WO2023181543A1 - 材料選択支援装置、方法、及びプログラム - Google Patents

材料選択支援装置、方法、及びプログラム Download PDF

Info

Publication number
WO2023181543A1
WO2023181543A1 PCT/JP2022/046968 JP2022046968W WO2023181543A1 WO 2023181543 A1 WO2023181543 A1 WO 2023181543A1 JP 2022046968 W JP2022046968 W JP 2022046968W WO 2023181543 A1 WO2023181543 A1 WO 2023181543A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
physical property
unit
materials
display
selection support
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2022/046968
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
敬太 阿部
敦子 植田
充紀 中田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Resonac Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Resonac Corp filed Critical Resonac Corp
Priority to EP22933671.4A priority Critical patent/EP4492445A4/en
Priority to JP2024509763A priority patent/JPWO2023181543A1/ja
Priority to KR1020247035042A priority patent/KR20240168368A/ko
Priority to US18/850,031 priority patent/US20250217545A1/en
Priority to CN202280094132.8A priority patent/CN118922932A/zh
Publication of WO2023181543A1 publication Critical patent/WO2023181543A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/60—Investigating resistance of materials, e.g. refractory materials, to rapid heat changes
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/20—Design optimisation, verification or simulation
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/20—Design optimisation, verification or simulation
    • G06F30/23—Design optimisation, verification or simulation using finite element methods [FEM] or finite difference methods [FDM]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/02—Details
    • G01N3/06—Special adaptations of indicating or recording means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0095—Semiconductive materials
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/10—Geometric CAD
    • G06F30/17—Mechanical parametric or variational design
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/003—Generation of the force
    • G01N2203/0057—Generation of the force using stresses due to heating, e.g. conductive heating, radiative heating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
    • G01N2203/0202—Control of the test
    • G01N2203/0212—Theories, calculations
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2113/00—Details relating to the application field
    • G06F2113/18—Chip packaging
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W42/00—Arrangements for protection of devices
    • H10W42/121—Arrangements for protection of devices protecting against mechanical damage

