WO2023013344A1 - 化学分析装置 - Google Patents

化学分析装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2023013344A1
WO2023013344A1 PCT/JP2022/026667 JP2022026667W WO2023013344A1 WO 2023013344 A1 WO2023013344 A1 WO 2023013344A1 JP 2022026667 W JP2022026667 W JP 2022026667W WO 2023013344 A1 WO2023013344 A1 WO 2023013344A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
chemical analysis
failure
data
analysis device
diagnosis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2022/026667
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
友輔 高麗
睦三 鈴木
幸太 佐々木
悟郎 吉田
裕人 田中
健太 綱島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Tech Corp
Priority to CN202280051255.3A priority Critical patent/CN117677850A/zh
Priority to US18/293,669 priority patent/US20240344973A1/en
Priority to EP22852770.1A priority patent/EP4382917A4/en
Publication of WO2023013344A1 publication Critical patent/WO2023013344A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/272—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration for following a reaction, e.g. for determining photometrically a reaction rate (photometric cinetic analysis)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
    • G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613—Quality control
    • G01N35/00623—Quality control of instruments
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes

Definitions

  • the present invention relates to a chemical analysis device, and more particularly to a chemical analysis device equipped with a failure diagnosis function.
  • a chemical analyzer consists of an automatic sample and reagent supply mechanism that supplies a sample and reagents to a reaction vessel, an automatic stirring mechanism that agitates the sample and reagents in the reaction vessel, and a ratio that measures the physical properties of the sample during or after the reaction. It has a color measurement unit, an automatic cleaning mechanism that sucks and discharges the sample after measurement and cleans the reaction container, and a control unit that controls these operations.
  • the throughput of chemical analyzers ranges from a few hundred tests per hour to over 9000 tests per hour for larger instruments.
  • the solution to be measured in the reaction container is irradiated with white light from the light source, and the transmitted light is separated by the spectrometer.
  • the absorbance is calculated by measuring the light intensity of a specific wavelength out of the spectrally dispersed light and comparing it with the light intensity of a previously measured standard concentration solution.
  • the chemical components in the solution to be measured are analyzed from the absorbance.
  • a chemical analyzer uses a halogen lamp as the light source.
  • a halogen lamp is a continuous spectrum light source that covers the visible region to the near infrared region. In addition, it has an excellent characteristic that the life of the filament is long due to the halogen cycle.
  • a rated life is set for the light source lamp.
  • Rated life is defined as the average life of a large number of lamps. Therefore, not all lamps reach the end of their life when they reach their rated life. For example, it may become impossible to light before reaching the rated life.
  • a recommended replacement period is set for the lamp.
  • the recommended replacement period is set shorter than the rated life. That is, the recommended replacement period is set in consideration of a margin for the rated life. If this margin is too large, the lamp will need to be replaced more frequently, resulting in higher running costs. Therefore, in order to keep running costs down, the recommended replacement period should be set with a small margin for the rated life.
  • a phenomenon occurs in which the light amount fluctuates in a short time even if the light amount satisfying the specifications is secured at the end of the life. Fluctuations in the amount of light lead to fluctuations in measurement accuracy. Therefore, there is a limit to setting a recommended lamp replacement period with a small margin.
  • Patent Document 1 in order to extend the life of the light source lamp and provide a chemical analysis apparatus capable of ensuring measurement accuracy, the light source driving power is set to a value lower than the rated value in order to extend the life of the lamp. Also, a method of setting the blank absorbance within a predetermined allowable value has been proposed. Further, in Patent Document 1, it is proposed to monitor the light source drive power supplied to the light source to diagnose the life of the light source lamp and to diagnose the failure of the light source lamp, and to monitor the absorbance to diagnose the failure of the light source lamp. ing.
  • a sample container holding unit that holds a sample container containing a sample to be measured and a reagent that contains a reagent are disclosed.
  • a reagent container holding unit that holds a container
  • a reaction container holding unit that holds a reaction container in which a sample and a reagent are stirred
  • a sample dispensing unit that aspirates the sample from the sample container and dispenses the sample into the reaction container
  • a reagent dispensing unit that aspirates a reagent from a reagent container and dispenses the reagent into a reaction container
  • the self-diagnosis of the measurement unit is performed when the automatic analyzer is started, when the measurement of a predetermined unit of samples is started, and when the measurement of a predetermined unit of samples is completed, and based on the measurement values of the measurement unit, the normality of the measurement unit is determined.
  • an automatic analyzer has been proposed that includes a control unit that determines an abnormality, and a display unit that displays measured values obtained by self-diagnosis by the measurement unit under the control of the control unit in chronological order.
  • Patent Document 1 it is possible to extend the life of the light source lamp and ensure measurement accuracy.
  • Patent Document 1 does not describe a method for diagnosing failures other than the light source lamp.
  • threshold judgments are made for each of the dispensing mechanism, stirring mechanism, washing mechanism, reaction cell, etc. in order to satisfy the analytical performance of the device, but failure diagnosis for each mechanism is independent, It is difficult to identify the failure point, and it may take time to restore.
  • Patent Document 2 even if the measurement unit is determined to be normal at the time of startup, if the measurement unit is determined to be abnormal at the start of measurement of a predetermined unit of samples and at the end of measurement of predetermined units of samples, the measurement unit can be quickly corrected. It is possible to grasp an abnormality and take a predetermined countermeasure, thereby eliminating anomalies in measured values caused by continued use of a measuring unit determined to be abnormal.
  • Patent Literature 2 does not describe a method for diagnosing anything other than an abnormality in the measurement unit including the photodetector.
  • An object of the present invention is to provide a chemical analysis device that facilitates estimation of failure locations in failure diagnosis.
  • the chemical analysis apparatus of the present invention is configured as described in the claims. It should be noted that in the scope of claims, the citation of other claims in the dependent-form claims is a single-claim citation in order to make the description of the dependent-form claims easier to understand. , includes a form of citing a plurality of claims (multiple claim) and a form of citing a plurality of multiple claim(s).
  • the chemical analysis apparatus of the present invention includes, for example, a plurality of reaction cells into which specimens and reagents are dispensed.
  • a chemical analyzer that measures absorbance with a photometric system that measures light that has passed through the chemical analyzer, and includes a diagnostic unit that performs failure diagnosis.
  • a population of photometric data for failure diagnosis is created for each predetermined reaction cell by accumulating time-series photometric system data, and the photometric data of the population of photometric data created for each predetermined reaction cell is set in advance. Failure diagnosis is performed by comparing with a threshold value.
