ATE291745T1 - Testschaltung für eine intergrierte schaltung mit nur einem wahlelement für jeden signalweg - Google Patents

Testschaltung für eine intergrierte schaltung mit nur einem wahlelement für jeden signalweg

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ATE291745T1
ATE291745T1 AT02740049T AT02740049T ATE291745T1 AT E291745 T1 ATE291745 T1 AT E291745T1 AT 02740049 T AT02740049 T AT 02740049T AT 02740049 T AT02740049 T AT 02740049T AT E291745 T1 ATE291745 T1 AT E291745T1
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AT
Austria
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signal path
circuit
integrated circuit
selecting element
test circuit
Prior art date
Application number
AT02740049T
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Patrick W H Heuts
Jozef L W Kessels
Adrianus M G Peeters
Original Assignee
Koninkl Philips Electronics Nv
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318536—Scan chain arrangements, e.g. connections, test bus, analog signals

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