Definitions

  • the present disclosure relates to a material selection support device, a material selection support method, and a material selection support program.
  • materials used in the manufacture of a product have been selected in consideration of the phenomena that occur in the product depending on the design of the product and the physical properties of the material used.
  • Patent Document 1 a method for selecting materials for a panel used in manufacturing a semiconductor package, in which a material that can manufacture a panel with a sufficiently small amount of warpage is proposed (see Patent Document 1).
  • the method described in Patent Document 1 relates to a method for selecting materials for a panel including a back coat layer, a large number of semiconductor elements, a sealing layer, and an insulating layer.
  • This method uses structural analysis software to construct a virtual model of a panel into which the characteristics of the materials constituting the back coating layer, sealing layer, and insulating layer are input.
  • this method calculates the amount of warpage of the virtual model, and understands the characteristics of the materials that affect the amount of warpage of the panel among the materials forming the back coating layer, the sealing layer, and the insulating layer through structural analysis. Then, based on the obtained information, at least one of the materials constituting the back coating layer, the sealing layer, and the insulating layer is newly selected so that the amount of warpage of the virtual model is reduced. .
  • the present disclosure has been made in view of the above points, and aims to provide a material selection support device, method, and program that can reduce interactions for material selection in product manufacturing.
  • a material selection support device includes a reception unit that receives a shape value regarding the shape of a product and a physical property value of a material used for the product, and a reception unit that receives the shape value and the physical property value of the material used for the product.
  • a simulation unit that simulates a phenomenon that occurs in the product based on the received shape value and physical property value; a calculation unit that calculates a difference between a physical property value of and a display control section for controlling the display.
  • the simulation unit may simulate the phenomenon using a function created in advance to input the shape value, the physical property value, and the simulation conditions and output a physical quantity representing the phenomenon. . This makes it possible to perform simulations easily and to rapidly obtain continuous simulation output values for continuously changing input values.
  • the display control unit may control the difference for each of the plurality of materials to be displayed in a graph. This makes it possible to intuitively and easily confirm differences in physical property values for each material.
  • the reception unit receives an instruction to display the difference for each of the plurality of materials, and the calculation unit calculates the shape value received by the reception unit when the display instruction is received. Then, a difference between the physical property value and the physical property value of each of the plurality of materials may be calculated. Thereby, the difference in physical property values can be calculated only when necessary.
  • the reception unit accepts conditions regarding one or more characteristics required of the product other than the phenomenon, and determines whether each of the plurality of materials conforms to the conditions accepted by the reception unit.
  • the display control unit controls the display device to display the filtering result by the filter unit in association with the display of the difference for each of the plurality of materials. You can also do this. Thereby, it is possible to more easily select a material by taking into account characteristics other than simulation results and differences in physical property values.
  • the display control unit includes a scoring unit that calculates an integrated score by integrating a predetermined score, and the display control unit displays the integrated score calculated by the scoring unit for each of the plurality of materials on the display device. It may also be controlled to do so. This makes it easier to select materials by comprehensively considering the required properties.
  • the reception unit selects an object to be reflected in the integrated score from among the simulation results, the difference, and the one or more characteristics, and selects an object to be reflected in the integrated score, and integrates the score of the selected object into the integrated score.
  • the scoring section may receive a specific gravity, and calculate the integrated score based on the object and the specific gravity accepted by the receiving section. This makes it easier to select a material based on a score that reflects which property is more important.
  • the display control unit may display a breakdown of scores for each characteristic that makes up the integrated score. This makes it possible to determine the selection of materials by also taking into account the details of the integrated score.
  • the phenomenon may be warpage of the product, stress of the product, or lifespan of solder in the product.
  • the reception unit receives shape values regarding the shape of a product and physical property values of a material used for the product
  • the simulation unit receives the shape values and the physical property values from the reception unit.
  • the calculation unit simulates a phenomenon that occurs in the product based on the accepted shape value and physical property value, and calculates a value for each of the plurality of materials for each of the plurality of materials registered in advance. and a physical property value accepted by the reception unit, and a display control unit displays the simulation result by the simulation unit and the difference calculated by the calculation unit on a display device. This is a method of controlling.
  • the material selection support device, method, and program according to the present disclosure it is possible to reduce interactions for material selection in product manufacturing.
  • FIG. 2 is a block diagram showing the hardware configuration of the material selection support device according to the first and second embodiments.
  • FIG. 2 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the material selection support device according to the first embodiment. It is a figure showing an example of a display screen in a 1st embodiment. It is a figure showing an example of material DB. It is a figure showing an example of a display screen in a 1st embodiment. It is a figure showing an example of a display screen in a 1st embodiment. It is a flowchart which shows the flow of material selection support processing concerning a 1st embodiment. It is a block diagram showing an example of functional composition of a material selection support device concerning a 2nd embodiment.
  • FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a material selection support system according to Modification 2.
  • FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a material selection support system according to Modification 2.
  • FIG. 1 is a block diagram showing the hardware configuration of a material selection support device 10 according to the first embodiment.
  • the material selection support device 10 includes a CPU (Central Processing Unit) 12, a memory 14, a storage device 16, an input device 18, an output device 20, a storage medium reading device 22, and a communication I/F (Interface). )24.
  • Each component is communicably connected to each other via a bus 26.
  • the storage device 16 stores a material selection support program for executing material selection support processing, which will be described later.
  • the CPU 12 is a central processing unit that executes various programs and controls each component. That is, the CPU 12 reads the program from the storage device 16 and executes the program using the memory 14 as a work area. The CPU 12 controls each of the above components and performs various arithmetic operations according to programs stored in the storage device 16.
  • the memory 14 is comprised of RAM (Random Access Memory) and temporarily stores programs and data as a work area.
  • the storage device 16 is composed of a ROM (Read Only Memory), an HDD (Hard Disk Drive), an SSD (Solid State Drive), etc., and stores various programs including an operating system and various data.
  • the input device 18 is a device for performing various inputs, such as a keyboard and a mouse.
  • the output device 20 is a device for outputting various information, such as a display or a printer.
  • a touch panel display may be employed as the output device 20 to function as the input device 18 .
  • the storage medium reading device 22 reads data stored in various storage media such as CD (Compact Disc)-ROM, DVD (Digital Versatile Disc)-ROM, Blu-ray disc, USB (Universal Serial Bus) memory, etc. Write data to.
  • the communication I/F 24 is an interface for communicating with other devices, and uses standards such as Ethernet (registered trademark), FDDI, or Wi-Fi (registered trademark).
  • the functional configuration of the material selection support device 10 according to the first embodiment will be explained.
  • the target product is a semiconductor package and warpage of a semiconductor package substrate is simulated as a phenomenon occurring in the product will be described as an example.
  • FIG. 2 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the material selection support device 10.
  • the material selection support device 10 includes a reception section 32, a simulation section 34, a calculation section 36, and a display control section 38 as functional configurations.
  • a material DB (database) 40 is stored in a predetermined storage area of the material selection support device 10.
  • Each functional configuration is realized by the CPU 12 reading out a material selection support program stored in the storage device 16, loading it into the memory 14, and executing it.
  • the receiving unit 32 receives shape values regarding the shape of the product and physical property values of materials used for the product.
  • the shape value related to the shape is a value indicating the geometric shape such as the dimensions and arrangement of each component of the semiconductor package.
  • Each component of the semiconductor package may be a core material, a buildup material, a chip, a capillary underfill, copper, and a solder resist.
  • the structure may also include stiffeners and through holes. Note that it is not necessary to include all of these configurations, and some may be omitted or added depending on the actual configuration.
  • the dimensions of each structure are length, width, and thickness, and the arrangement is the laminated positional relationship of each structure.
  • the physical property values of the material are the glass transition temperature, Young's modulus, and coefficient of thermal expansion (coefficient of linear expansion) for each structure of the semiconductor package.
  • some physical property values have multiple values depending on the conditions of the thermal stress field during measurement and simulation, such as temperature and strain rate. Therefore, each physical property value may include two or more values under arbitrary conditions.
  • physical property values that are not actually obtained or do not exist may be input.
  • the receiving unit 32 receives shape values and physical property values input on a display screen 50 as shown in FIG. 3, for example.
  • the display screen 50 is displayed on a display, which is an example of the output device 20, by a display control unit 38, which will be described later.
  • the display screen 50 includes a shape value input area 52, a physical property value input area 54, a display instruction button 56, a simulation result display area 58, and a physical property value difference display area 60.
  • the shape value input area 52 further includes a placement designation area 52A and a dimension input area 52B.
  • arrangement designation area 52A for example, an image diagram of each structure of the semiconductor package is displayed, and the arrangement of each structure can be changed by a drag operation or the like.
  • dimension input area 52B for example, by sliding a slide bar, it is possible to input the size (length x width dimensions) and thickness of each component. Note that the input of dimensions is not limited to input using a slide bar, but may also be performed using a text box for directly inputting a numerical value, a pull-down menu for selecting a desired size from options, or the like.
  • the physical property value input area 54 includes a text box, a slide bar, etc. for inputting physical property values of each configuration.
  • the core material is the target of material selection support.
  • the physical property value input area 54 includes a slide bar for inputting physical property values (Young's modulus and CTE in the example of FIG. 3) required for the core material.
  • the physical property value input area 54 includes a pull-down menu for selecting a build-up material, and a pull-down menu for selecting a build-up material for inputting physical property values of build-up (BU) among the configurations. Contains a text box for entering the coefficient of thermal expansion (CTE).
  • the reception unit 32 receives the shape value input in the shape value input area 52 and the physical property value input in the physical property value input area 54 via the display screen 50.
  • the receiving unit 32 also receives an instruction to display the difference (details will be described later) between the physical property values of each of the plurality of materials registered in advance and the input physical property values. Specifically, the accepting unit 32 accepts a display instruction when the display instruction button 56 is selected on the display screen 50.
  • the simulation unit 34 simulates the amount of warpage that occurs in the semiconductor package substrate based on the shape values and physical property values received by the reception unit 32.
  • the simulation unit 34 executes a warpage simulation each time the input of the shape value and physical property value is changed, that is, each time the receiving unit 32 receives a new shape value and physical property value.
  • the simulation unit 34 receives shape values, physical property values, and simulation conditions, and simulates warpage using a function created in advance to output the amount of warpage.
  • the simulation unit 34 sets initial temperature, final temperature, and temperature change profile over time as simulation conditions, and Perform stress analysis.
  • the simulation unit 34 simulates the amount of displacement of the end point of the substrate (core material) in the vertical (Z-axis) direction as the amount of warpage.
  • the distribution of the amount of displacement in the vertical (Z-axis) direction within the plane (X-Y plane) and each axis within the plane (X-axis and Y-axis) ) direction may be simulated using the amount of displacement as the output value.
  • the simulation unit 34 may simulate the amount of warpage at the final temperature, or may acquire a history of warpage during the temperature change.
  • a function is created in advance to quickly output the warpage corresponding to the intermediate value of the input shape value and physical property value.
  • This function creation method may be, for example, multiple regression analysis including up to quadratic terms of each input value (shape value and physical property value), or other function creation methods may be employed.
  • the calculation unit 36 calculates, for each of the plurality of materials registered in advance in the material DB 40, the difference between the physical property value of each of the plurality of materials and the physical property value accepted by the reception unit 32.
  • FIG. 4 shows an example of the material DB 40.
  • the material DB 40 stores, for each material, the "material name” and physical property values such as "Young's modulus” and "coefficient of thermal expansion” in association with each other. Note that the product model number and number of the material, a unique identification number, etc. may be used instead of or together with the material name.
  • the calculation unit 36 reads the physical property value of each material from the material DB 40, and calculates the difference from the physical property value accepted by the reception unit 32 for each type of physical property value.
  • the calculation unit 36 calculates the value input to the physical property value input area 54.
  • the difference between the physical property value and the physical property value may be calculated.
  • the display control unit 38 controls the display screen 50 to be displayed on the display. Further, the display control unit 38 displays the simulation results by the simulation unit 34 in the simulation result display area 58 of the display screen 50.
  • FIG. 5 shows an example of the display screen 50 on which simulation results are displayed in the simulation result display area 58.
  • the amount of warpage versus the size (length x width) of the core material is expressed in a graph for each of two types of temperatures. Further, the amount of warpage relative to the core material size input in the shape value input area 52 is displayed in a text box.
  • the simulation unit 34 executes a warpage simulation every time the shape value and physical property value are changed. Therefore, the display control unit 38 updates the display in the simulation result display area 58 every time the shape value and physical property value are changed.
  • the display control unit 38 displays the difference in physical property values calculated by the calculation unit 36 in the physical property value difference display area 60.
  • the display control unit 38 may display the differences in physical property values in a graph as shown in FIG. FIG. 6 is an example of a bar graph representing the difference in physical property values. Further, the display control unit 38 may display numbers indicating the difference in physical property values along with the graph.
  • the display control unit 38 calculates the physical property value each time the display instruction button 56 is selected.
  • the display in the value difference display area 60 is updated.
  • FIG. 7 is a flowchart showing the flow of material selection support processing executed by the CPU 12 of the material selection support device 10.
  • the CPU 12 reads the material selection support program from the storage device 16, expands it to the memory 14, and executes it, so that the CPU 12 functions as each functional configuration of the material selection support device 10, and the material selection support process shown in FIG. 7 is executed. be done.
  • the material selection support process is an example of the material selection support method of the present disclosure.
  • step S10 the display control unit 38 displays the display screen 50 on the display. Then, the reception unit 32 receives, via the display screen 50, the shape value input in the shape value input area 52 of the display screen 50 and the physical property value input in the physical property value input area 54.
  • step S12 the simulation unit 34 simulates the amount of warpage that occurs in the semiconductor package substrate based on the shape values and physical property values accepted in step S10. Then, the display control unit 38 displays the simulation results by the simulation unit 34 in the simulation result display area 58 of the display screen 50.
  • step S14 the reception unit 32 determines whether the display instruction button 56 has been selected on the display screen 50, thereby determining whether the display instruction has been accepted. If the display instruction has been accepted, the process moves to step S16, and if the display instruction has not been received, the process moves to step S18.
  • step S16 the calculation unit 36 calculates, for each of the plurality of materials registered in advance in the material DB 40, the difference between the physical property value of each of the plurality of materials and the physical property value accepted in step S10 or step S18 described below. Calculate. Then, the display control unit 38 displays the physical property value difference calculated by the calculation unit 36 in the physical property value difference display area 60 of the display screen 50.
  • step S18 the reception unit 32 determines whether at least one of the shape value and the physical property value has been changed in the shape value input area 52 and the physical property value input area 54 of the display screen 50. If the values have been changed, the reception unit 32 accepts the changed shape values and physical property values, and the process returns to step S12. If the values have not been changed, the process moves to step S20.
  • step S20 the display control unit 38 determines whether to end the display on the display screen 50 by determining whether or not a command to end the display has been received. If the display is not to be ended, the process returns to step S14, and if the display is to be ended, the material selection support process is ended.
  • the material selection support device accepts shape values regarding the shape of a product and physical property values of materials used for the product, and each time a shape value and a physical property value are accepted, Based on the shape values and physical property values, we simulate phenomena that occur in products, such as board warpage, and compare the physical property values of each of the plurality of materials with the accepted physical property values for each of the plurality of pre-registered materials. The difference is calculated, and the simulation result and the difference in physical property values are controlled to be displayed on the display device. This makes it possible to reduce the number of interactions needed to select materials for product manufacturing.
