WO2019163023A1 - 電池材料の化学状態分析装置及び方法 - Google Patents

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Definitions

  • the present invention is an apparatus for analyzing the chemical state of a battery material, such as the valence of the ions of elements contained in the material (battery material) constituting the battery before, during or after use of the primary battery or secondary battery And a method.
  • Secondary batteries such as lithium-ion batteries, are widely used as power sources for portable information terminals and electric vehicles, etc., and charge capacity (for the time when the portable information terminal can be used with one charge and the distance that the electric vehicle can travel) There is a need to improve the life span (directly connected), life (generally indicated as the number of times charge / discharge can be repeated with a practical capacity), and the like. Therefore, development of materials used for electrodes for secondary batteries and the like has been actively conducted.
  • Non-Patent Document 1 describes that XAFS (X-ray absorption fine structure) measurement is performed on the electrode of the secondary battery while discharging after charging the secondary battery.
  • XAFS measurement is a method of irradiating a sample with synchrotron radiation, obtaining the spectrum of X-rays that have passed or reflected through the sample, and obtaining the electronic state of the sample from the position and shape of the X-ray peak absorbed by the sample.
  • a measurement result is obtained that the position of the peak of the obtained spectrum gradually moves to a higher energy side as the secondary battery is discharged. This movement of the peak position is caused by a change in the valence of element ions (Co ions in the example shown in Non-Patent Document 1) included in the electrode material during discharge of the secondary battery.
  • Non-Patent Document 1 Since the measurement method described in Non-Patent Document 1 uses radiant light, the measurement apparatus for carrying out this measurement method becomes large and expensive.
  • Non-Patent Document 1 describes that it is considered that the change in valence can be quantitatively evaluated from the relationship between the SOC (State of Charge: charge state) of the secondary battery and the peak position.
  • SOC State of Charge: charge state
  • the non-patent document 1 does not specifically show the evaluation method.
  • the secondary battery is described as an object, but the same applies to the case of the primary battery.
  • the problem to be solved by the present invention is that the device can be made smaller and less expensive than the prior art, and the chemical state of the battery material such as the valence of ions can be quantified. It is to provide an analysis apparatus and method.
  • An apparatus for analyzing a chemical state of a battery material which has been made to solve the above problems, a) an excitation source that irradiates an irradiation region within a predetermined plane in the sample containing the battery material with an excitation ray for generating characteristic X-rays of the battery material; b) a spectroscopic crystal comprising a flat plate provided facing the irradiation region; c) a slit provided between the irradiation region and the spectroscopic crystal and parallel to the irradiation region and a predetermined crystal plane of the spectroscopic crystal; d) an X-ray linear sensor provided so that linear detection elements having a length in a direction parallel to the slit are arranged in a direction perpendicular to the slit; e) a wavelength spectrum creating unit that creates a wavelength spectrum based on the intensity of the characteristic X-ray detected by the X-ray linear sensor; f) a peak wavelength determining unit for
  • the method for analyzing the chemical state of a battery material which has been made to solve the above problems, Irradiating an irradiation region in a predetermined plane in a sample containing battery material with excitation rays for generating characteristic X-rays of the battery material;
  • the characteristic X-rays generated in the irradiation region by the irradiation of the excitation beam are parallel to the irradiation crystal and a predetermined crystal plane of the spectral crystal to a spectral crystal composed of a flat plate provided facing the irradiation region.
  • Characteristic X-rays dispersed by the spectral crystal are detected by an X-ray linear sensor provided so that linear detection elements having a length in a direction parallel to the slit are arranged in a direction perpendicular to the slit, Creating a wavelength spectrum based on the characteristic X-ray intensity detected by the X-ray linear sensor, obtaining a peak wavelength that is a wavelength at the peak of the wavelength spectrum, and the chemical state of the battery material in the sample A value specifying the chemical state is obtained from a standard curve indicating a relationship between a value representing the peak wavelength and a peak wavelength.
  • the “wavelength spectrum” includes an energy spectrum and a wave number spectrum represented by energy and wave number which are values corresponding to the wavelength.
  • peak wavelength includes peak energy and peak wave number.
  • an X-ray spectroscopic analyzer including the excitation source, the spectral crystal, the slit, and the X-ray linear sensor having the above-described configuration is used.
  • This X-ray spectroscopic analyzer was invented by the present inventor and is described in Patent Document 1.
  • characteristic X-rays are emitted from various positions in the irradiation region in various directions, but only those that pass through the slit are spectral crystals. To reach.
  • the irradiation area is divided into linear parts parallel to the slit, only characteristic X-rays with a specific wavelength (energy) emitted from one of the linear parts pass through the slit. Then, the light is incident and diffracted at an incident angle satisfying the diffraction condition, and is detected by a specific one of the detection elements of the X-ray linear sensor. Therefore, since characteristic X-rays having different specific wavelengths are detected for each detection element, the wavelength spectrum of the characteristic X-rays can be obtained from the intensity of each detection element.
  • the characteristic X-rays having different wavelengths emitted from different linear portions are detected by the X-ray linear sensor, but from one linear portion within the linear portion. Therefore, even if the composition is somewhat nonuniform in the irradiated region, it can be measured without any problem.
  • the wavelength (peak wavelength) at the peak of the wavelength spectrum obtained using the X-ray spectroscopic analyzer has a different value depending on the type of element contained in the battery material, and even if the same element, If the chemical state of the battery material such as the number is different, a slightly different value is obtained. Therefore, the value representing the chemical state of the battery material in the sample to be measured is applied to the standard curve indicating the relationship between the peak wavelength and the value representing the chemical state of the battery material, by applying the peak wavelength value obtained by the measurement. Can be requested.
  • an excitation source an X-ray source, an electron beam source, or the like that is used as a light source for irradiating a sample to generate characteristic X-rays from the sample in a normal X-ray spectrometer is used as it is. be able to. Therefore, the chemical state analysis apparatus for battery materials according to the present invention can be made smaller and less expensive than the conventional apparatus, and the chemical state analysis method for battery materials according to the present invention should be carried out by such an inexpensive apparatus. Can do.
  • the chemical state of the battery material represented by the valence of ions can be quantified by using a standard curve.
  • the standard curve is an ion composed of one of the elements of the battery material that is chemically more stable than the battery material to be measured. It is desirable that the wavelength spectrum is created based on the peak wavelength of the wavelength spectrum obtained from each of a plurality of standard samples containing ions having different valences and the valence. In this case, the value representing the chemical state of the battery material is the valence of ions that the battery material has. Since the valence of the battery material itself can vary due to charge / discharge, chemical reaction, etc., the accuracy of the standard curve can be improved by using a standard sample that is chemically more stable than the battery material. As such a chemically stable standard sample, for example, an oxide, hydroxide, sulfide, chloride or the like of an element whose valence is to be obtained in the battery material can be used as the standard sample.
  • a chemically stable standard sample for example, an oxide, hydroxide, sulfide, chloride or the like of an element whose valence is to be obtained
  • the standard curve is composed of the same kind of elements as the plurality of kinds of elements included in the battery material to be measured, and one kind of the plurality of kinds of elements. It is also possible to use a peak wavelength of a wavelength spectrum obtained from each of a plurality of standard samples containing ions having different valences and the valence number. Also in this case, the value representing the chemical state of the battery material is the valence of ions that the battery material has. In this way, by using a standard sample made of the same kind of element as the battery material to be measured, a standard curve is created with a composition close to the battery material that is actually used, so the accuracy of the standard curve can be improved. it can.
  • the standard curve includes a peak wavelength of a wavelength spectrum when charged to a charge upper limit voltage and a discharge to a discharge end voltage in a secondary battery of the same type. You may determine based on the peak wavelength of a wavelength spectrum. In this case, the valence of the battery material is not obtained.
  • the peak wavelength of the wavelength spectrum when charging up to the upper limit of charging voltage is defined as 100%
  • the peak wavelength when discharging to the end-of-discharge voltage is defined as 0%
  • a straight line between the two is specified.
