）が構成される。

　次に、カテーテルキット３０について詳細に説明する。カテーテルキット３０は、カテーテル３１と、カテーテル収容具３２と、を有する。カテーテル３１は、光ファイバ３３を内蔵する。また、カテーテル３１は、光ファイバ３３の他に、治療及び検査に要する別の構成物３４を有してもよい。光ファイバ３３は、光ファイバ先端部３３ａと、光ファイバ基端部３３ｂと、を有する。光ファイバ先端部３３ａは、体内に挿入される。さらに、光ファイバ先端部３３ａは、レーザ光Ｌを出射する。光ファイバ基端部３３ｂには、光源１０１（図１参照）が接続される。そして、光ファイバ基端部３３ｂには、レーザ光Ｌが提供される。

　カテーテル収容具３２は、カテーテル３１を収容する。カテーテル収容具３２は、フープ３６と、保持栓３７（カテーテル保持部）と、保護キャップ４３と、ベロー４６と、を有する（図１参照）。

　フープ３６は、管状のパイプ形状を呈する。本実施形態でいうフープ３６は、医療現場で用いられるものである。フープ３６は、カテーテル３１が挿入される樹脂製のチューブをいう。なお、フープ３６については、柔軟性の有無は問われない。フープ３６は、柔軟性を有するものであってもよいし、柔軟性を有しないものであってもよい。フープ３６は、カテーテル先端部３１ａが配置されるフープ先端部３６ａと、カテーテル基端部３１ｂ側が配置されるフープ基端部３６ｂとを有する。フープ先端部３６ａには先端開口３６ｃが設けられる。つまり、フープ先端部３６ａは閉鎖していない。換言すると、フープ先端部３６ａは、開放されている。フープ基端部３６ｂも、基端開口３６ｄを有する。つまり、フープ基端部３６ｂも閉鎖していない。換言すると、フープ基端部３６ｂは、開放されている。フープ３６には、ガス導入穴３６ｅが設けられる。ガス導入穴３６ｅは、フープ３６の側壁に設けられる。そして、ガス導入穴３６ｅは、外周面から内周面まで貫通する。

　ここで、フープ３６の内径（ｆ）及び外径（ｄ）と、アダプタ３の光通過部３ｅの内径（ｅ）と、の関係は、ｆ＜ｅ＜ｄである。この寸法の関係によれば、カテーテル先端部３１ａが滅菌されていない部分に触れることを抑制できる。

　保持栓３７は、フープ基端部３６ｂ側において、基端開口３６ｄに圧入可能に配置される。保持栓３７は、カテーテル配置部３８と、フープ３６に圧入される圧入部３９と、フランジ部４１と、を有する。カテーテル配置部３８は、カテーテル３１を保持する貫通穴である。保持栓３７は、フープ３６に挿し込まれたとき、フープ３６に対してカテーテル３１の位置を保持する。つまり、保持栓３７は、フープ３６に対して固定される。そして、保持栓３７は、カテーテル３１を保持する。従って、フープ３６に挿し込まれた保持栓３７は、フープ３６に対するカテーテル３１の位置を保持する。

　カテーテル配置部３８は、カテーテル基端部３１ｂ側に配置される。カテーテル配置部３８の内径は、カテーテル３１の外径よりも僅かに小さい。この構成によれば、カテーテル配置部３８の内周面がカテーテル３１の外周面に押圧される。その結果、保持栓３７に対するカテーテル３１の位置は、保持される。圧入部３９は、フープ基端部３６ｂの基端開口３６ｄからフープ３６に圧入される。圧入部３９の外径は、フープ３６の内径よりも僅かに大きい。この構成によれば、圧入部３９の外周面がフープ３６の内周面に押圧される。その結果、フープ３６に対する保持栓３７の位置は、保持される。フランジ部４１は、圧入部３９の基端側に設けられる。フランジ部４１の外径は、フープ３６の内径よりも大きい。

　保護キャップ４３は、フープ３６に取り付けられる。保護キャップ４３は、一端が閉鎖され、他端が開放された筒状を呈する。保護キャップ４３は、例えば、アクリルにより形成してよい。保護キャップ４３は、フープ先端部３６ａの先端開口３６ｃを閉鎖する。この構成によれば、カテーテル先端部３１ａが保護される。また、保護キャップ４３は、カテーテル先端部３１ａから出射されるレーザ光Ｌを透過する。保護キャップ４３は、キャップ先端部４３ａとキャップ基端部４３ｂとを有する。キャップ先端部４３ａは、透過窓部４３ｃを有する。透過窓部４３ｃは、先端開口３６ｃを閉鎖する。さらに、透過窓部４３ｃは、レーザ光Ｌを透過する。キャップ基端部４３ｂは、フープ３６を挿し込み可能なフープ配置部４３Ｈの基端開口４３Ｈｂを有する。

　ベロー４６は、フープ３６と保持栓３７との間に配置される。いわゆる蛇腹であるベロー４６は、その軸線方向に伸縮が自在である。ベロー４６は、外力が加わらない状態では、所定長さを維持する弾性を有する。例えば、ベロー４６を軸線方向に押圧すると、ベロー４６の長さが縮む。一方、押圧をやめると、ベロー４６の長さは押圧前の長さに復帰する。

　ベロー４６は、ベロー先端部４６ａとベロー基端部４６ｂとを有する。ベロー先端部４６ａは、フープ基端部３６ｂに当接する。ベロー基端部４６ｂは、保持栓３７のフランジ部４１に当接する。この構成によれば、フープ基端部３６ｂの基端面と保持栓３７のフランジ部４１の先端面との間の間隔が一定に維持される（図３の（ａ）部の間隔Ｄ１参照）。一方、保持栓３７をフープ３６側に押し込んで、保持栓３７の圧入部３９がフープ３６内に圧入したとする。この場合にも、ベロー４６の復元力が発生する。しかし、その復元力は圧入部３９とフープ３６の内周面との摩擦力より小さい。従って、保持栓３７が押し込まれた状態が維持される（図３の（ｂ）部の間隔Ｄ２参照）。なお、ベロー４６は、復元力を発生しないものであってもよい。この場合には、ベロー４６は、別の構成部品を要することなく、伸長した状態（すなわち図３の（ａ）部の状態）と、収縮した状態（図３の（ｂ）部の状態）と、をそれぞれ維持することができる。

　つまり、ベロー４６と、保持栓３７とによれば、フープ３６に対するカテーテル３１の位置を第１の位置又は第２の位置に相互に切り替えることができる。従って、ベロー４６と保持栓３７とは、位置調整機構４７を構成する。まず、保持栓３７がフープ３６に押し込まれていない状態であるとき、カテーテル３１は第１の位置に保持される。この第１の位置では、フープ先端部３６ａに対してカテーテル先端部３１ａが基端寄りに配置されている（図３の（ａ）部参照）。ここで、フープ先端部３６ａの先端面からカテーテル先端部３１ａの先端面までの間隔をＤ３とする。間隔Ｄ３は、間隔Ｄ１から間隔Ｄ２を減じたものである（Ｄ３＝Ｄ１－Ｄ２）。一方、保持栓３７がフープ３６に押し込まれた状態であるとき、カテーテル３１は第２の位置に保持される。この第２の位置では、フープ先端部３６ａとカテーテル先端部３１ａとの位置が互いに一致している（図３の（ｂ）部参照）。

