WO2020160731A1 - Haltevorrichtung für eine optische faser - Google Patents
Haltevorrichtung für eine optische faser Download PDFInfo
- Publication number
- WO2020160731A1 WO2020160731A1 PCT/DE2020/100070 DE2020100070W WO2020160731A1 WO 2020160731 A1 WO2020160731 A1 WO 2020160731A1 DE 2020100070 W DE2020100070 W DE 2020100070W WO 2020160731 A1 WO2020160731 A1 WO 2020160731A1
- Authority
- WO
- WIPO (PCT)
- Prior art keywords
- capacitive sensor
- optical fiber
- sensor elements
- holding device
- holding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4201—Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
- G02B6/4219—Mechanical fixtures for holding or positioning the elements relative to each other in the couplings; Alignment methods for the elements, e.g. measuring or observing methods especially used therefor
- G02B6/422—Active alignment, i.e. moving the elements in response to the detected degree of coupling or position of the elements
- G02B6/4226—Positioning means for moving the elements into alignment, e.g. alignment screws, deformation of the mount
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/023—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring distance between sensor and object
Definitions
- the invention relates to a holding device for an optical fiber according to claims 1 to 10, and a positioning device with such a holding device according to claim 11 and a method for the simultaneous determination of a distance and a position when positioning an optical fiber relative to an element below Use of such a holding device according to claims 12 and 13.
- ICs integrated circuits
- wafers wafers
- the individual ICs include a large number of micro and nanostructures.
- light-guiding elements e.g.
- To couple a single optical fiber or in a bundle of optical fibers it is necessary to bring the fiber or the fibers close to the surface of the microstructures in order to read out information for test purposes, or to put the fiber (s) directly into the correct position bring in order to connect them to a microstructure in a further process step, for example by a
- the test process described first is important in order to find out at an early stage in the semiconductor manufacturing process which of the structures that have already been manufactured are usable and which are not. With this knowledge, it can then be decided which of the structures will be processed further.
- the optical fiber When one or more of the optical fiber is mentioned in the following, it does not necessarily mean a single fiber, but also a bundle of optical fibers, for example in an array arrangement. A an explicit distinction is only made if it is deemed necessary for an understanding of the relevant part of the description.
- the optical fiber can either be used to couple light emitted therefrom, for example into an optical element of a substrate or wafer, or light from such an optical element can be coupled into the fiber, for example.
- the optical fiber In use, the optical fiber must be able to be moved in order to be able to bring it into an optimal position in relation to another element, such as an optical element which is attached to a wafer or integrated into it.
- the fiber is typically attached to a fiber holder together with a fiber holder
- Positioning system attached which allows the optical fiber to be moved in relation to the optical element. It can be advantageous here to split the fiber into three translational and three rotary
- the distance between the front of the optical fiber and the surface of the wafer is typically on the order of between 5 pm and 500 pm.
- Optimal mostly means that a maximum of light from the optical element of the wafer is coupled into the fiber or from the fiber into the optical element.
- Distance sensor for positioning a fiber array with respect to a wafer in which a plurality of optical fibers arranged parallel to one another are arranged on a fiber array holder, and A capacitive sensor for determining a distance between the facets of the optical fibers and optical elements of the wafer is arranged on the fiber array holder at a distance from the fibers.
- Figure 3 of the present invention illustrates with the figures a) and b) in a respective plan view of the folding device 202 according to Figure 2, a possible source of error in the positioning of a plurality of a folding device 202 arranged optical fibers 204 - designed as fiber ribbons - opposite the wafer 206 arranged on the wafer holder 207 or the surface of the wafer 206.
- the optical fibers 204 are aligned parallel to the surface of the wafer 206, so that the corresponding positioning routines function as expected.
- an undesired tilting of the folding device 202 here: tilting about an axis parallel to the
- the present invention is therefore based on the object of a
- the holding device for at least one optical fiber, the holding device having an arm section and a holding section, and a proximal end of the arm section being designed for arrangement on a positioning device and being at a distal end of the arm section and at a distance from it its proximal end is the holding section.
- the arm section has an elongated and preferably straight shape and extends along a corresponding one
- the arm section can also be bent once or several times and extend essentially along a main direction of extent.
- a direction of extension is to be understood in each case as a direction which has at least one portion that extends from the proximal end to the distal end of the
- the holding section comprises a holding surface, the surface normal of which has an orientation deviating from a main direction of extent of the arm section, and a holding element for clamping the optical fiber is arranged on the holding surface.
- Holding device arranged optical fiber and an element, preferably an optical element, or a structure opposite which or which the optical fiber can be positioned, arranged.
- the capacitive sensor elements can be arranged on the surface of the side face of the holding device facing the element or the structure, or at least partially with respect to this
- Main extension direction of the arm section are arranged one behind the other and in particular in a manner overlapping with the fiber, wherein the capacitive sensor element closest to the optical fiber can be arranged extremely close to it.
- the flat design it is possible in a comparatively simple manner to arrange, in particular, a large number of capacitive sensors on the arm section or its side surface, which can be turned towards the element or the structure opposite which the optical fiber can be positioned.
- the compact design of such capacitive sensor elements is associated with a comparatively low dead weight, so that even when using a large number of such capacitive sensor elements, a holding device with a low overall weight results that allows high positioning speeds or high positioning dynamics.
- the capacitive sensor elements are arranged side by side in such a way that their shortest Distance to an optical fiber arranged on the holding section is identical or substantially identical.
- Main extension direction of the arm section on the one hand, the determination of a distance between the optical fiber and an element or a structure, and on the other hand, the determination of a tilt of the arm portion about an axis that is parallel to the
- Main direction of extent of the arm section are arranged one behind the other, so that the distance between the two capacitive
- Sensor elements is different from an optical fiber arranged on the holding portion. Such an arrangement of the capacitive sensor elements, which are essentially parallel to the
- a distance between the optical fiber and an element or a structure can be determined, and a tilting of the arm section about an axis that is essentially transverse to the main direction of extent of the arm section can be determined.
- the holding device comprises three capacitive sensor elements which are arranged on the arm section in such a way that the lines which connect the centers of adjacent capacitive sensor elements with one another form a triangle.
- Such an arrangement of the capacitive sensor elements makes it possible, on the one hand, to determine a distance between the optical fiber and an element or a structure, and, on the other hand, to determine
- the holding device comprises four capacitive sensor elements which are arranged on the arm section in such a way that the lines which connect the centers of immediately adjacent capacitive sensor elements together form a square.
- capacitive sensor element is at least three times larger than its thickness, so that this has a flat or thin shape.
- the width or the diameter of a capacitive sensor element is at least ten times greater than its thickness.
- the capacitive sensor elements thus have a geometry or flatness that is optimized for their arrangement on the arm section of the holding device, so that if necessary the capacitive
- Sensor elements can be arranged or attached to the corresponding surface of the arm section without completely or partially submerging them therein. This allows a particularly simple way of manufacturing the holding device with compact dimensions at the same time.
- adjacent capacitive sensor elements is smaller than 10 mm. This also contributes to a very compact design of the holding device.
- the distance of the center of each capacitive sensor element from the optical fiber is less than 20 mm. This includes that even the distance of the center of the from the optical The fiber of the most distant capacitive sensor element is less than 20 mm.
- Sensor elements are inserted into the arm section in such a way that they are flush with a side surface of the holding device.
- the invention also relates to a positioning device with a
- the invention also relates to a method for simultaneous
- the measurement signals obtained by the capacitive sensor elements at an individual position both for determining the distance and the position of the optical Fiber to the element or to the structure serve. This means that in the method according to the invention several positions are not approached one after the other and then the position of the optical fiber or the optical fibers relative to the element or the structure is determined from the measurement signals of the capacitive sensor elements at the different positions, which is what the invention Makes procedure very easy and quick.
- Phase difference of 180 ° are applied and the element or the structure opposite to which the optical fiber is positioned has an undefined electrical potential.
- FIG. 2 Folding device for an optical fiber according to the prior art
- FIG. 3 Representation to illustrate the measurement problem with a tilted folding device according to FIG. 2, a fiber array being arranged on the folding device
- FIG. 4 Folding device according to the invention for an optical fiber
- FIG. 5 Positioning system with a positioning device and a folding device according to the invention arranged thereon
- FIGS. 7 a) to c) (not belonging to the invention): different ones
- FIG. 9 Embodiment of the folding device according to the invention with four capacitive sensor elements arranged thereon for determining distance and position according to a second measuring principle
- FIG. 1 shows a schematic representation of the internal structure of a capacitive distance sensor 102 according to the prior art.
- This is designed in a cylindrical shape, and the cable outlet with the cable 101 of the system, which is usually designed as a triaxial cable, is designed axially to the rear or, in FIG.
- the use of a triaxial cable is advantageous, as the actual sensor signal goes back to the corresponding electronics with a special type of shielding is to lead.
- the sensor 102 can be used to measure the distance to a surface of an object functioning as a counter electrode 105.
- the counter electrode must be at a defined electrical potential in relation to the electronics of the sensor.
- the sensor 102 has two front sensor surfaces 108 and 110.
- the sensor surface 110 is used for the actual capacitance measurement, while the second sensor surface 108 is controlled in such a way that the electric field between the sensor 102 and the
- Counter electrode 105 is as homogeneous as possible in the area of the inner electrodes.
- a measuring electrode 107 and a protective electrode 103 of the capacitive distance sensor 102 are designed as cylindrical parts and are arranged coaxially to one another. The overall system is outwardly through a sensor body or a sensor housing 111
- connection element 106 that functions as a strain relief.
- Figure 2 shows a holding device for an optical fiber after
- the holding device 202 in the form of a cantilever is arranged on a positioning device 201, which is only indicated schematically in FIG. 2, whereby the optical fiber 204 can be positioned opposite the wafer 206 arranged on a wafer holder 207 .