  • the result is a standard curve showing the relationship between the peak wavelength and the value indicating the chemical state of the battery material in the sample, and by applying the peak wavelength obtained when measuring the sample to be measured to this standard curve, A value indicating the chemical state of the sample can be obtained.
  • the apparatus can be made smaller and cheaper than before, and the chemical state of the battery material can be quantified based on the valence of ions and the like.
  • FIG. 1 is a schematic side view showing an embodiment of a chemical state analyzer according to the present invention.
  • FIG. 2A is a diagram illustrating an example of a lithium ion battery to be measured
  • FIG. 2B is a diagram illustrating a state in which the lithium ion battery is disassembled for measurement and attached to a sample holder.
  • the perspective view which shows arrangement
  • a standard curve prepared using Mn 2 O 3 and MnO 2 which are chemically stable as standard samples, and a result of analyzing the valence of Mn contained in the battery material of the sample using the standard curve are shown.
  • a standard curve The graph which shows the analysis result at the time of charging, and (b) The standard curve and the graph which shows the analysis result at the time of discharge.
  • a graph showing the result of analyzing the chemical state of the secondary battery in the middle of the battery, and (b) after charging up to the upper limit of charge and discharging up to the end-of-discharge voltage once, the second charge up to the upper limit of charge A standard curve prepared using the standard battery as the secondary battery battery material and the secondary battery battery material that was discharged for the second time until the end-of-discharge voltage, and during the charging or discharging using the standard curve. The graph which shows the result of having analyzed the chemical state in a secondary battery.
  • FIG. 1 is a schematic side view of the chemical state analyzer 10 of the present embodiment.
  • the chemical state analyzer 10 includes an excitation source 11, a slit 12, a spectral crystal 13 composed of a flat plate, an X-ray linear sensor 14, a sample holder 15, a data processing unit 16, and a standard curve data storage unit 17. Is provided.
  • the excitation source 11 is an X-ray source that irradiates a predetermined surface in the battery material of the battery that is the sample S held by the sample holder 15 with X-rays that are excitation light (excitation light).
  • An electron beam source may be used instead of the X-ray source.
  • a region where the predetermined surface in the battery material is irradiated with the excitation light is referred to as “irradiation region A”.
  • the excitation light is irradiated perpendicularly to the irradiation region A, but the excitation light may be irradiated at an angle inclined with respect to the irradiation region A.
  • the slit 12 is disposed between the irradiation area A and the spectral crystal 13.
  • the spectroscopic crystal 13 having a predetermined crystal plane parallel to the crystal surface is used.
  • the slit 12 is arranged in parallel (perpendicular to the paper surface in FIG. 1) to the crystal plane of the spectral crystal 13 used for detection of the irradiation region A and characteristic X-rays (in this embodiment, the surface of the spectral crystal 13).
  • the X-ray linear sensor 14 is provided with a plurality of linear detection elements 141 having a length in a direction parallel to the slit 12 (perpendicular to the paper surface of FIG. 1) and arranged in a direction perpendicular to the slit 12. It is.
  • the characteristic X-ray having a specific wavelength (energy) is detected by a specific one of the detection elements 141 of the X-ray linear sensor 14, and the characteristic X having a specific wavelength different for each detection element 141.
  • a line is detected. Therefore, each detection element 141 only needs to detect the intensity (number of photons) of the X-rays incident thereon, and does not need a function of strictly detecting the wavelength or energy of the incident X-rays.
  • the data processing unit 16 is embodied by hardware and software such as a personal computer, and includes a wavelength spectrum creating unit 161, a peak wavelength determining unit 162, and a chemical state specifying unit 163 as functional blocks.
  • the wavelength spectrum creation unit 161 creates a wavelength spectrum from the wavelength of the characteristic X-ray detected by each detection element 141 of the X-ray linear sensor 14 and the detection intensity at each detection element 141.
  • the peak wavelength determination unit 162 detects a peak from the wavelength spectrum created by the wavelength spectrum creation unit 161 and obtains a peak wavelength value.
  • a known technique used in normal data processing can be applied to the peak detection.
  • the chemical state specifying unit 163 specifies the chemical state of the battery material in the sample S from the peak wavelength obtained by the peak wavelength determining unit 162 and the standard curve stored in the standard curve data storage unit 17 described below. .
  • the standard curve data storage unit 17 stores data of a standard curve that is created in advance and indicates the relationship between the peak wavelength of the characteristic X-ray wavelength spectrum and the chemical state.
  • the standard curve is obtained by using the chemical state analyzer 10 of the present embodiment itself or using another characteristic X-ray measurement device, and the peak wavelength of the wavelength spectrum of the characteristic X-rays emitted from the standard sample, and the standard sample It is created by determining the relationship between the values that serve as indices indicating the chemical state of the standard sample, such as the valence of the element contained in.
  • a plurality of ions that are chemically more stable than a battery material in a battery to be actually measured and that are ions composed of one of the elements of the battery material and having different valences from each other can be used as standard samples.
  • LiMn 2 O 4 which is one of the electrode materials used in lithium ion batteries
  • LiMn 2 O 4 itself has a valence of Mn +3.5.
  • MnO 2 has an integer valence of Mn +4 valence
  • Mn 2 O 3 has an integer valence of Mn +3 valence
  • MnO 2 and Mn 2 O 3 are more chemically than LiMn 2 O 4. It is stable.
  • MnO 2 and Mn 2 O 3 are used as standard samples, and the peak wavelength of the K ⁇ 1,3 line, which is one of the characteristic X-rays of Mn, is obtained for each of these two standard samples. Then, two points that are the measurement results of these two standard samples are plotted on a graph in which one of the vertical axis and the horizontal axis is the valence, and the other is the peak wavelength, and a straight line connecting these two points is a standard curve.
  • a plurality of elements of the same type as the battery material in the battery to be actually measured, and a plurality of ions containing ions of one of the plurality of elements and having different valences from each other A sample may be used as a standard sample.
  • LiMn 2 O 4 when the above-mentioned LiMn 2 O 4 is used as a battery material to be measured, LiMn 2 O 4 itself with Mn of +3.5 valence and Li 2 MnO 3 with Mn of +4 valence are included.
  • the peak wavelength of K ⁇ 1,3 line which is one of the characteristic X-rays of Mn, is measured. Plot two points that are the measurement results of the standard sample, and use the straight line connecting these two points as the standard curve.
  • the secondary battery of the same type as the actual measurement target battery prepare a battery charged up to the maximum charge voltage and a battery discharged to the end-of-discharge voltage, and battery materials for each of these two secondary batteries.
  • Data for creating a standard curve by measuring the peak wavelength of characteristic X-rays emitted from the laser beam may be used.
  • one of the vertical axis and the horizontal axis is an index of the chemical state represented by a numerical value of 0 to 100%, and the other is the peak wavelength.
  • a point where the peak wavelength when discharging to the end-of-discharge voltage is 0% is plotted, and a straight line connecting these two points is taken as a standard curve.
  • this standard curve is used, the valence of the element contained in the battery material is not considered.
  • the standard curve may be a straight line or a curve expressed by a quadratic or higher function that is determined so as to be minimum.
  • the sample S is set in the sample holder 15.
  • a separator 23 is provided between a positive electrode material 21 made of LiMn 2 O 4 and a negative electrode material 22 made of Li at a discharge end voltage, and is opposite to the separator 23 as viewed from the positive electrode material 21.
  • the positive electrode material 21, the negative electrode material 22, the separator 23, and the current collector 24 are covered with a laminate material 26, and the inside of the laminate material 26 is filled with an electrolytic solution 25 in addition to the above components.
  • the excitation light irradiated on the positive electrode material 21 and the characteristic X-rays emitted from the positive electrode material 21 are separated from the separator 23 and the current collector.
  • One of the 24 passes, and the intensity of the detected characteristic X-ray decreases. Therefore, in the present embodiment, the lithium ion battery 20 is disassembled, the negative electrode material 22, the separator 23, and the electrolytic solution 25 are removed, and then the positive electrode material 21 is set on the sample holder 15 so as to face the excitation source 11 (FIG. 2 (b)).