　次に、図４に示すフロー図を参照しつつ、光測定装置１を用いた光強度測定方法について説明する。まず、カテーテルキット３０を準備する工程について説明する。

　工程Ｓ２を実施する（図５の（ａ）部参照）。はじめに、フープ３６に保護キャップ４３を取り付ける。この工程Ｓ２では、保護キャップ４３をフープ３６に完全に被せる。換言すると、フープ先端部３６ａの先端面をキャップ先端部４３ａの内面に当接させる。なお、工程Ｓ２では、フープ先端部３６ａの先端面とキャップ先端部４３ａの内面との間に隙間を設けてもよい。

　次に、工程Ｓ４を実施する（図５の（ｂ）部参照）。この工程Ｓ４では、カテーテル３１をフープ３６に収容する。また、工程Ｓ４では、カテーテル先端部３１ａをフープ先端部３６ａと一致させない。つまり、フープ３６と保持栓３７との間にベロー４６を配置する。つまり、カテーテル３１が第１の位置となるように、カテーテル３１をフープ３６に収容する。具体的には、ベロー基端部４６ｂに保持栓３７を取り付ける。さらに、ベロー先端部４６ａをフープ基端部３６ｂの基端面に取り付ける。ここで、ベロー４６は、その軸線方向に所定の長さを有する。この所定の長さは、例えば、保管状態にあるときのフープ先端部３６ａの先端面からカテーテル先端部３１ａの先端面までの距離に対応する。なお、工程Ｓ２と工程Ｓ４とを実施する順番は、上記のように工程Ｓ２の後に工程Ｓ４を行ってもよい。また、工程Ｓ４の後に工程Ｓ２を行ってもよい。

　次に、工程Ｓ６を実施する（図５の（ｃ）部参照）。この工程Ｓ６では、カテーテルキット３０の滅菌を行う。具体的には、まず、滅菌袋１０２へカテーテルキット３０を入れる。次に、滅菌袋１０２を密封する。次に、チャンバ（図示しない）の内部へカテーテルキット３０と滅菌袋１０２とを配置する。次に、チャンバの内部を脱気する。次に、チャンバの内部へ滅菌ガスＧを供給する。滅菌袋１０２は、片面がビニール製であり逆側の面が不織布により構成される。従って、滅菌袋１０２を封止した状態でも滅菌ガスＧは袋の内部に充填される。滅菌ガスＧとして、エチレンオキサイドガス（ＥｏＧ）が挙げられる。そうすると、滅菌ガスＧにより、カテーテルキット３０が滅菌処理される。

　ところで、カテーテル３１は、フープ３６内に収容されている。フープ先端部３６ａは保護キャップ４３により閉鎖されている。フープ基端部３６ｂは、保持栓３７及びベロー４６によって閉鎖されている。ここで、フープ３６は、ガス導入穴３６ｅを有する。滅菌ガスＧは、ガス導入穴３６ｅからフープ３６の内部へ導かれる。従って、ガス導入穴３６ｅによれば、フープ３６に収容されたカテーテル３１を確実に滅菌処理できる。滅菌ガスＧを充填させた後に、チャンバ内から滅菌ガスＧを脱気する。

　以上の工程Ｓ２、Ｓ４、Ｓ６により、滅菌処理されたカテーテルキット３０が準備される。

　続いて、カテーテルキット３０を測定する工程について説明する。

　まず、工程Ｓ８を実施する（図６の（ａ）部参照）。具体的には、滅菌袋１０２からカテーテルキット３０を取り出す。そして、光ファイバ３３の光ファイバ基端部３３ｂに光源１０１を接続する。

　次に、工程Ｓ１０を実施する（図６の（ｂ）部参照）。この工程Ｓ１０では、保持栓３７をフープ３６に押し込む。つまり、カテーテル先端部３１ａの位置をフープ先端部３６ａの位置に一致させる。

　次に、工程Ｓ１２を実施する（図７の（ａ）部参照）。まず、カテーテルキット３０をパワーメータ２に取り付ける。より詳細には、アダプタ３をパワーメータ２の取付部７にねじ込む。そして、アダプタ３にカテーテルキット３０の先端側（保護キャップ４３側）を挿入する。

　次に、工程Ｓ１４を実施する（図７の（ａ）部参照）。具体的には、光源１０１を操作する。その結果、レーザ光Ｌが発生する。レーザ光Ｌは、光ファイバ３３を通じてカテーテル先端部３１ａから出射される。出射されたレーザ光Ｌは、受光部６に入射する。受光部６は、入射したレーザ光Ｌに応じた電気信号を出力する。信号の内容は、処理装置８に表示される。表示された信号の内容に基づいて、所定のレーザ光Ｌの強度が得られていることを確認する。

　次に、工程Ｓ１６を実施する（図７の（ｂ）部参照）。具体的には、アダプタ３からカテーテルキット３０を引き抜く。次に、保持栓３７をフープ３６から引き抜く。その結果、カテーテル３１がフープ３６から取り出される。そして、工程Ｓ１８（不図示）では、カテーテル３１を用いて所定の治療或いは検査を行う。

　第１実施形態に係る光測定装置１では、取付部７が受光部６に対するフープ３６の位置を規定する。その結果、レーザ光Ｌの強度を測定するために、カテーテル３１をフープ３６から取り出す必要がない。そうすると、カテーテル３１をフープ３６に収容した状態でレーザ光Ｌの強度を測定することが可能になる。その結果、カテーテル３１の清浄度を維持することができる。さらに、カテーテル３１をフープ３６から取り出す必要がない。その結果、レーザ光Ｌの測定に要する工程を簡素化でできる。従って、光測定装置１によれば、カテーテル３１の清浄度を維持すると共に、光強度の確認作業を容易に行うことができる。

　第１実施形態に係るカテーテルキット３０は、保持栓３７によってフープ３６に対するカテーテル３１の位置が保持されている。この構成によれば、レーザ光Ｌの強度を測定するときに、カテーテル先端部３１ａから受光部６までの距離のばらつきの発生を抑制することができる。

　換言すると、カテーテルキット３０の保持栓３７は、フープ３６の延在方向において、フープ先端部３６ａにカテーテル先端部３１ａを合せるように、フープ３６の位置に対するカテーテル３１の位置を保持する。この構成によれば、フープ先端部３６ａの位置が規定される。その結果、カテーテル先端部３１ａの位置が規定される。従って、カテーテル先端部３１ａから受光部６までの距離のばらつきの発生をより抑制することができる。

　さらに、カテーテルキット３０は、フープ基端部３６ｂに設けられて、フープ３６の延在方向におけるフープ先端部３６ａに対するカテーテル先端部３１ａの位置を変更する位置調整機構４７をさらに備える。この構成によれば、保管時のカテーテル先端部３１ａの位置と、測定時のカテーテル先端部３１ａの位置と、を相互に切り替えることが可能になる。つまり、保管時には、カテーテル先端部３１ａをフープ先端部３６ａに対して奥側に配置することが可能になる。その結果、カテーテル先端部３１ａを保護することができる。さらに、測定時にはカテーテル先端部３１ａをフープ先端部３６ａの位置に合せることが可能になる。その結果、カテーテル先端部３１ａから受光部６までの距離のばらつきの発生を抑制することができる。

　カテーテルキット３０は、フープ先端部３６ａに取り付けられて、フープ先端部３６ａの先端開口３６ｃを閉鎖する保護キャップ４２をさらに備える。この構成によれば、カテーテル先端部３１ａを保護することができる。

