ATE247309T1 - Verfahren und system zur aufspürung von fehlern auf einer gedruckten leiterplatte - Google Patents

Verfahren und system zur aufspürung von fehlern auf einer gedruckten leiterplatte

Info

Publication number
ATE247309T1
ATE247309T1 AT01942769T AT01942769T ATE247309T1 AT E247309 T1 ATE247309 T1 AT E247309T1 AT 01942769 T AT01942769 T AT 01942769T AT 01942769 T AT01942769 T AT 01942769T AT E247309 T1 ATE247309 T1 AT E247309T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
pcb
printed circuit
circuit board
detecting defects
contours
Prior art date
Application number
AT01942769T
Other languages
English (en)
Inventor
Alain Coulombe
Michel Cantin
Louis Berard
Jonathan Gauthier
Original Assignee
Solvision Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Solvision Inc filed Critical Solvision Inc
Application granted granted Critical
Publication of ATE247309T1 publication Critical patent/ATE247309T1/de

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G06T7/0006—Industrial image inspection using a design-rule based approach
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30141—Printed circuit board [PCB]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
AT01942769T 2000-01-18 2001-01-17 Verfahren und system zur aufspürung von fehlern auf einer gedruckten leiterplatte ATE247309T1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CA002296143A CA2296143A1 (fr) 2000-01-18 2000-01-18 Systeme d'inspection optique
PCT/CA2001/000042 WO2001054068A2 (en) 2000-01-18 2001-01-17 Method and system for detecting defects on a printed circuit board

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE247309T1 true ATE247309T1 (de) 2003-08-15

Family

ID=4165090

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT01942769T ATE247309T1 (de) 2000-01-18 2001-01-17 Verfahren und system zur aufspürung von fehlern auf einer gedruckten leiterplatte

Country Status (12)

Country Link
US (1) US6771807B2 (de)
EP (1) EP1254431B1 (de)
JP (1) JP2003520969A (de)
KR (1) KR100744212B1 (de)
CN (1) CN1261908C (de)
AT (1) ATE247309T1 (de)
AU (1) AU2001228211A1 (de)
CA (1) CA2296143A1 (de)
DE (1) DE60100594T2 (de)
IL (2) IL150744A0 (de)
TW (1) TWI240223B (de)
WO (1) WO2001054068A2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10151711B2 (en) 2014-12-05 2018-12-11 Shenzhen Kana Technology Co., Ltd. Method and apparatus for generating X-ray inspection image of electronic circuit board