  • the current collector 24 is disposed on the opposite side of the excitation source 11 as viewed from the positive electrode material 21 while leaving the current collector 24. Further, in order to protect the positive electrode material 21, as shown in FIG. 2B, the periphery of the positive electrode material 21 (and the current collector 24) and a new laminate material 26 provided in the lithium ion battery 20 May be covered with a laminate 27.
  • the laminating material 27 is mainly composed of a resin such as nylon or polypropylene, and has a sufficiently low effect of weakening excitation light and characteristic X-rays compared to the separator 23 and the current collector 24, so that measurement is not hindered.
  • the irradiation region A is irradiated with X-rays that are excitation light from the excitation source 11.
  • characteristic X-rays having different energies depending on the elements constituting the electrode material (the positive electrode material 21 in the example of FIG. 2) are emitted from various positions in the irradiation region A in various directions from the entire irradiation region A. Is done.
  • characteristic X-rays refer to the linear portions parallel to the slit 12 in the irradiation region A (A1, A2,... In FIGS. 1 and 3.
  • FIG. 3 shows the slit 12, the spectral crystal 13, and the X-ray linear sensor.
  • a specific incident angle (90- ⁇ ) ° ( ⁇ ° is a characteristic X-ray of the spectroscopic crystal 13 is Bragged on the surface of the spectroscopic crystal 13. Only the light emitted in the direction of incidence at the diffraction angle when reflected passes through the slit 12.
  • the linear portions having different positions have different incident angles of characteristic X-rays that pass through the slit 12 and enter the spectral crystal 13.
  • characteristic X-rays emitted from the linear portion A1 are incident on the spectroscopic crystal 13 at only one incident angle (90- ⁇ 1 ) ° (diffraction angle ⁇ 1 °) and emitted from another linear portion A2.
  • the spectroscopic crystal 13 is incident on the spectroscopic crystal 13 at one specific incident angle (90- ⁇ ) ° which differs depending on the linear portion in the irradiation region A, the speci? C crystal 13 is different in each speci? C portion.
  • Only characteristic X-rays of one wavelength enter the X-ray linear sensor 14 and are detected by different detection elements 141.
  • the wavelength spectrum creation unit 161 acquires a signal of the intensity (number of photons) of the X-rays detected by each detection element 141 within a predetermined measurement time from the X-ray linear sensor 14, and then the detection intensity and the detection.
  • a wavelength spectrum of characteristic X-rays emitted from the irradiation region A is created based on the wavelength to be emitted.
  • the measurement time may be appropriately determined according to the intensity of the characteristic X-ray per unit time reaching the X-ray linear sensor 14, but as described above, the lithium ion battery 20 is disassembled and the separator 23 or current collector is collected. By irradiating the positive electrode material 21 with excitation light without passing through the body 24, the measurement time can be shortened.
  • the peak wavelength determination unit 162 detects a peak from the wavelength spectrum created by the wavelength spectrum creation unit 161 and obtains the peak wavelength.
  • the chemical state specifying unit 163 selects a standard curve for the element based on the element included in the battery material to be measured, which is input in advance by the measurer from the input unit (not shown). Alternatively, the measurer may select the standard curve itself using the input unit. Subsequently, the chemical state specifying unit 163 obtains an index representing a chemical state such as a valence corresponding to the peak wavelength obtained by the peak wavelength determining unit 162 from the selected standard curve. With the above operation, one chemical state analysis operation is completed.
  • the two white circles in the figure indicate the measured values of peak energy
  • the straight line is a standard curve defined by connecting the measurement points of the two white circles with a straight line. Measurement was performed 5 times for each of Mn 2 O 3 and MnO 2 , and the average value of peak energy was taken for each. In addition, the value of standard deviation was used as an error bar.
  • the lithium ion battery 20 using the positive electrode material 21 made of LiMn 2 O 4 is subjected to charging and discharging once as aging, and then the second charging.
  • SOC-0 where "SOC” is an abbreviation for "States of Charge”
  • SOC-50 the same charge up to 50% capacity
  • SOC-100 the same charge with a capacity of 100%
  • the peak energy values measured by the chemical state analyzer and method of this embodiment are indicated by black circles on the standard curve.
  • the two white circles in the figure indicate the measured values of peak energy
  • the straight line is a standard curve defined by connecting the measurement points of the two white circles with a straight line.
  • the measurement was performed 5 times for each of LiMn 2 O 4 and Li 2 MnO 3 , the average value of peak energy was taken for each, and the value of standard deviation was taken as the error bar.
  • FIG. 5 (a) together with the standard curve, similarly to the example shown in FIG. 4 (a), each of the lithium ion batteries 20 in the charged state of SOC-0, SOC-50, and SOC-100,
  • the peak energy value measured by the chemical state analyzer and method of the present embodiment is indicated by a black circle on the standard curve.
  • FIG. 5 (b) along with the above standard curve, as in the example shown in FIG. 4 (b), the charge state of SOC-100 and the lithium state of DOD-50 and DOD-100 discharge state are shown.
  • the peak energy values measured by the chemical state analyzer and method of the present embodiment are indicated by black circles on the standard curve.
  • the chemical state of SOC-100 is 100%
  • the chemical state of DOD-100 initial discharge
  • the index of these chemical states is on the horizontal axis
  • the peak energy value is vertical. Plots were made on the graph as axes (white circles in FIG. 6 (a)), and both were connected by straight lines.
  • the lithium-ion battery 20 was charged up to a charge upper limit voltage and discharged to a discharge end voltage once, and then charged to a capacity of 50% (SOC-50 )
  • the value on the horizontal axis at the data points indicated by the black circles is an index representing the chemical state of the positive electrode material 21 in each charge or discharge state.
  • the measurement was performed 5 times for each of the two standard samples, SOC-50 and DOD-50, the average value of peak energy was taken, and the value of standard deviation was taken as an error bar.
  • the value on the horizontal axis at the data points indicated by the black circles is an index representing the chemical state of the positive electrode material 21 in each charge or discharge state.
  • the measurement was performed 5 times for each of the two standard samples, SOC-50 and DOD-50, the average value of peak energy was taken, and the value of standard deviation was taken as an error bar.
  • the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the scope of the gist of the present invention.
  • the measurement target battery lithium ion battery 20
  • the measurement is performed after reassembling only the battery material (for example, the positive electrode material 21), but the measurement accuracy may be somewhat low, If it is allowed to extend the time for detecting characteristic X-rays, disassembly of the battery may be omitted.
  • the measurement object is not limited to the positive electrode material, and any substance contained in the negative electrode material may be used as long as the valence changes.
  • the battery of a measuring object is not limited to a lithium ion battery, A various primary battery and a secondary battery can be made into a measuring object.