  • the diagnosis unit acquires time-series data of various mechanisms that make up the chemical analysis apparatus, such as a dispensing mechanism and a stirring mechanism, and presets the photometric data of the population of the photometric data created for each predetermined reaction cell.
  • the failure position is estimated by collating with time-series data of various mechanisms.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of a flow chart for explaining the flow of failure diagnosis described in Embodiment 1;
  • FIG. 9 is a cross-sectional view of a flow chart for explaining the flow of failure diagnosis described in Embodiment 2;
  • FIG. 10 is a diagram illustrating measurement results described in Example 2;
  • the chemical analysis apparatus has a control section 30 , a mechanism section 50 and a diagnosis section 60 .
  • the control unit 30 has a control power source 31 , a CPU 32 , a memory 33 , a storage medium 34 , an I/O 35 and an AD converter 36 .
  • the mechanism unit 50 has a light source power source 41, a light source 42, a multi-wavelength photometer 43, a power meter 44, a sample dispensing mechanism 53, a reagent dispensing mechanism 54, a stirring mechanism 55, a washing mechanism 56, and a constant temperature bath 57. .
  • the diagnostic unit 60 has a control power supply 61 , a CPU 62 , a memory 63 , a storage medium 64 and an AD converter 66 .
  • the control section 30 drives each section of the mechanism section 50 via the I/O 35 .
  • a sample dispensing mechanism 53 dispenses a sample in a specimen container (sample container) 51 into a reaction cell (reaction container) 52 .
  • a reagent dispensing mechanism 54 injects a reagent into the reaction container 52 .
  • the stirring mechanism 55 stirs the liquid mixture in the reaction cell (reaction vessel) 52 to cause the sample and the reagent to react.
  • the cleaning mechanism 56 cleans the reaction cell (reaction container) 52 .
  • a constant temperature bath 57 keeps the reaction system at a constant temperature in order to stabilize the reaction.
  • the light from the light source 42 is applied to the mixture contained in the reaction cell (reaction vessel) 52 .
  • the multi-wavelength photometer 43 detects light of a predetermined wavelength out of the light that has passed through the mixture.
  • the AD converter 36 converts analog signals from the multi-wavelength photometer 43 into digital signals.
  • the control unit 30 calculates the absorbance by comparing the light intensity detected by the multi-wavelength photometer 43 with the light intensity of the previously measured reference concentration solution.
  • the controller 30 analyzes the sample based on the absorbance.
  • the light source 42 and multi-wavelength photometer 43 constitute a photometric system.
  • a power meter 44 measures the light source driving power, ie, the light source driving current or the light source driving voltage.
  • Methods for measuring the light source drive current include a method using a hall element with the light source power supply 41 as a DC power supply, and a method using a current transformer with the light source power supply 41 as an AC power supply.
  • the method using the Hall element has the advantage of being able to suppress power loss because the current is measured without contact.
  • As a method of measuring the light source driving voltage there is a method of using a shunt resistor to measure the potential difference occurring across the resistor.
  • the light source power source 41 supplies power to the light source 42 .
  • the light source power source 41 controls power supplied to the light source 42 based on the control signal from the control section 30 .
  • the storage medium 34 stores various programs for operating the chemical analyzer.
  • the memory 33 stores absorbance and light source drive power in real time.
  • a control power supply 31 is a power supply for the control unit 30 .
  • the CPU 32 reads programs stored in the storage medium 34 and controls the operation of the control section 30 .
  • the measured values of the dynamic characteristics of each mechanism of the mechanism section 50 are transmitted to the ADC 66 of the diagnosis section 60 .
  • the storage medium 64 stores threshold values and various programs for estimating the failure location of the chemical analysis device.
  • the memory 63 stores the dynamic characteristics of each mechanism of the mechanism section 50 and the measurement results of the photometric system in real time.
  • a control power supply 61 is a power supply for the diagnosis section 60 .
  • the CPU 62 reads the threshold values and programs stored in the storage medium 64 and controls the operation of the control section 30 .
  • the chemical analysis apparatus of the present embodiment includes (1) an absorbance calculation process for calculating the absorbance by comparing the light intensity detected by the multi-wavelength photometer 43 with the light intensity of a previously measured reference concentration solution, and (2) lamp life extension mode operation processing for operating the chemical analyzer in the lamp life extension mode; (3) life determination processing for determining that the light source lamp has reached the end of its life and issuing a warning to that effect; It determines that various mechanisms have failed, and performs failure determination processing for issuing a warning to that effect, (5) failure location estimation processing when various mechanisms have failed, and the like.
  • a program for performing these processes (1) to (4) is stored in the storage medium 34.
  • FIG. A program for performing the process (5) is stored in the storage medium 64 . The processing of (5) will be described in detail below.
  • the measurement values of the photometric system are repeatedly accumulated without changing the conditions to create a population, and the degree of variation is determined by a threshold value.
  • one photometric system performs temporally series measurements. Therefore, in most cases, it is diagnosed that a failure or anomaly has occurred at the time when the threshold value has changed as a result of threshold determination. After that, after confirming the failure by going back to the timing at which the failure occurred, in the estimation of the location of the failure, the location of the failure is empirically investigated and the presence or absence of the failure is confirmed.
  • the lifetime of each mechanism it is possible to predict failure of each mechanism, but it is necessary to refer to the output result of each mechanism, which takes time.
  • sample specimens and reagents for failure diagnosis are dispensed into a plurality of reaction cells to record photometric data.
  • a population of photometric system data is created for each reaction cell position, and failures are diagnosed.
  • a sample specimen for failure diagnosis for example, a glycerin aqueous solution is used. The concentration of the glycerin aqueous solution is changed to simulate the viscosity of the analysis target of the chemical analyzer. Physiological saline may be used instead of the aqueous glycerin solution.
  • a reagent for failure diagnosis for example, a dye solution such as amido black is used.
  • a specimen container (illustration omitted) for containing a sample specimen for failure diagnosis is provided as a specimen container (sample container).
  • FIG. 2 shows a diagram for explaining the measurement results of the photometry system of this embodiment.
  • data 201 to data 203 are obtained.
  • a difference or a coefficient of variation obtained by dividing the standard deviation of the measured absorbance values by the average value is used as an index and compared with a preset threshold to diagnose a failure.
  • Data 201 to data 203 indicate the measurement results of different reaction cells, and the data are recorded so that the measurement results of the reaction cell at which position can be identified. That is, a failure diagnosis population is created based on the measurement time information and the reaction cell position information.
  • the time axis of the horizontal axis is, for example, on the order of several seconds.
