AT519893B1 - Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops - Google Patents

Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops Download PDF

Info

Publication number
AT519893B1
AT519893B1 ATA50358/2017A AT503582017A AT519893B1 AT 519893 B1 AT519893 B1 AT 519893B1 AT 503582017 A AT503582017 A AT 503582017A AT 519893 B1 AT519893 B1 AT 519893B1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
amplitude
measuring probe
sample
signal
frequency
Prior art date
Application number
ATA50358/2017A
Other languages
English (en)
Other versions
AT519893A1 (de
Original Assignee
Univ Linz
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Univ Linz filed Critical Univ Linz
Priority to ATA50358/2017A priority Critical patent/AT519893B1/de
Priority to PCT/AT2018/050008 priority patent/WO2018201170A1/de
Publication of AT519893A1 publication Critical patent/AT519893A1/de
Application granted granted Critical
Publication of AT519893B1 publication Critical patent/AT519893B1/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q60/00Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/46SCM [Scanning Capacitance Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SCM probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q10/00Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
    • G01Q10/04Fine scanning or positioning
    • G01Q10/06Circuits or algorithms therefor
    • G01Q10/065Feedback mechanisms, i.e. wherein the signal for driving the probe is modified by a signal coming from the probe itself
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/002Details
    • G01B3/008Arrangements for controlling the measuring force
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q40/00Calibration, e.g. of probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q60/00Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
    • G01Q60/32AC mode
    • G01Q60/34Tapping mode
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q70/00General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
    • G01Q70/08Probe characteristics
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B9/00Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
    • G11B9/12Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
    • G11B9/14Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

Es wird ein Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops mit einer Probenaufnahme (1) und einer der Probenaufnahme (1) gegenüberliegenden Messsonde (3) beschrieben, die mit einer amplitudenmodulierten, hochfrequenten Wechselspannung beaufschlagt wird, wobei die Schwingungen der Messsonde (3) durch einen Laserdetektor (9) erfasst und dessen Ausgangssignal einem Lock-in-Verstärker (10) zur Bereitstellung eines vom Kapazitätsgradienten zwischen Probe (2) und Messsonde (3) abhängigen Signalanteils zugeführt wird. Um einfache Kalibrierbedingungen zu schaffen wird vorgeschlagen, dass die Amplitude des vom Kapazitätsgradienten zwischen Probe (2) und Messsonde (3) abhängigen Signalanteils durch eine Steuerung der Amplitude der hochfrequenten Wechselspannung des Signalgenerators (6) auf einen konstanten Wert geregelt wird.