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Abstract

化学状態分析装置10は、電池材料を含む試料S中の所定の面内の照射領域Aに、該電池材料の特性X線を発生させるための励起線を照射する励起源11と、照射領域Aに面して設けられた平板から成る分光結晶13と、照射領域Aと分光結晶13の間に設けられた、照射領域A及び分光結晶13の所定の結晶面に平行なスリット12と、スリット12に平行な方向に長さを有する線状の検出素子151が該スリットに垂直な方向に並ぶように設けられたX線リニアセンサ15と、X線リニアセンサ15が検出した特性X線の強度に基づいて波長スペクトルを作成する波長スペクトル作成部161と、前記波長スペクトルのピークにおける波長であるピーク波長を求めるピーク波長決定部162と、ピーク波長決定部162で求められたピーク波長と、試料S中の電池材料の化学状態を表す値とピーク波長の関係を示す標準曲線から、試料S中の電池材料の化学状態を特定する値を化学状態特定部163とを備える。

Description

電池材料の化学状態分析装置及び方法
 本発明は、1次電池又は2次電池の使用前、使用中又は使用後における、電池を構成する材料(電池材料)が有する元素のイオンの価数等、電池材料の化学状態を分析する装置及び方法に関する。
 リチウムイオン電池等の2次電池は、携帯情報端末や電気自動車等の電源として広く用いられており、充電容量(1回の充電で携帯情報端末を使用できる時間や電気自動車の走行可能な距離に直結する)や寿命(一般に、実用的な容量での充放電の繰り返しが可能な回数として示される)等を向上させることが求められている。そのために、2次電池用の電極等に用いられる材料の開発が盛んに行われている。
 非特許文献1には、2次電池を充電した後に放電させながら、2次電池の電極に対してXAFS(X-ray absorption fine structure:X線吸収微細構造)測定を行うことが記載されている。XAFS測定は、試料に放射光を照射し、試料を通過又は反射されたX線のスペクトルを求め、試料に吸収されたX線のピークの位置や形状から試料の電子状態等を求める方法である。非特許文献1では、2次電池が放電してゆくに従って、得られたスペクトルのピークの位置が徐々に高エネルギー側に移動してゆく、という測定結果が得られている。このピーク位置の移動は、2次電池の放電中に、電極の材料に含まれる元素のイオン(非特許文献1に示された例ではCoイオン)の価数が変化することにより生じている。
特開2017-223638号公報
原田貴弘、他1名、リチウムイオン電池(7)正極活物質の価数および構造評価、The TRC News、株式会社東レリサーチセンター発行、2013年9月、第117号、第31-33頁
 非特許文献1に記載の測定方法では放射光を使用するため、この測定方法を実施するための測定装置は大型且つ高価になってしまう。
 また、2次電池の開発等においては、放電中又は充電中の電極の材料に含まれるイオンの価数等の化学状態の変化を知ることが重要であるが、そのためには化学状態を測定して定量化することが求められる。非特許文献1では、2次電池のSOC(State of Charge:充電状態)とピーク位置の関係から価数変化を定量的に評価することが可能であると考えられる、と記載されている。しかし、非特許文献1には、評価方法は具体的には示されていない。なお、ここでは2次電池を対象として説明したが、1次電池の場合にも同様である。
 本発明が解決しようとする課題は、従来よりも装置を小型且つ安価にすることができ、且つ、イオンの価数等の電池材料の化学状態を定量化することができる、電池材料の化学状態分析装置及び方法を提供することである。
 上記課題を解決するために成された本発明に係る電池材料の化学状態分析装置は、
 a) 電池材料を含む試料中の所定の面内の照射領域に、該電池材料の特性X線を発生させるための励起線を照射する励起源と、
 b) 前記照射領域に面して設けられた平板から成る分光結晶と、
 c) 前記照射領域と前記分光結晶の間に設けられた、該照射領域及び該分光結晶の所定の結晶面に平行なスリットと、
 d) 前記スリットに平行な方向に長さを有する線状の検出素子が該スリットに垂直な方向に並ぶように設けられたX線リニアセンサと、
 e) 前記X線リニアセンサが検出した特性X線の強度に基づいて波長スペクトルを作成する波長スペクトル作成部と、
 f) 前記波長スペクトルのピークにおける波長であるピーク波長を求めるピーク波長決定部と、
 g) 前記ピーク波長決定部で求められたピーク波長と、前記試料中の電池材料の化学状態を表す値とピーク波長の関係を示す標準曲線(検量線)から、前記化学状態を特定する値を求める化学状態特定部と
を備えることを特徴とする。
 上記課題を解決するために成された本発明に係る電池材料の化学状態分析方法は、
 電池材料を含む試料中の所定の面内の照射領域に、該電池材料の特性X線を発生させるための励起線を照射し、
 前記励起線の照射により前記照射領域で生成される特性X線を、該照射領域に面して設けられた平板から成る分光結晶に、該照射領域及び該分光結晶の所定の結晶面に平行であって該照射領域と該分光結晶の間に設けられたスリットを通して入射させることにより分光し、
 前記分光結晶で分光された特性X線を、前記スリットに平行な方向に長さを有する線状の検出素子が該スリットに垂直な方向に並ぶように設けられたX線リニアセンサで検出し、
 前記X線リニアセンサが検出した特性X線の強度に基づいて波長スペクトルを作成し、該波長スペクトルのピークにおける波長であるピーク波長を求め、該ピーク波長と、前記試料中の電池材料の化学状態を表す値とピーク波長の関係を示す標準曲線から、前記化学状態を特定する値を求める
ことを特徴とする。
 なお、本発明において「波長スペクトル」には、波長と対応する値であるエネルギーや波数で表したエネルギースペクトルや波数スペクトルも含むものとする。同様に、「ピーク波長」には、ピークエネルギーやピーク波数も含むものとする。
 本発明では、上述の構成を有する励起源、分光結晶、スリット及びX線リニアセンサを備えるX線分光分析装置を用いる。このX線分光分析装置は、本発明者が発明したものであり、特許文献1に記載されている。このX線分光分析装置では、励起線を照射領域に照射することによって、照射領域内の様々な位置から様々な方向に特性X線が放出されるが、そのうちスリットを通過するものだけが分光結晶に到達する。照射領域をスリットに平行な線状部分に分割して考えると、特定の波長(エネルギー)を有する特性X線は、そのうちの或る1つの線状部分から放出されるもののみが、スリットを通過して回折条件を満たす入射角で入射して回折され、X線リニアセンサの検出素子のうちの特定の1つで検出される。従って、検出素子毎に異なる特定の波長の特性X線が検出されるため、各検出素子の強度から特性X線の波長スペクトルを求めることができる。ここで、互いに波長が異なる特性X線は、互いに異なる線状部分から放出されるもののみがX線リニアセンサで検出されることになるが、1つの線状部分からは該線状部分内での平均を取ることになるため、照射領域内で組成が多少不均一であっても問題なく測定することができる。
 このように上記X線分光分析装置を用いて得られる波長スペクトルのピークにおける波長(ピーク波長)は、電池材料が含有する元素の種類により異なる値となるとともに、同じ元素であってもイオンの価数等の電池材料の化学状態が異なればわずかに異なる値となる。そこで、ピーク波長と電池材料の化学状態を表す値の関係を示す標準曲線に、測定で得られたピーク波長の値を当てはめることにより、測定対象である試料中の電池材料の化学状態を表す値を求めることができる。
 本発明によれば、励起源には、通常のX線分光分析装置で試料から特性X線を生成するために試料に照射する光源として使用されているX線源や電子線源等をそのまま用いることができる。そのため、本発明に係る電池材料の化学状態分析装置は従来の装置よりも小型且つ安価にすることができ、本発明に係る電池材料の化学状態分析方法はそのような安価な装置により実施することができる。
 また、本発明によれば、標準曲線を用いることにより、イオンの価数等で表される電池材料の化学状態を定量化することができる。
 本発明に係る電池材料の化学状態分析装置及び方法において、前記標準曲線は、測定対象の電池材料よりも化学的に安定であって、該電池材料が有する元素のうちの1種から成るイオンであって互いに価数が異なるイオンを含有する複数の標準試料の各々から得られる波長スペクトルのピーク波長及び該価数に基づき作成されたものであることが望ましい。この場合、電池材料の化学状態を表す値は、該電池材料が有するイオンの価数である。電池材料そのものは充放電や化学反応等によって価数が変動し得ることから、電池材料よりも化学的に安定な標準試料を用いることにより、標準曲線の精度を良くすることができる。そのような化学的に安定な標準試料として、例えば、電池材料中の価数を求める対象である元素の酸化物、水酸化物、硫化物、塩化物等を標準試料として用いることができる。