  • Photometric data measured in series over time to generate a population may be measured with the reaction cell empty, or filled with sample specimens and reagents for fault diagnosis as described above. good too. In the former case, costs can be suppressed by not using sample specimens and reagents for failure diagnosis. In the latter case, the population created by temporal series measurements and the population organized for each reaction cell can be created from common photometric data, so the time required to measure failure diagnosis data can be shortened. . Further, if photometry can be performed without substantially changing the conditions, failure diagnosis may be made using photometric data of the analysis target of the chemical analyzer instead of sample specimens and reagents for failure diagnosis. What is important is to create a population of photometric data for each reaction cell and perform fault diagnosis.
  • reaction cells (A, B, and C) to be used for failure diagnosis are selected, and sample specimens and reagents for failure diagnosis are dispensed into the selected reaction cells and photometry is performed. Record data.
  • the results indicated by data 401, data 402, and data 403 are plotted by collecting data measured at positions of reaction cell A, reaction cell B, and reaction cell C, respectively, on a predetermined time axis. It is what I did.
  • the average value is, for example, a moving average of the latest three measurement data.
  • the diameter of the circle in the plot corresponds to the threshold. Just before time t5, the difference from the average value up to that point exceeds the threshold.
  • the number of reaction cells to be selected is not limited to three. As the number of selected locations increases, the accuracy of estimating the failure location improves. That is, the positions and number of reaction cells used for failure diagnosis are set according to the total number of reaction cells. At that time, it is desirable to arrange the selected points evenly in the circumferential direction of the constant temperature bath 57 .
  • the population has spatial information (position information of the reaction cells), it is possible to estimate the failure location. For example, in the measurement results of FIG. 4, it can be estimated that a failure occurred at a location related to the reaction cell A. When reaction cell B and reaction cell C also generate failure determination results at the same time, it can be inferred that a failure has occurred by a mechanism common to reaction cells A to C. FIG. In this way, since the location of the failure can be estimated by combining spatial independence and temporal continuity, the time required for failure cause analysis and restoration can be shortened.
  • a new threshold may be determined based on the accumulated photometric data for the threshold used for failure diagnosis.
  • the photometric data is accumulated and the failure is judged (estimated) using the threshold values up to that point, there are cases where it is found that there is actually no failure several times. If so, set the threshold loosely. In the case of FIG. 4, the diameter of the circle in the plot is set large.
  • Photometric data and operation data of various mechanisms are transmitted from the mechanical section 50 to the AD converter 66 of the diagnostic section 60 and temporarily stored in the memory 63 .
  • a storage medium 64 stores a program for organizing photometric data in chronological order (temporally in series) and populations for each reaction cell, and threshold values for fault determination and the like for each population. Process the data to determine faults.
  • FIG. 5 is a flow chart for performing failure location estimation processing and the like when various mechanisms described in the first embodiment fail.
  • S201 failure diagnosis is started.
  • S202 sample specimens and reagents for failure diagnosis are dispensed into reaction cells.
  • S203 the sample reagent and the reagent are stirred by the stirring mechanism.
  • S204 absorbance is measured by a photometric system.
  • a failure is determined for the data forming a population in series in terms of time.
  • the value is outside the threshold, it is determined that a failure has occurred in one of the chemical analyzers.
  • S205 If it is determined that the value is outside the threshold value in S205, it can be determined that a failure has occurred in one of the chemical analysis devices. You can do it. In general, it is more likely that the measured data in each reaction cell will change than the data (measured data of the entire chemical analyzer) that forms a population in series over time. Considering this, S205 may be omitted.
  • the apparatus configuration is the same as that of the first embodiment.
  • the fault diagnosis program and the like stored in the storage medium of the diagnosis unit 60 are different.
  • FIG. 6 is a flow chart for performing failure location estimation processing and the like when various mechanisms described in the second embodiment fail.
  • S601 to S607 and S617 and S618 are the same as S201 to S207 and S217 and S218 of the first embodiment.
  • a control signal for dispensing is transmitted to the diagnostic unit 60 to acquire data.
  • the data to be acquired are, for example, the pressure value in the dispensing path, the current value during pressure control of the syringe pump, and the like.
  • the output of the ultrasonic waves during stirring is transmitted to the diagnostic unit 60 to acquire data in chronological order.
  • Acquired data includes the sound pressure value of the output ultrasonic wave, the current value when the ultrasonic element is driven, and the like.
  • FIG. 7 shows data 701 forming a population in chronological order, data 702 forming a population in a reaction cell (reaction cell A in FIG. 7), and acquisition data 703 of current values during stirring in reaction cell A. show.
  • the current value during stirring of the stirring mechanism may be used regardless of the reaction cell.
  • the data 702 and the data 703 are associated with each other in consideration of the time difference from the agitation mechanism to the absorbance measurement position.
  • Data 701 that forms a population in time series shows data whose average value changes at time t71.
  • the abnormality is detected earlier than the data 701 forming the population in chronological order, and it can be estimated that the abnormality has occurred in the stirring mechanism both in terms of the failure position and the estimation.
  • an abnormality occurs in the sample pipetting mechanism or the reagent pipetting mechanism, it is possible to similarly estimate the position of the abnormality.
  • this embodiment it is also possible to apply this embodiment to the cleaning mechanism for failure diagnosis. Further, as for the abnormality of the light source lamp, failure diagnosis may be performed by applying the method described in Patent Document 1.
  • data for failure diagnosis may be acquired several times in one day, and data acquisition and diagnosis may be performed. As the number of failure diagnosis times increases, the time resolution of abnormality detection improves.
  • the present invention it is possible to estimate the location of the failure (location requiring restoration) during failure diagnosis, and shorten the recovery time from the failure. Furthermore, it is possible to increase the detection probability of an abnormality at an early stage, reduce the possibility of misdiagnosis, and improve the analysis performance.
  • the present invention is not limited to the above-described examples, and includes various modifications.
  • the above embodiments have been described in detail for easy understanding of the present invention, and are not necessarily limited to those having all the described configurations.
  • it is possible to replace part of the configuration of one embodiment with the configuration of another embodiment and it is also possible to add the configuration of another embodiment to the configuration of one embodiment.
  • SYMBOLS 30 Control part, 31... Control power supply, 32... CPU, 33... Memory, 34... Storage medium, 35... I/O, 36... AD converter, 41... Light source power supply, 42... Light source, 43... Multi-wavelength Photometer 44 Power meter 50 Mechanism unit 51 Specimen container (sample container) 52 Reaction cell (reaction container) 53 Sample dispensing mechanism 54 Reagent dispensing mechanism 55 Stirring mechanism 56... Cleaning mechanism, 57... Constant temperature bath, 60... Diagnosis part, 61... Control power supply, 62... CPU, 63... Memory, 64... Storage medium, 66... AD converter.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