　より詳細には、カテーテルキット３０は、フープ３６に取り付けられる保護キャップ４３と、保護キャップ４３が取り付けられたフープ３６を取付部７に配置するアダプタ３と、をさらに備える。フープ３６は、カテーテル先端部３１ａが配置されると共に先端開口３６ｃを含むフープ先端部３６ａを有する。保護キャップ４３は、フープ先端部３６ａに取り付けられる。保護キャップ４３は、先端開口３６ｃを閉鎖すると共に光ファイバ３３から出射されたレーザ光Ｌを透過させる透過窓部４３ｃを含むキャップ先端部４３ａを有する。アダプタ３は、キャップ先端部４３ａが突き当てられる当接部３ｃを有する。この構成によれば、カテーテル先端部３１ａと受光部６との間には、透過窓部４３ｃを有する保護キャップ４３が配置される。透過窓部４３ｃは、フープ先端部３６ａの先端開口３６ｃを閉鎖している。従って、カテーテル先端部３１ａを保護することができる。

　第１実施形態に係る光測定方法では、フープ３６を取付部７に配置する工程Ｓ１２において、受光部６に対するフープ３６の位置を規定する。その結果、レーザ光Ｌの強度を測定するために、カテーテル３１をフープ３６から取り出す必要がない。そうすると、レーザ光Ｌの強度を得る工程Ｓ１４において、カテーテル３１をフープ３６に収容した状態でレーザ光Ｌの強度を測定することが可能になる。従って、カテーテル３１の清浄度を維持することができる。さらに、カテーテル３１をフープ３６から取り出す必要がない。その結果、レーザ光Ｌの測定に要する工程を簡素化でできる。従って、光測定方法によれば、カテーテル３１の清浄度を維持すると共に、光強度の確認作業を容易に行うことができる。

＜第２実施形態＞
　第２実施形態に係る光測定装置及びカテーテルキットについて説明する。図８に示すように、第２実施形態のカテーテルキット３０Ａは、位置調整機構４７を有しない点で、第１実施形態のカテーテルキット３０と相違する。一方、第２実施形態の光測定装置１は、第１実施形態の光測定装置１と同様の構成を有する。以下、図９のフロー図に示す位置調整機構４７を有しないカテーテルキット３０Ａを用いた光測定方法について説明する。

　工程Ｓ２Ａを実施する（図１０の（ａ）部）。はじめに、フープ３６に保護キャップ４３を取り付ける。この工程Ｓ２Ａでは、保護キャップ４３をフープ３６に完全に被せない。具体的には、キャップ先端壁４３ｄの内面にフープ先端部３６ａの先端面を当接させない。つまり、キャップ先端壁４３ｄの内面と、フープ先端部３６ａの先端面との間には、所定の間隔Ｄ３が設けられる。

　工程Ｓ４Ａを実施する（図１０の（ｂ）部参照）。この工程Ｓ４Ａでは、カテーテル３１をフープ３６に収容する。ここで、工程Ｓ２Ａでは、保護キャップ４３とフープ３６との間に所定の間隔Ｄ３を設けるように保護キャップ４３をフープ３６に取り付けた。そして、工程Ｓ４Ａでは、フープ先端部３６ａに一致するようにカテーテル先端部３１ａを配置する。そうすると、カテーテル先端部３１ａとキャップ先端壁４３ｄとの間にも所定の間隔Ｄ３が形成される。従って、カテーテル先端部３１ａがキャップ先端壁４３ｄの内面に突き当たることがないので、カテーテル先端部３１ａを保護することができる。

　工程Ｓ６を実施する（図１０の（ｃ）部参照）。具体的な工程は、第１実施形態に係る工程Ｓ６と同様である。続いて、工程Ｓ８を実施する（図１１の（ａ）部参照）。具体的な工程は、第１実施形態に係る工程Ｓ８と同様である。

　工程Ｓ９を実施する（図１１の（ｂ）部参照）。この工程Ｓ９において保護キャップ４３をフープ３６側に押し込む。その結果、キャップ先端壁４３ｄの内面がフープ先端部３６ａの先端面に当接する。工程Ｓ９により、カテーテル先端部３１ａの位置は、フープ先端部３６ａの位置に一致する。

　以後の具体的な工程は、第１実施形態に係る工程Ｓ１２、Ｓ１４、Ｓ１６、Ｓ１８とおおむね同様である。つまり、工程Ｓ１２（図１２の（ａ）部参照）では、アダプタ３を取付部７にねじ込む。そして、アダプタ３にカテーテルキット３０Ａの先端部を挿し込む。続いて、工程Ｓ１４（図１２の（ａ）部参照）では、光源１０１を操作する。その結果、レーザ光Ｌが発生する。レーザ光Ｌの強度の確認を行う。続いて、工程Ｓ１６（図１２の（ｂ）部参照）では、アダプタ３からカテーテルキット３０Ａを引き抜く。その後、フープ３６からカテーテル３１を引き抜く。そして、工程Ｓ１８（不図示）では、カテーテル３１を用いて所定の治療或いは検査を行う。

　第２実施形態に係る光測定方法は、第１実施形態に係る光測定方法と同様にカテーテル３１の清浄度を維持すると共に、光強度の確認作業を容易に行うことができる。

＜第３実施形態＞
　次に、第３実施形態に係る光測定装置及びカテーテルキットについて説明する。図１３に示すように、第３実施形態のカテーテルキット３０Ｂは、カテーテル収容具３２Ｂが保護キャップ４３と位置調整機構４７とを有しない点で、第１実施形態のカテーテルキット３０と相違する。以下、第３実施形態に係る光測定装置１Ａについて、第１実施形態に係る光測定装置１と相違する点について説明した後に、第３実施形態に係る光測定方法について説明する。

　図１４に示すように光測定装置１Ａは、アダプタ３Ａを有する。第３実施形態に係るアダプタ３Ａ（第１アダプタ）は、保護キャップ４３を介することなく、フープ３６を直接に保持する。従って、当接部３ｃ（第１突き当て部）にはフープ先端部３６ａの先端面が当接する。

　以下、図１５のフロー図に示す第３実施形態に係るカテーテルキット３０Ｂを用いた光測定方法について説明する。

　工程Ｓ４Ａを実施する（図１６の（ａ）部参照）。第２実施形態の工程Ｓ４Ａと同様に、工程Ｓ４Ａでは、フープ先端部３６ａに一致するようにカテーテル先端部３１ａを配置する。

　工程Ｓ５を実施する（図１６の（ｂ）部参照）。工程Ｓ５では、フープ３６に保護キャップ４２（閉鎖部）を取り付ける。保護キャップ４２は、フープ３６の先端開口３６ｃを閉鎖する。その結果、カテーテル先端部３１ａが保護される。保護キャップ４２は、フープ保持部４２ａを有する。フープ保持部４２ａの内径は、フープ３６の外径よりも僅かに小さい。この構成によれば、フープ保持部４２ａにフープ３６が挿し込まれた状態において、フープ保持部４２ａの内周面がフープ３６の外周面に押圧される。従って、保護キャップ４２の脱落を防止できる。なお、保護キャップ４２及びフープ３６は、材料に起因する柔軟性を有する。従って、保護キャップ４２は、容易に取り外すことができる。

　工程Ｓ６を実施する（図１６の（ｃ）部参照）。具体的な工程は、第１実施形態に係る工程Ｓ６と同様である。工程Ｓ８を実施する（図１７の（ａ）部参照）。具体的な工程は、第１実施形態に係る工程Ｓ８と同様である。