- a holding element 205, which holds the optical fiber 204 in a desired orientation, is provided on a beveled front surface of the holding device. The alignment is such that there is
- a capacitive sensor 203 is embedded in the holding device 202 Measurement surface is arranged essentially parallel to the plane spanned by the wafer 206.
- An arrangement of the capacitive sensor 203 as close as possible to the optical fiber 204 is desirable in order to keep measurement inaccuracies relating to the distance measurement between the optical fiber 204 and the wafer 206 as low as possible.
- Positioning device 201 is essentially identical to the distance of the optical fiber 204 from the positioning device 201, and not - as shown in FIG. 2 - behind the optical fiber, so that the distance of the capacitive sensor from the positioning device is smaller than the distance of the optical fiber from the positioning device is normally undesirable, since typically not only one such folding device or a corresponding positioning system is used in an arrangement above the wafer, but two or more, whereby, for example, light is coupled into the wafer via the optical fiber of a folding device , and the light coupled into the wafer is coupled out again via the optical fiber of another folding device.
- the fiber should form the sole foremost point, ideally the foremost tip of the folding device.
- FIG. 4 shows a folding device 1 according to the invention with a
- Arm section 4 the proximal end 6 of which is arranged on a positioning device 3, which is only indicated schematically in FIG. 3, around the folding device 1 and thus the optical fiber 2 attached to it compared to a structure designed as a wafer 8
- the arm section 4 has an angled shape, but the arm section 4 extends in the
- Fluff extension direction HE the fluff extension direction HE in the arrangement shown in FIG. 4 running essentially parallel to wafer 8 supported by a wafer carrier 81.
- Folded section 5 with a folded surface 51 the surface normal of which has an orientation that deviates from the fluff extension direction HE and the folded surface 51 thus runs obliquely to the fluff extension direction HE.
- frictional and preferably clamping folding of the optical fiber 2 is arranged.
- the optical fiber 2 held by the folding element 55 is also oriented obliquely with respect to the direction of extension HE of the arm section 4, so that an orientation of the optical fiber 2 with respect to the wafer results which deviates from a right-angled orientation. In this way, it is ensured that light through the optical fiber 2 without back reflection or essentially without back reflection into the area on the wafer 8
- optical element arranged or integrated therein optical element can be introduced.
- At least two plate or disk-shaped capacitive sensor elements 10 for the simultaneous determination of a distance and a position between the optical fiber 2 and the optical element or the wafer 8, wherein in Figure 4 only one of the viewing direction
- capacitive sensor elements 10 are partially inserted or embedded in the arm section 4. However, it is also conceivable that the capacitive sensor elements 10 completely in the
- Arm section 4 are embedded or sunk therein and their
- FIG. 5 shows a positioning system 60 with the folding device 1 according to FIG. 4, the positioning device 3 and a corresponding one
- Electronics unit 50 it is possible either to couple light into the optical fiber 2 or to measure an amount of light that is coupled into the optical fiber 2.
- the two capacitive sensor elements 10 are each by means of the cable 101 with the
- Measured values generated by sensor elements 10 can be read out by electronics unit 50 and information about the distance between holding device 1 and wafer 8 and also information about the position of the front of optical fiber 2 in relation to the surface of wafer 8 is available.
- the positioning device 3 is via a cable 301 with the
- Control or regulation of the positioning device 3 can be used to determine the position of the optical fiber 2 in relation to the Adjust the surface of the wafer 8 or an optical element arranged thereon or integrated therein in at least two degrees of freedom and in up to six degrees of freedom.
- the positioning device 3 can be used to determine the position of the optical fiber 2 in relation to the Adjust the surface of the wafer 8 or an optical element arranged thereon or integrated therein in at least two degrees of freedom and in up to six degrees of freedom.
- Electronics unit 50 can be commanded, for example, in such a way that the distance between the optical fiber in relation to the surface of the wafer 8 is always kept at a constant distance.
- a search algorithm can then be started which, for example, enables light coupled into the optical fiber to be detected and transmitted through
- the positioning device 3 is via the connecting element 30
- the positioning device 3 has a drive system
- the positioning device 3 is a
- Parallel kinematics in the form of a hexapod i.e. a platform that moves in relation to a base, the platform over six
- adjustable legs coupled to the base. By direct or indirect drive of the six legs, a desired pose of the platform in the room and thus also a desired position and
- positioning devices are also available on the base
- Positioning device 3 it is conceivable to provide two positioning devices 3 for the independent positioning of two optical fibers 2. Such an arrangement is used, for example, when light is coupled into the wafer with one of the optical fibers and light is coupled out of the wafer with the other of the optical fibers. It is necessary to place the two optical fibers separately from one another and precisely opposite the wafer.
- the second positioning device positions electronic probe tips with respect to the wafer in order, for example, to couple electronic signals in or out simultaneously with the optical signal via the optical fiber by means of the electronic probe tips.
- the capacitive sensor elements 10 can be used not only for continuous distance measurement (ie to keep the position of the optical fiber relative to the wafer or a surface thereof constant), but also to prevent a collision of the optical fiber 2 with a surface of the To prevent wafers.
- the electronics unit 50 can be configured in such a way that when the distance between the optical fiber and the surface of the wafer falls below a minimum
- Positioning device is stopped or that a warning is issued.
- FIG. 6 shows a schematic representation to illustrate a measuring principle using two capacitive sensor elements 10.
- Measuring capacitor and the counter electrode is measured.
- the plate capacitors 120 and 130 formed between the capacitive sensor elements 10 and the counter electrode no longer have a potential zero point.
- the two capacitive sensor elements 10 are mechanically attached next to one another and controlled in the AC control with a phase difference of 180 °. This results in two current paths 140 and 150, which results in a shift in the current between the two capacitive sensor elements 10. A capacitive measurement is thus possible without having to rely on a counter electrode that is at a defined potential.
- the two distance signals are used to measure the distance
- FIG. 7 shows three different embodiments of a folding device 1, which do not belong to the invention, with a single capacitive sensor element 10 arranged thereon or inserted therein.
- Representations a) to c) of FIG each show the folding device 1 in a direction of view
- Folding device 1 arranged. It can be seen here that the optical fiber 2 represents the foremost point of the folding device 1, which makes it possible, for example, to position two optical fibers, each of which is arranged on its own folding device 1, very close to one another.
- the capacitive sensor element 10 is as a single
- Round sensor element comprising a sensor electrode surface 115 and a protective electrode surface 116.
- other geometric shapes of the capacitive sensor element are also conceivable, such as a rectangular shape according to Figure 7b).
- FIG. 7c it is also conceivable, as shown in FIG. 7c), to design the sensor electrode surface 115 and the protective electrode surface 116 of the capacitive sensor element 10 in the form of a claw circle. This simultaneously makes it possible to spac the optical fiber as close as possible to the position
- Holding device and above to be able to measure the distance of the optical fiber to a surface, and the sensor along the
- Main direction of extent HE of the holding device in the direction of the proximal end 6 to be able to position behind the optical fiber 2.
- FIG. 8 shows five different ones
- Embodiments of a holding device 1 according to the invention wherein a holding device with two capacitive sensor elements 10 arranged thereon is shown in each of the illustrations a) to c), while in the illustrations d) and e) of FIG
- Holding device comprises a total of three capacitive sensor elements 10.
- each capacitive sensor element 10 measures on its own against a counter electrode which has a defined potential.
- the two capacitive sensor elements 10 are arranged on the side surface 9 of the arm section 4 in the region of the holding section 7.
- the capacitive sensor elements 10 are at least partially embedded in the arm section 4 or are arranged sunk in it.
- Both capacitive sensor elements 10 each have a sensor electrode surface 115 and a protective electrode surface 116 and are designed in the form of a quarter circle. Due to the neighboring and symmetrical with respect to the main direction of extent HE des
- the holding element 55 is also designed in the form of a semicircle or as a semicircular disk and lies with its flat sides or surfaces on the Holding surface 51. In the center of the holding element 55 there is an opening through which the optical fiber 2 protrudes, which by means of the holding element 55 is attached to the arm section 4 or to its
- Holding section 7 is arranged.
- Holding element 55 moves the optical fiber 2 particularly close to the two capacitive sensor elements 10.
- Figure 8b shows a further possible embodiment for a
- Holding device in which the two capacitive sensor elements 10, each having a sensor electrode surface 115 and a protective electrode surface 116, have a circular shape and are arranged in an adjacent arrangement on the side surface 9 in the region of the holding section 7 such that they are partially in the
- the holding element 55 has a web section and a circular section with a central one Opening through which the optical fiber 2 protrudes.
- the embodiment of a holding device according to the invention according to Figure 8c) differs from that according to Figure 8b) only in that the two circular capacitive sensor elements 10 are arranged one behind the other along the main direction of extent HE, so that the centers of the capacitive sensor elements have a different distance from the have optical fiber 2.
- this has a total of three capacitive sensor elements 10, which are arranged symmetrically with respect to the main direction of extent HE on the side surface 9 of the arm section 4.
- the capacitive sensor elements are partially inserted or let into the arm section 4.
- FIG. 8e Another possible arrangement when using three capacitive sensor elements 10 is shown in FIG. 8e), the two capacitive ones arranged closer to the optical fiber 2
- Sensor elements 10 are arranged symmetrically with respect to the main direction of extent HE, while the third capacitive sensor element 10 is arranged behind one of the two aforementioned capacitive sensor elements 10 in a direction parallel to the main direction of extent HE.
- FIG. 9 shows a further embodiment of a holding device 1 according to the invention with four capacitive sensor elements, two of which measure together as a pair against a counter-electrode which has no defined potential.
- the four capacitive sensor elements 10 are here arranged in pairs symmetrically to the main direction of extent HE.
- the arrangement of the four capacitive sensor elements 10 with respect to one another is such that lines which connect the center points of directly adjacent capacitive sensor elements to one another form a square together.