Description

[0001] Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops mit einer Probenaufnahme und einer der Probenaufnahme gegenüberliegenden Messsonde, die mit einer amplitudenmodulierten, hochfrequenten Wechselspannung beaufschlagt wird, wobei die Schwingung der Messsonde durch einen Laserdetektor erfasst und dessen Ausgangssignal einem Lock-in-Verstärker zur Bereitstellung eines vom Kapazitätsgradienten zwischen Probe und Messsonde abhängigen Signalanteils zugeführt wird.
[0002] Zur Erweiterung des Frequenzbereichs elektrostatischer Kraftmikroskopie, beispielsweise auf einen Bereich oberhalb der Resonanzfrequenz der Messsonde, ist es bekannt, heterodyne Mischtechniken auf der Basis einer Messsondenbeschaltung einzusetzen. Zu diesem Zweck wird die Messsonde über einen Signalgenerator mit einer hochfrequenten, amplitudenmodulierten Wechselspannung der Form v(t) = V0.cos(2K.fmod.t).cos(2K.fcarrier.t) beaufschlagt, wobei Vo die Amplitude und fcarrier die Trägerfrequenz der Wechselspannung des Signalgenerators sowie fmod die Frequenz der Amplitudenmodulation bedeuten. Die Kraftwirkungen zwischen der an einem federnden Hebelarm vorgesehenen Sondenspitze der Messsonde und der zu messenden, in einer Probenaufnahme gehaltenen Probe in dem angelegten elektrischen Wechselfeld bedingen eine Schwingung der Messsonde. Diese von den Kraftwirkungen abhängigen Schwingungen der Messsonde werden über einen Laserdetektor erfasst und in ein elektrisches Signal umgewandelt, das einem Lock-in-Verstärker zugeführt wird, um von bestimmten Krafteinwirkungen abhängige Signalanteile herauszufiltern, insbesondere jene in Richtung z des Abstands zwischen Messsonde und Probe wirksamen elektrostatischen Kraftkomponenten, die proportional dem Kapazitätsgradienten dC/dz bei der Trägerfrequenz fcarrier sind. Die Signalzuführung zur Messsonde bei Hochfrequenzmessungen bereitet allerdings Schwierigkeiten, weil die mit zunehmender Frequenz zunehmenden Verluste und Reflexionen im Bereich der Signalzuführung zur Messsonde die Schwingungsanregung der Messsonde und damit das Messergebnis insbesondere bei Hochfrequenzmessungen nachhaltig beeinflussen.
[0003] Zur Kompensation der unterschiedlichen Eigenschaften der einzelnen Sonden eines Mehrsondenkopfs insbesondere von Rastertunnelmikroskopen ist es bekannt (EP 0 587 165 A2), den einzelnen Sonden zugeordnete Kompensationswerte abzuspeichern, mit deren Hilfe die jeweilige Sonde zur Kompensation über einen Aktuator angesteuert wird. Um die Position einer Sonde zur Oberflächenabtastung einer Probe gegenüber der Probe auch bei größeren Probenabmessungen genauer bestimmen zu können, ist es außerdem bekannt (EP 0 790 482 A1) zwei Positionierstufen vorzusehen, nämlich eine Grobstufe und eine Feinstufe. Als Sonde kann dabei ein Rastermikroskop eingesetzt werden. Elektrische Störeinflüsse im Bereich der Sonde können dadurch nicht kompensiert werden.
[0004] Um Abbildungsfehler, die auf Umwelteinflüsse zurückzuführen sind, kompensieren zu können ist es bekannt (DE 197 18 799 A1), das Mikroskop zunächst in einem Kalibrier- und nachfolgend in einem Bildmodus zu betreiben. Im Kalibrierbetrieb werden Umgebungseinflüsse, die die Abbildung verschlechtern, durch das Abbilden eines vorgegebenen Referenzobjekts und Vergleichen des Bildes mit der realen Struktur des Referenzobjekts erfasst und durch Abgleich im Wesentlichen kompensiert. Die Abbildungsfehler werden dann aufgrund des vorgenommenen Abgleichs im bildgebenden Betrieb auch bei einer Veränderung der Umgebungseinflüsse kompensiert.
[0005] Schließlich ist es bei einem elektrostatischen Kraftmikroskop mit einer konstanten elektrischen Anregung zur Verbesserung der mechanischen und elektrischen Messungen bekannt (US 6 185 991 B1), die Sondenspitze in Kontakt mit der Probe zu führen und mit einer konstanten Wechselspannung zu beaufschlagen, die vorzugsweise einen Gleichspannungsanteil aufweist, womit jedoch keine hochfrequenten Verluste und Reflexionen im Bereich der Signalzuführung von heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskopen kompensiert werden können.
[0006] Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ein heterodynes elektrostatisches
1/10
AT 519 893 B1 2020-01-15 österreichisches patentamt
Kraftmikroskop mithilfe eines vergleichsweise einfachen Verfahrens so zu kalibrieren, dass
Verluste und Reflexionen des zur Beaufschlagung der Messsonde vorgesehenen, amplitudenmodulierten, hochfrequenten Spannungssignals weitgehend ausgeglichen werden.
