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Spektrometer für Röntgenstrahlen.
Die im Stammpatent Nr. 89846 beschriebene Beobachtung der kürzesten Wellenlänge kann mit Hilfe einer Lupe erleichtert werden, die, an einem drehbaren Arm befestigt, längs des Schirmes verschoben werden kann. Das Okular der Lupe ist nach dem Prinzip des Kryptoskopes so gestaltet, dass bei der Beobachtung durch die Lupe störendes Licht möglichst abgehalten wird, so dass die Adaption des Auges nicht beeinträchtigt wird.
Die Messung kann auch in der Weise erfolgen, dass mit dem Kristall zugleich ein Zeiger bewegt wird, dessen jeweilige Stellung an einer unterhalb des Leuchtschirms angebrachten Teilung abgelesen wird. Der Kristall wird dabei zunächst in diejenige Stellung gebracht, bei der die kürzeste Wellenlänge rechts vom Nullpunkt erscheint und die entsprechende Stellung des Zeigers an der Teilung abgelesen wird und dieser Vorgang dann links vom Nullpunkt wiederholt. Der Abstand der beiden Zeigerstellungen gibt bei Wahl eines geeigneten Massstabes die kürzeste Wellenlänge an.
Zur Bestimmung der spektralen Intensitätsverteilung dient ein längs des Schirmes verschiebbarer neutral gefärbter Keil aus Glas, Zelluloid oder einer andern geeigneten Substanz. Dieser Keil wird so lange vor der Linie derjenigen Wellenlänge, deren Intensität untersucht werden soll, verschoben, bis die Linie verschwindet und aus der Stellung des Keiles die relative Intensität der Linie ermittelt. Die Skala des Keiles ist nach Röntgenlicht geeicht.
PATENT-ANSPRÜCHE :
1. Spektrometer für Röntgenstrahlen nach Patent Nr. 89846 zur Messung der kürzesten Wellenlänge aus dem Drehungswinkel des Kristalles, gekennzeichnet durch eine längs des Schirmes verschiebbare, als Kryptoskop zur Abhaltung von störendem Licht ausgebildete Lupe zur leichteren Beobachtung des Spektrums.
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X-ray spectrometer.
The observation of the shortest wavelength described in the parent patent no. 89846 can be facilitated with the aid of a magnifying glass which, attached to a rotatable arm, can be moved along the screen. The eyepiece of the magnifying glass is designed according to the principle of the cryptoscope in such a way that, when observing through the magnifying glass, interfering light is kept out as far as possible so that the adaptation of the eye is not impaired.
The measurement can also take place in such a way that a pointer is moved at the same time with the crystal, the respective position of which is read on a graduation attached below the fluorescent screen. The crystal is first brought into the position in which the shortest wavelength appears to the right of the zero point and the corresponding position of the pointer is read on the graduation and this process is then repeated to the left of the zero point. The distance between the two pointer positions indicates the shortest wavelength when a suitable scale is selected.
To determine the spectral intensity distribution, a neutrally colored wedge made of glass, celluloid or another suitable substance, which can be moved along the screen, is used. This wedge is shifted in front of the line of the wavelength whose intensity is to be investigated until the line disappears and the relative intensity of the line is determined from the position of the wedge. The scale of the wedge is calibrated according to X-ray light.
PATENT CLAIMS:
1. Spectrometer for X-rays according to patent no. 89846 for measuring the shortest wavelength from the angle of rotation of the crystal, characterized by a magnifying glass which can be moved along the screen and designed as a cryptoscope to keep out interfering light for easier observation of the spectrum.
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