故障診断において故障位置の推定を容易にする化学分析装置を提供する。　検体と試薬が分注される反応セルを複数備え、反応セルに収容された検体と試薬の混合液に光を照射して混合液を通過した光を測光する測光系により吸光度測定を行う化学分析装置であって、故障診断を行う診断部を備え、診断部は、故障診断用のサンプル検体と故障診断用の試薬を用いて測定された時系列の測光系データを蓄積し、所定の反応セル毎に故障診断用の測光データの母集団を作成し、所定の反応セル毎に作成した測光データの母集団の測光データと予め設定した閾値と比較して故障診断する。

Description

化学分析装置
　本発明は、化学分析装置にかかり、特に故障診断機能を備えた化学分析装置に関する。
　化学分析装置は、サンプル及び試薬を反応容器に供給する自動サンプル及び試薬供給機構と、反応容器内のサンプル及び試薬を攪拌する自動攪拌機構と、反応中又は反応終了後にサンプルの物性を計測する比色測定部と、計測が終了したサンプルを吸引及び排出し、反応容器を洗浄する自動洗浄機構と、これらの動作を制御する制御部を有する。化学分析装置の処理能力は、１時間当たり数百テストから、大型の装置になると１時間当たり９０００テスト以上のものまである。
　比色測定部では、光源からの白色光を反応容器内の被測定溶液に照射し、透過した光を分光装置によって分光する。分光した光のうち特定の波長の光強度を測定し、それを予め測定した基準濃度の溶液の光強度と比較することにより、吸光度を算出する。吸光度より、被測定溶液中の化学成分を分析する。
　化学分析装置では、光源としてハロゲンランプが使用される。ハロゲンランプは、可視領域から近赤外領域までをカバーする連続スペクトル光源である。また、ハロゲンサイクルによりフィラメントの寿命が長いという優れた特性がある。
　光源ランプには定格寿命が設定されている。定格寿命は、多数のランプの寿命の平均値として定義されている。従って、定格寿命に達した時にすべてのランプが寿命となるわけではない。例えば、定格寿命に達する前に点灯不能となる場合もある。
　そこで、ランプには推奨交換期間が設定される。推奨交換期間は、定格寿命より短く設定される。即ち、定格寿命に対してマージンを見込んで推奨交換期間を設定する。このマージンが過大であると、ランプの交換頻度が高くなり、ランニングコストが大きくなる。
従って、ランニングコストを抑えるためには、定格寿命に対して少ないマージンを見込んで推奨交換期間を設定すればよい。しかしながら、この場合、寿命末期において仕様を満足する光量が確保されていても短時間で光量が変動する現象が起きることが知られている。光量の変動は測定精度の変動につながる。そのため、マージンを少なくしてランプの推奨交換期間を設定することには限界がある。
　特許文献１では、光源ランプの寿命を長くし、測定精度を確保することができる化学分析装置を提供することを目的として、ランプの寿命を延ばすために、光源駆動電力を定格値より低い値で、かつ、ブランク吸光度が所定の許容値内に収まるように設定する方法が提案されている。また、特許文献１では、光源に供給する光源駆動電力を監視し、光源ランプの寿命、光源ランプの故障を診断したり、吸光度を監視し、光源ランプの故障を診断したりすることが提案されている。
　特許文献２では、光検出器を備える測定部の異常を早期に把握できるようにすることを目的として、測定対象の検体を収容する検体容器を保持する検体容器保持部と、試薬を収容する試薬容器を保持する試薬容器保持部と、検体及び試薬が攪拌される反応容器を保持する反応容器保持部と、検体容器から検体を吸引し、反応容器に検体を分注する検体分注部と、試薬容器から試薬を吸引し、反応容器に試薬を分注する試薬分注部と、反応容器に分注された検体と試薬とを反応させた反応物を測定する測定部と、測定部に対して、自動分析装置の起動時、所定単位の検体の測定開始時、及び所定単位の検体の測定終了時に、測定部の自己診断を行わせ、測定部の測定値に基づいて、測定部の正常又は異常を判定する制御部と、制御部の制御により、測定部が自己診断して得た測定値が時系列で表示される表示部とを備える自動分析装置が提案されている。
特開２００８－０５８１５１号公報 特開２０１９－１５８７３８号公報
　特許文献１によれば、光源ランプの寿命を長くし、測定精度を確保することができる。
しかしながら、特許文献１には、光源ランプ以外の故障について診断する方法は記載されていない。光源ランプ以外にも、分注機構、撹拌機構、洗浄機構、反応セルなど装置の分析性能を満たすために各々閾値判断などされている場合があるが、各機構の故障診断は独立していて、故障個所の特定が難しく、復旧に時間がかかってしまうことがある。
　特許文献２によれば、起動時に測定部が正常と判定されても、所定単位の検体の測定開始時、及び所定単位の検体の測定終了時に測定部が異常と判定された場合に、速やかに異常を把握し、所定の対処を行うことが可能となり、異常と判定された測定部を使い続けることに伴う測定値の異常をなくすことができる。しかしながら、特許文献２では、光検出器を備える測定部の異常以外について診断する方法は記載されていない。
　本発明の目的は、故障診断において故障位置の推定を容易にする化学分析装置を提供することにある。
　上記課題を達成するために、本発明の化学分析装置は、特許請求の範囲に記載のように構成したものである。なお、特許請求の範囲において、引用形式の請求項における他の請求項の引用は、引用形式の請求項の記載を分かり易くするために単項引用としているが、本発明は、引用形式の請求項において、複数の請求項を引用する形態（多項引用項）、及び、複数の多項引用項を引用する形態を含む。　