[0007] Ausgehend von einem Verfahren der eingangs geschilderten Art, löst die Erfindung die gestellte Aufgabe dadurch, dass die Amplitude des vom Kapazitätsgradienten zwischen Probe und Messsonde abhängigen Signalanteils durch eine Steuerung der Amplitude der hochfrequenten Wechselspannung des Signalgenerators auf einen konstanten Wert geregelt wird.
[0008] Da die nicht ohne Weiteres erfassbaren Verluste und Reflexionen des zur Beaufschlagung der Messsonde vorgesehenen Spannungssignals im Bereich der Signalzuführung zur Messsonde eine Änderung der Amplitude des mittels des Lock- in-Verstärkers zur Verfügung gestellten, vom Kapazitätsgradienten abhängigen Signalanteils bedingen, können diese Verluste und Reflexionen im Bereich der Signalzuführung durch eine Rückführung dieser dadurch bedingten Amplitudenänderungen ausgeglichen werden. Hierfür kann in einfacher Weise die Amplitude Vo der modulierten, hochfrequenten Wechselspannung des Signalgenerators als Stellgröße benützt werden, sodass bei einer entsprechenden Ansteuerung des Signalgenerators die Amplitude seiner hochfrequenten Ausgangsspannung in Abhängigkeit von der jeweiligen Spannungsfrequenz derart verändert wird, dass diese Amplitudenänderungen der hochfrequenten Ausgangsspannung die frequenzbedingten Einflüsse auf das Anregungssignal für die Messsonde im Bereich der Signalzuführung zur Messsonde weitgehend ausgleichen.
[0009] Um den Signalgenerator in Abhängigkeit von den Verlusten und Reflexionen des Anregungssignals im Bereich der Signalzuführung zur Messsonde ansteuern zu können, kann vorgesehen werden, dass zur Messung einer Kalibrierprobe mit einheitlicher, ebener Oberfläche der Signalgenerator zur Beaufschlagung der Messsonde mit unterschiedlichen Frequenzen betrieben wird, dass die Amplitude des vom Kapazitätsgradienten zwischen Kalibrierprobe und Messsonde abhängigen Signalanteils des Lock-in-Verstärkers durch die Amplitude der Wechselspannung des Signalgenerators als Stellgröße auf einen vorgegebenen Wert eingestellt wird, dass diese den einzelnen Frequenzen zugeordneten Stellgrößen abgespeichert werden und dass der Signalgenerator zur Messung von Proben frequenzabhängig mit den abgespeicherten Stellgrößen betrieben wird.
[0010] Da aufgrund der einheitlichen elektrischen Eigenschaften und der ebenen Oberfläche der Kalibrierprobe die vom Abstand der Messsondenspitze von der Oberfläche der Kalibrierprobe abhängige Kapazitätsgradient und damit die elektrostatische Kraft konstant sein müssen, können die bei unterschiedlichen Messfrequenzen gemessenen Unterschiede hinsichtlich des Kapazitätsgradienten bzw. der wirksamen elektrostatischen Kraft nur auf den Einfluss der Verluste und Reflexionen des Anregungssignals im Bereich der Signalzuführung zur Messsonde zurückgeführt werden. Wird daher die Amplitude der Ausgangsspannung des Signalgenerators für jede Messfrequenz so geändert, dass der durch den Lock-in- Verstärker erfassbare, zum Kapazitätsgradienten proportionale Signalanteil eine vorgegebene Amplitude aufweist, so erhält man ein Stellgrößenfeld, mit dessen Hilfe bei einer anschließenden Probenmessung die bei der jeweiligen Messfrequenz auftretenden Verluste und Reflexionen des Anregungssignals im Bereich der Signalzuführung zur Messsonde ausgeglichen werden können. Der Signalgenerator ist zu diesem Zweck lediglich so anzusteuern, dass die Amplitude seiner Ausgangspannung dem zur zugehörigen Messfrequenz abgespeicherten Stellgrößenwert Vo entspricht. Durch dieses Verfahren wird eine Anpassung der Empfindlichkeit an alle Messfrequenzen fcarrier und damit eine Kalibrierung erster Ordnung erreicht.
[0011] Da die Reflexionen im Bereich der Signalzuführung in einer nichtlinearer Weise vom Kapazitätsgradienten zwischen Messsonde und Kalibrierprobe abhängen, ist diese Kalibrierung besonders bei hohen Messfrequenzen noch nicht perfekt. Zur Verfeinerung der Kalibrierung kann die Messsonde an die Kalibrierprobe angenähert und dadurch die Kapazität zwischen Messsonde und Kalibrierprobe geändert werden, um die Messfrequenzen fcarrier während der Sondenannäherung durchzustimmen und dabei den vom Abstand z zwischen Messsonde und Kalibrierprobe sowie der Trägerfrequenz fcarrier abhängigen Kapazitätsgradienten dC/dz anhand
2/10