　以後の具体的な工程は、第１実施形態に係る工程Ｓ１２、Ｓ１４、Ｓ１６、Ｓ１８とおおむね同様である。つまり、工程Ｓ１２（図１８の（ａ）部参照）では、アダプタ３Ａを取付部７にねじ込む。そして、アダプタ３Ａにカテーテルキット３０Ｂの先端部を挿し込む。続いて、工程Ｓ１４（図１８の（ａ）部参照）では、光源１０１を操作する。その結果、レーザ光Ｌが発生する。次に、レーザ光Ｌの光強度の確認を行う。続いて、工程Ｓ１６（図１８の（ｂ）部参照）では、アダプタ３Ａからカテーテルキット３０Ｂを引き抜く。その後、フープ３６からカテーテル３１を引き抜く。そして、工程Ｓ１８（不図示）では、カテーテル３１を用いて所定の治療或いは検査を行う。

　第３実施形態に係る光測定装置１Ａ及び光測定方法は、第１実施形態と同様にカテーテル３１の清浄度を維持すると共に、光強度の確認作業を容易に行うことができる。

　光測定装置１Ａは、フープ３６を取付部７に配置するアダプタ３Ａをさらに備える。アダプタ３Ａは、フープ先端部３６ａが突き当てられる当接部３ｃを有する。この構成によれば、フープ先端部３６ａにおける先端開口３６ｃを介してレーザ光Ｌが受光部６に向かって出射される。その結果、カテーテル先端部３１ａから出射されたレーザ光Ｌは、減衰することなく直接に受光部６に入射する。従って、精度のよいレーザ光Ｌの強度を得ることができる。

　以上、本発明をその実施形態に基づいて詳細に説明した。しかし、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。本発明は、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変形が可能である。例えば、カテーテルキットは、上記各実施形態に示す構成に限定されない。カテーテルキットは、種々の構成を取り得る。

　第１実施形態及び第２実施形態に係るカテーテルキット３０、３０Ａは、フープ先端部３６ａの先端開口３６ｃを閉鎖する構成（保護キャップ４２）を有していた。先端開口３６ｃを閉鎖する構成は、以下の変形例１、２、３に示す構成であってもよい。

＜変形例１＞
　図１９の（ａ）部に示すように、変形例１に係るカテーテルキット３０Ｃは、保護キャップ４８を有する。保護キャップ４８は、フープ３６に対して着脱可能とされてもよい。また、保護キャップ４８は、フープ３６から取り外しができないように接着剤等によりフープ３６に対して固定されてもよい。保護キャップ４８は、レーザ光Ｌに対して透明な材料により形成される。保護キャップ４８は、キャップ本体部４８ａとフランジ部４８ｂとを有する。キャップ本体部４８ａは、円柱状を呈する。キャップ本体部４８ａは、フープ先端部３６ａに嵌め込まれる。フランジ部４８ｂは、キャップ本体部４８ａの先端側に設けられる。フランジ部４８ｂは、円板状を呈する。フランジ部４８ｂは、フープ３６の外周面の直径と略同じ直径を有する。即ち、フランジ部４８ｂの直径は、先端開口３６ｃの内径よりも大きい。この構成によれば、フランジ部４８ｂの基端面がフープ先端部３６ａの先端面に当接する。その結果、保護キャップ４８の挿入深さを規定することができる。

　保護キャップ４８は、カテーテル先端部３１ａの位置を規定するカテーテル配置部４８ｃを有する。カテーテル配置部４８ｃは、カテーテル３１の中心軸線Ａ３１をフープ３６の中心軸線Ａ３６に沿わせる。換言すると、カテーテル配置部４８ｃは、フープ３６の直径方向におけるカテーテル先端部３１ａの位置を規定する。さらに、カテーテル配置部４８ｃは、カテーテル３１の向き（即ちレーザ光Ｌの出射方向）も所定の向きに規定する。このようなカテーテル配置部４８ｃによれば、受光部６に対するカテーテル先端部３１ａの位置と姿勢とを精度良く規定することができる。従って、精度の良い光強度の値を得ることができる。また、測定毎の光強度のばらつきの発生を抑制することができる。

　カテーテル配置部４８ｃは、テーパ状の穴であり、キャップ本体部４８ａの基端面からフランジ部４８ｂに向かって延びる。カテーテル配置部４８ｃの直径は、フランジ部４８ｂに向かって徐々に小さくなる。カテーテル配置部４８ｃは、基端面に設けられた基端開口４８ｄと、フランジ部４８ｂ側に設けられた底部４８ｅと、を有する。基端開口４８ｄの内径は、カテーテル３１の外径よりも大きい。さらに基端開口４８ｄの内径は、フープ３６の内径よりもわずかに小さい。底部４８ｅの直径は、カテーテル３１の外径よりも小さい。従って、カテーテル先端部３１ａの先端面は、底部４８ｅに接触しない。このようなカテーテル配置部４８ｃによれば、基端側から先端側に向けてカテーテル３１をフープ３６に挿し込んだとき、カテーテル先端部３１ａをカテーテル配置部４８ｃへ好適に導くことができる。なお、保護キャップ４８を用いた場合には、カテーテル先端部３１ａの先端面は、フープ先端部３６ａの先端面から突出しない。従って、レーザ光Ｌの出射方向におけるカテーテル先端部３１ａの位置が規定される。

　保護キャップ４８によれば、レーザ光Ｌは、キャップ本体部４８ａ及びフランジ部４８ｂを通過して受光部６に入射する。具体的には、カテーテル配置部４８ｃの形状は、レーザ光Ｌの光軸がカテーテル配置部４８ｃのテーパ面と交差するように構成されていてもよい（矢印Ｗ１参照）。なお、カテーテル配置部４８ｃの形状は、レーザ光Ｌの光軸がテーパ面と交差しなくてもよい。つまり、カテーテル配置部４８ｃの形状は、レーザ光Ｌの光軸が底部４８ｅと交差するように構成されていてもよい（矢印Ｗ２参照）。

＜変形例２＞
　図１９の（ｂ）部に示すように、変形例２に係るカテーテルキット３０Ｄも、変形例１のカテーテルキット３０Ｃのように、カテーテル先端部３１ａの位置を規制することができる。

　カテーテルキット３０Ｄは、保護キャップ４９を有する。保護キャップ４９は、フープ３６に対して着脱可能とされてもよい。保護キャップ４９は、取り外しができないように接着剤等によりフープ３６に対して固定されてもよい。保護キャップ４９は、本体筒部４９ａとテーパ筒部４９ｂとを有する。本体筒部４９ａは、フープ先端部３６ａを覆う筒状の部材である。本体筒部４９ａの内径は、フープ３６の外径と略同じ又は僅かに小さい。テーパ筒部４９ｂは、本体筒部４９ａの先端側に設けられる。テーパ筒部４９ｂは、円錐台状を呈する。テーパ筒部４９ｂの外径は、本体筒部４９ａと連続する部分から先端側に向けて次第に小さくなる。テーパ筒部４９ｂは、テーパ状の穴を有する。テーパ状の穴の内径は、先端に向けて次第に小さくなる。このテーパ状の穴は、カテーテル配置部４９ｃである。

