ATE222369T1 - System und verfahren zur prüfhalterungscharakterisierung - Google Patents
System und verfahren zur prüfhalterungscharakterisierungInfo
- Publication number
- ATE222369T1 ATE222369T1 AT99106658T AT99106658T ATE222369T1 AT E222369 T1 ATE222369 T1 AT E222369T1 AT 99106658 T AT99106658 T AT 99106658T AT 99106658 T AT99106658 T AT 99106658T AT E222369 T1 ATE222369 T1 AT E222369T1
- Authority
- AT
- Austria
- Prior art keywords
- test
- test fit
- reflection
- characterization
- test fixture
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/04—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
- G01R27/06—Measuring reflection coefficients; Measuring standing-wave ratio
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
- G01R31/11—Locating faults in cables, transmission lines, or networks using pulse reflection methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP99106658A EP1041389B1 (de) | 1999-04-01 | 1999-04-01 | System und Verfahren zur Prüfhalterungscharakterisierung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ATE222369T1 true ATE222369T1 (de) | 2002-08-15 |
Family
ID=8237906
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| AT99106658T ATE222369T1 (de) | 1999-04-01 | 1999-04-01 | System und verfahren zur prüfhalterungscharakterisierung |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP1041389B1 (de) |
| AT (1) | ATE222369T1 (de) |
| DE (1) | DE69902512T2 (de) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100454213B1 (ko) * | 2002-05-03 | 2004-10-26 | 한전기공주식회사 | 복수의 입력채널을 가진 회로시험기 |
| US6954076B2 (en) * | 2002-09-06 | 2005-10-11 | Northrop Grumman Corporation | Aircraft multi-function wire and insulation tester |
| US9297848B2 (en) * | 2012-02-29 | 2016-03-29 | GM Global Technology Operations LLC | Modular wiring harness testing systems and apparatus |
| CN103792429B (zh) * | 2012-11-05 | 2016-08-10 | 华邦电子股份有限公司 | 测试系统 |
| TWI467195B (zh) * | 2013-06-17 | 2015-01-01 | Ardentek Corp | 測試系統之接觸界面檢測法 |
| KR102236526B1 (ko) * | 2017-11-28 | 2021-04-05 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 시간-도메인 반사 측정 신호를 이용한 고주파대역 정전용량 추출 방법, 장치 및 이를 구현하는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체 |
| DE102025111898A1 (de) * | 2024-04-30 | 2025-10-30 | Sew-Eurodrive Gmbh & Co Kg | Verfahren und System zum Prüfen einer mit Bauteilen bestückten Leiterplatte mit einem Nadeladapter |
-
1999
- 1999-04-01 EP EP99106658A patent/EP1041389B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-04-01 AT AT99106658T patent/ATE222369T1/de not_active IP Right Cessation
- 1999-04-01 DE DE69902512T patent/DE69902512T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1041389B1 (de) | 2002-08-14 |
| DE69902512T2 (de) | 2003-02-27 |
| DE69902512D1 (de) | 2002-09-19 |
| EP1041389A1 (de) | 2000-10-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| NO994610L (no) | Bearbeidingsinstrument for prøveinnretninger | |
| NO20033391L (no) | NMR-fluidkarakteriseringsanordning for bruk med elektriske kabelformasjonstesteinstrumenter | |
| DE69937416D1 (de) | Halbleiter-Prüfvorrichtung, Prüfsockelvorrichtung und Verfahren zur Herstellung | |
| EP1045438B8 (de) | Testsondenkarte und Testverfahren für eine Halbleitervorrichtung | |
| DE69821751D1 (de) | Verfahren und Gerät zur Funkübertragung | |
| DE69924401D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur qualifizierung von teilnehmeranschlussleitungen für datenübertragungsdienste | |
| SG81996A1 (en) | Electronic device testing apparatus | |
| AU2001249578A1 (en) | Method and apparatus for testing signal paths between an integrated circuit wafer and a wafer tester | |
| DE69712230D1 (de) | Verfahren und gerät zur frequenzdomäneabwärtsumsetzung mit zwangblockschaltung für audiodekoderfunktionen | |
| DE60045385D1 (de) | Verfahren und einrichtung zur optischen übertragung | |
| DE69912589D1 (de) | Gerät und geräteaufbau zur prüfung von elektronischen bausteinen | |
| DE60021129D1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung einer elektronischen Vorrichtung | |
| AU2002330002A1 (en) | Methods and apparatus for testing electronic circuits | |
| ATE222369T1 (de) | System und verfahren zur prüfhalterungscharakterisierung | |
| DE69830967D1 (de) | Verfahren und System zur Prüfung einer integrierten Schaltung | |
| DE50002116D1 (de) | Verfahren zur identifizierung einer integrierten schaltung | |
| DE59905612D1 (de) | Integrierte Schaltung und Verfahren zu ihrer Prüfung | |
| FR2780792B1 (fr) | Appareillage de test de puces electroniques | |
| GB9714571D0 (en) | Test clip for connection of an integrated circuit device | |
| SG101949A1 (en) | Method and apparatus for testing an integrated circuit | |
| DE50003032D1 (de) | Verfahren und einrichtung zur kontinuierlichen überwachung einer optischen übertragungsstrecke | |
| DE69934604D1 (de) | Vorrichtung zur prüfung von kondomen | |
| DE69904644D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur schnellen fehlererkennung in einer integrierten schaltung | |
| DE69822694D1 (de) | Verfahren zum prüfgerechten Entwurf, Verfahren zur Prüfsequenzerzeugung und integrierte Halbleiterschaltung | |
| DE59912334D1 (de) | Verfahren zum testen einer integrierten schaltungsanordnung und integrierte schaltungsanordnung hierfür |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RER | Ceased as to paragraph 5 lit. 3 law introducing patent treaties |