AT 519 893 B1 2020-01-15 österreichisches patentamt der Amplitude des vom Kapazitätsgradienten abhängigen Signalanteils zu messen. Der Abgleich der gemessenen Kapazitätsabstandskurve bei einer niedrigen Referenzfrequenz fref und bei allen anderen Frequenzen f, führt zu einer Transferfunktion H/f), die die Abhängigkeit zwischen dem Kapazitätsgradienten dC/dz bei der Referenzfrequenz fref und der jeweiligen Messfrequenz f, wiedergibt. Für diese Transferfunktion H/f) ergibt sich im einfachsten Fall eine quadratische Abhängigkeit der auf die Referenzfrequenz fref und die jeweilige Messfrequenz f, bezogenen Kapazitätsgradienten, doch kann diese die Phase der gemessenen Kapazitätsgradienten berücksichtigende Abhängigkeit auch höherer Ordnung oder komplex sein. Die jeweils aus den Kalibriermessungen bestimmte Transferfunktion H/f) wird dann der eigentlichen Messung zugrunde gelegt, um das kalibrierte Messsignal zu extrahieren.
[0012] Eine weitere Möglichkeit der Kalibrierung erster Ordnung besteht darin, dass die Amplitude des vom Kapazitätsgradienten zwischen Probe und Messsonde abhängigen Signalanteils des Lock-in-Verstärkers einem Regler als Regelgröße zugeführt wird, der den Signalgenerator im Sinne einer Änderung der Amplitude seiner Wechselspannung als Stellgröße ansteuert. Auch in diesem Fall kann aufgrund der Ansteuerung des Signalgenerators in Abhängigkeit von der Amplitude des zum Kapazitätsgradienten proportionalen Signalanteils des Lockin-Verstärkers der Einfluss der Verluste und Reflexionen des Anregungssignals für die Messsonde im Bereich der Signalzuführung weitgehend ausgeglichen werden.
[0013] Anhand der Zeichnung wird das erfindungsgemäße Verfahren näher erklärt. Es zeigen [0014] Fig. 1 ein heterodynamisches elektrostatisches Kraftmikroskop zur Durchführung des Kalibrierverfahrens in einem schematischen Blockschaltbild, den Verlauf der mithilfe einer Kalibrierprobe aus hochdotiertem Silicium mit ebener Oberfläche ohne Kalibrierung gemessenen, normierten elektrostatischen Kraft in Abhängigkeit von der in einem logarithmischen Maßstab aufgetragenen Messfrequenz, den Verlauf der Amplitude der Wechselspannung des Signalgenerators für eine konstante Amplitude der gemessenen elektrostatischen Kraft in Abhängigkeit von der in einem logarithmischen Maßstab aufgetragenen Messfrequenz, und die Abhängigkeit des ohne und mit unterschiedlichen Kalibrierungen gemessenen Kapazitätsgradienten von der im logarithmischen Maßstab aufgetragenen Messfrequenz.
[0015] Fig. 2 [0016] Fig. 3 [0017] Fig. 4 [0018] Das heterodynamische elektrostatische Kraftmikroskop umfasst gemäß der Fig. 1 eine Probenaufnahme 1 für eine Probe 2 und eine Messsonde 3, die eine der Probenaufnahme 1 gegenüberliegende Sondenspitze 4 auf einem federnden Hebel 5 aufweist. Die Messsonde 3 wird von einem Signalgenerator 6 beaufschlagt, dessen hochfrequente Wechselspannung einer Amplitudenmodulation unterworfen wird, und zwar mittels einer Modulationsstufe 7. Die Signalzuführung zur Messsonde, beispielsweise ein Koaxialkabel, ist mit 8 bezeichnet. Durch die Kraftwirkungen in dem durch die Beschaltung der Messsonde 3 bedingten elektrischen Feld wird die Messsonde 3 zu Schwingungen angeregt, die über einen Laserdetektor 9 erfasst werden, der im Wesentlichen durch einen Lasersender und eine Photodiode zum Empfang des an der Messsonde 3 reflektierten Laserstrahls gebildet wird. Das elektrische Ausgangssignal des Laserdetektors 9, das von den elektrostatischen Kräften zwischen der Messsonde 3 und der Probe 2 abhängt, wird einem Lock-in-Verstärker 10 zugeführt, der über einen Signalgeber 11 zur Ansteuerung der Modulationsstufe 7 mit einem Referenzsignal beaufschlagt wird, das die Frequenz der Amplitudenmodulation der Ausgangsspannung des Signalgenerators aufweist. Aufgrund der gewählten Schaltungsanordnung kann am Ausgang 12 des Lock-in-Verstärkers 10 ein Signalanteil abgegriffen werden, der dem auf die Trägerfrequenz des amplitudenmodulierten Anregungssignals für die Messsonde 3 bezogenen Kapazitätsgradienten dC/dz zwischen der Probe 2 und der Sondenspitze 4 in senkrechter Richtung z zur Probenaufnahme 1 proportional ist.
[0019] Wird eine elektrisch einheitliche Kalibrierprobe, beispielsweise aus hochdotiertem Silici
3/10