- the capacitive sensor elements 10 shown may have other geometric shapes, for example the square shape shown in FIG. 7b).
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Manipulator (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf eine Haltevorrichtung (1) für eine optische Faser (2) oder ein Faserbündel bzw. Faserarray zur Anordnung an einer Positioniervorrichtung (3), wobei die Haltevorrichtung (1) einen Armabschnitt (4) und einen Halteabschnitt (5) umfasst, und ein proximales Ende (6) des Armabschnitts (4) zur Anordnung an der Positioniervorrichtung (3) ausgebildet ist, und sich an einem distalen Ende (7) des Armabschnitts (4) der Halteabschnitt (5) zur Halterung der optischen Faser (2) befindet, und an dem Armabschnitt (4) benachbart zu der optischen Faser (2) wenigstens zwei platten- oder scheibenförmige kapazitive Sensorelemente (10) angeordnet sind zur gleichzeitigen Bestimmung eines Abstands und einer Lage zwischen der optischen Faser (2) und einem Element oder einer Struktur, gegenüber dem bzw. der die optische Faser (2) positionierbar ist.
Description
Haltevorrichtung für eine optische Faser
[0001] Die Erfindung betrifft eine Haltevorrichtung für eine optische Faser gemäß den Ansprüchen 1 bis 10, sowie eine Positioniervorrichtung mit einer solchen Haltevorrichtung gemäß Anspruch 11 und ein Verfahren zur gleichzeitigen Bestimmung eines Abstands und einer Lage bei der Positionierung einer optischen Faser gegenüber einem Element unter Verwendung einer solchen Haltevorrichtung gemäß den Ansprüchen 12 und 13.
[0002] Durch die immer weiter fortschreitende Miniaturisierung in der Elektronik und dem Wunsch nach immer höheren Übertragungsgeschwindigkeiten von Informationen wird in vielen Bereichen der Industrie daran gearbeitet, die Informationen mit Licht zu übertragen und die Verarbeitung der optischen Informationen direkt auf Chipebene zu realisieren.
[0003] In der Halbleiterindustrie werden normalerweise auf sogenannten Wafern eine Vielzahl von integrierten Schaltkreisen (Integrated Circuits oder ICs) gefertigt. Die einzelnen ICs umfassen dabei eine große Anzahl von Mikro- und Nanostrukturen. Um Informationen aus der IC-Struktur direkt in lichtleitende Elemente, wie z.B. eine einzelne optische Faser oder in ein Bündel von optischen Fasern einzukoppeln, ist es nötig, die Faser bzw. die Fasern in die Nähe der Oberfläche der Mikrostrukturen zu bringen, um Informationen für Testzwecke auszulesen, oder die Faser/n direkt in die richtige Position zu bringen, um sie in einem weiteren Prozessschritt mit einer Mikrostruktur zu verbinden, beispielsweise durch einen
Klebeprozess. Der zuerst beschriebene Testprozess ist wichtig, um schon frühzeitig im Halbleiterfertigungsprozess herauszufinden, welche der bereits gefertigten Strukturen nutzbar sind und welche nicht. Mit diesem Wissen kann dann entschieden werden, welche der Strukturen weiter prozessiert werden.
[0004] Wenn im Folgenden von einer bzw. der optischen Faser die Rede ist, so ist darunter nicht zwangsläufig eine einzelne Faser gemeint, sondern auch ein Bündel von optischen Fasern, z.B. in einer Array-Anordnung. Eine
explizite Unterscheidung wird nur dann getroffen, wenn es für das Verständnis des entsprechenden Teils der Beschreibung als notwendig erachtet wird. Die optische Faser kann in der Anwendung entweder dafür verwendet werden, um davon ausgesendetes Licht beispielsweise in ein optisches Element eines Substrats oder Wafers einzukoppeln, öder es kann beispielsweise Licht aus einem solchen optischen Element in die Faser eingekoppelt werden.
[0005] In der Anwendung muss die optische Faser bewegt werden können, um sie in eine optimale Position in Relation zu einem anderen Element, etwa einem optischen Element, welches an einem Wafer angebracht oder in dieses integriert ist, bringen zu können. Zur Positionierung wird die Faser zusammen mit einem Faserhalter typischerweise an einem
Positioniersystem angebracht, welches es erlaubt, die optische Faser in Relation zu dem optischen Element zu bewegen. Hierbei kann es günstig sein, die Faser in drei translatorischen und drei rotatorischen
Freiheitsgraden zu bewegen. Es sei angemerkt, dass der Abstand zwischen der Vorderseite der optischen Faser und der Oberfläche des Wafers typischerweise in der Größenordnung zwischen 5pm und 500pm liegt. In einer überlagerten, durch eine Elektronik gesteuerten Routine, ist es dann möglich, die Faser optimal in Relation zur Oberfläche bzw. in Relation zu dem optischen Element zu positionieren. Optimal bedeutet hierbei zumeist, dass ein Maximum an Licht aus dem optischen Element des Wafers in die Faser eingekoppelt bzw. aus der Faser in das optische Element eingekoppelt wird. Während dieses gesamten Prozesses ist es hilfreich, den Abstand der Faser in Relation zur Oberfläche bzw. zu dem optischen Element genau zu kennen bzw. permanent zu messen. Dies kann insbesondere als Kollisionsschutz der Faser dienen, um eine Berührung mit der Oberfläche des Wafers oder des optischen Elements auszuschließen.
[0006] Aus der US 7 183 759 B1 ist eine Einkoppeloptik mit einem
Abstandssensor zur Positionierung eines Faserarrays gegenüber einem Wafer bekannt, bei welcher an einem Faserarrayhalter eine Vielzahl parallel zueinander angeordneter optischer Fasern angeordnet sind, und
an dem Faserarrayhalter beabstandet zu den Fasern ein kapazitiver Sensor zur Bestimmung eines Abstands zwischen den Facetten der optischen Fasern und optischen Elementen des Wafers angeordnet ist.
[0007] Der schematischen Figur 19 und dem entsprechenden Teil der
Beschreibung in Spalte 20, Zeilen 37 bis 54 der US 7 183 759 B1 ist lediglich die prinzipielle bzw. schematische Anordnung des Faserarrays und des kapazitiven Sensors an dem Faserarrayhalter zu entnehmen, Details zur spezifischen Ausgestaltung fehlen hingegen. Es wird von der Anmelderin angenommen, dass die optischen Fasern des Faserarrays in schräger Ausrichtung gegenüber dem Faserarrayhalter angeordnet sind (d.h. aus der Darstellungsebene heraustretend), wie dies die Figuren 3A bis 3C nahelegen. Gleichzeitig wird angenommen, dass ein kapazitiver Sensor mit einem Aufbau wie in Figur 1 dieser Erfindung skizziert in dem Faserarrayhalter versenkt angeordnet ist und seine Ausdehnung in einer zur Ausrichtung der Faser parallelen Richtung deutlich größer ist als Figur 19 der US 7 183 759 B1 zu entnehmen. Bei solchen angenommenen Randbedingungen wird die Anordnung des kapazitiven Sensors
gegenüber den Fasern, nämlich seitlich dazu beabstandet,
nachvollziehbar, denn bei einer Anordnung des kapazitiven Sensors hinter den optischen Fasern (bezüglich einer Blickrichtung auf die Fasern bzw. die Darstellungsebene zu) resultierte insbesondere bei naher Anordnung des kapazitiven Sensors zu den optischen Fasern eine Kollisionssituation zwischen den schräg verlaufenden optischen Fasern und dem nach oben austretenden kapazitiven Sensor bzw. dessen elektrischer Zuleitungen wie in Figur 2 der vorliegenden Erfindung verdeutlicht.
[0008] Die in Figur 19 der US 7 183 759 B1 gezeigte Darstellung der Anordnung zwischen dem kapazitiven Sensor und dem Faserarray ist jedoch insofern nachteilig, als sich der Abstand zwischen den einzelnen Fasern zu dem kapazitiven Sensor deutlich voneinander unterscheidet, so dass bei einer etwaigen Verkippung des Faserarrayhalters um eine Achse, die senkrecht zu der Längserstreckungsrichtung des Faserarrayhalters verläuft, nur hinsichtlich der dem kapazitiven Sensor nächstgelegenen optischen Faser eine vergleichsweise genaue Abstandsbestimmung möglich ist, während
diese mit zunehmenden Abstand bezüglich der anderen optischen Fasern zu dem kapazitiven Sensor ungenauer wird. Im ungünstigsten Fall kommt es während der Positionierung der Fasern gar zu einem Kontakt zwischen den weiter entfernt liegenden optischen Fasern und den entsprechenden optischen Elementen des Wafers.
[0009] Figur 3 der vorliegenden Erfindung verdeutlicht mit den Abbildungen a) und b) in einer jeweiligen Draufsicht auf die Flaltevorrichtung 202 gemäß Figur 2 eine mögliche Fehlerquelle bei der Positionierung einer Mehrzahl an einer Flaltevorrichtung 202 angeordneten optischer Fasern 204 - ausgeführt als Faserbändchen - gegenüber dem an dem Waferhalter 207 angeordneten Wafer 206 bzw. der Oberfläche des Wafers 206. Im optimalen Fall gemäß Figur 3a) sind die optischen Fasern 204 parallel zu der Oberfläche des Wafers 206 ausgerichtet, so dass die entsprechenden Positionierungsroutinen erwartungsgemäß funktionieren. Wenn jedoch gemäß Figur 3b) eine ungewünschte Verkippung der Flaltevorrichtung 202 (hier: Verkippung um eine Achse, die parallel zur
Flaupterstreckungsrichtung der Flaltevorrichung 202 verläuft) vorliegt, kann es im schlimmsten Fall passieren, dass mit einer der optischen Fasern justiert und das Optimum der Einkopplung gegenüber einem an dem Wafer 206 angeordneten optischen Element gesucht wird, während gleichzeitig eine andere optische Faser der Reihe oder des Arrays mit der Oberfläche des Wafers 206 kollidiert.