 あるいは、本発明に係る電池材料の化学状態分析装置及び方法において、前記標準曲線は、測定対象の電池材料が有する複数種の元素と同種の元素から成り、該複数種の元素のうちの1種から成るイオンであって互いに価数が異なるイオンを含有する複数の標準試料の各々から得られる波長スペクトルのピーク波長及び該価数に基づき作成されたものを用いることもできる。この場合も、電池材料の化学状態を表す値は、該電池材料が有するイオンの価数である。このように、測定対象の電池材料と同種の元素から成る標準試料を用いることにより、実際に使用される電池材料に近い組成で標準曲線が作成されるため、標準曲線の精度を良くすることができる。
 本発明に係る電池材料の化学状態分析装置及び方法において、前記標準曲線は、同種の2次電池において、充電上限電圧まで充電したときの波長スペクトルのピーク波長と、放電終止電圧まで放電したときの波長スペクトルのピーク波長を基準として定めてもよい。この場合、電池材料の価数は求めない。例えば、標準試料である2次電池において充電上限電圧まで充電したときの波長スペクトルのピーク波長を100%、放電終止電圧まで放電したときのピーク波長を0%と規定し、両者の間を直線で結んだものを、試料中の電池材料の化学状態を示す値とピーク波長の関係を示す標準曲線とし、測定対象の試料を測定した際に得られるピーク波長をこの標準曲線に適用することにより、当該試料の化学状態を示す値を得ることができる。
 本発明に係る電池材料の化学状態分析装置及び方法により、従来よりも装置を小型且つ安価にすることができ、且つ、イオンの価数等により電池材料の化学状態を定量化することができる。
本発明に係る化学状態分析装置の一実施形態を示す概略側面図。 測定対象のリチウムイオン電池の一例を示す図(a)、及び測定のためにリチウムイオン電池を解体して試料ホルダに取り付けた状態を示す図(b)。 本実施形態の化学状態分析装置におけるスリット、分光結晶、X線リニアセンサ及び試料ホルダの配置を示す斜視図。 化学的に安定なMn2O3及びMnO2を標準試料として作成した標準曲線及び該標準曲線を用いて試料の電池材料が含有するMnの価数を分析した結果を示し、(a)標準曲線及び充電時の分析結果を示すグラフ、並びに(b)標準曲線及び放電時の分析結果を示すグラフ。 分析対象の試料の電池材料と同種の複数種の元素を有するLiMn2O4及びLi2MnO3を標準試料として作成した標準曲線及び該標準曲線を用いて試料の電池材料が含有するMnの価数を分析した結果を示し、(a)標準曲線及び充電時の分析結果を示すグラフ、並びに(b)標準曲線及び放電時の分析結果を示すグラフ。 (a)充電上限電圧まで1回充電した2次電池と、その後に放電終止電圧まで1回放電した2次電池の電池材料を標準試料として作成した標準曲線及び該標準曲線を用いて充電又は放電の途中の2次電池における化学状態を分析した結果を示すグラフ、並びに(b)充電上限電圧までの充電及び放電終止電圧までの放電を1回行った後に、充電上限電圧まで2回目の充電を行った2次電池の電池材料と、その後に放電終止電圧まで2回目の放電を行った2次電池の電池材料を標準試料として作成した標準曲線及び該標準曲線を用いて充電又は放電の途中の2次電池における化学状態を分析した結果を示すグラフ。
 図1~図6を用いて、本発明に係る電池材料の化学状態分析装置及び方法の実施形態を説明する。
(1) 本実施形態の化学状態分析装置の構成
 図1は、本実施形態の化学状態分析装置10の概略側面図である。この化学状態分析装置10は、励起源11と、スリット12と、平板から成る分光結晶13と、X線リニアセンサ14と、試料ホルダ15と、データ処理部16と、標準曲線データ記憶部17とを備える。
 励起源11は、試料ホルダ15に保持される試料Sである電池が有する電池材料中の所定の面に、励起光(励起線)であるX線を照射するX線源である。X線源の代わりに電子線源を用いてもよい。この電池材料中の所定の面に励起光が照射される領域を、以下では「照射領域A」と呼ぶ。本実施形態では照射領域Aに垂直に励起光を照射するが、照射領域Aに対して傾斜した角度で励起光を照射してもよい。
 スリット12は、照射領域Aと分光結晶13の間に配置される。本実施形態では、分光結晶13には所定の結晶面が、結晶の表面に平行になっているものを用いる。スリット12は、照射領域A及び特性X線の検出に用いる分光結晶13の結晶面(本実施形態では分光結晶13の表面とする)に対して平行に(図1では紙面に垂直に)配置される。
 X線リニアセンサ14は、スリット12に平行(図1の紙面に垂直)な方向に長さを有する線状の検出素子141が複数、該スリット12に垂直な方向に並ぶように設けられたものである。前述のように、特定の波長(エネルギー)を有する特性X線は、X線リニアセンサ14の検出素子141のうちの特定の1つで検出され、検出素子141毎に異なる特定の波長の特性X線が検出される。従って、個々の検出素子141は、それに入射するX線の強度(光子数)のみを検出すればよく、入射したX線の波長やエネルギーを厳密に検出する機能は不要である。
 データ処理部16はパーソナルコンピュータ等のハードウエアとソフトウエアにより具現化されており、機能ブロックとして、波長スペクトル作成部161と、ピーク波長決定部162と、化学状態特定部163とを有する。
 波長スペクトル作成部161は、X線リニアセンサ14の各検出素子141が検出する特性X線の波長と各検出素子141での検出強度から、波長スペクトルを作成する。
 ピーク波長決定部162は、波長スペクトル作成部161で作成された波長スペクトルからピークを検出し、ピーク波長の値を求めるものである。ピークの検出には通常のデータ処理で用いられている周知の手法を適用することができる。
 化学状態特定部163は、ピーク波長決定部162で求められたピーク波長と、次に述べる標準曲線データ記憶部17に保存されている標準曲線から、試料S中の電池材料の化学状態を特定する。
 標準曲線データ記憶部17は、予め作成された、特性X線の波長スペクトルのピーク波長と化学状態の関係を示す標準曲線のデータを保存するものである。標準曲線は、本実施形態の化学状態分析装置10自体を用いて、あるいは他の特性X線測定装置を用いて、標準試料から放射される特性X線の波長スペクトルのピーク波長と、該標準試料が含有する元素の価数等、該標準試料の化学状態を表す指標となる値の関係を求めることにより作成される。
 例えば、実際の測定の対象となる電池における電池材料よりも化学的に安定であって、該電池材料が有する元素のうちの1種から成るイオンであって互いに価数が異なるイオンを含有する複数の試料を標準試料として用いることができる。具体例として、リチウムイオン電池に用いられる電極の材料の1つであるLiMn2O4を測定対象の電池材料とする場合、LiMn2O4自体はMnが+3.5価という価数を有するのに対して、MnO2はMnが+4価、Mn2O3はMnが+3価という整数の価数を有し、LiMn2O4よりもMnO2及びMn2O3の方が化学的に安定である。そこで、標準試料としてMnO2及びMn2O3を用い、それら2つの標準試料に対してそれぞれ、Mnの特性X線の1つであるKβ1,3線のピーク波長を求める。そして、縦軸と横軸の一方を価数、他方をピーク波長とするグラフにこれら2つの標準試料の測定結果である2点をプロットし、それら2点を結ぶ直線を標準曲線とする。
 また、実際の測定の対象となる電池における電池材料と同種の複数種の元素から成り、該複数種の元素のうちの1種から成るイオンであって互いに価数が異なるイオンを含有する複数の試料を標準試料として用いてもよい。具体例として、前述のLiMn2O4を測定対象の電池材料とする場合には、Mnが+3.5価であるLiMn2O4自体と、Mnが+4価であるLi2MnO3という2つの標準試料に対してそれぞれ、Mnの特性X線の1つであるKβ1,3線のピーク波長を測定し、縦軸と横軸の一方を価数、他方をピーク波長とするグラフにこれら2つの標準試料の測定結果である2点をプロットし、それら2点を結ぶ直線を標準曲線とする。
 あるいは、実際の測定の対象となる電池と同種の2次電池について、充電上限電圧まで充電したものと、放電終止電圧まで放電したものをそれぞれ用意し、それら2つの2次電池についてそれぞれ、電池材料から放出される特性X線のピーク波長を測定して標準曲線を作成するためのデータとしてもよい。この場合、縦軸と横軸の一方を0~100%の数値で表される化学状態の指数とし、他方をピーク波長とするグラフに、充電上限電圧まで充電したときのピーク波長を指数100%とする点、及び放電終止電圧まで放電したときのピーク波長を指数0%とする点をプロットし、それら2点を結ぶ直線を標準曲線とする。この標準曲線を使用する際には、電池材料が含有する元素の価数は考慮しない。
 以上に述べた例では標準試料を2つ用いているが、標準試料を3つ以上用い、得られた3点以上のデータ点を結ぶ直線若しくは曲線、又はそれら3点以上のデータ点との誤差が最小になるように定められる直線若しくは2次以上の関数で表される曲線を標準曲線としてもよい。