Families Citing this family (95)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6115491A (en) 1996-02-27 2000-09-05 Cyberoptics Corporation Apparatus and method for estimating background tilt and offset
GB2375392B (en) 2000-01-07 2004-12-15 Cyberoptics Corp Phase profilometry system with telecentric projector
US6593705B1 (en) 2000-01-07 2003-07-15 Cyberoptics Corporation Rapid-firing flashlamp discharge circuit
US6549647B1 (en) 2000-01-07 2003-04-15 Cyberoptics Corporation Inspection system with vibration resistant video capture
US6980685B2 (en) * 2001-01-22 2005-12-27 Siemens Corporate Research, Inc. Model-based localization and measurement of miniature surface mount components
US6920624B2 (en) * 2002-01-17 2005-07-19 Seagate Technology, Llc Methodology of creating an object database from a Gerber file
IL148829A0 (en) * 2002-03-21 2002-09-12 Camtek Ltd A method for storing information on layers of a layered product
JP3589424B1 (ja) * 2003-12-22 2004-11-17 株式会社メガトレード 基板検査装置
JP2005351631A (ja) * 2004-06-08 2005-12-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 欠陥検出装置および欠陥検出方法
JP2006235762A (ja) * 2005-02-22 2006-09-07 Orion Denki Kk プリント基板用ｃａｄシステム
KR100687870B1 (ko) * 2005-04-04 2007-02-27 주식회사 하이닉스반도체 웨이퍼의 불량 검사 방법
US7653235B2 (en) * 2005-10-27 2010-01-26 Honeywell International Inc. Surface anomaly detection system and method
US7551272B2 (en) * 2005-11-09 2009-06-23 Aceris 3D Inspection Inc. Method and an apparatus for simultaneous 2D and 3D optical inspection and acquisition of optical inspection data of an object
EP1997076B1 (de) * 2006-03-13 2010-11-10 Given Imaging Ltd. Kaskadenanalyse zur darmkontraktionsdetektion
US8396327B2 (en) * 2006-03-13 2013-03-12 Given Imaging Ltd. Device, system and method for automatic detection of contractile activity in an image frame
US7684609B1 (en) * 2006-05-25 2010-03-23 Kla-Tencor Technologies Corporation Defect review using image segmentation
JP5010207B2 (ja) * 2006-08-14 2012-08-29 株式会社日立ハイテクノロジーズ パターン検査装置及び半導体検査システム
US20080117438A1 (en) * 2006-11-16 2008-05-22 Solvision Inc. System and method for object inspection using relief determination
CN101201371B (zh) * 2006-12-15 2011-12-21 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 印刷电路检测装置和方法
US7535560B2 (en) * 2007-02-26 2009-05-19 Aceris 3D Inspection Inc. Method and system for the inspection of integrated circuit devices having leads
US7664614B2 (en) * 2007-11-02 2010-02-16 United Microelectronics Corp. Method of inspecting photomask defect
US8059280B2 (en) 2008-01-31 2011-11-15 Cyberoptics Corporation Method for three-dimensional imaging using multi-phase structured light
US8131107B2 (en) * 2008-05-12 2012-03-06 General Electric Company Method and system for identifying defects in NDT image data
US8269836B2 (en) * 2008-07-24 2012-09-18 Seiko Epson Corporation Image capture, alignment, and registration
US20100046816A1 (en) * 2008-08-19 2010-02-25 Igual-Munoz Laura Method for automatic classification of in vivo images
US8121415B2 (en) 2008-10-28 2012-02-21 Quality Vision International, Inc. Combining feature boundaries