　具体的には、本発明の化学分析装置は、例えば、検体と試薬が分注される反応セルを複数備え、反応セルに収容された検体と試薬の混合液に光を照射して混合液を通過した光を測光する測光系により吸光度測定を行う化学分析装置であって、故障診断を行う診断部を備え、診断部は、故障診断用のサンプル検体と故障診断用の試薬を用いて測定された時系列の測光系データを蓄積し、所定の反応セル毎に故障診断用の測光データの母集団を作成し、所定の反応セル毎に作成した測光データの母集団の測光データと予め設定した閾値と比較して故障診断するものである。　
　また、診断部は、分注機構や攪拌機構などの化学分析装置を構成する各種機構の時系列データを取得し、所定の反応セル毎に作成した測光データの母集団の測光データと予め設定した閾値と比較して故障判定した場合、各種機構の時系列データと照合して故障位置を推定する。
　本発明によれば、故障診断において故障位置の推定が容易となる。　
　上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
本発明が適用される化学分析装置の全体的な装置構成例を説明する説明図である。 実施例１に記載する測光系の測定結果を説明する図である。 実施例１に記載する装置構成の恒温槽を上面から見た説明図である。 実施例１に記載する測光系の測定結果を説明する図である。 実施例１に記載する故障診断の流れを説明するフローチャート断面図である。 実施例２に記載する故障診断の流れを説明するフローチャート断面図である。 実施例２に記載する測定結果を説明する図である。
　以下、図面を使用して、本発明の実施例を説明する。なお、実質的に同一又は類似の構成には、同一の符号を付し、説明が重複する場合には、その説明を省略する場合がある。
　まず、図１を参照して、本発明が適用される化学分析装置の全体的な装置構成例を説明する。　
　化学分析装置は、制御部３０と機構部５０と診断部６０を有する。制御部３０は、制御用電源３１、ＣＰＵ３２、メモリ３３、記憶媒体３４、Ｉ／Ｏ３５、及び、ＡＤ変換器３６を有する。機構部５０は、光源用電源４１、光源４２、多波長光度計４３、電力計４４、試料分注機構５３、試薬分注機構５４、攪拌機構５５、洗浄機構５６、及び、恒温槽５７を有する。診断部６０は、制御用電源６１、ＣＰＵ６２、メモリ６３、記憶媒体６４、及び、ＡＤ変換器６６を有する。　
　制御部３０は、Ｉ／Ｏ３５を介して、機構部５０の各部を駆動する。試料分注機構５３は、検体容器（試料容器）５１内の試料を反応セル（反応容器）５２に分注する。試薬分注機構５４は、反応容器５２に試薬を注入する。攪拌機構５５は、反応セル（反応容器）５２内の混合液を攪拌し、試料と試薬を反応させる。洗浄機構５６は、反応セル（反応容器）５２を洗浄する。恒温槽５７は、反応を安定させるために反応系を一定温度に保持する。　
　光源４２からの光は反応セル（反応容器）５２に収容された混合液に照射される。多波長光度計４３は、混合液を通過した光のうち所定の波長の光を検出する。ＡＤ変換器３６は、多波長光度計４３からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。制御部３０は、多波長光度計４３によって検出された光強度と予め測定した基準濃度の溶液の光強度と比較することにより、吸光度を算出する。制御部３０は、吸光度に基づいて試料を分析する。
光源４２、多波長光度計４３は測光系を構成する。　
　電力計４４は、光源駆動電力、即ち、光源駆動電流又は光源駆動電圧を測定する。光源駆動電流の測定方法には、光源用電源４１を直流電源としてホール素子を用いる方法、光源用電源４１を交流電源としてカレントトランスを用いる方法などがある。ホール素子を用いる方法は、非接触で電流を測定するため、電力のロスを抑えることができる利点がある。光源駆動電圧の測定方法には、シャント抵抗を用いて抵抗の両端に生じる電位差を測定する方法がある。　
　光源用電源４１は光源４２に電力を供給する。光源用電源４１は、制御部３０からの制御信号に基づいて、光源４２に供給する電力を制御する。記憶媒体３４は、化学分析装置を運転するための各種のプログラムを格納する。メモリ３３は、リアルタイムにて吸光度及び光源駆動電力を記憶する。制御用電源３１は制御部３０のための電源である。ＣＰＵ３２は、記憶媒体３４に格納されているプログラムを読み出し、制御部３０の動作を制御する。
　本実施例の化学分析装置の故障個所推定では、機構部５０の各機構の動特性の測定値を診断部６０のＡＤＣ６６に伝達する。記憶媒体６４は、化学分析装置の故障個所を推定する閾値および各種のプログラムを格納する。メモリ６３は、リアルタイムにて機構部５０の各機構の動特性および測光系の測定結果を記憶する。制御用電源６１は診断部６０のための電源である。ＣＰＵ６２は、記憶媒体６４に格納されている閾値およびプログラムを読み出し、制御部３０の動作を制御する。
　本実施例の化学分析装置は、（１）多波長光度計４３によって検出された光強度と予め測定した基準濃度の溶液の光強度と比較することにより吸光度を算出する吸光度算出処理、（２）化学分析装置をランプ寿命延命モードにて運転するランプ寿命延命モード運転処理、（３）光源ランプが寿命に達したと判定し、その旨の警告を発生する寿命判定処理、（４）光源ランプまたは各種機構が故障したと判定し、その旨の警告を発生する故障判定処理、（５）各種機構が故障した際の故障個所推定処理等を行う。これらの（１）～（４）の処理を行うプログラムは記憶媒体３４に格納されている。（５）の処理を行うプログラムは記憶媒体６４に格納されている。（５）の処理を以下に詳細に説明する。