(2) 本実施形態の化学状態分析装置の動作、及び本実施形態の化学状態分析方法
 以下に、本実施形態の化学状態分析装置10の動作、及び本実施形態の化学状態分析方法を説明する。
 まず、試料ホルダ15に試料Sをセットする。ここでは一例として、図2(a)に示すリチウムイオン電池20が有する正極材21を測定対象の電池材料とする場合について説明する。このリチウムイオン電池20では、放電終止電圧においてLiMn2O4から成る正極材21と、Liから成る負極材22の間にセパレータ23が設けられており、正極材21から見てセパレータ23の反対側には、Alから成る集電体24が設けられている。これら正極材21、負極材22、セパレータ23及び集電体24はラミネート材26で覆われており、ラミネート材26の内側には上記各構成要素の他に電解液25が充填されている。リチウムイオン電池20がこのままの形態であっても測定することは可能であるが、そうすると、正極材21に照射される励起光及び正極材21から放出される特性X線がセパレータ23と集電体24のうちのいずれか一方を通過することとなり、検出される特性X線の強度が低下する。そこで本実施形態では、リチウムイオン電池20を解体し、負極材22、セパレータ23及び電解液25を除去したうえで、励起源11に対向するように正極材21を試料ホルダ15にセットする(図2(b))。但し、正極材21から集電体24を剥がすことが難しいため、集電体24を残したまま、正極材21からみて集電体24が励起源11の反対側に配置されるようにする。また、正極材21を保護するために、図2(b)に示すように、正極材21(及び集電体24)の周囲を新たな(リチウムイオン電池20に設けられていたラミネート材26とは異なる)ラミネート材27で被覆してもよい。ラミネート材27は、ナイロンやポリプロピレン等の樹脂が主な構成材料であり、セパレータ23や集電体24よりも励起光や特性X線を弱める作用が十分に低いため、測定に支障を生じない。
 次に、励起源11から照射領域Aに、励起光であるX線を照射する。これにより、照射領域Aの全体から、電極材料(図2の例では正極材21)を構成する元素によって異なるエネルギーを有する特性X線が、照射領域A内の様々な位置から様々な方向に放出される。これらの特性X線は、照射領域Aをスリット12に平行な線状部分(図1、図3のA1、A2…を参照。ここで図3は、スリット12、分光結晶13、X線リニアセンサ14及び試料ホルダ15の配置を斜視図で示したもの)に分割すると、分光結晶13の表面に特定の1つの入射角(90-θ)°(θ°は特性X線が分光結晶13でブラッグ反射される場合の回折角)で入射する方向に放出されたもののみがスリット12を通過する。そして、この位置が異なる線状部分同士では、スリット12を通過して分光結晶13に入射する特性X線の入射角が異なることとなる。例えば、線状部分A1から放出される特性X線は、1つの入射角(90-θ1)°(回折角θ1°)のみで分光結晶13に入射し、別の線状部分A2から放出される特性X線は、前記入射角(90-θ1)°とは異なる1つの入射角(90-θ2)°(回折角θ2°)のみで分光結晶13に入射する。
 照射領域Aの各線状部分から分光結晶13に入射した特性X線は、ブラッグ反射の条件であるλ=(2d/n)sinθ(λは特性X線の波長、dは分光結晶13の結晶面間隔、nは次数)を満たす波長を有するときにのみ、回折角θで回折(反射)される。分光結晶13で回折(反射)された特性X線は、X線リニアセンサ14の検出素子141の1つで検出される。前述のように分光結晶13には照射領域A内の線状部分によって異なる特定の1つの入射角(90-θ)°で分光結晶13に入射することから、線状部分毎に、異なる特定の1つの波長の特性X線のみがX線リニアセンサ14に入射し、且つ、異なる検出素子141で検出される。例えば、線状部分A1から放出される特性X線は、波長λ1=(2d/n)sinθ1を有するもののみがX線リニアセンサ14に入射して1つの検出素子1411で検出され、線状部分A2から放出される特性X線は、λ1とは異なる波長λ2=(2d/n)sinθ2を有するもののみがX線リニアセンサ14に入射して検出素子1411とは異なる検出素子1412で検出される(図1、図3参照)。
 そこで、波長スペクトル作成部161は、X線リニアセンサ14から、所定の測定時間内に各検出素子141で検出されるX線の強度(光子数)の信号を取得したうえで、検出強度及び検出される波長に基づいて、照射領域Aから放出される特性X線の波長スペクトルを作成する。ここで測定時間は、X線リニアセンサ14に到達する単位時間あたりの特性X線の強度に応じて適宜定めればよいが、上述のようにリチウムイオン電池20を解体してセパレータ23や集電体24を介さずに正極材21に励起光を照射することにより、測定時間を短縮することができる。
 次に、ピーク波長決定部162は、波長スペクトル作成部161で作成された波長スペクトルからピークを検出し、ピーク波長を求める。
 続いて化学状態特定部163は、測定者が予め入力部(図示せず)から入力した測定対象の電池材料が有する元素に基づき、該元素を対象とする標準曲線を選択する。あるいは、測定者が入力部を用いて標準曲線そのものを選択するようにしてもよい。続いて、化学状態特定部163は、選択された標準曲線から、ピーク波長決定部162で求められたピーク波長に対応する、価数等の化学状態を表す指数を求める。以上の操作により、1回の化学状態分析の動作が終了する。
(3) 作成した標準曲線、及び試料の分析結果
 以下、本実施形態の化学状態分析装置及び方法において実際に作成した標準曲線、及び該標準曲線を用いて試料の分析を行った結果を示す。
(3-1) 安定な標準試料を用いて作成した標準曲線、及び分析結果
 図4(a)及び(b)のグラフでは、化学的に安定なMn2O3(Mnが+3価)及びMnO2(同+4価)を標準試料として測定した結果に基づいて作成した、Mnの価数とピークエネルギー(ピーク波長に対応)の関係を示す標準曲線を直線で示している。グラフの横軸はMnの価数、縦軸はピークエネルギーを表している。なお、図4(a)と(b)に示した標準曲線は両者同じものである。図中の2個の白丸印がピークエネルギーの測定値を示し、直線は2個の白丸印の測定点を直線で結ぶことで定めた標準曲線である。測定はMn2O3、MnO2共に5回ずつ行い、それぞれピークエネルギーの平均値を取った。また、標準偏差の値をエラーバーとした。
 図4(a)には上記標準曲線と併せて、LiMn2O4から成る正極材21を用いたリチウムイオン電池20を対象に、エージングとして充電及び放電を1回行った後に、2回目の充電を行う前のもの(「SOC-0」とする。ここで「SOC」は「充電状態」(States of Charge)の略である。)、同充電を容量50%まで行ったもの(SOC-50)、及び同充電を容量100%まで行ったもの(SOC-100)について、本実施形態の化学状態分析装置及び方法により測定したピークエネルギーの値を標準曲線上に黒丸印で示す。また、図4(b)には上記標準曲線と併せて、同じリチウムイオン電池20でエージングとして充電及び放電を1回行ったうえで2回目の充電を100%まで行ったもの(上記「SOC-100」と同じ)、その後、放電を50%まで行ったもの(「DOD-50」とする。ここで「DOD」は「放電深度」(Depth of Discharge)の略である。)、及び放電を100%(容量0%まで)行ったもの(DOD-100)について、本実施形態の化学状態分析装置及び方法により測定したピークエネルギーの値を標準曲線上に黒丸印で示す。これらのデータも標準試料と同様に各充電・放電段階において5回ずつ測定を行い、ピークエネルギーの平均値を取り、標準偏差の値をエラーバーとした。これらの黒丸印で示したデータ点における横軸の値が、各充電又は放電状態における正極材21中のMnの価数(化学状態)を示している。
(3-2) 分析対象の電池材料と同種の複数種の元素を有する標準試料を用いて作成した標準曲線、及び分析結果
 図5(a)及び(b)のグラフでは、正極材21の材料と同じLiMn2O4、及び正極材21と同種の複数種の元素(Li、Mn及びO)から成るLi2MnO3を標準試料を測定した結果に基づいて作成した、Mnの価数とピークエネルギー(ピーク波長に対応)の関係を示す標準曲線を直線で示している。図4と同様に、グラフの横軸はMnの価数、縦軸はピークエネルギーを表しており、(a)と(b)に示した標準曲線は両者同じものである。図中の2個の白丸印がピークエネルギーの測定値を示し、直線は2個の白丸印の測定点を直線で結ぶことで定めた標準曲線である。測定はLiMn2O4、Li2MnO3共に5回ずつ行い、それぞれピークエネルギーの平均値を取り、標準偏差の値をエラーバーとした。