TWI427556B (zh) * 2008-12-30 2014-02-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 圖像比對系統及方法
DE102010003376B4 (de) * 2009-03-30 2021-04-01 Koh Young Technology Inc. Untersuchungsverfahren
US8378702B2 (en) * 2009-05-08 2013-02-19 Corning Incorporated Non-contact testing of printed electronics
JP5407632B2 (ja) * 2009-07-22 2014-02-05 富士通株式会社 プリント基板試験支援装置、プリント基板試験支援方法、及びプリント基板試験支援プログラム
US8339449B2 (en) * 2009-08-07 2012-12-25 Globalfoundries Singapore Pte. Ltd. Defect monitoring in semiconductor device fabrication
JP5678737B2 (ja) * 2011-03-10 2015-03-04 セイコーエプソン株式会社 欠陥検出方法及び欠陥検出装置
US8942465B2 (en) * 2011-12-13 2015-01-27 General Electric Company Methods and systems for processing images for inspection of an object
CN103185560A (zh) * 2011-12-29 2013-07-03 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Pcb板线路的线宽检测系统及方法
US9881354B2 (en) * 2012-03-15 2018-01-30 Microsoft Technology Licensing, Llc Image completion including automatic cropping
CN102721695B (zh) * 2012-05-18 2015-01-07 深圳大学 一种检测印刷电路板缺陷的方法
CN102914549B (zh) * 2012-09-10 2015-03-25 中国航天科技集团公司第五研究院第五一三研究所 针对星载表露型pcb焊点质量的光学图像匹配检测方法
WO2014063301A1 (zh) * 2012-10-23 2014-05-01 Luo Yi Smt的pcb板的检验方法及装置
CN102937595B (zh) * 2012-11-13 2015-05-20 浙江省电力公司电力科学研究院 一种pcb板检测方法、装置及系统
CN103063677A (zh) * 2012-12-24 2013-04-24 上海金东唐精机科技有限公司 多功能pcb测试系统
US9361682B2 (en) * 2013-03-15 2016-06-07 John S. Youngquist Virtual assembly and product inspection control processes
US10126252B2 (en) 2013-04-29 2018-11-13 Cyberoptics Corporation Enhanced illumination control for three-dimensional imaging
KR102154075B1 (ko) * 2013-10-21 2020-09-09 삼성전자주식회사 반도체 소자의 검사 방법 및 반도체 검사 시스템
CN104636525B (zh) * 2013-11-14 2017-12-19 英业达科技有限公司 印刷电路检查方法与装置
CN103728305A (zh) * 2014-01-13 2014-04-16 深圳市永光神目科技有限公司 Pcba板用的检测方法
CN103728316B (zh) * 2014-01-13 2016-04-06 深圳市永光神目科技有限公司 Pcba板用的检测装置
CN103885216A (zh) 2014-02-10 2014-06-25 北京京东方显示技术有限公司 一种基板检测装置及方法
CN104156958B (zh) * 2014-08-06 2017-07-11 中国科学院生物物理研究所 一种电路板布线边缘提取方法及提取平台
CN105466951B (zh) * 2014-09-12 2018-11-16 江苏明富自动化科技股份有限公司 一种自动光学检测装置及其检测方法
CN208915599U (zh) 2015-02-27 2019-05-31 脉冲星责任有限公司 用于控制或管理产品的单元和用于制造产品的设备
CN104820979A (zh) * 2015-03-20 2015-08-05 深圳市纳研科技有限公司 一种用于产品缺陷检测以及质量控制的图像减薄和特征分类方法
JP6535755B2 (ja) * 2015-04-15 2019-06-26 エクスロン インターナショナル ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＹｘｌｏｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｇｍｂｈ 電子部品を試験する方法
CN105069772B (zh) * 2015-06-11 2018-01-26 国家电网公司 一种电力元器件识别方法
US9727785B2 (en) * 2015-06-18 2017-08-08 The Boeing Company Method and apparatus for tracking targets
US9715639B2 (en) 2015-06-18 2017-07-25 The Boeing Company Method and apparatus for detecting targets
CN106937080A (zh) * 2015-12-30 2017-07-07 希姆通信息技术（上海）有限公司 一种移动终端上螺丝的视觉检测方法及控制设备
CN106127779B (zh) * 2016-06-29 2018-12-11 上海晨兴希姆通电子科技有限公司 基于视觉识别的缺陷检测方法及系统
CN106327496B (zh) * 2016-08-26 2019-04-23 西安电子科技大学 基于aoi的pcb裸板盲孔缺陷的检测系统及方法
CN106526448A (zh) * 2016-09-30 2017-03-22 厦门通士达照明有限公司 一种电源驱动板自动检测系统和检测方法