  • a personal computer, tablet terminal, smartphone, etc. that functions as a material selection support device is used.
  • a person in charge at the material provider side hears the shape values of the target product from the customer and inputs them into the material selection support device.
  • the customer may directly input the shape values.
  • the physical property values may be input by the person in charge or the customer, or initial values set in advance may be used at the start.
  • the warpage simulation results are displayed. The person in charge or the customer can adjust the physical property values while viewing the simulation results. Further, the shape values can also be adjusted if the design can be changed.
  • the difference in the physical property value is displayed by selecting the display instruction button. Thereby, it is possible to easily select a material having physical property values similar to those at which the amount of warpage is within a desired range. Further, even after confirming the difference in physical property values, the shape values and physical property values can be adjusted.
  • the physical property values that will cause the amount of warpage to fall within the desired range are specified, and the physical property values and the , displays the difference from the physical property values of the material registered in advance. Therefore, by communicating between the person in charge of the material provider and the customer via the display screen of the material selection support device, the process of listening to design information, taking it home, running a simulation, and reporting can be omitted. Furthermore, since the shape values and physical property values can be easily adjusted on the display screen, it is possible to avoid repeating the above process if the customer does not approve the simulation results.
  • the customer only needs to provide the shape values that are required to be input into the material selection support device, so even if they do not want to provide detailed design information, they can reduce the tendency for warping by simply disclosing the configuration to a certain extent. can be grasped.
  • new customer requests can be discovered from the interaction between the person in charge and the customer via the material selection support device, the adjustment of shape values and physical property values, etc.
  • FIG. 8 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the material selection support device 210 according to the second embodiment.
  • the material selection support device 210 includes a reception section 232, a simulation section 34, a calculation section 36, a filter section 246, a scoring section 247, and a display control section 238 as functional configurations. include. Further, a material DB 40 and a score table 248 are stored in a predetermined storage area of the material selection support device 210. Each functional configuration is realized by the CPU 12 reading out a material selection support program stored in the storage device 16, loading it into the memory 14, and executing it.
  • FIG. 9 shows an example of the display screen 250 displayed by the display control unit 238 according to the second embodiment.
  • the display screen 250 in the second embodiment includes a filter button 262 that is selected when performing filtering, and a score button 264 that is selected when displaying scores. It will be done.
  • the reception unit 232 selects one or more characteristics (hereinafter referred to as "required characteristics") required for the semiconductor package, such as substrate warpage and differences in physical property values. Accepts conditions for other required characteristics. Specifically, the reception unit 232 displays a filter specification screen for specifying filtering conditions for each of the plurality of required characteristics defined in the score table 248.
  • FIG. 10 shows an example of the score table 248.
  • the score table 248 defines scores for each required characteristic such as CO2 reduction, halogen-free, and flame retardancy for each material (in the example of FIG. 10, materials 1 to 5).
  • the score for each required characteristic is predetermined according to the rules shown in the remarks column of FIG. In the example of FIG. 10, the score is a number in multiple stages, and the larger the number, the higher the score.
  • the score table 248 includes "low warpage” and "difference in physical property values” as required characteristics.
  • the scores for “low warpage” and “difference in physical property values” change depending on the shape value and physical property value accepted by the receiving unit 232.
  • the "low warpage” score is calculated by the simulation unit 34 using the shape value accepted by the reception unit 232 and the physical property value of each material registered in the material DB 40 for each material. The smaller the amount of warpage, the higher the value.
  • the “difference in physical property values” score is the difference in physical property values calculated by the calculation unit 36, that is, the difference between the shape value accepted by the reception unit 232 and the physical property value of each material registered in the material DB 40. The smaller the value, the higher the value.
  • the filter specification screen 266 lists the required characteristics other than "low warpage” and "difference in physical property values" among the required characteristics included in the score table 248, and provides a "check” column and a "condition” column for each required characteristic. It is a correspondence.
  • checkboxes for selecting request characteristics that specify filtering conditions are displayed.
  • the "condition” column is a column for inputting conditions for the required characteristics checked in the "check” column.
  • the "condition” field may be, for example, an input field in which conditions that can be specified in the corresponding request characteristic can be selected from a pull-down menu or the like.
  • the reception unit 232 receives, via the filter specification screen 266, a selection of a request characteristic that specifies a filtering condition, and a filtering condition for the selected request characteristic.
  • the receiving unit 232 receives a selection of required characteristics to be reflected in the integrated score calculated by the scoring unit 247, which will be described later, from among the required characteristics. In addition, the receiving unit 232 receives weights when integrating the scores for the selected required characteristics into an integrated score.
  • the reception unit 232 displays a score designation screen for accepting the selection of the target required characteristic and the score weight for each of the plurality of required characteristics defined in the score table 248.
  • An example of the score designation screen 270 is shown in the upper part of FIG. 12 .
  • the score specification screen 270 lists the required characteristics included in the score table 248, and associates each required characteristic with a "check” column and a "score weight” column. In the “check” column, checkboxes are displayed for selecting required characteristics whose scores are to be reflected in the integrated score.
  • the "score weight” column is a column for inputting the weight when the scores for the required characteristics checked in the "check” column are reflected in the integrated score.
  • the receiving unit 232 receives the selection of the desired characteristic of the target and the score weight via the score specification screen 270.
  • the filter unit 246 filters each of the plurality of materials registered in the material DB 40 based on whether or not it conforms to the conditions accepted by the reception unit 232. Specifically, the filter unit 246 converts the specified condition into a score for the specified required characteristic using a predetermined conversion formula, and compares it with the score of each material specified in the score table 248. Determine whether the condition is met.
  • the filter unit 246 determines that materials given a score equal to or higher than the score corresponding to Grade2 (for example, 2) are suitable. It is determined that
  • the conditions specified for each required characteristic may be options that are easy for the user to understand, such as "Yes or No", “Grade 1, Grade 2, . . .”.
  • the correspondence between the scores defined in the score table 248 and the condition options may be determined as the above-mentioned conversion formula. Note that the correspondence between scores and condition options is not limited to the case where it is determined by a conversion formula, but may be determined by a table or the like that shows the correspondence.
  • the scoring unit 247 calculates an integrated score by integrating the scores for the required characteristics received by the receiving unit 232 for each of the plurality of materials. For example, the scoring unit 247 calculates, for each material, a weighted sum of the scores of each required characteristic based on the specified score weight as an integrated score.
  • the display control unit 238 performs display control on the display screen 250 similarly to the display control unit 38 according to the first embodiment.
  • the display control unit 238 displays the filtering results by the filter unit 246 in association with the display of the difference in physical property values for each of the plurality of materials. For example, as shown in the lower diagram of FIG. 11, the display control unit 238 selects a material that is determined not to meet the conditions from among the graphs showing differences in physical property values for each material displayed in the physical property value difference display area 60.
  • a mask 268 is superimposed and displayed on the graph for .
  • the mask 268 may display characters, marks, etc. indicating that the condition is not met.
  • the display control unit 238 is not limited to displaying the mask 268; it may also display characters, marks, etc. indicating that the material does not meet the conditions on the graph of the corresponding material;
  • the graph may be deleted from the physical property value difference display area 60.
  • the display control unit 238 updates the display in the physical property value difference display area 60 each time the reception unit 232 receives filtering conditions via the filter specification screen 266.
  • the left diagram shows a state in which no filtering conditions are specified
  • the center diagram and right diagram show states in which filtering conditions are specified.
  • the image in the center shows a condition specified for one required property (“halogen-free”)
  • the image on the right shows a condition not met for another required property (“flame retardant”).
  • the number of materials increases from left to right.
  • the display control unit 238 controls to display the integrated score calculated by the scoring unit 247 for each of the plurality of materials.
  • the display control unit 238 displays a score screen 272 as shown in the lower diagram of FIG.
  • the score screen 272 may be superimposed on the display screen 250 and displayed in a separate window, or it may be displayed on the display screen 250 instead of the physical property value difference display area 60, or the arrangement of the display screen 250 may be changed. It may be changed and displayed together with the physical property value difference display area 60.
  • the integrated score of each material is represented by a bar graph
  • the breakdown of the score for each required characteristic that makes up the integrated score is represented by color-coding of the bar graph (shading) and numbers within the graph. ing.
  • the color coding of the bar graph showing the breakdown of scores may be made to correspond to the color coding of the "check" column of the score designation screen 270.
  • the display control unit 238 updates the display of the score screen 272 each time the reception unit 232 receives a score calculation designation via the score designation screen 270.
  • “low warpage” and “CO2 reduction” are both selected with a score weight of 1
  • “drillability” is further selected with a score weight of 1. has been done.
  • the score weight of "CO2 reduction amount” has been changed to 2.
  • FIG. 15 is a flowchart showing the flow of material selection support processing executed by the CPU 12 of the material selection support device 210.
  • the CPU 12 reads the material selection support program from the storage device 16, expands it to the memory 14, and executes it, the CPU 12 functions as each functional configuration of the material selection support device 210, and the material selection support process shown in FIG. 15 is executed. be done.
  • the same step numbers are given to the same processes as the material selection support process according to the first embodiment, and detailed explanations are omitted.
  • the reception unit 232 determines whether the filter button 262 on the display screen 250 has been selected. If the filter button 262 is selected, the process moves to step S212, and if it is not selected, the process moves to step S214.
  • step S212 the reception unit 232 displays the filter specification screen 266 and accepts the specification of filter conditions.
  • the filter unit 246 converts the specified condition into a score for the specified required characteristic using a predetermined conversion formula, and compares the score with the score of each material specified in the score table 248 to determine whether the specified condition is met. Determine whether or not to do so.
  • the display control unit 238 superimposes a mask 268 on the graph for the material determined not to meet the conditions among the graphs showing the difference in physical property values for each material displayed in the physical property value difference display area 60. Display the filtering results.
  • step S212 the reception unit 232 determines whether the score button 264 on the display screen 250 has been selected. If the score button 264 is selected, the process moves to step S216, and if it is not selected, the process moves to step S18.
  • step S216 the reception unit 232 displays the score specification screen 270 and accepts the selection of required characteristics to be reflected in the integrated score and the score weight. Then, the scoring unit 247 calculates, for each material, a weighted sum of the scores of each required characteristic based on the specified score weight as an integrated score. Then, the display control unit 238 displays a score screen 272 that shows the integrated score of each material in a bar graph. Thereafter, steps S18 and S20 are executed similarly to the first embodiment.
  • the material selection support device specifies conditions for required properties other than substrate warpage in displaying the difference between each material and the specified physical property value. Execute filtering processing. In this way, in addition to warpage simulation results and differences in physical property values, it is possible to take into account whether or not other required property conditions are met, making it easier to select a material.
  • the material selection support device displays, for each material, the score for the specified required characteristic among the required characteristics including the warpage simulation result and the difference in physical property values. This makes it easier to select materials by comprehensively considering the required properties.
  • the simulation unit simulates the strain that occurs in the solder due to a temperature cycle test, which is a method of evaluating the joint reliability of the solder, by thermal stress analysis.
  • a temperature cycle test which is a method of evaluating the joint reliability of the solder, by thermal stress analysis.
  • the initial temperature, temperature amplitude (maximum and minimum temperature values), maximum and minimum temperature holding times, temperature decreasing rate and temperature increasing rate, and the total number of cycles to be applied are given.
  • the simulation section simulates the amount of increase in plastic strain per temperature cycle and the amount of plastic strain that increases per temperature cycle, and calculates the solder life using a model formula based on the Coffin-Manson law using arbitrary material constants. calculate. Similar to the above embodiment, a function created in advance may be used in the simulation.
  • stress in a semiconductor package substrate may be simulated as a phenomenon occurring in a product.
  • input of shape values and physical property values is accepted, stress is simulated using, for example, a function created in advance, and the simulation results are displayed, and differences in physical property values are calculated and displayed. That's fine.
  • a material selection support system includes a material selection support server 110A and a person in charge terminal 110B. 100 will be explained.
  • the material selection support server 110A and the person in charge terminal 110B are connected via a network.
  • the number of material selection support servers 110A and staff terminals 110B included in the material selection support system 100 is not limited to the example shown in FIG. 16.
  • points that are common to the first embodiment will be expressed using the same reference numerals, and points that are different from the first embodiment will be mainly explained, and common functions will be described in detail. The explanation will be omitted.
  • the material selection support server 110A includes a simulation section 34A, a calculation section 36A, and a registration section 42. Further, a material DB 40 and a report DB 44 are stored in a predetermined storage area of the material selection support server 110A.
  • the simulation unit 34A receives shape values and physical property values input via the display screen 50 from the person in charge terminal 110B.
  • the simulation unit 34A passes the received physical property values to the calculation unit 36A.
  • the simulation unit 34A also transmits the simulation results to the person in charge terminal 110B.
  • the calculation unit 36A transmits the calculation result of the difference between the physical property value of each material stored in the material DB 40 and the input physical property value to the person in charge terminal 110B.
  • the registration unit 42 receives a report (details will be described later) from the person in charge terminal 110B, and registers the received report in the report DB 44.
  • the person in charge terminal 110B is an information processing terminal such as a personal computer, tablet terminal, or smartphone held by the person in charge. Functionally, the person in charge terminal 110B includes a reception section 32B and a display control section 38B.
  • the reception unit 32B transmits the shape value and physical property value input via the display screen 50 to the material selection support server 110A.
  • the receiving unit 32B also receives a customer ID, which is customer identification information, and creates a report linked to the customer ID when the display on the display screen 50 ends.
  • the reception unit 32B may include in the report the final shape values and physical property values, simulation results, and differences in physical property values for each material. Further, when any material is selected from a plurality of materials, the reception unit 32B may receive information on the selected material and include it in the report. Further, the receiving unit 32B may receive various information such as customer requests and include the received information in the report.
  • the reception unit 32B transmits the created report to the material selection support server 110A.
  • a plurality of staff members can use the service provided by the material selection support system 100 via their respective staff terminals 110B, and the processing at each staff terminal 110B can be reduced.
  • the reports stored in the report DB 44 of the material selection support server 110A can be shared among the respective persons in charge and used effectively.
  • the material selection support device 10 according to the first embodiment is changed to the material selection support system 100 including the material selection support server 110A and the person in charge terminal 110B was described.
  • the material selection support server side is provided with a filter section 246A, a scoring section 247A, and a score table 248, and the reception section 32B and display control section 38B of the person in charge terminal 110B are provided with the reception section 232B and display control section 248.
  • the portion 238B may be used.
  • the material selection support processing that the CPU reads and executes the software (program) in each of the above embodiments may be executed by various processors other than the CPU.
  • the processor is dedicated to execute specific processing such as FPGA (Field-Programmable Gate Array), PLD (Programmable Logic Device) whose circuit configuration can be changed after manufacturing, ASIC (Application Specific Integrated Circuit), etc.
  • An example is a dedicated electric circuit that is a processor having a circuit configuration designed to.
  • the material selection support process may be executed by one of these various processors, or by a combination of two or more processors of the same type or different types (for example, multiple FPGAs, and a combination of a CPU and an FPGA). combinations).
  • the hardware structure of these various processors is, more specifically, an electric circuit that is a combination of circuit elements such as semiconductor elements.
  • the material selection support program is stored (installed) in the storage device in advance, but the present invention is not limited to this.
  • the program may be provided in a form stored in a storage medium such as a CD-ROM, DVD-ROM, or USB memory. Further, the program may be downloaded from an external device via a network.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