[0010] Der vorliegenden Erfindung liegt also die Aufgabe zugrunde, eine
Flaltevorrichtung für eine optische Faser bereitzustellen, mit deren FHilfe eine optimierte Bestimmung bzw. Einstellung der Position und der Lage wenigstens einer an der Flaltevorrichtung angeordneten optischen Faser gegenüber einem weiteren Element, insbesondere einem optischen Element, ermöglicht ist, so dass zum Einen eine optimierte bzw.
maximierte Einleitung von Licht durch die optische Faser in das optische Element resultiert, und zum Anderen Kollisionen zwischen der optischen Faser und dem optischen Element sicher vermieden werden.
[0011] Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Haltevorrichtung gemäß Anspruch 1 , wobei die sich daran anschließenden Unteransprüche wenigstens zweckmäßige Weiterbildungen beschreiben.
[0012] Es wird demnach ausgegangen von einer Haltevorrichtung für wenigstens eine optische Faser, wobei die Haltevorrichtung einen Armabschnitt und einen Halteabschnitt aufweist, und ein proximales Ende des Armabschnitts zur Anordnung an einer Positioniervorrichtung ausgebildet ist und sich an einem distalen Ende des Armabschnitts und beabstandet zu seinem proximalen Ende der Halteabschnitt befindet. Der Armabschnitt hat in vorteilhafter Ausgestaltung eine langgestreckte und vorzugsweise gerade Form und erstreckt sich dabei entlang einer entsprechenden
Haupterstreckungsrichtung. Der Armabschnitt kann hierbei auch einfach oder mehrfach abgeknickt sein und sich im Wesentlichen entlang einer Haupterstreckungsrichtung erstrecken. Unter einer Erstreckungsrichtung ist in jedem Fall eine Richtung zu verstehen, die zumindest einen Anteil hat, der von dem proximalen Ende zu dem distalen Ende des
Armabschnitts weist.
[0013] Der Halteabschnitt umfasst eine Haltefläche, deren Flächennormale eine zu einer Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts abweichende Ausrichtung aufweist, und an der Haltefläche ist ein Halteelement für eine klemmende Halterung der optischen Faser angeordnet. Auf diese Weise ist eine zu der Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts geneigte Anordnung bzw. Halterung der optischen Faser einfach realisierbar, so dass insbesondere eine rückreflexionsfreie Einkopplung von Licht durch die optische Faser beispielsweise in ein optisches Element, gegenüber dem die optische Faser positioniert werden soll, ermöglicht ist.
[0014] An dem Armabschnitt der Haltevorrichtung sind in benachbarter Position zu der optischen Faser wenigstens zwei dünne und platten- oder scheibenförmige kapazitive Sensorelemente zur gleichzeitigen
Bestimmung eines Abstands und einer Lage zwischen der an der
Haltevorrichtung angeordneten optischen Faser und einem Element, vorzugsweise einem optischen Element, oder einer Struktur, gegenüber dem bzw. der die optische Faser positionierbar ist, angeordnet. Dabei
können die kapazitiven Sensorelemente an der Oberfläche der dem Element bzw. der Struktur zuwendbaren Seitenfläche der Haltevorrichtung angeordnet sein, oder aber wenigstens teilweise bezüglich dieser
Seitenfläche in den Armabschnitt eingesetzt oder eingelassen sein. Auch eine komplette Versenkung in dem Armabschnitt bzw. eine bündige Anordnung der kapazitiven Sensorelemente mit der entsprechenden Seitenfläche ist denkbar.
[0015] Durch die sich aus der Platten- bzw. Scheibenform ergebenden flachen und kompakten Bauweise der kapazitiven Sensorelemente besteht kaum eine Einschränkung hinsichtlich deren Anordnung an dem Armabschnitt bzw. in Relation zu der optischen Faser. Hierbei ist eine Anordnung möglich, bei welcher die kapazitiven Sensoren entlang einer
Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts hintereinander und dabei insbesondere in mit der Faser überdeckender Weise angeordnet sind, wobei das der optischen Faser nächstgelegene kapazitive Sensorelement äußerst nahe daran angeordnet werden kann. Zudem ist es aufgrund der flachen Bauform auf vergleichsweise einfache Art möglich, insbesondere eine Vielzahl von kapazitiven Sensoren an dem Armabschnitt bzw. dessen Seitenfläche anzuordnen, die dem Element oder der Struktur zuwendbar ist, gegenüber dem bzw. der die optische Faser positionierbar ist. Die kompakte Bauform solcher kapazitiven Sensorelemente geht mit einem vergleichsweise geringen Eigengewicht einher, so dass selbst bei der Verwendung einer Vielzahl solcher kapazitiven Sensorelemente eine Haltevorrichtung mit einem geringen Gesamtgewicht resultiert, das hohe Positioniergeschwindigkeiten bzw. eine hohe Positionierdynamik erlaubt.
[0016] Es kann von Vorteil sein, dass die wenigstens zwei kapazitiven
Sensorelemente in benachbarter Anordnung zusammen eine
Kreisabschnittsform und insbesondere eine Halbkreisform bilden, deren Kreissehne in der durch die Haltefläche aufgespannten Ebene liegt.
Hierdurch wird eine besonders nahe Anordnung der beiden kapazitiven Sensorelemente zu der optischen Faser ermöglicht.
[0017] Es kann zudem von Vorteil sein, dass die kapazitiven Sensorelemente derart nebeneinanderliegend angeordnet sind, dass ihr jeweils kürzester
Abstand zu einer an dem Halteabschnitt angeordneten optischen Faser identisch oder im Wesentlichen identisch ist. Durch eine solche Anordnung der kapazitiven Sensorelemente, die im Wesentlichen quer zu der
Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts verläuft, gelingt zum Einen die Bestimmung eines Abstand zwischen der optischen Faser und einem Element bzw. einer Struktur, und zum Anderen die Bestimmung einer Verkippung des Armabschnitts um eine Achse, die parallel zu der
Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts verläuft.
[0018] Es kann weiterhin von Vorteil sein, dass die Haltevorrichtung zwei
kapazitive Sensorelemente umfasst, die entlang der
Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts hintereinanderliegend angeordnet sind, so dass der Abstand der beiden kapazitiven
Sensorelemente zu einer an dem Halteabschnitt angeordneten optischen Faser unterschiedlich ist. Durch eine solche Anordnung der kapazitiven Sensorelemente, die im Wesentlichen parallel zu der
Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts verläuft, gelingt zum Einen die Bestimmung eines Abstands zwischen der optischen Faser und einem Element bzw. einer Struktur, und zum Anderen die Bestimmung einer Verkippung des Armabschnitts um eine Achse, die im Wesentlichen quer zu der Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts verläuft.
[0019] Es kann darüber hinaus von Vorteil sein, dass die Haltevorrichtung drei kapazitive Sensorelemente umfasst, die derart an dem Armabschnitt angeordnet sind, dass die Linien, welche die Mittelpunkte benachbarter kapazitiver Sensorelemente miteinander verbinden, ein Dreieck bilden. Durch eine solche Anordnung der kapazitiven Sensorelemente gelingt zum Einen die Bestimmung eines Abstands zwischen der optischen Faser und einem Element bzw. einer Struktur, und zum Anderen die
Bestimmung von Verkippungen des Armabschnitts um folgende zwei Achsen: 1. um eine Achse, die im Wesentlichen quer zu der
Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts auf den Halteabschnitt zu verläuft, und 2. um eine Achse, die im Wesentlichen parallel zu der Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts auf den Halteabschnitt zu verläuft.
[0020] Es kann außerdem von Vorteil sein, dass die Haltevorrichtung vier kapazitive Sensorelemente umfasst, die derart an dem Armabschnitt angeordnet sind, dass die Linien, welche die Mittelpunkte unmittelbar benachbarter kapazitiver Sensorelemente miteinander verbinden, zusammen ein Viereck bilden. Hierdurch ist es möglich, jeweils zwei kapazitive Sensorelemente und somit paarweise zur Messung gegen eine nicht geerdete Gegenelektrode zu verwenden, womit zum Einen die Bestimmung eines Abstands zwischen der optischen Faser und einem Element bzw. einer Struktur, und zum Anderen die Bestimmung von Verkippungen des Armabschnitts um folgende zwei Achsen gelingt: 1. um eine Achse, die im Wesentlichen quer zu der Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts auf den Halteabschnitt zu verläuft, und 2. um eine Achse, die im Wesentlichen parallel zu der Haupterstreckungsrichtung des Armabschnitts auf den Halteabschnitt zu verläuft.
[0021] Es kann vorteilhaft sein, dass die Breite oder der Durchmesser eines
kapazitiven Sensorelements wenigstens drei Mal größer als dessen Dicke ist, so dass dieses eine flache bzw. dünne Form aufweist. Von
besonderem Vorteil ist es hierbei, wenn die Breite oder der Durchmesser eines kapazitiven Sensorelements wenigstens zehn Mal größer ist als dessen Dicke. Damit haben die kapazitiven Sensorelemente eine für deren Anordnung an dem Armabschnitt der Haltevorrichtung optimierte Geometrie bzw. Flachheit, so dass gegebenenfalls die kapazitiven
Sensorelemente an der entsprechenden Oberfläche des Armabschnitts angeordnet bzw. angebracht sein können, ohne sie darin ganz oder teilweise zu versenken. Dies erlaubt eine besonders einfache Art der Fertigung der Haltevorrichtung bei gleichzeitig kompakten Abmessungen.
[0022] Zudem kann es vorteilhaft sein, dass der Abstand der Mittelpunkte
benachbarter kapazitiver Sensorelemente kleiner als 10 mm ist. Auch dies trägt zu einer sehr kompakten Ausführung der Haltevorrichtung bei.