AT 519 893 B1 2020-01-15 österreichisches patentamt um, mit einer ebenen Oberfläche mit unterschiedlichen Messfrequenzen unter Einsatz des Signalgenerators 6 gemessen, dessen hochfrequente Wechselspannung einer niederfrequenten Amplitudenmodulation unterworfen wird, so erhält man am Ausgang 12 des Lock inVerstärkers 10 einen Signalanteil 13, dessen Verlauf gemäß der Fig. 2 nicht, wie zu erwarten wäre, eine über die unterschiedlichen Messfrequenzen gleichbleibende elektrostatische Kraft F gemäß dem strichpunktiert angedeuteten Signalverlauf 14, sondern einen im höheren Frequenzbereich davon stark abweichenden Verlauf aufweist. Diese Abweichungen beruhen auf den Verlusten und Reflexionen des Anregungssignals im Bereich der Signalzuführung 8 zur Messsonde 3 und müssen durch eine Kalibrierung ausgeglichen werden.
[0020] Zum Kalibrieren eines solchen heterodynamischen elektrostatischen Kraftmikroskops kann bei der Messung einer Kalibrierprobe mit einheitlicher, ebener Oberfläche bei jeder Messfrequenz die Amplitude der Wechselspannung des Signalgenerators 6 so geändert werden, dass der Signalanteil 13 am Ausgang 12 des Lock-in-Verstärkers 10 einen vorgegebenen Amplitudenwert entsprechend dem Verlauf 14 annimmt, sodass durch die Änderung der Amplitude der Wechselspannung des Signalgenerators 6 als Stellgröße die Verluste und Reflexionen des Anregungssignals in der Signalzuführung 8 ausgeglichen werden. Die hierfür jeweils erforderliche Änderung der Amplitude der Wechselspannung des Signalgenerators 6 kann als Stellgröße für die jeweilige Frequenz abgespeichert werden, um den Signalgenerator 6 für eine nachfolgende Probenmessung bei der gewählten Messfrequenz so ansteuern zu können, dass er mit der zu dieser Frequenz abgespeicherten Amplitude der Wechselspannung betrieben wird. In der Fig. 3 ist der Verlauf 15 der Amplitude der Wechselspannung V des Signalgenerators 6 für eine konstante elektrostatische Kraft F dargestellt, und zwar zum Ausgleich der sich aus der Fig. 2 ergebenden Einflüsse durch Verluste und Reflexionen des Anregungssignals im Bereich der Signalzuführung 8 bei einer Anregung mit konstanter Wechselspannungsamplitude 16 des Signalgenerators 6, die strichpunktiert eingezeichnet ist.
[0021] Mit der Stellgrößenvorgabe gemäß Fig. 3 kann somit der Signalgenerator 6 über eine Steuereinrichtung 17 so angesteuert werden, dass der Signalgenerator 6 für jede Messfrequenz mit der zu dieser Messfrequenz abgespeicherten Amplitude der Wechselspannung betrieben wird, womit ein weitgehender Ausgleich der durch die Verluste und Reflexionen des Anregungssignals im Bereich der Signalzuführung 8 bedingten Einflüsse auf das Messergebnis verbunden ist.
[0022] Wie in Fig. 4 veranschaulicht ist, bei der der Verlauf des gemessenen Kapazitätsgradienten dC/dz in einem nicht skalierten Maßstab in Abhängigkeit von der in einem logarithmischen Maßstab aufgetragenen Messfrequenz f dargestellt ist, müsste sich bei der Messung der Kalibrierprobe ein konstanter Verlauf des Kapazitätsgradienten dC/dz über den gesamten Messfrequenzbereich gemäß der Linie 18 ergeben. Tatsächlich weicht jedoch der gemessene Kapazitätsgradient 19 bei einer unkalibrierten Messung aufgrund der im Bereich der Signalzuführung 8 auftretenden Störeinflüsse erheblich davon ab. Mit der geschilderten Kalibrierung erster Ordnung können diese Störeinflüsse weitgehend ausgeglichen werden, wie dies die Messkurve 20 belegt. Zur weiteren Verbesserung ist jedoch eine Kalibrierung höherer Ordnung aufgrund der nichtlinearen Abhängigkeit des gemessenen Kapazitätsgradienten von den Störeinflüssen erforderlich, indem bei einer Auswertung der Messsignale eine Transferfunktion H/f) berücksichtigt wird, die die nichtlineare Abhängigkeit zwischen dem bei einer niedrigen Referenzfrequenz gemessenen Kapazitätsgradienten und den bei unterschiedlichen Messfrequenzen f, gemessenen Kapazitätsgradienten wiedergibt. Die Kalibrierung auf der Basis einer solchen Transferfunktion H/f) führt zu einer Messkurve 21, deren Abweichung vom Sollverlauf 18 sehr gering ausfällt.
[0023] Eine andere Möglichkeit zur Kalibrierung besteht darin, die Kalibrierung während der Messung einer Probe 2 vorzunehmen. Zu diesem Zweck wird der vom Kapazitätsgradienten unmittelbar abhängige Signalanteil am Ausgang 12 des Lock-in-Verstärkers 10 einem Regler 22 zugeführt, mit dessen Hilfe der Signalgenerator 6 im Sinne einer Änderung der Amplitude seiner Wechselspannung als Stellgröße angesteuert wird, um die Amplitude des zum Kapazitätsgradienten proportionalen Signalanteils auf einem vorgegebenen Wert konstant zu halten, womit
4/10
AT 519 893 B1 2020-01-15 österreichisches patentamt wiederum ein Ausgleich der durch Verluste und Reflexionen im Bereich der Signalzuführung 8 bedingten Einflüsse auf das Anregungssignal ausgeglichen werden können.