受付部（３２）が、半導体パッケージの各構成の形状に関する形状値、及び使用する材料の物性値を受け付け、シミュレーション部３４が、形状値及び物性値が受け付けられる都度、受け付けられた形状値及び物性値に基づいて、基板の反りをシミュレーションし、算出部（３６）が、予め材料ＤＢ（４０）に登録された複数の材料の各々について、複数の材料の各々の物性値と、受け付けられた物性値との差を算出し、表示制御部（３８）が、シミュレーション結果と、物性値の差の算出結果とを表示装置に表示する。

Description

材料選択支援装置、方法、及びプログラム
　本開示は、材料選択支援装置、材料選択支援方法、及び材料選択支援プログラムに関する。
　従来、製品の設計及び使用される材料の物性に応じてその製品に生じる現象を考慮して、製品の製造に使用する材料を選択することが行われている。
　例えば、半導体パッケージの製造に用いられるパネルの材料の選定方法であって、反り量が十分に小さいパネルを製造できる材料を選定する方法が提案されている（特許文献１参照）。特許文献１に記載の方法は、裏面コート層と、多数の半導体素子と、封止層と、絶縁層とを備えるパネルの材料の選定方法に関する。この方法は、裏面コート層、封止層及び絶縁層を構成する材料の特性が入力されたパネルの仮想モデルを、構造解析ソフトウェアを使用して構築する。また、この方法は、仮想モデルの反り量を算出し、裏面コート層、封止層及び絶縁層を構成する材料のうち、パネルの反り量に影響を及ぼす材料の特性を構造解析によって把握する。そして、この方法は、把握された情報に基づき、仮想モデルの反り量が低減されるように、裏面コート層、封止層及び絶縁層を構成する材料のうち、少なくとも一つを新たに選定する。
特開２０２０－３８９２４号公報
　一般的な製品製造のための材料選択のプロセスとして、以下のプロセスが想定される。まず、製品製造側である顧客から、材料提供側の担当者に製品の設計情報が伝えられる。そして、材料提供側において、その製品に材料提供側が選択した材料を適用した場合の製品の現象（例えば、半導体パッケージにおける基板の反り）をシミュレーションし、シミュレーション結果を顧客へ報告する。ここで顧客からの了承が得られない場合、設計情報、材料等の変更がなされる。材料提供側は、この変更された設計情報及び材料に基づいて、再度シミュレーションを実行し、顧客へ報告することになる。顧客側からは、製品の設計段階で詳細な設計情報を提供したくない等の事情もあり、上記のプロセスが繰り返し行われ、選択した材料について顧客からの了承が得られるまでのやり取りに時間がかかる場合があるという問題がある。
　本開示は、上記の点に鑑みてなされたものであり、製品製造の材料選択のためのやり取りを削減することができる材料選択支援装置、方法、及びプログラムを提供することを目的とする。
　上記目的を達成するために、本開示に係る材料選択支援装置は、製品の形状に関する形状値、及び前記製品に使用する材料の物性値を受け付ける受付部と、前記受付部により前記形状値及び前記物性値が受け付けられる都度、受け付けられた前記形状値及び前記物性値に基づいて、前記製品に生じる現象をシミュレーションするシミュレーション部と、予め登録された複数の材料の各々について、前記複数の材料の各々の物性値と、前記受付部により受け付けられた物性値との差を算出する算出部と、前記シミュレーション部によるシミュレーション結果と、前記算出部により算出された前記差とを表示装置に表示するように制御する表示制御部と、を含んで構成される。これにより、製品製造の材料選択のためのやり取りを削減することができる。
　また、前記シミュレーション部は、前記形状値、前記物性値、及びシミュレーション条件を入力とし、前記現象を表す物理量を出力するように予め作成した関数を用いて、前記現象をシミュレーションするようにしてもよい。これにより、簡易にシミュレーションを行うことができると共に、連続的に変化させた入力値に対する連続的なシミュレーションの出力値を高速に得ることができる。
　また、前記表示制御部は、前記形状値及び前記物性値が入力される入力領域と、前記シミュレーション結果の表示領域と、前記複数の材料の各々についての前記差の表示領域とを１画面に表示するように制御してもよい。これにより、シミュレーション結果及び物性値の差の算出結果を確認しながら、入力値及び物性値の調整を容易に行うことができる。
　また、前記表示制御部は、前記複数の材料の各々についての前記差をグラフ化して表示するように制御してもよい。これにより、材料毎の物性値の差を直観的にかつ容易に確認することができる。
　また、前記受付部は、前記複数の材料の各々についての前記差の表示の指示を受け付け、前記算出部は、前記表示の指示が受け付けられた際に前記受付部により受け付けられている前記形状値及び前記物性値と、前記複数の材料の各々の物性値との差を算出するようにしてよい。これにより、必要な場合にのみ、物性値の差の算出することができる。
　また、前記受付部は、前記現象以外の前記製品に要求される１以上の特性についての条件を受け付け、前記複数の材料の各々を、前記受付部により受け付けられた条件に適合するか否かに基づいてフィルタリングするフィルタ部を含み、前記表示制御部は、前記フィルタ部によるフィルタリング結果を、前記複数の材料の各々についての前記差の表示と対応付けて前記表示装置に表示するように制御するようにしてもよい。これにより、シミュレーション結果及び物性値の差以外の他の特性も考慮して、材料の選択をより容易にすることができる。
　また、前記表示制御部は、前記複数の材料の各々の前記差を示すグラフのうち、前記フィルタ部により前記条件に適合しないと判定された材料についてのグラフに、前記条件に適合しないことを示すマスクを重畳して表示してもよい。これにより、条件に適合する材料により着目し易くなる。
　また、前記複数の材料の各々について、前記シミュレーション部によるシミュレーション結果に応じたスコアと、前記差に応じたスコアと、前記現象及び前記差以外の前記製品に要求される１以上の特性の各々について予め定められたスコアとを統合した統合スコアを算出するスコアリング部を含み、前記表示制御部は、前記複数の材料の各々について、前記スコアリング部により算出された統合スコアを前記表示装置に表示するように制御するようにしてもよい。これにより、要求する特性を総合的に考慮して、材料の選択をより容易にすることができる。
　また、前記受付部は、前記シミュレーション結果、前記差、及び前記１以上の特性のうち、前記統合スコアに反映する対象の選択、及び、選択した対象についてのスコアを前記統合スコアに統合する際の比重を受け付け、前記スコアリング部は、前記受付部により受け付けられた前記対象及び前記比重に基づいて、前記統合スコアを算出するようにしてもよい。これにより、どの特性をより重視するかを反映させたスコアに基づいて、材料の選択をより容易にすることができる。
　また、前記表示制御部は、前記統合スコアを構成する各特性についてのスコアの内訳を表示するようにしてもよい。これにより、統合スコアの内訳も考慮して、材料の選択を判断することができる。
　また、前記製品が半導体パッケージの場合、前記現象は、前記製品の反り、前記製品の応力、又は前記製品におけるはんだの寿命としてよい。
　また、本開示に係る材料選択支援方法は、受付部が、製品の形状に関する形状値、及び前記製品に使用する材料の物性値を受け付け、シミュレーション部が、前記受付部により前記形状値及び前記物性値が受け付けられる都度、受け付けられた前記形状値及び前記物性値に基づいて、前記製品に生じる現象をシミュレーションし、算出部が、予め登録された複数の材料の各々について、前記複数の材料の各々の物性値と、前記受付部により受け付けられた物性値との差を算出し、表示制御部が、前記シミュレーション部によるシミュレーション結果と、前記算出部により算出された前記差とを表示装置に表示するように制御する方法である。
　また、本開示に係る材料選択支援プログラムは、コンピュータを、製品の形状に関する形状値、及び前記製品に使用する材料の物性値を受け付ける受付部、前記受付部により前記形状値及び前記物性値が受け付けられる都度、受け付けられた前記形状値及び前記物性値に基づいて、前記製品に生じる現象をシミュレーションするシミュレーション部、予め登録された複数の材料の各々について、前記複数の材料の各々の物性値と、前記受付部により受け付けられた物性値との差を算出する算出部、並びに、前記シミュレーション部によるシミュレーション結果と、前記算出部により算出された前記差とを表示装置に表示するように制御する表示制御部として機能させるためのプログラムである。
　本開示に係る材料選択支援装置、方法、及びプログラムによれば、製品製造の材料選択のためのやり取りを削減することができる。
第１及び第２実施形態に係る材料選択支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。 第１実施形態に係る材料選択支援装置の機能構成の例を示すブロック図である。 第１実施形態における表示画面の一例を示す図である。 材料ＤＢの一例を示す図である。 第１実施形態における表示画面の一例を示す図である。 第１実施形態における表示画面の一例を示す図である。 第１実施形態に係る材料選択支援処理の流れを示すフローチャートである。 第２実施形態に係る材料選択支援装置の機能構成の例を示すブロック図である。 第２実施形態における表示画面の一例を示す図である。 スコアテーブルの一例を示す図である。 フィルタ指定画面及びフィルタリング結果の表示の一例を示す図である。 スコア指定画面及び統合スコアの表示の一例を示す図である。 フィルタ指定画面及びフィルタリング結果の表示の一例を示す図である。 スコア指定画面及び統合スコアの表示の一例を示す図である。 第２実施形態に係る材料選択支援処理の流れを示すフローチャートである。 変形例２に係る材料選択支援システムの概略構成を示すブロック図である。
　以下、本実施形態の一例を、図面を参照しつつ説明する。
＜第１実施形態＞
　図１は、第１実施形態に係る材料選択支援装置１０のハードウェア構成を示すブロック図である。図１に示すように、材料選択支援装置１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１２、メモリ１４、記憶装置１６、入力装置１８、出力装置２０、記憶媒体読取装置２２、及び通信Ｉ／Ｆ（Interface）２４を有する。各構成は、バス２６を介して相互に通信可能に接続されている。
　記憶装置１６には、後述する材料選択支援処理を実行するための材料選択支援プログラムが格納されている。ＣＰＵ１２は、中央演算処理ユニットであり、各種プログラムを実行したり、各構成を制御したりする。すなわち、ＣＰＵ１２は、記憶装置１６からプログラムを読み出し、メモリ１４を作業領域としてプログラムを実行する。ＣＰＵ１２は、記憶装置１６に記憶されているプログラムに従って、上記各構成の制御及び各種の演算処理を行う。
　メモリ１４は、ＲＡＭ（Random Access Memory）により構成され、作業領域として一時的にプログラム及びデータを記憶する。記憶装置１６は、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＳＳＤ（Solid State Drive）等により構成され、オペレーティングシステムを含む各種プログラム及び各種データを格納する。
　入力装置１８は、例えば、キーボード、マウス等の、各種の入力を行うための装置である。出力装置２０は、例えば、ディスプレイ、プリンタ等の、各種の情報を出力するための装置である。出力装置２０として、タッチパネルディスプレイを採用することにより、入力装置１８として機能させてもよい。
　記憶媒体読取装置２２は、ＣＤ（Compact Disc）－ＲＯＭ、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）－ＲＯＭ、ブルーレイディスク、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ等の各種の記憶媒体に記憶されたデータの読み込み、記憶媒体に対するデータの書き込みなどを行う。通信Ｉ／Ｆ２４は、他の機器と通信するためのインタフェースであり、イーサネット（登録商標）、ＦＤＤＩ又はＷｉ－Ｆｉ（登録商標）等の規格が用いられる。
　次に、第１実施形態に係る材料選択支援装置１０の機能構成について説明する。以下の実施形態では、対象の製品が半導体パッケージであり、製品に生じる現象として、半導体パッケージ基板の反りをシミュレーションする場合を例に説明する。
　図２は、材料選択支援装置１０の機能構成の例を示すブロック図である。図２に示すように、材料選択支援装置１０は、機能構成として、受付部３２と、シミュレーション部３４と、算出部３６と、表示制御部３８とを含む。また、材料選択支援装置１０の所定の記憶領域には、材料ＤＢ（database）４０が記憶される。各機能構成は、ＣＰＵ１２が記憶装置１６に記憶された材料選択支援プログラムを読み出し、メモリ１４に展開して実行することにより実現される。
　受付部３２は、製品の形状に関する形状値、及び製品に使用する材料の物性値を受け付ける。本実施形態では、形状に関する形状値は、半導体パッケージの各構成の寸法、配置等の幾何学形状を示す値である。半導体パッケージの各構成は、コア材、ビルドアップ材、チップ、キャピラリーアンダーフィル、銅、及びソルダーレジストとしてよい。また、構成の中にスティフナー及びスルーホールを含んでもよい。なお、これらの構成を全て含む必要はなく、実際の構成に合わせて一部省略及び追加してもよい。各構成の寸法は、縦、横、及び厚みのサイズであり、配置は、各構成の積層位置関係等である。
　材料の物性値は、半導体パッケージの各構成についてのガラス転移温度、ヤング率、及び熱膨張率（線膨張係数）の値である。ただし、物性値には、温度、ひずみ速度等の、測定時及びシミュレーション時の熱応力場の条件に依存して複数の値を持つものもある。そのため、各物性値として、任意の条件での２つ以上の値を含んでもよい。また、後述するシミュレーション部３４による反りの計算方法によっては、実際には取得していない又は存在しない物性値を入力してもよい。
　具体的には、受付部３２は、例えば図３に示すような表示画面５０において入力される形状値及び物性値を受け付ける。表示画面５０は、後述する表示制御部３８により、出力装置２０の一例であるディスプレイに表示される。図３の例では、表示画面５０には、形状値入力領域５２と、物性値入力領域５４と、表示指示ボタン５６と、シミュレーション結果表示領域５８と、物性値差表示領域６０とが含まれる。
　形状値入力領域５２は、さらに、配置指定領域５２Ａと、寸法入力領域５２Ｂとを含む。配置指定領域５２Ａには、例えば、半導体パッケージの各構成のイメージ図が表示され、ドラッグ操作等により各構成の配置を変更可能となっている。寸法入力領域５２Ｂでは、例えばスライドバーをスライドさせることにより、各構成のサイズ（縦×横の寸法）及び厚みを入力可能となっている。なお、寸法の入力は、スライドバーを用いた入力に限定されず、数値を直接入力するテキストボックス、選択肢から所望のサイズを選択するプルダウンメニュー等を用いたものであってもよい。