　カテーテル配置部４９ｃは、テーパ状の穴である。テーパ状の穴は、本体筒部４９ａとテーパ筒部４９ｂとの境界から先端に向かって延びる。カテーテル配置部４９ｃの直径は、先端に向かって徐々に小さくなる。カテーテル配置部４９ｃは、基端開口４９ｄと、先端底部４９ｅと、を有する。基端開口４９ｄの内径は、フープ３６の外径と略同じである。先端底部４９ｅの直径は、カテーテル３１の外径よりも小さい。従って、カテーテル先端部３１ａの先端面は、先端底部４９ｅに接触しない。このようなカテーテル配置部４９ｃによれば、基端側から先端側に向けてカテーテル３１をフープ３６に挿し込んだとき、カテーテル先端部３１ａをカテーテル配置部４９ｃへ好適に導くことができる。なお、保護キャップ４９を用いた場合には、カテーテル先端部３１ａの先端面は、フープ先端部３６ａの先端面から突出する。この構成によれば、カテーテル先端部３１ａを保護した状態で、カテーテル先端部３１ａを受光部６に近づけることができる。

　保護キャップ４９によれば、レーザ光Ｌは、テーパ筒部４９ｂを通過して受光部６に入射する。具体的には、カテーテル配置部４９ｃの形状は、レーザ光Ｌの光軸がテーパ面と交差することなく、先端底部４９ｅと交差する（矢印Ｗ３参照）。なお、カテーテル配置部４９ｃの形状は、レーザ光Ｌの光軸がテーパ面と交差してもよい。

＜変形例３＞
　図１９の（ｃ）部に示すように、変形例３に係るカテーテルキット３０Ｅは、保護蓋部５１を有する。保護蓋部５１は、円板状を呈する。保護蓋部５１は、外周面５１ａと、先端面５１ｂと、基端面５１ｃとを有する。保護蓋部５１の外径は、フープ３６の内径と略等しい。保護蓋部５１は、フープ先端部３６ａの先端開口３６ｃに嵌め込まれる。保護蓋部５１は、先端面５１ｂが外部に露出する。保護蓋部５１は、基端面５１ｃがフープ３６の内側に向く。つまり、カテーテル先端部３１ａは、基端面５１ｃと対面する。カテーテル先端部３１ａから出射されたレーザ光Ｌは、保護蓋部５１を通過した後に受光部６に入射する。従って、保護蓋部５１は、レーザ光Ｌに対して透明な材料により形成される。

　保護蓋部５１は、取り外しができないように接着剤等によりフープ３６に対して固定されている。つまり、保護蓋部５１は、フープ３６と一体化される。具体的には、保護蓋部５１の外周面５１ａがフープ３６の内周面に接着等により固定される。この構成によれば、保護蓋部５１は、フープ３６から脱落しない。従って、カテーテル先端部３１ａを確実に保護することができる。

　第３実施形態に係るカテーテルキット３０Ｂは、その先端が開放されていた。このように、開放された先端開口３６ｃを有するカテーテルキットは、以下の変形例４、５、６に示す構成を有してもよい。

＜変形例４＞
　図２０の（ａ）部に示すように、変形例４に係るカテーテルキット３０Ｆは、フープ５２を有する。フープ５２は、フープ先端部５２ａに設けられたカテーテル配置部５２ｂを有する。カテーテル配置部５２ｂは、カテーテル３１の中心軸線Ａ３１をフープ５２の中心軸線Ａ５２に沿わせる。カテーテル配置部５２ｂは、貫通穴５２ｃとテーパ部５２ｄとを有する。貫通穴５２ｃは、フープ５２の中心軸線Ａ５２に沿って並設されている。テーパ部５２ｄは、カテーテル配置部５２ｂを構成する。貫通穴５２ｃは、フープ先端部５２ａの先端面に形成された先端開口５２ｅと、基端側に形成された基端開口５２ｆとを含む。テーパ部５２ｄは、基端開口５２ｆに連続する先端部５２ｇと、フープ５２の内周面に連続する基端部５２ｈとを含む。貫通穴５２ｃの内径は、フープ５２の内径よりも小さい。従って、テーパ部５２ｄの内径は、基端部５２ｈから先端部５２ｇに向かって次第に小さくなる。さらに、貫通穴５２ｃの内径は、カテーテル３１の外径よりも小さい。従って、カテーテル先端部３１ａは、貫通穴５２ｃに挿入されない。

　カテーテル配置部５２ｂは、フープ５２の一部である。換言すると、カテーテル配置部５２ｂは、フープ先端部５２ａにおいて、先端に向かってフープ５２の肉厚が次第に厚くなる部分である。このようなカテーテル配置部５２ｂでは、カテーテル先端部３１ａは、フープ先端部５２ａから突出しない。従って、カテーテル先端部３１ａは、アダプタ５３のアダプタ先端面５３ａから突出しない。従って、レーザ光Ｌの出射方向におけるカテーテル先端部３１ａの位置が規定される。

　カテーテル３１から出射されたレーザ光Ｌは、貫通穴５２ｃを介して受光部６に入射される（矢印Ｗ４参照）。従って、カテーテル３１から出射されたレーザ光Ｌが直接に受光部６に入射する。その結果、精度の良い測定結果を得ることができる。また、レーザ光Ｌが貫通穴５２ｃを通る。従って、フープ５２を構成する材料について、レーザ光Ｌに対する透光性の有無は問わない。フープ５２は、透光性を有する材料によって形成されてもよい。また、フープ５２は、透光性を有しない材料によって形成されてもよい。

＜変形例５＞
　図２０の（ｂ）部に示すように、変形例５に係るカテーテルキット３０Ｇは、フープ５４を有する。フープ５４は、フープ本体部５４ａと突出筒部５４ｂとを有する。フープ本体部５４ａは、先端面５４ｃを含むフープ先端部５４ｄを有する。突出筒部５４ｂの中心軸線は、フープ本体部５４ａの中心軸線と重複する。突出筒部５４ｂは、先端面５４ｃから突出する。突出筒部５４ｂの外径は、フープ本体部５４ａの外径よりも小さい。従って、フープ本体部５４ａの先端面５４ｃと突出筒部５４ｂの外周面５４ｅとは、段付き部を形成する。

　フープ５４がアダプタ５６に挿入されたとき、突出筒部５４ｂはアダプタ先端部５６ａの先端開口５６ｂから突出する。フープ本体部５４ａの先端面５４ｃは、アダプタ先端部５６ａの内面に当接する。フープ本体部５４ａの先端面５４ｃは、アダプタ５６へのフープ５４の挿入深さを規定する。

　フープ５４は、カテーテル配置部５４ｆを有する。カテーテル配置部５４ｆは、フープ５４の一部である。カテーテル配置部５４ｆは、テーパ状を呈する穴である。このカテーテル配置部５４ｆの内径は、基端側から先端側に向かって次第に小さくなる。具体的には、カテーテル配置部５４ｆの基端部５４ｇは、フープ本体部５４ａに設けられる。基端部５４ｇの内径は、フープ本体部５４ａの内径と等しい。カテーテル配置部５４ｆの先端部５４ｈは、突出筒部５４ｂの先端面５４ｃに設けられた開口である。先端部５４ｈの内径は、フープ５４の内径よりも小さい。さらに、先端部５４ｈの内径は、カテーテル３１の外径よりも小さい。フープ本体部５４ａの先端面５４ｃに対応する位置において、カテーテル配置部５４ｆの内径は、カテーテル３１の外径よりも大きい。