US11275361B2 (en) * 2017-06-30 2022-03-15 Kla-Tencor Corporation Systems and methods for predicting defects and critical dimension using deep learning in the semiconductor manufacturing process
TWI640932B (zh) * 2017-08-08 2018-11-11 富比庫股份有限公司 Electronic part pattern verification system and method thereof
CN110197797B (zh) * 2018-02-27 2021-07-02 上海微电子装备（集团）股份有限公司 一种缺陷检测用标准片
CN109033917A (zh) * 2018-06-04 2018-12-18 广州美维电子有限公司 一种pcb板及pcb板的信息追溯方法
CN109389597B (zh) * 2018-10-24 2021-04-27 四川长虹电器股份有限公司 一种生产线上电路板缺陷检测系统及方法
CN110285760A (zh) * 2019-06-27 2019-09-27 重庆矢崎仪表有限公司 一种fpc组装检测系统和方法
CN110555858A (zh) * 2019-08-16 2019-12-10 珠海格力电器股份有限公司 一种电控板热熔胶位置检测的方法及设备
CN110751624B (zh) * 2019-09-10 2022-08-09 华中科技大学 一种提高pcb检查精度的方法及系统
CN112579810B (zh) * 2019-09-30 2023-10-27 深圳市嘉立创科技发展有限公司 印刷电路板分类方法、装置、计算机设备和存储介质
TWI721718B (zh) 2019-12-19 2021-03-11 新加坡商鴻運科股份有限公司 電路板智慧檢測方法、裝置、系統及存儲介質
CN111570327B (zh) * 2020-04-09 2022-05-31 广州视源电子科技股份有限公司 Led显示屏的印刷线路板的分类方法、装置及设备
CN113554582B (zh) * 2020-04-22 2022-11-08 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 电子设备盖板上功能孔的缺陷检测方法、装置以及系统
US11803960B2 (en) * 2020-08-12 2023-10-31 Kla Corporation Optical image contrast metric for optical target search
CN113222913B (zh) * 2021-04-28 2024-04-12 南京南瑞继保电气有限公司 一种电路板缺陷检测定位方法、装置和存储介质
CN113610761B (zh) * 2021-07-06 2023-11-17 上海望友信息科技有限公司 判断断头线的方法、装置、电子设备及存储介质
CN113744247A (zh) * 2021-09-03 2021-12-03 西安建筑科技大学 一种pcb焊点缺陷识别方法和系统
TWI807426B (zh) * 2021-09-17 2023-07-01 鴻海精密工業股份有限公司 文字圖像瑕疵檢測方法、電腦裝置及儲存介質
CN115829904B (zh) * 2021-09-17 2025-10-10 鸿海精密工业股份有限公司 印字瑕疵检测方法、计算机装置及存储介质
TWI786838B (zh) * 2021-09-17 2022-12-11 鴻海精密工業股份有限公司 印字瑕疵檢測方法、電腦裝置及儲存介質
WO2023055375A1 (en) * 2021-09-30 2023-04-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Image comparison to determine device abnormalities
CN113870257B (zh) * 2021-12-01 2022-03-18 武汉飞恩微电子有限公司 印刷电路板缺陷检测分类方法、装置及计算机储存介质
CN114384204B (zh) * 2021-12-07 2024-03-22 广州兴森快捷电路科技有限公司 Pcb拼板检测装置、系统、方法及存储介质
CN116242830B (zh) * 2021-12-08 2026-02-03 先进半导体材料(深圳)有限公司 引线框架的瑕疵检测方法
CN114663420B (zh) * 2022-04-07 2025-04-04 聚时科技(上海)有限公司 一种基于图像的间距异常类缺陷检测方法
CN114627113B (zh) * 2022-05-12 2022-07-29 成都数之联科技股份有限公司 一种印制电路板缺陷检测方法及系统及装置及介质
CN116106724A (zh) * 2023-02-15 2023-05-12 合肥联宝信息技术有限公司 一种测试电路板的方法、装置、电子设备及存储介质
CN116563357B (zh) * 2023-07-10 2023-11-03 深圳思谋信息科技有限公司 图像匹配方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质
CN116912250B (zh) * 2023-09-13 2023-11-28 山东众成菌业股份有限公司 基于机器视觉的菌包生产质量检测方法
CN117451728B (zh) * 2023-12-26 2024-02-20 常州漫舒医疗科技有限公司 基于视觉检测的造口产品生产检测系统
CN118657177B (zh) * 2024-08-13 2024-10-25 昆明理工大学 基于IEC61499标准的电路板缺陷识别Transformer网络分布式推理方法
CN118837725B (zh) * 2024-09-19 2025-01-24 苏州元脑智能科技有限公司 插损测试方法及装置
CN119338776B (zh) * 2024-10-11 2025-07-22 浙江中数激光装备有限公司 一种轨道列车轮面划伤检测方法及系统
CN119881110B (zh) * 2025-03-27 2025-06-03 东莞朗诚微电子设备有限公司 用于集成电路塑封的超声检测方法、系统及装置
CN120431040B (zh) * 2025-04-23 2026-01-27 深圳市辉煌星电子有限公司 一种基于视觉标定的pcb板加工纠偏方法及系统
CN120282438B (zh) * 2025-06-05 2025-08-22 信熙缘(江苏)智能科技有限公司 柔性电路板料带缺料贴装的检测方法
CN121120610B (zh) * 2025-10-16 2026-04-21 天津市信卓越科技有限公司 一种基于人工智能的通信芯片布图缺陷自动识别方法