　物性値入力領域５４は、各構成の物性値を入力するためのテキストボックス、スライドバー等を含む。図３の例では、コア材が材料選択支援の対象となる構成である。物性値入力領域５４は、構成のうち、コア材については、コア材に求められる物性値（図３の例では、ヤング率及びＣＴＥ）を入力するためのスライドバーを含む。また、図３の例では、物性値入力領域５４は、構成のうち、ビルドアップ（ＢＵ）の物性値の入力について、ビルドアップ材料を選択するためのプルダウンニュー、及び選択されたビルドアップ材料の熱膨張率（ＣＴＥ）を入力するためのテキストボックスを含む。
　受付部３２は、表示画面５０を介して、形状値入力領域５２で入力された形状値、及び物性値入力領域５４で入力された物性値を受け付ける。
　また、受付部３２は、予め登録された複数の材料の各々の物性値と、入力された物性値との差（詳細は後述）の表示指示を受け付ける。具体的には、受付部３２は、表示画面５０において、表示指示ボタン５６が選択された場合に、表示指示を受け付ける。
　なお、図３に示す表示画面５０の例では、描画の都合上、半導体パッケージの構成、形状値、及び物性値のそれぞれの一部のみを表記している。また、シミュレーション結果表示領域５８及び物性値差表示領域６０については後述する。
　シミュレーション部３４は、受付部３２により受け付けられた形状値及び物性値に基づいて、半導体パッケージ基板に生じる反りの量をシミュレーションする。シミュレーション部３４は、形状値及び物性値の入力が変更される都度、すなわち、受付部３２により新たな形状値及び物性値が受け付けられる都度、反りのシミュレーションを実行する。具体的には、シミュレーション部３４は、形状値、物性値、及びシミュレーション条件を入力とし、反りの量を出力するように予め作成した関数を用いて、反りをシミュレーションする。
　より具体的には、反りは、半導体パッケージの温度変化に伴う熱変形を問題とするため、シミュレーション部３４は、初期温度、最終温度、及び温度の経時変化のプロファイルをシミュレーション条件として設定し、熱応力解析を行う。シミュレーション部３４は、基板（コア材）端点の鉛直（Ｚ軸）方向の変位量を反りの量としてシミュレーションする。なお、反りの形状がＷ型、Ｍ型等複雑になる場合は、鉛直（Ｚ軸）方向の変位量の平面（Ｘ－Ｙ平面）内分布、及び平面内の各軸（Ｘ軸及びＹ軸）方向の変位量を出力値としてシミュレーションしてもよい。また、シミュレーション部３４は、最終温度の状態での反りの量をシミュレーションしてもよいし、温度変化の途中で反りの履歴を取得してもよい。
　ここで、反りのシミュレーションとして、熱応力解析の微分方程式を、例えば有限要素メッシュに分割し、メッシュ数に応じた数の連立代数方程式を解くことが考えられる。しかし、この場合、シミュレーション結果を得るまでに時間がかかる。例えば、反り１ケースのシミュレーションに６時間の計算時間を要する場合がある。そこで、入力された形状値及び物性値の中間値に対応する反りを高速に出力するための関数を予め作成しておく。この関数の作成方法は、例えば、各入力値（形状値及び物性値）の２次の項までを含む重回帰分析としてもよいし、他の関数作成方法を採用してもよい。
　算出部３６は、予め材料ＤＢ４０に登録された複数の材料の各々について、複数の材料の各々の物性値と、受付部３２により受け付けられた物性値との差を算出する。図４に、材料ＤＢ４０の一例を示す。図４の例では、材料ＤＢ４０には、各材料について、その材料の「材料名」と、「ヤング率」、「熱膨張率」等の物性値とが対応付けて記憶されている。なお、材料名に変えて、又は材料名と共に、材料の製品型番名と番号、ユニークな識別番号等を用いてもよい。具体的には、算出部３６は、材料ＤＢ４０から各材料の物性値を読み出し、受付部３２により受け付けられた物性値との差を、物性値の種類毎に算出する。
　また、算出部３６は、受付部３２により物性値差の表示指示が受け付けられた場合、すなわち、表示画面５０において表示指示ボタン５６が選択された場合に、物性値入力領域５４に入力されている物性値との差を算出するようにしてよい。
　表示制御部３８は、ディスプレイに表示画面５０を表示するように制御する。また、表示制御部３８は、シミュレーション部３４によるシミュレーション結果を、表示画面５０のシミュレーション結果表示領域５８に表示する。図５に、シミュレーション結果表示領域５８にシミュレーション結果が表示された表示画面５０の一例を示す。図５の例では、２種類の温度のそれぞれについて、コア材のサイズ（縦×横）に対する反りの量をグラフで表している。また、形状値入力領域５２で入力されているコア材のサイズに対する反りの量をテキストボックスに表示している。
　なお、上述したように、シミュレーション部３４は、形状値及び物性値が変更される都度、反りのシミュレーションを実行する。したがって、表示制御部３８は、形状値及び物性値が変更される都度、シミュレーション結果表示領域５８の表示を更新する。
　また、表示制御部３８は、算出部３６により算出された物性値の差を、物性値差表示領域６０に表示する。表示制御部３８は、図６に示すように、物性値の差をグラフ化して表示するようにしてもよい。図６は、物性値の差を棒グラフで表した例である。また、表示制御部３８は、物性値の差を示す数字をグラフに併記して表示してもよい。
　なお、上述したように、算出部３６が、表示指示ボタン５６が選択された際に物性値の差を算出している場合、表示制御部３８は、表示指示ボタン５６が選択される都度、物性値差表示領域６０の表示を更新する。
　次に、第１実施形態に係る材料選択支援装置１０の作用について説明する。
　図７は、材料選択支援装置１０のＣＰＵ１２により実行される材料選択支援処理の流れを示すフローチャートである。ＣＰＵ１２が記憶装置１６から材料選択支援プログラムを読み出して、メモリ１４に展開して実行することにより、ＣＰＵ１２が材料選択支援装置１０の各機能構成として機能し、図７に示す材料選択支援処理が実行される。なお、材料選択支援処理は、本開示の材料選択支援方法の一例である。
　ステップＳ１０で、表示制御部３８が、ディスプレイに表示画面５０を表示する。そして、受付部３２が、表示画面５０を介して、表示画面５０の形状値入力領域５２で入力された形状値、及び物性値入力領域５４で入力された物性値を受け付ける。
　次に、ステップＳ１２で、シミュレーション部３４が、上記ステップＳ１０で受け付けられた形状値及び物性値に基づいて、半導体パッケージ基板に生じる反りの量をシミュレーションする。そして、表示制御部３８が、シミュレーション部３４によるシミュレーション結果を、表示画面５０のシミュレーション結果表示領域５８に表示する。
　次に、ステップＳ１４で、受付部３２が、表示画面５０において、表示指示ボタン５６が選択されたか否かを判定することにより、表示指示を受け付けた否かを判定する。表示指示を受け付けた場合には、ステップＳ１６へ移行し、受け付けていない場合には、ステップＳ１８へ移行する。
　ステップＳ１６では、算出部３６が、予め材料ＤＢ４０に登録された複数の材料の各々について、複数の材料の各々の物性値と、上記ステップＳ１０又は後述するステップＳ１８で受け付けられた物性値との差を算出する。そして、表示制御部３８が、算出部３６により算出された物性値の差を、表示画面５０の物性値差表示領域６０に表示する。
　次に、ステップＳ１８で、受付部３２が、表示画面５０の形状値入力領域５２及び物性値入力領域５４において、形状値及び物性値の少なくとも一方が変更されたか否かを判定する。変更された場合には、受付部３２が、変更された形状値及び物性値を受け付け、ステップＳ１２に戻り、変更されていない場合には、ステップＳ２０へ移行する。
　ステップＳ２０では、表示制御部３８が、表示終了のコマンドを受け付けたか否か等を判定することにより、表示画面５０の表示を終了するか否かを判定する。表示を終了しない場合には、ステップＳ１４に戻り、表示を終了する場合には、材料選択支援処理は終了する。
　以上説明したように、第１実施形態に係る材料選択支援装置は、製品の形状に関する形状値、及び製品に使用する材料の物性値を受け付け、形状値及び物性値が受け付けられる都度、受け付けられた形状値及び物性値に基づいて、基板の反り等の製品に生じる現象をシミュレーションし、予め登録された複数の材料の各々について、複数の材料の各々の物性値と、受け付けられた物性値との差を算出し、シミュレーション結果と、物性値の差とを表示装置に表示するように制御する。これにより、製品製造の材料選択のためのやり取りを削減することができる。
　例えば、材料提供側の担当者と、製品製造側の顧客とが打合せを行う際に、材料選択支援装置として機能するパーソナルコンピュータ、タブレット端末、スマートフォン等を使用することが想定される。具体的には、材料提供側の担当者が顧客から対象製品の形状値を聞き、材料選択支援装置に入力する。又は、顧客が直接形状値を入力してもよい。また、物性値については、担当者又は顧客が入力してもよいし、開始時には、予め設定されている初期値を利用してもよい。形状値及び物性値が入力されると、反りのシミュレーション結果が表示される。このシミュレーション結果を見ながら、担当者又は顧客は、物性値を調整することができる。また、形状値についても、設計変更が可能な段階であれば調整可能である。そして、形状値及び物性値を調整して、反りの量が所望の範囲内となったところで、表示指示ボタンを選択することで、物性値の差を表示する。これにより、反りの量が所望の範囲内となる物性値と類似する物性値を持つ材料を容易に選択することができる。また、物性値の差を確認した後でも、形状値及び物性値の調整が可能である。
　このように、上記実施形態では、予め登録された材料の物性値を用いてシミュレーションするのではなく、反りの量が所望の範囲となるような物性値を特定しておいて、その物性値と、予め登録された材料の物性値との差を表示する。そのため、材料選択支援装置の表示画面を介して、材料提供側の担当者と顧客とがやり取りを行うことで、設計情報を聞いて持ち帰り、シミュレーションを実行して報告するというプロセスを省略できる。また、表示画面上で容易に形状値及び物性値の調整が可能であるため、シミュレーション結果に対する顧客からの了承が得られない場合の上記プロセスの繰り返しも回避することができる。また、顧客側も、材料選択支援装置において入力が必要な形状値を提供するだけでよいため、詳細な設計情報を提供したくない場合でも、ある程度の構成を開示するだけで、反りの傾向を把握することができる。また、材料選択支援装置を介した担当者と顧客とのやり取り、形状値及び物性値の調整の様子等から、顧客の新たな要望等を見出せる可能性がある。
＜第２実施形態＞
　次に、第２実施形態について説明する。なお、第２実施形態に係る材料選択支援装置において、第１実施形態に係る材料選択支援装置１０と同様の構成については、同一符号を付して詳細な説明を省略する。また、第２実施形態に係る材料選択支援装置のハードウェア構成は、図１に示す第１実施形態に係る材料選択支援装置１０のハードウェア構成と同様であるため、説明を省略する。
　第２実施形態に係る材料選択支援装置の機能構成について説明する。図８は、第２実施形態に係る材料選択支援装置２１０の機能構成の例を示すブロック図である。図８に示すように、材料選択支援装置２１０は、機能構成として、受付部２３２と、シミュレーション部３４と、算出部３６と、フィルタ部２４６と、スコアリング部２４７と、表示制御部２３８とを含む。また、材料選択支援装置２１０の所定の記憶領域には、材料ＤＢ４０と、スコアテーブル２４８とが記憶される。各機能構成は、ＣＰＵ１２が記憶装置１６に記憶された材料選択支援プログラムを読み出し、メモリ１４に展開して実行することにより実現される。
　ここで、図９に、第２実施形態に係る表示制御部２３８により表示される表示画面２５０の一例を示す。第２実施形態における表示画面２５０は、第１実施形態における表示画面５０に加え、フィルタリングを実行する際に選択されるフィルタボタン２６２と、スコアを表示する際に選択されるスコアボタン２６４とが含まれる。
　受付部２３２は、第１実施形態における受付部３２と同様に、表示画面２５０を介して、形状値入力領域５２で入力された形状値、及び物性値入力領域５４で入力された物性値を受け付ける。
　また、受付部２３２は、表示画面２５０においてフィルタボタン２６２が選択されると、半導体パッケージに要求される１以上の特性（以下、「要求特性」という）のうち、基板の反り及び物性値の差以外の要求特性についての条件を受け付ける。具体的には、受付部２３２は、スコアテーブル２４８に規定されている複数の要求特性の各々について、フィルタリングの条件を指定するためのフィルタ指定画面を表示する。
　図１０に、スコアテーブル２４８の一例を示す。スコアテーブル２４８には、各材料（図１０の例では、材料１～５）について、ＣＯ２削減量、ハロゲンフリー、難燃性等の各要求特性に関するスコアが規定されている。各要求特性のスコアは、図１０の備考欄に示すルールに従って予め定められている。図１０の例では、スコアを複数段階の数字とし、数字が大きいほどスコアが高いことを表している。
　また、スコアテーブル２４８には、要求特性として、「低反り」及び「物性値の差」が含まれる。「低反り」及び「物性値の差」の各々のスコアは、受付部２３２で受け付けられた形状値及び物性値に応じて変化する。具体的には、「低反り」のスコアは、各材料について、受付部２３２で受け付けられた形状値と、材料ＤＢ４０に登録されている各材料の物性値とを用いて、シミュレーション部３４によりシミュレーションされる反りの量が小さいほど高くなる。「物性値の差」のスコアは、算出部３６で算出された物性値の差、すなわち、受付部２３２で受け付けられた形状値と、材料ＤＢ４０に登録されている各材料の物性値との差が小さいほど高くなる。
　図１１の上図にフィルタ指定画面２６６の一例を示す。フィルタ指定画面２６６は、スコアテーブル２４８に含まれる要求特性のうち、「低反り」及び「物性値の差」以外の要求特性をリスト化し、各要求特性に「チェック」欄及び「条件」欄を対応付けたものである。「チェック」欄には、フィルタリングの条件を指定する要求特性を選択するためのチェックボックスが表示される。「条件」欄は、「チェック」欄でチェックされた要求特性についての条件を入力するための欄である。「条件」欄は、例えば、対応する要求特性において指定可能な条件をプルダウンメニュー等で選択可能な入力欄としてよい。受付部２３２は、フィルタ指定画面２６６を介して、フィルタリングの条件を指定する要求特性の選択、及び選択した要求特性についてのフィルタリングの条件を受け付ける。
　また、受付部２３２は、表示画面２５０においてスコアボタン２６４が選択されると、　要求特性のうち、後述するスコアリング部２４７で算出する統合スコアに反映する対象の要求特性の選択を受け付ける。また、受付部２３２は、選択された要求特性についてのスコアを統合スコアに統合する際の比重を受け付ける。
　具体的には、受付部２３２は、スコアテーブル２４８に規定されている複数の要求特性の各々について、対象の要求特性の選択、及びスコア比重を受け付けるためのスコア指定画面を表示する。図１２の上図にスコア指定画面２７０の一例を示す。スコア指定画面２７０は、スコアテーブル２４８に含まれる要求特性をリスト化し、各要求特性に「チェック」欄及び「スコア比重」欄を対応付けたものである。「チェック」欄には、統合スコアにスコアを反映させる要求特性を選択するためのチェックボックスが表示される。「スコア比重」欄は、「チェック」欄でチェックされた要求特性についてのスコアを統合スコアに反映させる際の比重を入力するための欄である。受付部２３２は、スコア指定画面２７０を介して、対象の要求特性の選択、及びスコア比重を受け付ける。
