ATA143096A - Kontaktbelichtungsverfahren zur herstellung von halbleiterbausteinen - Google Patents
Kontaktbelichtungsverfahren zur herstellung von halbleiterbausteinenInfo
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| AT143096A AT406100B (de) | 1996-08-08 | 1996-08-08 | Kontaktbelichtungsverfahren zur herstellung von halbleiterbausteinen |
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| AT406100B AT406100B (de) | 2000-02-25 |
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Family Applications (1)
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| AT143096A AT406100B (de) | 1996-08-08 | 1996-08-08 | Kontaktbelichtungsverfahren zur herstellung von halbleiterbausteinen |
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| AT (1) | AT406100B (de) |
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|---|---|---|---|---|
| CN114077152A (zh) * | 2020-08-19 | 2022-02-22 | 山东华光光电子股份有限公司 | 一种在接触式光刻机上实现接近式曝光的光刻版及其应用方法 |
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| US3802940A (en) * | 1969-08-18 | 1974-04-09 | Computervision Corp | Enhanced contrast semiconductor wafer alignment target and method for making same |
| CH537096A (fr) * | 1971-03-26 | 1973-05-15 | Raymond Delmas Jean | Appareil de masquage optique d'une couche photosensible |
| DE2547079C3 (de) * | 1975-10-17 | 1979-12-06 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zur Korpuskularbestrahlung eines Präparats |
| JPH03106012A (ja) * | 1989-09-20 | 1991-05-02 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法およびその方法を実施する製造装置 |
| DE4242565C1 (de) * | 1992-12-16 | 1994-03-17 | Deutsche Aerospace | Verfahren zur Justage von Halbleiterscheiben zueinander |
-
1996
- 1996-08-08 AT AT143096A patent/AT406100B/de not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114077152A (zh) * | 2020-08-19 | 2022-02-22 | 山东华光光电子股份有限公司 | 一种在接触式光刻机上实现接近式曝光的光刻版及其应用方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AT406100B (de) | 2000-02-25 |
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