Claims (4)

1. Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops mit einer Probenaufnahme (1) und einer der Probenaufnahme (1) gegenüberliegenden Messsonde (3), die mit einer amplitudenmodulierten, hochfrequenten Wechselspannung beaufschlagt wird, wobei die Schwingungen der Messsonde (3) durch einen Laserdetektor (9) erfasst und dessen Ausgangssignal einem Lock-in-Verstärker (10) zur Bereitstellung eines vom Kapazitätsgradienten zwischen Probe (2) und Messsonde (3) abhängigen Signalanteils zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Amplitude des vom Kapazitätsgradienten zwischen Probe (2) und Messsonde (3) abhängigen Signalanteils durch eine Steuerung der Amplitude der hochfrequenten Wechselspannung des Signalgenerators (6) auf einen konstanten Wert geregelt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur Messung einer Kalibrierprobe mit einheitlicher, ebener Oberfläche der Signalgenerator (6) zur Beaufschlagung der Messsonde (3) mit unterschiedlichen Frequenzen betrieben wird, dass die Amplitude des vom Kapazitätsgradienten zwischen Kalibrierprobe und Messsonde (3) abhängigen Signalanteils des Lock-in-Verstärkers (10) durch die Amplitude der Wechselspannung des Signalgenerators (6) als Stellgröße auf einen vorgegebenen Wert eingestellt wird, dass diese den einzelnen Frequenzen zugeordneten Stellgrößen abgespeichert werden und dass der Signalgenerator (6) zur Messung von Proben (3) frequenzabhängig mit den abgespeicherten Stellgrößen betrieben wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass zur Kalibrierung höherer Ordnung die Messsonde (3) während ihrer Annäherung an die Oberfläche der Kalibrierprobe mit unterschiedlichen Frequenzen beaufschlagt wird, dass die in Abhängigkeit von den jeweiligen Frequenzen und Oberflächenabständen gemessenen Amplituden des vom Kapazitätsgradienten zwischen Kalibrierprobe und Messsonde (3) abhängigen Signalanteils abgespeichert werden, und dass aus einem Vergleich der abgespeicherten Amplituden mit bei einer Referenzfrequenz, aber sonst übereinstimmenden Messbedingungen gemessenen Amplituden des Signalanteils eine Transferfunktion zur Kalibrierung des Signalanteils ermittelt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Amplitude des vom Kapazitätsgradienten zwischen Probe (2) und Messsonde (3) abhängigen Signalanteils des Lock-in-Verstärkers (10) einem Regler (18) als Regelgröße zugeführt wird, der den Signalgenerator (6) im Sinne einer Änderung der Amplitude seiner Wechselspannung als Stellgröße ansteuert.
ATA50358/2017A 2017-05-03 2017-05-03 Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops AT519893B1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
ATA50358/2017A AT519893B1 (de) 2017-05-03 2017-05-03 Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops
PCT/AT2018/050008 WO2018201170A1 (de) 2017-05-03 2018-05-02 Verfahren zum kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen kraftmikroskops