[0023] Außerdem kann es für eine kompakte Ausführung der Haltevorrichtung vorteilhaft sein, dass der Abstand des Mittelpunkts jedes kapazitiven Sensorelements von der optischen Faser kleiner als 20 mm ist. Dies umfasst, dass selbst der Abstand des Mittelpunkts des von der optischen
Faser am weitesten entfernten kapazitiven Sensorelements geringer als 20 mm ist.
[0024] Darüber hinaus kann es vorteilhaft sein, dass die kapazitiven
Sensorelemente derart in den Armabschnitt eingesetzt sind, dass sie bündig mit einer Seitenfläche der Haltevorrichtung abschließen.
Insbesondere von Vorteil ist hierbei das bündige Abschließen mit der Seitenfläche der Haltevorrichtung, die während der Positionierung der optischen Faser dem Element, also etwa einem optischen Element oder einem Substrat bzw. Wafer, zugewandt ist. Die resultierende Versenkung der kapazitiven Sensorelemente in dem Armabschnitt führt zu einer kompakten Haltevorrichtung, wobei die Sensorelemente gleichzeitig gegen einen mechanischen Angriff geschützt sind.
[0025] Die Erfindung betrifft zudem eine Positioniervorrichtung mit einer
Haltevorrichtung nach einer der vorstehend beschriebenen
Ausführungsformen.
[0026] Weiterhin betrifft die Erfindung ein Verfahren zur gleichzeitigen
Bestimmung eines Abstands und einer Lage bei der Positionierung einer optischen Faser gegenüber einem Element bzw. einer Struktur unter Verwendung der vorstehend beschriebenen Haltevorrichtung, wobei die durch die kapazitiven Sensorelemente an einer einzelnen Position erhaltenen Messsignale sowohl der Bestimmung des Abstands, als auch der Lage der optischen Faser zu dem Element bzw. zu der Struktur dienen. Dies bedeutet, dass bei dem erfindungsgemäßen Verfahren nicht mehrere Positionen zeitlich hintereinander angefahren werden und anschließend aus den Messsignalen der kapazitiven Sensorelemente an den verschiedenen Positionen die Lage der optischen Faser bzw. der optischen Fasern gegenüber dem Element bzw. der Struktur bestimmt wird, was das erfindungsgemäße Verfahren sehr einfach und schnell macht.
[0027] Es kann hierbei von Vorteil sein, dass die kapazitiven Sensorelemente paarweise mit Wechselspannungssignalen aufweisend einen
Phasenunterschied von 180° beaufschlagt werden und das Element bzw.
die Struktur, gegenüber dem bzw. der die optische Faser positioniert wird, ein Undefiniertes elektrisches Potential aufweist.
[0028] Vorteile und Zweckmäßigkeiten der Erfindung werden deutlicher aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele anhand der Figuren. Es zeigen:
[0029] Figur 1 : Kapazitiver Sensor nach dem Stand der Technik
[0030] Figur 2: Flaltevorrichtung für eine optische Faser nach dem Stand der Technik
[0031] Figur 3: Darstellung zur Verdeutlichung der Messproblematik bei einer verkippten Flaltevorrichtung gemäß Figur 2, wobei an der Flaltevorrichtung ein Faserarray angeordnet ist
[0032] Figur 4: Erfindungsgemäße Flaltevorrichtung für eine optische Faser
[0033] Figur 5: Positioniersystem mit einer Positioniervorrichtung und einer daran angeordneten erfindungsgemäßen Flaltevorrichtung
[0034] Figur 6: Darstellung zur Verdeutlichung eines Messprinzips mit den
kapazitiven Sensorelementen einer erfindungsgemäßen Flaltevorrichtung [0035] Figur 7 a) bis c) (nicht zur Erfindung gehörend): Unterschiedliche
Ausführungsformen einer Flaltevorrichtung mit einem einzigen kapazitiven Sensor
[0036] Figur 8 a) bis e): Unterschiedliche Ausführungsformen der
erfindungsgemäßen Flaltevorrichtung mit zwei oder drei daran
angeordneten kapazitiven Sensorelementen zur Abstands- und
Lagebestimmung nach einem ersten Messprinzip
[0037] Figur 9: Ausführungsform der erfindungsgemäßen Flaltevorrichtung mit vier daran angeordneten kapazitiven Sensorelementen zur Abstands- und Lagebestimmung nach einem zweiten Messprinzip
[0038] Figur 1 zeigt in einer schematischen Darstellung den internen Aufbau eines kapazitiven Abstandssensors 102 nach dem Stand der Technik. Dieser ist in zylindrischer Form ausgeführt, und der Kabelabgang mit dem in der Regel als Triaxialkabel ausgeführten Kabel 101 des Systems ist axial nach hinten bzw. in Figur 1 nach oben ausgeführt. Die Verwendung eines Triaxialkabels ist vorteilhaft, da das eigentliche Sensorsignal mit einer speziellen Art der Schirmung zurück zur entsprechenden Elektronik
zu führen ist. Der Sensor 102 kann verwendet werden, um den Abstand zu einer Oberfläche eines als Gegenelektrode 105 fungierenden Objekts zu messen. Die Gegenelektrode muss dabei auf einem in Relation zur Elektronik des Sensors definierten elektrischen Potential liegen.
[0039] Der Sensor 102 weist zwei frontseitige Sensorflächen 108 und 110 auf.
Die Sensorfläche 110 wird für die eigentliche Kapazitätsmessung verwendet, während die zweite Sensorfläche 108 so angesteuert wird, dass das elektrische Feld zwischen dem Sensor 102 und der
Gegenelektrode 105 im Bereich der inneren Elektroden so homogen wie möglich ist. Eine Messelektrode 107 und eine Schutzelektrode 103 des kapazitiven Abstandssensors 102 sind als zylindrische Teile ausgeführt und koaxial zueinander angeordnet. Das Gesamtsystem ist nach außen hin durch einen Sensorkörper bzw. ein Sensorgehäuse 111
abgeschlossen, der bzw. das typischerweise geerdet ist und damit auf GND-Potential liegt, um den Sensor nach außen hin elektrisch neutral zu halten. Die einzelnen Teile sind durch elektrisch isolierende Elemente 104 und 109 voneinander getrennt. Im oberen Bereich des Sensors ist ein Hohlraum 112 vorgesehen, der es erlaubt, die einzelnen Elektroden und die Außenelektrode mit dem Kabel 101 zu verbinden. Das Kabel 101 ist mittels eines als Zugentlastung fungierenden Anschlusselements 106 fest mit dem Sensorgehäuse 111 verbunden.
[0040] Figur 2 zeigt eine Haltevorrichtung für eine optische Faser nach dem
Stand der Technik mit einem kapazitiven Abstandssensor gemäß Figur 1. Die in Form eines Auslegers ausgeführte Haltevorrichtung 202 ist dabei an einer in Figur 2 nur schematisch angedeuteten Positioniervorrichtung 201 angeordnet, wodurch die optische Faser 204 gegenüber dem an einem Waferhalter 207 angeordneten Wafer 206 positioniert werden kann. An einer abgeschrägten Frontfläche der Haltevorrichtung ist ein Halteelement 205 vorgesehen, welches die optische Faser 204 in einer gewünschten Ausrichtung haltert. Die Ausrichtung ist dergestalt, dass es bei
Einkopplung von Licht in den Wafer zu keiner Rückreflexion des Lichts in die optische Faser kommt. Zu der optischen Faser 204 beabstandet ist in der Haltevorrichtung 202 ein kapazitiver Sensor 203 eingelassen, dessen
Messoberfläche im Wesentlichen parallel zu der von dem Wafer 206 aufgespannten Ebene angeordnet ist.
[0041] Eine Anordnung des kapazitiven Sensors 203 so nahe wie möglich zu der optischen Faser 204 ist wünschenswert, um Messungenauigkeiten bezüglich der Abstandsmessung zwischen der optischen Faser 204 und dem Wafer 206 so gering wie möglich zu halten. Je näher jedoch der kapazitive Sensor an der optischen Faser bei der Flaltevorrichtung nach dem Stand der Technik gemäß Figur 2 platziert wird, umso größer ist die Wahrscheinlichkeit einer Kollision zwischen dem kapazitiven Sensor 203 und der optischen Faser 204, so dass eine beliebig nahe Anordnung des kapazitiven Sensors 203 zu der optischen Faser 204 ohne Änderung der Ausrichtung des kapazitiven Sensors ausscheidet.
[0042] Eine Anordnung des kapazitiven Sensors neben der optischen Faser, so dass der Abstand des kapazitiven Sensors 203 von der
Positioniervorrichtung 201 im Wesentlichen identisch ist zu dem Abstand der optischen Faser 204 von der Positioniervorrichtung 201 , und nicht - wie in Fig. 2 - dargestellt, hinter der optischen Faser, so dass der Abstand des kapazitiven Sensors von der Positioniervorrichtung kleiner ist als der Abstand der optischen Faser von der Positioniervorrichtung, ist normalweise unerwünscht, da typischerweise nicht nur eine solche Flaltevorrichtung bzw. ein entsprechendes Positioniersystem in einer Anordnung über dem Wafer genutzt wird, sondern zwei oder mehrere, wodurch beispielsweise über die optische Faser einer Flaltevorrichtung Licht in den Wafer eingekoppelt wird, und über die optische Faser einer anderen Flaltevorrichtung das in den Wafer eingekoppelte Licht wieder ausgekoppelt wird. Um es dabei zu ermöglichen, dass sich die optischen Fasern der beiden Flaltevorrichtungen so nahe wie möglich kommen können, sollte die Faser den alleinigen vordersten Punkt, im Idealfall die vorderste Spitze der Flaltevorrichtung, bilden.