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3267548D1 (en) 1982-05-28 1986-01-02 Ibm Deutschland Process and device for an automatic optical inspection
US4589140A (en) 1983-03-21 1986-05-13 Beltronics, Inc. Method of and apparatus for real-time high-speed inspection of objects for identifying or recognizing known and unknown portions thereof, including defects and the like
EP0123229B1 (de) 1983-04-15 1988-11-09 Hitachi, Ltd. Verfahren und Einrichtung zur Detektion von Fehlern in gedruckten Schaltungsmustern
US4578810A (en) 1983-08-08 1986-03-25 Itek Corporation System for printed circuit board defect detection
JPS60263807A (ja) 1984-06-12 1985-12-27 Dainippon Screen Mfg Co Ltd プリント配線板のパタ−ン欠陥検査装置
US4648053A (en) * 1984-10-30 1987-03-03 Kollmorgen Technologies, Corp. High speed optical inspection system
US5774572A (en) 1984-12-20 1998-06-30 Orbotech Ltd. Automatic visual inspection system
EP0186874B1 (de) 1984-12-26 1994-06-08 Hitachi, Ltd. Verfahren und Gerät zum Prüfen der Geometrie von Mehrschichtmustern für integrierte Schaltungsstrukturen
EP0195161B1 (de) * 1985-03-14 1993-09-15 Nikon Corporation Gerät und Verfahren zum selbsttätigen Inspizieren von Objekten und zum Identifizieren oder Erkennen bekannter und unbekannter Teile davon, einschliesslich Fehler und dergleichen
US4776022A (en) 1985-04-09 1988-10-04 Aoi Systems, Inc. System for printed circuit board defect detection
EP0236738A3 (de) 1986-02-05 1988-12-21 OMRON Corporation Verfahren zur Dateneingabe einer bestückten gedruckten Referenzleiterplatte für die Bildverarbeitung eines automatischen Prüfgerätes für bestückte gedruckte Leiterplatten
US4974261A (en) 1988-11-15 1990-11-27 Matsushita Electric Works, Ltd. Optical surface inspection method
US5272763A (en) * 1990-03-02 1993-12-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus for inspecting wiring pattern formed on a board
US5054094A (en) * 1990-05-07 1991-10-01 Eastman Kodak Company Rotationally impervious feature extraction for optical character recognition
US5115475A (en) 1990-06-04 1992-05-19 Motorola, Inc. Automatic semiconductor package inspection method
US5086477A (en) 1990-08-07 1992-02-04 Northwest Technology Corp. Automated system for extracting design and layout information from an integrated circuit
US5586058A (en) 1990-12-04 1996-12-17 Orbot Instruments Ltd. Apparatus and method for inspection of a patterned object by comparison thereof to a reference
US5119434A (en) 1990-12-31 1992-06-02 Beltronics, Inc. Method of and apparatus for geometric pattern inspection employing intelligent imaged-pattern shrinking, expanding and processing to identify predetermined features and tolerances
DE4222804A1 (de) * 1991-07-10 1993-04-01 Raytheon Co Einrichtung und verfahren zur automatischen visuellen pruefung elektrischer und elektronischer baueinheiten
DE69331433T2 (de) 1992-10-22 2002-10-02 Advanced Interconnection Technology, Inc. Einrichtung zur automatischen optischen Prüfung von Leiterplatten mit darin verlegten Drähten
US5365596A (en) 1992-12-17 1994-11-15 Philip Morris Incorporated Methods and apparatus for automatic image inspection of continuously moving objects
US5452368A (en) 1993-08-02 1995-09-19 Motorola, Inc. Method of detecting defects in semiconductor package leads
US5517234A (en) 1993-10-26 1996-05-14 Gerber Systems Corporation Automatic optical inspection system having a weighted transition database
US5506793A (en) * 1994-01-14 1996-04-09 Gerber Systems Corporation Method and apparatus for distortion compensation in an automatic optical inspection system
US5751910A (en) * 1995-05-22 1998-05-12 Eastman Kodak Company Neural network solder paste inspection system
US5848189A (en) 1996-03-25 1998-12-08 Focus Automation Systems Inc. Method, apparatus and system for verification of patterns