　フィルタ部２４６は、材料ＤＢ４０に登録されている複数の材料の各々を、受付部２３２により受け付けられた条件に適合するか否かに基づいてフィルタリングする。具体的には、フィルタ部２４６は、指定された要求特性について、予め定めた換算式により、指定された条件をスコアに換算し、スコアテーブル２４８に規定された各材料のスコアと比較して、条件に適合するか否かを判定する。
　例えば、要求特性「ハロゲンフリー」について「Ｙｅｓ」という条件が指定された場合、図１０に示すようなスコアテーブル２４８を用いると、フィルタ部２４６は、材料１及び２は不適合、材料３、４、及び５は適合と判定する。また、例えば、要求特性「難燃性」について「≧Ｇｒａｄｅ２」という条件が指定された場合、フィルタ部２４６は、Ｇｒａｄｅ２に対応するスコア（例えば、２）以上のスコアが与えられている材料は適合と判定する。
　なお、各要求特性について指定する条件は、「Ｙｅｓ又はＮｏ」、「Ｇｒａｄｅ１、Ｇｒａｄｅ２、・・・」のように、ユーザにとって分かり易い選択肢としておいてよい。そして、スコアテーブル２４８に規定されるスコアと条件の選択肢との対応関係を、上述の換算式として定めておけばよい。なお、スコアと条件の選択肢との対応関係は、換算式で定めておく場合に限定されず、対応関係を示すテーブル等で定めておいてもよい。
　スコアリング部２４７は、複数の材料の各々について、受付部２３２で受け付けられた要求特性についてのスコアを統合して統合スコアを算出する。例えば、スコアリング部２４７は、各材料について、指定されたスコア比重による各要求特性のスコアの重み付き和を統合スコアとして算出する。
　表示制御部２３８は、第１実施形態に係る表示制御部３８と同様に、表示画面２５０の表示制御を行う。
　また、表示制御部２３８は、フィルタ部２４６によるフィルタリング結果を、複数の材料の各々についての、物性値の差の表示と対応付けて表示する。例えば、表示制御部２３８は、図１１の下図に示すように、物性値差表示領域６０に表示される各材料についての物性値の差を示すグラフのうち、条件に適合しないと判定された材料についてのグラフにマスク２６８を重畳して表示する。マスク２６８には、条件に適合しないことを示す文字、マーク等の表示を行ってもよい。なお、表示制御部２３８は、マスク２６８を表示する場合に限らず、該当の材料のグラフに、条件に適合しないことを示す文字、マーク等を表示してもよいし、条件に適合しない材料のグラフを物性値差表示領域６０から削除してもよい。
　また、表示制御部２３８は、図１３に示すように、受付部２３２が、フィルタ指定画面２６６を介して、フィルタリングの条件を受け付ける都度、物性値差表示領域６０の表示を更新する。図１３の例では、左図は、フィルタリングの条件が指定されていない状態、中央の図及び右図は、フィルタリングの条件が指定された状態を示している。中央の図は、１つの要求特性（「ハロゲンフリー」）について条件が指定され、右図は、さらにもう１つの要求特性（「難燃性」）について条件が指定されたことで、条件に不適合な材料が左から順に増加している。
　また、表示制御部２３８は、複数の材料の各々について、スコアリング部２４７により算出された統合スコアを表示するように制御する。例えば、表示制御部２３８は、図１２の下図に示すようなスコア画面２７２を表示する。スコア画面２７２は、表示画面２５０上に重畳して別ウィンドウで表示してもよいし、物性値差表示領域６０に変えて表示画面２５０上に表示してもよいし、表示画面２５０の配置を変更して、物性値差表示領域６０と共に表示してもよい。また、図１２の例では、各材料の統合スコアを棒グラフで表しており、統合スコアを構成する各要求特性についてのスコアの内訳を、棒グラフの色分け（網掛の濃淡）及びグラフ内の数字で表している。また、図１２に示すように、スコアの内訳を示す棒グラフの色分けと、スコア指定画面２７０の「チェック」欄の色分けとを対応させるようにしてもよい。
　また、表示制御部２３８は、図１４に示すように、受付部２３２が、スコア指定画面２７０を介して、スコア算出の指定を受け付ける都度、スコア画面２７２の表示を更新する。図１４の例では、左図は、「低反り」及び「ＣＯ２削減量」が共にスコア比重１で選択されており、中央の図では、さらに「ドリル加工性」の選択がスコア比重１で追加されている。さらに、右図では、「ＣＯ２削減量」のスコア比重が２に変更されている。
　次に、第２実施形態に係る材料選択支援装置２１０の作用について説明する。
　図１５は、材料選択支援装置２１０のＣＰＵ１２により実行される材料選択支援処理の流れを示すフローチャートである。ＣＰＵ１２が記憶装置１６から材料選択支援プログラムを読み出して、メモリ１４に展開して実行することにより、ＣＰＵ１２が材料選択支援装置２１０の各機能構成として機能し、図１５に示す材料選択支援処理が実行される。なお、第２実施形態に係る材料選択支援処理において、第１実施形態に係る材料選択支援処理と同様の処理については、同一のステップ番号を付して詳細な説明を省略する。
　ステップＳ１０～Ｓ１６を経て、次のステップＳ２１０で、受付部２３２が、表示画面２５０のフィルタボタン２６２が選択されたか否かを判定する。フィルタボタン２６２が選択された場合には、ステップＳ２１２へ移行し、選択されていない場合には、ステップＳ２１４へ移行する。
　ステップＳ２１２では、受付部２３２が、フィルタ指定画面２６６を表示し、フィルタの条件の指定を受け付ける。そして、フィルタ部２４６が、指定された要求特性について、予め定めた換算式により、指定された条件をスコアに換算し、スコアテーブル２４８に規定された各材料のスコアと比較して、条件に適合するか否かを判定する。そして、表示制御部２３８が、物性値差表示領域６０に表示される各材料についての物性値の差を示すグラフのうち、条件に適合しないと判定された材料についてのグラフにマスク２６８を重畳して表示するなどして、フィルタリング結果を表示する。
　次に、ステップＳ２１２で、受付部２３２が、表示画面２５０のスコアボタン２６４が選択されたか否かを判定する。スコアボタン２６４が選択された場合には、ステップＳ２１６へ移行し、選択されていない場合には、ステップＳ１８へ移行する。
　ステップＳ２１６では、受付部２３２が、スコア指定画面２７０を表示し、統合スコアに反映する要求特性の選択及びスコア比重を受け付ける。そして、スコアリング部２４７が、各材料について、指定されたスコア比重による各要求特性のスコアの重み付き和を統合スコアとして算出する。そして、表示制御部２３８が、各材料の統合スコアを棒グラフで表すなどしたスコア画面２７２を表示する。以下、第１実施形態と同様に、ステップＳ１８及びＳ２０が実行される。
　以上説明したように、第２実施形態に係る材料選択支援装置は、各材料についての、指定された物性値との差の表示に対して、基板の反り以外の要求特性についての条件を指定したフィルタリング処理を実行する。これにより、反りのシミュレーション結果及び物性値の差に加え、他の要求特性の条件を満たすか否かも加味することができ、材料の選択をより容易にすることができる。
　また、第２実施形態に係る材料選択支援装置は、各材料について、反りのシミュレーション結果及び物性値の差を含む要求特性のうち、指定された要求特性についてのスコアを表示する。これにより、要求特性を総合的に考慮して、材料の選択をより容易にすることができる。
＜変形例１＞
　上記各実施形態では、製品に生じる現象として、半導体パッケージ基板の反りをシミュレーションする場合について説明したが、これに限定されない。変形例１では、半導体パッケージ基板中のはんだの寿命をシミュレーションする。この場合、半導体パッケージの構成には、上記実施形態の構成の例に加え、はんだが含まれる。また、物性値には、Ｃｏｆｆｉｎ－Ｍａｎｓｏｎ則より算出したはんだの材料定数が含まれる。
　変形例１において、シミュレーション部は、はんだの接合信頼性を評価する方法である温度サイクル試験に伴ってはんだに生じるひずみを、熱応力解析によりシミュレーションする。シミュレーション条件としては、初期温度、温度振幅（温度の最大値と最小値）、最大温度及び最小温度の保持時間、降温速度及び昇温速度、並びに、印加する総サイクル数を与える。そして、シミュレーション部は、１温度サイクルあたりの塑性ひずみの増加量、１回の温度サイクルで増加する塑性ひずみ量をシミュレーションすると共に任意の材料定数でＣｏｆｆｉｎ－Ｍａｎｓｏｎ則に基づくモデル式にてはんだ寿命を算出する。シミュレーションには、上記実施形態と同様に、予め作成した関数を用いてもよい。
　また、変形例１における、形状値及び物性値の入力、シミュレーション結果の表示、物性値の差の算出及び表示等については、上記各実施形態と同様である。
　また、製品に生じる現象として、半導体パッケージ基板の応力をシミュレーションしてもよい。この場合も、上記実施形態と同様に、形状値及び物性値の入力を受け付け、例えば予め作成した関数を用いて応力をシミュレーションし、シミュレーション結果の表示、物性値の差の算出及び表示等を行えばよい。
＜変形例２＞
　上記各実施形態では、材料選択支援装置単体で機能する構成について説明したが、変形例２では、図１６に示すように、材料選択支援サーバ１１０Ａと、担当者端末１１０Ｂとを含む材料選択支援システム１００について説明する。材料選択支援サーバ１１０Ａと、担当者端末１１０Ｂとは、ネットワークを介して接続される。なお、材料選択支援システム１００に含まれる材料選択支援サーバ１１０Ａ及び担当者端末１１０Ｂの各々の数は図１６の例に限定されない。また、変形例２において、第１実施形態と共通する点については、数字部分が共通する符号を用いて表し、主に、第１実施形態と異なる点を説明し、共通する機能については詳細な説明を省略する。
　材料選択支援サーバ１１０Ａは、機能的には、シミュレーション部３４Ａと、算出部３６Ａと、登録部４２とを含む。また、材料選択支援サーバ１１０Ａの所定の記憶領域には、材料ＤＢ４０と、レポートＤＢ４４とが記憶される。
　シミュレーション部３４Ａは、表示画面５０を介して入力される形状値及び物性値を、担当者端末１１０Ｂから受信する。シミュレーション部３４Ａは、受信した物性値を算出部３６Ａへ受け渡す。また、シミュレーション部３４Ａは、シミュレーション結果を担当者端末１１０Ｂへ送信する。算出部３６Ａは、材料ＤＢ４０に記憶されている各材料の物性値と、入力された物性値との差の算出結果を担当者端末１１０Ｂへ送信する。登録部４２は、レポート（詳細は後述）を担当者端末１１０Ｂから受信し、受信したレポートをレポートＤＢ４４に登録する。
　担当者端末１１０Ｂは、担当者が保持するパーソナルコンピュータ、タブレット端末、スマートフォン等の情報処理端末である。担当者端末１１０Ｂは、機能的には、受付部３２Ｂと、表示制御部３８Ｂとを含む。
　受付部３２Ｂは、表示画面５０を介して入力された形状値及び物性値を材料選択支援サーバ１１０Ａへ送信する。また、受付部３２Ｂは、顧客の識別情報である顧客ＩＤを受け付け、表示画面５０の表示を終了する際に、顧客ＩＤと紐づけたレポートを作成する。受付部３２Ｂは、レポートに、最終的な形状値及び物性値、シミュレーション結果、材料毎の物性値の差を含めてよい。また、複数の材料から何れかの材料が選択された場合には、受付部３２Ｂは、選択された材料の情報を受け付け、レポートに含めるようにしてもよい。また、受付部３２Ｂは、顧客の要望等の各種情報を受け付け、レポートに含めるようにしてもよい。受付部３２Ｂは、作成したレポートを材料選択支援サーバ１１０Ａへ送信する。
　変形例２によれば、材料選択支援システム１００が提供するサービスを複数の担当者が各自の担当者端末１１０Ｂを介して利用できると共に、各担当者端末１１０Ｂでの処理を軽減することができる。また、材料選択支援サーバ１１０ＡのレポートＤＢ４４に記憶されたレポートを各担当者で共有し、有効活用することができる。
　なお、変形例２では、第１実施形態に係る材料選択支援装置１０の構成を、材料選択支援サーバ１１０Ａと、担当者端末１１０Ｂとを含む材料選択支援システム１００に変更した場合について説明したが、第２実施形態についても同様に適用可能である。具体的には、材料選択支援サーバ側に、フィルタ部２４６Ａ、スコアリング部２４７Ａ、及びスコアテーブル２４８を持たせ、担当者端末１１０Ｂの受付部３２Ｂ及び表示制御部３８Ｂを、受付部２３２Ｂ及び表示制御部２３８Ｂとすればよい。
　また、上記各実施形態でＣＰＵがソフトウェア（プログラム）を読み込んで実行した材料選択支援処理を、ＣＰＵ以外の各種のプロセッサが実行してもよい。この場合のプロセッサとしては、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）等の製造後に回路構成を変更可能なＰＬＤ（Programmable Logic Device）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路等が例示される。また、材料選択支援処理を、これらの各種のプロセッサのうちの１つで実行してもよいし、同種又は異種の２つ以上のプロセッサの組み合わせ（例えば、複数のＦＰＧＡ、及びＣＰＵとＦＰＧＡとの組み合わせ）で実行してもよい。また、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造は、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路である。
　また、上記各実施形態では、材料選択支援プログラムが記憶装置に予め記憶（インストール）されている態様を説明したが、これに限定されない。プログラムは、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ－ＲＯＭ、ＵＳＢメモリ等の記憶媒体に記憶された形態で提供されてもよい。また、プログラムは、ネットワークを介して外部装置からダウンロードされる形態としてもよい。
１０、２１０  材料選択支援装置
１２   ＣＰＵ
１４   メモリ
１６   記憶装置
１８   入力装置
２０   出力装置
２２   記憶媒体読取装置
２４   通信Ｉ／Ｆ
２６   バス
３２、３２Ｂ、２３２、２３２Ｂ     受付部
３４、３４Ａ  シミュレーション部
３６３６Ａ    算出部
３８、３８Ｂ、２３８、２３８Ｂ     表示制御部
４０   材料ＤＢ
４２   登録部
４４   レポートＤＢ
２４６、２４６Ａ     フィルタ部
２４７、２４７Ａ     スコアリング部
２４８ スコアテーブル
５０、２５０  表示画面
５２   形状値入力領域
５２Ａ 配置指定領域
５２Ｂ 寸法入力領域
５４   物性値入力領域
５６   表示指示ボタン
５８   シミュレーション結果表示領域
６０   物性値差表示領域
２６２ フィルタボタン
２６４ スコアボタン
２６６ フィルタ指定画面
２６８ マスク
２７０ スコア指定画面
２７２ スコア画面
１００ 材料選択支援システム
１１０Ａ      材料選択支援サーバ
１１０Ｂ      担当者端末