　この構成によれば、カテーテル３１がカテーテル配置部５４ｆに挿入されると、カテーテル先端部３１ａは、カテーテル３１の外径よりも大きいフープ本体部５４ａの先端部５４ｈに対応する位置よりも先端側に配置される。従って、カテーテル先端部３１ａを受光部６により近づけることができる。その結果、精度の良い光強度を得ることができる。また、突出筒部５４ｂに設けられた開口がカテーテル３１の外径よりも小さい。その結果、カテーテル先端部３１ａは、突出筒部５４ｂから先端側に突出しない。従って、突出筒部５４ｂは、カテーテル先端部３１ａを保護する。

＜変形例６＞
　図２０の（ｃ）部に示すように、変形例６に係るカテーテルキット３０Ｈは、フープ５７を有する。フープ５７は、フープ本体部５７ａとフープフランジ部５７ｂとを有する。フープ本体部５７ａは、フープ先端面５７ｃを有する。フープフランジ部５７ｂの中心軸線は、フープ本体部５７ａの中心軸線と重複する。フープフランジ部５７ｂは、フープ本体部５７ａのフープ先端面５７ｃから所定の距離だけ基端側に離間した位置に設けられる。所定の距離とは、例えば、アダプタ５８のアダプタ先端面５８ａからアダプタ基端面５８ｂまでの距離よりも大きい。フープフランジ部５７ｂの外径は、アダプタ５８のフープ配置部５８ｄの内径よりも大きい。従って、フープ５７をアダプタ５８に挿入したとき、フープフランジ部５７ｂの先端面５７ｈは、アダプタ５８に当接する。より詳細には、フープフランジ部５７ｂの先端面５７ｈは、アダプタ基端面５８ｂに当接する。フープフランジ部５７ｂは、アダプタ５８へのフープ５７の挿入深さを規定する。フープフランジ部５７ｂが設けられた位置からフープ先端面５７ｃまでの距離は、アダプタ先端面５８ａからアダプタ基端面５８ｃまでの距離よりも大きい。従って、フープフランジ部５７ｂがアダプタ５８に当接すると、フープ先端面５７ｃは、アダプタ先端面５８ａから突出する。

　フープ５７は、カテーテル配置部５７ｅを有する。カテーテル配置部５７ｅは、フープ５７の一部である。カテーテル配置部５７ｅは、テーパ状を呈する穴である。カテーテル配置部５７ｅの内径は、基端側から先端側に向かって次第に小さくなる。具体的には、カテーテル配置部５７ｅの基端部５７ｆの内径は、フープ本体部５７ａの内径と等しい。カテーテル配置部５７ｅの先端部５７ｇは、フープ先端面５７ｃに設けられた開口である。先端部５７ｇの内径は、フープ５７の内径よりも小さい。さらに、先端部５７ｇの内径は、カテーテル３１の外径よりも小さい。フープ本体部５７ａがアダプタ先端面５８ａから突出する位置において、カテーテル配置部５７ｅの内径は、カテーテル３１の外径よりも大きい。

　この構成によれば、カテーテル３１がカテーテル配置部５７ｅに挿入されると、カテーテル先端部３１ａは、アダプタ先端面５８ａよりも先端側に配置される。従って、カテーテル先端部３１ａは受光部６により近づく。その結果、精度の良い光強度を得ることができる。また、突出筒部５４ｂに設けられた開口がカテーテル３１の外径よりも小さい。その結果、カテーテル先端部３１ａは、フープ先端面５７ｃから先端側に突出しない。従って、突出筒部５４ｂは、カテーテル先端部３１ａを保護する。

　第１実施形態に係るカテーテルキット３０は、フープ３６に対するカテーテル３１の位置を切り替える位置調整機構４７を有していた。位置調整機構の具体的な構成は、以下の変形例７、８に示す構成としてもよい。

＜変形例７＞
　図２１に示すように、変形例７に係るカテーテルキット３０Ｊは、第３実施形態とは別の構成を有する位置調整機構５９を有する。位置調整機構５９は、シリコーンゴムなどにより形成されたチューブ５９ａである。チューブ５９ａは、フープ３６と保持栓６１との間に配置される。チューブ５９ａは、フープ基端部３６ｂと保持栓先端面６１ａとの間の間隔を維持及び変更する。

　チューブ先端部５９ｂには、フープ基端部３６ｂが挿し込まれる。チューブ基端部５９ｃには、保持栓６１の圧入部６１ｂが挿し込まれる。換言すると、位置調整機構５９は、チューブ５９ａとフープ３６とにより構成される二重構造である。ここで、チューブ基端部５９ｃは、保持栓６１に対して固定されている。一方、チューブ先端部５９ｂは、フープ基端部３６ｂに対して摺動可能である。このような構成は、チューブ先端部５９ｂの内径とフープ基端部３６ｂの外径とを所定の寸法値に設定することにより実現できる。

　図２１の（ａ）部に示すように、カテーテルキット３０Ｊを保管等するとき、チューブ５９ａは、フープ基端部３６ｂと保持栓先端面６１ａとの間の間隔を所定の間隔に維持する。このとき、カテーテル先端部３１ａは、フープ先端部３６ａに対して間隔だけ基端側に配置される（第１の位置）。つまり、カテーテル先端部３１ａは、フープ３６により保護されている。

　図２１の（ｂ）部に示すように、カテーテルキット３０Ｊを用いてレーザ光Ｌの測定を行うとき、保持栓６１を先端側へ押し込む。そうすると、チューブ先端部５９ｂとフープ基端部３６ｂとの間で滑りが生じる。その結果、チューブ５９ａ及び保持栓６１が一体となって先端側へ移動する。つまり、フープ基端部３６ｂと保持栓先端面６１ａとの間の間隔が小さくなる。そして、最終的にフープ基端部３６ｂに保持栓先端面６１ａが接触する。このとき、カテーテル先端部３１ａは、フープ先端部３６ａの位置に一致する。つまり、カテーテル先端部３１ａは、光の強度測定に適した位置（第２の位置）に配置される。

＜変形例８＞
　図２２に示すように、変形例８に係るカテーテルキット３０Ｋは、さらに別の構成を有する位置調整機構６２を有してもよい。位置調整機構６２は、ガイドピン６２ａとガイド溝６２ｂとにより構成される。これらのガイドピン６２ａ及びガイド溝６２ｂによれば、カテーテル先端部３１ａを保護する状態と、カテーテルキット３０Ｋを用いたレーザ光Ｌの測定を行う状態と、を確実に切り替える。さらに、位置調整機構６２は、それぞれの状態を確実に維持することができる。カテーテルキット３０Ｋは、チューブ６３を有する。チューブ６３は、フープ６４と保持栓６５との間に配置される。すなわち、変形例８に係る位置調整機構６２は、変形例７に係る位置調整機構６２と同様に、いわゆる二重構造を有する。

　例えば、ガイド溝６２ｂは、フープ基端部６４ａの外周面に設けられる。ガイド溝６２ｂは、フープ６４の側壁を貫通してもよい。また、ガイド溝６２ｂは、底部を有する形状でもよい。ガイド溝６２ｂは、円周方向に延びる第１規制部６２ｃ及び第２規制部６２ｄと、軸線方向に延びる連結溝部６２ｅと、を有する。第１規制部６２ｃの一端と第２規制部６２ｄの一端とは、連結溝部６２ｅによって連結される。連結溝部６２ｅは、フープ６４の軸線方向に延びる。第１規制部６２ｃは、フープ基端面側に設けられる。第２規制部６２ｄは、第１規制部６２ｃよりも先端側に設けられる。第１規制部６２ｃから第２規制部６２ｄまでの距離は、カテーテル３１の移動距離と対応する。ガイドピン６２ａは、チューブ６３の内周面に設けられる。ガイドピン６２ａは、円柱状の突起である。ガイドピン６２ａは、内周面からチューブ６３の径方向に沿って延びる。ガイドピン６２ａの直径は、ガイド溝６２ｂと略同じ、又は僅かに小さい。