[0043] Figur 4 zeigt eine erfindungsgemäße Flaltevorrichtung 1 mit einem
Armabschnitt 4, dessen proximales Ende 6 an einer in Figur 3 nur schematisch angedeuteten Positioniervorrichtung 3 angeordnet ist, um die Flaltevorrichtung 1 und damit die an ihr angebrachte optische Faser 2
gegenüber einem an einer als Wafer 8 ausgeführten Struktur
angebrachten oder darin integrierten optischen Element (in Figur 3 nicht gezeigt) zu positionieren bzw. auszurichten. Der Armabschnitt 4 hat eine abgewinkelte Form, jedoch erstreckt sich der Armabschnitt 4 im
Wesentlichen entlang einer Flaupterstreckungsrichtung HE bzw. der überwiegende Teil des Armabschnitts 4 erstreckt sich parallel zur
Flaupterstreckungsrichtung HE , wobei die Flaupterstreckungsrichtung HE bei der in Figur 4 gezeigten Anordnung im Wesentlichen parallel zu dem von einem Waferträger 81 unterstützten Wafer 8 verläuft.
[0044] An dem distalen Ende 7 des Armabschnitts 4 befindet sich ein
Flalteabschnitt 5 mit einer Flaltefläche 51 , deren Flächennormale eine zu der Flaupterstreckungsrichtung HE abweichende Ausrichtung aufweist und die Flaltefläche 51 somit schräg zu der Flaupterstreckungsrichtung HE verläuft. An der Flaltefläche 51 ist ein Flalteelement 55 für eine
kraftschlüssige und vorzugsweise klemmende Flalterung der optischen Faser 2 angeordnet. Es ist jedoch denkbar, die optische Faser 2 auch auf andere Weise in dem Flalteelement 55 zu halten, z.B. durch Formschluss oder durch Stoffschluss.
[0045] Aufgrund der schrägen Ausrichtung der Flaltefläche 51 gegenüber der Flaupterstreckungsrichtung HE des Armabschnitts 4 und der
entsprechenden Ausbildung des Flalteelements 55 ist auch die durch das Flalteelement 55 gehaltene optische Faser 2 schräg gegenüber der Flaupterstreckungsrichtung HE des Armabschnitts 4 ausgerichtet, so dass sich eine Ausrichtung der optischen Faser 2 gegenüber dem Wafer ergibt, welche von einer rechtwinkligen Ausrichtung abweicht. Auf diese Weise ist gewährleistet, dass Licht durch die optische Faser 2 rückreflexionsfrei oder im Wesentlichen rückreflexionsfrei in das an dem Wafer 8
angeordnete oder darin integrierte optische Element einleitbar ist.
[0046] An der dem Wafer 8 bzw. dem daran angeordneten oder darin integrierten optischen Element zuwendbaren Seitenfläche 9 der Flaltevorrichtung 1 und unmittelbar benachbart zu der optischen Faser 2 sind wenigstens zwei platten- oder scheibenförmige kapazitive Sensorelemente 10 zur gleichzeitigen Bestimmung eines Abstands und einer Lage zwischen der
optischen Faser 2 und dem optischen Element bzw. dem Wafer 8 angeordnet, wobei in Figur 4 nur eines der in Blickrichtung
hintereinanderliegend angeordneten kapazitiven Sensorelemente 10 zu sehen ist. Die kapazitiven Sensorelemente 10 sind teilweise in den Armabschnitt 4 eingesetzt bzw. eingelassen. Es ist jedoch ebenso denkbar, dass die kapazitiven Sensorelemente 10 komplett in den
Armabschnitt 4 eingelassen bzw. darin versenkt sind und deren
Oberfläche bündig mit der Seitenfläche 9 abschließt. Denkbar ist weiterhin, dass die kapazitiven Sensorelemente 10 überhaupt nicht in den Armabschnitt 4 eingelassen oder eingesetzt sind, sondern an der
Oberfläche der Seitenfläche 9 angeordnet und bevorzugt daran angeklebt sind.
[0047] Figur 5 zeigt ein Positioniersystem 60 mit der Flaltevorrichtung 1 gemäß Figur 4, der Positioniervorrichtung 3 und einer entsprechenden
Elektronikeinheit 50, welche mit der optischen Faser 2, zwei kapazitiven Sensorelementen 10 und der Positioniervorrichtung 3 verbunden ist. Mittels der Verbindung zwischen der optischen Faser 2 und der
Elektronikeinheit 50 ist es möglich, entweder Licht in die optische Faser 2 einzukoppeln, oder aber eine in die optische Faser 2 eingekoppelte Lichtmenge zu messen.
[0048] Die beiden kapazitiven Sensorelemente 10 (von denen in Figur 5 nur eines zu sehen ist) sind jeweils mittels des Kabels 101 mit der
Elektronikeinheit 50 verbunden, so dass die von den kapazitiven
Sensorelementen 10 erzeugten Messwerte von der Elektronikeinheit 50 ausgelesen werden können und dadurch Informationen über den Abstand der Haltevorrichtung 1 zu dem Wafer 8 und hierüber auch Informationen über die Position der Front der optischen Faser 2 in Relation zu der Oberfläche des Wafers 8 zur Verfügung stehen.
[0049] Weiterhin ist die Positioniervorrichtung 3 über ein Kabel 301 mit der
Elektronikeinheit 50 verbunden, wobei die von den beiden kapazitiven Sensorelementen 10 gemessenen Daten zur entsprechenden
Ansteuerung bzw. Regelung der Positioniervorrichtung 3 verwendet werden, um die Position der optischen Faser 2 in Relation zu der
Oberfläche des Wafers 8 bzw. eines daran angeordneten oder darin integrierten optischen Elements in wenigstens zwei Freiheitsgraden und in bis zu sechs Freiheitsgraden einzustellen. Hierbei kann die
Elektronikeinheit 50 beispielsweise so kommandiert werden, dass der Abstand der optischen Faser in Relation zu der Oberfläche des Wafers 8 immer auf einem konstanten Abstand gehalten wird. Anschließend kann ein Suchalgorithmus gestartet werden, der es beispielsweise ermöglicht, in die optische Faser eingekoppeltes Licht zu detektieren und durch
Veränderung der Position der optischen Faser in Relation zur Oberfläche des Wafers bzw. des daran angeordneten oder darin integrierten optischen Elements die Einkoppeleffizienz zu maximieren. Somit wird die Position der optischen Faser in einem konstanten Abstand zu der
Oberfläche des Wafers 8 auf ein definiertes Optimum positioniert.
[0050] Über das Verbindungselement 30 ist die Positioniervorrichtung 3
mechanisch steif mit dem Waferhalter 81 und damit dem Wafer 8 verbunden.
[0051] Die Positioniervorrichtung 3 weist ein Antriebssystem aus
elektromechanischen und insbesondere piezoelektrischen Antrieben auf. Es ist jedoch ebenfalls ein Antriebssystem mit elektromagnetischen Antrieben oder eine Kombination aus unterschiedlichen Antriebssystemen denkbar. Bei der Positioniervorrichtung 3 handelt es sich um eine
Parallelkinematik in Form eines Hexapoden, also einer gegenüber einer Basis bewegten Plattform, wobei die Plattform über sechs
längenveränderliche Beine mit der Basis gekoppelt ist. Durch direkten oder indirekten Antrieb der sechs Beine lässt sich eine gewünschte Pose der Plattform im Raum und damit auch eine gewünschte Lage und
Position der optischen Faser 2 in Bezug auf den Wafer 8 einstellen.
Alternativ sind auch Positioniervorrichtungen auf der Basis
serienkinematischer Systeme möglich. Zur Verbesserung der
Positioniergenauigkeit ist es auch denkbar, parallel- oder
serienkinematische Systeme in Kombination mit piezoelektrischen
Antrieben zu betreiben.
[0052] Neben dem in Figur 5 gezeigten Positioniersystem 60 mit nur einer
Positioniervorrichtung 3 ist es denkbar, zwei Positioniervorrichtungen 3 zur unabhängigen Positionierung von zwei optischen Fasern 2 vorzusehen. Eine solche Anordnung kommt beispielsweise dann zum Einsatz, wenn mit einer der optischen Fasern Licht in den Wafer eingekoppelt und mit der anderen der optischen Fasern Licht aus dem Wafer ausgekoppelt wird. Hierbei ist es notwendig, beide optische Fasern getrennt voneinander präzise gegenüber dem Wafer zu platzieren. Alternativ hierzu ist denkbar, dass die zweite Positioniervorrichtung elektronische Tastkopfspitzen bezüglich des Wafers positioniert, um beispielsweise gleichzeitig zu dem optischen Signal über die optische Faser auch elektronische Signale mittels der elektronischen Tastkopfspitzen ein- oder auszukoppeln.
[0053] Die kapazitiven Sensorelemente 10 können nicht nur zur kontinuierlichen Abstandsmessung verwendet werden (d.h. um die Position der optischen Faser gegenüber dem Wafer bzw. einer Oberfläche desselben konstant zu halten), sondern auch dazu, eine Kollision der optischen Faser 2 mit einer Oberfläche des Wafers zu verhindern. Dafür kann die Elektronikeinheit 50 so konfiguriert werden, dass bei Unterschreiten eines Mindestabstandes der optischen Faser gegenüber der Oberfläche des Wafers die
Positioniervorrichtung gestoppt wird, oder dass eine Warnung ausgegeben wird.
[0054] Figur 6 zeigt eine schematische Darstellung zur Veranschaulichung eines Messprinzips unter Verwendung von zwei kapazitiven Sensorelementen 10. Hierbei hat die Oberfläche des Wafers 8, gegen die als
Gegenelektrode gemessen wird, keinen definierten Potentialbezug in Relation zur Elektronik 70 des kapazitiven Sensorsystems. Die
Abstandmessung mittels kapazitiver Sensoren verlangt normalweise nach einer Gegenelektrode mit einem definierten Potential. Wenn dies nicht gegeben ist, scheitern kapazitive Abstandsmessungen in der Regel. Die Messung einer Kapazität ist in den meisten Fällen als AC-Messung ausgeführt, was bedeutet, dass ein alternierendes Messsignal in den Messkondensator eingekoppelt und die Kapazität zwischen dem
Messkondensator und der Gegenelektrode gemessen wird.