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
ATA50358/2017A AT519893B1 (de) 2017-05-03 2017-05-03 Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops

Publications (2)

Publication Number Publication Date
AT519893A1 AT519893A1 (de) 2018-11-15
AT519893B1 true AT519893B1 (de) 2020-01-15

Family

ID=62245100

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ATA50358/2017A AT519893B1 (de) 2017-05-03 2017-05-03 Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops

Country Status (2)

Country Link
AT (1) AT519893B1 (de)
WO (1) WO2018201170A1 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112748153B (zh) * 2021-01-07 2023-01-10 中国人民大学 振幅调制静电力显微术测量电学特性的方法及装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0587165A2 (de) * 1992-09-10 1994-03-16 Canon Kabushiki Kaisha Informationsverarbeitungsgerät mit Multisondensteuerung
EP0790482A1 (de) * 1996-02-09 1997-08-20 Tencor Instruments Instrument mit Doppeltisch zum Abtasten eines Probenkörpers
DE19718799A1 (de) * 1997-05-03 1998-11-05 Peter Heiland Abbildende und/oder in einem Rastermodus abtastende Vorrichtung mit einer Einrichtung zur Kompensation von Abbildungsverschlechterungen, die durch Umgebungseinflüsse verursacht werden
US6185991B1 (en) * 1998-02-17 2001-02-13 Psia Corporation Method and apparatus for measuring mechanical and electrical characteristics of a surface using electrostatic force modulation microscopy which operates in contact mode

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10293137A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Nikon Corp 走査型静電容量顕微鏡および静電容量測定装置
JP2002195928A (ja) * 2000-10-18 2002-07-10 Nec Corp 走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法
JP5765146B2 (ja) * 2011-09-01 2015-08-19 株式会社島津製作所 原子間力顕微鏡におけるカンチレバー励振方法及び原子間力顕微鏡

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0587165A2 (de) * 1992-09-10 1994-03-16 Canon Kabushiki Kaisha Informationsverarbeitungsgerät mit Multisondensteuerung
EP0790482A1 (de) * 1996-02-09 1997-08-20 Tencor Instruments Instrument mit Doppeltisch zum Abtasten eines Probenkörpers
DE19718799A1 (de) * 1997-05-03 1998-11-05 Peter Heiland Abbildende und/oder in einem Rastermodus abtastende Vorrichtung mit einer Einrichtung zur Kompensation von Abbildungsverschlechterungen, die durch Umgebungseinflüsse verursacht werden
US6185991B1 (en) * 1998-02-17 2001-02-13 Psia Corporation Method and apparatus for measuring mechanical and electrical characteristics of a surface using electrostatic force modulation microscopy which operates in contact mode