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10151711B2 (en) 2014-12-05 2018-12-11 Shenzhen Kana Technology Co., Ltd. Method and apparatus for generating X-ray inspection image of electronic circuit board

Also Published As

Publication number Publication date
DE60100594T2 (de) 2004-06-24
JP2003520969A (ja) 2003-07-08
EP1254431A2 (de) 2002-11-06
US20010028732A1 (en) 2001-10-11
AU2001228211A1 (en) 2001-07-31
WO2001054068A2 (en) 2001-07-26
CN1401107A (zh) 2003-03-05
KR100744212B1 (ko) 2007-07-30
KR20020089325A (ko) 2002-11-29
DE60100594D1 (de) 2003-09-18
CA2296143A1 (fr) 2001-07-18
US6771807B2 (en) 2004-08-03
TWI240223B (en) 2005-09-21
WO2001054068A3 (en) 2002-08-08
IL150744A0 (en) 2003-02-12
IL150744A (en) 2007-09-20
EP1254431B1 (de) 2003-08-13
CN1261908C (zh) 2006-06-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE247309T1 (de) Verfahren und system zur aufspürung von fehlern auf einer gedruckten leiterplatte
DE60212470D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten
DE69317145D1 (de) Verfahren zur Herstellung eines organischen Substrats zur Verwendung in Leiterplatten
DE60002305D1 (de) Verfahren zur überprüfung der polarität, des vorliegens, der ausrichtung von komponenten und von kurzschlüssen auf einer leiterplatte
DE69737375D1 (de) Verfahren zur Befestigung eines elektronischen Bauteils auf einer Leiterplatte und System zum Ausführen des Verfahrens
ATE488982T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bereitstellung eines substrats mit viskosem medium und verwendung eines jet-mittels zur korrektur von auftragfehlern
DE69410737D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Löten von elektronischen Baugruppen auf Leiterplatten
ATE180065T1 (de) Fabrikationsfehleranalysator mit verbesserter fehlererfassung
DE69020696D1 (de) Verfahren zum Montieren eines elektrischen Bauteils auf einer Leiterplatte.
DE69113537D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Musterprüfung gedrukter Schaltungsplatten.
US8769471B2 (en) Producing electrical circuit patterns using multi-population transformation
ATE146334T1 (de) Gerät zur inspektion von gedruckten schaltungen mit bauteilen, die auf der oberfläche montiert sind.
DE69905229D1 (de) Verfahren zum Löten eines D-pak Bauteiles auf einer gedruckten Schaltungsplatte
ATA7262003A (de) Verfahren zur beschichtung von rohlingen zur herstellung von gedruckten leiterplatten (pcb)
US7317522B2 (en) Verification of non-recurring defects in pattern inspection
DE10290637D2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätsprüfung von Leiterplatten
DE69013976D1 (de) Verfahren zum Montieren von elektronischen Bauteilen auf Leiterplatten.
JP3031311B2 (ja) プリント基板ｃａｄシステム
DE502006009268D1 (de) VERFAHREN ZUM TESTEN VON UNBESTÜCKTEN, GROßFLÄCHIGEN LEITERPLATTEN MIT EINEM FINGERTESTER
JPH05167219A (ja) 基板の印刷方法
JP2006165106A (ja) 電子部品実装方法
JP2006005187A (ja) プリント基板の識別子印字方法
JP2006303242A (ja) プリント基板を備えた電子機器
TW200719135A (en) Method and system for automatically inspecting polarity installation direction of a capacitor
CN1413075A (zh) 防止锡球不良的方法及其模具

Legal Events

Date Code Title Description
RER Ceased as to paragraph 5 lit. 3 law introducing patent treaties