[0055] Bei dem in Figur 6 dargestellten Messprinzip haben die zwischen den kapazitiven Sensorelementen 10 und der Gegenelektrode gebildeten Plattenkondensatoren 120 und 130 keinen Potentialnullpunkt mehr. Um einen alternativen Potentialpfad zu generieren, ist es jedoch möglich, zwei kapazitive Sensorelemente zu verwenden, die einen gekoppelten
Stromfluss haben. Die beiden kapazitiven Sensorelemente 10 werden dabei mechanisch nebeneinander angebracht und in der AC-Ansteuerung mit einer Phasendifferenz von 180° angesteuert. Daraus resultieren zwei Strompfade 140 und 150, wodurch sich eine Verschiebung des Stroms zwischen den beiden kapazitiven Sensorelementen 10 ergibt. Somit ist eine kapazitive Messung möglich, ohne auf eine Gegenelektrode angewiesen zu sein, das auf einem definierten Potential liegt. Zur
Messung des Abstandes werden die beiden Abstandssignale der
Einzelsensoren voneinander abgezogen, um Rauschanteile zu reduzieren. Das Ergebnis ist dann der Abstand 160 des Mittelpunktes zwischen den beiden benachbarten kapazitiven Sensorelementen 10 von der Oberfläche der Gegenelektrode bzw. des Wafers 8.
[0056] Figur 7 zeigt in den Darstellungen a) bis c) drei unterschiedliche und nicht zu der Erfindung gehörende Ausführungsformen einer Flaltevorrichtung 1 mit einem einzigen daran angeordneten bzw. in diese eingesetzten kapazitiven Sensorelement 10. Die Darstellungen a) bis c) von Figur 7 zeigen jeweils die Flaltevorrichtung 1 in einer Blickrichtung auf die
Seitenfläche 9 zu. Die optische Faser 2 ist durch das Flalteelement 55 gehalten und dadurch in einer definierten Ausrichtung an der
Flaltevorrichtung 1 angeordnet. Es ist hierbei zu erkennen, dass die optische Faser 2 den vordersten Punkt der Flaltevorrichtung 1 darstellt, womit es möglich wird, beispielsweise zwei optische Fasern, wovon jede an einer eigenen derartigen Flaltevorrichtung 1 angeordnet ist, sehr dicht zueinander zu positionieren.
[0057] Gemäß Figur 7a) ist das kapazitive Sensorelement 10 als einzelnes
rundes Sensorelement umfassend eine Sensorelektrodenfläche 115 und eine Schutzelektrodenfläche 116 ausgeführt. Jedoch sind auch andere geometrische Formen des kapazitiven Sensorelements denkbar, wie etwa
eine Rechteckform gemäß Figur 7b). Um noch näher an der Stelle der optischen Faser messen zu können ist es, wie in Figur 7c) gezeigt, auch denkbar, die Sensorelektrodenfläche 115 und die Schutzelektrodenfläche 116 des kapazitiven Sensorelements 10 jeweils in Form eines Flalbkreises auszuführen. Flierdurch wird es gleichzeitig ermöglicht, so dicht wie möglich an der Position der optischen Faser den Abstand der
Haltevorrichtung und darüber den Abstand der optischen Faser zu einer Oberfläche messen zu können, und den Sensor entlang der
Haupterstreckungsrichtung HE der Haltevorrichtung in Richtung auf das proximale Ende 6 zu hinter der optischen Faser 2 positionieren zu können.
[0058] Figur 8 zeigt in den Darstellungen a) bis e) fünf unterschiedliche
Ausführungsformen einer erfindungsgemäßen Haltevorrichtung 1 , wobei in den Darstellungen a) bis c) jeweils eine Haltevorrichtung mit zwei daran angeordneten kapazitiven Sensorelementen 10 gezeigt ist, während in den Darstellungen d) und e) von Figur 8 die dort jeweils gezeigte
Haltevorrichtung insgesamt drei kapazitive Sensorelemente 10 umfasst.
Mit den Anordnungen der kapazitiven Sensorelemente gemäß den
Figuren 8 a) bis e) ist vorgesehen, dass jedes kapazitive Sensorelement 10 für sich alleine gegen eine Gegenelektrode misst, die ein definiertes Potential aufweist.
[0059] Gemäß Figur 8a) sind die beiden kapazitiven Sensorelemente 10 an der Seitenfläche 9 des Armabschnitts 4 im Bereich des Halteabschnitts 7 angeordnet. Hierbei sind die kapazitiven Sensorelemente 10 zumindest teilweise in den Armabschnitt 4 eingelassen bzw. in diesem versenkt angeordnet. Beide kapazitiven Sensorelemente 10 weisen jeweils eine Sensorelektrodenfläche 115 und eine Schutzelektrodenfläche 116 auf und sind in Form eines Vierteilkreises ausgeführt. Durch die benachbarte und symmetrisch bezüglich der Haupterstreckungsrichtung HE des
Armabschnitts 4 ausgeführte Anordnung der kapazitiven Sensorelemente 10 bilden diese zusammen einen Halbkreis, dessen Kreissehne in der durch die Haltefläche 51 aufgespannten Ebene liegt. Das Halteelement 55 ist ebenfalls in Form eines Halbkreises bzw. als Halbkreisscheibe ausgeführt und liegt mit seinen ebenen Seiten bzw. Flächen an der
Haltefläche 51 an. Im Zentrum des Halteelements 55 ist eine Öffnung vorhanden, durch welche die optische Faser 2 hindurchragt, die mittels des Halteelements 55 an dem Armabschnitt 4 bzw. an dessen
Halteabschnitt 7 angeordnet ist.
[0060] Die Vierteilkreisform der beiden kapazitiven Sensorelemente 10 und deren Anordnung zu einem Halbkreis, dessen Kreissehne mit der durch die Haltefläche 51 aufgespannten Ebene zusammenfällt, erlaubt die
nächstmögliche Platzierung der kapazitiven Sensorelemente 10 an der optischen Faser 2. Durch die entsprechende Ausbildung des
Halteelements 55 rückt die optische Faser 2 besonders nahe an die beiden kapazitiven Sensorelemente 10 heran.
[0061 ] Figur 8b) zeigt eine weitere Ausführungsmöglichkeit für eine
erfindungsgemäße Haltevorrichtung, bei welcher die beiden kapazitiven Sensorelemente 10, die jeweils eine Sensorelektrodenfläche 115 und eine Schutzelektrodenfläche 116 aufweisen, eine kreisrunde Form besitzen und im Bereich des Halteabschnitts 7 in benachbarter Anordnung an der Seitenfläche 9 derart angeordnet sind, dass sie teilweise in den
Armabschnitt 4 eingesetzt bzw. eingelassen sind. Eine gedachte Linie, welche die Mittelpunkte der beiden kreisförmigen kapazitiven
Sensorelemente 10 miteinander verbindet, verläuft im Wesentlichen quer zu der Haupterstreckungsrichtung HE des Armabschnitts 4. Aufgrund dieser Anordnung haben die Mittelpunkte der kapazitiven Sensorelemente einen im Wesentlichen identischen Abstand zu der optischen Faser 2. Das Halteelement 55 weist einen Stegabschnitt und einen kreisförmigen Abschnitt mit einer zentralen Öffnung auf, durch welche die optische Faser 2 hindurchragt.
[0062] Die Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Haltevorrichtung nach Figur 8c) unterscheidet sich von der gemäß Figur 8b) lediglich dadurch, dass die beiden kreisrunden kapazitiven Sensorelemente 10 entlang der Haupterstreckungsrichtung HE hintereinander angeordnet sind, so dass die Mittelpunkte der kapazitiven Sensorelemente einen unterschiedlichen Abstand zu der optischen Faser 2 aufweisen.
[0063] Bei der Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Haltevorrichtung nach Figur 8d) weist dieses insgesamt drei kapazitive Sensorelemente 10 auf, die symmetrisch bezüglich der Haupterstreckungsrichtung HE an der Seitenfläche 9 des Armabschnitts 4 angeordnet sind. Dabei sind die kapazitiven Sensorelemente teilweise in den Armabschnitt 4 eingesetzt bzw. eingelassen. Drei gedachte Linien, welche jeweils die Mittelpunkte zweier benachbarter kapazitiver Sensorelemente 10 verbinden, bilden zusammen ein Dreieck. Eine andere mögliche Anordnung bei Verwendung von drei kapazitiven Sensorelementen 10 zeigt Figur 8e), wobei die beiden näher zu der optischen Faser 2 angeordneten kapazitiven
Sensorelemente 10 symmetrisch bezüglich der Haupterstreckungsrichtung HE angeordnet sind, während das dritte kapazitive Sensorelement 10 hinter einem der beiden vorgenannten kapazitiven Sensorelemente 10 in einer zur Haupterstreckungsrichtung HE parallelen Richtung angeordnet ist.
[0064] Figur 9 zeigt eine weitere Ausführungsformen einer erfindungsgemäßen Haltevorrichtung 1 mit vier kapazitiven Sensorelementen, wovon jeweils zwei als Paar gemeinsam gegen eine Gegenelektrode messen, die kein definiertes Potential aufweist. Die vier kapazitiven Sensorelemente 10 sind hierbei paarweise symmetrisch zu der Haupterstreckungsrichtung HE angeordnet. Die Anordnung der vier kapazitiven Sensorelemente 10 zueinander ist dergestalt, dass Linien, welche die Mittelpunkte unmittelbar benachbarter kapazitiver Sensorelemente miteinander verbinden, zusammen ein Viereck bilden.