　本実施例において化学分析装置を構成する各種機構が故障した際の故障個所推定処理等を行うことについて詳細に説明する。
　故障の有無を診断するために、一般的に、条件を変えずに測光系の測定値を繰り返し蓄積し母集団を作成して、ばらつき度合いを閾値判定することで診断する。繰り返しの測定では、１つの測光系で時間的にシリーズに測定を行うため、閾値判定した結果、変化のあった時間で故障または異常が発生したと診断することがほとんどである。その後、故障が発生したタイミングにさかのぼり故障を確認したのち、故障個所の推定では、経験的に故障位置を調査し、故障の有無を確認する。各機構の寿命を設定しておくことで各機構の故障予兆をすることもあるが、機構ごとの出力結果を参照する必要があり、時間を要する。
　本実施例では、上述の時間的にシリーズに測定した測光系データの母集団の他に、複数の反応セルに故障診断用のサンプル検体と試薬を分注して測光系データを収録し、それを反応セル位置ごとに測光系データの母集団を作成し、故障を診断する。故障診断用のサンプル検体としては、例えば、グリセリン水溶液が用いられる。グリセリン水溶液の濃度を変えて化学分析装置の分析対象の粘性を模擬する。グリセリン水溶液以外に生理食塩水を用いても良い。故障診断用の試薬としては、例えば、アミドブラックなどの色素溶液が用いられる。なお、検体容器（試料容器）として故障診断用のサンプル検体を収容する検体容器が設けられている（図示省略）。
　図２に本実施例の測光系の測定結果を説明する図を示す。時間的にシリーズに測定した測光データは横軸を時間、縦軸を吸光度としてプロットすると、データ２０１からデータ２０３のようになり、破線で示す平均値に対して、吸光度の測定値と平均値の差分量や、吸光度の測定値の標準偏差を平均値で割った変動係数などを指標として、あらかじめ設定した閾値と比較して故障を診断する。データ２０１からデータ２０３は異なる反応セルの測定結果を示し、どの位置の反応セルの測定結果か分かるようにデータが収録される。すなわち、測定時間情報および反応セル位置情報に基づき故障診断用の母集団を作成する。
なお、横軸の時間軸は例えば数秒オーダである。
　母集団を生成する時間的にシリーズで測定する測光データは、反応セルを空にしてデータを測定してもよいし、上述のように故障診断用のサンプル検体と試薬を分注して満たしてもよい。前者の場合、故障診断用のサンプル検体と試薬を不使用とすることでコストを抑制することができる。後者の場合、時間的にシリーズに測定して作成した母集団と反応セル毎に整理した母集団を共通の測光データで作成できるため、故障診断用のデータを測定する時間を短くすることができる。また、条件を実質的に変えずに測光できる場合には、故障診断用のサンプル検体と試薬ではなく化学分析装置の分析対象の測光データで故障診断することも考えられる。重要なことは、反応セル毎に測光データの母集団を作成して故障診断を行うことである。
　加えて、図３に示すように、例えば故障診断に使用する反応セルを３カ所（Ａ、Ｂ、Ｃ）選定し、選定した反応セルに故障診断用のサンプル検体と試薬を分注して測光データを収録する。その結果、図４に示すように、データ４０１、データ４０２、データ４０３で示す結果はそれぞれ反応セルＡ、反応セルＢ、反応セルＣの位置で測定したデータを所定の時間軸で収集してプロットしたものである。平均値は例えば直近の３個の測定データの移動平均である。故障が反応セルの場所に依存した場合、データ４０１で示すように、測定値の平均値の変化に気づきやすくなり、故障また異常診断の精度が上がる。なお、本実施例において、プロットにおける円の直径は閾値に対応している。時間ｔ５の直前においてそれまでの平均値からの差分が閾値を超えている。
　なお、反応セルの選定個所は３個に限らない。選定個所が多いほど故障位置の推定精度が向上する。すなわち、反応セルの総数に応じて故障診断に用いる反応セルの位置と数を設定する。その際、選定箇所は恒温槽５７の周方向に均等に配置するのが望ましい。
　さらに、母集団が空間情報（反応セルの位置情報）を有しているため、故障個所の推定が可能となる。例えば、図４の測定結果では、反応セルＡにかかわる個所で故障が発生したと推定できる。反応セルＢや反応セルＣでも同様に故障を判定する結果が同時に発生したときは、反応セルＡ～Ｃに共通する機構で故障が発生したと推測できる。このように、空間的な独立および時間的な連続性を総合して故障個所を推定できるため、故障の原因分析、復旧対応の時間が短縮できる。
　なお、故障診断に用いる閾値について、測光データの蓄積データに基づき新たな閾値を決定するようにしても良い。すなわち、故障ではないのに故障判断（推定）することを避けるため、測光データを蓄積しそれまでの閾値で故障判断（推定）した際に実際には故障がないことが判明した場合が複数回あれば、閾値を緩く設定する。図４の場合、プロットにおける円の直径を大きく設定する。
　故障診断の判定は、図１における診断部６０で行う。測光データおよび各種機構の動作データを機構部５０から診断部６０のＡＤ変換器６６に送信してメモリ６３に一時的に保存する。記憶媒体６４には、測光データを時系列（時間的にシリーズに）および反応セルごとに母集団として整理するプログラムおよび各母集団に対する故障判定等の閾値等が保存されており、ＣＰＵ６２でそれらのデータを処理して故障を判定する。