 図5(a)には上記標準曲線と併せて、図4(a)に示した例と同様に、SOC-0、SOC-50及びSOC-100の充電状態であるリチウムイオン電池20についてそれぞれ、本実施形態の化学状態分析装置及び方法により測定したピークエネルギーの値を標準曲線上に黒丸印で示す。また、図5(b)には上記標準曲線と併せて、図4(b)に示した例と同様に、SOC-100の充電状態、並びにDOD-50及びDOD-100の放電状態であるリチウムイオン電池20についてそれぞれ、本実施形態の化学状態分析装置及び方法により測定したピークエネルギーの値を標準曲線上に黒丸印で示す。これらのデータも標準試料と同様に各充電・放電段階において5回ずつ測定を行い、ピークエネルギーの平均値を取り、標準偏差の値をエラーバーとした。
 なお、ここまでに示した標準試料及び分析対象の試料におけるデータのエラーバーは、測定時間を長くすることや測定回数を増加させることにより、小さくすることができる。
(3-3) 充電上限電圧まで充電した2次電池と放電終止電圧まで放電した2次電池の電池材料を標準試料として作成した標準曲線、及び分析結果
 図6(a)のグラフでは、充電上限電圧まで1回充電した(SOC-100(初回充電))リチウムイオン電池20の正極材21と、充電上限電圧まで1回充電した後に放電終止電圧まで1回放電した(DOD-100(初回放電))リチウムイオン電池20の正極材21を標準試料として作成した標準曲線を直線で示している。この標準曲線では、SOC-100(初回充電)の化学状態を100%、DOD-100(初回放電)の化学状態を0%とし、これらの化学状態の指数を横軸、ピークエネルギーの値を縦軸としてグラフ上にプロット(図6(a)中の白丸印)し、両者を直線で結んだ。図6(a)には併せて、リチウムイオン電池20に対して充電上限電圧までの充電及び放電終止電圧までの放電を1回行った後に、容量50%まで充電を行ったもの(SOC-50)、及び2回目の充電上限電圧までの充電を行った後に容量50%まで放電を行ったもの(DOD-50)について、本実施形態の化学状態分析装置及び方法により測定したピークエネルギーの値を標準曲線上に黒丸印で示す。これら黒丸印のデータ点における横軸の値が、各充電又は放電状態における正極材21の化学状態を表す指数である。なお、2つの標準試料、SOC-50及びDOD-50のいずれにおいても5回ずつ測定を行い、ピークエネルギーの平均値を取り、標準偏差の値をエラーバーとした。
 図6(b)のグラフでは、充電上限電圧までの充電及び放電終止電圧までの放電を1回行った後に、充電上限電圧まで2回目の充電を行ったリチウムイオン電池20の正極材21と、その後に放電終止電圧まで2回目の放電を行ったリチウムイオン電池20の正極材21を標準試料として、図6(a)と同様の方法で作成した標準曲線を直線で示している。SOC-50及びDOD-50のデータ(図中の黒丸印)は、本実施形態の化学状態分析装置及び方法により測定したピークエネルギーの値を標準曲線上にプロットしたものである。これら黒丸印のデータ点における横軸の値が、各充電又は放電状態における正極材21の化学状態を表す指数である。なお、2つの標準試料、SOC-50及びDOD-50のいずれにおいても5回ずつ測定を行い、ピークエネルギーの平均値を取り、標準偏差の値をエラーバーとした。
 以上のように、様々な標準試料を用いてそれぞれ電池材料の化学状態を表す値とピーク波長の関係を示す標準曲線を作成し、それらの標準曲線上に、分析対象の電池材料で測定したピークエネルギーの値をプロットすることにより、元素の価数等のように、分析対象の電池材料における化学状態を定量化して求めることができる。
 本発明は上記実施形態には限定されず、本発明の主旨の範囲内で種々の変更が可能である。例えば、本実施形態では測定対象の電池(リチウムイオン電池20)を解体し、電池材料(例えば正極材21)だけを再度組み直したうえで測定を行うが、測定精度が多少低くともよい場合や、特性X線を検出する時間を長くすることが許容される場合には、電池の解体を省略してもよい。また、測定対象は正極材に限らず、価数が変化するものであれば負極材に含まれている物質を対象にしてもよい。また、測定対象の電池はリチウムイオン電池には限定されず、種々の1次電池及び2次電池を測定対象とすることができる。
10…化学状態分析装置
11…励起源
12…スリット
13…分光結晶
14…X線リニアセンサ
141、1411、1412…検出素子
15…試料ホルダ
16…データ処理部
161…波長スペクトル作成部
162…ピーク波長決定部
163…化学状態特定部
17…標準曲線データ記憶部
20…リチウムイオン電池
21…正極材
22…負極材
23…セパレータ
24…集電体
25…電解液
26、27…ラミネート材
A…照射領域
S…試料

Claims (8)

  1.  a) 電池材料を含む試料中の所定の面内の照射領域に、該電池材料の特性X線を発生させるための励起線を照射する励起源と、
     b) 前記照射領域に面して設けられた平板から成る分光結晶と、
     c) 前記照射領域と前記分光結晶の間に設けられた、該照射領域及び該分光結晶の所定の結晶面に平行なスリットと、
     d) 前記スリットに平行な方向に長さを有する線状の検出素子が該スリットに垂直な方向に並ぶように設けられたX線リニアセンサと、
     e) 前記X線リニアセンサが検出した特性X線の強度に基づいて波長スペクトルを作成する波長スペクトル作成部と、
     f) 前記波長スペクトルのピークにおける波長であるピーク波長を求めるピーク波長決定部と、
     g) 前記ピーク波長決定部で求められたピーク波長と、前記試料中の電池材料の化学状態を表す値とピーク波長の関係を示す標準曲線から、前記化学状態を特定する値を求める化学状態特定部と
    を備えることを特徴とする化学状態分析装置。
  2.  前記標準曲線が、測定対象の電池材料よりも化学的に安定であって、該電池材料が有する元素のうちの1種から成るイオンであって互いに価数が異なるイオンを含有する複数の標準試料の各々から得られる波長スペクトルのピーク波長及び該価数に基づき作成されたものであることを特徴とする請求項1に記載の化学状態分析装置。
  3.  前記標準曲線が、測定対象の電池材料が有する複数種の元素と同種の元素から成り、該複数種の元素のうちの1種から成るイオンであって互いに価数が異なるイオンを含有する複数の標準試料の各々から得られる波長スペクトルのピーク波長及び該価数に基づき作成されたものであることを特徴とする請求項1に記載の化学状態分析装置。
  4.  前記標準曲線が、同種の2次電池において、充電上限電圧まで充電したときの波長スペクトルのピーク波長と、放電終止電圧まで放電したときの波長スペクトルのピーク波長に基づき作成されたものであることを特徴とする請求項1に記載の化学状態分析装置。
  5.  電池材料を含む試料中の所定の面内の照射領域に、該電池材料の特性X線を発生させるための励起線を照射し、
     前記励起線の照射により前記照射領域で生成される特性X線を、該照射領域に面して設けられた平板から成る分光結晶に、該照射領域及び該分光結晶の所定の結晶面に平行であって該照射領域と該分光結晶の間に設けられたスリットを通して入射させることにより分光し、
     前記分光結晶で分光された特性X線を、前記スリットに平行な方向に長さを有する線状の検出素子が該スリットに垂直な方向に並ぶように設けられたX線リニアセンサで検出し、
     前記X線リニアセンサが検出した特性X線の強度に基づいて波長スペクトルを作成し、該波長スペクトルのピークにおける波長であるピーク波長を求め、該ピーク波長と、前記試料中の電池材料の化学状態を表す値とピーク波長の関係を示す標準曲線から、前記化学状態を特定する値を求める
    ことを特徴とする化学状態分析方法。
  6.  前記標準曲線が、測定対象の電池材料よりも化学的に安定であって、該電池材料が有する元素のうちの1種から成るイオンであって互いに価数が異なるイオンを含有する複数の標準試料の各々から得られる波長スペクトルのピーク波長及び該価数に基づき作成されたものであることを特徴とする請求項5に記載の化学状態分析方法。
  7.  前記標準曲線が、測定対象の電池材料が有する複数種の元素と同種の元素から成り、該複数種の元素のうちの1種から成るイオンであって互いに価数が異なるイオンを含有する複数の標準試料の各々から得られる波長スペクトルのピーク波長及び該価数に基づき作成されたものであることを特徴とする請求項5に記載の化学状態分析方法。
  8.  前記標準曲線が、同種の2次電池において、充電上限電圧まで充電したときの波長スペクトルのピークの波長と、放電終止電圧まで放電したときの波長スペクトルのピーク波長に基づき作成されたものであることを特徴とする請求項5に記載の化学状態分析方法。
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CN201880087778.7A CN111656171A (zh) 2018-02-21 2018-02-21 电池材料的化学状态分析装置和方法
US16/971,518 US11378530B2 (en) 2018-02-21 2018-02-21 Apparatus and method for analyzing chemical state of battery material