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
KODERA, N. et al.; "Active damping of the scanner for high-speed atomic force microscopy." In: Review of Scientific Instruments, Vol.76, Seite 053708. AIP, 2005 (26.04.2005). doi: 10.1063/1.1903123 *
MORITA, S. et al.; "Noncontact Atomic Force Microscopy, Volume 3." Cham: Springer International Publishing Switzerland, 2015. ISBN 978-3-319-15587-6. Seiten 74-77, 86, 87, 498, 499 *
YAMASHITA, H. et al; "Tip-sample distance control using photothermal actuation of a small cantilever for high-speed atomic force microscopy." In: Review of Scientific Instruments, Vol.78, Seite 083702. AIP, 2007 (10.08.2007). doi: 10.1063/1.2766825 *

Also Published As

Publication number Publication date
AT519893A1 (de) 2018-11-15
WO2018201170A1 (de) 2018-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19900114B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur gleichzeitigen Bestimmung zumindest zweier Materialeigenschaften einer Probenoberfläche, umfassend die Adhäsion, die Reibung, die Oberflächentopographie sowie die Elastizität und Steifigkeit
DE69923999T2 (de) Elektrostatischer kraftmessfühler mit ausleger und abschirmung
DE10307561B4 (de) Meßanordnung zur kombinierten Abtastung und Untersuchung von mikrotechnischen, elektrische Kontakte aufweisenden Bauelementen
DE69730670T2 (de) Rastersondenmikroskop und Signalverarbeitungsgerät
DE3815009C2 (de)
WO2019174975A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen einer magnetfeldrichtung
DE69434641T2 (de) Elektrooptisches Messinstrument
AT519893B1 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops
DE102006017183A1 (de) Kalibrierungsvorrichtung und Verfahren, wobei ein Impuls für Frequenz-, Phase- und Verzögerungs-Eigenschaften verwendet wird
DE69026314T2 (de) Tunnelspektroskop und Verfahren zur Gewinnung von spektroskopischer Information
EP2171425B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur untersuchung von oberflächeneigenschaften verschiedenartiger materialien
DE102019116471B4 (de) Messvorrichtung für ein Rastersondenmikroskop und Verfahren zum rastersondenmikroskopischen Untersuchen einer Messprobe mit einem Rastersondenmikroskop
DE29623658U1 (de) Vorrichtung zum berührungslosen Abtasten einer Oberfläche
DE4211813C1 (en) Electronic spacing regulation circuit for resonating test probe - provides piezoelectric position adjustment dependent on phase difference between detected oscillation and reference oscillation
AT523334B1 (de) Schaltkreisanordnung zum Unterstützen unterschiedlicher Betriebsmodi zum Betrieb einer Messsonde eines Rastersondenmikroskops
AT521825B1 (de) Verfahren und Steuerungseinheit zur Demodulation
DE102014103829A1 (de) Berechnungsvorrichtung, Berechnungsverfahren und Berechnungsprogramm für eine Position eines Antriebselements
EP0407835B1 (de) Rasterkraftmikroskop
DE102005006928B3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen auf der Nanometerskala
WO2012055859A2 (de) Verfahren zur regelung einer vorspannung für einen kapazitiven mikromechanischen ultraschallwandler
DE102005041301A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Oberflächeneigenschaften unter Anwendung von SPM-Techniken mit akustischer Anregung und Echtzeitdigitalisierung
DE1598523C3 (de) Hochfrequenz-Spektrometer und Verfahren zu dessen Betrieb
DE102004053404A1 (de) Vorrichtung zur Messung von Materialeigenschaften einer Probe
DE102006013588A1 (de) Zweidimensinale Profilierung von Dotierungsprofilen einer Materialprobe mittels Rastersondenmikroskopie
DE102025127281A1 (de) Spitzenlängen-kalibriervorrichtung und sondensystem damit, und verfahren zur spitzenlängen-kalibrierung

Legal Events

Date Code Title Description
MM01 Lapse because of not paying annual fees

Effective date: 20220503