Claims (13)

  1. 　製品の形状に関する形状値、及び前記製品に使用する材料の物性値を受け付ける受付部と、
    　前記受付部により前記形状値及び前記物性値が受け付けられる都度、受け付けられた前記形状値及び前記物性値に基づいて、前記製品に生じる現象をシミュレーションするシミュレーション部と、
    　予め登録された複数の材料の各々について、前記複数の材料の各々の物性値と、前記受付部により受け付けられた物性値との差を算出する算出部と、
    　前記シミュレーション部によるシミュレーション結果と、前記算出部により算出された前記差とを表示装置に表示するように制御する表示制御部と、
    　を含む材料選択支援装置。
  2. 　前記シミュレーション部は、前記形状値、前記物性値、及びシミュレーション条件を入力とし、前記現象を表す物理量を出力するように予め作成した関数を用いて、前記現象をシミュレーションする請求項１に記載の材料選択支援装置。
  3. 　前記表示制御部は、前記形状値及び前記物性値が入力される入力領域と、前記シミュレーション結果の表示領域と、前記複数の材料の各々についての前記差の表示領域とを１画面に表示するように制御する請求項１又は請求項２に記載の材料選択支援装置。
  4. 　前記表示制御部は、前記複数の材料の各々についての前記差をグラフ化して表示するように制御する請求項１又は請求項２に記載の材料選択支援装置。
  5. 　前記受付部は、前記複数の材料の各々についての前記差の表示の指示を受け付け、
    　前記算出部は、前記表示の指示が受け付けられた際に前記受付部により受け付けられている前記形状値及び前記物性値と、前記複数の材料の各々の物性値との差を算出する
    　請求項１又は請求項２に記載の材料選択支援装置。
  6. 　前記受付部は、前記現象以外の前記製品に要求される１以上の特性についての条件を受け付け、
    　前記複数の材料の各々を、前記受付部により受け付けられた条件に適合するか否かに基づいてフィルタリングするフィルタ部を含み、
    　前記表示制御部は、前記フィルタ部によるフィルタリング結果を、前記複数の材料の各々についての前記差の表示と対応付けて前記表示装置に表示するように制御する
    　請求項１又は請求項２に記載の材料選択支援装置。
  7. 　前記表示制御部は、前記複数の材料の各々の前記差を示すグラフのうち、前記フィルタ部により前記条件に適合しないと判定された材料についてのグラフに、前記条件に適合しないことを示すマスクを重畳して表示する請求項６に記載の材料選択支援装置。
  8. 　前記複数の材料の各々について、前記シミュレーション部によるシミュレーション結果に応じたスコアと、前記差に応じたスコアと、前記現象及び前記差以外の前記製品に要求される１以上の特性の各々について予め定められたスコアとを統合した統合スコアを算出するスコアリング部を含み、
    　前記表示制御部は、前記複数の材料の各々について、前記スコアリング部により算出された統合スコアを前記表示装置に表示するように制御する
    　請求項１又は請求項２に記載の材料選択支援装置。
  9. 　前記受付部は、前記シミュレーション結果、前記差、及び前記１以上の特性のうち、前記統合スコアに反映する対象の選択、及び、選択した対象についてのスコアを前記統合スコアに統合する際の比重を受け付け、
    　前記スコアリング部は、前記受付部により受け付けられた前記対象及び前記比重に基づいて、前記統合スコアを算出する
    　請求項８に記載の材料選択支援装置。
  10. 　前記表示制御部は、前記統合スコアを構成する各特性についてのスコアの内訳を表示する請求項９に記載の材料選択支援装置。
  11. 　前記製品が半導体パッケージの場合、前記現象は、前記製品の反り、前記製品の応力、又は前記製品におけるはんだの寿命である請求項１又は請求項２に記載の材料選択支援装置。
  12. 　受付部が、製品の形状に関する形状値、及び前記製品に使用する材料の物性値を受け付け、
    　シミュレーション部が、前記受付部により前記形状値及び前記物性値が受け付けられる都度、受け付けられた前記形状値及び前記物性値に基づいて、前記製品に生じる現象をシミュレーションし、
    　算出部が、予め登録された複数の材料の各々について、前記複数の材料の各々の物性値と、前記受付部により受け付けられた物性値との差を算出し、
    　表示制御部が、前記シミュレーション部によるシミュレーション結果と、前記算出部により算出された前記差とを表示装置に表示するように制御する
    　材料選択支援方法。
  13. 　コンピュータを、
    　製品の形状に関する形状値、及び前記製品に使用する材料の物性値を受け付ける受付部、
    　前記受付部により前記形状値及び前記物性値が受け付けられる都度、受け付けられた前記形状値及び前記物性値に基づいて、前記製品に生じる現象をシミュレーションするシミュレーション部、
    　予め登録された複数の材料の各々について、前記複数の材料の各々の物性値と、前記受付部により受け付けられた物性値との差を算出する算出部、並びに、
    　前記シミュレーション部によるシミュレーション結果と、前記算出部により算出された前記差とを表示装置に表示するように制御する表示制御部
    　として機能させるための材料選択支援プログラム。
PCT/JP2022/046968 2022-03-24 2022-12-20 材料選択支援装置、方法、及びプログラム Ceased WO2023181543A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP22933671.4A EP4492445A4 (en) 2022-03-24 2022-12-20 DEVICE, METHOD AND PROGRAM TO SUPPORT MATERIAL SELECTION
JP2024509763A JPWO2023181543A1 (ja) 2022-03-24 2022-12-20
KR1020247035042A KR20240168368A (ko) 2022-03-24 2022-12-20 재료 선택 지원 장치, 방법, 및 프로그램
US18/850,031 US20250217545A1 (en) 2022-03-24 2022-12-20 Material selection assistance apparatus, method, and program
CN202280094132.8A CN118922932A (zh) 2022-03-24 2022-12-20 材料选择辅助装置、方法以及程序