　次に、実施例１に記載する各種機構が故障した際の故障個所推定処理等を行うためのフローを説明する。　
　図５は、実施例１に記載する各種機構が故障した際の故障個所推定処理等を行うためのフローチャートである。　
　Ｓ２０１では、故障診断を開始する。　
　Ｓ２０２では、故障診断用のサンプル検体と試薬を反応セルへ分注する。　
　Ｓ２０３では、撹拌機構でサンプル試薬と試薬を撹拌する。　
　Ｓ２０４では、測光系で吸光度を測定する。
　Ｓ２０５では、時間的にシリーズに母集団を形成したデータに対して故障を判断する。
Ｓ２０５で閾値外の判定では、化学分析装置の何れかで故障が生じたものと判定する。
　Ｓ２０６では、Ｓ２０５において時系列で母集団を形成したデータが閾値内の場合、各反応セル位置で母集団を形成したデータで閾値判定を行う。
　Ｓ２０７では、Ｓ２０６で閾値内の判定では、反応セルを洗浄して、正常終了に進む。
Ｓ２０６で閾値外の判定では、故障個所を推定して、反応セルを洗浄し、正常終了に進む。なお、Ｓ２０５で閾値外の判定では、反応セルを洗浄し、正常終了に進む。
　以上より、故障診断の際に復旧が必要な個所を推定することが可能となり故障からの復旧時間を短くすることが可能となる。さらに、初期の異常の検出確率を上げることができ、誤診断の可能性を下げることを可能とし、ひいては分析性能の向上を図ることができる。
　Ｓ２０５で閾値外の判定の場合に、化学分析装置の何れかで故障が生じたものと判定することができるが、故障個所の推定は難しいので、Ｓ２０６に進むようにして、故障個所の推定ができるようにしても良い。なお、一般的に、時間的にシリーズに母集団を形成したデータ（化学分析装置全体の測定データ）に変化が現れるよりも、各反応セルにおける測定データに変化が現れる可能性が高い。このようなことを考慮すると、Ｓ２０５を省略しても良い。
　次に、実施例２に記載する各種機構が故障した際の故障個所推定処理等を行うためのフローを説明する。　
　装置構成は実施例１と同様である。診断部６０の記憶媒体に格納される故障診断のプログラム等が異なる。
　図６は、実施例２に記載する各種機構が故障した際の故障個所推定処理等を行うためのフローチャートである。　
　Ｓ６０１からＳ６０７、およびＳ６１７、Ｓ６１８までは、実施例１のＳ２０１から２０７、およびＳ２１７、Ｓ２１８と同様である。
　Ｓ６０２において、分注時の制御信号を診断部６０に伝送してデータを取得する。取得するデータは、例えば、分注経路における圧力値、シリンジポンプの圧力制御時の電流値などである。
　Ｓ６０３において、例えば、超音波を利用して攪拌する場合には、撹拌時の超音波の出力を診断部６０に伝送してデータを時系列に取得する。取得データは、出力超音波の音圧値、超音波素子の駆動時の電流値などである。
　Ｓ６１６では、化学分析装置を構成する各種機構（図６では試料分注機構、試薬分注機構、攪拌機構）の取得データと反応セル位置で母集団を形成したデータから故障判定した結果を照合して、閾値異常を示す故障個所を推定する。
　図７に時系列に母集団を形成したデータ７０１と、反応セル（図７においては反応セルＡ）で母集団を形成したデータ７０２と、反応セルＡの撹拌時の電流値の取得データ７０３を示す。なお、攪拌機構が一つの場合は、反応セルに関係なく攪拌機構の攪拌時の電流値としても良い。また、吸光度測定位置と攪拌位置が異なることに起因する時間のずれが生じるが、攪拌機構から吸光度測定位置までの時間差を考慮してデータ７０２とデータ７０３を対応付けるようにしている。
　時系列に母集団を形成したデータ７０１では、時間ｔ７１で平均値が変化するようなデータを示している。しかし、反応セルのデータ７０２と撹拌時の電流値の取得データ７０３を照合すると、時間ｔ７０で吸光度の上昇および電流値の低下を検出している。時系列に母集団を形成したデータ７０１で判断するよりも早期に異常を検出しており、故障位置も推定も撹拌機構に異常が発生したことが推定できる。試料分注機構、試薬分注機構で異常が発生した場合も同様に異常と位置を推定することができる。なお、本実施例には記載していないが、洗浄機構についても本実施例を適用して故障診断することができる。また、光源ランプの異常については特許文献１に記載の方法を適用することにより故障診断しても良い。
　実施例１及び実施例２で説明した故障診断は、１日のなかで数回故障診断用にデータを取得して、データ取得及び診断をしてもよい。故障診断回数が多いほど、異常検出の時間分解能は向上する。
　以上の本発明の実施例によれば、故障診断の際に故障位置（復旧が必要な個所）を推定することが可能となり、故障からの復旧時間を短くすることが可能となる。さらに、初期の異常の検出確率を上げることができ、誤診断の可能性を下げることができ、ひいては分析性能の向上を図ることができる。
　なお、本発明は、上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かり易く説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
　３０…制御部、３１…制御用電源、３２…ＣＰＵ、３３…メモリ、３４…記憶媒体、３５…Ｉ／Ｏ、３６…ＡＤ変換器、４１…光源用電源、４２…光源、４３…多波長光度計、４４…電力計、５０…機構部、５１…検体容器（試料容器）、５２…反応セル（反応容器）、５３…試料分注機構、５４ …試薬分注機構、５５…攪拌機構、５６…洗浄機構、５７…恒温槽、６０…診断部、６１…制御用電源、６２…ＣＰＵ、６３…メモリ、６４…記憶媒体、６６…ＡＤ変換器。