　図２２の（ａ）部に示すように、カテーテルキット３０Ｋを保管等するとき、ガイドピン６２ａは、第１規制部６２ｃに嵌められる。第１規制部６２ｃにガイドピン６２ａが嵌るとき、カテーテル先端部３１ａはフープ６４の奥側（第１の位置）に配置された保護状態である。第１規制部６２ｃは、円周方向に延びている。その結果、ガイドピン６２ａは軸線方向に移動しない。従って、カテーテル先端部３１ａがフープ６４の奥に配置されるので、保護されている状態を確実に維持できる。

　次に、切替動作について説明する。図２２の（ｂ）部に示すように、まず、チューブ６３を第１規制部６２ｃが延びる方向に回転させる。そうすると、ガイドピン６２ａが連結溝部６２ｅの基端部に移動する。そして、ガイドピン６２ａを連結溝部６２ｅに沿って移動させる。つまり、チューブ６３と保持栓６５とを先端側へ移動させる。この移動により、カテーテル先端部３１ａがフープ先端部３６ａと一致する。そして、ガイドピン６２ａを連結溝部６２ｅの先端まで移動させた後に、チューブ６３を円周方向に回転させる。そうすると、ガイドピン６２ａが第２規制部６２ｄに嵌る。第２規制部６２ｄにガイドピン６２ａが嵌るとき、カテーテル先端部３１ａはフープ先端部３６ａに一致する（第２の位置）測定状態である。第２規制部６２ｄは、第１規制部６２ｃと同様に円周方向に延びている。その結果、ガイドピン６２ａは軸線方向に移動しない。従って、カテーテル先端部３１ａがフープ先端部３６ａに配置された状態を確実に維持できる。

　第１実施形態に係るカテーテルキット３０は、フープ３６に対するカテーテル３１の位置を保持するための機構を有していた。この機構の具体的な構成は、以下の変形例９、１０、１１に示す構成としてもよい。

＜変形例９＞
　図２３の（ａ）部に示すように、変形例９に係るカテーテルキット３０Ｌは、カテーテル３１の位置を保持するための機構としてクリップ６６を有してもよい。クリップ６６は、フープ基端部３６ｂに取り付けられる。クリップ６６は、フープ３６を径方向に潰すような力を発生させる。フープ３６が径方向に潰されると、フープ３６の内周面がカテーテル３１の外周面に押し当てられる。クリップ６６は、フープ３６を径方向から挟むように取り付けられる。従って、クリップ６６によって潰されたフープ３６の側壁がカテーテル３１を挟む。この構成により、フープ３６に対するカテーテル３１の位置が保持される。また、フープ３６を移動させるときには、クリップ６６を取り外す。このクリップ６６による保持機構によれば、カテーテル３１を保持する状態と、カテーテルを移動させ得る状態とを容易に切り替えることができる。

＜変形例１０＞
　図２３の（ｂ）部に示すように、変形例１０に係るカテーテルキット３０Ｐは、保持機構としてチューブ６７を有してもよい。この構成は、変形例７の構成に類似する。つまり、二重構造である。変形例７の構成に対して異なる点は、チューブ先端部６７ａがフープ基端部３６ｂに対して摺動し難いように構成された点である。変形例１０においては、フープ３６の外径よりもチューブ６３の内径が小さい。その結果、チューブ６３にフープ３６を挿し込んだとき、圧入状態とされる。

＜変形例１１＞
　図２３の（ｃ）部に示すように、変形例１１に係るカテーテルキット３０Ｑは、保持機構としてクランプ６８を有してもよい。クランプ６８は、カテーテル基端部３１ｂを着脱可能なＵ字状の部品である。クランプ６８は、フープ３６の外周面に固定される固定部６９を含む。カテーテル基端部３１ｂは、径方向に沿ってクランプ６８の開口から挿し込まれる。その結果、カテーテル基端部３１ｂがクランプ６８に対して固定される。そして、クランプ６８は固定部６９によってフープ３６に固定される。従って、フープ３６に対してカテーテル３１が保持される。

　第３実施形態に係るカテーテルキット３０Ｂは、保管時にフープ先端部３６ａに装着される保護キャップ４２を有していた。フープ先端部３６ａと一致するように配置されたカテーテル先端部３１ａを保護する構成は、以下の変形例１２、１３に示す構成としてもよい。

＜変形例１２＞
　図２４の（ａ）部及び（ｂ）部に示すように、変形例１２に係るカテーテルキット３０Ｓは、保護キャップ７２を有する。この保護キャップ７２は、変形例２の保護キャップ７２に類似する構成を有する。変形例２の保護キャップ４９に対して異なる点は、変形例１２に係る保護キャップ７２は、フープ３６に対して移動させることができる点である。

　図２４の（ａ）部に示すように、カテーテルキット３０Ｓを保管するときには、保護キャップ７２をフープ先端部３６ａに浅く被せる。この構成によれば、保護キャップ７２のキャップ先端部７２ａとカテーテル先端部３１ａとの間に間隔が設けられる。従って、カテーテル先端部３１ａを好適に保護できる。

　一方、図２４の（ｂ）部に示すように、カテーテルキット３０Ｓを用いたレーザ光Ｌの測定を行う場合には、保護キャップ７２をフープ３６側に押し込む。この押し込みにより、キャップ先端部７２ａとカテーテル先端部３１ａとの間の間隔が小さくなる。そうすると、保護キャップ７２とフープ３６とをひとつのフープ部材としてみたとき、保護キャップ７２は、カテーテル先端部３１ａとフープ部材との相対位置を変化させるものである。従って、保護キャップ７２は、広義の位置調整機構と定義してもよい。さらに、保護キャップ７２のテーパ内周面に沿ってカテーテル先端部３１ａが案内される。この案内の結果、カテーテル３１の中心軸線Ａ３１がフープ３６の中心軸線Ａ３６に沿う。従って、レーザ光Ｌが出射されるカテーテル先端部３１ａの位置及び姿勢のばらつきが抑制される。その結果、精度の良い光強度の測定を行うことができる。

＜変形例１３＞
　図２４の（ｃ）部に示すように、変形例１３に係るカテーテルキット３０Ｒは、保護チューブ７１を有する。保護チューブ７１は、フープ先端部３６ａに取り付けられる。その結果、フープ３６は、実質的に延長される。保護チューブ７１は、フープ先端部３６ａを受け入れるチューブ基端部７１ａと、チューブ先端部７１ｂとを有する。チューブ基端部７１ａがフープ先端部３６ａに取り付けられると、フープ３６の実質的な先端はチューブ先端部７１ｂである。チューブ先端部７１ｂは、フープ先端部３６ａよりも先端側に突出する。従って、カテーテル先端部３１ａは、チューブ先端部７１ｂよりも基端側に配置される。この構成によれば、保護チューブ７１は、カテーテル先端部３１ａを保護する。そして、レーザ光Ｌの測定を行うときには、保護チューブ７１は取り外す。

　なお、カテーテルキットは、先端形状に関する変形例１～６、１２、１３、位置調整機構に関する変形例７、８、及び、保持機構に関する変形例９、１０、１１を、カテーテルキットに要求される条件に応じて、自由に組み合わせてよい。