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPPCT/JP2022/014169 2022-03-24
PCT/JP2022/014169 WO2023181307A1 (ja) 2022-03-24 2022-03-24 材料選択支援装置、方法、及びプログラム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2023181543A1 true WO2023181543A1 (ja) 2023-09-28

Family

ID=88100752

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2022/014169 Ceased WO2023181307A1 (ja) 2022-03-24 2022-03-24 材料選択支援装置、方法、及びプログラム
PCT/JP2022/046968 Ceased WO2023181543A1 (ja) 2022-03-24 2022-12-20 材料選択支援装置、方法、及びプログラム

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2022/014169 Ceased WO2023181307A1 (ja) 2022-03-24 2022-03-24 材料選択支援装置、方法、及びプログラム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20250217545A1 (ja)
EP (1) EP4492445A4 (ja)
JP (1) JPWO2023181543A1 (ja)
KR (1) KR20240168368A (ja)
CN (1) CN118922932A (ja)
WO (2) WO2023181307A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2025075181A1 (ja) * 2023-10-04 2025-04-10 株式会社レゾナック 材料選択支援装置、回路基板の製造方法、回路基板コア、及び回路基板

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2026047863A1 (ja) * 2024-08-27 2026-03-05 株式会社レゾナック 影響度評価装置、方法、及びプログラム

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08255190A (ja) * 1995-03-17 1996-10-01 Sekisui Chem Co Ltd 粘着剤及び粘着テープの設計支援システム
JP2002189896A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Hitachi Chem Co Ltd 半導体用構成材料の提供システム
JP2013058657A (ja) * 2011-09-09 2013-03-28 Renesas Electronics Corp 電子装置の寿命予測方法およびそれを用いた電子装置の設計方法
JP2014174927A (ja) * 2013-03-12 2014-09-22 Ricoh Co Ltd シミュレーション解析装置、シミュレーション解析方法、プログラム
WO2015054637A1 (en) * 2013-10-10 2015-04-16 Scoperta, Inc. Methods of selecting material compositions and designing materials having a target property
JP2015078903A (ja) * 2013-10-17 2015-04-23 株式会社デンソー パラメータ設定方法およびシミュレーション装置
JP2020038924A (ja) 2018-09-05 2020-03-12 日立化成株式会社 材料の選定方法及びパネルの製造方法
JP2021002273A (ja) * 2019-06-24 2021-01-07 株式会社カネカ コンピュータプログラム、情報処理装置、及び情報処理方法
WO2021044913A1 (ja) * 2019-09-05 2021-03-11 国立大学法人東京工業大学 作製評価システム、作製評価方法及びプログラム

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005088483A1 (ja) * 2004-03-10 2005-09-22 Fujitsu Limited 電子パッケージ信頼性予測装置および電子パッケージ信頼性予測プログラム

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08255190A (ja) * 1995-03-17 1996-10-01 Sekisui Chem Co Ltd 粘着剤及び粘着テープの設計支援システム
JP2002189896A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Hitachi Chem Co Ltd 半導体用構成材料の提供システム
JP2013058657A (ja) * 2011-09-09 2013-03-28 Renesas Electronics Corp 電子装置の寿命予測方法およびそれを用いた電子装置の設計方法
JP2014174927A (ja) * 2013-03-12 2014-09-22 Ricoh Co Ltd シミュレーション解析装置、シミュレーション解析方法、プログラム
WO2015054637A1 (en) * 2013-10-10 2015-04-16 Scoperta, Inc. Methods of selecting material compositions and designing materials having a target property
JP2015078903A (ja) * 2013-10-17 2015-04-23 株式会社デンソー パラメータ設定方法およびシミュレーション装置
JP2020038924A (ja) 2018-09-05 2020-03-12 日立化成株式会社 材料の選定方法及びパネルの製造方法
JP2021002273A (ja) * 2019-06-24 2021-01-07 株式会社カネカ コンピュータプログラム、情報処理装置、及び情報処理方法
WO2021044913A1 (ja) * 2019-09-05 2021-03-11 国立大学法人東京工業大学 作製評価システム、作製評価方法及びプログラム

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP4492445A4

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2025075181A1 (ja) * 2023-10-04 2025-04-10 株式会社レゾナック 材料選択支援装置、回路基板の製造方法、回路基板コア、及び回路基板

Also Published As

Publication number Publication date
KR20240168368A (ko) 2024-11-29
CN118922932A (zh) 2024-11-08
EP4492445A1 (en) 2025-01-15
WO2023181307A1 (ja) 2023-09-28
US20250217545A1 (en) 2025-07-03
JPWO2023181543A1 (ja) 2023-09-28
EP4492445A4 (en) 2025-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2023181543A1 (ja) 材料選択支援装置、方法、及びプログラム
CN101821739B (zh) 产品设计支援系统及方法
JP4464665B2 (ja) 高速チップ管理システム
US20170061313A1 (en) System and Method for Estimating a Performance Metric
US20210081512A1 (en) System and method for crashworthiness analytics in design
Shalumov et al. Accelerated simulation of thermal and mechanical reliability of electronic devices and circuits
US8943450B1 (en) Model based analog block coverage system
JP7492872B2 (ja) 予測装置および予測方法
JP4245134B2 (ja) 実装工程シミュレーション装置および実装工程シミュレーション方法
JP7248651B2 (ja) 抵抗器の熱解析装置、並びに、熱解析プログラム及びモデル生成プログラム
US7801705B2 (en) Mass on model
JP6806651B2 (ja) 情報処理システムおよび情報処理方法
WO2024122070A1 (ja) 推定値表示装置、方法、及びプログラム
CN117540589A (zh) 一种多参数仿真模型标定方法
CN115114348B (zh) 一种参数质量管理方法及相关装置和介质程序产品
WO2025253647A1 (ja) 物性値計算装置、方法、及びプログラム
JP2024080444A (ja) 因子分析装置、方法、及びプログラム
WO2007086120A1 (ja) 情報処理装置、シミュレーション方法、情報処理プログラム
JP4477964B2 (ja) 高周波回路の設計方法及び設計装置と高周波回路の設計に係る表示方法
JP2005215997A (ja) 設計支援装置、設計支援方法、設計支援プログラム及び設計支援プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体
JP5328455B2 (ja) 設計支援システム及び設計支援方法
WO2017010203A1 (ja) 電子部品の設計装置、該設計装置で用いるシミュレーション方法及びコンピュータプログラム
JP2006072938A (ja) プリント基板設計方法及びプリント基板設計装置
JP4222159B2 (ja) 設計支援方法及び設計支援システム
WO2026047863A1 (ja) 影響度評価装置、方法、及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 22933671

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2024509763

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 18850031

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 202280094132.8

Country of ref document: CN

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2022933671

Country of ref document: EP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2022933671

Country of ref document: EP

Effective date: 20241009

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20247035042

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020247035042

Country of ref document: KR

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 18850031

Country of ref document: US