EP18906739.0A EP3757556A4 (en) 2018-02-21 2018-02-21 DEVICE AND METHOD FOR ANALYSIS OF THE CHEMICAL STATE OF A BATTERY MATERIAL
KR1020207023976A KR102390689B1 (ko) 2018-02-21 2018-02-21 전지 재료의 화학 상태 분석 장치 및 방법

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021076411A (ja) * 2019-11-06 2021-05-20 株式会社島津製作所 試料成分推定方法、試料成分推定装置、試料成分推定プログラム、学習方法および学習プログラム
JP2021188961A (ja) * 2020-05-27 2021-12-13 株式会社島津製作所 X線分析装置およびx線分析方法
WO2024203037A1 (ja) * 2023-03-31 2024-10-03 株式会社リガク 試料セル及び蛍光x線分析方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200002951A (ko) 2017-05-18 2020-01-08 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 X선 분광 분석 장치
WO2019064360A1 (ja) * 2017-09-27 2019-04-04 株式会社島津製作所 X線分光分析装置、及び該x線分光分析装置を用いた化学状態分析方法
KR102390689B1 (ko) * 2018-02-21 2022-04-26 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 전지 재료의 화학 상태 분석 장치 및 방법
JP7026348B2 (ja) * 2018-02-21 2022-02-28 株式会社島津製作所 電池材料の化学状態分析方法
CN112305429B (zh) * 2020-09-28 2022-08-09 合肥国轩高科动力能源有限公司 一种锂离子电池放电深度的估算方法
JP7599408B2 (ja) * 2021-12-14 2024-12-13 本田技研工業株式会社 リチウムイオン電池の電析検出方法
WO2023199833A1 (ja) * 2022-04-13 2023-10-19 株式会社島津製作所 ホルダおよびそれを備える分析装置、ならびに電池の分析方法
DE112023002079T5 (de) * 2022-05-02 2025-02-27 Sigray, Inc. Sequenzielles wellenlängendispersives röntgenspektrometer
CN116907682B (zh) * 2023-07-03 2026-03-20 深圳云基新能源科技有限公司 一种储能电源温度异常监控系统
WO2025101530A1 (en) * 2023-11-07 2025-05-15 Sigray, Inc. System and method for x-ray absorption spectroscopy using spectral information from two orthogonal planes
WO2025155719A1 (en) 2024-01-18 2025-07-24 Sigray, Inc. Sequential array of x-ray imaging detectors

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009128203A (ja) * 2007-11-26 2009-06-11 Nec Tokin Corp リチウムの分析方法
JP2010122198A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Takeshi Yao 原子価分析装置
JP2017223638A (ja) 2015-12-08 2017-12-21 株式会社島津製作所 X線分光分析装置及び元素分析方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0204855B1 (en) * 1985-06-11 1992-03-04 Shimadzu Corporation Method and apparatus for state analysis
JP2002189004A (ja) * 2000-12-21 2002-07-05 Jeol Ltd X線分析装置
EP2162732A1 (en) * 2007-03-15 2010-03-17 X-ray Optical Systems, INC. Small spot and high energy resolution xrf system for valence state determination
JP2009047586A (ja) * 2007-08-21 2009-03-05 Jeol Ltd 化学結合状態分析を行うx線分析装置
JP6222517B2 (ja) * 2013-09-09 2017-11-01 住友電気工業株式会社 解析用セル、解析装置、および解析方法
JP6001604B2 (ja) * 2014-07-10 2016-10-05 株式会社住化分析センター 電極に対するx線を用いた二次元測定の方法
JP6476040B2 (ja) * 2015-03-31 2019-02-27 株式会社日立ハイテクサイエンス シーケンシャル型icp発光分光分析装置および測定波長補正方法
WO2019064360A1 (ja) 2017-09-27 2019-04-04 株式会社島津製作所 X線分光分析装置、及び該x線分光分析装置を用いた化学状態分析方法
KR102390689B1 (ko) * 2018-02-21 2022-04-26 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 전지 재료의 화학 상태 분석 장치 및 방법
JP7380421B2 (ja) * 2020-05-27 2023-11-15 株式会社島津製作所 X線分析装置およびx線分析方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009128203A (ja) * 2007-11-26 2009-06-11 Nec Tokin Corp リチウムの分析方法
JP2010122198A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Takeshi Yao 原子価分析装置
JP2017223638A (ja) 2015-12-08 2017-12-21 株式会社島津製作所 X線分光分析装置及び元素分析方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3757556A4
TAKAHIRO HARADA: "The TRC News", September 2013, TORAY RESEARCH CENTER, CO., LTD., article "Lithium-Ion Battery (7) Valence of Positive Electrode Active Materials and Structural Assessment", pages: 31 - 33

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021076411A (ja) * 2019-11-06 2021-05-20 株式会社島津製作所 試料成分推定方法、試料成分推定装置、試料成分推定プログラム、学習方法および学習プログラム
JP7342629B2 (ja) 2019-11-06 2023-09-12 株式会社島津製作所 試料成分推定方法、試料成分推定装置、試料成分推定プログラム、学習方法および学習プログラム
JP2021188961A (ja) * 2020-05-27 2021-12-13 株式会社島津製作所 X線分析装置およびx線分析方法
CN113804713A (zh) * 2020-05-27 2021-12-17 株式会社岛津制作所 X射线分析装置以及x射线分析方法
JP7380421B2 (ja) 2020-05-27 2023-11-15 株式会社島津製作所 X線分析装置およびx線分析方法
WO2024203037A1 (ja) * 2023-03-31 2024-10-03 株式会社リガク 試料セル及び蛍光x線分析方法
JPWO2024203037A1 (ja) * 2023-03-31 2024-10-03
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