１，１Ａ…光測定装置、２…パワーメータ、３…アダプタ、３ｂ…アダプタ基端面、３Ｈ…フープ配置部、３Ｈｂ…基端開口、４…筐体、６…受光部、７…取付部、７ａ…起立筒部、７ｂ…取付端面、７Ｈ…アダプタ配置部、７Ｈａ…先端開口、７Ｈｂ…基端開口、８…処理装置、９…アダプタ本体、１１…アダプタフランジ、３０，３０Ａ，３０，３０Ｃ，３０Ｄ，３０Ｅ，３０Ｆ，３０Ｇ，３０Ｈ，３０Ｊ，３０Ｋ，３０Ｌ，３０Ｐ，３０Ｑ，３０Ｒ，３０Ｓ…カテーテルキット、３１…カテーテル、３１ａ…カテーテル先端部、３１ｂ…カテーテル基端部、３２，３２Ｂ…カテーテル収容具、３３…光ファイバ、３３ａ…光ファイバ先端部、３３ｂ…光ファイバ基端部、３４…構成物、３６…フープ、３６ａ…フープ先端部、３６ｂ…フープ基端部、３６ｃ…先端開口、３６ｄ…基端開口、３６ｅ…ガス導入穴、３７…保持栓、３８…カテーテル配置部、３９…圧入部、４１…フランジ部、４２…保護キャップ、４２ａ…フープ保持部、４３…保護キャップ、４３ａ…キャップ先端部、４３ｂ…キャップ基端部、４３ｄ…キャップ先端壁、４３ｃ…透過窓部、４３Ｈ…フープ配置部、４３Ｈｂ…基端開口、４６…ベロー、４６ａ…ベロー先端部、４６ｂ…ベロー基端部、４７…位置調整機構、４８…保護キャップ、４８ａ…キャップ本体部、４８ｂ…フランジ部、４８ｃ…カテーテル配置部、４８ｄ…基端開口、４８ｅ…底部、４９…保護キャップ、４９ａ…本体筒部、４９ｂ…テーパ筒部、４９ｃ…カテーテル配置部、４９ｄ…基端開口、４９ｅ…先端底部、５１…保護蓋部、５１ａ…外周面、５１ｂ…先端面、５１ｃ…基端面、５２…フープ、５２ａ…フープ先端部、５２ｂ…カテーテル配置部、５２ｃ…貫通穴、５２ｄ…テーパ部、５２ｅ…先端開口、５２ｆ…基端開口、５２ｇ…先端部、５２ｈ…基端部、５３…アダプタ、５４…フープ、５４ａ…フープ本体部、５４ｂ…突出筒部、５４ｃ…先端面、５４ｄ…フープ先端部、５４ｅ…外周面、５４ｆ…カテーテル配置部、５４ｇ…基端部、５４ｈ…先端部、５６…アダプタ、５６ａ…アダプタ先端部、５６ｂ…先端開口、５７…フープ、５７ａ…フープ本体部、５７ｂ…フープフランジ部、５７ｃ…フープ先端面、５７ｅ…カテーテル配置部、５７ｆ…基端部、５７ｇ…先端部、５７ｈ…先端面、５８…アダプタ、５８ａ…アダプタ先端面、５８ｂ…アダプタ基端面、５８ｄ…フープ配置部、５９…位置調整機構、５９ａ…チューブ、５９ｂ…チューブ先端部、５９ｃ…チューブ基端部、６１…保持栓、６１ａ…保持栓先端面、６１ｂ…圧入部、６２…位置調整機構、６２ａ…ガイドピン、６２ｂ…ガイド溝、６２ｃ…第１規制部、６２ｄ…第２規制部、６２ｅ…連結溝部、６３…チューブ、６４…フープ、６４ａ…フープ基端部、６５…保持栓、６６…クリップ、６７…チューブ、６７ａ…チューブ先端部、６８…クランプ、６９…固定部、７１…保護チューブ、７１ａ…チューブ基端部、７１ｂ…チューブ先端部、７２…保護キャップ、７２ａ…キャップ先端部、１０２…滅菌袋、１０１…光源、Ｌ…レーザ光、Ｇ…滅菌ガス。
 
 

Claims (8)

1. 　光ファイバを内蔵するカテーテルのカテーテル先端部から出射される光の強度を測定する光測定装置であって、
   　前記カテーテル先端部から出射された前記光を受ける受光部と、
   　前記受光部に対面する位置に配置された取付部と、を備え、
   　前記取付部は、前記カテーテルを収容した管状のフープの位置を前記受光部に対して規定し、
   　前記フープの位置が前記取付部によって規定された状態において、前記光を前記受光部に入射させることにより前記光の強度を得る、光測定装置。
2. 　前記フープを前記取付部に配置する第１アダプタをさらに備え、
   　前記フープは、前記カテーテル先端部が配置されると共に開口を含むフープ先端部を有し、
   　前記第１アダプタは、前記フープ先端部が突き当てられる第１突き当て部を有する、請求項１に記載の光測定装置。
3. 　前記フープに取り付けられるキャップと、
   　前記キャップが取り付けられた前記フープを前記取付部に配置する第２アダプタと、をさらに備え、
   　前記フープは、前記カテーテル先端部が配置されると共に開口を含むフープ先端部を有し、
   　前記キャップは、前記フープ先端部に取り付けられ、
   　前記キャップは、前記開口を閉鎖すると共に前記光ファイバから出射された前記光を透過させる透過窓部を含むキャップ先端部を有し、
   　前記第２アダプタは、前記キャップ先端部が突き当てられる第２突き当て部を有する、請求項１に記載の光測定装置。
4. 　光ファイバを有するカテーテルと、
   　前記カテーテルを収容するカテーテル収容具と、を備え、
   　前記カテーテルは、前記光ファイバを伝わる光を出射するカテーテル先端部を有し、
   　前記カテーテル収容具は、管状であるフープと、前記フープに対する前記カテーテルの位置を保持するカテーテル保持部と、を有し、
   　前記フープは、前記カテーテル先端部が配置されると共に開口を含むフープ先端部と、前記フープ先端部に対して逆側のフープ基端部と、を含み、
   　前記カテーテル保持部は、前記フープ基端部に取り付けられる、カテーテルキット。
5. 　前記カテーテル保持部は、前記フープの延在方向において、前記フープ先端部に前記カテーテル先端部を合せるように、前記フープに対する前記カテーテルの位置を保持する、請求項４に記載のカテーテルキット。
6. 　前記フープ先端部に取り付けられて、前記フープ先端部の前記開口を閉鎖する閉鎖部をさらに備える、請求項４又は５に記載のカテーテルキット。
7. 　前記フープ基端部に設けられて、前記フープの延在方向における前記フープ先端部に対する前記カテーテル先端部の位置を変更する位置調整機構をさらに備える、請求項４～６の何れか一項に記載のカテーテルキット。
8. 　光測定装置を用いて、光ファイバを内蔵するカテーテルと前記カテーテルを収容するフープとを有するカテーテルキットから出射される光の強度を測定する光測定方法であって、
   　前記光測定装置は、前記カテーテルから出射された前記光を受ける受光部と、前記受光部に対面する位置に配置されると共に、前記カテーテルを収容した管状のフープの位置を前記受光部に対して規定する取付部と、を備え、
   　前記カテーテルから出射される前記光が前記受光部に入射するように、前記フープを前記取付部に配置する工程と、
   　前記光ファイバから前記光を出射することにより、前記受光部に入射された前記光の強度を得る工程と、を有する、光測定方法。
   
    

Images