Claims (9)

  1. 　検体と試薬が分注される反応セルを複数備え、前記反応セルに収容された前記検体と前記試薬の混合液に光を照射して前記混合液を通過した光を測光する測光系により吸光度測定を行う化学分析装置であって、
    　故障診断を行う診断部を備え、前記診断部は、所定の反応セル毎に故障診断用の測光データの母集団を作成し、前記所定の反応セル毎に作成した測光データの母集団の測光データと予め設定した閾値と比較して故障診断することを特徴とする化学分析装置。
  2. 　請求項１に記載の化学分析装置において、
    　前記診断部は、故障診断用のサンプル検体と故障診断用の試薬を用いて測定された時系列の測光データを蓄積し、前記蓄積された測光データに基づき、前記所定の反応セル毎に故障診断用の測光データの母集団を作成することを特徴とする化学分析装置。
  3. 　請求項２に記載の化学分析装置において、
    　前記閾値と比較する測光データは、前記測光データの測定値と平均値の差分量であることを特徴とする化学分析装置。
  4. 　請求項２に記載の化学分析装置において、
    　前記閾値と比較する測光データは、前記測光データの測定値の標準偏差を平均値で割った変動係数であることを特徴とする化学分析装置。
  5. 　請求項２に記載の化学分析装置において、
    　前記診断部は、前記化学分析装置を構成する機構の時系列データを取得し、前記所定の反応セル毎に作成した測光データの母集団の測光データと前記予め設定した閾値と比較して故障判定した場合、前記機構の時系列データと照合して故障位置を推定することを特徴とする化学分析装置。
  6. 　請求項５に記載の化学分析装置において、
    　前記化学分析装置を構成する機構は、試料分注機構または試薬分注機構であり、前記化学分析装置を構成する機構の時系列データは前記試料分注機構または前記試薬分注機構を構成する分注経路における圧力値またはシリンジポンプの圧力制御時の電流値であることを特徴とする化学分析装置。
  7. 　請求項５に記載の化学分析装置において、
    　前記化学分析装置を構成する機構は、前記検体と前記試薬を攪拌する攪拌機構であり、前記化学分析装置を構成する機構の時系列データは前記攪拌機構を構成する超音波素子の出力超音波の音圧値または前記超音波素子の駆動時の電流値であることを特徴とする化学分析装置。
  8. 　請求項２に記載の化学分析装置において、
    　前記診断部は、前記測光データを蓄積し、蓄積データにより新たな閾値を決定することを特徴とする化学分析装置。
  9. 　請求項２に記載する化学分析装置において、
    　前記反応セルの総数に応じて故障診断に用いる反応セルの位置と数を設定することを特徴とする化学分析装置。
PCT/JP2022/026667 2021-08-03 2022-07-05 化学分析装置 Ceased WO2023013344A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202280051255.3A CN117677850A (zh) 2021-08-03 2022-07-05 化学分析装置
US18/293,669 US20240344973A1 (en) 2021-08-03 2022-07-05 Chemical Analysis Device
EP22852770.1A EP4382917A4 (en) 2021-08-03 2022-07-05 CHEMICAL ANALYSIS DEVICE

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021-127584 2021-08-03
JP2021127584A JP7643971B2 (ja) 2021-08-03 2021-08-03 化学分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2023013344A1 true WO2023013344A1 (ja) 2023-02-09

Family

ID=85155850

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2022/026667 Ceased WO2023013344A1 (ja) 2021-08-03 2022-07-05 化学分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20240344973A1 (ja)
EP (1) EP4382917A4 (ja)
JP (1) JP7643971B2 (ja)
CN (1) CN117677850A (ja)
WO (1) WO2023013344A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102616451B1 (ko) * 2023-04-03 2023-12-27 (주)백년기술 오류 감지 및 자가진단 기능을 갖는 뱃치형 화학분석장치 및 그 장치의 자가진단 방법

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6125064A (ja) * 1984-07-14 1986-02-03 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JPH11326334A (ja) * 1998-03-19 1999-11-26 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置
JP2000105239A (ja) * 1998-09-29 2000-04-11 Hitachi Ltd 生化学自動分析装置
JP2001091518A (ja) * 1999-09-20 2001-04-06 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2008058151A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Hitachi High-Technologies Corp 化学分析装置
WO2014021047A1 (ja) * 2012-07-30 2014-02-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ データ処理装置及びそれを用いた自動分析装置
WO2021256027A1 (ja) * 2020-06-18 2021-12-23 株式会社日立ハイテク 自動化学分析装置および電気インピーダンススペクトル測定器

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6257418B2 (ja) * 2014-04-01 2018-01-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6125064A (ja) * 1984-07-14 1986-02-03 Shimadzu Corp 自動化学分析装置
JPH11326334A (ja) * 1998-03-19 1999-11-26 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置
JP2000105239A (ja) * 1998-09-29 2000-04-11 Hitachi Ltd 生化学自動分析装置
JP2001091518A (ja) * 1999-09-20 2001-04-06 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2008058151A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Hitachi High-Technologies Corp 化学分析装置
WO2014021047A1 (ja) * 2012-07-30 2014-02-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ データ処理装置及びそれを用いた自動分析装置
WO2021256027A1 (ja) * 2020-06-18 2021-12-23 株式会社日立ハイテク 自動化学分析装置および電気インピーダンススペクトル測定器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP4382917A4 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP2023022610A (ja) 2023-02-15
JP7643971B2 (ja) 2025-03-11
EP4382917A4 (en) 2025-08-06
EP4382917A1 (en) 2024-06-12
US20240344973A1 (en) 2024-10-17
CN117677850A (zh) 2024-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4654256B2 (ja) 自動分析装置
CN101358986A (zh) 自动分析装置
JP2010151519A (ja) 自動分析装置
JP6945479B2 (ja) 分析物濃度を決定する方法
US9575083B2 (en) Automatic analysis apparatus
JP2004251802A (ja) 自動分析装置
WO2023013344A1 (ja) 化学分析装置
JP7681693B2 (ja) 診断システム、自動分析装置及び診断方法
JP2000105239A (ja) 生化学自動分析装置
CN104487848B (zh) 维护支持系统
CN110794108B (zh) 一种液体监测传感器状态的自动检测方法及装置
US20250155460A1 (en) Parts Anomaly Detection System, Automatic Analyzer and Parts Anomaly Detection Method
JP7820410B2 (ja) 自動分析装置及び光源ランプの寿命の判定方法
JP4825442B2 (ja) 臨床検査用自動分析装置の精度管理方法、及び自動分析装置
US20240125735A1 (en) Electrolyte measurement device and method for determining abnormality of electrolyte concentration measurement unit
JP4723439B2 (ja) 化学分析装置
US20260009810A1 (en) Real-time cuvette monitoring
US12243639B2 (en) Liquid handling in automated analyser systems
WO2024237046A1 (ja) 自動分析装置およびタイミング設定方法
JP2021117191A (ja) 自動分析装置及び反応異常判定方法
JP2007240181A (ja) 医用分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 22852770

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 202280051255.3

Country of ref document: CN

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 18293669

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2022852770

Country of ref document: EP

Effective date: 20240304