[0065] Es versteht sich, dass die in den Figuren 8a) bis 8e) und in Figur 9
dargestellten kapazitiven Sensorelemente 10 andere geometrische Formen aufweisen können, beispielsweise die in Figur 7b) gezeigte quadratische Form.
[0066] Bezugszeichenliste
1 Haltevorrichtung
2 optische Faser
3 Positioniervorrichtung
4 Armabschnitt (der Haltevorrichtung 1)
Halteabschnitt (der Haltevorrichtung 1)
proximales Ende (des Armabschnitts 4)
distales Ende (des Armabschnitts 4)
Wafer
Seitenfläche (des Armabschnitts 4)
kapazitives Sensorelement
Verbindungselement
Elektronikeinheit
Haltefläche (des Armabschnitts 4)
Halteelement
Positioniersystem
Elektronik
Waferhalter
Kabel (zur elektrischen Verbindung eines kapazitiven Sensorelements 10 mit der Elektronikeinheit 50) kapazitiver Abstandssensor
Schutzelektrode
isolierendes Element
Gegenelektrode
Anschlusselement
Messelektrode
Sensorfläche
isolierendes Element
Sensorfläche
Sensorgehäuse
Hohlraum
Sensorelektrodenfläche
Schutzelektrodenfläche
Plattenkondensator
Plattenkondensator
Strom pfad
Strom pfad
Abstand (des Mittelpunkts zwischen zwei kapazitiven
Sensorelementen und der Oberfläche einer Gegenelektrode)
Positioniervorrichtung
Haltevorrichtung
kapazitiver Sensor
optische Faser
Halteelement
Wafer
Waferhalter
Kabel (zur elektrischen Verbindung der Positioniervorrichtung mit der Elektronikeinheit)
Claims
(1) abschließen.
Anspruch 11. Positioniervorrichtung (3) mit einer Haltevorrichtung (1) nach einem der vorhergehenden Ansprüche.
Anspruch 12. Verfahren zur gleichzeitigen Bestimmung eines Abstands und einer Lage bei der Positionierung einer optischen Faser (2) gegenüber einem
Element oder einer Struktur unter Verwendung der Haltevorrichtung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei die durch die kapazitiven
Sensorelemente (10) an einer einzelnen Position erhaltenen Messsignale sowohl der Bestimmung des Abstands, als auch der Lage der optischen Faser
(2) zu dem Element bzw. zu der Struktur dienen.
Anspruch 13. Verfahren nach Anspruch 12, wobei die kapazitiven Sensorelemente (10) paarweise mit Wechselspannungssignalen aufweisend einen
Phasenunterschied von 180° beaufschlagt werden und das Element bzw. die Struktur, gegenüber dem bzw. der die optische Faser (2) positioniert wird, ein Undefiniertes elektrisches Potential aufweist.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021600121U JP3235999U (ja) | 2019-02-06 | 2020-02-05 | 光ファイバ用保持装置 |
| CN202090000459.0U CN217739555U (zh) | 2019-02-06 | 2020-02-05 | 用于光纤的保持装置以及具有该保持装置的定位装置 |
| EP20711038.8A EP3914946A1 (de) | 2019-02-06 | 2020-02-05 | Haltevorrichtung für eine optische faser |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102019102965.1A DE102019102965A1 (de) | 2019-02-06 | 2019-02-06 | Haltevorrichtung für eine optische Faser |
| DE102019102965.1 | 2019-02-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2020160731A1 true WO2020160731A1 (de) | 2020-08-13 |
Family
ID=69810498
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/DE2020/100070 Ceased WO2020160731A1 (de) | 2019-02-06 | 2020-02-05 | Haltevorrichtung für eine optische faser |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP3914946A1 (de) |
| JP (1) | JP3235999U (de) |
| CN (1) | CN217739555U (de) |
| DE (1) | DE102019102965A1 (de) |
| WO (1) | WO2020160731A1 (de) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12455213B2 (en) * | 2023-02-01 | 2025-10-28 | Rtx Corporation | Measurement system having a capacitance probe and an optical probe |
| US12553796B2 (en) | 2023-03-14 | 2026-02-17 | Rtx Corporation | Measurement system having a probe for measuring parameters of a turbine engine |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10256634A1 (de) * | 2002-02-15 | 2003-12-24 | Schleifring Und Appbau Gmbh | Optischer Drehübertrager mit freiem Innendurchmesser |
| US20070003191A1 (en) * | 2005-07-01 | 2007-01-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for integrated optical fiber sensing with nanometer precision |
| US7183759B1 (en) | 2003-04-07 | 2007-02-27 | Luxtera, Inc. | Optical probes with spacing sensors for the wafer level testing of optical and optoelectronic chips |
| US20170123159A1 (en) * | 2015-10-28 | 2017-05-04 | Dritan Celo | Alignment system for optical coupling assembly |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4315420B2 (ja) * | 2003-04-18 | 2009-08-19 | キヤノン株式会社 | 露光装置及び露光方法 |
| US8638109B2 (en) * | 2009-12-31 | 2014-01-28 | Mapper Lithography Ip B.V. | Capacitive sensing system with differential pairs |
-
2019
- 2019-02-06 DE DE102019102965.1A patent/DE102019102965A1/de not_active Ceased
-
2020
- 2020-02-05 CN CN202090000459.0U patent/CN217739555U/zh active Active
- 2020-02-05 WO PCT/DE2020/100070 patent/WO2020160731A1/de not_active Ceased
- 2020-02-05 JP JP2021600121U patent/JP3235999U/ja active Active
- 2020-02-05 EP EP20711038.8A patent/EP3914946A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10256634A1 (de) * | 2002-02-15 | 2003-12-24 | Schleifring Und Appbau Gmbh | Optischer Drehübertrager mit freiem Innendurchmesser |
| US7183759B1 (en) | 2003-04-07 | 2007-02-27 | Luxtera, Inc. | Optical probes with spacing sensors for the wafer level testing of optical and optoelectronic chips |
| US20070003191A1 (en) * | 2005-07-01 | 2007-01-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for integrated optical fiber sensing with nanometer precision |
| US20170123159A1 (en) * | 2015-10-28 | 2017-05-04 | Dritan Celo | Alignment system for optical coupling assembly |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3235999U (ja) | 2022-01-21 |
| DE102019102965A1 (de) | 2020-08-06 |
| CN217739555U (zh) | 2022-11-04 |
| EP3914946A1 (de) | 2021-12-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE102017102343B4 (de) | Sensoranordnung zur Kraft- oder Drehmomentmessung und ein Verfahren zur Herstellung derselben | |
| WO2007124809A1 (de) | Spannvorrichtung mit einrichtung zur messung der distanz zwischen einem spannfutter und einem werkzeug- oder werkstückhalter | |
| WO2016012559A1 (de) | System mit einem piezoresistiven positionssensor | |
| DE68920256T2 (de) | Kapazitiv geleitete Teilezusammensetzung. | |
| WO2020160731A1 (de) | Haltevorrichtung für eine optische faser | |
| WO2018178288A1 (de) | Vorrichtung zur durchführung von biegeversuchen an platten- oder balkenförmigen proben | |
| DE102013217111A1 (de) | Mikromechanisches Bauteil und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauteils | |
| DE102014201095B4 (de) | Vorrichtung mit einem mikromechanischen Bauelement | |
| DE4302509B4 (de) | Verfahren zur Prüfung von Schaltungskarten | |
| DE102009028343B4 (de) | Sensorelement und Verfahren zum Betrieb eines Sensorelements | |
| EP0854350B1 (de) | Sondenarray für ein Rastersondenmikroskop | |
| DE69434641T2 (de) | Elektrooptisches Messinstrument | |
| EP1382411A2 (de) | Verfahren zum Vermessen des Intensitätsprofils eines Elektronenstrahls, insbesondere eines Strahls eines Elektronenstrahlbearbeitungsgeräts, und/oder zum Vermessen einer Optik für einen Elektronenstrahl und/oder zum Justieren einer Optik für einen elektronenstrahl, Messstruktur für ein solches Verfahren und Elektronenstrahlbearbeitungsgerät | |
| DE202019005803U1 (de) | Haltevorrichtung für eine optische Faser | |
| DE112005001890T5 (de) | System und Verfahren zum verbesserten Messen rheologischer Eigenschaften | |
| WO2015071317A1 (de) | Optische koppelvorrichtung und betriebsverfahren dafür | |
| DE102008048081B4 (de) | Verfahren zur Prüfung elektronischer Bauelemente einer Wiederholstruktur unter definierten thermischen Bedingungen | |
| DE102021202120A1 (de) | Aktor-Sensor-System und Fast Steering Mirror (FSM) | |
| DE102019210301A1 (de) | Sensoranordnung zum Erfassen einer Auslenkung einer Drahtelektrode | |
| WO1992008101A1 (de) | Anordnung zum messen linearer abmessungen auf einer strukturierten oberfläche eines messobjektes | |
| EP0573950B1 (de) | Vorrichtung zur winkelauflösenden optischen Untersuchung einer Probe | |
| DE102018206232A1 (de) | Verfahren zum Detektieren einer Fehlstellung einer Schneidoptik einer Laserschneidmaschine, Auswerteeinrichtung und Laserschneidmaschine | |
| DE102021128775B4 (de) | Strahllenkeinheit mit magnet und distanzelement | |
| DE102007028642A1 (de) | Festkörperaktorischer Antrieb | |
| DE102011012981B3 (de) | Hybridkalottennormal und Verfahren zum Herstellen eines Hybridkalottennormals |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 20711038 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
| ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2021600121 Country of ref document: JP Kind code of ref document: A |
|
| ENP | Entry into the national phase |
Ref document number: 2020711038 Country of ref document: EP Effective date: 20210823 |